JP2003028754A - 表示装置検査用装置及び表示装置検査方法 - Google Patents
表示装置検査用装置及び表示装置検査方法Info
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- JP2003028754A JP2003028754A JP2001209168A JP2001209168A JP2003028754A JP 2003028754 A JP2003028754 A JP 2003028754A JP 2001209168 A JP2001209168 A JP 2001209168A JP 2001209168 A JP2001209168 A JP 2001209168A JP 2003028754 A JP2003028754 A JP 2003028754A
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- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 不良の検出及び欠陥の種類の判別を容易に行
うことができるようにした表示装置の検査方法及び検査
用装置を提供する。 【解決手段】 駆動信号発生装置５０は、不良絵素が欠
陥の種類によって異なる周期で点滅するように、液晶表
示装置１００の駆動パターンを所定の周期で自動的に切
り替える。
うことができるようにした表示装置の検査方法及び検査
用装置を提供する。 【解決手段】 駆動信号発生装置５０は、不良絵素が欠
陥の種類によって異なる周期で点滅するように、液晶表
示装置１００の駆動パターンを所定の周期で自動的に切
り替える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、表示装置の検査方
法及び検査用装置に関するものである。
法及び検査用装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置は、液晶の電気光学効果を
利用した表示装置であり、テレビ画面など幅広い分野で
利用されている。この液晶表示装置は、マトリクス状に
配列された多数の絵素電極と、これに印加された電圧に
応じて光を変調する液晶層とを備えている。上記絵素電
極を独立して駆動するアクティブマトリクス方式のスイ
ッチング素子としてはＴＦＴ（薄膜トランジスタ）など
が使用される。
利用した表示装置であり、テレビ画面など幅広い分野で
利用されている。この液晶表示装置は、マトリクス状に
配列された多数の絵素電極と、これに印加された電圧に
応じて光を変調する液晶層とを備えている。上記絵素電
極を独立して駆動するアクティブマトリクス方式のスイ
ッチング素子としてはＴＦＴ（薄膜トランジスタ）など
が使用される。
【０００３】このようなスイッチング素子の形成工程は
複雑であり、走査線及び信号線の断線や短絡、並びに、
スイッチング素子の不良などが発生が問題となってく
る。このため、駆動用回路が未実装の液晶表示装置を検
査する工程では、液晶表示装置の駆動信号入力端子に信
号を入力して不良箇所を検出する点灯検査が必要であ
る。上記スイッチング素子の不良は、素子自身の不良以
外に、隣接する走査線や信号線との短絡などがあり、原
因の違いから数種類に分類され、輝点や黒点として検出
される。原因の異なる不良を全て検出する方法として、
特開平６−８２８３６号の公報に記載されているよう
に、数種類の画像を表示させて目視検査する方法が知ら
れている。
複雑であり、走査線及び信号線の断線や短絡、並びに、
スイッチング素子の不良などが発生が問題となってく
る。このため、駆動用回路が未実装の液晶表示装置を検
査する工程では、液晶表示装置の駆動信号入力端子に信
号を入力して不良箇所を検出する点灯検査が必要であ
る。上記スイッチング素子の不良は、素子自身の不良以
外に、隣接する走査線や信号線との短絡などがあり、原
因の違いから数種類に分類され、輝点や黒点として検出
される。原因の異なる不良を全て検出する方法として、
特開平６−８２８３６号の公報に記載されているよう
に、数種類の画像を表示させて目視検査する方法が知ら
れている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の検査方法では、検査すべき画像数が多くな
り、検査時間が長くなって工数増加により検査コストが
高くなるという問題があった。また、表示させようとし
た画像と不良として判定すべき症状との相関が複雑にな
り、不良の検出及び欠陥の種類の判別が困難であった。
うな従来の検査方法では、検査すべき画像数が多くな
り、検査時間が長くなって工数増加により検査コストが
高くなるという問題があった。また、表示させようとし
た画像と不良として判定すべき症状との相関が複雑にな
り、不良の検出及び欠陥の種類の判別が困難であった。
【０００５】そこで、本発明は、不良の検出及び欠陥の
種類の判別を容易に行うことができるようにした表示装
置の検査方法及び検査用装置を提供することを目的とす
る。
種類の判別を容易に行うことができるようにした表示装
置の検査方法及び検査用装置を提供することを目的とす
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明では、表示装置を検査する際に使用される表
示装置検査用装置において、表示装置の不良絵素が欠陥
の種類によって異なる周期で点滅するように、表示装置
の駆動パターンを所定の周期で自動的に切り替える表示
装置駆動手段を備えている。この構成により、点滅する
周期に基づいて不良絵素の欠陥の種類を判別することが
できるようになる。
め、本発明では、表示装置を検査する際に使用される表
示装置検査用装置において、表示装置の不良絵素が欠陥
の種類によって異なる周期で点滅するように、表示装置
の駆動パターンを所定の周期で自動的に切り替える表示
装置駆動手段を備えている。この構成により、点滅する
周期に基づいて不良絵素の欠陥の種類を判別することが
できるようになる。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施形態を図面
を参照しながら説明する。本発明の一実施形態である液
晶表示装置の検査用装置は、液晶表示装置の製造工程に
おいて、液晶表示装置の駆動用ＬＳＩが実装されている
フィルムキャリアが液晶表示装置に接続される前に、液
晶表示装置の絵素の不良、並びに、走査線及び信号線の
断線及び短絡等の欠陥を検出するために用いられるもの
である。尚、液晶表示装置は、液晶に電圧を印加すると
光を遮断し、印加しないと光を透過する、いわゆる、ノ
ーマリーホワイトの場合を想定して説明する。
を参照しながら説明する。本発明の一実施形態である液
晶表示装置の検査用装置は、液晶表示装置の製造工程に
おいて、液晶表示装置の駆動用ＬＳＩが実装されている
フィルムキャリアが液晶表示装置に接続される前に、液
晶表示装置の絵素の不良、並びに、走査線及び信号線の
断線及び短絡等の欠陥を検出するために用いられるもの
である。尚、液晶表示装置は、液晶に電圧を印加すると
光を遮断し、印加しないと光を透過する、いわゆる、ノ
ーマリーホワイトの場合を想定して説明する。
【０００８】本発明の一実施形態である液晶表示装置の
検査用装置の上面図を図１の（イ）に、断面図を図１の
（ロ）にそれぞれ示す。まず、検査ステージ１０上には
位置決めピン２０により位置決めを行うことで定まった
位置に液晶表示装置１００が設置される。次に、検査ス
テージ１０上に設置された液晶表示装置１００のゲート
ライン（走査線）、ソースライン（信号線）、コモンラ
イン（対向電極線）、及び、蓄積容量ラインの各端子に
は、マザーボード３０に取り付けられたプローブ４０が
接触される。これにより、駆動信号発生装置５０から出
力される各駆動信号が液晶表示装置１００に入力され
る。そして、本実施形態では、検査対象である液晶表示
装置１００が透過型であるため、下方に設置されたバッ
クライト６０により液晶表示装置１００に光が照射され
る。これにより、駆動信号発生装置５０から出力される
信号に応じた画像が液晶表示装置１００に表示されるの
で、作業者は液晶表示装置１００に表示された画像を目
視で検査することにより欠陥の検出及び欠陥の種類の判
別を行う。
検査用装置の上面図を図１の（イ）に、断面図を図１の
（ロ）にそれぞれ示す。まず、検査ステージ１０上には
位置決めピン２０により位置決めを行うことで定まった
位置に液晶表示装置１００が設置される。次に、検査ス
テージ１０上に設置された液晶表示装置１００のゲート
ライン（走査線）、ソースライン（信号線）、コモンラ
イン（対向電極線）、及び、蓄積容量ラインの各端子に
は、マザーボード３０に取り付けられたプローブ４０が
接触される。これにより、駆動信号発生装置５０から出
力される各駆動信号が液晶表示装置１００に入力され
る。そして、本実施形態では、検査対象である液晶表示
装置１００が透過型であるため、下方に設置されたバッ
クライト６０により液晶表示装置１００に光が照射され
る。これにより、駆動信号発生装置５０から出力される
信号に応じた画像が液晶表示装置１００に表示されるの
で、作業者は液晶表示装置１００に表示された画像を目
視で検査することにより欠陥の検出及び欠陥の種類の判
別を行う。
【０００９】ここで、スイッチング素子としてＴＦＴを
用いたアクティブマトリクス型の液晶表示装置の基本的
な構成を図２を用いて説明しておく。ゲートライン１−
１、１−２、…、１−ｍが平行に配線されるとともに、
ソースライン２−１、２−２、…、２−ｎがゲートライ
ン１−１、１−２、…、１−ｍと直交する形で平行に配
線されている。ゲートライン１−ｘ（ｘ＝１、２、…、
ｍ）とソースライン２−ｙ（ｙ＝１、２、…、ｎ）とが
交差する位置の近傍にはＴＦＴ３−（ｘ，ｙ）及び液晶
層４−（ｘ，ｙ）が設けられている。
用いたアクティブマトリクス型の液晶表示装置の基本的
な構成を図２を用いて説明しておく。ゲートライン１−
１、１−２、…、１−ｍが平行に配線されるとともに、
ソースライン２−１、２−２、…、２−ｎがゲートライ
ン１−１、１−２、…、１−ｍと直交する形で平行に配
線されている。ゲートライン１−ｘ（ｘ＝１、２、…、
ｍ）とソースライン２−ｙ（ｙ＝１、２、…、ｎ）とが
交差する位置の近傍にはＴＦＴ３−（ｘ，ｙ）及び液晶
層４−（ｘ，ｙ）が設けられている。
【００１０】ＴＦＴ３−（ｘ，ｙ）はゲートがゲートラ
イン１−ｘに、ソースがソースライン２−ｙに、ドレイ
ンが液晶層４−（ｘ，ｙ）の一方の電極にそれぞれ接続
されている。尚、液晶層４−（ｘ，ｙ）の他方の電極は
他の全ての液晶層と共通にコモンライン５に接続されて
いる。
イン１−ｘに、ソースがソースライン２−ｙに、ドレイ
ンが液晶層４−（ｘ，ｙ）の一方の電極にそれぞれ接続
されている。尚、液晶層４−（ｘ，ｙ）の他方の電極は
他の全ての液晶層と共通にコモンライン５に接続されて
いる。
【００１１】ＴＦＴ３−（ｘ，ｙ）と液晶層４−（ｘ，
ｙ）との接続点には、蓄積容量６−（ｘ，ｙ）の一端が
接続されている。蓄積容量６−（ｘ，ｙ）の他端は他の
全ての蓄積容量と共通に蓄積容量ライン７に接続されて
いる。ＴＦＴ３−（ｘ，ｙ）、液晶層４−（ｘ，ｙ）、
及び、蓄積容量６−（ｘ，ｙ）で１つの絵素が構成され
ている。
ｙ）との接続点には、蓄積容量６−（ｘ，ｙ）の一端が
接続されている。蓄積容量６−（ｘ，ｙ）の他端は他の
全ての蓄積容量と共通に蓄積容量ライン７に接続されて
いる。ＴＦＴ３−（ｘ，ｙ）、液晶層４−（ｘ，ｙ）、
及び、蓄積容量６−（ｘ，ｙ）で１つの絵素が構成され
ている。
【００１２】ここで、リーク不良として、図３にＡで示
す液晶層４とコモンライン５との間のリーク（以下、
「Ａ不良」と称する）、図３にＢで示す液晶層４と蓄積
容量ライン７との間のリーク（以下、「Ｂ不良」と称す
る）、図３にＣで示す液晶層４とソースライン２との間
の比較的小さなリーク（以下、「Ｃ不良」と称する）な
どが考えられる。欠陥に種類によって修正方法が異なる
ので、不良絵素の欠陥の種類を判別する必要がある。
す液晶層４とコモンライン５との間のリーク（以下、
「Ａ不良」と称する）、図３にＢで示す液晶層４と蓄積
容量ライン７との間のリーク（以下、「Ｂ不良」と称す
る）、図３にＣで示す液晶層４とソースライン２との間
の比較的小さなリーク（以下、「Ｃ不良」と称する）な
どが考えられる。欠陥に種類によって修正方法が異なる
ので、不良絵素の欠陥の種類を判別する必要がある。
【００１３】本実施形態では、Ａ不良、Ｂ不良、及び、
Ｃ不良の検出及び判別を行う際に液晶表示装置を駆動す
るパターンとして、第１、第２、及び、第３の駆動パタ
ーンが用意されている。第１の駆動パターンでは、図４
に示すように、ソースラインを駆動する信号ＳをＴＦＴ
がＯＮする時間の２倍を１周期とする振幅Ｖｓ（４[V]
程度）、中心値０[V]の矩形波信号にするとともに、コ
モンラインを駆動する信号ＣＯＭ及び蓄積容量ラインを
駆動する信号Ｃｓを０[V]にする。尚、あるゲートライ
ンを駆動する信号Ｇの波形は図４に示すようになってお
り、各ゲートラインにはＴＦＴをＯＮさせるための正の
パルス（電圧ＶDD）が順番に繰り返し印加される。ま
た、電圧ＶEEはＴＦＴをＯＦＦさせるためのものであ
る。
Ｃ不良の検出及び判別を行う際に液晶表示装置を駆動す
るパターンとして、第１、第２、及び、第３の駆動パタ
ーンが用意されている。第１の駆動パターンでは、図４
に示すように、ソースラインを駆動する信号ＳをＴＦＴ
がＯＮする時間の２倍を１周期とする振幅Ｖｓ（４[V]
程度）、中心値０[V]の矩形波信号にするとともに、コ
モンラインを駆動する信号ＣＯＭ及び蓄積容量ラインを
駆動する信号Ｃｓを０[V]にする。尚、あるゲートライ
ンを駆動する信号Ｇの波形は図４に示すようになってお
り、各ゲートラインにはＴＦＴをＯＮさせるための正の
パルス（電圧ＶDD）が順番に繰り返し印加される。ま
た、電圧ＶEEはＴＦＴをＯＦＦさせるためのものであ
る。
【００１４】この第１の駆動パターンで駆動した場合、
液晶層に保持されている電圧（液晶層のＴＦＴ側がコモ
ンライン側よりも電位が高い状態を正としている）の波
形が、正常な絵素では図４にＮで示すようになり、液晶
層に電圧が印加されて黒点になる。これに対して、Ａ不
良、Ｂ不良、Ｃ不良の絵素では、上記波形がそれぞれ図
４にＡ、Ｂ、Ｃで示すようになり、液晶層に電圧が印加
されず輝点になる。
液晶層に保持されている電圧（液晶層のＴＦＴ側がコモ
ンライン側よりも電位が高い状態を正としている）の波
