JP2003010755A - 塗布装置 - Google Patents
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Abstract
置で塗布する際に、マスク装置で確実に塗布範囲を制限
する装置を提供する。 【解決手段】有機EL材料を塗布すべき溝11を基板S
上に形成しておき、この溝11にノズル4a〜4cを沿
わせるようにノズル4a〜4cを移動させて有機EL材
料を溝11内に流し込んで塗布する。基板Sは周縁部マ
スク装置50でマスクされ、マスク板51、52は駆動
手段53、54を制御部9が制御することにより、マス
ク板51、52を移動させる。マスク板51、52の移
動は、ノズル4a〜4cの移動方向と逆方向に所定量シ
フトさせる。その結果、有機EL材料10a〜10cを
基板Sの所望塗布範囲に確実に制限して塗布する。
Description
表示装置用ガラス基板の如きFPD(FlatPane
l Display)用基板、フォトマスク用ガラス基
板および光ディスク用基板など(以下、単に「基板」と
称する)の上面に有機材料を塗布するために使用される
塗布装置に係り、特に移動式の吐出式ノズルから塗布液
を吐き出して塗布するディスペンス方式の塗布装置の改
良に関する。
フォトレジスト材料を基板(半導体ウェハ)の上面に塗
布するための塗布装置として、レジスト材料を効率的に
利用するために、基板上にレジスト成分を90%以上残
し、レジスト材料の損失分を10%以下に抑制し得る塗
布方法として、基板を回転させないで済むブレード・デ
ィスペンス・ノズルを用いる方式が考えられている。図
7は、従来考えられているブレード・ディスペンス方式
の塗布装置の要部構成を概略的に示している。
ノズル100を図示矢印方向Aに移動させながらその先
端部からフォトレジスト材料を噴霧状に吐き出して塗布
するものである。この際、基板Wの搬送速度とフォトレ
ジスト材料の吐き出し速度とを制御することにより基板
W上に形成されるフォトレジスト膜の膜厚を制御する。
の塗布装置により基板Wにフォトレジスト膜を塗布した
時に、基板W周縁部分にもフォトレジスト膜が付くの
で、フォトレジスト塗布後に基板W周縁部上の不要なフ
ォトレジスト膜を除去する工程を必要とし、この工程に
伴うダストの発生により、後の工程(パターニング・エ
ッチングなど)での基板搬送時のパーティクルの発生原
因となるなどの不都合が生じる。
て接触するように、あるいは接触することなく、近接・
離間自在に設けられ、ノズル100から吐き出されるフ
ォトレジスト材料から基板Wの周縁部をマスクする周縁
部マスク装置101が付加された塗布装置が特開平6−
225114号公報として提供されている。
(c)に示すように、周縁部マスク装置101を有して
いるので、基板Wの周縁部W1にフォトレジスト膜が塗
布することが防止できる。また、フォトレジスト塗布後
に周縁部W1上の不要なフォトレジスト膜を除去するた
めの専用装置を必要としなくなるので、プロセスのスル
ープットが向上し、さらには、基板Wの周縁部W1上の
不要なフォトレジスト膜の除去する工程が不要となり、
この工程に伴うダストの発生がなくなる。
ネッセンス)材料を基板上の所定パターン形状に塗布し
て有機EL表示装置を製造する工程においても上記のよ
うな塗布装置が用いられる。従来の有機EL表示装置
は、次に説明するようにして製造されている。先ず、ガ
ラス基板の表面上に透明なITO(インジウム錫酸化
物)膜を成膜する。次に、このガラス基板上に成膜され
たITO膜を、フォトリソグラフィー技術を用いて、複
数本のストライプ状の第1電極にパターニング形成す
る。この第1電極は陽極に相当するものである。次に、
ストライプ状の第1電極を囲むようにしてガラス基板上
に突出させる電気絶縁性の隔壁を、フォトリソグラフィ
ー技術を用いて形成する。
料を隔壁内のストライプ状の第1電極に向けて噴出させ
て、隔壁内のストライプ状の第1電極上に有機EL材料
を塗布する。具体的には、ある隔壁内のストライプ状の
第1電極上には、赤色の有機EL材料用のノズルによっ
て赤色の有機EL材料が塗布される。赤色の有機EL材
料が塗布された第1電極に隣接する一方の第1電極上に
は、緑色の有機EL材料用のノズルによって緑色の有機
EL材料が塗布される。緑色の有機EL材料が塗布され
た第1電極に隣接する次の第1電極上には、青色の有機
EL材料用のノズルによって青色の有機EL材料が塗布
される。青色の有機EL材料が塗布された第1電極に隣
接する次の第1電極上には、赤色の有機EL材料が塗布
される。このように、赤、緑、青色の有機EL材料がそ
の順に個別に第1電極上に塗布される。
るストライプ状の第2電極を真空蒸着法によりガラス基
板上に複数本並設するように形成して、第1電極と第2
電極との間に有機EL材料を挟み込んでいる。この第2
電極は陰極に相当するものである。このようにして、第
1電極と第2電極とが単純XYマトリスク状に配列され
たフルカラー表示可能な有機EL表示装置が製造されて
いる。
L材料の塗布のような微細なパターン形状に応じて材料
を塗布する要求には、従来考えられているブレード・デ
ィスペンス方式の塗布装置は適さない。そこで、塗布液
を線状に吐出可能な1つの微細孔より吐出するノズル方
式(以下、ストレートノズルと称する)の塗布装置が多
用される。
範囲に塗布するのにノズルをパターンに沿ってスライド
移動させることで塗布する過程を必要とする。そして、
塗布のスループットを上げるために、このスライド移動
も高速化しており、従来技術にあるような基板Wの周縁
部マスク装置で基板Wの周縁部W1をマスクした場合、
次のような問題を生じていた。
2を矢印方向Bへ高速で移動すると、噴射される塗布液
Lにも矢印方向Bに沿った慣性力が働く。その結果、ス
トレートノズル102が移動を開始する側の塗布範囲W
2においては、塗布液Lの塗布不充分領域W3が発生し
た。また、ストレートノズル102が移動を終了する側
においては、塗布液Lが基板Wの周縁部W1の領域W4
に飛び散ってしまっていた。
速移動に伴い、塗布液Lが慣性力によりストレートノズ
ル102の移動方向へ流れて塗布される現象が発生して
いるためである。すなわち、ストレートノズル102の
進行方向へ常に塗布液Lが流れてしまい、本来、塗布さ
れなければならない塗布範囲W2では不充分な塗布膜が
形成され、被塗布領域である基板Wの周縁部W1に塗布
液Lが塗布され、塗布液Lを不必要に消費してしまって
いた。
たもので、塗布液の使用量の削減、損失分(処分量)の
減少を図ることが可能になり、基板上のパターンに対し
ても良好で均一性に優れた塗布膜を形成できる塗布装置
を提供することを目的とする。
記目的を達成するために、本発明は、塗布液を基板上に
塗布する塗布装置において、停止状態の基板上を横切る
方向に吐出式ノズルが移動しながら、基板の上面に吐出
式ノズルから塗布液を吐き出して塗布するノズル手段
と、前記基板の周縁部に対して設けられ、前記ノズル手
段から吐き出される塗布液から基板周縁部をマスクする
マスク手段、前記マスク手段を前記ノズル手段の移動方
向とは逆方向にシフトさせるシフト制御手段と、を具備
することを特徴とする塗布装置である。
1に係る発明の塗布装置においては、ノズル手段による
塗布液の塗布範囲はマスク手段によって設定される。こ
の塗布の際、マスク手段はノズル手段の移動方向と逆方
向にシフトされる。その結果、ノズル手段の移動ととも
に塗布液が慣性力でノズル手段の移動方向へ流れた場
合、マスク手段にってマスクされる領域が逆方向へ制限
することで、塗布液が流れて塗布される領域も制限され
る。すなわち、マスク手段をシフトすることで塗布液の
