JP2002527857A - X線走査方法と装置 - Google Patents
X線走査方法と装置Info
- Publication number
- JP2002527857A JP2002527857A JP2000575148A JP2000575148A JP2002527857A JP 2002527857 A JP2002527857 A JP 2002527857A JP 2000575148 A JP2000575148 A JP 2000575148A JP 2000575148 A JP2000575148 A JP 2000575148A JP 2002527857 A JP2002527857 A JP 2002527857A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- charged particle
- particle beam
- ray
- target assembly
- locations
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/24—Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof
- H01J35/30—Tubes wherein the point of impact of the cathode ray on the anode or anticathode is movable relative to the surface thereof by deflection of the cathode ray
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4021—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot
- A61B6/4028—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment with arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis involving movement of the focal spot resulting in acquisition of views from substantially different positions, e.g. EBCT
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/025—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using multiple collimators, e.g. Bucky screens; other devices for eliminating undesired or dispersed radiation
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/44—Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
- A61B6/4488—Means for cooling
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2235/00—X-ray tubes
- H01J2235/08—Targets (anodes) and X-ray converters
- H01J2235/081—Target material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/112—Non-rotating anodes
- H01J35/116—Transmissive anodes
Abstract
Description
システムを含む診断用X線装置に関する。
要求の度が増大している。例えば、多くの電気生理的心臓処置、外周血管処置、
PCTA(経皮管腔カテーテル血管形成)処置、泌尿器処置、整形外科処置は、
リアルタイムX線撮像に依っている。加えて、近代の医療処置は、体内に挿入さ
れるカテーテルのような器具をしばしば必要とする。これらの医療処置は、X線
撮像を使用することにより、度々、体内に挿入された器具の正確な位置を周辺部
の正確な映像と共に識別する能力を必要とする。
ステムを含む。このシステムでは、X線の比較的通り難い物質によって生じる影
が、X線源から見て物体の裏側に配置されたX線透過器上に表示される。走査X
線管は、X線透視法と共に、少なくとも1950年代初期以来、周知となってい
る。文献 Moon, Amplifying the Fluoroscopic Image by Means of a Scanning
X-ray Tube, Science, October 6, 1950, pp.389-395 を参照。
このシステムではX線管が使用され、X線管内で電子ビームを発生させ、比較的
大きなターゲットアセンブリ上の小さなスポットに電子ビームを集束させ、その
スポットからX線の放射線を放出させる。電子ビームは、ターゲットアセンブリ
一面に渡って或る走査パターンで偏向される。比較的小さなX線検出器が、X線
管のターゲットアセンブリから或る距離を置いて配置される。X線検出器は、X
線検出器を打撃するX線を電気信号に変換する。上記電気信号は、X線検出器で
検出されたX線束の量を示す。逆配置システムが提供する利点は、このシステム
の配置によって、X線管を物理的に再配置することなく、X線を多数の角度から
物体に投射できることである。
密度に比例して減衰およびまたは散乱される。X線管が走査モードであるとき、
検出器からの信号は物体のX線密度に反比例する。検出器からの出力信号は、ビ
デオモニタのZ軸(輝度)入力に印加される。この信号はスクリーンの明るさを
調節する。ビデオモニタのX軸とY軸への入力は、X線管の電子ビームの偏向を
もたらす信号に由来する。したがって、スクリーン上の点の輝度は、線源から物
体の特定の領域を通って検出器に至るX線の吸収と逆比例する。
レベルで作動されるが、上記レベルは画像品質に対する要求とは整合性がとれて
いる(特に、使用される手順およびシステムに対するコントラスト解像度と空間
的解像度の要求)。
る。この無作為性は、典型的には、平均線束の標準偏差として表わされ、平均線
束の平方根に等しい。これらの条件下でのX線画像の信号対ノイズの比は、平均
線束の平方根によって除された平均線束に等しい。すなわち、100フォトンの
平均線束に対して、ノイズは+−10フォトンであり、信号対ノイズの比は10
である。
は、X線量子ノイズを減少させることによって、精度の高い画像を形成すること
ができる。ビデオ表示装置において良好な画像とリフレッシュ率を生じさせる充
分なフレーム率(物体が走査され、画像がリフレッシュされる1秒当りの回数)
となるように、X線束は物体を貫いて頻繁に投射されねばならない。
エネルギー電子ビームによるX線管ターゲットアセンブリへの衝撃(ボンバード
)を伸ばす必要がある。電子ビームに対応してX線を発生させるとき、X線ター
ゲットアセンブリは高温になるが、システムのなかには、ターゲットアセンブリ
の材料が1000℃を越える温度に加熱されるものもある。ターゲットアセンブ
リが高温に長時間晒されると、ターゲットアセンブリの材料が溶融したり、熱応
力のために割れが入ったりする。この高温長時間暴露が直ぐにはターゲットアセ
ンブリ材料の破壊の原因にならなくとも、このような暴露は、ターゲットアセン
ブリの寿命に影響する長期の損傷を引き起こす。
ーゲットアセンブリ材料の熱特性とが、従来のX線撮像システムの有用性を制限
するように機能する。線束とフレーム率の要求事項を満たすために、ターゲット
アセンブリの電子ビーム衝撃を長い時間続けると、ターゲットアセンブリ材料を
損傷する。しかし、ターゲットアセンブリへの損傷を防ぐために線束とフレーム
率の要求を減ずると、画像品質を低下させる結果となる。
テムに対する必要性が存在するのである。つまり、本発明の目的は、ターゲット
材料への損傷を防止しながら短期間に、撮像される物体の各部分に高レベルのX
線束を生じさせる方法とシステムを提供することである。 (発明の概要)
備えている。本発明の一局面では、X線を発生させるために、ターゲットアセン
ブリを横切って電子ビームを移動させるための操作パターンを指向しているが、
ここにおいて、物体の各部分に与えられる線束を増大させながら同時にターゲッ
トの寿命を増大させるために、電子ビームが、1画像フレーム当たり2回以上、
ターゲットアセンブリ上の同一位置上で走査される。
位置を横切って移動させることによって被撮像物体を照射し、その際、X線ター
ゲットアセンブリ上の特定位置あるいは特定組の位置が、単一のフレーム期間中
に、複数回再走査される方法を備えている。
て、教示され、描写され、記載されている。
