JP2003031606A - 金線ボンディング方法、装置、及びシステム - Google Patents
金線ボンディング方法、装置、及びシステムInfo
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- Mechanical Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 金線をより低温、特には25℃と定義される
室温においてボンディングする金線ボンディング方法,
装置,及びシステムを提供する。 【解決手段】 金線303を金製ボンディングパッド3
07にボンディングするための金線ボンディング装置に
おいて、金線303を支持するホルダ301と、ホルダ
301を周波数200kHz以下の周波数及び1W以下
の電力で振動させるための振動源309と、ホルダ30
1を金製ボンディングパッド307に押し当てるための
圧力源390とを具備する。
室温においてボンディングする金線ボンディング方法,
装置,及びシステムを提供する。 【解決手段】 金線303を金製ボンディングパッド3
07にボンディングするための金線ボンディング装置に
おいて、金線303を支持するホルダ301と、ホルダ
301を周波数200kHz以下の周波数及び1W以下
の電力で振動させるための振動源309と、ホルダ30
1を金製ボンディングパッド307に押し当てるための
圧力源390とを具備する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、ワイヤの
相互配線(相互接続)に関するものであり、より詳細に
は、室温での金線ボンディング方法,装置,及びシステ
ムに関する。
相互配線(相互接続)に関するものであり、より詳細に
は、室温での金線ボンディング方法,装置,及びシステ
ムに関する。
【0002】
【従来の技術】ワイヤボンディング技術は、2素子間の
電気接続を得るために用いられる。集積回路(IC)産
業においては、ワイヤボンディング技術は、ICチップ
をパッケージのリードフレーム或いはプリント回路基板
(PCB)に接続するために利用されている。ワイヤボ
ンディングに最もよく使用されるワイヤ材料としては、
アルミニウム及び金が挙げられる。金は、導電性,可鍛
性,及び耐腐食性がアルミニウムよりも高く、従ってこ
れらの特性を重要視する場合にはより好ましい相互配線
用金属である。
電気接続を得るために用いられる。集積回路(IC)産
業においては、ワイヤボンディング技術は、ICチップ
をパッケージのリードフレーム或いはプリント回路基板
(PCB)に接続するために利用されている。ワイヤボ
ンディングに最もよく使用されるワイヤ材料としては、
アルミニウム及び金が挙げられる。金は、導電性,可鍛
性,及び耐腐食性がアルミニウムよりも高く、従ってこ
れらの特性を重要視する場合にはより好ましい相互配線
用金属である。
【0003】金線をボンディングするための一般的な方
法として、熱圧着方式(熱圧縮方式)、及び、熱超音波
方式の2つがあげられる。熱圧着方式では、ワイヤとボ
ンディングパッドの界面に圧力(圧縮力)及び熱を印加
することにより、金属接合(metallic bond )が作られ
る。界面に熱が加えられると、その温度は約250℃と
なる。一方、熱超音波ボンディング方式では、ワイヤと
ボンディングパッドの界面に熱及び超音波エネルギを印
加することにより、金属接合が作られる。熱超音波ボン
ディング方式における代表的な温度は、約125℃であ
る。これらの何れの方法においても、結合(接合)を作
るために熱が必要とされる。残念なことに、アジレント
社のAll Optical Switchのような、
高温における耐性が無いデバイスは、多数存在する。熱
圧着方式及び熱超音波方式の両方における高い温度の下
で処理されると、これらのデバイスは破損してしまう。
その上、これら2つの方法によりボンディングされるデ
バイスの組立工程においては、加熱期間並びに冷却期間
が必要となる。このように長い時間を消費する工程が実
施されるため、製造工程全体に要する時間も長くなって
いるのである。
法として、熱圧着方式(熱圧縮方式)、及び、熱超音波
方式の2つがあげられる。熱圧着方式では、ワイヤとボ
ンディングパッドの界面に圧力(圧縮力)及び熱を印加
することにより、金属接合(metallic bond )が作られ
る。界面に熱が加えられると、その温度は約250℃と
なる。一方、熱超音波ボンディング方式では、ワイヤと
ボンディングパッドの界面に熱及び超音波エネルギを印
加することにより、金属接合が作られる。熱超音波ボン
ディング方式における代表的な温度は、約125℃であ
る。これらの何れの方法においても、結合(接合)を作
るために熱が必要とされる。残念なことに、アジレント
社のAll Optical Switchのような、
高温における耐性が無いデバイスは、多数存在する。熱
圧着方式及び熱超音波方式の両方における高い温度の下
で処理されると、これらのデバイスは破損してしまう。
その上、これら2つの方法によりボンディングされるデ
バイスの組立工程においては、加熱期間並びに冷却期間
が必要となる。このように長い時間を消費する工程が実
施されるため、製造工程全体に要する時間も長くなって
いるのである。
【0004】米国特許第5,984,162号(以下
「‘162号特許」と記載する)においては、超音波エ
ネルギ及び圧力により、室温で金線をアルミニウム製ボ
ンディングパッドにボンディングする方法が記載されて
いる。しかしながら、’162号特許に記載される方法
において必要とされる超音波エネルギの高い周波数(2
00kHzを超える周波数、特に235〜245kHz
の範囲の周波数)は、現在市販されるワイヤボンダでは
提供されていない。‘162号特許で必要とされる周波
数を提供するためには、ワイヤボンダを改良しなければ
ならない。更に、’162号特許では、ワイヤを支持す
るキャピラリ装置の改良も必要とする。これらの改良を
要するため、‘162号特許の方法の実用化は容易とは
言えない。
「‘162号特許」と記載する)においては、超音波エ
ネルギ及び圧力により、室温で金線をアルミニウム製ボ
ンディングパッドにボンディングする方法が記載されて
いる。しかしながら、’162号特許に記載される方法
において必要とされる超音波エネルギの高い周波数(2
00kHzを超える周波数、特に235〜245kHz
の範囲の周波数)は、現在市販されるワイヤボンダでは
提供されていない。‘162号特許で必要とされる周波
数を提供するためには、ワイヤボンダを改良しなければ
ならない。更に、’162号特許では、ワイヤを支持す
るキャピラリ装置の改良も必要とする。これらの改良を
要するため、‘162号特許の方法の実用化は容易とは
言えない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って、より低い温
度、好ましくは室温において、200kHzより低い周
波数、特には現行の未改良の市販のワイヤボンダが提供
し得る周波数により金線のボンディングを実施する方法
に対する要求は、未だに応えられていない。
度、好ましくは室温において、200kHzより低い周
波数、特には現行の未改良の市販のワイヤボンダが提供
し得る周波数により金線のボンディングを実施する方法
に対する要求は、未だに応えられていない。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、金線をより低
温、特には25℃と定義される室温においてボンディン
グする方法に係るものである。圧力及び超音波エネルギ
を印加することにより、熱を加えることなく室温で金線
と金製ボンディングパッドとの金属接合を実現すること
ができる。更に、本発明は、市販されるワイヤボンダの
周波数範囲に充分に入る低い周波数の超音波エネルギを
使用するものである。
温、特には25℃と定義される室温においてボンディン
グする方法に係るものである。圧力及び超音波エネルギ
を印加することにより、熱を加えることなく室温で金線
と金製ボンディングパッドとの金属接合を実現すること
ができる。更に、本発明は、市販されるワイヤボンダの
周波数範囲に充分に入る低い周波数の超音波エネルギを
使用するものである。
【0007】一実施形態においては、金線を金製ボンデ
ィングパッドに対して周波数100〜138kHz,電
力75〜220mW,圧力40〜150g,及びボンデ
ィング時間20〜70ミリセカンドで振動させる。これ
らのパラメータは、例えばAdvanced Semi
conductor Materials(ASM)社
のAB339のような市販のワイヤボンダでも容易に実
現することができる。なお、金製ボンディングパッドへ
の金線のボンディングを室温で実施するためにこのAB
339ボンダに改変を加える必要は無い。
ィングパッドに対して周波数100〜138kHz,電
力75〜220mW,圧力40〜150g,及びボンデ
ィング時間20〜70ミリセカンドで振動させる。これ
らのパラメータは、例えばAdvanced Semi
conductor Materials(ASM)社
のAB339のような市販のワイヤボンダでも容易に実
現することができる。なお、金製ボンディングパッドへ
の金線のボンディングを室温で実施するためにこのAB
339ボンダに改変を加える必要は無い。
【0008】本発明の更なる特徴は、その実施形態の構
造及び作用と共に添付図面を参照しながら以下に詳細に
わたって説明する。図面においては、同一の要素或いは
機能的に同様の要素には同様の符号を付した。
造及び作用と共に添付図面を参照しながら以下に詳細に
わたって説明する。図面においては、同一の要素或いは
機能的に同様の要素には同様の符号を付した。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明は、市販のワイヤボンダを
使用して金製ボンディングパッドへの金線のボンディン
グを室温にて実施する方法である。本発明は、超音波エ
ネルギ及び圧力を金線と金製ボンディングパッドとの間
の界面に印加することにより、熱を加えることなく金属
接合を形成するようにしたものである。
使用して金製ボンディングパッドへの金線のボンディン
グを室温にて実施する方法である。本発明は、超音波エ
ネルギ及び圧力を金線と金製ボンディングパッドとの間
の界面に印加することにより、熱を加えることなく金属
接合を形成するようにしたものである。
【0010】図1は、従来方法に基づいて金線を金製ボ
ンディングパッドへボンディングする手順を説明するフ
ローチャートである。ステップ101においては、プラ
ズマ洗浄(プラズマ・クリーニング)と呼ばれる処理に
より金製ボンディングパッドの表面が完全に清浄化され
る。プラズマク洗浄とは、アルゴンのようなイオン化ガ
スを被洗浄物の表面へ衝突させることにより分子レベル
における清浄化を実施する処理である。ステップ103
においては、金線のボンディングされる側の端部に電気
スパークを発生させることにより、そこに金ボールが形
成される。ステップ105においては、金ボールが第1
の金製ボンディングパッドの表面(一般的にはIC上に
位置する)へ押し当てられる。この後のステップは、熱
圧着方式及び熱超音波方式の何れを採用しているかによ
り異なる。ステップ107Aは、熱圧着方式を採用する
場合のステップであり、金ボール及び第1の金製ボンデ
ィングパッドに対して熱及び圧力が同時に印加され、こ
れによってボールボンディングが形成される。ステップ
107Bは、熱超音波ボンディングを採用する場合のス
テップであり、金ボール及び第1の金製ボンディングパ
ッドに対して熱及び超音波エネルギが同時に印加され、
これによってボールボンディングが形成される。
ンディングパッドへボンディングする手順を説明するフ
ローチャートである。ステップ101においては、プラ
ズマ洗浄(プラズマ・クリーニング)と呼ばれる処理に
より金製ボンディングパッドの表面が完全に清浄化され
る。プラズマク洗浄とは、アルゴンのようなイオン化ガ
スを被洗浄物の表面へ衝突させることにより分子レベル
における清浄化を実施する処理である。ステップ103
においては、金線のボンディングされる側の端部に電気
スパークを発生させることにより、そこに金ボールが形
成される。ステップ105においては、金ボールが第1
の金製ボンディングパッドの表面(一般的にはIC上に
位置する)へ押し当てられる。この後のステップは、熱
圧着方式及び熱超音波方式の何れを採用しているかによ
り異なる。ステップ107Aは、熱圧着方式を採用する
場合のステップであり、金ボール及び第1の金製ボンデ
ィングパッドに対して熱及び圧力が同時に印加され、こ
れによってボールボンディングが形成される。ステップ
107Bは、熱超音波ボンディングを採用する場合のス
テップであり、金ボール及び第1の金製ボンディングパ
ッドに対して熱及び超音波エネルギが同時に印加され、
これによってボールボンディングが形成される。
【0011】ボールボンディングが形成されると、金線
は、一般的にはパッケージリードフレーム又はPCB上
にある第2の金製ボンディングパッドへと運ばれ、ワイ
ヤループが形成される(ステップ109参照)。ステッ
プ111において、金線は、第2の金製ボンディングパ
ッドへと押し当てられる。その後、熱圧着方式のステッ
プ113A又は熱超音波方式のステップ113Bの何れ
かが選択され、金属接合が形成される。この時点で形成
された接合は、ウエッジボンディングと呼ばれる。ウエ
ッジボンディングが形成された後に、ステップ115に
おいて、金線は、切断されて除去される。
は、一般的にはパッケージリードフレーム又はPCB上
にある第2の金製ボンディングパッドへと運ばれ、ワイ
ヤループが形成される(ステップ109参照)。ステッ
プ111において、金線は、第2の金製ボンディングパ
ッドへと押し当てられる。その後、熱圧着方式のステッ
プ113A又は熱超音波方式のステップ113Bの何れ
かが選択され、金属接合が形成される。この時点で形成
された接合は、ウエッジボンディングと呼ばれる。ウエ
ッジボンディングが形成された後に、ステップ115に
おいて、金線は、切断されて除去される。
【0012】図2は、本発明の教示内容に基づいて構成
された実施形態を説明するフローチャートである。ステ
ップ101,103,105,109,111,及び1
15は、図1の従来方法と変わらない。しかしながら、
ステップ201においては、加熱することなく、圧力
(圧縮力)及び超音波エネルギが同時に印加され、金ボ
ールと金製ボンディングパッドとの間に金属接合が形成
される。同様に、ステップ203においても、加熱する
ことなく、圧力及び超音波エネルギが同時に印加され、
金線と金製ボンディングパッドとの間に金属接合が形成
される。ステップ201及び203の目的は、室温にて
良好な接合を作ることであって、熱圧着方式又は熱超音
波方式のような高温手法により作られる接合と同じ強度
を持つ接合を作ることである。0.0013インチ径の
金線の場合、良好な接合の最低引張強度は8グラム、最
低せん断強度は45グラムである。
された実施形態を説明するフローチャートである。ステ
ップ101,103,105,109,111,及び1
15は、図1の従来方法と変わらない。しかしながら、
ステップ201においては、加熱することなく、圧力
(圧縮力)及び超音波エネルギが同時に印加され、金ボ
ールと金製ボンディングパッドとの間に金属接合が形成
される。同様に、ステップ203においても、加熱する
ことなく、圧力及び超音波エネルギが同時に印加され、
金線と金製ボンディングパッドとの間に金属接合が形成
される。ステップ201及び203の目的は、室温にて
良好な接合を作ることであって、熱圧着方式又は熱超音
波方式のような高温手法により作られる接合と同じ強度
を持つ接合を作ることである。0.0013インチ径の
金線の場合、良好な接合の最低引張強度は8グラム、最
低せん断強度は45グラムである。
【0013】ボンディング強度に影響を及ぼす温度以外
の重要なパラメータとしては、超音波周波数,超音波電
力,印加力(圧力若しくは圧縮力),及びボンディング
時間が挙げられる。これらのパラメータに異なる値を用
いて実験を行った結果、最適なパラメータ値セットが明
らかになった。これらの実験においては、ASM社のA
B339熱超音波式ワイヤボンダを使用した。AB33
9は、ヒーターを含むが、しかしこのヒーターは本発明
において使用されることはなく、その電源は入れずに実
施した。ボンディングを実施する全てのデバイスには、
そのために特別に製作したワークホルダが必要である
が、AB339ワイヤボンダ自体に変更を加える必要は
無い。表1は、良好な接合が得られたパラメータ範囲と
して経験的に得られた値を示している。
の重要なパラメータとしては、超音波周波数,超音波電
力,印加力(圧力若しくは圧縮力),及びボンディング
時間が挙げられる。これらのパラメータに異なる値を用
いて実験を行った結果、最適なパラメータ値セットが明
らかになった。これらの実験においては、ASM社のA
B339熱超音波式ワイヤボンダを使用した。AB33
9は、ヒーターを含むが、しかしこのヒーターは本発明
において使用されることはなく、その電源は入れずに実
施した。ボンディングを実施する全てのデバイスには、
そのために特別に製作したワークホルダが必要である
が、AB339ワイヤボンダ自体に変更を加える必要は
無い。表1は、良好な接合が得られたパラメータ範囲と
して経験的に得られた値を示している。
【0014】
【表1】
【0015】図3は、金線を金製ボンディングパッドへ
ボンディングするための金線ボンディング装置の一例を
描いたものである。ホルダ301は、金線303を支持
している。金線303の一端には、図2のステップ10
3に説明する方法で作られた金ボール305がある。金
ボール305は、厚さTを持つ金製ボンディングパッド
307と接触している。圧力源311がホルダ301,
金線303,及び金ボール305へ圧力を印加し、表1
に示す範囲の印加力(圧力)で金ボール305を金製ボ
ンディングパッド307に押し付けている。ホルダ30
1は、トランスデューサー等の振動源309に接続され
ており、金線303を表1に示した所望の周波数及び電
力で振動させている。金製ボンディングパッドの厚さ
T、並びに、金製ボンディングパッド中の金の純度は、
金線303と金製ボンディングパッド307との間の接
合品質に影響を与えるものである。金製ボンディングパ
ッド307は、理想的には、0.75〜1.3μの厚さ
とすべきである。更に、金製ボンディングパッド307
は、金の純度及び均一性を保証するために、電解めっき
処理されたものを使用するべきである。
ボンディングするための金線ボンディング装置の一例を
描いたものである。ホルダ301は、金線303を支持
している。金線303の一端には、図2のステップ10
3に説明する方法で作られた金ボール305がある。金
ボール305は、厚さTを持つ金製ボンディングパッド
307と接触している。圧力源311がホルダ301,
金線303,及び金ボール305へ圧力を印加し、表1
に示す範囲の印加力(圧力)で金ボール305を金製ボ
ンディングパッド307に押し付けている。ホルダ30
1は、トランスデューサー等の振動源309に接続され
ており、金線303を表1に示した所望の周波数及び電
力で振動させている。金製ボンディングパッドの厚さ
T、並びに、金製ボンディングパッド中の金の純度は、
金線303と金製ボンディングパッド307との間の接
合品質に影響を与えるものである。金製ボンディングパ
ッド307は、理想的には、0.75〜1.3μの厚さ
とすべきである。更に、金製ボンディングパッド307
は、金の純度及び均一性を保証するために、電解めっき
処理されたものを使用するべきである。
【0016】金線303は、振動源309によって20
