JP2002299690A - 光半導体装置 - Google Patents

光半導体装置

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JP2002299690A
JP2002299690A JP2001100930A JP2001100930A JP2002299690A JP 2002299690 A JP2002299690 A JP 2002299690A JP 2001100930 A JP2001100930 A JP 2001100930A JP 2001100930 A JP2001100930 A JP 2001100930A JP 2002299690 A JP2002299690 A JP 2002299690A
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light emitting
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light
emitting layer
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JP2001100930A
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English (en)
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Asako Ikeda
田 麻 子 池
Nariyuki Sakura
倉 成 之 佐
Kazuhiro Shimada
田 和 宏 島
Kouichi Genei
永 康 一 玄
Masayuki Sugizaki
崎 雅 之 杉
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Toshiba Corp
Toshiba Development and Engineering Corp
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Toshiba Corp
Toshiba Electronic Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造コストの低減、製造時間の短縮、及び発
光効率の低下防止が可能な光半導体装置を提供する。 【解決手段】 発光層12、13を有する発光素子の基
板13側において、光が通過する部分にエッチングによ
り凹部14が形成されている。半導体基板13の表面上
にコンタクト層、上部電極15が形成され、この表面上
にレンズ21が形成されたレンズ部20が接着剤等によ
って接合される。従来のように基板にエッチングにより
レンズを形成する替わりに、予め形成したレンズ部20
を接合することで、製造コスト及び製造時間が縮小され
る。また半導体基板13の光の通過部分に凹部14が形
成されているため、外囲器に実装した場合に発光層1
1、12に応力が印加されず、発光効率の低下が防止さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光半導体装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】近年では、光ファイバを用いた通信装置
において、光半導体装置、特にLED(Light Emitting
Diode)が幅広く用いられている。LEDを光通信に用
いる場合には、LEDにおける発光層から出射された光
が発散せずに可能な限り直進するよう集光する必要があ
る。そこで、LEDの発光面側に何等かのレンズ機能を
持たせていた。
【0003】例えば、従来の光半導体装置には、図8に
示される構成を備えたものがあった。GaAs等から成
る半導体基板103の表面上に、GaAlAs等から成
る発光層101、102が形成されており、その上部に
電流拡散層等を含む半導体層100がエピタキシャル成
長等により形成されている。そして、基板103側を発
光面として、基板103の表面上にレンズ104を形成
する。
【0004】このレンズ104の形成は、点線で示され
た半導体基板103の表面に矢印Fで示された方向にマ
スク技術を用いてエッチングを行っていくことで、所望
の形状を得ていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、エッチングに
より基板表面にレンズを形成する場合、製造コスト並び
に製造時間の増大を招いていた。また、このような光半
導体装置を図示されていない外囲器に実装すると、レン
ズ104の存在が原因となり発光層101、102に向
かって矢印Eで示された方向に応力が発生し、LEDの
発光効率が低下することがあった。
【0006】本発明は上記事情に鑑み、製造コストの低
減、製造時間の短縮、及び発光効率の低下防止が可能な
光半導体装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の光半導体装置
は、半導体基板の一方に形成された発光層と、前記発光
層の表面上に形成された電流拡散層を含む半導体層とを
有し、前記半導体基板の他方の表面部分に凹部が形成さ
れた光半導体素子と、前記半導体基板の他方の表面上に
接合され、前記発光層から出射された光を集光するレン
ズを含むレンズ部とを備えることを特徴としている。
【0008】また本発明は、半導体基板の一方に形成さ
