JP2002336934A - 無枠式水平割鋳型のずれ検知方法およびその装置 - Google Patents
無枠式水平割鋳型のずれ検知方法およびその装置Info
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- JP2002336934A JP2002336934A JP2001142494A JP2001142494A JP2002336934A JP 2002336934 A JP2002336934 A JP 2002336934A JP 2001142494 A JP2001142494 A JP 2001142494A JP 2001142494 A JP2001142494 A JP 2001142494A JP 2002336934 A JP2002336934 A JP 2002336934A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】無枠式水平割鋳型における上・下型の相互のず
れを検知するのに好適な方法を提供する。 【解決手段】 前記第1距離測定手段によりこれと前記上
・下型の一側面との間の距離をそれぞれ測定し、これら
の測定結果に基づき前記第1距離測定手段と前記上・下
型の一側面との間の相互の距離差を演算し、前記第２距
離測定手段によりこれと前記上・下型の他側面との間の
距離をそれぞれ測定し、これらの測定結果に基づき前記
第２距離測定手段と前記上・下型の他側面との間の相互
の距離差を演算する、ことを特徴とする。
れを検知するのに好適な方法を提供する。 【解決手段】 前記第1距離測定手段によりこれと前記上
・下型の一側面との間の距離をそれぞれ測定し、これら
の測定結果に基づき前記第1距離測定手段と前記上・下
型の一側面との間の相互の距離差を演算し、前記第２距
離測定手段によりこれと前記上・下型の他側面との間の
距離をそれぞれ測定し、これらの測定結果に基づき前記
第２距離測定手段と前記上・下型の他側面との間の相互
の距離差を演算する、ことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、無枠式水平割鋳型
における上・下型の相互のずれを検知するのに好適な方
法およびその装置に関する。
における上・下型の相互のずれを検知するのに好適な方
法およびその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、鋳造用鋳型の一つとして無枠の上
・下型を重ね合わせたいわゆる無枠式水平割鋳型があ
り、この無枠式水平割鋳型は、例えば、特公昭60-21810
号によって開示される鋳型造型機によって造型される。
・下型を重ね合わせたいわゆる無枠式水平割鋳型があ
り、この無枠式水平割鋳型は、例えば、特公昭60-21810
号によって開示される鋳型造型機によって造型される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このように構
成された無枠式水平割鋳型においては、鋳型の造型後に
鋳型を型枠から抜き出す時あるいは鋳型の移送中にその
上・下型が相互にずれたりしても検知することができ
ず、その結果、欠陥鋳物を誘発するなどの問題があっ
た。
成された無枠式水平割鋳型においては、鋳型の造型後に
鋳型を型枠から抜き出す時あるいは鋳型の移送中にその
上・下型が相互にずれたりしても検知することができ
ず、その結果、欠陥鋳物を誘発するなどの問題があっ
た。
【０００４】本発明は、上記の事情に鑑みて成されたも
ので、その目的は、無枠式水平割鋳型における上・下型
の相互のずれを検知するのに好適な方法およびその装置
を提供することにある。
ので、その目的は、無枠式水平割鋳型における上・下型
の相互のずれを検知するのに好適な方法およびその装置
を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明における無枠式水平割鋳型のずれ検知方法
は、無枠式水平割鋳型における上・下型の相互のずれを
検知する方法であって、前記上・下型の一側面との距離
をそれぞれ測定する非接触式の第1距離測定手段と、前
記上・下型の一側面と直交する上・下型の他側面との距
離をそれぞれ測定する非接触式の第２距離測定手段とを
用い；前記第1距離測定手段によりこれと前記上・下型
