JP2002250943A - 液晶素子 - Google Patents
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Substances (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高速応答のカイラルスメクチック液晶を用
い、高画質の動画像を長期に亘って安定して表示しうる
液晶素子を構成する。 【解決手段】 分子軸方向に直交する方向の誘電率ε
(⊥)が4.0を超えるカイラルスメクチック液晶を用
い、電圧無印加時には単安定化された第一の配向状態を
示し、電圧印加時には、印加電圧の極性に応じてチルト
角の異なる配向状態を示すように素子を構成する。
い、高画質の動画像を長期に亘って安定して表示しうる
液晶素子を構成する。 【解決手段】 分子軸方向に直交する方向の誘電率ε
(⊥)が4.0を超えるカイラルスメクチック液晶を用
い、電圧無印加時には単安定化された第一の配向状態を
示し、電圧印加時には、印加電圧の極性に応じてチルト
角の異なる配向状態を示すように素子を構成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、表示素子、特にフ
ラットパネルディスプレイ、プロジェクションディスプ
レイ、プリンタ等に用いられるライトバルブに使用され
る液晶素子に関する。
ラットパネルディスプレイ、プロジェクションディスプ
レイ、プリンタ等に用いられるライトバルブに使用され
る液晶素子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、ネマチック液晶素子におい
て、一つ一つの画素にトランジスタ(例えば薄膜トラン
ジスタ;TFT)のようなアクティブ素子を配置した、
アクティブマトリクス型と呼ばれる液晶素子の開発が行
われている。現在、このアクティブマトリクス型の液晶
素子に用いられるネマチック液晶のモードとして、例え
ば、M.シャット(Schadt)とW.ヘルフリッヒ
(Helfrich)著、Applied Physi
cs Letters,第18巻、第4号(1971年
2月15日発行)、第127頁〜128頁において示さ
れたツイステッドネマチック(Twisted Nem
atic;TN)モードが広く用いられている。また、
最近では、横方向電界を利用したインプレインスイッチ
ング(In−Plain Switching)モード
が発表されており、TNモード液晶素子の欠点でもあっ
た視野角特性の改善がなされている。
て、一つ一つの画素にトランジスタ(例えば薄膜トラン
ジスタ;TFT)のようなアクティブ素子を配置した、
アクティブマトリクス型と呼ばれる液晶素子の開発が行
われている。現在、このアクティブマトリクス型の液晶
素子に用いられるネマチック液晶のモードとして、例え
ば、M.シャット(Schadt)とW.ヘルフリッヒ
(Helfrich)著、Applied Physi
cs Letters,第18巻、第4号(1971年
2月15日発行)、第127頁〜128頁において示さ
れたツイステッドネマチック(Twisted Nem
atic;TN)モードが広く用いられている。また、
最近では、横方向電界を利用したインプレインスイッチ
ング(In−Plain Switching)モード
が発表されており、TNモード液晶素子の欠点でもあっ
た視野角特性の改善がなされている。
【0003】その他、上述したTFT等のアクティブ素
子を用いない、ネマチック液晶素子の代表例として、ス
ーパーTNモードがある。このように、ネマチック液晶
を用いた液晶素子は様々なモードが存在するが、そのい
ずれの場合にも液晶の応答速度が数十ミリ秒以上である
という問題点があった。
子を用いない、ネマチック液晶素子の代表例として、ス
ーパーTNモードがある。このように、ネマチック液晶
を用いた液晶素子は様々なモードが存在するが、そのい
ずれの場合にも液晶の応答速度が数十ミリ秒以上である
という問題点があった。
【0004】このような従来のネマチック液晶素子の問
題点を改善するものとして、液晶が双安定性を示す強誘
電性液晶素子(Surface Stabilized
FLC;SSFLC)がクラーク(Clark)及び
ラガウェル(Lagerwall)により提案されてい
る(特開昭56−107216号公報、米国特許第43
67924号明細書)。この双安定性を示す液晶として
は、一般にカイラルスメクチックC相(SmC*)を示
す強誘電性液晶が用いられている。この強誘電性液晶で
は、電圧印加の際に液晶分子の自発分極に電圧が作用
し、分子の反転スイッチングがなされるため、非常に速
い応答速度が得られる上にメモリ性のある双安定状態を
発現させることができる。さらに視野角特性も優れてい
ることから、高速、高精細、大面積の表示素子或いはラ
イトバルブとして適していると考えられる。
題点を改善するものとして、液晶が双安定性を示す強誘
電性液晶素子(Surface Stabilized
FLC;SSFLC)がクラーク(Clark)及び
ラガウェル(Lagerwall)により提案されてい
る(特開昭56−107216号公報、米国特許第43
67924号明細書)。この双安定性を示す液晶として
は、一般にカイラルスメクチックC相(SmC*)を示
す強誘電性液晶が用いられている。この強誘電性液晶で
は、電圧印加の際に液晶分子の自発分極に電圧が作用
し、分子の反転スイッチングがなされるため、非常に速
い応答速度が得られる上にメモリ性のある双安定状態を
発現させることができる。さらに視野角特性も優れてい
ることから、高速、高精細、大面積の表示素子或いはラ
イトバルブとして適していると考えられる。
【0005】一方、最近では液晶が3安定状態を示す反
強誘電性液晶(AFLC)が注目されている。この反強
誘電性液晶も強誘電性液晶同様に、液晶分子の自発分極
への作用により分子の反転スイッチングがなされるた
め、非常に速い応答速度が得られる。この液晶材料は、
電圧無印加時には液晶分子が互いに自発分極を打ち消し
合うような分子配列構造を取るため、電圧を印加しない
状態では自発分極は存在しないことが特徴となってい
る。
強誘電性液晶(AFLC)が注目されている。この反強
誘電性液晶も強誘電性液晶同様に、液晶分子の自発分極
への作用により分子の反転スイッチングがなされるた
め、非常に速い応答速度が得られる。この液晶材料は、
電圧無印加時には液晶分子が互いに自発分極を打ち消し
合うような分子配列構造を取るため、電圧を印加しない
状態では自発分極は存在しないことが特徴となってい
る。
【0006】こうした自発分極により反転スイッチング
を行う強誘電性液晶や反強誘電性液晶は、いずれもカイ
ラルスメクチック液晶相を示すカイラルスメクチック液
晶である。即ち、従来ネマチック液晶が抱えていた応答
速度が遅いという問題点を解決できる液晶材料として液
晶素子の実現が期待されている。
を行う強誘電性液晶や反強誘電性液晶は、いずれもカイ
ラルスメクチック液晶相を示すカイラルスメクチック液
晶である。即ち、従来ネマチック液晶が抱えていた応答
速度が遅いという問題点を解決できる液晶材料として液
晶素子の実現が期待されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、高速
応答性など次世代のディスプレイ等に自発分極を有する
スメクチック液晶が期待されているが、特に上述の双安
定状態や3安定状態を用いるモードでは、一画素内での
階調表示が原理的に困難であった。
応答性など次世代のディスプレイ等に自発分極を有する
スメクチック液晶が期待されているが、特に上述の双安
定状態や3安定状態を用いるモードでは、一画素内での
階調表示が原理的に困難であった。
【0008】そこで、近年、カイラルスメクチック液晶
を用いて階調制御を行うモードとして、「ショートピッ
チタイプの強誘電性液晶」、「高分子安定型強誘電性液
晶」、「無しきい値反強誘電性液晶」などが提案されて
いるが、いずれも実用に十分なレベルに至っているもの
はない。
を用いて階調制御を行うモードとして、「ショートピッ
チタイプの強誘電性液晶」、「高分子安定型強誘電性液
晶」、「無しきい値反強誘電性液晶」などが提案されて
いるが、いずれも実用に十分なレベルに至っているもの
はない。
【0009】一方、液晶素子において、従来型の素子
(ネマチック相を用いるモード)の液晶部分の応答速度
