JP2003030877A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
- Publication number
- JP2003030877A JP2003030877A JP2001217197A JP2001217197A JP2003030877A JP 2003030877 A JP2003030877 A JP 2003030877A JP 2001217197 A JP2001217197 A JP 2001217197A JP 2001217197 A JP2001217197 A JP 2001217197A JP 2003030877 A JP2003030877 A JP 2003030877A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- eccentricity
- optical disc
- correction
- amount
- phase difference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0953—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for eccentricity of the disc or disc tracks
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ディスクが回転方向に滑っても、正しく偏芯
補正を行うことができる光ディスクを提供するものであ
る。 【解決手段】 最小値検出手段２０によりＴＥ信号の振
幅を検出し、コンパレータ１０において基準値との比較
によりディスクの滑りを検出し、傷検出信号２２が出力
されていない場合に、記憶手段５の保持する偏芯量を再
計測する構成とした。
補正を行うことができる光ディスクを提供するものであ
る。 【解決手段】 最小値検出手段２０によりＴＥ信号の振
幅を検出し、コンパレータ１０において基準値との比較
によりディスクの滑りを検出し、傷検出信号２２が出力
されていない場合に、記憶手段５の保持する偏芯量を再
計測する構成とした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスクおよび光
ディスクドライブの持つ偏芯を補正しながら情報を記録
・再生する光ディスク装置に関する。
ディスクドライブの持つ偏芯を補正しながら情報を記録
・再生する光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクにはある程度の偏芯があり、
この偏芯のあるディスクに対してトラッキングだけで制
御しようとすると、トラッキング制御に対する負担が大
きくなり、記録・再生信号に悪影響を与えたり、トラッ
キング能力を越えてトラッキングが外れたりする可能性
がある。従来、偏芯補正を行う光ディスク装置に関して
は特開昭６３一２７１７３４号公報に記載されたものが
知られている。
この偏芯のあるディスクに対してトラッキングだけで制
御しようとすると、トラッキング制御に対する負担が大
きくなり、記録・再生信号に悪影響を与えたり、トラッ
キング能力を越えてトラッキングが外れたりする可能性
がある。従来、偏芯補正を行う光ディスク装置に関して
は特開昭６３一２７１７３４号公報に記載されたものが
知られている。
【０００３】図１１は、この従来の光ディスク装置の構
成を示すブロック図である。図１１において、１は光デ
ィスク、２は光学ヘッド、３は移送手段、４は制御信
号、データ等の再生信号を増幅する増幅手段、５は記憶
手段、６は制御増幅回路、７は記憶指令で、８は光りデ
ィスク１回転に相当するトラックアドレス、セクターア
ドレス等の信号を検出する読み取り手段、９は加算手
段、１０はズレ量のトータルである加算手段９の出力が
設定レベル１１を越えたか否かを判定するコンパレー
タ、２１はスピンドルモータである。
成を示すブロック図である。図１１において、１は光デ
ィスク、２は光学ヘッド、３は移送手段、４は制御信
号、データ等の再生信号を増幅する増幅手段、５は記憶
手段、６は制御増幅回路、７は記憶指令で、８は光りデ
ィスク１回転に相当するトラックアドレス、セクターア
ドレス等の信号を検出する読み取り手段、９は加算手
段、１０はズレ量のトータルである加算手段９の出力が
設定レベル１１を越えたか否かを判定するコンパレー
タ、２１はスピンドルモータである。
【０００４】次に、上記のように構成された従来の光デ
ィスク装置の動作について説明する。光学ヘッド２から
出射された光ビームは光ディスク１で反射された後、光
学ヘッド２で受光され、増幅手段４に入力される。増幅
手段４においてトラッキング誤差信号（以下ＴＥ信号と
記す）を検出した後、ローパスフィルタにより、光ディ
スクの偏芯量に相当する、ＴＥ信号の低周波成分を抽出
する。この低周波成分量の光ディスク１の１回転分を記
憶手段５に記憶する。光ディスク１の回転位置に応じて
記憶手段５より偏芯量を読み出した後制御増幅回路６に
加え、移送手段３に入力し、偏芯量を抑える方向に制御
を行う。
ィスク装置の動作について説明する。光学ヘッド２から
出射された光ビームは光ディスク１で反射された後、光
学ヘッド２で受光され、増幅手段４に入力される。増幅
手段４においてトラッキング誤差信号（以下ＴＥ信号と
記す）を検出した後、ローパスフィルタにより、光ディ
スクの偏芯量に相当する、ＴＥ信号の低周波成分を抽出
する。この低周波成分量の光ディスク１の１回転分を記
憶手段５に記憶する。光ディスク１の回転位置に応じて
記憶手段５より偏芯量を読み出した後制御増幅回路６に
加え、移送手段３に入力し、偏芯量を抑える方向に制御
を行う。
【０００５】さらに、光ディスクの回転方向の滑りによ
り、移送手段３に加える信号と実際の偏芯量との位相が
ずれる場合は、光ディスク１より読み出したアドレス情
報等と基準信号とのズレ量を求め、そのズレ量を加算手
段９において積算し、その結果とコンパレータ１０にお
いて設定レベルとの比較を行い、設定レベルを超えた場
合に再度偏芯量を計測し直し記憶手段５に蓄えることに
より光ディスクへの滑りに対応していた。
り、移送手段３に加える信号と実際の偏芯量との位相が
ずれる場合は、光ディスク１より読み出したアドレス情
報等と基準信号とのズレ量を求め、そのズレ量を加算手
段９において積算し、その結果とコンパレータ１０にお
いて設定レベルとの比較を行い、設定レベルを超えた場
合に再度偏芯量を計測し直し記憶手段５に蓄えることに
より光ディスクへの滑りに対応していた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この従来の光ディスク
装置においては、光ディスクの回転方向の滑りを検出す
るために光ディスクから読取ったアドレス情報等を用い
ている。しかし、滑りが生じ偏芯補正を行うことにより
トラッキング制御に影響が出た場合、アドレス情報等の
読み率が低下し正確なタイミングが得られなくなるとい
う問題があった。
装置においては、光ディスクの回転方向の滑りを検出す
るために光ディスクから読取ったアドレス情報等を用い
ている。しかし、滑りが生じ偏芯補正を行うことにより
トラッキング制御に影響が出た場合、アドレス情報等の
読み率が低下し正確なタイミングが得られなくなるとい
う問題があった。
【０００７】またトラッキングサーボが掛かり正しくデ
ータが読めるようになった後でしか利用することができ
ないため、シークした直後などまだデータが正確に読め
ない状態では、記憶した偏芯量と実際のディスクの偏芯
量との間にズレが生じたか確認できないという問題もあ
った。そのため、アドレス情報等の光ディスクに記録さ
れた情報に基づかない光ディスクの滑り検出方法による
偏芯補正および再計測補正が要求されている。
ータが読めるようになった後でしか利用することができ
ないため、シークした直後などまだデータが正確に読め
ない状態では、記憶した偏芯量と実際のディスクの偏芯
量との間にズレが生じたか確認できないという問題もあ
った。そのため、アドレス情報等の光ディスクに記録さ
れた情報に基づかない光ディスクの滑り検出方法による
偏芯補正および再計測補正が要求されている。
【０００８】本発明は、上記の問題を解決するためにな
されたもので、トラッキング誤差信号などの情報に基づ
いて光ディスクの滑りを検出し、偏芯量の再計測を行っ
て偏芯を補正する光ディスク装置を提供することを目的
とする。
されたもので、トラッキング誤差信号などの情報に基づ
いて光ディスクの滑りを検出し、偏芯量の再計測を行っ
て偏芯を補正する光ディスク装置を提供することを目的
とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに本発明は、本発明の請求項１に記載の光ディスク装
置は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポッ
トを照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは
光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクの偏芯量を検出する偏芯検出手段と、前記偏芯検出
手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前
記誤差信号生成手段の出力が所定の設定値以上の値とな
った際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正
されるように制御する制御手段と、を備えたものであ
る。
めに本発明は、本発明の請求項１に記載の光ディスク装
置は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポッ
トを照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは
光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクの偏芯量を検出する偏芯検出手段と、前記偏芯検出
手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前
記誤差信号生成手段の出力が所定の設定値以上の値とな
った際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正
されるように制御する制御手段と、を備えたものであ
る。
【００１０】また、本発明の請求項２に記載の光ディス
ク装置は、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録しま
たは光ディスクから情報を再生する光ディスク装置にお
いて、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラ
ックに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光デ
ィスクの偏芯量を検出する偏芯検出手段と、前記偏芯検
出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の基準値との
比較を行う比較回路と、前記比較回路において前記所定
の基準値を越えたことを検出した場合、前記記憶手段に
記憶されている偏芯量が補正されるように制御する制御
手段と、を備えたものである。
ク装置は、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録しま
たは光ディスクから情報を再生する光ディスク装置にお
いて、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラ
ックに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光デ
ィスクの偏芯量を検出する偏芯検出手段と、前記偏芯検
出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の基準値との
比較を行う比較回路と、前記比較回路において前記所定
の基準値を越えたことを検出した場合、前記記憶手段に
記憶されている偏芯量が補正されるように制御する制御
手段と、を備えたものである。
【００１１】本発明の請求項３に記載の光ディスク装置
は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポット
を照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは光
ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、
前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディスク
の偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯検出手
段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前記
偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶手段の出
力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段と、
前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値とな
った際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正
されるように制御する制御手段とを備えたものである。
は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポット
を照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは光
ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、
前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディスク
の偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯検出手
段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前記
偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶手段の出
力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段と、
前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値とな
った際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正
されるように制御する制御手段とを備えたものである。
【００１２】本発明の請求項４に記載の光ディスク装置
は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポット
を照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは光
ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、
前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディスク
を回転させる回転手段の回転位置に応じて信号を出力す
る回転位置検出手段と、前記光ディスクの偏芯量を検出
する偏芯量検出手段と、前記偏芯検出手段により検出さ
れた偏芯量を記憶する記憶手段と、前記回転位置検出手
段の出力する位置情報と、前記記憶手段の出力する偏芯
量との位相差を検出する位相差検出手段と、前記位相差
検出手段の出力が所定の設定値以上の値となった際に、
前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正されるよう
に制御する制御手段とを備えたものである。
は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポット
を照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは光
ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、
前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディスク
を回転させる回転手段の回転位置に応じて信号を出力す
る回転位置検出手段と、前記光ディスクの偏芯量を検出
する偏芯量検出手段と、前記偏芯検出手段により検出さ
れた偏芯量を記憶する記憶手段と、前記回転位置検出手
段の出力する位置情報と、前記記憶手段の出力する偏芯
量との位相差を検出する位相差検出手段と、前記位相差
検出手段の出力が所定の設定値以上の値となった際に、
前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正されるよう
に制御する制御手段とを備えたものである。
【００１３】本発明の請求項５に記載の光ディスク装置
は、請求項３または請求項４に記載の光ディスク装置に
おいて、前記位相差検出手段の出力は所定の設定値以上
の値となった場合、前記制御手段は、前記記憶手段が前
記位相差検出手段により検出された位相差に基づいて偏
芯補正量を出力するタイミングを変更するように制御す
るものである。
は、請求項３または請求項４に記載の光ディスク装置に
おいて、前記位相差検出手段の出力は所定の設定値以上
の値となった場合、前記制御手段は、前記記憶手段が前
記位相差検出手段により検出された位相差に基づいて偏
芯補正量を出力するタイミングを変更するように制御す
るものである。
【００１４】本発明の請求項６に記載の光ディスク装置
は、請求項３または請求項４に記載の光ディスク装置に
おいて、前記位相差検出手段の出力は所定の設定値以上
の値となった場合、前記制御手段は、前記記憶手段が前
記光ディスクの偏芯量を再記憶するように制御するもの
である。
は、請求項３または請求項４に記載の光ディスク装置に
おいて、前記位相差検出手段の出力は所定の設定値以上
の値となった場合、前記制御手段は、前記記憶手段が前
記光ディスクの偏芯量を再記憶するように制御するもの
である。
【００１５】本発明の請求項７に記載の光ディスク装置
は、請求項２から請求項６のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記誤差生成手段の出力も所定の設定
値以上の値となった場合のみ、前記制御手段は、前記記
憶手段に記憶されている偏芯量の補正制御を行うもので
ある。
は、請求項２から請求項６のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記誤差生成手段の出力も所定の設定
値以上の値となった場合のみ、前記制御手段は、前記記
憶手段に記憶されている偏芯量の補正制御を行うもので
ある。
【００１６】本発明の請求項８に記載の光ディスク装置
は、請求項１から請求項７のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記誤差検出信号の出力の最小値が一
定時間以上所定の値を超えたことを検出する最小値検出
手段を備え、前記最小値検出手段は前記誤差検出信号の
出力の最小値が一定時間以上所定の値を超えた誤差信号
を検出した場合においてのみ、前記制御手段は、前記記
憶手段に記憶されている偏芯量の補正制御を行うもので
ある。
は、請求項１から請求項７のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記誤差検出信号の出力の最小値が一
定時間以上所定の値を超えたことを検出する最小値検出
手段を備え、前記最小値検出手段は前記誤差検出信号の
出力の最小値が一定時間以上所定の値を超えた誤差信号
を検出した場合においてのみ、前記制御手段は、前記記
憶手段に記憶されている偏芯量の補正制御を行うもので
ある。
【００１７】本発明の請求項９に記載の光ディスク装置
は、請求項１から請求項８のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記光ディスク上の傷を検出する傷検
出回路をさらに備え、前記傷検出回路により傷を検出し
た場合、前記制御手段は、前記記憶手段に記憶されてい
る偏芯量の補正を行なわないように制御するものであ
る。
は、請求項１から請求項８のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記光ディスク上の傷を検出する傷検
出回路をさらに備え、前記傷検出回路により傷を検出し
た場合、前記制御手段は、前記記憶手段に記憶されてい
