JP2002212522A - 接着シート、その使用方法及び半導体装置 - Google Patents

接着シート、その使用方法及び半導体装置

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JP2002212522A
JP2002212522A JP2001007854A JP2001007854A JP2002212522A JP 2002212522 A JP2002212522 A JP 2002212522A JP 2001007854 A JP2001007854 A JP 2001007854A JP 2001007854 A JP2001007854 A JP 2001007854A JP 2002212522 A JP2002212522 A JP 2002212522A
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adhesive sheet
adhesive
molecular weight
group
radiation
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JP2001007854A
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English (en)
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Hiroyuki Kawakami
広幸 川上
Yuji Hasegawa
雄二 長谷川
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Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 ダイシング工程ではダイシングテープとし
て、半導体素子と支持部材の接合工程では接続信頼性に
優れる接着剤として使用でき、また熱膨張係数の差が大
きい半導体素子を搭載用支持部材に実装する場合に必要
な耐熱、耐湿性を有し、作業性に優れる接着シート、半
導体装置製造工程を簡略化できる接着シートの使用方法
並びに耐熱、耐湿性に優れた半導体装置を提供する。 【解決手段】 A)エポキシ樹脂とエポキシ樹脂硬化
剤、 B)官能基を含む重量平均分子量10万以上の高分子量
成分及び C)側鎖にエチレン性不飽和基を有する放射線重合性共
重合体を含有する粘接着層と、基材層とを有する熱重合
性及び放射線重合性の接着シート、並びに接着シートを
用い又は接着シートの使用方法により、半導体素子と支
持部材とを接着した構造の半導体装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、接着シート、その
使用方法及び半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子と支持部材の接合には
銀ペーストが主に使用されているが、近年の半導体素子
の小型化、高性能化に伴い、使用される支持部材にも小
型化・細密化が要求されるようになってきている。その
要求に対し銀ペーストでは、はみ出しや半導体素子の傾
きに起因するワイヤボンディング時における不具合の発
生、接着剤層の膜厚の制御困難性、接着剤層のボイド発
生等の問題があった。これらの問題を解決するために、
近年、フィルム状の接着剤が使用されるようになってき
た。フィルム状接着剤は個片貼付け方式又はウェハ裏面
貼付け方式にて使用されている。
【0003】個片貼付け方式はリール状の接着フィルム
をカッティング又はパンチングによって個片に切り出し
た後、支持部材に接着する。接着フィルム付きの支持部
材にダイシング工程によって個片化された半導体素子を
接合し半導体素子付きの支持部材が作製され、その後、
ワイヤボンド工程、封止工程等を経て半導体素子が完成
される。しかし、個片貼付け方式は接着フィルムを切り
出して支持部材に接着する専用の組立装置の導入が必要
であり、組立コストが銀ペーストを使用するに比べ高く
なってしまうという問題があった。
【0004】一方、ウェハ裏面貼付け方式は半導体ウェ
ハに接着フィルムを貼付け、ダイシングテープに貼り合
わせた後ダイシング工程によって個片化する。個片化さ
れた接着剤付きの半導体素子を支持部材に接合し、加熱
後硬化、ワイヤボンド等の工程を経て半導体装置が完成
する。ウェハ裏面貼付け方式は接着剤付きの半導体素子
を支持部材に接合するため、接着フィルムを個片化する
装置が不要であり、従来の銀ペースト用の組立装置をそ
のまま使用、又は熱盤の付加等の一部改良することによ
