JP2002270675A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 スループットおよび製造歩留りを向上させ
る。 【解決手段】 オリフラ合わせ装置13は載置台12に
載置されたカセットCの内部の複数枚のウエハWを一回
のローラ16、16によって同一方向に同期回転させる
ことにより、複数枚のウエハW間のオリフラOを一定の
箇所に揃えるように構成されている。オリフラ合わせ装
置13にはオリフラ合わせ作業前にオリフラが合ってい
ることを確認するセンサ18が設置されている。オリフ
ラ確認センサ18は両ローラ16、16の上方の水平面
内でオリフラOの幅と等しい間隔をとって互いに平行に
配置された一対の光学センサ19、19を備えている。 【効果】 オリフラ作業前にオリフラが合っていること
を確認した場合にオリフラ合わせ作業を省略することに
より、CVD装置全体のスループットを向上できるとと
もに、パーティクルの発生を回避して製造歩留りを向上
できる。
る。 【解決手段】 オリフラ合わせ装置13は載置台12に
載置されたカセットCの内部の複数枚のウエハWを一回
のローラ16、16によって同一方向に同期回転させる
ことにより、複数枚のウエハW間のオリフラOを一定の
箇所に揃えるように構成されている。オリフラ合わせ装
置13にはオリフラ合わせ作業前にオリフラが合ってい
ることを確認するセンサ18が設置されている。オリフ
ラ確認センサ18は両ローラ16、16の上方の水平面
内でオリフラOの幅と等しい間隔をとって互いに平行に
配置された一対の光学センサ19、19を備えている。 【効果】 オリフラ作業前にオリフラが合っていること
を確認した場合にオリフラ合わせ作業を省略することに
より、CVD装置全体のスループットを向上できるとと
もに、パーティクルの発生を回避して製造歩留りを向上
できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板処理装置に関
し、例えば、半導体素子を含む半導体集積回路が作り込
まれる半導体ウエハ(以下、ウエハという。)に不純物
を拡散したり絶縁膜や金属膜等のCVD膜を形成したり
する拡散・CVD装置に利用して有効なものに関する。
し、例えば、半導体素子を含む半導体集積回路が作り込
まれる半導体ウエハ(以下、ウエハという。)に不純物
を拡散したり絶縁膜や金属膜等のCVD膜を形成したり
する拡散・CVD装置に利用して有効なものに関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体素子を含む半導体集積回
路が作り込まれた半導体集積回路装置(以下、ICとい
う。)を製造するのに使用されるウエハは、その製作の
本質上円板形状に形成されている。このため、ウエハに
は結晶の方位を示すオリエンテーションフラット(以
下、オリフラという。)またはノッチが設けられてい
る。オリフラはウエハの円周の一部が直線的に切り欠か
れてなる指示部であり、ノッチはウエハの円周の一部を
V字形状に切り欠かれてなる指示部である。ちなみに、
ウエハはキャリアに収納されて各種の工程間や各工程内
を搬送される。キャリアとしては、対向する一対の側壁
が開口した六面体の箱形状に形成されたカセット(オー
プンカセットとも称される。)と、キャップによって開
閉される開口を一つの側壁に有する六面体の箱形状に形
成されたフープ(FOUP。front opening unified po
d 。ポッドとも称される。)とがある。
路が作り込まれた半導体集積回路装置(以下、ICとい
う。)を製造するのに使用されるウエハは、その製作の
本質上円板形状に形成されている。このため、ウエハに
は結晶の方位を示すオリエンテーションフラット(以
下、オリフラという。)またはノッチが設けられてい
る。オリフラはウエハの円周の一部が直線的に切り欠か
れてなる指示部であり、ノッチはウエハの円周の一部を
V字形状に切り欠かれてなる指示部である。ちなみに、
ウエハはキャリアに収納されて各種の工程間や各工程内
を搬送される。キャリアとしては、対向する一対の側壁
が開口した六面体の箱形状に形成されたカセット(オー
プンカセットとも称される。)と、キャップによって開
閉される開口を一つの側壁に有する六面体の箱形状に形
成されたフープ(FOUP。front opening unified po
d 。ポッドとも称される。)とがある。
【0003】ICの製造工程において、ウエハに不純物
を拡散したり絶縁膜や金属膜等のCVD膜を形成したり
する工程には、バッチ式縦形拡散・CVD装置(以下、
バッチ式CVD装置という。)が使用されている。バッ
チ式CVD装置においては処理ガスの流れや熱の分布等
の処理条件とウエハの結晶の方位との相関関係がICの