を単に高速化させるだけでは、人間の感じる動画高速応
答特性が得られないことが最近の研究(信学技法EID
96−4p.19など)から明らかになってきている。
これらの研究結果では、人間が動画表示が高速であると
感じる手法として、シャッタを用いて時間開口率を50
%以下にする方式、または2倍速表示方式を用いること
により動画質改善に効果的であるとの結論が得られてい
る。
(ネマチック相を用いるモード)の液晶部分の応答速度
を単に高速化させるだけでは、人間の感じる動画高速応
答特性が得られないことが最近の研究(信学技法EID
96−4p.19など)から明らかになってきている。
これらの研究結果では、人間が動画表示が高速であると
感じる手法として、シャッタを用いて時間開口率を50
%以下にする方式、または2倍速表示方式を用いること
により動画質改善に効果的であるとの結論が得られてい
る。
【0010】しかしながら、従来型のネマチック相を用
いるモードでは、液晶の応答速度が不十分であるため、
上述の動画表示方法を用いることができないことはもと
より、これまで提案されている高速応答のカイラルスメ
クチック液晶、さらに上述した「ショートピッチタイプ
の強誘電性液晶」、「高分子安定型強誘電性液晶」、
「無しきい値反強誘電性液晶」などを用いて上述の高速
での良好な動画表示を実現するためには、いずれのスメ
クチックモードを用いても駆動方法や周辺回路が複雑に
なると言う問題点を有しており、コストアップの要因と
なっていた。また、完全に時間開口率を50%以下と設
定した場合、表示素子全体の明るさそのものが50%以
下となってしまい、表示輝度の低下を招くのは明らかで
ある。
いるモードでは、液晶の応答速度が不十分であるため、
上述の動画表示方法を用いることができないことはもと
より、これまで提案されている高速応答のカイラルスメ
クチック液晶、さらに上述した「ショートピッチタイプ
の強誘電性液晶」、「高分子安定型強誘電性液晶」、
「無しきい値反強誘電性液晶」などを用いて上述の高速
での良好な動画表示を実現するためには、いずれのスメ
クチックモードを用いても駆動方法や周辺回路が複雑に
なると言う問題点を有しており、コストアップの要因と
なっていた。また、完全に時間開口率を50%以下と設
定した場合、表示素子全体の明るさそのものが50%以
下となってしまい、表示輝度の低下を招くのは明らかで
ある。
【0011】本出願人は、カイラルスメクチック液晶を
電圧無印加時に単安定化させ、電圧印加時には印加電圧
の極性によってチルトする角度が異なるように配向させ
ることによって、上記動画質向上を図る技術を提案して
いるが、長時間駆動した際に配向状態が経時的に変化す
る場合があった。
電圧無印加時に単安定化させ、電圧印加時には印加電圧
の極性によってチルトする角度が異なるように配向させ
ることによって、上記動画質向上を図る技術を提案して
いるが、長時間駆動した際に配向状態が経時的に変化す
る場合があった。
【0012】本発明の課題は、上記問題点を解決し、高
速応答のカイラルスメクチック液晶を用いて、良好な階
調表示を行うと同時に、優れた動画質表示を長期に亘っ
て安定して実現することにある。
速応答のカイラルスメクチック液晶を用いて、良好な階
調表示を行うと同時に、優れた動画質表示を長期に亘っ
て安定して実現することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、カイラルスメ
クチック液晶と、該液晶に電圧を印加するための電極
と、該液晶を挟持して対向すると共に、少なくとも一方
の対向面に該液晶を配向させるための一軸配向処理が施
された一対の基板と、を少なくとも備えた液晶素子であ
って、上記液晶の、液晶分子軸方向に直交する方向の誘
電率ε(⊥)が4.0を超え、電圧無印加時には、液晶
の平均分子軸が単安定化された第一の状態を示し、第一
の極性の電圧印加時には、該液晶の平均分子軸が印加電
圧の大きさに応じた角度で上記第一の状態の位置から一
方の側にチルトし、該第一の極性とは逆極性の第二の極
性の電圧印加時には、液晶の平均分子軸が印加電圧の大
きさに応じた角度で上記第一の状態の位置から第一の極
性の電圧印加時とは逆側にチルトし、上記第一の極性の
電圧印加時と第二の極性の電圧印加時の液晶の平均分子
軸の第一の状態の位置を基準とした最大チルト状態のチ
ルト角をそれぞれβ1、β2とすると、β1>β2となるこ
とを特徴とする液晶素子である。
クチック液晶と、該液晶に電圧を印加するための電極
と、該液晶を挟持して対向すると共に、少なくとも一方
の対向面に該液晶を配向させるための一軸配向処理が施
された一対の基板と、を少なくとも備えた液晶素子であ
って、上記液晶の、液晶分子軸方向に直交する方向の誘
電率ε(⊥)が4.0を超え、電圧無印加時には、液晶
の平均分子軸が単安定化された第一の状態を示し、第一
の極性の電圧印加時には、該液晶の平均分子軸が印加電
圧の大きさに応じた角度で上記第一の状態の位置から一
方の側にチルトし、該第一の極性とは逆極性の第二の極
性の電圧印加時には、液晶の平均分子軸が印加電圧の大
きさに応じた角度で上記第一の状態の位置から第一の極
性の電圧印加時とは逆側にチルトし、上記第一の極性の
電圧印加時と第二の極性の電圧印加時の液晶の平均分子
軸の第一の状態の位置を基準とした最大チルト状態のチ
ルト角をそれぞれβ1、β2とすると、β1>β2となるこ
とを特徴とする液晶素子である。
【0014】上記本発明においては、上記β1、β2がβ
1≧5×β2であること、上記液晶が、カイラルスメクチ
ック相において誘電率ε(⊥)が4.0を超えること、
上記液晶の相転移系列が、降温時に、等方性液体相−コ
レステリック相−カイラルスメクチックC相または等方
性液体相−カイラルスメクチックC相であって、該液晶
のスメクチック層の法線方向が実質的に一方向であるこ
と、上記液晶のバルク状態でのらせんピッチがセル厚の
2倍より長いこと、複数の画素を有し、画素毎に画素電
極とアクティブ素子を備え、該アクティブ素子を介して
各画素の液晶をアクティブマトリクス駆動し、アナログ
階調表示を行うこと、を好ましい態様として含むもので
ある。
1≧5×β2であること、上記液晶が、カイラルスメクチ
ック相において誘電率ε(⊥)が4.0を超えること、
上記液晶の相転移系列が、降温時に、等方性液体相−コ
レステリック相−カイラルスメクチックC相または等方
性液体相−カイラルスメクチックC相であって、該液晶
のスメクチック層の法線方向が実質的に一方向であるこ
と、上記液晶のバルク状態でのらせんピッチがセル厚の
2倍より長いこと、複数の画素を有し、画素毎に画素電
極とアクティブ素子を備え、該アクティブ素子を介して
各画素の液晶をアクティブマトリクス駆動し、アナログ
階調表示を行うこと、を好ましい態様として含むもので
ある。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明者等は、カイラルスメクチ
ック液晶を用いた表示モードにおいて、分子軸に対して
垂直成分の誘電率ε(⊥)が電圧に対する配向安定性に
大きく関与していることを見い出し、本発明を達成した
ものである。
ック液晶を用いた表示モードにおいて、分子軸に対して
垂直成分の誘電率ε(⊥)が電圧に対する配向安定性に
大きく関与していることを見い出し、本発明を達成した
ものである。
【0016】即ち、本発明の液晶素子は、カイラルスメ
クチック液晶と、該液晶に電圧を印加するための電極
と、該液晶を挟持して対向すると共に、少なくとも一方
の対向面に該液晶を配向させるための一軸配向処理が施
された一対の基板と、を少なくとも備えた液晶素子であ
って、上記液晶の、液晶分子長軸方向に直交する方向の
誘電率ε(⊥)が、特にカイラルスメクチック相におい
て4.0を超え、電圧無印加時には、液晶の平均分子軸
が単安定化された第一の状態を示し、第一の極性の電圧
印加時には、該液晶の平均分子軸が印加電圧の大きさに
応じた角度で上記第一の状態の位置から一方の側にチル
トし、該第一の極性とは逆極性の第二の極性の電圧印加
時には、液晶の平均分子軸が印加電圧の大きさに応じた
角度で上記第一の状態の位置から第一の極性の電圧印加
時とは逆側にチルトし、上記第一の極性の電圧印加時と
第二の極性の電圧印加時の液晶の平均分子軸の第一の状
態の位置を基準とした最大チルト状態のチルト角をそれ
ぞれβ1、β2とすると、β1>β2となることを特徴とす
る。
