JPH053241A - Conveyer for plate-shaped object - Google Patents

Conveyer for plate-shaped object

Info

Publication number
JPH053241A
JPH053241A JP22486091A JP22486091A JPH053241A JP H053241 A JPH053241 A JP H053241A JP 22486091 A JP22486091 A JP 22486091A JP 22486091 A JP22486091 A JP 22486091A JP H053241 A JPH053241 A JP H053241A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
semiconductor wafer
tweezers
centering
transfer device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP22486091A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2919123B2 (en
Inventor
Kiyohisa Tateyama
清久 立山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Kyushu Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Kyushu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=26455213&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=JPH053241(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Tokyo Electron Ltd, Tokyo Electron Kyushu Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP22486091A priority Critical patent/JP2919123B2/en
Publication of JPH053241A publication Critical patent/JPH053241A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2919123B2 publication Critical patent/JP2919123B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To eliminate a loss time for centering, eliminate one process and reduce the possibility of producing particles and, further, eliminate an additional aligning means and reduce the cost by a method wherein the centering of a plate-shaped object is achieved when it is held. CONSTITUTION:Tweezers 14 are extended by a driving means and a semiconductor wafer 64 is mounted on the upper surface of the tweezers 14. In this state, the tweezers 14 are horizontally moved toward a conveying table 12 side. When it is restored to a predetermined position, the side wall of the semiconductor wafer 64 is pressed against centering members 18a and 18b. At that time, the side wall of the semiconductor wafer 64 is pressed and held by the inside 16a' of the downslope of a step part 16a and the sides 18a' and 18b' of the centering members 18a and 18b, so that the semiconductor wafer 64 which is housed in an uncentered state can be centered on the tweezers 14. Therefore, an additional centering mechanism is not necessary and, further, a centering time is not necessary either.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体素子の製
造工程等においてウエハの搬送に使用される、板状体搬
送装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plate-shaped member transfer device used for transferring a wafer in a semiconductor element manufacturing process or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、板状体搬送装置として、ウエハを
収納したウエハキャリアと各種処理装置との間や処理装
置間などで半導体ウエハの搬送を行なう装置が、ウエハ
搬送装置として知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a plate-shaped body transfer apparatus, an apparatus for transferring a semiconductor wafer between a wafer carrier accommodating a wafer and various processing apparatuses or between processing apparatuses is known as a wafer transfer apparatus. ..

【0003】さらに、かかるウエハ搬送装置として、搬
送基台にピンセットを設け、このピンセットの上面にウ
エハを載置し真空吸着、静電吸着により仮固定すること
により半導体ウエハを保持し、この状態で搬送基台を移
動させることにより、半導体ウエハの搬送を行なうもの
が知られている。
Further, as such a wafer transfer device, tweezers are provided on a transfer base, the wafer is placed on the upper surface of the tweezers, and the semiconductor wafer is held by temporarily fixing the wafer by vacuum suction or electrostatic attraction. It is known that a semiconductor wafer is transferred by moving a transfer base.

【0004】このようなウエハ搬送装置を用いて半導体
ウエハを搬送する場合、複数台のウエハ搬送装置を用い
る場合がある。例えば、第1のウエハ搬送装置でウエハ
キャリアから半導体ウエハを取り出して一旦移しかえの
ために一時的に半導体ウエハを載置する載置台に載置
し、続いて、この載置台に載置された半導体ウエハを第
2のウエハ搬送装置で保持して処理装置まで搬送すると
いった場合である。
When a semiconductor wafer is transferred using such a wafer transfer device, a plurality of wafer transfer devices may be used. For example, the semiconductor wafer is taken out from the wafer carrier by the first wafer transfer device, and is temporarily placed on a mounting table on which the semiconductor wafer is temporarily mounted for transfer, and then is mounted on this mounting table. In this case, the semiconductor wafer is held by the second wafer transfer device and transferred to the processing device.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述のようなウエハ搬
送装置においては、搬送基台に設けられたピンセットで
半導体ウエハを保持する際に、ピンセットの上面の載置
位置の中心と半導体ウエハの中心とを正確に一致させる
必要がある。これが不正確であると載置位置がずれたま
まの状態で搬送されるので、例えばウエハキャリアや処
理装置の載置位置に半導体ウエハを正しくセットできな
い場合が生じるおそれがあるからである。不正にキャリ
アへ搬入することはウエハの破損を招き、また、処理装
置に不正な位置へ搬入することは、均一な処理を実行で
きず、歩留まりの劣化を招く。
In the wafer transfer apparatus as described above, when the semiconductor wafer is held by the tweezers provided on the transfer base, the center of the mounting position on the upper surface of the tweezers and the center of the semiconductor wafer are held. And must match exactly. If this is inaccurate, the wafer will be transported in a state where the mounting position is deviated, so that there is a possibility that, for example, the semiconductor wafer cannot be correctly set at the mounting position of the wafer carrier or the processing apparatus. Incorrect loading into the carrier causes damage to the wafer, and loading into the processing device at an illegal position cannot perform uniform processing, resulting in deterioration of yield.

【0006】また、上述したような問題は複数のピンセ
ットを使用し一枚のウエハを連続して搬送する場合も生
ずる。例えばこのような載置位置のずれは、第1の搬送
装置で載置台に載置した半導体ウエハを第2の搬送装置
で保持搬送する際に、特に生じやすい。
Further, the above-mentioned problem also occurs when a plurality of tweezers is used and one wafer is continuously transferred. For example, such a displacement of the mounting position is likely to occur particularly when the semiconductor wafer mounted on the mounting table by the first transfer device is held and transferred by the second transfer device.

【0007】かかる課題は、載置台に半導体ウエハの位
置合わせ手段を設けることによって解決することが可能
である。例えば、第1の搬送装置から第2の搬送装置へ
半導体ウエハの受け渡しを行なう場合であれば、第1の
搬送装置で半導体ウエハを載置台に載置した後、この載
置台に設けられた位置合わせ手段で半導体ウエハのセン
タリングを行ない、その後、この半導体ウエハを第2の
搬送装置で保持することとすれば、ピンセットの上面の
載置位置の中心と半導体ウエハの中心とを正確に一致さ
せることが可能である。
This problem can be solved by providing a mounting table with a semiconductor wafer alignment means. For example, when the semiconductor wafer is transferred from the first transfer device to the second transfer device, after the semiconductor wafer is placed on the mounting table by the first transfer device, the position provided on the mounting table is set. If the centering of the semiconductor wafer is performed by the aligning means and then this semiconductor wafer is held by the second transfer device, the center of the placement position on the upper surface of the tweezers and the center of the semiconductor wafer are accurately aligned. Is possible.

【0008】しかしながら、載置台上で半導体ウエハの
センタリングを行なう場合、センタリング中は半導体ウ
エハの搬送は行われないので、このセンタリングに要す
る時間がロスタイムとなり、搬送を効率よく行なう上で
妨げとなるという課題を生じる。
However, when the semiconductor wafer is centered on the mounting table, the semiconductor wafer is not transported during the centering, so that the time required for this centering becomes a loss time, which hinders efficient transportation. Create challenges.

【0009】また、このような新たな工程を付加するこ
とは、パーティクルの発生原因を増加させることとな
り、半導体製品の歩留まり低下の原因となるという課題
も生じる。
Further, the addition of such a new step increases the cause of generation of particles, which causes a problem that the yield of semiconductor products decreases.

【0010】さらに、位置合わせ手段を設ける分、処理
装置全体のコストが高くなってしまうという課題も生じ
る。
Further, since the alignment means is provided, there is a problem that the cost of the entire processing apparatus becomes high.

【0011】本発明は、このような課題に鑑みて成され
たものであり、ウエハ保持部材の上面の載置位置の中心
と半導体ウエハの中心とを正確に一致させることがで
き、上述のような位置合わせ手段を別途設ける必要のな
いウエハ搬送装置を安価に提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and the center of the mounting position on the upper surface of the wafer holding member and the center of the semiconductor wafer can be accurately aligned with each other. An object of the present invention is to provide at low cost a wafer transfer device that does not require separate positioning means.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明の板状体搬送装置
は、板状体を保持して搬送する板状体搬送装置におい
て、上面に前記板状体を保持可能に構成された板状体保
持部材と、この板状体保持部材の予め定められた保持部
に設けられた第1の位置決め部材と、前記板状体を載置
した前記板状体保持部材が移動したときにこの板状体の
側面に当接して前記板状体を位置決めする如く設けられ
た第2の位置決め部材と、を具備することを特徴とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION A plate-shaped body conveying device of the present invention is a plate-shaped body conveying device for holding and conveying a plate-shaped body, and a plate-shaped body capable of holding the plate-shaped body on its upper surface. When the body holding member, the first positioning member provided in a predetermined holding portion of the plate-shaped body holding member, and the plate-shaped body holding member on which the plate-shaped body is placed move, this plate A second positioning member provided so as to contact the side surface of the plate-like member and position the plate-like member.

【0013】[0013]

【作用】駆動手段によって板状体保持部材をのばしてこ
の板状体保持部材の上面に板状体を載置し、続いて、駆
動手段によって板状体保持部材を搬送基台側に移動した
ときに第1の位置決め部材と第2の位置決め部材とでウ
エハを挟み込むことによって板状体の保持とセンタリン
グとを同時に行なう。
The plate-shaped body holding member is extended by the driving means to mount the plate-shaped body on the upper surface of the plate-shaped body holding member, and subsequently the plate-shaped body holding member is moved to the transport base side by the driving means. Sometimes, the wafer is sandwiched between the first positioning member and the second positioning member, so that the plate-shaped body is held and centered at the same time.

【0014】このように、板状体搬送装置を、板状体を
保持する際に併せてセンタリングもできるように構成す
ることにより、従来のように別途センタリング動作を行
う必要がないため、センタリングのためのロス時間がな
くなり、一工程少ない分パーティクルの発生も減少し、
さらに、位置合わせ手段を別途設ける必要がないのでコ
ストを削減させることができる。
As described above, since the plate-shaped body conveying device is configured so that it can be centered together when the plate-shaped body is held, it is not necessary to separately perform the centering operation as in the conventional case. Time is lost, and the number of particles is reduced by one step.
Further, since it is not necessary to separately provide the alignment means, the cost can be reduced.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明の1実施例として、本発明に係
わる板状体搬送装置をレジスト膜形成装置において使用
されるウエハ搬送装置に適用した場合について説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS As one embodiment of the present invention, a case where the plate-like material carrying apparatus according to the present invention is applied to a wafer carrying apparatus used in a resist film forming apparatus will be described below.

【0016】図1に示したように、本実施例に係わるレ
ジスト膜形成装置は、ウエハの搬入・搬出を行う搬入搬
出ユニット30とウエハの処理を行う処理機構ユニット
40とを有している。
As shown in FIG. 1, the resist film forming apparatus according to this embodiment has a loading / unloading unit 30 for loading / unloading a wafer and a processing mechanism unit 40 for processing a wafer.

【0017】搬入搬出ユニット30は、本発明に係わる
ウエハ搬送装置(すなわち、センタリングの機構を有す
るウエハ搬送装置)としての第1のウエハ搬送装置10
と、半導体ウエハ60を収納する任意の数(本実施例で
は4個とする)のウエハキャリア32と、3本の立設し
たピンによって構成されたウエハ載置手段34とを有し
ている。この搬入搬出ユニット30では、第1のウエハ
搬送装置10によって、ウエハキャリア32に収納され
た処理前の半導体ウエハ60を取り出してセンタリング
すると共に載置手段34まで搬送して載置する工程、お
よび、載置手段34に載置された処理後の半導体ウエハ
60を保持してセンタリングすると共にウエハキャリア
32まで搬送して収納する工程が行なわれる。
The loading / unloading unit 30 is a first wafer transfer apparatus 10 as a wafer transfer apparatus (that is, a wafer transfer apparatus having a centering mechanism) according to the present invention.
And an arbitrary number (four in this embodiment) of wafer carriers 32 for accommodating the semiconductor wafers 60, and a wafer mounting means 34 constituted by three standing pins. In the carry-in / carry-out unit 30, a step of taking out the unprocessed semiconductor wafer 60 stored in the wafer carrier 32 by the first wafer transfer device 10, centering it, and carrying it to the mounting means 34 and mounting it. A step of holding and centering the processed semiconductor wafer 60 placed on the placing means 34 and carrying and storing it to the wafer carrier 32 is performed.

【0018】一方、処理機構ユニット40は、半導体ウ
エハ60に対する例えば、レジスト塗布処理、ベーキン
グ処理、現像処理などの各種処理を行なうための各処理
機構42〜48と、これらの各処理機構42〜48に対
する半導体ウエハ60の搬入および搬出を行なうための
第2のウエハ搬送装置50とを有している。第2のウエ
ハ搬送装置50は、載置手段34に載置された処理前の
半導体ウエハ60を予め定められたプログラムによりア
ドヒージョン処理機構42、冷却機構46、塗布機構4
8、ベーク機構44などへ順次選択的に搬送し、最後
に、すべての処理が終わった半導体ウエハ60を再び載
置手段34に載置する。これら工程プログラムはプログ
ラマブルで各ウエハに応じた処理プログラムが設定でき
る。なお、本実施例では、第2のウエハ搬送装置50と
しては、センタリングの機能を有していないものを使用
することとする。
On the other hand, the processing mechanism unit 40 includes processing mechanisms 42 to 48 for performing various processes such as resist coating process, baking process, and developing process on the semiconductor wafer 60, and these processing mechanisms 42 to 48. A second wafer transfer device 50 for loading and unloading the semiconductor wafer 60 to and from. The second wafer transfer device 50 includes the adhesion processing mechanism 42, the cooling mechanism 46, and the coating mechanism 4 for the unprocessed semiconductor wafer 60 placed on the placing means 34 according to a predetermined program.
8. The wafer is sequentially and selectively transported to the bake mechanism 44 and the like, and finally, the semiconductor wafer 60 on which all the processing has been completed is mounted on the mounting means 34 again. These process programs are programmable and a processing program suitable for each wafer can be set. In this embodiment, as the second wafer transfer device 50, a device having no centering function is used.

【0019】図2は、第1のウエハ搬送装置10の構成
を概略的に示すものであり、図2(a)は上面図、図2
(b)は正面図である。また、図3は、第1の搬送装置
10を示す側面図であり、図3(a)はウエハ保持部材
であるピンセット14をのばしていない状態(すなわ
ち、図2(a)と同じ状態)、図3(b)はピンセット
14をのばした状態を示している。
FIG. 2 schematically shows the structure of the first wafer transfer device 10. FIG. 2 (a) is a top view and FIG.
(B) is a front view. 3 is a side view showing the first transfer device 10. FIG. 3 (a) shows a state in which the tweezers 14 as a wafer holding member are not extended (that is, the same state as FIG. 2 (a)). FIG. 3B shows a state in which the tweezers 14 are extended.

【0020】第1の搬送装置10は、搬送基台12に、
上面に前記ウエハを載置させるように構成されたピンセ
ット14と、取付金具20a,20bによって支持され
たセンタリング部材(第2の位置決め部材)18a,1
8bと、この搬送基台12を昇降させるための昇降ロッ
ド22とを設けて構成されている。さらに、この第1の
ウエハ搬送装置10は、図示していない手段により、各
ウエハキャリア32の近傍と、載置手段34の近傍との
間を移動することができる。
The first transfer device 10 includes a transfer base 12 and
Tweezers 14 configured to mount the wafer on the upper surface, and centering members (second positioning members) 18a, 1 supported by mounting fittings 20a, 20b.
8b and an elevating rod 22 for elevating the transport base 12 are provided. Furthermore, this first wafer transfer device 10 can be moved between the vicinity of each wafer carrier 32 and the vicinity of the mounting means 34 by means not shown.

【0021】また、ピンセット14は、図示していない
駆動手段により図中Aで示した方向に自動的に移動させ
ることができるように構成されている。さらに、このピ
ンセットの上面部には、先端にはウエハ載置面より上方
に突出する段部(第1の位置決め部材)16aが、セン
タリング部材18a,18b側には上端が段部16aよ
りも高く構成された壁部が形成された押圧部16bが、
それぞれ形成されている。
Further, the tweezers 14 is constructed so that it can be automatically moved in the direction indicated by A in the figure by a driving means (not shown). Further, on the upper surface of the tweezers, a step portion (first positioning member) 16a protruding upward from the wafer mounting surface is provided at the tip, and the upper end is higher than the step portion 16a on the side of the centering members 18a and 18b. The pressing portion 16b in which the configured wall portion is formed is
Each is formed.

【0022】次に、このような第1の搬送装置10を用
いて、ウエハキャリア32に収納された半導体ウエハ6
0を保持してセンタリングを行ない、載置手段34まで
搬送する方法について説明する。
Next, by using the first transfer device 10 as described above, the semiconductor wafer 6 housed in the wafer carrier 32.
A method of holding 0 and carrying out centering and carrying it to the mounting means 34 will be described.

【0023】図4(a)において、半導体ウエハ62
は、ウエハキャリア32に正規な状態で収納されている
場合を示している。また、他の半導体ウエハ64は、正
規な状態よりウエハキャリア32の奥側にずれた状態で
収納されている場合を示している。
In FIG. 4A, the semiconductor wafer 62
Shows the case where the wafer carrier 32 is stored in a normal state. Further, the other semiconductor wafers 64 are shown stored in a state in which they are shifted to the inner side of the wafer carrier 32 from the normal state.

【0024】図に示したように、ウエハキャリア32の
近傍(本実施例ではウエハキャリア32の開口32aか
ら例えば2mmの位置とした)まで移動させた第1の搬
送装置10から、ピンセット14を各ウエハ間でウエハ
に接触しない状態で延ばして保持したい半導体ウエハ6
4の下側に挿入し、このピンセット14を昇降ロッド2
2(図4では図示せず)を用いて当該ウエハ64を支持
し上方ウエハに接触しない範囲で上昇させることによ
り、半導体ウエハ64を載置することができる。さら
に、この状態でピンセット14を伸びた状態から縮んだ
状態にすなわち搬送基台12側に前後移動させて(すな
わち、図3(a)に示した状態)、予め定められた位置
まで戻ったとき、前記ウエハ64の側壁面がセンタリン
グ部材18a,18bに当接する。このとき、段部16
aの下り傾斜の内側面16c´とセンタリング部材18
a,18bの円弧状の側面18a´,18b´(図2参
照)とで半導体ウエハ64の側壁面部分を押圧して挟み
込む作用が生じ、この奥側にずれて収納されていた半導
体ウエハ64のセンタリングをピンセット14上におい
て行なうことができる。すなわち、半導体ウエハ64を
保持したピンセット14が搬送基台12側に戻ってきた
ときに、同時にセンタリングを行う。このため、従来の
ように、別途センタリング機構を必要とせず、かつ、セ
ンタリング時間も特に必要とはしない。
As shown in the drawing, the tweezers 14 are moved from the first transfer device 10 which has been moved to the vicinity of the wafer carrier 32 (in this embodiment, the position is, for example, 2 mm from the opening 32a of the wafer carrier 32). A semiconductor wafer 6 to be stretched and held between wafers without contacting the wafers
4 and insert the tweezers 14 into the lifting rod 2
The semiconductor wafer 64 can be mounted by supporting the wafer 64 with 2 (not shown in FIG. 4) and raising it within a range not contacting the upper wafer. Further, in this state, when the tweezers 14 are moved from the extended state to the contracted state, that is, when the tweezers 14 are moved back and forth toward the transport base 12 side (that is, the state shown in FIG. 3A) and returned to a predetermined position. The side wall surface of the wafer 64 contacts the centering members 18a and 18b. At this time, the step 16
a downwardly sloping inner surface 16c 'and the centering member 18
The side surfaces 18a 'and 18b' (see FIG. 2) of a and 18b having an arc shape press against the side wall surface portion of the semiconductor wafer 64 to sandwich it, and the semiconductor wafer 64 that is accommodated in the backside is displaced. Centering can be done on the tweezers 14. That is, when the tweezers 14 holding the semiconductor wafer 64 returns to the side of the transfer base 12, centering is performed at the same time. Therefore, unlike the conventional case, a separate centering mechanism is not required and a centering time is not particularly required.

【0025】なお、図から解るように、ピンセット14
の段部16aの内側面16a´と押圧部16bの押圧面
16b´との間隔は、奥側にずれた半導体ウエハ64も
そのままピンセット14に載置できるように寸法に余裕
をもたせて定められている。
As can be seen from the figure, the tweezers 14
The space between the inner side surface 16a 'of the stepped portion 16a and the pressing surface 16b' of the pressing portion 16b is determined with a margin in size so that the semiconductor wafer 64 displaced toward the back side can be mounted on the tweezers 14 as it is. There is.

【0026】また、図4(b)において、半導体ウエハ
66は、ウエハキャリア32の開口32a側にずれた状
態で収納されている場合を示している。
Further, FIG. 4B shows a case where the semiconductor wafer 66 is accommodated in a state of being shifted toward the opening 32a side of the wafer carrier 32.

【0027】この場合でも、押圧部16bの高さを段部
16aの高さよりも高くし、ピンセット14を延ばして
保持したい半導体ウエハ64の下側に挿入する際に押圧
部16bの内側面16b´で半導体ウエハ66を押し込
むことができるように構成しているので、開口32a側
にずれた状態で収納された半導体ウエハ66をそのまま
保持することが可能となる。なお、センタリングを行な
う方法は、上述の図4(b)の場合と同様である。
Even in this case, the height of the pressing portion 16b is made higher than the height of the step portion 16a, and when the tweezers 14 is extended and inserted into the lower side of the semiconductor wafer 64 to be held, the inner surface 16b 'of the pressing portion 16b is formed. Since the semiconductor wafer 66 can be pushed in, the semiconductor wafer 66 stored in the state shifted to the opening 32a side can be held as it is. The method of centering is the same as in the case of FIG.

【0028】以上説明したようにしてセンタリングを行
なった状態で保持された半導体ウエハ60は、載置手段
34の近傍まで搬送され、この載置手段34上に載置さ
れる。載置手段34上への載置は、載置手段34上まで
ピンセット14をのばし、続いてこのピンセット14を
昇降ロッド22を用いて下降させることにより行なうこ
とができる。
The semiconductor wafer 60 held in the centered state as described above is conveyed to the vicinity of the mounting means 34 and mounted on the mounting means 34. The placement on the placing means 34 can be performed by extending the tweezers 14 to the placing means 34 and then lowering the tweezers 14 using the elevating rod 22.

【0029】一方、載置手段34上に載置された半導体
ウエハ60を保持してセンタリングを行ない、ウエハキ
ャリア32に収納する工程も、ほぼ同様にして行なうこ
とができる。
On the other hand, the steps of holding the semiconductor wafer 60 placed on the placing means 34, performing centering, and storing it in the wafer carrier 32 can be performed in substantially the same manner.

【0030】このように、本実施例のレジスト膜形成装
置では、第1のウエハ搬送装置をウエハを保持する際に
併せてセンタリングもできるように構成したので、半導
体ウエハ60を保持する状態で、移動により同時にセン
タリングも行なうことができる。したがって、センタリ
ングのためのロス時間がなくなり、一工程少ない分パー
ティクルの発生も減少し、さらに、従来のように、載置
手段34付近に別途位置合わせ手段を設ける必要がない
のでコストを削減させることができる。
As described above, in the resist film forming apparatus according to the present embodiment, the first wafer transfer apparatus is configured to be able to perform centering when holding the wafer. Therefore, in the state where the semiconductor wafer 60 is held, By moving, centering can be performed at the same time. Therefore, the loss time for centering is eliminated, the number of processes is reduced by one step, and the generation of particles is reduced. Further, unlike the conventional case, it is not necessary to provide a separate aligning means in the vicinity of the placing means 34, thereby reducing the cost. You can

【0031】なお、本実施例では、第1のウエハ搬送装
置10にのみセンタリングの機能を設けることとした
が、この機能を第2のウエハ搬送装置50にも設け、各
処理機構42〜48間の搬送を行なう際にセンタリング
を行なうこととしてもよい。
In the present embodiment, the centering function is provided only in the first wafer transfer apparatus 10, but this function is also provided in the second wafer transfer apparatus 50, and the processing mechanisms 42 to 48 are connected to each other. It is also possible to perform centering when carrying the above.

【0032】また、本実施例では、段部16aとセンタ
リング部材18a,18bとによってセンタリングを行
なうこととしたが、例えば複数本のピンを設けるなど、
他の構成の位置決め部材によってセンタリングを行なっ
てもよい。すなわち、ピンセット14の先端に設けられ
た位置決め部材と、搬送基台12に固定された位置決め
部材とで半導体ウエハ60のセンタリングを行なう場合
には、位置決め部材の形状や配置によらず、本発明の効
果を得ることができる。
Further, in this embodiment, the centering is performed by the step portion 16a and the centering members 18a, 18b, but, for example, a plurality of pins are provided.
The centering may be performed by a positioning member having another structure. That is, when the semiconductor wafer 60 is centered by the positioning member provided at the tip of the tweezers 14 and the positioning member fixed to the carrier base 12, the present invention is not dependent on the shape or arrangement of the positioning member. The effect can be obtained.

【0033】加えて、本実施例では、ピンセット14に
載置することのみによって半導体ウエハ60の保持を行
なうこととしたが、センタリング後搬送を行なう際に、
真空吸着や静電吸着等の仮固定機構を設けるようにして
もよい。
In addition, in this embodiment, the semiconductor wafer 60 is held only by placing it on the tweezers 14. However, when carrying after centering, the semiconductor wafer 60 is held.
A temporary fixing mechanism such as vacuum suction or electrostatic suction may be provided.

【0034】さらに、本実施例では、本発明に係わるウ
エハ搬送装置をレジスト膜形成装置に使用した場合につ
いて説明したが、他の装置に使用することもできるのは
もちろんである。
Further, in the present embodiment, the case where the wafer transfer apparatus according to the present invention is used for the resist film forming apparatus has been described, but it is needless to say that it can be used for other apparatuses.

【0035】また、搬送する板状体は、前記ウエハの他
に、側面が円形であるものや、LCD基板、プリント基
板、方形状の板状体でもよい。
In addition to the wafer, the plate-like member to be conveyed may be one having a circular side surface, an LCD substrate, a printed circuit board, or a rectangular plate-like member.

【0036】なお、本実施例では搬入搬出ユニット30
の半導体ウエハ受け渡し位置に立設した3本のピンによ
ってウエハ載置手段34を構成し、この載置手段34に
半導体ウエハ60を一旦載置して第1のウエハ搬送装置
10と第2のウエハ搬送装置50との間の半導体ウエハ
の受け渡しを行う例について説明したが、図5に示すよ
うに、載置手段34を設けずに、第1のウエハ搬送装置
10と第2のウエハ搬送装置50との間で、直接受け渡
しを行うこととしてもよい。
In this embodiment, the loading / unloading unit 30
The wafer mounting means 34 is composed of three pins standing at the semiconductor wafer transfer position, and the semiconductor wafer 60 is once mounted on the mounting means 34, and the first wafer transfer device 10 and the second wafer are mounted. Although an example in which a semiconductor wafer is transferred to and from the transfer device 50 has been described, as shown in FIG. 5, the first wafer transfer device 10 and the second wafer transfer device 50 are provided without providing the mounting means 34. It may be possible to directly deliver the data to and from.

【0037】この場合の第1のウエハ搬送装置110の
機構は上述の実施例の第1のウエハ搬送装置10とほぼ
同一でよいため省略するが、図示していない手段によ
り、直列に配置した各ウエハキャリア32の近傍および
処理機構ユニット40の第2のウエハ搬送装置50との
半導体ウエハ受け渡し位置に移動することができる。
The mechanism of the first wafer transfer device 110 in this case may be omitted because it may be almost the same as that of the first wafer transfer device 10 of the above-mentioned embodiment, but each device arranged in series by means not shown. The semiconductor wafer can be moved to the vicinity of the wafer carrier 32 and the semiconductor wafer transfer position between the processing mechanism unit 40 and the second wafer transfer device 50.

【0038】図5において、ウエハキャリア32に収納
された半導体ウエハ60は、第1のウエハ搬送装置11
0によって保持されるとともに、上述の実施例の場合と
同様にしてセンタリングが行われ、そのままの状態で、
この第1のウエハ搬送装置110によって、第2のウエ
ハ搬送装置50の搬送路の左端付近まで搬送される。そ
して、第1のウエハ搬送装置110のピンセット14を
半導体ウエハ60を保持したまま伸ばすとともに、第2
のウエハ搬送装置50のピンセット52をピンセット1
4の下方から上昇させることにより、半導体ウエハ60
のピンセット14からピンセット52への受け渡しを行
うことができる。
In FIG. 5, the semiconductor wafer 60 housed in the wafer carrier 32 is the first wafer transfer device 11.
0, and centering is performed in the same manner as in the above-described embodiment, and in that state,
The first wafer transfer device 110 transfers the second wafer transfer device 50 to the vicinity of the left end of the transfer path. Then, the tweezers 14 of the first wafer transfer device 110 are extended while holding the semiconductor wafer 60, and
Tweezers 52 of the wafer transfer device 50
4, the semiconductor wafer 60 is lifted from below.
The tweezers 14 can be transferred to the tweezers 52.

【0039】一方、第2のウエハ搬送装置50から第1
のウエハ搬送装置110への受け渡しを行うときは、第
2のウエハ搬送装置50を処理機構ユニット40の左端
付近に搬送し、第1のウエハ搬送装置110を、ピンセ
ット14を伸ばしたままの状態で、ピンセット52の下
方から上昇させることとすればよい。
On the other hand, from the second wafer transfer device 50 to the first
When the second wafer transfer device 50 is transferred to the wafer transfer device 110, the second wafer transfer device 50 is transferred to the vicinity of the left end of the processing mechanism unit 40, and the first wafer transfer device 110 is held with the tweezers 14 extended. The tweezers 52 may be raised from below.

【0040】さらに、このように第1のウエハ搬送装置
110と第2のウエハ搬送装置50との間の半導体ウエ
ハ60の受け渡しを直接行う場合に、第1のウエハ搬送
機構110に昇降可能な複数(例えば3本)のピンを設
け(図示せず)、このピンを用いて受け渡しを行うこと
としてもよい。例えば、第1のウエハ搬送装置110を
半導体ウエハの受け渡し位置まで移動させた後に、これ
らピンをアップさせることにより、ピンセット14に載
置されていた半導体ウエハ60を、これらのピンで支持
し、その後、第2のウエハ搬送装置50のピンセット5
2を半導体ウエハ60の下方から上昇させることによ
り、かかる半導体ウエハ60の受け渡しを行うこととし
てもよい。
Further, in the case where the semiconductor wafer 60 is directly transferred between the first wafer transfer device 110 and the second wafer transfer device 50 as described above, a plurality of vertically movable wafers can be moved to the first wafer transfer mechanism 110. It is also possible to provide (for example, three) pins (not shown) and use these pins for delivery. For example, the semiconductor wafer 60 placed on the tweezers 14 is supported by these pins by moving the first wafer transfer device 110 to the semiconductor wafer transfer position and then raising these pins, and thereafter. , The tweezers 5 of the second wafer transfer device 50
The semiconductor wafer 60 may be delivered by raising 2 from below the semiconductor wafer 60.

【0041】また、かかる場合において、第2のウエハ
搬送装置50から第1のウエハ搬送装置110への受け
渡しを行うときには、一旦、第1のウエハ搬送装置11
0に設けられた上述のごとき複数のピン上に半導体ウエ
ハ60を載置し、その後、これらのピンを下降させるこ
とにより、ピンセット14上に半導体ウエハ60を載置
させることとすればよい。或いは、上述した第1のウエ
ハ搬送装置110に複数のピンを設けない場合と同様
に、第1のウエハ搬送装置110を、ピンセット14を
伸ばしたままの状態で、第2のウエハ搬送装置50のピ
ンセット52の下方から上昇させることとしてもよい。
Further, in such a case, when the second wafer transfer device 50 transfers the first wafer transfer device 110 to the first wafer transfer device 110, the first wafer transfer device 11 is temporarily transferred.
The semiconductor wafer 60 may be placed on the plurality of pins provided on the pin 0, and then the pins may be lowered to place the semiconductor wafer 60 on the tweezers 14. Alternatively, as in the case where the plurality of pins are not provided on the first wafer transfer device 110 described above, the first wafer transfer device 110 may be installed in the second wafer transfer device 50 with the tweezers 14 extended. The tweezers 52 may be raised from below.

【0042】このように、ウエハ載置手段34を半導体
ウエハの受け渡し場所に固定して設けることは必須では
なく、第1のウエハ搬送装置110と第2のウエハ搬送
装置50との間で、直接、半導体ウエハの受け渡しを行
うことも可能である。
As described above, it is not indispensable to fix the wafer mounting means 34 at the semiconductor wafer transfer place, but directly between the first wafer transfer device 110 and the second wafer transfer device 50. It is also possible to transfer the semiconductor wafer.

【0043】[0043]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、ウエハを保持すると同時に、このウエハのセンタ
リングを行なうことが可能なウエハ搬送装置を安価に提
供することができる。
As described in detail above, according to the present invention, it is possible to inexpensively provide a wafer transfer apparatus capable of holding a wafer and simultaneously centering the wafer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の1実施例に係わるウエハ搬送装置を用
いたレジスト膜形成装置の概略構成を示す概念図であ
る。
FIG. 1 is a conceptual diagram showing a schematic configuration of a resist film forming apparatus using a wafer transfer apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の1実施例に係わるウエハ搬送装置の構
成を概略的に示す図であり、図2(a)は上面図、図2
(b)は正面図である。
FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration of a wafer transfer device according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 (a) is a top view and FIG.
(B) is a front view.

【図3】本発明の1実施例に係わるウエハ搬送装置を概
略的に示す側面図であり、図3(a)はピンセットをの
ばしていない状態を示す図、図3(b)はピンセットを
のばした状態を示す図である。
FIG. 3 is a side view schematically showing a wafer transfer device according to one embodiment of the present invention, FIG. 3 (a) shows a state in which tweezers are not extended, and FIG. 3 (b) shows tweezers. It is a figure which shows the extended state.

【図4】図4(a)、図4(b)ともに、本発明の1実
施例に係わるウエハ搬送装置を用いたウエハの保持方法
を説明するための概念図である。
FIG. 4A and FIG. 4B are conceptual diagrams for explaining a wafer holding method using a wafer transfer apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明に係わるウエハ搬送装置を用いたレジス
ト膜形成装置の他の例を示す概念図である。
FIG. 5 is a conceptual diagram showing another example of a resist film forming apparatus using the wafer transfer apparatus according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,110 第1のウエハ搬送装置 12 搬送基台 14 ピンセット 16a 段部 16b 押圧部 18a,18b センタリング部材 20a,20b 取付金具 22 昇降ロッド
TE038401
10, 110 First wafer transfer device 12 Transfer base 14 Tweezers 16a Step 16b Pressing parts 18a, 18b Centering members 20a, 20b Mounting bracket 22 Lifting rod
TE038401

Claims (1)

【特許請求の範囲】 【請求項1】 板状体を保持して搬送する板状体搬送装
置において、上面に前記板状体を保持可能に構成された
板状体保持部材と、この板状体保持部材の予め定められ
た保持部に設けられた第1の位置決め部材と、前記板状
体を載置した前記板状体保持部材が移動したときにこの
板状体の側面に当接して前記板状体を位置決めする如く
設けられた第2の位置決め部材と、を具備することを特
徴とする板状体搬送装置。
Claim: What is claimed is: 1. A plate-shaped body transporting device for holding and transporting a plate-shaped body, and a plate-shaped body holding member configured to hold the plate-shaped body on an upper surface, and the plate-shaped body holding member. When the first positioning member provided in a predetermined holding portion of the body holding member and the plate-shaped body holding member on which the plate-shaped body is placed move, they come into contact with the side surface of the plate-shaped body. And a second positioning member provided so as to position the plate-shaped body.
JP22486091A 1991-04-19 1991-08-08 Plate transfer device Expired - Lifetime JP2919123B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22486091A JP2919123B2 (en) 1991-04-19 1991-08-08 Plate transfer device

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3-117016 1991-04-19
JP11701691 1991-04-19
JP22486091A JP2919123B2 (en) 1991-04-19 1991-08-08 Plate transfer device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH053241A true JPH053241A (en) 1993-01-08
JP2919123B2 JP2919123B2 (en) 1999-07-12

Family

ID=26455213

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP22486091A Expired - Lifetime JP2919123B2 (en) 1991-04-19 1991-08-08 Plate transfer device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2919123B2 (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003095435A (en) * 2001-09-27 2003-04-03 Ebara Corp Rectangular substrate conveying robot
US6712579B2 (en) 2001-04-17 2004-03-30 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate transfer apparatus and substrate transfer method
US6729559B2 (en) 2000-10-17 2004-05-04 Daizo Co., Ltd. Rotary aerosol product
JP2011018794A (en) * 2009-07-09 2011-01-27 Sumco Corp Device and method for carrying wafer
JP2011035281A (en) * 2009-08-05 2011-02-17 Disco Abrasive Syst Ltd Workpiece storage mechanism and grinding device

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6729559B2 (en) 2000-10-17 2004-05-04 Daizo Co., Ltd. Rotary aerosol product
US6712579B2 (en) 2001-04-17 2004-03-30 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Substrate transfer apparatus and substrate transfer method
JP2003095435A (en) * 2001-09-27 2003-04-03 Ebara Corp Rectangular substrate conveying robot
JP2011018794A (en) * 2009-07-09 2011-01-27 Sumco Corp Device and method for carrying wafer
JP2011035281A (en) * 2009-08-05 2011-02-17 Disco Abrasive Syst Ltd Workpiece storage mechanism and grinding device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2919123B2 (en) 1999-07-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101515247B1 (en) Substrate processing apparatus
JPH07297258A (en) Carrying equipment of plate body
JPH08241918A (en) Substrate treatment device
JPH05190414A (en) Substrate suction apparatus
JPH053241A (en) Conveyer for plate-shaped object
JPH1111663A (en) Substrate conveying device
KR101452543B1 (en) Substrate processing system
JPH06140492A (en) Cluster device
JPH05129417A (en) Processing equipment of tabular body
JP2743274B2 (en) Substrate processing device and substrate transfer device
JP2630366B2 (en) Loading / unloading method and loading / unloading device for plate-like body
JPH06143177A (en) Substrate conveying device
JPH05323251A (en) Substrate conveying mechanism for proximity exposing device
JPH0513551A (en) Treatment device
JP2945837B2 (en) Transport mechanism and transport method for plate-like body
JP2913510B2 (en) Transfer device
JP3029409B2 (en) Substrate processing equipment
JP2002252272A (en) Glass substrate conveyance device and aligner
JPH0430549A (en) Substrate conveyance device
JP2926213B2 (en) Substrate processing equipment
JP2926214B2 (en) Apparatus and method for manufacturing substrate to be processed
JPH07161630A (en) Substrate carrying mechanism for exposing device
JP2828581B2 (en) Substrate heat treatment equipment
JP2880673B2 (en) Substrate processing equipment
KR20220144335A (en) Position adjusting method of substrate holder, substrate processing system, and recording medium

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990330

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110423

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120423

Year of fee payment: 13