品質や信頼性に影響を及ぼすため、一般に、バッチ式C
VD装置においては複数枚のウエハ間においてオリフラ
またはノッチを一定の箇所に揃える(合わせる)作業が
実施されている。
を拡散したり絶縁膜や金属膜等のCVD膜を形成したり
する工程には、バッチ式縦形拡散・CVD装置(以下、
バッチ式CVD装置という。)が使用されている。バッ
チ式CVD装置においては処理ガスの流れや熱の分布等
の処理条件とウエハの結晶の方位との相関関係がICの
品質や信頼性に影響を及ぼすため、一般に、バッチ式C
VD装置においては複数枚のウエハ間においてオリフラ
またはノッチを一定の箇所に揃える(合わせる)作業が
実施されている。
【0004】従来のバッチ式CVD装置として、オリフ
ラを有する複数のウエハをカセットに収納した状態で回
転させて、複数枚のウエハ間のオリフラを合わせるオリ
フラ合わせ装置を備えているものがある。
ラを有する複数のウエハをカセットに収納した状態で回
転させて、複数枚のウエハ間のオリフラを合わせるオリ
フラ合わせ装置を備えているものがある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たオリフラ合わせ装置を備えたバッチ式CVD装置にお
いては、オリフラ合わせ装置によるオリフラ合わせ作業
時間が一連の搬送時間の中で大きな割合を占めるため、
スループットの低下を招くという問題点がある。また、
オリフラ合わせ作業において複数枚のウエハがカセット
の内部で回転されるため、パーティクルが発生し、バッ
チ式CVD装置の製造歩留りの低下を招くという問題点
がある。
たオリフラ合わせ装置を備えたバッチ式CVD装置にお
いては、オリフラ合わせ装置によるオリフラ合わせ作業
時間が一連の搬送時間の中で大きな割合を占めるため、
スループットの低下を招くという問題点がある。また、
オリフラ合わせ作業において複数枚のウエハがカセット
の内部で回転されるため、パーティクルが発生し、バッ
チ式CVD装置の製造歩留りの低下を招くという問題点
がある。
【0006】本発明の目的は、スループットおよび製造
歩留りの低下を防止することができる基板処理装置を提
供することにある。
歩留りの低下を防止することができる基板処理装置を提
供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る基板処理装
置は、円周の一部にオリエンテーションフラットを有す
る複数の基板をキャリアに収納させた状態で、そのオリ
エンテーションフラットを合わせるオリエンテーション
フラット合わせ装置を備えている基板処理装置におい
て、前記オリエンテーションフラット合わせ装置には前
記オリエンテーションフラット合わせ作業前に前記複数
の基板のオリエンテーションフラットが合っていること
を検出するオリエンテーションフラット確認センサが設
置されていることを特徴とする。
置は、円周の一部にオリエンテーションフラットを有す
る複数の基板をキャリアに収納させた状態で、そのオリ
エンテーションフラットを合わせるオリエンテーション
フラット合わせ装置を備えている基板処理装置におい
て、前記オリエンテーションフラット合わせ装置には前
記オリエンテーションフラット合わせ作業前に前記複数
の基板のオリエンテーションフラットが合っていること
を検出するオリエンテーションフラット確認センサが設
置されていることを特徴とする。
【0008】前記した手段によれば、オリエンテーショ
ンフラット合わせ作業前にオリエンテーションフラット
が合っていることを検出した場合には、オリエンテーシ
ョンフラット合わせ作業を省略することができるため、
スループットを向上させることができるとともに、パー
ティクルの発生を回避することができる。
ンフラット合わせ作業前にオリエンテーションフラット
が合っていることを検出した場合には、オリエンテーシ
ョンフラット合わせ作業を省略することができるため、
スループットを向上させることができるとともに、パー
ティクルの発生を回避することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面に即して説明する。
面に即して説明する。
【0010】本実施の形態において、本発明に係る基板
処理装置は、被処理基板としてのウエハを複数枚一括し
て処理するバッチ式CVD装置(バッチ式縦形拡散・C
VD装置)として構成されており、複数枚のウエハを収
納して搬送するためのキャリアとしてはカセットを使用
するものとして構成されている。
処理装置は、被処理基板としてのウエハを複数枚一括し
て処理するバッチ式CVD装置(バッチ式縦形拡散・C
VD装置)として構成されており、複数枚のウエハを収
納して搬送するためのキャリアとしてはカセットを使用
するものとして構成されている。
【0011】図1に示されているように、バッチ式CV
D装置1は筐体2を備えており、筐体2内の後端部の上
部にはヒータユニット3が垂直方向に据え付けられてお
り、ヒータユニット3の内部にはプロセスチューブ4が
同心に配置されている。プロセスチューブ4にはプロセ
スチューブ4内に原料ガスやパージガス等を導入するた
めのガス導入管5と、プロセスチューブ4内を真空排気
するための排気管6とが接続されている。
D装置1は筐体2を備えており、筐体2内の後端部の上
部にはヒータユニット3が垂直方向に据え付けられてお
り、ヒータユニット3の内部にはプロセスチューブ4が
同心に配置されている。プロセスチューブ4にはプロセ
スチューブ4内に原料ガスやパージガス等を導入するた
めのガス導入管5と、プロセスチューブ4内を真空排気
するための排気管6とが接続されている。
【0012】筐体2の一端部(以下、後端部とする。)
の下部には送りねじ装置等によって構成されたエレベー
タ7が設置されており、エレベータ7はプロセスチュー
ブ4の真下に水平に配置されたシールキャップ8を垂直
方向に昇降させるように構成されている。シールキャッ
プ8はプロセスチューブ4の炉口である下端開口をシー
ルするように構成されているとともに、ボート9を垂直
に支持するように構成されている。ボート9は基板とし
てのウエハWを複数枚(例えば、五十枚〜百五十枚程
度)、中心を揃えて水平に配置した状態で保持するよう
に構成されており、プロセスチューブ4の処理室に対し
てエレベータ7によるシールキャップ8の昇降に伴って
搬入搬出(ローディングおよびアンローディング)され
るようになっている。
の下部には送りねじ装置等によって構成されたエレベー
タ7が設置されており、エレベータ7はプロセスチュー
ブ4の真下に水平に配置されたシールキャップ8を垂直
方向に昇降させるように構成されている。シールキャッ
プ8はプロセスチューブ4の炉口である下端開口をシー
ルするように構成されているとともに、ボート9を垂直
に支持するように構成されている。ボート9は基板とし
てのウエハWを複数枚(例えば、五十枚〜百五十枚程
度)、中心を揃えて水平に配置した状態で保持するよう
に構成されており、プロセスチューブ4の処理室に対し
てエレベータ7によるシールキャップ8の昇降に伴って
搬入搬出(ローディングおよびアンローディング)され
るようになっている。
【0013】図1に示されているように、筐体2の前面
壁にはカセットCを筐体2に対して搬入搬出するための
カセット搬入搬出口10が開設されており、筐体2の前
面壁の内側におけるカセット搬入搬出口10に対向する
位置にはカセット授受ユニット11が設置されている。
カセット授受ユニット11はカセットCを載置する載置
台12と、載置台12に載置されたカセットCに収納さ
れた複数枚のウエハWのオリフラ合わせを実行するオリ
フラ合わせ装置13とを備えている。載置台12に対し
てはカセットCが筐体2の外部から図示しない工程内搬
送装置(RGV)によって載置されるようになってい
る。
壁にはカセットCを筐体2に対して搬入搬出するための
カセット搬入搬出口10が開設されており、筐体2の前
面壁の内側におけるカセット搬入搬出口10に対向する
位置にはカセット授受ユニット11が設置されている。
カセット授受ユニット11はカセットCを載置する載置
台12と、載置台12に載置されたカセットCに収納さ
れた複数枚のウエハWのオリフラ合わせを実行するオリ
フラ合わせ装置13とを備えている。載置台12に対し
てはカセットCが筐体2の外部から図示しない工程内搬
送装置(RGV)によって載置されるようになってい
る。
【0014】図2〜図4に示されているように、オリフ
ラ合わせ装置13は載置台12の真下に垂直方向上向き
に設置されたシリンダ14と、シリンダ14によって昇
降される支持台15と、支持台15に載置台12のカセ
ットCのウエハW群の整列方向に延在するように水平に
軸架された一対のローラ16と、このローラ16、16
を互いに正逆反対方向に回転させる回転駆動装置17と
を備えており、載置台12に載置されたカセットCの内
部の複数枚のウエハWを両ローラ16、16によって同
一方向に同期回転させることにより、複数枚のウエハW
間のオリフラOを一定の箇所に揃えるように構成されて
いる。
ラ合わせ装置13は載置台12の真下に垂直方向上向き
に設置されたシリンダ14と、シリンダ14によって昇
降される支持台15と、支持台15に載置台12のカセ
ットCのウエハW群の整列方向に延在するように水平に
軸架された一対のローラ16と、このローラ16、16
を互いに正逆反対方向に回転させる回転駆動装置17と
を備えており、載置台12に載置されたカセットCの内
部の複数枚のウエハWを両ローラ16、16によって同
一方向に同期回転させることにより、複数枚のウエハW
間のオリフラOを一定の箇所に揃えるように構成されて
いる。
【0015】また、オリフラ合わせ装置13にはオリフ
ラ合わせ作業前に複数枚のウエハWのオリフラOが合っ
ていることを検出するオリフラ確認センサ18が、載置
台12に載置されたカセットCに機械的に干渉しないよ
うに設置されている。すなわち、オリフラ確認センサ1
8は互いに対になり対向配置された投光器19aと受光
器19bとからなる光学センサ19を二組備えており、
両光学センサ19、19は両ローラ16、16の上方に
位置する水平面内においてオリフラOの幅と等しい間隔
をとって互いに平行に配置されている。光学センサ19
の投光器19aは載置台12にブラケット20を介して
カセットCの外側に位置するように取り付けられてお
り、受光器19bはオリフラ合わせ装置13にブラケッ
ト20を介してカセットCの外側に位置するように取り
付けられている。
ラ合わせ作業前に複数枚のウエハWのオリフラOが合っ
ていることを検出するオリフラ確認センサ18が、載置
台12に載置されたカセットCに機械的に干渉しないよ
うに設置されている。すなわち、オリフラ確認センサ1
8は互いに対になり対向配置された投光器19aと受光
器19bとからなる光学センサ19を二組備えており、
両光学センサ19、19は両ローラ16、16の上方に
位置する水平面内においてオリフラOの幅と等しい間隔
をとって互いに平行に配置されている。光学センサ19
の投光器19aは載置台12にブラケット20を介して
カセットCの外側に位置するように取り付けられてお
り、受光器19bはオリフラ合わせ装置13にブラケッ
ト20を介してカセットCの外側に位置するように取り
付けられている。
【0016】図1に示されているように、筐体2の内部
におけるカセット授受ユニット11の後方にはカセット
Cを移載するカセット移載装置21が、昇降かつ水平可
能なアクチュエータ22に支持されて設置されている。
カセット移載装置21はカセットローダ23を備えてお
り、カセットローダ23は垂直面内で略90度回転する
ように水平軸24によって支持されている。カセットロ
ーダ23にはカセット移載プレート25が進退するよう
に設置されており、カセット受け台26がカセット移載
プレート25に対して直角に設置されている。
におけるカセット授受ユニット11の後方にはカセット
Cを移載するカセット移載装置21が、昇降かつ水平可
能なアクチュエータ22に支持されて設置されている。
カセット移載装置21はカセットローダ23を備えてお
り、カセットローダ23は垂直面内で略90度回転する
ように水平軸24によって支持されている。カセットロ
ーダ23にはカセット移載プレート25が進退するよう
に設置されており、カセット受け台26がカセット移載
プレート25に対して直角に設置されている。
【0017】筐体2の内部におけるカセット移載装置2
1の後方にはカセット収納庫27が設置されており、カ
セット収納庫27の上方にはバッファ収納庫28が設置
されている。カセット収納庫27およびバッファ収納庫
28はそれぞれ複数段および複数列のカセット棚を備え
ており、カセット棚の数は少なくとも一回のバッチ分の
処理に必要なカセットの数以上に設定されている。
1の後方にはカセット収納庫27が設置されており、カ
セット収納庫27の上方にはバッファ収納庫28が設置
されている。カセット収納庫27およびバッファ収納庫
28はそれぞれ複数段および複数列のカセット棚を備え
ており、カセット棚の数は少なくとも一回のバッチ分の
処理に必要なカセットの数以上に設定されている。
【0018】筐体2の内部におけるボート9とカセット
収納庫27との間にはボート9に対してウエハWをチャ
ージングおよびディスチャージングするウエハ移載装置
30が設置されている。ウエハ移載装置30はロータリ
ーアクチュエータ31を備えており、ロータリーアクチ
ュエータ31は上面に設置された第一リニアアクチュエ
ータ32を水平面内で回転させるように構成されてい
る。第一リニアアクチュエータ32の上面には第二リニ
アアクチュエータ33が設置されており、第一リニアア
クチュエータ32は第二リニアアクチュエータ33を水
平移動させるように構成されている。第二リニアアクチ
ュエータ33の上面には移動台34が設置されており、
第二リニアアクチュエータ33は移動台34を水平移動
させるように構成されている。移動台34にはウエハW
を下から保持するツィーザ35が複数枚(本実施の形態
においては五枚)、等間隔に配置されて水平に取り付け
られている。ウエハ移載装置30は送りねじ装置等によ
って構成されたエレベータ36により昇降されるように
なっている。
収納庫27との間にはボート9に対してウエハWをチャ
ージングおよびディスチャージングするウエハ移載装置
30が設置されている。ウエハ移載装置30はロータリ
ーアクチュエータ31を備えており、ロータリーアクチ
ュエータ31は上面に設置された第一リニアアクチュエ
ータ32を水平面内で回転させるように構成されてい
る。第一リニアアクチュエータ32の上面には第二リニ
アアクチュエータ33が設置されており、第一リニアア
クチュエータ32は第二リニアアクチュエータ33を水
平移動させるように構成されている。第二リニアアクチ
ュエータ33の上面には移動台34が設置されており、
第二リニアアクチュエータ33は移動台34を水平移動
させるように構成されている。移動台34にはウエハW
を下から保持するツィーザ35が複数枚(本実施の形態
においては五枚)、等間隔に配置されて水平に取り付け
られている。ウエハ移載装置30は送りねじ装置等によ
って構成されたエレベータ36により昇降されるように
なっている。
【0019】以下、前記構成に係るバッチ式CVD装置
の作用をオリフラ確認センサの作用を主に説明する。
の作用をオリフラ確認センサの作用を主に説明する。
【0020】複数枚のウエハWが収納されたカセットC
は工程内搬送装置によって搬送されて、カセット授受ユ
ニット11の載置台12の上に載置される。載置台12
の上に載置されたカセットCの姿勢はカセットCに収納
されたウエハWが垂直を向くようになっている。
は工程内搬送装置によって搬送されて、カセット授受ユ
ニット11の載置台12の上に載置される。載置台12
の上に載置されたカセットCの姿勢はカセットCに収納
されたウエハWが垂直を向くようになっている。
【0021】カセットCが載置台12の上に載置される
と、オリフラ合わせ装置13がシリンダ14によって支
持台15を上昇させる。支持台15が上昇すると、ま
ず、オリフラ確認センサ18がカセットCに収納された
複数枚のウエハWのオリフラOが全て揃っている(合っ
ている)か否かを確認する。すなわち、図2〜図4に示
されているように、支持台15に水平に支持された一対
の投光器19a、19aが筐体2に水平に支持された一
対の受光器19b、19bに検査光をそれぞれ投光す
る。両受光器19b、19bは入射光の有無をコントロ
ーラに送信する。
と、オリフラ合わせ装置13がシリンダ14によって支
持台15を上昇させる。支持台15が上昇すると、ま
ず、オリフラ確認センサ18がカセットCに収納された
複数枚のウエハWのオリフラOが全て揃っている(合っ
ている)か否かを確認する。すなわち、図2〜図4に示
されているように、支持台15に水平に支持された一対
の投光器19a、19aが筐体2に水平に支持された一
対の受光器19b、19bに検査光をそれぞれ投光す
る。両受光器19b、19bは入射光の有無をコントロ
ーラに送信する。
【0022】オリフラ合わせ装置13から検出結果が送
信されて来ると、コントローラは検査光が両方の受光器
19b、19bに実質的に同時に入射したか否かによっ
て、複数枚のウエハWのオリフラOが全て揃っているか
否かを判定する。すなわち、図5(a)に示されている
ように、両方の受光器19b、19bがウエハWのオリ
フラOに揃って位置する場合には、オリフラOが全て揃
っていると判定する。他方、図5(b)に示されている
ように、何れか片方の受光器19bでもウエハWによっ
て遮光された場合には、カセットCに収納された複数枚
のウエハWのうち少なくとも一枚のウエハWのオリフラ
Oがずれていると判定する。
信されて来ると、コントローラは検査光が両方の受光器
19b、19bに実質的に同時に入射したか否かによっ
て、複数枚のウエハWのオリフラOが全て揃っているか
否かを判定する。すなわち、図5(a)に示されている
ように、両方の受光器19b、19bがウエハWのオリ
フラOに揃って位置する場合には、オリフラOが全て揃
っていると判定する。他方、図5(b)に示されている
ように、何れか片方の受光器19bでもウエハWによっ
て遮光された場合には、カセットCに収納された複数枚
のウエハWのうち少なくとも一枚のウエハWのオリフラ
Oがずれていると判定する。
【0023】そして、コントローラは複数枚ウエハWの
オリフラOが全て揃っていると判定した場合には、オリ
フラ合わせ装置13によるオリフラ合わせ作業を省略
(スキップ)させる。すなわち、オリフラ合わせ装置1
3のシリンダ14は支持台15の上昇を中止して下降さ
せる。
オリフラOが全て揃っていると判定した場合には、オリ
フラ合わせ装置13によるオリフラ合わせ作業を省略
(スキップ)させる。すなわち、オリフラ合わせ装置1
3のシリンダ14は支持台15の上昇を中止して下降さ
せる。
【0024】オリフラ合わせ装置13が待機モードに戻
ると、カセット移載装置21のカセットローダ23が載
置台12の上のカセットCを掬い取り、カセット収納庫
27またはバッファ収納庫28の指定されたカセット棚
に載置する。カセット棚に載置されたカセットCの姿勢
はカセットCに収納されたウエハWが水平を向くように
なっている。
ると、カセット移載装置21のカセットローダ23が載
置台12の上のカセットCを掬い取り、カセット収納庫
27またはバッファ収納庫28の指定されたカセット棚
に載置する。カセット棚に載置されたカセットCの姿勢
はカセットCに収納されたウエハWが水平を向くように
なっている。
【0025】カセット収納庫27にカセットCが水平に
載置されると、ウエハ移載装置30の五枚のツィーザ3
5がカセットCの内部へ挿入される。続いて、ウエハ移
載装置30は五枚のツィーザ35を同時に若干上昇させ
て五枚のウエハWを五枚のツィーザ35によって同時に
掬い取る。次いで、ウエハ移載装置30の移動台34が
後退し、五枚のツィーザ35は掬い取った五枚のウエハ
WをカセットCのウエハ出し入れ口から引き出す。
載置されると、ウエハ移載装置30の五枚のツィーザ3
5がカセットCの内部へ挿入される。続いて、ウエハ移
載装置30は五枚のツィーザ35を同時に若干上昇させ
て五枚のウエハWを五枚のツィーザ35によって同時に
掬い取る。次いで、ウエハ移載装置30の移動台34が
後退し、五枚のツィーザ35は掬い取った五枚のウエハ
WをカセットCのウエハ出し入れ口から引き出す。
【0026】ウエハWを引き出すと、ウエハ移載装置3
0は五枚のツィーザ35によって保持したウエハWをロ
ータリーアクチュエータ31の旋回によってボート9の
移載位置まで搬送する。ウエハWがボート9の移載位置
において所定の高さに対向すると、五枚のツィーザ35
がボート9の奥まで挿入され、五枚のウエハWがボート
9の五段のスロット9aへそれぞれ挿入される。続い
て、五枚のツィーザ35が同時に若干下降させて五枚の
ウエハWが五段のスロット9aに受け渡される。次い
で、ウエハ移載装置30の移動台34がボート9に対し
て後退し、五枚のツィーザ35はボート9から引き出さ
れる。
0は五枚のツィーザ35によって保持したウエハWをロ
ータリーアクチュエータ31の旋回によってボート9の
移載位置まで搬送する。ウエハWがボート9の移載位置
において所定の高さに対向すると、五枚のツィーザ35
がボート9の奥まで挿入され、五枚のウエハWがボート
9の五段のスロット9aへそれぞれ挿入される。続い
て、五枚のツィーザ35が同時に若干下降させて五枚の
ウエハWが五段のスロット9aに受け渡される。次い
で、ウエハ移載装置30の移動台34がボート9に対し
て後退し、五枚のツィーザ35はボート9から引き出さ
れる。
【0027】ウエハ移載装置30は空になった五枚のツ
ィーザ35をカセット収納庫27の次に指定されたカセ
ット棚の位置に戻す。以降、前述した作動が繰り返され
ることにより、予め指定された枚数のウエハWがウエハ
移載装置30によってカセット収納庫27からボート9
へ装填(チャージング)されて行く。
ィーザ35をカセット収納庫27の次に指定されたカセ
ット棚の位置に戻す。以降、前述した作動が繰り返され
ることにより、予め指定された枚数のウエハWがウエハ
移載装置30によってカセット収納庫27からボート9
へ装填(チャージング)されて行く。
【0028】そして、予め指定された枚数のウエハWが
ボート9に装填されると、ボート9はエレベータ7によ
って上昇されてプロセスチューブ4の処理室に搬入(ロ
ーディング)される。ボート9が上限に達すると、ボー
ト9を保持したシールキャップ8の上面の周辺部がプロ
セスチューブ4をシール状態に閉塞するため、処理室は
気密に閉じられた状態になる。
ボート9に装填されると、ボート9はエレベータ7によ
って上昇されてプロセスチューブ4の処理室に搬入(ロ
ーディング)される。ボート9が上限に達すると、ボー
ト9を保持したシールキャップ8の上面の周辺部がプロ
セスチューブ4をシール状態に閉塞するため、処理室は
気密に閉じられた状態になる。
【0029】プロセスチューブ4の処理室は気密に閉じ
られた状態で、所定の圧力となるように排気管6によっ
て排気され、ヒータユニット3によって所定の温度に加
熱され、所定の原料ガスがガス導入管5によって所定の
流量だけ供給される。これにより、予め設定された処理
条件に対応する所望の膜がウエハWに形成される。
られた状態で、所定の圧力となるように排気管6によっ
て排気され、ヒータユニット3によって所定の温度に加
熱され、所定の原料ガスがガス導入管5によって所定の
流量だけ供給される。これにより、予め設定された処理
条件に対応する所望の膜がウエハWに形成される。
【0030】そして、予め設定された処理時間が経過す
ると、ボート9がエレベータ7によって下降されること
により、処理済みウエハWを保持したボート9が元の待
機位置に搬出(アンローディング)される。
ると、ボート9がエレベータ7によって下降されること
により、処理済みウエハWを保持したボート9が元の待
機位置に搬出(アンローディング)される。
【0031】ボート9が待機位置に搬出されると、ボー
ト9のウエハWがカセット収納庫27の各カセットC
へ、前述したチャージング作動とは逆の作動によりディ
スチャージングされて行く。さらに、処理済みのウエハ
Wが収納されたカセットCはカセット収納庫27からバ
ッファ収納庫28を経てカセット授受ユニット11へ順
次送られる。
ト9のウエハWがカセット収納庫27の各カセットC
へ、前述したチャージング作動とは逆の作動によりディ
スチャージングされて行く。さらに、処理済みのウエハ
Wが収納されたカセットCはカセット収納庫27からバ
ッファ収納庫28を経てカセット授受ユニット11へ順
次送られる。
【0032】以降、前述した作用が繰り返されて、複数
枚のウエハがバッチ式CVD装置1によってバッチ処理
されて行く。
枚のウエハがバッチ式CVD装置1によってバッチ処理
されて行く。
【0033】前記実施の形態によれば、次の効果が得ら
れる。
れる。
【0034】1) オリフラ合わせ装置にオリフラ合わせ
作業前に複数枚のウエハのオリフラが合っていることを
検出するオリフラ確認センサを設置することにより、オ
リフラ作業前にオリフラが合っていることを検出した場
合にはオリフラ合わせ作業を省略(スキップ)すること
ができるため、バッチ式CVD装置全体としてのスルー
プットを向上させることができる。
作業前に複数枚のウエハのオリフラが合っていることを
検出するオリフラ確認センサを設置することにより、オ
リフラ作業前にオリフラが合っていることを検出した場
合にはオリフラ合わせ作業を省略(スキップ)すること
ができるため、バッチ式CVD装置全体としてのスルー
プットを向上させることができる。
【0035】2) 例えば、一回のオリフラ合わせ作業に
要する時間が30秒間であり、二回分のバッチとして1
2個のカセットを搬入してその都度オリフラ作業する場
合には、全ての省略によって約6分も短縮することがで
きる。
要する時間が30秒間であり、二回分のバッチとして1
2個のカセットを搬入してその都度オリフラ作業する場
合には、全ての省略によって約6分も短縮することがで
きる。
【0036】3) オリフラ合わせ作業を省略することに
より、オリフラ合わせ作業時のパーティクルの発生を回
避することができるため、バッチ式CVD装置の処理時
の異物の付着を防止することができ、ICの製造方法に
おける製造歩留りを高めることができる。
より、オリフラ合わせ作業時のパーティクルの発生を回
避することができるため、バッチ式CVD装置の処理時
の異物の付着を防止することができ、ICの製造方法に
おける製造歩留りを高めることができる。
【0037】なお、本発明は前記実施の形態に限定され
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変
更が可能であることはいうまでもない。
るものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々に変
更が可能であることはいうまでもない。
【0038】例えば、オリフラ確認センサの投光器およ
び受光器としては、透過形光ファイバセンサや半導体レ
ザー、発光ダイオード、ホトダイオード、ディティクタ
等を使用することができる。
び受光器としては、透過形光ファイバセンサや半導体レ
ザー、発光ダイオード、ホトダイオード、ディティクタ
等を使用することができる。
【0039】前記実施の形態ではバッチ式CVD装置の
場合について説明したが、本発明はこれに限らず、基板
処理装置全般に適用することができる。
場合について説明したが、本発明はこれに限らず、基板
処理装置全般に適用することができる。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
スループットおよび製造歩留りの低下を防止することが
できる。
スループットおよび製造歩留りの低下を防止することが
できる。
【図1】本発明の一実施の形態であるバッチ式CVD装
置の側面断面図である。
置の側面断面図である。
【図2】そのオリフラ合わせ装置を示す正面図である。
【図3】同じく側面図である。
【図4】同じく平面図である。
【図5】その作用を説明するための各正面図である。
W…ウエハ(基板)、O…オリフラ(オリエンテーショ
ンフラット)、C…カセット、1…バッチ式CVD装置
(基板処理装置)、2…筐体、3…ヒータユニット、4
…プロセスチューブ、5…ガス導入管、6…排気管、7
…エレベータ、8…シールキャップ、9…ボート、9a
…スロット、10…カセット搬入搬出口、11…カセッ
ト授受ユニット、12…載置台、13…オリフラ合わせ
装置、14…シリンダ、15…支持台、16…ローラ、
17…回転駆動装置、18…オリフラ確認センサ、19
…光学センサ、19a…投光器、19b…受光器、20
…ブラケット、21…カセット移載装置、22…アクチ
ュエータ、23…カセットローダ、24…水平軸、25
…カセット移載プレート、26…カセット受け台、27
…カセット収納庫、28…バッファ収納庫、30…ウエ
ハ移載装置、31…ロータリーアクチュエータ、32…
第一リニアアクチュエータ、33…第二リニアアクチュ
エータ、34…移動台、35…ツィーザ、36…エレベ
ータ。
ンフラット)、C…カセット、1…バッチ式CVD装置
(基板処理装置)、2…筐体、3…ヒータユニット、4
…プロセスチューブ、5…ガス導入管、6…排気管、7
…エレベータ、8…シールキャップ、9…ボート、9a
…スロット、10…カセット搬入搬出口、11…カセッ
ト授受ユニット、12…載置台、13…オリフラ合わせ
装置、14…シリンダ、15…支持台、16…ローラ、
17…回転駆動装置、18…オリフラ確認センサ、19
…光学センサ、19a…投光器、19b…受光器、20
…ブラケット、21…カセット移載装置、22…アクチ
ュエータ、23…カセットローダ、24…水平軸、25
…カセット移載プレート、26…カセット受け台、27
…カセット収納庫、28…バッファ収納庫、30…ウエ
ハ移載装置、31…ロータリーアクチュエータ、32…
第一リニアアクチュエータ、33…第二リニアアクチュ
エータ、34…移動台、35…ツィーザ、36…エレベ
ータ。
フロントページの続き (72)発明者 森川 晴夫 東京都中野区東中野三丁目14番20号 株式 会社日立国際電気内 Fターム(参考) 5F031 CA02 DA08 DA17 FA01 FA03 FA12 GA49 GA50 JA05 JA25 JA34 KA04 KA13 KA14 KA20 MA02 MA28
Claims (1)
- 【請求項1】 円周の一部にオリエンテーションフラッ
トを有する複数の基板をキャリアに収納させた状態で、
そのオリエンテーションフラットを合わせるオリエンテ
ーションフラット合わせ装置を備えている基板処理装置
において、前記オリエンテーションフラット合わせ装置
には前記オリエンテーションフラット合わせ作業前に前
記複数の基板のオリエンテーションフラットが合ってい
ることを検出するオリエンテーションフラット確認セン
サが設置されていることを特徴とする基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001062473A JP2002270675A (ja) | 2001-03-06 | 2001-03-06 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001062473A JP2002270675A (ja) | 2001-03-06 | 2001-03-06 | 基板処理装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002270675A true JP2002270675A (ja) | 2002-09-20 |
Family
ID=18921604
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001062473A Pending JP2002270675A (ja) | 2001-03-06 | 2001-03-06 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002270675A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100892140B1 (ko) | 2007-11-02 | 2009-04-08 | 주식회사 에이알씨코리아 | 슬라이더식 웨이퍼 사이즈 측정장치 |
-
2001
- 2001-03-06 JP JP2001062473A patent/JP2002270675A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100892140B1 (ko) | 2007-11-02 | 2009-04-08 | 주식회사 에이알씨코리아 | 슬라이더식 웨이퍼 사이즈 측정장치 |
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