JP2002539426A - ガスセンサーおよびガスセンサーの動作方法 - Google Patents

ガスセンサーおよびガスセンサーの動作方法

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Abstract

(57)【要約】 本発明は、電流または電圧パルスを備える少なくとも1個の放射源を動作するためのエネルギー供給装置と、赤外光線の経路に配置した少なくとも1個の測定部分と、少なくとも1個の波長選択素子と、電気的測定信号を送る少なくとも1個の検出素子と、電気的測定信号を送る少なくとも1個の検出器と、この電流または電圧パルスのパルス持続時間を制御する1個のスイッチング素子(3)とを備える赤外ガスセンサーに関する。このスイッチング素子(3)は、この必要なパルス持続時間が、少なくとも1個の検出素子の少なくとも1つの測定信号が最大(τMAX)に達するのに要する時間より短くなるように、この電流または電圧パルスをオフにするようなやり方でこのパルス持続時間を設定する手段を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (技術分野及び背景技術) 赤外ガスセンサーはガス類による赤外線の選択吸収の原理に基づいている。赤
外ガスセンサーの作動原理および動作方法は良く知られたものとしてよい。
【0002】 このようなガスセンサーは一般に、1個または複数の放射源、たとえば白熱灯
のような熱放射体、1個または複数の波長選択素子(たとえば干渉フィルターな
どの選択的放射線フィルター)である吸収部、および光信号を電気測定信号に変
換する1個または複数の放射線検出器を含んでいる。このような検出器は従来技
術から多くのものが知られている。もっとも良く使用されるタイプの検出器は、
なかでも焦電性検出器、半導体(たとえばPbSe基体上の)熱親和性検出器お
よび空気式検出器である。
【0003】 更に進んだタイプの実施形態は、測定部分のガス分子の加熱の結果生じた圧力
変化に基づくものであり、この圧力変化はマイクロフォンによって検出される。
この加熱は、測定対象の測定ガス分子による放射源の放射エネルギーの吸収によ
ってもたらされる。従来技術に相当する実施形態は独国特許195 25 70
3 Alに開示されている。
【0004】 光ガスセンサーにおいては、放射源は一般に(チョッパーと組み合わせて)連
続的に、または電圧をパルス化して間欠的に動作される。どちらの場合も、信号
は一般に位相を感知できる電子技術(ロックイン技術)またはそれぞれにRMS
(自乗平均)変換器によって検出される。
【0005】 本発明は、電流または電圧パルスを備える少なくとも1個の放射源、たとえば
熱放射源または赤外線発光放射源(たとえばダイオード、レーザーダイオード、
赤外線レーザー)を動作するためのエネルギー供給装置と、赤外光線の経路に配
置した少なくとも1個の測定部分と、電気的測定信号を送る少なくとも1個の検
出器と、電流または電圧パルスのパルス持続時間を制御する1個のスイッチ素子
とを備える赤外ガスセンサーに関する。本発明はさらにこのようなセンサーの動
作方法に関する。
【0006】 独国特許30 43 332 Alで知られるこのタイプのガスセンサーでは
、熱放射体である放射源のパルス持続時間は、測定変換器の出口における放射線
検出器の測定信号の最大値に従って制御される。本明細書では、センサーの応答
曲線または測定変換器の測定信号の経過から経験的あるいは数学的にこの最大値
を得ること、およびこの最大値が確実にパルス持続時間内にあるように熱放射体
へのエネルギー供給を遮断することによってパルス持続時間を制御することを提
案している。さらにこの応答曲線の経過を、応答曲線の最大値に達した時にエネ
ルギー供給または電流パルスをそれぞれ遮断する最大値検出器によってモニター
することを提案している。このガスセンサーについては、エネルギー供給のパル
ス時間対パルス中断時間の比として1以下、好ましくは0.1から0.5の間の
値が達成できる。
【0007】 (発明の開示) 本発明の目的は、測定精度が高く、エネルギー消費が少ないタイプのガスセン
サーを作成することにある。
【0008】 この目的はセンサーに関しては特許請求項1の特徴によって、方法に関しては
特許請求項9の特徴によって達成される。従属請求項には有利な展開を挙げてあ
る。
【0009】 そのため、本発明によれば、スイッチング素子は、測定信号がτMAXで最大
に達するまでの時間よりパルス持続時間が短くなるように制御される。これは測
定値として使用される検出器信号の最大勾配 によってもたらされる。この信号の最大勾配には、実質的に最大値より早い時間
τ´に到達し、τ´<<τMAXである。そのためこの測定過程において放射源
のパルスがオンになっている時間τはこれまでのものすべてより実質的に短く
τ´≦τ<<τMAXにできる。したがって、実現可能なパルス時間対パルス
中断時間の比は0.01以下である。
【0010】 個々の測定値間の間隔は、センサーの設計および応用の特性にしたがって2、
3秒から数分の間で選択することができ、これによってバッテリー(たとえば、
標準AAバッテリー)を交換しなくとも半年以上の動作時間を達成することがで
きる。
【0011】 以下に提示する発明による方法のように、本発明によるこの方法は、検出器素
子として放射線検出器とたとえばマイクロフォンのような音響検出器の両方を備
えて行なうことができる。複数の検出器、たとえば放射線検出器とマイクロフォ
ンで同時に、複数の信号を発生することができ、本発明にしたがった測定は、2
つの信号の少なくとも1つに対して、または複数の信号に対して、あるいは信号
すべてに対してそれぞれ実施される。複数の信号を発生する場合は、測定精度を
さらに改良することができる。
【0012】 赤外線の放射源として適切なのは、パルス化した赤外線放射源としても使用で
きる、たとえば白熱灯、熱薄膜放射体、発光ダイオードなどである。
【0013】 放射源のパルスオンの時間を短くする他の方法は、放射源のパルスをオンにし
た後の特定の時間τにおける検出器信号の測定値をセンサー信号として使用して
おり、この時間τは検出器信号の最大値に達する時間τMAXより短く、τ<τ MAX となる。このτは検出器信号の勾配が最大値に達する時間τ´とτMAX の間にある、すなわち、τ´≦τ<τMAXであることが好ましい。時間τにお
ける測定値として、検出器信号U(τ)の瞬時値とその一次微分係数の瞬時値 の両方を使用することができる。
【0014】 さらに、放射体のパルスをオフ(オフセット)にした場合、放射体のパルスオ
ン後の、検出器信号U″が特定のレベルに到達する時間または検出器信号から特
定の間隔に到達する時間を測定値として使用することも可能である。
【0015】 検出器信号の勾配が一定の値に達するまでの時間を測定信号として使用するこ
とも可能である。
【0016】 検出器信号の最大勾配 もしくは勾配が最大値に達する時間τ´が測定信号として使用される場合は、こ
のガスセンサーの動作方法は非常に有利である。本明細書では最大勾配は最大値
検出器を利用して測定時間をとらずに測定することができる。
【0017】 この時間τ´は、たとえば検出器信号の二次微分係数がゼロになる検出器を利
用して求めることができる。
【0018】 検出器信号の特定時点τ、たとえば検出器信号の最大勾配の時間τ´までの積
分値の測定はさらに可能性のある測定方法である。
【0019】 この積分は放射源のパルスオンの時点(t=0)から始まりパルス持続時間よ
り短い(τ<τ)特定の時間τまでの時間区間にわたる積分値 であることが好ましい。
【0020】 当然のことながら、上記の複数の方法および測定値(たとえば、 およびτ´)をお互いに結び付けて感度および信頼性を増加させることもできる
【0021】 本発明はまた上記で詳細に説明したような赤外ガスセンサーの動作方法に関す
る。
【0022】 本発明による方法は、パルス持続時間が、放射検出器(1個または複数個)ま
たは音響検出器の測定信号が最大(τMAX)に達するのに要する時間より短く
なるように電流または電圧パルスをオフにするようなやり方で行なわれる。この
方法の好ましい実施形態は、t=0となる電流または電圧パルスの時間とτMA の間にある時間τに対し、電流または電圧パルスの時間tがτに等しくなった
後でオフになる電流または電圧パルスの中にある。特に、電流または電圧パルス
が、パルス持続時間内の測定信号の一次微分係数の最大値においてオフになる場
合が好ましい。しかし、このセンサーに関連して前に説明した実施形態はすべて
本発明による方法において使用することができる。
【0023】 本発明による方法にはその他の利点がある。本発明による方法について別のや
り方でガス濃度を求めることもできる。つまりガス濃度は、パルス持続時間より
短い特定の時間τmessにおける測定信号の一次微分係数の値、またはパルス
持続時間より短い特定の時間τmessにおける測定信号のN次微分係数(N>
1)の値から算出することができる。このガス濃度は、さらにパルスオンの時間
t=0から始まりパルス持続時間より短い特定の時間τmessまでの時間にわ
たるこの測定信号の積分値から算出することができる。このガス濃度を求めるた
めに測定信号の一次微分係数を使用することもできる。ガス濃度を求めるこの方
法のさらに好ましい実施形態は、請求項16から19に記載した。
【0024】 本発明による方法は、検出器の時定数が、使用する放射源の時定数より大きい
場合にも使用することができる。本方法はさらに、検出器信号が最大に達する前
に、ガス濃度に依存する測定信号が求められる測定方法およびその測定方法に適
した測定装置を含む。特に同じように動作させるために放射源に印加された電圧
パルスの長さを短く保って検出器の信号が最大に達しないようにすることができ
る。たとえば、焦電型検出器の場合、検出器出力信号の動的経過が、放射源の性
質よりも検出器自体の、たとえば時定数のような性質によってよりしっかりと求
められることがしばしばある。
