JP2002267648A - 不純物検出のための方法および装置 - Google Patents
不純物検出のための方法および装置Info
- Publication number
- JP2002267648A JP2002267648A JP2001132020A JP2001132020A JP2002267648A JP 2002267648 A JP2002267648 A JP 2002267648A JP 2001132020 A JP2001132020 A JP 2001132020A JP 2001132020 A JP2001132020 A JP 2001132020A JP 2002267648 A JP2002267648 A JP 2002267648A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- matrix
- sample
- peak
- index
- impurity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/86—Signal analysis
- G01N30/8675—Evaluation, i.e. decoding of the signal into analytical information
- G01N30/8689—Peak purity of co-eluting compounds
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/86—Signal analysis
- G01N30/8624—Detection of slopes or peaks; baseline correction
- G01N30/8644—Data segmentation, e.g. time windows
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/74—Optical detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Library & Information Science (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】液体クロマトグラフィー（ＬＣ）のピーク解析
に適用される不純物の検出にあたり、スペクトロフォト
メータ（分光光度計）あるいはフォトダイオードアレイ
（ＰＤＡ）検出器を利用し、定量化する方法を提供す
る。 【解決手段】 ＬＣ不純物検出のためのアルゴリズムを
適用する方法であって、ＬＣカラム２０はＵＶ−ＶＩＳ
スペクトロフォトメータと共に用いられる流通セル２２
を有し、サンプル１０はＬＣカラム２０を通って溶離さ
れまた洗浄される。２００〜８００ｎｍ領域における放
射線（光線）にさらされたとき、サンプル１０の特定の
化学構造はＰＤＡ検出器３４に検出されると、入口スリ
ット３２およびグレーティング（回折格子）３３を通し
て特性スペクトルピークが生成される。成分のスペクト
ル吸光度は放射線の強度等から計算され、サンプル内成
分が解析される。
に適用される不純物の検出にあたり、スペクトロフォト
メータ（分光光度計）あるいはフォトダイオードアレイ
（ＰＤＡ）検出器を利用し、定量化する方法を提供す
る。 【解決手段】 ＬＣ不純物検出のためのアルゴリズムを
適用する方法であって、ＬＣカラム２０はＵＶ−ＶＩＳ
スペクトロフォトメータと共に用いられる流通セル２２
を有し、サンプル１０はＬＣカラム２０を通って溶離さ
れまた洗浄される。２００〜８００ｎｍ領域における放
射線（光線）にさらされたとき、サンプル１０の特定の
化学構造はＰＤＡ検出器３４に検出されると、入口スリ
ット３２およびグレーティング（回折格子）３３を通し
て特性スペクトルピークが生成される。成分のスペクト
ル吸光度は放射線の強度等から計算され、サンプル内成
分が解析される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】発明は、スペクトロフォトメ
ータ（分光光度計）の読みの操作を介して、クロマトグ
ラフィーのピーク解析に適用され得るサンプルにおける
不純物を検出する方法、そしてより詳細には、フォトダ
イオードアレイ（ＰＤＡ）検出器から検出される読みに
関する。
ータ（分光光度計）の読みの操作を介して、クロマトグ
ラフィーのピーク解析に適用され得るサンプルにおける
不純物を検出する方法、そしてより詳細には、フォトダ
イオードアレイ（ＰＤＡ）検出器から検出される読みに
関する。
【０００２】
【従来技術】液体クロマトグラフィー（ＬＣ）およびス
ペクトロフォトメトリー（分光測定法）の原理を用いて
サンプルにおける多重成分を検出し且つ同定するための
方法は、当前記技術分野における熟達者に良く知られて
いる。サンプル溶液における特定の未知の成分の同定
は、液体クロマトグラフィーを用いていくつかの混合さ
れた成分の物理的な分離を最初に必要とする。サンプル
は、要求される特定の分離および使用されるシステムに
適することが知られている溶媒の流動相を用いるＬＣカ
ラム（分離管）を介して溶離されまたは洗浄される。分
離は、ＬＣカラムに充填された媒質に対する特定の成分
の吸着性の親和力に基づいて、ＬＣカラムによって達成
される。溶離されるサンプルは、それからＵＶ−ＶＩＳ
スペクトロフォトメトリーを用いて分析される。２００
〜８００ｎｍの紫外線−可視光線（ＵＶ−ＶＩＳ）領域
における放射線（光線）にさらされたとき、アナライト
の特定の化学構造は、フォトダイオードアレイ（ＰＤ
Ａ）検出器によって検出されたときに、放射線の吸収に
起因する特性スペクトルレスポンス（特性スペクトル応
答）を持つであろう。（ＰＤＡ）検出器は、伝達される
エネルギーを計測し、且つそれを溶離回数（ｔＲ）およ
び波長（λ）の関数として吸収単位（ＡＵ）に変換す
る。
ペクトロフォトメトリー（分光測定法）の原理を用いて
サンプルにおける多重成分を検出し且つ同定するための
方法は、当前記技術分野における熟達者に良く知られて
いる。サンプル溶液における特定の未知の成分の同定
は、液体クロマトグラフィーを用いていくつかの混合さ
れた成分の物理的な分離を最初に必要とする。サンプル
は、要求される特定の分離および使用されるシステムに
適することが知られている溶媒の流動相を用いるＬＣカ
ラム（分離管）を介して溶離されまたは洗浄される。分
離は、ＬＣカラムに充填された媒質に対する特定の成分
の吸着性の親和力に基づいて、ＬＣカラムによって達成
される。溶離されるサンプルは、それからＵＶ−ＶＩＳ
スペクトロフォトメトリーを用いて分析される。２００
〜８００ｎｍの紫外線−可視光線（ＵＶ−ＶＩＳ）領域
における放射線（光線）にさらされたとき、アナライト
の特定の化学構造は、フォトダイオードアレイ（ＰＤ
Ａ）検出器によって検出されたときに、放射線の吸収に
起因する特性スペクトルレスポンス（特性スペクトル応
答）を持つであろう。（ＰＤＡ）検出器は、伝達される
エネルギーを計測し、且つそれを溶離回数（ｔＲ）およ
び波長（λ）の関数として吸収単位（ＡＵ）に変換す
る。
【０００３】不純物の検出は、不純物の特定の化学構造
が、関心のあるアナライトと共に溶離されることとなる
ときに問題をもたらす。これが生じるとき、クロマトグ
ラフィーの分離が異なる成分を充分に分解することがで
きず、そしてそれらのスペクトルピークがオーバラップ
されるので、不純物はしばしば検出することが困難にな
る。単一波長ＵＶ／可視光線検出器の場合には、不純物
の存在を気付かせるための、「肩」、「谷」または「過
度のテーリング」をクロマトグラフィーのピークに見出
すであろう。さらに、クロマトグラフィーのピークにこ
れらの特徴がないことは、ピークがピュア（純粋）であ
ることにより示される成分を保証しない。前記不純物
は、クロマトグラフィーの分解能が低すぎるまたは純度
の集中が低すぎるために、スペクトロフォトメータによ
り検出されるさらに大きなピーク内に単純に覆われてし
まうまたは「見えなく」なってしまうこともある。
が、関心のあるアナライトと共に溶離されることとなる
ときに問題をもたらす。これが生じるとき、クロマトグ
ラフィーの分離が異なる成分を充分に分解することがで
きず、そしてそれらのスペクトルピークがオーバラップ
されるので、不純物はしばしば検出することが困難にな
る。単一波長ＵＶ／可視光線検出器の場合には、不純物
の存在を気付かせるための、「肩」、「谷」または「過
度のテーリング」をクロマトグラフィーのピークに見出
すであろう。さらに、クロマトグラフィーのピークにこ
れらの特徴がないことは、ピークがピュア（純粋）であ
ることにより示される成分を保証しない。前記不純物
は、クロマトグラフィーの分解能が低すぎるまたは純度
の集中が低すぎるために、スペクトロフォトメータによ
り検出されるさらに大きなピーク内に単純に覆われてし
まうまたは「見えなく」なってしまうこともある。
【０００４】アナライトピークと共に溶離する不純物の
存在を検出するためにいくつかのアプローチがなされて
きている。ここに引用により組み込まれた、エム．ブ
イ．ゴーレンシュタイン（M.V. Gorenstein）他による
「スペクトル比較による共に溶離された不純物の検出
“Detecting Co-Eluted Impurities by Spectral Compa
rison”」、ＬＣ−ＧＣ．１２、ナンバー１０、７６８
〜７７２ページ（１９９４年）は、２ステップのスペク
トル対比技術を開示しており、最初に、２つのスペクト
ルの間の与えられたピークのスペクトルの異種性と形状
の相違を計測するベクトル角度を生成する。それからノ
イズ負担のような非理想的効果についての定量化がなさ
れ、且つスレショールドベクトル角度として割り付けら
れる。これらの２つの角度は、アナライトのクロマトグ
ラムに沿って比較される。手順は、クロマトグラフィー
のピークにおける不純物が検出される２つの角度の間の
相違の相関をとる。しかしながら、これを達成するため
には、一連の基本的なベースラインスペクトルを得るた
めにピークの「スタート」および「エンド」スペクトル
の補間を含む各スペクトルについてのベースライン補正
がされなければならない。加えて、不純物が存在するか
どうかを決定するために用いられるベクトル角度は、不
純物に起因して生じる計測される吸収単位におけるスペ