0kHz以下の周波数及び1W以下の電力で振動され、
これにより金線303と金製ボンディングパッド307
との間に金属接合が形成される。なお、振動源309に
よる振動の印加は、140kHz以下の周波数にて実施
されるのが好ましく、100kHz〜138kHzの範
囲の周波数にて実施されるのがさらに好ましい。また、
振動源309による振動の印加は、220mW以下の電
力で実施されるのが好ましく、75mW〜220mWの
範囲の電力で実施されるのがさらに好ましい。また、振
動源309による振動の印加は、70ミリセカンド以下
の期間中に実施されるのが好ましく、20〜70ミリセ
カンドの範囲の期間中に実施されるのがさらに好まし
い。また、圧力源311による圧力の印加は、150グ
ラム以下の静的力により実施されるのが好ましく、40
〜150グラムの範囲の静的力により実施されるのがさ
らに好ましい。また、圧力源311及び振動源309に
よる圧力及び振動の印加は、20〜30℃の範囲の温度
(25℃で定義される室温を含む)の下で実施されるの
が好ましい。
0kHz以下の周波数及び1W以下の電力で振動され、
これにより金線303と金製ボンディングパッド307
との間に金属接合が形成される。なお、振動源309に
よる振動の印加は、140kHz以下の周波数にて実施
されるのが好ましく、100kHz〜138kHzの範
囲の周波数にて実施されるのがさらに好ましい。また、
振動源309による振動の印加は、220mW以下の電
力で実施されるのが好ましく、75mW〜220mWの
範囲の電力で実施されるのがさらに好ましい。また、振
動源309による振動の印加は、70ミリセカンド以下
の期間中に実施されるのが好ましく、20〜70ミリセ
カンドの範囲の期間中に実施されるのがさらに好まし
い。また、圧力源311による圧力の印加は、150グ
ラム以下の静的力により実施されるのが好ましく、40
〜150グラムの範囲の静的力により実施されるのがさ
らに好ましい。また、圧力源311及び振動源309に
よる圧力及び振動の印加は、20〜30℃の範囲の温度
(25℃で定義される室温を含む)の下で実施されるの
が好ましい。
【0017】以上を要約すると、次の通りである。すな
わち、本発明は、125℃以下の温度、特に25℃で定
義される室温で金線を金製ボンディングパッドにボンデ
ィング(結合)する方法に関するものである。圧力(圧
縮力)及び超音波エネルギを印加することによって(ス
テップ201,203参照)、温度を上げることなく金
属間結( intermetallic bond )が金線(303)と金製
ボンディングパッド(307)との間に形成され得る。
さらに、本発明では、市販のワイヤボンダが提供し得る
範囲の周波数である十分に低い周波数の超音波エネルギ
を使用する。
わち、本発明は、125℃以下の温度、特に25℃で定
義される室温で金線を金製ボンディングパッドにボンデ
ィング(結合)する方法に関するものである。圧力(圧
縮力)及び超音波エネルギを印加することによって(ス
テップ201,203参照)、温度を上げることなく金
属間結( intermetallic bond )が金線(303)と金製
ボンディングパッド(307)との間に形成され得る。
さらに、本発明では、市販のワイヤボンダが提供し得る
範囲の周波数である十分に低い周波数の超音波エネルギ
を使用する。
【図1】従来方法に基づいて金線を金製ボンディングパ
ッドへボンディングするステップを説明するためのフロ
ーチャートである。
ッドへボンディングするステップを説明するためのフロ
ーチャートである。
【図2】本発明の方法に基づいて金線を金製ボンディン
グパッドへボンディングするステップを説明するための
フローチャートである。
グパッドへボンディングするステップを説明するための
フローチャートである。
【図3】室温での金線ボンディングを実現するために用
いられる金線ボンディング装置を示す図である。
いられる金線ボンディング装置を示す図である。
301 ホルダ
303 金線
305 金ボール
307 金製ボンディングパッド
309 振動源
311 圧力源
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 キム・エイチ・チェン
アメリカ合衆国カリフォルニア州94539,
フリモント,ビーヴァー・コート 852
(72)発明者 スジン・チェ
アメリカ合衆国カリフォルニア州95051,
サンタ・クララ,マウリシア・アベニュー
2890
(72)発明者 チュン・イェー・チャン
シンガポール国シンガポール596380,ユ
ク・トン・アベニュー 79
(72)発明者 ジョニー・モニス・ニゴス
シンガポール国シンガポール470616,ベド
ック・リザーバー・ロード,ブロック
616,#07−1120
Fターム(参考) 5F044 BB00 CC00 JJ00
Claims (12)
- 【請求項1】 金線を金製ボンディングパッドにボンデ
ィングするための金銭ボンディング方法であって、前記