る偏芯量の補正を行なわないように制御するものであ
る。
【００１８】
【発明の実施の形態】（実施の形態１）以下に、本発明
の請求項１、請求項８及び請求項９に記載された発明に
対応する、実施の形態１について、図１及び図２を参照
しながら説明する。図１は、本発明の実施の形態１にお
ける光りディスク装置の構成を示すブロック図である。
の請求項１、請求項８及び請求項９に記載された発明に
対応する、実施の形態１について、図１及び図２を参照
しながら説明する。図１は、本発明の実施の形態１にお
ける光りディスク装置の構成を示すブロック図である。
【００１９】図１において、１は光ディスク、２は光学
ヘッド、３は移送手段、４は制御信号、データ等の再生
信号を増幅する増幅手段（誤差信号生成手段）、５は記
憶手段、６は制御増幅回路、７は偏芯量の補正に関する
制御指令で、８は光りディスク１回転に相当するトラッ
クアドレス、セクターアドレス等の信号を検出する読み
取り手段、２０はＴＥ信号の最小値が一定時間以上設定
値を越えたことを検出する最小値検出手段、１０は最小
値検出手段２０の出力が設定レベル１１を越えたか否か
を判定するコンパレータ、２１はスピンドルモータ、２
２は傷検出信号である。
ヘッド、３は移送手段、４は制御信号、データ等の再生
信号を増幅する増幅手段（誤差信号生成手段）、５は記
憶手段、６は制御増幅回路、７は偏芯量の補正に関する
制御指令で、８は光りディスク１回転に相当するトラッ
クアドレス、セクターアドレス等の信号を検出する読み
取り手段、２０はＴＥ信号の最小値が一定時間以上設定
値を越えたことを検出する最小値検出手段、１０は最小
値検出手段２０の出力が設定レベル１１を越えたか否か
を判定するコンパレータ、２１はスピンドルモータ、２
２は傷検出信号である。
【００２０】次に、上記のように構成された本発明の実
施の形態１による光りディスク装置の動作について説明
する。スピンドルモータ２１により光ディスク１を回転
させた後、光学ヘッド２から光ディスク１にレーザ光を
照射し、そして光ディスク１からの反射光に基づき光学
ヘッド２のディスク面までの距離が一定となるよう図示
しないフォーカスサーボ制御系によりフォーカス制御を
行う。フォーカス制御を開始した後、光ディスク１上の
トラックに光学ヘッド２を追従させるために、フォーカ
スと同様に、光りディスク１からの反射光に基づきトラ
ッキング制御を行う。トラッキング制御は、光学ヘッド
２により得られる被検出信号から増幅手段４においてＴ
Ｅ信号を生成し、このＴＥ信号に基づいて光学ヘッド２
の位置を制御する。増幅手段４は、検出したＴＥ信号を
読取り手段８および最小値検出手段２０へ出力する。
施の形態１による光りディスク装置の動作について説明
する。スピンドルモータ２１により光ディスク１を回転
させた後、光学ヘッド２から光ディスク１にレーザ光を
照射し、そして光ディスク１からの反射光に基づき光学
ヘッド２のディスク面までの距離が一定となるよう図示
しないフォーカスサーボ制御系によりフォーカス制御を
行う。フォーカス制御を開始した後、光ディスク１上の
トラックに光学ヘッド２を追従させるために、フォーカ
スと同様に、光りディスク１からの反射光に基づきトラ
ッキング制御を行う。トラッキング制御は、光学ヘッド
２により得られる被検出信号から増幅手段４においてＴ
Ｅ信号を生成し、このＴＥ信号に基づいて光学ヘッド２
の位置を制御する。増幅手段４は、検出したＴＥ信号を
読取り手段８および最小値検出手段２０へ出力する。
【００２１】トラッキング制御を開始した後、偏芯補正
を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測
値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り
検出、偏芯量の再計測、再計測後の偏芯補正の再開の順
に説明する。
を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測
値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り
検出、偏芯量の再計測、再計測後の偏芯補正の再開の順
に説明する。
【００２２】まず、偏芯補正を行うための準備として、
偏芯量の計測を一度行う。最初の偏芯量の計測は、スピ
ンドルモータ２１を一定速度で回転させた状態におい
て、増幅手段４においてＴＥ信号の低周波成分を抽出し
偏芯量に対応した偏差を得ることを通じて行われる。増
幅手段４は検出した偏芯量を記憶手段５へ出力する。
偏芯量の計測を一度行う。最初の偏芯量の計測は、スピ
ンドルモータ２１を一定速度で回転させた状態におい
て、増幅手段４においてＴＥ信号の低周波成分を抽出し
偏芯量に対応した偏差を得ることを通じて行われる。増
幅手段４は検出した偏芯量を記憶手段５へ出力する。
【００２３】増幅手段４において抽出され、記憶手段５
に入力された前記偏芯量は、図示しない制御装置より制
御指令７を出力することで、スピンドルモータ２１の１
回転の時間をＮ等分した時間毎に記憶手段５が格納す
る。この記憶手段５への取り込みは、スピンドルモータ
２１を一定速度で回転させることで１回転の時間が既知
となっているので、この１回転に必要な時間をＮ等分し
た時間毎に、基準クロックを基に行う。
に入力された前記偏芯量は、図示しない制御装置より制
御指令７を出力することで、スピンドルモータ２１の１
回転の時間をＮ等分した時間毎に記憶手段５が格納す
る。この記憶手段５への取り込みは、スピンドルモータ
２１を一定速度で回転させることで１回転の時間が既知
となっているので、この１回転に必要な時間をＮ等分し
た時間毎に、基準クロックを基に行う。
【００２４】次に、偏芯補正を行う。偏芯補正は、偏芯
量の計測を行った後、偏芯補正を行うために記憶手段５
に格納された偏芯成分に基づき、偏芯成分を打ち消す方
向に制御増幅回路６を通じて移送手段３を駆動し偏芯成
分による光学ヘッド２への影響を抑えることにより行な
われる。なお、記憶手段５における偏芯量の読み出し
は、計測時と同様に、スピンドルモータ２１の１回転に
要する時間をＮ等分した時間毎に、計即時と同じ基準ク
ロックを基に行う。
量の計測を行った後、偏芯補正を行うために記憶手段５
に格納された偏芯成分に基づき、偏芯成分を打ち消す方
向に制御増幅回路６を通じて移送手段３を駆動し偏芯成
分による光学ヘッド２への影響を抑えることにより行な
われる。なお、記憶手段５における偏芯量の読み出し
は、計測時と同様に、スピンドルモータ２１の１回転に
要する時間をＮ等分した時間毎に、計即時と同じ基準ク
ロックを基に行う。
【００２５】ディスクの回転方向の滑り検出は、偏芯補
正の実行中に行う。偏芯補正の実行中においては、最小
値検出手段２０は増幅手段４の出力するＴＥ信号が入力
され、ＴＥ信号の最小値が一定時間以上連続しているか
どうかを検出し、即ち一定時間内における入力の最小値
を求めて、コンパレータ１０に出力する。コンパレータ
１０は、この検出された最小値と予め設定した設定レベ
ル１１と比較し、この検出された最小値が設定レベル１
１よりも大きくなった場合に、ディスクが回転方向に滑
り偏芯補正が正しく行われなくなったと判断する。そし
て、コンパレータ１０は図示しない制御手段を介して前
記判断に基づいて記憶手段５に対して再記憶指令７を出
力する。
正の実行中に行う。偏芯補正の実行中においては、最小
値検出手段２０は増幅手段４の出力するＴＥ信号が入力
され、ＴＥ信号の最小値が一定時間以上連続しているか
どうかを検出し、即ち一定時間内における入力の最小値
を求めて、コンパレータ１０に出力する。コンパレータ
１０は、この検出された最小値と予め設定した設定レベ
ル１１と比較し、この検出された最小値が設定レベル１
１よりも大きくなった場合に、ディスクが回転方向に滑
り偏芯補正が正しく行われなくなったと判断する。そし
て、コンパレータ１０は図示しない制御手段を介して前
記判断に基づいて記憶手段５に対して再記憶指令７を出
力する。
【００２６】ディスクの滑り検出後の偏芯量の再計測
は、ディスクの滑りが検出された際に図示しない制御手
段の出力する再記憶指令７により記憶手段５において偏
芯量の再計測を行うことで行われる。偏芯量の再計測
は、記憶手段５に格納した偏芯量に基づいた制御増幅回
路６による移送手段３の駆動を中断して行う。これは、
偏芯補正を行うことで実際の偏芯量が検出できなくなる
のを防ぐためである。
は、ディスクの滑りが検出された際に図示しない制御手
段の出力する再記憶指令７により記憶手段５において偏
芯量の再計測を行うことで行われる。偏芯量の再計測
は、記憶手段５に格納した偏芯量に基づいた制御増幅回
路６による移送手段３の駆動を中断して行う。これは、
偏芯補正を行うことで実際の偏芯量が検出できなくなる
のを防ぐためである。
【００２７】光ディスク１の１回転分の偏芯量を記憶手
段５に格納し直す手順は、スピンアップ時の手順と同じ
である。新たな偏芯量の記憶手段５への格納が終了した
後、記憶手段５の格納する新たな偏芯量に基づいた制御
増幅回路６による移送手段３の駆動を再開する。
段５に格納し直す手順は、スピンアップ時の手順と同じ
である。新たな偏芯量の記憶手段５への格納が終了した
後、記憶手段５の格納する新たな偏芯量に基づいた制御
増幅回路６による移送手段３の駆動を再開する。
【００２８】なお、光ディスク１上の傷、例えば指紋や
引っ掻き傷等によりＴＥ信号が大きくなった場合は、図
示しない傷の検出回路によってこれらの傷を検出しキズ
検出信号２２が出力される。従って、このキズ検出信号
２２が出力されている場合は、ＴＥ信号の乱れが傷によ
るものと判断し記憶手段５への再記憶指令が出力されな
いようにマスクし、不要な記憶手段５への再記憶を抑制
する。
引っ掻き傷等によりＴＥ信号が大きくなった場合は、図
示しない傷の検出回路によってこれらの傷を検出しキズ
検出信号２２が出力される。従って、このキズ検出信号
２２が出力されている場合は、ＴＥ信号の乱れが傷によ
るものと判断し記憶手段５への再記憶指令が出力されな
いようにマスクし、不要な記憶手段５への再記憶を抑制
する。
【００２９】図２は、本実施の形態１による偏芯量の再
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。一定時間ごとのＴＥ信号の最小値を検出し、最小値
が設定レベル１１を超えた場合に、再計測を行うための
再記憶指令信号を出力する例を示している。
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。一定時間ごとのＴＥ信号の最小値を検出し、最小値
が設定レベル１１を超えた場合に、再計測を行うための
再記憶指令信号を出力する例を示している。
【００３０】このように、本実施の形態１による光ディ
スク装置では、トラッキング誤差信号の最小値を検出す
る最小値検出手段を用いて光ディスクの滑りを検出する
ようにしたことにより、光ディスクの滑り検出は読み出
したアドレス情報などに依存しないようになり、すなわ
ち、光ディスク上のアドレスやデータを読むことを行わ
ずに偏芯補正を実施できるため、偏芯補正実行時におけ
るトラッキング制御の異常状態を回避することができ
る。また、傷検出信号を導入することによって、光ディ
スクの回転方向の滑りと傷による影響とを区別でき、必
要としない偏芯量の再計測を抑えることができる。
スク装置では、トラッキング誤差信号の最小値を検出す
る最小値検出手段を用いて光ディスクの滑りを検出する
ようにしたことにより、光ディスクの滑り検出は読み出
したアドレス情報などに依存しないようになり、すなわ
ち、光ディスク上のアドレスやデータを読むことを行わ
ずに偏芯補正を実施できるため、偏芯補正実行時におけ
るトラッキング制御の異常状態を回避することができ
る。また、傷検出信号を導入することによって、光ディ
スクの回転方向の滑りと傷による影響とを区別でき、必
要としない偏芯量の再計測を抑えることができる。
【００３１】なお、前記偏芯量の計測は、フォーカス制
御を開始しトラッキング制御を開始する前、またはトラ
ッキング制御を開始した後、目的のトラックへ光学ヘッ
ド２を移動させた後、一度トラッキング制御を中断して
トラッキングサーボをはずし、ディスクが１回転する間
にディスクの各区間ごとに横切るトラックの本数を計測
することで行ってもよい。
御を開始しトラッキング制御を開始する前、またはトラ
ッキング制御を開始した後、目的のトラックへ光学ヘッ
ド２を移動させた後、一度トラッキング制御を中断して
トラッキングサーボをはずし、ディスクが１回転する間
にディスクの各区間ごとに横切るトラックの本数を計測
することで行ってもよい。
【００３２】（実施の形態２）以下に、本発明の請求項
２、請求項７、請求項８、請求項９に記載された発明に
対応する、実施の形態２について、図３及び図４を用い
て説明する。図３は、本実施の形態２による光りディス
ク装置の構成を示すブロック図である。
２、請求項７、請求項８、請求項９に記載された発明に
対応する、実施の形態２について、図３及び図４を用い
て説明する。図３は、本実施の形態２による光りディス
ク装置の構成を示すブロック図である。
【００３３】図３において、２３は記憶手段５の出力す
る偏芯補正情報の値を基準値と比較するコンパレータで
ある。本実施の形態２の構成は、コンパレータ２３を備
えた点においてのみ実施の形態１と異なるため、その他
の構成についての説明を省略する。
る偏芯補正情報の値を基準値と比較するコンパレータで
ある。本実施の形態２の構成は、コンパレータ２３を備
えた点においてのみ実施の形態１と異なるため、その他
の構成についての説明を省略する。
【００３４】次に、上記のような構成を有する本実施の
形態２による光りディスク装置の動作について説明す
る。スピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、
トラッキング制御行うまでの動作は実施の形態１と同様
の手順で行う。トラッキング制御を開始した後、偏芯補
正を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計
測値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑
り検出、偏芯量の再計測、再計測後の偏芯補正の再開と
いう順に説明する。最初の偏芯量の計測、および偏芯補
正の実行方法の手順は、実施の形態１の場合と同様であ
るため、ここでの説明を省略する。
形態２による光りディスク装置の動作について説明す
る。スピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、
トラッキング制御行うまでの動作は実施の形態１と同様
の手順で行う。トラッキング制御を開始した後、偏芯補
正を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計
測値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑
り検出、偏芯量の再計測、再計測後の偏芯補正の再開と
いう順に説明する。最初の偏芯量の計測、および偏芯補
正の実行方法の手順は、実施の形態１の場合と同様であ
るため、ここでの説明を省略する。
【００３５】偏芯量の再計測は、以下の手順で行う。ま
ず、ディスクの滑り検出は、以下の手順で行う。増幅手
段４によって検出されたＴＥ信号の最小値を最小値検出
回路２０で検出し、その最小値と設定レベル１１との比
較をコンパレータ１０で行い、設定レベル１１を越えた
場合にディスクが滑った可能性があると判断する。
ず、ディスクの滑り検出は、以下の手順で行う。増幅手
段４によって検出されたＴＥ信号の最小値を最小値検出
回路２０で検出し、その最小値と設定レベル１１との比
較をコンパレータ１０で行い、設定レベル１１を越えた
場合にディスクが滑った可能性があると判断する。
【００３６】次に、コンパレータ２３は、記憶手段５か
ら制御増幅手段６へ出力する偏芯補正量のレベルが入力
され、基準値との比較を行い、コンパレータ２３への入
力が基準値よりも大きい、すなわち偏芯補正量が大きい
場合に実際にディスクが滑った可能性が高いと判断す
る。
ら制御増幅手段６へ出力する偏芯補正量のレベルが入力
され、基準値との比較を行い、コンパレータ２３への入
力が基準値よりも大きい、すなわち偏芯補正量が大きい
場合に実際にディスクが滑った可能性が高いと判断す
る。
【００３７】そして、コンパレータ２３への入力が基準
値よりも大きい、かつ、最小値検出回路２０の出力が設
定レベル１１よりも大きくなった場合には、ディスクが
滑り偏芯補正が正しく行われなくなったと判断する。
値よりも大きい、かつ、最小値検出回路２０の出力が設
定レベル１１よりも大きくなった場合には、ディスクが
滑り偏芯補正が正しく行われなくなったと判断する。
【００３８】また、コンパレータ２３への入力が基準値
よりも小さい、すなわち偏芯補正量が小さい区間で、コ
ンパレータ１０において最小値検出回路２０の出力が設
定レベル１１よりも大きくなった場合では、ディスクの
滑り以外の要因によりＴＥ信号が大きくなったと判断す
る。この場合は、例えばサーボのゲイン不足と判断し、
トラッキングサーボのゲインを上げるなど他の対応をす
るため、ディスクの滑りとは検出しない。
よりも小さい、すなわち偏芯補正量が小さい区間で、コ
ンパレータ１０において最小値検出回路２０の出力が設
定レベル１１よりも大きくなった場合では、ディスクの
滑り以外の要因によりＴＥ信号が大きくなったと判断す
る。この場合は、例えばサーボのゲイン不足と判断し、
トラッキングサーボのゲインを上げるなど他の対応をす
るため、ディスクの滑りとは検出しない。
【００３９】ディスクの滑り検出後の偏芯量の再計測
は、上記の判断に基づいて図示しない制御回路から発す
る偏芯量の再記憶に関する制御指令７により記憶手段５
において偏芯量の再計測を行うことで行われる。
は、上記の判断に基づいて図示しない制御回路から発す
る偏芯量の再記憶に関する制御指令７により記憶手段５
において偏芯量の再計測を行うことで行われる。
【００４０】偏芯量の再計測は、記憶手段５に格納した
偏芯量に基づいた制御増幅回路６による移送手段３の駆
動を中断して行う。これは、偏芯補正を行うことで実際
の偏芯量が検出できなくなるのを防ぐためである。光デ
ィスク１の１回転分の偏芯量を記憶手段５に格納し直す
手順は、スピンアップ時の手順と同じである。新たな偏
芯量の記憶手段５への格納が終了した後、記憶手段５に
基づいた制御増幅回路６による移送手段３の駆動を再開
する。
偏芯量に基づいた制御増幅回路６による移送手段３の駆
動を中断して行う。これは、偏芯補正を行うことで実際
の偏芯量が検出できなくなるのを防ぐためである。光デ
ィスク１の１回転分の偏芯量を記憶手段５に格納し直す
手順は、スピンアップ時の手順と同じである。新たな偏
芯量の記憶手段５への格納が終了した後、記憶手段５に
基づいた制御増幅回路６による移送手段３の駆動を再開
する。
【００４１】なお、光ディスク１上の傷等によりＴＥ信
号が大きくなった場合は、図示しない傷の検出回路によ
ってこれらの傷を検出しキズ検出信号２２が出力され
る。従って、このキズ検出信号２２が出力されている場
合は、ＴＥ信号の乱れが傷によるものと判断し、前記条
件を満たした場合でも記憶手段５への再記憶指令が出力
されないようにマスクし、不要な記憶手段５への再記憶
を抑制するようにする。
号が大きくなった場合は、図示しない傷の検出回路によ
ってこれらの傷を検出しキズ検出信号２２が出力され
る。従って、このキズ検出信号２２が出力されている場
合は、ＴＥ信号の乱れが傷によるものと判断し、前記条
件を満たした場合でも記憶手段５への再記憶指令が出力
されないようにマスクし、不要な記憶手段５への再記憶
を抑制するようにする。
【００４２】図４は、本実施の形態２による偏芯量の再
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図４の区間ＡおよびＢにおいて、増幅手段４で検出
されたＴＥ信号の最小値が設定レベル１１を越えた場合
を示している。区間Ａは、コンパレータ２３で比較する
偏芯補正量が基準値よりも低いため、偏芯量の再計測を
行わない場合の例を示している。一方、区間Ｂは、コン
パレータ２３の出力する偏芯補正量が基準値よりも大き
くなっていることにより、ディスクの滑りを検出したと
判断し偏芯量の再計測を行う場合の例を示している。
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図４の区間ＡおよびＢにおいて、増幅手段４で検出
されたＴＥ信号の最小値が設定レベル１１を越えた場合
を示している。区間Ａは、コンパレータ２３で比較する
偏芯補正量が基準値よりも低いため、偏芯量の再計測を
行わない場合の例を示している。一方、区間Ｂは、コン
パレータ２３の出力する偏芯補正量が基準値よりも大き
くなっていることにより、ディスクの滑りを検出したと
判断し偏芯量の再計測を行う場合の例を示している。
【００４３】このように、本実施の形態２による光ディ
スク装置では、最小値検出手段と、記憶手段の出力する