の一側面との距離をそれぞれ測定し；これらの測定結果
に基づき前記第1距離測定手段と前記上型の一側面との
距離と、前記第1距離測定手段と前記下型の一側面との
距離の差を演算し；前記第２距離測定手段によりこれと
前記上・下型の他側面との距離をそれぞれ測定し；これ
らの測定結果に基づき前記第２距離測定手段と前記上型
の他側面との距離と、前記第２距離測定手段と前記下型
の他側面との距離の差を演算し；この演算結果により、
上・下型の相互のずれが許容範囲にあるか否かを判別す
ることが可能になる。
め、本発明における無枠式水平割鋳型のずれ検知方法
は、無枠式水平割鋳型における上・下型の相互のずれを
検知する方法であって、前記上・下型の一側面との距離
をそれぞれ測定する非接触式の第1距離測定手段と、前
記上・下型の一側面と直交する上・下型の他側面との距
離をそれぞれ測定する非接触式の第２距離測定手段とを
用い；前記第1距離測定手段によりこれと前記上・下型
の一側面との距離をそれぞれ測定し；これらの測定結果
に基づき前記第1距離測定手段と前記上型の一側面との
距離と、前記第1距離測定手段と前記下型の一側面との
距離の差を演算し；前記第２距離測定手段によりこれと
前記上・下型の他側面との距離をそれぞれ測定し；これ
らの測定結果に基づき前記第２距離測定手段と前記上型
の他側面との距離と、前記第２距離測定手段と前記下型
の他側面との距離の差を演算し；この演算結果により、
上・下型の相互のずれが許容範囲にあるか否かを判別す
ることが可能になる。
【０００６】なお、本発明において用いる非接触式の第
1・第２距離測定手段としては、光学式であって、レー
ザービームを無枠式水平割鋳型における上・下型の側面
に向けてそれぞれ照射する投光素子と、上・下型の側面
で反射したレーザービームを受光する受光素子と、前記
投光素子と前記受光素子とを制御作動する制御手段によ
って構成したものがある。そして、投光素子としては例
えばレーザービームを照射するレーザービーム素子ある
いは可視光ＬＥＤ等があり、また、受光素子としては例
えばPSD（位置検出素子）がある。
1・第２距離測定手段としては、光学式であって、レー
ザービームを無枠式水平割鋳型における上・下型の側面
に向けてそれぞれ照射する投光素子と、上・下型の側面
で反射したレーザービームを受光する受光素子と、前記
投光素子と前記受光素子とを制御作動する制御手段によ
って構成したものがある。そして、投光素子としては例
えばレーザービームを照射するレーザービーム素子ある
いは可視光ＬＥＤ等があり、また、受光素子としては例
えばPSD（位置検出素子）がある。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の無枠式水平割鋳型
のずれ検知装置を適用した設備の一実施例について図１
に基づき詳細に説明する。図示するように、無枠式水平
割鋳型造型機（図示せず）によって造型された無枠式水
平割鋳型１が、台車２上に載置されて前後方へ間欠的に
移送され、さらに、この移送途中で、本無枠式水平割鋳
型のずれ検知装置３により、無枠式水平割鋳型１におけ
る上・下型４・５の相互のずれを検知され、検知の結
果、ずれの大きさが許容範囲を越えている場合には、押
し出し装置６により前記無枠式水平割鋳型１は前記台車
２上から右方へ押し出されるようになっている。
のずれ検知装置を適用した設備の一実施例について図１
に基づき詳細に説明する。図示するように、無枠式水平
割鋳型造型機（図示せず）によって造型された無枠式水
平割鋳型１が、台車２上に載置されて前後方へ間欠的に
移送され、さらに、この移送途中で、本無枠式水平割鋳
型のずれ検知装置３により、無枠式水平割鋳型１におけ
る上・下型４・５の相互のずれを検知され、検知の結
果、ずれの大きさが許容範囲を越えている場合には、押
し出し装置６により前記無枠式水平割鋳型１は前記台車
２上から右方へ押し出されるようになっている。
【０００８】そして、前記無枠式水平割鋳型のずれ検知
装置３は、前記台車２上の上・下型４・５の一側面であ
る左側面との距離をそれぞれ測定する非接触式の第1距
離測定手段７と、前記上・下型４・５の一側面と直交す
る上・下型４・５の他側面である後面との距離をそれぞ
れ測定する非接触式の第２距離測定手段８と、前記第1
距離測定手段７の測定結果に基づく、前記第1距離測定
手段７と前記上型４の一側面との距離と、前記第1距離
