JP2002217643A - 水晶発振器の温度補償電圧発生回路 - Google Patents

水晶発振器の温度補償電圧発生回路

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JP2002217643A
JP2002217643A JP2001008899A JP2001008899A JP2002217643A JP 2002217643 A JP2002217643 A JP 2002217643A JP 2001008899 A JP2001008899 A JP 2001008899A JP 2001008899 A JP2001008899 A JP 2001008899A JP 2002217643 A JP2002217643 A JP 2002217643A
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generation circuit
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Noriyuki Fujita
典之 藤田
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 温度補償型水晶発振器を構成するバラクタダ
イオードのf−V特性の直線性が悪くてもその直線性を
補償し、高精度のVCOとして制御電圧に対する出力発
振周波数の直線性を保ち、かつ高精度の温度補償を実現
する。 【解決手段】 1次電圧発生回路9と3次電圧発生回路
10とで構成される温度補償電圧発生回路11より発生
した補償電圧をバラクタダイオード5に印加して等価容
量値を変化させ、等価容量値の変化によって生じる発振
ループの周波数変化をATカット水晶振動子6の周波数
の温度特性と相殺する構成の温度補償型水晶発振器にお
いて、1次電圧発生回路9にその出力電圧を制御するゲ
インコントロールアンプ18aを設け、かつ3次電圧発
生回路10にその出力電圧を制御するゲインコントロー
ルアンプ18bを設け、各ゲインコントロールアンプ1
8a,18bのゲインをAFC回路13の出力電圧値に
よって制御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、水晶の発振周波数
の温度補償を行う温度補償電圧発生回路に係り、特に3
次電圧発生回路と1次電圧発生回路とを用いて構成した
温度補償電圧発生回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】水晶振動子を用いた発振回路は、安定し
た発振周波数を得ることができることから、数々の電子
機器において時間、あるいは周波数の基準として広く用
いられている。しかし、水晶振動子は温度変化によって
その発振周波数が変化するという温度特性を有してお
り、ATカット水晶振動子の周波数の温度特性は、ほぼ
3次曲線を示し、25℃前後の変曲点温度Toを境に温
度による周波数偏差△fを生じることは周知の事項であ
る。
【0003】図3はATカット水晶振動子の周波数偏差
の温度特性の一例を示す特性図であり、1〜4は、各々
カット角度の異なるATカット水晶振動子の周波数偏差
の温度特性例を示している。
【0004】一般にATカット水晶振動子の周波数偏差
(△f/fo)は(数1)の式で表される。
【0005】
【数1】 △f/fo =α(T−To)3+β(T−To) [ppm] ここで、foは基準周波数、αはカットのばらつきに依
存する3次係数であって、その値は約9×10-5〜10
×10-5となる。また、βはカットの角度に依存する1
次係数であり、その値は約−2×10-1〜−4×10-1
となる。なお、Tは温度[℃]を表す。
【0006】ところで、携帯電話端末などの高精度の電
子機器の分野においては、(数1)の式に示す周波数偏
差(△f/fo)の許容範囲が非常に狭く、例えば−3
0℃〜80℃の温度範囲では周波数偏差(△f/fo)
は2.5ppm以内であることを要求される。したがっ
て、図3に示した1〜4の特性の水晶振動子はいずれも
許容範囲外となる。
【0007】そこで高精度の電子機器の分野において
は、通常、ATカット水晶振動子を含む発振回路に温度
補償電圧発生回路を設けて温度補償型水晶発振器を構成
し、周波数偏差の変動が許容範囲内に収まるように制御
している。
【0008】図4は従来の温度補償型水晶発振器の構成
を示すブロック図であり、5はバラクタダイオード、6
はATカット水晶振動子、7は発振回路、8は発振回路
7の出力端子、9は1次電圧発生回路、10は3次電圧
発生回路であって、1次電圧発生回路9と3次電圧発生
回路10により温度補償電圧発生回路11を構成してい
る。さらに、12は記憶デバイス、13はAFC(auto
matic frequency control)回路、14はAFC回路の
入力端子である。
【0009】バラクタダイオード5は、そのアノード端
子とカソード端子間に逆電圧を印加し、かつその印加電
圧値を変えることによりアノード端子とカソード端子間
の等価容量値が変化するという性質を有している。
【0010】温度補償型水晶発振器においては、1次電
圧発生回路9と3次電圧発生回路10とで構成される温
度補償電圧発生回路11より発生した補償電圧をバラク
タダイオード5に印加して等価容量値を変化させ、等価
容量値の変化によって生じる発振ループの周波数変化を
ATカット水晶振動子6の周波数の温度特性と相殺する
ように作用させている。温度補償電圧発生回路11には
ワンタイムROMなどの記憶デバイス12が備えられて
おり、ATカット水晶振動子6の種類ごとに、多数の温
度点についてその温度特性を測定し、それぞれの温度点
においてその発振周波数が最も基準周波数foに近付く
ような補償電圧を出力するように、3次係数αと1次係
数βの値を算出して、記憶デバイス12に記憶してあ
る。
【0011】このようにして温度補償型水晶発振器は、
電子機器が使用される温度範囲、例えば−30℃〜80
℃といった温度範囲においてATカット水晶振動子の周
波数偏差(△f/fo)を2.5ppm以内に収めるよう
に温度補償が行われている。なお、基準周波数fo、変
曲点温度Toの調整値も記憶デバイス12に記憶させ
て、さらに発振周波数の高精度化を図る手法もよく用い
られている。
【0012】図4におけるAFC回路13は、入力端子
14に印加される制御電圧値に応じてバラクタダイオー
ド5のアノード端子への印加電圧を変化させてその等価
容量値を変化させ、等価容量値の変化によって生じる発
振ループの周波数変化によって、温度補償型水晶発振器
の発振周波数を変化させる。
【0013】温度補償に関しては、通常、AFC回路1
3の可変可能範囲のほぼセンタ値の電圧を出力している
状態において行われ、温度補償後は入力端子14への印
加電圧値に対して高精度のVCO(voltage controlled
oscillator)として機能するため、使用される電子機
器において高精度のPLL(phase locked loop)回路
が必要とされる場合などによく使用される。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記従来の
温度補償型水晶発振器においては、AFC回路13の機
能を使用する場合、その構成上、入力端子14へ印加す
る制御電圧の値を変化させることによりバラクタダイオ
ード5のアノード端子の印加電圧値を変化させることに
なるので、バラクタダイオード5の両端子間に印加する
電圧の変化量△Vと発振周波数の変化量△fとの関係
(以下、f−V特性と称す)が比例関係にあるか、ある
いは極めて比例に近い関係になければ、AFC回路13
の出力電圧のセンタ値を境にアンバランスとなってしま
う。
【0015】図5および図6は前記従来例のf−V特性
を示す特性図であり、図5はf−V特性が比例関係にあ
るか、あるいは極めて比例に近い関係にある場合、図6
はf−V特性が比例関係からはずれ、電圧の変化量△V
が小さくなると発振周波数の変化量△fの変化量が大き
くなり、電圧の変化量△Vが大きくなると発振周波数の
変化量△fの変化量が小さくなる場合の例である。
【0016】図中、15は図4に示すAFC回路13の
出力電圧がセンタ値のときのバラクタダイオード5への
印加電圧、16はAFC回路13の出力電圧が上限にな
ったときのバラクタダイオード5への印加電圧、17は
AFC回路13の出力電圧が下限になったときのバラク
タダイオード5への印加電圧である。各々、ATカット
水晶振動子6の発振周波数の3次の温度特性を相殺する
温度補償電圧発生回路の出力電圧を、それぞれ縦軸を温
度にとって表している。
【0017】図5において、15a,16a,17a
は、それぞれf−V特性が比例関係にあるか、あるいは
極めて比例に近い関係にある場合に温度補償電圧発生回
路の出力電圧15,16,17がバラクタダイオード5
に印加されたことによる発振周波数の変化量を示したも
のである。f−V特性が比例関係にあれば、AFC回路
13の出力電圧が、その可変可能範囲のどの位置にあっ
ても、発振周波数の変化量△fは常に一定であり、同じ
補償量が保たれることになる。
【0018】一方、図6において、15b,16b,1
7bは、それぞれf−V特性が比例関係からはずれた場
合に、温度補償電圧発生回路の出力電圧15,16,1
7がバラクタダイオード5に印加されたことによる発振
周波数の変化量を示したものである。電圧の変化量△V
が小さくなると発振周波数の変化量△fの変化量が大き
くなり、電圧の変化量△Vが大きくなると発振周波数の
変化量△fの変化量が小さくなるため、温度補償電圧発
生回路の出力電圧15,16,17が常に一定であって
も、発振周波数の変化量は、AFC回路13の出力電圧
がセンタ値のときの15bと比較して、上限になったと
きは16bのように補償量が大きくなって過補償とな
り、下限になったときは17bのように補償量は小さく
なって補償不足となる。
【0019】このため、高精度のVCOとして制御電圧
に対する出力発振周波数の直線性が許容値内に入らない
という問題と、出力電圧値が、例えばその可変可能範囲
の上限、あるいは下限に近くなったときに温度補償が過
補償になったり、補償不足になったりするため、温度補
償の許容値にも入らなくなるという問題を有していた。
【0020】本発明は、前記従来の問題を解決するもの
であり、バラクタダイオードのf−V特性の直線性が悪
くても、比較的簡単な手段でその直線性を補償し、温度
補償型水晶発振器において、高精度のVCOとして制御
電圧に対する出力発振周波数の直線性を保ち、かつ高精
度の温度補償を実現することができる温度補償電圧発生
回路を提供することを目的とする。
【0021】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、3次電圧発生回路と1次電圧発生回路と
で構成される温度補償電圧発生回路より発生した補償電
圧をバラクタダイオードに印加して等価容量値を変化さ
せ、等価容量値の変化によって生じる発振ループの周波
数変化を水晶振動子の周波数の温度特性と相殺させる構
成の水晶発振器の温度補償電圧発生回路において、前記
3次電圧発生回路の3次係数αと前記1次電圧発生回路
の1次係数βの値を、それぞれ周波数制御回路の出力電
圧値に応じて変化させる制御手段を備えたことを特徴と
している。
【0022】この構成によって、バラクタダイオードの
f−V特性の直線性が悪くても、その直線性を補償し、
温度補償型水晶発振器において、高精度のVCOとして
制御電圧に対する出力発振周波数の直線性を保ち、かつ
高精度の温度補償を実現することができる温度補償電圧
発生回路を提供することができる。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照しながら説明する。なお、従来例を説明す
るための図4〜図6にて説明した同一作用効果のものに
は同一符号を付し、その詳細な説明は省略する。
【0024】図1は本発明の実施形態における温度補償
電圧発生回路の構成を示すブロック図、図2は本実施形
態におけるバラクタダイオードにおけるf−V特性を示
す特性図である。
【0025】図1において、18aは1次電圧発生回路
9の出力電圧を制御するゲインコントロールアンプ(G
CA)であり、18bは3次電圧発生回路10の出力電
圧を制御するゲインコントロールアンプである。いずれ
のゲインコントロールアンプ18a,18bのゲインは
共に、AFC回路13の出力電圧値によって制御され
る。
【0026】図2において、バラクタダイオード5のf
−V特性が比例関係からはずれ、電圧の変化量△Vが小
さくなると周波数の変化量△fの変化量が大きくなり、
電圧の変化量△Vが大きくなると周波数の変化量△fの
変化量が小さくなる場合の例を示しており、図中15’
は図1に示すAFC回路13の出力電圧がセンタ値のと
きのバラクタダイオード5への印加電圧、16’はAF
C回路13の出力電圧が上限になったときのバラクタダ
イオード5への印加電圧、17’はAFC回路13の出
力電圧が下限になったときのバラクタダイオード5への
印加電圧である。各々、従来例と同様にATカット水晶
振動子の発振周波数の3次の温度特性を相殺する温度補
償電圧発生回路の出力電圧を、それぞれ縦軸を温度にと
って表している。
【0027】また、15c,16c,17cは、それぞ
れ温度補償電圧発生回路の出力電圧15’,16’,1
7’がバラクタダイオード5に印加されたことによる発
振周波数の変化量を示したものである。
【0028】本実施形態においては、AFC回路13の
出力電圧がセンタ値と比較して高くなった場合にはゲイ
ンコントロールアンプ18a,18bのゲインが小さく
なるように、またAFC回路13の出力電圧がセンタ値
と比較して低くなった場合にはゲインコントロールアン
プ18a,18bのゲインが大きくなるように回路を構
成する。
【0029】すなわち、これは3次電圧発生回路10に
おける3次係数αと1次電圧発生回路9における1次係
数βの値をAFC回路13の出力電圧が高くなったとき
に小さくし、AFC回路13の出力電圧が低くなったと
きに大きくすることと等価である。
【0030】本実施形態の回路構成において、使用する
バラクタダイオード5のf−V特性に基づいて発振周波
数の変化量15c,16c,17cがAFC回路13に
おける可変可能範囲において、できる限り一定となるよ
うに、ゲインコントロールアンプ18a,18bのゲイ
ンを最適化すれば、バラクタダイオード5のf−V特性
の直線性が悪くてもその直線性を補償し、温度補償型水
晶発振器において、高精度のVCOとして制御電圧に対
する出力発振周波数の直線性を保ち、かつ高精度の温度
補償を実現することができる。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の温度補償
電圧発生回路によれば、従来の温度補償電圧発生回路と
比較して、バラクタダイオードのf−V特性の直線性が
悪くてもその直線性を補償し、温度補償型水晶発振器に
おいて、高精度のVCOとして制御電圧に対する出力発
振周波数の直線性を保ち、かつ高精度の温度補償を実現
することができるため、温度補償電圧発生回路の性能の
向上を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態における温度補償型水晶発振
器の構成を示すブロック図
【図2】本発明の実施形態におけるバラクタダイオード
のf−V特性図
【図3】ATカット水晶振動子における周波数偏差の温
度特性の一例を示す特性図
【図4】従来の温度補償型水晶発振器の構成を示すブロ
ック図
【図5】従来の温度補償型水晶発振器におけるバラクタ
ダイオードの第1のf−V特性図
【図6】従来の温度補償型水晶発振器におけるバラクタ
ダイオードの第2のf−V特性図
【符号の説明】
5 バラクタダイオード 6 ATカット水晶振動子 7 発振回路 9 1次電圧発生回路 10 3次電圧発生回路 11 温度補償電圧発生回路 13 AFC回路 15’,16’,17’ バラクタダイオードへの印加
電圧 15c,16c,17c 発振周波数の変化量 18a,18b ゲインコントロールアンプ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 3次電圧発生回路と1次電圧発生回路と
    で構成される温度補償電圧発生回路より発生した補償電
    圧をバラクタダイオードに印加して等価容量値を変化さ
    せ、等価容量値の変化によって生じる発振ループの周波
    数変化を水晶振動子の周波数の温度特性と相殺させる構
    成の水晶発振器の温度補償電圧発生回路において、前記
    3次電圧発生回路の3次係数と前記1次電圧発生回路の
    1次係数の値を、それぞれ周波数制御回路の出力電圧値
    に応じて変化させる制御手段を備えたことを特徴とする
    水晶発振器の温度補償電圧発生回路。
  2. 【請求項2】 前記制御手段として、前記3次電圧発生
    回路と前記1次電圧発生回路との出力電圧を制御するゲ
    インコントロールアンプを備えたことを特徴とする請求
    項1記載の水晶発振器の温度補償電圧発生回路。
  3. 【請求項3】 前記ゲインコントロールアンプのゲイン
    を前記周波数制御回路の出力電圧値によって制御するこ
    とを特徴とする請求項2記載の水晶発振器の温度補償電
    圧発生回路。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8058941B2 (en) 2008-11-26 2011-11-15 Seiko Epson Corporation Voltage control type temperature compensation piezoelectric oscillator
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JP2015103853A (ja) * 2013-11-21 2015-06-04 セイコーエプソン株式会社 信号供給回路、電子機器および移動体
JP2016116155A (ja) * 2014-12-17 2016-06-23 ラピスセミコンダクタ株式会社 半導体装置及び半導体装置の発振方法

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