塗布範囲をより確実に所望範囲に制限することとなる。
塗布装置において、前記ノズル手段は、前記基板の一方
の周縁部に位置するマスク手段の上面から基板上面の塗
布範囲を通過して、前記基板の他方の周縁部に位置する
マスク手段の上面までを移動範囲とするものである。
は、マスク手段によってマスクされた基板における、塗
布範囲への塗布液の塗布が確実に達成される。
塗布装置において、前記マスク手段は、前記基板の周縁
部に対して隙間を有して配置され、前記シフト制御手段
は、ノズル手段の移動方向上流側のマスク手段を基板の
周縁部上へ、移動方向下流側のマスク手段を基板の塗布
範囲上へ移動させることを特徴とする。
は、ノズル手段の移動方向上流側のマスク手段を基板の
周縁部上へ移動することで、塗布範囲における塗布膜の
不均一を防止する。一方、移動方向下流側のマスク手段
を基板の塗布範囲上へ移動させることで、基板周縁部へ
の塗布液の塗布を防止する。
求項3に記載の塗布装置において、前記ノズル手段は、
前記移動範囲の端部で反転し異なる移動範囲を塗布する
ことを繰り返すよう制御する駆動制御手段とを有し、前
記シフト制御手段は、ノズル手段の反転に連動してシフ
ト方向を調整することを特徴とする。
は、ノズル手段が反転し塗布を繰り返すことで基板の広
範囲において塗布できる。その際、ノズル手段がノズル
手段の反転に連動してシフトされるので、塗布範囲以外
への不必要な塗布や、塗布範囲における塗布膜の不均一
を防止できる。
を、添付図面を参照して詳細に説明する。 <第1実施例>本発明の実施例に係る塗布装置は、具体
的に塗布液として有機EL材料を矩形のガラス基板(単
に、基板Sと称する)上に所定のパターン形状に塗布し
て有機EL表示装置を製造するものである。図1は本発
明の実施例に係る有機EL表示装置の製造装置である塗
布装置の要部の概略構成を示すブロック図である。
ず)により搬送されてきた基板Sの上面に向けて、吐出
式ノズル4a〜4c(ストレート・ノズル)の先端部か
ら有機EL材料を直線棒状に吐き出して塗布するもので
ある。
青色の有機EL材料10a〜10cの塗布を受ける基板
Sを載置するステージ1と、このステージ1を所定方向
に移動させるステージ移動機構部2と、基板S上に形成
された位置合せマークの位置を検出する位置合せマーク
検出部3と、赤色の有機EL材料10aを赤色用のノズ
ル4aに供給する第1供給部5と、緑色の有機EL材料
10bを緑色用のノズル4bに供給する第2供給部6
と、青色の有機EL材料10cを青色用のノズル4cに
供給する第3供給部7と、各色のノズル4a〜4cを所
定方向に移動させるノズル移動機構部8と、基板Sの周
縁部をマスクする周縁部マスク装置50と、ステージ移
動機構部2と位置合せマーク検出部3と第1〜第3供給
部5〜7とノズル移動機構部8と周縁部マスク装置50
とを制御する制御部9とで構成されている。
お、図2、図3に示すように、赤、緑、青色の有機EL
材料10a〜10cの塗布を受ける基板Sの表面上に
は、各色の有機EL材料10a〜10cを塗布すべき所
定のパターン形状に応じたストライプ状の溝11が複数
本並設されるように形成されている。図2は、有機EL
材料を塗布すべき所定のパターン形状に応じた溝が表面
上に形成された基板Sを上から見た状態を示す概略平面
図である。図3は、図2に示した基板Sの一部分の断面
図を示す概略断面図である。
cの塗布を受ける基板Sの製造工程について説明する。
先ず、平板状の基板Sの表面上に透明なITO(イリジ
ウム錫酸化物)膜を形成する。次に、この基板S上に成
膜されたITO膜を、フォトリソグラフィー技術を用い
て、複数本のストライプ状の第1電極12にパターニン
グ形成する。この第1電極12は陽極に相当するもので
ある。
ようにして基板S上に突出させる電気絶縁性の隔壁13
を、フォトリソグラフィー技術を用いて形成する。この
隔壁13は、例えば、クロム(Cr)あるいはドライフ
ィルムで形成されている。このようにして、基板Sの表
面上には、各色の有機EL材料10a〜10cと塗布す
べきストライプ状の溝11が複数本並設されて形成され
ている。
電極12上には、正孔を積極的に有機EL材料10a〜
10cの方に輸送する正孔輸送層14が形成されてい
る。この正孔輸送層14としては、例えば、PEDT
(polyethylene dioxythiophene)−PSS(poly-sty
rene sulphonate)を採用している。溝11の幅は、例
えば100μm程度であり、溝11の深さは、例えば1
〜10μm程度であり、溝11と溝11との間の距離
は、例えば10〜20μm程度である。このようにし
て、各色の有機EL材料10a〜10cの塗布を受ける
状態にある基板Sを製造している。
赤色の有機EL材料10aの供給源20aと、この供給
源20aから赤色の有機EL材料10aを取り出すため
のポンプ21と、赤色の有機EL材料10aの流量を検
出する流量計22と、赤色の有機EL材料10a中の異
物を除去するためのフィルタ23とを備えている。
材料10bの供給源20bと、この供給源20bから緑
色の有機EL材料10bを取り出すためのポンプ21
と、緑色の有機EL材料10bの流量を検出する流量計
22と、緑色の有機EL材料10b中の異物を除去する
ためのフィルタ23とを備えている。
材料10cの供給源20cと、この供給源20cから青
色の有機EL材料10cを取り出すためのポンプ21
と、青色の有機EL材料10cの流量を検出する流量計
22と、青色の有機EL材料10c中の異物を除去する
ためのフィルタ23とを備えている。
は、各色のノズル4a〜4cと、こららのノズル4a〜
4cを並設した状態で保持する保持部材31と、この保
持部材31を支持軸34の周りに回動自在に支持する支
持部材32と、この支持部材32を沿わせて移動させる
ためのガイド部材33とを備えている。図4(a)は、
ノズル移動機構部の概略斜視図であり、図4(b)は、
ノズル移動機構部を上から見た概略平面図であり、図4
(c)は、保持部材を支持部材の支持軸周りに回動させ
た状態を示す概略平面図である。
並設面に直交する方向に支持軸34が設けられている。
保持部材31には、この支持軸34と嵌合させるための
嵌合孔35が設けられている。支持部材32の支持軸3
4に保持部材31の嵌合孔35が嵌合されており、支持
部材32は、保持部材31を支持軸34の周りに回動自
在に支持している。
材31を支持軸34周りに回動させることで、図4
(b)に示す状態における各色の塗布ピッチ間隔P1よ
りも狭い塗布ピッチ間隔P2にすることができ、各色の
塗布ピッチ間隔を狭くするように調整できる。なお、こ
れらのノズル4a〜4cにおける有機EL材料を出力す
るための穴径は、基板Sに形成された溝11の幅より小
さく、例えば数十μm程度であり、ここでは10〜70
μmとしている。
ば、CCDカメラを採用している。位置合わせマーク検
出部3は、制御部9からの指示を受けると、図2に示し
たガラス基板Sの四隅にそれぞれ形成された位置合わせ
マークMをそれぞれ撮像し、これらの撮像した位置合わ
せマークMの画像データを制御部9に出力する。
Sの周縁部をマスクする一対の長尺なマスク板51、5
2と、このマスク板51、52をそれぞれ独立してスラ
イド移動させるシリンダー等の駆動手段53、54より
構成される。そして、周縁部マスク装置50は、停止状
態の基板Sの周縁部に対して接触することなく接近し、
あるいは離間することが可能なように、図示矢印のx方
向に往復移動自在に構成される。基板S表面との隙間
は、有機EL材料のマスク板51、52の裏面への回り
込みをある程度防止する上で、0.5〜2mm程度に設
定される。なお、この隙間が無い場合、マスク板51、
52の裏面と基板S表面が擦ってゴミが発生してしまう
ので好ましくない。
撮像された画像データに基づいて位置合わせマークMの
位置を検出する。制御部9は、CAD(Computer Aide
d Design)を使って設計された第1電極12や溝11
などのレイアウトデータが予め与えられている。制御部
9は、位置合わせマークMの位置の算出結果と、予め与
えられている溝11のレイアウトデータとに基づいて、
塗布のスタートポイント、すなわち、基板Sの溝11の
一方の端部側で塗布を開始する塗布開始位置(後述する
塗布開始位置B1に相当する)を算出する。なおここで
は、基板Sに形成された位置合わせマークMを4点とし
ているが、例えば2点とするなど、4点以外の点数であ
っても良い。
1を所定方向(y方向)に所定量だけ移動させるように
ステージ移動機構部2を制御し、ノズル4a〜4cを所
定方向(x方向)に所定量だけ移動させるようにノズル
移動機構部8を制御し、図1に示すように、第1〜第3
供給部5〜7の各流量計22からの検出量a〜cに応じ
て、ノズル4a〜4cから所定流量の有機EL材料10
a〜10cを流し出すように第1〜第3供給部5〜7の
各ポンプ21に指令d〜fを出力する。図5は、ステー
ジとノズルの移動方向を説明するための概略斜視図であ
る。
ともに、駆動手段53、54の駆動方向を制御し、マス
ク板51、52による基板Sのマスク領域を調整する。
ル4a〜4cが本発明におけるノズル手段に相当し、上
述した制御部9が本発明における駆動制御手段として機
能する。また、上述したマスク板51、52が本発明に
おけるマスク手段に相当し、駆動手段53、54と制御
部9が本発明におけるシフト制御手段として機能する。
って有機EL表示装置を製造する製造工程について、以
下に説明する。
0a〜10cの塗布を受ける状態にある基板Sが製造さ
れるまでについては、上述したように既に説明済みであ
るので、ステージ1上に載置された基板Sの溝11に有
機EL材料10a〜10cを塗布する工程から説明する
ものとする。
板Sの四隅の位置合わせマークMをそれぞれ撮像するよ
うに位置合わせマーク検出部3に指示を与える。位置合
わせマーク検出部3は、撮像した位置合わせマークMの
画像データを制御部9に出力する。制御部9は、位置合
わせマーク検出部3で撮像された画像データに基づいて
位置合わせマークMの位置を算出する。制御部9は、位
置合わせマークMの位置の算出結果と、予め与えられて
いる溝11のレイアウトデータとに基づいて、塗布のス
タートポイント、すなわち、基板Sの溝11の一方の端
部側で塗布を開始する塗布開始位置B1を算出する。
に、周縁部マスク装置50を予めシフトさせておく。図
5(a)(b)は、ノズル4a〜4cが移動しながら有
機EL材料10a〜10cを吐き出して塗布する時に、
周縁部マスク装置50が基板Sの周縁部W1、W1をマ
スクした状態になるように設定されている様子を示す側
面図で、(a)はノズル4a〜4cが矢印B方向へ移動
する場合、(b)はノズル4a〜4cが矢印B方向と逆
方向へ移動する場合である。
に示すように図中、左側に移動されて配置される。即
ち、ノズル4a〜4cの移動開始位置側のマスク板51
は、上方から見て周縁部W1に臨むことができ、ノズル
4a〜4cの移動方向側のマスク板52は、基板Sの塗
布範囲W2の上方へマスク板52が重なる位置まで移動
される。言い換えると、ノズル4a〜4cの移動方向で
あるB方向とは逆方向にシフトされ配置される。また、
基板Sの塗布開始位置B1は、マスク板51の上面に設
定される。
位置B1にノズル4a〜4cが位置するように、ステー
ジ移動機構部2とノズル移動機構部8とを制御する。図
6は、ノズルの移動経路を説明するための模式図であ
る。なお、ノズル移動機構部8の支持部材32は、赤、
緑、青色の各ノズル4a〜4cが溝11の幅方向の中心
付近にそれぞれ位置するように良好に調整されている。
また、ノズル4a〜4cと基板S上の溝11迄の距離
は、有機EL材料が吐出後も直線棒状の液柱を維持する
距離に予め求められて設定される。
始位置B1にノズル4a〜4cが位置すると、制御部9
は、各ノズル4a〜4cから基板S上の溝11内への有
機EL材料10a〜10cの流し込み開始を各ポンプ2
1に指示するとともに、有機EL材料10a〜10cを
基板S上の溝11に沿わせながらこの溝11内に流し込
むように支持部材32をガイド部材33に沿わせて移動
させるように制御する。このように、赤、緑、青色の有
機EL材料10a〜10cが同時にそれぞれの溝11に
流し込まれていく。
スク板51の上面から開始され、マスク板51を通過し
て基板Sの上方へ移動する。よって、吐出した有機EL
材料10a〜10c には移動方向のB方向へ慣性力が
作用し、マスク板51がなくなる境界では基板Sの周縁
部W1へ向かう有機EL材料10a〜10c が慣性力
で流れて塗布範囲W2に塗布される。すなわち、マスク
板51が上方に存在しないので、基板Sの周縁部W1に
向かう有機EL材料10a〜10c が、慣性力で塗布
範囲W2へ塗布されることとなる。
範囲W2の開始端部において塗布膜が薄くなることを防
止できる。この有機EL材料10a〜10c が慣性力
で塗布範囲W2へ塗布されるようにマスク板51のシフ
ト量を設定するには、予めノズル4a〜4cの移動速度
と有機EL材料10a〜10c 吐出速度とノズル4a
〜4cから基板Sまでの距離との関係より求めたシフト
範囲を実験等で求める。そして、その値を制御部9に記
憶させ、駆動手段53の移動量を制御するようにすれば
よい。なお、制御部9は、ストライプ状の溝11の各ポ
イントにおける有機EL材料の塗布量が均一となるよう
に、ノズル4a〜4cの移動速度に応じてその塗布量を
制御するようにしている。
側で塗布を停止する塗布停止位置Eにノズル4a〜4c
が位置すると、各ノズル4a〜4cから基板S上の溝1
1内への有機EL材料10a〜10cの流し込みを停止
させるよう各ポンプ21に指示するとともに、支持部材
32のガイド部材33に沿わせる移動を停止させる。な
お、塗布停止位置Eにおいて、ノズル4a〜4cの移動
を停止するのみで、有機EL材料10a〜10c の吐
出は継続してもよい。これはマスク板52があるので基
板Sに有機EL材料10a〜10cが塗布されないため
可能であり、更に、この操作によって再吐出動作の起動
に必要な負荷を低減することが可能となる。よって、以
後の塗布停止位置Eにおいて同様にしても良い。
Eはマスク板52の上面に設定される。よって、吐出し
た有機EL材料10a〜10c には移動方向のB方向
へ慣性力が作用し、マスク板52が現れる境界で基板S
へ向かう有機EL材料10a〜10c が慣性力で流れ
て、マスク52の下面に位置する塗布範囲W2に塗布さ
れる。本来、マスク板52があるため、上方より臨める
基板Sの塗布範囲W2に向かう有機EL材料10a〜1
0c が、慣性力で流れる範囲を塗布範囲W2とするよ
うにマスク板52をシフト制御することで、塗布範囲W
2へ塗布されることとなる。
範囲W2の終了端部において塗布膜が周縁部W1に塗布
されることを防止できる。この有機EL材料10a〜1
0cが慣性力でマスク板52の下側の塗布範囲W2へ塗
布されるようにマスク板52のシフト量を設定するに
は、予めノズル4a〜4cの移動速度と有機EL材料1
0a〜10c 吐出速度とノズル4a〜4cから基板S
までの距離との関係より求めたシフト範囲を実験等で求
める。そして、その値を制御部9に記憶させ、駆動手段
54の移動量を制御するようにすればよい。
EL材料10a〜10cの塗布が完了する。溝11内に
流し込めれた有機EL材料10a〜10cの厚みは、有
機EL材料10a〜10cの流し込み量によって調整で
きるが、ここではこの有機EL材料10a〜10cの厚
みは0.1μm程度に形成されている。
方向に溝11三列分だけピッチ送りして、次の三列分の
溝11への有機EL材料10a〜10cの塗布を行える
ようにする。前述した最初の溝11三列分では、溝11
の左端側を塗布開始位置B1とし、溝11の右端側を塗
布停止位置Eとして、ノズル4a〜4cを溝11に沿う
ように左から右に移動させてそれぞれの溝11内に有機
EL材料10a〜10cを流し込んだが、次の溝11三
列分では、溝11の右端側を塗布開始位置B1とし、溝
11の左端側を塗布停止位置Eとして、ノズル4a〜4
cを溝11に沿うように右から左に移動させてそれぞれ
の溝11内に有機EL材料10a〜10cを流し込むよ
うにする。
に示すように、図中、右にシフトされ、塗布停止位置E
を塗布開始位置B1とし、塗布開始位置B1と塗布停止
位置Eと設定し、塗布開始位置B1と塗布停止位置Eと
に対するノズル4a〜4cとの配置関係を前述した最初
の溝11三列分と同じ配置関係とする。なお、この時、
ノズル4a〜4c がマスク板51、52の上面に常に
位置するようにマスク板51、52の大きさと移動量は
設定される。
も、前述の動作を繰り返し実行することで、各色の有機
EL材料10a〜10cを溝11ごとに流し込むように
する。このようにして、赤、緑、青色の有機EL材料1
0a〜10cがストライプ状の溝11ごとに赤、緑、青
色の順に配列された、いわゆる、ストライプ配列が形成
される。
ル4a〜4cが次の三列分の溝11に移行することを示
すものであり、各ノズル4a〜4cが、実際にこの破線
で示す半円状の経路で移動するものではない。上述した
ように、ステージ1上をy方向に移動させてから、各ノ
ズル4a〜4cをx方向に移動させることで、溝11内
に良好に有機EL材料10a〜10cを流し込んでい
る。
材料10a〜10cの塗布が完了すると、第1電極12
に直交するように対向させるストライプ状の第2電極
を、真空蒸着法により基板S上に複数本並設するように
形成する。第1電極12と第2電極との間に有機EL材
料10a〜10cを挟み込んでいる。この第2電極は陰
極に相当するものである。このようにして、第1電極1
2と第2電極とが単純XYマトリスク状に配列されたフ
ルカラー表示可能な有機EL表示装置が製造される。
0でマスクされ、塗布すべき所定のパターン形状に応じ
ノズル4a〜4cを移動させて有機EL材料10a〜1
0cを塗布する。そして、マスク板51、52をノズル
4a〜4cの移動方向と逆方向に所定量シフトさせたの
で、有機EL材料10a〜10cを基板Sの所望塗布範
囲に確実に塗布することができる。
塗布膜を除去するための専用装置を必要としなくなるの
で、プロセスのスループットが向上し、大幅なコストダ
ウンが可能になる。また、塗布後に基板周縁部上の不要
な塗布膜を除去する工程が不要になり、この工程に伴う
ダストの発生がなくなり、この後の工程(パターニング
・エッチングなど)での基板搬送時のパーティクルの発
生原因が解消される。
形例に限定されるものではなく、以下のように他の形態
でも実施することができる。
うに、基板Sを載置したステージ1を、この基板S上の
溝11の長手方向(x方向)に対して直交する方向(y
方向)にピッチ送りしてから、ノズル4a〜4cを溝1
1の長手方向(x方向)に移動させるようにして、基板
Sの溝11内に有機EL材料10a〜10cを流し込ん
でいるが、ステージ1を固定とし、ノズル4a〜4cを
基板S上の溝11の長手方向に対して直交する方向にピ
ッチ送りしてから、このノズル4a〜4cをこの溝11
の長手方向に移動させるようにして、基板Sの溝11内
に有機EL材料10a〜10cを流し込んでも良い。
の3個1組のノズル4a〜4cで基板Sの各溝11内に
有機EL材料10a〜10cを流し込んでいるが、この
3個1組のノズル4a〜4cを複数組設けて基板Sの各
溝11内に有機EL材料10a〜10cを流し込んでも
良い。こうすることで塗布処理にかかる時間を短縮する
ことができる。
する溝11の間隔(ある溝11の幅中心からそれに隣接
する溝11の幅中心までの間隔)の4の倍数分として配
置し、溝11の長手方向に対して直交する方向にこれら
のノズル4a〜4cを隣接する溝11の間隔の3倍分の
距離でピッチ送りするようにしても良い。こうすること
でノズル間が広くなりメンテナンスが容易となる。
ス基板としてるが、ガラス以外の材料の基板や、その形
状は矩形に限らず、円形であっても塗布範囲をマスク装
置でもって制限する場合に採用しても良い。
(ポリイミドなど)を塗布する場合を示したが、その他
のフォトレジスト材料を塗布する場合にも本発明を適用
できる。
的事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能であ
る。
によれば、塗布液を基板上の所定のパターン形状に塗布
できる装置において、ノズルを移動させて塗布液を供給
しても、塗布する際、この塗布液の塗布領域を確実に制
限して、塗布領域以外への飛び散りを防止できるととも
に均一な塗布を実現できる。
成を示すブロック図。
に応じた溝が表面上に形成された基板を上から見た状態
を示す概略平面図である。
面図である。
視図であり、(b)はノズル移動機構部を上から見た概
略平面図であり、(c)は保持部材を支持部材の支持軸
周りに回動させた状態を示す概略平面図である。
説明するめの概略側面図で、(a)はノズルがB方向へ
移動する場合、(b)はノズルがB方向と逆方向へ移動
する場合である。
模式図である。
式の塗布装置の要部を概略的に示す構成説明図である。
例を概略的に示す構成を概略的に示す構成説明図で、
(a)は平面図、(b)は側面図、(c)は塗布処理後
の基板を説明する平面図である。
図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 塗布液を基板上に塗布する塗布装置にお
いて、 停止状態の基板上を横切る方向に吐出式ノズルが移動し
ながら、基板の上面に吐出式ノズルから塗布液を吐き出
して塗布するノズル手段と、 前記基板の周縁部に対して設けられ、前記ノズル手段か
ら吐き出される塗布液から基板周縁部をマスクするマス
ク手段、 前記マスク手段を前記ノズル手段の移動方向とは逆方向
にシフトさせるシフト制御手段と、を具備することを特
徴とすることを特徴とする塗布装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の塗布装置において、 前記ノズル手段は、前記基板の一方の周縁部に位置する
マスク手段の上面から基板上面の塗布範囲を通過して、
前記基板の他方の周縁部に位置するマスク手段の上面ま
でを移動範囲とするものである塗布装置。 - 【請求項3】 請求項2に記載の塗布装置において、 前記マスク手段は、前記基板の周縁部に対して隙間を有
して配置され、 前記シフト制御手段は、ノズル手段の移動方向上流側の
マスク手段を基板の周縁部上へ、移動方向下流側のマス
ク手段を基板の塗布範囲上へ移動させることを特徴とす
る塗布装置。 - 【請求項4】 請求項2または請求項3に記載の塗布装
置において、 前記ノズル手段は、前記移動範囲の端部で反転し異なる
移動範囲を塗布することを繰り返すよう制御する駆動制
御手段とを有し、 前記シフト制御手段は、ノズル手段の反転に連動してシ
フト方向を調整することを特徴とする塗布装置。
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