JP2002307242A - 放電加工における加工プログラムの処理方法および処理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放電加工機の稼働率を低下させることなく、
信頼性の高い芯ずれ量の測定を行うこと。 【解決手段】 加工プログラム１５ａに含まれる芯ずれ
量測定部分１６に基づいて測定プログラム１８を作成
し、この作成した測定プログラム１８に従ってＣＮＣ３
次元測定機４２に放電加工機４０上において加工電極の
自動測定を実行させる。自動測定を行った加工電極に関
しては、対応する芯ずれ量測定部分１６の機能を動作不
可とする編集を加工プログラム１５ａに施すことで、放
電加工機４０上において加工時間に芯ずれ量の自動測定
を実行しない。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、放電加工機上に
おいて加工電極とその加工機取付部との相対的な芯ずれ
量を自動測定するための芯ずれ量測定部分を含み、かつ
該放電加工機の加工手順を指定する加工プログラムの処
理方法および処理装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】一般に、放電加工機において放電加工を
行う場合には、加工電極とシャンク等の加工機取付部と
の相対的な芯ずれ量および回転ずれ量（以下、回転ずれ
を含めて芯ずれという）を測定し、これら芯ずれ量を補
正して正しい加工位置に加工電極を移動させる制御が必
要がある。

【０００３】この種の従来技術として、例えば特開平５
−２２４７２４号公報では、放電加工機上で芯ずれ量を
自動測定する加工プログラムを出力する放電加工用ＣＡ
Ｄ／ＣＡＭ装置を提案している。図８は、このＣＡＤ／
ＣＡＭ装置の構成を示すブロック図である。図８におい
て、１はキーボード、２はマウス、３はタブレットで、
それぞれ位置情報および文字情報を入力するための入力
装置である。４は入力された位置情報、およびその位置
の加工に使用する電極番号等の文字情報を内部の記憶形
式に変換するための加工定義部である。また、５は基準
球データ等の測定に必要な設定を行う補正諸設定部、６
は加工電極の芯ずれ測定パターンや測定点を指定する芯
ずれ補正定義部、７は加工機回転軸（以下、Ｃ軸とい
う）の補正の測定点を指定するＣ軸補正定義部、８は加
工定義部４で入力された情報を記憶するためのメモリで
構成される加工情報記憶部、９は加工情報に基づいてＮ
Ｃ情報を生成するＮＣデータ生成部、１０は生成された
ＮＣ情報のファイル、１１はＣＲＴ、１２はＮＣ制御装
置、１３は形彫放電加工機である。

【０００４】図９は、芯ずれ量測定動作を示す説明図で
ある。図９において、９４は基準球であり、決まった位
置と径を持つことで測定基準となる。９５は加工電極で
ある。例えば、加工電極９５の芯ずれ量を測定する場合
の軌跡は、図３のａ〜ｊとなる。具体的には、加工電極
９５の軸方向の長さを測定する動作（ａ、ｂ）や、４つ
の面から中心を測定する動作（ｃ〜ｊ）がある。このＣ
ＡＤ／ＣＡＭ装置ではこのような測定パターンと測定点
とを芯ずれ補正定義部６やＣ軸補正定義部７で指示する
ことで、芯ずれ量測定を放電加工機上で行う加工プログ
ラムを作成している。

【０００５】また、特開平４−２０１１２４号公報で
は、電極の芯ずれ量を外部測定機によって測定し、この
測定した芯ずれ量に基づいて加工電極を正しい加工位置
に移動させるようにしている。すなわち、外部測定機に
よって測定した芯ずれ量を加工電極付属のメモリタグ
（記録手段）に記録し、このメモリタグから放電加工機
のメモリ上に芯ずれ量を読み込むことで、放電加工の際
に加工位置を補正している。図１０は、特開平４−２０
１１２４号公報に示された電極芯ずれ量測定装置の概念
図である。図１０において、１４は加工電極、９０は測
定子、１００はメモリタグである。１１１は回転テーブ
ル、１１２はＺ軸駆動機構、１１３はＸ軸駆動機構であ
り、これらの駆動機構によって測定子９０を移動させ、
回転テーブル１１１に固定した加工電極１４に接触させ
て位置を測定する。１１４は芯ずれ量を表示するカウン
タ、１１５はメモリタグ１００に芯ずれ量を書き込むた
めの書き込み手段、１１６は書き込み手段１１５により
メモリタグ１００に芯ずれ量を書き込ませるスイッチで
ある。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、特開平５−
２２４７２４号公報によるＣＡＤ／ＣＡＭ装置が出力す
る加工プログラムによって放電加工を行った場合には、
放電加工機上において加工時間に加工電極の芯ずれ量の
測定が行われることになる。従って、一定時間内で放電
加工機が実際に加工を行う時間の割合（以下、稼働率と
いう）が低下する。これに対して、特開平４−２０１１
２４号公報においては、放電加工機外において加工時間
外に芯ずれ量の測定を行うため、放電加工機の稼働率が
低下する事態を招来することがない。しかしながら、特
開平４−２０１１２４号公報にあっては、放電加工とは
別に外部測定機の操作を行わなければならず、作業が煩
雑となる。また、作業者の操作による測定では、測定点
を間違えたり、測定値にバラ付きが発生する虞れがあ
り、測定値の信頼性を考慮した場合、必ずしも好ましい
ものとはいえない。

【０００７】この発明は上記実情に鑑みてなされたもの
で、放電加工機の稼働率を低下させることなく、信頼性
の高い芯ずれ量の測定を行うことのできる放電加工にお
ける加工プログラムの処理方法および処理方法を提供す
ることを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明にかかる放電加工における加工プログラム
の処理方法は、放電加工機上において加工電極とその加
工機取付部との相対的な芯ずれ量を自動測定するための
芯ずれ量測定部分を含み、かつ該放電加工機の加工手順
を指定する加工プログラムの処理方法であって、前記加
工プログラムに含まれる芯ずれ量測定部分に基づき、外
部測定機に加工電極の自動測定を実行させるための測定
プログラムを作成するステップと、前記作成した測定プ
ログラムに対応する芯ずれ量測定部分の機能を動作不可
とする編集を前記加工プログラムに施すステップと、を
含むことを特徴とする。

【０００９】この発明によれば、加工プログラムに含ま
れる芯ずれ量測定部分に基づいて測定プログラムが作成
され、この測定プログラムに従って外部測定機が放電加
工機上において加工電極の芯ずれ量を自動測定する。

【００１０】つぎの発明にかかる放電加工における加工
プログラムの処理方法は、上記の発明において、前記測
定プログラムを作成するステップが、前記加工プログラ
ムに含まれる芯ずれ量測定部分を解析して測定位置の座
標値を出力するステップと、予め記述した測定プログラ
ムパターンの変数を前記出力された測定位置の座標値に
置き換えるステップと、をさらに含むことを特徴とす
る。

【００１１】この発明によれば、予め記述した測定プロ
グラムパターンの変数を測定位置の座標値に置き換える
ことによって測定プログラムが作成される。

【００１２】つぎの発明にかかる放電加工における加工
プログラムの処理方法は、上記の発明において、前記外
部測定機の測定対象となる加工電極が指定された場合
に、当該指定された加工電極についてのみ測定プログラ
ムを作成することを特徴とする。

【００１３】この発明によれば、外部測定機によって芯
ずれ量を測定する加工電極を選択することができる。

【００１４】つぎの発明にかかる放電加工における加工
プログラムの処理方法は、上記の発明において、予め設
定した複数の位置に固定された加工電極に対してそれぞ
れの測定プログラムを作成するステップと、加工電極の
固定位置を示すデータに基づいて、前記測定プログラム
から複数の加工電極を連続測定するための連続測定プロ
グラムを作成するステップと、を含むことを特徴とす
る。

【００１５】この発明によれば、外部測定機によって複
数の加工電極の連続自動測定が可能となる。

【００１６】つぎの発明にかかる放電加工における加工
プログラムの処理装置は、放電加工機上において加工電
極とその加工機取付部との相対的な芯ずれ量を自動測定
するための芯ずれ量測定部分を含み、かつ該放電加工機
の加工手順を指定する加工プログラムの処理装置であっ
て、前記加工プログラムに含まれる芯ずれ量測定部分に
基づいて外部測定機に加工電極の自動測定を実行させる
ための測定プログラムを作成する測定プログラム作成手
段と、前記作成した測定プログラムに対応する芯ずれ量
測定部分の機能を動作不可とする編集を前記加工プログ
ラムに施す加工プログラム編集手段と、を備えることを
特徴とする。

【００１７】この発明によれば、加工プログラムに含ま
れる芯ずれ量測定部分に基づいて測定プログラムが作成
され、この測定プログラムに従って外部測定機が放電加
工機上において加工電極の芯ずれ量を自動測定する。

【００１８】つぎの発明にかかる放電加工における加工
プログラムの処理装置は、上記の発明において、前記測
定プログラム作成手段が、前記加工プログラムに含まれ
る芯ずれ量測定部分を解析して測定位置の座標値を出力
する芯ずれ量測定部分解析手段と、測定位置の座標を変
数で記述した測定プログラムパターンを記憶する測定プ
ログラムパターン記憶手段と、前記測定プログラムパタ
ーン記憶手段に記憶された測定プログラムパターンの変
数を前記芯ずれ量測定部分解析手段から出力された測定
位置の座標値に置き換える測定プログラム合成手段と、
を備えたことを特徴とする。

【００１９】この発明によれば、予め記述した測定プロ
グラムパターンの変数を測定位置の座標値に置き換える
ことによって測定プログラムが作成される。

【００２０】つぎの発明にかかる放電加工における加工
プログラムの処理装置は、上記の発明において、少なく
とも前記測定プログラム作成手段に対して前記外部測定
機の測定対象となる加工電極を選択指示する測定電極指
定手段を備え、該測定電極指定手段によって測定対象と
なる加工電極が指定された場合に、前記測定プログラム
作成手段が当該指定された加工電極についてのみ測定プ
ログラムを作成することを特徴とする。

【００２１】この発明によれば、外部測定機によって芯
ずれ量を測定する加工電極を選択することができる。

【００２２】つぎの発明にかかる放電加工における加工
プログラムの処理装置は、上記の発明において、複数の
加工電極を予め設定した位置に固定する加工電極固定手
段と、前記加工電極固定手段に固定された複数の加工電
極に対して前記測定プログラム作成手段がそれぞれの測
定プログラムを作成した場合に、該加工電極固定手段に
設定した加工電極の固定位置を示すデータに基づいて、
前記測定プログラムから複数の加工電極を連続測定する
ための連続測定プログラムを作成する連続プログラム作
成手段と、を備えることを特徴とする。

【００２３】この発明によれば、外部測定機によって複
数の加工電極の連続自動測定が可能となる。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、この
発明にかかる放電加工における加工プログラムの処理方
法および処理装置の好適な実施の形態を詳細に説明す
る。

【００２５】実施の形態１．図１は、この発明の実施の
形態１である加工プログラムの処理装置を示したブロッ
ク図である。図１において、１５ａは単数または複数の
加工電極によって放電加工を行うための加工プログラム
である。この加工プログラム１５ａは、単数または複数
の加工電極について芯ずれ量、つまり加工電極とシャン
ク等の加工機取付部との相対的な芯ずれ量および回転ず
れ量を測定するためのプログラム部分である芯ずれ量測
定部分１６を含んだもので、放電加工機４０を制御する
ためのＮＣ制御部４１に与えられるものである。１７は
測定プログラム作成手段である。この測定プログラム作
成手段１７は、上述した加工プログラム１５ａを入力と
し、単数または複数の加工電極と、シャンク等の加工機
取付部との芯ずれ量測定を放電加工機４０以外の外部測
定機、ＣＮＣ３次元測定機４２によって自動測定させる
ための測定プログラム１８を出力する。１９は加工プロ
グラム編集手段である。この加工プログラム編集手段１
９は、加工プログラム１５ａを入力とし、該加工プログ
ラム１５ａ中の芯ずれ量測定部分１６に対して削除する
等の編集を施すことで、放電加工機４０上において加工
時間に芯ずれ量測定を行わないような加工プログラム１
５ｂを出力する。

【００２６】このような構成による加工プログラム１５
ａの処理装置の動作について説明する。例えば加工プロ
グラム１５ａが、ＮＣ言語で書かれたＮＣプログラムで
あるとすると、芯ずれ量測定部分１６は例えば図２に示
すようになる。図２において、２０ａ，２０ｂ，２０ｃ
…はそれぞれ加工電極交換命令である。例えば、加工電
極交換命令２０ａは、電極番号１１番の加工電極を放電
加工機４０の主軸上に呼ぶ命令である。図２にいて加工
電極交換指令２０ａから２０ｂの間が、電極番号１１番
の加工電極についての芯ずれ量測定部分１６である。芯
ずれ量測定部分１６は、複数の加工電極で加工する場合
には加工電極の数だけ存在する。例えば図２のように複
数の加工電極についてまとめて記述された芯ずれ量測定
部分１６を持つ。

【００２７】各加工電極に対する芯ずれ量測定部分１６
には、図９に示したような測定動作を表現する移動命令
や端面位置決め命令、現在位置読み取り命令等が決まっ
たＮＣコードで記述してある。測定プログラム作成手段
１７は、芯ずれ量測定部分１６に基づいて、その動作お
よび測定点に対応する測定プログラム１８を作成する。
芯ずれ量測定部分１６に複数の加工電極の測定が定義さ
れている場合には、個々の加工電極に対応する複数の測
定プログラム１８を作成する。測定プログラム１８とし
ては、例えば上述したＣＮＣ３次元測定機４２が測定動
作を実行できるプログラム書式で出力する。これによ
り、ＣＮＣ３次元測定機４２が測定プログラム１８に従
って所望の測定動作を行い、放電加工機４０上において
加工電極の芯ずれ量を自動測定することが可能になる。

【００２８】ここで、上記ＣＮＣ３次元測定機４２によ
る芯ずれ量の測定は、加工プログラム１５ａの芯ずれ量
測定部分１６に基づいて作成された測定プログラム１８
に従った自動測定である。従って、作業者が別途ＣＮＣ
３次元測定機４２を操作する必要がなく、作業の煩雑化
を招来する虞れがない。しかも、測定点を間違えたり、
測定値にバラ付きが発生するといった事態が発生する虞
れもなく、その信頼性は極めて高いものとなる。

【００２９】ＣＮＣ３次元測定機４２によって測定され
た加工電極の芯ずれ量測定データ４３は、測定データ処
理手段４４によって適宜処理された後、補正量データ４
５としてＮＣ制御部４１に与えられる。

【００３０】一方、測定プログラム作成手段１７によっ
て芯ずれ量測定部分１６から測定プログラム１８を作成
した後の加工プログラム１５ａにおいては、芯ずれ量測
定部分１６が不要となる。そこで、加工プログラム編集
手段１９は、芯ずれ量測定部分１６を持つ加工プログラ
ム１５ａを入力とし、放電加工機４０上において芯ずれ
量測定を行わない加工プログラム１５ｂを作成してこれ
をＮＣ制御部４１に出力する。その方法としては、芯ず
れ量測定部分１６を削除する、あるいは芯ずれ量測定部
分１６をスキップするような命令を挿入する等の編集方
法を採ることができる。

【００３１】加工プログラム編集手段１９から編集後の
加工プログラム１５ｂが与えられたＮＣ制御部４１は、
当該加工プログラム１５ｂおよび測定データ処理手段４
４から与えられた補正量データ４５に基づいて放電加工
機４０の動作を制御する。この結果、放電加工機４０上
においては、加工時間に芯ずれ量の自動測定が行われる
ことがなく、実際に放電加工を行う時間の割合が高まる
ようになるため、放電加工機４０の稼働率を向上させる
ことが可能になる。しかも、上述したように、ＣＮＣ３
次元測定機４２によって測定された加工電極の芯ずれ量
測定データ４３は、きわめて信頼性の高いものである。
従って、加工電極が加工位置に正確に移動するようにな
り、放電加工による加工精度が著しく高まることにな
る。

【００３２】実施の形態２．つぎに、この発明の実施の
形態２について説明する。図３は、この発明の実施の形
態２である加工プログラムの処理装置を示したブロック
図である。図３において、図１と同一の符号を付したも
のは、同一またはこれに相当するものであるため詳細説
明を省略する。

【００３３】図３において、１７ａは芯ずれ量測定部分
解析手段である。この芯ずれ量測定部分解析手段１７ａ
は、加工プログラム１５ａ中の芯ずれ量測定部分１６を
解析して測定位置の座標値を出力する。２２は芯ずれ量
測定部分解析手段１７ａにより出力された測定位置の座
標値である。１７ｂは測定プログラムパターン記憶手段
である。この測定プログラムパターン記憶手段１７ｂ
は、測定位置の座標を変数で記述した測定プログラムパ
ターンを記憶する部分である。１７ｃは測定プログラム
合成手段である。この測定プログラム合成手段１７ｃ
は、測定プログラムパターン記憶手段１７ｂに保存され
ている測定プログラムパターンの変数を、測定位置座標
値２２に置き換えることで測定プログラム１８を出力す
る。上述した芯ずれ量測定部分解析手段１７ａ、測定プ
ログラムパターン記憶手段１７ｂおよび測定プログラム
合成手段１７ｃは、実施の形態１の測定プログラム作成
手段１７に相当する部分である。

【００３４】芯ずれ量の測定においてその測定位置は、
加工電極の形状によって様々である。しかしながら、そ
の動作パターンは、例えば図９に示したような決まった
パターンとなる。従って、その測定動作について、測定
位置の座標だけを変数で記述した測定プログラムパター
ンを予め測定プログラムパターン記憶手段１７ｂに格納
しおき、芯ずれ量測定部分解析手段１７ａが芯ずれ量測
定部分１６から読み取って出力した測定位置座標値２２
によって、測定プログラム合成手段１７ｃにおいて測定
プログラムパターン中の変数を置き換えることによって
も、測定プログラム１８を作成することができる。測定
位置座標値２２は、例えば図４のように、測定プログラ
ムパターンの動作順序に沿うように３次元の座標値を列
記する。芯ずれ量測定部分１６に複数の加工電極の測定
が定義されている場合には、個々に対応する複数の測定
位置座標値２２を出力し、かつ測定プログラム１８も加
工電極の数だけ複数作成する。

【００３５】芯ずれ量測定部分１６における測定動作の
パターンは、一つに限らず複数あることが考えられる。
その場合には、測定プログラムパターン記憶手段１７ｂ
に対応する数の測定パターンを準備しておけばよい。ま
た測定箇所の数がパターンによって異なる場合には、測
定プログラム合成手段１７ｃが測定位置座標値２２から
座標値の個数を把握して適用する測定プログラムパター
ンを選択する、あるいは図５に示すように、芯ずれ量測
定部分解析手段１７ａがパターンによって異なるパター
ン記号２５を測定位置座標値２２に付加し、測定プログ
ラム合成手段１７ｃがそのパターン記号２５に従って測
定プログラムパターンを選択することで、同様の構成で
複数パターンの測定プログラム１８を作成することが可
能になる。

【００３６】測定プログラム１８が作成された以降、Ｃ
ＮＣ３次元測定機４２によって芯ずれ量の測定が実施さ
れる点、加工電極の芯ずれ量測定データ４３が測定デー
タ処理手段４４によって処理され、補正量データ４５と
してＮＣ制御部４１に与えられる点に関しては、実施の
形態１と同様である。また、加工プログラム編集手段１
９によって加工プログラム１５ａの芯ずれ量測定部分１
６に編集が施され、放電加工機４０上において芯ずれ量
測定を行わない加工プログラム１５ｂがＮＣ制御部４１
に出力される点も実施の形態１と同様である。さらに、
ＮＣ制御部４１が加工プログラム編集手段１９から与え
られた編集後の加工プログラム１５ｂおよび測定データ
処理手段４４から与えられた補正量データ４５に基づい
て放電加工機４０の動作を制御する点も実施の形態１と
同様である。

【００３７】上記のような実施の形態２においても、放
電加工機４０上においては、加工時間に芯ずれ量の自動
測定が行われることがなく、実際に放電加工を行う時間
の割合が高まるようになるため、放電加工機４０の稼働
率を向上することができる。しかも、ＣＮＣ３次元測定
機４２によって測定された加工電極の芯ずれ量測定デー
タ４３は、きわめて信頼性の高いものであるため、加工
電極が加工位置に正確に移動するようになり、放電加工
による加工精度が著しく高まることになる。さらに、予
め記述した測定プログラムパターンの変数を測定位置座
標値２２に置き換えることによって測定プログラム１８
を作成するようにしているため、測定プログラム１８の
動作部分を逐一出力する必要がなくなるなど、その作成
効率を高めることができる。また、測定位置の座標値が
間違っていた場合にもその修正作業をきわめて容易に行
うことが可能になる。

【００３８】実施の形態３．つぎに、この発明の実施の
形態３について説明する。図６は、この発明の実施の形
態３である加工プログラムの処理装置を示したブロック
図である。図６において、図１および図３と同一の符号
を付したものは、同一またはこれに相当するものである
ため詳細説明を省略する。

【００３９】図６において、２６は測定電極指定手段で
ある。この測定電極指定手段２６は、芯ずれ量測定部分
１６中で測定するよう定義されている加工電極のうち、
ＣＮＣ３次元測定機４２で測定する加工電極を指定する
ものである。指定方法としては、例えば図２に示したよ
うな加工プログラム１５ａであれば、Ｔ１１等の加工電
極番号によって指示する。このとき、芯ずれ量測定部分
解析手段１７ａは、芯ずれ量測定部分１６から、測定電
極指定手段２６により指定された加工電極番号について
定義されている部分を検索し、その部分のみを解析して
測定位置座標値２２を出力する。測定位置座標値２２が
出力されると、測定プログラム合成手段１７ｃにおい
て、予め測定プログラムパターン記憶手段１７ｂに格納
した測定プログラムパターン中の変数が当該測定位置座
標値２２に置き換えられ、測定プログラム１８が作成さ
れる。

【００４０】測定プログラム１８が作成された以降、Ｃ
ＮＣ３次元測定機４２によって芯ずれ量の測定が実施さ
れる点、加工電極の芯ずれ量測定データ４３が測定デー
タ処理手段４４によって処理され、補正量データ４５と
してＮＣ制御部４１に与えられる点に関しては、実施の
形態１と同様である。

【００４１】一方、測定プログラム作成手段１７によっ
て芯ずれ量測定部分１６から測定プログラム１８を作成
した後の加工プログラム１５ａは、加工プログラム編集
手段１９によって編集が施される。この場合、加工プロ
グラム編集手段１９は、加工プログラム１５ａの芯ずれ
量測定部分１６から測定電極指定手段２６によって指定
された加工電極番号について定義されている部分を検索
し、当該加工電極番号に対応する加工電極の芯ずれ測定
を放電加工機４０上で行わない加工プログラム１５ｂを
出力する。その方法は、上述した場合と同様に、芯ずれ
量測定部分１６の該当個所を削除する、あるいは芯ずれ
量測定部分１６の該当個所をスキップするような命令を
挿入する等の編集方法を採ることができる。

【００４２】加工プログラム編集手段１９から出力され
た加工プログラム１５ｂがＮＣ制御部４１に与えられる
と、当該ＮＣ制御部４１が加工プログラム１５ｂおよび
測定データ処理手段４４から与えられた補正量データ４
５に基づいて放電加工機４０の動作を制御する。

【００４３】この場合、実施の形態３においては、測定
電極指定手段２６で指定されなかった加工電極に対して
のみ放電加工機４０上において加工時間に芯ずれ量の自
動測定が実施され、測定電極指定手段２６によって指定
された加工電極に対する芯ずれ量の自動測定は加工時間
に行われることがない。従って、実際に放電加工を行う
時間の割合を高めることができるようになり、放電加工
機４０の稼働率を向上させることが可能になる。

【００４４】また、放電加工機４０上において行われる
加工電極の芯ずれ量測定は、加工プログラム１５ａの芯
ずれ量測定部分１６に基づいた自動測定である。従っ
て、作業者が別途操作する必要がなく、作業の煩雑化を
招来する虞れがない。しかも、測定点を間違えたり、測
定値にバラ付きが発生するといった事態が発生する虞れ
もなく、ＣＮＣ３次元測定機４２によって測定された加
工電極の芯ずれ量測定データ４３と同様に極めて信頼性
の高いものである。これらの結果、加工電極が加工位置
に正確に移動するようになり、放電加工による加工精度
が著しく高まることになる。さらに、ＣＮＣ３次元測定
機４２によって芯ずれ量を測定する加工電極と、放電加
工機４０上において芯ずれ量を測定する加工電極とを選
択することができるため、汎用性に優れ、例えば工程の
都合や放電加工の要求精度に応じて最適な方法を採るこ
とが可能になる。

【００４５】実施の形態４．つぎに、この発明の実施の
形態４について説明する。図７は、この発明の実施の形
態４である加工プログラムの処理装置を示したブロック
図である。図７において、図１、図３および図６と同一
の符号を付したものは、同一またはこれに相当するもの
であるため詳細説明を省略する。

【００４６】図７において、２７は連続測定プログラム
作成手段、２８は連続測定プログラム、３０は加工電極
固定治具である。加工電極固定治具３０は、ＣＮＣ３次
元測定機４２の測定テーブルに設置して使用する。加工
電極固定治具３０は、シャンク等、加工電極の取付部分
を固定する固定箇所を複数備えており、複数の加工電極
を固定可能となっている。加工電極の取付部分を固定す
る固定箇所は、予め設定した既知の位置である。連続測
定プログラム作成手段２７は、加工電極固定治具３０に
おいて加工電極を固定する位置のデータに基づき、測定
プログラム合成手段１７ｃから出力された複数の測定プ
ログラム１８を一つの連続測定プログラム２８にまとめ
て出力する部分である。この場合、連続測定プログラム
作成手段２７は、各測定プログラム１８の測定動作に変
更を加え、複数の加工電極に対して連続した測定動作が
可能となるような連続測定プログラム２８を出力する。
例えば、外部測定機が上述したＣＮＣ３次元測定機４２
のように、測定座標系を複数持つことができるものであ
れば、加工電極固定治具３０の決まった位置を決まった
測定座標系で定義しておくことで、連続測定プログラム
作成手段２７は、複数の測定プログラム１８がそれぞれ
どの測定座標系において動作するかを指定する命令を順
に付加しながら繋ぐことで、一つの連続測定プログラム
２８を作成することができる。この場合、どの測定プロ
グラム１８が加工電極固定治具３０のどの固定位置で動
作するか、あるいは測定プログラム１８をどの順序で実
行するか等の指示を、オペレータが指定できるように連
続測定プログラム作成手段２７を構成することが好まし
い。

【００４７】この実施の形態４によれば、加工電極固定
治具３０に固定した複数の加工電極に対してＣＮＣ３次
元測定機４２が連続自動測定できるようになるため、測
定１回毎に測定対象となる加工電極を交換する作業が不
要となり、作業効率を著しく向上させることが可能とな
る。

【００４８】連続測定プログラム２８が作成された以
降、ＣＮＣ３次元測定機４２によって芯ずれ量の測定が
実施される点、加工電極の芯ずれ量測定データ４３が測
定データ処理手段４４によって処理され、補正量データ
４５としてＮＣ制御部４１に与えられる点に関しては、
実施の形態１と同様である。また、加工プログラム編集
手段１９によって加工プログラム１５ａの芯ずれ量測定
部分１６に編集が施され、測定電極指定手段２６によっ
て指定された加工電極番号に対応する加工電極の芯ずれ
測定を放電加工機４０上で行わない加工プログラム１５
ｂがＮＣ制御部４１に出力される点は実施の形態３と同
様である。さらに、ＮＣ制御部４１が加工プログラム編
集手段１９から与えられた編集後の加工プログラム１５
ｂおよび測定データ処理手段４４から与えられた補正量
データ４５に基づいて放電加工機４０の動作を制御する
点も実施の形態１と同様である。

【００４９】この実施の形態４においても、測定電極指
定手段２６で指定されなかった加工電極に対してのみ放
電加工機４０上において加工時間に芯ずれ量の自動測定
が実施され、測定電極指定手段２６によって指定された
加工電極に対する芯ずれ量の自動測定は加工時間に行わ
れることがない。従って、実際に放電加工を行う時間の
割合を高めることができるようになり、放電加工機４０
の稼働率を向上させることが可能になる。しかも、ＣＮ
Ｃ３次元測定機４２によって測定された加工電極の芯ず
れ量測定データ４３、並びに放電加工機４０上において
測定された加工電極の芯ずれ量測定データは、いずれも
きわめて信頼性の高いものであるため、加工電極が加工
位置に正確に移動するようになり、放電加工による加工
精度が著しく高まることになる。さらに、ＣＮＣ３次元
測定機４２によって芯ずれ量を測定する加工電極と、放
電加工機４０上において芯ずれ量を測定する加工電極と
を選択することができるため、汎用性に優れ、例えば工
程の都合や放電加工の要求精度に応じて最適な方法を採
ることが可能になる。

【００５０】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、加工プログラムに含まれる芯ずれ量測定部分に基づ
いて測定プログラムが作成され、この測定プログラムに
従って外部測定機が放電加工機上において加工電極の芯
ずれ量を自動測定するため、信頼性の高い芯ずれ量の測
定を行うことができる。しかも、外部測定機が自動測定
を行った加工電極に関しては、対応する芯ずれ量測定部
分の機能を動作不可とする編集を加工プログラムに施す
ため、放電加工機上において加工時間に芯ずれ量を測定
することがなく、放電加工機の稼働率が低下する事態を
防止できる。

【００５１】つぎの発明によれば、予め記述した測定プ
ログラムパターンの変数を測定位置の座標値に置き換え
ることによって測定プログラムが作成されるため、その
作成効率を高めることができる。また、測定位置の座標
値が間違っていた場合にもその修正作業をきわめて容易
に行うことが可能になる。

【００５２】つぎの発明によれば、外部測定機によって
芯ずれ量を測定する加工電極を選択することができるた
め、汎用性が高いものとなり、例えば工程の都合や放電
加工の要求精度に応じて最適な方法を採ることが可能に
なる。

【００５３】つぎの発明によれば、外部測定機によって
複数の加工電極の連続自動測定が可能となるため、測定
１回毎に測定対象となる加工電極を交換する作業が不要
となり、作業効率を著しく向上させることが可能とな
る。

【００５４】つぎの発明によれば、加工プログラムに含
まれる芯ずれ量測定部分に基づいて測定プログラムが作
成され、この測定プログラムに従って外部測定機が放電
加工機上において加工電極の芯ずれ量を自動測定するた
め、信頼性の高い芯ずれ量の測定を行うことができる。
しかも、外部測定機が自動測定を行った加工電極に関し
ては、対応する芯ずれ量測定部分の機能を動作不可とす
る編集を加工プログラムに施すため、放電加工機上にお
いて加工時間に芯ずれ量を測定することがなく、放電加
工機の稼働率が低下する事態を防止できる。

【００５５】つぎの発明によれば、予め記述した測定プ
ログラムパターンの変数を測定位置の座標値に置き換え
ることによって測定プログラムが作成されるため、その
作成効率を高めることができる。また、測定位置の座標
値が間違っていた場合にもその修正作業をきわめて容易
に行うことが可能になる。

【００５６】つぎの発明によれば、外部測定機によって
芯ずれ量を測定する加工電極を選択することができるた
め、汎用性が高いものとなり、例えば工程の都合や放電
加工の要求精度に応じて最適な方法を採ることが可能に
なる。

【００５７】つぎの発明によれば、外部測定機によって
複数の加工電極の連続自動測定が可能となるため、測定
１回毎に測定対象となる加工電極を交換する作業が不要
となり、作業効率を著しく向上させることが可能とな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】 この発明の実施の形態１である加工プログラ
ムの処理装置を示したブロック図である。

【図２】 加工プログラム中の芯ずれ量測定部分を例示
する概念図である。

【図３】 この発明の実施の形態２である加工プログラ
ムの処理装置を示したブロック図である。

【図４】 測定位置座標値の例を示す概念図である。

【図５】 測定位置座標値の例を示す概念図である。

【図６】 この発明の実施の形態３である加工プログラ
ムの処理装置を示したブロック図である。

【図７】 この発明の実施の形態４である加工プログラ
ムの処理装置を示したブロック図である。

【図８】 従来の放電加工機用ＣＡＤ／ＣＡＭ装置を示
す図である。

【図９】 放電加工機上において加工電極の芯ずれ量を
測定する動作を示す図である。

【図１０】 従来の芯ずれ量を測定する測定機を示す図
である。

【符号の説明】

１５ａ 加工プログラム、１５ｂ 加工プログラム、１
６ 芯ずれ量測定部分、１７ 測定プログラム作成手
段、１７ａ 芯ずれ量測定部分解析手段、１７ｂ測定プ
ログラムパターン記憶手段、１７ｃ 測定プログラム合
成手段、１８測定プログラム、１９ 加工プログラム編
集手段、２０ａ，２０ｂ、２０ｃ 加工電極交換指令、
２２ 測定位置座標値、２５ パターン記号、２６ 測
定電極指定手段、２７ 連続測定プログラム作成手段、
２８ 連続測定プログラム、３０ 加工電極固定治具、
４０ 放電加工機、４１ ＮＣ制御部、４２ ＣＮＣ３
次元測定機、４３ 芯ずれ量測定データ、４４ 測定デ
ータ処理手段、４５ 補正量データ。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 前田 明宏 東京都千代田区大手町二丁目６番２号 三 菱電機エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 杉山 和永 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 Ｆターム(参考） 3C059 AA01 AB01 CF05

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 放電加工機上において加工電極とその加
   工機取付部との相対的な芯ずれ量を自動測定するための
   芯ずれ量測定部分を含み、かつ該放電加工機の加工手順
   を指定する加工プログラムの処理方法であって、 前記加工プログラムに含まれる芯ずれ量測定部分に基づ
   き、外部測定機に加工電極の自動測定を実行させるため
   の測定プログラムを作成するステップと、 前記作成した測定プログラムに対応する芯ずれ量測定部
   分の機能を動作不可とする編集を前記加工プログラムに
   施すステップと、 を含むことを特徴とする放電加工における加工プログラ
   ムの処理方法。
2. 【請求項２】 前記測定プログラムを作成するステップ
   は、 前記加工プログラムに含まれる芯ずれ量測定部分を解析
   して測定位置の座標値を出力するステップと、 予め記述した測定プログラムパターンの変数を前記出力
   された測定位置の座標値に置き換えるステップと、 をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の放電加
   工における加工プログラムの処理方法。
3. 【請求項３】 前記外部測定機の測定対象となる加工電
   極が指定された場合に、当該指定された加工電極につい
   てのみ測定プログラムを作成することを特徴とする請求
   項１または２に記載の放電加工における加工プログラム
   の処理方法。
4. 【請求項４】 予め設定した複数の位置に固定された加
   工電極に対してそれぞれの測定プログラムを作成するス
   テップと、 加工電極の固定位置を示すデータに基づいて、前記測定
   プログラムから複数の加工電極を連続測定するための連
   続測定プログラムを作成するステップと、 を含むことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに
   記載の放電加工における加工プログラムの処理方法。
5. 【請求項５】 放電加工機上において加工電極とその加
   工機取付部との相対的な芯ずれ量を自動測定するための
   芯ずれ量測定部分を含み、かつ該放電加工機の加工手順
   を指定する加工プログラムの処理装置であって、 前記加工プログラムに含まれる芯ずれ量測定部分に基づ
   いて外部測定機に加工電極の自動測定を実行させるため
   の測定プログラムを作成する測定プログラム作成手段
   と、 前記作成した測定プログラムに対応する芯ずれ量測定部
   分の機能を動作不可とする編集を前記加工プログラムに
   施す加工プログラム編集手段と、 を備えることを特徴とする放電加工における加工プログ
   ラムの処理装置。
6. 【請求項６】 前記測定プログラム作成手段は、 前記加工プログラムに含まれる芯ずれ量測定部分を解析
   して測定位置の座標値を出力する芯ずれ量測定部分解析
   手段と、 測定位置の座標を変数で記述した測定プログラムパター
   ンを記憶する測定プログラムパターン記憶手段と、 前記測定プログラムパターン記憶手段に記憶された測定
   プログラムパターンの変数を前記芯ずれ量測定部分解析
   手段から出力された測定位置の座標値に置き換える測定
   プログラム合成手段と、 を備えたことを特徴とする請求項５に記載の放電加工に
   おける加工プログラムの処理装置。
7. 【請求項７】 少なくとも前記測定プログラム作成手段
   に対して前記外部測定機の測定対象となる加工電極を選
   択指示する測定電極指定手段を備え、該測定電極指定手
   段によって測定対象となる加工電極が指定された場合
   に、前記測定プログラム作成手段が当該指定された加工
   電極についてのみ測定プログラムを作成することを特徴
   とする請求項５または６に記載の放電加工における加工
   プログラムの処理装置。
8. 【請求項８】 複数の加工電極を予め設定した位置に固
   定する加工電極固定手段と、 前記加工電極固定手段に固定された複数の加工電極に対
   して前記測定プログラム作成手段がそれぞれの測定プロ
   グラムを作成した場合に、該加工電極固定手段に設定し
   た加工電極の固定位置を示すデータに基づいて、前記測
   定プログラムから複数の加工電極を連続測定するための
   連続測定プログラムを作成する連続プログラム作成手段
   と、 を備えることを特徴とする請求項５〜７のいずれか一つ
   に記載の放電加工における加工プログラムの処理装置。