JP2003004421A - 光ファイバ歪み計測方法 - Google Patents
光ファイバ歪み計測方法Info
- Publication number
- JP2003004421A JP2003004421A JP2001189795A JP2001189795A JP2003004421A JP 2003004421 A JP2003004421 A JP 2003004421A JP 2001189795 A JP2001189795 A JP 2001189795A JP 2001189795 A JP2001189795 A JP 2001189795A JP 2003004421 A JP2003004421 A JP 2003004421A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- strain
- optical fiber
- length
- measured
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ファイバによる歪み計測を、精度および安
定度の悪化を招くことなく、より狭い領域で可能とす
る。 【解決手段】 光ファイバ１１を構造物１３に装着する
際に、被装着部として自由領域Ｆを設け、自由領域Ｆの
歪み値を０（零）に設定する。光ファイバ１１に、歪み
計測器１５から出力される所定長のパルス光Ｐを入射さ
せ、入射したパルス光Ｐのパルス長に対応した長さＬ＝
１ｍにおける被測定長部分での反射光であるブリルアン
散乱光の周波数分布を解析することで、被測定長部分
（長さＬ）の歪みを計測する。このとき、Ｌ＝１ｍをＸ
＝１０ｃｍずつずらして１ｍ毎の歪みを順次計測し、ε
０（Ｌ），ε１（Ｌ），ε２（Ｌ），……を得、この歪
み値相互の差ε１（Ｌ）−ε０（Ｌ）から、１０ｃｍ分
の歪みΔε０’（Ｘ）を求め、以後ε２（Ｌ）−ε
１（Ｌ），ε３（Ｌ）−ε２（Ｌ）……から、Δε１’
（Ｘ），Δε２’（Ｘ）……を順次求める。
定度の悪化を招くことなく、より狭い領域で可能とす
る。 【解決手段】 光ファイバ１１を構造物１３に装着する
際に、被装着部として自由領域Ｆを設け、自由領域Ｆの
歪み値を０（零）に設定する。光ファイバ１１に、歪み
計測器１５から出力される所定長のパルス光Ｐを入射さ
せ、入射したパルス光Ｐのパルス長に対応した長さＬ＝
１ｍにおける被測定長部分での反射光であるブリルアン
散乱光の周波数分布を解析することで、被測定長部分
（長さＬ）の歪みを計測する。このとき、Ｌ＝１ｍをＸ
＝１０ｃｍずつずらして１ｍ毎の歪みを順次計測し、ε
０（Ｌ），ε１（Ｌ），ε２（Ｌ），……を得、この歪
み値相互の差ε１（Ｌ）−ε０（Ｌ）から、１０ｃｍ分
の歪みΔε０’（Ｘ）を求め、以後ε２（Ｌ）−ε
１（Ｌ），ε３（Ｌ）−ε２（Ｌ）……から、Δε１’
（Ｘ），Δε２’（Ｘ）……を順次求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、光ファイバ内に
所定長のパルス信号からなる測定光を入射させ、この入
射した測定光のパルス長に対応した光ファイバの被測定
長部分での反射光の周波数分布を解析することにより、
被測定長部分の歪みを計測する光ファイバ歪み計測方法
に関する。
所定長のパルス信号からなる測定光を入射させ、この入
射した測定光のパルス長に対応した光ファイバの被測定
長部分での反射光の周波数分布を解析することにより、
被測定長部分の歪みを計測する光ファイバ歪み計測方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】被測定物となる構造物などの歪みを計測
するには、歪みゲージを構造物に取り付けて行う方法が
あるが、この方法は、歪みゲージとしてその長さが２ｃ
ｍ〜１０ｃｍと比較的短く、これに対応して狭い領域の
歪みを計測できる利点があるものの、構造物のほぼ全域
をモニタして歪み発生場所を検知するには、構造物に歪
みゲージを多数取り付けなければならず、事前の作業が
極めて煩雑なものとなる。
するには、歪みゲージを構造物に取り付けて行う方法が
あるが、この方法は、歪みゲージとしてその長さが２ｃ
ｍ〜１０ｃｍと比較的短く、これに対応して狭い領域の
歪みを計測できる利点があるものの、構造物のほぼ全域
をモニタして歪み発生場所を検知するには、構造物に歪
みゲージを多数取り付けなければならず、事前の作業が
極めて煩雑なものとなる。
【０００３】これに対し、構造物の計測したい領域に１
本の光ファイバを装着し、この光ファイバ内に、所定長
のパルス信号からなる測定光を入射させ、この入射した
測定光のパルス長に対応した光ファイバの被測定長部分
での反射光の周波数分布を解析することにより、被測定
長部分の歪みを計測し、これに基づき構造物の歪みを検
知するという、光ファイバを利用した歪み計測方法があ
る。
本の光ファイバを装着し、この光ファイバ内に、所定長
のパルス信号からなる測定光を入射させ、この入射した
測定光のパルス長に対応した光ファイバの被測定長部分
での反射光の周波数分布を解析することにより、被測定
長部分の歪みを計測し、これに基づき構造物の歪みを検
知するという、光ファイバを利用した歪み計測方法があ
る。
【０００４】図２は、光ファイバ内における入射光に対
する散乱光（反射光）の代表的なスペクトラムを示して
いる。このうちブリルアン散乱光は、単色性（コヒーレ
ンシー）が高い入射光が媒体中に生じる音波と相互作用
し、媒質固有の周波数だけずれるもので、この現象は、
ブリルアン周波数シフトと呼ばれている。
する散乱光（反射光）の代表的なスペクトラムを示して
いる。このうちブリルアン散乱光は、単色性（コヒーレ
ンシー）が高い入射光が媒体中に生じる音波と相互作用
し、媒質固有の周波数だけずれるもので、この現象は、
ブリルアン周波数シフトと呼ばれている。
【０００５】上記したブリルアン周波数シフトは、温度
による変化量が、歪みによる変化量に対して極めて少な
い（０．００２％／℃）ため、歪みによるブリルアン周
波数シフトの変化量を計測するうえで、温度変化が小さ
い場合（５℃）には、温度の影響を無視することができ
る。このため、ブリルアン周波数シフトの変化量を求め
ることにより、光ファイバに加わった歪みを計測するこ
とが可能となる。
による変化量が、歪みによる変化量に対して極めて少な
