JP2002353778A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JP2002353778A
JP2002353778A JP2001156196A JP2001156196A JP2002353778A JP 2002353778 A JP2002353778 A JP 2002353778A JP 2001156196 A JP2001156196 A JP 2001156196A JP 2001156196 A JP2001156196 A JP 2001156196A JP 2002353778 A JP2002353778 A JP 2002353778A
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JP
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counter
input signal
semiconductor device
signal
overflow
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JP2001156196A
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Hiroshi Fujikawa
裕志 藤川
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 フィルタ特性を適切かつ的確に切換えること
ができる半導体装置を得る。 【解決手段】 フィルタ要素を構成し互いに異なる抵抗
特性を有する複数のトランジスタ手段と、半導体装置の
入力信号と独立な内部クロック信号により制御され入力
信号に応じて所定期間カウント動作を行うとともに、カ
ウント結果によるオーバーフローによりオーバーフロー
信号を導出しそのオーバーフロー信号を次段のカウンタ
に入力信号として印加する複数のカウンタ手段を有する
カウント回路1とを備え、前記複数のカウンタ手段のう
ち、どのカウンタ手段までオーバーフローしたかを検出
するセレクタ2からなる検出手段による検出結果により
前記複数のトランジスタ手段を選択的に切換えるように
した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体装置、特
に、ノイズフィルター特性を入力周波数により自動的に
切り換えることができる半導体装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来のマイコン等は誤動作防止のためノ
イズフィルターが用いられている。これらは、ある設計
値のパルス中のノイズを除去するものであり、それ以外
のパルス中のノイズを除去できない。このため、ノイズ
フィルター特性を変更するには、設計変更か、またはソ
フトウエアによる制御が必要となる。
【0003】この発明は、設計変更,またはソフトウエ
アによる制御を必要とせず、自動的に入力されるパルス
幅(入力周波数)によりノイズフィルター特性を切り換
える方策を提案する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、フィルタ
特性を適切かつ的確に切換えることができる半導体装置
を得ようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】第1の発明に係る半導体
装置では、フィルタ要素を構成し互いに異なる抵抗特性
を有する複数のトランジスタ手段と、半導体装置の入力
信号と独立な内部クロック信号により制御され入力信号
に応じて所定期間カウント動作を行うとともに、カウン
ト結果によるオーバーフローによりオーバーフロー信号
を導出しそのオーバーフロー信号を次段のカウンタに入
力信号として印加する複数のカウンタ手段とを備え、前
記複数のカウンタ手段のうち、どのカウンタ手段までオ