【0025】 以下に、本発明によるガスセンサーの本発明による方法の2、3の実施例を説
明する。
【0026】 図1に放射線検出器(本明細書では焦電型放射線検出器)に対する代表的な信
号の形を示してある。
【0027】 この放射源は本明細書では時間t=0でパルスがオンになる。曲線1はこの検
出器の出力信号の経過を再現したものである(オフセットは差し引いてある)。
曲線2および3は曲線1の一次または二次微分係数を示す。
【0028】 図2は、パルス化された放射源(VCH Tl 5V、60mA)を照射した
焦電型検出器(村田製IRA410 QW1)の基本的な信号の形を示す。図2
に一群の曲線が示してあるが、放射源の合計パルスオン時間をパラメーターとし
て使用している。図2では焦電型検出器の出力信号は、その最大に達するまでに
放射源のスイッチング動作への反応として約2.5秒を必要としていることが認
められる。しかしながら、その検出器信号の一次微分係数が最大値に達するのは
せいぜい120ミリ秒後である(後述の図8と比較)。そのため、センサー信号
を測定するためにこの一次微分係数の最大値を使用すれば、放射源のパルスはず
っと早い時期にオフにすることができ、この結果、放射源のエネルギー消費もか
なり低減される。さらに、検出器信号は、そのような通常のレベルよりずっと早
い短い放射パルスの後に低下するが、このことはセンサーを著しく加熱すること
なくしたがってセンサーの加熱時間なしに高速スキャニングを行なえることを意
味している。
【0029】 図3は、センサー信号の一次微分係数の最大値を検出することのできる微分回
路を示している。この微分回路においては、パルス発生器3が所定の時間にセン
サー1の放射源をオンにするようにマイクロプロセッサー2がパルス発生器3を
制御する。この時間は固定値として設定したりあるいはピーク値検出器6のマイ
クロプロセッサー2へのフィードバックによって変えることもできる。このセン
サー1は放射線検出器によって測定出力信号を発生する。この出力信号は、高周
波ノイズを抑制するためのローパス4および測定出力信号を電子工学的に微分す
るための微分回路5を通る。この信号はピーク値検出器6に入力され、ここで微
分値のピーク値を格納し、場合によっては上に述べたようにピーク値到達に関す
るフィードバックをマイクロプロセッサー2へ送る。ピーク値検出器によって検
出された微分ピーク値は、センサー信号の現在の微分係数最大値を変換し測定す
るアナログ−デジタル変換器7に送られる。さらに、センサー1に含まれる温度
センサーの信号がアナログ−デジタル変換器7によって検出される。この両方の
値はその後アナログ−デジタル変換器7によってマイクロプロセッサー2へ送ら
れる。後者はその後ピーク値検出器をリセットし、該当する較正関数を利用して
測定値から測定すべきガス濃度を計算する。その後、計算結果がマイクロプロセ
ッサー2によって出力個所かまたはディスプレイ8上に表示される。
【0030】 図4は、図3に示すようなマイクロプロセッサー2が、所定の時間にセンサー
1の放射源をオンにするパルス発生器3を駆動するような加算回路を示している
。センサー1の放射線検出器の出力信号は減算回路10に送られ、センサー信号
に存在する可能性があるオフセットがセンサー信号から減算される。減算する分
の電圧はマイクロプロセッサー2によってデジタル−アナログ変換器13を経由
して減算回路10に与えられる。このようにしてオフセットをなくしたセンサー
信号は、信号をローパスフィルタリングするローパス11に送られ、それから、
アナログ−デジタル変換器12で受信されてディジタル信号に変換され、ある個
数以上の数値を合計するマイクロプロセッサー2に送られる。
【0031】 このセンサー信号のオフセットが温度依存している場合は、さらに、減算回路
10で処理した後、放射源がオンになる前の段階で依然として存在するオフセッ
トはすべてアナログ−デジタル変換器12で検出することができる。このことは
、放射源がオンになる前、アナログ−デジタル変換器12が、センサー信号のロ
ーパスフィルターリングされたオフセットを受信してこれをディジタル信号に変
換し、変換した信号も特定の個数以上の数値を合計するマイクロプロセッサー2
に送ることによってもたらされる。このアナログ−デジタル変換器12はさらに
センサー1に含まれる温度センサーの出力を測定し、この出力をマイクロプロセ
ッサー2に送ることができる。マイクロプロセッサー2は、次に、該当する較正
関数を利用して測定値から測定すべきガス濃度を計算する。
【0032】 図5は、アナログ−デジタル変換器(MAX1246)の2048個の測定値
を加算することによってセンサー信号(検出器:村田製IRA410 QW1)
のオフセットを算出する測定値の加算処理の経過を示している。この実施例では
アナログ−デジタル変換器は測定値を1秒当たり16000個の速度で測定する
。これらの測定結果は光源(VCH Tl 5V、60mA)がオンになる前に
もたらされる。この光源がオンになった後、約125ミリ秒の休止期間があり、
その後再び2048個の測定値がアナログ−デジタル変換器によって搬出され、
マイクロプロセッサーによって合計される。これらの値はその後、赤外実測定値
を構成する。求めるガス濃度を計算するために、これらの測定値からの差異およ
びオフセット測定値が較正関数を利用して評価される。
【0033】 図6は、COの測定レンジが0ppmから2100ppmの赤外COセン
サー(検出器:Heimann LHi 807−TC−G2、放射源:VCH
Tl 5V、125mA、光路25mm)の較正曲線を示す。本実施例では直
線の較正関数は800ppmと1200ppmの間の範囲のCOに対して最適
化されている。この較正曲線は図3に従って微分回路で記録された。信号強度が
CO濃度と関係付けられ、その結果、非常に信頼性の高いCOセンサーが実
現されたことが分かる。
【0034】 図7は、放射源のパルスオン時間に対する焦電型赤外線検出器(Heiman
n LHi 807−TC−G2)の検出器信号の微分係数最大値の依存性を示
す。この実施例では放射源として小型の白熱灯(VCH Tl 5V、60mA
)が使用された。この図で分かるように、微分係数最大値は40ミリ秒から15
0ミリ秒の間の範囲で増加し、パルス持続時間は150ミリ秒以上に変わること
はない。したがって、放射源を160ミリ秒以上オンにすることはセンサーのエ
ネルギー消費量を単に増加させるだけでなく、本発明によるガス濃度に依存する
微分形の出力信号に対して寄与するものが何もない。
【0035】 図8はパルスオン時間が非常に短い焦電型検出器(村田製IRA410 QW
1)の検出器信号の一次微分係数の経過を示す。図8は、グループパラメータと
して使用される光源(VCH Tl 5V、60mA)のパルスオン時間につい
て一群の曲線を示している。この時間は20ミリ秒から630ミリ秒に及んでい
る。この検出器信号の一次微分係数最大値は、光源のパルス持続時間に対し20
ミリ秒から160ミリ秒に増加していることが分かる。パルス幅を160ミリ秒
より長くしても検出器信号の一次微分係数最大値はそれ以上増加しない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は焦電型放射線検出器の代表的な信号の形である。
【図2】 図2はパルス化された放射源がある場合の焦電型検出器の基本的な信号の形で
ある。
【図3】 図3は微分回路図である。
【図4】 図4は加算回路図である。
【図5】 図5は測定値の加算を表わす図である。
【図6】 図6は赤外COセンサーの較正曲線である。
【図7】 図7は赤外COセンサーの信号微分係数の最大値が放射源のパルスオン時間
に依存する様子を表わす図である。
【図8】 図8は焦電型検出器の非常に短いパルスオン時間に対するセンサー信号微分係
数の経過を表わす図である。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成13年2月2日(2001.2.2)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項1
【補正方法】変更
【補正の内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項20
【補正方法】変更
【補正の内容】
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0003
【補正方法】変更
【補正の内容】
【0003】 更に進んだタイプの実施形態は、測定部分のガス分子の加熱の結果生じた圧力
変化に基づくものであり、この圧力変化はマイクロフォンによって検出される。
この加熱は、測定対象の測定ガス分子による放射源の放射エネルギーの吸収によ
ってもたらされる。従来技術に相当する実施形態は独国特許195 25 70
3 Alに開示されている。 このようにして、米国特許5608219は、試験すべきガスサンプルを含む
セルと、赤外線放射源と、放射源用電源と、赤外線センサーとおよび該センサー
に固定された測定値の評価装置を含む、赤外範囲に吸収帯を持つ少なくとも1種
類のガスを検出する装置を教示している。 欧州特許512 535は非分散型の赤外線測定により炭酸ガスを測定する携
帯型の炭酸ガスモニターを教示している。 欧州特許503 511は炭酸ガスおよび水を赤外線分析法によって分析値を
求める装置を教示している。その特許では、ガス分析計は放射源、サンプルセル
と参照セル、検出器およびガス供給を含んでいる。 米国特許5734165は、赤外線放射源が0.01Hzから10Hzのパル
ス周波数を備えた、小型ハウジング内に一体化した赤外線測光器について記載し
ている。 米国特許4914720は、非分散型の赤外測光法に基づき、ガス混合物中の
異なったガスを測定できるガス分析計について教示している。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),JP,US Fターム(参考) 2G059 AA01 BB01 CC04 EE01 GG01 GG02 GG07 GG10 HH01 KK08 KK09 MM01 MM04

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電流または電圧パルスを備えた少なくとも1個の放射源を動
    作するためのエネルギー供給装置と、赤外光線の経路に配置した少なくとも1個
    の測定部分と、少なくとも1個の波長選択素子と、電気的測定信号を送る少なく
    とも1個の検出素子と、該電流または電圧パルスのパルス持続時間を制御する1
    個のスイッチング素子(3)とを備え、 該スイッチング素子(3)が、少なくとも1個の検出素子の少なくとも1つの
    測定信号が最大(τMAX)に達するのに要する時間よりパルス持続時間が短く
    なるように該電流または電圧パルスをオフにするようなやり方で該パルス持続時
    間を設定する手段を有することを特徴とする赤外ガスセンサー。
  2. 【請求項2】 少なくとも1個の検出素子が放射線検出器および/または圧
    力変換器、特にマイクロフォンであることを特徴とする請求項1に記載の赤外線
    ガスセンサー。
  3. 【請求項3】 電流または電圧パルスがオンになる時間t=0とτMAX
    間にある特定の時間t=τ後に、該電流または電圧パルスがオフになることを特
    徴とする請求項1または2に記載の赤外線ガスセンサー。
  4. 【請求項4】 前記測定信号がパルス持続時間内で特定の値に達したときに
    前記電流または電圧パルスがオフになることを特徴とする請求項1から3の少な
    くとも一項に記載の赤外線ガスセンサー。
  5. 【請求項5】 前記測定信号の一次微分係数がパルス持続時間内で特定の値
    に達したときに前記電流または電圧パルスがオフになることを特徴とする請求項
    1から4の少なくとも一項に記載の赤外線ガスセンサー。
  6. 【請求項6】 前記測定信号の一次微分係数がパルス持続時間内で最大値に
    達したときに前記電流または電圧パルスがオフになることを特徴とする請求項1
    から5の少なくとも一項に記載の赤外ガスセンサー。
  7. 【請求項7】 パルスがオンになる時間t=0から始まる時間区間にわたる
    前記測定信号の積分値がパルス持続時間内で特定の値に達した時に前記電流また
    は電圧パルスがオフになることを特徴とする請求項1から6の少なくとも一項に
    記載の赤外線ガスセンサー。
  8. 【請求項8】 前記スイッチング素子が、パルス時間対パルス中断時間の比
    が0.01以下に設定されるように動作することを特徴とする請求項1から7の
    少なくとも一項に記載の赤外線ガスセンサー。
  9. 【請求項9】 少なくとも1個の検出素子の測定信号が最大(τMAX)に
    達するのに用いられる時間よりパルス持続時間が短くなるように電流または電圧
    パルスをオフにすることを特徴とする請求項1から8の少なくとも一項に記載の
    赤外線ガスセンサーの動作方法。
  10. 【請求項10】 電流または電圧パルスの時間t=0とτMAXの間にある
    特定の時間t=τ後に、該電流または電圧パルスがオフになることを特徴とする
    請求項9に記載の方法。
  11. 【請求項11】 前記測定信号の一次微分係数がパルス持続時間内で最大値
    に達したときに前記電流または電圧パルスがオフになることを特徴とする請求項
    9または10に記載の方法。
  12. 【請求項12】 ガス濃度を求めるために、パルス持続時間より短い特定の
    時間τmessにおける測定信号の値を用いることを特徴とする請求項9から1
    1の少なくとも一項に記載の方法。
  13. 【請求項13】 ガス濃度を求めるために、パルス持続時間より短い特定の
    時間τmessにおける測定信号の一次微分係数の値を用いることを特徴とする
    請求項9から11の少なくとも一項に記載の方法。
  14. 【請求項14】 ガス濃度を求めるために、パルス持続時間より短い特定の
    時間τmessにおける測定信号のN次微分係数(N>1)の値を用いることを
    特徴とする請求項9から13の少なくとも一項に記載の方法。
  15. 【請求項15】 ガス濃度を求めるために、パルスオンの時点t=0から始
    まりパルス持続時間より短い特定の時間τmessまでの時間にわたる前記測定
    信号の積分値を使用することを特徴とする請求項9から14の少なくとも一項に
    記載の方法。
  16. 【請求項16】 ガス濃度を求めるために、前記測定信号の一次微分係数の
    最大値を使用することを特徴とする請求項9から15の少なくとも一項に記載の
    方法。
  17. 【請求項17】 ガス濃度を求めるために、前記測定信号のN次微分係数(
    N>1)または前記測定信号の積分値の測定信号が特定の値に達した時間の少な
    くともひとつを使用することを特徴とする請求項9から16の少なくとも一項に
    記載の方法。
  18. 【請求項18】 ガス濃度を求めるために、前記測定信号の一次微分係数が
    最大値に達した時間を使用することを特徴とする請求項9から17の少なくとも
    一項に記載の方法。
  19. 【請求項19】 ガス濃度を求めるために、前記測定信号の二次微分係数が
    最初にゼロになる時間を使用することを特徴とする請求項9から18の少なくと
    も一項に記載の方法。
  20. 【請求項20】 請求項11から19に記載の方法から選択される少なくと
    も2つの異なった方法により少なくとも2つの評価結果を得るための同一の測定
    信号が評価され、ガス濃度がこの少なくとも2つの評価結果から求められること
    を特徴とする赤外ガスセンサーの動作方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011203004A (ja) * 2010-03-24 2011-10-13 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 量子型赤外線ガス濃度計
JP2022508210A (ja) * 2018-11-27 2022-01-19 エリシェンズ パルス光源を備えたガスセンサ

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0117376D0 (en) * 2001-07-17 2001-09-05 Amersham Pharm Biotech Uk Ltd Thermocouple device
DE10221708B4 (de) * 2002-05-16 2004-09-30 Infratec Gmbh Infrarotsensorik Und Messtechnik Verfahren zur Bestimmung der Konzentration von Gasen und Dämpfen und nichtdispersiver Infrarot-Gasanalysator zur Durchführung des Verfahrens
DE102005032722B3 (de) 2005-07-13 2006-10-05 Tyco Electronics Raychem Gmbh Gassensoranordung und Messverfahren mit Frühwarnung
WO2007064370A2 (en) * 2005-08-04 2007-06-07 Airware Inc. Ultra low cost ndir gas sensors
US8253942B2 (en) * 2007-09-27 2012-08-28 Scott Technologies, Inc. Optical gas detector
DE102009001627A1 (de) * 2009-03-18 2010-09-23 Robert Bosch Gmbh Auswertevorrichtung zur Auswertung von Messsignalen, Messvorrichtung und Verfahren zur Aufnahme und Auswertung von Messsignalen
US10207810B2 (en) * 2016-03-21 2019-02-19 Rosemount Aerospace Inc. Optically detecting cloud metrics using sampled analog measurements of light reflection
FR3066023B1 (fr) 2017-05-04 2019-06-28 Elichens Dispositif et procede de mesure et de suivi de la quantite ou concentration d’un composant dans un fluide
US10551356B2 (en) * 2017-10-23 2020-02-04 Infineon Technologies Ag Photoacoustic gas sensor and method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10509800A (ja) * 1994-12-02 1998-09-22 ガス テック オーストラリア ピーティワィ リミテッド ガス検知器

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3043332A1 (de) 1980-11-17 1982-07-01 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator
US4914720A (en) 1986-12-04 1990-04-03 Cascadia Technology Corporation Gas analyzers
US5070244A (en) 1990-05-07 1991-12-03 The University Of Sydney Gas detection by infrared absorption
US5340987A (en) * 1991-03-15 1994-08-23 Li-Cor, Inc. Apparatus and method for analyzing gas
DE4111187C2 (de) 1991-04-06 1994-11-24 Lfe Lab Fuer Ind Forschung Gmb Verfahren zur Messung des optischen Absorptionsvermögens von Proben unter Eliminierung des Anzeigefehlers hinsichtlich gas-physikalischer Eigenschaften und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
FI921924A (fi) * 1991-05-08 1992-11-09 Nellcor Inc Portabel koldioxidmonitor
DE4119346C2 (de) 1991-06-12 2000-12-07 Klaus Nonnenmacher Verfahren zur Bestimmung der Konzentration von Gasen, insbesondere von Ozon, und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
FR2712390B1 (fr) * 1993-11-12 1996-02-09 Saphir Dispositif de détection de gaz par absorption infrarouge.
US5464983A (en) 1994-04-05 1995-11-07 Industrial Scientific Corporation Method and apparatus for determining the concentration of a gas
JPH0815128A (ja) * 1994-06-27 1996-01-19 Horiba Ltd 自動周波数調整装置
DE4437311A1 (de) 1994-10-19 1996-04-25 Hekatron Gmbh Vorrichtung zum Erzeugen einer Breitbandstrahlung
JPH08285773A (ja) * 1995-04-18 1996-11-01 Horiba Ltd 赤外線ガス分析装置
JPH095157A (ja) * 1995-06-23 1997-01-10 Hamamatsu Photonics Kk 赤外線検出装置
DE19525703A1 (de) 1995-07-14 1997-01-16 Gerhard Dr Wiegleb Gasanalysator
DE19528919A1 (de) 1995-08-07 1997-02-20 Microparts Gmbh Mikrostrukturiertes Infrarot-Absorptionsphotometer
JPH09236539A (ja) * 1995-12-28 1997-09-09 Toray Ind Inc 赤外線ガス分析計
DE19608604C2 (de) 1996-03-06 1998-09-10 Conducta Endress & Hauser Gasanalysator und Meßküvette zur Verwendung in einem Gasanalysator
DE19735716C2 (de) 1997-07-05 2001-02-08 Abb Patent Gmbh Verfahren zum Betrieb eines nichtdispersiven Infrarotspektrometers

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10509800A (ja) * 1994-12-02 1998-09-22 ガス テック オーストラリア ピーティワィ リミテッド ガス検知器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011203004A (ja) * 2010-03-24 2011-10-13 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 量子型赤外線ガス濃度計
JP2022508210A (ja) * 2018-11-27 2022-01-19 エリシェンズ パルス光源を備えたガスセンサ
JP7522734B2 (ja) 2018-11-27 2024-07-25 エリシェンズ パルス光源を備えたガスセンサ

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