測定手段７と前記下型５の一側面との距離の差、およ
び、前記第２距離測定手段８の測定結果に基づく、前記
第２距離測定手段８と前記上型４の他側面との距離と、
前記第２距離測定手段と前記下型の他側面との距離の差
をそれぞれ演算する演算手段としてのコンピュータと、
で構成してある。
装置３は、前記台車２上の上・下型４・５の一側面であ
る左側面との距離をそれぞれ測定する非接触式の第1距
離測定手段７と、前記上・下型４・５の一側面と直交す
る上・下型４・５の他側面である後面との距離をそれぞ
れ測定する非接触式の第２距離測定手段８と、前記第1
距離測定手段７の測定結果に基づく、前記第1距離測定
手段７と前記上型４の一側面との距離と、前記第1距離
測定手段７と前記下型５の一側面との距離の差、およ
び、前記第２距離測定手段８の測定結果に基づく、前記
第２距離測定手段８と前記上型４の他側面との距離と、
前記第２距離測定手段と前記下型の他側面との距離の差
をそれぞれ演算する演算手段としてのコンピュータと、
で構成してある。
【０００９】また、前記第1・第２距離測定手段７・８
の制御手段と前記コンピュータは制御盤9に収納してあ
る。また、前記第1距離測定手段７の投光素子と受光素
子は前記上・下型４・５の左側に配設してあり、また前
記第２距離測定手段８の投光素子と受光素子は適宜前記
上・下型４・５の後面側に入出可能に配設してある。
の制御手段と前記コンピュータは制御盤9に収納してあ
る。また、前記第1距離測定手段７の投光素子と受光素
子は前記上・下型４・５の左側に配設してあり、また前
記第２距離測定手段８の投光素子と受光素子は適宜前記
上・下型４・５の後面側に入出可能に配設してある。
【００１０】このように構成したものは、第1距離測定
手段６により、第1距離測定手段６の投光素子・受光素
子と、台車２上の上・下型４・５の左側面との距離をそ
れぞれ距離を測定し、続いて、これらの測定結果に基づ
き第1距離測定手段６の投光素子・受光素子と上型４の
左側面との距離と、第1距離測定手段６の投光素子・受
光素子と下型５の左側面との距離との差を、コンピュー
タによって演算する。
手段６により、第1距離測定手段６の投光素子・受光素
子と、台車２上の上・下型４・５の左側面との距離をそ
れぞれ距離を測定し、続いて、これらの測定結果に基づ
き第1距離測定手段６の投光素子・受光素子と上型４の
左側面との距離と、第1距離測定手段６の投光素子・受
光素子と下型５の左側面との距離との差を、コンピュー
タによって演算する。
【００１１】次いで、同様にして、第２距離測定手段８
により、第1距離測定手段６の投光素子・受光素子と、
台車２上の上・下型４・５の後面との距離をそれぞれ距
離を測定し、続いて、これらの測定結果に基づき第２距
離測定手段７の投光素子・受光素子と上型４の後面との
距離と、第２距離測定手段７の投光素子・受光素子と下
型５の後面との距離との差を、コンピュータによって演
算する。この演算の結果に基づいて上・下型４・５の相
互のずれが許容範囲にあるか否かを判別し、許容範囲を
越えている場合には上・下型４・５は押し出し装置３に
よって台車２上から右方へ押し出される。
により、第1距離測定手段６の投光素子・受光素子と、
台車２上の上・下型４・５の後面との距離をそれぞれ距
離を測定し、続いて、これらの測定結果に基づき第２距
離測定手段７の投光素子・受光素子と上型４の後面との
距離と、第２距離測定手段７の投光素子・受光素子と下
型５の後面との距離との差を、コンピュータによって演
算する。この演算の結果に基づいて上・下型４・５の相
互のずれが許容範囲にあるか否かを判別し、許容範囲を
越えている場合には上・下型４・５は押し出し装置３に
よって台車２上から右方へ押し出される。
【００１２】なお、上記の制御盤9を遠隔操作方式にす
ることにより、本装置を遠隔操作することも可能であ
る。またなお、上記の実施例では本装置を注湯ラインに
配設したが、鋳型造型機内に配設しても同様の作用効果
が得られる。
ることにより、本装置を遠隔操作することも可能であ
る。またなお、上記の実施例では本装置を注湯ラインに
配設したが、鋳型造型機内に配設しても同様の作用効果
が得られる。
【００１３】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明
