JP2002344346A - 移動体通信機器用モジュール - Google Patents
移動体通信機器用モジュールInfo
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Abstract
モジュールを含む移動体通信機器用モジュールを実現す
る際に、歩留りが高く、かつ信頼性が確保できると共
に、小型化が図れるものを提供する。 【解決手段】樹脂または樹脂と機能材料粉末を混合した
複合材料によって多層構造に構成されている基板8と、
該基板8に内蔵または搭載された半導体部品19とを備
える。そして、フロントエンドモジュールまたはフロン
トエンドモジュールを含むマルチバンド方式の移動体通
信機器用モジュールを構成する。アンテナに接続される
ダイプレクサ7をセラミックチップにより構成する。ま
た、このダイプレクサ7を基板8に内蔵する。
Description
動体通信機器やローカル・エリア・ネットワーク(LA
N)等に使用するモジュールに関する。
チバンド方式の高周波スイッチモジュールとして、アン
テナに接続されるダイプレクサと、送受切換え用高周波
スイッチを1つのチップ内に構成して小型化したものが
開示されている。前記チップは、グリーンシートの積
層、焼成により作製される積層体基板内に積層構造によ
りダイプレクサを形成し、かつ該基板に半導体チップや
容量の大きなコンデンサなどを搭載している。
においては、多くの受動素子を積層構造の基板により実
現しているので、セラミックの焼成時に基板にそりやク
ラックが発生しやすく、また、誘電体材料と磁性体材料
のように異なる材質を同時に焼成するとさらにそりやク
ラックが発生しやすくなるので、歩留りが悪くなるとい
う問題点がある。
磁性体粉末などの機能材料粉末を混合した複合材料を積
層体基板に用いた場合、樹脂は吸湿性が高いため、経年
により特性が劣化するおそれがある。特に、ダイプレク
サは、アンテナに接続される部分であって、損失は極力
小さくする必要があり、経年劣化が少ないことが求めら
れるため、吸湿性による特性の経年劣化は致命的とな
る。
マルチバンド方式の少なくともフロントエンドモジュー
ルを含む移動体通信機器用モジュールを実現する際に、
歩留りが高く、かつ信頼性が確保できると共に、小型化
が図れるものを提供することを目的とする。
器用モジュールは、樹脂または樹脂と機能材料粉末を混
合した複合材料によって多層構造に構成されている基板
と、該基板に内蔵または搭載された半導体部品とを備え
て少なくともフロントエンドモジュールを構成するマル
チバンド方式の移動体通信機器用モジュールであって、
アンテナに接続されるダイプレクサをセラミックチップ
により構成したことを特徴とする。
レクサをセラミックチップにより構成すれば、セラミッ
クチップは吸湿性が低く、このため経年変化が少なく、
特性が安定する。また、基板は樹脂または樹脂と機能材
料粉末との積層構造で実現されるため、内蔵素子が多く
かつ異なる材質の積層構造でもセラミック積層焼結体に
比較してそりやクラックが生じにくく、歩留りが向上す
る。また、ダイプレクサを含む少なくともマルチバンド
方式のフロントエンドモジュールが1つのチップとして
構成されるので、小型化が達成できる。
は、請求項1において、前記ダイプレクサを前記基板内
に埋設したことを特徴とする。
基板に内蔵することにより、さらなる小型化が図れる。
器用モジュールを実現するブロック回路の一例図であ
る。本実施の形態は、GSM方式(900MHz帯)と
DCS方式(1.8GHz帯)に兼用されるもので、フ
ロントエンドモジュールを構成する例を示す。図1にお
いて、1はフロントエンドモジュール、2はアンテナ、
T1、T5はそれぞれGSM方式の送信回路、受信回路に
接続される端子電極、T11、T7はそれぞれDCS方式
の送信回路、受信回路に接続される端子電極である。矢
印は各方式の信号の流れを示す。
の送信信号中に含まれる高調波を除去するローパスフィ
ルタ、5はDCS方式の送受切換え用スイッチ、6はG
SM方式の送受切換え用スイッチ、7はDCS方式の信
号とGSM方式の信号を分離する分波回路として設けら
れたダイプレクサである。
回路構成を説明する回路図である。図2において、T1
〜T11は後述の積層体8(図3(A)参照)の外側に
設けられる端子電極である。端子電極T9はアンテナへ
の端子電極であり、コイルL1、L2、L11とコンデ
ンサC1、C11、C12は分波回路である前記ダイプ
レクサ7を構成する。コイルL1とコンデンサC1から
端子電極T11に至る側の回路(図面上、右側の回路)
がDCS方式に対応する回路である。コイルL11とコ
ンデンサC11から端子電極T1に至る回路(図面上、
左側の回路)がGSM方式に対応する回路である。
て、T11はDCS方式の送信回路に接続される端子電
極である。T7はDCS方式の受信回路に接続される端
子電極である。T8、T10はDCS方式の送受切換え
を行うための制御信号を加える端子電極である。コイル
L6とコンデンサC6〜C8は前記ローパスフィルタ3
を構成する。ダイオードD1、D2と、コイルL3〜L
5と、コンデンサC2〜C5、C9は送受信切換えスイ
ッチ5を構成する。
おいて、T1はGSM方式の送信回路に接続される端子
電極である。T5はGSM方式の受信回路に接続される
端子電極である。T2、T4はGSM方式の送受切り換
えを行うための制御信号を加える端子電極である。コイ
ルL14とコンデンサC17〜C19はローパスフィル
タ4を構成する。また、ダイオードD11、D12とコ
イルL12、L13とコンデンサC13〜C16は送受
信切換えスイッチ6を構成する。
全体構成を示す斜視図であり、側面部に設けられる端子
電極は図示を省略している。図3(B)は該モジュール
の層構造図である。また、図4(A)は該モジュールの
断面図、図4(B)は該モジュールに埋設されるダイプ
レクサチを示す斜視図、図4(C)はその層構造図であ
る。
(ベース基板)8と、該積層体8上に搭載した前記ダイ
オードD1、D2等の半導体部品19とからなる。搭載
部品としては、高容量コンデンサやインダクタあるいは
抵抗等の受動素子19Aを設ける場合もある。またこれ
らの搭載部品は積層体8に内蔵する場合もある。
すように、必要に応じてガラスクロスを埋設した樹脂ま
たは樹脂に誘電体粉末を混合した低誘電率層9a〜9g
と、必要に応じてガラスクロスを埋設した樹脂または樹
脂に誘電体粉末を混合した高誘電率層10a、10bと
を、各層間にインダクタ導体11、14やコンデンサ電
極12、15を形成して一体に積層してなる。16は積
層体8の底面に形成したグランド電極、17は前記は半
導体部品19を固着するランドである。
であり、該キャビティ20にはセラミックチップでなる
ダイプレクサ7が埋設される。該ダイプレクサ7は、図
4(B)、(C)に示すように、セラミックグリーンシ
ートからなる層21a〜21fからなり、これらのグリ
ーンシートに、グランド電極18、インダクタ導体2
2、コンデンサ電極23、ビアホール導体24をAg、
CuまたはAg−Pd等を用いて印刷等によって形成
し、これらを積み重ね、仮スタックし、熱プレスするこ
とによって一体化し、切断、焼成、端子電極形成を行っ
てチップとしてのダイプレクサ7を作製する。なおこの
セラミックチップは、グリーンシートを用いるのではな
く、誘電体ペーストまたはおよび磁性体ペーストと導体
とを交互に印刷して層構成する印刷法により作製しても
よい。
を基板1内に内蔵する工程を示す図である。図5(A)
に示すように、銅箔25に接着シート26を貼付け、チ
ップ7の底面の端子を接続するためのランド27を、レ
ーザによる孔あけと、その孔に半田ペーストを塗布して
形成する。次に図5(B)、(C)に示すように、ラン
ド27上にチップ7を搭載する。
の位置にチップ7と同じサイズあるいはそれよりやや大
きいサイズのキャビティ20を形成した前記低誘電率層
9b〜9dとなる3層を一体化したコア基板を用意し、
図5(D)に示すように、該キャビティ20をチップ7
に嵌めて前記接着シート26上にこのコア基板を重ね
る。ここで、低誘電率層9b〜9dを形成する3層のコ
ア基板の厚みは、チップ7とほぼ同じかあるいはそれ以
上とする。
コア基板上に、前記低誘電率層9aとなるプリプレグを
