JP2002296185A - 蛍光検出装置 - Google Patents
蛍光検出装置Info
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- JP2002296185A JP2002296185A JP2001099293A JP2001099293A JP2002296185A JP 2002296185 A JP2002296185 A JP 2002296185A JP 2001099293 A JP2001099293 A JP 2001099293A JP 2001099293 A JP2001099293 A JP 2001099293A JP 2002296185 A JP2002296185 A JP 2002296185A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 励起側分光器及び蛍光側分光器のスリット幅
の最適化操作を簡単し、かつ最適化に要する時間を短縮
する。 【解決手段】 検出セルに溶媒が満たされた状態でスリ
ット幅設定部３９によりスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，
１５ｂのスリット幅を順次変更し、ノイズ測定部３５に
より各スリット幅組合せでのノイズレベルを測定し、ノ
イズ記憶部３７に記憶する。バックグランド記憶部４１
に各スリット幅組合せでのバックグランドレベルを記憶
する。検出セルにサンプルが満たされた状態でスリット
幅設定部３９によりスリット幅を順次変更し、蛍光強度
記憶部４３に各スリット幅組合せでの蛍光強度を記憶す
る。Ｓ／Ｎ比算出部４５により各スリット幅組合せでの
Ｓ／Ｎ比を算出し、Ｓ／Ｎ比記憶部４９に記憶し、Ｓ／
Ｎ比比較部５１によりＳ／Ｎ比が最も大きくなるスリッ
ト幅組合せ情報を選択して設定する。
の最適化操作を簡単し、かつ最適化に要する時間を短縮
する。 【解決手段】 検出セルに溶媒が満たされた状態でスリ
ット幅設定部３９によりスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，
１５ｂのスリット幅を順次変更し、ノイズ測定部３５に
より各スリット幅組合せでのノイズレベルを測定し、ノ
イズ記憶部３７に記憶する。バックグランド記憶部４１
に各スリット幅組合せでのバックグランドレベルを記憶
する。検出セルにサンプルが満たされた状態でスリット
幅設定部３９によりスリット幅を順次変更し、蛍光強度
記憶部４３に各スリット幅組合せでの蛍光強度を記憶す
る。Ｓ／Ｎ比算出部４５により各スリット幅組合せでの
Ｓ／Ｎ比を算出し、Ｓ／Ｎ比記憶部４９に記憶し、Ｓ／
Ｎ比比較部５１によりＳ／Ｎ比が最も大きくなるスリッ
ト幅組合せ情報を選択して設定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、蛍光検出装置に関
し、特に、光源と、検出セルを保持するための検出セル
保持部と、上記光源からの光を分光して設定波長の励起
光を上記検出セルに照射するための励起側分光部と、上
記検出セルからの光を分光して設定波長の蛍光を出射す
るための蛍光側分光部と、上記蛍光側分光部から出射さ
れた蛍光を検出するための蛍光側光検出器とを備えた蛍
光検出装置に関するものである。蛍光検出装置は、例え
ば液体クロマトグラフやフローインジェクション分析装
置、電気泳動分析装置などの検出装置に用いられる。
し、特に、光源と、検出セルを保持するための検出セル
保持部と、上記光源からの光を分光して設定波長の励起
光を上記検出セルに照射するための励起側分光部と、上
記検出セルからの光を分光して設定波長の蛍光を出射す
るための蛍光側分光部と、上記蛍光側分光部から出射さ
れた蛍光を検出するための蛍光側光検出器とを備えた蛍
光検出装置に関するものである。蛍光検出装置は、例え
ば液体クロマトグラフやフローインジェクション分析装
置、電気泳動分析装置などの検出装置に用いられる。
【０００２】
【従来の技術】従来、検出セルに励起光を照射して検出
セルからの光に含まれる蛍光の強度を測定する蛍光検出
装置として、スリット幅を変更できる励起側入口スリッ
ト及び励起側出口スリットを備え、光源からの光を分光
して設定波長の励起光を検出セルに照射するための励起
側分光部と、スリット幅を変更できる蛍光側入口スリッ
ト及び蛍光側出口スリットを備え、検出セルからの光を
分光して設定波長の蛍光を蛍光側光検出器に照射するた
めの蛍光側分光部とを備えたものがある。このような蛍
光検出装置では、励起側分光部及び蛍光側分光部のスリ
ット幅を調節することにより、励起側分光部及び蛍光側
分光部に入射される光及び励起側分光部及び蛍光側分光
部から出射される光のバンド幅を変更できる。
セルからの光に含まれる蛍光の強度を測定する蛍光検出
装置として、スリット幅を変更できる励起側入口スリッ
ト及び励起側出口スリットを備え、光源からの光を分光
して設定波長の励起光を検出セルに照射するための励起
側分光部と、スリット幅を変更できる蛍光側入口スリッ
ト及び蛍光側出口スリットを備え、検出セルからの光を
分光して設定波長の蛍光を蛍光側光検出器に照射するた
めの蛍光側分光部とを備えたものがある。このような蛍
光検出装置では、励起側分光部及び蛍光側分光部のスリ
ット幅を調節することにより、励起側分光部及び蛍光側
分光部に入射される光及び励起側分光部及び蛍光側分光
部から出射される光のバンド幅を変更できる。
【０００３】そのような蛍光検出装置では、照射する励
起光の波長、検出する蛍光の波長、並びに励起光及び蛍
光のバンド幅を最適化することにより、検出感度を向上
させることができる。例えば、照射する励起光の波長と
検出する蛍光の波長が接近している設定の場合、励起光
及び蛍光のバンド幅を広く設定すると、励起光及び蛍光
の波長バンドが重なり、検出セル内で散乱した励起光や
溶媒のラマン散乱が蛍光側光検出器に入射し、バックグ
ランドレベルが高くなりノイズレベルが増加する。蛍光
検出装置が液体クロマトグラフに適用されている場合で
あれば、移動相送液時のノイズレベルが増大し、Ｓ／Ｎ
比（検出信号振幅とノイズ信号振幅の比）が悪化する。
このような場合は励起光及び蛍光のバンド幅を小さくす
ることによりバックグランドレベルを下げることがで
き、Ｓ／Ｎ比を改善することができる。
起光の波長、検出する蛍光の波長、並びに励起光及び蛍
光のバンド幅を最適化することにより、検出感度を向上
させることができる。例えば、照射する励起光の波長と
検出する蛍光の波長が接近している設定の場合、励起光
及び蛍光のバンド幅を広く設定すると、励起光及び蛍光
の波長バンドが重なり、検出セル内で散乱した励起光や
溶媒のラマン散乱が蛍光側光検出器に入射し、バックグ
ランドレベルが高くなりノイズレベルが増加する。蛍光
検出装置が液体クロマトグラフに適用されている場合で
あれば、移動相送液時のノイズレベルが増大し、Ｓ／Ｎ
比（検出信号振幅とノイズ信号振幅の比）が悪化する。
このような場合は励起光及び蛍光のバンド幅を小さくす
ることによりバックグランドレベルを下げることがで
き、Ｓ／Ｎ比を改善することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の蛍光検出装置で
は、検出感度が最も高くなる励起光及び蛍光のバンド幅
の最適化を行なうためには、オペレータの手操作によ
り、励起側分光器の励起側入口スリット及び励起側出口
スリット並びに蛍光側分光器の励起側入口スリット及び
励起側出口のスリット幅を順次変更しながらＳ／Ｎ比の
測定を行なって比較する必要がある。このような操作は
複雑であり、長時間を要するという問題があった。
は、検出感度が最も高くなる励起光及び蛍光のバンド幅
の最適化を行なうためには、オペレータの手操作によ
り、励起側分光器の励起側入口スリット及び励起側出口
スリット並びに蛍光側分光器の励起側入口スリット及び
励起側出口のスリット幅を順次変更しながらＳ／Ｎ比の
測定を行なって比較する必要がある。このような操作は
複雑であり、長時間を要するという問題があった。
【０００５】そこで本発明は、蛍光検出装置において、
励起側分光器及び蛍光側分光器のスリット幅の最適化操
作を簡単し、かつ最適化に要する時間を短縮することを
目的とするものである。
励起側分光器及び蛍光側分光器のスリット幅の最適化操
作を簡単し、かつ最適化に要する時間を短縮することを
目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、光源と、検出
セルを保持するための検出セル保持部と、上記光源から
の光を分光して設定波長の励起光を上記検出セルに照射
するための励起側分光部と、上記検出セルからの光を分
光して設定波長の蛍光を出射するための蛍光側分光部
と、上記蛍光側分光部から出射された蛍光を検出するた
めの蛍光側光検出器とを備えた蛍光検出装置である。
セルを保持するための検出セル保持部と、上記光源から
の光を分光して設定波長の励起光を上記検出セルに照射
するための励起側分光部と、上記検出セルからの光を分
光して設定波長の蛍光を出射するための蛍光側分光部
と、上記蛍光側分光部から出射された蛍光を検出するた
めの蛍光側光検出器とを備えた蛍光検出装置である。
【０００７】本発明の第１の態様は、上記励起側分光部
と上記蛍光側分光部の両分光部又は一方の分光部の分光
部入口スリット及び分光部出口スリットのスリット幅を
変更する機構と、上記スリットのスリット幅組合せを順
次変更するスリット幅設定部と、検出セルに溶媒とサン
プルが順次満たされた状態での上記蛍光側光検出器の検
出信号に基づいて上記スリットのスリット幅組合せごと
にＳ／Ｎ比を算出するＳ／Ｎ比演算部と、上記Ｓ／Ｎ比
演算部が算出したＳ／Ｎ比を上記スリットのスリット幅
組合せ情報と関連付けて記憶するＳ／Ｎ比記憶部と、上
記Ｓ／Ｎ比記憶部に記憶されたスリット幅組合せ情報ご
とのＳ／Ｎ比を比較し、最大のＳ／Ｎ比を示すスリット
幅組合せ情報を選択し、選択したスリット幅組合せ情報
に基づいて上記スリットのスリット幅を設定するように
上記スリット幅設定部を制御するＳ／Ｎ比比較部とを備
えている蛍光検出装置である。