金線を金製ボンディングパッドに押し当てるステップ
と、前記金線を200kHz以下の周波数及び1W以下
の電力で振動させ、これにより前記金線と前記金製ボン
ディングパッドとの間に金属接合を形成するステップ
と、を含むことを特徴とする金線ボンディング方法。 - 【請求項2】 金線を金製ボンディングパッドにボンデ
ィングするための金線ボンディング装置であって、前記
金線を支持するホルダと、前記ホルダを周波数200k
Hz以下の周波数及び1W以下の電力で振動させるため
の振動源と、前記ホルダを前記金製ボンディングパッド
に押し当てるための圧力源と、を具備することを特徴と
する金線ボンディング装置。 - 【請求項3】 前記振動の印加が、140kHz以下の
周波数にて実施されることを特徴とする請求項1又は2
に記載のシステム。 - 【請求項4】 前記振動の印加が、100kHz〜13
8kHzの範囲の周波数にて実施されることを特徴とす
る請求項3に記載のシステム。 - 【請求項5】 前記振動の印加が、220mW以下の電
力で実施されることを特徴とする請求項1又は2に記載
のシステム。 - 【請求項6】 前記振動の印加が、75mW〜220m
Wの範囲の電力で実施されることを特徴とする請求項5
に記載のシステム。 - 【請求項7】 前記圧力の印加が、150グラム以下の
静的力により実施されることを特徴とする請求項1又は
2に記載のシステム。 - 【請求項8】 前記圧力の印加が、40〜150グラム
の範囲の静的力により実施されることを特徴とする請求
項7に記載のシステム。 - 【請求項9】 前記振動の印加が、70ミリセカンド以
下の期間中に実施されることを特徴とする請求項1又は
2に記載のシステム。 - 【請求項10】 前記振動の印加が、20〜70ミリセ
カンドの範囲の期間中に実施されることを特徴とする請
求項9に記載のシステム。 - 【請求項11】 前記圧力源及び振動源による圧力及び
振動の印加が、20〜30℃の範囲の温度下で実施され
ることを特徴とする請求項1又は2に記載のシステム。 - 【請求項12】 前記金製ボンディングパッドが、電解
めっき処理されたものであることを特徴とする請求項1
又は2に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/882135 | 2001-06-14 | ||
US09/882,135 US20030006267A1 (en) | 2001-06-14 | 2001-06-14 | Room temperature gold wire bonding |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003031606A true JP2003031606A (ja) | 2003-01-31 |
Family
ID=25379963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002170867A Pending JP2003031606A (ja) | 2001-06-14 | 2002-06-12 | 金線ボンディング方法、装置、及びシステム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US20030006267A1 (ja) |
EP (1) | EP1266715A1 (ja) |
JP (1) | JP2003031606A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014150258A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Seagate Technology Llc | 周囲温度ボールボンディング |
Families Citing this family (13)
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---|---|---|---|---|
US8021976B2 (en) * | 2002-10-15 | 2011-09-20 | Megica Corporation | Method of wire bonding over active area of a semiconductor circuit |
JP3681676B2 (ja) * | 2001-11-16 | 2005-08-10 | 松下電器産業株式会社 | バンプボンディング方法及び装置 |
US20050186690A1 (en) * | 2004-02-25 | 2005-08-25 | Megic Corporation | Method for improving semiconductor wafer test accuracy |
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