重ね、熱プレスし、後述のように、そのプリプレグの流
動性によりチップ7の上面や側面の隙間をプリプレグに
よって埋める。
箔30を接着シート29により貼付ける。
基板の一般的な工法でエッチングによりパターニングす
る。この場合、上方の銅箔30のエッチングにより前記
ランド17が形成され、下方の銅箔25のエッチングに
よりチップを接続する等の役目を有する配線パターンが
形成される。
ましくは比誘電率が2.5〜5.0のものを用いる。ま
た、高誘電率層10a、10bには好ましくは比誘電率
が15.0〜30.0のものを用いる。本実施の形態に
おいては、低誘電率層9a〜9gには、難燃剤を混合し
かつガラスクロスを埋設したビニルベンジル樹脂で比誘
電率が3.5で厚みが100μmのものを用いた。ま
た、高誘電率層10a〜10dにはチタン酸バリウムで
なる誘電率粉末および難燃剤を混合しかつガラスクロス
を埋設したエポキシ樹脂で比誘電率が20で厚みが60
μmのものを用いた。
フェノール樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂(BT
レジン)、ポリフェニレンエーテル樹脂(PPE)等が
用いられる。また、これらの樹脂に混合する誘電体粉末
としては、上記のほか、例えばCaTiO3系、SrT
iO3系、BaTiO3−BaZrO3系、BaO−T
iO2−Nd2O3系、BaO−4TiO2系等のセラ
ミック誘電体粉末や、誘電体単結晶粉末、誘電体皮膜を
有する金属粉末等が用いられる。また、低誘電率層9a
〜30gを構成するものとして、誘電体粉末を混合した
ものを用いてもよく、この低誘電率層用誘電体粉末とし
ては、アルミナ系等のセラミック誘電体粉末、誘電体単
結晶粉末、誘電体皮膜を有する金属粉末等が用いられ
る。勿論本発明において用いる誘電体粉末、樹脂はこれ
らの材質のものに限定されない。
レグに銅箔を貼着け、半硬化させて複数個の積層体分の
導体パターンが形成されるようにエッチングした後、次
に新たにプリプレグ、銅箔を貼着けてエッチングすると
いう工程を繰り返すか、あるいはガラスクロスを用いな
いビルドアップ工法や導体形成に厚膜印刷工法や薄膜形
成方法を用いることができる。
を樹脂に混合した磁性層を構成してもよく、樹脂に混合
する磁性体粉末としては、Mn−Mg−Zn系、Ni−
Zn系等のフェライト粉末、金属磁性粉末、磁性単結晶
粉末、絶縁皮膜を有する磁性金属粉末等が用いられる。
クタ導体11、14、コンデンサ電極12、15などの
導体としては、銅以外に、銀、ニッケル、錫、亜鉛、ア
ルミニウムなどを用いることができる。
れるダイプレクサ7をセラミックチップにより構成すれ
ば、セラミックチップは吸湿性が低く、このため経年変
化が少なく、特性が安定する。また、基板は樹脂または
樹脂と機能材料粉末との積層構造で実現されるため、内
蔵素子が多くかつ異なる材質の積層構造でもセラミック
積層焼結体に比較してそりやクラックが生じにくく、歩
留りが向上する。また、ダイプレクサを含む少なくとも
マルチバンド方式のフロントエンドモジュールが1つの
チップとして構成されるので、小型化が達成できる。ま
た、前記ダイプレクサ7を前記積層体8内に埋設するこ
とにより、さらなる小型化が図れる。
プ7以外に半導体部品や受動素子を積層体8内に埋め込
んでもよい。また、本発明のモジュールは、移動体通信
機器のダイプレクサ、スイッチ、フィルタからなるフロ
ントエンドモジュール以外に、送信回路や受信回路等の
全部あるいは一部等の他の部分を含むように構成しても
よい。
るダイプレクサをセラミックチップにより構成したもの
であり、セラミックチップは吸湿性が低く、このため経
年変化が少なく、特性が安定する。また、基板は樹脂ま
たは樹脂と機能材料粉末との積層構造で実現されるた
め、内蔵素子が多くかつ異なる材質の積層構造でもセラ
ミック積層焼結体に比較してそりやクラックが生じにく
く、歩留りが向上する。また、ダイプレクサを含む少な
くともマルチバンド方式のフロントエンドモジュールが
1つのチップとして構成されるので、小型化が達成でき
る。
クサを基板に内蔵したので、さらなる小型化が図れる。
現するブロック回路の一例図である。
等価回路の一例図である。
を示す斜視図、(B)は該モジュールの層構造図であ
る。
ジュールに埋設されるダイプレクサを示す斜視図、
(C)はその層構造図である。
部を示す工程図である。
4:ローパスフィルタ、5、6:スイッチ、7:ダイプ
レクサ、8:積層体、9a〜9g:低誘電率層、10
a、10b:高誘電率層、11、14:インダクタ導
体、12、15:コンデンサ電極、16:グランド電
極、17:ランド、18:グランド電極、19:半導体
部品、19A:受動素子、20:キャビティ、21a〜
21f:層、22:インダクタ導体、23:コンデンサ
電極、24:ビアホール導体、25:銅箔、26:接着
シート、27:ランド、29:接着シート、30:銅箔
Claims (2)
- 【請求項1】樹脂または樹脂と機能材料粉末を混合した
複合材料によって多層構造に構成されている基板と、該
基板に内蔵または搭載された半導体部品とを備えて少な
くともフロントエンドモジュールを構成するマルチバン
ド方式の移動体通信機器用モジュールであって、 アンテナに接続されるダイプレクサをセラミックチップ
により構成したことを特徴とする移動体通信機器用モジ
ュール。 - 【請求項2】請求項1の移動体通信機器用モジュールに
おいて、 前記ダイプレクサを前記基板内に埋設したことを特徴と
する移動体通信機器用モジュール。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2001152402A JP3750796B2 (ja) | 2001-05-22 | 2001-05-22 | 移動体通信機器用モジュール |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006080666A1 (en) * | 2004-10-01 | 2006-08-03 | Lg Innotek Co., Ltd | Front end module |
WO2006098390A1 (en) * | 2005-03-15 | 2006-09-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device having the same |
JP2013141317A (ja) * | 2013-04-02 | 2013-07-18 | Taiyo Yuden Co Ltd | 回路基板 |
WO2021166548A1 (ja) * | 2020-02-18 | 2021-08-26 | オムロン株式会社 | 部品内蔵基板及び電源装置 |
-
2001
- 2001-05-22 JP JP2001152402A patent/JP3750796B2/ja not_active Expired - Fee Related
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WO2006098390A1 (en) * | 2005-03-15 | 2006-09-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device having the same |
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US10236271B2 (en) | 2005-03-15 | 2019-03-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and electronic device having the same |
JP2013141317A (ja) * | 2013-04-02 | 2013-07-18 | Taiyo Yuden Co Ltd | 回路基板 |
WO2021166548A1 (ja) * | 2020-02-18 | 2021-08-26 | オムロン株式会社 | 部品内蔵基板及び電源装置 |
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