クチック液晶と、該液晶に電圧を印加するための電極
と、該液晶を挟持して対向すると共に、少なくとも一方
の対向面に該液晶を配向させるための一軸配向処理が施
された一対の基板と、を少なくとも備えた液晶素子であ
って、上記液晶の、液晶分子長軸方向に直交する方向の
誘電率ε(⊥)が、特にカイラルスメクチック相におい
て4.0を超え、電圧無印加時には、液晶の平均分子軸
が単安定化された第一の状態を示し、第一の極性の電圧
印加時には、該液晶の平均分子軸が印加電圧の大きさに
応じた角度で上記第一の状態の位置から一方の側にチル
トし、該第一の極性とは逆極性の第二の極性の電圧印加
時には、液晶の平均分子軸が印加電圧の大きさに応じた
角度で上記第一の状態の位置から第一の極性の電圧印加
時とは逆側にチルトし、上記第一の極性の電圧印加時と
第二の極性の電圧印加時の液晶の平均分子軸の第一の状
態の位置を基準とした最大チルト状態のチルト角をそれ
ぞれβ1、β2とすると、β1>β2となることを特徴とす
る。
【0017】本発明において用いられるカイラルスメク
チック液晶は、相転移系列が、降温時に、等方性液体相
(Iso.)−コレステリック相(Ch)−カイラルス
メクチックC相(SmC*)またはIso.−SmC*で
あり、さらに、スメクチック層の法線方向が実質的に一
方向であるカイラルスメクチック液晶が好ましい。本発
明に用いられるカイラルスメクチック液晶として好まし
い液晶組成物を構成する化合物の具体例を下記に示す。
チック液晶は、相転移系列が、降温時に、等方性液体相
(Iso.)−コレステリック相(Ch)−カイラルス
メクチックC相(SmC*)またはIso.−SmC*で
あり、さらに、スメクチック層の法線方向が実質的に一
方向であるカイラルスメクチック液晶が好ましい。本発
明に用いられるカイラルスメクチック液晶として好まし
い液晶組成物を構成する化合物の具体例を下記に示す。
【0018】
【化1】
【0019】R1、R2:炭素数が1〜20である置換基
を有していても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1、X2:単結合、O、COO、OOC Y1、Y2、Y3、Y4:HまたはF n:0または1
を有していても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1、X2:単結合、O、COO、OOC Y1、Y2、Y3、Y4:HまたはF n:0または1
【0020】
【化2】
【0021】R1、R2:炭素数が1〜20である置換基
を有していても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1、X2:単結合、O、COO、OOC Y1、Y2、Y3、Y4:HまたはF
を有していても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1、X2:単結合、O、COO、OOC Y1、Y2、Y3、Y4:HまたはF
【0022】
【化3】
【0023】R1、R2:炭素数が1〜20である置換基
を有していても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1、X2:単結合、O、COO、OOC Y1、Y2、Y3、Y4:HまたはF
を有していても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1、X2:単結合、O、COO、OOC Y1、Y2、Y3、Y4:HまたはF
【0024】
【化4】
【0025】R1、R2:炭素数が1〜20である置換基
を有していても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1、X2:単結合、O、COO、OOC Y1、Y2、Y3、Y4:HまたはF
を有していても良い直鎖または分岐状のアルキル基 X1、X2:単結合、O、COO、OOC Y1、Y2、Y3、Y4:HまたはF
【0026】以下、本発明の液晶素子を具体的な実施形
態を挙げて説明する。
態を挙げて説明する。
【0027】図1は、本発明の液晶素子の一実施形態の
基本構成を示す断面模式図である。図中、1a、1bは
基板、2a、2bは電極、3a、3bは絶縁層、4a、
4bは配向膜、5は液晶、6はスペーサである。
基本構成を示す断面模式図である。図中、1a、1bは
基板、2a、2bは電極、3a、3bは絶縁層、4a、
4bは配向膜、5は液晶、6はスペーサである。
【0028】図1の液晶素子は、一対のガラス、プラス
チック等透明性の高い材料からなる基板1a、1b間に
液晶5を挟持して構成される。基板1a、1bにはそれ
ぞれ液晶1に電圧を印加するためのIn2O3、ITO等
の材料からなる電極2a、2bが設けられており、例え
ば後述するように一方の基板にドット状の透明電極を画
素電極としてマトリクス状に配置し、各画素電極にTF
T素子を接続し、他方の基板には一面上或いは所定のパ
ターンの対向電極を設けアクティブマトリクス構造を形
成することが好ましい。
チック等透明性の高い材料からなる基板1a、1b間に
液晶5を挟持して構成される。基板1a、1bにはそれ
ぞれ液晶1に電圧を印加するためのIn2O3、ITO等
の材料からなる電極2a、2bが設けられており、例え
ば後述するように一方の基板にドット状の透明電極を画
素電極としてマトリクス状に配置し、各画素電極にTF
T素子を接続し、他方の基板には一面上或いは所定のパ
ターンの対向電極を設けアクティブマトリクス構造を形
成することが好ましい。
【0029】電極2a、2b上には、必要に応じてこれ
らのショートを防止する等の機能を持つSiO2、Ti
O2、Ta2O5等の材料からなる絶縁膜3a、3bがそ
れぞれ設けられる。
らのショートを防止する等の機能を持つSiO2、Ti
O2、Ta2O5等の材料からなる絶縁膜3a、3bがそ
れぞれ設けられる。
【0030】さらに、絶縁膜3a、3b上には、液晶5
に接し、その配向状態を制御するべく機能する配向膜
(配向制御膜)4a、4bが設けられている。本発明に
おいては、液晶5に接する面の少なくとも一方に一軸配
向処理が施されている必要があり、本実施形態の構成に
おいては、配向膜4a、4bの少なくとも一方が一軸配
向膜であれば良い。また、配向膜4a、4bがいずれも
一軸配向膜である場合、それぞれの一軸配向処理方向
(特にラビング方向)を、用いる液晶材料に応じて平
行、反平行(平行で且つ処理方向が互いに逆向き)、或
いは45°以下の範囲で交差するように設定することが
できる。
に接し、その配向状態を制御するべく機能する配向膜
(配向制御膜)4a、4bが設けられている。本発明に
おいては、液晶5に接する面の少なくとも一方に一軸配
向処理が施されている必要があり、本実施形態の構成に
おいては、配向膜4a、4bの少なくとも一方が一軸配
向膜であれば良い。また、配向膜4a、4bがいずれも
一軸配向膜である場合、それぞれの一軸配向処理方向
(特にラビング方向)を、用いる液晶材料に応じて平
行、反平行(平行で且つ処理方向が互いに逆向き)、或
いは45°以下の範囲で交差するように設定することが
できる。
【0031】配向膜4a、4bとしては、例えば、ポリ
イミド、ポリイミドアミド、ポリアミド、ポリビニルア
ルコール等の有機材料を溶液塗工した膜の表面にラビン
グ処理を施したもの、或いは、SiO等の酸化物、窒化
物を基板に対して斜め方向から所定の角度で蒸着した無
機材料の斜方蒸着膜を用いることができる。
イミド、ポリイミドアミド、ポリアミド、ポリビニルア
ルコール等の有機材料を溶液塗工した膜の表面にラビン
グ処理を施したもの、或いは、SiO等の酸化物、窒化
物を基板に対して斜め方向から所定の角度で蒸着した無
機材料の斜方蒸着膜を用いることができる。
【0032】尚、配向膜4a、4bについては、その材
料の選択、処理(一軸配向処理等)の条件等により、液
晶5の分子のプレチルト角α(液晶分子の配向膜界面付
近で膜面に対してなす角度)が調整される。
料の選択、処理(一軸配向処理等)の条件等により、液
晶5の分子のプレチルト角α(液晶分子の配向膜界面付
近で膜面に対してなす角度)が調整される。
【0033】基板1a及び1bはスペーサ6を介して対
向している。かかるスペーサ6は、基板1a、1bの間
の距離(セル厚、セルギャップ)を決定するものであ
り、シリカビーズ等が用いられる。ここで決定されるセ
ル厚については、液晶材料の違いによって最適範囲及び
上限値が異なるが、均一な一軸配向性、また電圧無印加
時に液晶分子の平均分子軸をほぼ配向処理軸の平均方向
の軸と実質的に同一にする配向状態を発現させるべく、
0.3〜10μmの範囲に設定することが好ましい。ま
た、液晶のバルク状態におけるラセンピッチが当該セル
厚の2倍以上となるようにセル厚を設定することが好ま
しい。さらに、このセルギャップの値は、所望のリタデ
ーション値となるように、適宜調整して設定することが
好ましい。
向している。かかるスペーサ6は、基板1a、1bの間
の距離(セル厚、セルギャップ)を決定するものであ
り、シリカビーズ等が用いられる。ここで決定されるセ
ル厚については、液晶材料の違いによって最適範囲及び
上限値が異なるが、均一な一軸配向性、また電圧無印加
時に液晶分子の平均分子軸をほぼ配向処理軸の平均方向
の軸と実質的に同一にする配向状態を発現させるべく、
0.3〜10μmの範囲に設定することが好ましい。ま
た、液晶のバルク状態におけるラセンピッチが当該セル
厚の2倍以上となるようにセル厚を設定することが好ま
しい。さらに、このセルギャップの値は、所望のリタデ
ーション値となるように、適宜調整して設定することが
好ましい。
【0034】スペーサ6に加えて、基板1a及び1b間
の接着性を向上させ、液晶の耐衝撃性を向上させるべ
く、エポキシ樹脂等の樹脂材料等からなる接着粒子を分
散配置することもできる(図示せず)。
の接着性を向上させ、液晶の耐衝撃性を向上させるべ
く、エポキシ樹脂等の樹脂材料等からなる接着粒子を分
散配置することもできる(図示せず)。
【0035】本実施形態の液晶素子は、液晶5の材料の
組成を調整し、さらに液晶材料の処理や素子構成、例え
ば配向膜4a、4bの材料、処理条件等を適宜設定する
ことにより、電圧無印加時には、液晶の平均分子軸(液
晶分子)が単安定化された配向状態(第一の状態)を示
し、第一の極性の電圧印加時には、該液晶の平均分子軸
が印加電圧の大きさに応じた角度で連続的に上記第一の
状態の位置から一方の側にチルトし、該第一の極性とは
逆極性の第二の極性の電圧印加時には、液晶の平均分子
軸が印加電圧の大きさに応じた角度で上記第一の状態の
位置から第一の極性の電圧印加時とは逆側にチルトする
特性を示すようにする。この時、上記第一の極性の電圧
印加時と第二の極性の電圧印加時の液晶の平均分子軸の
第一の状態の位置を基準とした最大チルト状態のチルト
角をそれぞれβ1、β2とすると、β1>β2となるように
調整する。さらに好ましくはβ1≧5×β2である。
組成を調整し、さらに液晶材料の処理や素子構成、例え
ば配向膜4a、4bの材料、処理条件等を適宜設定する
ことにより、電圧無印加時には、液晶の平均分子軸(液
晶分子)が単安定化された配向状態(第一の状態)を示
し、第一の極性の電圧印加時には、該液晶の平均分子軸
が印加電圧の大きさに応じた角度で連続的に上記第一の
状態の位置から一方の側にチルトし、該第一の極性とは
逆極性の第二の極性の電圧印加時には、液晶の平均分子
軸が印加電圧の大きさに応じた角度で上記第一の状態の
位置から第一の極性の電圧印加時とは逆側にチルトする
特性を示すようにする。この時、上記第一の極性の電圧
印加時と第二の極性の電圧印加時の液晶の平均分子軸の
第一の状態の位置を基準とした最大チルト状態のチルト
角をそれぞれβ1、β2とすると、β1>β2となるように
調整する。さらに好ましくはβ1≧5×β2である。
【0036】本発明において、液晶5としては前記した
ように、相転移系列が降温時に、Iso.−Ch−Sm
C*またはIso.−SmC*であり、スメクチック層の
法線方向が実質的に一方向であるカイラルスメクチック
液晶が好ましく用いられるが、このような好ましいカイ
ラルスメクチック液晶を用い、下記の4種のいずれかの
処理により、上記した本発明の液晶素子の特徴的な特
性、即ちSmC*相においてメモリ性を消失された状態
を形成することができる。
ように、相転移系列が降温時に、Iso.−Ch−Sm
C*またはIso.−SmC*であり、スメクチック層の
法線方向が実質的に一方向であるカイラルスメクチック
液晶が好ましく用いられるが、このような好ましいカイ
ラルスメクチック液晶を用い、下記の4種のいずれかの
処理により、上記した本発明の液晶素子の特徴的な特
性、即ちSmC*相においてメモリ性を消失された状態
を形成することができる。
【0037】1)Ch−SmC*相転移の際、またはI
so.−SmC*相転移の際に、一対の基板間に正負い
ずれかのDC電圧を印加する。 2)上下一対の基板に異なる材料からなる配向膜を用い
る。 3)上下一対の基板の配向膜の処理法(膜の形成条件、
ラビング強度、UV照射等の処理条件)を変える。 4)上下一対の基板の配向膜の下地に設ける層の材料ま
たは膜厚を変える。
so.−SmC*相転移の際に、一対の基板間に正負い
ずれかのDC電圧を印加する。 2)上下一対の基板に異なる材料からなる配向膜を用い
る。 3)上下一対の基板の配向膜の処理法(膜の形成条件、
ラビング強度、UV照射等の処理条件)を変える。 4)上下一対の基板の配向膜の下地に設ける層の材料ま
たは膜厚を変える。
【0038】上記した特性下において、基板1a、1b
の少なくとも一方の側に偏光板を配置し、電圧無印加の
状態で最暗状態となるように上記液晶素子を配置し、電
圧印加時には、前記したチルト角の連続的な変化に伴
い、図2に示すような電圧−透過率特性(V−T特性)
で素子の透過光量(素子からの出射光量)を電圧変化に
伴いアナログ的に制御することができる。図2におい
て、横軸は印加電圧(V)、縦軸は素子の光透過率
(T)を示す。
の少なくとも一方の側に偏光板を配置し、電圧無印加の
状態で最暗状態となるように上記液晶素子を配置し、電
圧印加時には、前記したチルト角の連続的な変化に伴
い、図2に示すような電圧−透過率特性(V−T特性)
で素子の透過光量(素子からの出射光量)を電圧変化に
伴いアナログ的に制御することができる。図2におい
て、横軸は印加電圧(V)、縦軸は素子の光透過率
(T)を示す。
【0039】尚、当該液晶素子では、基板1a及び1b
の一方に、少なくともR(赤)、G(緑)、B(青)の
着色部を備えたカラーフィルタを配置することでカラー
表示の液晶素子とすることもできる。また、光源として
R、G、Bの光源を順次切り換えることで時分割による
混色を利用してフルカラー表示させる方法を用いること
もできる。
の一方に、少なくともR(赤)、G(緑)、B(青)の
着色部を備えたカラーフィルタを配置することでカラー
表示の液晶素子とすることもできる。また、光源として
R、G、Bの光源を順次切り換えることで時分割による
混色を利用してフルカラー表示させる方法を用いること
もできる。
【0040】また、図1に示した液晶素子は透過型の液
晶素子の実施形態であり、通常透明な基板1a、1bの
両方の外側に偏光板(不図示)を設けて、一方の基板側
からの入射光(例えば外部光源による光)を変調し、他
方側に出射するタイプの素子であるが、本実施形態にお
いては、基板1a、1bのいずれか一方の側に反射板を
設けるか、或いは一方の基板自体または基板上に設ける
部材として反射性の材料を用い、他方の基板の外側に偏
光板を設けて、入射光及び反射光を変調し、入射側に光
を出射する反射型の液晶素子とすることもできる。
晶素子の実施形態であり、通常透明な基板1a、1bの
両方の外側に偏光板(不図示)を設けて、一方の基板側
からの入射光(例えば外部光源による光)を変調し、他
方側に出射するタイプの素子であるが、本実施形態にお
いては、基板1a、1bのいずれか一方の側に反射板を
設けるか、或いは一方の基板自体または基板上に設ける
部材として反射性の材料を用い、他方の基板の外側に偏
光板を設けて、入射光及び反射光を変調し、入射側に光
を出射する反射型の液晶素子とすることもできる。
【0041】本実施形態の液晶素子に対しては、階調信
号を供給する駆動回路を設け、電圧の印加により液晶の
平均分子軸の単安定位置からの連続的なチルト角の変
化、及び該チルト角の変化により素子からの出射光量が
連続的に変化する特性を利用し、階調表示を行う液晶表
示装置を構成することができる。例えば、液晶素子の一
方の基板として前述したようなTFT等のアクティブ素
子を備えたアクティブマトリクス基板を用い、駆動回路
で振幅変調によるアクティブマトリクス駆動を行うこと
でアナログ階調表示が可能となる。
号を供給する駆動回路を設け、電圧の印加により液晶の
平均分子軸の単安定位置からの連続的なチルト角の変
化、及び該チルト角の変化により素子からの出射光量が
連続的に変化する特性を利用し、階調表示を行う液晶表
示装置を構成することができる。例えば、液晶素子の一
方の基板として前述したようなTFT等のアクティブ素
子を備えたアクティブマトリクス基板を用い、駆動回路
で振幅変調によるアクティブマトリクス駆動を行うこと
でアナログ階調表示が可能となる。
【0042】図3〜図5を参照して、本発明の液晶素子
においてこのようなアクティブマトリクス基板を用いた
例について説明する。
においてこのようなアクティブマトリクス基板を用いた
例について説明する。
【0043】図3は、本発明の液晶素子に駆動回路を備
えた形で一方の基板(アクティブマトリクス基板)の構
成を中心に模式的に示した平面模式図である。図中、1
0はパネル部、11は走査信号ドライバ、12は情報信
号ドライバ、13は情報信号線(ソース線)、14はT
FT、15は画素電極、16は走査信号線(ゲート線)
である。
えた形で一方の基板(アクティブマトリクス基板)の構
成を中心に模式的に示した平面模式図である。図中、1
0はパネル部、11は走査信号ドライバ、12は情報信
号ドライバ、13は情報信号線(ソース線)、14はT
FT、15は画素電極、16は走査信号線(ゲート線)
である。
【0044】図3に示す構成では、本発明の液晶素子に
相当するパネル部10において、駆動手段である走査信
号ドライバ11に連結したG1〜G5の走査信号線(ゲー
ト線)16と、駆動手段である情報信号ドライバ12に
連結したS1〜S5の情報信号線(ソース線)13が互い
に絶縁された状態で直交するように設けられており、そ
の各交点の画素に対応してスイッチング素子に相当する
薄膜トランジスタ(TFT)14及び画素電極15が設
けられている(同図では簡略化のため5×5画素の領域
のみを示す)。
相当するパネル部10において、駆動手段である走査信
号ドライバ11に連結したG1〜G5の走査信号線(ゲー
ト線)16と、駆動手段である情報信号ドライバ12に
連結したS1〜S5の情報信号線(ソース線)13が互い
に絶縁された状態で直交するように設けられており、そ
の各交点の画素に対応してスイッチング素子に相当する
薄膜トランジスタ(TFT)14及び画素電極15が設
けられている(同図では簡略化のため5×5画素の領域
のみを示す)。
【0045】走査信号線16は、TFT14のゲート電
極に接続され、情報信号線13はTFT14のソース電
極に接続されており、画素電極15はTFT14のドレ
イン電極に接続されている。かかる構成において、走査
信号ドライバ11により走査信号線16がG1、G2、…
と線順次に走査選択されてゲート電圧が供給され、この
走査信号線16の走査選択に同期して情報信号ドライバ
12から各画素に書き込む情報に応じた情報信号電圧が
情報信号線13のS1〜S5に供給され、TFT14を介
して各画素電極15に印加される。
極に接続され、情報信号線13はTFT14のソース電
極に接続されており、画素電極15はTFT14のドレ
イン電極に接続されている。かかる構成において、走査
信号ドライバ11により走査信号線16がG1、G2、…
と線順次に走査選択されてゲート電圧が供給され、この
走査信号線16の走査選択に同期して情報信号ドライバ
12から各画素に書き込む情報に応じた情報信号電圧が
情報信号線13のS1〜S5に供給され、TFT14を介
して各画素電極15に印加される。
【0046】図4は、図3に示すようなパネル構成にお
ける各画素分(1ビット分)の断面構造の一例の断面模
式図である。図中、20はアクティブマトリクス基板、
21は基板、22はゲート電極、23はゲート絶縁膜、
24はa−Si層、25、26はn+a−Si層、27
はソース電極、28はドレイン電極、29はチャネル保
護膜、30は保持容量電極、31は液晶容量、32は保
持容量、40は対向基板、41は基板、42は共通電
極、43a、43bは配向膜、49は液晶である。
ける各画素分(1ビット分)の断面構造の一例の断面模
式図である。図中、20はアクティブマトリクス基板、
21は基板、22はゲート電極、23はゲート絶縁膜、
24はa−Si層、25、26はn+a−Si層、27
はソース電極、28はドレイン電極、29はチャネル保
護膜、30は保持容量電極、31は液晶容量、32は保
持容量、40は対向基板、41は基板、42は共通電
極、43a、43bは配向膜、49は液晶である。
【0047】図4の構成においては、TFT14及び画
素電極15を備えるアクティブマトリクス基板20と、
共通電極42を備えた対向基板40間に、液晶49が挟
持され、液晶容量(Clc)31が構成されている。ま
た、アクティブマトリクス基板20については、TFT
14としてアモルファスSi(a−Si)TFTを用い
た例を示している。
素電極15を備えるアクティブマトリクス基板20と、
共通電極42を備えた対向基板40間に、液晶49が挟
持され、液晶容量(Clc)31が構成されている。ま
た、アクティブマトリクス基板20については、TFT
14としてアモルファスSi(a−Si)TFTを用い
た例を示している。
【0048】TFT14はガラス等からなる基板21上
に形成され、図3に示す走査信号線16に接続されたゲ
ート電極22上に窒化シリコン(SiNx)等の材料か
らなる絶縁膜(ゲート絶縁膜)23を介してa−Si層
24が設けられており、該a−Si層24上にそれぞれ
n+a−Si層25、26を介してソース電極27、ド
レイン電極28が互いに離間して設けられている。ソー
ス電極27は図3に示す情報信号線13に接続され、ド
レイン電極28はITO膜等の透明導電膜からなる画素
電極15に接続されている。また、TFT14における
a−Si層24上をチャネル保護膜29が被覆してい
る。このTFT14は、該当する走査信号線16が走査
選択された期間においてゲート電極22にゲート電圧が
印加されオン状態となる。
に形成され、図3に示す走査信号線16に接続されたゲ
ート電極22上に窒化シリコン(SiNx)等の材料か
らなる絶縁膜(ゲート絶縁膜)23を介してa−Si層
24が設けられており、該a−Si層24上にそれぞれ
n+a−Si層25、26を介してソース電極27、ド
レイン電極28が互いに離間して設けられている。ソー
ス電極27は図3に示す情報信号線13に接続され、ド
レイン電極28はITO膜等の透明導電膜からなる画素
電極15に接続されている。また、TFT14における
a−Si層24上をチャネル保護膜29が被覆してい
る。このTFT14は、該当する走査信号線16が走査
選択された期間においてゲート電極22にゲート電圧が
印加されオン状態となる。
【0049】さらに、アクティブマトリクス基板20に
おいては、画素電極15と、該画素電極の基板21側に
設けられた保持容量電極30によりゲート絶縁膜23を
挟持した構造により保持容量(Cs)32が液晶容量3
1と並列の形で設けられている。保持容量電極30はそ
の面積が大きい場合、開口率が低下するため、ITO膜
等の透明導電膜により形成される。
おいては、画素電極15と、該画素電極の基板21側に
設けられた保持容量電極30によりゲート絶縁膜23を
挟持した構造により保持容量(Cs)32が液晶容量3
1と並列の形で設けられている。保持容量電極30はそ
の面積が大きい場合、開口率が低下するため、ITO膜
等の透明導電膜により形成される。
【0050】アクティブマトリクス基板20のTFT1
4及び画素電極15上には液晶の配向状態を制御するた
めの配向膜43aが設けられている。
4及び画素電極15上には液晶の配向状態を制御するた
めの配向膜43aが設けられている。
【0051】一方、対向基板40では、ガラス基板41
上に、全面同様の厚みで共通電極42及び液晶の配向状
態を制御するための配向膜43bが積層されている。
上に、全面同様の厚みで共通電極42及び液晶の配向状
態を制御するための配向膜43bが積層されている。
【0052】尚、図4のセル構造は、互いに偏光軸が直
交した関係にある一対の偏光板(不図示)間に挟持さ
れ、透過型液晶素子として用いられる。
交した関係にある一対の偏光板(不図示)間に挟持さ
れ、透過型液晶素子として用いられる。
【0053】また、アクティブマトリクス基板として
は、多結晶Si(p−Si)TFTを備えた基板を用い
ることもできる。
は、多結晶Si(p−Si)TFTを備えた基板を用い
ることもできる。
【0054】図4に示した画素の等価回路を図5に示
す。図中、50は自発分極である。
す。図中、50は自発分極である。
【0055】図6を参照して上記図3〜図5に示した構
造の液晶素子のアクティブマトリクス駆動について説明
する。本発明の液晶素子におけるアクティブマトリクス
駆動では、例えば1画素において任意の情報を表示する
ための期間(1フレーム)を二つのフィールド(図6の
1F及び2F)に分割し、これら2フィールドにおいて
平均的に所定の情報に応じた透過光量を得る。
造の液晶素子のアクティブマトリクス駆動について説明
する。本発明の液晶素子におけるアクティブマトリクス
駆動では、例えば1画素において任意の情報を表示する
ための期間(1フレーム)を二つのフィールド(図6の
1F及び2F)に分割し、これら2フィールドにおいて
平均的に所定の情報に応じた透過光量を得る。
【0056】図6(a)は、1画素に着目した際に、当
該画素に接続された走査信号線16に印加される電圧を
示す。図3の構造の液晶素子では、各フィールド毎に走
査信号線G1、G2、…が線順次で選択され、1走査信号
線には選択期間tonにおいて所定のゲート電圧Vgが印
加され、ゲート電極22に電圧Vgが加わり、TFT1
4がオン状態となる。他の走査信号線が選択されている
期間に相当する非選択期間toffにはゲート電極22に
電圧が加わらず、TFT14は高抵抗状態(オフ状態)
となり、ton毎に所定の同一の走査信号線が選択されて
ゲート電極22にゲート電圧Vgが印加される。
該画素に接続された走査信号線16に印加される電圧を
示す。図3の構造の液晶素子では、各フィールド毎に走
査信号線G1、G2、…が線順次で選択され、1走査信号
線には選択期間tonにおいて所定のゲート電圧Vgが印
加され、ゲート電極22に電圧Vgが加わり、TFT1
4がオン状態となる。他の走査信号線が選択されている
期間に相当する非選択期間toffにはゲート電極22に
電圧が加わらず、TFT14は高抵抗状態(オフ状態)
となり、ton毎に所定の同一の走査信号線が選択されて
ゲート電極22にゲート電圧Vgが印加される。
【0057】図6(b)は、当該画素に接続された情報
信号線13に印加される電圧を示す。図6(a)で示す
ように、各フィールドの選択期間tonでゲート電極22
にゲート電圧Vgが印加された際、これに同期して当該
画素に接続された情報信号線13からソース電極27
に、所定のソース電圧(情報信号電圧)Vs(基準電位
を共通電極42の電位Vcとする)が印加される。
信号線13に印加される電圧を示す。図6(a)で示す
ように、各フィールドの選択期間tonでゲート電極22
にゲート電圧Vgが印加された際、これに同期して当該
画素に接続された情報信号線13からソース電極27
に、所定のソース電圧(情報信号電圧)Vs(基準電位
を共通電極42の電位Vcとする)が印加される。
【0058】ここで、1フレームを構成する第一のフィ
ールド(1F)では、当該画素に書き込まれる情報、例
えば用いる液晶に応じた電圧−透過率特性を基に当該画
素で得ようとする光学状態または表示情報(透過率)に
応じたレベルVxの正極性のソース電圧が印加される。
この時、TFT14がオン状態であるため、上記ソース
電極27に印加される電圧Vxがドレイン電極28を介
して画素電極15に印加され、液晶容量(Clc)31及
び保持容量(Cs)32に充電がなされ、画素電極15
の電位がソース電圧Vxになる。続いて、当該画素に接
続された走査信号線16の非選択期間toffにおいてT
FT14は高抵抗(オフ状態)となるため、この非選択
期間には、液晶容量31及び保持容量32では選択期間
tonで充電された電荷が蓄積された状態を維持し、電圧
Vxが保持される。そして、当該画素の液晶部分ではこ
の電圧値に応じた光学状態(透過光量)が得られる。こ
の時、液晶の応答速度がtonより遅い場合、液晶容量3
1及び保持容量32に充電が完了し、ゲートがオフされ
た非選択期間にもスイッチングが行われる。このような
場合は、自発分極50(図5)の反転によって充電され
た電荷が相殺されて、液晶に印加される電圧が図6
(c)のようにVxよりVd小さいVx ’という値をと
る。
ールド(1F)では、当該画素に書き込まれる情報、例
えば用いる液晶に応じた電圧−透過率特性を基に当該画
素で得ようとする光学状態または表示情報(透過率)に
応じたレベルVxの正極性のソース電圧が印加される。
この時、TFT14がオン状態であるため、上記ソース
電極27に印加される電圧Vxがドレイン電極28を介
して画素電極15に印加され、液晶容量(Clc)31及
び保持容量(Cs)32に充電がなされ、画素電極15
の電位がソース電圧Vxになる。続いて、当該画素に接
続された走査信号線16の非選択期間toffにおいてT
FT14は高抵抗(オフ状態)となるため、この非選択
期間には、液晶容量31及び保持容量32では選択期間
tonで充電された電荷が蓄積された状態を維持し、電圧
Vxが保持される。そして、当該画素の液晶部分ではこ
の電圧値に応じた光学状態(透過光量)が得られる。こ
の時、液晶の応答速度がtonより遅い場合、液晶容量3
1及び保持容量32に充電が完了し、ゲートがオフされ
た非選択期間にもスイッチングが行われる。このような
場合は、自発分極50(図5)の反転によって充電され
た電荷が相殺されて、液晶に印加される電圧が図6
(c)のようにVxよりVd小さいVx ’という値をと
る。
【0059】次に、第二のフィールド(2F)の選択期
間tonでは、第一のフィールド(1F)とは極性が逆で
絶対値が同じ電圧値Vxを有するソース電圧(−Vx)が
ソース電極27に印加される。この時、TFT14がオ
ン状態であり、画素電極15に電圧−Vxが印加され
て、液晶容量31及び保持容量32に充電がなされ、画
素電極15の電位がソース電圧−Vxになる。続いて、
非選択期間toffにおいて、TFT14は高抵抗(オフ
状態)となるため、この非選択期間には、液晶容量31
及び保持容量32では選択期間tonで充電された電荷が
蓄積された状態を維持し、電圧−Vxが保持される。そ
して、当該画素における液晶49に第二のフィールド
(2F)期間を通して電圧−Vxが印加され、当該画素
ではこの電圧値に応じた光学状態(透過光量)が得られ
る。この時も同様に液晶の応答速度がt onよりも遅い場
合、液晶容量31及び保持容量32に充電が完了し、ゲ
ートがオフされた非選択期間にもスイッチングが行われ
るため、自発分極50の反転によって充電された電荷が
相殺されて、液晶に印加される電圧が図6(c)のよう
に−Vxより絶対値がVd小さい−Vx ’という値をと
る。
間tonでは、第一のフィールド(1F)とは極性が逆で
絶対値が同じ電圧値Vxを有するソース電圧(−Vx)が
ソース電極27に印加される。この時、TFT14がオ
ン状態であり、画素電極15に電圧−Vxが印加され
て、液晶容量31及び保持容量32に充電がなされ、画
素電極15の電位がソース電圧−Vxになる。続いて、
非選択期間toffにおいて、TFT14は高抵抗(オフ
状態)となるため、この非選択期間には、液晶容量31
及び保持容量32では選択期間tonで充電された電荷が
蓄積された状態を維持し、電圧−Vxが保持される。そ
して、当該画素における液晶49に第二のフィールド
(2F)期間を通して電圧−Vxが印加され、当該画素
ではこの電圧値に応じた光学状態(透過光量)が得られ
る。この時も同様に液晶の応答速度がt onよりも遅い場
合、液晶容量31及び保持容量32に充電が完了し、ゲ
ートがオフされた非選択期間にもスイッチングが行われ
るため、自発分極50の反転によって充電された電荷が
相殺されて、液晶に印加される電圧が図6(c)のよう
に−Vxより絶対値がVd小さい−Vx ’という値をと
る。
【0060】図6(c)は上述したような当該画素の液
晶容量31及び保持容量32に実際に保持され液晶に印
加される電圧値Vpixを、図6(c)は当該画素での液
晶の実際の光学応答を透過光量(%)で最暗状態を0%
として模式的に示す。図6(c)に示すように、2フィ
ールド(1F及び2F)を通じて印加電圧は互いに極性
が反転しただけの同一レベル(絶対値)Vx ’である。
一方、図6(d)に示すように、第一フィールド(1
F)では、Vx ’に応じた階調表示状態(透過光量;
Tx)が得られ、第二フィールド(2F)では、−Vx ’
に応じた階調表示状態が得られるが、β1>β2であるた
め、実際にはわずかな透過光量の変化しか得られず、透
過光量はTxより小さく、0レベルに近いTyとなる。
晶容量31及び保持容量32に実際に保持され液晶に印
加される電圧値Vpixを、図6(c)は当該画素での液
晶の実際の光学応答を透過光量(%)で最暗状態を0%
として模式的に示す。図6(c)に示すように、2フィ
ールド(1F及び2F)を通じて印加電圧は互いに極性
が反転しただけの同一レベル(絶対値)Vx ’である。
一方、図6(d)に示すように、第一フィールド(1
F)では、Vx ’に応じた階調表示状態(透過光量;
Tx)が得られ、第二フィールド(2F)では、−Vx ’
に応じた階調表示状態が得られるが、β1>β2であるた
め、実際にはわずかな透過光量の変化しか得られず、透
過光量はTxより小さく、0レベルに近いTyとなる。
【0061】上述したようなアクティブマトリクス駆動
では、カイラルスメクチック液晶を用いて良好な高速応
答性に基づいた階調表示が可能となると同時に、1画素
であるレベルの階調表示と高い透過光量を得る第一フィ
ールドと低い透過光量を得る第二フィールドに分割して
連続的に行うため、時間開口率が50%以下となり、人
間の目の感じる動画高速応答特性も良好になる。当該効
果を得る上で、先に示したβ1とβ2との関係は、β1≧
5×β2であることが好ましい。
では、カイラルスメクチック液晶を用いて良好な高速応
答性に基づいた階調表示が可能となると同時に、1画素
であるレベルの階調表示と高い透過光量を得る第一フィ
ールドと低い透過光量を得る第二フィールドに分割して
連続的に行うため、時間開口率が50%以下となり、人
間の目の感じる動画高速応答特性も良好になる。当該効
果を得る上で、先に示したβ1とβ2との関係は、β1≧
5×β2であることが好ましい。
【0062】また、第二フィールドにおいては液晶分子
の若干のスイッチング動作により完全に透過光量が0に
はならないので、フレーム期間全体での人間の目に感じ
る輝度は確保される。さらに、第一及び第二フィールド
で同様のレベルの電圧が極性反転して液晶49に印加さ
れるため、液晶49に実際に印加される電圧が交流化さ
れ液晶の劣化が防止される。
の若干のスイッチング動作により完全に透過光量が0に
はならないので、フレーム期間全体での人間の目に感じ
る輝度は確保される。さらに、第一及び第二フィールド
で同様のレベルの電圧が極性反転して液晶49に印加さ
れるため、液晶49に実際に印加される電圧が交流化さ
れ液晶の劣化が防止される。
【0063】上記のアクティブマトリクス駆動では、2
フィールドからなる1フレーム全体では、TxとTyを平
均化した透過光量が得られる。このため、ソース電圧V
sについては、実際に当該フレームで当該画素で得よう
とする画像情報(階調情報)に応じて、所定のレベルだ
け大きな透過光量を得ることができる電圧値を選択して
印加することで、第一フィールド1Fにおいて、所望の
階調状態より高いレベルの透過光量での階調状態を表示
することも好ましい。
フィールドからなる1フレーム全体では、TxとTyを平
均化した透過光量が得られる。このため、ソース電圧V
sについては、実際に当該フレームで当該画素で得よう
とする画像情報(階調情報)に応じて、所定のレベルだ
け大きな透過光量を得ることができる電圧値を選択して
印加することで、第一フィールド1Fにおいて、所望の
階調状態より高いレベルの透過光量での階調状態を表示
することも好ましい。
【0064】
【実施例】(実施例1)下記液晶性化合物を混合して液
晶組成物Aを調整した。各構造式に併記した数値は混合
の際の重量比率である。
晶組成物Aを調整した。各構造式に併記した数値は混合
の際の重量比率である。
【0065】
【化5】
【0066】上記液晶組成物Aの昇温時の相転移温度を
示す。
示す。
【0067】
【化6】 Cry:結晶相
【0068】次に、透明電極として厚さ700ÅのIT
O膜を形成した厚さ1.1mmの一対のガラス基板を用
意した。該基板の透明電極上に、下記の繰り返し単位を
有するポリイミド前駆体をスピンコート法により塗布
し、その後、80°で5分間の前乾燥を行った後、20
0°で1時間加熱焼成を施し、膜厚200Åのポリイミ
ド被膜を形成した。
O膜を形成した厚さ1.1mmの一対のガラス基板を用
意した。該基板の透明電極上に、下記の繰り返し単位を
有するポリイミド前駆体をスピンコート法により塗布
し、その後、80°で5分間の前乾燥を行った後、20
0°で1時間加熱焼成を施し、膜厚200Åのポリイミ
ド被膜を形成した。
【0069】
【化7】
【0070】続いて、上記ポリイミド被膜に対して一軸
配向処理としてナイロン布によるラビング処理を施し
た。ラビング処理の条件は、直径10cmのロールにナ
イロン(帝人社製「NF−77」)を貼り合わせたラビ
ングロールを用い、押し込み量0.3mm、送り速度1
0cm/sec、回転数1000rpm、送り回数4回
とした。
配向処理としてナイロン布によるラビング処理を施し
た。ラビング処理の条件は、直径10cmのロールにナ
イロン(帝人社製「NF−77」)を貼り合わせたラビ
ングロールを用い、押し込み量0.3mm、送り速度1
0cm/sec、回転数1000rpm、送り回数4回
とした。
【0071】次いで、一方の基板上にスペーサとして平
均粒径1.4μmのシリカビーズを散布し、各基板のラ
ビング処理方向が互いに反平行になるように対向させ、
均一なセルギャップのセル(単画素の空セル)を作製し
た。このセルに液晶組成物Aを等方性液体状態で注入
し、等方相から20℃/hでSmC*相を示す温度まで
冷却し、この冷却の際、Ch−SmC*相転移前後にお
いて、−5Vのオフセット電圧(直流)電圧を印加して
冷却を行う処理を施し、液晶素子を作製した。
均粒径1.4μmのシリカビーズを散布し、各基板のラ
ビング処理方向が互いに反平行になるように対向させ、
均一なセルギャップのセル(単画素の空セル)を作製し
た。このセルに液晶組成物Aを等方性液体状態で注入
し、等方相から20℃/hでSmC*相を示す温度まで
冷却し、この冷却の際、Ch−SmC*相転移前後にお
いて、−5Vのオフセット電圧(直流)電圧を印加して
冷却を行う処理を施し、液晶素子を作製した。
【0072】得られた液晶素子のセル厚をベレック位相
板によって測定したところ、約1.4μmであった。ま
た、この素子を用いて、100kHz、0.5Vの正弦
波電圧を印加して誘電率ε(⊥)を測定した。結果を以
下に示す。
板によって測定したところ、約1.4μmであった。ま
た、この素子を用いて、100kHz、0.5Vの正弦
波電圧を印加して誘電率ε(⊥)を測定した。結果を以
下に示す。
【0073】
【表1】
【0074】上記液晶素子の30℃における配向状態を
顕微鏡により観察したところ、均一で良好な配向が得ら
れていることがわかった。また、電界無印加における消
光位軸はラビング方向と2.6°ずれていた。次に、6
0Hz、ピーク電圧20Vの矩形波電圧を100時間印
加し続けた後、同様に配向観察及び消光位軸を測定した
ところ、初期の状態と全く変化していないことがわかっ
た。
顕微鏡により観察したところ、均一で良好な配向が得ら
れていることがわかった。また、電界無印加における消
光位軸はラビング方向と2.6°ずれていた。次に、6
0Hz、ピーク電圧20Vの矩形波電圧を100時間印
加し続けた後、同様に配向観察及び消光位軸を測定した
ところ、初期の状態と全く変化していないことがわかっ
た。
【0075】(実施例2)下記液晶性化合物を混合して
液晶組成物Bを調整した。各構造式に併記した数値は混
合の際の重量比率である。
液晶組成物Bを調整した。各構造式に併記した数値は混
合の際の重量比率である。
【0076】
【化8】
【0077】
【化9】
【0078】上記液晶組成物Bの昇温時の相転移温度を
示す。
示す。
【0079】
【化10】
【0080】上記液晶組成物Bを用いる以外は実施例1
と同様にして液晶素子を作製した。得られた液晶素子の
誘電率ε(⊥)を下記に示す。
と同様にして液晶素子を作製した。得られた液晶素子の
誘電率ε(⊥)を下記に示す。
【0081】
【表2】
【0082】上記液晶素子の30℃における配向状態を
顕微鏡により観察したところ、均一で良好な配向が得ら
れていることがわかった。また、電界無印加における消
光位軸はラビング方向と3.4°ずれていた。次に、6
0Hz、ピーク電圧20Vの矩形波電圧を100時間印
加し続けた後、同様に配向観察及び消光位軸を測定した
ところ、初期の状態と全く変化していないことがわかっ
た。
顕微鏡により観察したところ、均一で良好な配向が得ら
れていることがわかった。また、電界無印加における消
光位軸はラビング方向と3.4°ずれていた。次に、6
0Hz、ピーク電圧20Vの矩形波電圧を100時間印
加し続けた後、同様に配向観察及び消光位軸を測定した
ところ、初期の状態と全く変化していないことがわかっ
た。
【0083】(比較例1)下記液晶性化合物を混合して
液晶組成物Cを調整した。各構造式に併記した数値は混
合の際の重量比率である。
液晶組成物Cを調整した。各構造式に併記した数値は混
合の際の重量比率である。
【0084】
【化11】
【0085】
【化12】
【0086】上記液晶組成物Cの昇温時の相転移温度を
示す。
示す。
【0087】
【化13】
【0088】上記液晶組成物Cを用いる以外は実施例1
と同様にして液晶素子を作製した。得られた液晶素子の
誘電率ε(⊥)を下記に示す。
と同様にして液晶素子を作製した。得られた液晶素子の
誘電率ε(⊥)を下記に示す。
【0089】
【表3】
【0090】上記液晶素子の30℃における配向状態を
顕微鏡により観察したところ、均一で良好な配向が得ら
れていることがわかった。また、電界無印加における消
光位軸はラビング方向と3.1°ずれていた。次に、6
0Hz、ピーク電圧20Vの矩形波電圧を100時間印
加し続けた後、同様に配向観察及び消光位軸を測定した
ところ、むらの多い配向状態に変化していた。また、電
圧無印加における消光位軸とラビング方向とのずれ角を
測定したところ、30.5°と大きく変化していた。
顕微鏡により観察したところ、均一で良好な配向が得ら
れていることがわかった。また、電界無印加における消
光位軸はラビング方向と3.1°ずれていた。次に、6
0Hz、ピーク電圧20Vの矩形波電圧を100時間印
加し続けた後、同様に配向観察及び消光位軸を測定した
ところ、むらの多い配向状態に変化していた。また、電
圧無印加における消光位軸とラビング方向とのずれ角を
測定したところ、30.5°と大きく変化していた。
【0091】上記したように、実施例1、2の液晶素子
は、比較例1の液晶素子に比べて電圧に対する配向安定
性が優れていることがわかった。
は、比較例1の液晶素子に比べて電圧に対する配向安定
性が優れていることがわかった。
【0092】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
高速応答でアナログ階調制御が可能であり、さらに高輝
度の動画質を長期に亘って安定して表示しうる液晶素子
が実現し、高画質のディスプレイとして非常に有用であ
る。
高速応答でアナログ階調制御が可能であり、さらに高輝
度の動画質を長期に亘って安定して表示しうる液晶素子
が実現し、高画質のディスプレイとして非常に有用であ
る。
【図1】本発明の液晶素子の一実施形態の基本構成を示
す断面模式図である。
す断面模式図である。
【図2】本発明の液晶素子の電圧−透過率特性を示す図
である。
である。
【図3】本発明の液晶素子をアクティブマトリクス型に
構成した実施形態に備えた形でアクティブマトリクス基
板の構成を中心に模式的に示した平面模式図である。
構成した実施形態に備えた形でアクティブマトリクス基
板の構成を中心に模式的に示した平面模式図である。
【図4】本発明の液晶素子をアクティブマトリクス型に
構成した実施形態の各画素分(1ビット分)の断面構造
の一例の断面模式図である。
構成した実施形態の各画素分(1ビット分)の断面構造
の一例の断面模式図である。
【図5】図4に示した画素の等価回路図である。
【図6】本発明の液晶素子をアクティブマトリクス型に
構成した実施形態の駆動方法の一例のタイミングチャー
トである。
構成した実施形態の駆動方法の一例のタイミングチャー
トである。
1a、1b 基板 2a、2b 電極 3a、3b 絶縁膜 4a、4b 配向膜 5 液晶 6 スペーサ 10 パネル部 11 走査信号ドライバ 12 情報信号ドライバ 13 情報信号線(ソース線) 14 TFT 15 画素電極 16 走査信号線(ゲート線) 20 アクティブマトリクス基板 21 基板 22 ゲート電極 23 ゲート絶縁膜 24 a−Si層 25、26 n+a−Si層 27 ソース電極 28 ドレイン電極 29 チャネル保護膜 30 保持容量電極 31 液晶容量 32 保持容量 40 対向基板 41 基板 42 共通電極 43a、43b 配向膜 49 液晶 50 自発分極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G02F 1/1337 510 G02F 1/1337 510 1/1368 1/1368 (72)発明者 清水 康志 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 寺田 匡宏 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 2H088 GA03 GA04 GA17 HA02 HA03 HA08 HA12 JA17 JA20 KA12 KA15 KA26 MA10 MA13 2H090 HB08Y LA04 LA15 MA01 MA02 MA06 MB01 MB05 MB08 MB12 MB13 2H092 HA04 JA24 JA34 JA37 JB13 JB22 JB31 JB61 NA05 PA02 PA06 PA08 QA13 QA14 2H093 NA16 NA33 NA43 NA55 NA61 NC34 NC35 ND06 ND17 ND32 NF17 NF20 4H027 BA06 BC04 BD08 BD09 BD16 BD18 BD24 BE03 CQ05 DE01 DE05 DE09 DF01 DJ01
Claims (6)
- 【請求項1】 カイラルスメクチック液晶と、該液晶に
電圧を印加するための電極と、該液晶を挟持して対向す
ると共に、少なくとも一方の対向面に該液晶を配向させ
るための一軸配向処理が施された一対の基板と、を少な
くとも備えた液晶素子であって、上記液晶の、液晶分子
軸方向に直交する方向の誘電率ε(⊥)が4.0を超
え、電圧無印加時には、液晶の平均分子軸が単安定化さ
れた第一の状態を示し、第一の極性の電圧印加時には、
該液晶の平均分子軸が印加電圧の大きさに応じた角度で
上記第一の状態の位置から一方の側にチルトし、該第一
の極性とは逆極性の第二の極性の電圧印加時には、液晶
の平均分子軸が印加電圧の大きさに応じた角度で上記第
一の状態の位置から第一の極性の電圧印加時とは逆側に
チルトし、上記第一の極性の電圧印加時と第二の極性の
電圧印加時の液晶の平均分子軸の第一の状態の位置を基
準とした最大チルト状態のチルト角をそれぞれβ1、β2
とすると、β1>β2となることを特徴とする液晶素子。 - 【請求項2】 上記β1、β2がβ1≧5×β2である請求
項1記載の液晶素子。 - 【請求項3】 上記液晶が、カイラルスメクチック相に
おいて誘電率ε(⊥)が4.0を超える請求項1または
2に記載の液晶素子。 - 【請求項4】 上記液晶の相転移系列が、降温時に、等
方性液体相−コレステリック相−カイラルスメクチック
C相または等方性液体相−カイラルスメクチックC相で
あって、該液晶のスメクチック層の法線方向が実質的に
一方向である請求項1〜3のいずれかに記載の液晶素
子。 - 【請求項5】 上記液晶のバルク状態でのらせんピッチ
がセル厚の2倍より長い請求項1〜4のいずれかに記載
の液晶素子。 - 【請求項6】 複数の画素を有し、画素毎に画素電極と
アクティブ素子を備え、該アクティブ素子を介して各画
素の液晶をアクティブマトリクス駆動し、アナログ階調
表示を行う請求項1〜5のいずれかに記載の液晶素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001047535A JP2002250943A (ja) | 2001-02-23 | 2001-02-23 | 液晶素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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