クトル誤差を直接的に算出しまたは定量化することはな
い。そのような技術もまた、スレショールドを確立する
ために分離した構成の実行を必要とし、且つ多重不純物
についての困難性を持つであろう。
存在を検出するためにいくつかのアプローチがなされて
きている。ここに引用により組み込まれた、エム．ブ
イ．ゴーレンシュタイン（M.V. Gorenstein）他による
「スペクトル比較による共に溶離された不純物の検出
“Detecting Co-Eluted Impurities by Spectral Compa
rison”」、ＬＣ−ＧＣ．１２、ナンバー１０、７６８
〜７７２ページ（１９９４年）は、２ステップのスペク
トル対比技術を開示しており、最初に、２つのスペクト
ルの間の与えられたピークのスペクトルの異種性と形状
の相違を計測するベクトル角度を生成する。それからノ
イズ負担のような非理想的効果についての定量化がなさ
れ、且つスレショールドベクトル角度として割り付けら
れる。これらの２つの角度は、アナライトのクロマトグ
ラムに沿って比較される。手順は、クロマトグラフィー
のピークにおける不純物が検出される２つの角度の間の
相違の相関をとる。しかしながら、これを達成するため
には、一連の基本的なベースラインスペクトルを得るた
めにピークの「スタート」および「エンド」スペクトル
の補間を含む各スペクトルについてのベースライン補正
がされなければならない。加えて、不純物が存在するか
どうかを決定するために用いられるベクトル角度は、不
純物に起因して生じる計測される吸収単位におけるスペ
クトル誤差を直接的に算出しまたは定量化することはな
い。そのような技術もまた、スレショールドを確立する
ために分離した構成の実行を必要とし、且つ多重不純物
についての困難性を持つであろう。
【０００５】引用によりここに組み込まれたワイ．フー
（Y. Hu）他による「人工ニューラルネットワークによ
るクロマトグラフィーのピーク純度の査定“Assessment
ofChromatographic Peak Purity By Means Of Artific
ial Neural Networks”」、Ｊ．Ｃｈｒｏｍａｔｏｇ
ｒ．７３４、３５９〜２７０ページ（１９９６）は、ク
ロマトグラフィーのピークの純度を検出するための３層
ニューラルネットワークを開示している。前記方法は、
分析されるべきクロマトグラフィーのピーク内のスペク
トル間の相違にニューラルネットワークを適用すること
をあてにしている。ニューラルネットワークの適用は、
当前記技術における熟達者には知られており、フーに開
示されているようにこの適用においては、人工ニューラ
ルネットワーク技術を用いて、各ピークの前半について
のデータのセットをトレーニングすることおよび各ピー
クの後半に対する応答を認識するためにこれらのデータ
のセットをテストすることを含んでいる。このアプロー
チは、保有回数およびクロマトグラムの前部と後部の間
のいくぶんか任意の区分による主成分に関する不純物の
数に強く依存している。このニューラルネットワークア
プローチの他の不都合は、成分のクロマトグラムおよび
スペクトルに関連するデータのほぼ半分が用いられ、主
成分の実体および不純物のクロマトグラフィーの保有お
よびスペクトルが著しくオーバラップしているアナライ
トについての検出感度を妥協し得ることである。さら
に、このアプローチは、不純物レベルに関する定量分析
を実行することができない。
（Y. Hu）他による「人工ニューラルネットワークによ
るクロマトグラフィーのピーク純度の査定“Assessment
ofChromatographic Peak Purity By Means Of Artific
ial Neural Networks”」、Ｊ．Ｃｈｒｏｍａｔｏｇ
ｒ．７３４、３５９〜２７０ページ（１９９６）は、ク
ロマトグラフィーのピークの純度を検出するための３層
ニューラルネットワークを開示している。前記方法は、
分析されるべきクロマトグラフィーのピーク内のスペク
トル間の相違にニューラルネットワークを適用すること
をあてにしている。ニューラルネットワークの適用は、
当前記技術における熟達者には知られており、フーに開
示されているようにこの適用においては、人工ニューラ
ルネットワーク技術を用いて、各ピークの前半について
のデータのセットをトレーニングすることおよび各ピー
クの後半に対する応答を認識するためにこれらのデータ
のセットをテストすることを含んでいる。このアプロー
チは、保有回数およびクロマトグラムの前部と後部の間
のいくぶんか任意の区分による主成分に関する不純物の
数に強く依存している。このニューラルネットワークア
プローチの他の不都合は、成分のクロマトグラムおよび
スペクトルに関連するデータのほぼ半分が用いられ、主
成分の実体および不純物のクロマトグラフィーの保有お
よびスペクトルが著しくオーバラップしているアナライ
トについての検出感度を妥協し得ることである。さら
に、このアプローチは、不純物レベルに関する定量分析
を実行することができない。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】したがって、望まれて
いることは、ピーク不純物の計測がクロマトグラフィー
のピーク全体にわたり、そのままの単位で報告され得る
と共にノイズフィルタリングが自動的に組み込まれるＰ
ＤＡ検出器によるＵＶ−ＶＩＳスペクトロフォトメトリ
を用いてＬＣピークによる不純物を検出し且つ定量化す
る方法である。
いることは、ピーク不純物の計測がクロマトグラフィー
のピーク全体にわたり、そのままの単位で報告され得る
と共にノイズフィルタリングが自動的に組み込まれるＰ
ＤＡ検出器によるＵＶ−ＶＩＳスペクトロフォトメトリ
を用いてＬＣピークによる不純物を検出し且つ定量化す
る方法である。
【０００７】
【課題を解決するための手段】したがって、発明の目的
は、クロマトグラフィーのピーク全体にわたりピーク純
度指数が報告され得るＬＣ不純物検出のためのアルゴリ
ズムを適用する方法を提供することにある。発明の他の
目的は、クロマトグラフィーのピークについてのピーク
スタートとピークエンドを検出することに敏感でないＬ
Ｃ不純物検出のためのアルゴリズムを適用する方法を提
供することにある。発明のさらなる目的は、自動的に組
み込まれる信号平均化またはノイズフィルタリングを備
えるＬＣ不純物検出のためのアルゴリズムを適用する方
法を提供することにある。発明のさらに他の目的は、一
つの主たる成分と共存する不純物ばかりでなくｎ個の主
成分の存在における不純物も検出し得るＬＣ不純物検出
のためのアルゴリズムを適用する方法を提供することに
ある。発明のその他の目的は、ピーク指数が、不純物に
よって生じるスペクトル誤差の量として直接的に解釈し
得るもとのスペクトル吸光度単位にて報告されるＬＣ不
純物検出のためのアルゴリズムを適用する方法を提供す
ることにある。発明のさらなる目的は、不純物を検出す
るためにキャリブレーション（較正）または基準の実行
を必要としないＬＣ不純物検出のためのアルゴリズムを
適用する方法を提供することにある。発明のさらにその
他の目的は、クロマトグラフィーのピークに対応する全
スペクトル空間を表現する確固たるマトリクス代数学に
基づくＬＣ不純物検出のためのアルゴリズムを適用する
方法を提供することにある。
は、クロマトグラフィーのピーク全体にわたりピーク純
度指数が報告され得るＬＣ不純物検出のためのアルゴリ
ズムを適用する方法を提供することにある。発明の他の
目的は、クロマトグラフィーのピークについてのピーク
スタートとピークエンドを検出することに敏感でないＬ
Ｃ不純物検出のためのアルゴリズムを適用する方法を提
供することにある。発明のさらなる目的は、自動的に組
み込まれる信号平均化またはノイズフィルタリングを備
えるＬＣ不純物検出のためのアルゴリズムを適用する方
法を提供することにある。発明のさらに他の目的は、一
つの主たる成分と共存する不純物ばかりでなくｎ個の主
成分の存在における不純物も検出し得るＬＣ不純物検出
のためのアルゴリズムを適用する方法を提供することに
ある。発明のその他の目的は、ピーク指数が、不純物に
よって生じるスペクトル誤差の量として直接的に解釈し
得るもとのスペクトル吸光度単位にて報告されるＬＣ不
純物検出のためのアルゴリズムを適用する方法を提供す
ることにある。発明のさらなる目的は、不純物を検出す
るためにキャリブレーション（較正）または基準の実行
を必要としないＬＣ不純物検出のためのアルゴリズムを
適用する方法を提供することにある。発明のさらにその
他の目的は、クロマトグラフィーのピークに対応する全
スペクトル空間を表現する確固たるマトリクス代数学に
基づくＬＣ不純物検出のためのアルゴリズムを適用する
方法を提供することにある。
【０００８】従来技術の不都合のいくつかを克服し、上
に掲げた目的および利点のいくつかを達成するために、
本発明は、サンプルにおける不純物を検出する方法、お
よびさらなる局面においては、サンプルにおける不純物
を検出するための装置を備えている。少なくとも一つの
アナライトを有するサンプルにおける不純物を検出する
ための発明に従った方法は、前記サンプルにおける成分
の予想される数をあらわす値を選択するステップと、前
記サンプルについての特性測定値、前記特性測定値は各
次元について少なくとも２つの変数を有する、をあらわ
すマトリクス（行列）を生成するステップと、前記アナ
ライトと不純物との間の関係の分析のために前記マトリ
クス内におけるサブセットを繰り返し選択するステップ
と、前記サンプルの純度を査定するために前記サブセッ
トから指数を演算するステップとからなる各ステップを
有する。
に掲げた目的および利点のいくつかを達成するために、
本発明は、サンプルにおける不純物を検出する方法、お
よびさらなる局面においては、サンプルにおける不純物
を検出するための装置を備えている。少なくとも一つの
アナライトを有するサンプルにおける不純物を検出する
ための発明に従った方法は、前記サンプルにおける成分
の予想される数をあらわす値を選択するステップと、前
記サンプルについての特性測定値、前記特性測定値は各
次元について少なくとも２つの変数を有する、をあらわ
すマトリクス（行列）を生成するステップと、前記アナ
ライトと不純物との間の関係の分析のために前記マトリ
クス内におけるサブセットを繰り返し選択するステップ
