JP2002289919A - Ledアレイ - Google Patents
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Abstract
ワイヤーボンディング性能を高め、これによって製造歩
留まりを高め、製造コストを下げる。 【解決手段】単結晶基板1上に各発光素子ごとに一導電
型半導体層2と逆導電型半導体層3とが順次積層し、一
導電型半導体層2を引き出して延在部8を設け、さらに
一導電型半導体層2上にポリイミド膜などから成る絶縁
膜7を被覆しているが、その露出部に共通電極5を接続
して設け、この絶縁膜7は単結晶基板1の非半導体被膜
面にまで成膜している。さらに逆導電型半導体層3の上
にも絶縁膜7を被覆しているが、その露出部に個別電極
4を接続して設けている。そして、個別電極4と共通電
極5を絶縁膜7上を通して延在して、その端部を外部回
路との接続電極である外部接続用電極6と成し、この外
部接続用電極6を単結晶基板1の拡散領域9に設けてい
る。
Description
し、特にページプリンタ用感光ドラムの露光用光源など
に用いられるLEDアレイに関するものである。
光用光源などのLEDアレイに対し、発光素子の高密度
化や、その小型化が市場のニーズとしてある。すなわ
ち、このLEDアレイにおいては、外部接続点である電
極パッドの数を減らしたり、外部回路との接続電極サイ
ズを小さくしたり、チップサイズを小さくすることが求
められていた。
マトリクス配線電極で層間絶縁膜を介して設ける多層電
極構造のLEDアレイが提案されている(特開平9−2
77592号と特開平11−40842号参照)。
おいては、各発光ダイオードの個別電極の形成と、それ
ら発光ダイオードをグループに分け、各グループから重
複無く1つずつ選択するためのマトリクス配線を形成す
る工程を2回行い、加えてそれぞれを絶縁膜等を介する
ことで電気的に分離する工程とを含み、そのため多層電
極構造でもってしか構成することができず、これによ
り、工程が複雑化し、製造コストがあがっていた。
各発光素子の発光強度にばらつきが生じないようにする
ことが望まれるが、いまだ満足し得る程度にまで向上し
ていなかった。
記のような構成のLEDアレイを提案し、各発光素子の
発光強度を均等にして、高性能かつ高信頼性のLEDア
レイを提供した(特願平12−251378号参照)。
す。図4はLEDアレイの平面図であり、図5は図4に
て切断面線A−A’による断面図である。
上において、12は一導電型半導体層、13は逆導電型
半導体層、14は個別電極、15は共通電極、16は外
部接続用電極、17は窒化ケイ素やポリイミド膜などか
ら成る保護膜としての絶縁膜である。なお、共通電極1
5は、符号として15a、15b、15c、15dでも
って示し、外部接続用電極16も符号として16a、1
6bにて示す。
導電型半導体層12と逆導電型半導体層13とが順次積
層して形成され、その積層において、一導電型半導体層
12の面積は逆導電型半導体層13の面積に比べて大き
くして、一導電型半導体層12を引き出すことで、一導
電型半導体層12と同一材からなる延在部18を設けて
いる。
被覆しているが、その露出部に共通電極15(15a、
15b、15c、15d)を接続して設けている。
その上に絶縁膜17を被覆しているが、その露出部に個
別電極14を接続して設けている。
(15a、15b、15c、15d)は隣接する各発光
素子ごとに(島状半導体層12、13ごとに)異なる群
に属するように4群に分けて接続して設けられ、隣接す
る発光素子(島状半導体層12、13)が同じ個別電極
14に接続されている。
によれば、個別電極14と共通電極15(15a、15
b、15c、15d)の組み合わせを選択して電流を流
すことによって、各発光素子を選択的に発光させること
で、各発光素子の発光強度を均等にして、高性能かつ高
信頼性のLEDアレイが提供できた。
成のLEDアレイによれば、市場のニ−ズに十分に応じ
られるためには、製造コストのさらなる低減が求められ
ているが、いまだ満足し得る程度にまで至っていなかっ
た。
においては、窒化ケイ素などの無機絶縁膜や電気的絶縁
性の合成樹脂からなるポリイミド膜などの有機絶縁膜で
もって保護膜としているが、双方の材質を比べた場合、
無機絶縁膜を用いると、真空装置などを用いるなど製造
装置や製造プロセスにて高コスト化を招きやすい。
布工程という比較的容易なプロセスにて形成できる有機
絶縁膜を用いる技術が提案されている。
電極を接合させようとした場合、その密着性は低く、そ
のために、外部接続点との接着にワイヤーボンディング
を用いると、接着不良が多発するという課題があった。
を薄くすることや、電極膜厚を厚くすることが考えられ
るが、何れも有効な手段とはなり得なかった。
り、その目的は外部回路との接続点において、その接続
電極の密着性を大きくして、ワイヤーボンディング性能
を高め、これによって製造歩留まりを高め、製造コスト
を下げ、その結果、低コストならびに高品質かつ高信頼
性のLEDアレイを提供することにある。
を均等にして、高性能かつ高信頼性のLEDアレイを提
供することにある。
は、単結晶基板上に一導電型半導体層と逆導電型半導体
層と一方電極とを順次積層し、この一導電型半導体層を
引き出した延在部の上に他方電極を形成して成る発光素
子を複数個配列して発光素子群と成し、さらにこれら一
導電型半導体層と逆導電型半導体層との双方を覆う合成
樹脂からなる電気的絶縁性の絶縁膜を単結晶基板の非半
導体被膜面にまで成膜せしめた構成において、一方電極
および/または他方電極を絶縁膜上を通して延在して、
その端部を外部回路との接続電極と成し、この接続電極
を単結晶基板にて予め酸素又は窒素のイオン注入した部
分に直に設けたことを特徴とする。
子群内における各発光素子の延在部における他方電極に
至る電極間隔が異なるとともに、一方の発光素子の電極
間隔と他方の発光素子の電極間隔とを同じにして、双方
の他方電極を通電せしめるように成したことを特徴とす
る。
導電型半導体層と逆導電型半導体層との双方ならびに単
結晶基板の非半導体被膜面を覆う絶縁膜に対し電気的絶
縁性の合成樹脂を用いるとともに、一方電極および/ま
たは他方電極の外部回路との接続電極を、単結晶基板に
て予め酸素又は窒素のイオン注入した部分に直に、すな
わち非半導体被膜面上における絶縁膜の非成膜部分に設
けたことで、従来のように有機絶縁膜上に接続電極を設
けたものと比べて、その接続電極の密着性を大きくし
て、ワイヤーボンディング性能を高められる。これによ
って製造歩留まりを高め、製造コストを下げられる。
基板にて予め酸素又は窒素のイオン注入した部分の非半
導体被膜面上における絶縁膜の非成膜部分に設けたこと
で、素子間での漏れ電流が低減し、これによって各発光
素子間にて発光バラツキが小さくなり、もしくはそのよ
うなバラツキがなくなり、その結果、均等が発光強度が
得られる。
素子群内における各発光素子の延在部における他方電極
に至る電極間隔が異なるとともに、一方の発光素子の電
極間隔と他方の発光素子の電極間隔とを同じにして、双
方の他方電極を通電せしめるように成したことで、発光
素子の高密度化や小型化が達成される。
複数の一方電極に対し共通に成した電極パッドを配設
し、さらに複数の他方電極に対し共通に成した他の電極
パッドを配設したことで、電極パッド数が少なくなり、
その配設面積が小さくなり、これにより、発光素子の高
密度化ならびにLEDアレイの小型化が達成される。
11−40842号にて提案されているような多層電極
構造のLEDアレイと比べても、工程数が少なくなり、
層間絶縁膜を介した多層電極構造を用いないことで、製
造コストが下がり、発光素子の高密度化や小型化を達成
したLEDアレイが得られる。
さらに前記電極間隔を同じにした各発光素子の他方電極
を通電すべく、一導電型半導体層の延在部に形成した絶
縁膜をまたがるように、接続線を発光素子の配列ライン
と平行に形成している。
て、周知のとおり形成されていた絶縁膜以外に、配線同
士の電気的絶縁のために不可欠な層間絶縁膜を形成する
こともなくなり、これによって製造コストが下がり、低
コストなLEDアレイが提供される。
さらに一方の発光素子群と他方の発光素子群に対し、発
光素子群内にて個々の電極間隔を配列順に違えること
で、対称的な電極間隔パターンにしており、そのように
規則的なパターンにしたことで、LEDヘッド搭載時の
発光順番の信号処理を比較的容易にし、これにより、搭
載基板の設計をも容易にすることができる。
イに整然と設けることで、それ以外の領域に電極パッド
を設けることが設計上容易になり、対称的な電極間隔の
もっとも短い部分でのスペースが大きく取ることがで
き、これにより、LEDアレイチップサイズの縮小化な
らびにLEDアレイを搭載する際のワイヤーボンディン
グパッドを大きく取ることができ、その結果、LEDア
レイのチップ縮小化ならびにLEDヘッドの製造上の歩
留りが向上する。
詳細に説明する。図1〜図3は本発明のLEDアレイの
一実施形態を示す。図1はLEDアレイの要部拡大の平
面図であり、図2は図1に示すA−A’線による断面
図、図3は図1に示すB−B’線による断面図である。
なお、図2および図3には、参照符号として、A、
A’、B、B’を明示することでもって、その断面図の
方向を示す。
上に各発光素子ごとに一導電型半導体層2と逆導電型半
導体層3とが順次積層して形成され、その積層におい
て、一導電型半導体層2の面積は逆導電型半導体層3の
面積に比べて大きくして、一導電型半導体層2を引き出
すことで、一導電型半導体層2と同一材からなる延在部
8を設けている。
2の上にポリイミド膜などから成る保護膜としての電気
的絶縁性の絶縁膜7を被覆しているが、その露出部に前
記他方電極である共通電極5(5a、5b、5c、5
d)を接続して設けている。この絶縁膜7は単結晶基板
1の非半導体被膜面にまで成膜している。
7を被覆しているが、その露出部に前記一方電極である
個別電極4を接続して設けている。
共通電極5を絶縁膜7上を通して延在して、その端部を
外部回路との接続電極である外部接続用電極6(6a、
6b)と成し、この外部接続用電極6を単結晶基板1に
て予め酸素又は窒素のイオン注入した部分、すなわち拡
散領域9の非半導体被膜面上における絶縁膜7の非成膜
部分に設けている。
素をイオン注入して形成する。これらの含有率は、双方
合わせて1018〜1022cm-3にするとよく、これによ
って高抵抗層が形成される。
結晶基板1は半導体乃至絶縁性の基板からなり、高抵抗
シリコン単結晶でもって構成した場合には、(100)
面を<011>方向に2〜7°オフさせた基板などが好
適である。
ーミックコンタクト層2bおよび電子注入層2cで構成
される。
2bはガリウム砒素などで形成され、電子注入層2cは
アルミニウムガリウム砒素などで形成される。
などの一導電型半導体不純物を1×1016〜1019at
oms/cm3 程度含有し、電子注入層2cにはシリコ
ンなどの一導電型半導体不純物を1×1015〜101 8a
toms/cm3程度含有する。
との格子定数の不整合に基づくミスフィット転位を防止
するために設けるものであり、半導体不純物を1×10
15〜1017atoms/cm3含有させる。
形成され、オーミックコンタクト層2bは0.1〜1.
0μm程度の厚みに形成され、電子注入層2cは0.2
〜0.4μm程度の厚みに形成される。
ド層3bおよび他のオーミックコンタクト層3cで構成
される。
ムガリウム砒素などから成り、オーミックコンタクト層
3cはガリウム砒素などから成る。
ックコンタクト層3cは、電子の閉じ込め効果と光の取
り出し効果を考慮して、各層の間にてアルミニウム砒素
(AlAs)とガリウム砒素(GaAs)との混晶比を
異ならしめる。
n)などの逆導電型半導体不純物を1×1016〜1021
atoms/cm3 程度含有し、オーミックコンタクト
層3cは亜鉛などの逆導電型半導体不純物を1×1019
〜1021atoms/cm3 程度含有する。
0.4μm程度の厚みに形成され、オーミックコンタク
ト層3cの膜厚dについては、膜厚d>(0.15μm
−オーミックコンタクト層膜厚)程度の厚みに形成され
る。
成樹脂、オレフィン系樹脂、ベンゾシクロブテン系樹
脂、フッ素系樹脂などから成り、厚み0.5〜2μm程
度に形成される。
c、5d)は金/クロム/金ゲルマニウム合金/クロム
(Au/Cr/AuGe/Cr)などから成り、厚み1
μm程度に形成される。
個別電極4と共通電極5の各端部を外部回路との接続電
極である外部接続用電極6(6a、6b)と成し、この
外部接続用電極6を単結晶基板1の拡散領域9の上に直
に設けたことで、その外部接続用電極6の密着性を大き
くして、ワイヤーボンディング性能を高めることができ
た。
したことで、素子間での漏れ電流が低減し、LEDアレ
イの製造歩留まりおよび品質が向上する。
漏れ電流が存在すると、発光させようとする発光素子以
外の素子が、その漏れ電流によって発光する。また、発
光しなくとも、漏れ電流によって各素子中に流れる電流
が各発光素子により異なり、これにより、発光バラツキ
が発生し、その度合が大きくなるという課題もある。よ
って、素子間での漏れ電流が低減することによって各発
光素子間にて発光バラツキが小さくなり、もしくはその
ようなバラツキがなくなり、その結果、均等な発光強度
が得られる。
LEDアレイの製造方法を説明する。
域9を設ける。
高電子移動度トランジスタ(HEMT)、ヘテロバイボ
ーラトランジスタ(HBT)などの素子間分離のために
熱安定性に優れた酸素イオン注入をイオン注入装置を用
いて行われている。
素イオンをイオン注入することによって、高抵抗基板上
にGaAs(ガリウム砒素)のような化合物半導体膜を
成長する過程で基板中に拡散するAs原子による基板の
抵抗減が防止される。
〜60keV、ドーズ量1×1014〜5×1016個/cm
-2の条件でおこなう。このような条件でイオン注入を行
うことで高抵抗シリコン基板表面付近に高濃度の酸素あ
るいは窒素のドーピングができる。
導電型半導体層2、逆導電型半導体層3をMOCVD法
などで順次積層して形成する。
基板温度を400〜500℃に設定し、これによって2
00〜2000Åの厚みでもってアモルファス状のガリ
ウム砒素膜を形成した後、基板温度を700〜900℃
に上げて所望とおりの厚みの一導電型半導体層2と逆導
電型半導体層3と成す。
G((CH3 )3 Ga)、TEG((C2 H5 )3 G
a)、アルシン(AsH3 )、TMA((CH3 )3 A
l)、TEA((C2 H5 )3 Al)などが用いられ、
導電型を制御するためのガスとしては、シラン(SiH
4 )、セレン化水素(H2 Se)、DMZ((CH3 )
2 Zn)などが用いられ、キャリアガスとしては、H2
などが用いられる。
されるように、半導体層2、3が島状にパターニングさ
れる。そのためのエッチングは、硫酸過酸化水素系のエ
ッチング液を用いたウエットエッチングやCCl2 F2
ガスを用いたドライエッチングなどで行われる。
延在部8を設け、この延在部8の上にその一部が露出
し、かつこの一導電型半導体層2の隣接する基板領域部
分が露出するようにエッチングする。
のエッチング液を用いたウェットエッチングやCCl2
F2 ガスを用いたドライエッチングなどで行なわれる。
的に分離されるように、基板をエッチングする。たとえ
ばアルカリ性水溶液で5000Å程度エッチングする。
このとき、基板のみをエッチングするように素子をレジ
ストによってカバーしてからエッチングを行うか、基板
のみを選択的にエッチングするエッチング液を使用して
エッチングを行うようにする。
ミドなどから成る絶縁膜7を形成してパターニングす
る。この際、ポリイミドから成る絶縁膜7は、電極との
コンタクトをとるための小孔を逆導電型半導体層3上
と、一導電型半導体層2の延在部8上に設ける。その
際、同時に拡散領域9についても同様に、ポリイミドか
ら成る絶縁膜7をパターンニングして除去する。
絶縁膜上にポジ型フォトレジストを塗布し、所定の取り
除きたい部分をフォトマスクを使ってを露光する。アル
カリ現像液を用いてフォトレジストの感光された部分を
取り除くと同時に、アルカリ現像液に溶けるポリイミド
絶縁層も同時に、すなわち正確にはレジストが溶けた
後、引き続き取り除く。最後にレジストを剥離すると所
定の場所のみポリイミドが除去できる。
着法やスパッタリング法で形成してパターニングするこ
とで個別電極4と共通電極5ならびにこれらの接続線、
外部接続用電極6(6a、6b)を形成する。
ゲルなどの手段を用いて保護層を形成する。その後、L
EDアレイをダイシング等の方法で、チップ状に切断し
た後、切断したチップを実装用基板に配置し、ワイヤー
ボンディングなどで外部回路と接続する。
EDアレイは、外部回路との接続電極部6a,6bにつ
いても、その部分に対しポリイミドから成る絶縁膜7が
パターンニングして除去され、そして、かかる接続電極
部6a,6b部に対しワイヤーボンディングをおこなっ
た場合、そのワイヤーボンディング強度が向上した。
ング強度でもって電極の密着性を測定した。
作製した。同図(a)は本発明のサンプルであり、高抵
抗シリコン単結晶基板1に相当するシリコン(Si)基
板の上に、すなわち拡散領域9の上に個別電極4や共通
電極5に相当する電極をAuCr合金にて1μmの層厚
にて形成し、そして、この電極上に対しワイヤーボンデ
ィングをおこなった。
シリコン(Si)基板の上にポリイミド合成樹脂層を1
〜3μmの厚みにて成膜し、この樹脂層の上に電極をA
uCr合金にて1μmの層厚にて形成し、そして、この
電極上に対しワイヤーボンディングをおこなった。
し、比較例のサンプルは4個作成し、これらサンプルに
対するワイヤーボンディング強度の測定には、バネばか
りであるマイクロゲージを使って、ワイヤーボンディン
グのループを引っ掛けてワイヤー接着強度を測定した。
剥がれるまで引っ張り上げることで、マイクロゲージに
表示される値をワイヤー強度とした。
おける「電極/ポリイミド」は比較例であり、「電極/
Si」は本発明である。縦軸はワイヤー強度(g)であ
る。
り強度試験の結果から明かなとおり、本発明での電極密
着性は比較例に比べ2倍程度大きくなっていることがわ
かる。
のような構成のLEDアレイを作製した。そして、この
LEDアレイについて、素子間での漏れ電流特性を測定
した。
は、次のとおりである。バッファ層2a、オーミックコ
ンタクト層2bはそれぞれガリウム砒素を3μm、0.
8μm、電子注入層2cはアルミガリウム砒素を0.4
μmの厚みに形成し、オーミックコンタクト層2bには
シリコンの半導体不純物を5×101 8atoms/cm
3 含有させ、電子注入層2cにはシリコンなどの一導電
型半導体不純物を5×101 7atoms/cm3含有さ
せた。
ックコンタクト層3cは、アルミガリウム砒素からな
り、発光層3aとクラッド層3bは膜厚0.4μm、オ
ーミックコンタクト層3cについては、膜厚0.15μ
mにて形成し、発光層3aとクラッド層3bは亜鉛(Z
n)をそれぞれ1×101 7、5×1019atoms/c
m3 含有し、オーミックコンタクト層3cは亜鉛を1×
1020atoms/cm 3 含有させた。
厚み1μmに形成した。
は酸素を1020cm-3程度の濃度になるようにイオン注
入して拡散領域9を形成した。
し、漏れ電流特性を測定したところ、図8に示すような
I-V曲線が得られた。
のI-V曲線を示し、図1中の、の電極パットにプ
ローブを立てて、この間に流れる電流-電圧特性を測定
して得られた。
位にて目盛られている。縦軸は電流値であり、2.00
mA単位にて目盛られている。
比較例であり、拡散領域9を形成しないで、その他の構
成は同じにしたLEDアレイである。
曲線によれば、イオン注入を行うことで素子間のリーク
が小さくなっていることが分かる。10V付近で立ち上
がっているのはLEDのブレイクダウンによるものであ
る。
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種
々の変更や改良等はなんら差し支えない。
極5を絶縁膜7上を通して延在して、その端部を外部回
路との接続電極である外部接続用電極6と成し、この外
部接続用電極6を単結晶基板1の非半導体被膜面上にお
ける絶縁膜7の非成膜部分に設けているが、それら個別
電極4と共通電極5のうち一方だけを、かかる外部接続
用電極6と接続して単結晶基板1の非半導体被膜面上に
おける絶縁膜7の非成膜部分に設けてもよい。
よれば、一導電型半導体層と逆導電型半導体層との双方
ならびに単結晶基板の非半導体被膜面を覆う絶縁膜に対
し電気的絶縁性の合成樹脂を用いるとともに、一方電極
および/または他方電極を絶縁膜上を通して延在して、
その端部を外部回路との接続電極と成し、この接続電極
を単結晶基板にて予め酸素又は窒素のイオン注入した部
分に直に設けたことで、従来のように有機絶縁膜上に接
続電極を設けたものと比べて、その接続電極の密着性を
大きくして、ワイヤーボンディング性能を高められる。
これによって製造歩留まりを高め、製造コストを下げ、
その結果、低コストならびに高品質かつ高信頼性のLE
Dアレイが提供できた。
発光素子群内における各発光素子の延在部における他方
電極に至る電極間隔が異なるとともに、一方の発光素子
の電極間隔と他方の発光素子の電極間隔とを同じにし
て、双方の他方電極を通電せしめるように成したこと
で、発光素子の高密度化や小型化が達成された。
図である。
である。
構成を示す説明図である。
曲線図である。
Claims (2)
- 【請求項1】単結晶基板上に一導電型半導体層と逆導電
型半導体層と一方電極とを順次積層し、この一導電型半
導体層を引き出した延在部の上に他方電極を形成して成
る発光素子を複数個配列して発光素子群と成し、さらに
これら一導電型半導体層と逆導電型半導体層との双方を
覆う合成樹脂からなる電気的絶縁性の絶縁膜を単結晶基
板の非半導体被膜面にまで成膜せしめたLEDアレイで
あって、一方電極および/または他方電極を絶縁膜上を
通して延在して、その端部を外部回路との接続電極と成
し、この接続電極を単結晶基板にて予め酸素又は窒素の
イオン注入した部分に直に設けたことを特徴とするLE
Dアレイ。 - 【請求項2】請求項1の発光素子群内における各発光素
子の延在部における他方電極に至る電極間隔が異なると
ともに、一方の発光素子の電極間隔と他方の発光素子の
電極間隔とを同じにして、双方の他方電極を通電せしめ
るように成したことを特徴とするLEDアレイ。
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---|---|---|---|
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Cited By (2)
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JP2015008256A (ja) * | 2013-06-26 | 2015-01-15 | 京セラ株式会社 | 受発光素子およびこれを用いたセンサ装置 |
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