と上記蛍光側分光部の両分光部又は一方の分光部の分光
部入口スリット及び分光部出口スリットのスリット幅を
変更する機構と、上記スリットのスリット幅組合せを順
次変更するスリット幅設定部と、検出セルに溶媒とサン
プルが順次満たされた状態での上記蛍光側光検出器の検
出信号に基づいて上記スリットのスリット幅組合せごと
にＳ／Ｎ比を算出するＳ／Ｎ比演算部と、上記Ｓ／Ｎ比
演算部が算出したＳ／Ｎ比を上記スリットのスリット幅
組合せ情報と関連付けて記憶するＳ／Ｎ比記憶部と、上
記Ｓ／Ｎ比記憶部に記憶されたスリット幅組合せ情報ご
とのＳ／Ｎ比を比較し、最大のＳ／Ｎ比を示すスリット
幅組合せ情報を選択し、選択したスリット幅組合せ情報
に基づいて上記スリットのスリット幅を設定するように
上記スリット幅設定部を制御するＳ／Ｎ比比較部とを備
えている蛍光検出装置である。
【０００８】本発明の第１の態様を構成するＳ／Ｎ比演
算部の一例は、検出セルに溶媒が満たされた状態での上
記蛍光側光検出器の検出信号の変動幅を測定するノイズ
測定部と、上記ノイズ測定部が測定した信号の変動幅を
スリット幅組合せ情報と関連付けて記憶するノイズ記憶
部と、検出セルに溶媒が満たされた状態での上記蛍光側
光検出器の検出信号強度をバックグランドレベルとして
スリット幅組合せ情報と関連付けて記憶するバックグラ
ンド記憶部と、上記検出セルにサンプルが満たされた状
態での上記蛍光側光検出器の検出信号強度を蛍光強度と
してスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶する蛍光強
度記憶部と、スリット幅組合せ情報ごとに、上記ノイズ
記憶部に記憶された信号の変動幅、上記バックグランド
記憶部に記憶されたバックグランドレベル及び上記蛍光
強度記憶部に記憶された蛍光強度に基づいてＳ／Ｎ比を
算出するＳ／Ｎ比算出部とを備えている。
算部の一例は、検出セルに溶媒が満たされた状態での上
記蛍光側光検出器の検出信号の変動幅を測定するノイズ
測定部と、上記ノイズ測定部が測定した信号の変動幅を
スリット幅組合せ情報と関連付けて記憶するノイズ記憶
部と、検出セルに溶媒が満たされた状態での上記蛍光側
光検出器の検出信号強度をバックグランドレベルとして
スリット幅組合せ情報と関連付けて記憶するバックグラ
ンド記憶部と、上記検出セルにサンプルが満たされた状
態での上記蛍光側光検出器の検出信号強度を蛍光強度と
してスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶する蛍光強
度記憶部と、スリット幅組合せ情報ごとに、上記ノイズ
記憶部に記憶された信号の変動幅、上記バックグランド
記憶部に記憶されたバックグランドレベル及び上記蛍光
強度記憶部に記憶された蛍光強度に基づいてＳ／Ｎ比を
算出するＳ／Ｎ比算出部とを備えている。
【０００９】検出セルに溶媒が満たされた状態で、スリ
ット幅設定部により励起側分光部と蛍光側分光部の両分
光部又は一方の分光部の分光部入口スリット及び分光部
出口スリットのスリット幅、ひいては励起光及び蛍光の
一方又はその両方のバンド幅を自動で順次変更しなが
ら、ノイズ測定部により各スリット幅組合せ情報での蛍
光側光検出器の検出信号の変動幅を測定し、ノイズ記憶
部により信号の変動幅をスリット幅組合せ情報と関連付
けて記憶し、バックグランド記憶部によりバックグラン
ドレベルをスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶す
る。
ット幅設定部により励起側分光部と蛍光側分光部の両分
光部又は一方の分光部の分光部入口スリット及び分光部
出口スリットのスリット幅、ひいては励起光及び蛍光の
一方又はその両方のバンド幅を自動で順次変更しなが
ら、ノイズ測定部により各スリット幅組合せ情報での蛍
光側光検出器の検出信号の変動幅を測定し、ノイズ記憶
部により信号の変動幅をスリット幅組合せ情報と関連付
けて記憶し、バックグランド記憶部によりバックグラン
ドレベルをスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶す
る。
【００１０】検出セルにサンプルが満たされた状態で、
スリット幅設定部により励起側分光部と蛍光側分光部の
両分光部又は一方の分光部の分光部入口スリット及び分
光部出口スリットのスリット幅、ひいては励起光及び蛍
光の一方又はその両方のバンド幅を自動で順次変更しな
がら、蛍光強度記憶部により蛍光強度をスリット幅組合
せ情報と関連付けて記憶する。
スリット幅設定部により励起側分光部と蛍光側分光部の
両分光部又は一方の分光部の分光部入口スリット及び分
光部出口スリットのスリット幅、ひいては励起光及び蛍
光の一方又はその両方のバンド幅を自動で順次変更しな
がら、蛍光強度記憶部により蛍光強度をスリット幅組合
せ情報と関連付けて記憶する。
【００１１】Ｓ／Ｎ比算出部により、スリット幅組合せ
情報ごとに、ノイズ記憶部に記憶された信号の変動幅、
バックグランド記憶部に記憶されたバックグランドレベ
ル及び蛍光強度記憶部に記憶された蛍光強度に基づいて
Ｓ／Ｎ比を算出し、Ｓ／Ｎ比記憶部によりスリット幅組
合せ情報と関連付けてＳ／Ｎ比を記憶する。Ｓ／Ｎ比比
較部によりＳ／Ｎ比が最も大きくなるスリット幅組合せ
情報を選択し、スリット幅設定部を制御して、選択した
スリット幅組合せ情報に基づいてスリット幅を設定す
る。
情報ごとに、ノイズ記憶部に記憶された信号の変動幅、
バックグランド記憶部に記憶されたバックグランドレベ
ル及び蛍光強度記憶部に記憶された蛍光強度に基づいて
Ｓ／Ｎ比を算出し、Ｓ／Ｎ比記憶部によりスリット幅組
合せ情報と関連付けてＳ／Ｎ比を記憶する。Ｓ／Ｎ比比
較部によりＳ／Ｎ比が最も大きくなるスリット幅組合せ
情報を選択し、スリット幅設定部を制御して、選択した
スリット幅組合せ情報に基づいてスリット幅を設定す
る。
【００１２】第２の態様は、上記励起側分光部と上記蛍
光側分光部の両分光部又は一方の分光部の分光部入口ス
リット及び分光部出口スリットのスリット幅を変更する
機構と、上記スリットのスリット幅組合せを順次変更す
るスリット幅設定部と、上記蛍光側光検出器の検出信号
の変動幅を測定するノイズ測定部と、上記ノイズ測定部
が測定した信号の変動幅を上記スリットのスリット幅組
合せ情報と関連付けて記憶するノイズ記憶部と、スリッ
ト幅組合せ情報ごとに、上記スリットのスリット幅の積
を上記ノイズ記憶部に記憶された上記信号の変動幅で除
算して推定Ｓ／Ｎ比を算出するＳ／Ｎ比推定部と、上記
Ｓ／Ｎ比推定部が算出した推定Ｓ／Ｎ比をスリット幅組
合せ情報と関連付けて記憶する推定Ｓ／Ｎ比記憶部と、
上記推定Ｓ／Ｎ比記憶部に記憶されたスリット幅組合せ
情報ごとの推定Ｓ／Ｎ比を比較し、最大の推定Ｓ／Ｎ比
を示すスリット幅組合せ情報を選択し、選択したスリッ
ト幅組合せ情報に基づいて上記スリットのスリット幅を
設定するように上記スリット幅設定部を制御する推定Ｓ
／Ｎ比比較部と、を備えている蛍光検出装置である。
光側分光部の両分光部又は一方の分光部の分光部入口ス
リット及び分光部出口スリットのスリット幅を変更する
機構と、上記スリットのスリット幅組合せを順次変更す
るスリット幅設定部と、上記蛍光側光検出器の検出信号
の変動幅を測定するノイズ測定部と、上記ノイズ測定部
が測定した信号の変動幅を上記スリットのスリット幅組
合せ情報と関連付けて記憶するノイズ記憶部と、スリッ
ト幅組合せ情報ごとに、上記スリットのスリット幅の積
を上記ノイズ記憶部に記憶された上記信号の変動幅で除
算して推定Ｓ／Ｎ比を算出するＳ／Ｎ比推定部と、上記
Ｓ／Ｎ比推定部が算出した推定Ｓ／Ｎ比をスリット幅組
合せ情報と関連付けて記憶する推定Ｓ／Ｎ比記憶部と、
上記推定Ｓ／Ｎ比記憶部に記憶されたスリット幅組合せ
情報ごとの推定Ｓ／Ｎ比を比較し、最大の推定Ｓ／Ｎ比
を示すスリット幅組合せ情報を選択し、選択したスリッ
ト幅組合せ情報に基づいて上記スリットのスリット幅を
設定するように上記スリット幅設定部を制御する推定Ｓ
／Ｎ比比較部と、を備えている蛍光検出装置である。
【００１３】スリット幅設定部により励起側分光部と蛍
光側分光部の両分光部又は一方の分光部の分光部入口ス
リット及び分光部出口スリットのスリット幅、ひいては
励起光及び蛍光の一方又はその両方のバンド幅を自動で
順次変更しながら、ノイズ測定部により各スリット幅組
合せ情報での蛍光側光検出器の検出信号の変動幅を測定
し、ノイズ記憶部により信号の変動幅をスリット幅組合
せ情報と関連付けて記憶する。
光側分光部の両分光部又は一方の分光部の分光部入口ス
リット及び分光部出口スリットのスリット幅、ひいては
励起光及び蛍光の一方又はその両方のバンド幅を自動で
順次変更しながら、ノイズ測定部により各スリット幅組
合せ情報での蛍光側光検出器の検出信号の変動幅を測定
し、ノイズ記憶部により信号の変動幅をスリット幅組合
せ情報と関連付けて記憶する。
【００１４】Ｓ／Ｎ比推定部により各スリット幅組合せ
情報について、上記スリットのスリット幅の積と信号の
変動幅から推定Ｓ／Ｎ比を算出し、ノイズ記憶部により
スリット幅組合せ情報と関連付けて推定Ｓ／Ｎ比を記憶
する。ここで、励起側分光部から出射される励起光のバ
ンド幅に対して蛍光物質の吸光度スペクトルの波長範囲
は広い場合が多く、さらに、蛍光側分光部から出射され
る蛍光のバンド幅に対して蛍光スペクトルの波長範囲は
広い場合が多いので、蛍光強度はスリット幅にほぼ比例
すると仮定できる。これにより、各スリット幅組合せ情
報について、上記スリットのスリット幅の積を信号の変
動幅で除算することにより、Ｓ／Ｎ比に対応する値（推
定Ｓ／Ｎ比）を算出することができる。そして、推定Ｓ
／Ｎ比比較部により推定Ｓ／Ｎ比が最も大きくなるスリ
ット幅組合せ情報を選択し、スリット幅設定部を制御し
て、選択したスリット幅組合せ情報に基づいてスリット
幅を設定する。
情報について、上記スリットのスリット幅の積と信号の
変動幅から推定Ｓ／Ｎ比を算出し、ノイズ記憶部により
スリット幅組合せ情報と関連付けて推定Ｓ／Ｎ比を記憶
する。ここで、励起側分光部から出射される励起光のバ
ンド幅に対して蛍光物質の吸光度スペクトルの波長範囲
は広い場合が多く、さらに、蛍光側分光部から出射され
る蛍光のバンド幅に対して蛍光スペクトルの波長範囲は