偏芯補正値と基準値との比較を行う比較回路とを備える
ようにしたので、前述した実施の形態１による光ディス
ク装置が奏する効果に加え、一層光ディスクの回転方向
の滑りと傷やその他の要因による影響との区別ができ、
光ディスク上のアドレスやデータの情報を読まずに、正
しく偏芯量の補正を行うことができる。
スク装置では、最小値検出手段と、記憶手段の出力する
偏芯補正値と基準値との比較を行う比較回路とを備える
ようにしたので、前述した実施の形態１による光ディス
ク装置が奏する効果に加え、一層光ディスクの回転方向
の滑りと傷やその他の要因による影響との区別ができ、
光ディスク上のアドレスやデータの情報を読まずに、正
しく偏芯量の補正を行うことができる。
【００４４】（実施の形態３）以下に、本発明の請求項
３、請求項５、請求項６に記載された発明に対応する、
実施の形態３について、図５を用いて説明する。図５
は、本実施の形態３による光ディスク装置の構成を示す
ブロック図である。
３、請求項５、請求項６に記載された発明に対応する、
実施の形態３について、図５を用いて説明する。図５
は、本実施の形態３による光ディスク装置の構成を示す
ブロック図である。
【００４５】図５において、３１は偏芯量検出手段（増
幅手段４）によって検出された偏芯量と、記憶手段５に
記憶されている偏芯量３３との位相差を検出する位相差
検出手段である。本実施の形態３による光ディスク装置
の構成は位相差検出手段３１を設けた点においてのみ前
述した実施の形態１と異なるため、その他の構成につい
ての説明を省略する。
幅手段４）によって検出された偏芯量と、記憶手段５に
記憶されている偏芯量３３との位相差を検出する位相差
検出手段である。本実施の形態３による光ディスク装置
の構成は位相差検出手段３１を設けた点においてのみ前
述した実施の形態１と異なるため、その他の構成につい
ての説明を省略する。
【００４６】次に、上記のように構成された本実施の形
態３による光ディスク装置の動作について説明する。ス
ピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラッ
キング制御を行うまでの動作は実施の形態１と同様の手
順で行う。
態３による光ディスク装置の動作について説明する。ス
ピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラッ
キング制御を行うまでの動作は実施の形態１と同様の手
順で行う。
【００４７】トラッキング制御を開始した後、偏芯補正
を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測
値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り
検出、偏芯量の補正、偏芯補正の再開の順に説明する。
最初の偏芯量の計測、および偏芯補正の実行方法の手順
は、実施の形態１の場合と同様である。
を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測
値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り
検出、偏芯量の補正、偏芯補正の再開の順に説明する。
最初の偏芯量の計測、および偏芯補正の実行方法の手順
は、実施の形態１の場合と同様である。
【００４８】ディスクの滑り検出は、以下の手順で行
う。一定の周期で、もしくはランダムな時間の間隔で、
記憶手段５は偏芯補正出力３２の出力を中断するよう制
御される。この記憶手段５が偏芯補正出力を中断した状
態で、位相差検出手段３１は記憶手段５の出力する偏芯
量３３と、増幅手段４の出力する偏芯量との位相比較を
行うことでディスクの滑り検出を行う。位相比較結果が
基準値よりも大きな位相差を検出した場合に、ディスク
の滑りが生じたと判断する。
う。一定の周期で、もしくはランダムな時間の間隔で、
記憶手段５は偏芯補正出力３２の出力を中断するよう制
御される。この記憶手段５が偏芯補正出力を中断した状
態で、位相差検出手段３１は記憶手段５の出力する偏芯
量３３と、増幅手段４の出力する偏芯量との位相比較を
行うことでディスクの滑り検出を行う。位相比較結果が
基準値よりも大きな位相差を検出した場合に、ディスク
の滑りが生じたと判断する。
【００４９】また、図示はしないが光ディスク１から読
み出したデータの誤り率（Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）が悪
くなったと検出されたとき、記憶手段５は偏芯補正出力
３２の出力を中断するように構成してもよい。
み出したデータの誤り率（Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）が悪
くなったと検出されたとき、記憶手段５は偏芯補正出力
３２の出力を中断するように構成してもよい。
【００５０】偏芯量の補正は、位相差検出手段３１から
２つの信号の位相差を記憶装置５に出力し、記憶装置５
はこの位相差に基づき、この位相差を無くすように偏芯
補正量３２を出力するタイミングをずらすことで偏芯補
正量を修正する。すなわち、位相差が大きくなった場合
は、即ち位相が遅れた場合は、位相差が小さくなるよう
偏芯補正量３２を出力するタイミングを早め、位相差が
小さくなった場合は、逆に偏芯補正量３２を出力するタ
イミングを遅らせる。その後、中断していた偏芯補正を
再開する。この偏芯補正量３２の出力をずらすことで、
ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯補正
との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻すこ
とができる。
２つの信号の位相差を記憶装置５に出力し、記憶装置５
はこの位相差に基づき、この位相差を無くすように偏芯
補正量３２を出力するタイミングをずらすことで偏芯補
正量を修正する。すなわち、位相差が大きくなった場合
は、即ち位相が遅れた場合は、位相差が小さくなるよう
偏芯補正量３２を出力するタイミングを早め、位相差が
小さくなった場合は、逆に偏芯補正量３２を出力するタ
イミングを遅らせる。その後、中断していた偏芯補正を
再開する。この偏芯補正量３２の出力をずらすことで、
ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯補正
との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻すこ
とができる。
【００５１】図６は、本実施の形態３による偏芯量の再
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図６の区間Ａは、記憶手段５から読み出された偏芯
量に基づいて偏芯補正を行っている区間を示している。
この区間では、増幅手段４の出力には、記憶手段５の出
力する偏芯補正量に基づき制御増幅回路６が偏芯補正を
行った結果と、ディスクがズレたことによるディスク自
身の持つ偏芯量とが合成された結果が得られる。図６の
区間Ｂは、特定の期間において記憶装置５が偏芯補正を
停止している期間を示している。この偏芯補正を停止し
ている期間においては、増幅手段４より実際の偏芯情報
が出力される（図６の増幅手段４）。位相比較器３１に
は、この増幅手段４の出力する偏芯情報と、記憶手段５
より区間Ａと同じタイミングの偏芯補正量３３が入力さ
れ、この２つの信号の位相差Ｃを計測する。記憶手段５
は、位相差検出手段３１の出力する位相差Ｃを入力さ
れ、偏芯補正出力３２をその分時間的にずらして出力を
再開する。この際、偏芯量３３も同じ時間だけ出力する
タイミングがずらされる。
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図６の区間Ａは、記憶手段５から読み出された偏芯
量に基づいて偏芯補正を行っている区間を示している。
この区間では、増幅手段４の出力には、記憶手段５の出
力する偏芯補正量に基づき制御増幅回路６が偏芯補正を
行った結果と、ディスクがズレたことによるディスク自
身の持つ偏芯量とが合成された結果が得られる。図６の
区間Ｂは、特定の期間において記憶装置５が偏芯補正を
停止している期間を示している。この偏芯補正を停止し
ている期間においては、増幅手段４より実際の偏芯情報
が出力される（図６の増幅手段４）。位相比較器３１に
は、この増幅手段４の出力する偏芯情報と、記憶手段５
より区間Ａと同じタイミングの偏芯補正量３３が入力さ
れ、この２つの信号の位相差Ｃを計測する。記憶手段５
は、位相差検出手段３１の出力する位相差Ｃを入力さ
れ、偏芯補正出力３２をその分時間的にずらして出力を
再開する。この際、偏芯量３３も同じ時間だけ出力する
タイミングがずらされる。
【００５２】このように、本実施の形態３による光ディ
スク装置では、偏芯量検出手段から検出された実際の偏
芯量と、記憶手段に記憶されている偏芯量との位相差を
検出する位相差検出手段を設けて、光ディスクの滑りを
検出するようにしたことにより、記憶手段は前記位相差
に基づいて偏芯補正の出力タイミングをずらすことがで
き、光ディスクから読み出したアドレスやデータなどの
情報に頼らずに、かつ、偏芯量の再計測を行わなくて
も、光ディスクの偏芯補正ができる。
スク装置では、偏芯量検出手段から検出された実際の偏
芯量と、記憶手段に記憶されている偏芯量との位相差を
検出する位相差検出手段を設けて、光ディスクの滑りを
検出するようにしたことにより、記憶手段は前記位相差
に基づいて偏芯補正の出力タイミングをずらすことがで
き、光ディスクから読み出したアドレスやデータなどの
情報に頼らずに、かつ、偏芯量の再計測を行わなくて
も、光ディスクの偏芯補正ができる。
【００５３】なお、以上の説明では、位相差検出手段３
１において検出した位相差に基づき記憶手段５から偏芯
補正の出力するタイミングをずらすことで対応する例で
説明したが、位相差検出手段３１において位相差が基準
値よりも大きくなった場合はディスクの滑りが生じたと
判断し、記憶手段５に対して偏芯量の再記憶を行うよう
に再記憶指令を出力し、記憶手段５が再記憶を行うよう
にしても、同様に、光ディスクから読み出したアドレス
やデータなどの情報に頼らずに、光ディスクの偏芯補正
ができる。
１において検出した位相差に基づき記憶手段５から偏芯
補正の出力するタイミングをずらすことで対応する例で
説明したが、位相差検出手段３１において位相差が基準
値よりも大きくなった場合はディスクの滑りが生じたと
判断し、記憶手段５に対して偏芯量の再記憶を行うよう
に再記憶指令を出力し、記憶手段５が再記憶を行うよう
にしても、同様に、光ディスクから読み出したアドレス
やデータなどの情報に頼らずに、光ディスクの偏芯補正
ができる。
【００５４】（実施の形態４）以下に、本発明の請求項
３、請求項５から請求項９に記載された発明に対応す
る、実施の形態４について、図７及び図６を用いて説明
する。図７は、本実施の形態４による光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。図７において、本実施の
形態４による光ディスク装置の各構成部はすでに前述し
た実施の形態１と実施の形態３で説明をしたため、ここ
では再度の説明を省略する。
３、請求項５から請求項９に記載された発明に対応す
る、実施の形態４について、図７及び図６を用いて説明
する。図７は、本実施の形態４による光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。図７において、本実施の
形態４による光ディスク装置の各構成部はすでに前述し
た実施の形態１と実施の形態３で説明をしたため、ここ
では再度の説明を省略する。
【００５５】次に、上記のように構成された本実施の形
態４による光ディスク装置の動作について説明する。ス
ピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラッ
キング制御行うまでの動作は実施の形態１と同様の手順
で行う。
態４による光ディスク装置の動作について説明する。ス
ピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラッ
キング制御行うまでの動作は実施の形態１と同様の手順
で行う。
【００５６】トラッキング制御を開始した後、偏芯補正
を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測
値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り
検出、偏芯量の補正、偏芯補正の再開の順に説明する。
最初の偏芯量の計測、および偏芯補正の実行方法の手順
は、実施の形態１の場合と同様である。
を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測
値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り
検出、偏芯量の補正、偏芯補正の再開の順に説明する。
最初の偏芯量の計測、および偏芯補正の実行方法の手順
は、実施の形態１の場合と同様である。
【００５７】ディスクの滑り検出は、以下の手順で行
う。増幅手段４によって検出されたＴＥ信号の最小値を
最小値検出回路２０で検出し、その最小値と設定レベル
１１との比較をコンパレータ１０で行う。前記最小値が
設定レベル１１を越えた場合、記憶手段５は偏芯補正出
力３２の出力を中断するよう制御される。この記憶手段
５が偏芯補正出力を中断した状態で、位相差検出手段３
１は記憶手段５の出力する偏芯量３３と、増幅手段４の
出力する偏芯量との位相比較を行うことでディスクの滑
り検出を行う。位相比較結果が基準値よりも大きな位相
差を検出した場合に、ディスクの滑りが生じたと判断す
る。
う。増幅手段４によって検出されたＴＥ信号の最小値を
最小値検出回路２０で検出し、その最小値と設定レベル
１１との比較をコンパレータ１０で行う。前記最小値が
設定レベル１１を越えた場合、記憶手段５は偏芯補正出
力３２の出力を中断するよう制御される。この記憶手段
５が偏芯補正出力を中断した状態で、位相差検出手段３
１は記憶手段５の出力する偏芯量３３と、増幅手段４の
出力する偏芯量との位相比較を行うことでディスクの滑
り検出を行う。位相比較結果が基準値よりも大きな位相
差を検出した場合に、ディスクの滑りが生じたと判断す
る。
【００５８】偏芯量の補正は、位相差検出手段３１から
２つの信号の位相差を記憶装置５に出力し、記憶装置５
はこの位相差に基づき、この位相差を無くすように偏芯
補正量３２を出力するタイミングをずらすことで偏芯補
正量を修正する。すなわち、位相差が大きくなった場合
は、即ち位相が遅れるた場合は、位相差が小さくなるよ
う偏芯補正量３２を出力するタイミングを早め、位相差
が小さくなった場合は、逆に偏芯補正量３２を出力する
タイミングを遅らせる。その後、中断していた偏芯補正
を再開する。この偏芯補正量３２の出力をずらすこと
で、ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯
補正との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻
すことができる。
２つの信号の位相差を記憶装置５に出力し、記憶装置５
はこの位相差に基づき、この位相差を無くすように偏芯
補正量３２を出力するタイミングをずらすことで偏芯補
正量を修正する。すなわち、位相差が大きくなった場合
は、即ち位相が遅れるた場合は、位相差が小さくなるよ
う偏芯補正量３２を出力するタイミングを早め、位相差
が小さくなった場合は、逆に偏芯補正量３２を出力する
タイミングを遅らせる。その後、中断していた偏芯補正
を再開する。この偏芯補正量３２の出力をずらすこと
で、ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯
補正との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻
すことができる。
【００５９】図６は、本実施の形態４による偏芯量の再
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図６の区間Ａは、記憶手段５から読み出された偏芯
量に基づいて偏芯補正を行っている区間を示している。
この区間では、増幅手段４の出力には、記憶手段５の出
力する偏芯補正量に基づき制御増幅回路６が偏芯補正を
行った結果と、ディスクがズレたことによるディスク自
身の持つ偏芯量とが合成された結果が得られる。図６の
区間Ｂは、ＴＥ信号の振幅が大きくなりコンパレータ１
０の指示により記憶装置５が偏芯補正を停止している期
間を示している。この偏芯補正を停止している期間にお
いては、増幅手段４より実際の偏芯情報が出力される
（図６の増幅手段４）。位相比較器３１には、この増幅
手段４の出力する偏芯情報と、記憶手段５より区間Ａと
同じタイミングの偏芯補正量３３が入力され、この２つ
の信号の位相差Ｃを計測する。記憶手段５は、位相差検
出手段３１の出力する位相差Ｃを入力し、偏芯補正出力
３２をその分時間的にずらして出力を再開する。この
際、偏芯量３３も同じ時間だけ出力するタイミングがず
らされる。
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図６の区間Ａは、記憶手段５から読み出された偏芯
量に基づいて偏芯補正を行っている区間を示している。
この区間では、増幅手段４の出力には、記憶手段５の出
力する偏芯補正量に基づき制御増幅回路６が偏芯補正を
行った結果と、ディスクがズレたことによるディスク自
身の持つ偏芯量とが合成された結果が得られる。図６の
区間Ｂは、ＴＥ信号の振幅が大きくなりコンパレータ１
０の指示により記憶装置５が偏芯補正を停止している期
間を示している。この偏芯補正を停止している期間にお
いては、増幅手段４より実際の偏芯情報が出力される
（図６の増幅手段４）。位相比較器３１には、この増幅
手段４の出力する偏芯情報と、記憶手段５より区間Ａと
同じタイミングの偏芯補正量３３が入力され、この２つ
の信号の位相差Ｃを計測する。記憶手段５は、位相差検
出手段３１の出力する位相差Ｃを入力し、偏芯補正出力
３２をその分時間的にずらして出力を再開する。この
際、偏芯量３３も同じ時間だけ出力するタイミングがず
らされる。
【００６０】なお、光ディスク１上の傷、例えば指紋や
引っ掻き傷等によりＴＥ信号が大きくなった場合は、図
示しない傷の検出回路によってこれらの傷を検出しキズ
検出信号２２が出力される。従って、このキズ検出信号
２２が出力されている場合は、ＴＥ信号の乱れにより検
出された大きな位相差が傷によるものと判断し、記憶手
段５への上記判断結果を出力しないようにマスクし、不
要な記憶手段５への再計測を抑制する。
引っ掻き傷等によりＴＥ信号が大きくなった場合は、図
示しない傷の検出回路によってこれらの傷を検出しキズ
検出信号２２が出力される。従って、このキズ検出信号
２２が出力されている場合は、ＴＥ信号の乱れにより検
出された大きな位相差が傷によるものと判断し、記憶手
段５への上記判断結果を出力しないようにマスクし、不
要な記憶手段５への再計測を抑制する。
【００６１】このように、本実施の形態４による光ディ
スク装置では、ＴＥ信号の最小値を検出する最小値検出
手段と、偏芯量検出手段から検出された実際の偏芯量と
記憶手段に記憶されている偏芯量との位相差を検出する
位相差検出手段とを設けて、光ディスクの装着不良やご
みなどの影響によるスピンドルモータの回転速度の変更
時などにおける光ディスクの滑りをより正確に検出し、
光ディスクからアドレスやデータなどを読み出すことを
行わずに、光ディスクの偏芯補正ができる。また、記憶
手段は検出された位相差に基づいて偏芯補正の出力タイ
ミングをずらすことができるので、偏芯量の再計測を行
わなくても、光ディスクの偏芯補正ができる。
スク装置では、ＴＥ信号の最小値を検出する最小値検出
手段と、偏芯量検出手段から検出された実際の偏芯量と
記憶手段に記憶されている偏芯量との位相差を検出する
位相差検出手段とを設けて、光ディスクの装着不良やご
みなどの影響によるスピンドルモータの回転速度の変更
時などにおける光ディスクの滑りをより正確に検出し、
光ディスクからアドレスやデータなどを読み出すことを
行わずに、光ディスクの偏芯補正ができる。また、記憶
手段は検出された位相差に基づいて偏芯補正の出力タイ
ミングをずらすことができるので、偏芯量の再計測を行
わなくても、光ディスクの偏芯補正ができる。
【００６２】なお、以上の説明では、位相差検出手段３
１において検出した位相差に基づき記憶手段５から偏芯
補正の出力するタイミングをずらす事で対応する例で説
明したが、位相差検出手段３１において位相差が基準値
よりも大きくなった場合はディスクの滑りが生じたと判
断し記憶手段５に対して偏芯量の再記憶を行うように再
記憶指令を出力し、記憶手段５が再記憶を行うようにし
ても同様に、光ディスクの滑りをより正確に検出し、光
ディスクからアドレスやデータなどを読み出すことを行
