JP2002355618A - 基板洗浄装置 - Google Patents

基板洗浄装置

Info

Publication number
JP2002355618A
JP2002355618A JP2001161898A JP2001161898A JP2002355618A JP 2002355618 A JP2002355618 A JP 2002355618A JP 2001161898 A JP2001161898 A JP 2001161898A JP 2001161898 A JP2001161898 A JP 2001161898A JP 2002355618 A JP2002355618 A JP 2002355618A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
steam
pure water
pipe
substrate
hot water
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001161898A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3808725B2 (ja
Inventor
Takamasa Sakai
高正 坂井
Sadao Hirae
貞雄 平得
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP2001161898A priority Critical patent/JP3808725B2/ja
Priority to US10/147,243 priority patent/US6598805B2/en
Publication of JP2002355618A publication Critical patent/JP2002355618A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3808725B2 publication Critical patent/JP3808725B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易な構成にて高い純度の乾き蒸気を生成し
て、高い洗浄効果の得られる温水ミストを基板に吹き付
けることができる基板洗浄装置を提供する。 【解決手段】 純水スプレー60は、純水を霧状にして
蒸気発生管40に吹き込む。吹き込まれた霧状の純水は
蒸気発生管40内にて加熱され、気化して蒸気(水蒸
気)となり、さらに蒸気加熱管50において再加熱さ
れ、乾き蒸気が生成される。生成された乾き蒸気は、窒
素ガスノズル53から吹き込まれた窒素ガスに巻き込ま
れて混合ガスとして温水ミスト噴射ポート52に流れ込
み、温水ミストが生成する。蒸気発生管40と蒸気加熱
管50との2段構成からなる乾き蒸気生成部30を基板
洗浄装置の内部に組み込むことによって、小型かつ簡易
な構成にて高い純度の乾き蒸気を生成することができ、
その結果、不純物が少なく高い洗浄効果の得られる温水
ミストを基板に吹き付けることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板、液晶
表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光
ディスク用基板等(以下、単に「基板」と称する)に温
水ミストを吹き付けて洗浄する基板洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体や液晶ディスプレイなどの製品
は、基板に対して洗浄、レジスト塗布、露光、現像、エ
ッチング、層間絶縁膜の形成、熱処理などの一連の諸処
理を施すことにより製造されている。これらのうち洗浄
処理は、基板に付着したパーティクル等の汚染物質を除
去する処理であり、パターンの微細化、複雑化が進展し
ている近年においては益々重要となっている処理であ
る。
【0003】従来より使用されている代表的な基板洗浄
装置は、基板を回転させつつその表面にブラシを当接ま
たは近接させることによって、基板表面に付着したパー
ティクル等の汚染物質を擦り取るいわゆるスピンスクラ
バであった。ブラシによる摩擦力によって汚染物質を強
制的に擦り取る手法では、強力な洗浄効果を得られるも
のの、ブラシによって基板表面に傷を付ける等の問題も
生じていた。
【0004】このため、最近では、ブラシを用いない非
接触方式の基板洗浄装置が注目されている。例えば、基
板表面に接触する液体に超音波を付与する方式や純水ミ
ストを高速にて吹き付ける方式が検討されている。これ
らのうち、純水ミストを吹き付ける方式は、基板表面に
付着した汚染物質と同程度の大きさの微小水滴をランダ
ムな方向から汚染物質に衝突させることとなるため、洗
浄効果が大きく、特に水滴の温度が室温よりも高い温水
ミストを高速にて吹き付ける方式であれば、水滴の熱エ
ネルギーによる活性化効果も得られるためより高い洗浄
効果が得られると期待されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このような高速の温水
