JP2003007775A - Method and device for manufacturing tape carrier for semiconductor device - Google Patents

Method and device for manufacturing tape carrier for semiconductor device

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JP2003007775A
JP2003007775A JP2001187457A JP2001187457A JP2003007775A JP 2003007775 A JP2003007775 A JP 2003007775A JP 2001187457 A JP2001187457 A JP 2001187457A JP 2001187457 A JP2001187457 A JP 2001187457A JP 2003007775 A JP2003007775 A JP 2003007775A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the manufacturing method/device of a tape carrier for semiconductor device, with which tape deformation does not occur even if a processing is performed by a plasma device that can perform the processing under atmospheric pressure. SOLUTION: In tape carrier transport mechanisms (6a and 6b), a tape 8 of the tape carrier is made to pass through an inner plasma discharge space, by using a plasma processor 2 which can perform the processing under atmospheric pressure for a dry cleaning process by the plasma processing. Pressing rolls 7 pressing the TAB tape 8 to the tape carrier transport area of the plasma discharge space from above and below, giving prescribed tension and preventing a warp in the widthwise direction of the TAB tape 8 are arranged in the tape carrier transport area of the plasma discharge space part.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体パッケージに
用いられる電気回路部品である半導体装置用テープキャ
リアの製造方法および製造装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for manufacturing a tape carrier for a semiconductor device, which is an electric circuit component used in a semiconductor package.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、TABテープは、ポリイミド樹
脂等の絶縁フィルムから成るテープ基材に銅箔を貼り合
わせ、この銅箔をパターニングして、配線リード、ボン
ディングパッド及び半田ボール搭載パッド等を含む回路
パターンを形成したものから構成される。
2. Description of the Related Art Generally, a TAB tape includes a tape base material made of an insulating film such as a polyimide resin, and a copper foil attached to the base material. The copper foil is patterned to include wiring leads, bonding pads, solder ball mounting pads, and the like. It is composed of a circuit pattern.

【0003】かかるTABテープ等の半導体装置用テー
プキャリアにおいて、テープ表面の汚染は、半導体装置
用テープキャリア本来の性能の発揮を阻害し、十分な特
性を持った半導体装置用テープキャリアの製造を困難な
らしめる。
In such a tape carrier for a semiconductor device such as a TAB tape, the contamination of the tape surface impairs the original performance of the tape carrier for a semiconductor device, making it difficult to manufacture a tape carrier for a semiconductor device having sufficient characteristics. Let's train.

【0004】例えば、TABテープにおいて、そのテー
プ表面の配線リードやパッドの汚染は、ボンディング不
良、半田ボールのボールシェア強度の低下、電気特性低
下等の不具合につながり、テープ表面の清浄度が半導体
装置用テープキャリアとしてのテープ性能に大きく影響
する。従って、TABテープの製造においては、テープ
表面の清浄度を高く保つことが要請される。
For example, in a TAB tape, contamination of wiring leads and pads on the tape surface leads to defects such as defective bonding, reduced ball shear strength of solder balls, and reduced electrical characteristics. Greatly affects the tape performance as a tape carrier. Therefore, in the production of the TAB tape, it is required to keep the cleanliness of the tape surface high.

【0005】特にTABテープの場合、リードフレーム
に比べて剛性が低いため、パッドに施した金めっき面に
対するワイヤボンディングの安定性が低く、そのため特
性の向上が求められているが、このワイヤボンディング
の接続の強度、安定性に影響を与える要因の1つに、A
uめっき表面の清浄度が挙げられる。
Particularly in the case of the TAB tape, since the rigidity is lower than that of the lead frame, the stability of wire bonding with respect to the gold-plated surface of the pad is low, and therefore, the improvement of the characteristics is required. One of the factors that affect the strength and stability of the connection is A
The cleanliness of the u-plated surface may be mentioned.

【0006】汚染を除去する方法として、従来は純水に
よる湿式洗浄が主であるが、表面の清浄性を向上させる
ためには、水洗等による湿式洗浄に加えて、紫外線やプ
ラズマ洗浄等の乾式処理を併用することが有効である。
すなわち、清浄度のアップにより、例えばワイヤボンデ
ィング性の向上が期待できる。
Conventionally, wet cleaning with pure water has been mainly used as a method for removing contamination, but in order to improve surface cleanliness, in addition to wet cleaning such as water cleaning, dry cleaning such as ultraviolet ray or plasma cleaning is performed. It is effective to combine the treatments.
That is, it is expected that the wire bondability will be improved by increasing the cleanliness.

【0007】プラズマ洗浄処理の場合、その洗浄のメカ
ニズム自体はまだはっきり判っていないが、半導体チッ
プ実装工程、液晶ディスプレイ製造工程等では比較的一
般に用いられており、乾式で特にフィルム状の汚れの除
去が可能であることが判っている(「洗剤・洗浄の辞
典」、初版、第340頁“12.2.2 プラズマ洗浄”、株式会
社朝倉書店発行)。
In the case of the plasma cleaning process, the cleaning mechanism itself has not been clarified yet, but it is relatively commonly used in the semiconductor chip mounting process, the liquid crystal display manufacturing process, etc. It is known that it is possible ("Detergent / cleaning dictionary", first edition, p.340, "12.2.2 Plasma cleaning", published by Asakura Shoten Co., Ltd.).

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、TAB
テープ等の長尺のテープ製品においては、紫外線洗浄の
適用はあるが、プラズマ洗浄処理方式の適用は現状では
皆無である。その理由は、プラズマ洗浄は一般的に減圧
下で処理を行わなければならないため、装置が大掛かり
になり価格が増大する、作業性が悪い、さらに処理時間
が長いため実用的な処理速度が得られない等の問題があ
るためであると思われる。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
UV cleaning is applied to long tape products such as tapes, but plasma cleaning processing is not applied at present. The reason for this is that plasma cleaning generally requires processing under reduced pressure, resulting in large equipment and cost, poor workability, and long processing time resulting in practical processing speed. It seems that there is a problem such as not being.

【0009】他方、上記のように湿式洗浄に加えてプラ
ズマ処理による乾式処理を併用すれば、清浄度がアップ
し、ワイヤボンディング性の向上が期待できることは明
らかである。
On the other hand, it is clear that if dry treatment by plasma treatment is used in addition to wet cleaning as described above, cleanliness can be improved and wire bondability can be expected to be improved.

【0010】そこで、本発明者等は、公知ではないが、
常圧下で処理出来るプラズマ装置(例えば松下電工マシ
ンアンドビジョン製の大気圧プラズマ装置(Aiplasm
a))にテープキャリア搬送機構を組み合わせて具備せ
しめ、両者の組み合わせにより得られた装置を用いて、
TABテープを処理することにより、ワイヤボンディン
グ性、表面清浄性に優れたTABテープを、安価に、効
率良く製造することを提案している。
Therefore, although the present inventors are not known,
Plasma equipment that can be processed under normal pressure (for example, atmospheric pressure plasma equipment (Aiplasm manufactured by Matsushita Electric Works Machine and Vision)
a)) is equipped with a tape carrier transport mechanism in combination, and the device obtained by the combination of both is used.
By treating the TAB tape, it is proposed that the TAB tape excellent in wire bonding property and surface cleanability be efficiently manufactured at low cost.

【0011】しかしながら、常圧下で処理できるプラズ
マ装置にテープキャリア搬送機構を単に組み合わせるだ
けでは、プラズマ処理によるTABテープの乾式洗浄自
体は可能となるものの、常圧下で処理できるプラズマ装
置を用いてプラズマ処理を施すことによってTABテー
プの変形(幅方向の反り)が生ずるという問題があるこ
とが判った。
However, the dry cleaning itself of the TAB tape by plasma treatment is possible only by simply combining the tape carrier transport mechanism with the plasma equipment capable of processing under normal pressure, but the plasma treatment using the plasma equipment capable of processing under normal pressure. It has been found that there is a problem that the TAB tape is deformed (warp in the width direction) by applying the above.

【0012】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、常圧下で処理可能なプラズマ装置によって処理を行
ってもテープ変形の生じないプラズマ洗浄処理を施すこ
とが可能な半導体装置用テープキャリアの製造方法およ
び装置を提供し、これにより、変形、反りの少ない平坦
なTABテープを得ることにある。
Therefore, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to perform a tape cleaning process for a semiconductor device capable of performing a plasma cleaning process which does not cause the deformation of the tape even if the process is performed by a plasma device capable of processing under normal pressure. To provide a flat TAB tape with less deformation and warpage.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、次のように構成したものである。
In order to achieve the above object, the present invention is configured as follows.