と、前記サンプルの純度を査定するために前記サブセッ
トから指数を演算するステップとからなる各ステップを
有する。
【０００９】その局面の一つにおける発明は、少なくと
も１つの成分を有するサンプルにおける不純物を検出す
るための装置をも提供し、前記サンプルについての特性
測定値を得るためのデバイスと、前記デバイスにリンク
されたコンピュータと、前記サンプルにおける成分の予
想される数をあらわす値を選択するために前記コンピュ
ータ上で実行するソフトウェアと、前記サンプルについ
ての特性測定値、前記特性測定値は各次元について少な
くとも２つの変数を有する、をあらわすマトリクス（行
列）を生成するために前記コンピュータ上で実行するソ
フトウェアと、前記成分と不純物との間の関係の分析の
ために前記マトリクス内におけるサブセットを繰り返し
選択するために前記コンピュータ上で実行するソフトウ
ェアと、前記サンプルの純度を査定すべく前記サブセッ
トから指数を演算するために前記コンピュータ上で実行
するソフトウェアとを具備する。発明およびその特別な
特徴は、添付図面を参照する次の詳細な説明からより明
白になるであろう。
も１つの成分を有するサンプルにおける不純物を検出す
るための装置をも提供し、前記サンプルについての特性
測定値を得るためのデバイスと、前記デバイスにリンク
されたコンピュータと、前記サンプルにおける成分の予
想される数をあらわす値を選択するために前記コンピュ
ータ上で実行するソフトウェアと、前記サンプルについ
ての特性測定値、前記特性測定値は各次元について少な
くとも２つの変数を有する、をあらわすマトリクス（行
列）を生成するために前記コンピュータ上で実行するソ
フトウェアと、前記成分と不純物との間の関係の分析の
ために前記マトリクス内におけるサブセットを繰り返し
選択するために前記コンピュータ上で実行するソフトウ
ェアと、前記サンプルの純度を査定すべく前記サブセッ
トから指数を演算するために前記コンピュータ上で実行
するソフトウェアとを具備する。発明およびその特別な
特徴は、添付図面を参照する次の詳細な説明からより明
白になるであろう。
【００１０】
【発明の実施形態】フォトダイオードアレイ検出器（Ｐ
ＤＡ）と共同して液体クロマトグラフィー（ＬＣ）を用
いるアナライトにおける不純物の検出は、共に溶離する
化合物のスペクトルおよびクロマトグラフィーのプロフ
ァイルの分析を含んでいる。図１は、ＵＶ−ＶＩＳスペ
クトロフォトメータと共に用いられる流通セル２２を有
する液体クロマトグラフィー（ＬＣ）カラム２０を示し
ている。サンプル１０は、流動相の溶剤を用い、ＬＣカ
ラム２０を通って溶離されまたは洗浄される。２００〜
８００ｎｍの紫外線−可視光線（ＵＶ−ＶＩＳ）領域に
おける放射線（光線）にさらされたとき、サンプル１０
における特定の化学構造は、フォトダイオードアレイ
（ＰＤＡ）検出器３４によって検出されると、サンプル
の放射線吸収によって入口スリット３２およびグレーテ
ィング（回折格子）３３を通して特性スペクトルピーク
が生成されるであろう。成分のスペクトル吸光度は、数
１で示されるような、ビア−ランバート（Beer-Lamber
t）の法則によるサンプル内のそれの濃度に関連してい
る。
ＤＡ）と共同して液体クロマトグラフィー（ＬＣ）を用
いるアナライトにおける不純物の検出は、共に溶離する
化合物のスペクトルおよびクロマトグラフィーのプロフ
ァイルの分析を含んでいる。図１は、ＵＶ−ＶＩＳスペ
クトロフォトメータと共に用いられる流通セル２２を有
する液体クロマトグラフィー（ＬＣ）カラム２０を示し
ている。サンプル１０は、流動相の溶剤を用い、ＬＣカ
ラム２０を通って溶離されまたは洗浄される。２００〜
８００ｎｍの紫外線−可視光線（ＵＶ−ＶＩＳ）領域に
おける放射線（光線）にさらされたとき、サンプル１０
における特定の化学構造は、フォトダイオードアレイ
（ＰＤＡ）検出器３４によって検出されると、サンプル
の放射線吸収によって入口スリット３２およびグレーテ
ィング（回折格子）３３を通して特性スペクトルピーク
が生成されるであろう。成分のスペクトル吸光度は、数
１で示されるような、ビア−ランバート（Beer-Lamber
t）の法則によるサンプル内のそれの濃度に関連してい
る。
【００１１】
【式８】
【００１２】ここで、Ａは、吸光度単位（ＡＵ）にて計
測される成分の吸光度であり、 Ｉ＝サンプルから出現する放射線の強度、 Ｉ０＝サンプルなしにおける放射線強度、 ａ＝モル吸光係数、 ｂ＝流通セルの流路長、 ｃ＝セル内におけるアナライトの濃度である。
測される成分の吸光度であり、 Ｉ＝サンプルから出現する放射線の強度、 Ｉ０＝サンプルなしにおける放射線強度、 ａ＝モル吸光係数、 ｂ＝流通セルの流路長、 ｃ＝セル内におけるアナライトの濃度である。
【００１３】流通セルから放射される光放射の特定の波
長について、サンプルに含まれるアナライトは、概し
て、ｙ軸の次元がその濃度に相関がある成分の吸光度を
示し且つｘ軸の次元がアナライトがＬＣカラムを通って
洗浄されたときの成分溶離保有回数を示す図２に示され
たのと同様のピークを有するクロマトグラムのような特
性計測を生成する。加えて、アナライトのための吸光度
スペクトルが、図３に示されるように生成され、そこで
は、再びｙ軸は成分の吸光度を示し且つｘ軸は生成され
るスペクトルに起因すると考えられる一連の波長を示し
ている。クロマトグラムについて、（図２において点線
で示された）ベースラインは、流動相における変化に関
連する吸光度および流動系またはＰＤＡ検出器に関連す
るノイズによるいかなる与えられる成分についても概し
て観測される。
長について、サンプルに含まれるアナライトは、概し
て、ｙ軸の次元がその濃度に相関がある成分の吸光度を
示し且つｘ軸の次元がアナライトがＬＣカラムを通って
洗浄されたときの成分溶離保有回数を示す図２に示され
たのと同様のピークを有するクロマトグラムのような特
性計測を生成する。加えて、アナライトのための吸光度
スペクトルが、図３に示されるように生成され、そこで
は、再びｙ軸は成分の吸光度を示し且つｘ軸は生成され
るスペクトルに起因すると考えられる一連の波長を示し
ている。クロマトグラムについて、（図２において点線
で示された）ベースラインは、流動相における変化に関
連する吸光度および流動系またはＰＤＡ検出器に関連す
るノイズによるいかなる与えられる成分についても概し
て観測される。
【００１４】本発明の方法は、ベースライン、もしも存
在すれば、主成分およびどんな疑わしい不純物または不
純物群の中にも良好な線型加算性が存在する。加えて、
検出される不純物は、検出されるどんなベースラインお
よび主成分とも異なるスペクトルの特徴を持っているは
ずであると仮定している。本発明の方法は、図４に示さ
れる、（ｍ×ｎ）マトリクスＲの生成を含んでおり、そ
れはクロマトグラフィーのピークにより生成されるスペ
クトル空間をあらわしている。Ｒマトリクスのｎ列は、
クロマトグラフィーのピークについての種々の保有回数
ｔＲをあらわしているのに対して、前記マトリクスのｍ
行は、ＰＤＡ上の種々の計測波長を示している。それゆ
え、前記マトリクス内の各点は、ＬＣ溶離についての特
定の保有回数およびスペクトル波長に関連する計測され
た吸光度（ＡＵ）を示している。既知のスタート時点
（ｔ０）およびエンド時点（ｔ１）は、マトリクスＲを
生成するように選択されると同時に、ベースラインが存
在する（その場合、ｒ０＝１）か、存在しないか（その
場合、ｒ０＝０）の判定を生成する。加えて、既知のま
たはアナライトサンプル内に存在すると思われる主成分
の数、ｒ１、が選択される。典型的には、ｒ１＝１であ
るが、本発明の方法は、ｒ１＞１についても考えてい
る。線型独立成分の総数は数２で与えられる。
在すれば、主成分およびどんな疑わしい不純物または不
純物群の中にも良好な線型加算性が存在する。加えて、
検出される不純物は、検出されるどんなベースラインお
よび主成分とも異なるスペクトルの特徴を持っているは
ずであると仮定している。本発明の方法は、図４に示さ
れる、（ｍ×ｎ）マトリクスＲの生成を含んでおり、そ
れはクロマトグラフィーのピークにより生成されるスペ
クトル空間をあらわしている。Ｒマトリクスのｎ列は、
クロマトグラフィーのピークについての種々の保有回数
ｔＲをあらわしているのに対して、前記マトリクスのｍ
行は、ＰＤＡ上の種々の計測波長を示している。それゆ
え、前記マトリクス内の各点は、ＬＣ溶離についての特
定の保有回数およびスペクトル波長に関連する計測され
た吸光度（ＡＵ）を示している。既知のスタート時点
（ｔ０）およびエンド時点（ｔ１）は、マトリクスＲを
生成するように選択されると同時に、ベースラインが存
在する（その場合、ｒ０＝１）か、存在しないか（その
場合、ｒ０＝０）の判定を生成する。加えて、既知のま
たはアナライトサンプル内に存在すると思われる主成分
の数、ｒ１、が選択される。典型的には、ｒ１＝１であ
るが、本発明の方法は、ｒ１＞１についても考えてい
る。線型独立成分の総数は数２で与えられる。
【００１５】
【式９】
【００１６】数２は、ベースラインなしでただ１つの主
成分の存在における不純物のためにクロマトグラフィー
のピークに必要とされる最小数のスペクトルをあらわし
ている。典型的には、少なくともｎ＞１０のスペクトル
の総計は、保有回数ｔ０およびｔ１の間に記録される。
ｒ１に対する値が一旦選択され、そして与えられたスペ
クトル範囲におけるピーク不純物検出が行なわれると、
少なくともｍ個のスペクトルポイントが、ｍ≧ｒのよう
に、しかしより典型的にはｍ≧１０ｒとして、同定され
た各クロマトグラフィーのピークについて（ｍ×ｎ次元
の）マトリクスＲを生成すべく選択されなければならな
い。
成分の存在における不純物のためにクロマトグラフィー
のピークに必要とされる最小数のスペクトルをあらわし
ている。典型的には、少なくともｎ＞１０のスペクトル
の総計は、保有回数ｔ０およびｔ１の間に記録される。
ｒ１に対する値が一旦選択され、そして与えられたスペ
クトル範囲におけるピーク不純物検出が行なわれると、
少なくともｍ個のスペクトルポイントが、ｍ≧ｒのよう
に、しかしより典型的にはｍ≧１０ｒとして、同定され
た各クロマトグラフィーのピークについて（ｍ×ｎ次元
の）マトリクスＲを生成すべく選択されなければならな
い。
【００１７】マトリクスＲのｎ列の範囲内で、サブセッ
トすなわち小さなウィンドウ、あるいはＲ内の溶離クロ
