JP2002279673A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 再生時のレーザパワーの調整分解能が相対的
に粗くなるという問題点を解決し、記録時と再生時にも
それぞれ最適なレーザパワー設定が可能な光ディスク装
置を提供する。 【解決手段】 レーザパワー設定電圧２８が基準電圧２
９以下の場合は低い利得に、設定電圧２８が基準電圧２
９以上の場合は高い利得に変換する折線型増幅回路１６
を設け、再生時は低利得領域を使うことによりレーザパ
ワーの調整分解能を可能にし、記録時は高利得領域を使
うことによりレーザパワーの高出力を可能にするので、
最適なレーザーパワーの制御を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザパワーの設
定を最適に制御を行なう光ディスク装置に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えばＭＤ（ミニディスク）のよ
うな光ディスクに記録再生を行なう光ディスク装置が知
られている。これは、記録時には高出力のレーザ光をデ
ィスクに照射して光磁気記録を行ない、再生時には低出
力のレーザ光をディスクに照射し、ディスク上に記録さ
れているデータ（符号化された音声などの情報信号）に
より変調された反射光を受光素子で受光してデータの内
容を検出するものである。

【０００３】以下、従来の光ディスク装置について、Ｍ
Ｄを例に、図面を参照しながら説明する。図３は、従来
例における光ディスク装置の構成を示すブロック図であ
る。図３において、光ピックアップ４１は、レーザダイ
オード４２，信号検出用のフォトダイオード４３，モニ
ター用のフォトダイオード４４，検出用抵抗４５から構
成されており、レーザダイオード４２のカソード，フォ
トダイオード４３のアノードは接地され、フォトダイオ
ード４４は、カソードが電源に接続されアノードが抵抗
４５を介して接地されている。レーザダイオード４２か
ら出射されたレーザ光は、ディスク４６で反射されフォ
トダイオード４３で受光される。また、レーザダイオー
ド４２から出射されたレーザ光の一部は、ディスク４６
に関係なく直接フォトダイオード４４で受光される。

【０００４】ＰＮＰ型トランジスタ４７は、エミッタが
電源に接続されコレクタがレーザダイオード４２のアノ
ードに接続される。

【０００５】演算増幅器（ＯＰ）４８は電流電圧変換を
行うものであり、その反転入力端子はフォトダイオード
４３のカソードに、非反転入力端子はＤＣ電圧源４９に
接続されている。ＤＣ電圧源４９は、例えば電源電圧の
１／２の電圧に設定されている。演算増幅器４８の出力
用端子５０と反転入力端子は抵抗５１を介して接続され
ている。

【０００６】設定電圧発生回路５２は、レーザパワーを
設定するＤＣ電圧を出力するものであり、例えば、レー
ザパワーの設定値に応じたパルス幅変調波形を平滑した
電圧を出力するように構成されている。なお再生時には
設定電圧発生回路５２からは低い電圧が出力され、記録
時には再生時の数倍ないし約１０倍の電圧が出力され
る。

【０００７】演算増幅器５３は、非反転入力端子はフォ
トダイオード４４のアノードに接続され、反転入力端子
は設定電圧発生回路５２の出力に接続されている。演算
増幅器５３の出力は抵抗５４を介してトランジスタ４７
のベースに接続されている。

【０００８】このように構成された従来例における光デ
ィスク装置の動作を説明すると、レーザダイオード４２
から出射されたレーザ光はディスク４６を照射し、その
反射光がフォトダイオード４３に受光され電流に変換さ
れる。さらにこの変換された電流は演算増幅器４８と抵
抗５１で電流電圧変換され端子５０に出力される。この
際、ディスク４６からの反射光に含まれるデータ信号あ
るいはサーボ系信号が端子５０に出力される。なお通常
は、反射光に含まれるデータ信号やサーボ系信号は、そ
れぞれ専用のフォトダイオードおよび電流電圧変換回路
で再生される場合が多いが、何れも周知の技術なので説
明を割愛する。