す図である。X線源10は電子ビーム線源を含み、上記電子ビーム線源は、約−
70kVから−120kVでX線源10を作動させることができる電源を備えて
いる。本実施形態では、この電圧レベルは120keVまでの範囲のX線スペク
トルを発生させる。X線源10内において荷電粒子銃によって発生した電子ビー
ム40は、所定のパターンたとえば走査パターンあるいはステップパターンでも
って偏向して、(本発明の実施形態では接地されたアノードである)ターゲット
アセンブリ50の表面上に至る。X線源10は、ターゲットアセンブリ50の全
域に渡り電子ビーム40の動きを制御する機構を含んでいる。上記制御機構は、
例えば、電子ビームパターン発生器30が制御する偏向ヨーク20である。ター
ゲットアセンブリ50の全域に渡って電子ビーム40を発生させ且つ移動させる
ための方法と装置とは、米国特許第5,644,612号に開示されている。
センブリ50と多重検出器配列60の間に配置されている。好ましい実施形態で
は、コリメーションアセンブリはターゲットアセンブリ50と物体100との間
に配置され、その物体100に対する画像が得られる。今ここに好ましいとされ
るコリメーションアセンブリは、コリメータグリッド70であり、コリメータグ
リッド70はグリッドパターン(格子)状に配置された複数のX線透過開口部8
0を含んでいる。コリメータグリッド70は、X線を通過させて、多重検出器配
列60を直接遮る発散ビーム135を形成するように設計されている。一実施形
態では、コリメータグリッド70は冷却アセンブリおよびビーム硬化フィルタを
使用する。本発明で使用され得るコリメータグリッドの一例は、米国特許第5,
610,697号に開示されている。
110に居留する。上記位置110は、実質的には、コリメータグリッド70の
特定の開口部120に対する軸90がターゲットアセンブリ50と交差する場所
に配置される。電子ビーム40がターゲットアセンブリ50を位置110におい
て打撃するとき、X線のカスケード(シャワー)130が放出される。上記カス
ケード130の一部のみが実質上軸90に沿って存在し、開口部120を通過し
て、発散X線ビーム135を形成する。X線ビーム135の形状は、開口部12
0の形状によって影響を受ける。例えば、開口部が矩形であるならば、X線ビー
ム135は略角錐形状となる。開口部が円形であるならば、X線135は略円錐
形状となる。好ましい実施形態では、開口部の形状と面積は、X線135の最大
発散範囲が多重検出器配列60のX線捕獲面の寸法と略同一となる。
器要素と呼ぶ)61を備えている。各検出器要素61はX線面を含み、X線面は
X線を検出するための捕獲領域を持っている。各検出器要素は、それを打撃する
X線の量を独自に測定できる。物体100がX線源10と多重検出器配列60の
間に挿間されているとき、X線ビーム135の内の幾らかのX線は、物体100
の一部を通過し、そして散乱や吸収がなければ、多重検出器配列60を形成して
いる検出器要素を打撃する。個々の検出器要素を打撃するX線は、X線135の
一部から成り、それをここではX線ビーム副経路と呼ぶ。
の量を測定し、且つ、その測定結果を示す信号を出力する構成部品を備える。こ
の代替えとして、各検出器要素は、検出器要素を打撃するX線の全エネルギーと
略比例した電気信号を発生する構成部品を含む。発生電気信号の大きさは、X線
ビーム135中の検出されたX線ビーム副経路からのX線線束強度に相当する。
各検出器要素を打撃するX線を独自に測定している多重検出器配列60を使用す
ることは、特定されたX線ビーム副経路に沿って物体100を通過するX線線束
に比例するX線透過情報を生じる。結果として得られた強度データは、使用すな
わち操作されて、物体100を描写つまり物体100をX線透過描写し、モニタ
140上に表示される。
ステム65によって復元される。一実施形態では、画像復元システム65はまた
制御機能とX線撮像システムの表示予備調整とを行う。X線源10と検出器60
と画像復元システム65との作動指示および制御は、制御ワークステーション1
50を介して行われる。制御ワークステーション150は、X線撮像システムの
種々の構成部品から作動情報および現状情報を受け取る。
像復元システム65は、制御ワークステーション150に接続されているPCI
インターフェイス1010を備える。一実施形態では、検出モジュール700は
、多重検出器配列60の構成部品を備え、X線透過情報を受信する。代替えとし
て、多重検出器配列60は画像復元システム65と物理的に分離していると共に
、検出モジュール700は多重検出器配列60からのデータ信号を受信するため
の構成部品を備えている。画像復元シャーシ1005は、インターフェイスモジ
ュール710と、1以上の平面復元モジュール730と、画像選択モジュール7
50と、画像プリプロセッサ(前処理装置)760とを備えている。画像復元シ
ャーシ1005上の種々の構成部品は、1以上のバス(伝送路)1100を介し
て互いに連結されている。また、上記バス1100は制御ラインを含んでいる。
PCIインターフェイス1010および検出モジュール700はインターフェイ
スモジュール710に連結され、一方、画像予備処理装置760はビデオポスト
プロセッサ770に連結されている。ビデオポストプロセッサ770は表示モニ
タ1080に連結されている。図8に示された構成部品は、より詳細に、同時継
続PCT出願の出願番号が未指定で代理人案件登録番号が第221/260WO
の標題「画像復元方法と装置(Image Reconstruction Method and Apparatus)
」に記載されている。
形態が示されている。ターゲットアセンブリ50はX線発生層230を備え、X
線発生層230は支持層210によって支持されている。X線発生層230と支
持層210との間には、サーマルバッファ(熱緩衝体)210が配置され得る。
冷却チャンバ240がターゲット支持部210とコリメーショングリッド70と
の間に配置されている。ターゲットアセンブリ50を冷却するために、冷却流体
を冷却チャンバ240内に流すことができる。コリメーショングリッド70は複
数のX線透過開口部290を備えている。
図1)の中央に位置合わせされている。換言すると、コリメーショングリッド7
0内の開口部の軸は、互いに平行ではなく、コリメーショングリッド70の出力
面270に垂直な線と鋭角をなす。例えば、胸部X線照射用コリメーショングリ
ッドの一実施形態では、開口部は、コリメーショングリッド70の出力面270
に垂直な線に対して、コリメーショングリッド70の中央部で0度、コリメーシ
ョングリッド70の端部で20度程の角度をなす。一方、乳房部X線照射では、
コリメーショングリッド70は、出力面270に垂直な線に対して、グリッド端
部で45度に及ぶ角を形成する開口部を備え得る。したがって、好ましい走査ビ
ームX線撮像システムでは、適用する特定の医療に依って異なったコリメーショ
ングリッドが、選択され、使用され得る。
逸脱したX線が物体を照射しないように設計されている。これは、充分な厚みを
持った好適なコリメーショングリッド70を製造することによって達成されて、
開口部290を通過して多重検出器配列60に向かうX線放射量は、多重検出器
配列60の方向以外の全方向においてX線吸収部280を通過する累積X線放射
量よりも実質的に多い。このような逸脱X線は、画像に対して何ら意味のない情
報しか提供しないのに、患者と随伴するスタッフとにはX線量を与える。
ることができる形状ならいかなる形状でも本発明に使用され得るが、好ましくは
、円形部330と直線縁320とを持つ八角形に似た形状である。X線透過開口
部300は、縦列と横列のパターンに配置されている。一実施形態では、縦列と
横列の数は同じであり、X線開口部300の配置は正方形のパターンをしている
。さらに、開口部330間のピッチ340は、全開口部に対して水平方向垂直方
向とも同一である。コリメーショングリッドの寸法は、好ましくは、円形部33
0と円形部330との間の直径が10インチであり、直線縁320の中点と直線
縁320の中点との間の距離が9インチであり、好ましいピッチ340が2〜2
.5mmである。本発明で使用され得る開口部コリメーショングリッドの大きさ
と形状は、コリメーショングリッドを製造するときに使用される材料と、本発明
が適用される個々の用途とに依る。上述された形状と大きさとは、決して限定的
なものを意図していない。
70の特定領域を形成するコリメーショングリッドの開口部の群に対向する位置
において、ターゲットアセンブリをステップして横切る。X線透過情報は、各開
口部を通って発散するX線について多重検出器配列60で測定される。測定され
たX線透過情報は、画像データを作成するために、数学的に結合される。
レーム、好ましくは30フレームが作成されなければならない。1フレームとは
一つの完全な画像である。この一つの完全な画像においては、X線を放出するよ
うに求められた全開口部がX線を放出し、多重検出器配列に情報を与えて、上記
