JP2002365369A - 比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法 - Google Patents
比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験を
容易とする。 【解決手段】 規準線量率より低い試験線量率を検出器
に照射する。そして、通常の中性子測定を行う動作電圧
ＶDから、試験線量率と規準線量率との差に応じたオフ
セット電圧ＶOFFSETだけ高電圧側にシフトした印加電圧
範囲［ＶR1，ＶR2］にてγ線感度の特性曲線３４を計測
する。試験線量率と規準線量率との差に基づいて、試験
線量率の特性曲線３４の立ち上がり電圧ＶTから、規準
線量率の特性曲線３２の立ち上がり電圧ＶSの推定値
ＶS'を求める。推定値ＶS'をＶDと比較し、ＶS'＞ＶDで
あれば、規準線量率ＤSまでγ線に対し不感であると判
定される。一方、ＶS'≦ＶDであれば、設定された動作
電圧ＶDにて規準線量率ＤS以下でγ線が検出されると判
定される。
容易とする。 【解決手段】 規準線量率より低い試験線量率を検出器
に照射する。そして、通常の中性子測定を行う動作電圧
ＶDから、試験線量率と規準線量率との差に応じたオフ
セット電圧ＶOFFSETだけ高電圧側にシフトした印加電圧
範囲［ＶR1，ＶR2］にてγ線感度の特性曲線３４を計測
する。試験線量率と規準線量率との差に基づいて、試験
線量率の特性曲線３４の立ち上がり電圧ＶTから、規準
線量率の特性曲線３２の立ち上がり電圧ＶSの推定値
ＶS'を求める。推定値ＶS'をＶDと比較し、ＶS'＞ＶDで
あれば、規準線量率ＤSまでγ線に対し不感であると判
定される。一方、ＶS'≦ＶDであれば、設定された動作
電圧ＶDにて規準線量率ＤS以下でγ線が検出されると判
定される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、比例計数管型中性
子検出器のγ線感度試験方法に関し、特に、中性子測定
を行う条件下でのγ線不感を確認する試験の容易化に関
する。
子検出器のγ線感度試験方法に関し、特に、中性子測定
を行う条件下でのγ線不感を確認する試験の容易化に関
する。
【０００２】
【従来の技術】比例計数管型中性子検出器として、3Ｈ
ｅを含有したガスを封入された比例計数管を用いたもの
がある。3Ｈｅ比例計数管は、3Ｈｅ（ｎ，ｐ）3Ｈ反応
を利用し、比例計数管領域の電圧が印加されて、中性子
検出パルスを出力する。
ｅを含有したガスを封入された比例計数管を用いたもの
がある。3Ｈｅ比例計数管は、3Ｈｅ（ｎ，ｐ）3Ｈ反応
を利用し、比例計数管領域の電圧が印加されて、中性子
検出パルスを出力する。
【０００３】3Ｈｅ比例計数管は、印加電圧によっては
γ線に対しても感度を有する。基本的にはγ線のパルス
高は中性子のパルス高に比べて低いため、ディスクリミ
ネータの閾値を適切に設定することにより、γ線による
計数を除去することができる。しかし、γ線の線量率が
高くなるとパイルアップを生じ、また印加電圧が高くな
るとガス増幅度が高まり、閾値を越えてγ線による計数
が生じ得る。中性子検出器がこのようにγ線に対し感度
を有することは、中性子測定に対し誤差を生じることと
なり好ましくない。
γ線に対しても感度を有する。基本的にはγ線のパルス
高は中性子のパルス高に比べて低いため、ディスクリミ
ネータの閾値を適切に設定することにより、γ線による
計数を除去することができる。しかし、γ線の線量率が
高くなるとパイルアップを生じ、また印加電圧が高くな
るとガス増幅度が高まり、閾値を越えてγ線による計数
が生じ得る。中性子検出器がこのようにγ線に対し感度
を有することは、中性子測定に対し誤差を生じることと
なり好ましくない。
【０００４】図３は、3Ｈｅ比例計数管の中性子及びγ
線に対する感度特性を示すグラフであり、縦軸は計数
値、横軸は印加電圧であり、中性子の特性曲線２とγ線
の特性曲線４とが示されている。各特性曲線は、印加電
圧を変えて、一定の線量率を比例計数管に入射させたと
きの計数値をプロットしたものであり、縦軸の計数値は
感度に相当する。中性子の特性曲線２はある印加電圧を
越えると感度の上昇が緩やかになるプラトー領域を生
じ、この領域が中性子検出に利用される。γ線の線源と
しては、例えば１００ｍＳｖ／ｈの照射が可能な強度を
持つ60Ｃｏが用いられる。3Ｈｅ比例計数管型中性子検
出器は、このような所定の線量率Ｄγのγ線に対して不
感となるように、中性子測定時の印加電圧ＶDを設定さ
れなければならない。例えば、図に示す例では、印加電
圧ＶDは１３００Ｖに規定される。
線に対する感度特性を示すグラフであり、縦軸は計数
値、横軸は印加電圧であり、中性子の特性曲線２とγ線
の特性曲線４とが示されている。各特性曲線は、印加電
圧を変えて、一定の線量率を比例計数管に入射させたと
きの計数値をプロットしたものであり、縦軸の計数値は
感度に相当する。中性子の特性曲線２はある印加電圧を
越えると感度の上昇が緩やかになるプラトー領域を生
じ、この領域が中性子検出に利用される。γ線の線源と
しては、例えば１００ｍＳｖ／ｈの照射が可能な強度を
持つ60Ｃｏが用いられる。3Ｈｅ比例計数管型中性子検
出器は、このような所定の線量率Ｄγのγ線に対して不
感となるように、中性子測定時の印加電圧ＶDを設定さ
れなければならない。例えば、図に示す例では、印加電
圧ＶDは１３００Ｖに規定される。
【０００５】しかし、経時変化や製造上のばらつきなど
により、この設定された印加電圧Ｖ Dにて検出器が所定
線量率Ｄγのγ線に対して有意な感度を有してしまう場
合がある。そこで、そのような場合を検知して対処する
ために、印加電圧ＶDでの検出器のγ線感度の有無が試
験される。従来、この試験は、不感であるべき線量率Ｄ
γのγ線源を用いて検出器にγ線を入射させながら、印
加電圧をＶDから所定の高電圧までの範囲（例えば図に
示す１３００〜１４００Ｖの電圧範囲６）にて変化さ
せ、γ線の感度の特性曲線４の立ち上がり位置を確認す
ることにより行われる。つまり、立ち上がり電圧が設定
された印加電圧ＶDよりも高い場合には、検出器は所定
線量率Ｄγまで不感であると判定される。図３に示す例
では、印加電圧ＶDは１３００Ｖに設定される。
により、この設定された印加電圧Ｖ Dにて検出器が所定
線量率Ｄγのγ線に対して有意な感度を有してしまう場
合がある。そこで、そのような場合を検知して対処する
ために、印加電圧ＶDでの検出器のγ線感度の有無が試
験される。従来、この試験は、不感であるべき線量率Ｄ
γのγ線源を用いて検出器にγ線を入射させながら、印
加電圧をＶDから所定の高電圧までの範囲（例えば図に
示す１３００〜１４００Ｖの電圧範囲６）にて変化さ
せ、γ線の感度の特性曲線４の立ち上がり位置を確認す
ることにより行われる。つまり、立ち上がり電圧が設定
された印加電圧ＶDよりも高い場合には、検出器は所定
線量率Ｄγまで不感であると判定される。図３に示す例
では、印加電圧ＶDは１３００Ｖに設定される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来の試験方法
で用いられるγ線源は比較的強いものであり、その取り
扱いが不便であった。例えば、そのγ線源を取り扱うに
は、放射線遮蔽室内でマニピュレータ等を使用して遠隔
操作することが要求され、試験対象の検出器をそのよう
な特殊設備の下に運び込んで試験を行うことが必要であ
った。
で用いられるγ線源は比較的強いものであり、その取り
扱いが不便であった。例えば、そのγ線源を取り扱うに
は、放射線遮蔽室内でマニピュレータ等を使用して遠隔
操作することが要求され、試験対象の検出器をそのよう
な特殊設備の下に運び込んで試験を行うことが必要であ
った。
【０００７】本発明は上記問題点を解消するためになさ
れたもので、取り扱いが容易な弱い線源を用いて比例計
数管型中性子検出器のγ線感度を確認することができる
試験方法を提供することを目的とする。
れたもので、取り扱いが容易な弱い線源を用いて比例計
数管型中性子検出器のγ線感度を確認することができる
試験方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明に係る比例係数管
型中性子検出器のγ線感度試験方法は、動作電圧で実質
的に不感とされる規準線量率よりも低い試験線量率のγ
線を比例計数管に照射し、前記規準線量率と前記試験線
量率との差に応じたオフセット電圧だけ前記動作電圧よ
りも高い試験電圧を前記比例計数管に印加し、前記試験
線量率のγ線を用いて、前記試験電圧が印加された比例
計数管のγ線感度の試験を行い、前記γ線感度の試験結
果から、前記動作電圧が前記規準線量率のγ線に対して
実質的に不感であるように設定されているか否かを判定
するものである。
型中性子検出器のγ線感度試験方法は、動作電圧で実質
的に不感とされる規準線量率よりも低い試験線量率のγ
線を比例計数管に照射し、前記規準線量率と前記試験線
量率との差に応じたオフセット電圧だけ前記動作電圧よ
りも高い試験電圧を前記比例計数管に印加し、前記試験
線量率のγ線を用いて、前記試験電圧が印加された比例
計数管のγ線感度の試験を行い、前記γ線感度の試験結
果から、前記動作電圧が前記規準線量率のγ線に対して
実質的に不感であるように設定されているか否かを判定
するものである。
【０００９】本来、規準線量率のγ線に対して不感であ
るべき動作電圧において、中性子検出器を構成する比例
計数管が実際に不感となっているかどうかが試験され
る。この試験を容易とするために、本発明では比例計数
管に規準線量率よりも低い試験線量率のγ線を照射す
る。比例計数管領域では、印加電圧に応じて出力電流が
増幅される。そこで、印加電圧を上げることによって、
低い試験線量率の照射で規準線量率と同等の出力が比例
計数管から得られる状態にする。そして、当該状態にて
γ線が検知されるか否かを試験することによって、動作
電圧での規準線量のγ線に対する感度の有無が推定され
る。線量率が低い分、試験に用いるγ線源の取り扱いが
容易となり、また照射環境に関する条件が緩和される。
るべき動作電圧において、中性子検出器を構成する比例
計数管が実際に不感となっているかどうかが試験され
る。この試験を容易とするために、本発明では比例計数
管に規準線量率よりも低い試験線量率のγ線を照射す
る。比例計数管領域では、印加電圧に応じて出力電流が
増幅される。そこで、印加電圧を上げることによって、
低い試験線量率の照射で規準線量率と同等の出力が比例
計数管から得られる状態にする。そして、当該状態にて
γ線が検知されるか否かを試験することによって、動作
電圧での規準線量のγ線に対する感度の有無が推定され
る。線量率が低い分、試験に用いるγ線源の取り扱いが
容易となり、また照射環境に関する条件が緩和される。
【００１０】本発明の好適な態様は、前記オフセット電
圧が、前記試験線量率のγ線に対し前記比例計数管が所
定の閾値感度を有する印加電圧と、前記規準線量率のγ
線に対し前記比例計数管が前記閾値感度を有する印加電
圧との差に応じて定められるγ線感度試験方法である。
本態様では、試験線量率のγ線に対する感度の特性曲線
が立ち上がる印加電圧と、規準線量率のγ線に対する感
度の特性曲線が立ち上がる印加電圧との差に応じてオフ
セット電圧が設定される。
圧が、前記試験線量率のγ線に対し前記比例計数管が所
定の閾値感度を有する印加電圧と、前記規準線量率のγ
線に対し前記比例計数管が前記閾値感度を有する印加電
圧との差に応じて定められるγ線感度試験方法である。
本態様では、試験線量率のγ線に対する感度の特性曲線
が立ち上がる印加電圧と、規準線量率のγ線に対する感
度の特性曲線が立ち上がる印加電圧との差に応じてオフ
セット電圧が設定される。
【００１１】本発明の他の好適な態様は、前記試験電圧
以上の所定の印加電圧範囲での前記試験線量率のγ線に
対する前記比例計数管の計数値の変動に基づいて、前記
試験電圧での当該比例計数管のγ線感度を検査するγ線