ーバーフローしたかを検出する検出手段を設け、前記検
出手段による検出結果により前記複数のトランジスタ手
段を選択的に切換えるようにしたものである。
【0006】第2の発明に係る半導体装置では、フィル
タ要素を構成し互いに異なるキャパシタンス特性を有す
る複数のキャパシタ手段と、半導体装置の入力信号と独
立な内部クロック信号により制御され入力信号に応じて
所定期間カウント動作を行うとともに、カウント結果に
よるオーバーフローによりオーバーフロー信号を導出し
そのオーバーフロー信号を次段のカウンタに入力信号と
して印加する複数のカウンタ手段とを備え、前記複数の
カウンタ手段のうち、どのカウンタ手段までオーバーフ
ローしたかを検出する検出手段を設け、前記検出手段に
よる検出結果により前記複数のキャパシタ手段を選択的
に切換えるようにしたものである。
【0007】第3の発明に係る半導体装置では、フィル
タ要素を構成するトランジスタ手段と、半導体装置の入
力信号と独立な内部クロック信号により制御され入力信
号に応じて所定期間カウント動作を行うとともに、カウ
ント結果によるオーバーフローによりオーバーフロー信
号を導出しそのオーバーフロー信号を次段のカウンタに
入力信号として印加する複数のカウンタ手段とを備え、
前記複数のカウンタ手段のうち、どのカウンタ手段まで
オーバーフローしたかを検出する検出手段と、前記トラ
ンジスタ手段への印加電圧を制御する制御手段とを設
け、前記検出手段による検出結果により前記制御手段に
よって前記トランジスタ手段への印加電圧を制御し前記
トランジスタ手段の抵抗特性を切換えるようにしたもの
である。
【0008】第4の発明に係る半導体装置では、フィル
タ要素を構成し互いに異なる抵抗特性を有する複数のト
ランジスタ手段と、互いに直列接続されそれぞれ所定の
遅延量を有する複数のインバータ手段と、前記複数のイ
ンバータ手段のそれぞれの出力信号と半導体装置の入力
信号とについて排他的論理和処理を行う処理手段とを備
え、前記処理手段の出力に応じて前記複数のトランジス
タ手段を選択的に切換えるようにしたものである。
【0009】第5の発明に係る半導体装置では、フィル
タ要素を構成し互いに異なるキャパシタンス特性を有す
る複数のキャパシタ手段と、互いに直列接続されそれぞ
れ所定の遅延量を有する複数のインバータ手段と、前記
複数のインバータ手段のそれぞれの出力信号と半導体装
置の入力信号とについて排他的論理和処理を行う処理手
段とを備え、前記処理手段の出力に応じて前記複数のキ
ャパシタ手段を選択的に切換えるようにしたものであ
る。
【0010】第6の発明に係る半導体装置では、フィル
タ要素を構成するトランジスタ手段と、互いに直列接続
されそれぞれ所定の遅延量を有する複数のインバータ手
段と、前記複数のインバータ手段のそれぞれの出力信号
と半導体装置の入力信号とについて排他的論理和処理を
行う処理手段とを備え、前記処理手段の出力に応じて前
記トランジスタ手段への印加電圧を制御し前記トランジ
スタ手段の抵抗特性を切換えるようにしたものである。
【0011】
【発明の実施の形態】実施の形態1.この発明による実
施の形態1を図1,図2および図7ないし図9について
説明する。図1は実施の形態1における入力周波数測定
手段の構成を示すブロック図である。図2は実施の形態
1における動作状態を示す波形図である。図7は実施の
形態1におけるフィルタ幅可変手段の構成を示す接続図
である。図8は実施の形態1におけるフィルタ幅可変手
段の他の構成を示す接続図である。図9は実施の形態1
におけるフィルタ幅可変手段の更に他の構成を示す接続
図である。
【0012】図において、1はカウンタ〔1〕:C1,
カウンタ〔2〕:C2,カウンタ〔3〕:C3,……
…,カウンタ〔n〕:Cnのn個のカウンタからなるカ
ウンタ回路、2はセレクタ、3は制御回路、4は内部ク
ロック回路である。
【0013】図1のブロック図に示す、入力信号と独立
な内部クロック回路4により生成される内部クロックに
より、カウンタの制御を行うための制御信号Xを制御回
路3において作成する。その信号Xにカウンタ回路1に
おけるカウンタ〔1〕:C1,カウンタ〔2〕:C2,
カウンタ〔3〕:C3,………,カウンタ〔n〕:Cn
の動作を同期させる。例えば、信号Xの立ち下がりで、
カウントを開始し、立ち上がりでカウントを終了する。
【0014】このことにより、カウンタ回路1の動作時
間は入力信号にかかわらず一定となる(図2)。図2に
示すように、制御信号Xは、その立ち下りでカウンタ回
路1におけるカウンタ〔1〕:C1,カウンタ〔2〕:
C2,カウンタ〔3〕:C3,………,カウンタ
〔n〕:Cnのカウント動作を開始させ、立ち上がりで
カウント動作を終了するものであって、そのカウント動
作の開始から動作終了までの動作時間は、例えば内部ク
ロック信号の100発分に相当する一定時間となるので
ある。
【0015】外部からの入力信号の周波数を図1に示す
カウンタ回路1により、測定する。このカウンタ回路1
を構成するn個のカウンタのオーバーフロー信号OV
1,OV2,OV3,…,OVnをセレクタ2へ入力す
る。ここで、OV1はカウンタ〔1〕:C1のオーバー
フロー信号であり、OV2はカウンタ〔2〕:C2のオ
ーバーフロー信号であり、OV3はカウンタ〔3〕:C
3のオーバーフロー信号であり、OVnカウンタ
〔n〕:Cnのオーバーフロー信号である。
【0016】このn個のカウンタであるカウンタ
〔1〕:C1,カウンタ〔2〕:C2,カウンタ
〔3〕:C3,…,カウンタ〔n〕:Cnの内、どこま
でオーバーフローするかにより、入力信号の周波数が判
別される。例えば、入力信号A,Bについて、どのオー
バーフロー信号がH(ハイ状態)であるかL(ロウ状
態)を次のように表したとすると、入力信号Aの周波数
は、入力信号Bの周波数よりも大きい(fA>fB)と判
別できる。 A=OV1:H,OV2:H,…,OVl:H,OV
m:H,OVn:L B=OV1:H,OV2:H,…,OVl:H,OV
m:L,OVn:L すなわち、入力信号AについてOVmまでH(ハイ状
態)で、OVnがL(ロウ状態)であり、これに対し、
入力信号BについてOVlまでがH(ハイ状態)で、O
Vm以降がL(ロウ状態)であるなら(n>m>l)、入
力信号Aの周波数は、入力信号Bの周波数よりも大きい
(fA>fB)と判別できるのである。
【0017】この実施の形態では、上記のような入力信
号周波数の判別結果により、ノイズフィルタ特性の変更
を行う。ノイズフィルタ回路を示す図7において、5は
フィルタ回路のフィルタ要素を構成するキャパシタ、6
a,6b,6cはフィルタ抵抗要素を構成するための各
々異なる抵抗特性を持つトランジスタ、7a,7b,7
cは選択スイッチ要素である。このような構成のノイズ
フィルタ回路においては、入力周波数測定手段を示す図
1において、入力周波数測定手段による周波数測定結果
を示すセレクタ2のセレクト信号を用いて、選択スイッ
チ要素7a,7b,7cのいずれかを選択閉合し、複数
のトランジスタ6a,6b,6cから適切な抵抗特性を
持ったトランジスタを選択する。上記例は、3つのトラ
ンジスタの例であるが、これは複数であればよく個数は
限定しない。
【0018】ノイズフィルタ回路を示す図8において、
5a,5b,5cはフィルタ回路のフィルタ要素を構成
するための各々異なるキャパシタンス特性を持つキャパ
シタ、6はフィルタ抵抗要素を構成するためのトランジ
スタ、7a,7b,7cは選択スイッチ要素である。こ
のような構成のノイズフィルタ回路においては、入力周
波数測定手段を示す図1において、入力周波数測定手段
による周波数測定結果を示すセレクタ2のセレクト信号
を用いて、選択スイッチ要素7a,7b,7cのいずれ
かを選択閉合し、複数のキャパシタ5a,5b,5cか
ら適切なキャパシタ容量を持ったキャパシタを選択す
る。上記例は、3つのキャパシタの例であるが、これは