れた発光層と、前記発光層に形成された電流拡散層を含
む半導体層とを有する光半導体素子と、コの字型断面形
状を有し、一平面にレンズが設けられ、前記半導体基板
における他方の表面上、又は前記半導体層の一方の表面
上に跨るように載置され、前記発光層から出射された出
力された光を前記レンズにおいて集光するレンズ部とを
備えることを特徴とする。
【0009】あるいは本発明は、半導体基板の一方に形
成された発光層と、前記発光層の表面上に形成され、電
流拡散層及びコンタクト層を含む半導体層とを有し、前
記コンタクト層の表面における少なくとも一部分におい
て、一方向に沿って鋸歯状に複数の歯が形成された光集
光部が設けられており、前記発光層から出力された光が
前記光集光部を通過して拡散が抑制されることを特徴と
する。
【0010】さらに本発明は、半導体基板の一方の表面
上に形成された発光層と、前記発光層の表面上に形成さ
れ、電流拡散層及び多重井戸構造層とを含む半導体層と
を有し、前記多重井戸構造層において、同心円状に第1
の領域と、この第1の領域より光屈折率が低い第2の領
域とが形成されており、前記発光層から出射された光が
この多重井戸構造層を通過して拡散が抑制されることを
特徴とする。
【0011】ここで、複数の前記第1の領域と複数の前
記第2の領域とが、交互に同心円状に配置されているこ
とが望ましい。
【0012】また、前記第2の領域にはアルミニウムイ
オンが注入されており、第1の領域よりキャリア濃度が
高いように構成されてもよい。
【0013】前記半導体層には、前記発光層に電流を注
入する開口部を有する電流ブロック層が含まれており、
前記開口部は、第1の領域と前記第2の領域とで形成さ
れる同心円の中心に対応して配置されていてもよい。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【0015】(1)第1の実施の形態 本発明の第1の実施の形態による光半導体装置は、図1
に示される構成を備えている。
【0016】図1(a)に示されるように、GaAs等
から成る半導体基板13の表面上に発光層12、13が
形成され、その表面上に電流拡散層等を含む半導体層1
0がエピタキシャル成長等によって形成されている。半
導体基板13を発光面とし、発光層12、13から出射
された光が通過する部分にエッチングにより凹部14が
形成されている。
【0017】半導体基板13の表面上には、図示されて
いないコンタクト層を介して、上部電極15が形成され
ており、この上部電極15において光が通過する部分に
は開口部16が形成されている。
【0018】図1(b)に示されるように、上部電極1
5の表面上に、レンズ21が形成されたレンズ部20が
接着剤等によって接合される。レンズ部20は、例えば
エポキシ樹脂等で一体成形されている。
【0019】発光層11、12から出射された光が、半
導体基板13の凹部14、上部電極15の開口部16を
通過して、レンズ部20におけるレンズ21を通過する
ことにより、光が拡散せずに集光される。
【0020】本実施の形態によれば、半導体基板13に
エッチングによりレンズを形成する替わりに、樹脂等に
より予め形成したレンズ部20を接合するため、製造コ
スト及び製造時間を縮小することができる。
【0021】また、発光面側の半導体基板13における
光が通過する部分にエッチングにより凹部14が形成さ
れているため、図示されていない外囲器に実装した場合
にも発光層11、12に応力が印加されず、発光効率の
低下が防止される。
【0022】ここで、上部電極15は半導体基板13の
表面とレンズ部20との間に設けられているが、半導体
基板13の表面上におけるレンズ部20を接合する領域
以外に形成してもよい。
【0023】(2)第2の実施の形態 本発明の第2の実施の形態による光半導体装置は、図2
に示される構成を備えている。
【0024】図2(a)に示されるように、GaAs等
から成る半導体基板30の表面上に発光層32、31が
形成され、その表面上に電流拡散層等を含む半導体層3
3がエピタキシャル成長等によって形成されている。半
導体基板33を発光面とし、半導体基板30の表面上に
図示されていないコンタクト層が形成されており、この
表面上に、発光層32から出射された光が通過する部分
に開口部42が形成された上部電極34が形成されてい
る。
【0025】図2(a)及び図2(b)に示されるよう
に、上部電極15の表面上に、一平面にレンズ41が形
成されたコの字型断面形状を有するレンズ部40が、上
部電極34の表面上を跨ぐように嵌合される。レンズ部
40は、エポキシ樹脂等により一体に形成されている。
【0026】発光層31、32から出射された光が、上
部電極34の開口部42を通過し、レンズ部40におけ
るレンズ41を通過することにより、集光される。
【0027】本実施の形態によれば、上記第1の実施の
形態と同様に、半導体基板30にエッチングによりレン
ズを形成する替わりに、樹脂等により予め形成したレン
ズ部40を用いることにより、製造コスト及び製造時間
の縮小が可能である。
【0028】また、レンズ部40がコの字型断面形状を
有し、光半導体素子に嵌合することができるため、上記
第1の実施の形態におけるレンズ部20を素子に接合す
る作業及び接着材等が不要であり、より製造コストの低
減が可能である。
【0029】ここで、上部電極34が半導体基板33の
表面とレンズ部40との間に設けられているが、半導体
基板33の表面上におけるレンズ部40を嵌合する領域