【0014】請求項1に記載の発明は、プラズマ処理に
よる乾式洗浄工程を有する半導体装置用テープキャリア
の製造方法において、前記工程に常圧下で処理可能なプ
ラズマ処理装置を用い、その内部のプラズマ放電空間部
分にテープキャリアを通過せしめ、そのプラズマ放電空
間部分のテープキャリア搬送領域では、押さえロールに
よりテープキャリアを押さえて所定の張力を付与し、テ
ープキャリアの幅方向の反りを防止することを特徴とす
る。
According to a first aspect of the present invention, in a method of manufacturing a tape carrier for a semiconductor device having a dry cleaning step by plasma processing, a plasma processing apparatus capable of performing processing under normal pressure is used in the step, and plasma discharge inside thereof is used. The tape carrier is allowed to pass through the space portion, and in the tape carrier transport area of the plasma discharge space portion, the tape carrier is pressed by a pressing roll to apply a predetermined tension to prevent the tape carrier from warping in the width direction. To do.

【0015】この半導体装置用テープキャリアの製造方
法においては、前記押さえロールを冷却することが好ま
しい(請求項2)。
In the method of manufacturing a tape carrier for a semiconductor device, it is preferable that the pressing roll is cooled (claim 2).

【0016】請求項3に記載の発明は、プラズマ処理に
よる乾式洗浄工程を有する半導体装置用テープキャリア
の製造装置において、前記工程用に常圧下で処理可能な
プラズマ処理装置を設け、その内部のプラズマ放電空間
部分にテープキャリアを通過せしめるテープキャリア搬
送機構を設けると共に、前記プラズマ放電空間部分のテ
ープキャリア搬送領域にテープキャリアを上下から押さ
えて所定の張力を付与し、テープキャリアの幅方向の反
りを防止する押さえロールを設けたことを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in a tape carrier manufacturing apparatus for a semiconductor device having a dry cleaning step by plasma processing, a plasma processing apparatus capable of performing processing under normal pressure is provided for the step, and plasma inside thereof is provided. A tape carrier transport mechanism that allows the tape carrier to pass through the discharge space is provided, and the tape carrier is pressed from above and below in the tape carrier transport area of the plasma discharge space to give a predetermined tension to prevent warping in the width direction of the tape carrier. It is characterized by the provision of a pressing roll to prevent it.

【0017】この半導体装置用テープキャリアの製造装
置においては、前記プラズマ放電空間部分のテープキャ
リア搬送領域における押さえロールに、自身を冷却する
機構を備えることが好ましい(請求項4)。
In this semiconductor device tape carrier manufacturing apparatus, it is preferable that the pressing roll in the tape carrier transport region of the plasma discharge space portion is provided with a mechanism for cooling itself (claim 4).

【0018】<発明の要点>本発明においては、TAB
テープ等の半導体装置用テープキャリアを処理するプラ
ズマ処理に、大気圧下で処理できるプラズマ装置を用
い、テープ搬送ライン上におけるプラズマ放電空間部分
のテープキャリア搬送領域に、テープを押さえる機能を
押さえロールにて付与しているため、これによりテープ
キャリアに所定の張力が掛けられて、テープキャリアの
反りの発生が大幅に抑えられる。
<Main Points of the Invention> In the present invention, TAB is used.
A plasma device that can be processed under atmospheric pressure is used for plasma processing of tape carriers for semiconductor devices such as tape, and the function of pressing the tape is held in the tape carrier transfer area of the plasma discharge space on the tape transfer line using a pressing roll. As a result, the tape carrier is given a predetermined tension by this, and the warp of the tape carrier is significantly suppressed.