い（０．００２％／℃）ため、歪みによるブリルアン周
波数シフトの変化量を計測するうえで、温度変化が小さ
い場合（５℃）には、温度の影響を無視することができ
る。このため、ブリルアン周波数シフトの変化量を求め
ることにより、光ファイバに加わった歪みを計測するこ
とが可能となる。
【０００６】光ファイバ中のブリルアン散乱は、レーリ
ー散乱と比べて約２桁程度微弱なため、コヒーレント検
波技術、光周波数変換技術を採用した歪み計測器が採用
されている。
ー散乱と比べて約２桁程度微弱なため、コヒーレント検
波技術、光周波数変換技術を採用した歪み計測器が採用
されている。
【０００７】図３は、上記した歪み計測器の基本構成の
ブロック図である。光源１から発光した光周波数νの連
続光（信号光）は、光周波数変換器３によりΔνの周波
数シフトを受け、光パルス変調器５でパルス変調され、
光周波数ν＋Δνのパルス光Ｐとして光ファイバ７の片
端から入射される。パルス光Ｐの入射により、光ファイ
バ７の中で生じる後方散乱光の一つであるブリルアン散
乱光Ｂが発生し、このブリルアン散乱光Ｂと参照光と
が、高感度測定が可能なコヒーレント光受信器９に入力
される。コヒーレント光受信器９では、受信信号である
ブリルアン散乱光と参照光との周波数差を小さく制御す
る必要がある。ブリルアン散乱光Ｂは、発生過程で周波
数がシフトするため、あらかじめ光周波数変換器３を用
いて信号光の周波数をシフトしている。
ブロック図である。光源１から発光した光周波数νの連
続光（信号光）は、光周波数変換器３によりΔνの周波
数シフトを受け、光パルス変調器５でパルス変調され、
光周波数ν＋Δνのパルス光Ｐとして光ファイバ７の片
端から入射される。パルス光Ｐの入射により、光ファイ
バ７の中で生じる後方散乱光の一つであるブリルアン散
乱光Ｂが発生し、このブリルアン散乱光Ｂと参照光と
が、高感度測定が可能なコヒーレント光受信器９に入力
される。コヒーレント光受信器９では、受信信号である
ブリルアン散乱光と参照光との周波数差を小さく制御す
る必要がある。ブリルアン散乱光Ｂは、発生過程で周波
数がシフトするため、あらかじめ光周波数変換器３を用
いて信号光の周波数をシフトしている。
【０００８】上記したブリルアン散乱光Ｂは、光波と光
ファイバ７中の音波との相互作用により誘起されて光周
波数が下方にシフトされ、このときのブリルアン散乱光
Ｂの周波数シフト分布から光ファイバの歪み分布を測定
する。
ファイバ７中の音波との相互作用により誘起されて光周
波数が下方にシフトされ、このときのブリルアン散乱光
Ｂの周波数シフト分布から光ファイバの歪み分布を測定
する。
【０００９】図４は、ブリルアン散乱光の光周波数分布
を示している。実線ａが歪みなしの波形で破線ｂが歪み
ありの波形である。歪み量は、その周波数シフト量（ｆ
2−ｆ1）に比例することから、このシフト量を計測する
ことによって得ることができる。光ファイバ７内での計
測位置は、光パルスを光ファイバ７に入射してからその
散乱光が観測されるまでの時間を計ることによって求め
ることができる。
を示している。実線ａが歪みなしの波形で破線ｂが歪み
ありの波形である。歪み量は、その周波数シフト量（ｆ
2−ｆ1）に比例することから、このシフト量を計測する
ことによって得ることができる。光ファイバ７内での計
測位置は、光パルスを光ファイバ７に入射してからその
散乱光が観測されるまでの時間を計ることによって求め
ることができる。
【００１０】図５は、得られたブリルアン散乱光の波形
図である。光ファイバ７における位置Ｚ1からＺ2にわた
る歪み発生部分Ｚにおいて、ｆ1からｆ2に周波数シフト
しているのがわかる。このときの歪みεは周波数シフト
量に比例している。
図である。光ファイバ７における位置Ｚ1からＺ2にわた
る歪み発生部分Ｚにおいて、ｆ1からｆ2に周波数シフト
しているのがわかる。このときの歪みεは周波数シフト
量に比例している。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記した歪
み計測器は、歪み計測可能領域、すなわち最小距離分解
能が１ｍであり、これより短い距離の計測は精度および
安定性が期待できず、実用的ではない。このため、上記
した光ファイバを利用した歪み計測方法では、歪みゲー
ジを利用した方法に比べ、１本の光ファイバを構造物に
取り付ければよいので、事前のセンサ（光ファイバ）取
付作業の煩雑さを回避できるものの、より狭い領域の歪
みを計測できず、改善が望まれている。
み計測器は、歪み計測可能領域、すなわち最小距離分解
能が１ｍであり、これより短い距離の計測は精度および
安定性が期待できず、実用的ではない。このため、上記
した光ファイバを利用した歪み計測方法では、歪みゲー
ジを利用した方法に比べ、１本の光ファイバを構造物に
取り付ければよいので、事前のセンサ（光ファイバ）取
付作業の煩雑さを回避できるものの、より狭い領域の歪
みを計測できず、改善が望まれている。
【００１２】そこで、この発明は、光ファイバによる歪
み計測方法において、精度および安定性の悪化を伴うこ
となく、より狭い領域の歪み計測を可能とすることを目
的としている。
み計測方法において、精度および安定性の悪化を伴うこ
となく、より狭い領域の歪み計測を可能とすることを目
的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項１の発明は、光ファイバ内に所定長のパルス
信号からなる測定光を入射させ、この入射した測定光の
パルス長に対応した前記光ファイバの被測定長部分での
反射光の周波数分布を解析することにより、前記被測定
長部分の歪みを計測する光ファイバ歪み計測方法におい
て、前記光ファイバに、前記被測定長部分と同長でか
つ、歪み値が既知となっている自由領域を設け、この自
由領域から、光ファイバの長さ方向に沿って、前記被測
定長部分の長さＬを所定数ｎで除して得たＬ／ｎの長さ
分だけ順次ずらして前記自由領域を含む被測定長部分の
長さＬの歪みを順次計測し、この各計測値の相互に隣接
する被測定長部分の差を、前記自由領域側から順次算出
して、前記Ｌ／ｎの長さ分の光ファイバの歪みを連続し
て計測する歪み計測方法としてある。
に、請求項１の発明は、光ファイバ内に所定長のパルス
信号からなる測定光を入射させ、この入射した測定光の
パルス長に対応した前記光ファイバの被測定長部分での
反射光の周波数分布を解析することにより、前記被測定
長部分の歪みを計測する光ファイバ歪み計測方法におい
て、前記光ファイバに、前記被測定長部分と同長でか
つ、歪み値が既知となっている自由領域を設け、この自
由領域から、光ファイバの長さ方向に沿って、前記被測
定長部分の長さＬを所定数ｎで除して得たＬ／ｎの長さ
分だけ順次ずらして前記自由領域を含む被測定長部分の
長さＬの歪みを順次計測し、この各計測値の相互に隣接
する被測定長部分の差を、前記自由領域側から順次算出
して、前記Ｌ／ｎの長さ分の光ファイバの歪みを連続し
て計測する歪み計測方法としてある。
【００１４】請求項２の発明は、請求項１の発明の歪み
計測方法において、光ファイバの一部を被測定物に装着
し、この被測定物に装着していない部分の前記光ファイ
バに自由領域が設けられている。
計測方法において、光ファイバの一部を被測定物に装着
し、この被測定物に装着していない部分の前記光ファイ
バに自由領域が設けられている。
【００１５】請求項３の発明は、請求項１または２の発
明の歪み計測方法において、自由領域を含むＬ／ｎずつ
ずれた長さＬ分の歪み計測値を、前記自由領域側から順
に、ε０，ε１，ε２，……εｉ，……とし、前記自由
領域における測定光進行方向前方側の端部から、この前
方側ヘ向かう長さＬ／ｎずつの歪み値を、Δε０’，Δ
ε１’，Δε２’，……Δεｉ’，……とし、前記自由
領域における測定光の入射側端部から、測定光進行方向
前方側へ向かう長さＬ／ｎずつの歪み値を、Δε０，Δ
ε１，Δε２，……，Δεｉ，……とすると、 εｉ＋Δεｉ’＝εｉ＋１＋Δεｉ であり、この両辺を整理すると、 Δεｉ’−Δεｉ＝εｉ＋１−εｉ となる。
明の歪み計測方法において、自由領域を含むＬ／ｎずつ
ずれた長さＬ分の歪み計測値を、前記自由領域側から順
に、ε０，ε１，ε２，……εｉ，……とし、前記自由
領域における測定光進行方向前方側の端部から、この前
方側ヘ向かう長さＬ／ｎずつの歪み値を、Δε０’，Δ
ε１’，Δε２’，……Δεｉ’，……とし、前記自由
領域における測定光の入射側端部から、測定光進行方向
前方側へ向かう長さＬ／ｎずつの歪み値を、Δε０，Δ
ε１，Δε２，……，Δεｉ，……とすると、 εｉ＋Δεｉ’＝εｉ＋１＋Δεｉ であり、この両辺を整理すると、 Δεｉ’−Δεｉ＝εｉ＋１−εｉ となる。
【００１６】ここで、ｎ＝１０としたうえで、
Δε０’−Δε０＝ε１−ε０
Δε１’−Δε１＝ε２−ε１
Δε２’−Δε２＝ε３−ε２
：
：
：
Δε９’−Δε９＝ε１０−ε９
を第１の測定グループ式として、この式に自由領域の既
知の歪み値であるΔε０，Δε１，Δε２，……，Δε
９をそれぞれ代入して未知の歪み値Δε０’，Δ
ε１’，Δε２’，……，Δε９’を求め、この求めた
歪み値Δε０’，Δε１’，Δε２’，……，Δε９’
を、次の第２の測定グループ式 Δε１０’−Δε１０＝ε１１−ε１０ Δε１１’−Δε１１＝ε１２−ε１１ Δε１２’−Δε１２＝ε１３−ε１２ ： ： ： Δε１９’−Δε１９＝ε２０−ε１９ のΔε１０，Δε１１，Δε１２，……，Δε１９にそ
れぞれ代入してΔε１０’，Δε１１’，Δε１２’，
……，Δε１９’を求め、以後同様にして第ｍ（整数）
の測定グループ式で求めた歪み値を、第ｍ＋１の測定グ
ループ式にそれぞれ代入して、第ｍ＋１の測定グループ
式における未知の歪み値を順次求める。
知の歪み値であるΔε０，Δε１，Δε２，……，Δε
９をそれぞれ代入して未知の歪み値Δε０’，Δ
ε１’，Δε２’，……，Δε９’を求め、この求めた
歪み値Δε０’，Δε１’，Δε２’，……，Δε９’
を、次の第２の測定グループ式 Δε１０’−Δε１０＝ε１１−ε１０ Δε１１’−Δε１１＝ε１２−ε１１ Δε１２’−Δε１２＝ε１３−ε１２ ： ： ： Δε１９’−Δε１９＝ε２０−ε１９ のΔε１０，Δε１１，Δε１２，……，Δε１９にそ
れぞれ代入してΔε１０’，Δε１１’，Δε１２’，
……，Δε１９’を求め、以後同様にして第ｍ（整数）
の測定グループ式で求めた歪み値を、第ｍ＋１の測定グ
ループ式にそれぞれ代入して、第ｍ＋１の測定グループ
式における未知の歪み値を順次求める。
【００１７】請求項４の発明は、請求項１ないし３のい
ずれかの発明の歪み計測方法において、自由領域の歪み
値は、初期値として０（零）に設定されている。
ずれかの発明の歪み計測方法において、自由領域の歪み
値は、初期値として０（零）に設定されている。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づき説明する。
面に基づき説明する。
【００１９】図１は、この発明の実施の一形態に係わる
光ファイバ歪み計測方法を示す概略図である。１本の光
ファイバ１１は、その一部を被測定物である構造物１３
に装着してある。この光ファイバ１１の構造物１３より
図中で左側の被測定長部分に相当する１ｍの長さＬ分を
含む部分については、構造物１３に装着しておらず、そ
の長さＬ分を自由領域Ｆとしてある。
光ファイバ歪み計測方法を示す概略図である。１本の光
ファイバ１１は、その一部を被測定物である構造物１３
に装着してある。この光ファイバ１１の構造物１３より
図中で左側の被測定長部分に相当する１ｍの長さＬ分を
含む部分については、構造物１３に装着しておらず、そ
の長さＬ分を自由領域Ｆとしてある。
【００２０】上記した光ファイバ１１の端部Ｓから、前
記図３に示したものと同様な歪み計測器１５から出力さ
れる測定光としてのパルス光Ｐを入射させ、後方散乱光
であるブリルアン散乱光Ｂを歪み計測器１５が受光して
光ファイバ１１の歪みを計測し、これに基づき構造物１
３の歪みを検知する。
記図３に示したものと同様な歪み計測器１５から出力さ
れる測定光としてのパルス光Ｐを入射させ、後方散乱光
であるブリルアン散乱光Ｂを歪み計測器１５が受光して
光ファイバ１１の歪みを計測し、これに基づき構造物１
３の歪みを検知する。
【００２１】歪み計測器１５は、従来と同様に、光ファ
イバ１１における歪み計測領域をＬ＝１ｍとしてあり、
精度および安定性が維持されている。そして、この実施
の形態では、上記１ｍの領域の歪みを計測するにあた
り、この１ｍの計測領域をＸ＝１０ｃｍずつ順次ずらし
て計測する。この計測作業は、長さ１ｍの自由領域Ｆか
ら始め、この自由領域Ｆから順次１０ｃｍずつずらして
光ファイバ１１の反端側の端部Ｅまで行う。自由領域Ｆ
の１ｍの領域を第０測定部とし、以後１０ｃｍずつずれ
た１ｍの領域を第１測定部，第２測定部，……，第ｉ測
定部，……と呼ぶ。
イバ１１における歪み計測領域をＬ＝１ｍとしてあり、
精度および安定性が維持されている。そして、この実施
の形態では、上記１ｍの領域の歪みを計測するにあた
り、この１ｍの計測領域をＸ＝１０ｃｍずつ順次ずらし
て計測する。この計測作業は、長さ１ｍの自由領域Ｆか
ら始め、この自由領域Ｆから順次１０ｃｍずつずらして
光ファイバ１１の反端側の端部Ｅまで行う。自由領域Ｆ
の１ｍの領域を第０測定部とし、以後１０ｃｍずつずれ
た１ｍの領域を第１測定部，第２測定部，……，第ｉ測
定部，……と呼ぶ。
【００２２】ここで、自由領域Ｆの第０測定部の歪みを
ε０（Ｌ）とし、第１測定部以下の歪みを、それぞれε
１（Ｌ），ε２（Ｌ），……，εｉ（Ｌ），……とす
る。上記自由領域Ｆは、構造物１３に装着されていない
部分であるので、この自由領域Ｆの歪みの発生はないも
のとし、したがって歪みε０（Ｌ）＝０（零）であり、
これを初期値として設定する。
ε０（Ｌ）とし、第１測定部以下の歪みを、それぞれε
１（Ｌ），ε２（Ｌ），……，εｉ（Ｌ），……とす
る。上記自由領域Ｆは、構造物１３に装着されていない
部分であるので、この自由領域Ｆの歪みの発生はないも
のとし、したがって歪みε０（Ｌ）＝０（零）であり、
これを初期値として設定する。
【００２３】また、自由領域Ｆより図中で右側の１０ｃ
ｍの領域の歪みをΔε０’（Ｘ）とし、第１測定部以下
の各測定部の右側の１０ｃｍの領域の歪みを、それぞれ
Δε １’（Ｘ），Δε２’（Ｘ），……Δεｉ’
（Ｘ），……とする。すなわち、この歪みΔε０’
（Ｘ），Δε１’（Ｘ），Δε２’（Ｘ），……Δ
εｉ’（Ｘ），……は、自由領域Ｆにおけるパルス光Ｐ
の進行方向前方側の端部から、この前方側ヘ向かう長さ
Ｘ＝１０ｃｍずつの歪み値に相当する。
ｍの領域の歪みをΔε０’（Ｘ）とし、第１測定部以下
の各測定部の右側の１０ｃｍの領域の歪みを、それぞれ
Δε １’（Ｘ），Δε２’（Ｘ），……Δεｉ’
（Ｘ），……とする。すなわち、この歪みΔε０’
（Ｘ），Δε１’（Ｘ），Δε２’（Ｘ），……Δ
εｉ’（Ｘ），……は、自由領域Ｆにおけるパルス光Ｐ
の進行方向前方側の端部から、この前方側ヘ向かう長さ
Ｘ＝１０ｃｍずつの歪み値に相当する。
【００２４】さらに、第１測定部以下の各測定部の図中
で左側の１０ｃｍの範囲の歪みを、それぞれΔε
０（Ｘ），Δε１（Ｘ），……Δεｉ（Ｘ），……とす
る。すなわち、この歪みΔε０（Ｘ），Δε１（Ｘ），
……Δεｉ（Ｘ），……は、自由領域Ｆにおけるパルス
光Ｐの入射側端部から、パルス光Ｐの進行方向前方側へ
向かう長さＸ＝１０ｃｍずつの歪み値に相当する。
で左側の１０ｃｍの範囲の歪みを、それぞれΔε
０（Ｘ），Δε１（Ｘ），……Δεｉ（Ｘ），……とす
る。すなわち、この歪みΔε０（Ｘ），Δε１（Ｘ），
……Δεｉ（Ｘ），……は、自由領域Ｆにおけるパルス
光Ｐの入射側端部から、パルス光Ｐの進行方向前方側へ
向かう長さＸ＝１０ｃｍずつの歪み値に相当する。
【００２５】そして、自由領域Ｆの右側の１０ｃｍの領
域の歪みΔε０’（Ｘ）は、ε１（Ｌ）−ε０（Ｌ）に
よって求めることができる。つまり、Δε０’（Ｘ）＝
ε１（Ｌ）−ε０（Ｌ）である。これは、前述したよう
に自由領域Ｆのε０（Ｌ）＝０であり、またε１（Ｌ）
の歪みが発生している１ｍの領域（第１測定部）は、構
造物１３に装着されている右側１０ｃｍを除く左側９０
ｃｍの領域が、自由領域Ｆであって歪みがない領域であ
るので、ε１（Ｌ）−ε０（Ｌ）によってΔε ０’
（Ｘ）が求められるのである。
域の歪みΔε０’（Ｘ）は、ε１（Ｌ）−ε０（Ｌ）に
よって求めることができる。つまり、Δε０’（Ｘ）＝
ε１（Ｌ）−ε０（Ｌ）である。これは、前述したよう
に自由領域Ｆのε０（Ｌ）＝０であり、またε１（Ｌ）
の歪みが発生している１ｍの領域（第１測定部）は、構
造物１３に装着されている右側１０ｃｍを除く左側９０
ｃｍの領域が、自由領域Ｆであって歪みがない領域であ
るので、ε１（Ｌ）−ε０（Ｌ）によってΔε ０’
（Ｘ）が求められるのである。
【００２６】また、Δε１’（Ｘ）は、ε２（Ｌ）−ε
１（Ｌ）によって求められる。すなわち、Δε１’
（Ｘ）＝ε２（Ｌ）−ε１（Ｌ）である。この場合、求
める歪み値Δε１’（Ｘ）は、この歪み値を有する１０
ｃｍの領域の左側の１０ｃｍの領域の歪み値Δε０’
（Ｘ）が、前述したように、Δε０’（Ｘ）＝ε
１（Ｌ）−ε０（Ｌ）により既知となっており、またΔ
ε０’（Ｘ）の歪み値を有する１０ｃｍの領域より左側
は自由領域Ｆであるので歪み値は０であり、したがって
ε２（Ｌ）−ε１（Ｌ）によって、ε１（Ｌ）の歪みが
発生している第１測定部より右側１０ｃｍの領域の歪み
Δε１’（Ｘ）が求められることになる。
１（Ｌ）によって求められる。すなわち、Δε１’
（Ｘ）＝ε２（Ｌ）−ε１（Ｌ）である。この場合、求
める歪み値Δε１’（Ｘ）は、この歪み値を有する１０
ｃｍの領域の左側の１０ｃｍの領域の歪み値Δε０’
（Ｘ）が、前述したように、Δε０’（Ｘ）＝ε
１（Ｌ）−ε０（Ｌ）により既知となっており、またΔ
ε０’（Ｘ）の歪み値を有する１０ｃｍの領域より左側
は自由領域Ｆであるので歪み値は０であり、したがって
ε２（Ｌ）−ε１（Ｌ）によって、ε１（Ｌ）の歪みが
発生している第１測定部より右側１０ｃｍの領域の歪み
Δε１’（Ｘ）が求められることになる。
【００２７】
以下、同様にして、Δε２’（Ｘ）＝ε３（Ｌ）−ε２（Ｌ）
Δε３’（Ｘ）＝ε４（Ｌ）−ε３（Ｌ）
：
：
：
Δε９’（Ｘ）＝ε１０（Ｌ）−ε９（Ｌ）
となる。
【００２８】また、Δε１０’（Ｘ）を求める際には、
ε１０（Ｌ）の歪み値を有する第１０測定部の全域が、
自由領域Ｆから外れた位置にあるので、 Δε１０’（Ｘ）＝ε１１（Ｌ）−ε１０（Ｌ）−Δε
１０（Ｘ） となる。ここでΔε１０（Ｘ）は、既知となっているΔ
ε０’（Ｘ）に等しいので、 Δε１０’（Ｘ）＝ε１１（Ｌ）−ε１０（Ｌ）−Δε
０’（Ｘ） によってΔε１０’（Ｘ）を求めることができる。
ε１０（Ｌ）の歪み値を有する第１０測定部の全域が、
自由領域Ｆから外れた位置にあるので、 Δε１０’（Ｘ）＝ε１１（Ｌ）−ε１０（Ｌ）−Δε
１０（Ｘ） となる。ここでΔε１０（Ｘ）は、既知となっているΔ
ε０’（Ｘ）に等しいので、 Δε１０’（Ｘ）＝ε１１（Ｌ）−ε１０（Ｌ）−Δε
０’（Ｘ） によってΔε１０’（Ｘ）を求めることができる。
【００２９】
以下同様にして、Δε１１（Ｘ）＝Δε１’（Ｘ）
Δε１２（Ｘ）＝Δε２’（Ｘ）
Δε１３（Ｘ）＝Δε３’（Ｘ）
：
：
：
となるので、
Δε１１’（Ｘ）＝ε１２（Ｌ）−ε１１（Ｌ）−Δε１’（Ｘ）
Δε１２’（Ｘ）＝ε１３（Ｌ）−ε１２（Ｌ）−Δε２’（Ｘ）
Δε１３’（Ｘ）＝ε１４（Ｌ）−ε１３（Ｌ）−Δε３’（Ｘ）
によって、第１１測定部の右側の１０ｃｍの歪み値Δε
１１’，第１２測定部の右側の１０ｃｍの歪み値Δε
１２’，第１３測定部の右側の１０ｃｍの歪み値Δε
１３’……をそれぞれ求めることができる。
１１’，第１２測定部の右側の１０ｃｍの歪み値Δε
１２’，第１３測定部の右側の１０ｃｍの歪み値Δε
１３’……をそれぞれ求めることができる。
【００３０】このように、光ファイバ１１に、構造物１
３に装着しない自由領域Ｆを設け、この自由領域Ｆの歪
み値を初期値０に設定したうえで、自由領域Ｆを始めと
して１ｍの領域の歪みを１０ｃｍずつ順次計測し、図中
で右側の１ｍの歪み値と隣接する左側１ｍの領域の歪み
値との差により、１０ｃｍの領域の歪みを、連続して求
めることができる。これにより、従来の歪みゲージによ
る歪み計測方法のように、より狭い領域の歪み測定が可
能となり、歪み発生部位の特定をより正確に行うことが
できる。しかも、この場合、１本の光ファイバ１１を構
造物１３に取り付ければよく、歪みゲージのように、多
数のゲージを構造物に取り付けるという煩雑な事前作業
が不要である。
３に装着しない自由領域Ｆを設け、この自由領域Ｆの歪
み値を初期値０に設定したうえで、自由領域Ｆを始めと
して１ｍの領域の歪みを１０ｃｍずつ順次計測し、図中
で右側の１ｍの歪み値と隣接する左側１ｍの領域の歪み
値との差により、１０ｃｍの領域の歪みを、連続して求
めることができる。これにより、従来の歪みゲージによ
る歪み計測方法のように、より狭い領域の歪み測定が可
能となり、歪み発生部位の特定をより正確に行うことが
できる。しかも、この場合、１本の光ファイバ１１を構
造物１３に取り付ければよく、歪みゲージのように、多
数のゲージを構造物に取り付けるという煩雑な事前作業
が不要である。
【００３１】次に、上記したＸ＝１０ｃｍの領域の歪み
を、連立方程式を用いて順次求める方法を説明する。例
えば、第２測定部の歪みε２（Ｌ）とその右側１０ｃｍ
の歪みΔε２’（Ｘ）との和は、第３測定部の歪みε３
（Ｌ）とその左側１０ｃｍの歪みΔε２（Ｘ）との和に
等しい。つまり、 ε２（Ｌ）＋Δε２’（Ｘ）＝ε３（Ｌ）＋Δε
２（Ｘ） である。
を、連立方程式を用いて順次求める方法を説明する。例
えば、第２測定部の歪みε２（Ｌ）とその右側１０ｃｍ
の歪みΔε２’（Ｘ）との和は、第３測定部の歪みε３
（Ｌ）とその左側１０ｃｍの歪みΔε２（Ｘ）との和に
等しい。つまり、 ε２（Ｌ）＋Δε２’（Ｘ）＝ε３（Ｌ）＋Δε
２（Ｘ） である。
【００３２】この式を、第ｉ測定部と第ｉ＋１測定部と
の間で考えると、 εｉ（Ｌ）＋Δεｉ’（Ｘ）＝εｉ＋１（Ｌ）＋Δεｉ
（Ｘ） となり、両辺を入れ替え整理すると、 Δεｉ’（Ｘ）−Δεｉ（Ｘ）＝εｉ＋１（Ｌ）−εｉ
（Ｌ） となる。この式において、（Ｌ）および（Ｘ）を省略し
たものが次式である。
の間で考えると、 εｉ（Ｌ）＋Δεｉ’（Ｘ）＝εｉ＋１（Ｌ）＋Δεｉ
（Ｘ） となり、両辺を入れ替え整理すると、 Δεｉ’（Ｘ）−Δεｉ（Ｘ）＝εｉ＋１（Ｌ）−εｉ
（Ｌ） となる。この式において、（Ｌ）および（Ｘ）を省略し
たものが次式である。
【００３３】Δεｉ’−Δεｉ＝εｉ＋１−εｉ
この式において、i＝０，１，２，……にそれぞれ置き
換え、１０個の式を一つのグループとして、第１の測定
グループ式，第２の測定グループ式，第３の測定グルー
プ式，………とすると、次のようになる。
換え、１０個の式を一つのグループとして、第１の測定
グループ式，第２の測定グループ式，第３の測定グルー
プ式，………とすると、次のようになる。
【００３４】（１）第１の測定グループ式
Δε０’−Δε０＝ε１−ε０
Δε１’−Δε１＝ε２−ε１
Δε２’−Δε２＝ε３−ε２
：
：
：
Δε９’−Δε９＝ε１０−ε９
（２）第２の測定グループ式
Δε１０’−Δε１０＝ε１１−ε１０
Δε１１’−Δε１１＝ε１２−ε１１
Δε１２’−Δε１２＝ε１３−ε１２
：
：
：
Δε１９’−Δε１９＝ε２０−ε１９
（３）第３の測定グループ式
Δε２０’−Δε２０＝ε２１−ε２０
Δε２１’−Δε２１＝ε２２−ε２１
Δε２２’−Δε２２＝ε２３−ε２２
：
：
：
Δε２９’−Δε２９＝ε３０−ε２９
（４）第４の測定グループ式
：
：
：
となる。
【００３５】ここで、第１の測定グループ式（１）にお
いて、Δε０，Δε１，Δε２，……Δε９は、自由領
域Ｆでのものであることから、歪み値は０（零）であっ
て、０の初期値が与えられ、この初期値０を第１の測定
グループ式に代入すると、 Δε０’＝ε１−ε０ Δε１’＝ε２−ε１ Δε２’＝ε３−ε２ ： ： ： Δε９’＝ε１０−ε９ となる。これにより、Δε０’からΔε９’までの１０
個の各１０ｃｍの領域の歪みが求められる。
いて、Δε０，Δε１，Δε２，……Δε９は、自由領
域Ｆでのものであることから、歪み値は０（零）であっ
て、０の初期値が与えられ、この初期値０を第１の測定
グループ式に代入すると、 Δε０’＝ε１−ε０ Δε１’＝ε２−ε１ Δε２’＝ε３−ε２ ： ： ： Δε９’＝ε１０−ε９ となる。これにより、Δε０’からΔε９’までの１０
個の各１０ｃｍの領域の歪みが求められる。
【００３６】上記したΔε０’からΔε９’までの既知
となった１０個の歪み値は、図１から明らかなように、
第２の測定グループ式におけるΔε１０からΔε１９ま
での１０個の各１０ｃｍの領域の歪み値にそれぞれ等し
い。つまり、Δε０’＝Δε １０，Δε１’＝Δ
ε１１，Δε２’＝Δε１２，……，Δε９’＝Δε
１９である。
となった１０個の歪み値は、図１から明らかなように、
第２の測定グループ式におけるΔε１０からΔε１９ま
での１０個の各１０ｃｍの領域の歪み値にそれぞれ等し
い。つまり、Δε０’＝Δε １０，Δε１’＝Δ
ε１１，Δε２’＝Δε１２，……，Δε９’＝Δε
１９である。
【００３７】したがって、第１の測定グループ式から求
められた既知のΔε０’〜Δε９’を、この値に等しい
第２の測定グループ式中のΔε１０〜Δε１９にそれぞ
れ代入することで、Δε１０’からΔε１９’までの１
０個の各１０ｃｍの領域の歪みが求められる。つまり、 Δε１０’＝ε１１−ε１０＋Δε０’ Δε１１’＝ε１２−ε１１＋Δε１’ Δε１２’＝ε１３−ε１２＋Δε２’ ： ： ： Δε１９’＝ε２０−ε１９＋Δε９’ となる。
められた既知のΔε０’〜Δε９’を、この値に等しい
第２の測定グループ式中のΔε１０〜Δε１９にそれぞ
れ代入することで、Δε１０’からΔε１９’までの１
０個の各１０ｃｍの領域の歪みが求められる。つまり、 Δε１０’＝ε１１−ε１０＋Δε０’ Δε１１’＝ε１２−ε１１＋Δε１’ Δε１２’＝ε１３−ε１２＋Δε２’ ： ： ： Δε１９’＝ε２０−ε１９＋Δε９’ となる。
【００３８】同様にして、この求めた第２のグループ式
のΔε１０’〜Δε１９’は、第３の測定グループ式に
おけるΔε２０からΔε２９までの１０個の各１０ｃｍ
の領域の歪み値にそれぞれ等しいので、既知のΔ
ε１０’〜Δε１９’を、この値に等しい第３の測定グ
ループ式中のΔε２０〜Δε２９にそれぞれ代入するこ
とで、Δε２０’からΔε２９’までの１０個の各１０
ｃｍの領域の歪みが求められる。
のΔε１０’〜Δε１９’は、第３の測定グループ式に
おけるΔε２０からΔε２９までの１０個の各１０ｃｍ
の領域の歪み値にそれぞれ等しいので、既知のΔ
ε１０’〜Δε１９’を、この値に等しい第３の測定グ
ループ式中のΔε２０〜Δε２９にそれぞれ代入するこ
とで、Δε２０’からΔε２９’までの１０個の各１０
ｃｍの領域の歪みが求められる。
【００３９】このように、前のグループ式で求めた１０
ｃｍの領域の１０個のそれぞれの歪み値が、次のグルー
プ式中にそれぞれ存在するので、前のグループ式中の既
知の歪み値を、次のグループ式中に順次代入すること
で、次のグループ式中の１０ｃｍの領域の１０個の未知
の歪み値を順次求めることができる。このようにして各
グループ式相互で連立方程式を立てて、それを解くこと
で、光ファイバ１１における１０ｃｍ毎の歪み値が連続
して求められることとなる。
ｃｍの領域の１０個のそれぞれの歪み値が、次のグルー
プ式中にそれぞれ存在するので、前のグループ式中の既
知の歪み値を、次のグループ式中に順次代入すること
で、次のグループ式中の１０ｃｍの領域の１０個の未知
の歪み値を順次求めることができる。このようにして各
グループ式相互で連立方程式を立てて、それを解くこと
で、光ファイバ１１における１０ｃｍ毎の歪み値が連続
して求められることとなる。
【００４０】なお、上記実施の形態では、歪み計測器１
５の最小距離分解能が１ｍであることから、歪み計測領
域をＬ＝１ｍとしてあるが、精度および安定性が期待で
きるものがあれば、上記Ｌを１ｍより短い距離としても
よく、逆に長い距離としてもよい。また、歪み計測領域
Ｌを、Ｘ＝１０ｃｍずつ順次ずらして計測しているが、
このずらす長さは、１０ｃｍに限るものではなく、Ｌを
均等に分割できる長さであれば構わない。さらに、初期
値となる既知の歪み値についても、０（零）に限るもの
ではない。また、光ファイバ１１における長さＬ分の自
由領域Ｆは、構造物１３より、図１中で左側であればよ
く、図１の位置に限定されるものではない。
５の最小距離分解能が１ｍであることから、歪み計測領
域をＬ＝１ｍとしてあるが、精度および安定性が期待で
きるものがあれば、上記Ｌを１ｍより短い距離としても
よく、逆に長い距離としてもよい。また、歪み計測領域
Ｌを、Ｘ＝１０ｃｍずつ順次ずらして計測しているが、
このずらす長さは、１０ｃｍに限るものではなく、Ｌを
均等に分割できる長さであれば構わない。さらに、初期
値となる既知の歪み値についても、０（零）に限るもの
ではない。また、光ファイバ１１における長さＬ分の自
由領域Ｆは、構造物１３より、図１中で左側であればよ
く、図１の位置に限定されるものではない。
【００４１】
【発明の効果】以上説明してきたように、請求項１の発
明によれば、光ファイバに、被測定長部分と同長でか
つ、歪み値が既知となっている自由領域を設け、この自
由領域から、光ファイバの長さ方向に沿って、被測定長
部分の長さＬを所定数ｎで除して得たＬ／ｎの長さ分だ
け順次ずらして自由領域を含む被測定長部分の長さＬの
歪みを順次計測し、この各計測値の相互に隣接する被測
定長部分の差を、自由領域側から順次算出して、Ｌ／ｎ
の長さ分の光ファイバの歪みを連続して計測するように
したので、被測定長部分に対し、より短い領域の歪み計
測を、精度および安定度の悪化を伴うことなく、行うこ
とができる。
明によれば、光ファイバに、被測定長部分と同長でか
つ、歪み値が既知となっている自由領域を設け、この自
由領域から、光ファイバの長さ方向に沿って、被測定長
部分の長さＬを所定数ｎで除して得たＬ／ｎの長さ分だ
け順次ずらして自由領域を含む被測定長部分の長さＬの
歪みを順次計測し、この各計測値の相互に隣接する被測
定長部分の差を、自由領域側から順次算出して、Ｌ／ｎ
の長さ分の光ファイバの歪みを連続して計測するように
したので、被測定長部分に対し、より短い領域の歪み計
測を、精度および安定度の悪化を伴うことなく、行うこ
とができる。
【００４２】請求項２の発明によれば、一部が被測定物
に装着されている光ファイバの、被測定物に装着されて
いない部分に自由領域が設けられているので、光ファイ
バの歪みを計測することで、被測定物の歪みを短い領域
について、歪みゲージを用いることなく検知することが
できる。
に装着されている光ファイバの、被測定物に装着されて
いない部分に自由領域が設けられているので、光ファイ
バの歪みを計測することで、被測定物の歪みを短い領域
について、歪みゲージを用いることなく検知することが
できる。
【００４３】請求項３の発明によれば、前のグループ式
で求めたＬ／ｎの領域の１０個のそれぞれの歪み値が、
次のグループ式中にそれぞれ存在するので、前のグルー
プ式中の既知の歪み値を、次のグループ式中に順次代入
することで、次のグループ式中のＬ／ｎの領域の１０個
の未知の歪み値を順次求めることができ、各グループ式
相互で連立方程式を立てて、それを解くことで、光ファ
イバにおけるＬ／ｎの領域毎の歪み値を容易に連続して
求めることができる。
で求めたＬ／ｎの領域の１０個のそれぞれの歪み値が、
次のグループ式中にそれぞれ存在するので、前のグルー
プ式中の既知の歪み値を、次のグループ式中に順次代入
することで、次のグループ式中のＬ／ｎの領域の１０個
の未知の歪み値を順次求めることができ、各グループ式
相互で連立方程式を立てて、それを解くことで、光ファ
イバにおけるＬ／ｎの領域毎の歪み値を容易に連続して
求めることができる。
【００４４】請求項４の発明によれば、自由領域の既知
の歪み値は、初期値として０（零）に設定されているの
で、未知のＬ／ｎの領域の歪み値を容易に求めることが
できる。
の歪み値は、初期値として０（零）に設定されているの
で、未知のＬ／ｎの領域の歪み値を容易に求めることが
できる。
【図１】この発明の実施の一形態に係わる光ファイバ歪
み計測方法を示す概略図である。
み計測方法を示す概略図である。
【図２】光ファイバ内における入射光に対する散乱光の
代表的なスペクトラム特性図である。
代表的なスペクトラム特性図である。
【図３】歪み計測器の基本構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図４】ブリルアン散乱光の光周波数分布特性図であ
る。
る。
【図５】ブリルアン散乱光の波形図である。
１１ 光ファイバ
１３ 構造物（被測定物）
Ｐ パルス光（測定光）
Ｌ 被測定長部分の長さ
Ｆ 自由領域
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 堀内 辰夫
東京都中央区日本橋浜町２−31−１ エ
ヌ・ティ・ティ・インフラネット株式会社
内
Ｆターム(参考） 2F065 AA65 DD03 FF41 GG04 LL02
UU05
Claims (4)
- 【請求項１】 光ファイバ内に所定長のパルス信号から
なる測定光を入射させ、この入射した測定光のパルス長
に対応した前記光ファイバの被測定長部分での反射光の
周波数分布を解析することにより、前記被測定長部分の
歪みを計測する光ファイバ歪み計測方法において、前記
光ファイバに、前記被測定長部分と同長でかつ、歪み値
が既知となっている自由領域を設け、この自由領域か
ら、光ファイバの長さ方向に沿って、前記被測定長部分
の長さＬを所定数ｎで除して得たＬ／ｎの長さ分だけ順
次ずらして前記自由領域を含む被測定長部分の長さＬの
歪みを順次計測し、この各計測値の相互に隣接する被測
定長部分の差を、前記自由領域側から順次算出して、前
記Ｌ／ｎの長さ分の光ファイバの歪みを連続して計測す
ることを特徴とする光ファイバ歪み計測方法。 - 【請求項２】 光ファイバの一部を被測定物に装着し、
この被測定物に装着していない部分の前記光ファイバに
自由領域が設けられていることを特徴とする請求項１記
載の光ファイバ歪み計測方法。 - 【請求項３】 自由領域を含むＬ／ｎずつずれた長さＬ
分の歪み計測値を、前記自由領域側から順に、ε０，ε
１，ε２，……εｉ，……とし、前記自由領域における
測定光進行方向前方側の端部から、この前方側ヘ向かう
長さＬ／ｎずつの歪み値を、Δε０’，Δε１’，Δε
２’，……Δεｉ’，……とし、前記自由領域における
測定光の入射側端部から、測定光進行方向前方側へ向か
う長さＬ／ｎずつの歪み値を、Δε０，Δε１，Δ
ε２，……，Δεｉ，……とすると、 εｉ＋Δεｉ’＝εｉ＋１＋Δεｉ であり、この両辺を整理すると、 Δεｉ’−Δεｉ＝εｉ＋１−εｉ となる。ここで、ｎ＝１０としたうえで、 Δε０’−Δε０＝ε１−ε０ Δε１’−Δε１＝ε２−ε１ Δε２’−Δε２＝ε３−ε２ ： ： ： Δε９’−Δε９＝ε１０−ε９ を第１の測定グループ式として、この式に自由領域の既
知の歪み値であるΔε０，Δε１，Δε２，……，Δε
９をそれぞれ代入して未知の歪み値Δε０’，Δ
ε１’，Δε２’，……，Δε９’を求め、この求めた
歪み値Δε０’，Δε１’，Δε２’，……，Δε９’
を、次の第２の測定グループ式 Δε１０’−Δε１０＝ε１１−ε１０ Δε１１’−Δε１１＝ε１２−ε１１ Δε１２’−Δε１２＝ε１３−ε１２ ： ： ： Δε１９’−Δε１９＝ε２０−ε１９ のΔε１０，Δε１１，Δε１２，……，Δε１９にそ
れぞれ代入してΔε１０’，Δε１１’，Δε１２’，
……，Δε１９’を求め、以後同様にして第ｍ（整数）
の測定グループ式で求めた歪み値を、第ｍ＋１の測定グ
ループ式にそれぞれ代入して、第ｍ＋１の測定グループ
式における未知の歪み値を順次求めることを特徴とする
請求項１または２記載の光ファイバ歪み計測方法。 - 【請求項４】 自由領域の歪み値は、初期値として０
（零）に設定されていることを特徴とする請求項１ない
し３のいずれかに記載の光ファイバ歪み計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001189795A JP2003004421A (ja) | 2001-06-22 | 2001-06-22 | 光ファイバ歪み計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001189795A JP2003004421A (ja) | 2001-06-22 | 2001-06-22 | 光ファイバ歪み計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003004421A true JP2003004421A (ja) | 2003-01-08 |
Family
ID=19028663
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001189795A Pending JP2003004421A (ja) | 2001-06-22 | 2001-06-22 | 光ファイバ歪み計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003004421A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009020003A (ja) * | 2007-07-12 | 2009-01-29 | Nippon Steel & Sumikin Welding Co Ltd | 光ファイバセンサ及び歪観測システム |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000074697A (ja) * | 1998-06-19 | 2000-03-14 | Mitsubishi Electric Corp | 測定装置 |
| JP2000121327A (ja) * | 1998-10-09 | 2000-04-28 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 歪計測装置及び方法 |
-
2001
- 2001-06-22 JP JP2001189795A patent/JP2003004421A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000074697A (ja) * | 1998-06-19 | 2000-03-14 | Mitsubishi Electric Corp | 測定装置 |
| JP2000121327A (ja) * | 1998-10-09 | 2000-04-28 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 歪計測装置及び方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009020003A (ja) * | 2007-07-12 | 2009-01-29 | Nippon Steel & Sumikin Welding Co Ltd | 光ファイバセンサ及び歪観測システム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6824784B2 (ja) | 温度・歪センシング装置及び温度・歪センシング方法 | |
| US7719689B2 (en) | AE/ultrasound detection system, and material monitoring apparatus and nondestructive inspection apparatus equipped the system | |
| US8496376B2 (en) | Dual source auto-correction in distributed temperature systems | |
| US5945666A (en) | Hybrid fiber bragg grating/long period fiber grating sensor for strain/temperature discrimination | |
| JP3440721B2 (ja) | 多点型歪み及び温度センサ | |
| JP3780322B2 (ja) | 分布型の歪み及び温度センシングシステム | |
| US20110231135A1 (en) | Auto-correcting or self-calibrating DTS temperature sensing systems and methods | |
| JP4008470B2 (ja) | 光ファイバの偏波モード分散の測定方法及びその測定装置 | |
| KR20050087136A (ko) | 브릴루앙 광섬유 센서를 이용하는 물리량 측정방법 | |
| US20180023948A1 (en) | Brillouin-based distributed bend fiber sensor and method for using same | |
| EP2917699B1 (en) | A brillouin optoelectronic measurement method | |
| EP1393033B1 (en) | A cryogenic optical fibre temperature sensor | |
| CN210981350U (zh) | 一种分布式光纤湿度和温度同时检测装置 | |
| CN113218320B (zh) | 一种基于距离域补偿的ofdr大应变测量方法 | |
| JP2010223831A (ja) | 温度測定装置 | |
| JP2003004421A (ja) | 光ファイバ歪み計測方法 | |
| JP2021515192A (ja) | 物理的パラメータの変化を正しい符号で決定する方法及び光ファイバを備えた装置 | |
| JP4083618B2 (ja) | 歪み量測定システム | |
| JP3377067B2 (ja) | ブリルアン周波数シフト分布測定方法および装置 | |
| JPH04248426A (ja) | 光ファイバ歪分布計測装置 | |
| JP2977373B2 (ja) | 光ファイバ温度分布センサ | |
| JP2002257592A (ja) | 光ファイバひずみ計測方法およびその装置 | |
| US5090812A (en) | Ring laser cavity backscatter measurement | |
| KR101559151B1 (ko) | 브이홈이 생성된 단일모드 광섬유를 이용한 분포형 온도센서 | |
| JP3106443B2 (ja) | 温度分布測定方法及びその装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080619 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101015 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101019 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20101220 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20110201 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Effective date: 20121009 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 |