形が、正常な絵素では図４にＮで示すようになり、液晶
層に電圧が印加されて黒点になる。これに対して、Ａ不
良、Ｂ不良、Ｃ不良の絵素では、上記波形がそれぞれ図
４にＡ、Ｂ、Ｃで示すようになり、液晶層に電圧が印加
されず輝点になる。
【００１５】第２の駆動パターンでは、図５に示すよう
に、コモンラインを駆動する信号ＣＯＭ及び蓄積容量ラ
インを駆動する信号Ｃｓをソースラインの駆動信号Ｓの
振幅ＶSよりも大きな電圧ＶH（１０[V]程度）にする。
尚、他のラインの駆動信号は上記第１の駆動パターンと
同じである。
に、コモンラインを駆動する信号ＣＯＭ及び蓄積容量ラ
インを駆動する信号Ｃｓをソースラインの駆動信号Ｓの
振幅ＶSよりも大きな電圧ＶH（１０[V]程度）にする。
尚、他のラインの駆動信号は上記第１の駆動パターンと
同じである。
【００１６】この第２の駆動パターンで駆動した場合、
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｃ
不良の絵素では、それぞれ図５にＮ、Ｃで示すようにな
り、液晶層に電圧が印加されて黒点になる。これに対し
て、Ａ不良、Ｂ不良の絵素では、上記波形がそれぞれ図
５にＡ、Ｂで示すようになり、液晶層に電圧が印加され
ず輝点になる。
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｃ
不良の絵素では、それぞれ図５にＮ、Ｃで示すようにな
り、液晶層に電圧が印加されて黒点になる。これに対し
て、Ａ不良、Ｂ不良の絵素では、上記波形がそれぞれ図
５にＡ、Ｂで示すようになり、液晶層に電圧が印加され
ず輝点になる。
【００１７】第３の駆動パターンでは、図６に示すよう
に、コモンラインを駆動する信号ＣＯＭのみをソースラ
インの駆動信号Ｓの振幅よりも大きな電圧（１０[V]程
度）にする。尚、他のラインの駆動信号は上記第１の駆
動パターンと同じである。
に、コモンラインを駆動する信号ＣＯＭのみをソースラ
インの駆動信号Ｓの振幅よりも大きな電圧（１０[V]程
度）にする。尚、他のラインの駆動信号は上記第１の駆
動パターンと同じである。
【００１８】この第３の駆動パターンで駆動した場合、
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｂ
不良の絵素、Ｃ不良の絵素では、それぞれ図６にＮ、
Ｂ、Ｃで示すようになり、液晶層に電圧が印加されて黒
点になる。これに対して、Ａ不良の絵素では、上記波形
が図６にＡで示すようになり、電圧が印加されず輝点に
なる。
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｂ
不良の絵素、Ｃ不良の絵素では、それぞれ図６にＮ、
Ｂ、Ｃで示すようになり、液晶層に電圧が印加されて黒
点になる。これに対して、Ａ不良の絵素では、上記波形
が図６にＡで示すようになり、電圧が印加されず輝点に
なる。
【００１９】まとめると、正常な絵素では、第１、第
２、第３のいずれの駆動パターンで駆動した場合も、液
晶層に電圧が印加されて黒点になる。すなわち、液晶パ
ネルに欠陥がなければ（正確には、Ａ不良、Ｂ不良、Ｃ
不良のいずれも発生していなければ）、第１、第２、第
３のいずれの駆動パターンで駆動した場合も、黒画面に
なる。
２、第３のいずれの駆動パターンで駆動した場合も、液
晶層に電圧が印加されて黒点になる。すなわち、液晶パ
ネルに欠陥がなければ（正確には、Ａ不良、Ｂ不良、Ｃ
不良のいずれも発生していなければ）、第１、第２、第
３のいずれの駆動パターンで駆動した場合も、黒画面に
なる。
【００２０】これに対して、第１、第２、第３の各駆動
パターンで駆動した場合におけるＡ不良、Ｂ不良、Ｃ不
良の各不良絵素の見え方は以下の表１に示すようにな
る。すなわち、Ａ不良の絵素では、液晶層とコモンライ
ンとの間がリークしていることから、第１、第２、第３
のいずれの駆動パターンで駆動した場合も、液晶層に電
圧が印加されず輝点になる。
パターンで駆動した場合におけるＡ不良、Ｂ不良、Ｃ不
良の各不良絵素の見え方は以下の表１に示すようにな
る。すなわち、Ａ不良の絵素では、液晶層とコモンライ
ンとの間がリークしていることから、第１、第２、第３
のいずれの駆動パターンで駆動した場合も、液晶層に電
圧が印加されず輝点になる。
【００２１】Ｂ不良の絵素では、液晶層と蓄積容量ライ
ンとの間がリークしていることから、コモンラインと蓄
積容量ラインとの駆動信号が同じ波形である第１及び第
２の駆動パターンで駆動した場合は、液晶層に電圧が印
加されず輝点になる。一方、コモンラインと蓄積容量ラ
インとの駆動信号が異なる波形である第３の駆動パター
ンで駆動した場合は、液晶層に電圧が印加されて黒点に
なる。
ンとの間がリークしていることから、コモンラインと蓄
積容量ラインとの駆動信号が同じ波形である第１及び第
２の駆動パターンで駆動した場合は、液晶層に電圧が印
加されず輝点になる。一方、コモンラインと蓄積容量ラ
インとの駆動信号が異なる波形である第３の駆動パター
ンで駆動した場合は、液晶層に電圧が印加されて黒点に
なる。
【００２２】Ｃ不良の絵素では、液晶層とソースライン
との間がリークしていることから、ソースラインを駆動
する信号とコモンラインを駆動する信号とでＤＣ成分が
等しい第１の駆動パターンの場合には、ＴＦＴがＯＮし
ている期間に液晶層に充電された電荷がＴＦＴがＯＦＦ
している間にソースラインに漏れていくため、液晶層に
印加される電圧はほとんど０[V]になって輝点になる。
一方、ソースラインを駆動する信号とコモンラインを駆
動する信号とでＤＣ成分が異なる第２及び第３の駆動パ
ターンで駆動した場合には、ＴＦＴがＯＦＦしている間
も液晶層に電圧が印加されて黒点になる。
との間がリークしていることから、ソースラインを駆動
する信号とコモンラインを駆動する信号とでＤＣ成分が
等しい第１の駆動パターンの場合には、ＴＦＴがＯＮし
ている期間に液晶層に充電された電荷がＴＦＴがＯＦＦ
している間にソースラインに漏れていくため、液晶層に
印加される電圧はほとんど０[V]になって輝点になる。
一方、ソースラインを駆動する信号とコモンラインを駆
動する信号とでＤＣ成分が異なる第２及び第３の駆動パ
ターンで駆動した場合には、ＴＦＴがＯＦＦしている間
も液晶層に電圧が印加されて黒点になる。
【００２３】尚、液晶層とソースラインとの間のリーク
がある程度大きくなると、第１の駆動パターンの場合で
あっても、液晶層に常に電圧が印加された状態になるの
で、輝点にはならず黒点になるが、Ｃ不良における液晶
層とソースラインとの間のリークは、第１の駆動パター
ンの場合に輝点になる程度の小さなものであるとする。
また、液晶層とソースラインとの間のリークが大きいた
めに、第１の駆動パターンの場合に輝点ではなく黒点に
なる不良を「Ｄ不良」と称するものとする。
がある程度大きくなると、第１の駆動パターンの場合で
あっても、液晶層に常に電圧が印加された状態になるの
で、輝点にはならず黒点になるが、Ｃ不良における液晶
層とソースラインとの間のリークは、第１の駆動パター
ンの場合に輝点になる程度の小さなものであるとする。
また、液晶層とソースラインとの間のリークが大きいた
めに、第１の駆動パターンの場合に輝点ではなく黒点に
なる不良を「Ｄ不良」と称するものとする。
【００２４】
【表１】
【００２５】したがって、第１、第２、第３の駆動パタ
ーンで順番に液晶表示装置を駆動した際に、全ての駆動
パターンにおいて輝点になる絵素はＡ不良、最初の２つ
の駆動パターンにおいて輝点になる絵素はＢ不良、最初
の１つの駆動パターンにおいて輝点になる絵素はＣ不良
と判別することができる。
ーンで順番に液晶表示装置を駆動した際に、全ての駆動
パターンにおいて輝点になる絵素はＡ不良、最初の２つ
の駆動パターンにおいて輝点になる絵素はＢ不良、最初
の１つの駆動パターンにおいて輝点になる絵素はＣ不良
と判別することができる。
【００２６】しかしながら、作業者が駆動パターンを切
り替えるようにすると、駆動パターンを切り替える順番
を間違える可能性があるとともに、表１に基づいて欠陥
の種類を判別しなければならないので、作業者の習熟度
によって検査に要する時間に差がでたり、欠陥の種類の
判別を誤りやすいという問題が懸念される。
り替えるようにすると、駆動パターンを切り替える順番
を間違える可能性があるとともに、表１に基づいて欠陥
の種類を判別しなければならないので、作業者の習熟度
によって検査に要する時間に差がでたり、欠陥の種類の
判別を誤りやすいという問題が懸念される。
【００２７】そこで、本実施形態では、駆動信号発生装
置５０が、不良絵素が黒点から輝点に変化する周期が欠
陥の種類によって異なるように、駆動パターンを自動的
に切り替える。具体的には、Ａ不良、Ｂ不良、及び、Ｃ
不良の検出及び判別する場合には、図７に示すように、
第１の駆動パターン、第３の駆動パターン、第２の駆動
パターン、第３の駆動パターンの順に０.２５秒ずつ駆
動するという動作を繰り返し行う。これにより、Ａ不良
の絵素は常に輝点に、Ｂ不良の絵素は０.５秒おきに輝
点に、Ｃ不良の絵素は１秒おきに輝点になる。
置５０が、不良絵素が黒点から輝点に変化する周期が欠
陥の種類によって異なるように、駆動パターンを自動的
に切り替える。具体的には、Ａ不良、Ｂ不良、及び、Ｃ
不良の検出及び判別する場合には、図７に示すように、
第１の駆動パターン、第３の駆動パターン、第２の駆動
パターン、第３の駆動パターンの順に０.２５秒ずつ駆
動するという動作を繰り返し行う。これにより、Ａ不良
の絵素は常に輝点に、Ｂ不良の絵素は０.５秒おきに輝
点に、Ｃ不良の絵素は１秒おきに輝点になる。
【００２８】したがって、作業者は、不良の検出につい
ては点灯あるいは点滅する絵素があるか否かを、欠陥の
種類の判別については点滅する周期を見ているだけでよ
くなり、不良の検出及び欠陥の種類の判別を容易に行う
ことができるようになる。また、これにより、検査工数
の減少による液晶表示装置のコストダウンが期待され
る。
ては点灯あるいは点滅する絵素があるか否かを、欠陥の
種類の判別については点滅する周期を見ているだけでよ
くなり、不良の検出及び欠陥の種類の判別を容易に行う
ことができるようになる。また、これにより、検査工数
の減少による液晶表示装置のコストダウンが期待され
る。
【００２９】駆動信号発生装置５０のブロック図を図８
に示す。波形データ生成部５１は外部から入力された検
査用の画像の信号波形から波形データを生成する。波形
データ生成部５１で生成された波形データは波形パター
ンメモリ５２に記憶される。操作部５３は後出する制御
部５４に対して作業者が指令を入力するためのものであ
る。制御部５４は操作部５３から入力される指令に応じ
た波形データを波形パターンメモリ５２から読み出し、
Ｄ／Ａ部５５に転送する。Ｄ／Ａ部５５では制御部５４
から転送されてきた波形データがアナログに変換され
る。Ｄ／Ａ部５５で得られたアナログ信号は、バッファ
５６によって電力増幅された後、液晶表示装置の駆動信
号として出力される。カウンタ５７は設定された時間お
きに制御部５４に信号を送る。そして、制御部５４は、
波形パターンメモリ５２から読み出してＤ／Ａ部５５に
転送するデータをカウンタ５７から送られてくる信号に
同期して（カウンタ５７の出力に基づいて）切り替え
る。これにより、駆動信号発生装置５０によって液晶表
示装置の駆動パターンが所定時間おきに切り替えられ
る。
に示す。波形データ生成部５１は外部から入力された検
査用の画像の信号波形から波形データを生成する。波形
データ生成部５１で生成された波形データは波形パター
ンメモリ５２に記憶される。操作部５３は後出する制御
部５４に対して作業者が指令を入力するためのものであ
る。制御部５４は操作部５３から入力される指令に応じ
た波形データを波形パターンメモリ５２から読み出し、
Ｄ／Ａ部５５に転送する。Ｄ／Ａ部５５では制御部５４
から転送されてきた波形データがアナログに変換され
る。Ｄ／Ａ部５５で得られたアナログ信号は、バッファ
５６によって電力増幅された後、液晶表示装置の駆動信
号として出力される。カウンタ５７は設定された時間お
きに制御部５４に信号を送る。そして、制御部５４は、
波形パターンメモリ５２から読み出してＤ／Ａ部５５に
転送するデータをカウンタ５７から送られてくる信号に
同期して（カウンタ５７の出力に基づいて）切り替え
る。これにより、駆動信号発生装置５０によって液晶表
示装置の駆動パターンが所定時間おきに切り替えられ
る。
【００３０】このように、駆動信号発生装置５０は、液
晶表示装置の駆動パターンを自動的に切り替えるが、駆
動パターンの切り替え方に関するパラメータ（すなわ
ち、どの駆動パターンを、どのような順番で、どの程度
の時間間隔で切り替えるかなど）を、駆動信号発生装置
５０に対して、その操作部５３から所定の入力を行うこ
とによって設定することができるようになっている。す
なわち、駆動信号発生装置５０による駆動パターンの切
り替え方を外部から自由に変更することができるように
なっている。
晶表示装置の駆動パターンを自動的に切り替えるが、駆
動パターンの切り替え方に関するパラメータ（すなわ
ち、どの駆動パターンを、どのような順番で、どの程度
の時間間隔で切り替えるかなど）を、駆動信号発生装置
５０に対して、その操作部５３から所定の入力を行うこ
とによって設定することができるようになっている。す
なわち、駆動信号発生装置５０による駆動パターンの切
り替え方を外部から自由に変更することができるように
なっている。
【００３１】そして、駆動信号発生装置５０に対して、
その操作部５３から所定の入力を行うことによって、駆
動パターンの切り替え方に関するパラメータを駆動信号
発生装置５０に複数登録しておき、登録されている複数
のパラメータの中から所望のパラメータを選択すること
によって設定することができるようになっている。これ
により、作業者は一度設定したパラメータを再度設定す
る必要はなくなり、作業の効率が向上する。また、作業
者は、所望のパラメータを選択するだけで、駆動パター
ンの切り替え方を簡単に変更することができるようにな
る。
その操作部５３から所定の入力を行うことによって、駆
動パターンの切り替え方に関するパラメータを駆動信号
発生装置５０に複数登録しておき、登録されている複数
のパラメータの中から所望のパラメータを選択すること
によって設定することができるようになっている。これ
により、作業者は一度設定したパラメータを再度設定す
る必要はなくなり、作業の効率が向上する。また、作業
者は、所望のパラメータを選択するだけで、駆動パター
ンの切り替え方を簡単に変更することができるようにな
る。
【００３２】ここで、上記Ａ不良、Ｂ不良、及び、Ｃ不
良の他のリーク不良として、図９にＤで示す液晶層４と
ソースライン２との間のリークが比較的大きいＤ不良、
図９にＥで示す液晶層４とゲートライン１との間のリー
ク（以下、「Ｅ不良」と称する）、図９にＦで示す液晶
層４と隣接する絵素の液晶層４’との間のリーク（以
下、「Ｆ不良」と称する）がある。これらのＤ不良、Ｅ
不良、及び、Ｆ不良を判別するために、液晶表示装置を
駆動するパターンとして、第４、第５、第６、及び、第
７の駆動パターンが用意されている。
良の他のリーク不良として、図９にＤで示す液晶層４と
ソースライン２との間のリークが比較的大きいＤ不良、
図９にＥで示す液晶層４とゲートライン１との間のリー
ク（以下、「Ｅ不良」と称する）、図９にＦで示す液晶
層４と隣接する絵素の液晶層４’との間のリーク（以
下、「Ｆ不良」と称する）がある。これらのＤ不良、Ｅ
不良、及び、Ｆ不良を判別するために、液晶表示装置を
駆動するパターンとして、第４、第５、第６、及び、第
７の駆動パターンが用意されている。
【００３３】第４の駆動パターンでは、図１０に示すよ
うに、ゲートＯＮ期間ｔONでは、ＴＦＴをＯＮさせるた
めの正のパルス（電圧ＶDD）が順番に現れる信号Ｇ１、
Ｇ２、…、Ｇ１６のいずれかで各ゲートラインを駆動す
るとともに、全てのソースラインの駆動信号Ｓを電圧Ｖ
Sまたは−ＶS（ＶS＝４[V]程度）に固定する。尚、ゲー
トＯＮ期間ｔONにおけるソースラインの駆動信号Ｓの電
圧は、１つのゲートＯＮ期間ｔONおきにＶSと−ＶSとに
交互に切り替えられる。一方、ゲートＯＮ期間ｔONに比
して十分に長いゲートＯＦＦ期間ｔOFFでは、ＴＦＴを
ＯＦＦさせるための電圧（−ＶEE）で全てのゲートライ
ンを駆動するとともに、全てのソースラインの駆動信号
Ｓを０[V]にする。
うに、ゲートＯＮ期間ｔONでは、ＴＦＴをＯＮさせるた
めの正のパルス（電圧ＶDD）が順番に現れる信号Ｇ１、
Ｇ２、…、Ｇ１６のいずれかで各ゲートラインを駆動す
るとともに、全てのソースラインの駆動信号Ｓを電圧Ｖ
Sまたは−ＶS（ＶS＝４[V]程度）に固定する。尚、ゲー
トＯＮ期間ｔONにおけるソースラインの駆動信号Ｓの電
圧は、１つのゲートＯＮ期間ｔONおきにＶSと−ＶSとに
交互に切り替えられる。一方、ゲートＯＮ期間ｔONに比
して十分に長いゲートＯＦＦ期間ｔOFFでは、ＴＦＴを
ＯＦＦさせるための電圧（−ＶEE）で全てのゲートライ
ンを駆動するとともに、全てのソースラインの駆動信号
Ｓを０[V]にする。
【００３４】尚、ゲートラインを駆動する信号の種類数
については、本実施形態では１６となっているが、ソー
スラインを駆動する回路が電流を供給する能力などに応
じて設定すればよく、本実施形態の値に限定されるもの
ではない。また、例えば本実施形態のようにゲートライ
ンを駆動する信号として１６種類の信号Ｇ１〜Ｇ１６が
用意されている場合には、液晶パネルをゲートライン方
向に８個のブロックに分割し、最上から１番目のブロッ
ク内の奇数番目、偶数番目のゲートラインをそれぞれ信
号Ｇ１、Ｇ２で駆動し、最上から２番目のブロック内の
奇数番目、偶数番目のゲートラインをそれぞれ信号Ｇ
３、Ｇ４で駆動し、…、最下のブロック（最上から８番
目のブロック）内の奇数番目、偶数番目のゲートライン
をそれぞれ信号Ｇ１５、Ｇ１６で駆動するようにすれば
よい。
については、本実施形態では１６となっているが、ソー
スラインを駆動する回路が電流を供給する能力などに応
じて設定すればよく、本実施形態の値に限定されるもの
ではない。また、例えば本実施形態のようにゲートライ
ンを駆動する信号として１６種類の信号Ｇ１〜Ｇ１６が
用意されている場合には、液晶パネルをゲートライン方
向に８個のブロックに分割し、最上から１番目のブロッ
ク内の奇数番目、偶数番目のゲートラインをそれぞれ信
号Ｇ１、Ｇ２で駆動し、最上から２番目のブロック内の
奇数番目、偶数番目のゲートラインをそれぞれ信号Ｇ
３、Ｇ４で駆動し、…、最下のブロック（最上から８番
目のブロック）内の奇数番目、偶数番目のゲートライン
をそれぞれ信号Ｇ１５、Ｇ１６で駆動するようにすれば
よい。
【００３５】この第４の駆動パターンで駆動した場合、
上記ゲートＯＮ期間ｔONの最初にＴＦＴがＯＮする絵素
を例に挙げると、液晶層に保持されている電圧の波形
が、正常な絵素、Ｅ不良の絵素、Ｆ不良の絵素では、図
１０にそれぞれＮ、Ｅ、Ｆで示すようになり、液晶層に
電圧が印加されて黒点になる。一方、Ａ不良、Ｂ不良、
Ｃ不良、Ｄ不良の絵素では、図１０にそれぞれＡ、Ｂ、
Ｃ、Ｄで示すようになり、液晶層に電圧が印加されず輝
点になる。
上記ゲートＯＮ期間ｔONの最初にＴＦＴがＯＮする絵素
を例に挙げると、液晶層に保持されている電圧の波形
が、正常な絵素、Ｅ不良の絵素、Ｆ不良の絵素では、図
１０にそれぞれＮ、Ｅ、Ｆで示すようになり、液晶層に
電圧が印加されて黒点になる。一方、Ａ不良、Ｂ不良、
Ｃ不良、Ｄ不良の絵素では、図１０にそれぞれＡ、Ｂ、
Ｃ、Ｄで示すようになり、液晶層に電圧が印加されず輝
点になる。
【００３６】第５の駆動パターンでは、図１１に示すよ
うに、コモンラインを駆動する信号ＣＯＭ及び蓄積容量
ラインを駆動する信号ＣｓをＴＦＴがＯＦＦしていると
きのゲートラインの駆動信号Ｇの電圧（−ＶEE）にす
る。尚、他のラインの駆動信号は前述した第１の駆動パ
ターンと同じである。
うに、コモンラインを駆動する信号ＣＯＭ及び蓄積容量
ラインを駆動する信号ＣｓをＴＦＴがＯＦＦしていると
きのゲートラインの駆動信号Ｇの電圧（−ＶEE）にす
る。尚、他のラインの駆動信号は前述した第１の駆動パ
ターンと同じである。
【００３７】この第５の駆動パターンで駆動した場合、
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｃ
不良の絵素、Ｄ不良の絵素、Ｆ不良の絵素では、図１１
にそれぞれＮ、Ｃ、Ｄ、Ｆで示すようになり、液晶層に
電圧が印加されて黒点になる。一方、Ａ不良、Ｂ不良、
Ｅ不良の絵素では、図１１にそれぞれＡ、Ｂ、Ｅで示す
ようになり、液晶層に電圧が印加されず輝点になる。
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｃ
不良の絵素、Ｄ不良の絵素、Ｆ不良の絵素では、図１１
にそれぞれＮ、Ｃ、Ｄ、Ｆで示すようになり、液晶層に
電圧が印加されて黒点になる。一方、Ａ不良、Ｂ不良、
Ｅ不良の絵素では、図１１にそれぞれＡ、Ｂ、Ｅで示す
ようになり、液晶層に電圧が印加されず輝点になる。
【００３８】第６の駆動パターンでは、図１２に示すよ
うに、ＴＦＴがＯＮする時間の２倍を１周期とする振幅
Ｖｓ（４[V]程度）、中心値０[V]の矩形波信号である
が、隣接するソースラインを駆動する２つの信号Ｓ、
Ｓ’が互いに反転した関係になっている（ドット反転駆
動方式）。尚、他のラインの駆動信号は上記第１の駆動
パターンと同じである。
うに、ＴＦＴがＯＮする時間の２倍を１周期とする振幅
Ｖｓ（４[V]程度）、中心値０[V]の矩形波信号である
が、隣接するソースラインを駆動する２つの信号Ｓ、
Ｓ’が互いに反転した関係になっている（ドット反転駆
動方式）。尚、他のラインの駆動信号は上記第１の駆動
パターンと同じである。
【００３９】この第６の駆動パターンで駆動した場合、
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｄ
不良の絵素、Ｅ不良の絵素では、図１２にそれぞれＮ、
Ｄ、Ｅで示すようになり、液晶層に電圧が印加されて黒
点になる。一方、Ａ不良、Ｂ不良、Ｃ不良、Ｆ不良の絵
素では、図１２にそれぞれＡ、Ｂ、Ｃ、Ｆで示すように
なり、液晶層に電圧が印加されず輝点になる。
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｄ
不良の絵素、Ｅ不良の絵素では、図１２にそれぞれＮ、
Ｄ、Ｅで示すようになり、液晶層に電圧が印加されて黒
点になる。一方、Ａ不良、Ｂ不良、Ｃ不良、Ｆ不良の絵
素では、図１２にそれぞれＡ、Ｂ、Ｃ、Ｆで示すように
なり、液晶層に電圧が印加されず輝点になる。
【００４０】第７の駆動パターンでは、図１３に示すよ
うに、上記第４の駆動パターンにおいて、隣接するソー
スラインを駆動する信号Ｓ’が自身のソースラインを駆
動する信号Ｓを反転させたものとなっている。
うに、上記第４の駆動パターンにおいて、隣接するソー
スラインを駆動する信号Ｓ’が自身のソースラインを駆
動する信号Ｓを反転させたものとなっている。
【００４１】この第７の駆動パターンで駆動した場合、
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｅ
不良の絵素では、図１３にそれぞれＮ、Ｅで示すように
なり、液晶層に電圧が印加されて黒点になる。一方、Ａ
不良、Ｂ不良、Ｃ不良、Ｄ不良、Ｆ不良の絵素では、図
１３にそれぞれＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｆで示すようになり、
液晶層に電圧が印加されず輝点になる。
液晶層に保持されている電圧の波形が、正常な絵素、Ｅ
不良の絵素では、図１３にそれぞれＮ、Ｅで示すように
なり、液晶層に電圧が印加されて黒点になる。一方、Ａ
不良、Ｂ不良、Ｃ不良、Ｄ不良、Ｆ不良の絵素では、図
１３にそれぞれＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｆで示すようになり、
液晶層に電圧が印加されず輝点になる。
【００４２】まとめると、正常な絵素では、第４、第
５、第６、第７のいずれの駆動パターンで駆動した場合
も、液晶層に電圧が印加されて黒点になる。すなわち、
液晶パネルに欠陥がなければ（正確には、Ａ不良、Ｂ不
良、Ｃ不良、Ｄ不良、Ｅ不良、Ｆ不良のいずれも発生し
ていなければ）、第４、第５、第６、第７のいずれの駆
動パターンで駆動した場合も、黒画面になるわけであ
る。
５、第６、第７のいずれの駆動パターンで駆動した場合
も、液晶層に電圧が印加されて黒点になる。すなわち、
液晶パネルに欠陥がなければ（正確には、Ａ不良、Ｂ不
良、Ｃ不良、Ｄ不良、Ｅ不良、Ｆ不良のいずれも発生し
ていなければ）、第４、第５、第６、第７のいずれの駆
動パターンで駆動した場合も、黒画面になるわけであ
る。
【００４３】これに対して、第１、第２、第３、第４、
第５、第６、第７の各駆動パターンで駆動した場合にお
けるＡ不良、Ｂ不良、Ｃ不良、Ｄ不良、Ｅ不良、Ｆ不良
の各の各不良絵素の見え方は以下の表２に示すようにな
る。すなわち、Ａ不良の絵素では、液晶層とコモンライ
ンとの間がリークしていることから、第４、第５、第
６、第７のいずれの駆動パターンで駆動した場合も、液
晶層に電圧が印加されず輝点になる。
第５、第６、第７の各駆動パターンで駆動した場合にお
けるＡ不良、Ｂ不良、Ｃ不良、Ｄ不良、Ｅ不良、Ｆ不良
の各の各不良絵素の見え方は以下の表２に示すようにな
る。すなわち、Ａ不良の絵素では、液晶層とコモンライ
ンとの間がリークしていることから、第４、第５、第
６、第７のいずれの駆動パターンで駆動した場合も、液
晶層に電圧が印加されず輝点になる。
【００４４】Ｂ不良の絵素では、液晶層と蓄積容量ライ
ンとの間がリークしていることから、コモンラインと蓄
積容量ラインとの駆動信号が同じ波形である第４、第
５、第６、第７のいずれの駆動パターンで駆動した場合
も、液晶層に電圧が印加されず輝点になる。
ンとの間がリークしていることから、コモンラインと蓄
積容量ラインとの駆動信号が同じ波形である第４、第
５、第６、第７のいずれの駆動パターンで駆動した場合
も、液晶層に電圧が印加されず輝点になる。
【００４５】Ｃ不良の絵素では、液晶層とソースライン
との間がリークしているが、そのリークの程度は前述し
たように比較的小さいことから、ソースラインを駆動す
る信号とコモンラインを駆動する信号とでＤＣ成分が等
しい第４、第６、及び、第７の駆動パターンで駆動した
場合には、ＴＦＴがＯＮしている期間に液晶層に充電さ
れた電荷がＴＦＴがＯＦＦしている間にソースラインに
漏れていくため、液晶層に印加される電圧はほとんど０
[V]になって輝点になるが、ソースラインを駆動する信
号とコモンラインを駆動する信号とでＤＣ成分が異なる
第５の駆動パターンで駆動した場合には、ＴＦＴがＯＦ
Ｆしている間も液晶層に電圧が印加されて黒点になる。
との間がリークしているが、そのリークの程度は前述し
たように比較的小さいことから、ソースラインを駆動す
る信号とコモンラインを駆動する信号とでＤＣ成分が等
しい第４、第６、及び、第７の駆動パターンで駆動した
場合には、ＴＦＴがＯＮしている期間に液晶層に充電さ
れた電荷がＴＦＴがＯＦＦしている間にソースラインに
漏れていくため、液晶層に印加される電圧はほとんど０
[V]になって輝点になるが、ソースラインを駆動する信
号とコモンラインを駆動する信号とでＤＣ成分が異なる
第５の駆動パターンで駆動した場合には、ＴＦＴがＯＦ
Ｆしている間も液晶層に電圧が印加されて黒点になる。
【００４６】Ｄ不良の絵素では、液晶層とソースライン
との間がリークしているが、そのリークの程度は前述し
たように比較的大きいことから、ソースラインを駆動す
る信号とコモンラインを駆動する信号とでＤＣ成分が等
しい第１、第４、第６、第７の駆動パターンのうち、ソ
ースラインを駆動する信号の周期が十分に長い第４、第
７の各駆動パターンで駆動した場合には、ＴＦＴがＯＮ
している期間に液晶層に充電された電荷がソースライン
を駆動する信号の電圧が０[V]になっている間にソース
ラインに漏れていくため、液晶層に印加される電圧はほ
とんど０[V]になって輝点になる。一方、ソースライン
を駆動する信号の周期が短い第１、第６の各駆動パター
ンで駆動した場合には、液晶層に常に電圧が印加された
状態になって黒点になる。尚、第２、第３、第５の各駆
動パターンで駆動した場合には、Ｄ不良の絵素はＣ不良
の絵素と同じく黒点になる。
との間がリークしているが、そのリークの程度は前述し
たように比較的大きいことから、ソースラインを駆動す
る信号とコモンラインを駆動する信号とでＤＣ成分が等
しい第１、第４、第６、第７の駆動パターンのうち、ソ
ースラインを駆動する信号の周期が十分に長い第４、第
７の各駆動パターンで駆動した場合には、ＴＦＴがＯＮ
している期間に液晶層に充電された電荷がソースライン
を駆動する信号の電圧が０[V]になっている間にソース
ラインに漏れていくため、液晶層に印加される電圧はほ
とんど０[V]になって輝点になる。一方、ソースライン
を駆動する信号の周期が短い第１、第６の各駆動パター
ンで駆動した場合には、液晶層に常に電圧が印加された
状態になって黒点になる。尚、第２、第３、第５の各駆
動パターンで駆動した場合には、Ｄ不良の絵素はＣ不良
の絵素と同じく黒点になる。
【００４７】Ｅ不良の絵素では、液晶層とゲートライン
との間がリークしていることから、コモンラインとＴＦ
ＴがＯＦＦ時にゲートラインに印加される電圧とが等し
い第５の駆動パターンで駆動した場合にのみ、ＴＦＴが
ＯＮしている期間に液晶層に充電された電荷がＴＦＴが
ＯＦＦしている間に放電するので、液晶層に印加される
電圧はほとんど０[V]になって輝点になる
との間がリークしていることから、コモンラインとＴＦ
ＴがＯＦＦ時にゲートラインに印加される電圧とが等し
い第５の駆動パターンで駆動した場合にのみ、ＴＦＴが
ＯＮしている期間に液晶層に充電された電荷がＴＦＴが
ＯＦＦしている間に放電するので、液晶層に印加される
電圧はほとんど０[V]になって輝点になる
【００４８】Ｆ不良の絵素では、自身の液晶層と隣接す
る液晶層との間がリークしていることから、自身のソー
スラインを駆動する信号と隣接するソースラインを駆動
する信号とが反転関係にある第６、第７の各駆動パター
ンで駆動した場合（すなわち、ドット反転駆動方式の場
合）にのみ、自身の液晶層に充電される電圧と隣接する
液晶層に充電される電圧とが相殺されるので、液晶層に
電圧が印加されず輝点になる。
る液晶層との間がリークしていることから、自身のソー
スラインを駆動する信号と隣接するソースラインを駆動
する信号とが反転関係にある第６、第７の各駆動パター
ンで駆動した場合（すなわち、ドット反転駆動方式の場
合）にのみ、自身の液晶層に充電される電圧と隣接する
液晶層に充電される電圧とが相殺されるので、液晶層に
電圧が印加されず輝点になる。
【００４９】
【表２】
【００５０】例えば、図１４に示すように、第６の駆動
パターン、第３の駆動パターン、第２の駆動パターン、
第３の駆動パターン、第１の駆動パターン、第３の駆動
パターン、第２の駆動パターン、第３の駆動パターンの
順に０.２５秒ずつ駆動するという動作が駆動信号発生
装置５０によって繰り返し行われるようにすれば、Ａ不
良の絵素は常に輝点になり、Ｂ不良の絵素は０.５秒お
きに、Ｃ不良の絵素は１秒おきに、Ｆ不良の絵素は２秒
おきに、それぞれ輝点になるので、作業者は、Ａ不良、
Ｂ不良、Ｃ不良、及び、Ｆ不良の検出及び判別を容易に
行うことができるようになる。
パターン、第３の駆動パターン、第２の駆動パターン、
第３の駆動パターン、第１の駆動パターン、第３の駆動
パターン、第２の駆動パターン、第３の駆動パターンの
順に０.２５秒ずつ駆動するという動作が駆動信号発生
装置５０によって繰り返し行われるようにすれば、Ａ不
良の絵素は常に輝点になり、Ｂ不良の絵素は０.５秒お
きに、Ｃ不良の絵素は１秒おきに、Ｆ不良の絵素は２秒
おきに、それぞれ輝点になるので、作業者は、Ａ不良、
Ｂ不良、Ｃ不良、及び、Ｆ不良の検出及び判別を容易に
行うことができるようになる。
【００５１】また、例えば、図１５に示すように、第６
の駆動パターン、第３の駆動パターン、第５の駆動パタ
ーン、第３の駆動パターン、第４の駆動パターン、第３
の駆動パターン、第２の駆動パターン、第３の駆動パタ
ーン、第７の駆動パターン、第３の駆動パターン、第２
の駆動パターン、第３の駆動パターン、第１の駆動パタ
ーン、第３の駆動パターン、第２の駆動パターン、第３
の駆動パターンの順に０.２５秒ずつ駆動するという動
作が駆動信号発生装置５０によって繰り返し行われるよ
うにすれば、輝点になる周期が、Ａ不良の絵素では０
（常に輝点）、Ｂ不良の絵素では０.５秒、Ｃ不良の絵
素では１秒、Ｄ不良の絵素では１秒と３秒とに交互に切
り替わり、Ｅ不良の絵素では４秒、Ｆ不良の絵素は２秒
になるので、作業者は、Ａ不良、Ｂ不良、Ｃ不良、Ｄ不
良、Ｅ不良、及び、Ｆ不良の検出及び判別を容易に行う
ことができるようになる。
の駆動パターン、第３の駆動パターン、第５の駆動パタ
ーン、第３の駆動パターン、第４の駆動パターン、第３
の駆動パターン、第２の駆動パターン、第３の駆動パタ
ーン、第７の駆動パターン、第３の駆動パターン、第２
の駆動パターン、第３の駆動パターン、第１の駆動パタ
ーン、第３の駆動パターン、第２の駆動パターン、第３
の駆動パターンの順に０.２５秒ずつ駆動するという動
作が駆動信号発生装置５０によって繰り返し行われるよ
うにすれば、輝点になる周期が、Ａ不良の絵素では０
（常に輝点）、Ｂ不良の絵素では０.５秒、Ｃ不良の絵
素では１秒、Ｄ不良の絵素では１秒と３秒とに交互に切
り替わり、Ｅ不良の絵素では４秒、Ｆ不良の絵素は２秒
になるので、作業者は、Ａ不良、Ｂ不良、Ｃ不良、Ｄ不
良、Ｅ不良、及び、Ｆ不良の検出及び判別を容易に行う
ことができるようになる。
【００５２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の表示装置
の検査方法によれば、表示装置の不良の検出及び欠陥の
種類の判別を容易に行うことができるようになる。ま
た、これにより、検査工数の減少による表示装置のコス
トダウンが期待される。
の検査方法によれば、表示装置の不良の検出及び欠陥の
種類の判別を容易に行うことができるようになる。ま
た、これにより、検査工数の減少による表示装置のコス
トダウンが期待される。
【図１】 本発明の一実施形態である液晶表示装置の検
査用装置の概略構成を示す図である。
査用装置の概略構成を示す図である。
【図２】 アクティブマトリクス型の液晶表示装置の基
本的な構成を示す図である。
本的な構成を示す図である。
【図３】 Ａ不良、Ｂ不良、及び、Ｃ不良について説明
するための図である。
するための図である。
【図４】 第１の駆動パターンにおける各駆動信号の波
形と、第１の駆動パターンで駆動したときに液晶層に保
持される電圧との波形を示す図である。
形と、第１の駆動パターンで駆動したときに液晶層に保
持される電圧との波形を示す図である。
【図５】 第２の駆動パターンにおける各駆動信号の波
形と、第２の駆動パターンで駆動したときに液晶層に保
持される電圧との波形を示す図である。
形と、第２の駆動パターンで駆動したときに液晶層に保
持される電圧との波形を示す図である。
【図６】 第３の駆動パターンにおける各駆動信号の波
形と、第３の駆動パターンで駆動したときに液晶層に保
持される電圧との波形を示す図である。
形と、第３の駆動パターンで駆動したときに液晶層に保
持される電圧との波形を示す図である。
【図７】 駆動パターンの切り替え方の一例と、そのと
きの不良絵素の見え方を説明するための図である。
きの不良絵素の見え方を説明するための図である。
【図８】 駆動信号発生装置の構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図９】 Ｄ不良、Ｅ不良、及び、Ｆ不良について説明
するための図である。
するための図である。
【図１０】 第４の駆動パターンにおける各駆動信号の
波形と、第４の駆動パターンで駆動したときに液晶層に
保持される電圧との波形を示す図である。
波形と、第４の駆動パターンで駆動したときに液晶層に
保持される電圧との波形を示す図である。
【図１１】 第５の駆動パターンにおける各駆動信号の
波形と、第５の駆動パターンで駆動したときに液晶層に
保持される電圧との波形を示す図である。
波形と、第５の駆動パターンで駆動したときに液晶層に
保持される電圧との波形を示す図である。
【図１２】 第６の駆動パターンにおける各駆動信号の
波形と、第６の駆動パターンで駆動したときに液晶層に
保持される電圧との波形を示す図である。
波形と、第６の駆動パターンで駆動したときに液晶層に
保持される電圧との波形を示す図である。
【図１３】 第７の駆動パターンにおける各駆動信号の
波形と、第７の駆動パターンで駆動したときに液晶層に
保持される電圧との波形を示す図である。
波形と、第７の駆動パターンで駆動したときに液晶層に
保持される電圧との波形を示す図である。
【図１４】 駆動パターンの切り替え方の別の例と、そ
のときの不良絵素の見え方を説明するための図である。
のときの不良絵素の見え方を説明するための図である。
【図１５】 駆動パターンの切り替え方のさらに別の例
と、そのときの不良絵素の見え方を説明するための図で
ある。
と、そのときの不良絵素の見え方を説明するための図で
ある。
１−ｘ（ｘ＝１、２、…、ｍ） ゲートライン
２−ｙ（ｙ＝１、２、…、ｎ） ソースライン
３−（ｘ、ｙ） ＴＦＴ（薄膜トランジスタ）
４−（ｘ、ｙ） 液晶層
５ コモンライン
６ 蓄積容量
７ 蓄積容量ライン
１０ 検査ステージ
２０ 位置決めピン
３０ マザーボード
４０ プローブ
５０ 駆動信号発生装置
５１ 波形データ生成部
５２ 波形パターンメモリ
５３ 操作部
５４ 制御部
５５ Ｄ／Ａ部
５６ バッファ
５７ カウンタ
６０ バックライト
１００ 液晶表示装置
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考）
Ｇ０９Ｇ 3/20 ６７０ Ｇ０９Ｇ 3/20 ６７０Ｂ ５Ｃ００６
3/36 3/36 ５Ｃ０８０
Ｆターム(参考） 2G014 AA02 AA03 AB21 AC09
2G036 AA27 BA33 BB12 CA00
2G051 AA90 AB02 CA11
2G086 EE10
2H088 FA13 MA20
5C006 AF51 AF53 AF65 AF82 BB16
BF13 BF22 BF25 EA01 EB01
EB04
5C080 AA10 BB05 DD15 FF11 JJ02
JJ03 JJ04 JJ06
Claims (4)
- 【請求項１】 表示装置を検査する際に使用される表示
装置検査用装置において、表示装置の不良絵素が欠陥の
種類によって異なる周期で点滅するように、表示装置の
駆動パターンを所定の周期で自動的に切り替える表示装
置駆動手段を備えたことを特徴とする表示装置検査用装
置。 - 【請求項２】 前記表示装置駆動手段が、入力された検
査用の画像の信号波形から波形データを生成する波形デ
ータ生成部と、該波形データ生成部で生成された波形デ
ータを記憶する波形パターンメモリと、前記波形パター
ンメモリから読み出された波形データをアナログ信号に
変換するＤ／Ａ部と、該Ｄ／Ａ部で得られたアナログ信
号を電力増幅して表示装置の駆動信号として出力するバ
ッファと、設定された時間おきに駆動パターン切り替え
タイミング信号を出力するカウンタと、前記波形パター
ンメモリから読み出されて前記Ｄ／Ａ部に転送される波
形データを前記カウンタから出力される駆動パターン切
り替えタイミング信号に同期して切り替える制御部と、
を備えていることを特徴とする請求項１に記載の表示装
置検査用装置。 - 【請求項３】 前記表示装置駆動手段による駆動パター
ンの切り替え方を複数登録しておき、その中から選択さ
れたものに設定する機能を備えたことを特徴とする請求
項１または２に記載の表示装置検査用装置。 - 【請求項４】 表示装置を実際に駆動することによって
検査する表示装置検査方法において、 表示装置の不良絵素が欠陥の種類によって異なる周期で
点滅するように、表示装置の駆動パターンを所定の周期
で切り替えることを特徴とする表示装置検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001209168A JP2003028754A (ja) | 2001-07-10 | 2001-07-10 | 表示装置検査用装置及び表示装置検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001209168A JP2003028754A (ja) | 2001-07-10 | 2001-07-10 | 表示装置検査用装置及び表示装置検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003028754A true JP2003028754A (ja) | 2003-01-29 |
Family
ID=19044861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001209168A Pending JP2003028754A (ja) | 2001-07-10 | 2001-07-10 | 表示装置検査用装置及び表示装置検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003028754A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009028476A1 (ja) * | 2007-08-27 | 2009-03-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示制御装置、検査システム、表示制御方法、プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| WO2013118303A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、および記録媒体 |
-
2001
- 2001-07-10 JP JP2001209168A patent/JP2003028754A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009028476A1 (ja) * | 2007-08-27 | 2009-03-05 | Sharp Kabushiki Kaisha | 表示制御装置、検査システム、表示制御方法、プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| CN101836099B (zh) * | 2007-08-27 | 2012-02-15 | 夏普株式会社 | 显示控制装置、检查系统、显示控制方法、程序以及记录有该程序的计算机可读取的记录介质 |
| WO2013118303A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、および記録媒体 |
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