JP2002365224A - 液晶表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法 - Google Patents
液晶表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ヒューマンエラーを排除した精度の高い検査
となるとともに、歩留りを向上させることができる液晶
表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法
を提供する。 【解決手段】 液晶表示装置の端子部における樹脂コー
ティングの検査方法であって、液晶表示装置の端子部分
を特定波長光で発光する材料を含有する樹脂でコーティ
ングし、得られた樹脂コーティングに検査時に特定波長
光を含む光を照射し、樹脂コーティングの発光領域の良
否を判定する。
となるとともに、歩留りを向上させることができる液晶
表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法
を提供する。 【解決手段】 液晶表示装置の端子部における樹脂コー
ティングの検査方法であって、液晶表示装置の端子部分
を特定波長光で発光する材料を含有する樹脂でコーティ
ングし、得られた樹脂コーティングに検査時に特定波長
光を含む光を照射し、樹脂コーティングの発光領域の良
否を判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は液晶表示装置（ＬＣ
Ｄ）の端子部における樹脂コーティングの検査方法に関
する。さらに詳しくは、端子部分のコーティング検査の
自動化を可能とする、特定波長光で発光または反射する
材料を用いた樹脂コーティングの検査方法である。
Ｄ）の端子部における樹脂コーティングの検査方法に関
する。さらに詳しくは、端子部分のコーティング検査の
自動化を可能とする、特定波長光で発光または反射する
材料を用いた樹脂コーティングの検査方法である。
【０００２】
【従来の技術】一般に液晶表示装置では、ドライバＩＣ
の端子と液晶パネルの端子との接続端子部に、水分その
他端子腐食を発生させる物質が付着しないように、樹脂
コーティングが施されている。
の端子と液晶パネルの端子との接続端子部に、水分その
他端子腐食を発生させる物質が付着しないように、樹脂
コーティングが施されている。
【０００３】こうした樹脂コーティングは、透明樹脂や
着色樹脂にかかわらず、作業者による目視での検査が実
施されている。しかし、作業者による目視検査には、作
業者間のばらつきや誤認といったヒューマンエラーが生
じる。
着色樹脂にかかわらず、作業者による目視での検査が実
施されている。しかし、作業者による目視検査には、作
業者間のばらつきや誤認といったヒューマンエラーが生
じる。
【０００４】また、検査工程が手作業であるため、製造
工程での一貫したオンライン作業に組み込むことができ
ず、処理能力を向上させることが難しい。
工程での一貫したオンライン作業に組み込むことができ
ず、処理能力を向上させることが難しい。
【０００５】これに対し、検査精度の向上という点で
は、シリコーン系の非透明樹脂を用いることで、コーテ
ィング状態の視認性を高める対策がある。しかしなが
ら、シリコーン系樹脂は硬化後の除去が困難であり、液
晶表示装置製造メーカーにおける工程内での装置の再製
作業に支障をきたす。
は、シリコーン系の非透明樹脂を用いることで、コーテ
ィング状態の視認性を高める対策がある。しかしなが
ら、シリコーン系樹脂は硬化後の除去が困難であり、液
晶表示装置製造メーカーにおける工程内での装置の再製
作業に支障をきたす。
【０００６】かかる問題を解決するため、除去が容易な
フッ素系樹脂を用いることも可能であるが、フッ素系樹
脂は透明であるため視認性が低く、検査精度に問題が生
じる。
フッ素系樹脂を用いることも可能であるが、フッ素系樹
脂は透明であるため視認性が低く、検査精度に問題が生
じる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、叙上の事情
に鑑み、ヒューマンエラーを排除した精度の高い検査と
なるとともに、歩留りを向上させることができる液晶表
示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法を
提供する。
に鑑み、ヒューマンエラーを排除した精度の高い検査と
なるとともに、歩留りを向上させることができる液晶表
示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法を
提供する。
【０００８】本発明の他の目的は、樹脂コーティングの
検査を自動化（装置化）することにより、処理能力の向
上を図ることができる液晶表示装置の端子部における樹
脂コーティングの検査方法を提供するものである。
検査を自動化（装置化）することにより、処理能力の向
上を図ることができる液晶表示装置の端子部における樹
脂コーティングの検査方法を提供するものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶表示装置の
端子部における樹脂コーティングの検査方法は、液晶表
示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法で
あって、液晶表示装置の端子部分を特定波長光で発光す
る材料を含有する樹脂でコーティングし、得られた樹脂
コーティングに検査時に特定波長光を含む光を照射し、
樹脂コーティングの発光領域の良否を判定することを特
徴とする。
端子部における樹脂コーティングの検査方法は、液晶表
示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法で
あって、液晶表示装置の端子部分を特定波長光で発光す
る材料を含有する樹脂でコーティングし、得られた樹脂
コーティングに検査時に特定波長光を含む光を照射し、
樹脂コーティングの発光領域の良否を判定することを特
徴とする。
【００１０】また本発明の液晶表示装置の端子部におけ
る樹脂コーティングの検査方法は、液晶表示装置の端子
部における樹脂コーティングの検査方法であって、液晶
表示装置の端子部分を特定波長光で反射する材料を含有
する樹脂でコーティングし、得られた樹脂コーティング
に検査時に特定波長光を含む光を照射し、樹脂コーティ
ングの反射領域の良否を判定することを特徴とする。
る樹脂コーティングの検査方法は、液晶表示装置の端子
部における樹脂コーティングの検査方法であって、液晶
表示装置の端子部分を特定波長光で反射する材料を含有
する樹脂でコーティングし、得られた樹脂コーティング
に検査時に特定波長光を含む光を照射し、樹脂コーティ
ングの反射領域の良否を判定することを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明では、端子部に塗布された
樹脂が特定波長光で発光または反射を生じる被検査試料
を含有する樹脂にされており、被検査試料が発光または
反射する領域とあらかじめ設定してある検査規格の発光
領域または反射領域とを座標軸で比較することで、端子
部の樹脂コーティングの検査を行なう。被検査試料の発
光または反射領域をＣＣＤカメラで検出し、検査規格と
の比較をコンピュータで行なえば、樹脂コーティングの
コーティング領域の良否を容易に判定でき、検査を自動
化することが可能である。これにより、ヒューマンエラ
ーを排除した精度の高い検査となり、また、検査の自動
化により処理能力の向上を図ることができる。
樹脂が特定波長光で発光または反射を生じる被検査試料
を含有する樹脂にされており、被検査試料が発光または
反射する領域とあらかじめ設定してある検査規格の発光
領域または反射領域とを座標軸で比較することで、端子
部の樹脂コーティングの検査を行なう。被検査試料の発
光または反射領域をＣＣＤカメラで検出し、検査規格と
の比較をコンピュータで行なえば、樹脂コーティングの
コーティング領域の良否を容易に判定でき、検査を自動
化することが可能である。これにより、ヒューマンエラ
ーを排除した精度の高い検査となり、また、検査の自動
化により処理能力の向上を図ることができる。
【００１２】以下、添付図面に基づいて、本発明の液晶
表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法
を説明する。
表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法
を説明する。
【００１３】図１は本発明の一実施の形態にかかわる端
子部に被検査試料が含有された樹脂が塗布された液晶表
示装置を示す平面図、図２は図１のＡ−Ａ線断面図、図
３は樹脂コーティングが特定波長光で発光を生じている
領域を示す図、図４は樹脂コーティングの検査規格の発
光領域を示す説明図である。
子部に被検査試料が含有された樹脂が塗布された液晶表
示装置を示す平面図、図２は図１のＡ−Ａ線断面図、図
３は樹脂コーティングが特定波長光で発光を生じている
領域を示す図、図４は樹脂コーティングの検査規格の発
光領域を示す説明図である。
【００１４】図１〜２に示されるように、液晶表示装置
１は、ソース電極とゲート電極が形成されたＴＦＴ基板
２、カラーフィルターが形成されたカラーフィルタ基板
３および両基板のあいだにシール４により封止された液
晶層５からなる液晶パネル６と、該液晶パネル６のＴＦ
Ｔ（薄膜トランジスタ）を駆動するためのＬＳＩが搭載
されたテープ状のフィルムキャリア（ＴＣＰ：Tape Car
rier Package）７と、該フィルムキャリア７に電源や画
像信号を送るための回路基板（ＰＣＢ：Printed Circui
t Board）８とからなり、前記液晶パネル６の端子部９
に特定波長光で発光する被検査試料を含む樹脂コーティ
ング１０が形成されている。また、前記フィルムキャリ
ア７は、ＴＦＴ基板１の端子部に異方性導電膜（ＡＣ
Ｆ：Anisotoropic Conductive Film）を貼り付けたの
ち、圧着されている。
１は、ソース電極とゲート電極が形成されたＴＦＴ基板
２、カラーフィルターが形成されたカラーフィルタ基板
３および両基板のあいだにシール４により封止された液
晶層５からなる液晶パネル６と、該液晶パネル６のＴＦ
Ｔ（薄膜トランジスタ）を駆動するためのＬＳＩが搭載
されたテープ状のフィルムキャリア（ＴＣＰ：Tape Car
rier Package）７と、該フィルムキャリア７に電源や画
像信号を送るための回路基板（ＰＣＢ：Printed Circui
t Board）８とからなり、前記液晶パネル６の端子部９
に特定波長光で発光する被検査試料を含む樹脂コーティ
ング１０が形成されている。また、前記フィルムキャリ
ア７は、ＴＦＴ基板１の端子部に異方性導電膜（ＡＣ
Ｆ：Anisotoropic Conductive Film）を貼り付けたの
ち、圧着されている。
【００１５】前記樹脂コーティング１０の主成分の樹脂
材料としては、通常パネル端子部のコーティング材とし
て使用される非透明性のシリコーン系樹脂または透明性
のフッ素系樹脂などを用いることができる。また前記被
検査試料としては、可視光以外の波長光の照射で特定色
に発光する材料であれば、本発明においては、とくに限
定されないが、たとえばエチレン、ナフタレンといった
有機蛍光体またはフッ化リン酸塩、フッ化ケイ酸塩を含
む酸素酸塩やアルカリハライドなどの無機蛍光体を用い
ることができる。
材料としては、通常パネル端子部のコーティング材とし
て使用される非透明性のシリコーン系樹脂または透明性
のフッ素系樹脂などを用いることができる。また前記被
検査試料としては、可視光以外の波長光の照射で特定色
に発光する材料であれば、本発明においては、とくに限
定されないが、たとえばエチレン、ナフタレンといった
有機蛍光体またはフッ化リン酸塩、フッ化ケイ酸塩を含
む酸素酸塩やアルカリハライドなどの無機蛍光体を用い
ることができる。
【００１６】本実施の形態にかかわる検査方法では、ま
ず図１に示す液晶表示装置１を検査装置のステージに載
置し、位置合わせを行なう。この検査装置は、たとえば
紫外線ランプ、ＣＣＤカメラおよび画像処理装置などを
備えている。ついで暗所にて前記液晶表示装置の樹脂コ
ーティングに特定波長光として紫外線を含む光を照射す
る。ついで発光する樹脂コーティングをＣＣＤカメラで
撮像して、得られる画像信号データを画像処理装置によ
り２値化処理などを行なったのち、該樹脂コーティング
の発光領域を認識する。当該認識された発光領域の良否
を判定するに際に、図３に示されるようにモニターに発
光の座標領域２１として表示する。なお、図３におい
て、座標領域２１をわかりやすくするために斜線をして
いる。
ず図１に示す液晶表示装置１を検査装置のステージに載
置し、位置合わせを行なう。この検査装置は、たとえば
紫外線ランプ、ＣＣＤカメラおよび画像処理装置などを
備えている。ついで暗所にて前記液晶表示装置の樹脂コ
ーティングに特定波長光として紫外線を含む光を照射す
る。ついで発光する樹脂コーティングをＣＣＤカメラで
撮像して、得られる画像信号データを画像処理装置によ
り２値化処理などを行なったのち、該樹脂コーティング
の発光領域を認識する。当該認識された発光領域の良否
を判定するに際に、図３に示されるようにモニターに発
光の座標領域２１として表示する。なお、図３におい
て、座標領域２１をわかりやすくするために斜線をして
いる。
【００１７】ついで得られた座標領域２１と正常な樹脂
コーティングからの発光領域、たとえば製造工程におけ
るばらつきの平均領域（Ｙ１〜Ｙ２（Ｙ１２）およびＸ
１〜Ｘ２（Ｘ１２）に囲まれる範囲）と比較して、両領
域を座標上で目視または数値化して評価したりすること
により、作業者間のばらつきや誤認がなくなり、ヒュー
マンエラーを排除した精度の高い検査を容易に行なうこ
とができる。
コーティングからの発光領域、たとえば製造工程におけ
るばらつきの平均領域（Ｙ１〜Ｙ２（Ｙ１２）およびＸ
１〜Ｘ２（Ｘ１２）に囲まれる範囲）と比較して、両領
域を座標上で目視または数値化して評価したりすること
により、作業者間のばらつきや誤認がなくなり、ヒュー
マンエラーを排除した精度の高い検査を容易に行なうこ
とができる。
【００１８】つぎに製造上、液晶表示装置に許容される
樹脂コーティングの形状の検査規格として、該樹脂コー
ティングの規格の発光領域を設定する。すなわち、図４
に示されるように、樹脂コーティングが形成される最小
領域（Ｙ１２、Ｘ１２）を表示する発光領域の内側の最
小領域点２２ａ、２２ｂと外側の最小領域点２３ａ、２
３ｂを設定し、該発光領域の最小領域点と前記検査装置
により検出された樹脂コーティングの発光領域の座標と
を比較することで、樹脂コーティングを形成する端子部
が、完全に樹脂で覆われているか否かを確認することが
できるとともに、歩留りを向上させることができる。
樹脂コーティングの形状の検査規格として、該樹脂コー
ティングの規格の発光領域を設定する。すなわち、図４
に示されるように、樹脂コーティングが形成される最小
領域（Ｙ１２、Ｘ１２）を表示する発光領域の内側の最
小領域点２２ａ、２２ｂと外側の最小領域点２３ａ、２
３ｂを設定し、該発光領域の最小領域点と前記検査装置
により検出された樹脂コーティングの発光領域の座標と
を比較することで、樹脂コーティングを形成する端子部
が、完全に樹脂で覆われているか否かを確認することが
できるとともに、歩留りを向上させることができる。
【００１９】また、樹脂コーティングが形成される最大
領域を表示する発光領域の内側の最大領域点２４ａ、２
４ｂと外側の最大領域点２５ａ、２５ｂを設定しておけ
ば、該発光領域の最大領域点と前記検査装置により検出
された樹脂コーティングの発光領域の座標とを比較する
ことで、樹脂コーティングが付着してはならない領域に
まで、樹脂コーティングの付着または飛散が生じていな
いかを確認することができる。なお、Ｅ１は内側の不良
領域であり、Ｅ２は外側の不良領域である。
領域を表示する発光領域の内側の最大領域点２４ａ、２
４ｂと外側の最大領域点２５ａ、２５ｂを設定しておけ
ば、該発光領域の最大領域点と前記検査装置により検出
された樹脂コーティングの発光領域の座標とを比較する
ことで、樹脂コーティングが付着してはならない領域に
まで、樹脂コーティングの付着または飛散が生じていな
いかを確認することができる。なお、Ｅ１は内側の不良
領域であり、Ｅ２は外側の不良領域である。
【００２０】本実施の形態では、前記検査装置にホスト
コンピュータを接続することにより、前記最小領域点お
よび最大領域点と検出した発光領域を前記コンピュータ
で比較することで、良品または不良品の判定を自動化で
きる。
コンピュータを接続することにより、前記最小領域点お
よび最大領域点と検出した発光領域を前記コンピュータ
で比較することで、良品または不良品の判定を自動化で
きる。
【００２１】なお、本実施の形態では、前記被検査試料
が特定波長光で発光する材料にされているが、本発明に
おいては、これに限定されるものではなく、前記被検査
試料を特定波長光で反射する材料にすることもできる。
かかる反射する被検査試料を用いて、樹脂コーティング
の反射領域の良否を判定する場合についても、樹脂コー
ティングから反射される反射領域と正常な樹脂コーティ
ングからの反射領域との比較から、検出する樹脂コーテ
ィングの反射領域の良否を判定し、樹脂コーティングの
検査を行なう。また該反射領域を座標領域として表示し
て、得られた座標領域と正常な樹脂コーティングからの
反射領域とを比較する。このとき、平均反射領域または
検査規格の反射領域である、最小領域および／または最
大領域を用いる。
が特定波長光で発光する材料にされているが、本発明に
おいては、これに限定されるものではなく、前記被検査
試料を特定波長光で反射する材料にすることもできる。
かかる反射する被検査試料を用いて、樹脂コーティング
の反射領域の良否を判定する場合についても、樹脂コー
ティングから反射される反射領域と正常な樹脂コーティ
ングからの反射領域との比較から、検出する樹脂コーテ
ィングの反射領域の良否を判定し、樹脂コーティングの
検査を行なう。また該反射領域を座標領域として表示し
て、得られた座標領域と正常な樹脂コーティングからの
反射領域とを比較する。このとき、平均反射領域または
検査規格の反射領域である、最小領域および／または最
大領域を用いる。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
これまで作業者の目視に頼らざるを得なかった、液晶表
示装置における端子部の樹脂コーティングの検査がヒュ
ーマンエラーを排除した精度の高い検査となるととも
に、歩留りを向上させることができる。
これまで作業者の目視に頼らざるを得なかった、液晶表
示装置における端子部の樹脂コーティングの検査がヒュ
ーマンエラーを排除した精度の高い検査となるととも
に、歩留りを向上させることができる。
【００２３】また、本発明によれば、自動化させること
により、自動化が進むＬＣＤ製造ラインに端子部コート
検査を組み込むことができ、安定した処理時間と処理時
間の向上が実現できるため、生産性を向上することがで
きる。
により、自動化が進むＬＣＤ製造ラインに端子部コート
検査を組み込むことができ、安定した処理時間と処理時
間の向上が実現できるため、生産性を向上することがで
きる。
【図１】は本発明の一実施の形態にかかわる端子部に被
検査試料が施された液晶表示装置を示す平面図である。
検査試料が施された液晶表示装置を示す平面図である。
【図２】図１のＡ−Ａ線断面図である。
【図３】被検査試料が特定波長光で発光を生じている領
域を示す図である。
域を示す図である。
【図４】被検査試料の検査規格の発光領域を示す説明で
ある。
ある。
１ 液晶表示装置 ２ ＴＦＴ基板 ３ カラーフィルタ基板 ４ シール ５ 液晶層 ６ 液晶パネル ７ フィルムキャリア ８ 回路基板 ９ 端子部 １０ 樹脂コーティング ２１ 座標領域 ２２ａ、２２ｂ 最小領域点 ２３ａ、２３ｂ 最大領域点
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G051 AA90 AB12 BA05 CA04 CB10 EA12 EA14 EB01 2H088 FA11 HA08 HA12 MA20 2H092 GA40 GA49 GA50 GA51 JA24 JA37 JA41 NA30 PA08 5B057 AA01 BA02 CA12 CA16 DA03 DB02 DC04
Claims (8)
- 【請求項１】 液晶表示装置の端子部における樹脂コー
ティングの検査方法であって、液晶表示装置の端子部分
を特定波長光で発光する材料を含有する樹脂でコーティ
ングし、得られた樹脂コーティングに検査時に特定波長
光を含む光を照射し、樹脂コーティングの発光領域の良
否を判定することを特徴とする樹脂コーティングの検査
方法。 - 【請求項２】 前記樹脂コーティングの発光領域の良否
を判定す際、該発光領域を座標領域として表示し、得ら
れた座標領域と正常な樹脂コーティングからの発光領域
とを比較する請求項１記載の樹脂コーティングの検査方
法。 - 【請求項３】 前記正常な樹脂コーティングからの発光
領域が、検査規格の発光領域である請求項２記載の樹脂
コーティングの検査方法。 - 【請求項４】 前記検査規格の発光領域が、樹脂コーテ
ィングの形成されるべき最小領域および／または形成可
能な最大領域である請求項３記載の樹脂コーティングの
検査方法。 - 【請求項５】 液晶表示装置の端子部における樹脂コー
ティングの検査方法であって、液晶表示装置の端子部分
を特定波長光で反射する材料を含有する樹脂でコーティ
ングし、得られた樹脂コーティングに検査時に特定波長
光を含む光を照射し、樹脂コーティングの反射領域の良
否を判定することを特徴とする樹脂コーティングの検査
方法。 - 【請求項６】 前記樹脂コーティングの反射領域の良否
を判定す際、該反射領域を座標領域として表示し、得ら
れた座標領域と正常な樹脂コーティングからの反射領域
とを比較する請求項５記載の樹脂コーティングの検査方
法。 - 【請求項７】 前記正常な樹脂コーティングからの反射
領域が、検査規格の反射領域である請求項６記載の樹脂
コーティングの検査方法。 - 【請求項８】 前記検査規格の反射領域が、樹脂コーテ
ィングの形成されるべき最小領域および／または形成可
能な最大領域である請求項７記載の樹脂コーティングの
検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001176943A JP2002365224A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 液晶表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001176943A JP2002365224A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 液晶表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002365224A true JP2002365224A (ja) | 2002-12-18 |
Family
ID=19017864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001176943A Pending JP2002365224A (ja) | 2001-06-12 | 2001-06-12 | 液晶表示装置の端子部における樹脂コーティングの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002365224A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009175150A (ja) * | 2009-01-23 | 2009-08-06 | Saki Corp:Kk | 被検査体の検査装置 |
| JP2010045937A (ja) * | 2008-08-18 | 2010-02-25 | Aisin Aw Co Ltd | 不要ワニスの検査装置及び検査方法 |
| JP2010281580A (ja) * | 2009-06-02 | 2010-12-16 | Rexxam Co Ltd | 基板検査装置、照射装置、及び基板検査方法 |
| JP2012013708A (ja) * | 2011-08-01 | 2012-01-19 | Toyota Motor Corp | 不要ワニスの検査装置及び検査方法 |
-
2001
- 2001-06-12 JP JP2001176943A patent/JP2002365224A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010045937A (ja) * | 2008-08-18 | 2010-02-25 | Aisin Aw Co Ltd | 不要ワニスの検査装置及び検査方法 |
| JP2009175150A (ja) * | 2009-01-23 | 2009-08-06 | Saki Corp:Kk | 被検査体の検査装置 |
| JP2010281580A (ja) * | 2009-06-02 | 2010-12-16 | Rexxam Co Ltd | 基板検査装置、照射装置、及び基板検査方法 |
| JP2012013708A (ja) * | 2011-08-01 | 2012-01-19 | Toyota Motor Corp | 不要ワニスの検査装置及び検査方法 |
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