【０００９】一方レーザダイオード４２から出射された
レーザ光の一部はフォトトランジスタ４４で受光される
ことにより、抵抗４５の両端にはレーザダイオード４２
のレーザパワーに比例した電圧が出力される。抵抗４５
の両端電圧と設定電圧発生回路５２の出力電圧との誤差
が０になるように演算増幅器５３，抵抗５４，トランジ
スタ４７が構成されているので、レーザダイオード４２
に負帰還がかかりレーザダイオードのレーザパワーがコ
ントロールされる。

【００１０】このように、レーザダイオード４２のレー
ザパワーは設定電圧回路５２の出力電圧に比例関係す
る。

【００１１】再生時の場合は設定電圧発生回路５２の出
力電圧が低いので、レーザダイオード４２のレーザパワ
ーは低い。記録時は再生時に比べて、レーザパワーが数
倍から約１０倍になるように設定電圧発生回路５２の出
力電圧が設定されている。

【００１２】

【発明の解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、再生時のように低いレーザパワーを微調整
しようとした場合、設定電圧の精度を充分に確保しなけ
ればならないという問題がある。特に設定電圧発生回路
５２をパルス幅変調やＤＡコンバータで構成している場
合、再生用のレーザパワーに対する調整分解能が相対的
に粗くなり、装置の性能が低下するという事態が生じ
る。これに対し低出力の調整分解能を重視するとレーザ
パワーの最大出力が制限され、またレーザパワーの最大
出力と調整分解能との両立を図ろうとすると、ビット数
が増え、コストが上昇したり高いクロック周波数が必要
になるという問題があった。

【００１３】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
であり、記録時のような高出力の場合や再生時のような
低出力の場合で、それぞれ最適なレーザパワー設定が可
能な光ディスク装置を提供することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光ディスク装置は、レーザパワーを設定する
設定電圧を発生する設定電圧発生回路と、基準電圧を発
生する基準電圧源と、設定電圧が基準電圧より低い場合
は設定電圧を第１の利得で増幅して第１の変換電圧を出
力し、設定電圧が基準電圧より高い場合は第１の利得よ
り高利得である第２の利得で設定電圧を増幅して第２の
変換電圧を出力する折線型増幅回路と、第１あるいは第
２の変換電圧に比例したレーザパワーを発生してディス
クを照射するレーザ光発生回路とを備える。

【００１５】この構成によれば、レーザパワーの最大出
力値を低下させることなく、低出力におけるレーザパワ
ーの調整精度が向上する。

【００１６】

【発明の実施の形態】本発明の第１の発明は、レーザパ
ワーを設定する設定電圧を発生する設定電圧発生回路
と、基準電圧を発生する基準電圧源と、前記設定電圧が
前記基準電圧より低い場合は前記設定電圧を第１の利得
で増幅して第１の変換電圧を出力し、前記設定電圧が前
記基準電圧より高い場合は前記第１の利得より高利得で
ある第２の利得で前記設定電圧を増幅して第２の変換電
圧を出力する折線型増幅回路と、前記第１あるいは第２
の変換電圧に比例したレーザパワーを発生してディスク
を照射するレーザ光発生回路とを備えたものである。

【００１７】この構成によれば、折線型増幅回路は、低
利得領域と高利得領域とを有するので、レーザパワーの
最大出力値を低下させることなく、低出力におけるレー
ザパワーの調整精度が向上する。

【００１８】また、本発明の第２の発明は、上記発明に
加え、折線型増幅回路は、第１の変換電圧が再生用のレ
ーザパワーに対応するように第１の利得が設定され、第
２の変換電圧が記録用のレーザパワーに対応するように
第２の利得が設定され、また、第１と第２の利得の比が
ほぼ再生と記録のレーザパワーの比になるように各利得
が設定されたことを特徴とする。

【００１９】この構成によれば、記録時のレーザパワー
の最大出力値を低下させることなく、再生時のレーザパ
ワーの調整精度が向上する。

【００２０】また、本発明の第３の発明は、上記発明に
加えて、基準電圧源の基準電圧を電源電圧の１／２に設
定することにより、基準電圧を新規に生成することなく
光ディスク装置で通常用いられている既存の電圧を流用
できるので、装置の複雑化やコストアップを防ぐことが
できる。

【００２１】また、本発明の第４の発明は、上記発明に
加えて、設定電圧発生回路が発生する設定電圧が電源電
圧に比例し、電源電圧源の基準電圧が電源電圧の１／２
に設定され、レーザーパワーに比例したモニター電圧を
発生するモニター回路を有し、そのモニター電圧が電源
電圧にほぼ比例した値を出力するように設定されている
ものである。

【００２２】この構成によれば、据置型光ディスク装置
とポータブル型光ディスク装置のように、電源電圧の大
きく異なるシステムでも装置（あるいは回路）を共用化
することができる。

【００２３】以下、本発明の実施の形態について、ＭＤ
を一例に、図面を参照しながら説明する。

【００２４】（実施の形態１）図１は本発明の実施の形
態１における光ディスク装置の構成を示すブロック図で
ある。図１において、光ピックアップ１は、レーザダイ
オード２，信号検出用のフォトダイオード３，モニター
用のフォトダイオード４，検出用抵抗５から構成されて
おり、レーザダイオード２のカソード，フォトダイオー
ド３のアノードは接地され、フォトダイオード４は、カ
ソードが電源（Ｖｃｃ）に接続されアノードが抵抗５を
介して接地されている。レーザダイオード２から出射さ
れたレーザ光は、ディスク６で反射されフォトダイオー
ド３で受光される。また、レーザダイオード２から出射
されたレーザ光の一部は、ディスク６に関係なく直接フ
ォトダイオード４で受光される。

【００２５】ＰＮＰ型トランジスタ７は、エミッタが電
源（Ｖｃｃ）に接続されコレクタがレーザダイオード２
のアノードに接続される。

【００２６】演算増幅器８は電流電圧変換を行うもので
あり、反転入力端子はフォトダイオード３のカソード
に、非反転入力端子はＤＣ電圧源９に接続されている。
ＤＣ電圧源９は、例えば電源（Ｖｃｃ）の１／２の電圧
に設定されている。演算増幅器８の出力用端子１０と反
転入力端子は抵抗１１を介して接続されている。なお通
常は、反射光に含まれるデータ信号やサーボ系信号は、
それぞれ専用のフォトダイオードおよび電流電圧変換回
路で再生される場合が多いが、何れも周知の技術なので
説明を割愛する。

【００２７】演算増幅器１２は、非反転入力端子がフォ
トダイオード４のアノードに接続され、出力が抵抗１３
を介してトランジスタ７のベースに接続されている。

【００２８】設定電圧発生回路１４は、レーザパワーを
設定するＤＣ電圧を出力するものであり、例えばレーザ
パワーの設定値に応じたパルス幅変調波形を平滑した直
流電圧を出力するように構成されている。

【００２９】基準電圧源１５は基準電圧（Ｖｒｅｆ）を
発生する。

【００３０】折線型増幅回路１６は、設定電圧発生回路
１４の出力電圧を変換するものであり、演算増幅器１
７，１８，１９、抵抗２０，２１，２２，２３，２４，
２５，２６、ダイオード２７から構成されている。な
お、２８，２９，３０，３１は、折線型増幅回路１６に
おける端子である。

【００３１】折線型増幅回路１６の各構成を具体的に説
明すると、演算増幅器１７の反転入力端子は抵抗２０，
２１および端子２８を介して設定電圧発生回路１４の出
力端子に接続され、抵抗２３は演算増幅器１７の反転入
力端子と出力端子３１間に接続され、抵抗２４は端子３
１と演算増幅器１８の反転入力端子間に接続され、抵抗
２５は電源（Ｖｃｃ）と演算増幅器１８の反転入力端子
間に接続され、抵抗２６は演算増幅器１８の反転入力端
子と出力端子３０間に接続されている。また抵抗２２
は、抵抗２０，２１の接続点と演算増幅器１９の反転入
力端子間に接続され、ダイオード２７は、アノードが演
算増幅器１９の出力端子にカソードが反転入力端子に接
続されている。

【００３２】端子３０は演算増幅器１２の反転出力端子
に接続され、基準電圧源１５は端子２９を介して、演算
増幅器１７，１８，１９の各非反転入力端子に接続され
ている。

【００３３】この構成により、演算増幅器１７と抵抗２
０，２１，２２，２３は反転増幅器を構成し、演算増幅
器１８と抵抗２４，２６は反転増幅器を構成し、演算増
幅器１９とダイオード２７は理想ダイオードを構成する
ことは明かである。なお抵抗２０，２１，２２，２３，
２４，２５，２６の抵抗値は、それぞれＲ１，Ｒ２，Ｒ
３，Ｒ４，Ｒ５，Ｒ６，Ｒ７とする。

【００３４】このように構成された光ディスク装置装置
の動作について、図２を参照しながら説明する。

【００３５】図２は本発明の実施の形態１における光デ
ィスク装置の動作説明図であり、同図（１）は、端子２
８に入力した設定電圧に対する端子３１，端子３０の電
圧をそれぞれ折線ａ，ｂで表したものであり、同図
（２）は設定電圧に対するレーザダイオード２のレーザ
パワーを表したものである。

【００３６】まず、折線型増幅回路１６の動作を説明す
る。端子２８における設定電圧が基準電圧Ｖｒｅｆと等
しい場合は、演算増幅器１７，１９の動作により端子３
１の出力電圧もＶｒｅｆである。

【００３７】端子２８における設定電圧がＶｒｅｆより
低い場合は、演算増幅器１９の反転入力端子の電圧はＶ
ｒｅｆにクランプされる。従って演算増幅器１７の入力
抵抗の合成値は（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ１・Ｒ２／Ｒ３）であ
り、端子３１電圧利得は、−Ｒ４／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ１
・Ｒ２／Ｒ３）である。

【００３８】次に端子２８における設定電圧がＶｒｅｆ
より高い場合は、演算増幅器１９の反転入力端子の電圧
はオープン状態となる。従って演算増幅器１７の入力抵
抗の合成値は（Ｒ１＋Ｒ２）であり、端子３１の電圧利
得は、−Ｒ４／（Ｒ１＋Ｒ２）となる。ここでＲ１，Ｒ
２，Ｒ３，Ｒ４の値を選ぶことにより端子３１の出力電
圧は、図２の（１）における折線ａを示す。

【００３９】さらに増幅器１８と抵抗２４，２６は−Ｒ
７／Ｒ５の電圧利得を示すので、Ｒ５，Ｒ６，Ｒ７の値
を選ぶことにより、端子３０の出力電圧は図２の（１）
における折線ｂに示すごとく、設定電圧０Ｖでは端子３
０の出力電圧が０Ｖとなり、設定電圧がＶｒｅｆ以上で
は端子３０の出力電圧の変化が増大する折線特性を示
す。

【００４０】さて、レーザダイオード２から出射された
レーザ光はディスク６を照射し、反射光がフォトダイオ
ード３に受光され電流に変換される。さらにこの変換さ
れた電流は演算増幅器８と抵抗１１で電流電圧変換され
端子１０に出力される。この際、ディスク６からの反射
光に含まれるデータ信号あるいはサーボ系信号が端子１
０に出力される。なお通常は、反射光に含まれるデータ
信号やサーボ系信号は、それぞれ専用のフォトダイオー
ドおよび電流電圧変換回路で再生される場合が多いが、
何れも周知の技術なので説明を割愛する。

【００４１】一方レーザダイオード２から出射されたレ
ーザ光の一部はフォトトランジスタ４で受光されること
により、抵抗５の両端にはレーザダイオード２のレーザ
パワーに比例した電圧が出力される。抵抗５の両端電圧
と端子３０の電圧との誤差が０になるように演算増幅器
１２，抵抗１３，トランジスタ７が構成されているの
で、レーザダイオード２に負帰還がかかりレーザダイオ
ードのレーザパワーがコントロールされる。このよう
に、レーザダイオード２のレーザパワーは端子３０の電
圧に比例する。

【００４２】なお、抵抗５の抵抗値を大きくすると演算
増幅器１２の非反転入力端子の電圧が上昇するのでレー
ザパワーが減少し、抵抗値を小さくするとレーザパワー
が増大する。すなわち抵抗５の値によりレーザパワーの
出力感度が増減する。端子電圧３０の出力電圧に対する
レーザパワーの出力感度は、抵抗５の値により予め調整
されている。

【００４３】この結果を図２の（２）示す。すなわち、
設定電圧０Ｖではレーザパワーが０Ｗとなり、設定電圧
がＶｒｅｆ以上ではレーザパワーの変化が増大する折線
特性を示す。

【００４４】このように本実施の形態によれば、設定電
圧発生回路１４から出力される設定電圧がＶｒｅｆより
低い場合はレーザダイオード２のレーザパワーの変化が
小さいので、低いレーザパワーにおいて設定電圧を変化
させたときにレーザパワーが相対的に大きく変化してし
まうという不都合を防止できる。

【００４５】（実施の形態２）次に本発明の実施の形態
２における光ディスク装置を、同じく図１，２を参照し
ながら説明する。

【００４６】図１において、設定電圧＝Ｖｃｃにおける
端子３０の出力電圧が、設定電圧＝Ｖｒｅｆの場合の出
力電圧に比べ、少なくとも数倍から約１０倍になるよう
に、抵抗２０，２１，２２，２３，２４，２５，２６の
各抵抗値が予め設定されている。さらに、設定電圧がＶ
ｒｅｆのときレーザダイオード２から出射されるレーザ
パワーが再生用レーザパワーよりやや大きくなるよう
に、抵抗５の抵抗値が設定されている。その他は、実施
の形態１で説明した構成と同一であり詳細な説明を省略
する。

【００４７】このような構成において、設定電圧Ｖｃｃ
における端子３０の出力電圧は、設定電圧Ｖｒｅｆの場
合に比べ少なくとも数倍から約１０倍なので、レーザダ
イオード２から出射されるレーザパワーについても、設
定電圧Ｖｃｃの場合には設定電圧Ｖｒｅｆの場合に比
べ、数倍から約１０倍となる。

【００４８】ところで、ＭＤのように記録再生を行なう
光ディスク装置においては、再生時のレーザパワーに対
し記録時のレーザパワーは数倍から約１０倍である。し
たがって、設定電圧がＶｒｅｆ以下においてレーザダイ
オード２は再生用の低いレーザパワーを出射し、設定電
圧がＶｒｅｆ以上においてレーザダイオード２は記録用
の高いレーザパワーを出射する。

【００４９】このように本実施の形態によれば、記録用
と再生用のレーザパワーを実現しようとする場合、それ
ぞれ専用の装置を設けることなく、再生時には低いレー
ザパワーの調整をきめ細かく行うことができ、記録時に
は高出力のレーザパワーを出射することができる。

【００５０】なお、図１の抵抗２０，２１，２２，２
３，２４，２５，２６の各抵抗値を適当に選択すること
により、設定電圧発生回路１４の設定電圧がＶｒｅｆよ
り低い場合と高い場合におけるレーザダイオード２が出
射するレーザパワーの変化の比率が、ほぼ再生時と記録
時のレーザパワーの比になるように設定してもよい。こ
の場合、Ｖｒｅｆ以下の設定電圧における再生用レーザ
パワーと、Ｖｒｅｆ以上の設定電圧における記録用レー
ザパワーについて、それぞれ設定電圧の変化に対するレ
ーザパワーの相対的な変化率を近づけることができ、設
定電圧発生回路１４の制御方法がシンプルになる。

【００５１】（実施の形態３）次に本発明の実施の形態
３における光ディスク装置を、同じく図１，２を参照し
ながら説明する。

【００５２】図１において、電圧源１５から出力される
基準電圧Ｖｒｅｆは、電源（Ｖｃｃ）の１／２の電圧に
設定されている。その他は、実施の形態１で説明した構
成と同一であり詳細な説明を省略する。

【００５３】一般にＭＤのような光ディスク装置では、
ＤＣ電圧源９のような電源電圧の１／２の電圧が広く使
用されている。

【００５４】本実施の形態によれば、電源（Ｖｃｃ）の
分圧等によって基準電圧Ｖｒｅｆが容易に生成できる
上、ＤＣ電圧源９など他の回路と共用化することがで
き、装置の合理化と安定化を図ることができる。

【００５５】ここで一例として、Ｖｃｃ＝２Ｖ、Ｖｒｅ
ｆ＝１Ｖ、Ｒ１＝１３０Ω、Ｒ２＝７０Ω、Ｒ３＝７
Ω、Ｒ４＝１５０Ω、Ｒ５＝Ｒ７＝９、Ｒ６＝１０Ω、
端子３０の出力電圧１Ｖあたりレーザダイオード２のレ
ーザパワー出力が１０ｍＷ、記録用レーザパワーが４．
５ｍＷ、再生用レーザパワーが０．６ｍＷとなる光ディ
スク装置を想定してみる。

【００５６】これらの条件を図２の（１），（２）に当
てはめてみると、設定電圧０において端子３０の出力電
圧は０Ｖ，レーザパワー０Ｗであり、設定電圧１Ｖ（Ｖ
ｒｅｆ）において端子３０の出力電圧は０．１Ｖ，レー
ザパワー１ｍＷであり、設定電圧２Ｖ（Ｖｃｃ）におい
て端子３０の出力電圧は０．８５Ｖ，レーザパワー８．
５ｍＷとなる。

【００５７】また、設定電圧０．６Ｖにおいて端子３０
の出力電圧は０．０６Ｖ，レーザパワーは０．６ｍＷで
あり、設定電圧１．４６７Ｖにおいて端子３０の出力電
圧は０．４５Ｖ，レーザパワーは４．５ｍＷとなる。

【００５８】さらに上記の状況において、再生用および
記録用レーザパワーの各設定電圧付近で設定電圧を０．
１Ｖ変化させると再生用レーザパワーは０．１ｍＷ変化
し、記録用レーザパワーは０．７５ｍＷ変化する。当初
に設定されたレーザパワーに対する変化率で比較する
と、再生用レーザパワーも記録用レーザパワーも共に、
約１７％／０．１Ｖとなる。

【００５９】このように本実施の形態によれば、設定電
圧が０，Ｖｒｅｆ，Ｖｃｃに極端に近づかないような範
囲で再生用と記録用のレーザパワーをそれぞれ設定でき
るので、広範囲のレーザパワーの調整が容易となる。さ
らに設定電圧の変化に対するレーザパワーの変化率も再
生と記録でほぼ同等になるので、レーザパワーの調整の
方法が普遍的でシンプルとなる。

【００６０】（実施の形態４）次に本発明の実施の形態
４における光ディスク装置を、同じく図１，２を参照し
ながら説明する。

【００６１】図１において、設定電圧発生回路１４は、
ディジタル設定値に応じたパルス幅変調波が生成され、
これを平滑した設定電圧を出力するものである。その他
は、実施の形態１で説明した構成と同一であり詳細な説
明を省略する。

【００６２】一般にパルス幅変調波形は、波高値が電源
電圧（Ｖｃｃ）となる関係上、平滑して出力される設定
電圧は電源電圧（Ｖｃｃ）に比例するという特性を有す
る。従って同一のディジタル値に対し、設定電圧、基準
電圧（Ｖｒｅｆ）、端子３０の出力電圧は電源電圧（Ｖ
ｃｃ）に比例する。

【００６３】ところが、抵抗５は電源電圧に比例した抵
抗値に再設定することにより、演算増幅器１２の両入力
端子は電源電圧に比例して増減するものの電圧差が生じ
ない。換言すれば異なる電源電圧においても、ディジタ
ル設定値に対するレーザパワーが変化しない。

【００６４】なお、抵抗５は、電源電圧に応じた複数の
抵抗値をスイッチ等を用いて切換えるように構成しても
よい。

【００６５】本実施の形態によれば、抵抗５を電源電圧
に比例する抵抗値に再設定することで、高電源電圧で使
用される据置型光ディスク装置や、低電源電圧で使用さ
れるポータブル型光ディスク装置において、装置をほと
んど共用化できる利点がある。

【００６６】なお、上記各実施の形態において、光ディ
スク装置として、ＭＤを例に説明したが、他の光ディス
クを用いたものでも良いことは言うまでもない。

【００６７】

【発明の効果】以上のように、レーザパワーを設定する
設定電圧を発生する設定電圧発生回路と、基準電圧を発
生する基準電圧源と、設定電圧が基準電圧より低い場合
は設定電圧を第１の利得で増幅して第１の変換電圧を出
力し、設定電圧が基準電圧より高い場合は第１の利得よ
り高利得である第２の利得で設定電圧を増幅して第２の
変換電圧を出力する折線型増幅回路と、第１あるいは第
２の変換電圧に比例したレーザパワーを発生してディス
クを照射するレーザ光発生回路とを備え、さらに、折線
型増幅回路は、第１の変換電圧が再生用のレーザパワー
に対応するように第１の利得が設定され、第２の変換電
圧が記録用のレーザパワーに対応するように第２の利得
が設定され、また、第１と第2の利得の比がほぼ再生と
記録のレーザパワーの比になるように各利得が設定され
たことにより、記録時のレーザパワーの最大出力値を低
下させることなく、再生時の低出力レーザパワーの調整
精度が向上する利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置
の構成を示すブロック図

【図２】同光ディスク装置の動作を説明する折線型増幅
回路の特性図

【図３】従来例の光ディスク装置の構成を示すブロック
図

【符号の説明】

１ 光ピックアップ ２ レーザダイオード ３，４ フォトダイオード ５，１１，１３，２０〜２６ 抵抗 ６ ディスク ７ トランジスタ ８，１２，１７〜１９ 演算増幅器 ９，１５ 電圧源 １０，２８，２９，３０，３１ 端子 １４ 設定電圧発生回路 １６ 折線型増幅回路 ２７ ダイオード

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザパワーを設定する設定電圧を発生
   する設定電圧発生回路と、 基準電圧を発生する基準電圧源と、 前記設定電圧が前記基準電圧より低い場合は前記設定電
   圧を第１の利得で増幅して第１の変換電圧を出力し、前
   記設定電圧が前記基準電圧より高い場合は前記第１の利
   得より高利得である第２の利得で前記設定電圧を増幅し
   て第２の変換電圧を出力する折線型増幅回路と、 前記第１あるいは第２の変換電圧に比例したレーザパワ
   ーを発生してディスクを照射するレーザ光発生回路とを
   備えたことを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 折線型増幅回路は、第１の変換電圧が再
   生用のレーザパワーに対応するように第１の利得が設定
   され、第２の変換電圧が記録用のレーザパワーに対応す
   るように第２の利得が設定されたことを特徴とする請求
   項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 折線型増幅回路は、第１と第2の利得の
   比が、ほぼ再生と記録のレーザパワーの比になるよう
   に、各利得が設定されたことを特徴とする請求項１記載
   の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 基準電圧源の基準電圧が、電源電圧の１
   ／２に設定されたことを特徴とする請求項１記載の光デ
   ィスク装置。
5. 【請求項５】 ディスクにレーザ光を照射するレーザダ
   イオードと、前記レーザダイオードから出射したレーザ
   パワーに比例したモニター電圧を発生するモニター回路
   と、前記第１あるいは第２の変換電圧と前記モニター電
   圧との差に応じて前記レーザダイオードを駆動する駆動
   手段とを有するレーザ光発生回路を備えるとともに、 前記レーザ光発生回路は、前記モニター電圧レベルが前
   記第１あるいは第２の変換電圧とほぼ等しくなるように
   負帰還制御を行うことを特徴とする請求項１記載の光デ
   ィスク装置。
6. 【請求項６】 設定電圧発生回路が発生する設定電圧が
   電源電圧に比例し、 基準電圧源の基準電圧が前記電源電圧の１／２に設定さ
   れ、 モニター回路が発生するモニター電圧が前記電源電圧に
   ほぼ比例した値を出力するように設定されていることを
   特徴とする請求項５記載の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 設定電圧発生回路が発生する設定電圧が
   電源電圧に比例し、 基準電圧源の基準電圧が電源電圧の１／２に設定され、 モニター回路は、レーザダイオードから出射したレーザ
   パワーを電流に変換する受光素子と、前記電流をモニタ
   ー電圧に変換する抵抗からなり、電源電圧と前記抵抗の
   値との比がほぼ一定になるように、前記抵抗の値を設定
   するか切換えることを特徴とする請求項５記載の光ディ
   スク装置。