わずに、光ディスクの偏芯補正ができる。
１において検出した位相差に基づき記憶手段５から偏芯
補正の出力するタイミングをずらす事で対応する例で説
明したが、位相差検出手段３１において位相差が基準値
よりも大きくなった場合はディスクの滑りが生じたと判
断し記憶手段５に対して偏芯量の再記憶を行うように再
記憶指令を出力し、記憶手段５が再記憶を行うようにし
ても同様に、光ディスクの滑りをより正確に検出し、光
ディスクからアドレスやデータなどを読み出すことを行
わずに、光ディスクの偏芯補正ができる。
【００６３】（実施の形態５）以下に、本発明の請求項
４から請求項６に記載された発明に対応する、実施の形
態５について、図８及び図９を用いて説明する。図８
は、本実施の形態５による光りディスク装置の構成を示
すブロック図である。
４から請求項６に記載された発明に対応する、実施の形
態５について、図８及び図９を用いて説明する。図８
は、本実施の形態５による光りディスク装置の構成を示
すブロック図である。
【００６４】図８において、４０はスピンドルモータ２
１の回転位置に応じてパルス信号を出力するＦＧ生成手
段、３１は記憶手段５に格納されている偏芯量と、ＦＧ
生成手段により生成された位置情報との位相差を検出す
る位相差検出手段である。それ以外の構成は、前述した
実施の形態１と同じであるため、ここでの説明を省略す
る。
１の回転位置に応じてパルス信号を出力するＦＧ生成手
段、３１は記憶手段５に格納されている偏芯量と、ＦＧ
生成手段により生成された位置情報との位相差を検出す
る位相差検出手段である。それ以外の構成は、前述した
実施の形態１と同じであるため、ここでの説明を省略す
る。
【００６５】次に、上記のように構成された本実施の形
態５による光りディスク装置の動作について説明する。
スピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラ
ッキング制御を行うまでは実施の形態１と同様の手順で
行う。トラッキング制御を開始した後、偏芯補正を行
う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測値に
基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り検
出、偏芯量の補正、偏芯補正の再開という順に説明す
る。
態５による光りディスク装置の動作について説明する。
スピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラ
ッキング制御を行うまでは実施の形態１と同様の手順で
行う。トラッキング制御を開始した後、偏芯補正を行
う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測値に
基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り検
出、偏芯量の補正、偏芯補正の再開という順に説明す
る。
【００６６】最初の偏芯量の計測を行うまでの動作は、
実施の形態１と同様の手順で行う。ディスクの回転方向
の滑り検出は以下の手順で行う。位相差検出手段３１は
記憶手段５の出力する偏芯量３３と、ＦＧ生成手段４０
の出力するスピンドルモータ２１の回転位置情報との位
相比較を行う。この位相比較は、ＦＧ生成手段４０が光
ディスク１の１回転毎にＭ回パルス（ＦＧ信号）を出力
することを利用し、光ディスク１の１回転毎に偏芯量３
３が設定値を超える時間を計測することで行う。位相差
検出手段３１において検出された位相差が所定の基準値
を超えた場合、ディスクが滑ったと判断する。
実施の形態１と同様の手順で行う。ディスクの回転方向
の滑り検出は以下の手順で行う。位相差検出手段３１は
記憶手段５の出力する偏芯量３３と、ＦＧ生成手段４０
の出力するスピンドルモータ２１の回転位置情報との位
相比較を行う。この位相比較は、ＦＧ生成手段４０が光
ディスク１の１回転毎にＭ回パルス（ＦＧ信号）を出力
することを利用し、光ディスク１の１回転毎に偏芯量３
３が設定値を超える時間を計測することで行う。位相差
検出手段３１において検出された位相差が所定の基準値
を超えた場合、ディスクが滑ったと判断する。
【００６７】次に、偏芯量の補正は以下の手順で行う。
位相差検出手段３１はさらに、これらの信号の位相差を
記憶装置５に出力し、記憶装置５はこの位相差に基づい
て、この位相差を無くすように偏芯補正量３２を出力す
るタイミングをずらし、偏芯補正を行う。すなわち、位
相差が大きくなった場合、即ち位相が遅れた場合は、位
相差が小さくなるよう偏芯補正量３２を出力するタイミ
ングを早め、位相差が小さくなった場合は、逆に偏芯補
正量３２を出力するタイミングを遅らせる。
位相差検出手段３１はさらに、これらの信号の位相差を
記憶装置５に出力し、記憶装置５はこの位相差に基づい
て、この位相差を無くすように偏芯補正量３２を出力す
るタイミングをずらし、偏芯補正を行う。すなわち、位
相差が大きくなった場合、即ち位相が遅れた場合は、位
相差が小さくなるよう偏芯補正量３２を出力するタイミ
ングを早め、位相差が小さくなった場合は、逆に偏芯補
正量３２を出力するタイミングを遅らせる。
【００６８】この偏芯補正量３２の出力をずらすこと
で、ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯
補正との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻
すことができる。
で、ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯
補正との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻
すことができる。
【００６９】図９は、本実施の形態５によるＦＧ生成手
段４０の出力するＦＧ信号と、記憶手段５の出力する偏
芯情報３３との位相差検出を行うタイミングを示すタイ
ミングチャートである。
段４０の出力するＦＧ信号と、記憶手段５の出力する偏
芯情報３３との位相差検出を行うタイミングを示すタイ
ミングチャートである。
【００７０】このように、本実施の形態５による光ディ
スク装置では、光ディスクの滑りを検出するために、Ｆ
Ｇ信号を生成するＦＧ生成手段と、前記ＦＧ信号と記憶
手段の出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出
手段とを設けて、ＦＧ信号を位相比較時における基準信
号として用いることで、実施の偏芯量と偏芯補正量との
位相差検出を、偏芯補正を中断することなく行うことが
可能となる。かつ、従来の光ディスク装置のようにアド
レスやデータの読み出しを必要とせずに、偏芯補正がで
きる。
スク装置では、光ディスクの滑りを検出するために、Ｆ
Ｇ信号を生成するＦＧ生成手段と、前記ＦＧ信号と記憶
手段の出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出
手段とを設けて、ＦＧ信号を位相比較時における基準信
号として用いることで、実施の偏芯量と偏芯補正量との
位相差検出を、偏芯補正を中断することなく行うことが
可能となる。かつ、従来の光ディスク装置のようにアド
レスやデータの読み出しを必要とせずに、偏芯補正がで
きる。
【００７１】なお、以上の説明では、位相比較器３１に
おいて検出した位相差に基づき記憶手段５は出力するタ
イミングをずらすことで対応する例で説明したが、位相
比較検出回路３１において位相差が基準値よりも大きく
なった場合はディスクのズレが生じたと判断し、記憶手
段５に対して再記憶を行うように再記憶指令７を出力
し、記憶手段５は再記憶を行うようにしても同様に実現
可能である。
おいて検出した位相差に基づき記憶手段５は出力するタ
イミングをずらすことで対応する例で説明したが、位相
比較検出回路３１において位相差が基準値よりも大きく
なった場合はディスクのズレが生じたと判断し、記憶手
段５に対して再記憶を行うように再記憶指令７を出力
し、記憶手段５は再記憶を行うようにしても同様に実現
可能である。
【００７２】（実施の形態６）以下に、本発明の請求項
４から請求項９に記載された発明に対応する、実施の形
態６について、図１０及び図９を用いて説明する。図１
０は、本実施の形態６による光りディスク装置の構成を
示すブロック図である。
４から請求項９に記載された発明に対応する、実施の形
態６について、図１０及び図９を用いて説明する。図１
０は、本実施の形態６による光りディスク装置の構成を
示すブロック図である。
【００７３】図１０において、４０はスピンドルモータ
２１の回転位置に応じてパルス信号を出力するＦＧ生成
手段、３１は前記パルス信号と記憶手段５の出力する偏
芯量との位相差を検出する位相差検出手段である。それ
以外の構成は、前述した実施の形態１と同じであるた
め、ここでの説明を省略する。
２１の回転位置に応じてパルス信号を出力するＦＧ生成
手段、３１は前記パルス信号と記憶手段５の出力する偏
芯量との位相差を検出する位相差検出手段である。それ
以外の構成は、前述した実施の形態１と同じであるた
め、ここでの説明を省略する。
【００７４】次に、上記のように構成された本実施の形
態６による光ディスク装置の動作について説明する。ス
ピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラッ
キング制御を行うまでは実施の形態１と同様の手順で行
う。
態６による光ディスク装置の動作について説明する。ス
ピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラッ
キング制御を行うまでは実施の形態１と同様の手順で行
う。
【００７５】トラッキング制御を開始した後、偏芯補正
を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測
値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り
検出、偏芯量の補正、偏芯補正の再開という順に説明す
る。
を行う。以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測
値に基づく偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り
検出、偏芯量の補正、偏芯補正の再開という順に説明す
る。
【００７６】最初の偏芯量の計測を行うまでの動作は、
実施の形態１と同様の手順で行う。
実施の形態１と同様の手順で行う。
【００７７】ディスクの回転方向の滑り検出は以下の手
順で行う。増幅手段４によって検出されたＴＥ信号の一
定期間内における最小値を最小値検出回路２０で検出
し、その最小値と設定レベル１１との比較をコンパレー
タ１０で行い、設定レベル１１を越えた場合にディスク
が滑った可能性があると判断する。
順で行う。増幅手段４によって検出されたＴＥ信号の一
定期間内における最小値を最小値検出回路２０で検出
し、その最小値と設定レベル１１との比較をコンパレー
タ１０で行い、設定レベル１１を越えた場合にディスク
が滑った可能性があると判断する。
【００７８】次に、位相差検出手段３１は記憶手段５の
出力する偏芯量３３と、ＦＧ生成手段４０の出力するス
ピンドルモータ２１の回転位置情報との位相比較を行
う。この位相比較は、ＦＧ生成手段４０が光ディスク１
の１回転毎にＭ回パルス（ＦＧ信号）を出力することを
利用し、光ディスク１の１回転毎に偏芯量３３が設定値
を超える時間を計測することで行う。上記検出された位
相差が所定の基準値を超えた場合、ディスクが滑った可
能性があると判断する。そして、コンパレータ１０と位
相差検出手段３１との両方で、ディスクが滑った可能性
があるとされるとき、光ディスクが滑ったと判断する。
出力する偏芯量３３と、ＦＧ生成手段４０の出力するス
ピンドルモータ２１の回転位置情報との位相比較を行
う。この位相比較は、ＦＧ生成手段４０が光ディスク１
の１回転毎にＭ回パルス（ＦＧ信号）を出力することを
利用し、光ディスク１の１回転毎に偏芯量３３が設定値
を超える時間を計測することで行う。上記検出された位
相差が所定の基準値を超えた場合、ディスクが滑った可
能性があると判断する。そして、コンパレータ１０と位
相差検出手段３１との両方で、ディスクが滑った可能性
があるとされるとき、光ディスクが滑ったと判断する。
【００７９】次に、偏芯量の補正は以下の手順で行う。
位相差検出手段３１はさらに、上記検出された位相差を
記憶装置５に出力し、記憶装置５はこの位相差に基づい
て、この位相差を無くすように偏芯補正量３２を出力す
るタイミングをずらし、偏芯補正を行う。すなわち、位
相差が大きくなった場合、即ち位相が遅れた場合は、位
相差が小さくなるよう偏芯補正量３２を出力するタイミ
ングを早め、位相差が小さくなった場合は、逆に偏芯補
正量３２を出力するタイミングを遅らせる。
位相差検出手段３１はさらに、上記検出された位相差を
記憶装置５に出力し、記憶装置５はこの位相差に基づい
て、この位相差を無くすように偏芯補正量３２を出力す
るタイミングをずらし、偏芯補正を行う。すなわち、位
相差が大きくなった場合、即ち位相が遅れた場合は、位
相差が小さくなるよう偏芯補正量３２を出力するタイミ
ングを早め、位相差が小さくなった場合は、逆に偏芯補
正量３２を出力するタイミングを遅らせる。
【００８０】この偏芯補正量３２の出力をずらすこと
で、ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯
補正との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻
すことができる。
で、ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯
補正との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻
すことができる。
【００８１】なお、光ディスク１上の傷、例えば指紋や
引っ掻き傷等によりＴＥ信号が大きくなった場合は、図
示しない傷の検出回路によってこれらの傷を検出しキズ
検出信号２２が出力される。従って、このキズ検出信号
２２が出力されている場合は、ＴＥ信号の乱れが傷によ
るものと判断し記憶手段５への再記憶指令が出力されな
いようにマスクし、不要な記憶手段５への再計測を抑制
する。
引っ掻き傷等によりＴＥ信号が大きくなった場合は、図
示しない傷の検出回路によってこれらの傷を検出しキズ
検出信号２２が出力される。従って、このキズ検出信号
２２が出力されている場合は、ＴＥ信号の乱れが傷によ
るものと判断し記憶手段５への再記憶指令が出力されな
いようにマスクし、不要な記憶手段５への再計測を抑制
する。
【００８２】図９は、本実施の形態６によるＦＧ生成手
段４０の出力するＦＧ信号と、記憶手段５の出力する偏
芯情報３３との位相差検出を行うタイミングを示すタイ
ミングチャートである。
段４０の出力するＦＧ信号と、記憶手段５の出力する偏
芯情報３３との位相差検出を行うタイミングを示すタイ
ミングチャートである。
【００８３】このように、本実施の形態６による光ディ
スク装置では、ＴＥ信号の最小値を検出する最小値検出
手段と、ＦＧ信号を生成するＦＧ生成手段と、前記ＦＧ
信号と記憶手段の出力する偏芯量との位相差を検出する
位相差検出手段とを設けることによって、光ディスクの
滑りをより正確に検出し、偏芯補正をより正確に実施す
ることができる。なお、ＦＧ信号を位相比較時における
基準信号として用いることで、実施の偏芯量と偏芯補正
量との位相差検出を、偏芯補正を中断することなく行う
ことも可能となる。
スク装置では、ＴＥ信号の最小値を検出する最小値検出
手段と、ＦＧ信号を生成するＦＧ生成手段と、前記ＦＧ
信号と記憶手段の出力する偏芯量との位相差を検出する
位相差検出手段とを設けることによって、光ディスクの
滑りをより正確に検出し、偏芯補正をより正確に実施す
ることができる。なお、ＦＧ信号を位相比較時における
基準信号として用いることで、実施の偏芯量と偏芯補正
量との位相差検出を、偏芯補正を中断することなく行う
ことも可能となる。
【００８４】なお、以上の説明では、位相比較器３１に
おいて検出した位相差に基づき記憶手段５は出力するタ
イミングをずらすことで対応する例で説明したが、位相
比較検出回路３１において位相差が基準値よりも大きく
なった場合はディスクのズレが生じたと判断し記憶手段
５に対して再記憶を行うよう再記憶指令を出力し、記憶
手段５は再記憶を行うようにしても同様に実現可能であ
る。
おいて検出した位相差に基づき記憶手段５は出力するタ
イミングをずらすことで対応する例で説明したが、位相
比較検出回路３１において位相差が基準値よりも大きく
なった場合はディスクのズレが生じたと判断し記憶手段
５に対して再記憶を行うよう再記憶指令を出力し、記憶
手段５は再記憶を行うようにしても同様に実現可能であ
る。
【００８５】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項１に係る
光ディスク装置によれば、光ディスク上に光学ピックア
ップにより光スポットを照射することで、光ディスクに
情報を記録しまたは光ディスクから情報を再生する光デ
ィスク装置において、前記光学ピックアップを前記光デ
ィスク上のトラックに追従させるための誤差信号生成手
段と、前記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯検出手段
と、前記偏芯検出手段により検出された偏芯量を記憶す
る記憶手段と、前記誤差信号生成手段の出力が所定の設
定値以上の値となった際に、前記記憶手段に記憶されて
いる偏芯量が補正されるように制御する制御手段とを備
えるようにしたので、光ディスクの装着不良やごみ等の
影響によるスピンドルモータの回転速度の変更時等に生
じる光ディスクの回転方向への滑りをトラッキングエラ
ー信号を用いることにより検出し、光ディスク上のアド
レスやデータを読むことを行わずに偏芯補正できるた
め、偏芯補正実行時におけるトラッキング制御の異常状
態を回避できるという有利な効果がある。
光ディスク装置によれば、光ディスク上に光学ピックア
ップにより光スポットを照射することで、光ディスクに
情報を記録しまたは光ディスクから情報を再生する光デ
ィスク装置において、前記光学ピックアップを前記光デ
ィスク上のトラックに追従させるための誤差信号生成手
段と、前記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯検出手段
と、前記偏芯検出手段により検出された偏芯量を記憶す
る記憶手段と、前記誤差信号生成手段の出力が所定の設
定値以上の値となった際に、前記記憶手段に記憶されて
いる偏芯量が補正されるように制御する制御手段とを備
えるようにしたので、光ディスクの装着不良やごみ等の
影響によるスピンドルモータの回転速度の変更時等に生
じる光ディスクの回転方向への滑りをトラッキングエラ
ー信号を用いることにより検出し、光ディスク上のアド
レスやデータを読むことを行わずに偏芯補正できるた
め、偏芯補正実行時におけるトラッキング制御の異常状
態を回避できるという有利な効果がある。
【００８６】また、本発明の請求項２にかかる光ディス
ク装置によれば、光ディスク上に光学ピックアップによ
り光スポットを照射することで、光ディスクに情報を記
録しまたは光ディスクから情報を再生する光ディスク装
置において、前記光学ピックアップを前記光ディスク上
のトラックに追従させるための誤差信号生成手段と、前
記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯検出手段と、前記
偏芯検出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手
段と、前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の基準
値との比較を行う比較回路と、前記比較回路において前
記所定の基準値を越えたことを検出した場合、前記記憶
手段に記憶されている偏芯量が補正されるように制御す
る制御手段とを備えるようにしたので、光ディスクの回
転方向の滑りと傷による影響とを区別することができ、
傷の影響を抑え偏芯量の再計測の割合を減らすことがで
きるという効果がある。
ク装置によれば、光ディスク上に光学ピックアップによ
り光スポットを照射することで、光ディスクに情報を記
録しまたは光ディスクから情報を再生する光ディスク装
置において、前記光学ピックアップを前記光ディスク上
のトラックに追従させるための誤差信号生成手段と、前
記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯検出手段と、前記
偏芯検出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手
段と、前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の基準
値との比較を行う比較回路と、前記比較回路において前
記所定の基準値を越えたことを検出した場合、前記記憶
手段に記憶されている偏芯量が補正されるように制御す
る制御手段とを備えるようにしたので、光ディスクの回
転方向の滑りと傷による影響とを区別することができ、
傷の影響を抑え偏芯量の再計測の割合を減らすことがで
きるという効果がある。
【００８７】本発明の請求項３にかかる光ディスク装置
によれば、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録また
は光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯検
出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、
前記偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶手段
の出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段
と、前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値
となった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が
補正されるように制御する制御手段とを備えるようにし
たことにより、ディスクの回転方向への滑りを検出した
際に、偏芯補正を一時中断して最新の実測される偏芯量
と、既に計測されている偏芯補正量との位相差を検出す
ることでより正確に光ディスクの滑りの検出が可能とな
るという効果がある。
によれば、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録また
は光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯検
出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、
前記偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶手段
の出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段
と、前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値
となった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が
補正されるように制御する制御手段とを備えるようにし
たことにより、ディスクの回転方向への滑りを検出した
際に、偏芯補正を一時中断して最新の実測される偏芯量
と、既に計測されている偏芯補正量との位相差を検出す
ることでより正確に光ディスクの滑りの検出が可能とな
るという効果がある。
【００８８】本発明の請求項４にかかる光ディスク装置
によれば、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録また
は光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクを回転させる回転手段の回転位置に応じて信号を出
力する回転位置検出手段と、前記光ディスクの偏芯量を
検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯検出手段により検
出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前記回転位置検
出手段の出力する位置情報と、前記記憶手段の出力する
偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段と、前記位
相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値となった際
に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正される
ように制御する制御手段とを備えるようにしたので、光
ディスクの回転方向への滑りを検出した際に、ＦＧ信号
を比較時の基準信号として用いることで実際の偏芯量と
偏芯補正量との位相差検出を、偏芯補正を中断すること
なく行うことが可能となるという有利な効果がある。ま
た、偏芯補正を停止することなく偏芯量を補正すること
もできるというメリットがある。
によれば、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録また
は光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクを回転させる回転手段の回転位置に応じて信号を出
力する回転位置検出手段と、前記光ディスクの偏芯量を
検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯検出手段により検
出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前記回転位置検
出手段の出力する位置情報と、前記記憶手段の出力する
偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段と、前記位
相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値となった際
に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正される
ように制御する制御手段とを備えるようにしたので、光
ディスクの回転方向への滑りを検出した際に、ＦＧ信号
を比較時の基準信号として用いることで実際の偏芯量と
偏芯補正量との位相差検出を、偏芯補正を中断すること
なく行うことが可能となるという有利な効果がある。ま
た、偏芯補正を停止することなく偏芯量を補正すること
もできるというメリットがある。
【００８９】本発明の請求項７、請求項８にかかる光デ
ィスク装置によれば、ＴＥ信号と位相差などの情報とを
あわせて滑りを検出するようとしたことにより、光ディ
スクの回転方向への滑りをより正確に検出できるという
効果がある。
ィスク装置によれば、ＴＥ信号と位相差などの情報とを
あわせて滑りを検出するようとしたことにより、光ディ
スクの回転方向への滑りをより正確に検出できるという
効果がある。
【００９０】本発明の請求項９にかかる光ディスク装置
によれば、請求項１から請求項８のいずれかに記載の光
ディスク装置において、前記光ディスク上の傷を検出す
る傷検出回路をさらに備え、前記傷検出回路により傷を
検出した場合、前記制御手段は、前記記憶手段に記憶さ
れている偏芯量の補正を行なわないように制御するよう
にしたことにより、光ディスクの回転方向の滑りと傷に
よる影響とを区別でき、必要としない偏芯量の再計測を
抑えることができるという効果がある。
によれば、請求項１から請求項８のいずれかに記載の光
ディスク装置において、前記光ディスク上の傷を検出す
る傷検出回路をさらに備え、前記傷検出回路により傷を
検出した場合、前記制御手段は、前記記憶手段に記憶さ
れている偏芯量の補正を行なわないように制御するよう
にしたことにより、光ディスクの回転方向の滑りと傷に
よる影響とを区別でき、必要としない偏芯量の再計測を
抑えることができるという効果がある。
【図１】本発明の実施の形態１による光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態１による光ディスク装置の
構成の動作を説明するタイミングチャートである。
構成の動作を説明するタイミングチャートである。
【図３】本発明の実施の形態２による光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の実施の形態２による光ディスク装置の
構成の動作を説明するタイミングチャートである。
構成の動作を説明するタイミングチャートである。
【図５】本発明の実施の形態３による光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の実施の形態３、実施の形態４による光
ディスク装置の構成の動作を説明するタイミングチャー
トである。
ディスク装置の構成の動作を説明するタイミングチャー
トである。
【図７】本発明の実施の形態４による光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図８】本発明の実施の形態５による光ディスク装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図９】本発明の実施の形態５、実施の形態６による光
ディスク装置の構成の動作を説明するタイミングチャー
トである。
ディスク装置の構成の動作を説明するタイミングチャー
トである。
【図１０】本発明の実施の形態６による光ディスク装置
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図１１】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック
図である。
図である。
１ 光ディスク
２ 光学ヘッド
３ 移送手段
４ 増幅手段（誤差信号生成手段）
５ 記憶手段
６ 制御増幅手段
７ 偏芯補正量に関する制御指令
８ 読取り手段
９ 加算手段
１０、２３ コンパレータ
１１ 設定レベル信号
２０ 最小値検出手段
２１ スピンドルモータ
２２ 傷検出信号
３１ 位相差検出手段
３２ 記憶手段の出力する偏芯補正情報
３３ 記憶手段の格納する偏芯量
４０ ＦＧ生成手段
【手続補正書】
【提出日】平成１４年６月２１日（２００２．６．２
１）
１）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項２
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項３
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項４
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項７
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項８
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００３
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００３】図１１は、この従来の光ディスク装置の構
成を示すブロック図である。図１１において、１は光デ
ィスク、２は光学ヘッド、３は移送手段、４は制御信
号、データ等の再生信号を増幅する増幅手段、５は記憶
手段、６は制御増幅回路、７は制御指令で、８は光ディ
スク１回転に相当するトラックアドレス、セクターアド
レス等の信号を検出する読み取り手段、９は加算手段、
１０はズレ量のトータルである加算手段９の出力が設定
レベル１１を越えたか否かを判定するコンパレータ、２
１はスピンドルモータである。
成を示すブロック図である。図１１において、１は光デ
ィスク、２は光学ヘッド、３は移送手段、４は制御信
号、データ等の再生信号を増幅する増幅手段、５は記憶
手段、６は制御増幅回路、７は制御指令で、８は光ディ
スク１回転に相当するトラックアドレス、セクターアド
レス等の信号を検出する読み取り手段、９は加算手段、
１０はズレ量のトータルである加算手段９の出力が設定
レベル１１を越えたか否かを判定するコンパレータ、２
１はスピンドルモータである。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００７】また、アドレス情報は、トラッキングサー
ボが掛かり正しくデータが読めるようになった後でしか
利用することができないため、シークした直後などまだ
データが正確に読めない状態では、記憶した偏芯量と実
際のディスクの偏芯量との間にズレが生じたか確認でき
ないという問題もあった。そのため、アドレス情報等の
光ディスクに記録された情報に基づかない光ディスクの
滑り検出方法による偏芯補正および再計測補正が要求さ
れている。
ボが掛かり正しくデータが読めるようになった後でしか
利用することができないため、シークした直後などまだ
データが正確に読めない状態では、記憶した偏芯量と実
際のディスクの偏芯量との間にズレが生じたか確認でき
ないという問題もあった。そのため、アドレス情報等の
光ディスクに記録された情報に基づかない光ディスクの
滑り検出方法による偏芯補正および再計測補正が要求さ
れている。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに本発明は、本発明の請求項１に記載の光ディスク装
置は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポッ
トを照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは
光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯量
検出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段
と、前記誤差信号生成手段の出力が所定の設定値以上の
値となった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量
が補正されるように制御する制御手段と、を備えたもの
である。
めに本発明は、本発明の請求項１に記載の光ディスク装
置は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポッ
トを照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは
光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯量
検出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段
と、前記誤差信号生成手段の出力が所定の設定値以上の
値となった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量
が補正されるように制御する制御手段と、を備えたもの
である。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１０】また、本発明の請求項２に記載の光ディス
ク装置は、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録しま
たは光ディスクから情報を再生する光ディスク装置にお
いて、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラ
ックに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光デ
ィスクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯
量検出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段
と、前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の基準値
との比較を行う比較回路と、前記比較回路において前記
所定の基準値を越えたことを検出した場合、前記記憶手
段に記憶されている偏芯量が補正されるように制御する
制御手段と、を備えたものである。
ク装置は、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録しま
たは光ディスクから情報を再生する光ディスク装置にお
いて、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラ
ックに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光デ
ィスクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯
量検出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段
と、前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の基準値
との比較を行う比較回路と、前記比較回路において前記
所定の基準値を越えたことを検出した場合、前記記憶手
段に記憶されている偏芯量が補正されるように制御する
制御手段と、を備えたものである。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１１】本発明の請求項３に記載の光ディスク装置
は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポット
を照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは光
ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、
前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディスク
の偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯量検出
手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前
記偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶手段の
出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段
と、前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値
となった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が
補正されるように制御する制御手段とを備えたものであ
る。
は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポット
を照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは光
ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、
前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディスク
の偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯量検出
手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前
記偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶手段の
出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段
と、前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値
となった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が
補正されるように制御する制御手段とを備えたものであ
る。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１２】本発明の請求項４に記載の光ディスク装置
は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポット
を照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは光
ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、
前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディスク
を回転させる回転手段の回転位置に応じて信号を出力す
る回転位置検出手段と、前記光ディスクの偏芯量を検出
する偏芯量検出手段と、前記偏芯量検出手段により検出
された偏芯量を記憶する記憶手段と、前記回転位置検出
手段の出力する位置情報と、前記記憶手段の出力する偏
芯量との位相差を検出する位相差検出手段と、前記位相
差検出手段の出力が所定の設定値以上の値となった際
に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正される
ように制御する制御手段とを備えたものである。
は、光ディスク上に光学ピックアップにより光スポット
を照射することで、光ディスクに情報を記録しまたは光
ディスクから情報を再生する光ディスク装置において、
前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディスク
を回転させる回転手段の回転位置に応じて信号を出力す
る回転位置検出手段と、前記光ディスクの偏芯量を検出
する偏芯量検出手段と、前記偏芯量検出手段により検出
された偏芯量を記憶する記憶手段と、前記回転位置検出
手段の出力する位置情報と、前記記憶手段の出力する偏
芯量との位相差を検出する位相差検出手段と、前記位相
差検出手段の出力が所定の設定値以上の値となった際
に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正される
ように制御する制御手段とを備えたものである。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１５】本発明の請求項７に記載の光ディスク装置
は、請求項２から請求項６のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記誤差信号生成手段の出力も所定の
設定値以上の値となった場合のみ、前記制御手段は、前
記記憶手段に記憶されている偏芯量の補正制御を行うも
のである。
は、請求項２から請求項６のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記誤差信号生成手段の出力も所定の
設定値以上の値となった場合のみ、前記制御手段は、前
記記憶手段に記憶されている偏芯量の補正制御を行うも
のである。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１６】本発明の請求項８に記載の光ディスク装置
は、請求項１から請求項７のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記誤差信号生成手段の出力の最小値
が一定時間以上所定の値を超えたことを検出する最小値
検出手段を備え、前記最小値検出手段は前記誤差信号生
成手段の出力の最小値が一定時間以上所定の値を超えた
誤差信号を検出した場合においてのみ、前記制御手段
は、前記記憶手段に記憶されている偏芯量の補正制御を
行うものである。
は、請求項１から請求項７のいずれかに記載の光ディス
ク装置において、前記誤差信号生成手段の出力の最小値
が一定時間以上所定の値を超えたことを検出する最小値
検出手段を備え、前記最小値検出手段は前記誤差信号生
成手段の出力の最小値が一定時間以上所定の値を超えた
誤差信号を検出した場合においてのみ、前記制御手段
は、前記記憶手段に記憶されている偏芯量の補正制御を
行うものである。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１８】
【発明の実施の形態】（実施の形態１）以下に、本発明
の請求項１、請求項８及び請求項９に記載された発明に
対応する、実施の形態１について、図１及び図２を参照
しながら説明する。図１は、本発明の実施の形態１にお
ける光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
の請求項１、請求項８及び請求項９に記載された発明に
対応する、実施の形態１について、図１及び図２を参照
しながら説明する。図１は、本発明の実施の形態１にお
ける光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１９】図１において、１は光ディスク、２は光学
ヘッド、３は移送手段、４は制御信号、データ等の再生
信号を増幅する増幅手段（誤差信号生成手段）、５は記
憶手段、６は制御増幅回路、７は偏芯量の補正に関する
制御指令で、８は光ディスク１回転に相当するトラック
アドレス、セクターアドレス等の信号を検出する読み取
り手段、２０はＴＥ信号の最小値が一定時間以上設定値
を越えたことを検出する最小値検出手段、１０は最小値
検出手段２０の出力が設定レベル１１を越えたか否かを
判定するコンパレータ、２１はスピンドルモータ、２２
は傷検出信号である。
ヘッド、３は移送手段、４は制御信号、データ等の再生
信号を増幅する増幅手段（誤差信号生成手段）、５は記
憶手段、６は制御増幅回路、７は偏芯量の補正に関する
制御指令で、８は光ディスク１回転に相当するトラック
アドレス、セクターアドレス等の信号を検出する読み取
り手段、２０はＴＥ信号の最小値が一定時間以上設定値
を越えたことを検出する最小値検出手段、１０は最小値
検出手段２０の出力が設定レベル１１を越えたか否かを
判定するコンパレータ、２１はスピンドルモータ、２２
は傷検出信号である。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２０】次に、上記のように構成された本発明の実
施の形態１による光ディスク装置の動作について説明す
る。スピンドルモータ２１により光ディスク１を回転さ
せた後、光学ヘッド２から光ディスク１にレーザ光を照
射し、そして光ディスク１からの反射光に基づき光学ヘ
ッド２のディスク面までの距離が一定となるよう図示し
ないフォーカスサーボ制御系によりフォーカス制御を行
う。フォーカス制御を開始した後、光ディスク１上のト
ラックに光学ヘッド２を追従させるために、フォーカス
制御と同様に、光ディスク１からの反射光に基づきトラ
ッキング制御を行う。トラッキング制御は、光学ヘッド
２により得られる被検出信号から増幅手段４においてＴ
Ｅ信号を生成し、このＴＥ信号に基づいて光学ヘッド２
の位置を制御する。増幅手段４は、検出したＴＥ信号を
読取り手段８および最小値検出手段２０へ出力する。
施の形態１による光ディスク装置の動作について説明す
る。スピンドルモータ２１により光ディスク１を回転さ
せた後、光学ヘッド２から光ディスク１にレーザ光を照
射し、そして光ディスク１からの反射光に基づき光学ヘ
ッド２のディスク面までの距離が一定となるよう図示し
ないフォーカスサーボ制御系によりフォーカス制御を行
う。フォーカス制御を開始した後、光ディスク１上のト
ラックに光学ヘッド２を追従させるために、フォーカス
制御と同様に、光ディスク１からの反射光に基づきトラ
ッキング制御を行う。トラッキング制御は、光学ヘッド
２により得られる被検出信号から増幅手段４においてＴ
Ｅ信号を生成し、このＴＥ信号に基づいて光学ヘッド２
の位置を制御する。増幅手段４は、検出したＴＥ信号を
読取り手段８および最小値検出手段２０へ出力する。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２４】次に、偏芯補正を行う。偏芯補正は、偏芯
量の計測を行った後、偏芯補正を行うために記憶手段５
に格納された偏芯成分に基づき、偏芯成分を打ち消す方
向に制御増幅回路６を通じて移送手段３を駆動し偏芯成
分による光学ヘッド２への影響を抑えることにより行な
われる。なお、記憶手段５における偏芯量の読み出し
は、計測時と同様に、スピンドルモータ２１の１回転に
要する時間をＮ等分した時間毎に、計測時と同じ基準ク
ロックを基に行う。
量の計測を行った後、偏芯補正を行うために記憶手段５
に格納された偏芯成分に基づき、偏芯成分を打ち消す方
向に制御増幅回路６を通じて移送手段３を駆動し偏芯成
分による光学ヘッド２への影響を抑えることにより行な
われる。なお、記憶手段５における偏芯量の読み出し
は、計測時と同様に、スピンドルモータ２１の１回転に
要する時間をＮ等分した時間毎に、計測時と同じ基準ク
ロックを基に行う。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２５】ディスクの回転方向の滑り検出は、偏芯補
正の実行中に行う。偏芯補正の実行中においては、最小
値検出手段２０は増幅手段４の出力するＴＥ信号が入力
され、ＴＥ信号の最小値が一定時間以上連続しているか
どうかを検出し、即ち一定時間内における入力の最小値
を求めて、コンパレータ１０に出力する。コンパレータ
１０は、この検出された最小値と予め設定した設定レベ
ル１１と比較し、この検出された最小値が設定レベル１
１よりも大きくなった場合に、ディスクが回転方向に滑
り偏芯補正が正しく行われなくなったと判断する。そし
て、コンパレータ１０は図示しない制御手段を介して前
記判断に基づいて記憶手段５に対して制御指令７を出力
する。
正の実行中に行う。偏芯補正の実行中においては、最小
値検出手段２０は増幅手段４の出力するＴＥ信号が入力
され、ＴＥ信号の最小値が一定時間以上連続しているか
どうかを検出し、即ち一定時間内における入力の最小値
を求めて、コンパレータ１０に出力する。コンパレータ
１０は、この検出された最小値と予め設定した設定レベ
ル１１と比較し、この検出された最小値が設定レベル１
１よりも大きくなった場合に、ディスクが回転方向に滑
り偏芯補正が正しく行われなくなったと判断する。そし
て、コンパレータ１０は図示しない制御手段を介して前
記判断に基づいて記憶手段５に対して制御指令７を出力
する。
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２６】ディスクの滑り検出後の偏芯量の再計測
は、ディスクの滑りが検出された際に図示しない制御手
段の出力する制御指令７に基づいて偏芯量の再計測を行
うことで行われる。そして、記憶手段５が制御指令７に
従って再計測された偏芯量を記憶する。偏芯量の再計測
は、記憶手段５に格納した偏芯量に基づいた制御増幅回
路６による移送手段３の駆動を中断して行う。これは、
偏芯補正を行うことで実際の偏芯量が検出できなくなる
のを防ぐためである。
は、ディスクの滑りが検出された際に図示しない制御手
段の出力する制御指令７に基づいて偏芯量の再計測を行
うことで行われる。そして、記憶手段５が制御指令７に
従って再計測された偏芯量を記憶する。偏芯量の再計測
は、記憶手段５に格納した偏芯量に基づいた制御増幅回
路６による移送手段３の駆動を中断して行う。これは、
偏芯補正を行うことで実際の偏芯量が検出できなくなる
のを防ぐためである。
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３２】（実施の形態２）以下に、本発明の請求項
２、請求項７、請求項８、請求項９に記載された発明に
対応する、実施の形態２について、図３及び図４を用い
て説明する。図３は、本実施の形態２による光ディスク
装置の構成を示すブロック図である。
２、請求項７、請求項８、請求項９に記載された発明に
対応する、実施の形態２について、図３及び図４を用い
て説明する。図３は、本実施の形態２による光ディスク
装置の構成を示すブロック図である。
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３５】偏芯量の再計測は、以下の手順で行う。ま
ず、ディスクの滑り検出は、以下の手順で行う。増幅手
段４によって検出されたＴＥ信号の最小値を最小値検出
手段２０で検出し、その最小値と設定レベル１１との比
較をコンパレータ１０で行い、設定レベル１１を越えた
場合にディスクが滑った可能性があると判断する。
ず、ディスクの滑り検出は、以下の手順で行う。増幅手
段４によって検出されたＴＥ信号の最小値を最小値検出
手段２０で検出し、その最小値と設定レベル１１との比
較をコンパレータ１０で行い、設定レベル１１を越えた
場合にディスクが滑った可能性があると判断する。
【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３６】次に、コンパレータ２３は、記憶手段５か
ら制御増幅手段６へ出力する偏芯補正量が入力され、基
準値との比較を行い、コンパレータ２３への入力が基準
値よりも大きい、すなわち偏芯補正量が大きい場合に実
際にディスクが滑った可能性が高いと判断する。
ら制御増幅手段６へ出力する偏芯補正量が入力され、基
準値との比較を行い、コンパレータ２３への入力が基準
値よりも大きい、すなわち偏芯補正量が大きい場合に実
際にディスクが滑った可能性が高いと判断する。
【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３７】そして、コンパレータ２３への入力が基準
値よりも大きい、かつ、最小値検出手段２０の出力が設
定レベル１１よりも大きくなった場合には、ディスクが
滑り偏芯補正が正しく行われなくなったと判断する。
値よりも大きい、かつ、最小値検出手段２０の出力が設
定レベル１１よりも大きくなった場合には、ディスクが
滑り偏芯補正が正しく行われなくなったと判断する。
【手続補正２５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３８】また、コンパレータ２３への入力が基準値
よりも小さい、すなわち偏芯補正量が小さい区間で、コ
ンパレータ１０において最小値検出手段２０の出力が設
定レベル１１よりも大きくなった場合では、ディスクの
滑り以外の要因によりＴＥ信号が大きくなったと判断す
る。この場合は、例えばサーボのゲイン不足と判断し、
トラッキングサーボのゲインを上げるなど他の対応をす
るため、ディスクの滑りとは検出しない。
よりも小さい、すなわち偏芯補正量が小さい区間で、コ
ンパレータ１０において最小値検出手段２０の出力が設
定レベル１１よりも大きくなった場合では、ディスクの
滑り以外の要因によりＴＥ信号が大きくなったと判断す
る。この場合は、例えばサーボのゲイン不足と判断し、
トラッキングサーボのゲインを上げるなど他の対応をす
るため、ディスクの滑りとは検出しない。
【手続補正２６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００３９】ディスクの滑り検出後の偏芯量の再計測
は、上記の判断に基づいて図示しない制御回路から発す
る偏芯量の再記憶に関する制御指令７に基づいて行う。
そして、記憶手段５が再計測された偏芯量を制御指令７
に従って記憶する。
は、上記の判断に基づいて図示しない制御回路から発す
る偏芯量の再記憶に関する制御指令７に基づいて行う。
そして、記憶手段５が再計測された偏芯量を制御指令７
に従って記憶する。
【手続補正２７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００４８】ディスクの滑り検出は、以下の手順で行
う。一定の周期で、もしくはランダムな時間の間隔で、
記憶手段５は偏芯補正量３２の出力を中断するよう制御
される。この記憶手段５が偏芯補正量の出力を中断した
状態で、位相差検出手段３１は記憶手段５の出力する偏
芯量３３と、増幅手段４の出力する偏芯量との位相比較
を行うことでディスクの滑り検出を行う。位相比較結果
が基準値よりも大きな位相差を検出した場合に、ディス
クの滑りが生じたと判断する。
う。一定の周期で、もしくはランダムな時間の間隔で、
記憶手段５は偏芯補正量３２の出力を中断するよう制御
される。この記憶手段５が偏芯補正量の出力を中断した
状態で、位相差検出手段３１は記憶手段５の出力する偏
芯量３３と、増幅手段４の出力する偏芯量との位相比較
を行うことでディスクの滑り検出を行う。位相比較結果
が基準値よりも大きな位相差を検出した場合に、ディス
クの滑りが生じたと判断する。
【手続補正２８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００４９】また、図示はしないが光ディスク１から読
み出したデータの誤り率（Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）が悪
くなったと検出されたとき、記憶手段５は偏芯補正量３
２の出力を中断するように構成してもよい。
み出したデータの誤り率（Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）が悪
くなったと検出されたとき、記憶手段５は偏芯補正量３
２の出力を中断するように構成してもよい。
【手続補正２９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５０】偏芯量の補正は、位相差検出手段３１から
２つの信号の位相差を記憶手段５に出力し、記憶手段５
はこの位相差に基づき、この位相差を無くすように偏芯
補正量３２を出力するタイミングをずらすことで偏芯補
正量を修正する。すなわち、位相差が大きくなった場合
は、即ち位相が遅れた場合は、位相差が小さくなるよう
偏芯補正量３２を出力するタイミングを早め、位相差が
小さくなった場合は、逆に偏芯補正量３２を出力するタ
イミングを遅らせる。その後、中断していた偏芯補正を
再開する。この偏芯補正量３２の出力をずらすことで、
ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯補正
との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻すこ
とができる。
２つの信号の位相差を記憶手段５に出力し、記憶手段５
はこの位相差に基づき、この位相差を無くすように偏芯
補正量３２を出力するタイミングをずらすことで偏芯補
正量を修正する。すなわち、位相差が大きくなった場合
は、即ち位相が遅れた場合は、位相差が小さくなるよう
偏芯補正量３２を出力するタイミングを早め、位相差が
小さくなった場合は、逆に偏芯補正量３２を出力するタ
イミングを遅らせる。その後、中断していた偏芯補正を
再開する。この偏芯補正量３２の出力をずらすことで、
ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯補正
との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻すこ
とができる。
【手続補正３０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５１】図６は、本実施の形態３による偏芯量の再
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図６の区間Ａは、記憶手段５から読み出された偏芯
量に基づいて偏芯補正を行っている区間を示している。
この区間では、増幅手段４の出力には、記憶手段５の出
力する偏芯補正量に基づき偏芯補正を行った結果と、デ
ィスクがズレたことによるディスク自身の持つ偏芯量と
が合成された結果が得られる。図６の区間Ｂは、特定の
期間において記憶手段５が偏芯補正を停止している期間
を示している。この偏芯補正を停止している期間におい
ては、増幅手段４より実際の偏芯情報が出力される（図
６の増幅手段４）。位相差検出手段３１には、この増幅
手段４の出力する偏芯情報と、記憶手段５より区間Ａと
同じタイミングの偏芯量３３が入力され、この２つの信
号の位相差Ｃを計測する。記憶手段５は、位相差検出手
段３１の出力する位相差Ｃを入力され、偏芯補正量３２
の出力をその分時間的にずらして出力を再開する。この
際、偏芯量３３も同じ時間だけ出力するタイミングがず
らされる。
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図６の区間Ａは、記憶手段５から読み出された偏芯
量に基づいて偏芯補正を行っている区間を示している。
この区間では、増幅手段４の出力には、記憶手段５の出
力する偏芯補正量に基づき偏芯補正を行った結果と、デ
ィスクがズレたことによるディスク自身の持つ偏芯量と
が合成された結果が得られる。図６の区間Ｂは、特定の
期間において記憶手段５が偏芯補正を停止している期間
を示している。この偏芯補正を停止している期間におい
ては、増幅手段４より実際の偏芯情報が出力される（図
６の増幅手段４）。位相差検出手段３１には、この増幅
手段４の出力する偏芯情報と、記憶手段５より区間Ａと
同じタイミングの偏芯量３３が入力され、この２つの信
号の位相差Ｃを計測する。記憶手段５は、位相差検出手
段３１の出力する位相差Ｃを入力され、偏芯補正量３２
の出力をその分時間的にずらして出力を再開する。この
際、偏芯量３３も同じ時間だけ出力するタイミングがず
らされる。
【手続補正３１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５２】このように、本実施の形態３による光ディ
スク装置では、偏芯量検出手段から検出された実際の偏
芯量と、記憶手段に記憶されている偏芯量との位相差を
検出する位相差検出手段を設けて、光ディスクの滑りを
検出するようにしたことにより、記憶手段は前記位相差
に基づいて偏芯補正量の出力タイミングをずらすことが
でき、光ディスクから読み出したアドレスやデータなど
の情報に頼らずに、かつ、偏芯量の再計測を行わなくて
も、光ディスクの偏芯補正ができる。
スク装置では、偏芯量検出手段から検出された実際の偏
芯量と、記憶手段に記憶されている偏芯量との位相差を
検出する位相差検出手段を設けて、光ディスクの滑りを
検出するようにしたことにより、記憶手段は前記位相差
に基づいて偏芯補正量の出力タイミングをずらすことが
でき、光ディスクから読み出したアドレスやデータなど
の情報に頼らずに、かつ、偏芯量の再計測を行わなくて
も、光ディスクの偏芯補正ができる。
【手続補正３２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５３
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５３】なお、以上の説明では、位相差検出手段３
１において検出した位相差に基づき記憶手段５から偏芯
補正量を出力するタイミングをずらすことで対応する例
で説明したが、位相差検出手段３１において位相差が基
準値よりも大きくなった場合はディスクの滑りが生じた
と判断し、記憶手段５に対して偏芯量の再記憶を行うよ
うに再記憶指令を出力し、記憶手段５が再記憶を行うよ
うにしても、同様に、光ディスクから読み出したアドレ
スやデータなどの情報に頼らずに、光ディスクの偏芯補
正ができる。
１において検出した位相差に基づき記憶手段５から偏芯
補正量を出力するタイミングをずらすことで対応する例
で説明したが、位相差検出手段３１において位相差が基
準値よりも大きくなった場合はディスクの滑りが生じた
と判断し、記憶手段５に対して偏芯量の再記憶を行うよ
うに再記憶指令を出力し、記憶手段５が再記憶を行うよ
うにしても、同様に、光ディスクから読み出したアドレ
スやデータなどの情報に頼らずに、光ディスクの偏芯補
正ができる。
【手続補正３３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５７】ディスクの滑り検出は、以下の手順で行
う。増幅手段４によって検出されたＴＥ信号の最小値を
最小値検出手段２０で検出し、その最小値と設定レベル
１１との比較をコンパレータ１０で行う。前記最小値が
設定レベル１１を越えた場合、記憶手段５は偏芯補正量
３２の出力を中断するよう制御される。この記憶手段５
が偏芯補正量の出力を中断した状態で、位相差検出手段
３１は記憶手段５の出力する偏芯量３３と、増幅手段４
の出力する偏芯量との位相比較を行うことでディスクの
滑り検出を行う。位相比較結果が基準値よりも大きな位
相差を検出した場合に、ディスクの滑りが生じたと判断
する。
う。増幅手段４によって検出されたＴＥ信号の最小値を
最小値検出手段２０で検出し、その最小値と設定レベル
１１との比較をコンパレータ１０で行う。前記最小値が
設定レベル１１を越えた場合、記憶手段５は偏芯補正量
３２の出力を中断するよう制御される。この記憶手段５
が偏芯補正量の出力を中断した状態で、位相差検出手段
３１は記憶手段５の出力する偏芯量３３と、増幅手段４
の出力する偏芯量との位相比較を行うことでディスクの
滑り検出を行う。位相比較結果が基準値よりも大きな位
相差を検出した場合に、ディスクの滑りが生じたと判断
する。
【手続補正３４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５８】偏芯量の補正は、位相差検出手段３１から
２つの信号の位相差を記憶手段５に出力し、記憶手段５
はこの位相差に基づき、この位相差を無くすように偏芯
補正量３２を出力するタイミングをずらすことで偏芯補
正量を修正する。すなわち、位相差が大きくなった場合
は、即ち位相が遅れるた場合は、位相差が小さくなるよ
う偏芯補正量３２を出力するタイミングを早め、位相差
が小さくなった場合は、逆に偏芯補正量３２を出力する
タイミングを遅らせる。その後、中断していた偏芯補正
を再開する。この偏芯補正量３２の出力をずらすこと
で、ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯
補正との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻
すことができる。
２つの信号の位相差を記憶手段５に出力し、記憶手段５
はこの位相差に基づき、この位相差を無くすように偏芯
補正量３２を出力するタイミングをずらすことで偏芯補
正量を修正する。すなわち、位相差が大きくなった場合
は、即ち位相が遅れるた場合は、位相差が小さくなるよ
う偏芯補正量３２を出力するタイミングを早め、位相差
が小さくなった場合は、逆に偏芯補正量３２を出力する
タイミングを遅らせる。その後、中断していた偏芯補正
を再開する。この偏芯補正量３２の出力をずらすこと
で、ディスクの滑りにより生じたディスクの偏芯と偏芯
補正との関係を、ディスクの滑りが生じる前の状態に戻
すことができる。
【手続補正３５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００５９】図６は、本実施の形態４による偏芯量の再
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図６の区間Ａは、記憶手段５から読み出された偏芯
量に基づいて偏芯補正を行っている区間を示している。
この区間では、増幅手段４の出力には、記憶手段５の出
力する偏芯補正量に基づき制御増幅回路６が偏芯補正を
行った結果と、ディスクがズレたことによるディスク自
身の持つ偏芯量とが合成された結果が得られる。図６の
区間Ｂは、ＴＥ信号の振幅が大きくなりコンパレータ１
０の指示により記憶手段５が偏芯補正を停止している期
間を示している。この偏芯補正を停止している期間にお
いては、増幅手段４より実際の偏芯情報が出力される
（図６の増幅手段４）。位相差検出手段３１には、この
増幅手段４の出力する偏芯情報と、記憶手段５より区間
Ａと同じタイミングの偏芯量３３が入力され、この２つ
の信号の位相差Ｃを計測する。記憶手段５は、位相差検
出手段３１の出力する位相差Ｃを入力し、偏芯補正量３
２をその分時間的にずらして出力を再開する。この際、
偏芯量３３も同じ時間だけ出力するタイミングがずらさ
れる。
計測を行うタイミングを示すタイミングチャートであ
る。図６の区間Ａは、記憶手段５から読み出された偏芯
量に基づいて偏芯補正を行っている区間を示している。
この区間では、増幅手段４の出力には、記憶手段５の出
力する偏芯補正量に基づき制御増幅回路６が偏芯補正を
行った結果と、ディスクがズレたことによるディスク自
身の持つ偏芯量とが合成された結果が得られる。図６の
区間Ｂは、ＴＥ信号の振幅が大きくなりコンパレータ１
０の指示により記憶手段５が偏芯補正を停止している期
間を示している。この偏芯補正を停止している期間にお
いては、増幅手段４より実際の偏芯情報が出力される
（図６の増幅手段４）。位相差検出手段３１には、この
増幅手段４の出力する偏芯情報と、記憶手段５より区間
Ａと同じタイミングの偏芯量３３が入力され、この２つ
の信号の位相差Ｃを計測する。記憶手段５は、位相差検
出手段３１の出力する位相差Ｃを入力し、偏芯補正量３
２をその分時間的にずらして出力を再開する。この際、
偏芯量３３も同じ時間だけ出力するタイミングがずらさ
れる。
【手続補正３６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６３
【補正方法】変更
【補正内容】
【００６３】（実施の形態５）以下に、本発明の請求項
４から請求項６に記載された発明に対応する、実施の形
態５について、図８及び図９を用いて説明する。図８
は、本実施の形態５による光ディスク装置の構成を示す
ブロック図である。
４から請求項６に記載された発明に対応する、実施の形
態５について、図８及び図９を用いて説明する。図８
は、本実施の形態５による光ディスク装置の構成を示す
ブロック図である。
【手続補正３７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００６５】次に、上記のように構成された本実施の形
態５による光ディスク装置の動作について説明する。ス
ピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラッ
キング制御を行うまでは実施の形態１と同様の手順で行
う。トラッキング制御を開始した後、偏芯補正を行う。
以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測値に基づ
く偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り検出、偏
芯量の補正、偏芯補正の再開という順に説明する。
態５による光ディスク装置の動作について説明する。ス
ピンドルモータ２１の回転後、フォーカス制御、トラッ
キング制御を行うまでは実施の形態１と同様の手順で行
う。トラッキング制御を開始した後、偏芯補正を行う。
以下、偏芯補正の動作を、偏芯量の計測、計測値に基づ
く偏芯補正の実行、ディスクの回転方向の滑り検出、偏
芯量の補正、偏芯補正の再開という順に説明する。
【手続補正３８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００６７】次に、偏芯量の補正は以下の手順で行う。
位相差検出手段３１はさらに、これらの信号の位相差を
記憶手段５に出力し、記憶手段５はこの位相差に基づい
て、この位相差を無くすように偏芯補正量３２を出力す
るタイミングをずらし、偏芯補正を行う。すなわち、位
相差が大きくなった場合、即ち位相が遅れた場合は、位
相差が小さくなるよう偏芯補正量３２を出力するタイミ
ングを早め、位相差が小さくなった場合は、逆に偏芯補
正量３２を出力するタイミングを遅らせる。
位相差検出手段３１はさらに、これらの信号の位相差を
記憶手段５に出力し、記憶手段５はこの位相差に基づい
て、この位相差を無くすように偏芯補正量３２を出力す
るタイミングをずらし、偏芯補正を行う。すなわち、位
相差が大きくなった場合、即ち位相が遅れた場合は、位
相差が小さくなるよう偏芯補正量３２を出力するタイミ
ングを早め、位相差が小さくなった場合は、逆に偏芯補
正量３２を出力するタイミングを遅らせる。
【手続補正３９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００６９】図９は、本実施の形態５によるＦＧ生成手
段４０の出力するＦＧ信号と、記憶手段５の出力する偏
芯量３３との位相差検出を行うタイミングを示すタイミ
ングチャートである。
段４０の出力するＦＧ信号と、記憶手段５の出力する偏
芯量３３との位相差検出を行うタイミングを示すタイミ
ングチャートである。
【手続補正４０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００７１】なお、以上の説明では、位相差検出手段３
１において検出した位相差に基づき記憶手段５は出力す
るタイミングをずらすことで対応する例で説明したが、
位相差検出手段３１において位相差が基準値よりも大き
くなった場合はディスクのズレが生じたと判断し、記憶
手段５に対して再記憶を行うように制御指令７を出力
し、記憶手段５は再記憶を行うようにしても同様に実現
可能である。
１において検出した位相差に基づき記憶手段５は出力す
るタイミングをずらすことで対応する例で説明したが、
位相差検出手段３１において位相差が基準値よりも大き
くなった場合はディスクのズレが生じたと判断し、記憶
手段５に対して再記憶を行うように制御指令７を出力
し、記憶手段５は再記憶を行うようにしても同様に実現
可能である。
【手続補正４１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００７２】（実施の形態６）以下に、本発明の請求項
４から請求項９に記載された発明に対応する、実施の形
態６について、図１０及び図９を用いて説明する。図１
０は、本実施の形態６による光ディスク装置の構成を示
すブロック図である。
４から請求項９に記載された発明に対応する、実施の形
態６について、図１０及び図９を用いて説明する。図１
０は、本実施の形態６による光ディスク装置の構成を示
すブロック図である。
【手続補正４２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００７７】ディスクの回転方向の滑り検出は以下の手
順で行う。増幅手段４によって検出されたＴＥ信号の一
定期間内における最小値を最小値検出手段２０で検出
し、その最小値と設定レベル１１との比較をコンパレー
タ１０で行い、設定レベル１１を越えた場合にディスク
が滑った可能性があると判断する。
順で行う。増幅手段４によって検出されたＴＥ信号の一
定期間内における最小値を最小値検出手段２０で検出
し、その最小値と設定レベル１１との比較をコンパレー
タ１０で行い、設定レベル１１を越えた場合にディスク
が滑った可能性があると判断する。
【手続補正４３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００７９】次に、偏芯量の補正は以下の手順で行う。
位相差検出手段３１はさらに、上記検出された位相差を
記憶手段５に出力し、記憶手段５はこの位相差に基づい
て、この位相差を無くすように偏芯補正量３２を出力す
るタイミングをずらし、偏芯補正を行う。すなわち、位
相差が大きくなった場合、即ち位相が遅れた場合は、位
相差が小さくなるよう偏芯補正量３２を出力するタイミ
ングを早め、位相差が小さくなった場合は、逆に偏芯補
正量３２を出力するタイミングを遅らせる。
位相差検出手段３１はさらに、上記検出された位相差を
記憶手段５に出力し、記憶手段５はこの位相差に基づい
て、この位相差を無くすように偏芯補正量３２を出力す
るタイミングをずらし、偏芯補正を行う。すなわち、位
相差が大きくなった場合、即ち位相が遅れた場合は、位
相差が小さくなるよう偏芯補正量３２を出力するタイミ
ングを早め、位相差が小さくなった場合は、逆に偏芯補
正量３２を出力するタイミングを遅らせる。
【手続補正４４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００８２】図９は、本実施の形態６によるＦＧ生成手
段４０の出力するＦＧ信号と、記憶手段５の出力する偏
芯量３３との位相差検出を行うタイミングを示すタイミ
ングチャートである。
段４０の出力するＦＧ信号と、記憶手段５の出力する偏
芯量３３との位相差検出を行うタイミングを示すタイミ
ングチャートである。
【手続補正４５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００８４】なお、以上の説明では、位相差検出手段３
１において検出した位相差に基づき記憶手段５は出力す
るタイミングをずらすことで対応する例で説明したが、
位相差検出手段３１において位相差が基準値よりも大き
くなった場合はディスクのズレが生じたと判断し記憶手
段５に対して再記憶を行うよう再記憶指令を出力し、記
憶手段５は再記憶を行うようにしても同様に実現可能で
ある。
１において検出した位相差に基づき記憶手段５は出力す
るタイミングをずらすことで対応する例で説明したが、
位相差検出手段３１において位相差が基準値よりも大き
くなった場合はディスクのズレが生じたと判断し記憶手
段５に対して再記憶を行うよう再記憶指令を出力し、記
憶手段５は再記憶を行うようにしても同様に実現可能で
ある。
【手続補正４６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８５
【補正方法】変更
【補正内容】
【００８５】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項１に係る
光ディスク装置によれば、光ディスク上に光学ピックア
ップにより光スポットを照射することで、光ディスクに
情報を記録しまたは光ディスクから情報を再生する光デ
ィスク装置において、前記光学ピックアップを前記光デ
ィスク上のトラックに追従させるための誤差信号生成手
段と、前記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯量検出手
段と、前記偏芯量検出手段により検出された偏芯量を記
憶する記憶手段と、前記誤差信号生成手段の出力が所定
の設定値以上の値となった際に、前記記憶手段に記憶さ
れている偏芯量が補正されるように制御する制御手段と
を備えるようにしたので、光ディスクの装着不良やごみ
等の影響によるスピンドルモータの回転速度の変更時等
に生じる光ディスクの回転方向への滑りをトラッキング
エラー信号を用いることにより検出し、光ディスク上の
アドレスやデータを読むことを行わずに偏芯補正できる
ため、偏芯補正実行時におけるトラッキング制御の異常
状態を回避できるという有利な効果がある。
光ディスク装置によれば、光ディスク上に光学ピックア
ップにより光スポットを照射することで、光ディスクに
情報を記録しまたは光ディスクから情報を再生する光デ
ィスク装置において、前記光学ピックアップを前記光デ
ィスク上のトラックに追従させるための誤差信号生成手
段と、前記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯量検出手
段と、前記偏芯量検出手段により検出された偏芯量を記
憶する記憶手段と、前記誤差信号生成手段の出力が所定
の設定値以上の値となった際に、前記記憶手段に記憶さ
れている偏芯量が補正されるように制御する制御手段と
を備えるようにしたので、光ディスクの装着不良やごみ
等の影響によるスピンドルモータの回転速度の変更時等
に生じる光ディスクの回転方向への滑りをトラッキング
エラー信号を用いることにより検出し、光ディスク上の
アドレスやデータを読むことを行わずに偏芯補正できる
ため、偏芯補正実行時におけるトラッキング制御の異常
状態を回避できるという有利な効果がある。
【手続補正４７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００８６】また、本発明の請求項２にかかる光ディス
ク装置によれば、光ディスク上に光学ピックアップによ
り光スポットを照射することで、光ディスクに情報を記
録しまたは光ディスクから情報を再生する光ディスク装
置において、前記光学ピックアップを前記光ディスク上
のトラックに追従させるための誤差信号生成手段と、前
記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前
記偏芯量検出手段により検出された偏芯量を記憶する記
憶手段と、前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の
基準値との比較を行う比較回路と、前記比較回路におい
て前記所定の基準値を越えたことを検出した場合、前記
記憶手段に記憶されている偏芯量が補正されるように制
御する制御手段とを備えるようにしたので、光ディスク
の回転方向の滑りと傷による影響とを区別することがで
き、傷の影響を抑え偏芯量の再計測の割合を減らすこと
ができるという効果がある。
ク装置によれば、光ディスク上に光学ピックアップによ
り光スポットを照射することで、光ディスクに情報を記
録しまたは光ディスクから情報を再生する光ディスク装
置において、前記光学ピックアップを前記光ディスク上
のトラックに追従させるための誤差信号生成手段と、前
記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前
記偏芯量検出手段により検出された偏芯量を記憶する記
憶手段と、前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の
基準値との比較を行う比較回路と、前記比較回路におい
て前記所定の基準値を越えたことを検出した場合、前記
記憶手段に記憶されている偏芯量が補正されるように制
御する制御手段とを備えるようにしたので、光ディスク
の回転方向の滑りと傷による影響とを区別することがで
き、傷の影響を抑え偏芯量の再計測の割合を減らすこと
ができるという効果がある。
【手続補正４８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８７
【補正方法】変更
【補正内容】
【００８７】本発明の請求項３にかかる光ディスク装置
によれば、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録また
は光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯量
検出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段
と、前記偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶
手段の出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出
手段と、前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上
の値となった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯
量が補正されるように制御する制御手段とを備えるよう
にしたことにより、ディスクの回転方向への滑りを検出
した際に、偏芯補正を一時中断して最新の実測される偏
芯量と、既に計測されている偏芯補正量との位相差を検
出することでより正確に光ディスクの滑りの検出が可能
となるという効果がある。
によれば、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録また
は光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯量
検出手段により検出された偏芯量を記憶する記憶手段
と、前記偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶
手段の出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出
手段と、前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上
の値となった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯
量が補正されるように制御する制御手段とを備えるよう
にしたことにより、ディスクの回転方向への滑りを検出
した際に、偏芯補正を一時中断して最新の実測される偏
芯量と、既に計測されている偏芯補正量との位相差を検
出することでより正確に光ディスクの滑りの検出が可能
となるという効果がある。
【手続補正４９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８８
【補正方法】変更
【補正内容】
【００８８】本発明の請求項４にかかる光ディスク装置
によれば、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録また
は光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクを回転させる回転手段の回転位置に応じて信号を出
力する回転位置検出手段と、前記光ディスクの偏芯量を
検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯量検出手段により
検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前記回転位置
検出手段の出力する位置情報と、前記記憶手段の出力す
る偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段と、前記
位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値となった
際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正され
るように制御する制御手段とを備えるようにしたので、
光ディスクの回転方向への滑りを検出した際に、ＦＧ信
号を比較時の基準信号として用いることで実際の偏芯量
と偏芯補正量との位相差検出を、偏芯補正を中断するこ
となく行うことが可能となるという有利な効果がある。
また、偏芯補正を停止することなく偏芯量を補正するこ
ともできるというメリットがある。
によれば、光ディスク上に光学ピックアップにより光ス
ポットを照射することで、光ディスクに情報を記録また
は光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
て、前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラッ
クに追従させるための誤差信号生成手段と、前記光ディ
スクを回転させる回転手段の回転位置に応じて信号を出
力する回転位置検出手段と、前記光ディスクの偏芯量を
検出する偏芯量検出手段と、前記偏芯量検出手段により
検出された偏芯量を記憶する記憶手段と、前記回転位置
検出手段の出力する位置情報と、前記記憶手段の出力す
る偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段と、前記
位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値となった
際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正され
るように制御する制御手段とを備えるようにしたので、
光ディスクの回転方向への滑りを検出した際に、ＦＧ信
号を比較時の基準信号として用いることで実際の偏芯量
と偏芯補正量との位相差検出を、偏芯補正を中断するこ
となく行うことが可能となるという有利な効果がある。
また、偏芯補正を停止することなく偏芯量を補正するこ
ともできるというメリットがある。
【手続補正５０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】符号の説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【符号の説明】
１ 光ディスク
２ 光学ヘッド
３ 移送手段
４ 増幅手段（誤差信号生成手段）
５ 記憶手段
６ 制御増幅回路
７ 偏芯補正量に関する制御指令
８ 読取り手段
９ 加算手段
１０、２３ コンパレータ
１１ 設定レベル信号
２０ 最小値検出手段
２１ スピンドルモータ
２２ 傷検出信号
３１ 位相差検出手段
３２ 記憶手段の出力する偏芯補正量
３３ 記憶手段の格納する偏芯量
４０ ＦＧ生成手段
【手続補正５１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正内容】
【図２】
【手続補正５２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図４
【補正方法】変更
【補正内容】
【図４】
【手続補正５３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図６
【補正方法】変更
【補正内容】
【図６】
【手続補正５４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図９
【補正方法】変更
【補正内容】
【図９】
Claims (9)
- 【請求項１】 光ディスク上に光学ピックアップにより
光スポットを照射することで、光ディスクに情報を記録
しまたは光ディスクから情報を再生する光ディスク装置
において、 前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、 前記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯検出手段と、 前記偏芯検出手段により検出された偏芯量を記憶する記
憶手段と、 前記誤差信号生成手段の出力が所定の設定値以上の値と
なった際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補
正されるように制御する制御手段と、を備えたことを特
徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】 光ディスク上に光学ピックアップにより
光スポットを照射することで、光ディスクに情報を記録
しまたは光ディスクから情報を再生する光ディスク装置
において、 前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、 前記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯検出手段と、 前記偏芯検出手段により検出された偏芯量を記憶する記
憶手段と、 前記記憶手段の出力する前記偏芯量と所定の基準値との
比較を行う比較回路と、 前記比較回路において前記所定の基準値を越えたことを
検出した場合、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が
補正されるように制御する制御手段と、を備えたことを
特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項３】 光ディスク上に光学ピックアップにより
光スポットを照射することで、光ディスクに情報を記録
しまたは光ディスクから情報を再生する光ディスク装置
において、 前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、 前記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、 前記偏芯検出手段により検出された偏芯量を記憶する記
憶手段と、 前記偏芯量検出手段の出力する偏芯量と、前記記憶手段
の出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出手段
と、 前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値とな
った際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正
されるように制御する制御手段と、を備えたことを特徴
とする光ディスク装置。 - 【請求項４】 光ディスク上に光学ピックアップにより
光スポットを照射することで、光ディスクに情報を記録
しまたは光ディスクから情報を再生する光ディスク装置
において、 前記光学ピックアップを前記光ディスク上のトラックに
追従させるための誤差信号生成手段と、 前記光ディスクを回転させる回転手段の回転位置に応じ
て信号を出力する回転位置検出手段と、 前記光ディスクの偏芯量を検出する偏芯量検出手段と、 前記偏芯検出手段により検出された偏芯量を記憶する記
憶手段と、 前記回転位置検出手段の出力する位置情報と、前記記憶
手段の出力する偏芯量との位相差を検出する位相差検出
手段と、 前記位相差検出手段の出力が所定の設定値以上の値とな
った際に、前記記憶手段に記憶されている偏芯量が補正
されるように制御する制御手段と、を備えたことを特徴
とする光ディスク装置。 - 【請求項５】 請求項３または請求項４に記載の光ディ
スク装置において、 前記位相差検出手段の出力は所定の設定値以上の値とな
った場合、 前記制御手段は、前記記憶手段が前記位相差検出手段に
より検出された位相差に基づいて偏芯補正量を出力する
タイミングを変更するように制御する、 ことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項６】 請求項３または請求項４に記載の光ディ
スク装置において、 前記位相差検出手段の出力は所定の設定値以上の値とな
った場合、 前記制御手段は、前記記憶手段が前記光ディスクの偏芯
量を再記憶するように制御する、 ことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項７】 請求項２から請求項６のいずれかに記載
の光ディスク装置において、 前記誤差生成手段の出力も所定の設定値以上の値となっ
た場合のみ、前記制御手段は、前記記憶手段に記憶され
ている偏芯量の補正制御を行う、 ことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項８】 請求項１から請求項７のいずれかに記載
の光ディスク装置において、 前記誤差検出信号の出力の最小値が一定時間以上所定の
値を超えたことを検出する最小値検出手段を備え、 前記最小値検出手段は前記誤差検出信号の出力の最小値
が一定時間以上所定の値を超えた誤差信号を検出した場
合においてのみ、前記制御手段は、前記記憶手段に記憶
されている偏芯量の補正制御を行う、 ことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項９】 請求項１から請求項８のいずれかに記載
の光ディスク装置において、 前記光ディスク上の傷を検出する傷検出回路をさらに備
え、 前記傷検出回路により傷を検出した場合、前記制御手段
は、前記記憶手段に記憶されている偏芯量の補正を行な
わないように制御する、 ことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001217197A JP2003030877A (ja) | 2001-07-17 | 2001-07-17 | 光ディスク装置 |
| CNB021410941A CN1174393C (zh) | 2001-07-17 | 2002-07-16 | 光盘机 |
| TW091115826A TWI227025B (en) | 2001-07-17 | 2002-07-16 | Optical disc device |
| US10/195,482 US20030016599A1 (en) | 2001-07-17 | 2002-07-16 | Optical disc apparatus |
| KR1020020041451A KR20030007197A (ko) | 2001-07-17 | 2002-07-16 | 광디스크 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001217197A JP2003030877A (ja) | 2001-07-17 | 2001-07-17 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003030877A true JP2003030877A (ja) | 2003-01-31 |
Family
ID=19051569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001217197A Pending JP2003030877A (ja) | 2001-07-17 | 2001-07-17 | 光ディスク装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20030016599A1 (ja) |
| JP (1) | JP2003030877A (ja) |
| KR (1) | KR20030007197A (ja) |
| CN (1) | CN1174393C (ja) |
| TW (1) | TWI227025B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7317669B2 (en) | 2003-07-23 | 2008-01-08 | Samsung Electornics Co., Ltd. | Method and apparatus for compensating for disc eccentricity in optical disc servo system |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7450483B2 (en) * | 2003-04-28 | 2008-11-11 | Panasonic Corporation | Information carrier apparatus and information carrier eccentricity correction method |
| JP4212504B2 (ja) * | 2004-03-31 | 2009-01-21 | 株式会社東芝 | ピックアップ制御装置および光ディスク装置 |
| US7791831B2 (en) * | 2005-10-13 | 2010-09-07 | Seagate Technology Llc | Data storage disc track centering |
| KR20220025565A (ko) | 2020-08-24 | 2022-03-03 | 양성준 | 주차장 온라인 운영 시스템 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0649132B1 (en) * | 1993-09-28 | 1999-11-24 | Sony Corporation | Disc eccentricity measuring apparatus and method thereof and apparatus for recording and/or reproducing disc-shaped recording medium |
-
2001
- 2001-07-17 JP JP2001217197A patent/JP2003030877A/ja active Pending
-
2002
- 2002-07-16 CN CNB021410941A patent/CN1174393C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2002-07-16 KR KR1020020041451A patent/KR20030007197A/ko active Search and Examination
- 2002-07-16 TW TW091115826A patent/TWI227025B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-07-16 US US10/195,482 patent/US20030016599A1/en not_active Abandoned
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7317669B2 (en) | 2003-07-23 | 2008-01-08 | Samsung Electornics Co., Ltd. | Method and apparatus for compensating for disc eccentricity in optical disc servo system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TWI227025B (en) | 2005-01-21 |
| KR20030007197A (ko) | 2003-01-23 |
| US20030016599A1 (en) | 2003-01-23 |
| CN1174393C (zh) | 2004-11-03 |
| CN1397943A (zh) | 2003-02-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2001344756A (ja) | 情報記録装置 | |
| EP0621586A1 (en) | Optical disk drive | |
| EP1246181B1 (en) | Optical disk recording/reproducing apparatus | |
| JP2003030877A (ja) | 光ディスク装置 | |
| US8004941B2 (en) | Optical disk apparatus and test writing method | |
| US7808862B2 (en) | Optical disc device and recording method | |
| US8547809B2 (en) | Optical disk device | |
| JP3787051B2 (ja) | 光ディスク装置のピックアップ駆動制御装置 | |
| JP3961839B2 (ja) | 情報記録再生装置 | |
| JP2576422B2 (ja) | 光ディスク情報再生装置 | |
| JP2003030878A (ja) | 光ディスク記録再生装置のウォブル信号検出回路 | |
| JP2003323727A (ja) | 光ディスクのトラック偏差補正方法 | |
| JP2009146503A (ja) | 光ディスク装置及び光ディスク装置の制御方法 | |
| JP3851177B2 (ja) | 光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法 | |
| JPH0627028Y2 (ja) | 回転記録媒体のサーボ装置 | |
| JP3523913B2 (ja) | 光ディスク再生装置におけるトラック線速度検出方法 | |
| JPH05135365A (ja) | 書込可能型光デイスク装置 | |
| JPH10106169A (ja) | 情報再生装置および情報記録装置 | |
| JPH11149755A (ja) | ディスク再生装置 | |
| JP2001176094A (ja) | トラッキングサーボ回路及び光ディスク再生装置 | |
| JPH08273182A (ja) | 回転式記録装置 | |
| JP2000090447A (ja) | 情報再生装置 | |
| JP2003272317A (ja) | 光ディスク記録再生装置の記録制御方法 | |
| JP2003030835A (ja) | 光ディスク記録再生装置のレーザー出力制御方法 | |
| JP2000251258A (ja) | 光ディスク記録再生装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040525 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041005 |