感度試験方法である。本態様では、印加電圧範囲内での
試験線量率のγ線に対する感度特性が測定される。試験
線量率と規準線量率との差に応じた感度特性の印加電圧
軸方向のシフト量を考慮して、試験線量率の感度特性か
ら規準線量率の感度特性が推定される。この推定された
規準線量率の感度特性に基づいて、動作電圧での規準線
量率のγ線に対する感度の有無が判定される。
以上の所定の印加電圧範囲での前記試験線量率のγ線に
対する前記比例計数管の計数値の変動に基づいて、前記
試験電圧での当該比例計数管のγ線感度を検査するγ線
感度試験方法である。本態様では、印加電圧範囲内での
試験線量率のγ線に対する感度特性が測定される。試験
線量率と規準線量率との差に応じた感度特性の印加電圧
軸方向のシフト量を考慮して、試験線量率の感度特性か
ら規準線量率の感度特性が推定される。この推定された
規準線量率の感度特性に基づいて、動作電圧での規準線
量率のγ線に対する感度の有無が判定される。
【００１２】本発明の別の好適な態様は、前記試験線量
率のγ線の照射が、人の把持による取り扱いが可能な放
射線源を用いて行われるγ線感度試験方法である。
率のγ線の照射が、人の把持による取り扱いが可能な放
射線源を用いて行われるγ線感度試験方法である。
【００１３】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。
図面を参照して説明する。
【００１４】図１は、本発明が適用される3Ｈｅ比例計
数管型中性子検出器の概略のブロック図である。本検出
器は、放射線検出器１０、高圧電源１２、信号検知回路
１４、及び計数回路１６を含んで構成される。
数管型中性子検出器の概略のブロック図である。本検出
器は、放射線検出器１０、高圧電源１２、信号検知回路
１４、及び計数回路１６を含んで構成される。
【００１５】放射線検出器１０は、比例計数管２０と中
性子減速材２２とを含んで構成される。比例計数管２０
は3Ｈｅを含んだガスを封入されている。比例計数管２
０に入射した中性子は、3Ｈｅ（ｎ，ｐ）3Ｈ反応によっ
て陽子を生じる。この陽子がガスを電離してイオンを生
じ、電気信号として検知される。3Ｈｅは熱中性子に対
して大きな吸収断面積を有する。中性子減速材２２は、
比較的速い中性子を熱中性子に減速し、比例計数管２０
での計数効率を高めるものであり、例えばポリエチレン
を用いて構成される。
性子減速材２２とを含んで構成される。比例計数管２０
は3Ｈｅを含んだガスを封入されている。比例計数管２
０に入射した中性子は、3Ｈｅ（ｎ，ｐ）3Ｈ反応によっ
て陽子を生じる。この陽子がガスを電離してイオンを生
じ、電気信号として検知される。3Ｈｅは熱中性子に対
して大きな吸収断面積を有する。中性子減速材２２は、
比較的速い中性子を熱中性子に減速し、比例計数管２０
での計数効率を高めるものであり、例えばポリエチレン
を用いて構成される。
【００１６】高圧電源１２は、比例計数管２０の管壁と
芯線との間に高電圧を印加する。放射線により生じた電
子は、高電圧によるなだれ現象によって増倍され、陽極
である芯線に集められて、電流パルスとして比例計数管
２０から出力される。高圧電源１２の出力電圧は可変に
構成される。
芯線との間に高電圧を印加する。放射線により生じた電
子は、高電圧によるなだれ現象によって増倍され、陽極
である芯線に集められて、電流パルスとして比例計数管
２０から出力される。高圧電源１２の出力電圧は可変に
構成される。
【００１７】比例計数管２０からの電流信号は電圧信号
に変換されて信号検知回路１４に入力される。信号検知
回路１４は、アンプ及びディスクリミネータを含んで構
成され、ノイズレベル以上の波高を有する信号を検知し
てパルス信号を生成する。
に変換されて信号検知回路１４に入力される。信号検知
回路１４は、アンプ及びディスクリミネータを含んで構
成され、ノイズレベル以上の波高を有する信号を検知し
てパルス信号を生成する。
【００１８】計数回路１６は、信号検知回路１４から出
力されるパルス信号を計数し、計数値を出力する。
力されるパルス信号を計数し、計数値を出力する。
【００１９】比例計数管２０に入射する中性子以外の放
射線は、中性子測定に際してのバックグラウンドノイズ
となり得る。それら他の放射線のうち、バックグラウン
ドγ線はレートが高いが、バックグラウンドγ線のパル
ス高は中性子のパルス高に比べて低いため、信号検知回
路１４のディスクリミネータの閾値を適切に設定するこ
とにより、γ線による計数を効果的に除去することがで
きる。しかし、上述したように、γ線の線量率が高くな
ると、パルスのパイルアップにより、ディスクリミネー
タの閾値を越えてγ線による計数が生じ得、これは中性
子測定に対する誤差となる。3Ｈｅ比例計数管型中性子
検出器の中性子測定を行う動作電圧ＶDは、所定の規準
線量率ＤSのγ線に対する特性曲線の立ち上がり点より
低い電圧でなければならないのでγ線感度試験が行われ
る。
射線は、中性子測定に際してのバックグラウンドノイズ
となり得る。それら他の放射線のうち、バックグラウン
ドγ線はレートが高いが、バックグラウンドγ線のパル
ス高は中性子のパルス高に比べて低いため、信号検知回
路１４のディスクリミネータの閾値を適切に設定するこ
とにより、γ線による計数を効果的に除去することがで
きる。しかし、上述したように、γ線の線量率が高くな
ると、パルスのパイルアップにより、ディスクリミネー
タの閾値を越えてγ線による計数が生じ得、これは中性
子測定に対する誤差となる。3Ｈｅ比例計数管型中性子
検出器の中性子測定を行う動作電圧ＶDは、所定の規準
線量率ＤSのγ線に対する特性曲線の立ち上がり点より
低い電圧でなければならないのでγ線感度試験が行われ
る。
【００２０】図２は、本発明に係るγ線感度試験方法の
説明に用いるグラフであって、3Ｈｅ比例計数管の中性
子及びγ線に対する感度特性を示すグラフである。縦軸
は計数値、横軸は印加電圧であり、中性子の特性曲線３
０、規準線量率ＤSのγ線源に対する特性曲線３２、及
び後述する試験線量率ＤTのγ線源に対する特性曲線３
４が示されている。各特性曲線３２，３４は、印加電圧
を変えて、一定の線量率を比例計数管に入射させたとき
のカウント値をプロットしたものであり、縦軸の計数値
は感度に相当する。
説明に用いるグラフであって、3Ｈｅ比例計数管の中性
子及びγ線に対する感度特性を示すグラフである。縦軸
は計数値、横軸は印加電圧であり、中性子の特性曲線３
０、規準線量率ＤSのγ線源に対する特性曲線３２、及
び後述する試験線量率ＤTのγ線源に対する特性曲線３
４が示されている。各特性曲線３２，３４は、印加電圧
を変えて、一定の線量率を比例計数管に入射させたとき
のカウント値をプロットしたものであり、縦軸の計数値
は感度に相当する。
【００２１】中性子の特性曲線３０のプラトー領域で
は、印加電圧の変動による感度変化の低下が小さいの
で、中性子測定の動作電圧ＶDはこのプラトー領域内に
設定される。すなわち、動作電圧ＶDとして、当該プラ
トー領域に属する電圧であって、かつ規準線量率ＤSの
γ線に対する特性曲線３２が立ち上がる電圧ＶSより低
い電圧が定められるべきである。しかし、経時変化や製
造上のばらつきなどにより、ＶSが動作電圧ＶDより低く
なる、すなわち電圧ＶDにて本中性子検出器が規準線量
率ＤSのγ線を検知してしまうことがある。
は、印加電圧の変動による感度変化の低下が小さいの
で、中性子測定の動作電圧ＶDはこのプラトー領域内に
設定される。すなわち、動作電圧ＶDとして、当該プラ
トー領域に属する電圧であって、かつ規準線量率ＤSの
γ線に対する特性曲線３２が立ち上がる電圧ＶSより低
い電圧が定められるべきである。しかし、経時変化や製
造上のばらつきなどにより、ＶSが動作電圧ＶDより低く
なる、すなわち電圧ＶDにて本中性子検出器が規準線量
率ＤSのγ線を検知してしまうことがある。
【００２２】次に、本中性子検出器が動作電圧ＶDで規
準線量率ＤSのγ線源に対して不感であるか否かを調べ
るγ線感度試験方法について述べる。弱い線源を用い
て、規準線量率ＤSより低い線量率である試験線量率ＤT
において本発明に係る試験が行われる。例えば、試験線
量率ＤTは規準線量率ＤSの１０００分の１程度とするこ
とができる。図２に示すγ線の特性曲線３２、３４は、
例えば、それぞれ１００ｍＣｉ、１００μＣｉの60Ｃｏ
をγ線源に用いて得られたものである。
準線量率ＤSのγ線源に対して不感であるか否かを調べ
るγ線感度試験方法について述べる。弱い線源を用い
て、規準線量率ＤSより低い線量率である試験線量率ＤT
において本発明に係る試験が行われる。例えば、試験線
量率ＤTは規準線量率ＤSの１０００分の１程度とするこ
とができる。図２に示すγ線の特性曲線３２、３４は、
例えば、それぞれ１００ｍＣｉ、１００μＣｉの60Ｃｏ
をγ線源に用いて得られたものである。
【００２３】基本的に比例計数管は、印加電圧を高くす
るとガス増幅度が上がり、感度も向上する。これによ
り、試験線量率ＤTの特性曲線３４は、規準線量率ＤSの
特性曲線３２よりも高い印加電圧で立ち上がる。ここ
で、特性曲線３４の立ち上がり電圧ＶTと特性曲線３２
の立ち上がり電圧ＶSとの差Δ（≡ＶT−ＶS）は、規準
線量率ＤSと試験線量率ＤTとの差からおおよそ推定する
ことが可能である。例えば、試験対象である検出器と同
等の中性子検出器をサンプルとして、線量率の変化と立
ち上がり電圧の変化との関係を一旦求めておけば、その
関係を用いて同種製品である試験対象検出器について立
ち上がり電圧差Δの推定を行うことが可能である。
るとガス増幅度が上がり、感度も向上する。これによ
り、試験線量率ＤTの特性曲線３４は、規準線量率ＤSの
特性曲線３２よりも高い印加電圧で立ち上がる。ここ
で、特性曲線３４の立ち上がり電圧ＶTと特性曲線３２
の立ち上がり電圧ＶSとの差Δ（≡ＶT−ＶS）は、規準
線量率ＤSと試験線量率ＤTとの差からおおよそ推定する
ことが可能である。例えば、試験対象である検出器と同
等の中性子検出器をサンプルとして、線量率の変化と立
ち上がり電圧の変化との関係を一旦求めておけば、その
関係を用いて同種製品である試験対象検出器について立
ち上がり電圧差Δの推定を行うことが可能である。
【００２４】本試験方法では、試験線量率ＤTのγ線を
放射線検出器１０に照射しつつ、動作電圧ＶDよりも所
定のオフセット電圧ＶOFFSETだけ高い試験下限電圧ＶR1
とＶR 1よりも所定電圧高い試験上限電圧ＶR2との間で印
加電圧を変化させ、計数値を測定する。この測定は、放
射線検出器１０に中性子が照射されない条件下で行われ
る。この印加電圧範囲［ＶR1，ＶR2］内での計数回路１
６の出力計数値の変動に基づいて、特性曲線３４がプロ
ットされ、その立ち上がり電圧ＶTが決定される。Ｖ
OFFSETは立ち上がり電圧差Δの推定値に応じて定められ
る。一例として、ＶDは１３００Ｖ程度、またＤS／ＤT
〜１０００に対してＶOFFSETは１００Ｖ程度、印加電圧
範囲は１００Ｖ程度である。なお、立ち上がり電圧ＶT
は、立ち上がり後の感度特性を計数値０の軸へ外挿して
定めることができる。また、計数値が所定の閾値を越え
る電圧をＶTと定めることもできる。
放射線検出器１０に照射しつつ、動作電圧ＶDよりも所
定のオフセット電圧ＶOFFSETだけ高い試験下限電圧ＶR1
とＶR 1よりも所定電圧高い試験上限電圧ＶR2との間で印
加電圧を変化させ、計数値を測定する。この測定は、放
射線検出器１０に中性子が照射されない条件下で行われ
る。この印加電圧範囲［ＶR1，ＶR2］内での計数回路１
６の出力計数値の変動に基づいて、特性曲線３４がプロ
ットされ、その立ち上がり電圧ＶTが決定される。Ｖ
OFFSETは立ち上がり電圧差Δの推定値に応じて定められ
る。一例として、ＶDは１３００Ｖ程度、またＤS／ＤT
〜１０００に対してＶOFFSETは１００Ｖ程度、印加電圧
範囲は１００Ｖ程度である。なお、立ち上がり電圧ＶT
は、立ち上がり後の感度特性を計数値０の軸へ外挿して
定めることができる。また、計数値が所定の閾値を越え