広い場合が多いので、蛍光強度はスリット幅にほぼ比例
すると仮定できる。これにより、各スリット幅組合せ情
報について、上記スリットのスリット幅の積を信号の変
動幅で除算することにより、Ｓ／Ｎ比に対応する値（推
定Ｓ／Ｎ比）を算出することができる。そして、推定Ｓ
／Ｎ比比較部により推定Ｓ／Ｎ比が最も大きくなるスリ
ット幅組合せ情報を選択し、スリット幅設定部を制御し
て、選択したスリット幅組合せ情報に基づいてスリット
幅を設定する。
【００１５】
【実施例】図４は、本発明が適用される蛍光検出装置の
一例を一部ブロック図を含んで示す概略構成図である。
光源１と、光源１の光を結像するためのミラー１ａが設
けられている。ミラー１ａにより結像された光源１から
の光を励起側入口スリット（分光部入口スリット）３ａ
から取り込み、励起側分光素子３ｃにより分光して所定
波長の励起光を励起側出口スリット（分光部出口スリッ
ト）３ｂに結像する励起側分光器（励起側分光部）３が
設けられている。
一例を一部ブロック図を含んで示す概略構成図である。
光源１と、光源１の光を結像するためのミラー１ａが設
けられている。ミラー１ａにより結像された光源１から
の光を励起側入口スリット（分光部入口スリット）３ａ
から取り込み、励起側分光素子３ｃにより分光して所定
波長の励起光を励起側出口スリット（分光部出口スリッ
ト）３ｂに結像する励起側分光器（励起側分光部）３が
設けられている。
【００１６】励起側分光器３の励起側出口スリット３ｂ
からの光を検出セル保持部（図示は省略）に保持された
検出セル７に集光する集光レンズ５が設けられている。
検出セル７の集光レンズ５とは反対側に、集光レンズ９
を介して、検出セル７を透過した励起光を検出するため
の励起光検出器１１が設けられている。検出セル７の付
近に、検出セル７からの光を集光して結像するための集
光レンズ１３が設けられている。集光レンズ１３によっ
て結像された検出セル７からの光を蛍光側入口スリット
（分光部入口スリット）１５ａから取り込み、励起側分
光素子１５ｃにより分光して所定波長の蛍光を蛍光側出
口スリット（分光部出口スリット）１５ｂに結像する蛍
光側分光器１５が設けられている。蛍光側出口スリット
１５ｂの付近には蛍光側出口スリット１５ｂからの蛍光
を検出するための蛍光側光検出器（蛍光側分光部）１７
が設けられている。
からの光を検出セル保持部（図示は省略）に保持された
検出セル７に集光する集光レンズ５が設けられている。
検出セル７の集光レンズ５とは反対側に、集光レンズ９
を介して、検出セル７を透過した励起光を検出するため
の励起光検出器１１が設けられている。検出セル７の付
近に、検出セル７からの光を集光して結像するための集
光レンズ１３が設けられている。集光レンズ１３によっ
て結像された検出セル７からの光を蛍光側入口スリット
（分光部入口スリット）１５ａから取り込み、励起側分
光素子１５ｃにより分光して所定波長の蛍光を蛍光側出
口スリット（分光部出口スリット）１５ｂに結像する蛍
光側分光器１５が設けられている。蛍光側出口スリット
１５ｂの付近には蛍光側出口スリット１５ｂからの蛍光
を検出するための蛍光側光検出器（蛍光側分光部）１７
が設けられている。
【００１７】図５は励起側入口スリット３ａ、励起側出
口スリット３ｂ、蛍光側入口スリット１５ａ及び蛍光側
出口スリット１５ｂの一例を示す概略図である。ただ
し、励起側入口スリット３ａ、励起側出口スリット３
ｂ、蛍光側入口スリット１５ａ及び蛍光側出口スリット
１５ｂは図５に示すものに限定されるものではなく、ス
リット幅を変更できる機能を備えたものであれば適用す
ることができる。例えばスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，
１５ｂは、光のバンド幅を変更するために、それぞれ異
なるスリット幅をもつ開口部１９ａ，１９ｂ，１９ｃが
設けられたスリット板１９を備えている。スリット板１
９をモータなどにより回転させることにより、光軸にい
ずれかの開口部１９ａ，１９ｂ，１９ｃを配置し、光の
バンド幅を選択できるようになっている。
口スリット３ｂ、蛍光側入口スリット１５ａ及び蛍光側
出口スリット１５ｂの一例を示す概略図である。ただ
し、励起側入口スリット３ａ、励起側出口スリット３
ｂ、蛍光側入口スリット１５ａ及び蛍光側出口スリット
１５ｂは図５に示すものに限定されるものではなく、ス
リット幅を変更できる機能を備えたものであれば適用す
ることができる。例えばスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，
１５ｂは、光のバンド幅を変更するために、それぞれ異
なるスリット幅をもつ開口部１９ａ，１９ｂ，１９ｃが
設けられたスリット板１９を備えている。スリット板１
９をモータなどにより回転させることにより、光軸にい
ずれかの開口部１９ａ，１９ｂ，１９ｃを配置し、光の
バンド幅を選択できるようになっている。
【００１８】開口部１９ａ，１９ｂ，１９ｃのスリット
幅はスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂで同じである
必要はない。励起側分光部３の励起側入口スリット３ａ
のスリット幅は励起側入口スリット３ａ上に結像される
光源１の像の幅以下で可変とする。励起側分光部３の励
起側出口スリット３ｂのスリット幅は検出セル７に結像
される励起側出口スリット３ｂの像がサンプルの大きさ
以下になる範囲で可変とする。蛍光側分光部１５の蛍光
側入口スリット１５ａのスリット幅は蛍光側入口スリッ
ト１５ａ上に結像されるサンプルの像の幅以下で可変と
する。蛍光側分光部１５の蛍光側出口スリット１５ｂの
スリット幅は蛍光側出口スリット１５ｂを通過した光が
蛍光側光検出器１７の検出範囲を外れない範囲で可変と
する。
幅はスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂで同じである
必要はない。励起側分光部３の励起側入口スリット３ａ
のスリット幅は励起側入口スリット３ａ上に結像される
光源１の像の幅以下で可変とする。励起側分光部３の励
起側出口スリット３ｂのスリット幅は検出セル７に結像
される励起側出口スリット３ｂの像がサンプルの大きさ
以下になる範囲で可変とする。蛍光側分光部１５の蛍光
側入口スリット１５ａのスリット幅は蛍光側入口スリッ
ト１５ａ上に結像されるサンプルの像の幅以下で可変と
する。蛍光側分光部１５の蛍光側出口スリット１５ｂの
スリット幅は蛍光側出口スリット１５ｂを通過した光が
蛍光側光検出器１７の検出範囲を外れない範囲で可変と
する。
【００１９】図４に戻って説明を続ける。光源１、励起
側分光器３、励起光検出器１１、蛍光側分光器１５及び
蛍光側光検出器１７に、制御・信号処理部２１が電気的
に接続されている。制御・信号処理部２１は、光源１の
点灯及び消灯の制御、励起側分光器３の励起側入口スリ
ット３ａ、励起側出口スリット３ｂ及び励起側分光素子
３ｃの制御、励起光検出器１１の信号処理、蛍光側分光
器１５の蛍光側入口スリット１５ａ、蛍光側出口スリッ
ト１５ｂ及び蛍光側分光素子１５ｃの制御、並びに蛍光
側光検出器１７の信号処理を行なう。制御・信号処理部
２１には、測定結果の表示や操作入力を行なうための表
示・操作部２３と、制御・信号処理部２１の信号出力を
外部の制御系に接続するための外部機器接続部２５が電
気的に接続されている。
側分光器３、励起光検出器１１、蛍光側分光器１５及び
蛍光側光検出器１７に、制御・信号処理部２１が電気的
に接続されている。制御・信号処理部２１は、光源１の
点灯及び消灯の制御、励起側分光器３の励起側入口スリ
ット３ａ、励起側出口スリット３ｂ及び励起側分光素子
３ｃの制御、励起光検出器１１の信号処理、蛍光側分光
器１５の蛍光側入口スリット１５ａ、蛍光側出口スリッ
ト１５ｂ及び蛍光側分光素子１５ｃの制御、並びに蛍光
側光検出器１７の信号処理を行なう。制御・信号処理部
２１には、測定結果の表示や操作入力を行なうための表
示・操作部２３と、制御・信号処理部２１の信号出力を
外部の制御系に接続するための外部機器接続部２５が電
気的に接続されている。
【００２０】図１は、第１の態様の一実施例を示すブロ
ック図である。制御・信号処理部２１には、光源１の光
量の変動による信号の変動を除去するため、蛍光側光検
出器１７の検出信号を励起光側光検出器１１の検出信号
で除算する除算器２７が設けられている。除算器２７の
出力信号に含まれる蛍光信号の周波数帯域外の変動を減
衰するためのフィルタ部２９が設けられている。フィル
タ部２９の出力信号は、ゼロ調節を行なうためのゼロ調
節部３１を経て、信号出力部３３から表示・操作部２３
及び外部のデータ処理装置５９に送られる。
ック図である。制御・信号処理部２１には、光源１の光
量の変動による信号の変動を除去するため、蛍光側光検
出器１７の検出信号を励起光側光検出器１１の検出信号
で除算する除算器２７が設けられている。除算器２７の
出力信号に含まれる蛍光信号の周波数帯域外の変動を減
衰するためのフィルタ部２９が設けられている。フィル
タ部２９の出力信号は、ゼロ調節を行なうためのゼロ調
節部３１を経て、信号出力部３３から表示・操作部２３
及び外部のデータ処理装置５９に送られる。
【００２１】フィルタ部２９の出力信号の変動幅（以
下、ノイズレベルという）を測定するためのノイズ測定
部３５が設けられている。ノイズ測定部３５は、例えば
標準偏差や、ＡＳＴＭ（American Society for Testing
and Materials） Ｅ６８５のノイズ測定にしたがって
ノイズレベルを求める。ノイズ測定部３５にはノイズレ
ベルを記憶するノイズ記憶部３７が電気的に接続されて
いる。ノイズ記憶部３７には、励起側入口スリット３
ａ、励起側出口スリット３ｂ、蛍光側入口スリット１５
ａ及び蛍光側出口スリット１５ｂのスリット幅を設定す
るためのスリット幅設定部３９が電気的に接続されてい
る。ノイズ記憶部３７はスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，
１５ｂのスリット幅組合せ情報と関連付けてノイズレベ
ルを記憶する。スリット幅設定部３９には表示・操作部
