JP2002289719A - Package for storing semiconductor element - Google Patents

Package for storing semiconductor element

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JP2002289719A
JP2002289719A JP2001088133A JP2001088133A JP2002289719A JP 2002289719 A JP2002289719 A JP 2002289719A JP 2001088133 A JP2001088133 A JP 2001088133A JP 2001088133 A JP2001088133 A JP 2001088133A JP 2002289719 A JP2002289719 A JP 2002289719A
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JP
Japan
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input
output terminal
line conductor
dielectric
semiconductor element
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JP2001088133A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuyoshi Kunimatsu
廉可 國松
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To resolve problems where line conductors of an input-output terminal composing a semiconductor package cannot be baked with the ceramic based on aluminum oxide of dielectric material for the input-output terminal at the same time, fine ones containing Cu of low resistance cannot be formed with high density, and reflection loss of high frequency signal passing the input-output terminal is significant. SOLUTION: The input-output terminal 5 composing the semiconductor package 1 contains aluminum oxide of 84-90 wt.% and magnesium oxide of 2-6 wt.% as main components, and the line conductors contain copper of 10-70 vol.% and tungsten and/or molybdenum of 30-90 vol.%.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光通信やマイクロ
波通信、ミリ波通信等の分野に用いられる高い周波数で
作動する各種半導体素子を収納する半導体素子収納用パ
ッケージに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device housing package for housing various semiconductor devices operating at a high frequency used in fields such as optical communication, microwave communication and millimeter wave communication.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の光通信やマイクロ波通信、ミリ波
通信等の高い周波数で作動する各種半導体素子を気密封
止して収容する半導体素子収納用パッケージ(以下、半
導体パッケージという)として、例えば光通信分野に用
いられる光半導体パッケージを図1に示す。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a semiconductor element housing package (hereinafter referred to as a semiconductor package) for hermetically sealing and housing various semiconductor elements operating at a high frequency such as optical communication, microwave communication and millimeter wave communication, for example, FIG. 1 shows an optical semiconductor package used in the optical communication field.

【0003】同図に示すように、光半導体パッケージと
しての半導体パッケージ1は、一般に鉄(Fe)−ニッ
ケル(Ni)−コバルト(Co)合金や銅(Cu)−タ
ングステン(W)合金等の金属材料から成り、上面の略
中央部に半導体レーザ(LD)やフォトダイオード(P
D)等の光半導体素子等の半導体素子2が載置される載
置部3を設けた基体4を有する。この基体4は、略長方
形の板状であり、その対向する辺部に外部の実装基板
(図示せず)にネジ止めするためのネジ止め孔11が設
けられている。
As shown in FIG. 1, a semiconductor package 1 as an optical semiconductor package generally includes a metal such as an iron (Fe) -nickel (Ni) -cobalt (Co) alloy or a copper (Cu) -tungsten (W) alloy. A semiconductor laser (LD) or a photodiode (P)
A substrate 4 having a mounting portion 3 on which a semiconductor element 2 such as an optical semiconductor element such as D) is mounted. The base 4 has a substantially rectangular plate shape, and a screw hole 11 for screwing to an external mounting board (not shown) is provided on the opposite side.

【0004】また、載置部3を囲繞するようにして基体
4の上面に銀ロウ等のロウ材を介して接合されるととも
に、基体4の長辺側に位置する両側部に半導体素子2と
外部電気回路(図示せず)とを電気的に接続する高周波
信号入出力用の入出力端子5を嵌着接合するための貫通
孔または切欠き部から成る取付部6が設けられた金属枠
体7を有する。
Further, the semiconductor device 2 is joined to the upper surface of the base 4 via a brazing material such as silver brazing so as to surround the mounting portion 3, and the semiconductor element 2 is disposed on both sides located on the long side of the base 4. A metal frame provided with a mounting portion 6 comprising a through hole or a cutout portion for fitting and joining an input / output terminal 5 for inputting / outputting a high-frequency signal for electrically connecting to an external electric circuit (not shown). Seven.

【0005】この金属枠体7はFe−Ni−Co合金等
から成り、基体4の短辺側に位置する一側部に、光ファ
イバ12固定用の筒状の固定部材18が嵌着接合される
貫通孔14が形成されている。
[0005] The metal frame 7 is made of an Fe-Ni-Co alloy or the like, and a cylindrical fixing member 18 for fixing the optical fiber 12 is fitted and joined to one side located on the short side of the base 4. Through holes 14 are formed.

【0006】更に、取付部6に取着された入出力端子5
と、金属枠体7の上面に取着された、半導体素子2を気
密に封止する蓋体15とを具備する。
Further, the input / output terminal 5 attached to the mounting portion 6
And a lid 15 hermetically sealing the semiconductor element 2 attached to the upper surface of the metal frame 7.

【0007】このような入出力端子5は、図2に示すよ
うに上面の1辺から対向する他辺にかけて形成された線
路導体8を有する誘電体から成る平板部9と、平板部9
の上面に線路導体8を間に挟んで接合された同様の誘電
体から成る立壁部10とから構成されている。
As shown in FIG. 2, the input / output terminal 5 includes a flat plate portion 9 made of a dielectric having a line conductor 8 formed from one side of the upper surface to the opposite side, and a flat plate portion 9.
And an upstanding wall portion 10 made of a similar dielectric and joined to the upper surface of the substrate with a line conductor 8 interposed therebetween.

【0008】また、入出力端子5の線路導体8に略平行
な側面には、線路導体8を擬似同軸状に囲み接地導体と
して機能するとともに、図1に示す取付部6の内周面に
銀ロウ等のロウ材を介して接合させる接合媒体として機
能する金属層が形成されている。
On the side surface of the input / output terminal 5 substantially parallel to the line conductor 8, the line conductor 8 is quasi-coaxially surrounded and functions as a ground conductor, and the inner peripheral surface of the mounting portion 6 shown in FIG. A metal layer that functions as a joining medium to be joined via a brazing material such as brazing is formed.

【0009】この線路導体8の上面には、Fe−Ni−
Co合金等の金属材料から成り、銀ロウ等のロウ材で接
合されるとともに、入出力端子5と外部電気回路との電
気的接続を行なう機能を有するリード端子16が形成さ
れる。
On the upper surface of the line conductor 8, Fe--Ni--
A lead terminal 16 made of a metal material such as a Co alloy and joined by a brazing material such as silver brazing and having a function of making an electrical connection between the input / output terminal 5 and an external electric circuit is formed.

