JP2003031953A - ビルドアップ基板の製造方法 - Google Patents
ビルドアップ基板の製造方法Info
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- JP2003031953A JP2003031953A JP2001213527A JP2001213527A JP2003031953A JP 2003031953 A JP2003031953 A JP 2003031953A JP 2001213527 A JP2001213527 A JP 2001213527A JP 2001213527 A JP2001213527 A JP 2001213527A JP 2003031953 A JP2003031953 A JP 2003031953A
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- Japan
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- Laser Beam Processing (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 環境に良好でビルドアップ基板を安価に得る
ことができるビルドアップ基板の製造方法を提供するこ
と。 【構成】 ビルドアップ基板の製造において、絶縁層上
にブラインドホールが形成されたプリント基板の前記ブ
ラインドホール内のクリーニングと絶縁層表面の粗面化
をレーザ(KrFレーザ)11の照射によって同時に行
う。
ことができるビルドアップ基板の製造方法を提供するこ
と。 【構成】 ビルドアップ基板の製造において、絶縁層上
にブラインドホールが形成されたプリント基板の前記ブ
ラインドホール内のクリーニングと絶縁層表面の粗面化
をレーザ(KrFレーザ)11の照射によって同時に行
う。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビルドアップ基板
の製造方法に関する間するものである。
の製造方法に関する間するものである。
【0002】
【従来の技術】ビルドアップ法は、バイアホールを介し
て接続された多層プリント配線板を製造することがで
き、配線を著しく高密度化することができるという利点
がある。従来技術によって製造する方法の一例を図1の
断面図を用いて説明する。
て接続された多層プリント配線板を製造することがで
き、配線を著しく高密度化することができるという利点
がある。従来技術によって製造する方法の一例を図1の
断面図を用いて説明する。
【0003】先ず、銀張りのガラスエポキシ基板1の銀
箔を図形状にエッチング加工することによって第1の金
属配線層2を形成して図1(a)の状態とする。次に、
その第1の金属層2を覆うように、基板1の表面エポキ
シー系絶縁材料を塗布し、硬化させて絶縁樹脂層3を形
成して図1(b)の状態とする。
箔を図形状にエッチング加工することによって第1の金
属配線層2を形成して図1(a)の状態とする。次に、
その第1の金属層2を覆うように、基板1の表面エポキ
シー系絶縁材料を塗布し、硬化させて絶縁樹脂層3を形
成して図1(b)の状態とする。
【0004】次に、絶縁樹脂層3に、レーザ加工によっ
て下方の金属配線層2に達するブラインドビァホールを
開けて図1(c)の状態にする。このとき、レーザで加
工するため、露出した第1の金属配線層2の表面に残渣
物6が残る。
て下方の金属配線層2に達するブラインドビァホールを
開けて図1(c)の状態にする。このとき、レーザで加
工するため、露出した第1の金属配線層2の表面に残渣
物6が残る。
【0005】次に、一般的にはデスミヤ処理と呼ばれる
方法で基板1を過マンガン酸の溶液等に浸して腐食し、
ブラインドビァホールの底面の残渣物6の除去と絶縁樹
脂層3の表面の粗面化を行って図1(d)の状態とす
る。この残渣物6の除去と粗面化によって、下方の金属
配線層2及び絶縁樹脂層3と次の工程で形成される銅メ
ッキ層4との間の密着性が向上する。
方法で基板1を過マンガン酸の溶液等に浸して腐食し、
ブラインドビァホールの底面の残渣物6の除去と絶縁樹
脂層3の表面の粗面化を行って図1(d)の状態とす
る。この残渣物6の除去と粗面化によって、下方の金属
配線層2及び絶縁樹脂層3と次の工程で形成される銅メ
ッキ層4との間の密着性が向上する。
【0006】次に、銀メッキによって、絶縁樹脂層3の
表面上及び導通用の穴あけによって露出した第1の金属
配線層2の表面及び絶縁樹脂層3の表面に銀メッキ層4
を形成し、図1(e)の状態とする。そして、最後に銀
メッキ層4を図形状にエッチング加工して第2の金属層
5を形成し、2層配線が基板1上に完成した図1(f)
に示す状態とする。
表面上及び導通用の穴あけによって露出した第1の金属
配線層2の表面及び絶縁樹脂層3の表面に銀メッキ層4
を形成し、図1(e)の状態とする。そして、最後に銀
メッキ層4を図形状にエッチング加工して第2の金属層
5を形成し、2層配線が基板1上に完成した図1(f)
に示す状態とする。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来のプリント配線板
の製造方法は、図1(d)に示すように、ブラインドビ
ァホールの底面の残渣物6の除去と絶縁樹脂層3の表面
の粗面化を前述したようにデスミヤ処理で行っている。
デスミヤ処理工程は過マンガン酸溶液中にプリント配線
板を10〜30分間浸漬して処理するため、デスミヤ処
理工程の時間の短縮に限界があり、又、溶液中での処理
のために溶液の管理や廃液の処理等、環境にも色々配慮
しなければならない。
の製造方法は、図1(d)に示すように、ブラインドビ
ァホールの底面の残渣物6の除去と絶縁樹脂層3の表面
の粗面化を前述したようにデスミヤ処理で行っている。
デスミヤ処理工程は過マンガン酸溶液中にプリント配線
板を10〜30分間浸漬して処理するため、デスミヤ処
理工程の時間の短縮に限界があり、又、溶液中での処理
のために溶液の管理や廃液の処理等、環境にも色々配慮
しなければならない。
【0008】本発明は上記問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とする処は、環境に良好でビルドアップ基
板を安価に得ることができるビルドアップ基板の製造方
法を提供することにある。
で、その目的とする処は、環境に良好でビルドアップ基
板を安価に得ることができるビルドアップ基板の製造方
法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、絶縁層上にブラインドホールが形成され
たプリント基板の前記ブラインドホール内のクリーニン
グと絶縁層表面の粗面化をレーザの照射によって同時に
行うことを特徴とする。
め、本発明は、絶縁層上にブラインドホールが形成され
たプリント基板の前記ブラインドホール内のクリーニン
グと絶縁層表面の粗面化をレーザの照射によって同時に
行うことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて説明する。
図面に基づいて説明する。
【0011】本発明に係るビルドアップ基板の製造工程
は、従来の製造方法と図1(a)〜(c)までは同じで
ある。
は、従来の製造方法と図1(a)〜(c)までは同じで
ある。
【0012】デスミヤ処理方法図1(d)において、本
発明方法では溶液を使用せず、図2に示す装置を用い
て、レーザ発振器11から発振されたレーザ光をシリン
ドリカルレンズ12及びマスク13を通してミラー14
で反射させ、投影レンズ15で集束させて被加工物であ
るプリント配線板17上に照射する。プリント配線板1
7は移動テーブル18上に置かれ、一定の速度で移動す
ることにより、ブラインドビァホールの底面の残渣物6
の除去と絶縁樹脂層3の表面の粗面化を行う。
発明方法では溶液を使用せず、図2に示す装置を用い
て、レーザ発振器11から発振されたレーザ光をシリン
ドリカルレンズ12及びマスク13を通してミラー14
で反射させ、投影レンズ15で集束させて被加工物であ
るプリント配線板17上に照射する。プリント配線板1
7は移動テーブル18上に置かれ、一定の速度で移動す
ることにより、ブラインドビァホールの底面の残渣物6
の除去と絶縁樹脂層3の表面の粗面化を行う。
【0013】KrFレーザを用いてラインビーム巾20
cm×1mm、周波数200Hz、出力200mj/c
m2 、移動速度3cm/秒で加工したところ、ブライン
ドビァホールの底面の残渣物6の完全除去と絶縁樹脂層
3の表面の粗さがデスミヤ処理と同様な粗さ2μmを得
ることができ、後工程の銅メッキも良好な密着性を得る
ことができた。
cm×1mm、周波数200Hz、出力200mj/c
m2 、移動速度3cm/秒で加工したところ、ブライン
ドビァホールの底面の残渣物6の完全除去と絶縁樹脂層
3の表面の粗さがデスミヤ処理と同様な粗さ2μmを得
ることができ、後工程の銅メッキも良好な密着性を得る
ことができた。
【0014】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、絶縁層上にブラインドホールが形成されたプリ
ント基板の前記ブラインドホール内のクリーニングと絶
縁層表面の粗面化をレーザの照射によって同時に行うよ
うにしたため、環境に良好でビルドアップ基板を安価に
得ることができる。
よれば、絶縁層上にブラインドホールが形成されたプリ
ント基板の前記ブラインドホール内のクリーニングと絶
縁層表面の粗面化をレーザの照射によって同時に行うよ
うにしたため、環境に良好でビルドアップ基板を安価に
得ることができる。
【図1】従来のビルトアップ基板の製造工程を示す断面
図である。
図である。
【図2】本発明に係るビルトアップ基板の製造方法に使
用される加工装置の斜視図である。
用される加工装置の斜視図である。
1 ガラスエポキシ基板
2 第1の金属配線層
3 絶縁樹脂層
4 銅メッキ層
5 第2の金属配線層
6 残渣物
11 KrFレーザ発振器
12 シリンドリカルレンズ
13 マスク
14 ミラー
15 投影レンズ
16 集光されたラインビーム
17 プリント配線板
18 移動テーブル
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考)
H05K 3/26 H05K 3/26 B
3/38 3/38 A
// B23K 101:42 B23K 101:42
Fターム(参考) 4E068 AF01 DA11
5E343 AA02 AA15 AA17 BB24 DD33
EE32 GG11
5E346 AA12 AA43 CC04 CC09 CC32
DD23 DD32 EE33 FF01 FF03
FF07 FF13 GG15 GG17 GG22
GG27 HH32
Claims (2)
- 【請求項1】 絶縁層上にブラインドホールが形成され
たプリント基板の前記ブラインドホール内のクリーニン
グと絶縁層表面の粗面化をレーザの照射によって同時に
行うことを特徴とするビルドアップ基板の製造方法。 - 【請求項2】 レーザを照射して行われる加工がエキシ
マーレーザによって行われることを特徴とする請求項1
記載のビルドアップ基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001213527A JP2003031953A (ja) | 2001-07-13 | 2001-07-13 | ビルドアップ基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001213527A JP2003031953A (ja) | 2001-07-13 | 2001-07-13 | ビルドアップ基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003031953A true JP2003031953A (ja) | 2003-01-31 |
Family
ID=19048488
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001213527A Withdrawn JP2003031953A (ja) | 2001-07-13 | 2001-07-13 | ビルドアップ基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003031953A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008003372A1 (de) * | 2008-01-08 | 2009-07-16 | Otto-Von-Guericke-Universität Magdeburg | Verfahren zur Herstellung eines mehrlagigen zwei- oder dreidimensionalen Schaltungsträgern |
JP2014099619A (ja) * | 2006-10-19 | 2014-05-29 | Quantam Global Technologies Llc | 基板処理構成部品からの残留物の除去 |
WO2020003421A1 (ja) * | 2018-06-27 | 2020-01-02 | ギガフォトン株式会社 | レーザ加工装置、レーザ加工システム、及びレーザ加工方法 |
JP2021049560A (ja) * | 2019-09-26 | 2021-04-01 | 株式会社オーク製作所 | アブレーション加工用の加工装置および加工方法 |
-
2001
- 2001-07-13 JP JP2001213527A patent/JP2003031953A/ja not_active Withdrawn
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014099619A (ja) * | 2006-10-19 | 2014-05-29 | Quantam Global Technologies Llc | 基板処理構成部品からの残留物の除去 |
DE102008003372A1 (de) * | 2008-01-08 | 2009-07-16 | Otto-Von-Guericke-Universität Magdeburg | Verfahren zur Herstellung eines mehrlagigen zwei- oder dreidimensionalen Schaltungsträgern |
DE102008003372B4 (de) * | 2008-01-08 | 2012-10-25 | Otto-Von-Guericke-Universität Magdeburg | Verfahren zur Herstellung eines mehrlagigen zwei- oder dreidimensionalen Schaltungsträgers |
WO2020003421A1 (ja) * | 2018-06-27 | 2020-01-02 | ギガフォトン株式会社 | レーザ加工装置、レーザ加工システム、及びレーザ加工方法 |
CN112088067A (zh) * | 2018-06-27 | 2020-12-15 | 极光先进雷射株式会社 | 激光加工装置、激光加工系统和激光加工方法 |
JPWO2020003421A1 (ja) * | 2018-06-27 | 2021-07-08 | ギガフォトン株式会社 | レーザ加工装置、レーザ加工システム、及びレーザ加工方法 |
JP7114708B2 (ja) | 2018-06-27 | 2022-08-08 | ギガフォトン株式会社 | レーザ加工装置、レーザ加工システム、及びレーザ加工方法 |
US11826852B2 (en) | 2018-06-27 | 2023-11-28 | Gigaphoton Inc. | Laser processing apparatus, laser processing system, and laser processing method |
JP2021049560A (ja) * | 2019-09-26 | 2021-04-01 | 株式会社オーク製作所 | アブレーション加工用の加工装置および加工方法 |
JP7393087B2 (ja) | 2019-09-26 | 2023-12-06 | 株式会社オーク製作所 | アブレーション加工用の加工装置および加工方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20060201 |
|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20081007 |