ミストは、高温の乾き蒸気を断熱膨張によって凝縮させ
ることにより生成される。従来においては、基板洗浄装
置の外部(例えば、装置が設置される工場施設として)
に蒸気生成部を設け、その蒸気生成部から配管を経由し
て乾き蒸気を基板洗浄装置に供給するようにしていた。
これは、簡易にしかも小型の装置にて乾き蒸気を生成す
ることが困難であったために、基板洗浄装置の内部に蒸
気生成部を組み込むことが難しかったことによる。
【0006】しかしながら、基板洗浄装置の外部から乾
き蒸気を供給するようにすると、供給途中での結露を防
止すべく、配管の全体を所定温度以上に加熱する必要が
ある。長く複雑な配管の全体を加熱するのに要するコス
トは相当に大きなものとなる。また、乾き蒸気の供給経
路が長くなると、蒸気中に不純物が混入し易くなり、温
水ミストの純度が低下する。非常に高いレベルの清浄度
が要求される基板洗浄装置において、洗浄媒体である温
水ミストの純度が低下することは大きな問題である。
【0007】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、簡易な構成にて高い純度の乾き蒸気を生成し
て、高い洗浄効果の得られる温水ミストを基板に吹き付
けることができる基板洗浄装置を提供することを目的と
する。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、基板に温水ミストを吹き付けて
洗浄する基板洗浄装置において、乾き蒸気を生成するた
めの純水を供給する純水供給手段と、前記純水供給手段
に連設され、前記純水供給手段から供給された純水を加
熱して蒸気を発生する蒸気発生部と、前記蒸気発生部と
連通接続され、前記蒸気発生部にて発生した蒸気を加熱
して乾き蒸気を生成する蒸気加熱部と、前記蒸気加熱部
に固設され、生成された乾き蒸気を導きつつ前記乾き蒸
気を凝縮させることによって温水ミストを生成し、当該
温水ミストを基板に吹き付ける吐出ノズルと、を備え
る。
【0009】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
にかかる基板洗浄装置において、前記蒸気発生部および
前記蒸気加熱部のそれぞれに、内管と外管との間に流体
が通過する隙間を設けた二重管と、前記内管の内側に設
けられ、前記隙間を通過する流体を加熱する内側加熱部
と、前記外管の外側に設けられ、前記隙間を通過する流
体を加熱する外側加熱部と、を備えている。
【0010】また、請求項3の発明は、請求項1または
請求項2の発明にかかる基板洗浄装置において、冷却配
管を内蔵し、前記冷却配管内に純水を流すことによって
前記蒸気発生部および前記蒸気加熱部から排出される廃
熱を吸熱する冷却手段をさらに備え、前記純水供給手段
に、前記冷却手段の前記冷却配管内を流れた純水を前記
蒸気発生部に供給させている。
【0011】また、請求項4の発明は、請求項1から請
求項3のいずれかの発明にかかる基板洗浄装置におい
て、前記純水供給手段に、純水を霧状にして前記蒸気発
生部に吹き込ませている。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
【0013】図1は、本発明にかかる基板洗浄装置の分
解斜視図である。この基板洗浄装置は、基板に温水ミス
トを吹き付けて洗浄する装置であって、セラミックファ
イバー炉10と、アルミ水冷板21,22と、蒸気発生
管40と、蒸気加熱管50とを備えている。
【0014】セラミックファイバー炉10は、一対の上
側炉10aと下側炉10bとによって構成されている。
上側炉10aおよび下側炉10bのそれぞれには、蒸気
発生管40および蒸気加熱管50の形状に沿って凹部が
形成されており、その凹部に管外ヒータ11が埋設され
ている。管外ヒータ11は、蒸気発生管40および蒸気
加熱管50の外側に接触する。また、セラミックファイ
バー炉10には、蒸気発生管40および蒸気加熱管50
に接続されている各種ポートが貫通する穴が形成されて
いる。
【0015】アルミ水冷板21は、セラミックファイバ
ー炉10から排出される廃熱を吸熱するアルミニウム製
の水冷板であって、上側炉10aの上面に貼設される。
アルミ水冷板21の内部には、冷却配管25が蛇行する
ように内蔵されている。冷却配管25の一端部には冷却
水導入ポート23が接続され、他端部には冷却水排出ポ
ート24が接続されている。冷却水導入ポート23は図
外の純水供給源と連通接続されており、その純水供給源
から冷却水導入ポート23に純水が送給される。冷却水
導入ポート23に送給された純水は、冷却配管25を流
れて冷却水排出ポート24から流れ出る。
【0016】アルミ水冷板21は、冷却配管25内に純
水を流すことによってセラミックファイバー炉10から
排出される廃熱を吸熱する。すなわち、セラミックファ
イバー炉10の炉壁からアルミ水冷板21に伝えられた
熱は、冷却配管25内を流れる純水によって吸収され、
アルミ水冷板21の外部へと運び出されるのである。本
実施形態では、冷却水排出ポート24が後述する純水ス
プレー60と連通接続されており、冷却配管25内を流
れてセラミックファイバー炉10の廃熱を吸収して温度
が上昇した温純水が純水スプレー60に供給され、蒸気
発生管40内部に吹き込まれることとなる。
【0017】アルミ水冷板22も、セラミックファイバ
ー炉10から排出される廃熱を吸熱するアルミニウム製
の水冷板であって、下側炉10bの下面に貼設される。
アルミ水冷板22の構成は、アルミ水冷板21と同じで
あり、冷却配管内を流れる純水によってセラミックファ
イバー炉10から排出される廃熱を吸収し、その結果温
度が上昇した温純水は純水スプレー60に供給される。
【0018】蒸気発生管40および蒸気加熱管50の詳
細については後述するが、これらは連通管49によって
連通接続されている。また、蒸気発生管40には純水導
入ポート41および内圧開放ポート42が接続され、蒸
気加熱管50には窒素ガス導入ポート51および温水ミ
スト噴射ポート52が接続されている。そして、蒸気発
生管40および蒸気加熱管50のそれぞれの内側には管
内ヒータ31が内設されている。
【0019】図2は、本発明にかかる基板洗浄装置の要
部構成を示す図である。なお、図示の便宜上、蒸気発生
管40および蒸気加熱管50に接続されている各種ポー
トの向きが図1とは異なっている。
【0020】乾き蒸気生成部30は、主として蒸気発生
管40、蒸気加熱管50、管外ヒータ11および管内ヒ
ータ31を備えている。蒸気発生管40は、内管40a
と外管40bとの間に流体が通過する隙間40cを設け
た二重管である。外管40bの内側に内管40aを遊嵌
することにより、U字形状の隙間40cが形成される。
内管40aおよび外管40bは、いずれも石英製であ
る。
【0021】隙間40cの基端部には純水導入ポート4
1が連通接続されている。純水導入ポート41は中空の
円筒管であって、そのポート端部には純水スプレー60
が接続されている。純水スプレー60は、キャリアガス
流路61の流路途中に純水ノズル62の先端を差し込ん
で構成されている。純水ノズル62はアルミ水冷板21
(22)の冷却水排出ポート24と連通接続され、キャ
リアガス流路61は図外のキャリアガス供給源と接続さ
れている。純水スプレー60は、いわゆる霧吹き器と同
じ原理によって、純水を霧状にして乾き蒸気生成部30
に吹き込む。すなわち、キャリアガス流路61に比較的
高速のキャリアガスの気流を形成すると、純水ノズル6
2の内部の純水が吸い出され、その吸い出された純水が
霧状になってキャリアガスとともに純水導入ポート41
に吹き込まれる。なお、キャリアガス流路61に供給す
るキャリアガスとしては例えば窒素ガスを使用すれば良
い。
【0022】隙間40cの中間部には内圧開放ポート4
2が連通接続されている。内圧開放ポート42は中空の
円筒管であって、そのポート端部にはバルブ42aが設
けられている。バルブ42aを開放することによって、
蒸気発生管40内の気体を外部に放出して管内圧力を下
げることができる。
【0023】内管40aの内側には管内ヒータ31が内
設されている。管内ヒータ31は、隙間40cを通過す
る流体を加熱する。外管40bの外側にはセラミックフ
ァイバー炉10の管外ヒータ11が配設される。管外ヒ
ータ11も隙間40cを通過する流体を加熱する。
【0024】蒸気加熱管50は、内管50aと外管50
bとの間に流体が通過する隙間50cを設けた二重管で
ある。外管50bの内側に内管50aを遊嵌することに
より、U字形状の隙間50cが形成される。内管50a
および外管50bは、いずれも石英製である。すなわ
ち、蒸気加熱管50は、蒸気発生管40と同様の二重管
である。
【0025】蒸気発生管40と蒸気加熱管50とは連通
管49によって接続されている。連通管49も中空の円
筒管であって、その一端部が蒸気発生管40の隙間40
cの中間部に連通接続され、他端部が蒸気加熱管50の
隙間50cの基端部に連接属されている。この連通管4
9によって、蒸気発生管40の隙間40cと蒸気加熱管
50の隙間50cとが連通状態とされる。
【0026】隙間50cの中間部には窒素ガス導入ポー
ト51が連通接続されている。窒素ガス導入ポート51
は、中空の円筒管であって、その内部には窒素ガスノズ
ル53が挿通されている。窒素ガスノズル53は、図外
の窒素ガス供給源と接続されており、その窒素ガス供給
源が窒素ガスノズル53に窒素ガスを供給することによ
り、窒素ガスノズル53の先端の吐出孔53aから蒸気
加熱管50内にキャリアガスとして窒素ガスを吹き込む
ことができる。
【0027】また、隙間50cの中間部には温水ミスト
噴射ポート52が連通接続されている。温水ミスト噴射
ポート52も中空の円筒管であって、窒素ガスノズル5
3の挿通方向の延長上に沿って設けられている。すなわ
ち、窒素ガスノズル53の窒素ガス吐出方向と温水ミス
ト噴射ポート52内の流体通過方向とは一直線上に存在
している。温水ミスト噴射ポート52の先端の噴射口5
2aは、図示を省略する保持手段によって保持された基
板Wの表面に向けられている。
【0028】内管50aの内側には隙間50cを通過す
る流体を加熱する管内ヒータ31が内設されている。外
管50bの外側にはセラミックファイバー炉10の管外
ヒータ11が配設される。管外ヒータ11も隙間50c
を通過する流体を加熱する。
【0029】蒸気発生管40の内外に設けられている管
内ヒータ31および管外ヒータ11には、パワー調整器
71から電力供給がなされる。蒸気加熱管50の内外に
設けられている管内ヒータ31および管外ヒータ11に
は、パワー調整器72から電力供給がなされる。パワー
調整器71,72からの電力供給量は、温度制御部70
によって管理されている。また、温度制御部70には、
3本の熱電対73,74,75が接続されている。熱電
対73の先端は蒸気発生管40の内部に接触し、熱電対
74の先端は蒸気加熱管50の内部に接触し、熱電対7
5の先端は連通管49に接触している。温度制御部70
は、熱電対73によって蒸気発生管40の温度を測定
し、熱電対74によって蒸気加熱管50の温度を測定
し、熱電対75によって連通管49の温度を測定し、そ
れぞれの温度が予め設定された値となるようにパワー調
整器71,72をフィードバック制御して管内ヒータ3
1および管外ヒータ11への電力供給量を調整する。
【0030】なお、本実施形態においては、純水スプレ
ー60が純水供給手段に、温水ミスト噴射ポート52が
吐出ノズルに、管内ヒータ31が内側加熱部に、管外ヒ
ータ11が外側加熱部に、アルミ水冷板21(22)が
冷却手段にそれぞれ相当する。
【0031】次に、上記構成を有する基板洗浄装置にお
いて温水ミストを生成し、それを基板Wに吹き付けるプ
ロセスについて説明する。まず、純水スプレー60が純
水導入ポート41を介して乾き蒸気生成部30の蒸気発
生管40に乾き蒸気を生成するための純水を供給する。
純水スプレー60は、窒素ガスをキャリアガスとして純
水を霧状にして乾き蒸気生成部30に吹き込む。上述し
たように本実施形態では、アルミ水冷板21(22)の
冷却水排出ポート24と純水スプレー60の純水ノズル
62とが連通接続されている。冷却配管25内を流れて
乾き蒸気生成部30の管内ヒータ31および管外ヒータ
11から排出される廃熱を吸熱して昇温した温純水が純
水ノズル62に供給され、純水スプレー60はその温純
水を霧状にして乾き蒸気生成部30に吹き込んでいる。
【0032】純水スプレー60によって生成された霧状
の純水は純水導入ポート41を通過して蒸気発生管40
の隙間40cに流入する。蒸気発生管40に流入した霧
状の純水は管内ヒータ31および管外ヒータ11によっ
て二重管の内外から加熱され、気化して蒸気(水蒸気)
となる。なお、本明細書において、「蒸気(水蒸気)」
とは気相状態の水を示す。
【0033】純水の気化が進行するにつれて、蒸気発生
管40の隙間40cは、純水の蒸気によって満たされる
こととなる。但し、蒸気発生管40内で生成された蒸気
は湿り蒸気である場合もある。本明細書において、「湿
り蒸気(wet steam)」とは液相の水と共存する蒸気(液
相の水を含む蒸気)を示す。すなわち、純水スプレー6
0から吹き込まれる霧状の純水は、キャリアガスである
窒素ガス中に無数の微小な水滴が浮遊している状態であ
って、気相と液相とが混合したものである。これを蒸気
発生管40内において加熱したとしても、微小水滴の一
部が残存して湿り蒸気となる場合がある。
【0034】本発明においては、乾き蒸気を生成するこ
とが必要になるため、蒸気発生管40内で生成された湿
り蒸気をさらに乾き蒸気にする工程を要する。なお、本
明細書において、「乾き蒸気(dry steam)」とは液体が
すべて気化した気相のみの蒸気を示す。乾き蒸気は、蒸
気加熱管50において生成される。すなわち、蒸気発生
管40内で生成された湿り蒸気のうちの主として気相部
分(窒素ガス+水蒸気)が連通管49を通過して蒸気加
熱管50の隙間50cに流入する。また、蒸気発生管4
0内で生成された湿り蒸気に含まれる微小水滴も若干連
通管49を通過して蒸気加熱管50の隙間50cに流入
するものの、その微小水滴は蒸気加熱管50の管内ヒー
タ31および管外ヒータ11によって二重管の内外から
加熱され、完全に気化する。その結果、蒸気加熱管50
の隙間50cは、純水が完全に気化した気相のみの乾き
蒸気によって満たされることとなる。
【0035】なお、蒸気発生管40および蒸気加熱管5
0の温度は、温度制御部70がパワー調整器71,72
を制御して管内ヒータ31および管外ヒータ11への供
給電力量を調整することによって予め設定された温度と
なるように管理されている。
【0036】以上のようにして、純水スプレー60から
供給された純水が乾き蒸気生成部30にて加熱されるこ
とにより乾き蒸気が生成される。本実施形態では、純水
スプレー60が純水を霧状にして乾き蒸気生成部30に
吹き込むため、液体流をそのまま流し込むよりも純水が
気化しやすく、乾き蒸気を効率良く得ることができる。
また、アルミ水冷板21(22)にて廃熱を吸熱して昇
温した温純水を純水スプレー60が霧状にして乾き蒸気
生成部30に吹き込むため、気化が一層容易に生じるこ
ととなり、乾き蒸気を効率良く得ることができる。
【0037】また、純水スプレー60に連設され、そこ
から供給された純水を加熱して蒸気を発生する蒸気発生
管40と、蒸気発生管40と連通接続され、蒸気発生管
40にて発生した蒸気を加熱して乾き蒸気を生成する蒸
気加熱管50との2段構成にて乾き蒸気生成部30を構
成しているため、蒸気発生管40で完全に気化しなかっ
た純水も蒸気加熱管50にて完全に気化することとな
り、確実に乾き蒸気を得ることができる。
【0038】さらに、蒸気発生管40および蒸気加熱管
50のそれぞれは、内管40a,50aの内側から管内
ヒータ31によって、外管40b,50bの外側から管
外ヒータ11によって隙間40c,50cを通過する流
体を加熱するため、純水およびその蒸気を効果的に加熱
することができ、効率良く乾き蒸気を得ることができ
る。
【0039】乾き蒸気が満たされた蒸気加熱管50に窒
素ガスノズル53からキャリアガスとして窒素ガスを吹
き込む。窒素ガスノズル53の窒素ガス吐出方向と温水
ミスト噴射ポート52内の流体通過方向とは一直線上に
位置しているため、窒素ガスノズル53から吐出された
窒素ガス流は、蒸気加熱管50内の乾き蒸気を巻き込ん
で温水ミスト噴射ポート52にそのまま流れ込む。
【0040】図3は、温水ミストが生成される様子を示
す図である。同図は、窒素ガスノズル53および温水ミ
スト噴射ポート52の近傍を拡大したものである。図3
中矢印AR31にて示すように、窒素ガスノズル53の
吐出孔53aからキャリアガスとしての窒素ガスが吐出
される。吐出された窒素ガスは、矢印AR32にて示す
ように、蒸気加熱管50内の乾き蒸気を巻き込んで温水
ミスト噴射ポート52に流れ込む。すなわち、温水ミス
ト噴射ポート52には、窒素ガスノズル53から吹き込
まれた窒素ガスと乾き蒸気生成部30にて生成された乾
き蒸気とを混合した混合気体が流入する。
【0041】円筒管である温水ミスト噴射ポート52に
窒素ガスと乾き蒸気との混合気体が流れ込むと、温水ミ
スト噴射ポート52内にて水蒸気が凝縮して微小水滴D
が生成する。水蒸気が凝縮する過程では凝縮潜熱が発生
し、それを窒素ガスが受け取る。換言すれば、キャリア
ガスとしての窒素ガスと乾き蒸気とを混合し、窒素ガス
が凝縮潜熱を吸収する媒体として機能することにより、
水蒸気の凝縮が円滑に進行するのである。仮に、窒素ガ
スを吹き込まずに、乾き蒸気のみを温水ミスト噴射ポー
ト52に吹き込んだとしても凝縮潜熱を吸収する媒体が
存在しないため、速やかな水蒸気の凝縮が生じずに水蒸
気のまま温水ミスト噴射ポート52から流れ出ることと
なる。
【0042】水蒸気が凝縮して生成された微小水滴Dの
温度は少なくとも室温より高く、温水ミスト噴射ポート
52内において窒素ガスおよび水蒸気からなる気相中に
温水の微小水滴Dが漂う温水ミストが生成されることと
なる。本明細書において、「温水ミスト」とは、このよ
うな気相中に温水の微小水滴が漂った混合相を意味す
る。
【0043】水蒸気が凝縮して微小水滴Dが生成される
過程と並行して、そのときに発生する凝縮潜熱を吸収し
た窒素ガスが温水ミスト噴射ポート52内にて膨張する
現象が生じる。円筒管である温水ミスト噴射ポート52
内を流れる温水ミストの窒素ガスが膨張すると、その膨
張の程度に応じて温水ミストの流速が加速される。すな
わち、窒素ガスノズル53から吹き込まれた窒素ガス流
の速度に窒素ガスの膨張による速度が加速された高速の
温水ミストが温水ミスト噴射ポート52の噴射口52a
から噴射され、矢印AR33にて示すように基板Wに吹
き付けられることとなる。
【0044】このように本実施形態では、乾き蒸気のみ
ではなく、乾き蒸気とキャリアガスである窒素ガスとの
混合気体を温水ミスト噴射ポート52に吹き込み、窒素
ガスに凝縮潜熱を吸収する媒体としての役割を担わせる
ことにより、円滑に水蒸気の凝縮を進行させて効率良く
温水ミストを生成している。また、円筒管である温水ミ
スト噴射ポート52内にて水蒸気の凝縮を進行させて窒
素ガスに凝縮潜熱を与えて膨張させることにより、温水
ミストの流れを加速して高速の温水ミストを温水ミスト
噴射ポート52から基板Wに吹き付けている。
【0045】このような高速の温水ミストに含まれる微
小水滴Dは、高い運動エネルギーおよび高い熱エネルギ
ーを有しており、基板Wに付着した微小な汚染物質に対
して大きな衝突効果および活性化効果を発揮する。すな
わち、本実施形態の基板洗浄装置においては、高い洗浄
効果の得られる高速の温水ミストを基板Wに吹き付ける
ことができ、その結果基板Wに付着した汚染物質を効果
的に除去することができる。
【0046】また、本実施形態では、蒸気発生管40と
蒸気加熱管50との2段加熱方式によって簡易かつ小型
の構成でありながらも確実に乾き蒸気を生成するように
している。従って、基板洗浄装置の内部に乾き蒸気生成
部30を組み込むことができ、装置外部に専用の蒸気生
成装置を設ける必要がない。これにより、従来問題とな
っていた供給配管の加熱が不要となりコストダウンをは
かることができる。
【0047】また、基板洗浄装置の内部に乾き蒸気生成
部30を組み込むことは、供給経路が短くなることを意
味しており、その結果純度の高い乾き蒸気を生成するこ
とができるのである。すなわち、本実施形態では、蒸気
発生管40と蒸気加熱管50との2段構成からなる乾き
蒸気生成部30を基板洗浄装置の内部に組み込むことに
よって、小型かつ簡易な構成にて高い純度の乾き蒸気を
生成することができ、その結果、不純物が少なく高い洗
浄効果の得られる温水ミストを基板に吹き付けることが
できる。
【0048】なお、上記の基板洗浄装置において、温水
ミストを噴射する必要のないときは、内圧開放ポート4
2に接続されたバルブ42aを開放することにより、蒸
気発生管40内で生成された蒸気を装置外部にリークさ
せる。このときには、蒸気発生管40内で生成された蒸
気によって蒸気発生管40の隙間40cが洗浄され、そ
れを清浄に保つ。温水ミスト噴射ポート52から高速の
温水ミストを噴射するときにはバルブ42aを閉鎖し、
蒸気発生管40内で生成された蒸気を蒸気加熱管50に
供給することは勿論である。
【0049】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、この発明は上記の例に限定されるものではない。
例えば、上記実施形態においては、純水スプレー60が
純水を霧状にして乾き蒸気生成部30に吹き込んでいた
が、必ずしも純水を霧状にして吹き込む必要はなく、流
体として蒸気発生管40に流し込むようにしても良い。
もっとも、純水を霧状にして蒸気発生管40に吹き込ん
だ方が速やかに気化が進行し、効率良く蒸気を生成する
ことができる。
【0050】また、窒素ガスノズル53から吹き込むキ
ャリアガスは窒素ガスに限定されるものではなく、他の
種類のガスであっても良い。但し、基板Wに吹き付ける
ものであるため、パーティクル等を含まない清浄なガス
でなければならない。
【0051】以上の内容を集約すると、本発明にかかる
基板洗浄装置は、純水を気化して乾き蒸気を生成し、そ
の乾き蒸気を管状部材の内部に吹き込む形態であれば種
々の変形が可能である。凝縮潜熱を吸収する媒体として
キャリアガスが機能して円滑に水蒸気の凝縮が進行し、
効率良く温水ミストが生成される。生成された温水ミス
トは、凝縮潜熱を吸収して昇温したキャリアガスの膨張
によって加速され、高速の温水ミストとして基板Wに吹
き付けられるのである。
【0052】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項1の発明
によれば、純水供給手段に連設され、純水供給手段から
供給された純水を加熱して蒸気を発生する蒸気発生部
と、蒸気発生部と連通接続され、蒸気発生部にて発生し
た蒸気を加熱して乾き蒸気を生成する蒸気加熱部とを備
えるため、蒸気発生部で完全に気化できなかった純水も
蒸気加熱部にて完全に気化できることとなり、小型かつ
簡易な構成にて高い純度の乾き蒸気を生成することがで
き、その結果、不純物が少なく高い洗浄効果の得られる
温水ミストを基板に吹き付けることができる。
【0053】また、請求項2の発明によれば、蒸気発生
部および蒸気加熱部のそれぞれが、内管と外管との間に
流体が通過する隙間を設けた二重管と、内管の内側に設
けられ、その隙間を通過する流体を加熱する内側加熱部
と、外管の外側に設けられ、その隙間を通過する流体を
加熱する外側加熱部と、を備えるため、純水およびその
蒸気を効果的に加熱することができ、効率良く乾き蒸気
を得ることができる。
【0054】また、請求項3の発明によれば、冷却手段
の冷却配管内を流れて乾き蒸気生成手段から排出される
廃熱を吸熱した純水を乾き蒸気生成手段に供給するた
め、温純水を乾き蒸気生成手段に供給することができ、
その結果気化が容易に生じることとなり、乾き蒸気を効
率良く得ることができる。
【0055】また、請求項4の発明によれば、純水を霧
状にして乾き蒸気生成手段に吹き込むため、純水が気化
しやすくなり、乾き蒸気を効率良く得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる基板洗浄装置の分解斜視図であ
る。
【図2】図1の基板洗浄装置の要部構成を示す図であ
る。
【図3】温水ミストが生成される様子を示す図である。
【符号の説明】
10 セラミックファイバー炉 11 管外ヒータ 21,22 アルミ水冷板 25 冷却配管 30 乾き蒸気生成部 31 管内ヒータ 40 蒸気発生管 40a,50a 内管 40b,50b 外管 40c,50c 隙間 50 蒸気加熱管 52 温水ミスト噴射ポート 53 窒素ガスノズル 60 純水スプレー D 微小水滴 W 基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平得 貞雄 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 Fターム(参考) 2H088 FA21 FA24 FA30 HA04 MA16 MA18 2H090 JB02 JC18 JC19 3B201 AA02 AA03 AB01 BB13 BB21 BB82 BB88 BB93 BB99

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に温水ミストを吹き付けて洗浄する
    基板洗浄装置であって、 乾き蒸気を生成するための純水を供給する純水供給手段
    と、 前記純水供給手段に連設され、前記純水供給手段から供
    給された純水を加熱して蒸気を発生する蒸気発生部と、 前記蒸気発生部と連通接続され、前記蒸気発生部にて発
    生した蒸気を加熱して乾き蒸気を生成する蒸気加熱部
    と、 前記蒸気加熱部に固設され、生成された乾き蒸気を導き
    つつ前記乾き蒸気を凝縮させることによって温水ミスト
    を生成し、当該温水ミストを基板に吹き付ける吐出ノズ
    ルと、を備えることを特徴とする基板洗浄装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の基板洗浄装置において、 前記蒸気発生部および前記蒸気加熱部のそれぞれは、 内管と外管との間に流体が通過する隙間を設けた二重管
    と、 前記内管の内側に設けられ、前記隙間を通過する流体を
    加熱する内側加熱部と、 前記外管の外側に設けられ、前記隙間を通過する流体を
    加熱する外側加熱部と、を備えることを特徴とする基板
    洗浄装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の基板洗
    浄装置において、 冷却配管を内蔵し、前記冷却配管内に純水を流すことに
    よって前記蒸気発生部および前記蒸気加熱部から排出さ
    れる廃熱を吸熱する冷却手段をさらに備え、 前記純水供給手段は、前記冷却手段の前記冷却配管内を
    流れた純水を前記蒸気発生部に供給することを特徴とす
    る基板洗浄装置。
  4. 【請求項4】 請求項1から請求項3のいずれかに記載
    の基板洗浄装置において、 前記純水供給手段は、純水を霧状にして前記蒸気発生部
    に吹き込むことを特徴とする基板洗浄装置。
JP2001161898A 2001-05-30 2001-05-30 基板洗浄装置 Expired - Fee Related JP3808725B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001161898A JP3808725B2 (ja) 2001-05-30 2001-05-30 基板洗浄装置
US10/147,243 US6598805B2 (en) 2001-05-30 2002-05-15 Substrate cleaning apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001161898A JP3808725B2 (ja) 2001-05-30 2001-05-30 基板洗浄装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002355618A true JP2002355618A (ja) 2002-12-10
JP3808725B2 JP3808725B2 (ja) 2006-08-16

Family

ID=19005108

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001161898A Expired - Fee Related JP3808725B2 (ja) 2001-05-30 2001-05-30 基板洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3808725B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008244318A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Tokyo Electron Ltd 基板搬送部材の洗浄方法、基板搬送装置及び基板処理システム
JP2012119388A (ja) * 2010-11-29 2012-06-21 Omega Semicon Denshi Kk 過熱水蒸気供給装置及び基板処理装置
JP2017213542A (ja) * 2016-06-02 2017-12-07 オリンパス株式会社 蒸気発生装置および蒸気洗浄装置
KR20210064060A (ko) * 2019-11-25 2021-06-02 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 세정 장치 및 기판 세정 방법

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008244318A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Tokyo Electron Ltd 基板搬送部材の洗浄方法、基板搬送装置及び基板処理システム
JP2012119388A (ja) * 2010-11-29 2012-06-21 Omega Semicon Denshi Kk 過熱水蒸気供給装置及び基板処理装置
JP2017213542A (ja) * 2016-06-02 2017-12-07 オリンパス株式会社 蒸気発生装置および蒸気洗浄装置
KR20210064060A (ko) * 2019-11-25 2021-06-02 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 세정 장치 및 기판 세정 방법
KR102487802B1 (ko) * 2019-11-25 2023-01-13 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 세정 장치 및 기판 세정 방법
US11557493B2 (en) 2019-11-25 2023-01-17 Tokyo Electron Limited Substrate cleaning apparatus and substrate cleaning method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3808725B2 (ja) 2006-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6598805B2 (en) Substrate cleaning apparatus
JP4401620B2 (ja) レーザープラズマ極紫外放射線源のためのノズル及び極紫外放射線の発生方法
RU2314127C2 (ru) Устройство для стерилизации емкостей для напитков
JP2002174700A (ja) レーザプラズマ極紫外光源及びレーザプラズマ極紫外光線の発生方法
KR101387634B1 (ko) 액상 전구체 증발을 위한 미세 액적 분무기
US7448604B2 (en) Heat treatment apparatus
JP4038556B2 (ja) レジスト膜除去装置及びレジスト膜除去方法、並びに有機物除去装置及び有機物除去方法
KR101502415B1 (ko) 액체 전구물질 분무 방법 및 장치
JPH0768228A (ja) 二重ジェットスプレー洗浄方法および装置
JP2001118817A (ja) 表面浄化装置及び表面浄化方法
JPH08321480A (ja) 表面の処理
JP2010183103A (ja) レーザープラズマ極紫外放射線源
KR20030001306A (ko) 세정방법 및 그 장치
JP3808725B2 (ja) 基板洗浄装置
JP4917651B2 (ja) レジスト膜除去装置及びレジスト膜除去方法
JP2003194482A (ja) 空冷式蒸気復水器
JP2002355619A (ja) 基板洗浄装置
JP3567831B2 (ja) 気化装置
JP2004031924A (ja) エアロゾル洗浄方法及び装置
JP2012506766A (ja) ガス洗浄装置及びガス洗浄方法
JP2004356285A (ja) 蒸気洗浄装置
JP3820093B2 (ja) ごみ焼却施設及び排ガス冷却方法
KR20190006806A (ko) 초순수를 이용한 반도체 세정 시스템 및 반도체 세정방법
KR100554022B1 (ko) 기화 장치
JP3891803B2 (ja) 温水洗浄方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051026

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051213

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060203

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060516

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060518

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090526

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100526

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100526

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100526

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees