JP2002317266A - 結晶材料からなる光学エレメント用の保持装置 - Google Patents
結晶材料からなる光学エレメント用の保持装置Info
- Publication number
- JP2002317266A JP2002317266A JP2001393810A JP2001393810A JP2002317266A JP 2002317266 A JP2002317266 A JP 2002317266A JP 2001393810 A JP2001393810 A JP 2001393810A JP 2001393810 A JP2001393810 A JP 2001393810A JP 2002317266 A JP2002317266 A JP 2002317266A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical element
- optical
- support
- support element
- plant
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/50—Substrate holders
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/50—Substrate holders
- C23C14/505—Substrate holders for rotation of the substrates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
を、特に真空被覆プラント内での少なくとも1つの機能
層の真空蒸着による被覆の間において保持するために使
用され、且つ、上記光学エレメントへの熱的負荷の入力
を防止するような装置を提供する。 【解決手段】 本装置は、特にCaF2等の結晶材料か
らなるような光学エレメントを、該光学エレメントが真
空被覆プラント内で特に少なくとも1つの機能層の真空
蒸着により被覆される間に保持するために使用される。
上記プラントは上記光学エレメントを取り付ける装置を
有し、該光学エレメントは当該真空被覆プラント内にお
いて特に赤外線放射等の適切な放射により加熱すること
ができる。上記光学エレメントを取り付ける装置よりも
小さな熱吸収性を持つ中間エレメントが、上記光学エレ
メントを取り付ける装置と該光学エレメントとの間に配
設される。
Description
の保持装置であって、上記光学エレメントが該光学エレ
メント用の取り付け装置を有する真空被覆プラント内で
被覆される間に、該光学エレメントを上記真空被覆プラ
ント内で適切な放射により加熱することができるような
保持装置に関する。
させるための例えば反射防止被覆のような機能層によ
り、非常にしばしば被覆される。この被覆は、通常、真
空被覆プラント内で実施され、該プラントには上記光学
エレメントが導入されると共に、対応する機能層用の物
質が供給される間に該光学エレメントは同時に加熱され
る。そして、該対応する機能層用の物質が上記光学エレ
メントの表面に付着される。該光学エレメントの表面上
への可能な限り一様な付着を達成するために、光学エレ
メントは該光学エレメントを保持するための対応するマ
ウントに挿入され、通常は当該真空被覆プラント内を移
動される。
術で使用される上記型式のレンズ又は結晶材料からなる
他の光学エレメントは、比較的大径であって比較的重い
ので、真空被覆プラント内で対応する駆動軸を備え上記
光学エレメントを取り付ける装置は、高強度の材料から
構成され、これにより、例えば重量負荷及び発生する熱
的負荷の結果として当該マウントが故障することなく上
記真空被覆プラント内で4以上のレンズを同時に被覆す
ることができるようにする。この目的のため、通常、上
記保持エレメントは例えば鋼等の高強度材料から構成さ
れる。
空故に、上記光学エレメントが加熱されるのを保証する
ためには適切な放射器が使用されねばならない。何故な
ら、対流等の結果としての熱の伝達は真空中では利用す
ることができないからである。これらの放射器の場合、
従来、これらは赤外線放射器であるが、これら放射器は
光学エレメントを囲み、且つ、始めにも述べたように通
常は殆どが鋼から構成されるような構成部品も加熱して
しまうという問題がある。このようにして、光学エレメ
ントを取り付ける装置と光学エレメント自体との間に非
常に大きな温度差が生じ、該温度差は当該光学エレメン
ト内の温度勾配に繋がる。
係止する領域においては、非常に大きな熱の点入力が生
じる。何故なら、ここでは、通常光学エレメントよりも
熱を良好に吸収する上記マウントが、当該光学エレメン
トへ非常に大量の熱エネルギを導入するからである。始
めに述べたような型式の結晶材料は一般的に鋼よりは劣
る熱伝導体であり、上記エネルギは光学エレメント内に
拡散され得るので、該エネルギは上記光学エレメントに
よっては不十分にしか伝達除去されない。従って、該光
学エレメント自体にも非常に高い温度勾配が確立され、
該勾配は当該光学エレメントにおける大きな熱応力に繋
がる。この熱応力の増加は、上記光学エレメントが、該
エレメントを装着するために装置上に支持されるという
事実の結果として、通常、重力により何れにせよ非常に
高い応力の入力が該光学エレメントに作用するような領
域に生じる。従って、重力的応力と熱的に誘起される応
力との加算の結果として、臨界的剪断応力が上記光学エ
レメントのこれら領域において容易に超過される。結晶
材料の場合、これは、格子面等のオフセットに繋がり、
塑性変形が生じるため、高倍率光学系の領域での更なる
用途に関しては該光学エレメントを使用不可能にしてし
まう。
は、特に結晶材料からなるような光学エレメントを、特
に真空被覆プラント内で少なくとも1つの機能層の真空
蒸着による該光学エレメントの被覆の間において保持す
るために使用され、且つ、上記光学エレメントへの熱的
負荷の入力を防止するような装置を提供することにあ
る。
的は請求項1に記載された特徴により達成される。
ウント)よりも低い熱吸収性を有する中間エレメントが
使用されるという事実は、上記マウントに存在する熱エ
ネルギが完全には上記光学エレメントに到達しないこと
を意味する。上記光学エレメントが支持される領域にお
ける、該光学エレメントの何れにせよ非常に臨界的なこ
れらの領域への熱エネルギの入力は防止され、従って、
熱的に誘起される応力と、重力によりもたらされる当該
光学エレメントの結晶内応力との加算は、通常、該光学
エレメントの塑性変形を起こし得る臨界的剪断応力より
も低く留まる。
記中間エレメントは、当該光学エレメントを取り付ける
装置に、更に、劣った熱伝導材料からなる支持エレメン
トを介して接続される。
は、上記マウントから上記中間エレメントへの、従って
上記光学エレメントへの熱エネルギの入力は、実質的に
完全に防止することができる。何故なら、例えばセラミ
ック等からなる小さな球体として構成することができる
ような、対応する支持エレメントは、特にそれらの小さ
な接触面積によっても、熱を実質的に上記中間エレメン
トに、従って上記光学エレメントに伝達しないからであ
る。
いては、上記中間エレメントは、上記光学エレメントを
加熱するために使用される放射を反射するような被覆を
追加的に有する。
覆は、上記光学エレメントを加熱するために使用される
放射を実質的に完全に反射するので、上述した特に有利
な2つの実施例の組み合わせにおいて上記支持エレメン
トを介して前記マウントから更に熱的に減結合される上
記中間エレメントは、実質的に加熱されず、又は何れに
せよ上記光学エレメント自体よりは加熱されない。従っ
て、局部的加熱と上記光学エレメントの個々の点間の関
連する高い温度差とにより生じる、当該光学エレメント
への熱的に誘起される応力の入力は、実質的に完全に除
去される。かくして、当該光学エレメントの1以上の適
切な機能層による被覆は、何の困難さもなく、且つ、相
互にずれた格子面等(即ち、塑性変形)による当該光学
エレメントの光学的品質の如何なる悪化も心配すること
なしに可能となる。
に良好な熱伝導性及び、同時に、非常に小さな熱容量を
有するように設計することができる点にある。この場
合、上記中間エレメントは、実質的に常に光学エレメン
トと同じ温度になることが可能となる。何故なら、該中
間エレメントの良好な熱伝導性の結果として温度差が非
常に急速に平衡化されるからである。また、同時の非常
に小さな熱容量(例えば、上記中間エレメントの非常に
小さな質量の比較的薄い設計により達成することができ
る)の結果、温度差を時間にわたって遅延させるような
殆ど如何なる蓄積効果も該中間エレメントの領域では発
生しない。
クからなる中間エレメントも、勿論ここでは考えること
ができる。何故なら、これらは、非常に有利な熱容量及
び熱伝導性に関する特性と、非常に有効な機械的特性と
を組み合わせることになるからである。しかしながら、
この場合、真空被覆プラントにおいて、上記光学エレメ
ント上に付着し、該光学エレメント上の機能被覆の達成
されるべき品質の悪化を生じるかもしれない有機物質が
上記プラスチックから蒸発し得ないことが保証されねば
ならない。
び図面を使用した下記の例示的実施例から明らかになる
であろう。
常に概念的表現で示している。該真空被覆プラント1の
内部には、各々が1つの光学エレメント3を取り付ける
2つの装置2が基本的な形で示されている。この場合、
光学エレメント3を取り付ける装置2は、各々、保持機
構4を介して軸5に接続され、これら軸の各々は矢印A
に従って回転する。保持機構4、軸5及び光学エレメン
ト3を取り付ける装置2を有する該ユニットは、横げた
6に固定され、該横げたは軸7の廻りに矢印Bに従って
回転する。従って、各光学エレメント3はサイクロイド
運動を行い、これによって該光学エレメントの表面の一
様な被覆が達成される。通常は、2を越える光学エレメ
ントが対応する構成部品5、4及び2を介して横ばり6
に固定され、従って4以上の光学エレメント3に当該真
空被覆プラント1内で例えば反射防止被覆のような表面
層を同時に設けることができる。
らず、対応する機能層で蒸着するために上記光学エレメ
ント3を加熱することができるように、該真空被覆プラ
ント1は複数の放射器8を有するが、これら放射器はこ
こでは原理的に示されている。これら放射器8から放出
する放射により、光学エレメント3は蒸着に必要とされ
る温度まで加熱される。放射器8は、通常、赤外線放射
器であるが、被覆されるべき光学エレメント3に応じ
て、各々が該光学エレメント3の加熱に繋がるような他
の波長の放射も考えることができる。
り光学エレメント3を取り付ける装置2、保持機構4、
軸5,横ばり6及び軸7を有する構造も同時に加熱す
る。これら要素に対する熱的及び機械的負荷のため、こ
れらは、通常例えば鋼等の高強度材料から構成され、加
熱されるべき実際の光学エレメント3よりも大幅に熱く
なる。
メント3を取り付ける装置2と光学エレメント3自体と
の間には大きな温度差が発生した。光学エレメント3が
装置2上に支持される領域では、熱伝導が光学エレメン
ト3の高い集中加熱を生じ、該加熱は光学エレメントの
通常は比較的劣る熱伝導性のために該光学エレメントに
は不十分にしか伝搬することができない。その結果は、
温度勾配による非常に大きな応力であり、該応力は、光
学エレメント3に対する重力の結果として装置2が既に
非常に大きな応力入力を果たしている(何故なら、光学
エレメント3は該光学エレメントを取り付ける装置2上
に支持されている)範囲に加わる。
ム等のフッ化物の結晶材料からなる高値光学エレメント
3が被覆されると(ここでは、例えばゲルマニウム等か
らなる他の単結晶の被覆も考えられる)、しかしながら
熱的に誘起される応力と重力による応力との重畳によ
り、光学エレメント3の支持の領域において非常に大き
な剪断応力が発生する可能性がある。この高剪断応力の
結果として、結晶性光学エレメント3の個々の格子面が
互いにずれる可能性があり、その結果として、該光学エ
レメント3は塑性変形されるので計画された意図した使
用に関しては使用不可能となる。
図2に見られる中間エレメント9及び対応する支持エレ
メント10により防止される。この目的のため、該中間
エレメント9は、加熱のために使用される例えば赤外線
放射器等の放射器8からの放射を、光学エレメント3自
体よりも少ない程度にしか吸収しない材料から形成され
ている。この材料は、例えば、反射的にされた適切な材
料とすることができる。アルミニウムからなり、反射的
な金の被覆が設けられた中間エレメント9が、特に有効
であることが分かった。金により反射的にされたアルミ
ニウムは、放射器8からの入射赤外線放射の大部分を反
射するので、周囲の装置2とは反対に、遙かに少い程度
にしか加熱されない。従って、何れにせよ重力応力によ
り高度に負荷が掛けられている光学エレメント3の縁領
域への、中間エレメント9及び該光学エレメント3を取
り付ける装置2による熱エネルギの入力は避けることが
できる。
ト3を取り付ける装置2から熱的に減結合するために、
中間エレメント9は装置2上に支持エレメント10を介
して支持される。この場合、支持エレメント10は、通
常は金属から構成される装置2及び/又は中間エレメン
ト9よりは遙かに劣った程度にしか熱を伝導しない材料
から構成される。
エレメント10自身と、一方においては装置2との間、
他方においては中間エレメント9との間に非常に小さな
接触面積しか形成しないような幾何学的形状に設計され
ている。ここでは、例えば、円錐状の、円柱状の又は球
状のエレメントが考えられる。該支持エレメント10
が、更に同時に、例えばセラミック等の対応して劣る熱
伝導性の材料から形成されると、光学エレメント3を取
り付ける装置2から支持エレメント10及び中間エレメ
ント9を介しての熱伝導による該光学エレメント3への
熱の入力は実質的に除去される。しかしながら、特にそ
れらの理想的な機械的特性により、ルビーからなる球体
が支持エレメント10として特に適していることが分か
った。これらはセラミックよりも良好な熱伝導性を有し
ているが、上記球体の非常に小さな接触面積により、こ
こでは熱的減結合も非常に良好に機能する。従って、光
学エレメント3が支持される領域における熱的応力と重
力応力との加算による臨界的剪断応力の超過に関する上
述した問題は、防止することができる。
的金被覆を備えるアルミニウム環である場合、これは、
例えばフッ化カルシウム等の光学エレメント3に通常使
用される材料よりも更に軟らかい。従って、光学エレメ
ント3の材料は、この種の結晶材料の場合非常に容易に
格子ずれ又は開裂に繋がり得る擦り傷等による如何なる
損傷も受けることがない。
真空被覆プラント1により光学エレメント3に付着され
る層により真空被覆され、反射防止被覆の場合には、以
降の繰り返し使用は該中間エレメントが、加熱に使用さ
れる放射器8の放射の反射を完全に保証することが最早
できなくなることに繋がる。この場合、上記中間エレメ
ント9は清掃するか又は交換されなければならない。
に抵抗性のプラスチックは中間リング9にとり非常に有
効な材料であろう。何故なら、このプラスチックは比較
的軟らかく、その製造の間の比較的少ない費用により使
い捨て物品として設計することができるからである。
に概念的に示す。
付ける装置の一部の図1のII-II線に沿う断面図であ
る。
Claims (17)
- 【請求項1】 光学エレメント用の保持装置において、
前記光学エレメントが該光学エレメント用の取り付け装
置を有する真空被覆プラント内で被覆される間に、該光
学エレメントは前記真空被覆プラント内において適切な
放射により加熱されることができ、前記光学エレメント
用の取り付け装置よりも低い熱吸収性を有する中間エレ
メントが、前記光学エレメント用の該取り付け装置と前
記光学エレメントとの間に配設されることを特徴とする
光学エレメント用の保持装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の装置において、前記中
間エレメントは、劣った熱伝導性材料からなる支持エレ
メントを介して前記光学エレメント用の取り付け装置に
接続されることを特徴とする装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載の装置において、前記中
間エレメントは、前記適切な放射を前記光学エレメント
用の取り付け装置よりも少ない程度しか吸収しない材料
から形成されていることを特徴とする装置。 - 【請求項4】 請求項1に記載の装置において、前記中
間エレメントは、前記適切な放射を反射するような被覆
を有していることを特徴とする装置。 - 【請求項5】 請求項1に記載の装置において、前記中
間エレメントは、前記光学エレメントの材料よりも軟ら
かい材料から形成されていることを特徴とする装置。 - 【請求項6】 請求項4に記載の装置において、前記反
射する被覆が金を有していることを特徴とする装置。 - 【請求項7】 請求項1に記載の装置において、前記中
間エレメントがアルミニウムを含む合金から形成されて
いることを特徴とする装置。 - 【請求項8】 請求項2に記載の装置において、前記支
持エレメントは、少なくとも前記光学エレメント用の取
り付け装置に対して、小さな接触面積しか有さない幾何
学体として設計されていることを特徴とする装置。 - 【請求項9】 請求項2に記載の装置において、前記支
持エレメントが円柱状エレメントとして設計されている
ことを特徴とする装置。 - 【請求項10】 請求項2に記載の装置において、前記
支持エレメントが球状エレメントとして設計されている
ことを特徴とする装置。 - 【請求項11】 請求項2に記載の装置において、前記
支持エレメントが円錐状エレメントとして設計されてい
ることを特徴とする装置。 - 【請求項12】 請求項2に記載の装置において、前記
支持エレメントが低熱伝導性の材料から形成されている
ことを特徴とする装置。 - 【請求項13】 請求項2に記載の装置において、前記
支持エレメントがルビーから形成されていることを特徴
とする装置。 - 【請求項14】 請求項2に記載の装置において、前記
支持エレメントがセラミックから形成されていることを
特徴とする装置。 - 【請求項15】 請求項1に記載の装置において、前記
光学エレメントが結晶材料から形成されていることを特
徴とする装置。 - 【請求項16】 請求項1に記載の装置において、前記
光学エレメントがCaF2から形成されていることを特
徴とする装置。 - 【請求項17】 請求項1に記載の装置において、前記
光学エレメントが少なくとも1つの機能層の真空蒸着に
より被覆されていることを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10100328A DE10100328A1 (de) | 2001-01-05 | 2001-01-05 | Vorrichtung zur Aufnahme eines optischen Elements aus einem kristallinen Material |
DE10100328.5 | 2001-01-05 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002317266A true JP2002317266A (ja) | 2002-10-31 |
Family
ID=7669832
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001393810A Pending JP2002317266A (ja) | 2001-01-05 | 2001-12-26 | 結晶材料からなる光学エレメント用の保持装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6667839B2 (ja) |
EP (1) | EP1223231B1 (ja) |
JP (1) | JP2002317266A (ja) |
DE (2) | DE10100328A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10216114A1 (de) * | 2002-04-12 | 2003-10-23 | Zeiss Carl Smt Ag | Vorrichtung zur deformationsarmen Lagerung eines nicht rotationssymmetrischen optischen Elementes |
EP1534467A1 (de) * | 2002-06-28 | 2005-06-01 | Carl Zeiss AG | Verfahren und vorrichtung zum ausrichten von optischen elementen |
JP2005534998A (ja) * | 2002-08-08 | 2005-11-17 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | イメージングデバイスにおける光学式アセンブリを保持するための装置 |
JP4078161B2 (ja) * | 2002-09-12 | 2008-04-23 | キヤノン株式会社 | 蛍石とその製造方法 |
WO2004086148A1 (de) * | 2003-03-26 | 2004-10-07 | Carl Zeiss Smt Ag | Vorrichtung zur deformationsarmen austauschbaren lagerung eines optischen elements |
DE10344178B4 (de) * | 2003-09-24 | 2006-08-10 | Carl Zeiss Smt Ag | Halte- und Positioniervorrichtung für ein optisches Element |
US7085080B2 (en) * | 2003-12-06 | 2006-08-01 | Carl Zeiss Smt Ag | Low-deformation support device of an optical element |
DE10359576A1 (de) * | 2003-12-18 | 2005-07-28 | Carl Zeiss Smt Ag | Verfahren zur Herstellung einer optischen Einheit |
DE102008000967B4 (de) | 2008-04-03 | 2015-04-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Mikrolithographie |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0215261A3 (de) * | 1985-09-10 | 1989-07-05 | Balzers Aktiengesellschaft | Linsenhalterung, insbesondere Halterung für zu reinigende und nachfolgend zu beschichtende Brillenglaslinsen |
EP0448346B1 (en) * | 1990-03-19 | 1997-07-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Vapor-phase deposition apparatus |
CH679838A5 (en) * | 1990-05-11 | 1992-04-30 | Balzers Hochvakuum | Glass lens mounting ring - supporting lens at edges for coating |
US5106196A (en) * | 1990-08-21 | 1992-04-21 | Brierley Philip R | Single adjustment specular reflection accessory for spectroscopy |
EP0664347A3 (en) * | 1994-01-25 | 1997-05-14 | Applied Materials Inc | Plant for the deposition of a uniform layer of a material on a substrate. |
JPH08136862A (ja) | 1994-11-07 | 1996-05-31 | Canon Inc | 防振機能を有した変倍光学系 |
DE4446179C2 (de) * | 1994-12-23 | 2003-08-21 | Leybold Optics Gmbh | Halterung für scheibenförmige Substrate |
FR2734284B1 (fr) * | 1995-05-19 | 1997-06-13 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de traitement chimique superficiel d'un echantillon plat au moyen d'un gaz actif |
JPH09316648A (ja) * | 1996-05-30 | 1997-12-09 | Nikon Corp | プラズマcvd装置 |
JPH1036971A (ja) * | 1996-07-24 | 1998-02-10 | Nikon Corp | Cvd装置 |
JP3841186B2 (ja) | 1997-01-06 | 2006-11-01 | オリンパス株式会社 | 光学素子成形用型 |
DE19932338C1 (de) * | 1999-07-10 | 2000-12-14 | Karlsruhe Forschzent | Vorrichtung zum Rotieren eines mit keramischen und metallischen Substanzen zu beschichtenden Substrats in einem Prozeßraum |
-
2001
- 2001-01-05 DE DE10100328A patent/DE10100328A1/de not_active Withdrawn
- 2001-12-07 DE DE50101469T patent/DE50101469D1/de not_active Expired - Fee Related
- 2001-12-07 EP EP01129044A patent/EP1223231B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-12-26 JP JP2001393810A patent/JP2002317266A/ja active Pending
- 2001-12-27 US US10/033,670 patent/US6667839B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020108928A1 (en) | 2002-08-15 |
EP1223231B1 (de) | 2004-02-11 |
DE50101469D1 (de) | 2004-03-18 |
DE10100328A1 (de) | 2002-07-11 |
EP1223231A1 (de) | 2002-07-17 |
US6667839B2 (en) | 2003-12-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9274256B2 (en) | Systems for aligning an optical element and method for same | |
NL2006547C2 (en) | Euv mirror module. | |
JP2002317266A (ja) | 結晶材料からなる光学エレメント用の保持装置 | |
JP6483626B2 (ja) | 特にマイクロリソグラフィー投影露光装置内のミラーの熱作動用装置 | |
WO2006062183A1 (ja) | 搬送ロボット及び搬送装置 | |
KR100828671B1 (ko) | 리소그라피 노광 동안 레티클을 냉각하기 위한 방법 및 장치 | |
TW200923594A (en) | Device for controlling temperature of an optical element | |
US8731139B2 (en) | Evaporative thermal management of grazing incidence collectors for EUV lithography | |
JP5710613B2 (ja) | 光学要素のための保持装置 | |
WO2010031526A1 (en) | Optical assembly with a temperature -control device | |
US11194119B2 (en) | Optical assembly having a thermally conductive component | |
WO2015124471A1 (en) | Subassembly of an optical system, in particular in a microlithographic projection exposure apparatus | |
EP3580600A1 (en) | All-reflective solar coronagraph sensor and thermal control subsystem | |
JP5652845B2 (ja) | 宇宙機搭載用光学装置 | |
JP6266620B2 (ja) | 光学素子をコーティングするための保持デバイス及び方法 | |
JP2004029314A (ja) | 光学素子冷却装置、光学素子冷却方法及び露光装置 | |
Ishino et al. | Study of damage structure formation on aluminum film targets by picosecond soft X-ray laser ablation around threshold region | |
US9658542B2 (en) | Optical element | |
JP6376236B2 (ja) | 加熱装置、半導体製造装置 | |
US10338476B2 (en) | Reflective optical element | |
WO2012126803A1 (en) | Array of controllable mirrors | |
US10466472B2 (en) | Optical arrangement for deflecting a laser beam | |
Havey Jr et al. | Precision thermal control trades for telescope systems | |
Serlemitsos et al. | Multilayer option for conical foil x-ray mirrors | |
JPS62260317A (ja) | 半導体ウエハの熱処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041118 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070912 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071016 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20080104 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20080109 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080613 |