【0019】さらに、このテープを押さえる機能を果た
す押さえロールに、自身を冷却する機能を付加して、プ
ラズマ照射により発生する熱を放熱させているため、テ
ープ基材へのダメージを低減することができる。この結
果、ダミーテープをジョイントする耐熱性テープ部分が
到来して、そのテープ接着材が加熱された押さえロール
と接触したとしても、その溶剤成分が揮発することがな
くなり、従って揮発成分によりテープあるいはロールが
汚染される不都合を防止することができる。
Further, the pressing roll having a function of pressing the tape is provided with a function of cooling itself to radiate heat generated by plasma irradiation, so that damage to the tape base material can be reduced. it can. As a result, even if the heat-resistant tape portion joining the dummy tape arrives and the tape adhesive material comes into contact with the heated pressing roll, the solvent component does not evaporate, and therefore the tape or roll is formed by the volatile component. It is possible to prevent the inconvenience of being contaminated.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施形態に
基づいて説明する。 (実施形態1)図1に本発明の第1の実施形態に係る半
導体装置用テープキャリアの製造装置の概略を示す。こ
こで半導体装置用テープキャリアとしては、TABテー
プを例にする。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described below based on the illustrated embodiments. (Embodiment 1) FIG. 1 shows an outline of an apparatus for manufacturing a tape carrier for a semiconductor device according to a first embodiment of the present invention. Here, as a tape carrier for a semiconductor device, a TAB tape is taken as an example.

【0021】このTABテープの製造装置は、プラズマ
照射部1を有する松下電工マシンアンドビジョン製の大
気圧プラズマ装置(Aiplasma)2に、TABテープ巻出
し装置(巻出し部)3、TABテープ巻取り装置(巻取
り部)4、テープ支えロール5、TABテープを定速で
搬送させるためのロール(定速搬送ロール)6を備えた
構成を有する。さらに、この製造装置は、本発明の特徴
に従い、プラズマ放電空間部分のテープ搬送領域(テー
プキャリア搬送領域)においてTABテープ(基材テー
プ)8を上下から押さえて所定の張力を付与するための
押さえロール7を備えている。
This TAB tape manufacturing apparatus comprises an atmospheric pressure plasma device (Aiplasma) 2 manufactured by Matsushita Electric Works Machine and Vision, which has a plasma irradiation unit 1, a TAB tape unwinding device (unwinding unit) 3, and a TAB tape winding device. It has a configuration including an apparatus (winding unit) 4, a tape support roll 5, and a roll (constant speed transport roll) 6 for transporting the TAB tape at a constant speed. Further, according to the features of the present invention, this manufacturing apparatus holds the TAB tape (base tape) 8 from above and below in the tape transport region (tape carrier transport region) of the plasma discharge space to apply a predetermined tension. The roll 7 is provided.

【0022】定速搬送ロール6はテープキャリア搬送機
構を構成するもので、大気圧プラズマ装置2の入口側に
設けられTABテープ8の下側を支える入口側搬送ロー
ル6aと、出口側に一対設けられた出口側搬送ロール6
bとを有して構成されている。また、押さえロール7
は、プラズマ放電空間部分のテープ搬送領域にテープを
押さえて搬送させる機能を備えるものであり、プラズマ
照射部1に対応してその下方に位置する中央押さえロー
ル71と、この中央押さえロール71及び上記入口側搬
送ロール6a間に設けた前側押さえロール72と、そし
て中央押さえロール71及び上記出口側搬送ロール6b
間に設けた後側押さえロール73とを有して構成されて
いる。
The constant-speed transport roll 6 constitutes a tape carrier transport mechanism. The constant-speed transport roll 6 is provided on the inlet side of the atmospheric pressure plasma device 2 to support the lower side of the TAB tape 8 and a pair of transport rolls is provided on the outlet side. Exit side transport roll 6
and b. Also, the pressing roll 7
Has a function of pressing the tape in the tape transfer area of the plasma discharge space to transfer the tape, and a central pressing roll 71 located below the tape corresponding to the plasma irradiation unit 1, the central pressing roll 71, and the above-mentioned. The front pressing roll 72 provided between the inlet side conveying rolls 6a, the central pressing roll 71, and the outlet side conveying roll 6b.
It is configured to have a rear side pressing roll 73 provided therebetween.

【0023】TABテープ8は、巻出し装置3のロール
より巻き出され、定速搬送ロール6のテープ駆動ロール
(入口側搬送ロール6a及び出口側搬送ロール6b)に
より定速搬送されて、大気圧プラズマ装置2のプラズマ
照射部1の下方のプラズマ放電空間部分を通過し、大気
圧プラズマ装置2とTABテープ巻取り装置4との間に
設けたテープ支えロール5を経て、TABテープ巻取り
装置4の巻き取りロールにより巻き取られる。
The TAB tape 8 is unwound from the roll of the unwinding device 3 and is fed at a constant speed by the tape drive rolls (the inlet side feed roll 6a and the outlet side feed roll 6b) of the constant velocity feed roll 6 to the atmospheric pressure. The TAB tape winding device 4 passes through the plasma discharge space below the plasma irradiation part 1 of the plasma device 2 and passes through the tape support roll 5 provided between the atmospheric pressure plasma device 2 and the TAB tape winding device 4. It is taken up by the take-up roll.

【0024】大気圧プラズマ装置2を通過する際、TA
Bテープ8は、そのプラズマ照射部1を構成するプラズ
マ発生電極からのプラズマによる乾式洗浄処理を受け、
そのテープ表面が清浄化される。このとき図2に示すよ
うに、大気圧プラズマ装置2のプラズマ照射部1の通路
部分に押さえロール71がなく、大気圧プラズマ装置2
に入口側搬送ロール6aと出口側搬送ロール6bが設け
られているだけの構成であるとすると、プラズマ照射を
受けたTABテープ8に幅方向の反りが発生する。
When passing through the atmospheric pressure plasma device 2, TA
The B tape 8 is subjected to a dry cleaning treatment with plasma from the plasma generating electrode forming the plasma irradiation unit 1,
The tape surface is cleaned. At this time, as shown in FIG. 2, there is no pressing roll 71 in the passage portion of the plasma irradiation unit 1 of the atmospheric pressure plasma device 2,
If only the inlet-side transport roll 6a and the outlet-side transport roll 6b are provided in the sheet, the TAB tape 8 that has been irradiated with plasma is warped in the width direction.

【0025】しかし、本実施形態においては、大気圧プ
ラズマ装置2内の搬送路において、押さえロール7が設
けられているため、TABテープ8は、そのプラズマ照
射部1では下方から中央押さえロール71で平らに支持
されると共に、その搬送方向の前後では前側押さえロー
ル72と後側押さえロール73により平らに上方から押
さえられる結果、所定の張力が掛けられることとなり、
上記TABテープ8の反りの発生が大幅に抑えられる。
However, in this embodiment, since the pressing roll 7 is provided in the conveying path in the atmospheric pressure plasma apparatus 2, the TAB tape 8 is the central pressing roll 71 from below in the plasma irradiation section 1. While being supported flatly, as a result of being pressed flatly from above by the front side pressing roll 72 and the rear side pressing roll 73 in the front and rear in the transport direction, a predetermined tension is applied.
The warp of the TAB tape 8 is significantly suppressed.

【0026】本装置(図1)を用いて処理されたTAB
テープの反り量を、押さえロール7を用いない装置(図
2)と比較した結果を表1に示す。
TAB processed using this apparatus (FIG. 1)
Table 1 shows the results of comparing the amount of warp of the tape with the device (FIG. 2) not using the pressing roll 7.

【0027】[0027]

【表1】 [Table 1]

【0028】プラズマ処理前の48mm幅のTABテープ
を150mmの長さに切り取り、テープの幅方向の反りを
測定した所、反り量は1〜2mmであった。本TABテー
プを押さえロールを用いずにプラズマ処理を行ったケー
スでは、テープの反り量が6〜7mmに増加したが、本実
施形態の押さえロールを備えた装置でプラズマ処理を行
うことにより、反り量は2〜3mmと大幅に減少し、反り
低減に対する押さえロールの効果が確認された。 (実施形態2)図3に本発明の第2の実施形態に係る製
造装置の概略を示す。この製造装置は、上記第1の実施
形態と同じく、松下電工マシンアンドビジョン製の大気
圧プラズマ装置(Aiplasma)2にTABテープ巻出し装
置3、TABテープ巻取り装置4、テープ支えロール
5、テープを定速で搬送させるためのロール(定速搬送
ロール)6、テープを押さえるための押さえロール7を
備えている。押さえロール7は、プラズマ照射部1に対
応してその下方に位置する中央押さえロール71と、こ
の中央押さえロール71及び上記入口側搬送ロール6a
間に設けた前側押さえロール72と、そして中央押さえ
ロール71及び上記出口側搬送ロール6b間に設けた後
側押さえロール73とを有して構成されており、この点
も上記第1の実施形態と同じである。
A 48 mm wide TAB tape before plasma treatment was cut into a length of 150 mm and the warp in the width direction of the tape was measured. As a result, the amount of warp was 1 to 2 mm. In the case where the TAB tape was subjected to the plasma treatment without using the pressing roll, the amount of warp of the tape was increased to 6 to 7 mm. However, by performing the plasma treatment with the apparatus equipped with the pressing roll of the present embodiment, the warpage was increased. The amount was significantly reduced to 2-3 mm, and the effect of the press roll on the reduction of warpage was confirmed. (Embodiment 2) FIG. 3 schematically shows a manufacturing apparatus according to a second embodiment of the present invention. As in the first embodiment, this manufacturing apparatus includes an atmospheric pressure plasma device (Aiplasma) 2 manufactured by Matsushita Electric Works Machine and Vision, a TAB tape unwinding device 3, a TAB tape winding device 4, a tape support roll 5, and a tape. Is provided with a roll (constant speed transport roll) 6 for transporting the tape at a constant speed, and a pressing roll 7 for pressing the tape. The pressing roll 7 corresponds to the plasma irradiation unit 1 and is located below the central pressing roll 71, the central pressing roll 71, and the inlet side transport roll 6a.
It is configured to have a front pressing roll 72 provided between them, and a rear pressing roll 73 provided between the central pressing roll 71 and the outlet side transport roll 6b, and this point also relates to the first embodiment. Is the same as.

【0029】しかし、この図3の実施形態の場合、中央
押さえロール71は単なるローラとして構成されている
のではなく、プラズマ処理により発生する熱を汲み出し
放熱するための、冷却流体を流す流路を備えた押さえロ
ール7aから構成されており、この点で図1の形態と異
なる。この実施形態の場合、冷却流体を流す流路を備え
た押さえロール7aは、冷却水を流す管路を構成するパ
イプ状の押さえロール7aから成る。
However, in the case of the embodiment shown in FIG. 3, the central pressing roll 71 is not simply configured as a roller, but has a flow passage for flowing a cooling fluid for drawing out heat generated by plasma processing and radiating the heat. The press roll 7a is provided, which is different from the configuration shown in FIG. In the case of this embodiment, the pressing roll 7a provided with a flow path for flowing the cooling fluid is composed of a pipe-shaped pressing roll 7a forming a pipe path for flowing the cooling water.

【0030】TABテープ(基材)は、第1の実施形態
と同様に、巻出し装置3より巻き出され、定速搬送させ
るテープ駆動ロールである定速搬送ロール6(入口側搬
送ロール6a、出口側搬送ロール6b)により、プラズ
マ照射部1を通過してプラズマによる乾式洗浄を受けた
後、テープ支えロール5を経て、巻き取りロールにより
巻き取られる。その際、上述したように、TABテープ
8は、そのプラズマ照射部1に設けた中央押さえロール
71と、その搬送方向の前後に設けた前側押さえロール
72及び後側押さえロール73とにより上下から押さえ
られ、所定の張力が掛けられて、上記TABテープ8の
反りの発生が大幅に抑えられる。
Similar to the first embodiment, the TAB tape (base material) is unwound from the unwinding device 3 and is a tape-driving roll which is a tape-driving roll for constant-speed conveyance. After being passed through the plasma irradiation unit 1 and subjected to dry cleaning by plasma by the exit side transport roll 6b), it is taken up by the take-up roll through the tape support roll 5. At that time, as described above, the TAB tape 8 is pressed from above and below by the central pressing roll 71 provided in the plasma irradiation unit 1, and the front pressing roll 72 and the rear pressing roll 73 provided before and after in the transport direction. Then, a predetermined tension is applied, and the occurrence of warpage of the TAB tape 8 is significantly suppressed.

【0031】一方、本実施形態にあるような冷却機能付
きロールを押さえロール7として備えた装置を使用し
て、TABテープをプラズマ処理する構成において得ら
れる作用効果ないし利点は、次の様な点にある。
On the other hand, the operational effects or advantages obtained in the structure for plasma-processing the TAB tape by using the apparatus having the roll with cooling function as the pressing roll 7 according to the present embodiment are as follows. It is in.

【0032】すなわち、TABテープは長尺のためリー
ルに巻き付けられた形態をとっているが、製品の両端に
はダミーテープを使用している。このダミーテープとT
ABテープのジョイントには耐熱性テープが用いられる
が、このテープ接着材の溶剤成分がプラズマ処理時の熱
により加熱されたロールに接触することにより揮発し、
テープあるいはロールを汚染する場合がある。
That is, the TAB tape is long and is wound around a reel, but dummy tapes are used at both ends of the product. This dummy tape and T
A heat-resistant tape is used for the joint of the AB tape, but the solvent component of this tape adhesive volatilizes when it contacts the roll heated by the heat during the plasma treatment,
May contaminate tape or roll.

【0033】しかし、上記のようにプラズマ照射を受け
る中央押さえロール71に、冷却流体の流路を備えた押
さえロール7a等の冷却機能付きロールを用いると、プ
ラズマ照射によりTABテープ上に発生した熱が有効に
外部に汲み出され、良好に放熱されるため、テープ基材
へのダメージを低減することができる。この結果、ダミ
ーテープをTABテープの両端にジョイントする耐熱性
テープ部分が到来したときにおいても、テープ接着材の
溶剤成分がプラズマ処理時に加熱されたロールと接触し
て揮発することがなくなり、従って揮発成分によりテー
プあるいはロールが汚染されるという不都合が防止され
る。
However, when a roll having a cooling function such as a pressing roll 7a having a cooling fluid passage is used as the central pressing roll 71 which receives the plasma irradiation as described above, the heat generated on the TAB tape by the plasma irradiation is used. Is effectively pumped to the outside and radiated well, so that damage to the tape substrate can be reduced. As a result, even when the heat-resistant tape portion joining the dummy tape to both ends of the TAB tape arrives, the solvent component of the tape adhesive does not come into contact with the heated roll during the plasma treatment and volatilize, and therefore volatilizes. The inconvenience of tape or roll contamination by the components is prevented.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、次
のような優れた効果が得られる。
As described above, according to the present invention, the following excellent effects can be obtained.

【0035】請求項1又は3記載の発明によれば、TA
Bテープ等の半導体装置用テープキャリアを処理するプ
ラズマ処理に、大気圧下で処理できるプラズマ装置を用
い、テープ搬送ライン上におけるプラズマ放電空間部分
のテープキャリア搬送領域に、テープを押さえる機能を
押さえロールにて付与しているため、これによりテープ
キャリアに所定の張力が掛けられて、テープキャリアの
反りの発生が大幅に抑えられる。
According to the invention of claim 1 or 3, TA
For plasma processing of tape carriers for semiconductor devices such as B tapes, a plasma device that can be processed under atmospheric pressure is used, and the function of pressing the tape is held in the tape carrier transfer area of the plasma discharge space on the tape transfer line. As a result, the tape carrier is given a predetermined tension, and the occurrence of warpage of the tape carrier is significantly suppressed.

【0036】さらに請求項2又は4記載の発明によれ
ば、上記のテープを押さえる機能を果たす押さえロール
に、自身を冷却する機能を付加して、プラズマ照射によ
り発生する熱を放熱させているため、テープ基材へのダ
メージを低減することができる。この結果、ダミーテー
プをジョイントする耐熱性テープ部分が到来して、その
テープ接着材が加熱された押さえロールと接触したとし
ても、その溶剤成分が揮発することがなくなり、従って
揮発成分によりテープあるいはロールが汚染されるとい
う不都合を防止することができる。
Further, according to the invention of claim 2 or 4, since the function of cooling itself is added to the pressing roll having the function of pressing the tape, the heat generated by the plasma irradiation is radiated. It is possible to reduce damage to the tape base material. As a result, even if the heat-resistant tape portion joining the dummy tape arrives and the tape adhesive material comes into contact with the heated pressing roll, the solvent component does not evaporate, and therefore the tape or roll is formed by the volatile component. It is possible to prevent the inconvenience of being contaminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態に係る製造装置を示し
たもので、基材テープを押さえる機能を備えた常圧下で
処理できるプラズマ装置を具備した構成例を示す概略図
である。
FIG. 1 shows a manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention, and is a schematic view showing an example of a configuration including a plasma apparatus having a function of pressing a base tape and capable of performing processing under normal pressure.

【図2】本発明と対比される製造装置の構成例を示した
もので、基材テープを押さえる機能を備えていない常圧
下で処理できるプラズマ装置を用いた製造装置を示した
概略図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of the structure of a manufacturing apparatus to be compared with the present invention, and showing a manufacturing apparatus using a plasma device that does not have a function of pressing a base tape and can be processed under normal pressure. .

【図3】本発明の第2の実施形態に係る製造装置を示し
たもので、基材テープを押さえる機能を備えた常圧下で
処理できるプラズマ装置を具備した構成例を示す概略図
である。
FIG. 3 shows a manufacturing apparatus according to a second embodiment of the present invention, and is a schematic view showing an example of a configuration including a plasma apparatus having a function of pressing a base tape and capable of performing processing under normal pressure.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 プラズマ照射部 2 大気圧プラズマ装置 3 TABテープ巻出し装置(巻出し部) 4 TABテープ巻取り装置(巻取り部) 5 テープ支えロール 6 定速搬送ロール 6a 入口側搬送ロール 6b 出口側搬送ロール 7 押さえロール 7a パイプ状の押さえロール 71 中央押さえロール 72 前側押さえロール 73 後側押さえロール 8 TABテープ 1 Plasma irradiation part 2 Atmospheric pressure plasma equipment 3 TAB tape unwinding device (unwinding section) 4 TAB tape winding device (winding unit) 5 Tape support roll 6 constant speed transport roll 6a Entrance side transport roll 6b Exit side transport roll 7 Press roll 7a Pipe-shaped pressing roll 71 Central press roll 72 Front holding roll 73 Rear press roll 8 TAB tape

フロントページの続き (72)発明者 吉岡 修 茨城県日立市日高町5丁目1番1号 日立 電線株式会社総合技術研究所内 Fターム(参考) 5F044 MM02 MM06 MM48 MM49 Continued front page    (72) Inventor Osamu Yoshioka             Hitachi, 1-1 Hidaka-cho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture             Electric Cable Co., Ltd. F term (reference) 5F044 MM02 MM06 MM48 MM49

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】プラズマ処理による乾式洗浄工程を有する
半導体装置用テープキャリアの製造方法において、 前記工程に常圧下で処理可能なプラズマ処理装置を用
い、その内部のプラズマ放電空間部分にテープキャリア
を通過せしめ、 そのプラズマ放電空間部分のテープキャリア搬送領域で
は、押さえロールによりテープキャリアを押さえて所定
の張力を付与し、テープキャリアの幅方向の反りを防止
することを特徴とする半導体装置用テープキャリアの製
造方法。
1. A method of manufacturing a tape carrier for a semiconductor device having a dry cleaning step by plasma treatment, wherein a plasma processing apparatus capable of processing under atmospheric pressure is used in the step, and the tape carrier is passed through a plasma discharge space portion therein. In the tape carrier transportation area of the plasma discharge space, the tape carrier is pressed by a pressing roll to give a predetermined tension to prevent warpage in the width direction of the tape carrier. Production method.
【請求項2】前記押さえロールを冷却することを特徴と
する請求項1記載の半導体装置用テープキャリアの製造
方法。
2. The method of manufacturing a tape carrier for a semiconductor device according to claim 1, wherein the pressing roll is cooled.
【請求項3】プラズマ処理による乾式洗浄工程を有する
半導体装置用テープキャリアの製造装置において、 前記工程用に常圧下で処理可能なプラズマ処理装置を設
け、 その内部のプラズマ放電空間部分にテープキャリアを通
過せしめるテープキャリア搬送機構を設けると共に、 前記プラズマ放電空間部分のテープキャリア搬送領域に
テープキャリアを上下から押さえて所定の張力を付与
し、テープキャリアの幅方向の反りを防止する押さえロ
ールを設けたことを特徴とする半導体装置用テープキャ
リアの製造装置。
3. An apparatus for manufacturing a tape carrier for a semiconductor device, which has a dry cleaning step by plasma processing, wherein a plasma processing apparatus capable of processing under normal pressure is provided for the step, and the tape carrier is provided inside the plasma discharge space portion. A tape carrier transport mechanism for passing the tape carrier was provided, and a press roll was provided to prevent the tape carrier from warping in the width direction by pressing the tape carrier from above and below in the tape carrier transport area of the plasma discharge space to apply a predetermined tension. An apparatus for manufacturing a tape carrier for a semiconductor device, which is characterized in that
【請求項4】前記プラズマ放電空間部分のテープキャリ
ア搬送領域における押さえロールに、自身を冷却する機
構を備えたことを特徴とする請求項3記載の半導体装置
用テープキャリアの製造装置。
4. The apparatus for manufacturing a tape carrier for a semiconductor device according to claim 3, wherein the pressing roll in the tape carrier transporting region of the plasma discharge space portion is provided with a mechanism for cooling itself.
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