情報から像が復元される。100×100の開口部のコリメーショングリッドを
使用する好ましい実施形態に対して、ターゲットアセンブリ上の全位置の走査が
完了する時間は、1フレームに対して約66.7ミリ秒(1秒間当たり15フレ
ーム)から約33.3ミリ秒(1秒間当たり30フレーム)の範囲である。全フ
レーム時間は33ミリ秒から67ミリ秒の範囲であるが、物体内の動きによって
生じる移動ぼけを最小にするために、X線源10の視野内の物体は、好ましくは
12ミリ秒より少ない時間、照射される。X線撮像システムが心臓撮像照射に用
いられるときは、X線源10の視野内の物体は、好ましくは4ミリ秒間より少な
い時間、照射される。
ターゲットアセンブリ上の或る位置に居留され、続いて、ターゲットアセンブリ
上のこの居留位置から次の居留位置に偏向される。電子ビームを或る位置に居留
させ、続いて次の位置に偏向させることをステップと呼ぶ。各居留期間中に、一
開口部からのX線の一経路は、物体の一部を貫通して照射し、物体のその部分に
関するX線透過情報を多重検出器配列に与える。
コリメーショングリッド260と多重検出器配列110との間に挿間されている
。横列開口部における開口部410からの第1X線経路420は、当該物体40
0を貫通するX線を含んでいる。開口部430からの第2X線経路440は、当
該物体400を貫通するX線を含んでいる。第1開口部410と第2開口部43
0との間には、多くの開口部415が存在していることがわかる。各開口部41
5からのX線経路は、当該物体400を貫通するX線を含み、当該物体400に
関する情報を多重検出器配列110に与える。しかしながら、開口部460から
のX線経路470は、当該物体400を貫通するX線を含んでいない。このこと
は、開口部480からのX線経路の場合にも当て嵌まる。開口部460と480
とから放出されるX線は、当該物体400について有意義な情報を多重検出器配
列110に提供しない。
も、当該物体を照射する第1開口部における居留から最終開口部における居留ま
での時間は、照射時間(Tillumination)と呼ばれる。図4に示さ
れた例については、開口部410と開口部430との間の開口部415の各々に
おいても電子ビームは居留するものの、開口部410での居留と開口部430で
の居留との間の時間が、多重検出器配列110とコリメーショングリッド260
の配置視野に存在する当該物体400の照射時間(Tillumination )である。上述したように、X線撮像システムの視野にある当該物体の好ましい
照射時間は、12ミリ秒以下であり、X線撮像システムが心臓撮像照射に使用さ
れるときには、より好ましくは、4ミリ秒以下である。
対応したターゲットアセンブリ領域を1回以上ステップさせることにより行われ
る。一フレームで物体の一部を一回以上照射するのは、幾つかの目的があって行
われる。例えば、ターゲットアセンブリ材料の過熱を防止しつつ、より多くの線
束を物体に与えて鮮明な画像を得るためである。ターゲットアセンブリの一部を
再ステップする際には、像が単一画像フレーム内で形成される物体の如何なる部
分も、体内で生じる通常の動きを含むべきでない。例えば、鼓動する心臓が撮像
される場合、第1のステップの後に同一開口部で第2のステップが長時間経過し
て起こると、異なった位置の心臓の撮像情報が含まれる。表示装置上には、心臓
の画像がぼやけて現れる。単一の画像フレームに動きが含まれるのを防ぐために
、撮像される物体の一部は充分短い時間内で再照射され、単一のフレーム内に作
成される画像の中に動きが導入されるのを制限する。
定位置における第1居留時と第2居留時の間の時間間隔は、ターゲットが第1居
留時後においてターゲットアセンブリ上のその位置で充分に冷却できるような時
間であることが好ましい。2つのX線放出時期が或る期間によって分離され、全
ての所望線束が上記2つのX線放出時期で創出されることによって、ターゲット
は、第2居留時における新たな電子ビームの衝撃の影響を受ける前に、第1居留
時の電子ビームの衝撃の影響から免れて、冷却する機会が与えられる。一実施形
態では、第1居留時と第2居留時の間の期間は、100マイクロ秒以上であり、
好ましくは300マイクロ秒以上である。これに代わる実施形態では、ターゲッ
トの特定部分の再走査を幾度か行って、所望の線束を発生させる。上記再走査に
は、単一のフレームにおける同一開口部を通しての3回以上の走査が含まれる。
一実施形態では、各位置における居留時間は約1マイクロ秒である。一方、電子
ビームを一位置から次の位置に偏向すなわち掃行する時間は約280ナノ秒であ
る。ターゲット材料の過剰な温度上昇はターゲットアセンブリに損傷を与え得る
ので、この過剰な温度上昇を防止するために、居留時間は限定されなければなら
ない。最大の居留時間(TDwell)を決定する際に使用されるファクタは、
ターゲットアセンブリ材料の融点と比熱と熱伝導率とを含むターゲットアセンブ
リの材質と、電子ビームの出力と、ターゲットアセンブリ上の居留点の大きさと
である。
テップさせるために使用されるパターンは、蛇行パターンすなわち逆S字パター
ンである。上記蛇行パターンは、電子ビームをステップさせながら、コリメーシ
ョングリッドの最左開口部に対向するターゲットアセンブリ上の位置から、コリ
メーショングリッドの横列の各開口部に対向する位置で居留させながら第1横列
510を横切ることによって形成される。電子ビームは、第1横列510の全所
望居留位置に居留した後、経路520に沿って、第1横列510と隣接する第2
横列530に偏向される。第2横列530をステップして横切る際には、電子ビ
ームは最も右の開口部に対向するターゲットアセンブリ上に居留し、続いて横列
の開口部に対向する全所望位置に居留して、最も左の開口部に対向するターゲッ
トアセンブリに居留する。第2横列530における全ての所望居留位置に居留し
た後、電子ビームは経路540に沿って、第3横列550に偏向される。第3横
列550は、第1横列と同じ様にして、すなわち左から右へとステップして横切
る。このパターンは、ターゲットアセンブリの残りの部分についても継続される
。各所望の居留位置を通ってステップした後に、単一フレームに対するデータが
完成する。好ましい100×100のコリメーショングリッド内の開口部と対向
した所望位置でステップすることにより、物体の領域画像が構築される。
されている。電子ビームは、上記逆「S字」パターンと同じようにして、第1横
列600に沿ってステップされる。電子ビームは、次に、好ましくは、第1横列
600の最右開口部に対向する位置から第2横列620の最左開口部に対向する
位置に、経路610を渡って偏向される。電子ビームは、好ましくは、第2横列
620をステップして横切った後に、経路630によって示されるように偏向さ
れて、第1横列600の最左位置に戻る。これによって、第1横列600が2回
ステップされるようになる。次に、第2横列620は、上述したのと同じように
して、再度ステップされる。この逆「S字」二横列再ステップパターンは、各対
になった所望の横列のターゲットアセンブリに対して繰返され、各所望対の横列
は次セットの横列に移動する前に2回ステップされる。好ましい実施形態では、
単一の横列をステップして横切るのに、約150マイクロ秒を要する。
することによって作られる最大視野よりも小さいことが望ましい(好ましい視野
グリッドでは、直径が10インチである)。小さな視野は、ターゲットアセンブ
リの小領域を走査することによって作ることができる(例えば、全グリッド領域
よりも小さな視野グリッドの中央領域に作られる)。これは、例えば、100×
100の開口部を持つ視野グリッド内、中央の71×71の開口部によって形成
される領域内の居留位置に居留することによって達成される。この構成では、電
子ビームは、好ましくは、逆「S字」3横列再ステップパターンで、隣接する3
つの横列を2回ステップして横切り、次に、隣接する3つの横列からなるセット
に移動する。この走査パターンの利点は、ターゲット上の各位置に対して充分な
冷却時間が与えられることである。図7に示すように、横列760は、最左開口
部に対向するターゲット上の居留位置から始めて最右開口部に対向するターゲッ
ト上の居留位置まで、左から右へステップして横切られる。その後、横列770
と780は横列760と同様にステップして横切られる。横列780をステップ
して横切った後、横列760は始めにステップされたのと同じ様に再度ステップ
される。続いて、横列770と780とを横切って再ステップされる。次に、横
列790と800と810とは、横列760と770と780と同じ様にステッ
プされる。このパターンは、コリメーショングリッド内の開口部の各横列に対向
したターゲットの所望の横列全てに対して繰返される。
100×100開口部の正方形桝目列を備えている。同数の横列を再ステップす
る前にステップされる横列の数は、ターゲット材料に依る冷却時間TCoolD own と、画像各部の動きを排除するのに必要な時間とを均衡させる機能がある