複数であればよく個数は限定しない。
【0019】このとき、図1に示す入力周波数測定手段
の遅延量と同様な遅延量を生ずるサイズのCRとして機
能するキャパシタ5a,5b,5cおよびトランジスタ
6を単位ユニットとして用いて、入力周波数測定手段と
連動させる(図8)。
【0020】ノイズフィルタ回路を示す図9において、
5はフィルタ回路のフィルタ要素を構成するためのキャ
パシタ、6はフィルタ抵抗要素を構成するためのトラン
ジスタである。トランジスタ6への印加電圧Vccは可
変とされている。このような構成のノイズフィルタ回路
においては、入力周波数測定手段を示す図1において、
入力周波数測定手段による周波数測定結果を示すセレク
タ2のセレクト信号を用い、トランジスタ6への印加電
圧Vccを変化させてトランジスタ6のON抵抗を変化
し、入力信号の周波数に最適な抵抗特性をトランジスタ
6に付与して、ノイズフィルタ帯域幅等のフィルタ特性
を適切なものとする。
【0021】図1に示すセレクタ2のセレクト信号によ
り、図9に示すフィルタ回路の前段に接続されたチャー
ジポンプの出力を制御して、トランジスタ6の印加電圧
Vccを変えることにより、トランジスタ6のON抵抗
を変え、フィルタ特性を切り換える(図9)。
【0022】この発明による実施の形態1によれば、フ
ィルタ要素を構成し互いに異なる抵抗特性を有する複数
のトランジスタ手段6a,6b,6cと、半導体装置の
入力信号と独立な内部クロック信号により制御され入力
信号に応じて所定期間カウント動作を行うとともに、カ
ウント結果によるオーバーフローによりオーバーフロー
信号を導出しそのオーバーフロー信号を次段のカウンタ
に入力信号として印加するカウンタ〔1〕:C1,カウ
ンタ〔2〕:C2,カウンタ〔3〕:C3,………,カ
ウンタ〔n〕:Cnからなる複数のカウンタ手段とを備
え、前記複数のカウンタ手段のうち、どのカウンタ手段
までオーバーフローしたかを検出するセレクタ2からな
る検出手段を設け、前記検出手段による検出結果により
前記複数のトランジスタ手段を選択的に切換え、ノイズ
フィルタ帯域幅等のフィルタ特性を切換えるようにした
ので、カウンタ手段のオーバーフロー状態により入力信
号の周波数を検出し、周波数検出結果に基づき異なる抵
抗特性を持つトランジスタ手段を切換えることにより、
フィルタ特性を適切かつ的確に切換えることができる半
導体装置を得ることができる。
【0023】また、この発明による実施の形態1によれ
ば、フィルタ要素を構成し互いに異なるキャパシタンス
特性を有する複数のキャパシタ手段5a,5b,5c
と、半導体装置の入力信号と独立な内部クロック信号に
より制御され入力信号に応じて所定期間カウント動作を
行うとともに、カウント結果によるオーバーフローによ
りオーバーフロー信号を導出しそのオーバーフロー信号
を次段のカウンタに入力信号として印加するカウンタ
〔1〕:C1,カウンタ〔2〕:C2,カウンタ
〔3〕:C3,………,カウンタ〔n〕:Cnからなる
複数のカウンタ手段とを備え、前記複数のカウンタ手段
のうち、どのカウンタ手段までオーバーフローしたかを
検出するセレクタ2からなる検出手段を設け、前記検出
手段による検出結果により前記複数のキャパシタ手段5
a,5b,5cを選択的に切換えるようにしたので、カ
ウンタ手段のオーバーフロー状態により入力信号の周波
数を検出し、周波数検出結果に基づき異なるキャパシタ
ンス特性を持つキャパシタ手段を切換えることにより、
フィルタ特性を適切かつ的確に切換えることができる半
導体装置を得ることができる。
【0024】さらに、この発明による実施の形態1によ
れば、フィルタ要素を構成するトランジスタ手段6と、
半導体装置の入力信号と独立な内部クロック信号により
制御され入力信号に応じて所定期間カウント動作を行う
とともに、カウント結果によるオーバーフローによりオ
ーバーフロー信号を導出しそのオーバーフロー信号を次
段のカウンタに入力信号として印加するカウンタ
〔1〕:C1,カウンタ〔2〕:C2,カウンタ
〔3〕:C3,………,カウンタ〔n〕:Cnからなる
複数のカウンタ手段とを備え、前記複数のカウンタ手段
のうち、どのカウンタ手段までオーバーフローしたかを
検出する検出手段と、前記トランジスタ手段6への印加
電圧を制御する制御手段とを設け、前記検出手段による
検出結果により前記制御手段によって前記トランジスタ
手段6への印加電圧を制御し前記トランジスタ手段の抵
抗特性を切換えるようにしたので、カウンタ手段のオー
バーフロー状態により入力信号の周波数を検出し、周波
数検出結果に基づき前記トランジスタ手段への印加電圧
を切換えることにより、フィルタ特性を適切かつ的確に
切換えることができる半導体装置を得ることができる。
【0025】実施の形態2.この発明による実施の形態
2を図3ないし図9について説明する。図3は実施の形
態2における入力周波数測定手段の構成を示す接続図で
ある。図4ないし図6は実施の形態2における動作状態
を示す波形図である。図7は実施の形態2におけるフィ
ルタ幅可変手段の構成を示す接続図である。図8は実施
の形態2におけるフィルタ幅可変手段の他の構成を示す
接続図である。図9は実施の形態2におけるフィルタ幅
可変手段の更に他の構成を示す接続図である。
【0026】図において、N1,Nm,…,Nnはイン
バータ基本ユニット、E1,Em,…,Enは排他的論
理和処理を行うEx−OR回路、M1,Mm,…,Mn
はコンパレータである。
【0027】実施の形態2における動作等の一例を説明
する。 (1)図3に示すようなインバータの基本ユニットN
1,Nm,…,Nnをn段接続する。 (2)入力信号とm段目のインバータ通過後の排他的論
理和処理をEx−OR回路Emで処理する(m<n)。 (3)この処理後の出力信号を時定数の大きなRCに接
続する。 (4)コンパレータの基準電位と、この出力値(Vm)
をコンパレータMmで比較する。 (5)コンパレータMmの出力Cmをセレクタへ入力す
る。 (6)コンパレータM1,Mm,…,Mnの出力信号C
1〜Cnの組み合わせが、入力信号の周波数により変わ
るため周波数を判別できる。
【0028】このn=5の場合として、以下に示す。あ
る入力波形Aが入力されると、下記のようになる。図4
に示すように、インバータ通過後の波形B〜波形Fはイ
ンバータの段差の分だけ入力波形より遅延している。入
力波形の波形Aと各段の遅延波形Q〜RのEx−ORの
波形は、図5の波形ABからAFのようになる。これ
に、時定数の大きなCRをつなぐことにより、波形はA
C(交流)的な波形から定常的には、DC(直流)的な
波形となる。これを図6に示す。これらをコンパレータ
に入力して、基準電位と比較すると、C1〜C5の出力
信号が作成される。この場合、C1=0、C2=0、C
3=1、C4=1、C5=0。入力波形によりこれらは
異なる組み合わせとなるため入力周波数が判別できる。
【0029】この発明による実施の形態2によれば、フ
ィルタ要素を構成し互いに異なる抵抗特性を有する複数
のトランジスタ手段と、互いに直列接続されそれぞれ所
定の遅延量を有する複数のインバータ手段と、前記複数
のインバータ手段のそれぞれの出力信号と半導体装置の
入力信号とについて排他的論理和処理を行う処理手段と
を備え、前記処理手段の出力に応じて前記複数のトラン
ジスタ手段を選択的に切換えるようにしたので、フィル
タ特性を適切かつ的確に切換えることができる半導体装
置を得ることができる。この時、図3の入力周波数測定
部のブロックの基本インバーターユニット遅延量と図7
のインバーターの遅延量を同様な遅延量を持つ様に設計
することで、製造ばらつきにより遅延量がずれても一律
にずれるため問題ない。
【0030】また、この発明による実施の形態2によれ
ば、フィルタ要素を構成し互いに異なるキャパシタンス
特性を有する複数のキャパシタ手段と、互いに直列接続
されそれぞれ所定の遅延量を有する複数のインバータ手
段と、前記複数のインバータ手段のそれぞれの出力信号
と半導体装置の入力信号とについて排他的論理和処理を
行う処理手段とを備え、前記処理手段の出力に応じて前
記複数のキャパシタ手段を選択的に切換えるようにした
ので、フィルタ特性を適切かつ的確に切換えることがで
きる半導体装置を得ることができる。この時、図3の入
力周波数測定部のブロックの基本インバーターユニット
遅延量と図8のインバーターの遅延量を同様な遅延量を
持つ様に設計することで、製造ばらつきにより遅延量が
ずれても一律にずれるため問題ない。
【0031】さらに、この発明による実施の形態2によ
れば、フィルタ要素を構成するトランジスタ手段と、互
いに直列接続されそれぞれ所定の遅延量を有する複数の
インバータ手段と、前記複数のインバータ手段のそれぞ
れの出力信号と半導体装置の入力信号とについて排他的
論理和処理を行う処理手段とを備え、前記処理手段の出
力に応じて前記トランジスタ手段への印加電圧を制御し
前記トランジスタ手段の抵抗特性を切換えるようにした
ので、フィルタ特性を適切かつ的確に切換えることがで
きる半導体装置を得ることができる。この時、図3の入
力周波数測定部のブロックの基本インバーターユニット
遅延量と図9のインバーターの遅延量を同様な遅延量を
持つ様に設計することで、製造ばらつきにより遅延量が
ずれても一律にずれるため問題ない。
【0032】
【発明の効果】第1の発明によれば、フィルタ要素を構
成し互いに異なる抵抗特性を有する複数のトランジスタ
手段と、半導体装置の入力信号と独立な内部クロック信
号により制御され入力信号に応じて所定期間カウント動
作を行うとともに、カウント結果によるオーバーフロー
によりオーバーフロー信号を導出しそのオーバーフロー
信号を次段のカウンタに入力信号として印加する複数の
カウンタ手段とを備え、前記複数のカウンタ手段のう
ち、どのカウンタ手段までオーバーフローしたかを検出
する検出手段を設け、前記検出手段による検出結果によ
り前記複数のトランジスタ手段を選択的に切換えるよう
にしたので、フィルタ特性を適切かつ的確に切換えるこ
とができる半導体装置を得ることができる。
【0033】第2の発明によれば、フィルタ要素を構成
し互いに異なるキャパシタンス特性を有する複数のキャ
パシタ手段と、半導体装置の入力信号と独立な内部クロ
ック信号により制御され入力信号に応じて所定期間カウ
ント動作を行うとともに、カウント結果によるオーバー
フローによりオーバーフロー信号を導出しそのオーバー
フロー信号を次段のカウンタに入力信号として印加する
複数のカウンタ手段とを備え、前記複数のカウンタ手段
のうち、どのカウンタ手段までオーバーフローしたかを
検出する検出手段を設け、前記検出手段による検出結果
により前記複数のキャパシタ手段を選択的に切換えるよ
うにしたので、フィルタ特性を適切かつ的確に切換える
ことができる半導体装置を得ることができる。
【0034】第3の発明によれば、フィルタ要素を構成
するトランジスタ手段と、半導体装置の入力信号と独立
な内部クロック信号により制御され入力信号に応じて所
定期間カウント動作を行うとともに、カウント結果によ
るオーバーフローによりオーバーフロー信号を導出しそ
のオーバーフロー信号を次段のカウンタに入力信号とし
て印加する複数のカウンタ手段とを備え、前記複数のカ
ウンタ手段のうち、どのカウンタ手段までオーバーフロ
ーしたかを検出する検出手段と、前記トランジスタ手段
への印加電圧を制御する制御手段とを設け、前記検出手
段による検出結果により前記制御手段によって前記トラ
ンジスタ手段への印加電圧を制御し前記トランジスタ手
段の抵抗特性を切換えるようにしたので、フィルタ特性
を適切かつ的確に切換えることができる半導体装置を得
ることができる。
【0035】第4の発明によれば、フィルタ要素を構成
し互いに異なる抵抗特性を有する複数のトランジスタ手
段と、互いに直列接続されそれぞれ所定の遅延量を有す
る複数のインバータ手段と、前記複数のインバータ手段
のそれぞれの出力信号と半導体装置の入力信号とについ
て排他的論理和処理を行う処理手段とを備え、前記処理
手段の出力に応じて前記複数のトランジスタ手段を選択
的に切換えるようにしたので、フィルタ特性を適切かつ
的確に切換えることができる半導体装置を得ることがで
きる。
【0036】第5の発明によれば、フィルタ要素を構成
し互いに異なるキャパシタンス特性を有する複数のキャ
パシタ手段と、互いに直列接続されそれぞれ所定の遅延
量を有する複数のインバータ手段と、前記複数のインバ
ータ手段のそれぞれの出力信号と半導体装置の入力信号
とについて排他的論理和処理を行う処理手段とを備え、
前記処理手段の出力に応じて前記複数のキャパシタ手段
を選択的に切換えるようにしたので、フィルタ特性を適
切かつ的確に切換えることができる半導体装置を得るこ
とができる。
【0037】第6の発明によれば、フィルタ要素を構成
するトランジスタ手段と、互いに直列接続されそれぞれ
所定の遅延量を有する複数のインバータ手段と、前記複
数のインバータ手段のそれぞれの出力信号と半導体装置
の入力信号とについて排他的論理和処理を行う処理手段
とを備え、前記処理手段の出力に応じて前記トランジス
タ手段への印加電圧を制御し前記トランジスタ手段の抵
抗特性を切換えるようにしたので、フィルタ特性を適切
かつ的確に切換えることができる半導体装置を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明による実施の形態1における構成を
示すブロック図である。
【図2】 この発明による実施の形態1におけるカウン
タの動作を示す波形図である。
【図3】 この発明による実施の形態2における構成を
示すブロック図である。
【図4】 この発明による実施の形態2における動作状
態を示す波形図である。
【図5】 この発明による実施の形態2における動作状
態を示す波形図である。
【図6】 この発明による実施の形態2における動作状
態を示す波形図である。
【図7】 この発明による実施の形態1および実施の形
態2におけるノイズフィルタ回路の構成を示す接続図で
ある。
【図8】 この発明による実施の形態1および実施の形
態2におけるノイズフィルタ回路の他の構成を示す接続
図である。
【図9】 この発明による実施の形態1および実施の形
態2におけるノイズフィルタ回路の更に他の構成を示す
接続図である。
【符号の説明】
1 カウンタ回路、2 セレクタ、3 制御回路、4
内部クロック回路、5,5a,5b,5c キャパシ
タ、6,6a,6b,6c トランジスタ、C1,C
2,C3,Cn カウンタ、N1,Nm,…,Nn イ
ンバータ基本ユニット、E1,Em,…,En Ex−
OR回路、M1,Mm,…,Mn コンパレータ。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フィルタ要素を構成し互いに異なる抵抗
    特性を有する複数のトランジスタ手段と、半導体装置の
    入力信号と独立な内部クロック信号により制御され入力
    信号に応じて所定期間カウント動作を行うとともに、カ
    ウント結果によるオーバーフローによりオーバーフロー
    信号を導出しそのオーバーフロー信号を次段のカウンタ
    に入力信号として印加する複数のカウンタ手段とを備
    え、前記複数のカウンタ手段のうち、どのカウンタ手段
    までオーバーフローしたかを検出する検出手段を設け、
    前記検出手段による検出結果により前記複数のトランジ
    スタ手段を選択的に切換えるようにしたことを特徴とす
    る半導体装置。
  2. 【請求項2】 フィルタ要素を構成し互いに異なるキャ
    パシタンス特性を有する複数のキャパシタ手段と、半導
    体装置の入力信号と独立な内部クロック信号により制御
    され入力信号に応じて所定期間カウント動作を行うとと
    もに、カウント結果によるオーバーフローによりオーバ
    ーフロー信号を導出しそのオーバーフロー信号を次段の
    カウンタに入力信号として印加する複数のカウンタ手段
    とを備え、前記複数のカウンタ手段のうち、どのカウン
    タ手段までオーバーフローしたかを検出する検出手段を
    設け、前記検出手段による検出結果により前記複数のキ
    ャパシタ手段を選択的に切換えるようにしたことを特徴
    とする半導体装置。
  3. 【請求項3】 フィルタ要素を構成するトランジスタ手
    段と、半導体装置の入力信号と独立な内部クロック信号
    により制御され入力信号に応じて所定期間カウント動作
    を行うとともに、カウント結果によるオーバーフローに
    よりオーバーフロー信号を導出しそのオーバーフロー信
    号を次段のカウンタに入力信号として印加する複数のカ
    ウンタ手段とを備え、前記複数のカウンタ手段のうち、
    どのカウンタ手段までオーバーフローしたかを検出する
    検出手段と、前記トランジスタ手段への印加電圧を制御
    する制御手段とを設け、前記検出手段による検出結果に
    より前記制御手段によって前記トランジスタ手段への印
    加電圧を制御し前記トランジスタ手段の抵抗特性を切換
    えるようにしたことを特徴とする半導体装置。
  4. 【請求項4】 フィルタ要素を構成し互いに異なる抵抗
    特性を有する複数のトランジスタ手段と、互いに直列接
    続されそれぞれ所定の遅延量を有する複数のインバータ
    手段と、前記複数のインバータ手段のそれぞれの出力信
    号と半導体装置の入力信号とについて排他的論理和処理
    を行う処理手段とを備え、前記処理手段の出力に応じて
    前記複数のトランジスタ手段を選択的に切換えるように
    したことを特徴とする半導体装置。
  5. 【請求項5】 フィルタ要素を構成し互いに異なるキャ
    パシタンス特性を有する複数のキャパシタ手段と、互い
    に直列接続されそれぞれ所定の遅延量を有する複数のイ
    ンバータ手段と、前記複数のインバータ手段のそれぞれ
    の出力信号と半導体装置の入力信号とについて排他的論
    理和処理を行う処理手段とを備え、前記処理手段の出力
    に応じて前記複数のキャパシタ手段を選択的に切換える
    ようにしたことを特徴とする半導体装置。
  6. 【請求項6】 フィルタ要素を構成するトランジスタ手
    段と、互いに直列接続されそれぞれ所定の遅延量を有す
    る複数のインバータ手段と、前記複数のインバータ手段
    のそれぞれの出力信号と半導体装置の入力信号とについ
    て排他的論理和処理を行う処理手段とを備え、前記処理
    手段の出力に応じて前記トランジスタ手段への印加電圧
    を制御し前記トランジスタ手段の抵抗特性を切換えるよ
    うにしたことを特徴とする半導体装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012093447A1 (ja) * 2011-01-06 2012-07-12 セイコーエプソン株式会社 ロボット及びロボットのノイズ除去方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012093447A1 (ja) * 2011-01-06 2012-07-12 セイコーエプソン株式会社 ロボット及びロボットのノイズ除去方法
JP2012139807A (ja) * 2011-01-06 2012-07-26 Seiko Epson Corp ロボット及びロボットのノイズ除去方法
CN103313828A (zh) * 2011-01-06 2013-09-18 精工爱普生株式会社 机械手以及机械手的噪声消除方法

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