JP2002214488A - 光モジュールの光軸測定装置、光軸測定方法、光モジュールの製造装置及び製造方法 - Google Patents

光モジュールの光軸測定装置、光軸測定方法、光モジュールの製造装置及び製造方法

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JP2002214488A
JP2002214488A JP2001015110A JP2001015110A JP2002214488A JP 2002214488 A JP2002214488 A JP 2002214488A JP 2001015110 A JP2001015110 A JP 2001015110A JP 2001015110 A JP2001015110 A JP 2001015110A JP 2002214488 A JP2002214488 A JP 2002214488A
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JP
Japan
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optical module
optical
module
optical axis
light emitting
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English (en)
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Shinsuke Terada
真介 寺田
Shinichiro Iizuka
晋一郎 飯塚
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Furukawa Electric Co Ltd
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Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】低コストかつ短時間で光モジュールの光出射端
面を光軸測定部に対して基準化することができる光モジ
ュールの光軸測定装置を提供する。 【解決手段】本発明の光モジュールMの光軸測定装置A
1は、光モジュールMを保持するモジュール保持部1
と、そのモジュール保持部1に保持された光モジュール
Mの光軸を測定する光軸測定部2と、その光軸測定部2
の測定軸Kに対して垂直に維持された基準面3aを備え
た面合わせ部3と、光モジュールMの光出射端面を面合
わせ部3の基準面3aに倣わせるようにモジュール保持
部1を移動させる移動部4とを有する。モジュール保持
部1は、移動部4との間に設けられたバネ等の弾性部5
によって上下方向及び傾斜方向に移動可能に支持されて
いる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信分野におい
て用いられる半導体レーザモジュール等の光モジュール
の光軸測定装置、光軸測定方法、光モジュールの製造装
置及び製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は光モジュールの構造を模式的に示
す平面断面図である。図3に示すように、光モジュール
Mは、内部を気密封止する中空のパッケージ50と、パ
ッケージ50の内部に設けられ、光を出射する発光素子
(LD)51と、LD51の前側(図3では上側)端面
から出射された光が入射される光ファイバ52とを有す
る。
【0003】LD51と光ファイバ52との間にはLD
51からの光を光ファイバ52に集光させる集光レンズ
53が配置されている。集光レンズ53はパッケージ5
0のフランジ部50aに固定されたレンズ保持部54に
よって保持されている。レンズ保持部54の端部には金
属製のスライドリング55が固定されている。
【0004】光ファイバ52はフェルール56によって
保持され、そのフェルール56は、スライドリング55
の内部に固定されている。
【0005】LD51の前側端面から出射された光は集
光レンズ53によって集光され、光ファイバ52に入射
された後、外部に送出される。
【0006】上記の光モジュールの組立作業において
は、LD51から出射された光をいかに効率よく光ファ
イバ52に入射させて所望のパワーを得るかという点が
重要である。最も理想的にパワーを得る状態は、LD5
1からの光が光結合中心軸L上を通過し、集光レンズ5
3を通過してフェルール56端面の光ファイバのコア中
心に垂直に入射する場合である。ところが、実際にはL
D51から出射された光はLD51の搭載精度によって
発光角度に誤差を持つため、理想状態のままの組立では
パワーを大きくロスしてしまうことになる。そのため、
光モジュールMの組立作業においては、良好な光結合効
率を得るために光モジュールの光軸測定を行う必要があ
る。
【0007】図4は従来の光軸測定装置を示す説明図で
ある。測定対象となるワーク(光モジュール)を光軸測
定する際には、光軸測定装置にワークをセットするが、
そのセット作業では部品の形状精度や組み立て精度等に
よってバラツキが生じる。従って、精度良く光軸測定を
行うためには、このバラツキを補償してワークと光軸測
定部が常に一定の位置関係を満たすように補正(基準
化)する必要がある。
【0008】そこで、図4に示すように、従来の光軸測
定装置A2では光軸測定の前に、光軸測定部57に設け
られたオートフォーカス用光学系58及び光モジュール
Mを載置するゴニオステージ59等を用いて、光軸測定
部57と光モジュールMの光出射端面Hとの距離を測定
し、その結果に基づいて光モジュールMを傾度調整する
ことにより、光モジュールMの光出射端面Hを光軸測定
部57に対して基準化する方法が用いられていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来例では、光軸測定
部と光モジュールの光出射端面との距離の調整のために
高価なオートフォーカス用光学系やゴニオステージ等を
用いるためコストがかかる。また、光モジュールの光出
射端面の3点以上に対するオートフォーカスや、ゴニオ
ステージによる端面の傾度調整を行うため、長い測定時
間がかかる。
【0010】本発明は、低コストかつ短時間で光モジュ
ールの光出射端面を光軸測定部に対して基準化すること
ができる光モジュールの光軸測定装置、光軸測定方法、
光モジュールの製造装置及び製造方法を提供することを
目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の光モジュールの
光軸測定装置は、光モジュールを保持するモジュール保
持部と、そのモジュール保持部に保持された光モジュー
ルの光軸を測定する光軸測定部と、その光軸測定部の測
定軸に対して垂直又は所定の角度に維持された基準面を
備えた面合わせ部と、前記光モジュールの光出射端面を
前記面合わせ部の基準面に倣わせるように前記モジュー
ル保持部を移動させる移動部とを有することを特徴とす
るものである。
【0012】前記モジュール保持部は、前記移動部との
間に設けられた弾性部によって上下方向及び傾斜方向に
移動可能に支持されていてもよい。
【0013】前記光モジュールの光出射端面を前記面合
わせ部の基準面に倣わせた状態で前記モジュール保持部
を固定する固定部を有してもよい。
【0014】前記モジュール保持部は、その外周部がガ
イド部に接触した状態でガイドされながら移動してもよ
い。
【0015】前記モジュール保持部の側面部は球面状に
形成されていてもよい。
【0016】本発明の光モジュールの製造装置は、上記
記載の光モジュールの光軸測定装置と、光モジュールの
光出射端面から出射された光を集光するレンズを光モジ
ュールに供給するレンズ供給部と、を有することを特徴
とするものである。
【0017】前記レンズを光モジュールに固定するレン
ズ固定部を有してもよい。
【0018】本発明の光モジュールの光軸測定方法は、
光出射端面を備えた光モジュールの前記光出射端面の傾
度を調整する工程S1と、光モジュールから出射された
光の光軸を光軸測定部によって光軸測定する工程S2と
を有する光モジュールの光軸測定方法において、前記工
程S1における光モジュールの光出射端面の傾度調整
は、前記光軸測定部の測定軸に対して垂直又は所定の角
度に維持された基準面を備えた面合わせ部を光出射端面
に前記基準面に倣わせることにより、行うことを特徴と
するものである。
【0019】本発明の光モジュールの製造方法は、光出
射端面を備える光モジュールの前記光出射端面の傾度を
調整する工程S1と、光モジュールから出射された光の
光軸を光軸測定部によって光軸測定する工程S2と、光
モジュールの出射端面にレンズを配置し、工程S2にお
ける光軸測定に基づいて、当該レンズを位置調整するこ
とにより光軸調整する工程S3と、当該レンズを光モジ
ュールに対して固定する工程S4と、当該レンズから出
射された光を受光する光ファイバを光モジュールに対し
て固定する工程S5と、を有する光モジュールの製造方
法において、工程S1における光モジュールの光出射端
面の傾度調整は、前記光軸測定部の測定軸に対して垂直
又は所定の角度に維持された基準面を備えた面合わせ部
を光出射端面に前記基準面に倣わせることにより行うこ
とを特徴とするものである。
【0020】本発明によれば、光軸測定部の測定軸に対
して垂直又は所定の角度に維持された面合わせ部の基準
面に光モジュールの光出射端面を倣わせることにより、
光モジュールのセット時の端面傾度のバラつきに対して
角度補正を行うことができるので、光モジュールの光出
射端面を基準とする高精度の光軸測定を行うことができ
る。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。図1は、本発明の実施形態例
に係る光モジュールの光軸測定装置を示す斜視図であ
る。
【0022】図1に示すように、本発明の実施形態例に
係る光モジュールMの光軸測定装置A1は、光モジュー
ルMを保持するモジュール保持部1と、そのモジュール
保持部1に保持された光モジュールMの光軸を測定する
光軸測定部2と、その光軸測定部2の測定軸Kに対して
垂直に維持された基準面3aを備えた面合わせ部3と、
光モジュールMの光出射端面を面合わせ部3の基準面3
aに倣わせるようにモジュール保持部1を移動させる移
動部4とを有する。また、本発明の実施形態例に係る光
モジュールMの製造装置は、上記光軸測定装置A1と、
レンズ供給部となるハンド10と、レンズ固定部となる
YAGレーザ溶接器9とを有する。
【0023】モジュール保持部1は、光モジュールMの
光出射端面Hを上側に配置した状態で、内部を開口して
形成された収容部1aに光モジュールMを保持してい
る。モジュール保持部1は、側面部1c(図2参照)が
球面状に形成され、かつ光モジュールMの光出射端面H
が前記側面部1cが構成する球の中心に位置するように
構成されている。
【0024】モジュール保持部1は、移動部4との間に
設けられたバネ等の弾性部5によって上下方向及び傾斜
方向に移動可能に支持されている。弾性部5は、モジュ
ール保持部1の同一直線上にない3点以上の個所(図1
では3点の個所)に取り付けられている。
【0025】面合わせ部3は、シリンダ装置6のロッド
6aの先端部に支持されており、ロッド6aの伸縮によ
り面合わせ部3を測定軸K上の位置に配置したり、引っ
込めたりすることができる。
【0026】移動部4は、モジュール保持部1をX方向
に移動させるXステージ4aと、モジュール保持部1を
Y方向に移動させるYステージ4bと、モジュール保持
部1をZ方向に移動させるZステージ4cとを有する。
【0027】モジュール保持部1の外側には円筒状に形
成されたガイド部7が設けられており、モジュール保持
部1は、その側面部1cがガイド部7の内周面に接触し
た状態でガイドされながら移動する。これによってモジ
ュール保持部1の移動が規制され、かつ安定する。
【0028】ガイド部7には光モジュールMの光出射端
面Hを面合わせ部3の基準面3aに倣わせた状態でモジ
ュール保持部1を固定するためのレベルチャック部8
(固定部)を有する(図2参照)。
【0029】モジュール保持部1及びガイド部7には、
YAGレーザ溶接器9のヘッド部9aから出射される光
を通過させるための第1の挿入孔1b及び第2の挿入孔
7aがそれぞれ形成されている。
【0030】次に、本発明の実施形態例に係る光モジュ
ールMの光軸測定装置A1の動作を説明する。図2は、
本発明の実施形態例に係る光モジュールMの光軸測定装
置A1の動作を説明するための説明図である。
【0031】まず、光モジュールMの光出射端面Hを上
側に配置した状態で、モジュール保持部1の収容部1a
に光モジュールMを保持してセットする。その際、レベ
ルチャック部8は外側に待機しており、モジュール保持
部1はガイド部7にガイドされた状態で移動することが
できる。また、面合わせ部3は、その基準面3aが光軸
測定部2の測定軸Kに対して垂直に維持されるようにシ
リンダ装置6によって位置決めされる(図2(A)参
照)。
【0032】次いで、移動部4のZステージ4cをZ方
向に移動させると、モジュール保持部1に保持された光
モジュールMの光出射端面Hは、面合わせ部3の基準面
3aに接触する。さらに、モジュール保持部1をZ方向
に移動させると、モジュール保持部1は傾斜して光モジ
ュールMの光出射端面Hは基準面3aに倣い始め、同時
に複数の弾性部5はそれぞれ収縮する。
【0033】光モジュールMの光出射端面Hが基準面3
aに完全に倣い柊わった後、レベルチャック部8を閉じ
てモジュール保持部1をガイド部7に固定する(図2
(B)参照)。
【0034】その後、再び移動部4のZステージ4cを
面合わせ部3側と反対方向に移動させてから、シリンダ
装置6のロッド6aを短縮して面合わせ部3を外部に引
っ込める。その結果、光モジュールMの光出射端面H
は、基準面3aに合わせて取り付けた光軸測定部2に対
して垂直方向に位置することになる(以上、工程S
1)。
【0035】これによって、光モジュールMのセット時
の端面傾度のバラつきに対して角度補正を行うことがで
き、光モジュールMの光出射端面Hを基準とする高精度
の光軸測定(光軸角度、光軸方向等の測定)を行うこと
ができる。
【0036】すなわち、光モジュールM内のLD51か
ら光を出射させ、光軸測定部2において、その光の光軸
を測定する(以上、工程S2)。
【0037】このような光軸測定に基づいて、光モジュ
ールMのパッケージ50に対してレンズ53を固定す
る。すなわち、ハンド10によってレンズ保持部54に
保持されたレンズ53を光モジュールMの光出射端面H
に供給し、上記光軸測定に基づいて、光軸が測定軸Kに
対して所望の角度(例えば0°)となるように、パッケ
ージ50へのレンズ53の固定状態を調整する(以上、
工程S3)。その上でYAGレーザ溶接器9のヘッド部
9aからモジュール保持部1の第1の挿入孔1b及びガ
イド部7の第2の挿入孔7aを介してYAGレーザ溶接
を行い、光モジュールMにレンズ53を固定する(以
上、工程S4)。
【0038】その後さらに、図3に示すように、スライ
ドリング55、フェルール56付き光ファイバ52がパ
ッケージ50に対して固定され、光モジュールMが完成
する(以上、工程S5)。
【0039】本実施形態例の光軸測定装置A1によれ
ば、光軸測定部2の測定軸Kに対して垂直に維持された
面合わせ部3の基準面3aに光モジュールMの光出射端
面Hを倣わせることにより、光モジュールMのセット時
の端面傾度のバラつきに対して角度補正を行うことがで
きるので、光モジュールMの光出射端面Hを基準とする
高精度の光軸測定を行うことができる。従って、光軸測
定部2と光モジュールMの光出射端面Hとの距離測定に
よる端面基準化のために高価なオートフォーカス用光学
系やゴニオステージ等を用いる必要がないので、コスト
を大幅に低減することができる。
【0040】また、光モジュールMの光出射端面Hの3
点以上に対するオートフォーカスや、ゴニオステージに
よる光出射端面Hの傾度調整を行う必要がないので、測
定時間を短縮することができ、光モジュールMの製造時
間を短縮できる。また、このように製造された光モジュ
ールMは、従来と同様に非常に高い光結合効率で光を光
ファイバに結合することができる。
【0041】本発明は、上記実施の形態に限定されるこ
とはなく、特許請求の範囲に記載された技術的事項の範
囲内において、種々の変更が可能である。例えば、面合
わせ部3の基準面3aは、光軸測定部2の測定軸Kに対
して所定の角度(90度以外の角度)に維持されていて
もよい。
【0042】また、このような光モジュールの光軸測定
装置、測定方法は、光モジュールMの製造目的のものに
限定されず、例えば空間伝送用に利用される光モジュー
ルにおける光出射特性の評価目的で使用される場合等に
も適用可能であることは言うまでもない。
【0043】
【発明の効果】本発明によれば、光軸測定部と光モジュ
ールの光出射端面との距離の調整のために高価なオート
フォーカス用光学系やゴニオステージ等を用いる必要が
ないので、コストを大幅に低減することができる。
【0044】また、光モジュールの光出射端面の3点以
上に対するオートフォーカスや、ゴニオステージによる
光出射端面の傾度調整を行う必要がないので、測定時間
を短縮することができる
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態例に係る光モジュールの光軸
測定装置を示す斜視図である。
【図2】(A)及び(B)は本発明の実施形態例に係る
光モジュールMの光軸測定装置の動作を説明するための
説明図である。
【図3】光モジュールの構造を模式的に示す平面断面図
である。
【図4】従来の光軸測定装置を示す斜視図である。
【符号の説明】
M:光モジュール A1:光軸測定装置 1:モジュール保持部 2:光軸測定部 3:面合わせ部 3a:基準面 4:移動部 5:弾性部 6:シリンダ装置 6a:ロッド 7:ガイド部 8:レベルチャック部(固定部) 9:YAGレーザ溶接器 9a:YAGレーザ溶接器のヘッド部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA06 AA35 CC00 GG07 LL02 TT02 TT08 2G065 AB09 BB02 BB06 BB44 BC23 DA13 2H037 AA01 BA03 DA06 DA18 DA22 5F073 BA01 FA08 FA30 HA10

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光モジュールを保持するモジュール保持部
    と、そのモジュール保持部に保持された光モジュールの
    光軸を測定する光軸測定部と、その光軸測定部の測定軸
    に対して垂直又は所定の角度に維持された基準面を備え
    た面合わせ部と、前記光モジュールの光出射端面を前記
    面合わせ部の基準面に倣わせるように前記モジュール保
    持部を移動させる移動部とを有することを特徴とする光
    モジュールの光軸測定装置。
  2. 【請求項2】前記モジュール保持部は、前記移動部との
    間に設けられた弾性部によって上下方向及び傾斜方向に
    移動可能に支持されていることを特徴とする請求項1に
    記載の光モジュールの光軸測定装置。
  3. 【請求項3】前記光モジュールの光出射端面を前記面合
    わせ部の基準面に倣わせた状態で前記モジュール保持部
    を固定する固定部を有することを特徴とする請求項1又
    は2に記載の光モジュールの光軸測定装置。
  4. 【請求項4】前記モジュール保持部は、その外周部がガ
    イド部に接触した状態でガイドされながら移動すること
    を特徴とする請求項1乃至3のいずれか1つの項に記載
    の光モジュールの光軸測定装置。
  5. 【請求項5】前記モジュール保持部の側面部は球面状に
    形成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいず
    れか1つの項に記載の光モジュールの光軸測定装置。
  6. 【請求項6】前記請求項1乃至5のいずれか1つの項に
    記載の光モジュールの光軸測定装置と、 光モジュールの光出射端面から出射された光を集光する
    レンズを光モジュールに供給するレンズ供給部と、 を有することを特徴とする光モジュールの製造装置。
  7. 【請求項7】前記レンズを光モジュールに固定するレン
    ズ固定部を有することを特徴とする請求項6に記載の光
    モジュールの製造装置。
  8. 【請求項8】光出射端面を備えた光モジュールの前記光
    出射端面の傾度を調整する工程S1と、光モジュールか
    ら出射された光の光軸を光軸測定部によって光軸測定す
    る工程S2とを有する光モジュールの光軸測定方法にお
    いて、 前記工程S1における光モジュールの光出射端面の傾度
    調整は、前記光軸測定部の測定軸に対して垂直又は所定
    の角度に維持された基準面を備えた面合わせ部を光出射
    端面に前記基準面に倣わせることにより、行うことを特
    徴とする光モジュールの光軸測定方法。
  9. 【請求項9】光出射端面を備える光モジュールの前記光
    出射端面の傾度を調整する工程S1と、光モジュールか
    ら出射された光の光軸を光軸測定部によって光軸測定す
    る工程S2と、光モジュールの出射端面にレンズを配置
    し、工程S2における光軸測定に基づいて、当該レンズ
    を位置調整することにより光軸調整する工程S3と、当
    該レンズを光モジュールに対して固定する工程S4と、
    当該レンズから出射された光を受光する光ファイバを光
    モジュールに対して固定する工程S5と、を有する光モ
    ジュールの製造方法において、 工程S1における光モジュールの光出射端面の傾度調整
    は、前記光軸測定部の測定軸に対して垂直又は所定の角
    度に維持された基準面を備えた面合わせ部を光出射端面
    に前記基準面に倣わせることにより行うことを特徴とす
    る光モジュールの製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112229345A (zh) * 2020-10-15 2021-01-15 武汉科技大学 一种不受振动影响的光纤光栅倾斜传感器

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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