。上記画像各部は、撮像される解剖体の特定部分に依る。
アセンブリ上の領域、つまり、その領域の大きさがコリメーショングリッド内の
さらに少ない開口部に対応している領域をステップして横切ることにより行われ
る。例えば、小さな視野は、50×50の開口部の領域に対応したターゲットア
センブリの領域をステップして横切ることによって作られ、上記50×50の開
口部の領域は、好ましくは、コリメーショングリッドの中央領域に位置する。こ
の小さな視野において、好ましくは、4つの横列は一度ステップして横切られ、
次に2度目のステップがなされて、逆「S字」4横列再ステップパターンを形成
し、続いて次セットの4横列に移行する。この代わりに、より小さな画像視野領
域における走査領域は、コリメーショングリッドの中央領域内にある必要がなく
、また、走査領域は必ずしも正方形や矩形である必要がない。
ットアセンブリ上の単一位置での居留と居留の間の時間が、物体を照射するター
ゲットアセンブリ上の全位置において、不鮮明さを排除するのに充分短い時間内
であるように選択されることである。一実施形態では、このターゲットアセンブ
リ上の単一位置における居留間の時間は、ターゲットアセンブリの過熱を防止す
るために、少なくとも100マイクロ秒、好ましくは300マイクロ秒である。
実際には、視野が小さくなればなるほど、横列内の位置で再ステップする前に、
より多くの横列が一度ステップされる必要がある。これは、横列の同一位置にお
けるステップ間の時間を充分長い期間維持してターゲットへの損傷を防止するた
めである。
れた発明の概念の精神から逸脱することなく、さらに多くの実施形態と適用と利
点とが存在する。本発明は、ここに添付されたクレームの範囲と精神とに従って
のみ限定されるべきものであり、好ましい実施形態または明細または図面に限定
されるものではない。
ターゲットアセンブリの部分拡大断面図を示す。
路の図である。
ンの図である。
状パターンの図である。
い段状パターンの図である。
る。
Claims (22)
- 【請求項1】 ターゲットアセンブリを横切って荷電粒子ビームを移動させ
る方法であって、 第1期間において少なくとも第1回と第2回でターゲットアセンブリ上の第1
組の位置を横切って荷電粒子ビームを移動させ、 物体を撮像するために上記第1期間において上記ターゲットアセンブリからX
線を発生させ、 上記第1期間は、好ましくない動きによって上記物体の画像が不鮮明になるの
を実質的に防止するのに充分短いことを特徴とする方法。 - 【請求項2】 請求項1に記載の方法において、 上記第1回と第2回で上記ターゲットアセンブリ上の上記第1組の位置を横切
って上記荷電粒子ビームを移動させた後、さらに、上記ターゲットアセンブリ上
の第2組の位置を横切って上記荷電粒子ビームを移動させることを特徴とする方
法。 - 【請求項3】 請求項1に記載の方法において、 上記X線ターゲットアセンブリ上の単一位置に上記荷電粒子ビームを第1回と
第2回で移動させる時間は、少なくとも50マイクロ秒であることを特徴とする
方法。 - 【請求項4】 請求項1に記載の方法において、 上記第1期間は12ミリ秒未満であることを特徴とする方法。
- 【請求項5】 請求項4に記載の方法において、 上記第1期間は約4ミリ秒であることを特徴とする方法。
- 【請求項6】 請求項1に記載の方法において、 上記第1組の位置と上記第2組の位置の中の位置の少なくとも1つは同一であ
ることを特徴とする方法。 - 【請求項7】 請求項1に記載の方法において、 上記荷電粒子ビームを移動させるやり方は、上記複数の位置を横切って上記荷
電粒子ビームをステップさせることによるものであることを特徴とする方法。 - 【請求項8】 X線ターゲットアセンブリ上で荷電粒子ビームを偏向させる
方法であって、 上記X線ターゲットの全走査域よりも小さな予め定められた領域上で、上記予
め定められた領域の一部分を上記荷電粒子ビームによって励起した後、上記予め
定められた領域の上記一部分と同じ部分を50マイクロ秒以上経って励起するよ
うに、荷電粒子ビームを複数回偏向させることを特徴とする方法。 - 【請求項9】 請求項8に記載の方法において、 上記予め定められた領域上での最初の照射と最後の照射の間の時間は、約12
ミリ秒未満であることを特徴とする方法。 - 【請求項10】 請求項9に記載の方法において、 上記予め定められた領域上での最初の照射と最後の照射の間の時間は、約4ミ
リ秒であることを特徴とする方法。 - 【請求項11】 請求項8に記載の方法において、 上記X線ターゲット上での上記荷電粒子ビームの偏向は、複数の位置で上記荷
電粒子ビームをステップさせることを備えていることを特徴とする方法。 - 【請求項12】 ターゲットアセンブリを横切って荷電粒子ビームを移動さ
せるシステムにおいて、 第1期間において少なくとも第1回と第2回でターゲットアセンブリ上の第1
組の位置を横切って荷電粒子ビームを移動させるための手段を備え、 上記第1期間は、生物体の生物学的の運動による画像のぼやけを防止するに充
分短いことを特徴とするシステム。 - 【請求項13】 請求項12に記載のシステムにおいて、 上記第1回と上記第2回で上記ターゲットアセンブリ上の上記第1組の位置を
横切って上記荷電粒子ビームを移動させた後、上記ターゲットアセンブリ上の第
2組の位置を横切って上記荷電粒子ビームを移動させるための手段をさらに備え
ていることを特徴とするシステム。 - 【請求項14】 請求項12に記載のシステムにおいて、 上記X線ターゲットアセンブリ上の単一位置場所に上記荷電粒子ビームを第1
回と第2回との間で移動させる時間は、少なくとも50マイクロ秒であることを
特徴とするシステム。 - 【請求項15】 請求項12に記載のシステムにおいて、 上記第1期間は12ミリ秒未満であることを特徴とするシステム。
- 【請求項16】 請求項12に記載のシステムにおいて、 上記第1期間は約4ミリ秒であることを特徴とするシステム。
- 【請求項17】 請求項12に記載のシステムにおいて、 上記第1組の位置と上記第2組の位置における位置の内の少なくとも1つの位
置は、同一であることを特徴とするシステム。 - 【請求項18】 請求項12に記載のシステムにおいて、 上記荷電粒子ビームを移動させるやり方は、上記複数の位置を横切って上記荷
電粒子ビームをステップさせることによることを特徴とするシステム。 - 【請求項19】 X線ターゲット上で荷電粒子ビームを偏向させるシステム
において、 上記X線ターゲットの全走査域よりも小さな予め定められた領域上で、上記予
め定められた領域の一部分を上記荷電粒子ビームによって励起した後、上記予め
定められた領域の上記一部分と同じ部分を50マイクロ秒以上経って励起するよ
うに、荷電粒子ビームを複数回偏向させることを特徴とするシステム。 - 【請求項20】 請求項19に記載のシステムにおいて、 上記予め定められた領域上での最初の照射と最後の照射の間の時間は、約12
ミリ秒未満であることを特徴とするシステム。 - 【請求項21】 請求項19に記載のシステムにおいて、 上記予め定められた領域上での最初の照射と最後の照射の間の時間は、約4ミ
リ秒であることを特徴とするシステム。 - 【請求項22】 請求項19に記載のシステムにおいて、 上記X線ターゲット上での上記荷電粒子ビームの偏向は、上記荷電粒子ビーム
を複数の位置でステップさせることを備えていることを特徴とするシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/167,405 US6183139B1 (en) | 1998-10-06 | 1998-10-06 | X-ray scanning method and apparatus |
US09/167,405 | 1998-10-06 | ||
PCT/US1999/022989 WO2000021114A1 (en) | 1998-10-06 | 1999-09-30 | X-ray scanning method and apparatus |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002527857A true JP2002527857A (ja) | 2002-08-27 |
JP2002527857A5 JP2002527857A5 (ja) | 2006-11-24 |
JP4562916B2 JP4562916B2 (ja) | 2010-10-13 |
Family
ID=22607247
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000575148A Expired - Fee Related JP4562916B2 (ja) | 1998-10-06 | 1999-09-30 | X線走査方法と装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6183139B1 (ja) |
EP (1) | EP1119870A4 (ja) |
JP (1) | JP4562916B2 (ja) |
AU (1) | AU1441800A (ja) |
IL (1) | IL142307A0 (ja) |
WO (1) | WO2000021114A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005291950A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Toshiba Corp | X線検査装置 |
JP2009515152A (ja) * | 2005-11-07 | 2009-04-09 | コメット・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | X線断層合成用の装置 |
Families Citing this family (54)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020065684A1 (en) * | 1999-11-30 | 2002-05-30 | Schwalb Perry L. | Electronic method and system that improves efficiencies for rendering diagnosis of radiology procedures |
US6278765B1 (en) * | 1999-12-30 | 2001-08-21 | Leonard Berliner | Process for producing diagnostic quality x-ray images from a fluoroscopic sequence |
US6907103B2 (en) * | 2002-06-19 | 2005-06-14 | Agilent Technologies, Inc. | Capturing images of moving objects with a moving illumination point source |
US8275091B2 (en) | 2002-07-23 | 2012-09-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Compact mobile cargo scanning system |
US7813473B2 (en) * | 2002-07-23 | 2010-10-12 | General Electric Company | Method and apparatus for generating temporally interpolated projections |
US6904118B2 (en) * | 2002-07-23 | 2005-06-07 | General Electric Company | Method and apparatus for generating a density map using dual-energy CT |
US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
US6914253B2 (en) * | 2002-10-24 | 2005-07-05 | Steris Inc. | System for measurement of absorbed doses of electron beams in an irradiated object |
FR2849250B1 (fr) * | 2002-12-23 | 2005-05-13 | Commissariat Energie Atomique | Procede de reconstruction d'une image radiographique par combinaison de vignettes se recouvrant |
GB0309383D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray tube electron sources |
US10483077B2 (en) | 2003-04-25 | 2019-11-19 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray sources having reduced electron scattering |
GB0309374D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray sources |
US9208988B2 (en) | 2005-10-25 | 2015-12-08 | Rapiscan Systems, Inc. | Graphite backscattered electron shield for use in an X-ray tube |
US9113839B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-08-25 | Rapiscon Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
US8223919B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-07-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
US7949101B2 (en) | 2005-12-16 | 2011-05-24 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
US8804899B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-08-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Imaging, data acquisition, data transmission, and data distribution methods and systems for high data rate tomographic X-ray scanners |
US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
US8837669B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-09-16 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
US8451974B2 (en) | 2003-04-25 | 2013-05-28 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items |
GB0309371D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-Ray tubes |
GB2437379B (en) * | 2003-04-25 | 2008-01-16 | Cxr Ltd | X-Ray tube electron sources |
GB0309379D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray scanning |
GB0309385D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-ray monitoring |
GB0309387D0 (en) * | 2003-04-25 | 2003-06-04 | Cxr Ltd | X-Ray scanning |
US8094784B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-01-10 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray sources |
GB0525593D0 (en) | 2005-12-16 | 2006-01-25 | Cxr Ltd | X-ray tomography inspection systems |
GB0812864D0 (en) | 2008-07-15 | 2008-08-20 | Cxr Ltd | Coolign anode |
US6928141B2 (en) | 2003-06-20 | 2005-08-09 | Rapiscan, Inc. | Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers |
US20050077472A1 (en) * | 2003-10-10 | 2005-04-14 | Steris Inc. | Irradiation system having cybernetic parameter acquisition system |
US7639774B2 (en) * | 2003-12-23 | 2009-12-29 | General Electric Company | Method and apparatus for employing multiple axial-sources |
US7333587B2 (en) * | 2004-02-27 | 2008-02-19 | General Electric Company | Method and system for imaging using multiple offset X-ray emission points |
US7471764B2 (en) | 2005-04-15 | 2008-12-30 | Rapiscan Security Products, Inc. | X-ray imaging system having improved weather resistance |
US9046465B2 (en) | 2011-02-24 | 2015-06-02 | Rapiscan Systems, Inc. | Optimization of the source firing pattern for X-ray scanning systems |
US7616731B2 (en) * | 2006-08-30 | 2009-11-10 | General Electric Company | Acquisition and reconstruction of projection data using a stationary CT geometry |
US20080056432A1 (en) * | 2006-08-30 | 2008-03-06 | General Electric Company | Reconstruction of CT projection data |
US7835486B2 (en) * | 2006-08-30 | 2010-11-16 | General Electric Company | Acquisition and reconstruction of projection data using a stationary CT geometry |
US7706499B2 (en) * | 2006-08-30 | 2010-04-27 | General Electric Company | Acquisition and reconstruction of projection data using a stationary CT geometry |
GB0803641D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
GB0803644D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
GB0809110D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Gantry scanner systems |
GB0816823D0 (en) | 2008-09-13 | 2008-10-22 | Cxr Ltd | X-ray tubes |
GB0901338D0 (en) | 2009-01-28 | 2009-03-11 | Cxr Ltd | X-Ray tube electron sources |
US8520800B2 (en) | 2010-08-09 | 2013-08-27 | Triple Ring Technologies, Inc. | Method and apparatus for radiation resistant imaging |
US8848867B2 (en) | 2010-11-26 | 2014-09-30 | Triple Ring Technologies, Inc. | Method and apparatus for adaptive exposure in x-ray systems |
US9218933B2 (en) | 2011-06-09 | 2015-12-22 | Rapidscan Systems, Inc. | Low-dose radiographic imaging system |
US8923484B2 (en) * | 2012-08-31 | 2014-12-30 | General Electric Company | Motion correction system and method for an x-ray tube |
US9001962B2 (en) | 2012-12-20 | 2015-04-07 | Triple Ring Technologies, Inc. | Method and apparatus for multiple X-ray imaging applications |
US9217719B2 (en) | 2013-01-10 | 2015-12-22 | Novaray Medical, Inc. | Method and apparatus for improved sampling resolution in X-ray imaging systems |
US9791590B2 (en) | 2013-01-31 | 2017-10-17 | Rapiscan Systems, Inc. | Portable security inspection system |
US9520263B2 (en) | 2013-02-11 | 2016-12-13 | Novaray Medical Inc. | Method and apparatus for generation of a uniform-profile particle beam |
JP2015114132A (ja) | 2013-12-09 | 2015-06-22 | キヤノン株式会社 | 放射線管及び放射線検査装置 |
EP3906856A1 (en) * | 2020-05-06 | 2021-11-10 | Excillum AB | X-ray imaging system |
US11551903B2 (en) | 2020-06-25 | 2023-01-10 | American Science And Engineering, Inc. | Devices and methods for dissipating heat from an anode of an x-ray tube assembly |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3176137A (en) * | 1961-10-31 | 1965-03-30 | Licentia Gmbh | Crt x-ray generator with beam velocity modulation for equalizing radiation |
US3949229A (en) * | 1974-06-24 | 1976-04-06 | Albert Richard D | X-ray scanning method and apparatus |
JPH03112098A (ja) * | 1989-09-15 | 1991-05-13 | Philips Gloeilampenfab:Nv | X線画像装置 |
WO1996025024A1 (en) * | 1995-02-10 | 1996-08-15 | Cardiac Mariners, Incorporated | X-ray source |
JPH09293598A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-11-11 | Toshiba Corp | X線装置 |
Family Cites Families (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2638554A (en) | 1949-10-05 | 1953-05-12 | Bartow Beacons Inc | Directivity control of x-rays |
US2667585A (en) | 1951-02-15 | 1954-01-26 | Hartford Nat Bank & Trust Co | Device for producing screening images of body sections |
US3944833A (en) | 1968-08-23 | 1976-03-16 | E M I Limited | Apparatus for examining a body by radiation such as X or gamma radiation |
US3780291A (en) | 1971-07-07 | 1973-12-18 | American Science & Eng Inc | Radiant energy imaging with scanning pencil beam |
US3818220A (en) | 1971-11-03 | 1974-06-18 | A Richards | Variable depth laminagraphy |
US3925660A (en) | 1972-05-08 | 1975-12-09 | Richard D Albert | Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method |
US4048496A (en) | 1972-05-08 | 1977-09-13 | Albert Richard D | Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method |
US3983397A (en) | 1972-05-08 | 1976-09-28 | Albert Richard D | Selectable wavelength X-ray source |
US4104526A (en) | 1973-04-24 | 1978-08-01 | Albert Richard D | Grid-cathode controlled X-ray tube |
GB1478124A (en) | 1973-08-31 | 1977-06-29 | Emi Ltd | Apparatus for examining bodies by means of penetrating radiation |
GB1493243A (en) | 1974-02-15 | 1977-11-30 | Emi Ltd | Radiographic apparatus |
US4066902A (en) | 1974-03-23 | 1978-01-03 | Emi Limited | Radiography with detector compensating means |
US4032787A (en) | 1974-06-24 | 1977-06-28 | Albert Richard D | Method and apparatus producing plural images of different contrast range by x-ray scanning |
US4002917A (en) | 1974-08-28 | 1977-01-11 | Emi Limited | Sources of X-radiation |
GB1529799A (en) | 1974-11-13 | 1978-10-25 | Emi Ltd | Radiography |
US4031395A (en) | 1975-02-21 | 1977-06-21 | Emi Limited | Radiography |
US4007375A (en) | 1975-07-14 | 1977-02-08 | Albert Richard D | Multi-target X-ray source |
US4144457A (en) | 1976-04-05 | 1979-03-13 | Albert Richard D | Tomographic X-ray scanning system |
US4149076A (en) | 1976-04-05 | 1979-04-10 | Albert Richard D | Method and apparatus producing plural images of different contrast range by X-ray scanning |
US4323779A (en) | 1977-06-03 | 1982-04-06 | Albert Richard David | Scanning radiographic method |
US4196351A (en) | 1977-06-03 | 1980-04-01 | Albert Richard David | Scanning radiographic apparatus |
US4321473A (en) | 1977-06-03 | 1982-03-23 | Albert Richard David | Focusing radiation collimator |
US4260885A (en) | 1978-02-24 | 1981-04-07 | Albert Richard D | Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method |
US4259583A (en) | 1979-05-03 | 1981-03-31 | Albert Richard D | Image region selector for a scanning X-ray system |
US4465540A (en) | 1979-05-03 | 1984-08-14 | Albert Richard D | Method of manufacture of laminate radiation collimator |
US4288697A (en) | 1979-05-03 | 1981-09-08 | Albert Richard D | Laminate radiation collimator |
US4392235A (en) * | 1979-08-16 | 1983-07-05 | General Electric Company | Electronically scanned x-ray tomography system |
US4259582A (en) | 1979-11-02 | 1981-03-31 | Albert Richard D | Plural image signal system for scanning x-ray apparatus |
DE3233064A1 (de) * | 1982-09-06 | 1984-03-08 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Drehanoden-roentgenroehre |
US4519092A (en) | 1982-10-27 | 1985-05-21 | Albert Richard D | Scanning x-ray spectrometry method and apparatus |
US4464776A (en) | 1983-06-23 | 1984-08-07 | Technicare Corporation | Multiplexing signal processing channels in a CT scanner with rotating source |
DE3330806A1 (de) * | 1983-08-26 | 1985-03-14 | Feinfocus Röntgensysteme GmbH, 3050 Wunstorf | Roentgenlithographiegeraet |
US4573179A (en) | 1984-05-29 | 1986-02-25 | Imatron, Inc. | Scanned projection radiography using high speed computed tomographic scanning system |
US4730350A (en) | 1986-04-21 | 1988-03-08 | Albert Richard D | Method and apparatus for scanning X-ray tomography |
AT392760B (de) | 1989-05-26 | 1991-06-10 | Plansee Metallwerk | Verbundkoerper aus graphit und hochschmelzendem metall |
US5231655A (en) | 1991-12-06 | 1993-07-27 | General Electric Company | X-ray collimator |
US5267296A (en) | 1992-10-13 | 1993-11-30 | Digiray Corporation | Method and apparatus for digital control of scanning X-ray imaging systems |
US5651047A (en) | 1993-01-25 | 1997-07-22 | Cardiac Mariners, Incorporated | Maneuverable and locateable catheters |
IL109143A (en) | 1993-04-05 | 1999-03-12 | Cardiac Mariners Inc | X-rays as a low-dose scanning detector by a digital X-ray imaging system |
US5550378A (en) | 1993-04-05 | 1996-08-27 | Cardiac Mariners, Incorporated | X-ray detector |
US5461659A (en) * | 1994-03-18 | 1995-10-24 | General Electric Company | Emissive coating for x-ray tube rotors |
US5608774A (en) * | 1995-06-23 | 1997-03-04 | Science Applications International Corporation | Portable, digital X-ray apparatus for producing, storing, and displaying electronic radioscopic images |
US6009146A (en) * | 1997-06-23 | 1999-12-28 | Adler; Richard J. | MeVScan transmission x-ray and x-ray system utilizing a stationary collimator method and apparatus |
-
1998
- 1998-10-06 US US09/167,405 patent/US6183139B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1999
- 1999-09-30 IL IL14230799A patent/IL142307A0/xx unknown
- 1999-09-30 AU AU14418/00A patent/AU1441800A/en not_active Abandoned
- 1999-09-30 WO PCT/US1999/022989 patent/WO2000021114A1/en active Application Filing
- 1999-09-30 EP EP99970207A patent/EP1119870A4/en not_active Withdrawn
- 1999-09-30 JP JP2000575148A patent/JP4562916B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3176137A (en) * | 1961-10-31 | 1965-03-30 | Licentia Gmbh | Crt x-ray generator with beam velocity modulation for equalizing radiation |
US3949229A (en) * | 1974-06-24 | 1976-04-06 | Albert Richard D | X-ray scanning method and apparatus |
JPH03112098A (ja) * | 1989-09-15 | 1991-05-13 | Philips Gloeilampenfab:Nv | X線画像装置 |
WO1996025024A1 (en) * | 1995-02-10 | 1996-08-15 | Cardiac Mariners, Incorporated | X-ray source |
JPH09293598A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-11-11 | Toshiba Corp | X線装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005291950A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Toshiba Corp | X線検査装置 |
JP2009515152A (ja) * | 2005-11-07 | 2009-04-09 | コメット・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | X線断層合成用の装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU1441800A (en) | 2000-04-26 |
JP4562916B2 (ja) | 2010-10-13 |
US6183139B1 (en) | 2001-02-06 |
WO2000021114A1 (en) | 2000-04-13 |
WO2000021114A8 (en) | 2000-06-29 |
IL142307A0 (en) | 2002-03-10 |
WO2000021114A9 (en) | 2000-09-14 |
EP1119870A4 (en) | 2006-09-13 |
EP1119870A1 (en) | 2001-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4562916B2 (ja) | X線走査方法と装置 | |
US10231687B2 (en) | Method and apparatus for enhanced X-ray computing arrays | |
US7330529B2 (en) | Stationary tomographic mammography system | |
US5610967A (en) | X-ray grid assembly | |
JP3487599B2 (ja) | 改良されたx線容積測定ctスキャナー | |
CA2649320C (en) | Tetrahedron beam computed tomography | |
EP0182529A2 (en) | Radiographic system | |
US9554767B2 (en) | Method and apparatus for controlling X-ray exposure | |
KR20080042806A (ko) | 이중 에너지 다이내믹 x-선 이미징을 위한 시스템 및 방법 | |
JP2005342514A (ja) | 走査ビーム型x線画像システム | |
JPH08508431A (ja) | 低照射量走査ビーム型デジタルx線撮影システム用x線検出器 | |
US8520800B2 (en) | Method and apparatus for radiation resistant imaging | |
US20100046712A1 (en) | Multiple focal spot x-ray tube with multiple electron beam manipulating units | |
JP7294592B2 (ja) | トモシンセシス、蛍光透視、及び定位イメージングのためのコンパクトx線デバイス、システム、及び方法 | |
JPS58118733A (ja) | ラジオグラフイ装置 | |
JP7114525B2 (ja) | 異なるエネルギーレベルおよび焦点スポット位置で撮像するように構成されたコンピュータ断層撮影システムおよび方法 | |
US6208709B1 (en) | Detection processing system | |
JP5268406B2 (ja) | X線ctスキャナ及びx線管装置 | |
US20230320686A1 (en) | Systems and methods for computed tomography |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060929 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060929 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20070807 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20070807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100309 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100525 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100706 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100728 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |