JP2002335013A - 高密度発光ダイオードアレイ - Google Patents
高密度発光ダイオードアレイInfo
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- JP2002335013A JP2002335013A JP2001137706A JP2001137706A JP2002335013A JP 2002335013 A JP2002335013 A JP 2002335013A JP 2001137706 A JP2001137706 A JP 2001137706A JP 2001137706 A JP2001137706 A JP 2001137706A JP 2002335013 A JP2002335013 A JP 2002335013A
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- JP
- Japan
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- emitting diode
- light
- extraction region
- peripheral
- diode array
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光出力が高く、メサ分離型発光ダイオードア
レイの順メサからの光漏れを防止した高密度発光ダイオ
ードアレイを提供する。 【解決手段】 複数の周辺電極11、12を光取出し領
域10を挟むように配置し、かつ光取出し領域10の中
央部を通るように形成した中央配線電極13で周辺電極
11、12を接続することにより、発光ダイオードに通
電した場合、光取出し領域10下に電流が分散しやすく
なり、光出力の高出力化が達成できる。
レイの順メサからの光漏れを防止した高密度発光ダイオ
ードアレイを提供する。 【解決手段】 複数の周辺電極11、12を光取出し領
域10を挟むように配置し、かつ光取出し領域10の中
央部を通るように形成した中央配線電極13で周辺電極
11、12を接続することにより、発光ダイオードに通
電した場合、光取出し領域10下に電流が分散しやすく
なり、光出力の高出力化が達成できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高密度発光ダイオ
ードアレイに関する。
ードアレイに関する。
【0002】
【従来の技術】図2及び図3は従来の発光ダイオードア
レイ(1200DPI)の平面図である。
レイ(1200DPI)の平面図である。
【0003】これらの発光ダイオードアレイは、光取出
し領域1の周辺にp型周辺電極2を設けた構造を有して
いる。光取出し領域1の寸法は横幅Xが10μm、縦幅
Yが10μmで設計されている。尚、3は電極コンタク
ト層であり、4は配線電極である。
し領域1の周辺にp型周辺電極2を設けた構造を有して
いる。光取出し領域1の寸法は横幅Xが10μm、縦幅
Yが10μmで設計されている。尚、3は電極コンタク
ト層であり、4は配線電極である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図2及
び図3に示す発光ダイオードアレイでは、発光ダイオー
ドの面積(pn接合面積)中に占める面積割合はほとん
ど電極部(p型周辺電極2及び電極コンタクト層3)と
なる。従って発光ダイオードアレイに通電すると、電流
の大部分は電極部2、3直下に集中することになり、そ
の結果、光取出し領域1の下部の電流密度が低下し、光
出力が大幅に下がってしまう。又、メサ分離型発光ダイ
オードアレイの場合、図2及び図3に示すような従来構
造では、順メサから光が漏れ、発光スポット形状がばら
つき、このような発光ダイオードをLEDプリンタに用
いると印字ムラが発生するという問題があった。
び図3に示す発光ダイオードアレイでは、発光ダイオー
ドの面積(pn接合面積)中に占める面積割合はほとん
ど電極部(p型周辺電極2及び電極コンタクト層3)と
なる。従って発光ダイオードアレイに通電すると、電流
の大部分は電極部2、3直下に集中することになり、そ
の結果、光取出し領域1の下部の電流密度が低下し、光
出力が大幅に下がってしまう。又、メサ分離型発光ダイ
オードアレイの場合、図2及び図3に示すような従来構
造では、順メサから光が漏れ、発光スポット形状がばら
つき、このような発光ダイオードをLEDプリンタに用
いると印字ムラが発生するという問題があった。
【0005】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、光出力が高く、メサ分離型発光ダイオードアレイの
順メサからの光漏れを防止した高密度発光ダイオードア
レイを提供することにある。
し、光出力が高く、メサ分離型発光ダイオードアレイの
順メサからの光漏れを防止した高密度発光ダイオードア
レイを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の高密度発光ダイオードアレイは、基板上に形
成された光取出し領域の周辺に電極を有する周辺電極型
の高密度発光ダイオードアレイにおいて、複数の周辺電
極を光取出し領域を挟むように配置し、かつ光取出し領
域の中央部を通るように形成した中央配線電極で各周辺
電極を接続したものである。
に本発明の高密度発光ダイオードアレイは、基板上に形
成された光取出し領域の周辺に電極を有する周辺電極型
の高密度発光ダイオードアレイにおいて、複数の周辺電
極を光取出し領域を挟むように配置し、かつ光取出し領
域の中央部を通るように形成した中央配線電極で各周辺
電極を接続したものである。
【0007】本発明の高密度発光ダイオードアレイは、
基板上に形成されたメサ型の光取出し領域の周辺に電極
を有する周辺電極型の高密度発光ダイオードアレイにお
いて、複数の周辺電極を光取出し領域を挟むように配置
し、かつ光取出し領域の中央部を通るように形成した中
央配線電極で各周辺電極を接続し、順メサの段差部を覆
うように配線電極を形成すると共に配線電極をいずれか
一方の周辺電極と接続したものである。
基板上に形成されたメサ型の光取出し領域の周辺に電極
を有する周辺電極型の高密度発光ダイオードアレイにお
いて、複数の周辺電極を光取出し領域を挟むように配置
し、かつ光取出し領域の中央部を通るように形成した中
央配線電極で各周辺電極を接続し、順メサの段差部を覆
うように配線電極を形成すると共に配線電極をいずれか
一方の周辺電極と接続したものである。
【0008】上記構成に加え本発明の高密度発光ダイオ
ードアレイは、中央配線電極を光取出し領域より細く形
成し、配線電極を光取出し領域より太く形成するのが好
ましい。
ードアレイは、中央配線電極を光取出し領域より細く形
成し、配線電極を光取出し領域より太く形成するのが好
ましい。
【0009】本発明によれば、複数の周辺電極を光取出
し領域を挟むように配置し、かつ光取出し領域の中央部
を通るように形成した中央配線電極で各周辺電極を接続
することにより、発光ダイオードに通電した場合、光取
出し領域下に電流が分散しやすくなり、光出力の高出力
化が達成できる。
し領域を挟むように配置し、かつ光取出し領域の中央部
を通るように形成した中央配線電極で各周辺電極を接続
することにより、発光ダイオードに通電した場合、光取
出し領域下に電流が分散しやすくなり、光出力の高出力
化が達成できる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳述する。
図面に基づいて詳述する。
【0011】図1(a)は本発明の高密度発光ダイオー
ドアレイの一実施の形態を示す平面図であり、図1
(b)は図1(a)のA−A線断面図であり、図1
(c)は図1(a)のB−B線断面図である。
ドアレイの一実施の形態を示す平面図であり、図1
(b)は図1(a)のA−A線断面図であり、図1
(c)は図1(a)のB−B線断面図である。
【0012】本実施の形態では1200DPIの高密度
発光ダイオードアレイの場合について説明する。
発光ダイオードアレイの場合について説明する。
【0013】この高密度発光ダイオードアレイは、メサ
分離型ダブルヘテロ構造を有するGaAlAs系発光ダ
イオードであり、光取出し領域10の横幅Xを10μm
とし、縦幅Yを10μmとした非常に微細な発光ダイオ
ードに設計されている。
分離型ダブルヘテロ構造を有するGaAlAs系発光ダ
イオードであり、光取出し領域10の横幅Xを10μm
とし、縦幅Yを10μmとした非常に微細な発光ダイオ
ードに設計されている。
【0014】複数(図では2か所であるが限定されな
い。)の周辺p型電極11、12が光取出し領域10を
挟むように配置されている。両周辺p型電極11、12
は、光取出し領域10の中央部を通るように形成されA
u等からなる中央配線電極13で接続されている。中央
配線電極13は光取出し領域10より細く形成され、配
線電極16、17は光取出し領域10より太く形成され
ている。
い。)の周辺p型電極11、12が光取出し領域10を
挟むように配置されている。両周辺p型電極11、12
は、光取出し領域10の中央部を通るように形成されA
u等からなる中央配線電極13で接続されている。中央
配線電極13は光取出し領域10より細く形成され、配
線電極16、17は光取出し領域10より太く形成され
ている。
【0015】中央配線電極13の光取出し領域10の中
央部での線幅W1は3μmに設計されており、かつ、中
央配線電極13の厚さは配線抵抗値を下げるため約1.
5μmとしている。周辺p型電極11、12は材料とし
てAuZn/Ni/Auが用いられている。周辺p型電
極11、12は発光ダイオード全体のサイズの縮小を図
るため、p型電極コンタクト層14、15と略同一サイ
ズで形成されている。
央部での線幅W1は3μmに設計されており、かつ、中
央配線電極13の厚さは配線抵抗値を下げるため約1.
5μmとしている。周辺p型電極11、12は材料とし
てAuZn/Ni/Auが用いられている。周辺p型電
極11、12は発光ダイオード全体のサイズの縮小を図
るため、p型電極コンタクト層14、15と略同一サイ
ズで形成されている。
【0016】周辺p型電極11、12はリフトオフ法で
形成される。これは、周辺p型電極11、12のレジス
トパターンをp型電極コンタクト層14、15の外周部
のAl混晶比の高いGaAlAs層を酸化させることに
より、リフトオフの際に酸化したGaAlAs層上のp
型電極材料であるAuZn/Ni/Auが簡単に剥がれ
るためである。
形成される。これは、周辺p型電極11、12のレジス
トパターンをp型電極コンタクト層14、15の外周部
のAl混晶比の高いGaAlAs層を酸化させることに
より、リフトオフの際に酸化したGaAlAs層上のp
型電極材料であるAuZn/Ni/Auが簡単に剥がれ
るためである。
【0017】図1(a)、(b)に示すようにn型Ga
As基板18上に下部クラッド層となるAl結晶比0.
4〜0.6のn型GaAlAs層19、活性層となるA
l結晶比0.26のアンドープGaAlAs層(発光波
長710nm)20、上部クラッド層となるAl結晶比
0.4〜0.6のp型GaAlAs層21及び電極コン
タクト層となるp型の低抵抗なGaAs層14、15が
順次積層されている。
As基板18上に下部クラッド層となるAl結晶比0.
4〜0.6のn型GaAlAs層19、活性層となるA
l結晶比0.26のアンドープGaAlAs層(発光波
長710nm)20、上部クラッド層となるAl結晶比
0.4〜0.6のp型GaAlAs層21及び電極コン
タクト層となるp型の低抵抗なGaAs層14、15が
順次積層されている。
【0018】さらに結晶表面には保護膜としてガラス膜
22、裏面にはAuGe/Ni/Auからなるn型電極
23が形成されている。
22、裏面にはAuGe/Ni/Auからなるn型電極
23が形成されている。
【0019】図1(a)〜(c)に示した発光ダイオー
ドに通電した場合、2か所の周辺p型電極11、12を
光取出し領域10を挟むように配置したことにより、光
取出し領域10下に電流が分散しやすくなり、光出力の
高出力化が達成できる。
ドに通電した場合、2か所の周辺p型電極11、12を
光取出し領域10を挟むように配置したことにより、光
取出し領域10下に電流が分散しやすくなり、光出力の
高出力化が達成できる。
【0020】実際に図2、3に示した従来の周辺電極型
の発光ダイオードの光出力と図1(a)〜(c)に示し
た発光ダイオードとを比較すると、図1(a)〜(c)
に示した発光ダイオードは約2倍の光出力が得られた。
また、順メサの段差部を配線電極で被覆したことによ
り、順メサからの光漏れがなくなった。
の発光ダイオードの光出力と図1(a)〜(c)に示し
た発光ダイオードとを比較すると、図1(a)〜(c)
に示した発光ダイオードは約2倍の光出力が得られた。
また、順メサの段差部を配線電極で被覆したことによ
り、順メサからの光漏れがなくなった。
【0021】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次のよう
な優れた効果を発揮する。
な優れた効果を発揮する。
【0022】光出力が高く、メサ分離型発光ダイオード
アレイの順メサからの光漏れを防止した高密度発光ダイ
オードアレイの提供を実現することができる。
アレイの順メサからの光漏れを防止した高密度発光ダイ
オードアレイの提供を実現することができる。
【図1】(a)は本発明の高密度発光ダイオードアレイ
の一実施の形態を示す平面図であり、(b)は(a)の
A−A線断面図であり、(c)は(a)のB−B線断面
図である。
の一実施の形態を示す平面図であり、(b)は(a)の
A−A線断面図であり、(c)は(a)のB−B線断面
図である。
【図2】従来の発光ダイオードアレイの平面図である。
【図3】従来の発光ダイオードアレイの平面図である。
10 光取出し領域 11、12 周辺p型電極(周辺電極) 13 中央配線電極 14、15 p型電極コンタクト層(GaAs層) 16、17 配線電極 18 n型GaAs基板 19 n型GaAlAs層 20 アンドープGaAlAs層 21 p型GaAlAs層 22 ガラス膜 23 n型電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4M104 AA05 BB09 BB12 CC01 DD68 FF03 FF04 FF09 FF11 FF17 FF18 GG02 GG04 HH14 HH16 HH20 5F041 AA03 AA04 AA05 CA04 CA36 CA85 CA92 CA93 CB11 FF11 FF13
Claims (3)
- 【請求項1】 基板上に形成された光取出し領域の周辺
に電極を有する周辺電極型の高密度発光ダイオードアレ
イにおいて、複数の周辺電極を上記光取出し領域を挟む
ように配置し、かつ上記光取出し領域の中央部を通るよ
うに形成した中央配線電極で各周辺電極を接続したこと
を特徴とする高密度発光ダイオードアレイ。 - 【請求項2】 基板上に形成されたメサ型の光取出し領
域の周辺に電極を有する周辺電極型の高密度発光ダイオ
ードアレイにおいて、複数の周辺電極を上記光取出し領
域を挟むように配置し、かつ上記光取出し領域の中央部
を通るように形成した中央配線電極で各周辺電極を接続
し、順メサの段差部を覆うように配線電極を形成すると
共に上記配線電極をいずれか一方の周辺電極と接続した
ことを特徴とする高密度発光ダイオードアレイ。 - 【請求項3】 上記中央配線電極を上記光取出し領域よ
り細く形成し、上記配線電極を上記光取出し領域より太
く形成した請求項2に記載の高密度発光ダイオードアレ
イ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001137706A JP2002335013A (ja) | 2001-05-08 | 2001-05-08 | 高密度発光ダイオードアレイ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001137706A JP2002335013A (ja) | 2001-05-08 | 2001-05-08 | 高密度発光ダイオードアレイ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002335013A true JP2002335013A (ja) | 2002-11-22 |
Family
ID=18984770
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001137706A Pending JP2002335013A (ja) | 2001-05-08 | 2001-05-08 | 高密度発光ダイオードアレイ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002335013A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7791095B2 (en) | 2004-08-11 | 2010-09-07 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Semiconductor light emitting diode |
JP2013157496A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Sony Corp | 発光素子およびその製造方法、並びに発光装置 |
-
2001
- 2001-05-08 JP JP2001137706A patent/JP2002335013A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7791095B2 (en) | 2004-08-11 | 2010-09-07 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Semiconductor light emitting diode |
JP2013157496A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Sony Corp | 発光素子およびその製造方法、並びに発光装置 |
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