る電圧をＶTと定めることもできる。
【００２５】特性曲線３４の立ち上がり電圧ＶTから立
ち上がり電圧Δの推定値を減じて、特性曲線３２の立ち
上がり電圧の推定値ＶS'が求まる。この推定値ＶS'を動
作電圧ＶDと比較して、動作電圧ＶDでの規準線量率ＤS
のγ線に対する感度の有無が判定される。具体的には、
立ち上がり電圧の推定値ＶS'＞動作電圧ＶDであれば、
規準線量率ＤSまでγ線に対し不感であると判定され
る。一方、立ち上がり電圧の推定値ＶS'≦動作電圧ＶD
であれば、設定された動作電圧ＶDにて規準線量率ＤSで
γ線が検出されると判定される。
ち上がり電圧Δの推定値を減じて、特性曲線３２の立ち
上がり電圧の推定値ＶS'が求まる。この推定値ＶS'を動
作電圧ＶDと比較して、動作電圧ＶDでの規準線量率ＤS
のγ線に対する感度の有無が判定される。具体的には、
立ち上がり電圧の推定値ＶS'＞動作電圧ＶDであれば、
規準線量率ＤSまでγ線に対し不感であると判定され
る。一方、立ち上がり電圧の推定値ＶS'≦動作電圧ＶD
であれば、設定された動作電圧ＶDにて規準線量率ＤSで
γ線が検出されると判定される。
【００２６】
【発明の効果】本発明の比例計数管型中性子検出器のγ
線感度試験方法によれば、線量率の低いγ線源を用いて
試験を行うことができる。よって、γ線源の取り扱いが
容易となる。例えば、γ線源を取り扱うためのマニピュ
レータなどの大がかりな設備が不要となる。また、例え
ば、作業者が手で取り扱うことができるγ線源を用いて
感度試験を行うことも可能となる。さらに、γ線源は可
搬であり、またその取り扱いに特別の設備を必要としな
いので、試験場所に対する制約が緩和される。
線感度試験方法によれば、線量率の低いγ線源を用いて
試験を行うことができる。よって、γ線源の取り扱いが
容易となる。例えば、γ線源を取り扱うためのマニピュ
レータなどの大がかりな設備が不要となる。また、例え
ば、作業者が手で取り扱うことができるγ線源を用いて
感度試験を行うことも可能となる。さらに、γ線源は可
搬であり、またその取り扱いに特別の設備を必要としな
いので、試験場所に対する制約が緩和される。
【図１】 本発明が適用される3Ｈｅ比例計数管型中性
子検出器の概略のブロック図である。
子検出器の概略のブロック図である。
【図２】 本発明に係るγ線感度試験方法の説明に用い
るグラフであって、 3Ｈｅ比例計数管の中性子及びγ線
に対する感度特性を示すグラフである。
るグラフであって、 3Ｈｅ比例計数管の中性子及びγ線
に対する感度特性を示すグラフである。
【図３】 従来のγ線感度試験方法の説明に用いるグラ
フであって、3Ｈｅ比例計数管の中性子及びγ線に対す
る感度特性を示すグラフである。
フであって、3Ｈｅ比例計数管の中性子及びγ線に対す
る感度特性を示すグラフである。
１０ 放射線検出器、１２ 高圧電源、１４ 信号検知
回路、１６ 計数回路、２０ 比例計数管、２２ 中性
子減速材。
回路、１６ 計数回路、２０ 比例計数管、２２ 中性
子減速材。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 矢野 賢一 東京都三鷹市牟礼６丁目22番１号 アロカ 株式会社内 (72)発明者 岩本 明憲 東京都三鷹市牟礼６丁目22番１号 アロカ 株式会社内 Ｆターム(参考） 2G088 FF09 GG05 LL15 LL26
Claims (4)
- 【請求項１】 中性子とγ線との混在場において中性子
を選択的に検出するために、規準線量率のγ線に対して
実質的に不感であるように動作電圧があらかじめ設定さ
れた比例計数管について、そのγ線の感度を試験する方
法において、 前記規準線量率よりも低い試験線量率のγ線を前記比例
計数管に照射し、 前記規準線量率と前記試験線量率との差に応じたオフセ
ット電圧だけ前記動作電圧よりも高い試験電圧を前記比
例計数管に印加し、 前記試験線量率のγ線を用いて、前記試験電圧が印加さ
れた比例計数管のγ線感度の試験を行い、 前記γ線感度の試験結果から、前記動作電圧が前記規準