【0010】また、図1に示す金属枠体7の光伝送路で
ある貫通孔14の外側周辺部には、金属枠体7の熱膨張
係数に近似するFe−Ni−Co合金やFe−Ni合金
等の金属材料から成る光ファイバ12固定用の筒状の固
定部材18が銀ロウ等のロウ材で接合される。
An outer peripheral portion of the through hole 14 which is an optical transmission path of the metal frame 7 shown in FIG. 1 is provided with an Fe—Ni—Co alloy or an Fe—Ni alloy having a thermal expansion coefficient close to that of the metal frame 7. A cylindrical fixing member 18 for fixing the optical fiber 12 made of a metal material such as an alloy is joined with a brazing material such as silver brazing.

【0011】また、シールリング17は、金属枠体7の
上面および入出力端子5の上面に銀ロウ等のロウ材を介
して接合され、入出力端子5を挟持するとともに上面に
蓋体15をシーム溶接等により接合するための接合媒体
として機能する。
The seal ring 17 is joined to the upper surface of the metal frame 7 and the upper surface of the input / output terminal 5 via a brazing material such as silver brazing, and holds the input / output terminal 5 and the cover 15 on the upper surface. It functions as a joining medium for joining by seam welding or the like.

【0012】このような半導体パッケージ1は、基体4
の載置部3に半導体素子2を錫(Sn)−鉛(Pb)半
田等の低融点ロウ材で載置固定させるとともに、半導体
素子2の電極をボンディングワイヤ(図示せず)を介し
て入出力端子5の線路導体8に電気的に接続し、更に光
ファイバ12と半導体素子2との光軸を調整する。その
後、固定部材18の金属枠体7外側の端面に光ファイバ
12を樹脂等の接着剤で取着した金属ホルダ13を、金
(Au)−錫(Sn)等の低融点ロウ材で接合する。次
いで、金属枠体7の上面に蓋体15をシーム溶接等によ
り接合して、基体4と金属枠体7と蓋体15とから成る
容器内部に半導体素子2を気密に収容することにより、
製品としての光半導体装置となる。
Such a semiconductor package 1 has a base 4
The semiconductor element 2 is mounted and fixed on the mounting portion 3 with a low melting point brazing material such as tin (Sn) -lead (Pb) solder, and the electrodes of the semiconductor element 2 are inserted through bonding wires (not shown). It is electrically connected to the line conductor 8 of the output terminal 5, and further adjusts the optical axis of the optical fiber 12 and the semiconductor element 2. Thereafter, a metal holder 13 in which the optical fiber 12 is attached to an end surface of the fixing member 18 outside the metal frame 7 with an adhesive such as a resin is joined with a low melting point brazing material such as gold (Au) -tin (Sn). . Next, the lid 15 is joined to the upper surface of the metal frame 7 by seam welding or the like, and the semiconductor element 2 is hermetically accommodated in a container including the base 4, the metal frame 7, and the lid 15.
It becomes an optical semiconductor device as a product.

【0013】このような光半導体装置は、実装基板上に
ネジ止めされた後、半導体素子2を外部電気回路から供
給される駆動用の高周波信号によって光励起させ、励起
したレーザ光等の光を光ファイバ12に授受させ光ファ
イバ12内を伝送させることにより、大容量の情報を高
速に伝送できる光電変換装置として機能し、光通信分野
等に多用されている。
In such an optical semiconductor device, after being screwed onto a mounting substrate, the semiconductor element 2 is optically excited by a driving high-frequency signal supplied from an external electric circuit, and the excited light such as laser light is optically excited. By transmitting and receiving the data to and from the optical fiber 12, the optical fiber 12 functions as a photoelectric conversion device capable of transmitting a large amount of information at high speed, and is widely used in the field of optical communication and the like.

【0014】そこで、この光半導体装置に代表されるよ
うな高い周波数で使用される半導体パッケージ1に用い
られる入出力端子5には、反射損失を小さくして高い周
波数の入出力信号を伝送するため、小型化とともに高い
気密性と高周波損失の少ないことが要求されている。そ
のために、入出力端子5を構成する誘電体には一般に誘
電率が8〜10程度の酸化アルミニウム(Al23)質
焼結体等のセラミックスが用いられていた。一方、入出
力端子5に形成される線路導体8には、電気抵抗が小さ
いだけでなく、上記セラミックスと同時焼成により微細
な配線パターンの形成が可能なタングステン(W)やモ
リブデン(Mo)等の高融点金属が採用されていた。
Therefore, the input / output terminal 5 used in the semiconductor package 1 used at a high frequency typified by the optical semiconductor device is used to transmit a high frequency input / output signal by reducing the reflection loss. In addition, high airtightness and low high-frequency loss are required in addition to miniaturization. Therefore, ceramics such as an aluminum oxide (Al 2 O 3 ) sintered body having a dielectric constant of about 8 to 10 are generally used as a dielectric constituting the input / output terminal 5. On the other hand, the line conductor 8 formed on the input / output terminal 5 has not only a low electric resistance, but also a tungsten (W) or molybdenum (Mo) or the like capable of forming a fine wiring pattern by co-firing with the ceramic. Refractory metals were employed.

【0015】しかし、上記高融点金属から成る線路導体
8では、入出力端子5を小型化すると高い周波数での入
出力信号の反射損失は防止できるものの、線路導体8の
線幅等も狭くなって電気抵抗が増加し、透過損失を招く
ことになる。そこで、より低抵抗のCu、あるいはCu
とWやMoとを含む導体を用いて、上記セラミックスと
同時焼成して配線パターンを形成することが提案されて
いる(特開平8−8502号公報参照)。
However, in the line conductor 8 made of the refractory metal described above, if the size of the input / output terminal 5 is reduced, reflection loss of input / output signals at high frequencies can be prevented, but the line width of the line conductor 8 also becomes narrow. The electric resistance increases and transmission loss is caused. Therefore, Cu or Cu having lower resistance is used.
It has been proposed to form a wiring pattern by simultaneously sintering with the above ceramics by using a conductor containing Si and W or Mo (see JP-A-8-8502).

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記提
案では、酸化アルミニウムを焼結体として緻密化するた
めには1600℃以上の高い温度で焼成することが必要
である。このような高温で、上記Cu、あるいはCuと
WやMoとを含む導体を上記セラミックスと同時焼成す
ると、WやMoの焼結に伴って溶融したCu成分が分離
して配線パターンににじみを生じたり、Cuの揮散が生
じる等、線路導体8層の組織の不均一から抵抗が高くな
ってしまうという問題点があった。
However, in the above proposal, in order to densify aluminum oxide as a sintered body, it is necessary to fire at a high temperature of 1600 ° C. or more. At such a high temperature, when the above-mentioned Cu or a conductor containing Cu and W or Mo is simultaneously fired with the above-mentioned ceramics, the molten Cu component is separated due to the sintering of W or Mo, thereby causing blurring of the wiring pattern. There is a problem in that the resistance increases due to unevenness of the structure of the eight line conductors, for example, the volatilization of Cu occurs.

【0017】更に、入出力端子5の平板部と立壁部を構
成する誘電体の誘電率が8〜10と高いことから、入出
力端子5を通過する高周波信号の透過損失が、10GH
zにおいて0.6dB/cm以上、20GHzにおいて
0.9dB/cm以上と極めて大であるという問題点が
あった。
Further, since the dielectric constant of the dielectric material constituting the flat portion and the vertical wall portion of the input / output terminal 5 is as high as 8 to 10, the transmission loss of the high frequency signal passing through the input / output terminal 5 is 10 GHz.
There is a problem that it is extremely large at 0.6 dB / cm or more at z and 0.9 dB / cm at 20 GHz.

【0018】また、線路導体8を構成するCu成分が、
高温での焼成中に酸化アルミニウム質焼結体中に拡散し
て線路導体8間の絶縁性が劣化するため、入出力端子5
自体の小型化に伴う微細な線路導体8を高密度に形成す
ることが困難になるという問題点もあった。
The Cu component constituting the line conductor 8 is
During the sintering at a high temperature, it diffuses into the aluminum oxide sintered body and the insulation between the line conductors 8 deteriorates.
There is also a problem that it is difficult to form fine line conductors 8 at a high density due to the miniaturization of itself.

【0019】従って、本発明は上記問題点に鑑み完成さ
れたもので、その目的は、酸化アルミニウムを主成分と
する焼結体と同時焼成でき、低抵抗のCuを含有した低
抵抗で微細配線が可能な線路導体を有し、低誘電率の誘
電体から成る入出力端子を具備した半導体パッケージを
提供することにある。
Accordingly, the present invention has been completed in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a low-resistance and fine wiring which can be co-fired with a sintered body containing aluminum oxide as a main component and contains low-resistance Cu. It is an object of the present invention to provide a semiconductor package having a line conductor which can be used, and an input / output terminal made of a dielectric having a low dielectric constant.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体パッケー
ジは、上面に半導体素子が載置される載置部を有する基
体と、前記上面に前記載置部を囲繞するように取着さ
れ、側部に切欠き部または貫通孔から成る入出力端子の
取付部が形成された金属枠体と、上面の一辺側から対向
する他辺側にかけて形成された複数の線路導体を有する
誘電体から成る平板部および該平板部の上面に前記複数
の線路導体を間に挟んで接合された誘電体から成る立壁
部から構成されるとともに前記取付部に嵌着されて前記
半導体素子と外部電気回路とを電気的に接続する入出力
端子とを具備した半導体素子収納用パッケージにおい
て、前記入出力端子は主成分として酸化アルミニウムを
84〜90重量%および酸化マンガンを2〜6重量%含
有し、前記線路導体は銅を10〜70体積%、タングス
テンおよび/またはモリブデンを30〜90体積%含有
していることを特徴とする。
A semiconductor package according to the present invention has a base having a mounting portion on which a semiconductor element is mounted on an upper surface, and is mounted on the upper surface so as to surround the mounting portion. Frame formed with a notch or through-hole mounting portion for an input / output terminal, and a flat plate made of a dielectric having a plurality of line conductors formed from one side of the upper surface to the other side facing the same. And a vertical wall portion made of a dielectric joined to the upper surface of the flat portion with the plurality of line conductors interposed therebetween, and fitted to the mounting portion to electrically connect the semiconductor element and the external electric circuit. In the semiconductor device housing package having input / output terminals to be electrically connected, the input / output terminals contain 84 to 90% by weight of aluminum oxide and 2 to 6% by weight of manganese oxide as main components. 10-70 vol%, characterized in that it tungsten and / or molybdenum containing 30 to 90 vol%.

【0021】本発明は、入出力端子の平板部と立壁部を
構成する誘電体を、酸化アルミニウムを84〜90重量
%および酸化マンガンを2〜6重量%含有するものとし
たことから、1500℃以下の焼成温度で焼結体として
緻密化される。そのため、Cuを含有した低抵抗の微細
配線が可能な線路導体を同時焼成して形成することがで
きる。また、入出力端子の平板部と立壁部を構成する誘
電体の誘電率が4〜6程度と低くできる。更に、本発明
の入出力端子を通過する高周波信号の透過損失が10G
Hzで0.4dB/cm以下、20GHzで0.7dB
/cm以下と小さいことから、高周波信号の伝送特性が
改善され、微細な配線パターンを高密度に形成すること
ができ、入出力端子をより小型化できることになる。
According to the present invention, the dielectric material constituting the flat plate portion and the vertical wall portion of the input / output terminal contains aluminum oxide at 84 to 90% by weight and manganese oxide at 2 to 6% by weight. It is densified as a sintered body at the following firing temperature. Therefore, a line conductor containing Cu and capable of low-resistance fine wiring can be formed by simultaneous firing. In addition, the dielectric constant of the dielectric constituting the flat portion and the vertical wall portion of the input / output terminal can be as low as about 4 to 6. Further, the transmission loss of the high-frequency signal passing through the input / output terminal of the present invention is 10G.
0.4 dB / cm or less at Hz and 0.7 dB at 20 GHz
/ Cm or less, the transmission characteristics of high-frequency signals are improved, fine wiring patterns can be formed at high density, and the input / output terminals can be further miniaturized.

【0022】更に、線路導体がCuを10〜70体積
%、Wおよび/またはMoを30〜90体積%含有して
いることから、低抵抗のCuによりシート抵抗も8mΩ
/□(ミリオーム/□)以下とすることが可能となる。
Further, since the line conductor contains 10 to 70% by volume of Cu and 30 to 90% by volume of W and / or Mo, the sheet resistance is also 8 mΩ by low-resistance Cu.
/ □ (milliohm / □) or less.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】本発明の半導体パッケージについ
て以下に詳細に説明する。本発明の半導体パッケージに
おいて、この半導体パッケージを構成する入出力端子
は、図2に示すように、略四角形の誘電体板から成り、
上面に1辺から対向する他辺にかけて形成されたメタラ
イズ層等から成る線路導体8を有する平板部9と、その
上面に線路導体8を間に挟んで接合された誘電体からな
る略直方体の立壁部10とから構成されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The semiconductor package of the present invention will be described in detail below. In the semiconductor package of the present invention, as shown in FIG. 2, the input / output terminals constituting the semiconductor package are formed of a substantially square dielectric plate.
A flat plate portion 9 having a line conductor 8 made of a metallized layer or the like formed on one surface from the other side to the opposite side, and a substantially rectangular parallelepiped wall made of a dielectric joined to the upper surface with the line conductor 8 interposed therebetween. And a unit 10.

【0024】この平板部9は、酸化アルミニウム(Al
23)を主成分とする、誘電率が4〜6程度と低いセラ
ミックスから成る誘電体で形成されており、Cuを含有
する線路導体8との同時焼結性および線路導体8の保形
性を達成する点でも有利なものである。
The flat plate portion 9 is made of aluminum oxide (Al)
2 O 3 ) as a main component, made of a dielectric material composed of ceramics having a low dielectric constant of about 4 to 6 and being simultaneously sintered with the line conductor 8 containing Cu and maintaining the shape of the line conductor 8 It is also advantageous in achieving the property.

【0025】この酸化アルミニウムを主成分とするセラ
ミックスは、高熱伝導性と高強度を具備するうえで、相
対密度が95%以上、特に97%以上、更には99%以
上の高緻密体から形成されていることが好適である。
The ceramic containing aluminum oxide as a main component is formed of a highly dense body having a relative density of 95% or more, particularly 97% or more, and more preferably 99% or more, in order to have high thermal conductivity and high strength. Preferably.

【0026】また本発明では、線路導体8との同時焼成
時にその保形性を達成するために、1200〜1500
℃の低温で焼成でき、相対密度が95%以上であること
が好ましい。
Further, according to the present invention, in order to achieve shape retention during simultaneous firing with the line conductors 8, 1200 to 1500
It is preferable that firing can be carried out at a low temperature of ℃ and the relative density is 95% or more.

【0027】従って、本発明における入出力端子5の誘
電体は、主成分として酸化アルミニウムを84〜90重
量%の割合で含有し、上記焼成温度(1200〜150
0℃)での焼結性を高めるうえで、マンガン(Mn)化
合物をMnO2換算で2〜6重量%の割合で含有するこ
とが必要である。即ち、Mn化合物量が2重量%より少
ないと、1200〜1500℃の焼成温度での緻密化が
難しく、また6重量%よりも多いと、焼結体の絶縁抵抗
が1×108Ω未満となり、入出力端子5用の誘電体と
して不適である。特に、誘電体特性と線路導体8との同
時焼結性の点で3〜5重量%が好ましい。
Therefore, the dielectric material of the input / output terminal 5 according to the present invention contains aluminum oxide as a main component at a ratio of 84 to 90% by weight, and the firing temperature (1200 to 150%).
(0 ° C.), it is necessary to contain a manganese (Mn) compound at a ratio of 2 to 6% by weight in terms of MnO 2 in order to enhance sinterability at 0 ° C.). That is, if the amount of the Mn compound is less than 2% by weight, it is difficult to densify at a firing temperature of 1200 to 1500 ° C, and if it is more than 6% by weight, the insulation resistance of the sintered body becomes less than 1 × 10 8 Ω. , Is not suitable as a dielectric for the input / output terminal 5. In particular, the content is preferably 3 to 5% by weight from the viewpoint of the dielectric properties and the simultaneous sinterability of the line conductor 8.

【0028】また、この誘電体中には、第3の成分とし
て酸化珪素(SiO2)およびマグネシウム(Mg),
カルシウム(Ca),ストロンチウム(Sr)等のアル
カリ土類元素の1種以上を酸化物として含有させると、
Cu含有導体である線路導体8の同時焼結性を向上させ
るうえで好ましい。その含有量は、酸化珪素(Si
2)は2〜15重量%、同時焼結性の点からは3〜1
0重量%がより好適である。また、アルカリ土類元素
は、酸化物換算で合計0.1〜4重量%がよく、さらに
同時焼結性の点で0.2〜2.5重量%が良い。
In this dielectric, a third component is used.
Silicon oxide (SiOTwo) And magnesium (Mg),
Alkali such as calcium (Ca) and strontium (Sr)
When one or more kinds of potassium earth elements are contained as oxides,
The simultaneous sinterability of the line conductor 8, which is a Cu-containing conductor, is improved.
It is preferable in terms of performance. The content of silicon oxide (Si
O Two) Is 2 to 15% by weight, and 3 to 1
0% by weight is more preferred. Also, alkaline earth elements
Is preferably 0.1 to 4% by weight in total in terms of oxide.
From the viewpoint of simultaneous sintering, 0.2 to 2.5% by weight is preferable.

【0029】更に、第4の成分として、W,Mo,クロ
ム(Cr)等の金属を着色成分として2重量%以下の割
合で含有させても良い。
Further, as a fourth component, a metal such as W, Mo, chromium (Cr) or the like may be contained as a coloring component in a proportion of 2% by weight or less.

【0030】本発明では、酸化アルミニウム以外の成分
は、酸化アルミニウム主結晶相の粒界に非晶質相あるい
は結晶相として存在するが、熱伝導性を高めるうえで粒
界中に助剤成分を含有する結晶相が形成されていること
が好ましい。
In the present invention, the components other than aluminum oxide are present as an amorphous phase or a crystal phase at the grain boundaries of the main crystal phase of aluminum oxide, but an auxiliary component is added to the grain boundaries to enhance the thermal conductivity. It is preferable that a contained crystal phase is formed.

【0031】また、酸化アルミニウム主結晶相は、粒状
または柱状の結晶として存在するが、これら主結晶相の
平均結晶粒径は1.5〜5μmであることが好ましい。
なお、主結晶相が柱状結晶から成る場合、その平均結晶
粒径は短軸径に基くものである。この主結晶相の平均結
晶粒径は、その粒径が1.5μm未満であると、高熱伝
導化が難しく、平均粒径が5μmを超えると、入出力端
子5に要求される強度が得難くなるため上記範囲が好適
である。
The aluminum oxide main crystal phase exists as granular or columnar crystals, and the average crystal grain size of these main crystal phases is preferably 1.5 to 5 μm.
When the main crystal phase is composed of columnar crystals, the average crystal grain size is based on the minor axis diameter. When the average crystal grain size of the main crystal phase is less than 1.5 μm, it is difficult to increase the thermal conductivity, and when the average grain size exceeds 5 μm, it is difficult to obtain the strength required for the input / output terminal 5. Therefore, the above range is preferable.

【0032】また、入出力端子5に形成される線路導体
8は、Cuと、Wおよび/またはMoとの複合材料を主
成分とする導体から成り、上記誘電体と同時焼成により
形成されたものである。
The line conductor 8 formed on the input / output terminal 5 is made of a conductor whose main component is a composite material of Cu, W and / or Mo, and is formed by co-firing with the dielectric. It is.

【0033】更に、線路導体8の表面には、酸化による
腐食防止、ワイヤボンディング性、半田との濡れ性、お
よび線路導体8の抵抗低化のために、金(Au),C
u,チタン(Ti),ニッケル(Ni)およびパラジウ
ム(Pd)の群から選ばれる少なくとも1種からなる金
属層が無電解めっき、電解めっき等の手段によって被着
されていることが好ましい。特に、耐食性の向上と低抵
抗化の点から、最表面はAuから成ることがより好まし
い。
Further, on the surface of the line conductor 8, gold (Au), C is used to prevent corrosion due to oxidation, wire bonding property, wettability with solder, and lower the resistance of the line conductor 8.
It is preferable that at least one metal layer selected from the group consisting of u, titanium (Ti), nickel (Ni) and palladium (Pd) is applied by means of electroless plating, electrolytic plating or the like. In particular, the outermost surface is more preferably made of Au from the viewpoint of improving corrosion resistance and reducing resistance.

【0034】本発明の線路導体8は、Cuを10〜70
体積%、Wおよび/またはMoを30〜90体積%の割
合で含有して成るものである。即ち、線路導体8の低抵
抗化、上記誘電体との同時焼結性および線路導体8の保
形性を維持するうえで、Cuを40〜60体積%、Wお
よび/またはMoを40〜60体積%とすることがよ
く、この場合シート抵抗を8mΩ/□以下に低減でき、
より好適である。
The line conductor 8 of the present invention has a Cu content of 10 to 70%.
%, W and / or Mo in a proportion of 30 to 90% by volume. That is, in order to reduce the resistance of the line conductor 8, maintain co-sintering with the dielectric, and maintain shape retention of the line conductor 8, Cu is 40 to 60% by volume, and W and / or Mo is 40 to 60%. % By volume. In this case, the sheet resistance can be reduced to 8 mΩ / □ or less,
More preferred.

【0035】これは、線路導体8におけるCu量が10
体積%未満であり、Wおよび/またはMo量が90体積
%を超えると、線路導体8の抵抗が高くなる。また、C
u量が70体積%を超え、Wおよび/またはMo量が3
0体積%未満になると、線路導体8の保形性が低下し、
線路導体8ににじみ等が発生したり、溶融したCuによ
り線路導体8が凝集して断線を生じるとともに誘電体と
線路導体8との熱膨張差により線路導体8が剥離を生じ
てしまう。
This is because the amount of Cu in the line conductor 8 is 10
If it is less than volume% and the amount of W and / or Mo exceeds 90 volume%, the resistance of the line conductor 8 increases. Also, C
u amount exceeds 70% by volume, and W and / or Mo amount is 3%.
When the volume is less than 0% by volume, the shape retention of the line conductor 8 decreases,
The line conductor 8 is bleeding or the like, and the line conductor 8 is aggregated by the molten Cu to cause disconnection, and the line conductor 8 is separated due to a difference in thermal expansion between the dielectric and the line conductor 8.

【0036】一方、線路導体8は、Wおよび/またはM
oが平均粒径1〜10μmの球状あるいは数個の粒子に
よる焼結粒子としてCuから成るマトリックス(母材)
中に分散含有されていることが好適である。これは、平
均粒径が1μmより小さいと、線路導体8の保形性が劣
化し易くなり、組織が多孔質化して抵抗値が高くなる。
他方、10μmを超えると、Cuから成るマトリックス
がWやMoの粒子によって分断されてしまい、抵抗値が
高くなったり、Cu成分の分離によりにじみが発生する
恐れがある。より好ましくは、Wおよび/またはMoの
平均粒径は1.3〜5μm、特に好ましくは1.3〜3
μmがよい。
On the other hand, the line conductor 8 is formed of W and / or M
o is a matrix (base material) made of Cu as sintered particles of spherical or several particles having an average particle diameter of 1 to 10 μm.
It is preferable that they are dispersed and contained therein. If the average particle size is smaller than 1 μm, the shape retention of the line conductor 8 is likely to be deteriorated, the structure becomes porous, and the resistance value is increased.
On the other hand, when the thickness exceeds 10 μm, the matrix made of Cu is divided by the particles of W or Mo, which may increase the resistance value or cause bleeding due to separation of the Cu component. More preferably, the average particle size of W and / or Mo is 1.3-5 μm, particularly preferably 1.3-3.
μm is good.

【0037】更に、線路導体8中には、誘電体との密着
性を改善するために、誘電体を構成するセラミックを主
成分としたセラミックス成分、あるいは誘電体組成と同
一組成のセラミック成分を0.05〜2体積%の割合で
含有させることが好ましい。
Further, in order to improve the adhesion to the dielectric, a ceramic component mainly composed of a ceramic constituting the dielectric or a ceramic component having the same composition as that of the dielectric is contained in the line conductor 8. It is preferable to contain at a rate of 0.05 to 2% by volume.

【0038】なお、本発明の入出力端子5においては、
Cuの融点を超える温度で誘電体と同時焼成すると、線
路導体8中のCu成分が誘電体中に拡散する場合がある
が、線路導体8の周囲の誘電体へのCuの拡散距離は3
0μm以下、特に10μm以下とするのが好ましく、こ
れは焼成条件等を選択することにより拡散距離を制御で
きる。
In the input / output terminal 5 of the present invention,
When co-firing with the dielectric at a temperature exceeding the melting point of Cu, the Cu component in the line conductor 8 may diffuse into the dielectric, but the diffusion distance of Cu to the dielectric around the line conductor 8 is 3
The thickness is preferably 0 μm or less, particularly preferably 10 μm or less. The diffusion distance can be controlled by selecting firing conditions and the like.

【0039】線路導体8中のCu成分の誘電体中への拡
散距離が20μmを超えると、線路導体8間の絶縁性が
低下し、線路導体8としての信頼性が低下する。従っ
て、上記拡散距離を20μm以下に制御することによ
り、線路導体8間の最小線間距離を100μm以下、と
りわけ90μm以下として、線路導体8の高密度配線化
が可能となる。
When the diffusion distance of the Cu component in the line conductor 8 into the dielectric exceeds 20 μm, the insulation between the line conductors 8 decreases, and the reliability as the line conductor 8 decreases. Therefore, by controlling the diffusion distance to 20 μm or less, the minimum line-to-line distance between the line conductors 8 can be set to 100 μm or less, particularly 90 μm or less, and high-density wiring of the line conductors 8 can be realized.

【0040】また、本発明の半導体パッケージ1を構成
する入出力端子5は、その下面全面に線路導体8と同様
の金属層が形成され、線路導体8の線路方向と略平行な
側面にも同様の金属層が形成される。
The input / output terminals 5 constituting the semiconductor package 1 of the present invention have the same metal layer as that of the line conductor 8 formed on the entire lower surface thereof, and the same applies to the side surfaces of the line conductor 8 which are substantially parallel to the line direction. Is formed.

【0041】このような線路導体8や金属層は、例えば
WやMo等の金属粉末に有機溶剤、溶媒を添加混合して
得た金属ペーストを、平板部9用のセラミックグリーン
シートに周知のスクリーン印刷法等により所定のパター
ンに印刷塗布しておき、焼成することにより形成され
る。
For such a line conductor 8 and a metal layer, a metal paste obtained by adding an organic solvent and a solvent to a metal powder such as W or Mo is mixed with a known screen on a ceramic green sheet for the flat plate portion 9. It is formed by printing and applying a predetermined pattern by a printing method or the like, followed by baking.

【0042】また、立壁部10は、平板部9と同様の誘
電体から成り、その上面全面に線路導体8と同様の金属
層が形成されるとともに、取付部6の内周面に接合され
る面にも金属層が形成されている。この金属層は、線路
導体8等と同様の方法により金属ペーストを所定パター
ンに印刷塗布し焼成することにより形成される。
The standing wall portion 10 is made of the same dielectric material as the flat plate portion 9, a metal layer similar to the line conductor 8 is formed on the entire upper surface thereof, and is joined to the inner peripheral surface of the mounting portion 6. A metal layer is also formed on the surface. This metal layer is formed by printing and applying a metal paste in a predetermined pattern in the same manner as for the line conductor 8 and the like, followed by firing.

【0043】更に、入出力端子5の線路導体8が金属枠
体7の外側に導出される部位には、外部電気回路と入出
力端子5との高周波信号の入出力を行なうための、Fe
−Ni−Co合金等の金属材料から成るリード端子16
が、銀ロウ等のロウ材で接合される。
Further, a portion where the line conductor 8 of the input / output terminal 5 is led out of the metal frame 7 is provided with a Fe for inputting / outputting a high-frequency signal between the external electric circuit and the input / output terminal 5.
-Lead terminal 16 made of a metal material such as a Ni-Co alloy
Are joined with a brazing material such as a silver brazing material.

【0044】かくして得られた入出力端子5は、Fe−
Ni−Co合金やCu−W合金等の金属材料から成る基
体4に接合された金属枠体7の側部に形成された取付部
6に、銀ロウ等のロウ材により嵌着接合され、金属枠体
7の一部となって内外を気密に仕切るとともに金属枠体
7の内外を導通させる導電路として半導体パッケージ1
が構成される。
The input / output terminal 5 obtained in this way is
A metal material 7 such as a Ni-Co alloy or a Cu-W alloy is fitted and joined to a mounting portion 6 formed on a side of a metal frame 7 joined to a base 4 made of a metal material such as a Cu-W alloy using a brazing material such as silver brazing. The semiconductor package 1 serves as a conductive path that forms a part of the frame 7 and hermetically separates the inside and outside from each other and conducts the inside and outside of the metal frame 7.
Is configured.

【0045】次に、本発明の半導体パッケージ1を構成
する入出力端子5の製造方法についてその一例を具体的
に説明する。
Next, an example of a method for manufacturing the input / output terminals 5 constituting the semiconductor package 1 of the present invention will be specifically described.

【0046】[1]まず、入出力端子5の平板部9と立
壁部10を構成する誘電体の主成分となるAl23原料
粉末として、平均粒径が0.5〜2.5μm、好ましく
は0.5〜2μmの粉末を用いる。これは、平均粒径が
0.5μm未満場合、そのような微粉末は取り扱いが難
しく、また粉末のコストが高くなり、2.5μmより大
きくなると、1500℃以下の低温での焼成が困難とな
るためである。
[1] First, as an Al 2 O 3 raw material powder which is a main component of the dielectric material constituting the flat plate portion 9 and the vertical wall portion 10 of the input / output terminal 5, the average particle size is 0.5 to 2.5 μm. Preferably, a powder of 0.5 to 2 μm is used. This is because when the average particle size is less than 0.5 μm, such fine powder is difficult to handle, and the cost of the powder is high. When the average particle size is more than 2.5 μm, it is difficult to fire at a low temperature of 1500 ° C. or less. That's why.

【0047】[2]次に、上記Al23原料粉末に対し
て、第2の成分としてMnO2を2〜15重量%、好ま
しくは3〜10重量%の割合で添加する。また、第3の
成分としてSiO2およびMgO,CaO,SrO等の
アルカリ土類元素の1種以上を酸化物換算で0.1〜4
重量%、より好ましくは0.2〜2.5重量%の割合で
添加する。更に、第4の成分としてW,Mo,Cr等の
遷移金属の金属粉末やその酸化物粉末等を、着色成分と
して金属換算で2重量%以下の割合で添加する。
[2] Next, MnO 2 is added as a second component to the Al 2 O 3 raw material powder at a ratio of 2 to 15% by weight, preferably 3 to 10% by weight. Further, as a third component, one or more of SiO 2 and one or more alkaline earth elements such as MgO, CaO, and SrO are used in an amount of 0.1 to 4 in terms of oxide.
%, More preferably 0.2 to 2.5% by weight. Further, as a fourth component, a metal powder of a transition metal such as W, Mo, Cr or the like or an oxide powder thereof is added as a coloring component at a ratio of 2% by weight or less in terms of metal.

【0048】なお、上記各酸化物を添加する際、酸化物
粉末以外に焼成することにより酸化物を形成し得る炭酸
塩、硝酸塩、酢酸塩等で添加しても良い。
When the above oxides are added, they may be added with carbonates, nitrates, acetates or the like which can form oxides by firing other than oxide powder.

【0049】[3]その後、この混合粉末を周知の成形
方法によりシート状の成形体を作成する。具体的には、
この混合粉末に有機バインダーや溶媒を添加してで泥し
ょう物を作製した後、泥しょう物をドクターブレード法
によりシート状に成形したり、あるいはこの混合粉末に
有機バインダーを添加しプレス成形法や圧延成形法によ
り所定の厚さのシート状成形体を作製する。
[3] Thereafter, a sheet-like molded body is formed from the mixed powder by a known molding method. In particular,
An organic binder or a solvent is added to the mixed powder to prepare a slurry, and then the slurry is formed into a sheet by a doctor blade method, or an organic binder is added to the mixed powder and a press molding method is performed. A sheet-like molded body having a predetermined thickness is produced by a rolling molding method.

【0050】[4]得られたシート状成形体に、平均粒
径が1〜10μmのCu粉末を10〜70体積%、平均
粒径が1〜10μmのWおよび/またはMo粉末を30
〜90体積%の割合で含有した導体ペーストを塗布す
る。例えば、この導体ペーストを平板部9用のシート状
成形体の表面に、スクリーン印刷法、グラビア印刷法等
の手法により線路導体8となるように配線パターンを印
刷塗布する。また、この導体ペースト中には、平板部9
の誘電体との密着性を高めるために、Al23粉末や、
誘電体を構成する酸化物セラミックス成分と同一組成の
セラミック粉末を、0.05〜2体積%の割合で添加す
ることも可能である。
[4] 10 to 70% by volume of Cu powder having an average particle size of 1 to 10 μm and 30% of W and / or Mo powder having an average particle size of 1 to 10 μm
A conductor paste containing at a rate of about 90% by volume is applied. For example, a wiring pattern is printed and applied on the surface of the sheet-shaped molded body for the flat plate portion 9 by a method such as a screen printing method or a gravure printing method so as to become the line conductor 8. Also, in the conductive paste, a flat plate portion 9 is provided.
Al 2 O 3 powder or
It is also possible to add a ceramic powder having the same composition as the oxide ceramic component constituting the dielectric at a ratio of 0.05 to 2% by volume.

【0051】[5]その後、上記シート状成形体を平板
部9および立壁部10の形状となるように打ち抜き加工
し、平板部9の所定位置に立壁部10を積層圧着し、次
いでこの積層体を非酸化性雰囲気中、焼成最高温度が1
200〜1500℃の温度となる条件で焼成し一体化す
る。このとき、焼成温度が1200℃より低いと、通常
の原料粉末を用いた場合、酸化アルミニウム質焼結体の
相対密度が95%以上となるように緻密化できず、熱伝
導性や強度が低下する。1500℃を超えると、導体ペ
ースト中のWやMo自体の焼結が進み、マトリックスで
あるCu中に均一にW,Moが存在する均質な組織の導
体層が得られず、低い抵抗値を維持することができず、
シート抵抗を8mΩ/□以下とすることが困難になる。
[5] Then, the sheet-like molded body is punched into the shape of the flat plate portion 9 and the standing wall portion 10, and the standing wall portion 10 is laminated and pressed at a predetermined position of the flat plate portion 9, and then the laminated body is formed. In a non-oxidizing atmosphere, the maximum firing temperature is 1
It is fired and integrated under the condition of a temperature of 200 to 1500 ° C. At this time, if the firing temperature is lower than 1200 ° C., when using ordinary raw material powder, the aluminum oxide sintered body cannot be densified to have a relative density of 95% or more, and the thermal conductivity and strength are reduced. I do. When the temperature exceeds 1500 ° C., sintering of W and Mo itself in the conductor paste proceeds, and a conductor layer having a uniform structure in which W and Mo are uniformly present in Cu as a matrix cannot be obtained, and a low resistance value is maintained. Can not do
It becomes difficult to reduce the sheet resistance to 8 mΩ / □ or less.

【0052】また、1500℃を超えると、酸化物セラ
ミックスの主結晶相の粒径が大きくなって異常粒成長が
発生したり、Cuがセラミックス中に拡散する際の経路
である粒界の長さが短くなるとともに、拡散速度も速く
なる。その結果、拡散距離を30μm以下に抑制するこ
とが困難となり、抵抗値が増加することになる。従っ
て、上記焼成温度は1250〜1400℃の範囲がより
好適である。
If the temperature exceeds 1500 ° C., the grain size of the main crystal phase of the oxide ceramics increases, abnormal grain growth occurs, and the length of the grain boundary, which is a path when Cu diffuses into the ceramics, is increased. And the diffusion rate increases. As a result, it becomes difficult to suppress the diffusion distance to 30 μm or less, and the resistance value increases. Therefore, the firing temperature is more preferably in the range of 1250 to 1400 ° C.

【0053】更に、焼成時の非酸化性雰囲気としては、
窒素、あるいは窒素と水素の混合雰囲気であることが好
ましい。とりわけ、線路導体8中のCuの拡散を抑制す
る点で、窒素および水素を含み、露点が10℃以下、特
に−10℃以下の非酸化性雰囲気であることが好まし
い。また、この非酸化性雰囲気には、アルゴンガス等の
不活性ガスを混入しても良い。即ち、非酸化性雰囲気の
露点が10℃より高いと、焼成中に酸化物セラミックス
と雰囲気中の水分とが反応して酸化膜を形成し、この酸
化膜と導体中のCuが反応してしまい、線路導体8の低
抵抗化の妨げとなるのみならず、Cuの拡散を助長して
しまうからである。
Further, as the non-oxidizing atmosphere at the time of firing,
The atmosphere is preferably nitrogen or a mixed atmosphere of nitrogen and hydrogen. In particular, from the viewpoint of suppressing the diffusion of Cu in the line conductor 8, it is preferable that the non-oxidizing atmosphere contains nitrogen and hydrogen and has a dew point of 10 ° C. or less, particularly −10 ° C. or less. Further, an inert gas such as an argon gas may be mixed in the non-oxidizing atmosphere. That is, if the dew point of the non-oxidizing atmosphere is higher than 10 ° C., the oxide ceramic reacts with moisture in the atmosphere during firing to form an oxide film, and the oxide film reacts with Cu in the conductor. This is because not only does this hinder lowering of the resistance of the line conductor 8 but also promotes the diffusion of Cu.

【0054】[6]その後、同時焼成された入出力端子
5の線路導体8に対して、無電解めっき法、または電解
めっき法により、先に詳述したようにAu,Cu,T
i,NiおよびPdの群から選ばれる少なくとも1種の
金属層を0.5〜10μmの厚さで被着する。
[6] Thereafter, the line conductors 8 of the input / output terminals 5 which have been co-fired are plated with Au, Cu, T by electroless plating or electrolytic plating as described in detail above.
At least one metal layer selected from the group consisting of i, Ni and Pd is applied in a thickness of 0.5 to 10 μm.

【0055】そして、線路導体8に対して、外部電気回
路と入出力端子5との高周波信号の入出力を行なうため
の、Fe−Ni−Co合金やCu−W等の金属材料から
成るリード端子16が、銀ロウ等のロウ材で接合され
る。
A lead terminal made of a metal material such as an Fe-Ni-Co alloy or Cu-W for inputting / outputting a high-frequency signal between the external electric circuit and the input / output terminal 5 with respect to the line conductor 8. 16 are joined with a brazing material such as silver brazing.

【0056】以上のような組成物を詳述した焼成条件に
より焼成することにより、入出力端子として10GHz
における透過損失を0.4dB/cm以下、20GHz
における透過損失を0.7dB/cm以下とすることが
できた。
By baking the above composition under the baking conditions described in detail, a 10 GHz
Transmission loss at 0.4 GHz / cm, 20 GHz
At 0.7 dB / cm or less.

【0057】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ず、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変
更を行うことは何等支障ない。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and that various changes may be made without departing from the scope of the present invention.

【0058】[0058]

【発明の効果】本発明は、基体と金属枠体と入出力端子
とから主として構成される半導体パッケージであって、
入出力端子は主成分として酸化アルミニウムを84〜9
0重量%および酸化マンガンを2〜6重量%含有し、線
路導体は銅を10〜70体積%、タングステンおよび/
またはモリブデンを30〜90体積%含有していること
から、高熱伝導性の酸化アルミニウム質焼結体から成る
誘電体に同時焼成により低抵抗のCuを含有する線路導
体を微細パターンでかつ高密度に形成することができ、
入出力端子をより小型化できる。更に、入出力端子を通
過する高周波信号の反射損失が有効に防止でき、高周波
信号の伝送特性が改善された半導体パッケージを実現で
きる。
According to the present invention, there is provided a semiconductor package mainly comprising a base, a metal frame, and input / output terminals.
Input / output terminals are 84-9 as aluminum oxide as the main component
0% by weight and 2-6% by weight of manganese oxide, and the line conductor contains 10-70% by volume of copper, tungsten and / or
Alternatively, since the molybdenum is contained in an amount of 30 to 90% by volume, a line conductor containing low-resistance Cu is formed in a fine pattern and at a high density by simultaneous firing on a dielectric made of a highly thermally conductive aluminum oxide sintered body. Can be formed,
I / O terminals can be made more compact. Furthermore, reflection loss of a high-frequency signal passing through the input / output terminal can be effectively prevented, and a semiconductor package with improved high-frequency signal transmission characteristics can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の半導体パッケージについて実施の形態
の例を示す分解斜視図である。
FIG. 1 is an exploded perspective view showing an example of an embodiment of a semiconductor package of the present invention.

【図2】本発明の半導体パッケージにおける入出力端子
の斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view of an input / output terminal in the semiconductor package of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1:半導体パッケージ 2:半導体素子 3:載置部 4:基体 5:入出力端子 6:取付部 7:金属枠体 8:線路導体 9:平板部 10:立壁部 1: semiconductor package 2: semiconductor element 3: mounting portion 4: base 5: input / output terminal 6: mounting portion 7: metal frame 8: line conductor 9: flat plate portion 10: standing wall portion

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 上面に半導体素子が載置される載置部を
有する基体と、前記上面に前記載置部を囲繞するように
取着され、側部に切欠き部または貫通孔から成る入出力
端子の取付部が形成された金属枠体と、上面の一辺側か
ら対向する他辺側にかけて形成された複数の線路導体を
有する誘電体から成る平板部および該平板部の上面に前
記複数の線路導体を間に挟んで接合された誘電体から成
る立壁部から構成されるとともに前記取付部に嵌着され
て前記半導体素子と外部電気回路とを電気的に接続する
入出力端子とを具備した半導体素子収納用パッケージに
おいて、前記入出力端子は主成分として酸化アルミニウ
ムを84〜90重量%および酸化マンガンを2〜6重量
%含有し、前記線路導体は銅を10〜70体積%、タン
グステンおよび/またはモリブデンを30〜90体積%
含有していることを特徴とする半導体素子収納用パッケ
ージ。
1. A base having a mounting portion on which a semiconductor element is mounted on an upper surface, and a mounting portion attached to the upper surface so as to surround the mounting portion and having a cutout portion or a through hole on a side portion. A metal frame on which an attachment portion for an output terminal is formed, a flat plate portion made of a dielectric having a plurality of line conductors formed from one side of the upper surface to the other side opposite thereto, and the plurality of It has an input / output terminal formed of an upright wall portion made of a dielectric joined with a line conductor interposed therebetween and fitted to the mounting portion to electrically connect the semiconductor element and an external electric circuit. In the package for housing a semiconductor element, the input / output terminals contain 84 to 90% by weight of aluminum oxide and 2 to 6% by weight of manganese oxide as main components, and the line conductors contain 10 to 70% by volume of copper, tungsten and / or tungsten. Ma Or 30 to 90% by volume of molybdenum
A package for accommodating a semiconductor element, characterized by being contained.
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