２３が電気的に接続されている。
下、ノイズレベルという）を測定するためのノイズ測定
部３５が設けられている。ノイズ測定部３５は、例えば
標準偏差や、ＡＳＴＭ（American Society for Testing
and Materials） Ｅ６８５のノイズ測定にしたがって
ノイズレベルを求める。ノイズ測定部３５にはノイズレ
ベルを記憶するノイズ記憶部３７が電気的に接続されて
いる。ノイズ記憶部３７には、励起側入口スリット３
ａ、励起側出口スリット３ｂ、蛍光側入口スリット１５
ａ及び蛍光側出口スリット１５ｂのスリット幅を設定す
るためのスリット幅設定部３９が電気的に接続されてい
る。ノイズ記憶部３７はスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，
１５ｂのスリット幅組合せ情報と関連付けてノイズレベ
ルを記憶する。スリット幅設定部３９には表示・操作部
２３が電気的に接続されている。
【００２２】検出セル７に溶媒が満たされた状態でのフ
ィルタ部２９の出力信号をバックグランドレベルとして
記憶するバックグランド記憶部４１が設けられている。
バックグランド記憶部４１にはスリット幅設定部３９が
電気的に接続されている。バックグランド記憶部４１は
スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合
せ情報と関連付けてバックグランドレベルを記憶する。
ィルタ部２９の出力信号をバックグランドレベルとして
記憶するバックグランド記憶部４１が設けられている。
バックグランド記憶部４１にはスリット幅設定部３９が
電気的に接続されている。バックグランド記憶部４１は
スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合
せ情報と関連付けてバックグランドレベルを記憶する。
【００２３】検出セル７にサンプルが満たされた状態で
のフィルタ部２９の出力信号を蛍光強度として記憶する
蛍光強度記憶部４３が設けられている。蛍光強度記憶部
４３にはスリット幅設定部３９が電気的に接続されてい
る。蛍光強度記憶部４３はスリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報と関連付けて蛍光強
度を記憶する。
のフィルタ部２９の出力信号を蛍光強度として記憶する
蛍光強度記憶部４３が設けられている。蛍光強度記憶部
４３にはスリット幅設定部３９が電気的に接続されてい
る。蛍光強度記憶部４３はスリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報と関連付けて蛍光強
度を記憶する。
【００２４】ノイズ記憶部３７、バックグランド記憶部
４１及び蛍光強度記憶部４３に、Ｓ／Ｎ比算出部４５が
電気的に接続されている。Ｓ／Ｎ比算出部４５は、スリ
ット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情
報ごとに、ノイズ記憶部３７に記憶されたノイズレベル
情報、バックグランド記憶部４１に記憶されたバックグ
ランドレベル情報、及び蛍光強度記憶部４３に記憶され
た蛍光強度情報に基づいて、Ｓ／Ｎ比を算出する。Ｓ／
Ｎ比の算出は、蛍光強度からバックグランドレベルを差
し引いた値をノイズレベルで除算することにより行な
う。ノイズ測定部３５、ノイズ記憶部３７、バックグラ
ンド記憶部４１、蛍光強度記憶部４３及びＳ／Ｎ比算出
部４５はＳ／Ｎ比演算部４７を構成する。
４１及び蛍光強度記憶部４３に、Ｓ／Ｎ比算出部４５が
電気的に接続されている。Ｓ／Ｎ比算出部４５は、スリ
ット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情
報ごとに、ノイズ記憶部３７に記憶されたノイズレベル
情報、バックグランド記憶部４１に記憶されたバックグ
ランドレベル情報、及び蛍光強度記憶部４３に記憶され
た蛍光強度情報に基づいて、Ｓ／Ｎ比を算出する。Ｓ／
Ｎ比の算出は、蛍光強度からバックグランドレベルを差
し引いた値をノイズレベルで除算することにより行な
う。ノイズ測定部３５、ノイズ記憶部３７、バックグラ
ンド記憶部４１、蛍光強度記憶部４３及びＳ／Ｎ比算出
部４５はＳ／Ｎ比演算部４７を構成する。
【００２５】Ｓ／Ｎ比算出部４５には、Ｓ／Ｎ比算出部
４５が算出したＳ／Ｎ比をスリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶す
るＳ／Ｎ比記憶部４９が電気的に接続されている。Ｓ／
Ｎ比記憶部４９には、Ｓ／Ｎ比記憶部４９に記憶された
Ｓ／Ｎ比を比較するＳ／Ｎ比比較部５１が電気的に接続
されている。Ｓ／Ｎ比比較部５１は、Ｓ／Ｎ比記憶部４
９に記憶されたＳ／Ｎ比を比較し、最大のＳ／Ｎ比を選
択する。Ｓ／Ｎ比比較部５１には表示・操作部２３及び
スリット幅設定部３９が電気的に接続されている。Ｓ／
Ｎ比比較部５１は、選択した最大Ｓ／Ｎ比を示すスリッ
ト幅組合せ情報に基づいてスリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅を設定するようにスリット幅設
定部３９を制御し、選択したスリット幅組合せ情報を表
示・操作部２３に出力する。
４５が算出したＳ／Ｎ比をスリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶す
るＳ／Ｎ比記憶部４９が電気的に接続されている。Ｓ／
Ｎ比記憶部４９には、Ｓ／Ｎ比記憶部４９に記憶された
Ｓ／Ｎ比を比較するＳ／Ｎ比比較部５１が電気的に接続
されている。Ｓ／Ｎ比比較部５１は、Ｓ／Ｎ比記憶部４
９に記憶されたＳ／Ｎ比を比較し、最大のＳ／Ｎ比を選
択する。Ｓ／Ｎ比比較部５１には表示・操作部２３及び
スリット幅設定部３９が電気的に接続されている。Ｓ／
Ｎ比比較部５１は、選択した最大Ｓ／Ｎ比を示すスリッ
ト幅組合せ情報に基づいてスリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅を設定するようにスリット幅設
定部３９を制御し、選択したスリット幅組合せ情報を表
示・操作部２３に出力する。
【００２６】図２は、図１の実施例のスリット幅最適化
処理時の動作の前半を示すフローチャートである。図３
は、図１の実施例のスリット幅最適化処理時の動作の後
半を示し、図２の続きを示すフローチャートである。図
２及び図３において、ｎはスリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅組合せ番号、ｍはスリット３
ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ数であ
る。例えば図５に示したスリットを用い、各スリット３
ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂについてそれぞれ３種類のス
リット幅を選択する場合、スリット幅組合せ数はｍ＝８
１であり、スリット幅組合せ番号はｎ＝１〜８１であ
る。図１から図４を参照してスリット幅最適化処理時の
動作を説明する。この処理は、表示・操作部２３からの
操作、又は外部機器接続部２５に接続された別の制御機
器からの指示で実行される。
処理時の動作の前半を示すフローチャートである。図３
は、図１の実施例のスリット幅最適化処理時の動作の後
半を示し、図２の続きを示すフローチャートである。図
２及び図３において、ｎはスリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅組合せ番号、ｍはスリット３
ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ数であ
る。例えば図５に示したスリットを用い、各スリット３
ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂについてそれぞれ３種類のス
リット幅を選択する場合、スリット幅組合せ数はｍ＝８
１であり、スリット幅組合せ番号はｎ＝１〜８１であ
る。図１から図４を参照してスリット幅最適化処理時の
動作を説明する。この処理は、表示・操作部２３からの
操作、又は外部機器接続部２５に接続された別の制御機
器からの指示で実行される。
【００２７】例えば手動により検出セル７に溶媒を注入
してスリット幅最適化処理の準備をする。スリット幅最
適化処理を開始する（スタート）。スリット幅組合せ番
号ｎを初期化して「１」にする（ステップＳ１）。スリ
ット幅設定部３９により、スリット幅組合せ番号ｎでの
各スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組
合せ情報Ｗnに基づいて各スリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅を設定する（ステップＳ２）。
してスリット幅最適化処理の準備をする。スリット幅最
適化処理を開始する（スタート）。スリット幅組合せ番
号ｎを初期化して「１」にする（ステップＳ１）。スリ
ット幅設定部３９により、スリット幅組合せ番号ｎでの
各スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組
合せ情報Ｗnに基づいて各スリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅を設定する（ステップＳ２）。
【００２８】スリット幅組合せ番号ｎでのフィルタ部２
９の出力信号をバックグランドレベルＢnとし、バック
グランド記憶部４１によりバックグランドレベルＢnを
スリット幅組合せ番号ｎ及びスリット幅組合せ情報Ｗn
と関連付けて記憶する（ステップＳ３）。ノイズ測定部
３５により、スリット幅組合せ番号ｎのときのノイズレ
ベルＮnを測定し、ノイズ記憶部３７によりノイズレベ
ルＮnをスリット幅組合せ番号ｎ及びスリット幅組合せ
情報Ｗnと関連付けて記憶する（ステップＳ４）。
９の出力信号をバックグランドレベルＢnとし、バック
グランド記憶部４１によりバックグランドレベルＢnを
スリット幅組合せ番号ｎ及びスリット幅組合せ情報Ｗn
と関連付けて記憶する（ステップＳ３）。ノイズ測定部
３５により、スリット幅組合せ番号ｎのときのノイズレ
ベルＮnを測定し、ノイズ記憶部３７によりノイズレベ
ルＮnをスリット幅組合せ番号ｎ及びスリット幅組合せ
情報Ｗnと関連付けて記憶する（ステップＳ４）。
【００２９】スリット幅組合せ番号ｎがスリット幅組合
せ数ｍであるか否かを判断する（ステップＳ５）。ｎ≠
ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに「１」を
加えた後（ステップＳ６）、ステップＳ２に戻る。ｎ＝
ｍのとき（Ｙｅｓ）、例えば手動により検出セル７の溶
媒をサンプルに置換する（ステップＳ７）。
せ数ｍであるか否かを判断する（ステップＳ５）。ｎ≠
ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに「１」を
加えた後（ステップＳ６）、ステップＳ２に戻る。ｎ＝
ｍのとき（Ｙｅｓ）、例えば手動により検出セル７の溶
媒をサンプルに置換する（ステップＳ７）。
【００３０】スリット幅組合せ番号ｎを初期化して
「１」にする（ステップＳ８）。スリット幅設定部３９
により、スリット幅組合せ番号ｎのスリット幅組合せ情
報Ｗnに基づいて各スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５
ｂのスリット幅を設定する（ステップＳ９）。スリット
幅組合せ番号ｎでのフィルタ部２９の出力信号を蛍光強
度Ｓnとし、蛍光強度記憶部４３により蛍光強度Ｓnをス
リット幅組合せ番号ｎ及びスリット幅組合せ情報Ｗnと
関連付けて記憶する（ステップＳ１０）。
「１」にする（ステップＳ８）。スリット幅設定部３９
により、スリット幅組合せ番号ｎのスリット幅組合せ情
報Ｗnに基づいて各スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５
ｂのスリット幅を設定する（ステップＳ９）。スリット
幅組合せ番号ｎでのフィルタ部２９の出力信号を蛍光強
度Ｓnとし、蛍光強度記憶部４３により蛍光強度Ｓnをス
リット幅組合せ番号ｎ及びスリット幅組合せ情報Ｗnと
関連付けて記憶する（ステップＳ１０）。
【００３１】スリット幅組合せ番号ｎがスリット幅組合
せ数ｍであるか否かを判断する（ステップＳ１１）。ｎ
≠ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに「１」
を加えた後（ステップＳ１２）、ステップＳ９に戻る。
ｎ＝ｍのとき（Ｙｅｓ）、スリット幅組合せ番号ｎを初
期化して「１」にする（ステップＳ１３（図３参
照））。
せ数ｍであるか否かを判断する（ステップＳ１１）。ｎ
≠ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに「１」
を加えた後（ステップＳ１２）、ステップＳ９に戻る。
ｎ＝ｍのとき（Ｙｅｓ）、スリット幅組合せ番号ｎを初
期化して「１」にする（ステップＳ１３（図３参
照））。
【００３２】Ｓ／Ｎ比算出部４５により、スリット幅組
合せ番号ｎ（スリット幅組合せ情報Ｗn）について、ノ
イズ記憶部３７に記憶されたノイズレベルＮn、バック
グランド記憶部４１に記憶されたバックグランドレベル
Ｂn、及び蛍光強度記憶部４３に記憶された蛍光強度Ｓn
に基づいて、Ｓ／Ｎ比ＳＮnを算出する。Ｓ／Ｎ比ＳＮ n
の算出は、蛍光強度ＳnからバックグランドレベルＢnを
差し引いた値をノイズレベルＮnで除算して算出する。
Ｓ／Ｎ比記憶部４９により、Ｓ／Ｎ比算出部４５が算出
したＳ／Ｎ比ＳＮnをスリット幅組合せ番号ｎ及びスリ
ット幅組合せ情報Ｗnと関連付けて記憶する（ステップ
Ｓ１４）。
合せ番号ｎ（スリット幅組合せ情報Ｗn）について、ノ
イズ記憶部３７に記憶されたノイズレベルＮn、バック
グランド記憶部４１に記憶されたバックグランドレベル
Ｂn、及び蛍光強度記憶部４３に記憶された蛍光強度Ｓn
に基づいて、Ｓ／Ｎ比ＳＮnを算出する。Ｓ／Ｎ比ＳＮ n
の算出は、蛍光強度ＳnからバックグランドレベルＢnを
差し引いた値をノイズレベルＮnで除算して算出する。
Ｓ／Ｎ比記憶部４９により、Ｓ／Ｎ比算出部４５が算出
したＳ／Ｎ比ＳＮnをスリット幅組合せ番号ｎ及びスリ
ット幅組合せ情報Ｗnと関連付けて記憶する（ステップ
Ｓ１４）。
【００３３】Ｓ／Ｎ比比較部５１により、ｎ＝１である
か否かを判断する（ステップＳ１５）。ｎ＝１のとき
（Ｙｅｓ）、スリット幅組合せ番号１でのＳ／Ｎ比ＳＮ
1を最大Ｓ／Ｎ比ＳＮmaxとし、スリット幅組合せ情報Ｗ
1を最適スリット幅組合せ情報Ｗ maxとした後（ステップ
Ｓ１６）、ステップＳ１９に進む。ｎ≠１のとき（Ｎ
ｏ）、スリット幅組合せ番号ｎでのＳ／Ｎ比ＳＮnが最
大Ｓ／Ｎ比ＳＮmaxよりも大きいか否かを判断する（ス
テップＳ１７）。
か否かを判断する（ステップＳ１５）。ｎ＝１のとき
（Ｙｅｓ）、スリット幅組合せ番号１でのＳ／Ｎ比ＳＮ
1を最大Ｓ／Ｎ比ＳＮmaxとし、スリット幅組合せ情報Ｗ
1を最適スリット幅組合せ情報Ｗ maxとした後（ステップ
Ｓ１６）、ステップＳ１９に進む。ｎ≠１のとき（Ｎ
ｏ）、スリット幅組合せ番号ｎでのＳ／Ｎ比ＳＮnが最
大Ｓ／Ｎ比ＳＮmaxよりも大きいか否かを判断する（ス
テップＳ１７）。
【００３４】ステップＳ１７でＳ／Ｎ比ＳＮnが最大Ｓ
／Ｎ比ＳＮmaxよりも大きいと判断したとき（Ｙｅ
ｓ）、スリット幅組合せ番号ｎでのＳ／Ｎ比ＳＮnを最
大Ｓ／Ｎ比ＳＮmaxとし、スリット幅組合せ情報Ｗnを最
適スリット幅組合せ情報Ｗmaxとした後（ステップＳ１
８）、ステップＳ１９に進む。ステップＳ１７でＳ／Ｎ
比ＳＮnが最大Ｓ／Ｎ比ＳＮmax以下であると判断したと
き（Ｎｏ）、最大Ｓ／Ｎ比ＳＮmax及び最適スリット幅
組合せ情報ＷmaxをそのままでステップＳ１９に進む。
／Ｎ比ＳＮmaxよりも大きいと判断したとき（Ｙｅ
ｓ）、スリット幅組合せ番号ｎでのＳ／Ｎ比ＳＮnを最
大Ｓ／Ｎ比ＳＮmaxとし、スリット幅組合せ情報Ｗnを最
適スリット幅組合せ情報Ｗmaxとした後（ステップＳ１
８）、ステップＳ１９に進む。ステップＳ１７でＳ／Ｎ
比ＳＮnが最大Ｓ／Ｎ比ＳＮmax以下であると判断したと
き（Ｎｏ）、最大Ｓ／Ｎ比ＳＮmax及び最適スリット幅
組合せ情報ＷmaxをそのままでステップＳ１９に進む。
【００３５】ステップＳ１９では、スリット幅組合せ番
号ｎがスリット幅組合せ数ｍであるか否かを判断する。
ｎ≠ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに
「１」を加えた後（ステップＳ２０）、ステップＳ１４
に戻る。ｎ＝ｍのとき（Ｙｅｓ）、Ｓ／Ｎ比比較部５１
により、スリット幅設定部３９を制御して最適スリット
幅組合せ情報Ｗmaxに基づいて各スリット３ａ，３ｂ，
１５ａ，１５ｂのスリット幅を設定する。さらに、最適
スリット幅組合せ情報Ｗ maxを表示・操作部２３に表示
する（ステップＳ２１）。このようにして、スリット幅
最適化処理を自動で行なうことができる。
号ｎがスリット幅組合せ数ｍであるか否かを判断する。
ｎ≠ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに
「１」を加えた後（ステップＳ２０）、ステップＳ１４
に戻る。ｎ＝ｍのとき（Ｙｅｓ）、Ｓ／Ｎ比比較部５１
により、スリット幅設定部３９を制御して最適スリット
幅組合せ情報Ｗmaxに基づいて各スリット３ａ，３ｂ，
１５ａ，１５ｂのスリット幅を設定する。さらに、最適
スリット幅組合せ情報Ｗ maxを表示・操作部２３に表示
する（ステップＳ２１）。このようにして、スリット幅
最適化処理を自動で行なうことができる。
【００３６】この実施例では、スリット幅組合せ番号１
のときを除いて、Ｓ／Ｎ比ＳＮnを算出するごとに（ス
テップＳ１４）、Ｓ／Ｎ比ＳＮnと最大Ｓ／Ｎ比ＳＮmax
を比較しているが、本発明はこれに限定されるものでは
なく、すべてのスリット幅組合せ番号ｎについてＳ／Ｎ
比ＳＮnを算出してＳ／Ｎ比記憶部４９に記憶した後、
Ｓ／Ｎ比記憶部４９に記憶されたＳ／Ｎ比ＳＮnをＳ／
Ｎ比比較部５１により比較するようにしてもよい。
のときを除いて、Ｓ／Ｎ比ＳＮnを算出するごとに（ス
テップＳ１４）、Ｓ／Ｎ比ＳＮnと最大Ｓ／Ｎ比ＳＮmax
を比較しているが、本発明はこれに限定されるものでは
なく、すべてのスリット幅組合せ番号ｎについてＳ／Ｎ
比ＳＮnを算出してＳ／Ｎ比記憶部４９に記憶した後、
Ｓ／Ｎ比記憶部４９に記憶されたＳ／Ｎ比ＳＮnをＳ／
Ｎ比比較部５１により比較するようにしてもよい。
【００３７】図６は、第２の態様の一実施例を示すブロ
ック図である。装置全体の構成は図４と同じである。図
１及び図４と同じ機能を果たす部分には同じ符号を付
し、その説明は省略する。制御・信号処理部２１には、
除算器２７、フィルタ部２９、ゼロ調節部３１、信号出
力部３３、ノイズ測定部３５、ノイズ記憶部３７、スリ
ット幅設定部３９及び外部データ処理装置５９が設けら
れている。除算器２７には励起光検出器１１及び蛍光側
光検出器１７が電気的に接続されている。スリット幅設
定部３９には励起側入口スリット３ａ、励起側出口スリ
ット３ｂ、蛍光側入口スリット１５ａ、蛍光側出口スリ
ット１５ｂが電気的に接続されている。信号出力部３３
及びスリット幅設定部３９には表示・操作部２３が電気
的に接続さている。
ック図である。装置全体の構成は図４と同じである。図
１及び図４と同じ機能を果たす部分には同じ符号を付
し、その説明は省略する。制御・信号処理部２１には、
除算器２７、フィルタ部２９、ゼロ調節部３１、信号出
力部３３、ノイズ測定部３５、ノイズ記憶部３７、スリ
ット幅設定部３９及び外部データ処理装置５９が設けら
れている。除算器２７には励起光検出器１１及び蛍光側
光検出器１７が電気的に接続されている。スリット幅設
定部３９には励起側入口スリット３ａ、励起側出口スリ
ット３ｂ、蛍光側入口スリット１５ａ、蛍光側出口スリ
ット１５ｂが電気的に接続されている。信号出力部３３
及びスリット幅設定部３９には表示・操作部２３が電気
的に接続さている。
【００３８】ノイズ記憶部３７にはＳ／Ｎ比推定部５３
が電気的に接続されている。Ｓ／Ｎ比推定部５３は、ス
リット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ
情報ごとに、ノイズ記憶部３７に記憶されたスリット３
ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報及び
ノイズレベル情報に基づいて、スリット３ａ，３ｂ，１
５ａ，１５ｂのスリット幅の積をノイズレベルで除算し
て推定Ｓ／Ｎ比を算出する。ここで、励起側分光部３か
ら出射される励起光のバンド幅に対して蛍光物質の吸光
度スペクトルの波長範囲は広い場合が多く、さらに、蛍
光側分光部１５から出射される蛍光のバンド幅に対して
蛍光スペクトルの波長範囲は広い場合が多いので、蛍光
強度はスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット
幅の積にほぼ比例すると仮定できる。これにより、スリ
ット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅の各組合
せについて、スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのス
リット幅の積をノイズレベルで除算することにより、Ｓ
／Ｎ比に対応する値（推定Ｓ／Ｎ比）を算出することが
できる。
が電気的に接続されている。Ｓ／Ｎ比推定部５３は、ス
リット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ
情報ごとに、ノイズ記憶部３７に記憶されたスリット３
ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報及び
ノイズレベル情報に基づいて、スリット３ａ，３ｂ，１
５ａ，１５ｂのスリット幅の積をノイズレベルで除算し
て推定Ｓ／Ｎ比を算出する。ここで、励起側分光部３か
ら出射される励起光のバンド幅に対して蛍光物質の吸光
度スペクトルの波長範囲は広い場合が多く、さらに、蛍
光側分光部１５から出射される蛍光のバンド幅に対して
蛍光スペクトルの波長範囲は広い場合が多いので、蛍光
強度はスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット
幅の積にほぼ比例すると仮定できる。これにより、スリ
ット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅の各組合
せについて、スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのス
リット幅の積をノイズレベルで除算することにより、Ｓ
／Ｎ比に対応する値（推定Ｓ／Ｎ比）を算出することが
できる。
【００３９】Ｓ／Ｎ比推定部５３には、Ｓ／Ｎ比推定部
５３が算出した推定Ｓ／Ｎ比をスリット３ａ，３ｂ，１
５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶
する推定Ｓ／Ｎ比記憶部５５が電気的に接続されてい
る。推定Ｓ／Ｎ比記憶部５５には、推定Ｓ／Ｎ比記憶部
５５に記憶された推定Ｓ／Ｎ比を比較する推定Ｓ／Ｎ比
比較部５７が電気的に接続されている。推定Ｓ／Ｎ比比
較部５７は、推定Ｓ／Ｎ比記憶部５５に記憶された推定
Ｓ／Ｎ比を比較し、最大の推定Ｓ／Ｎ比を示すスリット
３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報を
選択する。推定Ｓ／Ｎ比比較部５７には表示・操作部２
３及びスリット幅設定部３９が電気的に接続されてい
る。推定Ｓ／Ｎ比比較部５７は、選択したスリット幅組
合せ情報に基づいてスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５
ｂのスリット幅を設定するようにスリット幅設定部３９
を制御し、選択したスリット幅組合せ情報を表示・操作
部２３に出力する。
５３が算出した推定Ｓ／Ｎ比をスリット３ａ，３ｂ，１
５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶
する推定Ｓ／Ｎ比記憶部５５が電気的に接続されてい
る。推定Ｓ／Ｎ比記憶部５５には、推定Ｓ／Ｎ比記憶部
５５に記憶された推定Ｓ／Ｎ比を比較する推定Ｓ／Ｎ比
比較部５７が電気的に接続されている。推定Ｓ／Ｎ比比
較部５７は、推定Ｓ／Ｎ比記憶部５５に記憶された推定
Ｓ／Ｎ比を比較し、最大の推定Ｓ／Ｎ比を示すスリット
３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅組合せ情報を
選択する。推定Ｓ／Ｎ比比較部５７には表示・操作部２
３及びスリット幅設定部３９が電気的に接続されてい
る。推定Ｓ／Ｎ比比較部５７は、選択したスリット幅組
合せ情報に基づいてスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５
ｂのスリット幅を設定するようにスリット幅設定部３９
を制御し、選択したスリット幅組合せ情報を表示・操作
部２３に出力する。
【００４０】図７は、図６の実施例のスリット幅最適化
処理時の動作を示すフローチャートである。図７におい
て、ｎはスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリッ
ト幅組合せ番号、ｍはスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１
５ｂのスリット幅組合せ数である。図４、図６及び図７
を参照してスリット幅最適化処理時の動作を説明する。
この処理は、表示・操作部２３からの操作、又は外部機
器接続部２５に接続された別の制御機器からの指示で実
行される。
処理時の動作を示すフローチャートである。図７におい
て、ｎはスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリッ
ト幅組合せ番号、ｍはスリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１
５ｂのスリット幅組合せ数である。図４、図６及び図７
を参照してスリット幅最適化処理時の動作を説明する。
この処理は、表示・操作部２３からの操作、又は外部機
器接続部２５に接続された別の制御機器からの指示で実
行される。
【００４１】例えば手動により検出セル７に溶媒を注入
してスリット幅最適化処理の準備をする。スリット幅最
適化処理を開始する（スタート）。スリット幅組合せ番
号ｎを初期化して「１」にする（ステップＳ３１）。ス
リット幅設定部３９により、スリット幅組合せ番号ｎで
の各スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅
組合せ情報Ｗnに基づいて各スリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅を設定する（ステップＳ３
２）。ノイズ測定部３５により、スリット幅組合せ番号
ｎのときのノイズレベルＮnを測定し、ノイズ記憶部３
７によりノイズレベルＮnをスリット幅組合せ番号ｎ及
びスリット幅組合せ情報Ｗnと関連付けて記憶する（ス
テップＳ３３）。
してスリット幅最適化処理の準備をする。スリット幅最
適化処理を開始する（スタート）。スリット幅組合せ番
号ｎを初期化して「１」にする（ステップＳ３１）。ス
リット幅設定部３９により、スリット幅組合せ番号ｎで
の各スリット３ａ，３ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅
組合せ情報Ｗnに基づいて各スリット３ａ，３ｂ，１５
ａ，１５ｂのスリット幅を設定する（ステップＳ３
２）。ノイズ測定部３５により、スリット幅組合せ番号
ｎのときのノイズレベルＮnを測定し、ノイズ記憶部３
７によりノイズレベルＮnをスリット幅組合せ番号ｎ及
びスリット幅組合せ情報Ｗnと関連付けて記憶する（ス
テップＳ３３）。
【００４２】Ｓ／Ｎ比推定部５３によりスリット幅組合
せ情報Ｗnの各スリット幅の積ＴＷnをノイズレベルＮn
で除算し、Ｓ／Ｎ比に対応する推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'nを算
出し、推定Ｓ／Ｎ比記憶部５５により推定Ｓ／Ｎ比Ｓ
Ｎ'nをスリット幅組合せ番号ｎ及びスリット幅組合せ情
報Ｗnと関連付けて記憶する（ステップＳ３４）。
せ情報Ｗnの各スリット幅の積ＴＷnをノイズレベルＮn
で除算し、Ｓ／Ｎ比に対応する推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'nを算
出し、推定Ｓ／Ｎ比記憶部５５により推定Ｓ／Ｎ比Ｓ
Ｎ'nをスリット幅組合せ番号ｎ及びスリット幅組合せ情
報Ｗnと関連付けて記憶する（ステップＳ３４）。
【００４３】スリット幅組合せ番号ｎがスリット幅組合
せ数ｍであるか否かを判断する（ステップＳ３５）。ｎ
≠ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに「１」
を加えた後（ステップＳ３６）、ステップＳ３２に戻
る。ｎ＝ｍのとき（Ｙｅｓ）、スリット幅組合せ番号ｎ
を初期化して「１」にし、スリット幅組合せ番号１のと
きの推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'1を最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'm axと
し、スリット幅組合せ情報Ｗ1を最適スリット幅組合せ
情報Ｗmaxとする（ステップＳ３７）。
せ数ｍであるか否かを判断する（ステップＳ３５）。ｎ
≠ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに「１」
を加えた後（ステップＳ３６）、ステップＳ３２に戻
る。ｎ＝ｍのとき（Ｙｅｓ）、スリット幅組合せ番号ｎ
を初期化して「１」にし、スリット幅組合せ番号１のと
きの推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'1を最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'm axと
し、スリット幅組合せ情報Ｗ1を最適スリット幅組合せ
情報Ｗmaxとする（ステップＳ３７）。
【００４４】推定Ｓ／Ｎ比比較部５７により、推定Ｓ／
Ｎ比ＳＮ'nが最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'maxよりも大きいか
否かを判断する（ステップＳ３８）。推定Ｓ／Ｎ比Ｓ
Ｎ'nが最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'maxよりも大きいとき（Ｙ
ｅｓ）、スリット幅組合せ番号ｎでの推定Ｓ／Ｎ比Ｓ
Ｎ'nを最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'maxとし、スリット幅組合
せ情報Ｗnを最適スリット幅組合せ情報Ｗmaxとした後
（ステップＳ３９）、ステップＳ４０に進む。推定Ｓ／
Ｎ比ＳＮ'nが最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'max以下であると判
断したとき（Ｎｏ）、最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'max及び最
適スリット幅組合せ情報ＷmaxをそのままでステップＳ
４０に進む。
Ｎ比ＳＮ'nが最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'maxよりも大きいか
否かを判断する（ステップＳ３８）。推定Ｓ／Ｎ比Ｓ
Ｎ'nが最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'maxよりも大きいとき（Ｙ
ｅｓ）、スリット幅組合せ番号ｎでの推定Ｓ／Ｎ比Ｓ
Ｎ'nを最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'maxとし、スリット幅組合
せ情報Ｗnを最適スリット幅組合せ情報Ｗmaxとした後
（ステップＳ３９）、ステップＳ４０に進む。推定Ｓ／
Ｎ比ＳＮ'nが最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'max以下であると判
断したとき（Ｎｏ）、最大推定Ｓ／Ｎ比ＳＮ'max及び最
適スリット幅組合せ情報ＷmaxをそのままでステップＳ
４０に進む。
【００４５】ステップＳ４０では、スリット幅組合せ番
号ｎがスリット幅組合せ数ｍであるか否かを判断する。
ｎ≠ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに
「１」を加えた後（ステップＳ４１）、ステップＳ３８
に戻る。ｎ＝ｍのとき（Ｙｅｓ）、推定Ｓ／Ｎ比比較部
５７により、スリット幅設定部３９を制御して最適スリ
ット幅組合せ情報Ｗmaxに基づいて各スリット３ａ，３
ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅を設定する。さらに最
適スリット幅組合せ情報Ｗmaxを表示・操作部２３に表
示する（ステップＳ４２）。このようにして、スリット
幅最適化処理を自動で行なうことができる。
号ｎがスリット幅組合せ数ｍであるか否かを判断する。
ｎ≠ｍのとき（Ｎｏ）、スリット幅組合せ番号ｎに
「１」を加えた後（ステップＳ４１）、ステップＳ３８
に戻る。ｎ＝ｍのとき（Ｙｅｓ）、推定Ｓ／Ｎ比比較部
５７により、スリット幅設定部３９を制御して最適スリ
ット幅組合せ情報Ｗmaxに基づいて各スリット３ａ，３
ｂ，１５ａ，１５ｂのスリット幅を設定する。さらに最
適スリット幅組合せ情報Ｗmaxを表示・操作部２３に表
示する（ステップＳ４２）。このようにして、スリット
幅最適化処理を自動で行なうことができる。
【００４６】上記実施例では、検出セル７への溶媒及び
サンプルの注入を手動で行なっているが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、検出セル７への溶媒及びサ
ンプルの注入は、例えば検出セル７の付近に自動分注器
を設けて自動で行なってもよいし、検出セル７としてフ
ローセルを用いて自動でフローセル内に溶媒及びサンプ
ルを導入して行なってもよい。
サンプルの注入を手動で行なっているが、本発明はこれ
に限定されるものではなく、検出セル７への溶媒及びサ
ンプルの注入は、例えば検出セル７の付近に自動分注器
を設けて自動で行なってもよいし、検出セル７としてフ
ローセルを用いて自動でフローセル内に溶媒及びサンプ
ルを導入して行なってもよい。
【００４７】上記実施例では、光源１の光量変動による
信号の変動を除去するために、検出セル７の励起側分光
部３とは反対側に配置した励起光検出器１１により検出
セル７を透過した励起光を監視しているが、本発明が適
用される蛍光検出装置の構成はこれに限定されるもので
はなく、例えば励起側分光部３から出射された励起光の
一部を監視できる位置に励起光検出器を配置して励起光
の光量の変動を監視するなど、励起光の光量の変動を監
視できる励起光検出器の配置であれば、どのような構成
であってもよい。また、光源１の光量変動による信号の
変動を除去するための励起光検出器１１及び割算器２７
を備えた蛍光検出装置に本発明を適用しているが、本発
明はこれに限定されるものではなく、光源の光量変動に
よる信号の変動を除去するための機能を備えていない蛍
光検出装置にも適用することができる。
信号の変動を除去するために、検出セル７の励起側分光
部３とは反対側に配置した励起光検出器１１により検出
セル７を透過した励起光を監視しているが、本発明が適
用される蛍光検出装置の構成はこれに限定されるもので
はなく、例えば励起側分光部３から出射された励起光の
一部を監視できる位置に励起光検出器を配置して励起光
の光量の変動を監視するなど、励起光の光量の変動を監
視できる励起光検出器の配置であれば、どのような構成
であってもよい。また、光源１の光量変動による信号の
変動を除去するための励起光検出器１１及び割算器２７
を備えた蛍光検出装置に本発明を適用しているが、本発
明はこれに限定されるものではなく、光源の光量変動に
よる信号の変動を除去するための機能を備えていない蛍
光検出装置にも適用することができる。
【００４８】また、上記実施例では励起側分光部及び蛍
光側分光部の両方に分光部入口スリット及び分光部出口
スリットのスリット幅を変更する機構を備えた蛍光検出
装置に本発明を適用しているが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、励起側分光部及び蛍光側分光部の一
方のみに分光部入口スリット及び分光部出口スリットの
スリット幅を変更する機構を備えた蛍光検出装置にも適
用することができる。また、本発明の構成は上記実施例
に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載の内
容の範囲内で種々の変更が可能である。
光側分光部の両方に分光部入口スリット及び分光部出口
スリットのスリット幅を変更する機構を備えた蛍光検出
装置に本発明を適用しているが、本発明はこれに限定さ
れるものではなく、励起側分光部及び蛍光側分光部の一
方のみに分光部入口スリット及び分光部出口スリットの
スリット幅を変更する機構を備えた蛍光検出装置にも適
用することができる。また、本発明の構成は上記実施例
に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載の内
容の範囲内で種々の変更が可能である。
【００４９】
【発明の効果】本発明の第１の態様では、励起側分光部
と蛍光側分光部の両分光部又は一方の分光部の分光部入
口スリット及び分光部出口スリットのスリット幅を変更
する機構と、上記スリットのスリット幅組合せを順次変
更するスリット幅設定部と、Ｓ／Ｎ比演算部と、Ｓ／Ｎ
比記憶部と、Ｓ／Ｎ比記憶部に記憶されたスリット幅組
合せ情報ごとのＳ／Ｎ比を比較し、最大のＳ／Ｎ比を示
すスリット幅組合せ情報を選択し、選択したスリット幅
組合せ情報に基づいて上記スリットのスリット幅を設定
するようにスリット幅設定部を制御するＳ／Ｎ比比較部
とを備えているようにしたので、従来オペレータが行な
っていた励起側分光器及び蛍光側分光器のスリット幅の
最適化処理を自動化することができ、検出感度の高いバ
ンド幅の選択を簡単に、かつ早く実現できる。
と蛍光側分光部の両分光部又は一方の分光部の分光部入
口スリット及び分光部出口スリットのスリット幅を変更
する機構と、上記スリットのスリット幅組合せを順次変
更するスリット幅設定部と、Ｓ／Ｎ比演算部と、Ｓ／Ｎ
比記憶部と、Ｓ／Ｎ比記憶部に記憶されたスリット幅組
合せ情報ごとのＳ／Ｎ比を比較し、最大のＳ／Ｎ比を示
すスリット幅組合せ情報を選択し、選択したスリット幅
組合せ情報に基づいて上記スリットのスリット幅を設定
するようにスリット幅設定部を制御するＳ／Ｎ比比較部
とを備えているようにしたので、従来オペレータが行な
っていた励起側分光器及び蛍光側分光器のスリット幅の
最適化処理を自動化することができ、検出感度の高いバ
ンド幅の選択を簡単に、かつ早く実現できる。
【００５０】第２の態様では、励起側分光部と蛍光側分
光部の両分光部又は一方の分光部の分光部入口スリット
及び分光部出口スリットのスリット幅を変更する機構
と、上記スリットのスリット幅組合せを順次変更するス
リット幅設定部と、ノイズ測定部と、ノイズ記憶部と、
Ｓ／Ｎ比推定部と、推定Ｓ／Ｎ比記憶部と、推定Ｓ／Ｎ
比記憶部に記憶されたスリット幅組合せ情報ごとの推定
Ｓ／Ｎ比を比較し、最大の推定Ｓ／Ｎ比を示すスリット
幅組合せ情報を選択し、選択したスリット幅組合せ情報
に基づいて上記スリットのスリット幅を設定するように
スリット幅設定部を制御する推定Ｓ／Ｎ比比較部とを備
えているようにしたので、従来オペレータが行なってい
た励起側分光器及び蛍光側分光器のスリット幅の最適化
処理を自動化することができ、検出感度の高いバンド幅
の選択を簡単に、かつ早く実現できる。
光部の両分光部又は一方の分光部の分光部入口スリット
及び分光部出口スリットのスリット幅を変更する機構
と、上記スリットのスリット幅組合せを順次変更するス
リット幅設定部と、ノイズ測定部と、ノイズ記憶部と、
Ｓ／Ｎ比推定部と、推定Ｓ／Ｎ比記憶部と、推定Ｓ／Ｎ
比記憶部に記憶されたスリット幅組合せ情報ごとの推定
Ｓ／Ｎ比を比較し、最大の推定Ｓ／Ｎ比を示すスリット
幅組合せ情報を選択し、選択したスリット幅組合せ情報
に基づいて上記スリットのスリット幅を設定するように
スリット幅設定部を制御する推定Ｓ／Ｎ比比較部とを備
えているようにしたので、従来オペレータが行なってい
た励起側分光器及び蛍光側分光器のスリット幅の最適化
処理を自動化することができ、検出感度の高いバンド幅
の選択を簡単に、かつ早く実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の態様の一実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】同実施例のスリット幅最適化処理時の動作の前
半を示すフローチャートである。
半を示すフローチャートである。
【図３】同実施例のスリット幅最適化処理時の動作の後
半を示し、図２の続きを示すフローチャートである。
半を示し、図２の続きを示すフローチャートである。
【図４】本発明が適用される蛍光検出装置の一例を一部
ブロック図を含んで示す概略構成図である。
ブロック図を含んで示す概略構成図である。
【図５】励起側入口スリット３ａ、励起側出口スリット
３ｂ、蛍光側入口スリット１５ａ及び蛍光側出口スリッ
ト１５ｂの一例を示す概略図である。
３ｂ、蛍光側入口スリット１５ａ及び蛍光側出口スリッ
ト１５ｂの一例を示す概略図である。
【図６】第２の態様の一実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図７】同実施例のスリット幅最適化処理時の動作を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
１ 光源 １ａ ミラー ３ 励起側分光器 ３ａ 励起側入口スリット ３ｂ 励起側出口スリット ３ｃ 励起側分光素子 ５，９，１３ 集光レンズ ７ 検出セル １１ 励起光検出器 １５ 蛍光側分光器 １５ａ 蛍光側入口スリット １５ｂ 蛍光側出口スリット １５ｃ 励起側分光素子 １７ 蛍光側光検出器１７ ２１ 制御・信号処理部 ２３ 表示・操作部 ２５ 外部機器接続部 ２７ 除算器 ２９ フィルタ部 ３１ ゼロ調節部 ３３ 信号出力部 ３５ ノイズ測定部 ３７ ノイズ記憶部 ３９ スリット幅設定部 ４１ バックグランド記憶部 ４３ 蛍光強度記憶部 ４５ Ｓ／Ｎ比算出部 ４７ Ｓ／Ｎ比演算部 ４９ Ｓ／Ｎ比記憶部 ５１ Ｓ／Ｎ比比較部 ５３ Ｓ／Ｎ比推定部 ５５ 推定Ｓ／Ｎ比記憶部 ５７ 推定Ｓ／Ｎ比比較部 ５９ 外部データ処理装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０１Ｎ 27/26 ３３１Ｋ Ｆターム(参考） 2G020 CA01 CB04 CB07 CB21 CB54 CC05 CC26 CC43 CC44 CC45 CD14 CD22 CD32 CD36 CD37 CD51 CD56 CD58 2G043 DA06 EA01 GA01 GA02 GA04 GA06 GB01 GB02 GB18 GB21 JA02 JA04 LA01 MA01 MA04 NA01 NA06
Claims (3)
- 【請求項１】 光源と、検出セルを保持するための検出
セル保持部と、前記光源からの光を分光して設定波長の
励起光を前記検出セルに照射するための励起側分光部
と、前記検出セルからの光を分光して設定波長の蛍光を
出射するための蛍光側分光部と、前記蛍光側分光部から
出射された蛍光を検出するための蛍光側光検出器とを備
えた蛍光検出装置において、 前記励起側分光部と前記蛍光側分光部の両分光部又は一
方の分光部の分光部入口スリット及び分光部出口スリッ
トのスリット幅を変更する機構と、 前記スリットのスリット幅組合せを順次変更するスリッ
ト幅設定部と、 検出セルに溶媒とサンプルが順次満たされた状態での前
記蛍光側光検出器の検出信号に基づいて前記スリットの
スリット幅組合せごとにＳ／Ｎ比を算出するＳ／Ｎ比演
算部と、 前記Ｓ／Ｎ比演算部が算出したＳ／Ｎ比を前記スリット
のスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶するＳ／Ｎ比
記憶部と、 前記Ｓ／Ｎ比記憶部に記憶されたスリット幅組合せ情報
ごとのＳ／Ｎ比を比較し、最大のＳ／Ｎ比を示すスリッ
ト幅組合せ情報を選択し、選択したスリット幅組合せ情
報に基づいて前記スリットのスリット幅を設定するよう
に前記スリット幅設定部を制御するＳ／Ｎ比比較部と、
を備えたことを特徴とする蛍光検出装置。 - 【請求項２】 前記Ｓ／Ｎ比演算部は、検出セルに溶媒
が満たされた状態での前記蛍光側光検出器の検出信号の
変動幅を測定するノイズ測定部と、前記ノイズ測定部が
測定した信号の変動幅をスリット幅組合せ情報と関連付
けて記憶するノイズ記憶部と、検出セルに溶媒が満たさ
れた状態での前記蛍光側光検出器の検出信号強度をバッ
クグランドレベルとしてスリット幅組合せ情報と関連付
けて記憶するバックグランド記憶部と、前記検出セルに
サンプルが満たされた状態での前記蛍光側光検出器の検
出信号強度を蛍光強度としてスリット幅組合せ情報と関
連付けて記憶する蛍光強度記憶部と、スリット幅組合せ
情報ごとに、前記ノイズ記憶部に記憶された信号の変動
幅、前記バックグランド記憶部に記憶されたバックグラ
ンドレベル及び前記蛍光強度記憶部に記憶された蛍光強
度に基づいてＳ／Ｎ比を算出するＳ／Ｎ比算出部とを備
えている請求項１に記載の蛍光検出装置。 - 【請求項３】 光源と、検出セルを保持するための検出
セル保持部と、前記光源からの光を分光して設定波長の
励起光を前記検出セルに照射するための励起側分光部
と、前記検出セルからの光を分光して設定波長の蛍光を
出射するための蛍光側分光部と、前記蛍光側分光部から
出射された蛍光を検出するための蛍光側光検出器とを備
えた蛍光検出装置において、 前記励起側分光部と前記蛍光側分光部の両分光部又は一
方の分光部の分光部入口スリット及び分光部出口スリッ
トのスリット幅を変更する機構と、 前記スリットのスリット幅組合せを順次変更するスリッ
ト幅設定部と、 前記蛍光側光検出器の検出信号の変動幅を測定するノイ
ズ測定部と、 前記ノイズ測定部が測定した信号の変動幅を前記スリッ
トのスリット幅組合せ情報と関連付けて記憶するノイズ
記憶部と、 スリット幅組合せ情報ごとに、前記スリットのスリット
幅の積を前記ノイズ記憶部に記憶された前記信号の変動
幅で除算して推定Ｓ／Ｎ比を算出するＳ／Ｎ比推定部
と、 前記Ｓ／Ｎ比推定部が算出した推定Ｓ／Ｎ比をスリット
幅組合せ情報と関連付けて記憶する推定Ｓ／Ｎ比記憶部
と、 前記推定Ｓ／Ｎ比記憶部に記憶されたスリット幅組合せ
情報ごとの推定Ｓ／Ｎ比を比較し、最大の推定Ｓ／Ｎ比
を示すスリット幅組合せ情報を選択し、選択したスリッ
ト幅組合せ情報に基づいて前記スリットのスリット幅を
設定するように前記スリット幅設定部を制御する推定Ｓ
／Ｎ比比較部と、を備えたことを特徴とする蛍光検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001099293A JP4324719B2 (ja) | 2001-03-30 | 2001-03-30 | 蛍光検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001099293A JP4324719B2 (ja) | 2001-03-30 | 2001-03-30 | 蛍光検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002296185A true JP2002296185A (ja) | 2002-10-09 |
| JP4324719B2 JP4324719B2 (ja) | 2009-09-02 |
Family
ID=18952848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001099293A Expired - Lifetime JP4324719B2 (ja) | 2001-03-30 | 2001-03-30 | 蛍光検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4324719B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012147551A1 (ja) * | 2011-04-27 | 2012-11-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光光度計及びそのスリット条件決定方法 |
| CN102818792A (zh) * | 2011-04-14 | 2012-12-12 | 株式会社岛津制作所 | 光谱测量装置与程序 |
-
2001
- 2001-03-30 JP JP2001099293A patent/JP4324719B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102818792A (zh) * | 2011-04-14 | 2012-12-12 | 株式会社岛津制作所 | 光谱测量装置与程序 |
| US9164028B2 (en) | 2011-04-14 | 2015-10-20 | Shimadzu Corporation | Spectrometric measurement device and program |
| WO2012147551A1 (ja) * | 2011-04-27 | 2012-11-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分光光度計及びそのスリット条件決定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4324719B2 (ja) | 2009-09-02 |
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