線量率のγ線に対して実質的に不感であるように設定さ
れているか否かを判定すること、 を特徴とする比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験
方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の方法において、前記オフ
セット電圧は、前記試験線量率のγ線に対し前記比例計
数管が所定の閾値感度を有する印加電圧と、前記規準線
量率のγ線に対し前記比例計数管が前記閾値感度を有す
る印加電圧との差に応じて定められること、を特徴とす
る比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法。 - 【請求項３】 請求項１記載の方法において、 前記試験電圧以上の所定の印加電圧範囲での前記試験線
量率のγ線に対する前記比例計数管の計数値の変動に基
づいて、前記試験電圧での当該比例計数管のγ線感度を
検査すること、を特徴とする比例計数管型中性子検出器
のγ線感度試験方法。 - 【請求項４】 請求項１記載の方法において、 前記試験線量率のγ線の照射は、人の把持による取り扱
いが可能な放射線源を用いて行われること、を特徴とす
る比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001176038A JP3728220B2 (ja) | 2001-06-11 | 2001-06-11 | 比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001176038A JP3728220B2 (ja) | 2001-06-11 | 2001-06-11 | 比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002365369A true JP2002365369A (ja) | 2002-12-18 |
| JP3728220B2 JP3728220B2 (ja) | 2005-12-21 |
Family
ID=19017083
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001176038A Expired - Fee Related JP3728220B2 (ja) | 2001-06-11 | 2001-06-11 | 比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3728220B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013140130A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-18 | Kookmin University Industry-Academic Cooperation Foundation | 冷凍器を用いて極低温で磁場を印加するメスバウア分光システム |
-
2001
- 2001-06-11 JP JP2001176038A patent/JP3728220B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013140130A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-18 | Kookmin University Industry-Academic Cooperation Foundation | 冷凍器を用いて極低温で磁場を印加するメスバウア分光システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3728220B2 (ja) | 2005-12-21 |
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