は、無枠式水平割鋳型における上・下型の相互のずれを
検知する方法であって、前記上・下型の一側面との距離
をそれぞれ測定する非接触式の第1距離測定手段と、前
記上・下型の一側面と直交する上・下型の他側面との距
離をそれぞれ測定する非接触式の第２距離測定手段とを
用い；前記第1距離測定手段によりこれと前記上・下型
の一側面との距離をそれぞれ測定し；これらの測定結果
に基づき前記第1距離測定手段と前記上型の一側面との
距離と、前記第1距離測定手段と前記下型の一側面との
距離の差を演算し；前記第２距離測定手段によりこれと
前記上・下型の他側面との距離をそれぞれ測定し；これ
らの測定結果に基づき前記第２距離測定手段と前記上型
の他側面との距離と、前記第２距離測定手段と前記下型
の他側面との距離の差を演算するから、上・下型の相互
のずれを確実かつ容易に検知することができるなどの優
れた実用的効果を奏する。
は、無枠式水平割鋳型における上・下型の相互のずれを
検知する方法であって、前記上・下型の一側面との距離
をそれぞれ測定する非接触式の第1距離測定手段と、前
記上・下型の一側面と直交する上・下型の他側面との距
離をそれぞれ測定する非接触式の第２距離測定手段とを
用い；前記第1距離測定手段によりこれと前記上・下型
の一側面との距離をそれぞれ測定し；これらの測定結果
に基づき前記第1距離測定手段と前記上型の一側面との
距離と、前記第1距離測定手段と前記下型の一側面との
距離の差を演算し；前記第２距離測定手段によりこれと
前記上・下型の他側面との距離をそれぞれ測定し；これ
らの測定結果に基づき前記第２距離測定手段と前記上型
の他側面との距離と、前記第２距離測定手段と前記下型
の他側面との距離の差を演算するから、上・下型の相互
のずれを確実かつ容易に検知することができるなどの優
れた実用的効果を奏する。
【図１】本発明の一実施例を示す概略正面図である。
４ 上型 ５ 下型 ７ 第1距離測定手段 ８ 第２距離測定手段
Claims (4)
- 【請求項1】無枠式水平割鋳型における上・下型の相互
のずれを検知する方法であって、前記上・下型の一側面
との距離をそれぞれ測定する非接触式の第1距離測定手
段と、前記上・下型の一側面と直交する上・下型の他側
面との距離をそれぞれ測定する非接触式の第２距離測定
手段とを用い；前記第1距離測定手段によりこれと前記
上・下型の一側面との距離をそれぞれ測定し；これらの
測定結果に基づき前記第1距離測定手段と前記上型の一
側面との距離と、前記第1距離測定手段と前記下型の一
側面との距離の差を演算し；前記第２距離測定手段によ
りこれと前記上・下型の他側面との距離をそれぞれ測定
し；これらの測定結果に基づき前記第２距離測定手段と
前記上型の他側面との距離と、前記第２距離測定手段と
前記下型の他側面との距離の差を演算する；ことを特徴
とする無枠式水平割鋳型のずれ検知方法。 - 【請求項２】請求項1に記載の無枠式水平割鋳型のずれ
検知方法において、前記第1距離測定手段と前記上・下
型との距離の測定、前記第２距離測定手段と前記上・下
型との距離の測定、前記第1距離測定手段と前記上型と
の距離と前記第1距離測定手段と前記下型との距離の差
の演算、および、前記第２距離測定手段と前記上型との
距離と前記第２距離測定手段と前記下型との距離の差の
演算を遠隔方式により行うことを特徴とする無枠式水平
割鋳型のずれ検知方法。 - 【請求項３】無枠式水平割鋳型における上・下型の相互
のずれを検知する装置であって、前記上・下型の一側面
との距離をそれぞれ測定する非接触式の第1距離測定手
段と、前記上・下型の一側面と直交する上・下型の他側
面との距離をそれぞれ測定する非接触式の第２距離測定
手段と、前記第1距離測定手段の測定結果に基づく、前
記第1距離測定手段と前記上型の一側面との距離と、前
記第1距離測定手段と前記下型の一側面との距離の差、
および、前記第２距離測定手段の測定結果に基づく、前
記第２距離測定手段と前記上型の他側面との距離と、前
記第２距離測定手段と前記下型の他側面との距離の差を
それぞれ演算する演算手段と、を具備したことを特徴と
する無枠式水平割鋳型のずれ検知装置。 - 【請求項４】請求項３に記載の無枠式水平割鋳型のずれ
検知装置において、前記第1距離測定手段、前記第２距
離測定手段および前記演算手段は、遠隔方式であること
を特徴とする無枠式水平割鋳型のずれ検知方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001142494A JP2002336934A (ja) | 2001-05-14 | 2001-05-14 | 無枠式水平割鋳型のずれ検知方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001142494A JP2002336934A (ja) | 2001-05-14 | 2001-05-14 | 無枠式水平割鋳型のずれ検知方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002336934A true JP2002336934A (ja) | 2002-11-26 |
Family
ID=18988784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001142494A Pending JP2002336934A (ja) | 2001-05-14 | 2001-05-14 | 無枠式水平割鋳型のずれ検知方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002336934A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108348987A (zh) * | 2016-01-12 | 2018-07-31 | 新东工业株式会社 | 上下铸型的错型检测装置以及错型检测方法 |
| JP2019136751A (ja) * | 2018-02-13 | 2019-08-22 | 新東工業株式会社 | 上下鋳型の型ずれ検知装置、及び、上下鋳型の型ずれ検知方法 |
-
2001
- 2001-05-14 JP JP2001142494A patent/JP2002336934A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108348987A (zh) * | 2016-01-12 | 2018-07-31 | 新东工业株式会社 | 上下铸型的错型检测装置以及错型检测方法 |
| US20180326475A1 (en) * | 2016-01-12 | 2018-11-15 | Sintokogio, Ltd. | Device and method that can detect misalignment between cope and drag |
| EP3403742A4 (en) * | 2016-01-12 | 2019-08-07 | Sintokogio, Ltd. | MOLD DISPLACEMENT DETECTION DEVICE AND MOLD DISPLACEMENT DETECTION METHOD FOR UPPER AND LOWER MOLDS |
| JP2019136751A (ja) * | 2018-02-13 | 2019-08-22 | 新東工業株式会社 | 上下鋳型の型ずれ検知装置、及び、上下鋳型の型ずれ検知方法 |
| WO2019159506A1 (ja) * | 2018-02-13 | 2019-08-22 | 新東工業株式会社 | 上下鋳型の型ずれ検知装置、及び、上下鋳型の型ずれ検知方法 |
| CN111699059A (zh) * | 2018-02-13 | 2020-09-22 | 新东工业株式会社 | 上下铸模的模具错位检测装置和上下铸模的模具错位检测方法 |
| CN111699059B (zh) * | 2018-02-13 | 2022-03-08 | 新东工业株式会社 | 上下铸模的模具错位检测装置和上下铸模的模具错位检测方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050818 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060131 |
|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080912 |
|
| A02 | Decision of refusal |
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