JP2003015310A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2003015310A5
JP2003015310A5 JP2001200783A JP2001200783A JP2003015310A5 JP 2003015310 A5 JP2003015310 A5 JP 2003015310A5 JP 2001200783 A JP2001200783 A JP 2001200783A JP 2001200783 A JP2001200783 A JP 2001200783A JP 2003015310 A5 JP2003015310 A5 JP 2003015310A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
photomask
deformation
detecting
proximity
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001200783A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003015310A (ja
JP4774167B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2001200783A priority Critical patent/JP4774167B2/ja
Priority claimed from JP2001200783A external-priority patent/JP4774167B2/ja
Publication of JP2003015310A publication Critical patent/JP2003015310A/ja
Publication of JP2003015310A5 publication Critical patent/JP2003015310A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4774167B2 publication Critical patent/JP4774167B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Claims (4)

  1. パターン形成用のフォトマスクを保持すると共に該フォトマスクの上面に気密室を有するマスクホルダと、
    露光対象の基板を保持すると共に前記マスクホルダに対して相対的に移動することによって該基板と前記フォトマスクとの間に所定のプロキシミティギャップを形成する露光チャックと、
    前記露光チャックの移動によって前記プロキシミティギャップを形成する際に前記フォトマスクと前記基板との間のギャップを検出することに基づき該フォトマスクの変形を検出する検出手段と、
    前記検出手段の出力に基づき前記フォトマスクの変形を補正するよう前記気密室内の圧力を調整する制御手段と
    を具えたプロキシミティ露光装置。
  2. 前記露光チャックの移動によって前記プロキシミティギャップを形成する前の前記気密室内の圧力を検出することに基づき前記フォトマスクの変形を検出する検出手段と、前記検出手段の出力に基づき前記フォトマスクの変形を補正するよう前記気密室内の圧力を調整する制御手段とをさらに具えることを特徴とする請求項1に記載のプロキシミティ露光装置。
  3. パターン形成用のフォトマスクを保持すると共に該フォトマスクの上面に気密室を有するマスクホルダと、露光対象の基板を保持すると共に前記マスクホルダに対して相対的に移動することによって該基板と前記フォトマスクとの間に所定のプロキシミティギャップを形成する露光チャックとを具えるプロキシミティ露光装置において、前記フォトマスクの変形を補正するフォトマスク変形補正方法であって、
    前記露光チャックの移動によって前記プロキシミティギャップを形成する前の前記気密室内の圧力を検出することに基づき前記フォトマスクの変形を検出する工程と、
    前記工程によって検出される前記フォトマスクの変形を補正するよう前記気密室内の圧力を調整する工程と、
    前記露光チャックの移動によって前記プロキシミティギャップを形成する際に前記フォトマスクと前記基板との間のギャップを検出することに基づき該フォトマスクの変形を検出する工程と、
    前記工程によって検出される前記フォトマスクの変形を補正するよう前記気密室内の圧力を調整する工程と
    を具えたフォトマスク変形補正方法。
  4. 請求項1又は2に記載のプロキシミティ露光装置又は請求項3に記載のフォトマスク変形補正方法を使用してフラットパネルディスプレイを製造する方法。
JP2001200783A 2001-07-02 2001-07-02 プロキシミティ露光装置及びその装置におけるフォトマスク変形補正方法 Expired - Fee Related JP4774167B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001200783A JP4774167B2 (ja) 2001-07-02 2001-07-02 プロキシミティ露光装置及びその装置におけるフォトマスク変形補正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001200783A JP4774167B2 (ja) 2001-07-02 2001-07-02 プロキシミティ露光装置及びその装置におけるフォトマスク変形補正方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2003015310A JP2003015310A (ja) 2003-01-17
JP2003015310A5 true JP2003015310A5 (ja) 2005-10-06
JP4774167B2 JP4774167B2 (ja) 2011-09-14

Family

ID=19037848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001200783A Expired - Fee Related JP4774167B2 (ja) 2001-07-02 2001-07-02 プロキシミティ露光装置及びその装置におけるフォトマスク変形補正方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4774167B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4318926B2 (ja) * 2003-01-27 2009-08-26 大日本印刷株式会社 露光方法及び露光装置
KR101216467B1 (ko) 2005-05-30 2012-12-31 엘지전자 주식회사 기판 척의 평탄도 유지수단을 구비하는 노광장치
JP4942625B2 (ja) * 2007-11-29 2012-05-30 Nskテクノロジー株式会社 近接露光装置及び近接露光方法
JP5320552B2 (ja) * 2009-02-10 2013-10-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク保持方法、及び表示用パネル基板の製造方法
JP5334674B2 (ja) * 2009-05-13 2013-11-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク装着方法、及び表示用パネル基板の製造方法
JP2011123103A (ja) * 2009-12-08 2011-06-23 Hitachi High-Technologies Corp プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のギャップ制御方法、及び表示用パネル基板の製造方法
JP5537466B2 (ja) * 2011-02-28 2014-07-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 露光装置
JP6142214B2 (ja) * 2011-08-10 2017-06-07 株式会社ブイ・テクノロジー 近接露光装置及び近接露光方法
CN110125730A (zh) * 2018-02-07 2019-08-16 蓝思科技(长沙)有限公司 陶瓷盖板的平面度矫正方法和平面度矫正设备

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3019264B2 (ja) * 1990-08-29 2000-03-13 富士通株式会社 X線マスクによるパターン転写方法および装置
JPH04110855A (ja) * 1990-08-31 1992-04-13 Topcon Corp たわみ補正機構付きマスク支持装置
JP2676278B2 (ja) * 1991-04-04 1997-11-12 日立電子エンジニアリング株式会社 ガラス基板露光装置におけるギャップ制御方法
JPH07219212A (ja) * 1994-02-01 1995-08-18 Orc Mfg Co Ltd フォトマスクの撓み矯正装置およびその方法
JPH07312339A (ja) * 1994-05-17 1995-11-28 Soltec:Kk プロキシミティ露光方法及びその装置
JPH0882919A (ja) * 1994-09-12 1996-03-26 Hitachi Ltd ホトマスクおよびそれを用いた露光装置
JP3227089B2 (ja) * 1996-03-07 2001-11-12 キヤノン株式会社 位置決めステージ装置およびこれを用いた露光装置ならびにディバイス製造方法
JP3301387B2 (ja) * 1998-07-09 2002-07-15 ウシオ電機株式会社 プロキシミティ露光におけるマスクとワークのギャップ制御方法およびプロキシミティ露光装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW200620406A (en) Exposure mask manufacturing method, drawing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and mask blanks product manufacturing method
EP1583156A3 (en) Ultraviolet sensor and method for manufacturing the same
EP1837896A4 (en) SUBSTRATE MAINTAINING APPARATUS, EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE DEVICE
TWI263859B (en) Lithographic apparatus and device manufacturing method
TWI256139B (en) Method and apparatus for fabricating flat panel display
EP1571698A4 (en) EXPOSURE APPARATUS, EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
JP2003015310A5 (ja)
EP2264522A3 (en) Method of forming a pattern on a substrate
WO2005064400A3 (en) Chuck system, lithographic apparatus using the same and device manufacturing method
EP1956431A4 (en) EXPOSURE APPARATUS, EXPOSURE METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
EP1571696A4 (en) EXPOSURE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURE
TW200506545A (en) Mask, mask blank, and methods of producing the same
TW200719755A (en) Printing apparatus, controlling method thereof and manufacturing method of a flat panel display
WO2011020690A3 (en) Method for producing a mirror having at least two mirror surfaces, mirror of a projection exposure apparatus for microlithography, and projection exposure apparatus
JP2016111343A (ja) 基板保持装置、リソグラフィ装置、及び物品の製造方法
JP2008055607A5 (ja)
JP2009076227A (ja) マスクの製造方法及びマスク
TW200703548A (en) Exposing apparatus having substrate chuck of good flatness
WO2005013323A3 (en) Methods and apparatus for fabricating solar cells
TW200517772A (en) Method of making photomask blank substrates
WO2004099879A3 (en) Method of detecting relative position of exposure mask and object to be exposed, alignment method, and exposure method using the same
JP2009535814A5 (ja)
KR20080046476A (ko) 미세패턴 형성장치 및 이를 이용한 미세패턴 형성방법
TW200619881A (en) Method and system for thermal process control
RU2011153678A (ru) Способ изготовления жидкокристаллической панели, жидкокристаллическая панель и устройство коррекции