マトグラムデータの連続する時点をあらわす奇数のｐ列
を含むサブマトリクスＲ１、ここでｐ≧ｒである、は、
前記主成分と不純物の間の関係の分析のために、後のス
ペクトル射影のために最善のサブスペースの探索におけ
るピークを通ってスライドするように、繰り返し選択さ
れ得る。ここで、「最善のサブスペース」によって意味
することは、ベースライン（もしもあれば）と主成分と
の最善の間隔、すなわち、これらのベクトルの線形結合
が不純物の不存在時におけるＲ内の全てのスペクトルに
最も近い近似を与え得る、１セットのベクトルである。
この「スペクトルのサブスペース」の探索、あるいはｐ
列の１つのセットから他のものへ連続的にそれが移動す
るようにその値を変更するＲｊマトリクスの生成は、
（ｐ−１）／２＋１≧ｊ≧ｎ−（ｐ−１）／２であると
きの各ｊについて、もとのマトリクスＲの第［ｊ−（ｐ
−１）／２］番目の列から第［ｊ＋（ｐ−１）／２］番
目の列を採ることにより、形成され、それからそれは、
マトリクス代数学において知られているように、特異値
分解（ＳＶＤ）の手法を介して数３に分解され得る。
トすなわち小さなウィンドウ、あるいはＲ内の溶離クロ
マトグラムデータの連続する時点をあらわす奇数のｐ列
を含むサブマトリクスＲ１、ここでｐ≧ｒである、は、
前記主成分と不純物の間の関係の分析のために、後のス
ペクトル射影のために最善のサブスペースの探索におけ
るピークを通ってスライドするように、繰り返し選択さ
れ得る。ここで、「最善のサブスペース」によって意味
することは、ベースライン（もしもあれば）と主成分と
の最善の間隔、すなわち、これらのベクトルの線形結合
が不純物の不存在時におけるＲ内の全てのスペクトルに
最も近い近似を与え得る、１セットのベクトルである。
この「スペクトルのサブスペース」の探索、あるいはｐ
列の１つのセットから他のものへ連続的にそれが移動す
るようにその値を変更するＲｊマトリクスの生成は、
（ｐ−１）／２＋１≧ｊ≧ｎ−（ｐ−１）／２であると
きの各ｊについて、もとのマトリクスＲの第［ｊ−（ｐ
−１）／２］番目の列から第［ｊ＋（ｐ−１）／２］番
目の列を採ることにより、形成され、それからそれは、
マトリクス代数学において知られているように、特異値
分解（ＳＶＤ）の手法を介して数３に分解され得る。
【００１８】
【式１０】
【００１９】ここで、Ｖｊは、ｑ＝ｍｉｎ（ｐ，ｍ）で
あり、下付きＴがマトリクスの転置を示す、サブスペー
スを含む（ｐ×ｑ）に次元化される右特異正規直交マト
リクスである；Ｓｊは、その主たる対角線に沿って降順
の全ての正の特異な値を含んで（ｑ×ｑ）に次元化され
る対角マトリクスである；そしてＵｊは、波長における
サブスペースを含む（ｍ×ｑ）に次元化された、左特異
正規直交マトリクスである。純度指数または純度値ｋｊ
は、数４に従ってＳｊなるマトリクス値を操作すること
によって演算される。
あり、下付きＴがマトリクスの転置を示す、サブスペー
スを含む（ｐ×ｑ）に次元化される右特異正規直交マト
リクスである；Ｓｊは、その主たる対角線に沿って降順
の全ての正の特異な値を含んで（ｑ×ｑ）に次元化され
る対角マトリクスである；そしてＵｊは、波長における
サブスペースを含む（ｍ×ｑ）に次元化された、左特異
正規直交マトリクスである。純度指数または純度値ｋｊ
は、数４に従ってＳｊなるマトリクス値を操作すること
によって演算される。
【００２０】
【式１１】
【００２１】ここで、ｒ＝ｒ０＋ｒ１＋１、そして、Ｓ
ｉは、マトリクスＳｊの主たる対角線のｉ番目の要素で
あり、Ｓｊは数５のようにあらわすことができる。
ｉは、マトリクスＳｊの主たる対角線のｉ番目の要素で
あり、Ｓｊは数５のようにあらわすことができる。
【００２２】
【式１２】
【００２３】ＲｊのＳｊへのマトリクス分解についての
利点は、全スペクトルレスポンスに対する全体でのベー
スライン負担が、ベースラインのスペクトルの特徴、す
なわち、そのスペクトルの形状、が提供される不純物検
出に影響されることなく、ピークの間中ずっと同一に保
持しつつ、変更することが許容されることである。純度
値ｋｊは、いつも１．００００よりも大きいであろう。
そしてそれは、ピークにおける予想される成分の数、ｒ
１、そしてベースラインが存在するかどうか、すなわ
ち、ｒ０＝０かｒ０＝１か、に従って数４によって計算
される。より高い純度値ｋｊは、サブマトリクスＲｊに
含まれるクロマトグラムのより純粋なセグメントに対応
する。しかしながら、ｋｊについてのより低い値は、ラ
ンダムマトリクスの分解の結果として得られる比較的小
さな特異値の間の不一致によりより小さなｋｊを引き起
こし得るベースライン領域におけるノイズの存在により
必然的に不純物を示すことはない。それゆえ、ｋｊ値そ
れ自体は、ピーク不純物インジケータとして利用するこ
とができないが、ｋｊとして、数式６として最大値ｋｉ
が選択され得るピークの純度を査定するためのピーク純
度インジケータとして確信を持って利用することができ
る。
利点は、全スペクトルレスポンスに対する全体でのベー
スライン負担が、ベースラインのスペクトルの特徴、す
なわち、そのスペクトルの形状、が提供される不純物検
出に影響されることなく、ピークの間中ずっと同一に保
持しつつ、変更することが許容されることである。純度
値ｋｊは、いつも１．００００よりも大きいであろう。
そしてそれは、ピークにおける予想される成分の数、ｒ
１、そしてベースラインが存在するかどうか、すなわ
ち、ｒ０＝０かｒ０＝１か、に従って数４によって計算
される。より高い純度値ｋｊは、サブマトリクスＲｊに
含まれるクロマトグラムのより純粋なセグメントに対応
する。しかしながら、ｋｊについてのより低い値は、ラ
ンダムマトリクスの分解の結果として得られる比較的小
さな特異値の間の不一致によりより小さなｋｊを引き起
こし得るベースライン領域におけるノイズの存在により
必然的に不純物を示すことはない。それゆえ、ｋｊ値そ
れ自体は、ピーク不純物インジケータとして利用するこ
とができないが、ｋｊとして、数式６として最大値ｋｉ
が選択され得るピークの純度を査定するためのピーク純
度インジケータとして確信を持って利用することができ
る。
【００２４】
【式１３】
【００２５】それは、Ｒ１がピーク全体にわたるスペク
トルの最も純粋なセットを含む図２に示されたようなサ
ブマトリクスに対応している。本発明の方法の他の局面
は、ピークを横切る全ての単一のフルスペクトルを、最
も純度の高いスペクトルのセットに対応してＲ１によっ
てあらわされるスペクトルサブスペース上に射影するこ
とを含んでいる。この射影によって、「スペクトルの誤
差」または不純物の存在による純粋成分のスペクトルか
らの離脱の量を反映する残差スペクトルが演算され得
る。（ｍ×ｍ）射影マトリクスＰ０は、数式７によって
構成される。
トルの最も純粋なセットを含む図２に示されたようなサ
ブマトリクスに対応している。本発明の方法の他の局面
は、ピークを横切る全ての単一のフルスペクトルを、最
も純度の高いスペクトルのセットに対応してＲ１によっ
てあらわされるスペクトルサブスペース上に射影するこ
とを含んでいる。この射影によって、「スペクトルの誤
差」または不純物の存在による純粋成分のスペクトルか
らの離脱の量を反映する残差スペクトルが演算され得
る。（ｍ×ｍ）射影マトリクスＰ０は、数式７によって
構成される。
【００２６】
【式１４】
【００２７】ここで、Ｕは、［ｍ×（ｒ０＋ｒ１）］と
して次元化され、且つ特定のサブスペースＲ１（図２に
示されている）をあらわすＲ１マトリクスに対応する左
特異マトリクス、Ｕｔ、（図６に示されている）最初の
（ｒ０＋ｒ１）の列をとることにより形成され、そこで
は、Ｒ１の選択および先に略述された手続きによるＲ １
上の特異値分解によりＵｔが決定され且つ形成される。
（ｍ×１）マトリクスとして示されるいかなるスペクト
ルｒも同一の成分から作成され、より純粋なＲ１マトリ
クスに含まれるもののように、おそらく異なる部位にあ
るけれども、著しく変化されることなく、射影マトリク
スＰ０によって示されるスペクトルサブスペース上に射
影され得る。ここでｒは、次のようにあらわされる。
して次元化され、且つ特定のサブスペースＲ１（図２に
示されている）をあらわすＲ１マトリクスに対応する左
特異マトリクス、Ｕｔ、（図６に示されている）最初の
（ｒ０＋ｒ１）の列をとることにより形成され、そこで
は、Ｒ１の選択および先に略述された手続きによるＲ １
上の特異値分解によりＵｔが決定され且つ形成される。
（ｍ×１）マトリクスとして示されるいかなるスペクト
ルｒも同一の成分から作成され、より純粋なＲ１マトリ
クスに含まれるもののように、おそらく異なる部位にあ
るけれども、著しく変化されることなく、射影マトリク
スＰ０によって示されるスペクトルサブスペース上に射
影され得る。ここでｒは、次のようにあらわされる。
【００２８】
【式１５】
【００２９】そして、残差（ｍ×１）は、ノイズレベル
になければならない。前記式は、数９に再配置され得
る。
になければならない。前記式は、数９に再配置され得
る。
【００３０】
【式１６】
【００３１】そして、数１０の通り、
【００３２】
【式１７】
【００３３】ｅはこうなる；
【００３４】
【式１８】
【００３５】ここで、Ｐ１は、サブスペースＰ０に直交
するいかなるスペクトルｒの部分を計算するのにも用い
られ得る射影マトリクスとなる。それゆえ、上述された
マトリクスにおいて実際に収集され且つ表現されたスペ
クトルデータの操作により導出されるこのステップは、
いくつかの固有のスペクトルの特徴を含むであろういか
なるスペクトルのチェック、前記スペクトルの特徴は不
純物の結果であるかどうかのような、をも許容する。ス
ペクトルのこの固有の部分は、「ネット（正味の）アナ
ライト信号」であり、且つ導出されるサブスペースＰ０
に既に収容されているものに相関がある疑わしい不純物
についての純スペクトルレスポンスのいかなる部分も、
Ｐ０に直交するＰ１への射影から除去されているので、
不純物の疑いのある成分についての純スペクトル応答よ
りも小さい。固有のスペクトルの特徴を有する不純物が
存在しないとき、演算された残差ｅはシステムノイズレ
ベルとなるであろう。自乗平均された誤差は、全体のス
ペクトルエラーを反映させるべく、この残差ｅから演算
され得て、数式１２のように計算され得る；
するいかなるスペクトルｒの部分を計算するのにも用い
られ得る射影マトリクスとなる。それゆえ、上述された