以外にのみ形成することも可能である。
【0030】また、本実施の形態では、半導体基板33
を発光面側とし、この表面上にレンズ部34が跨ぐよう
に嵌合されている。しかし、半導体発光素子の発光面を
入れ替えて、電流拡散層等を含む半導体層30を発光面
側とし、この表面上にレンズ部23を嵌合してもよい。
【0031】(3)第3の実施の形態 本発明の第3の実施の形態による光半導体装置の断面構
成を図3に、平面構成を図4にそれぞれ示す。
【0032】GaAs等から成る半導体基板50の一方
に発光層51、52が形成され、その表面上に電流拡散
層等を含む半導体層53がエピタキシャル成長等によっ
て形成されている。本実施の形態では半導体層53を発
光面側とし、半導体層53の表面上に透光性を有するコ
ンタクト層58が形成され、コンタクト層58の表面上
に図示されていない上部電極が形成される。
【0033】そして、コンタクト層58において、発光
層51、52から出射された光が通過する部分に、エッ
チング等により鋸歯状の歯55が形成された光集光部5
4が形成されている。
【0034】この光集光部54は、図4に示されたよう
な楕円形であってもよく、あるいは矩形であってもよ
い。そして光集光部54には、短手方向に沿って鋸歯状
の歯55が形成されている。これは、短手方向の光は拡
散が少なく、長手方向の光の拡散を抑えて集光する必要
があることに基づいており、そこで短手方向に沿って歯
55が形成されている。
【0035】このような光集光部54が形成されている
ことにより、図3に示されたような作用が生じる。ここ
で、集光部54がない場合の出射光を57、集光部54
が形成されている場合の出射光を56とする。発光層5
1、52から出射された光が、集光部54が存在しない
場合には矢印Aで示された方向に出射光57が拡散する
が、光集光部54における鋸歯状の各々の歯55の存在
により矢印Bで示されたように出射光56の拡散が抑制
される。
【0036】本実施の形態によれば、半導体基板にエッ
チングによりレンズを形成する替わりに、鋸歯状の歯5
5を形成して光集光部54を形成することにより、製造
コスト及び製造時間が縮小される。
【0037】また、発光面側に別部品としてレンズ等が
接合されないので、図示されていない外囲器に実装した
場合にも発光層51、52に応力が印加されず、発光効
率の低下が防止される。
【0038】(4)第4の実施の形態 本発明の第4の実施の形態による光半導体装置において
アルミニウムイオンを注入する工程を示した装置の断面
を図5に、注入して得られた装置の断面構成を図6に、
平面構成を図7にそれぞれ示す。
【0039】GaAs等から成る半導体基板60の表面
上に発光層61、62が形成され、その表面上に電流ブ
ロック層63と、電流拡散層等を含む半導体層64と、
さらにその表面上にMQW(Multi Quantum Well、多重
量子井戸構造)層65が形成されている。
【0040】本実施の形態ではMQW層65を発光面側
とし、MQW層65の表面上に図示されていない上部電
極が形成される。
【0041】そして図5に示されたように、MQW層に
おいて同心円状にマスク68で覆い、覆われていない領
域にアルミニウムイオンAl+が注入される。これによ
り、図7に示されたように、アルミニウムイオンが注入
されてキャリア濃度が高く屈折率が低くなった領域66
と、注入されずキャリア濃度が低く屈折率が相対的に領
域66より高い領域67とが同心円状に交互に配置され
る。
【0042】MQW層65において、屈折率が異なる領
域66、67が同心円状に交互に配置されたことによ
り、次のような作用が生じる。図6において、発光層6
1、62から出射された光が、交互に配置された領域6
6、67が存在しない場合には矢印Cで示された方向に
出射光が拡散する。しかし、領域66、67が存在する
ことにより、矢印Dで示されたように、屈折率の高い領
域67から屈折率の低い領域66へ移行する境界面にお
いて、光の少なくとも一部が全反射し、集光する。これ
により、出射光の拡散が抑制される。また、電流ブロッ
ク層63を形成して発光層61、62からの出射光を集
中させた状態でMQW層65へ到達させることにより、
より光の拡散を防止する効果が得られる。
【0043】本実施の形態によれば、半導体基板等にエ
ッチングによりレンズを形成する替わりに、MQW層6
5に同心円状に屈折率の異なる領域66、67を交互に
形成して光を集光することにより、製造コスト及び製造
時間の縮小が可能である。
【0044】また、発光面側に別部品としてレンズ等が
接合されないので、図示されていない外囲器に実装した
場合にも発光層61、62に応力が印加されず、発光効
率の低下が防止される。
【0045】上述した実施の形態は一例であり、本発明
を限定するものではない。例えば、上記実施の形態で示
された材料名は一例であって、他の材料を任意に用いる
ことができる。また、発光層や電流ブロック層、電流拡
散層等の構成についても、自由に設定することができ
る。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光半導体
装置は、半導体基板にエッチングによりレンズを形成す
る替わりに、予め形成したレンズ部を接合することによ
り、製造コスト及び製造時間を縮小することができ、ま
たレンズが存在すると発光層に応力が印加されるおそれ
があるが、半導体基板の一表面部分に凹部が形成されて
いることから応力の印加が回避され、発光効率の低下が
防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による光半導体装置
の構成を示した縦断面図。
【図2】本発明の第2の実施の形態による光半導体装置
の構成を示した縦断面図。
【図3】本発明の第3の実施の形態による光半導体装置
の構成を示した縦断面図。
【図4】同第3の実施の形態による光半導体装置の上面
を示した平面図。
【図5】本発明の第4の実施の形態による光半導体装置
において、MQW層にアルミニウムイオンを注入する工
程を示した縦断面図。
【図6】同第4の実施の形態による光半導体装置の構成
を示した縦断面図。
【図7】同第4の実施の形態による光半導体装置の上面
を示した平面図。
【図8】従来の光半導体装置の構成を示した平面図。
【符号の説明】
10、30、53、64 半導体層 11、12、31、32、51、52、61、62 発
光層 13、33、50、60 半導体基板 14 凹部 15、34 上部電極 16、42 開口部 20、40 レンズ部 21、41 レンズ 54 光集光部 55 歯 56、57 出射光 58 コンタクト層 63 電流ブロック層 65 MQW層 66、67 領域 68 マスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐 倉 成 之 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝マイクロエレクトロニクスセン ター内 (72)発明者 島 田 和 宏 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝マイクロエレクトロニクスセン ター内 (72)発明者 玄 永 康 一 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1番地 株 式会社東芝マイクロエレクトロニクスセン ター内 (72)発明者 杉 崎 雅 之 神奈川県横浜市磯子区新杉田町8番地 東 芝電子エンジニアリング株式会社内 Fターム(参考) 5F041 AA03 AA06 CA12 CA35 CB04 CB15 EE17

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体基板の一方に形成された発光層と、 前記発光層に形成された電流拡散層を含む半導体層とを
    有し、前記半導体基板の他方の表面部分に凹部が形成さ
    れた光半導体素子と、 前記半導体基板の他方の表面上に接合され、前記発光層
    から出射された光を集光するレンズを含むレンズ部と、 を備えることを特徴とする光半導体装置。
  2. 【請求項2】半導体基板の一方の表面上に形成された発
    光層と、 前記発光層の表面上に形成された電流拡散層を含む半導
    体層とを有する光半導体素子と、 コの字型断面形状を有し、一平面にレンズが設けられ、
    前記半導体基板における他方の表面上、又は前記半導体
    層の一方の表面上に跨るように載置され、前記発光層か
    ら出力された光を前記レンズにおいて集光するレンズ部
    と、 を備えることを特徴とする光半導体装置。
  3. 【請求項3】半導体基板の一方に形成された発光層と、 前記発光層に形成され、電流拡散層及びコンタクト層を
    含む半導体層とを有し、 前記コンタクト層の表面における少なくとも一部分にお
    いて、一方向に沿って鋸歯状に複数の歯が形成された光
    集光部が設けられており、前記発光層から出射された光
    が前記光集光部を通過して拡散が抑制されることを特徴
    とする光半導体装置。
  4. 【請求項4】半導体基板の一方に形成された発光層と、 前記発光層に形成され、電流拡散層及び多重井戸構造層
    とを含む半導体層とを有し、 前記多重井戸構造層において、同心円状に第1の領域
    と、この第1の領域より光屈折率が低い第2の領域とが
    形成されており、前記発光層から出射された光がこの多
    重井戸構造層を通過して拡散が抑制されることを特徴と
    する光半導体装置。
  5. 【請求項5】複数の前記第1の領域と複数の前記第2の
    領域とが、交互に同心円状に配置されていることを特徴
    とする請求項4記載の光半導体装置。
  6. 【請求項6】前記第2の領域にはアルミニウムイオンが
    注入されており、第1の領域よりキャリア濃度が高いこ
    とを特徴とする請求項4又は5記載の光半導体装置。
  7. 【請求項7】前記半導体層には、前記発光層に電流を注
    入する開口部を有する電流ブロック層が含まれており、 前記開口部は、第1の領域と前記第2の領域とで形成さ
    れる同心円の中心に対応して配置されていることを特徴
    とする請求項4乃至6のいずれかに記載の光半導体装
    置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005166733A (ja) * 2003-11-28 2005-06-23 Matsushita Electric Works Ltd 発光装置
JP2009038287A (ja) * 2007-08-03 2009-02-19 Seiko Epson Corp 光源装置およびその製造方法、プロジェクタ、モニター装置

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