JP2002252272A - Glass substrate conveyance device and aligner - Google Patents

Glass substrate conveyance device and aligner

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JP2002252272A
JP2002252272A JP2001051286A JP2001051286A JP2002252272A JP 2002252272 A JP2002252272 A JP 2002252272A JP 2001051286 A JP2001051286 A JP 2001051286A JP 2001051286 A JP2001051286 A JP 2001051286A JP 2002252272 A JP2002252272 A JP 2002252272A
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亮二 根本
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聡 高橋
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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
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    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/7075Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To shorten the time required for transferring a substrate and reduce unevenness in exposure. SOLUTION: A chuck moves between an exposure position for exposing substrates 1a, 1b and a transfer position for transferring the substrate. A transfer means transfers the substrate to the chuck in a transfer position. A movable member 12 arranged in the chuck opens a space into which a transfer means 40 or 50 is inserted, in the transfer position, and closes the space into which the transfer means 40 or 50 is inserted, in the exposure position.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば液晶ディス
プレイ(LCD:Liquid CrystalDis
play)等の製造において、基板を搬送する基板搬送
装置、及びそれを用いた露光装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to, for example, a liquid crystal display (LCD).
The present invention relates to a substrate transport device for transporting a substrate in the manufacture of an electronic device such as play (play) or the like and an exposure apparatus using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶ディスプレイは、薄型、軽量かつ低
消費電力の特徴を有し、表示装置として広く応用されて
いる。液晶ディスプレイの製造は、露光装置を用いて、
フォトリソグラフィ技術によりガラス、カラーフィルタ
等の基板上にパターンを形成して行われる。露光装置と
しては、レンズ又は鏡を用いてフォトマスク(以下、
「マスク」と称す)のパターンを基板上に投影するプロ
ジェクション方式と、マスクと基板との間に微小な間隙
(プロキシミティギャップ)を設けてマスクのパターン
を転写するプロキシミティ方式とがある。プロキシミテ
ィ露光装置は、プロジェクション方式に比べてパターン
解像性能は劣るが、照射光学系の構成が簡単で、かつ処
理能力が高く量産用に適している。
2. Description of the Related Art Liquid crystal displays have characteristics of being thin, lightweight and low power consumption, and are widely applied as display devices. In the manufacture of liquid crystal displays, using an exposure device,
This is performed by forming a pattern on a substrate such as glass or a color filter by a photolithography technique. As an exposure device, a photomask (hereinafter, referred to as a lens or a mirror) is used.
There is a projection system in which a pattern of a “mask” is projected onto a substrate, and a proximity system in which a pattern of a mask is transferred by providing a minute gap (proximity gap) between the mask and the substrate. The proximity exposure apparatus is inferior in pattern resolution performance to the projection method, but has a simple configuration of an irradiation optical system and has a high processing capability, and is suitable for mass production.

【0003】プロキシミティ露光装置は、チャック上に
固定した基板をマスクに極めて接近させて露光を行う。
通常、チャックは、マスクとの位置合わせ及びギャップ
合わせを行うステージ上に搭載されており、基板を真空
吸着して固定する。チャックへの基板の着脱は、通常、
ロボット等のハンドリングアームにより行われるが、マ
スクと基板との接触を避けるためにマスクが置かれてい
る露光部から離れた受け渡し位置で行われる。従来、受
け渡し位置におけるチャックとハンドリングアームとの
間の基板の受け渡しは、チャックに設けた複数の突き上
げピンで基板を持ち上げて、基板とチャックの間にハン
ドリングアームを挿入して基板の受け渡しを行う突き上
げピン方式か、あるいはチャックの表面に設けた溝にハ
ンドリングアームを挿入して基板の受け渡しを行うチャ
ック溝方式で行われていた。
The proximity exposure apparatus performs exposure by bringing a substrate fixed on a chuck very close to a mask.
Usually, the chuck is mounted on a stage for performing position alignment and gap alignment with the mask, and fixes the substrate by vacuum suction. Removal of the substrate from the chuck is usually
This is performed by a handling arm such as a robot, but is performed at a transfer position distant from the exposure unit where the mask is placed in order to avoid contact between the mask and the substrate. Conventionally, the transfer of the substrate between the chuck and the handling arm at the transfer position is performed by lifting the substrate with a plurality of push-up pins provided on the chuck, inserting the handling arm between the substrate and the chuck, and transferring the substrate. The pin method or the chuck groove method in which a handling arm is inserted into a groove provided on the surface of the chuck to transfer a substrate has been used.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の突き上げピン方
式は、チャックの表面と基板との間にハンドリングアー
ムが挿入できる高さまで突き上げピンが上昇しないと基
板の受け渡しができないため、受け渡しに要する時間が
長かった。また、チャック表面と突き上げピン、突き上
げピンとハンドリングアームという2段階の受け渡しを
行うため、受け渡しの際に発生する位置ずれが大きいと
いう問題があった。一方、従来のチャック溝方式は、チ
ャックの表面に設けた溝の部分と他の吸着部分とで露光
光の反射率が異なり、また溝の部分の空間と他の吸着部
分とに温度差が生じるため、露光時に焼きむらが発生す
るという問題があった。
In the conventional push-up pin method, the substrate cannot be delivered unless the push-up pins are raised to a height at which the handling arm can be inserted between the surface of the chuck and the substrate. It was long. In addition, since the two-stage delivery of the chuck surface and the push-up pin, and the push-up pin and the handling arm, is performed, there is a problem that a large positional shift occurs at the time of delivery. On the other hand, in the conventional chuck groove method, the reflectance of exposure light differs between the groove portion provided on the surface of the chuck and the other suction portion, and a temperature difference occurs between the space of the groove portion and the other suction portion. Therefore, there is a problem that uneven printing occurs during exposure.

【0005】本発明は、基板の受け渡しに要する時間を
短くすることを目的とする。本発明はまた、露光時の焼
きむらを少なくすることを目的とする。本発明はさら
に、基板の受け渡しの際に発生する位置ずれを小さくす
ることを目的とする。
An object of the present invention is to reduce the time required for transferring a substrate. Another object of the present invention is to reduce uneven printing during exposure. A further object of the present invention is to reduce the displacement that occurs when a substrate is transferred.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明に係る基板搬送装
置は、基板を処理する処理位置と基板の受け渡しを行う
受け渡し位置との間で基板を移動させる移動手段と、上
記受け渡し位置で上記基板を上記移動手段へ受け渡しす
る受け渡し手段とを備え、上記移動手段は、上記受け渡
し位置では上記受け渡し手段が挿入される空間を開き、
上記処理位置では上記受け渡し手段が挿入される空間を
閉じる可動部を有するものである。
According to the present invention, there is provided a substrate transfer apparatus, comprising: a moving unit for moving a substrate between a processing position for processing a substrate and a transfer position for transferring a substrate; And a transfer means for transferring the transfer means to the transfer means, wherein the transfer means opens a space where the transfer means is inserted at the transfer position,
At the processing position, there is provided a movable portion for closing a space in which the delivery means is inserted.

【0007】また、本発明に係る露光装置は、基板の露
光を行う露光部と、上記露光部から離れた受け渡し位置
で上記基板を受け渡しする受け渡し手段と、上記露光部
と上記受け渡し位置とを移動し、上記受け渡し位置では
上記受け渡し手段が挿入される空間を開き、上記露光部
では上記受け渡し手段が挿入される空間を閉じる可動部
を有する移動手段とを備えたものである。
Further, the exposure apparatus according to the present invention moves an exposure section for exposing a substrate, a transfer means for transferring the substrate at a transfer position remote from the exposure section, and moves between the exposure section and the transfer position. In the delivery position, a space in which the delivery unit is inserted is opened, and in the exposure unit, a moving unit having a movable unit that closes the space in which the delivery unit is inserted is provided.

【0008】本発明の基板搬送装置及び露光装置では、
受け渡し位置で移動手段の可動部が受け渡し手段の挿入
される空間を開き、移動手段の表面と移動手段に挿入さ
れた受け渡し手段とで直接基板の受け渡しを行う。そし
て、露光位置(露光部)で移動手段の可動部が受け渡し
手段の挿入される空間を閉じ、移動手段の表面の露光光
の反射率の違いや温度差を小さくする。
In the substrate transport apparatus and the exposure apparatus according to the present invention,
At the transfer position, the movable portion of the transfer means opens a space in which the transfer means is inserted, and the substrate is directly transferred between the surface of the transfer means and the transfer means inserted into the transfer means. Then, at the exposure position (exposure section), the movable section of the moving means closes the space in which the transfer means is inserted, thereby reducing the difference in the reflectance of exposure light and the temperature difference on the surface of the moving means.

【0009】なお、本発明の基板搬送装置及び露光装置
の移動手段は、受け渡し位置では下降又は上昇し、露光
位置(露光部)では上昇又は下降する第1及び第2のチ
ャック部とで構成することができる。
[0009] The moving means of the substrate transfer apparatus and the exposure apparatus of the present invention comprises first and second chuck sections which move down or rise at the transfer position and rise or fall at the exposure position (exposure section). be able to.

【0010】また、本発明の基板搬送装置及び露光装置
のチャックは、表面に受け渡し手段が挿入される空間と
しての溝を有するチャック部と、受け渡し位置では下降
して溝を開き、露光位置(露光部)では上昇して溝を閉
じる溝当てとで構成することができる。
Further, the chuck of the substrate transfer apparatus and the exposure apparatus according to the present invention has a chuck portion having a groove as a space into which a transfer means is inserted on the surface, and lowers and opens the groove at the transfer position to open the exposure position (exposure position). Part) can be configured by a groove contact which rises to close the groove.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に従って説明する。図7は、本発明の一実施の形態
による露光装置の構成図である。本実施の形態による露
光装置は、基板を固定するチャック10と基板の露光を
行う露光部20とを含む露光装置本体30、チャック1
0へ基板を供給する供給アーム40、チャック10から
基板を回収する回収アーム50、供給コンベア60、供
給バッファ70、回収バッファ80、及び回収コンベア
90を備える。実際の露光装置は露光部20のマスクを
自動的に交換するマスクチェンジャや装置内の温度管理
を行う温度制御ユニット等を備えているが、本実施の形
態では発明に直接関係しない部分は省略してある。な
お、図7は、チャック10が基板の受け渡しを行う受け
渡し位置にある状態を示している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 7 is a configuration diagram of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. The exposure apparatus according to the present embodiment includes an exposure apparatus main body 30 including a chuck 10 for fixing a substrate and an exposure unit 20 for exposing the substrate, and a chuck 1.
The supply arm 40 supplies a substrate to the chuck 10, a recovery arm 50 that recovers the substrate from the chuck 10, a supply conveyor 60, a supply buffer 70, a recovery buffer 80, and a recovery conveyor 90. The actual exposure apparatus includes a mask changer for automatically changing the mask of the exposure unit 20 and a temperature control unit for controlling the temperature in the apparatus. However, in the present embodiment, parts not directly related to the present invention are omitted. It is. FIG. 7 shows a state where the chuck 10 is at a transfer position where the chuck 10 transfers the substrate.

【0012】図7において、パターンを形成するために
露光を行う基板は、図示しないローダから矢印に示す方
向で供給コンベア60へ供給される。供給コンベア60
は、複数のローラ61を有し、ローダから供給された基
板を供給バッファ70へ搬送する。供給バッファ70
は、複数のローラ71を有し、供給アーム40が挿入さ
れる溝を備え、上下に移動可能に構成されている。供給
コンベア60から搬送された基板は、供給バッファ70
に一時保持される。
In FIG. 7, a substrate to be exposed to form a pattern is supplied from a loader (not shown) to a supply conveyor 60 in a direction shown by an arrow. Supply conveyor 60
Has a plurality of rollers 61 and transports the substrate supplied from the loader to the supply buffer 70. Supply buffer 70
Has a plurality of rollers 71, has a groove into which the supply arm 40 is inserted, and is configured to be movable up and down. The substrate conveyed from the supply conveyor 60 is supplied to the supply buffer 70.
Is temporarily held.

【0013】供給アーム40は、基板を保持する2本の
腕を有し、供給バッファ70と受け渡し位置との間を移
動可能に構成されている。図7に実線で示したように供
給アーム40が供給バッファ70の溝に挿入された状態
で、供給バッファ70が図面奥行き方向へ下降して保持
していた基板を供給アーム40へ渡す。基板を受け取っ
た供給アーム40は、図7に破線で示したように受け渡
し位置へ移動する。
The supply arm 40 has two arms for holding a substrate, and is configured to be movable between a supply buffer 70 and a transfer position. In a state where the supply arm 40 is inserted into the groove of the supply buffer 70 as shown by a solid line in FIG. 7, the supply buffer 70 descends in the depth direction of the drawing and transfers the held substrate to the supply arm 40. The supply arm 40 that has received the substrate moves to the transfer position as indicated by the broken line in FIG.

【0014】チャック10は、露光部20と受け渡し位
置とを移動可能に構成されている。受け渡し位置に移動
した供給アーム40は、受け渡し位置に移動したチャッ
ク10へ基板を渡す。受け渡し位置で供給アーム40か
ら基板を受け取ったチャック10は、露光部20へ移動
する。露光部20で露光が終了すると、チャック10は
受け渡し位置へ移動する。
The chuck 10 is configured to be able to move between the exposure unit 20 and a delivery position. The supply arm 40 that has moved to the transfer position transfers the substrate to the chuck 10 that has moved to the transfer position. The chuck 10 that has received the substrate from the supply arm 40 at the transfer position moves to the exposure unit 20. When the exposure is completed in the exposure unit 20, the chuck 10 moves to the delivery position.

【0015】回収アーム50は、基板を保持する2本の
腕を有し、受け渡し位置と回収バッファ80との間を移
動可能に構成されている。図7に破線で示したように受
け渡し位置で待機していた回収アーム50は、受け渡し
位置へ移動したチャック10から基板を受け取り、図7
に実線で示したように回収バッファ80の位置へ移動す
る。
The collection arm 50 has two arms for holding a substrate, and is configured to be movable between a transfer position and a collection buffer 80. The collection arm 50 waiting at the transfer position as shown by the broken line in FIG. 7 receives the substrate from the chuck 10 moved to the transfer position, and
Move to the position of the collection buffer 80 as shown by the solid line in FIG.

【0016】回収バッファ80は、複数のローラ81を
有し、回収アーム50が挿入される溝を備え、上下に移
動可能に構成されている。回収バッファ80は、図面奥
行き方向へ下降して待機しており、回収アーム50が回
収バッファ80の位置へ移動すると、上昇して回収アー
ム50から基板を受け取る。回収バッファ80は、回収
アーム50から受け取った基板を回収コンベア90へ搬
送する。回収コンベア90は、複数のローラ91を有
し、回収バッファ80から搬送された基板を矢印に示す
方向で図示しないアンローダへ搬送する。
The collection buffer 80 has a plurality of rollers 81, has a groove into which the collection arm 50 is inserted, and is configured to be movable up and down. The collection buffer 80 is lowered in the depth direction of the drawing and stands by. When the collection arm 50 moves to the position of the collection buffer 80, the collection buffer 80 moves up and receives the substrate from the collection arm 50. The collection buffer 80 conveys the substrate received from the collection arm 50 to the collection conveyor 90. The recovery conveyor 90 has a plurality of rollers 91 and transports the substrate transported from the recovery buffer 80 to an unloader (not shown) in the direction shown by the arrow.

【0017】図1は、本発明の一実施の形態による基板
搬送装置の動作説明図である。また、図2は、本発明の
一実施の形態による基板搬送装置の斜視図である。本実
施の形態による基板搬送装置は、基板1aを真空吸着し
て固定するチャック10、チャック10へ次の基板1b
を供給する供給アーム40、及びチャック10から基板
1aを回収する回収アーム50を備える。本実施の形態
のチャック10は、固定部チャック11と、受け渡し位
置では下降し、露光位置では上昇する可動部チャック1
2とから構成されている。
FIG. 1 is a diagram for explaining the operation of the substrate transfer apparatus according to one embodiment of the present invention. FIG. 2 is a perspective view of the substrate transfer device according to one embodiment of the present invention. The substrate transfer apparatus according to the present embodiment includes a chuck 10 for vacuum-sucking and fixing a substrate 1a, and a next substrate 1b attached to the chuck 10.
And a recovery arm 50 that recovers the substrate 1a from the chuck 10. The chuck 10 according to the present embodiment includes a movable part chuck 1 that moves down at the transfer position and rises at the exposure position with the fixed part chuck 11.
And 2.

【0018】図2は、チャック10が基板の露光を行う
露光位置、供給アーム40が図7の供給バッファ70の
位置、回収アーム50が基板の受け渡しを行う受け渡し
位置にある状態を示している。図2において、チャック
10は、マスクとの位置合わせ及びギャップ合わせを行
うステージ13上に搭載されている。ステージ13がガ
イド14上を移動することにより、チャック10は露光
位置と受け渡し位置とを移動する。なお、駆動手段とし
てはリニアモータ等が用いられるが、図示は省略する。
FIG. 2 shows a state where the chuck 10 is at an exposure position where the substrate is exposed, the supply arm 40 is at the position of the supply buffer 70 in FIG. 7, and the collection arm 50 is at a transfer position where the substrate is transferred. In FIG. 2, a chuck 10 is mounted on a stage 13 for performing position alignment and gap alignment with a mask. As the stage 13 moves on the guide 14, the chuck 10 moves between the exposure position and the delivery position. Although a linear motor or the like is used as the driving means, it is not shown.

【0019】一方、供給アーム40と回収アーム50
は、アーム45に接続されている。アーム45は支持部
材47上に設けられたガイド46に沿って移動し、これ
に従って供給アーム40及び回収アーム50は上下に移
動する。また、支持部材47を固定するベース48がガ
イド44上を移動することにより、アーム45は左右に
移動する。これにより、供給アーム40は図7の供給バ
ッファ70と受け渡し位置との間を移動し、回収アーム
50は受け渡し位置と図7の回収バッファ80との間を
移動する。なお、これらの駆動手段としてはモータに接
続された送りねじ等が用いられるが、図示は省略する。
On the other hand, the supply arm 40 and the recovery arm 50
Is connected to the arm 45. The arm 45 moves along a guide 46 provided on a support member 47, and accordingly, the supply arm 40 and the recovery arm 50 move up and down. In addition, the arm 45 moves left and right as the base 48 fixing the support member 47 moves on the guide 44. Accordingly, the supply arm 40 moves between the supply buffer 70 and the transfer position in FIG. 7, and the collection arm 50 moves between the transfer position and the collection buffer 80 in FIG. In addition, although a feed screw or the like connected to a motor is used as these driving means, illustration is omitted.

【0020】まず、基板の回収動作について説明する。
図1において、露光終了時、基板1aを真空吸着したチ
ャックは露光位置にある(図1(a))。このとき、可
動部チャック12は上昇した位置にあり、回収アーム5
0が挿入される空間は閉じている。次に、チャックが受
け渡し位置へ移動する。(図1(b))。このとき、可
動部チャック12は下降した位置にあり、回収アーム5
0が挿入される空間が開いて回収アーム50が挿入され
ている。そして、チャックの真空吸着を解除した後、回
収アーム50が上昇して固定部チャック11から基板1
aをすくい上げる(図1(c))。
First, the operation of collecting the substrate will be described.
In FIG. 1, at the end of the exposure, the chuck that has vacuum-sucked the substrate 1a is at the exposure position (FIG. 1A). At this time, the movable part chuck 12 is at the raised position,
The space where 0 is inserted is closed. Next, the chuck moves to the transfer position. (FIG. 1 (b)). At this time, the movable part chuck 12 is in the lowered position,
The space in which 0 is inserted is opened, and the collection arm 50 is inserted. Then, after the vacuum suction of the chuck is released, the collection arm 50 is raised and the substrate 1 is moved from the fixed portion chuck 11.
a is scooped up (FIG. 1 (c)).

【0021】続いて、基板の供給動作について説明す
る。次の基板1bを保持した供給アーム40が受け渡し
位置へ移動する。(図1(d))。次に、チャックの真
空吸着を開始しながら、供給アーム40が下降して次の
基板1bを固定部チャック11上へ下ろす(図1
(e))。このとき、可動部チャック12は下降した位
置にあり、供給アーム40が挿入される空間が開いて供
給アーム40が挿入されている。そして、次の基板1b
を真空吸着したチャックが露光位置へ移動する(図1
(f))。このとき、可動部チャック12は上昇した位
置にあり、供給アーム40が挿入される空間は閉じてい
る。
Subsequently, the supply operation of the substrate will be described. The supply arm 40 holding the next substrate 1b moves to the transfer position. (FIG. 1 (d)). Next, the supply arm 40 is lowered while the vacuum suction of the chuck is started, and the next substrate 1b is lowered onto the fixed portion chuck 11 (FIG. 1).
(E)). At this time, the movable part chuck 12 is at the lowered position, the space into which the supply arm 40 is inserted is opened, and the supply arm 40 is inserted. Then, the next substrate 1b
Is moved to the exposure position (FIG. 1).
(F)). At this time, the movable part chuck 12 is at the raised position, and the space into which the supply arm 40 is inserted is closed.

【0022】図1(b)及び(e)で示したように、可
動部チャック12にはストッパ部12aが、固定部チャ
ック11にはストッパ部11aがそれぞれ設けられてい
る。そして、図1(a)及び図1(f)で示したように
露光位置で可動部チャック12が上昇した位置にあると
き、ストッパ部12aがストッパ部11aに接触し、可
動部チャック12の上面と固定部チャック11の上面が
同一平面となるように構成されている。
As shown in FIGS. 1B and 1E, the movable portion chuck 12 is provided with a stopper portion 12a, and the fixed portion chuck 11 is provided with a stopper portion 11a. When the movable part chuck 12 is at the raised position at the exposure position as shown in FIGS. 1A and 1F, the stopper part 12a comes into contact with the stopper part 11a and the upper surface of the movable part chuck 12 And the upper surface of the fixed portion chuck 11 are configured to be flush with each other.

【0023】なお、本実施の形態では、チャックの中央
部を固定部チャックとしチャックの周辺部を可動部チャ
ックとしたが、チャックの中央部を可動部チャックとし
チャックの周辺部を固定部チャックとして、チャックの
中央部の可動部チャックが、受け渡し位置では上昇し、
露光位置では下降する構成としてもよい。また、中央部
及び周辺部のチャックを共に可動チャックとして、受け
渡し位置では中央部のチャックが上昇し、周辺部のチャ
ックが下降し、逆に露光位置では中央部のチャックが下
降し、周辺部のチャックが上昇するような構成としても
よい。
In the present embodiment, the central part of the chuck is the fixed part chuck and the peripheral part of the chuck is the movable part chuck. However, the central part of the chuck is the movable part chuck and the peripheral part of the chuck is the fixed part chuck. , The movable part chuck at the center of the chuck rises at the transfer position,
At the exposure position, the structure may be lowered. Also, both the central and peripheral chucks are movable chucks, and the central chuck is raised and the peripheral chuck is lowered at the transfer position, and conversely, the central chuck is lowered at the exposure position and the peripheral The configuration may be such that the chuck rises.

【0024】図3は、本発明の他の実施の形態による基
板搬送装置の動作説明図である。また、図4は本発明の
他の実施の形態による基板搬送装置の斜視図である。図
3及び図4において、図1及び図2と同様の構成のもの
には同一の符号を付し、その説明は省略する。本実施の
形態が図1及び図2で示した実施の形態と異なる点は、
供給アーム40及び回収アーム50がそれぞれ独立して
移動するように構成されている点である。
FIG. 3 is a diagram for explaining the operation of a substrate transfer apparatus according to another embodiment of the present invention. FIG. 4 is a perspective view of a substrate transfer apparatus according to another embodiment of the present invention. 3 and 4, the same components as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. This embodiment differs from the embodiment shown in FIGS. 1 and 2 in that
The point is that the supply arm 40 and the collection arm 50 are configured to move independently.

【0025】図4において、供給アーム40は、支持部
材42上に設けられたガイド41に沿って上下に移動す
る。また、支持部材42を固定するベース43がガイド
44上を移動することにより、供給アーム40は図7の
供給バッファ70と受け渡し位置との間を移動する。な
お、駆動手段としてはモータに接続された送りねじ等が
用いられるが、図示は省略する。一方、回収アーム50
は、支持部材52上に設けられたガイド51に沿って上
下に移動する。また、支持部材52を固定するベース5
3がガイド44上を移動することにより、回収アーム5
0は受け渡し位置と図7の回収バッファ80との間を移
動する。なお、駆動手段としてはモータに接続されたベ
ルト等が用いられるが、図示は省略する。図4では、チ
ャック10が露光位置、供給アーム40が図7の供給バ
ッファ70の位置、回収アーム50が受け渡し位置にあ
る状態を示しているが、チャック10が受け渡し位置へ
移動する間に、次の基板1bを保持した供給アーム40
は受け渡し位置へ移動する。
In FIG. 4, the supply arm 40 moves up and down along a guide 41 provided on a support member 42. The supply arm 40 moves between the supply buffer 70 and the transfer position in FIG. 7 by the movement of the base 43 that fixes the support member 42 on the guide 44. Note that a feed screw or the like connected to a motor is used as the driving means, but is not shown. On the other hand, the collection arm 50
Moves up and down along a guide 51 provided on a support member 52. Further, a base 5 for fixing the support member 52 is provided.
3 moves on the guide 44, the collection arm 5
0 moves between the transfer position and the collection buffer 80 in FIG. Note that a belt connected to a motor or the like is used as the driving unit, but is not illustrated. FIG. 4 shows a state in which the chuck 10 is in the exposure position, the supply arm 40 is in the position of the supply buffer 70 in FIG. 7, and the collection arm 50 is in the delivery position. Supply arm 40 holding substrate 1b
Moves to the delivery position.

【0026】図3は、チャックが受け渡し位置へ移動
し、回収アーム50が上昇して固定部チャック11から
基板1aをすくい上げた状態を示している。このとき、
回収アーム50と独立して移動する供給アーム40が、
既に次の基板1bを保持して回収アーム50の上空で待
機している。そして、回収アーム50が図7の回収バッ
ファ80へと移動すると、供給アーム40が下降して次
の基板1bを固定部チャック11上へ下ろす。
FIG. 3 shows a state in which the chuck has moved to the transfer position, the recovery arm 50 has been lifted, and the substrate 1 a has been scooped up from the fixed portion chuck 11. At this time,
The supply arm 40 that moves independently of the collection arm 50,
The next substrate 1b has already been held and is waiting above the collection arm 50. Then, when the collection arm 50 moves to the collection buffer 80 in FIG. 7, the supply arm 40 descends and lowers the next substrate 1b onto the fixed portion chuck 11.

【0027】本実施の形態によれば、回収アーム50が
基板1aを回収した後、次の基板1bを保持した供給ア
ーム40が受け渡し位置へ移動する間を待つ必要がない
ので、受け渡しに要する時間をさらに短くすることがで
きる。
According to the present embodiment, there is no need to wait for the supply arm 40 holding the next substrate 1b to move to the transfer position after the collection arm 50 collects the substrate 1a, so that the time required for the transfer is eliminated. Can be further shortened.

【0028】以上説明した本実施の形態で、可動部チャ
ック12を上下に移動するのは種々の方法が可能であ
る。例えば、可動部チャック12が固定部チャック11
に設けたガイドに沿って上下に移動する構成とし、駆動
手段としてはモータに接続された送りねじ等を用いても
よい。可動部チャック12の下降及び上昇の動作は、チ
ャック10が露光位置にある状態で行ってもよいが、チ
ャック10が露光位置と受け渡し位置とを移動する間に
行うことにより、受け渡しに要する時間をさらに短くす
ることができる。
In the present embodiment described above, various methods can be used to move the movable portion chuck 12 up and down. For example, the movable part chuck 12 is fixed part chuck 11
May be configured to move up and down along a guide provided in the above, and a feed screw or the like connected to a motor may be used as the driving means. The lowering and raising operations of the movable part chuck 12 may be performed in a state where the chuck 10 is at the exposure position. However, by performing the operation while the chuck 10 moves between the exposure position and the transfer position, the time required for transfer is reduced. It can be even shorter.

【0029】図5は、本発明のさらに他の実施の形態に
よる基板搬送装置の動作説明図である。また、図6は本
発明のさらに他の実施の形態による基板搬送装置の一部
断面側面図である。本実施の形態でチャックは、表面に
供給アーム40又は回収アーム50が挿入される溝を有
する固定部チャック15と、受け渡し位置では下降して
溝を開き、露光位置では上昇して溝を閉じる溝当て15
aとから構成されている。
FIG. 5 is a diagram for explaining the operation of a substrate transfer apparatus according to still another embodiment of the present invention. FIG. 6 is a partial cross-sectional side view of a substrate transfer apparatus according to still another embodiment of the present invention. In the present embodiment, the chuck includes a fixed part chuck 15 having a groove on the surface into which the supply arm 40 or the recovery arm 50 is inserted, a groove which is lowered at the transfer position to open the groove, and which is raised at the exposure position to close the groove. Hit 15
a.

【0030】図6において、溝当て15aには空気シリ
ンダ16のロッドが連結されており、溝当て15aは空
気シリンダ16の駆動により上昇及び下降する。図6
(a)は、溝当て15aが上昇した状態を示している。
空気シリンダ16のロッドにはストッパ17が設けられ
ており、溝当て15aが上昇した状態で、ストッパ17
が固定部チャック15の下面に接触し、溝当て15aの
上面と固定部チャック15の上面が同一平面となるよう
に構成されている。図6(b)は、溝当て15aが下降
した状態を示している。
In FIG. 6, the rod of the air cylinder 16 is connected to the groove contact 15a, and the groove contact 15a is raised and lowered by driving the air cylinder 16. FIG.
(A) has shown the state where the groove contact 15a rose.
A stopper 17 is provided on the rod of the air cylinder 16.
Are in contact with the lower surface of the fixed portion chuck 15 so that the upper surface of the groove contact 15a and the upper surface of the fixed portion chuck 15 are flush with each other. FIG. 6B shows a state where the groove contact 15a is lowered.

【0031】まず、基板の回収動作について説明する。
図5において、露光終了時、基板1aを真空吸着したチ
ャックは露光位置にある(図5(a))。このとき、溝
当て15aは上昇した位置にあり、固定部チャック15
に設けられた回収アーム50が挿入される溝は閉じてい
る。次に、チャックが受け渡し位置へ移動する。(図5
(b))。このとき、溝当て15aは下降した位置にあ
り、回収アーム50が挿入される溝が開いて回収アーム
50が挿入されている。そして、チャックの真空吸着を
解除した後、回収アーム50が上昇して固定部チャック
15から基板1aをすくい上げる(図5(c))。
First, the operation of collecting the substrate will be described.
In FIG. 5, at the end of exposure, the chuck that has vacuum-sucked the substrate 1a is at the exposure position (FIG. 5A). At this time, the groove contact 15a is at the raised position,
The groove provided with the collecting arm 50 is closed. Next, the chuck moves to the transfer position. (FIG. 5
(B)). At this time, the groove contact 15a is at the lowered position, the groove into which the collection arm 50 is inserted is opened, and the collection arm 50 is inserted. Then, after the vacuum suction of the chuck is released, the recovery arm 50 is lifted to scoop up the substrate 1a from the fixed part chuck 15 (FIG. 5C).

【0032】続いて、基板の供給動作について説明す
る。次の基板1bを保持した供給アーム40が受け渡し
位置へ移動する。(図5(d))。次に、チャックの真
空吸着を開始しながら、供給アーム40が下降して次の
基板1bを固定部チャック15上へ下ろす(図5
(e))。このとき、溝当て15aは下降した位置にあ
り、供給アーム40が挿入される溝が開いて供給アーム
40が挿入されている。そして、次の基板1bを真空吸
着したチャックが露光位置へ移動する(図5(f))。
このとき、溝当て15aは上昇した位置にあり、供給ア
ーム40が挿入される溝は閉じている。
Subsequently, the supply operation of the substrate will be described. The supply arm 40 holding the next substrate 1b moves to the transfer position. (FIG. 5 (d)). Next, the supply arm 40 descends while the vacuum suction of the chuck is started, and the next substrate 1b is lowered onto the fixed portion chuck 15 (FIG. 5).
(E)). At this time, the groove contact 15a is at the lowered position, the groove into which the supply arm 40 is inserted is opened, and the supply arm 40 is inserted. Then, the chuck having vacuum-sucked the next substrate 1b moves to the exposure position (FIG. 5 (f)).
At this time, the groove contact 15a is at the raised position, and the groove into which the supply arm 40 is inserted is closed.

【0033】溝当て15aの下降及び上昇の動作は、チ
ャックが露光位置にある状態で行ってもよいが、チャッ
クが露光位置と受け渡し位置とを移動する間に行うこと
により、受け渡しに要する時間をさらに短くすることが
できる。
The lowering and raising operations of the groove contact 15a may be performed in a state where the chuck is at the exposure position. However, by performing the operation while the chuck moves between the exposure position and the transfer position, the time required for transfer is reduced. It can be even shorter.

【0034】本実施の形態は、図1乃至図2の実施の形
態と同様に供給アーム40と回収アーム50が一緒に移
動する場合について説明したが、図3乃至図4の実施の
形態と同様に供給アーム40と回収アーム50が独立し
て移動するように構成してもよい。その場合、図3と同
様に供給アーム40を受け渡し位置で回収アーム50の
上空に待機させると、供給アーム40が受け渡し位置へ
移動する間を待つ必要がなくなり、受け渡しに要する時
間をさらに短くすることができる。
In this embodiment, the case where the supply arm 40 and the recovery arm 50 move together as in the embodiment of FIGS. 1 and 2 has been described. However, this embodiment is similar to the embodiment of FIGS. The supply arm 40 and the recovery arm 50 may be configured to move independently. In this case, if the supply arm 40 is made to wait above the collection arm 50 at the delivery position as in FIG. 3, it is not necessary to wait while the supply arm 40 moves to the delivery position, and the time required for delivery can be further reduced. Can be.

【0035】[0035]

【発明の効果】本発明の基板搬送装置及び露光装置によ
れば、受け渡し位置でチャックの可動部が受け渡し手段
の挿入される空間を開き、チャックの表面と受け渡し手
段とで直接基板の受け渡しを行うことができるので、基
板の受け渡しに要する時間を短くすることができ、処理
能力が向上する。また、本発明の基板搬送装置及び露光
装置によれば、露光位置(露光部)でチャックの可動部
が受け渡し手段の挿入される空間を閉じ、露光光の反射
率の違いや温度差を小さくすることができるので、露光
時の焼きむらを少なくすることができる。さらに、本発
明の基板搬送装置及び露光装置によれば、チャックの表
面と受け渡し手段とで直接基板の受け渡しを行うことが
できるので、基板の受け渡しの際に発生する位置ずれを
小さくすることができる。
According to the substrate transfer apparatus and the exposure apparatus of the present invention, the movable portion of the chuck opens the space where the transfer means is inserted at the transfer position, and transfers the substrate directly between the surface of the chuck and the transfer means. Therefore, the time required for delivery of the substrate can be shortened, and the processing capacity can be improved. Further, according to the substrate transport apparatus and the exposure apparatus of the present invention, at the exposure position (exposure section), the movable portion of the chuck closes the space where the transfer means is inserted, and reduces the difference in the reflectance of exposure light and the temperature difference. Therefore, uneven printing at the time of exposure can be reduced. Furthermore, according to the substrate transfer apparatus and the exposure apparatus of the present invention, the substrate can be directly transferred between the surface of the chuck and the transfer unit, so that the positional shift generated when transferring the substrate can be reduced. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施の形態による基板搬送装置の
動作説明図である。
FIG. 1 is an operation explanatory view of a substrate transfer device according to an embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の一実施の形態による基板搬送装置の
斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view of the substrate transfer device according to one embodiment of the present invention.

【図3】 本発明の他の実施の形態による基板搬送装置
の動作説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an operation of a substrate transfer device according to another embodiment of the present invention.

【図4】 本発明の他の実施の形態による基板搬送装置
の斜視図である。
FIG. 4 is a perspective view of a substrate transfer apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図5】 本発明のさらに他の実施の形態による基板搬
送装置の動作説明図である。
FIG. 5 is an operation explanatory view of a substrate transfer apparatus according to still another embodiment of the present invention.

【図6】 本発明のさらに他の実施の形態による基板搬
送装置の一部断面側面図である。
FIG. 6 is a partial sectional side view of a substrate transfer apparatus according to still another embodiment of the present invention.

【図7】 本発明の一実施の形態による露光装置の構成
図である。
FIG. 7 is a configuration diagram of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a,1b…基板、10…チャック、11…固定部チャ
ック、12…可動部チャック、15…固定部チャック、
15a…溝当て、16…空気シリンダ、20…露光部、
30…露光装置本体、40…供給アーム、50…回収ア
ーム、60…供給コンベア、70…供給バッファ、80
…回収バッファ、90…回収コンベア
1a, 1b: substrate, 10: chuck, 11: fixed portion chuck, 12: movable portion chuck, 15: fixed portion chuck,
15a: groove contact, 16: air cylinder, 20: exposure unit,
Reference numeral 30: exposure apparatus main body, 40: supply arm, 50: collection arm, 60: supply conveyor, 70: supply buffer, 80
... Recovery buffer, 90 ... Recovery conveyor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/30 509 (72)発明者 高橋 聡 東京都渋谷区東3丁目16番3号 日立電子 エンジニアリング株式会社内 Fターム(参考) 2H097 BA10 DB07 DB11 GA45 LA12 5F031 CA05 FA02 FA07 FA12 FA15 GA02 GA03 GA48 GA49 GA50 GA53 HA13 HA32 HA52 HA57 HA58 HA60 LA08 LA12 LA13 LA15 MA27 PA02 5F046 BA02 CD01 CD04 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H01L 21/30 509 (72) Inventor Satoshi Takahashi 3-16-3 Higashi, Shibuya-ku, Tokyo Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. In-house F term (reference) 2H097 BA10 DB07 DB11 GA45 LA12 5F031 CA05 FA02 FA07 FA12 FA15 GA02 GA03 GA48 GA49 GA50 GA53 HA13 HA32 HA52 HA57 HA58 HA60 LA08 LA12 LA13 LA15 MA27 PA02 5F046 BA02 CD01 CD04

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を処理する処理位置と基板の受け渡
しを行う受け渡し位置との間で基板を移動させる移動手
段と、 上記受け渡し位置で上記基板を上記移動手段へ受け渡し
する受け渡し手段とを備え、 上記移動手段は、上記受け渡し位置では上記受け渡し手
段が挿入される空間を開き、上記処理位置では上記受け
渡し手段が挿入される空間を閉じる可動部を有すること
を特徴とする基板搬送装置。
A transfer means for transferring the substrate between a processing position for processing the substrate and a transfer position for transferring the substrate; and a transfer means for transferring the substrate to the transfer means at the transfer position. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the moving unit has a movable unit that opens a space where the transfer unit is inserted at the transfer position and closes a space where the transfer unit is inserted at the processing position.
【請求項2】 上記移動手段は、 第1のチャック部と、 上記受け渡し位置では下降し、上記処理位置では上昇す
る第2のチャック部とを備えたことを特徴とする請求項
1に記載の基板搬送装置。
2. The moving means according to claim 1, wherein the moving means includes a first chuck portion, and a second chuck portion that moves down at the transfer position and rises at the processing position. Substrate transfer device.
【請求項3】 上記移動手段は、 第1のチャック部と、 上記受け渡し位置では上昇し、上記処理位置では下降す
る第2のチャック部とを備えたことを特徴とする請求項
1に記載の基板搬送装置。
3. The moving device according to claim 1, wherein the moving unit includes a first chuck portion, and a second chuck portion that rises at the transfer position and descends at the processing position. Substrate transfer device.
【請求項4】 上記移動手段は、 上記受け渡し位置では下降し、上記処理位置では上昇す
る第1のチャック部と、 上記受け渡し位置では上昇し、上記処理位置では下降す
る第2のチャック部とを備えたことを特徴とする請求項
1に記載の基板搬送装置。
4. The moving means comprises: a first chuck portion that moves down at the transfer position and rises at the processing position; and a second chuck portion that moves up at the transfer position and moves down at the processing position. The substrate transfer device according to claim 1, further comprising:
【請求項5】 上記移動手段は、 表面に上記受け渡し手段が挿入される空間としての溝を
有するチャック部と、 上記受け渡し位置では下降して上記溝を開き、上記処理
位置では上昇して上記溝を閉じる溝当てとを備えたこと
を特徴とする請求項1に記載の基板搬送装置。
5. The moving means comprises: a chuck portion having a groove as a space into which the transfer means is inserted on a surface; and a lowering part for opening the groove at the transfer position, and a raising part for the groove at the processing position. The substrate transfer device according to claim 1, further comprising a groove contact for closing the groove.
【請求項6】 基板の露光を行う露光部と、 上記露光部から離れた受け渡し位置で上記基板を受け渡
しする受け渡し手段と、 上記露光部と上記受け渡し位置とを移動し、上記受け渡
し位置では上記受け渡し手段が挿入される空間を開き、
上記露光部では上記受け渡し手段が挿入される空間を閉
じる可動部を有する移動手段とを備えたことを特徴とす
る露光装置。
6. An exposing section for exposing a substrate, a transfer means for transferring the substrate at a transfer position distant from the exposure section, and moving between the exposure section and the transfer position, wherein the transfer is performed at the transfer position. Open the space where the means will be inserted,
An exposing device comprising: a moving unit having a movable unit that closes a space into which the delivery unit is inserted in the exposing unit.
【請求項7】 上記移動手段は、 第1のチャック部と、 上記受け渡し位置では下降し、上記露光部では上昇する
第2のチャック部とを備えたことを特徴とする請求項6
に記載の露光装置。
7. The moving means according to claim 6, further comprising a first chuck portion, and a second chuck portion which is lowered at the transfer position and is raised at the exposure portion.
3. The exposure apparatus according to claim 1.
【請求項8】 上記移動手段は、 第1のチャック部と、 上記受け渡し位置では上昇し、上記露光部では下降する
第2のチャック部とを備えたことを特徴とする請求項6
に記載の露光装置。
8. The moving means according to claim 6, wherein said moving means includes a first chuck portion, and a second chuck portion which rises at said transfer position and descends at said exposure portion.
3. The exposure apparatus according to claim 1.
【請求項9】 上記移動手段は、 上記受け渡し位置では下降し、上記処理位置では上昇す
る第1のチャック部と、 上記受け渡し位置では上昇し、上記処理位置では下降す
る第2のチャック部とを備えたことを特徴とする請求項
6に記載の基板搬送装置。
9. The moving means includes: a first chuck portion that moves down at the transfer position and rises at the processing position; and a second chuck portion that moves up at the transfer position and moves down at the processing position. The substrate transfer device according to claim 6, further comprising:
【請求項10】 上記移動手段は、 表面に上記受け渡し手段が挿入される空間としての溝を
有するチャック部と、 上記受け渡し位置では下降して上記溝を開き、上記露光
部では上昇して上記溝を閉じる溝当てとを備えたことを
特徴とする請求項6に記載の露光装置。
10. The moving means includes: a chuck portion having a groove as a space into which the transfer means is inserted on a surface; and a lowering portion at the transfer position to open the groove, and a rising portion at the exposure portion to raise the groove. 7. The exposure apparatus according to claim 6, further comprising: a groove contact for closing.
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