マトリクスにおいて実際に収集され且つ表現されたスペ
クトルデータの操作により導出されるこのステップは、
いくつかの固有のスペクトルの特徴を含むであろういか
なるスペクトルのチェック、前記スペクトルの特徴は不
純物の結果であるかどうかのような、をも許容する。ス
ペクトルのこの固有の部分は、「ネット（正味の）アナ
ライト信号」であり、且つ導出されるサブスペースＰ０
に既に収容されているものに相関がある疑わしい不純物
についての純スペクトルレスポンスのいかなる部分も、
Ｐ０に直交するＰ１への射影から除去されているので、
不純物の疑いのある成分についての純スペクトル応答よ
りも小さい。固有のスペクトルの特徴を有する不純物が
存在しないとき、演算された残差ｅはシステムノイズレ
ベルとなるであろう。自乗平均された誤差は、全体のス
ペクトルエラーを反映させるべく、この残差ｅから演算
され得て、数式１２のように計算され得る；
【００３６】
【式１９】
【００３７】ここで、Ｅは、疑わしい不純物の存在によ
って生じる、ピーク不純物指数（吸光度単位での）をあ
らわす。このスペクトル誤差Ｅは、容易に計算され得る
とともに、一旦射影マトリクスＰ１が上述において輪郭
を示したように構成され、マトリクスＲであらわされる
スペクトルスペース内に収容される各スペクトルｒにつ
いてのピーク不純物インジケータまたは指数として用い
られる。ＬＣ不純物を検出するためにこの方法と共にコ
ンピュータに適用されときに、コンピュータ計算の最も
浪費的な部分は、ピーク全体を横切るスライディングウ
ィンドウに関連するｋｊ値の計算である。このことは、
モデムコンピュータに問題を提起し、ありそうにない
が、特異値分解（ＳＶＤ）アップデーティングアルゴリ
ズムが、正確に一つのスペクトルがサブマトリクスＲｊ
を形成するための分析に合わせるウィンドウの各連続す
る動作において内外に移動するように適用され得る。
って生じる、ピーク不純物指数（吸光度単位での）をあ
らわす。このスペクトル誤差Ｅは、容易に計算され得る
とともに、一旦射影マトリクスＰ１が上述において輪郭
を示したように構成され、マトリクスＲであらわされる
スペクトルスペース内に収容される各スペクトルｒにつ
いてのピーク不純物インジケータまたは指数として用い
られる。ＬＣ不純物を検出するためにこの方法と共にコ
ンピュータに適用されときに、コンピュータ計算の最も
浪費的な部分は、ピーク全体を横切るスライディングウ
ィンドウに関連するｋｊ値の計算である。このことは、
モデムコンピュータに問題を提起し、ありそうにない
が、特異値分解（ＳＶＤ）アップデーティングアルゴリ
ズムが、正確に一つのスペクトルがサブマトリクスＲｊ
を形成するための分析に合わせるウィンドウの各連続す
る動作において内外に移動するように適用され得る。
【００３８】本発明の上述の方法は、種々のシナリオが
適用されるように、ピーク不純物の検出および解釈を許
容する。不純物なしの純ピークの場合、単一の成分、す
なわち、ｒ０＝０およびｒ１＝１であって、ｋｊ値は信
号対ノイズ比を計測する。加えて、射影マトリクスＰ０
における各列または行は、純成分の同一のスペクトルの
尺度変更版であろう。混合成分の場合には、１つ以上の
成分が検出され、すなわち、ｒ１＞１であり、主たる成
分が未だ多量であり、不純物が検出システムのノイズに
比較して無視できるようになったときに、保有回数にお
いて最大ｋｊ値が得られる。図７は、次のマトリクス表
現に従って合成されたデータのプロットを示している。
適用されるように、ピーク不純物の検出および解釈を許
容する。不純物なしの純ピークの場合、単一の成分、す
なわち、ｒ０＝０およびｒ１＝１であって、ｋｊ値は信
号対ノイズ比を計測する。加えて、射影マトリクスＰ０
における各列または行は、純成分の同一のスペクトルの
尺度変更版であろう。混合成分の場合には、１つ以上の
成分が検出され、すなわち、ｒ１＞１であり、主たる成
分が未だ多量であり、不純物が検出システムのノイズに
比較して無視できるようになったときに、保有回数にお
いて最大ｋｊ値が得られる。図７は、次のマトリクス表
現に従って合成されたデータのプロットを示している。
【００３９】
【式２０】
【００４０】ここで、Ｓ１は、（ｍ×１）マトリクスと
して次元化され、Ｓ２は、（ｍ×１）マトリクスとして
次元化され、そしてａおよびｂ成分についての純スペク
トルである（例えば図３に図示されている）。（１×
ｎ）で次元化された、Ｃ１、および（１×ｎ）で次元化
された、Ｃ２、は、ガウシアン（ガウス分布）としてモ
デル化されたこれら２つのクロマトグラムであり、そし
て（ｍ×１）で次元化されたｅは、ゼロの平均および１
０−４の吸光度単位の標準偏差を有する正規分布された
ノイズ期間である。
して次元化され、Ｓ２は、（ｍ×１）マトリクスとして
次元化され、そしてａおよびｂ成分についての純スペク
トルである（例えば図３に図示されている）。（１×
ｎ）で次元化された、Ｃ１、および（１×ｎ）で次元化
された、Ｃ２、は、ガウシアン（ガウス分布）としてモ
デル化されたこれら２つのクロマトグラムであり、そし
て（ｍ×１）で次元化されたｅは、ゼロの平均および１
０−４の吸光度単位の標準偏差を有する正規分布された
ノイズ期間である。
【００４１】図７は、サンプルについてのプロットＢ
（純度値ｋのプロット）を有するプロットＡ（ノイズを
含む全クロマトグラムが潜在する、不純物ｂを伴う、純
成分ａのクロマトグラム）およびプロットＣ（ピーク不
純物指数Ｅ１）を示している。プロットＢに見られるよ
うに、成分ａについてのピーク純度値は、それが高いス
ペクトル感度、すなわち、与えられた波長の放射により
大きな吸光度、を有するという事実により、成分ｂのそ
れよりも高い。プロットＣは、ピーク不純物指数が、不
純物の、ｂの、プロットＡに示されるような、クロマト
グラフィーのプロファイルの一般形状に従うであろう
が、この例のように、不純物のクロマトグラムの一部が
第１の成分の、ａのピークとオーバラップしているとき
に、不純物指数の上昇部分がそのクロマトグラムと比較
して減少されていることを示している。
（純度値ｋのプロット）を有するプロットＡ（ノイズを
含む全クロマトグラムが潜在する、不純物ｂを伴う、純
成分ａのクロマトグラム）およびプロットＣ（ピーク不
純物指数Ｅ１）を示している。プロットＢに見られるよ
うに、成分ａについてのピーク純度値は、それが高いス
ペクトル感度、すなわち、与えられた波長の放射により
大きな吸光度、を有するという事実により、成分ｂのそ
れよりも高い。プロットＣは、ピーク不純物指数が、不
純物の、ｂの、プロットＡに示されるような、クロマト
グラフィーのプロファイルの一般形状に従うであろう
が、この例のように、不純物のクロマトグラムの一部が
第１の成分の、ａのピークとオーバラップしているとき
に、不純物指数の上昇部分がそのクロマトグラムと比較
して減少されていることを示している。
【００４２】スペクトル直交成分、例えば、スペクトル
オーバラップなしで且つベースラインからのスペクトル
負担なし、からなるピークを形成する成分の混合の場合
には、ピーク不純物指数は、不純物クロマトグラム自体
と正確に同一であり、唯一の違いは２つのプロットの間
のスケール（縮尺）である。この特別な場合には、不純
物の固有のスペクトル標識としてのピーク不純物指数
が、不純物の濃度に直接的に比例している。そのような
状況において、ＳｊマトリクスにおけるＳ１およびＳ２
の値が、ゼロでなく、且つサンプルにおける成分のそれ
ぞれの濃度に正確に比例するであろう。他の全ての場
合、図７に代表的に示されるように、ピーク不純物指数
は、サンプルにおける不純物濃度のための低位側境界を
提供する。
オーバラップなしで且つベースラインからのスペクトル
負担なし、からなるピークを形成する成分の混合の場合
には、ピーク不純物指数は、不純物クロマトグラム自体
と正確に同一であり、唯一の違いは２つのプロットの間
のスケール（縮尺）である。この特別な場合には、不純
物の固有のスペクトル標識としてのピーク不純物指数
が、不純物の濃度に直接的に比例している。そのような
状況において、ＳｊマトリクスにおけるＳ１およびＳ２
の値が、ゼロでなく、且つサンプルにおける成分のそれ
ぞれの濃度に正確に比例するであろう。他の全ての場
合、図７に代表的に示されるように、ピーク不純物指数
は、サンプルにおける不純物濃度のための低位側境界を
提供する。
【００４３】本発明の方法に対する他の利点は、アナラ
イトサンプルのクロマトグラムに関連するベースライン
領域は、極端に低い信号対雑音比によってベースライン
によるサブスペースＰ０の間隔を選択されることがない
ことである。したがって、本発明の方法は、それ自体数
値的安定性の問題を生じさせることなくアルゴリズムに
よって自動的に信号平均化またはノイズフィルタリング
を実行するから、不純物を検出するためのベースライン
負担についての分離的に考慮する方法についての必要性
はない。ここで、「数値的安定性問題」の意味するとこ
ろは、圧倒的に小さな信号と掛かり合う大部分のノイズ
と関わり合う数値的な困難性である。
イトサンプルのクロマトグラムに関連するベースライン
領域は、極端に低い信号対雑音比によってベースライン
によるサブスペースＰ０の間隔を選択されることがない
ことである。したがって、本発明の方法は、それ自体数
値的安定性の問題を生じさせることなくアルゴリズムに
よって自動的に信号平均化またはノイズフィルタリング
を実行するから、不純物を検出するためのベースライン
負担についての分離的に考慮する方法についての必要性
はない。ここで、「数値的安定性問題」の意味するとこ
ろは、圧倒的に小さな信号と掛かり合う大部分のノイズ
と関わり合う数値的な困難性である。
【００４４】ＬＣ不純物を検出するための本発明の方法
は、２つの例に適用される。両例においては、スペクト
ル収集レートは、毎秒約２．２スペクトルであり、そし
てパラメータｐは、ｒｍｉｎ＝１において５に設定さ
れ、すなわち一つの主要な成分はベースラインを持たな
い。例１および例２に含まれ、図７〜図１０に示される
データを生成するために用いられる実験条件は、表１に
まとめられている。
は、２つの例に適用される。両例においては、スペクト
ル収集レートは、毎秒約２．２スペクトルであり、そし
てパラメータｐは、ｒｍｉｎ＝１において５に設定さ
れ、すなわち一つの主要な成分はベースラインを持たな
い。例１および例２に含まれ、図７〜図１０に示される
データを生成するために用いられる実験条件は、表１に
まとめられている。
【００４５】 表１ 流動相構成 ＭｅＯＨ ＴＨＦ 水 例１ ５０％ １４％ ３６％ 例２ ７５％ ０％ ２５％
【００４６】同一のサンプルが各例において用いられ、
ベンゼン、トルエン、エチルベンゼン、イソプロピルベ
ンゼン、第３ブチルベンゼン、およびアントラセンの混
合物を含む。ここで、 ＭｅＯＨ＝メタノール ＴＨＦ＝テトラヒドロフラン である。パーキンエルマー（Perkin Elmer）シリーズ２
００ダイオードアレイディテクタ（ＤＡＤ）が検出に用
いられる。
ベンゼン、トルエン、エチルベンゼン、イソプロピルベ
ンゼン、第３ブチルベンゼン、およびアントラセンの混
合物を含む。ここで、 ＭｅＯＨ＝メタノール ＴＨＦ＝テトラヒドロフラン である。パーキンエルマー（Perkin Elmer）シリーズ２
００ダイオードアレイディテクタ（ＤＡＤ）が検出に用
いられる。
【００４７】図８は、例１についての全クロマトグラム
およびピーク不純物指数Ｅを示している。図８の全クロ
マトグラムに示されるように、５つのピーク（各々のス
タートおよびエンドがより太い縦線でマークされる）が
ピーク不純物検出のために選択される。最後のピークに
は明白な不純物がある。第５ピークは、図８のピーク不
純物指数プロットに示されるように０．０７ＡＵに近い
スペクトル誤差を与える。
およびピーク不純物指数Ｅを示している。図８の全クロ
マトグラムに示されるように、５つのピーク（各々のス
タートおよびエンドがより太い縦線でマークされる）が
ピーク不純物検出のために選択される。最後のピークに
は明白な不純物がある。第５ピークは、図８のピーク不
純物指数プロットに示されるように０．０７ＡＵに近い
スペクトル誤差を与える。
【００４８】図９は、例１についての同一のクロマトグ
ラムおよびピーク不純物指数Ｅを示しているが、第１〜
第４ピークについてより低いピーク不純物指数の形状を
よりよく観察するために拡張されたＡＵユニットスケー
ルにおいて示している。第４ピークは、純ピークを示す
非常に小さなスペクトル誤差（０．０００５ＡＵ）を与
えている。第４ピークの小さな２次導関数構造は、しか
しながら、おそらくランダムではないが、ピークを横切
る成分濃度の変化に起因する小さなアーティファクトに
関連している。第１ピークは、第４ピークと同様の形状
からなる類似したスペクトル誤差を有しており、純ピー
クとみなし得る。第２ピークは、一方、不純物の存在を
示す０．００２ＡＵを超える大きな誤差を有している。
第３ピークは小さなスペクトル誤差を示し、且つピーク
不純物指数の存在は、推定することはできない。
ラムおよびピーク不純物指数Ｅを示しているが、第１〜
第４ピークについてより低いピーク不純物指数の形状を
よりよく観察するために拡張されたＡＵユニットスケー
ルにおいて示している。第４ピークは、純ピークを示す
非常に小さなスペクトル誤差（０．０００５ＡＵ）を与
えている。第４ピークの小さな２次導関数構造は、しか
しながら、おそらくランダムではないが、ピークを横切
る成分濃度の変化に起因する小さなアーティファクトに
関連している。第１ピークは、第４ピークと同様の形状
からなる類似したスペクトル誤差を有しており、純ピー
クとみなし得る。第２ピークは、一方、不純物の存在を
示す０．００２ＡＵを超える大きな誤差を有している。
第３ピークは小さなスペクトル誤差を示し、且つピーク
不純物指数の存在は、推定することはできない。
【００４９】図１０は、例２についての全クロマトグラ
ムとピーク不純物指数Ｅを示している。例２において
は、縦線により第２〜第６ピークが区分されており、全
ては相対的に小さなスペクトル誤差を有し、そしてそれ
ゆえ純ピークと推定し得る。第１ピークは、おそらく先
行するピークの尾端から来ている明白な不純物を含んで
いる。
ムとピーク不純物指数Ｅを示している。例２において
は、縦線により第２〜第６ピークが区分されており、全
ては相対的に小さなスペクトル誤差を有し、そしてそれ
ゆえ純ピークと推定し得る。第１ピークは、おそらく先
行するピークの尾端から来ている明白な不純物を含んで
いる。
【００５０】本発明の方法は、ＬＣ印加における不純物
の検出に特に限定されるわけではなく、多重変動特性計
測を通してサンプルの成分を検出し得るいかなる分析的
方法にも適用し得る。本発明の例としては、限定といて
ではなく、方法が１）吸着分離、２）膜分離、３）親和
性クロマトグラフィー、４）電気泳動、５）ガスクロマ
トグラフィーおよびその他の分離手法にも適用すること
ができる。さらに、本発明の方法は、ＵＶ−ＶＩＳフォ
トダイオードアレイ検出器を伴う応用に特に限るわけで
はなく、例のように、サンプルの成分が少なくとも２つ
の変数に関連する特性計測値により決定されるいかなる
分析的検出手法にも適用することができ、本発明の限定
としてではなく、前記方法は、ＦＴＩＲスペクトロスコ
ピー、蛍光発光、マススペクトロメトリー、電気化学検
出、ＮＭＲ（核磁気共鳴）、光音響検出、円偏光二色性
分光分析におよび他の分析的手法に適用することができ
る。
の検出に特に限定されるわけではなく、多重変動特性計
測を通してサンプルの成分を検出し得るいかなる分析的
方法にも適用し得る。本発明の例としては、限定といて
ではなく、方法が１）吸着分離、２）膜分離、３）親和
性クロマトグラフィー、４）電気泳動、５）ガスクロマ
トグラフィーおよびその他の分離手法にも適用すること
ができる。さらに、本発明の方法は、ＵＶ−ＶＩＳフォ
トダイオードアレイ検出器を伴う応用に特に限るわけで
はなく、例のように、サンプルの成分が少なくとも２つ
の変数に関連する特性計測値により決定されるいかなる
分析的検出手法にも適用することができ、本発明の限定
としてではなく、前記方法は、ＦＴＩＲスペクトロスコ
ピー、蛍光発光、マススペクトロメトリー、電気化学検
出、ＮＭＲ（核磁気共鳴）、光音響検出、円偏光二色性
分光分析におよび他の分析的手法に適用することができ
る。
【図１】図１は、液体クロマトグラフィー（ＬＣ）カラ
ムを通して溶離され且つフォトダイオードアレイ（ＰＤ
Ａ）検出器を有するスペクトロフォトメータにより分析
されたサンプルの単純化された概念図である。
ムを通して溶離され且つフォトダイオードアレイ（ＰＤ
Ａ）検出器を有するスペクトロフォトメータにより分析
されたサンプルの単純化された概念図である。
【図２】図２は、あるアナライトのあるクロマトグラム
を示している。
を示している。
【図３】図３は、与えられた時間ｔにおけるあるアナラ
イトのスペクトルを示している。
イトのスペクトルを示している。
【図４】図４は、クロマトグラフィーのピークのクロマ
トグラムスペクトルについてのスペクトル空間の表現で
ある（ｍ×ｎ）マトリクスＲを図解している。
トグラムスペクトルについてのスペクトル空間の表現で
ある（ｍ×ｎ）マトリクスＲを図解している。
【図５】図５は、Ｒｊによってあらわされるスペクトル
サブ空間を生ずるスライドするウィンドウとして適用さ
れる（ｍ×ｐ）サブマトリクスＲｊを図解している。
サブ空間を生ずるスライドするウィンドウとして適用さ
れる（ｍ×ｐ）サブマトリクスＲｊを図解している。
【図６】図６は、（ｍ×ｑ）マトリクスＵｔ内の（ｍ×
（ｒ０＋ｒ１））マトリクスＵを図解している。
（ｒ０＋ｒ１））マトリクスＵを図解している。
【図７】図７は、不純物を有する単一成分についての３
つのパネルにおけるそれぞれクロマトグラム、演算され
た純度値ｋ、および関連するピーク不純物を示す指数一
連のプロットＡ、ＢおよびＣである。
つのパネルにおけるそれぞれクロマトグラム、演算され
た純度値ｋ、および関連するピーク不純物を示す指数一
連のプロットＡ、ＢおよびＣである。
【図８】図８は、第１の例のサンプルについてプロット
された２つのパネルにおける多重ピーククロマトグラム
およびその関連するピーク不純物指数である。
された２つのパネルにおける多重ピーククロマトグラム
およびその関連するピーク不純物指数である。
【図９】図９は、図８のクロマトグラムおよびピーク不
純物指数、前記ピーク不純物指数は拡張された吸光度
（ＡＵ）スケールに対してプロットされている、であ
る。
純物指数、前記ピーク不純物指数は拡張された吸光度
（ＡＵ）スケールに対してプロットされている、であ
る。
【図１０】図１０は、第２の例のサンプルについてプロ
ットされた２つのパネルにおける多重ピーククロマトグ
ラムおよびその関連するピーク不純物指数である。
ットされた２つのパネルにおける多重ピーククロマトグ
ラムおよびその関連するピーク不純物指数である。
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G059 AA01 BB04 CC12 DD01 DD12 DD13 EE01 EE05 EE07 EE10 EE12 FF04 FF10 HH02 HH03 JJ05 KK04 MM01 MM03 MM04 MM17 NN01
Claims (25)
- 【請求項１】 少なくとも１つのアナライト（被検体）
を有するサンプルにおける不純物を検出するための方法
であって、 前記サンプルにおける成分の予想される数をあらわす値
を選択するステップと、 前記サンプルについての特性測定値、前記特性測定値は
各次元について少なくとも２つの変数を有する、をあら
わすマトリクス（行列）を生成するステップと、 前記アナライトと不純物との間の関係の分析のために前
記マトリクス内におけるサブセットを繰り返し選択する
ステップと、 前記サンプルの純度を査定するために前記サブセットか
ら指数を演算するステップとからなる各ステップを有す
る方法。 - 【請求項２】 前記指数は、純度指数を表現する請求項
１の方法。 - 【請求項３】 前記指数は、不純物指数を表現する請求
項１の方法。 - 【請求項４】 前記特性測定値は、ベースライン成分を
含む請求項１の方法。 - 【請求項５】 前記特性測定値は、ベースライン成分を
含まない請求項１の方法。 - 【請求項６】 前記特性測定値は、クロマトグラフィー
（色層分析）のピークに関連するスペクトルである請求
項１の方法。 - 【請求項７】 前記不純物指数は、Ｅとして表現され、
且つ 【式１】 に従って演算される請求項３の方法。 - 【請求項８】 前記マトリクスは、クロマトグラフィー
のピークについての保有回数と前記スペクトルの波長と
を示すデータにより次元化された請求項６の方法。 - 【請求項９】 残差を演算するため前記マトリクスに前
記特性測定値の各々を射影することにより射影マトリク
スＰ０を構築するステップをさらに備える請求項１の方
法。 - 【請求項１０】 【式２】 に従ったｅによりあらわされる残差を演算するステップ
をさらに備える請求項９の方法。 - 【請求項１１】 前記サブセットは、 【式３】 に分解され得る値を有するサブマトリクスＲｊによりあ
らわされる請求項１の方法。 - 【請求項１２】 前記純度指数は、ｋｊによってあらわ
され、且つ 【式４】 に従ったＳｊから演算される請求項２の方法。 - 【請求項１３】 前記サブマトリクスＲｊは、（ｐ−
１）／２＋１≧ｊ≧ｎ−（ｐ−１）／２であるときの各
ｊについて、Ｒであらわされる前記マトリクスの第［ｊ
−（ｐ−１）／２］番目の列から第［ｊ＋（ｐ−１）／
２］番目の列を採ることにより、前記サブマトリクスＲ
ｊが、形成されるようにして、それが、一組のｐ列群か
ら他のものへ、連続的に動くように、その前記値を変化
させる請求項１１の方法。 - 【請求項１４】 少なくとも１つの成分を有するサンプ
ルにおける不純物を検出するための装置であって、 前記サンプルについての特性測定値を得るためのデバイ
スと、 前記デバイスにリンクされたコンピュータと、 前記サンプルにおける成分の予想される数をあらわす値
を選択するために前記コンピュータ上で実行するソフト
ウェアと、 前記サンプルについての特性測定値、前記特性測定値は
各次元について少なくとも２つの変数を有する、をあら
わすマトリクス（行列）を生成するために前記コンピュ
ータ上で実行するソフトウェアと、 前記成分と不純物との間の関係の分析のために前記マト
リクス内におけるサブセットを繰り返し選択するために
前記コンピュータ上で実行するソフトウェアと、 前記サンプルの純度を査定すべく前記サブセットから指
数を演算するために前記コンピュータ上で実行するソフ
トウェアとを具備する装置。 - 【請求項１５】 前記指数は、純度指数を表現する請求
項１の装置。 - 【請求項１６】 前記指数は、不純物指数を表現する請
求項１の装置。 - 【請求項１７】 前記特性測定値は、ベースライン成分
を含む請求項１４の装置。 - 【請求項１８】 前記特性測定値は、ベースライン成分
を含まない請求項１４の装置。 - 【請求項１９】 前記特性測定値は、クロマトグラフィ
ー（色層分析）のピークに関連するスペクトルである請
求項１４の装置。 - 【請求項２０】 残差を演算するため前記マトリクスに
前記特性測定値の各々を射影することにより射影マトリ
クスＰ０を構築するために前記コンピュータ上で実行す
るソフトウェアをさらに具備する請求項１４の装置。 - 【請求項２１】 前記サブセットは、 【式５】 に分解され得る値を有するサブマトリクスＲｊによりあ
らわされる請求項１４の装置。 - 【請求項２２】 前記マトリクスは、クロマトグラフィ
ーのピークについての保有回数と前記スペクトルの波長
とを示すデータにより次元化された請求項１９の装置。 - 【請求項２３】 【式６】 に従ったｅによりあらわされる残差を演算するために前
記コンピュータ上で実行するソフトウェアをさらに具備
する請求項２０の装置。 - 【請求項２４】 前記サブマトリクスＲｊは、（ｐ−
１）／２＋１≧ｊ≧ｎ−（ｐ−１）／２であるときの各
ｊについて、Ｒであらわされる前記マトリクスの第［ｊ
−（ｐ−１）／２］番目の列から第［ｊ＋（ｐ−１）／
２］番目の列を採ることにより、前記サブマトリクスＲ
ｊが、形成されるようにして、それが、一組のｐ列群か
ら他のものへ、連続的に動くように、その前記値を変化
させる請求項２１の装置。 - 【請求項２５】 【式７】 に従ったＥにより表現されるピーク不純物指数を演算す
るために前記コンピュータ上で実行するソフトウェアを
さらに具備する請求項２０の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/561600 | 2000-04-27 | ||
| US09/561,600 US6629039B1 (en) | 2000-04-27 | 2000-04-27 | Method and apparatus for impurity detection |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002267648A true JP2002267648A (ja) | 2002-09-18 |
| JP3532880B2 JP3532880B2 (ja) | 2004-05-31 |
Family
ID=24242638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001132020A Expired - Fee Related JP3532880B2 (ja) | 2000-04-27 | 2001-04-27 | 不純物検出のための方法および装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6629039B1 (ja) |
| EP (1) | EP1167966A3 (ja) |
| JP (1) | JP3532880B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004245613A (ja) * | 2003-02-12 | 2004-09-02 | Japan Science & Technology Agency | フロ−セル型ｑｃｍ装置および試料測定方法 |
| JP2007525645A (ja) * | 2003-04-28 | 2007-09-06 | セルノ・バイオサイエンス・エルエルシー | 多次元分析の計算方法およびシステム |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7655477B1 (en) * | 2003-02-26 | 2010-02-02 | Science Applications International Corporation | System and method for the separation of analytes |
| US9071844B2 (en) * | 2005-12-16 | 2015-06-30 | Texas Instruments Incorporated | Motion estimation with motion vector penalty |
| JP5146344B2 (ja) * | 2009-02-09 | 2013-02-20 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
| WO2013035639A1 (ja) * | 2011-09-05 | 2013-03-14 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラムデータ処理装置及び処理方法 |
| WO2014087770A1 (ja) * | 2012-12-07 | 2014-06-12 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラフ用データ処理装置及びデータ処理方法 |
| WO2015029508A1 (ja) * | 2013-09-02 | 2015-03-05 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラムデータ処理装置 |
| JP6037040B2 (ja) * | 2013-10-16 | 2016-11-30 | 株式会社島津製作所 | クロマトグラムデータ処理装置 |
| US10451593B2 (en) * | 2016-08-04 | 2019-10-22 | Aa Holdings, Ltd. | Detection system and method with nanostructure flow cell |
| WO2024058602A1 (ko) * | 2022-09-16 | 2024-03-21 | 주식회사 엘지화학 | 화합물 및 이에 포함된 불순물 확인 방법 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3863489A (en) * | 1969-11-03 | 1975-02-04 | Phillips Petroleum Co | Analysis of chromatographic peaks by moments |
| US4544840A (en) * | 1979-08-31 | 1985-10-01 | The Johns Hopkins University | Fiber optic fluid impurity detector |
| US4353242A (en) * | 1980-12-16 | 1982-10-12 | University Of Utah Research Foundation | Multichannel detection and resolution of chromatographic peaks |
| JPS57139647A (en) * | 1981-02-23 | 1982-08-28 | Shimadzu Corp | Chromatograph detecting device |
| DE3407359A1 (de) * | 1984-02-29 | 1985-08-29 | Bayer Ag, 5090 Leverkusen | Testvorrichtung und methode zum nachweis einer komponente einer fluessigen probe |
| JPH0718853B2 (ja) * | 1984-05-15 | 1995-03-06 | 住友化学工業株式会社 | クロマトグラフイ−におけるデ−タ処理方法 |
| US4807148A (en) * | 1987-05-29 | 1989-02-21 | Hewlett-Packard Company | Deconvolving chromatographic peaks |
| US4835708A (en) * | 1987-07-06 | 1989-05-30 | Spectra Physics, Inc. | Method and apparatus for analysis of chromatograms using cross-correlation and moment analysis |
| JP2834224B2 (ja) * | 1989-10-18 | 1998-12-09 | 株式会社日立製作所 | 液体クロマトグラフィーによる試料の分析装置 |
| US5138869A (en) * | 1990-12-14 | 1992-08-18 | Novapure Corporation | In-line detector system for real-time determination of impurity concentration in a flowing gas stream |
| JPH07218491A (ja) * | 1994-01-31 | 1995-08-18 | Shimadzu Corp | クロマトグラフ用検出装置 |
-
2000
- 2000-04-27 US US09/561,600 patent/US6629039B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-04-27 EP EP01110478A patent/EP1167966A3/en not_active Withdrawn
- 2001-04-27 JP JP2001132020A patent/JP3532880B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-07-14 US US10/618,822 patent/US6865493B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004245613A (ja) * | 2003-02-12 | 2004-09-02 | Japan Science & Technology Agency | フロ−セル型ｑｃｍ装置および試料測定方法 |
| JP2007525645A (ja) * | 2003-04-28 | 2007-09-06 | セルノ・バイオサイエンス・エルエルシー | 多次元分析の計算方法およびシステム |
| JP4686451B2 (ja) * | 2003-04-28 | 2011-05-25 | セルノ・バイオサイエンス・エルエルシー | 多次元分析の計算方法およびシステム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3532880B2 (ja) | 2004-05-31 |
| US6629039B1 (en) | 2003-09-30 |
| EP1167966A2 (en) | 2002-01-02 |
| EP1167966A3 (en) | 2004-04-21 |
| US6865493B2 (en) | 2005-03-08 |
| US20040014146A1 (en) | 2004-01-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0140599B1 (en) | Method and apparatus for analysis employing multiple separation processes | |
| Faber et al. | Analytical figures of merit for tensorial calibration | |
| Silvestri et al. | A mid level data fusion strategy for the Varietal Classification of Lambrusco PDO wines | |
| Smilde et al. | Calibration methods for complex second-order data | |
| JP3532880B2 (ja) | 不純物検出のための方法および装置 | |
| Kalivas et al. | Generalized standard addition method for multicomponent instrument characterization and elimination of interferences in inductively coupled plasma spectroscopy | |
| WO2018087824A1 (ja) | クロマトグラフ質量分析用データ解析装置 | |
| CN108830253B (zh) | 筛选模型建立方法、光谱筛选装置及方法 | |
| Wang et al. | A novel quadrilinear decomposition method for four-way data arrays analysis based on algorithms combination strategy: Comparison and application | |
| CN109541100A (zh) | 多通道波长的信号漂移处理方法、装置及多通道检测器 | |
| Luciani et al. | How to correct inner filter effects altering 3D fluorescence spectra by using a mirrored cell | |
| Andersson et al. | Weighted parallel factor analysis for calibration of HPLC-UV/Vis spectrometers in the presence of Beer's law deviations | |
| Ruckebusch et al. | Reliable multivariate curve resolution of femtosecond transient absorption spectra | |
| CN101071104A (zh) | 烟草中的氯含量的测定方法 | |
| Yuan et al. | Determination of Sudan I in chilli powder from solvent components gradual change–visible spectra data using second order calibration algorithms | |
| Polster et al. | New methods for spectrometric peak purity analysis in chromatography | |
| Castledine et al. | Strategies for peak-purity assessment in liquid chromatography | |
| Rutan et al. | Information theory and Kalman filtering methods for the determination of polyaromatic hydrocarbons | |
| JPH0245150B2 (ja) | ||
| JPH04355366A (ja) | 成分純度検定方法 | |
| Chen et al. | Identification and quantification of overlapped peaks in liquid chromatography with UV diode array detection using an adaptive Kalman filter | |
| Weismüller et al. | Quantitative multicomponent analysis of complex mixtures by means of Full Spectrum quantitation and principal component analysis | |
| US7117109B2 (en) | Procedure for processing measuring data and device to perform the process | |
| Vivó-Truyols et al. | Towards unsupervised analysis of second-order chromatographic data: Automated selection of number of components in multivariate curve-resolution methods | |
| JPH04303768A (ja) | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20031217 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040203 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040304 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090312 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090312 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100312 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100312 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110312 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120312 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120312 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140312 Year of fee payment: 10 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |