JP2002323315A - 測距装置の調整装置 - Google Patents

測距装置の調整装置

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JP2002323315A
JP2002323315A JP2001129974A JP2001129974A JP2002323315A JP 2002323315 A JP2002323315 A JP 2002323315A JP 2001129974 A JP2001129974 A JP 2001129974A JP 2001129974 A JP2001129974 A JP 2001129974A JP 2002323315 A JP2002323315 A JP 2002323315A
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light
adjustment
signal light
chart
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JP2001129974A
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Koichi Nakada
康一 中田
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Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】調整精度を劣化させることなくアクティブ方式
の測距装置の高精度の調節を行うことができ、小型化も
可能な測距装置の調整装置を提供する。 【解決手段】本調整装置120によって測距装置の遠距
離測距の調整を行う場合、遠距離位置に設定される仮想
の遠距離用第三チャート112で反射されるであろう信
号光を演算により位置決めされた近距離用第一チャート
107上のa点にて遠距離用IRED106より光量調
整状態で発光させ、その信号光を測距装置のPSD10
5にて受光し、測距を行う。その結果に基づき、被写体
距離の逆数1/Lを求めるための変換直線の傾き係数を
求め、カメラ101内のEEPROM101bに書き込
む。カメラ101にて測距を行う場合、上記EEPRO
M101bから上記傾き係数を読み込み、遠距離側の被
写体距離を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アクティブ方式の
測距装置の光学系や信号処理回路等のばらつきの調整を
行う調整装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、アクティブ方式の測距装置の光学
系や信号処理回路等のばらつきの調整を行う調整装置を
小型化するために提案された特開平2−208508号
公報に開示されたものは、三角測距方式を適用する測距
装置の調整を行う装置に関するものであり、仮想の被写
体距離に対する測距装置の調整を行う場合、その測距装
置に内蔵される投光手段とは別の投光手段により調整用
チャート上に信号光を投光する。その投光位置を実距離
からの信号光の光路と近距離調整用チャートの交点位置
とすることで、仮想の測距データを求めて調整を行うも
のであった。
【0003】ここで、従来の測距装置に適用される測距
方式の1つである三角測距方式について、図9の三角測
距の原理を示す模式図を用いて説明する。図9に示すよ
うに受光レンズは、主点4と光軸3と焦点距離fを有す
る。投光素子のIRED1と受光レンズ光軸3との距離
は、基線長Sとする。受光素子のPSD2上の受光レン
ズ光軸3から信号光スポットの重心位置までの距離は、
tとし、PSD2の遠距離側端から受光レンズ光軸3ま
での距離は、t∞とする。PSD2の近距離側端からの
出力電流は、Inとする。PSD2の遠距離側端からの
出力電流は、Ifとする。被写体距離は、Lとする。
【0004】上記測距装置において、IRED1から投
光レンズを介し、被写体5に向けて信号光が投光され、
被写体5にて反射される。上記反射された信号光は、受
光レンズによりPSD2の受光面上のレンズ光軸3から
の距離tの位置に信号光スポットとして結像する。その
PSD2より上記信号光スポットの重心位置に応じた電
流が出力される。
【0005】したがって、図9から明らかなように、基
線長s、受光レンズの焦点距離f、被写体距離L、PS
D2上の受光レンズ光軸3からの信号光スポット重心位
置までの距離tとの間には、次の(11)式の関係が成
立し、 L/s=f/t……(11) となる。
【0006】上記(11)式において、基線長s、焦点
距離fは、既知の値であるので、距離tが求まれば、被
写体距離Lを求めることができる。一般にカメラの撮影
レンズの繰り出し量zは、被写体距離Lの逆数に比例す
る傾向がある。したがって、上記(11)式を変形した
式であって、 1/L=t/(s×f)……(12) により撮影レンズの繰り出し量zは、算出される。
【0007】上記繰り出し量zの値は、PSD2の二つ
の出力電流In、Ifをアナログ演算することにより得
られる。具体的にはAFデータとしてのIn/(In+
If)を公知の対数圧縮の技術等により求める。PSD
2の長さと前記の出力電流の比より(t+t∞)が得ら
れる。この(t+t∞)の値よりt∞を差し引けば、距
離tの値が求まり、さらに、繰り出し量zが算出でき
る。
【0008】上記基線長s、受光レンズの焦点距離f、
PSD2の遠距離側端から受光レンズ光軸3までの距離
t∞は、部品の出来映えや組み立て精度によりばらつき
を有する。そこで、カメラの製造時に2点以上の被写体
距離におけるスポット位置までの距離tnを測定して被
写体距離と距離tnの関係を示す直線演算式を求める。
この直線演算式をカメラ毎にEEPROM等の不揮発性
メモリに記憶しておき、実際の測距時にはこの直線演算
式を用いて被写体距離の逆数1/Lが算出される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】実際の測距装置では、
遠距離での信号光量の減少によって図10の実際のAF
データと被写体距離の関係を示す特性曲線に示されるよ
うに被写体距離Lの逆数とAFデータとの関係が理想的
な直線Pa0にはならない。上記信号光量の変化にともな
って上記の関係を示す直線が上記直線Pa0から離れ、曲
線Pb0、または、Pc0のように変化する。したがって、
上述した特開平2−208508号公報に開示された方
法では、調整誤差が大きくなってしまい精度の高い調整
を行うことができないという問題があった。
【0010】本発明は、上述の問題を解決するためにな
されたものであって、調整精度を劣化させることなくア
クティブ方式の測距装置の高精度の調節を行うことがで
き、かつ、小型化を図ることも可能な測距装置の調整装
置に関する。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
測距装置の調整装置は、被写体に向けて信号光を投光す
る投光手段と、上記被写体で反射した信号光を受光する
受光手段とを有し、上記受光手段を構成する受光位置検
出素子上の信号光の入射位置に基づいて被写体距離を求
める測距装置の光学系や信号処理回路等のばらつきを調
整する調整装置において、近距離側の調整は、実際の測
距動作による信号に基づいて行われ、遠距離側の調整
は、仮想の測距動作による信号に基づいて行われる。
【0012】本発明の請求項2記載の測距装置の調整装
置は、請求項1記載の測距装置の調整装置において、上
記近距離側の調整は、上記調整装置上に配置される近距
離調整用チャートまでの距離を実際に測距したデータに
基づいて行われ、上記遠距離側の調整は、近距離調整用
チャートよりも遠方の所定距離に仮想される仮想遠距離
調整用チャートからの信号光の光路と近距離調整用チャ
ートの交点上からの疑似信号光を用いて測距したデータ
に基づいて行われ、上記疑似信号光の光強度は、近距離
側の調整時の受光光量から推定される光量であって、上
記仮想遠距離調整用チャートを測距した場合の受光光量
になるように調節される。
【0013】本発明の請求項3記載の測距装置の調整装
置は、請求項2記載の測距装置の調整装置において、上
記疑似信号光を発生する近距離調整用チャート上の位置
は、近距離調整用チャート上の基準位置より疑似信号光
投光位置検出用の信号光を発して測距を行った場合の測
距データに基づいて算出される。
【0014】本発明の請求項4記載の測距装置の調整装
置は、請求項2記載の測距装置の調整装置において、上
記疑似信号光、および、上記疑似信号光投光位置検出用
信号光を発生する光源は、上記近距離調整用チャート上
に設置される可動の点光源である。
【0015】本発明の請求項5記載の測距装置の調整装
置は、請求項2記載の測距装置の調整装置において、上
記疑似信号光、および、上記疑似信号光投光位置検出用
信号光を発生する光源は、上記近距離調整用チャート上
に設置される複数の点光源である。
【0016】本発明の請求項6記載の測距装置の調整装
置は、請求項2記載の測距装置の調整装置において、上
記疑似信号光、および、上記疑似信号光投光位置検出用
信号光を発生する光源は、上記近距離調整用チャート上
に疑似信号光を投光する測距用とは別の投光位置が可変
の投光手段である。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、図を用いて本発明の実施形
態について説明する。図1は、本発明の第一実施形態の
調整装置および上記調整装置によって調整される測距装
置内蔵のカメラの構成を示すブロック構成図である。図
2は、上記調整装置における調整方法を説明するための
カメラの投受光部と調整用近距離調整用チャートと仮想
遠距離調整用チャートの配置位置を示す模式図である。
図3は、PSD上の入射光スポット重心位置と被写体距
離の逆数との関係を示す図である。図4は、上記調整装
置により求められるAFデータと被写体距離の逆数との
関係を示す変換特性線図である。図5は、上記調整装置
に用いられる調整用IREDのドライブ回路を含むI/
F回路の一例を示す図である。
【0018】上記測距装置を内蔵するカメラ101は、
撮影レンズ鏡筒101dと、カメラの制御を行い、か
つ、測距装置の制御を行うCPU101aと、測距に関
するデータやカメラ制御のためのデータを記憶するEE
PROM101bと、測距装置を構成する要素として、
測距光学系の投光手段であるIRED(赤外発光素子)
104および投光レンズ102と、測距光学系の受光手
段である受光レンズ103およびPSD(受光位置検出
素子)105と、測距のための信号処理回路であるAF
IC101cとを有している。
【0019】カメラ101の測距装置において、上記I
RED104から発せられる信号光は、投光レンズ10
2を透過して被写体に向けて投射される。被写体で反射
した信号光は、受光レンズ103を介して取り込まれ、
PSD105上に信号光スポットとして結像する。PS
D105においては、結像された信号光スポットの重心
位置に応じた電流値は、測距処理用AFIC101cに
取り込まれ、AFデータとしてCPU101aに出力さ
れる。CPU101aは、上記AFデータに基づき、E
EPROM101bの測距調整データを参照して被写体
距離を演算により求める。
【0020】上記調整装置120は、上記カメラ101
に内蔵される測距装置における測距光学系や測距信号処
理回路等のばらつきを調整するための装置であって、そ
の調整装置120は、カメラ101の受光レンズ103
の主点から距離L1 離れた位置に設置される近距離調整
用第一チャート107と、カメラ101の受光レンズ1
03の主点から距離L2 離れた位置に設置される近距離
調整用第二チャート108と、カメラ101に対して測
距装置の調整や、調整値の演算等を行う調整用PC(パ
ーソナルコンピュータ)110と、遠距離調整時にカメ
ラ101の受光部に疑似信号光を投射する遠距離調整用
IRED106と、調整用PC110からの信号により
第一チャート107の上下駆動および遠距離調整用IR
ED106の左右駆動および発光制御等を行う制御手段
であるI/F回路109と、カメラを駆動させるための
電源部111とを有してなる。
【0021】上記遠距離調整用IRED106は、第一
チャート107上にてPC110により指示される左右
位置に移動可能に支持される点光源であり、その移動位
置で疑似信号光を発光する。PSD105によって上記
疑似信号光の入射スポット位置が検出され、かつ、その
発光光量が検出される。その発光光強度は、仮想の遠距
離調整用第三チャートで反射されると考えられる光と同
等となるように制御される。
【0022】上記I/F回路109は、図5に示すよう
に遠距離調整用IRED106のオンオフを行うIRE
Dドライバ120と、遠距離調整用IRED106のド
ライブ電流制限を行う可変抵抗121と、可変抵抗12
1の抵抗値を調節し、遠駆離調整用IRED106のド
ライブ電流を制御を行う電流制御回路122と、IRE
Dドライバ120をオンオフして、遠距離調整用IRE
D106の発光制御を行う発光制御回路123と、第一
チャート107の上下動や遠距離調整用IRED106
の左右移動を行わせるチャート/IRED移動制御部1
24とを有してなる。
【0023】ここで、PSD105上の入射光スポット
重心位置の距離と被写体距離Lの逆数との関係、およ
び、遠距離調整用IRED106の移動位置と入射光ス
ポット検出位置との関係について図2,3により説明す
る。図2に示すようにPSD105は、受光レンズ10
3により結像された各信号光スポットの重心位置に応じ
た電流を出力する。そして、近距離調整用第一チャート
107は、カメラ101の受光レンズ103の主点11
4から距離L1 だけ離れた位置に設置される。近距離調
整用第二チャート108は、カメラ101の受光レンズ
103の主点114から距離L2 だけ離れた位置に設置
される。仮想の遠距離調整用第三チャート112は、遠
距離調整を行うためのチャートであり、実際には存在し
ないが、距離L1 ,L2 より遠い距離であってカメラ1
01の受光レンズ103の主点114から距離L3 の位
置に設置されるものと仮定する。なお、受光レンズ10
3の光軸を光軸113とする。
【0024】IRED104と投光レンズ102とによ
り第一チャート107に信号光を投光した場合、受光レ
ンズ103によりPSD105上に結像される信号光ス
ポットの重心位置は、PSD105の遠距離側端からの
距離t1 に位置する。また、IRED104と投光レン
ズ102とにより第二チャート108に信号光を投光し
た場合、受光レンズ103によりPSD105上に結像
される信号光スポットの重心位置は、PSD105の遠
距離側端からの距離t2 に位置する。さらに、IRED
104と投光レンズ102とにより仮想の第三チャート
112に信号光を投光したと仮定した場合、受光レンズ
103によりPSD105上に結像される信号光スポッ
トの重心位置は、PSD105の遠距離側端からの距離
t3 に位置するものとする。
【0025】無限遠被写体からの信号光スポットの重心
位置は、PSD105の結像面の受光レンズ103の光
軸113上の位置となり、PSD105の遠距離側端か
ら距離t∞に位置する。なお、受光レンズ103の焦点
距離fとする。
【0026】上述した各被写体距離Lに対応しているP
SD105上の信号光スポットの重心位置の各距離t
と、各被写体距離Lの逆数と関係は、図3に示す特性直
線P0のように直線的に変化する。
【0027】一方、図2に示すようにIRED104と
投光レンズ102とにより仮想の第三チャート112に
信号光を投光したと仮定したとき、上記信号光スポット
の重心位置とPSD105の遠距離側端間の距離t3
は、上記第一,第二チャート107,108からの反射
光によるPSD105上の信号光スポットの重心位置と
PSD105の遠距離側端間の距離t1 、t2 と、上記
第一,第二チャート107,108のまでの距離L1 、
L2 、および、仮想の第三チャート112までの距離L
3 により後述する(15)式で算出することができる。
【0028】また、図2に示すように、IRED104
の信号光が仮想の第三チャート112で反射してPSD
105に結像する信号光の軌跡が第一チャート107と
交叉する交点をa点とする。このa点は、遠距離調整時
の第一チャート107上の基準位置となる。さらに、第
一チャート107上の受光レンズ103の光軸113と
上記a点の間に位置する点をb点、および、c点とす
る。
【0029】そこで、第一チャート107上をIRED
106をb点に移動させ、上記b点から信号光を投光し
たとき、受光レンズ103によりPSD105上に結像
される信号光スポットの重心位置とPSD105の遠距
離側端間の距離を距離tb とする。また、第一チャート
107上をIRED106をc点に移動させ、上記c点
から信号光を投光したとき、受光レンズ103によりP
SD105上に結像される信号スポットの重心位置とP
SD105の遠距離側端間の距離を距離tc とする。
【0030】上記遠距離調整時の第一チャート107上
の基準位置のa点と上記c点との間の距離xaは、上記
b点とc点間の距離xb 、上記PSD105の入射位置
である各スポット重心位置の距離t3 、tb 、tc によ
り後述する(16)式で算出することができる。後述す
るように遠距離調整時には、このa点に遠距離調整用I
RED106を移動させて発光させる。この発光によっ
て後述するような遠距離に対する測距の調整がなされ
る。
【0031】上述した構成を有する調整装置120を適
用して、上記カメラの測距装置の調整を次の順序を追っ
て実行する。すなわち、(1)まず、カメラ101のI
RED104から信号光を被写体距離L1 ,L2 にある
第一チャート107、第二チャート108にそれぞれ投
光し、PC110は、PSD105の出力端の光量出力
信号(電流信号)である光量データI1、I2 を測定す
る。そして、PC110は、AFデータであるAFD1
、AFD2 からPSD105への信号光の入射位置
(スポット重心位置)までの距離t1、t2 (図2参
照)を次の(13)式、(14)式により算出する。す
なわち、 t1=t0×AFD1/AFDmax……(13) t2=t0×AFD2/AFDmax……(14) 但し、上記距離t0 は、PSD105の受光部の長さで
あり(図2参照)、AFDmax は、PSD105のAF
データ最大値(ダイナミックレンジ)を示す。なお、A
FデータであるAFD1 、AFD2 は、光量出力信号I
1 、I2 に基づき、I1 /(I1 +I2 )、または、I
2 /(I1 +I2 )で求められる。
【0032】(2)被写体距離Lの逆数とPSD105
への信号光のスポット重心位置である入射位置の距離t
との間には、図3に示すような比例関係があることを利
用して、PC110は、図2に破線で示した被写体距離
L3 にある仮想遠距離調整用第三チャート112に信号
光を投光した場合のPSD105への信号光の入射位置
t3 を上記(1)項で測定した入射位置の距離t1 、t
2 を用いて次の(15)式により算出する。 t3=(t1−t2)/(1/L1−1/L2)×(1/L3) +(t2/L1−t1/L2)/(1/L1−1/L2)……(15)
【0033】(3)カメラ101の投光レンズ102の
前面を遮光した状態でPC110は、カメラ101のI
RED104を発光させ、同時に第一チャート107上
のc点の位置(図2参照)で遠距離調整用IRED10
6を発光させて入射位置の距離tc を測定する。
【0034】(4)カメラ101の投光レンズ102の
前面を遮光した状態でPC110は、カメラ101のI
RED104を発光させ、同時に第一チャート107上
のb点の位置(図2参照)で遠距離調整用IRED10
6を発光させて入射位置の距離tb を測定する。
【0035】(5)PC110は、遠距離調整用IRE
D106の遠距離調整時の疑似光源位置であるa点まで
の距離であるa−c点間距離xa を、入射位置の距離t
3 、tb 、tc およびb−c点間の距離xb を用いて次
の(16)式により算出する。すなわち、 xa=L1×(t3−tc)/f に対して、f=(tb−tc)×L1/xb)を代入して、 xa=xb×(t3−tc)/(tb−tc)……(16) によって距離xa が求められる。
【0036】(6)PC110は、遠距離調整用の光量
出力信号である光量データI3 を(2)項で測定した光
量データI1 またはI2 を用いて次の(17)式、また
は、(17′)式により算出する。 I3=I1×(L1/L3)……(17) I3=I2×(L2/L3)……(17′)
【0037】(7)PSD105に入射する信号光量が
上記(6)項で求めたI3 となるように、PC110に
よりa点に位置させた遠距離調整用IRED106の発
光量が調整される。すなわち、図5のI/F回路109
における可変抵抗121の抵抗値を電流制御回路122
を介して変化させることによって上記IRED106の
発光量が調節される。このIRED106の発光量の調
節を行わないと、後述する(8)項で測定される仮想チ
ャート112による遠距離側のAFデータであるAFD
3 が図4の直線Pa1の延長線上の値となり、曲線Pb1上
に沿った実際のAFデータとの誤差が大きくなってしま
う。そこで、上述したIRED106の発光量の調整を
行うことにより、図4の遠距離側のAFデータであるA
FD3 が曲線Pb1に極めて近い近似の調整直線Pc1上を
通ることになる。なお、上記IRED106の発光量の
調節は、図5に示すドライブ回路を用いる方法に限るも
のではなく、他のドライブ回路や光学フィルタ等を用い
てもよい。
【0038】(8)カメラ101の投光レンズ102の
前面を遮光した状態で、PC110は、カメラ101の
IRED104を発光させ、同時にa点の遠距離調整用
IRED106を発光させ、図4の遠距離側の調整直線
Pc1の傾きの算出に用いるAFデータAFD3 を測定す
る。ここで、上述のようにカメラ101のIRED10
4の発光を行わせるのは、IRED104の発光に伴う
カメラ101内の電源の揺れやノイズ等の条件を実際の
測距時の条件に合せるためである。
【0039】上述した(1)項から(8)項の順序で測
定されたAFデータAFD1 、AFD2 、AFD3 を用
いて、PC110は、調整値である近距離側および遠距
離側のAFデーターと被写体距離の逆数1/Lとのデー
タ変換直線Pa1,Pc1の傾き係数AFK1 、AFK2 を
次の(18)式、(19)式により算出する。
【0040】 AFK1=(1/L1−1/L2)/(AFD1−AFD2)……(18) AFK2=(1/L2−1/L3)/(AFD2−AFD3)……(19)
【0041】上述したAFデータのAFD2 、および、
傾き係数AFK1 、AFK2 は、PC110によってカ
メラ101に内蔵されているEEPROM101b等の
不揮発性メモリの所定のアドレスに書込まれる。そし
て、実際のカメラ101の測距装置においては、測定さ
れるAFデータであるAFDから被写体距離の逆数1/
Lデータヘの変換は、上記の傾きデータAFK1 、AF
K2 、および、第二チャート108の設置距離L2 、第
二チャートによるAFデータのAFD2 を用いて行われ
る。すなわち、上記測定AFデータのAFDの値によっ
て次の(20)式、または、(21)式が選択され、被
写体距離の逆数1/Lが算出される。
【0042】すなわち、近距離側であって、AFD≧A
FD2 の場合は、 1/L=AFK1×(AFD−AFD2)+1/L2……(20) 遠距離側であって、AFD<AFD2 の場合は、 1/L=AFK2×(AFD−AFD2)+1/L2……(21) によってそれぞれ被写体距離の逆数1/Lが算出され
る。
【0043】なお、上述の説明では、遠距離調整用IR
ED106は、第一チャート107上に設置されている
が、第二チャート108上に設置するようにしてもよ
い。また、上記の説明では、第一チャート107、第二
チャート108の光量データI1 、I2 から、仮想チャ
ート112のAFデータAFD3を測定する際の遠距離
調整用IRED106の発光量を求めるようにしている
が、その発光量は、予め仮想チャート112の距離、反
射率等を考慮した固定値としてもよい。さらに、上記の
説明では、一枚の仮想チャート112を想定し、図4に
示すようにAFデータから被写体距離の逆数1/Lを求
めるための折れ線となる2本の直線Pa1,Pc1を調整で
求めているが、複数の仮想チャートを想定して3本以上
の直線を求める調整を行ってもよい。
【0044】次に、上記第一実施形態の調整装置120
によるカメラ101の測距装置の調整手順について図6
のフローチャートにより説明する。この処理は、PC1
10の制御のもとて実行される。まず、S101におい
て、PC110の制御によりカメラ101のCPU10
1aを介してIRED104から信号光を第一チャート
107に投光して測距を行う。PC110は、AFD1
を測定し、PSD105への信号光の入射位置の距離t
1 を上記(13)式により算出する。
【0045】ステップS102にてカメラ101のIR
ED104から信号光を第二チャート108に投光して
測距が行われ、PC110は、AFD2 、および、信号
光量I2 を測定し、PSD105への信号光の入射位置
の距離t2 を上記(14)式により算出する。
【0046】ステップS103において、PC110
は、第一チャート107、第二チャート108、仮想の
第三チャート112の距離L1 、L2 、L3 と、ステッ
プS101、S102で求められた入射位置の距離t1
、t2 を用いて、仮想の第三チャート112を測距す
るときのPSD105への信号光の入射位置の距離t3
を上記(15)式により算出する。
【0047】ステップS104にてカメラ101の投光
レンズ102の前面を遮光された状態のもとでPC11
0は、図2のc点で遠距離調整用IRED106を発光
させ、測距を行って、その時のAFデータからステップ
S101、S102の処理と同様にPSD105への信
号光の入射位置の距離tc を算出するステップS105
において、カメラ101の投光レンズ102の前面が遮
光された状態のもとでPC110は、図2のb点で遠距
離調整用IRED106を発光させ、測距を行って、そ
の時のAFデータからステップS101,S102の処
理と同様にPSD105への信号光の入射位置の距離t
b を算出する。
【0048】ステップS106において、PC110
は、疑似信号光発生位置の算出処理を行う。すなわち、
動作a−c点間の距離xa を、ステップS103、S1
04、S105で求めた距離t3 ,tb ,tc 、およ
び、b−c点間の距離xb を用いて上記(16)式によ
り算出し、遠距離調整用IRED106の遠距離調整時
の発光位置(a点)を求める。
【0049】ステップS107において、PC110
は、仮想の第三チャート112を測距するときの信号光
の光量データI3 を、ステップS102で測定した光量
データI2 を用いて上記(17′)式により算出する。
【0050】ステップS108において、PC110
は、疑似信号光の光強度調節処理を行う。すなわち、P
SD105に入射する信号光量がS107で求めた光量
データI3 となるように、a点での遠距離調整用IRE
D106の発光量を図5の可変抵抗121の抵抗値を変
化させて調節する。
【0051】ステップS109において、カメラ101
の投光レンズ102の前面が遮光された状態でPC11
0は、遠距離に対する仮想の測距処理を行う。すなわ
ち、カメラ101のIRED104およびa点に移動し
た遠距離調整用IRED106を発光させ、図4の遠距
離側調整直線Pc1の傾きの算出に用いるAFデータのA
FD3 を測定する。
【0052】ステップS110において、PC110
は、上記ステップS101、S102、S109で求め
たAFD1 ,AFD2 ,AFD3 、および、第1チャー
ト107,第2チャート108,仮想の第3チャート1
12の距離L1 、L2 、L3 を適用することによって、
上記(18),(19)式により調整値であるAFデー
ターと1/Lデータとの変換直線Pa1,Pc1の傾き係数
AFK1 、AFK2 を算出する。
【0053】ステップS111においてPC110は、
ステップS102で測定した基準AFデータであるAF
D2 、および、ステップS110で求めた傾き係数AF
K1、AFK2 をカメラ101に内蔵されているEEP
ROM101b等の不揮発性メモリの所定のアドレスに
書込み、本ルーチンの処理を終了する。
【0054】以上、説明した第一実施形態の調整装置1
20によれば、遠距離の調整を行うための第三チャート
112を設置しなくても、第三チャート112を実際に
測距した時のAFデータと同等のAFデータのAFD3
を測定することができるので、調整精度を劣化させるこ
となく調整装置の小型化を図ることができる。
【0055】次に、本発明の第二実施形態の調整装置に
ついて、図7のブロック構成図を用いて説明する。この
第二実施形態の調整装置220は、前記第一実施形態の
調整装置120では第一チャート上を移動可能な遠距離
調整用IREDを用いたのに対して、図7に示すよう
に、第一チャート207上に遠距離調整用IREDアレ
イ206を設置し、発光させるIREDの各素子を切り
換えることによって、上記第一実施形態の調整装置12
0と同様の調整を可能としたものである。この調整装置
220における調整の手順、調整値の演算等は、上記第
一実施形態の場合と同様であり、以下、主に異なる部分
について説明する。
【0056】本調整装置220により調整される測距装
置を内蔵するカメラ201は、第一実施形態の場合と同
様であって、図7に示すように、被写体に向けてIRE
D204から発せられる信号光を投射する投光レンズ2
02と、被写体で反射した信号光をPSD205上に結
像する受光レンズ203と、被写体に投光する信号光を
発生するIRED204と、受光レンズ203により結
像された信号光スポットの重心位置に応じた電流を出力
するPSD205と、PSDの出力を処理するAFIC
と、さらに、撮影レンズ鏡筒と、カメラの制御を行い、
かつ、測距装置の制御を行うCPUと、測距に関するデ
ータやカメラ制御のためのデータを記憶するEEPRO
M等を有している。
【0057】本調整装置220は、カメラ201の受光
レンズ203の主点から距離L1 離れた位置に設置され
る近距離調整用第一チャート207と、カメラ201の
受光レンズ203の主点から距離L2 離れた位置に設置
される近距離調整用第二チャート208と、第一チャー
ト207上に設置される遠距離調整用IREDアレイ2
06と、調整を行うカメラ201の制御や、調整値の演
算等を行う調整用PC210と、調整用PC210から
の信号により第一チャート207の上下駆動や、遠距離
調整用IREDアレイ206の発光制御等を行う制御手
段であるI/F回路209と、カメラ201を駆動させ
るための電源211とを有してなる。
【0058】なお、上記遠距離調整用IREDアレイ2
06は、遠距離調整時にカメラ201の受光部に各IR
EDを切り換えて信号光を投射可能な複数の点光源であ
る。また、上記I/F回路209は、遠距離調整用IR
EDのための移動制御部を有してない。また、カメラ2
01の受光レンズ203の主点から第一チャート207
までの距離L1 とし、カメラ201の受光レンズ203
の主点から第二チャート208までの距離L2 とする。
【0059】前述した第一の実施形態の調整装置120
では、調整動作に際して遠距離調整用IRED106を
移動させていたが、本調整装置220では、PC210
により測距装置を調整する際に遠距離調整用IREDア
レイ206の中でIREDを選択して発光させ、疑似信
号光の発光位置および光量強度を演算して決定し、測距
装置の調整が行われる。
【0060】上記第二実施形態の調整装置220よれ
ば、遠距離調整用IREDとしてIREDアレイを用い
るようにしたので、IREDを移動させる機構、およ
び、移動に要する時間が不要となり、より簡略な構成で
高速の調整を行うことができる。また、複数の遠距離調
整用IREDアレイをチャート上に2次元的に配置すれ
ば、カメラ201内での投受光部の配置が縦である場合
や2次元マルチAFを行う測距装置の調整装置としても
適用することが可能となる。
【0061】次に、本発明の第三実施形態の調整装置に
ついて、図8のブロック構成図を用いて説明する。本第
三実施形態の調整装置320は、前記第一実施形態の調
整装置120では第一チャート上を移動可能な遠距離調
整用IREDを用いたのに対して、図8に示すように信
号光の投光位置が可変な遠距離調整用の投光手段312
を適用し、第一チャート307からの距離がカメラ30
1の投光部と等価な位置に設置することによって、第一
実施例と同様の調整を可能としたものである。この調整
装置320における調整の手順、調整値の演算等は、上
記第一実施形態の場合と同様であり、以下、主に異なる
部分について説明する。
【0062】本調整装置320により調整される測距装
置を内蔵するカメラ301は、第一実施形態の場合と同
様であって、図8に示すように、被写体に向けてIRE
D304から発せられる信号光を投射する投光レンズ3
02と、被写体で反射した信号光をPSD305上に結
像する受光レンズ303と、被写体に投光する信号光を
発生するIRED304と、受光レンズ303により結
像された信号光スポットの重心位置に応じた電流を出力
するPSD305と、PSDの出力を処理するAFIC
と、撮影レンズ鏡筒と、カメラの制御を行い、かつ、測
距装置の制御を行うCPUと、測距に関するデータやカ
メラ制御のためのデータを記憶するEEPROM等を有
している。
【0063】本調整装置320は、カメラ301の受光
レンズ303の主点から距離L1 離れた位置に設置され
る近距離調整用第一チャート307と、カメラ301の
受光レンズ303の主点から距離L2 離れた位置に設置
される近距離調整用第二チャート308と、調整を行う
カメラ301の制御や、調整値の演算等を行う調整用P
C310と、遠距離調整時に調整用PC310からの信
号により第一チャート307の上下駆動や、遠距離調整
用の投光手段312の投光位置制御、発光制御等を行う
制御手段であるI/F回路309と、チャートからの距
離がカメラ301の投光部と等価な位置に設置され、信
号光の投光方向,投光位置が可変な遠距離調整用の投光
手段である投光装置312と、カメラを駆動させる為の
電源311とを有してなる。
【0064】上記投光装置312は、遠距離調整時に調
整用第一チャート307に向けて遠距離調整用IRED
314から発せられる疑似信号光を投射する遠距離調整
用投光レンズ313と、上記疑似信号光を発生する点光
源となる遠距離調整用IRED314とを有しており、
I/F回路309によって上記疑似信号光の第一チャー
ト307上の投光位置および発光光量が制御される。
【0065】前述した前記第一の実施形態の調整装置1
20では、調整動作に際して遠距離調整用IRED10
6を移動させていたが、本調整装置320では、PC3
10により測距装置を調整する際に投光装置312を駆
動させ、遠距離調整用IRED314からの疑似信号光
が第一チャート307上の投射される。上記疑似信号光
の投射位置および光量強度は、PC310で演算されて
決定され、測距装置の調整が行われる。
【0066】上記第三実施形態の調整装置によれば、信
号光の投光位置を可変な遠距離調整用の投光手段を用い
るようにしたので、実際にカメラ301で測距を行う場
合と等価な受光スポット像がPSD305上に結像され
るようになるので、遠距離調整を行う際に点光源を用い
る第一、第二実施形態で生じる可能性のあるスポット像
の形状違いによるPSD305上での重心位置の誤差が
なくなるので、より高精度な調整を行うことができる。
また、遠距離調整用の投光装置312として疑似信号光
の投光方向,投光位置が2次元的に可変であるものを適
用すれば、カメラ301内での投受光部の配置が配置が
縦の場合や2次元マルチAFを行う測距装置の調整装置
として用いることが可能である。
【0067】
【発明の効果】以上、説明したように本発明によれば、
調整精度を劣化させることなくアクティブ方式の測距装
置の調整を行う調整装置の小型化を図ることができる。
また、調整装置の処理方式(プログラム)の変更を行う
だけで、投受光の配置が異なる測距装置や、複数ポイン
トの測距を行う測距装置の調整装置を行うことができる
測距装置の調整装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施形態の調整装置および上記調
整装置によって調整される測距装置内蔵のカメラの構成
を示すブロック構成図。
【図2】上記図1の第一実施形態の調整装置における調
整方法を説明するためのカメラの投受光部と調整用近距
離調整用チャートと仮想遠距離調整用チャートの配置位
置を示す模式図。
【図3】上記図1の第一実施形態の調整装置におけるP
SD(受光位置検出素子)上の入射光スポット重心位置
と被写体距離の逆数との関係を示す図。
【図4】上記図1の第一実施形態の調整装置により求め
られるAFデータと被写体距離の逆数との関係を示す変
換特性線図。
【図5】上記図1の第一実施形態の調整装置に用いられ
る調整用IREDのドライブ回路を含むI/F回路の一
例を示す図。
【図6】上記図1の第一実施形態の調整装置における調
整処理のフローチャート。
【図7】本発明の第二実施形態の調整装置および上記調
整装置によって調整される測距装置内蔵のカメラの構成
を示すブロック構成図。
【図8】本発明の第三実施形態の調整装置および上記調
整装置によって調整される測距装置内蔵のカメラの構成
を示すブロック構成図。
【図9】従来の測距装置に適用される測距方式の1つで
ある三角測距方式の原理を説明するための模式図。
【図10】上記図9に示す従来の測距装置における実際
のAFデータと被写体距離の関係を示す特性曲線。
【符号の説明】
101c……AFIC(信号処理回路) 102,202,302……投光レンズ(投光手段,測
距装置の光学系) 103,203,303……受光レンズ(受光手段,測
距装置の光学系) 104,204,304……IRED(投光手段,測距
装置の光学系) 105,205,305……PSD(受光手段,受光位
置検出手段) 106 ……IRED(疑似信号光を発生する可動の点
光源) 107,207,307……第一チャート(近距離調整
用チャート) 112 ……第三チャート(仮想の遠距離調整用チャー
ト) 206 ……IREDアレイ(疑似信号光を発生する複
数の点光源) 306 ……投光装置(投光位置が可変の投光手段) a点 ……疑似信号光を発生する近距離調整用チャート
上の位置 ステップS106……疑似信号光発生位置の算出動作 ステップS108……疑似信号光の光強度調節動作 ステップS109……仮想の測距動作

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体に向けて信号光を投光する投光手
    段と、上記被写体で反射した信号光を受光する受光手段
    とを有し、上記受光手段を構成する受光位置検出素子上
    の信号光の入射位置に基づいて被写体距離を求める測距
    装置の光学系や信号処理回路等のばらつきを調整する調
    整装置において、 近距離側の調整は、実際の測距動作による信号に基づい
    て行い、遠距離側の調整は、仮想の測距動作による信号
    に基づいて行うことを特徴とする測距装置の調整装置。
  2. 【請求項2】 上記近距離側の調整は、上記調整装置上
    に配置される近距離調整用チャートまでの距離を実際に
    測距したデータに基づいて行い、上記遠距離側の調整
    は、近距離調整用チャートよりも遠方の所定距離に仮想
    される仮想遠距離調整用チャートからの信号光の光路と
    近距離調整用チャートの交点上からの疑似信号光を用い
    て測距したデータに基づいて行い、上記疑似信号光の光
    強度は、近距離側の調整時の受光光量から推定される光
    量であって、上記仮想遠距離調整用チャートを測距した
    場合の受光光量になるように調節されることを特徴とす
    る請求項1に記載の測距装置の調整装置。
  3. 【請求項3】 上記疑似信号光を発生する近距離調整用
    チャート上の位置は、近距離調整用チャート上の基準位
    置より疑似信号光投光位置検出用の信号光を発して測距
    を行った場合の測距データに基づいて算出されることを
    特徴とする請求項2に記載の測距装置の調整装置。
  4. 【請求項4】 上記疑似信号光、および、上記疑似信号
    光投光位置検出用信号光を発生する光源は、上記近距離
    調整用チャート上に設置される可動の点光源であること
    を特徴とする請求項2に記載の測距装置の調整装置。
  5. 【請求項5】 上記疑似信号光、および、上記疑似信号
    光投光位置検出用信号光を発生する光源は、上記近距離
    調整用チャート上に設置される複数の点光源であること
    を特徴とする請求項2に記載の測距装置の調整装置。
  6. 【請求項6】 上記疑似信号光、および、上記疑似信号
    光投光位置検出用信号光を発生する光源は、上記近距離
    調整用チャート上に疑似信号光を投光する測距用とは別
    の投光位置が可変の投光手段であることを特徴とする請
    求項2に記載の測距装置の調整装置。
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