り使用できるため、フィルム状接着剤を用いた組立方法
の中で組立コストが比較的安く抑えられる方法として注
目されている。
【0005】このウェハ裏面貼付け方式の半導体素子の
個片化は、フィルム状接着剤側にダイシングテープを貼
り合わせた後ダイシング工程にて行われる。その際、用
いられるダイシングテープには大別して感圧型とUV型
がある。感圧型は通常、塩化ビニルやポリオレフィン系
のベースフィルムに粘着剤が塗布されたものである。こ
のダイシングテープは切断時にはダイシングソウによる
回転で各素子が飛散しない充分な粘着力が必要である一
方、ピックアップ時には各素子に負担がかからない程度
の低い粘着力であるといった相反する要求を満足する必
要がある。そのため感圧型のダイシングテープの場合は
粘着力の公差を小さくし、素子のサイズや加工条件にあ
った各種粘着力のものを多品種揃え、工程毎に切替える
ため品種を多く在庫しなければならず在庫管理が煩雑で
あり、また工程毎に切替え作業が必要となる。最近はU
V型と呼ばれ、ダイシング時には高粘着力で、ピックア
ップする前に紫外線(UV)を照射し低粘着力にして相
反する要求に応えるダイシングテープも広く採用されて
いる。
【0006】近年、半導体素子、特にCPUやメモリは
大容量化が進み、その結果半導体素子が大型化する傾向
にある。さらに、ICカード又はメモリーカード等の製
品では使用されるメモリの薄型化が進んでいる。これら
の半導体素子の大型化や薄型化に伴い、感圧型ではダイ
シング時の固定力(高粘着力)とピックアップ時の剥離
性(低粘着力)という相反する要求を満足できなくなっ
てきている。
【0007】一方、UV型を使用したウェハ裏面貼付け
方式においては、ダイシング工程までのフィルム貼付工
程を2回行わなければならず、作業が煩雑になるという
問題がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】請求項1及び2記載の
発明は、ダイシング工程ではダイシングテープとして、
半導体素子と支持部材の接合工程では接続信頼性に優れ
る接着剤として使用することができ、また、半導体搭載
用支持部材に熱膨張係数の差が大きい半導体素子を実装
する場合に必要な耐熱性、耐湿性を有し、作業性に優れ
る接着シートを提供するものである。請求項3記載の発
明は、請求項1記載の発明の効果を奏し、より耐熱性に
優れる接着シートを提供するものである。
【0009】請求項4記載の発明は、請求項1又は2記
載の発明の効果を奏し、より耐熱性及び耐湿性に優れる
接着シートを提供するものである。請求項5記載の発明
は、請求項1、2又は3記載の発明の効果を奏し、より
作業性、耐熱性及び耐湿性に優れる接着シートを提供す
るものである。請求項6記載の発明は、請求項1〜4記
載の発明の効果を奏し、さらに耐温度サイクル試験性に
優れる接着シートを提供するものである。請求項7記載
の発明は、請求項1〜5記載の発明の効果を奏し、より
作業性に優れる接着シートを提供するものである。
【0010】請求項8記載の発明は、半導体装置の製造
工程を簡略化できる接着シートの使用方法を提供するも
のである。請求項9記載の発明は、耐熱性、耐湿性に優
れた半導体装置を提供するものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、(A)エポキ
シ樹脂及びエポキシ樹脂硬化剤、(B)官能基を含む重
量平均分子量が10万以上である高分子量成分及び
(C)側鎖にエチレン性不飽和基を有する放射線重合性
共重合体を含有してなる粘接着層と、基材層とを有して
なる熱重合性及び放射線重合性の接着シートに関する。
また本発明は、上記粘接着層が、(A)エポキシ樹脂及
びエポキシ樹脂硬化剤100質量部、(B)官能基を含
む重量平均分子量が10万以上である高分子量成分10
〜400質量部、(C)側鎖にエチレン性不飽和基を有
する放射線重合性共重合体5〜400質量部含有してな
る粘接着層である請求項1記載の接着シートに関する。
【0012】また本発明は、(B)官能基を含む重量平
均分子量が10万以上である高分子量成分が、エポキシ
樹脂と非相溶である上記接着シートに関する。また本発
明は、(B)官能基を含む重量平均分子量が10万以上
である高分子量成分が、原料としてグリシジルアクリレ
ート又はグリシジルメタクリレートを0.5〜6質量%
使用して得られ、かつ重量平均分子量が10万以上のエ
ポキシ基含有アクリル共重合体である上記接着シートに
関する。
【0013】また本発明は、(C)側鎖にエチレン性不
飽和基を有する放射線重合性共重合体が、官能基を含む
ビニル共重合体に少なくとも1個のエチレン性不飽和基
と、オキシラン環、イソシアネート基、水酸基、カルボ
キシル基、アミノ基、酸無水物からなる群より選ばれる
1個の官能基を有する化合物とを付加反応させて得られ
るものである上記接着シートに関する。また本発明は、
粘接着層が、加熱硬化した後の段階で、動的粘弾性測定
装置を用いて測定した貯蔵弾性率が、25℃で10〜2
000MPaかつ260℃で3〜50MPaである上記接着シ
ートに関する。また本発明は、放射線照射することで粘
接着層と基材との間の接着力を制御できる上記接着シー
トに関する。
【0014】また本発明は、(I)上記接着シートを、
その粘接着層を介して半導体ウェハに貼り付ける工程、
(II)該接着シートに放射線を照射して粘接着層を硬化
させ、基材を剥離する工程、(III)半導体ウェハをダ
イシングして、粘接着層付き半導体素子を得る工程、
(IV)粘接着層付き半導体素子と半導体素子搭載用の支
持部材とを、該接着シートを介して接着する工程、を含
むことを特徴とする接着シートの使用方法に関する。
【0015】また本発明は、上記接着シートを用いて又
は上記接着シートの使用方法によって、半導体素子と支
持部材とを接着した構造を含有してなる半導体装置に関
する。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の接着シートは、(A)エ
ポキシ樹脂及びエポキシ樹脂硬化剤100質量部(B)
官能基を含む重量平均分子量が10万以上である高分子
量成分10〜400質量部(C)側鎖にエチレン性不飽
和基を有する放射線重合性共重合体5〜400質量部を
含有してなる粘接着層と、基材層とを有してなるもので
あり、上記構成にすることで熱重合性及び放射線重合性
の両方の性質を備える接着シートとなる。上記構成の接
着シートは、ダイシング時には半導体素子が飛散しない
充分な粘着力を有し、ピックアップ時には各素子に負担
がかからない程度の低い粘着力であるといった相反する
要求を満足するもので、ダイボンド、ダイシングの各工
程を一枚のフィルムで完了することが可能である。
【0017】本発明に使用するエポキシ樹脂は、硬化し
て接着作用を呈するものであれば特に制限は無く、例え
ば、油化シェルエポキシ(株)製エピコート807、エピ
コート815、エピコート825、エピコート827、
エピコート828、エピコート834、エピコート10
01、エピコート1004、エピコート1007、エピ
コート1009、ダウケミカル社製DER−330、D
ER−301、DER−361、東都化成(株)製YD8
125、YDF8170等のビスフェノールA型エポキ
シ樹脂、油化シェルエポキシ(株)製エピコート152、
エピコート154、日本化薬(株)製EPPN−201、
ダウケミカル社製DEN−438等のフェノールノボラ
ック型エポキシ樹脂、日本化薬(株)製EOCN−102
S、EOCN−103S、EOCN−104S、EOC
N−1012、EOCN−1025、EOCN−102
7、東都化成(株)製YDCN701、YDCN702、
YDCN703、YDCN704等のo−クレゾールノ
ボラック型エポキシ樹脂、油化シェルエポキシ(株)製E
pon 1031S、チバスペシャリティーケミカルズ
社製アラルダイト0163、ナガセ化成(株)製デナコー
ルEX−611、EX−614、EX−614B、EX
−622、EX−512、EX−521、EX−42
1、EX−411、EX−321等の多官能エポキシ樹
脂、油化シェルエポキシ(株)製エピコート604、東都
化成(株)製YH−434、三菱ガス化学(株)製TETR
AD−X、TETRAD−C、住友化学(株)製ELM−
120等のアミン型エポキシ樹脂、チバスペシャリティ
ーケミカルズ社製アラルダイトPT810等の複素環含
有エポキシ樹脂、UCC社製ERL4234、ERL4
299、ERL4221、ERL4206等の脂環式エ
ポキシ樹脂などが挙げられ、これらは単独で又は二種類
以上を組み合わせて使用することができる。なお、ここ
で(A)成分のエポキシ樹脂の重量平均分子量は、通常
10万未満である。
【0018】エポキシ樹脂の硬化剤としては、通常用い
られているものを特に制限なく使用することができ、例
えば、アミン、ポリアミド、酸無水物、ポリスルフィ
ド、三フッ化ホウ素、フェノール性水酸基を1分子中に
2個以上有する化合物であるビスフェノールA、ビスフ
ェノールF、ビスフェノールS及びフェノールノボラッ
ク樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂又はクレゾー
ルノボラック樹脂等のフェノール樹脂などが挙げられ、
特に吸湿時の耐電食性に優れる点で、フェノールノボラ
ック樹脂、ビスフェノールAノボラック樹脂又はクレゾ
ールノボラック樹脂等のフェノール樹脂が好ましい。
【0019】このような好ましいフェノール樹脂硬化剤
としては、例えば、大日本インキ化学工業(株)製フェノ
ライトLF2882、フェノライトLF2822、フェ
ノライトTD−2090、フェノライトTD−214
9、フェノライトVH4150、フェノライトVH41
70等が挙げられる。
【0020】(B)官能基を含む重量平均分子量が10
万以上である高分子量成分としては、官能基として、例
えば、エポキシ基、ヒドロキシル基、カルボキシル基等
を有するものが挙げられる。なお、(B)高分子量成分
からは、後述する(C)成分は除かれる。中でも、原料
としてグリシジルアクリレート又はグリシジルメタクリ
レート等の官能基モノマーを使用して得られ、かつ重量
平均分子量が10万以上であるエポキシ基含有アクリル
共重合体が好ましく、さらにエポキシ樹脂と非相溶であ
ることが好ましい。
【0021】原料としてグリシジルアクリレート又はグ
リシジルメタクリレート等の官能基モノマーを使用して
得られ、かつ重量平均分子量が10万以上であるエポキ
シ基含有アクリル共重合体としては、例えば、帝国化学
産業(株)製 HTR―860P−3等が挙げられる。官
能基モノマーが、カルボン酸タイプのアクリル酸や、水
酸基タイプのヒドロキシメチル(メタ)アクリレートを
用いると、架橋反応が進行しやすく、ワニス状態でのゲ
ル化、Bステージ状態での硬化度の上昇による接着力の
低下等の問題があるため好ましくない。
【0022】グリシジルアクリレート又はグリシジルメ
タクリレート等の官能基モノマーの使用量は、0.5〜
6.0質量%が好ましく、0.5〜5.0質量%がより
好ましく、0.8〜5.0質量%が特に好ましい。0.
5質量%未満であると接着力が低下する傾向があり、
6.0質量%を超えるとゲル化する傾向がある。
【0023】グリシジルアクリレート、グリシジルメタ
クリレート以外の官能基モノマーとしては、例えば、エ
チル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレー
ト等が挙げられ、これらは単独で又は二種類以上を組み
合わせて使用することができる。なお、本発明におい
て、例えば、エチル(メタ)アクリレートとはエチルア
クリレートとエチルメタクリレートの両方を示す。
【0024】混合比率は、共重合体のガラス転移温度
(以下Tgと表す)を考慮して決定し、Tgは−10℃
以上であることが好ましい。Tgが−10℃未満である
とBステージ状態での接着剤層のタック性が大きくなり
取り扱い性が悪化する傾向がある。
【0025】上記モノマーを重合させて(B)官能基を
含む重量平均分子量が10万以上である高分子量成分を
製造する場合、その重合方法としては特に制限はなく、
例えば、パール重合、溶液重合等の方法を使用すること
ができる。
【0026】本発明において(B)官能基を含む高分子
量成分の重量平均分子量は10万以上であるが、30万
〜300万であることが好ましく、50万〜200万で
あることがより好ましい。重量平均分子量が10万未満
であると、シート状、フィルム状としたときの強度低
下、可とう性低下、タック性増大等の問題が起こり、3
00万を超えると、フロー性が小さくなり配線の回路充
填性が低下する傾向がある。なお、本発明において、重
量平均分子量とは、ゲルパーミエーションクロマトグラ
フィーで測定し、標準ポリスチレン検量線を用いて換算
した値を示す。
【0027】また、(B)官能基を含む重量平均分子量
が10万以上である高分子量成分の使用量は、(A)エ
ポキシ樹脂及びエポキシ樹脂硬化剤100重量部に対し
て、10〜400質量部であるが、中でも15〜350
重量部が好ましく、20〜300重量部がより好まし
い。使用量が10質量部未満であると、弾性率の低減及
び成形時のフロー性抑制効果が得られず、400質量部
を超えると、高温での取り扱い性が低下する。
【0028】(C)側鎖にエチレン性不飽和基を有する
放射線重合性共重合体は、例えば、(C′)官能基を含
むビニル共重合体に、(C″)少なくとも1個のエチレ
ン性不飽和基と、オキシラン環、イソシアネート基、水
酸基、カルボキシル基、アミノ基、酸無水物等から選ば
れる官能基を有する化合物、を付加反応させて得ること
ができる。
【0029】上記の(C′)官能基を含むビニル重合体
における官能基としては、例えば、カルボキシル基、水
酸基、アミノ基、オキシラン環、酸無水物等が挙げられ
る。上記ビニル共重合体の製造に用いられるビニル単量
体としては、例えば、カルボキシル基、水酸基、アミノ
基、オキシラン環、酸無水物等の官能基を有する化合物
が挙げられ、具体的には、例えば、アクリル酸、メタク
リル酸、マレイン酸、フマル酸、レイン酸、イタコン
酸、ケイ皮酸、アクリル酸2−ヒドロキシエチル、メタ
クリル酸−2−ヒドロキシエチル、アクリルアミド、メ
タクリルアミド、イソシアン酸エチルメタクリレート、
グリシジルアクリレート、グリシジルメタクリレート、
無水マビニル単量体等が挙げられる。これらの単量体は
単独で又は二種類以上を組み合わせて使用することがで
きる。
【0030】また、上記ビニル共重合体の製造には、必
要に応じ、その他のビニル単量体を共重合させることが
できる。このような単量体としては、例えば、アクリル
酸メチル、メタクリル酸メチル、アクリル酸エチル、メ
タクリル酸エチル、アクリル酸−n−プロピル、メタク
リル酸−n−プロピル、アクリル酸−iso−プロピル、
メタクリル酸−iso−プロピル、アクリル酸−n−ブチ
ル、メタクリル酸−n−ブチル、アクリル酸−iso−ブ
チル、メタクリル酸−iso−ブチル、アクリル酸−sec−
ブチル、メタクリル酸−sec−ブチル、アクリル酸−ter
t−ブチル、メタクリル酸−tert−ブチル、アクリル酸
ペンチル、メタクリル酸ペンチル、アクリル酸ヘキシ
ル、メタクリル酸ヘキシル、アクリル酸ヘプチル、メタ
クリル酸ヘプチル、アクリル酸−2−エチルヘキシル、
メタクリル酸−2−エチルヘキシル、アクリル酸オクチ
ル、メタクリル酸オクチル、アクリル酸ノニル、メタク
リル酸ノニル、アクリル酸デシル、メタクリル酸デシ
ル、アクリル酸ドデシル、メタクリル酸ドデシル、アク
リル酸テトラデシル、メタクリル酸テトラデシル、アク
リル酸ヘキサデシル、メタクリル酸ヘキサデシル、アク
リル酸オクタデシル、メタクリル酸オクタデシル、アク
リル酸エイコシル、メタクリル酸エイコシル、アクリル
酸ドコシル、メタクリル酸ドコシル、アクリル酸シクロ
ペンチル、メタクリル酸シクロペンチル、アクリル酸シ
クロヘキシル、メタクリル酸シクロヘキシル、アクリル
酸シクロヘプチル、メタクリル酸シクロヘプチル、アク
リル酸ベンジル、メタクリル酸ベンジル、アクリル酸フ
ェニル、メタクリル酸フェニル、アクリル酸メトキシエ
チル、メタクリル酸メトキシエチル、アクリル酸メトキ
シジエチレングリコール、メタクリル酸メトキシジエチ
レングリコール、アクリル酸メトキシジプロピレングリ
コール、メタクリル酸メトキシジプロピレングリコー
ル、アクリル酸メトキシトリエチレングリコール、メタ
クリル酸メトキシトリエチレングリコール、アクリル酸
ジメチルアミノエチル、メタクリル酸ジメチルアミノエ
チル、アクリル酸ジエチルアミノエチル、メタクリル酸
ジエチルアミノエチル、アクリル酸ジメチルアミノプロ
ピル、メタクリル酸ジメチルアミノプロピル、アクリル
酸2−クロロエチル、メタクリル酸2−クロロエチル、
アクリル酸2−フルオロエチル、メタクリル酸−2−フ
ルオロエチル、アクリル酸−2−シアノエチル、メタク
リル酸−2−シアノエチル、スチレン、α−メチルスチ
レン、ビニルトルエン、塩化ビニル、酢酸ビニル、N−
ビニルピロリドン、ブタジエン、イソプレン、クロロプ
レン、アクリロニトリル、メタクリロニトリル等が挙げ
られる。これらは単独で又は二種類以上を組み合わせて
使用することができる。
【0031】上記の、(C″)少なくとも1個のエチレ
ン性不飽和基と、オキシラン環、イソシアネート基、水
酸基、カルボキシル基、アミノ基、酸無水物等の1個の
官能基を有する化合物としては、例えば、グリシジルア
クリレート、グリシジルメタクリレート、アリルグリシ
ジルエーテル、α−エチルアクリルグリシジル、クロト
ニルグリシジルエーテル、クロトン酸グリシジル、イソ
クロトン酸グリシジル、イソシアン酸エチルメタクリレ
ート、アクリル酸−2−ヒドロキシエチル、メタクリル
酸−2−ヒドロキシエチル、アクリル酸、メタクリル
酸、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、ケイ皮酸、ア
クリルアミド、メタクリルアミド、無水マレイン酸等が
挙げられ、これらは単独で又は二種類以上を組み合わせ
て使用される。
【0032】また、その使用量としては、エチレン性不
飽和基濃度が3.0×10-4〜6.0×10-3モル/g
となるように設定することが好ましく、6.0×10-4
〜5.5×10-3モル/gとすることがより好ましく、
9×10-4〜5.0×10-3モル/gとすることが特に
好ましい。エチレン性不飽和基濃度が3.0×10-4
ル/g未満では、接着層の強度が低下する傾向があり、
6.0×10-3モル/gを超えると側鎖にエチレン性不
飽和基を有する放射線重合性共重合体を製造する際にゲ
ル化を起こす傾向がある。
【0033】ここでエチレン性不飽和基濃度とは、
(C)側鎖にエチレン性不飽和基を有する放射線重合性
共重合体1gの中に含有されるエチレン性不飽和基のモ
ル数を示し、以下の式で求められる値である。
【0034】
【数1】 (式中、(C″)xは(C″)成分のモル数を示し、ax
(C″)x成分1分子が有するエチレン性不飽和基の数を
示す)
【0035】本発明における(C)側鎖にエチレン性不
飽和基を有する放射線重合性共重合体の重量平均分子量
は、1000〜50万が好ましく、5000〜30万が
より好ましい。重量平均分子量が1000未満でも50
万を超えても作業性が低下する傾向がある。
【0036】また、本発明の接着シートを形成する粘接
着層には、さらに硬化促進剤を添加することもできる。
硬化促進剤としては、特に制限はなく、例えば、イミダ
ゾール類等が挙げられる。具体的には、例えば、2−メ
チルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾー
ル、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1
−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリ
テート等が挙げられ、これらは単独で又は二種類以上を
組み合わせて使用することができる。
【0037】硬化促進剤の添加量は、(A)エポキシ樹
脂及びエポキシ硬化剤100質量部に対して0.1〜5
質量部が好ましく、0.2〜3質量部がより好ましい。
添加量が0.1質量部未満であると硬化性が劣る傾向が
あり、5質量部を超えると保存安定性が低下する傾向が
ある。
【0038】また、本発明の接着シートを形成する粘接
着層には、活性光の照射によって遊離ラジカルを生成す
る光重合開始剤を添加することもできる。このような光
重合開始剤としては、例えば、ベンゾフェノン、N,
N′−テトラメチル−4,4′−ジアミノベンゾフェノ
ン(ミヒラーケトン)、N,N′−テトラエチル−4,
4′−ジアミノベンゾフェノン、4−メトキシ−4′−
ジメチルアミノベンゾフェノン、2−ベンジル−2−ジ
メチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタ
ノン−1,2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエ
タン−1−オン、1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フ
ェニル−ケトン、2−メチル−1−(4−(メチルチ
オ)フェニル)−2−モルフォリノプロパノン−1,
2,4−ジエチルチオキサントン、2−エチルアントラ
キノン、フェナントレンキノン等の芳香族ケトン、ベン
ゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベ
ンゾインフェニルエーテル等のベンゾインエーテル、メ
チルベンゾイン、エチルベンゾイン等のベンゾイン、ベ
ンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体、2−(o
−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール
二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(m
−メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−
フルオロフェニル)−4,5−フェニルイミダゾール二
量体、2−(o−メトキシフェニル)−4,5−ジフェ
ニルイミダゾール二量体、2−(p−メトキシフェニ
ル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2,4
−ジ(p−メトキシフェニル)−5−フェニルイミダゾ
ール二量体、2−(2,4−ジメトキシフェニル)−
4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5
−トリアリールイミダゾール二量体、9−フェニルアク
リジン、1,7−ビス(9,9′−アクリジニル)ヘプ
タン等のアクリジン誘導体などが挙げられ、これらは単
独で又は二種類以上を組み合わせて使用することができ
る。
【0039】上記光重合開始剤の使用量としては、特に
制限はないが、(C)側鎖にエチレン性不飽和基を有す
る放射線重合性共重合体100質量部に対して通常0.
01〜30質量部である。
【0040】本発明の接着シートを形成する粘接着層
は、加熱硬化した段階で、貯蔵弾性率が、25℃で10
〜2000MPaであり、260℃で3〜50MPaであるこ
とが好ましい。25℃での弾性率は20〜1900MPa
がより好ましく、50〜1800MPaが特に好ましい。
また、260℃での弾性率は5〜50MPaがより好まし
く、7〜50MPaが特に好ましい。貯蔵弾性率が25℃
で2000MPa、260℃で50MPaを超えると、半導体
素子と支持部材との熱膨張係数の差によって発生する熱
応力を緩和させる効果が小さくなり、剥離やクラックを
発生する傾向がある。また、貯蔵弾性率が25℃で10
MPa未満では、接着剤の取り扱い性や接着剤層の厚み精
度が悪くなる傾向があり、260℃で3MPa未満では、
リフロークラックを発生し易くなる傾向がある。
【0041】上記貯蔵弾性率は、例えば、動的粘弾性測
定装置(レオロジ社製 DVE−V4)を使用し、接着
剤硬化物に引張り荷重をかけて、周波数10Hz、昇温速
度5〜10℃/minで−50℃から300℃まで測定する
温度依存性測定モードで行うこと等によって測定するこ
とができる
【0042】本発明の接着シートを形成する粘接着層に
は、可とう性や耐リフロークラック性を向上させる目的
で、エポキシ樹脂と相溶性がある高分子量樹脂を添加す
ることができる。このような高分子量樹脂としては、特
に制限はなく、例えば、フェノキシ樹脂、高分子量エポ
キシ樹脂、超高分子量エポキシ樹脂等が挙げられ、これ
らは単独で又は二種類以上を組み合わせて使用すること
ができる。
【0043】エポキシ樹脂と相溶性がある高分子量樹脂
の使用量は、エポキシ樹脂100質量部に対して、40
質量部以下とするのが好ましい。40質量部を超える
と、エポキシ樹脂層のTgが低下する傾向がある。
【0044】また、本発明の接着シートを形成する粘接
着層には、その取り扱い性向上、熱伝導性向上、溶融粘
度の調整及びチキソトロピック性付与等の目的のため、
無機フィラーを添加することもできる。無機フィラーと
しては、特に制限はなく、例えば、水酸化アルミニウ
ム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネ
シウム、ケイ酸カルシウム、ケイ酸マグネシウム、酸化
カルシウム、酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、窒
化アルミニウム、ほう酸アルミウイスカ、窒化ほう素、
結晶性シリカ、非晶性シリカ等が挙げられ、フィラーの
形状は特に制限されるものではない。これらのフィラー
は単独で又は二種類以上を組み合わせて使用することが
できる。
【0045】中でも、熱伝導性向上のためには、酸化ア
ルミニウム、窒化アルミニウム、窒化ほう素、結晶性シ
リカ、非晶性シリカ等が好ましい。また、溶融粘度の調
整やチキソトロピック性の付与の目的には、水酸化アル
ミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸
マグネシウム、ケイ酸カルシウム、ケイ酸マグネシウ
ム、酸化カルシウム、酸化マグネシウム、酸化アルミニ
ウム、結晶性シリカ、非晶性シリカなどが好ましい。
【0046】無機フィラーの使用量は、粘接着層100
体積部に対して1〜20体積部が好ましい。1体積部未
満だと添加効果が得られない傾向があり、20体積部を
超えると、接着剤層の貯蔵弾性率の上昇、接着性の低
下、ボイド残存による電気特性の低下等の問題を起こす
傾向がある。
【0047】また、本発明の接着シートを形成する粘接
着層には、異種材料間の界面結合を良くするために、各
種カップリング剤を添加することもできる。カップリン
グ剤としては、例えば、シラン系、チタン系、アルミニ
ウム系等が挙げられ、中でも効果が高い点でシラン系カ
ップリング剤が好ましい。
【0048】上記シラン系カップリング剤としては、特
に制限はなく、例えば、ビニルトリクロルシラン、ビニ
ルトリス(β−メトキシエトキシ)シラン、ビニルトリ
エトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、γ−メタ
クリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メタクリ
ロキシプロピルメチルジメトキシシラン、β−(3,4
−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラ
ン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ
−グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、γ−
グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、N−β
(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリメトキシシラ
ン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルメチル
ジメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシ
ラン、N‐フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシ
シラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、
γ−メルカプトプロピルトリエトキシシラン、3−アミ
ノプロピルメチルジエトキシシラン、3−ウレイドプロ
ピルトリエトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリメ
トキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラ
ン、3−アミノプロピル−トリス(2−メトキシ−エト
キシ−エトキシ)シラン、N−メチル−3−アミノプロ
ピルトリメトキシシラン、トリアミノプロピルトリメト
キシシラン、3−4,5−ジヒドロイミダゾール−1−
イル−プロピルトリメトキシシラン、3−メタクリロキ
シプロピル−トリメトキシシラン、3−メルカプトプロ
ピルメチルジメトキシシラン、3−クロロプロピルメチ
ルジメトキシシラン、3−クロロプロピルジメトキシシ
ラン、3−シアノプロピルトリエトキシシラン、ヘキサ
メチルジシラザン、N,O−ビス(トリメチルシリル)
アセトアミド、メチルトリメトキシシラン、メチルトリ
エトキシシラン、エチルトリクロロシラン、n−プロピ
ルトリメトキシシラン、イソブチルトリメトキシシラ
ン、アミルトリクロロシラン、オクチルトリエトキシシ
ラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエト
キシシラン、メチルトリ(メタクリロイルオキエトキ
シ)シラン、メチルトリ(グリシジルオキシ)シラン、
N−β(N−ビニルベンジルアミノエチル)−γ−アミ
ノプロピルトリメトキシシラン、オクタデシルジメチル
〔3−(トリメトキシシリル)プロピル〕アンモニウム
クロライド、γ−クロロプロピルメチルジクロロシラ
ン、γ−クロロプロピルメチルジメトキシシラン、γ−
クロロプロピルメチルジエトキシシラン、トリメチルシ
リルイソシアネート、ジメチルシリルイソシアネート、
メチルシリルトリイソシアネート、ビニルシリルトリイ
ソシアネート、フェニルシリルトリイソシアネート、テ
トライソシアネートシラン、エトキシシランイソシアネ
ート等が挙げられ、これらは単独で又は二種類以上を組
み合わせて使用することができる。
【0049】また、チタン系カップリング剤としては、
例えば、イソプロピルトリオクタノイルチタネート、イ
ソプロピルジメタクリルイソステアロイルチタネート、
イソプロピルトリドデシルベンゼンスルホニルチタネー
ト、イソプロピルイソステアロイルジアクリルチタネー
ト、イソプロピルトリ(ジオクチルホスフェート)チタ
ネート、イソプロピルトリクミルフェニルチタネート、
イソプロピルトリス(ジオクチルパイロホスフェート)
チタネート、イソプロピルトリス(n−アミノエチル)
チタネート、テトライソプロピルビス(ジオクチルホス
ファイト)チタネート、テトラオクチルビス(ジトリデ
シルホスファイト)チタネート、テトラ(2,2−ジア
リルオキシメチル−1−ブチル)ビス(ジトリデシル)
ホスファイトチタネート、ジクミルフェニルオキシアセ
テートチタネート、ビス(ジオクチルパイロホスフェー
ト)オキシアセテートチタネート、テトライソプロピル
チタネート、テトラノルマルブチルチタネート、ブチル
チタネートダイマー、テトラ(2−エチルヘキシル)チ
タネート、チタンアセチルアセトネート、ポリチタンア
エチルアセトネート、チタンオクチレングリコレート、
チタンラクテートアンモニウム塩、チタンラクテート、
チタンラクテートエチルエステル、チタンチリエタノー
ルアミネート、ポリヒドロキシチタンステアレート、テ
トラメチルオルソチタネート、テトラエチルオルソチタ
ネート、テタラプロピルオルソチタネート、テトライソ
ブチルオルソチタネート、ステアリルチタネート、クレ
シルチタネートモノマー、クレシルチタネートポリマ
ー、ジイソプロポキシ−ビス(2,4−ペンタジオネー
ト)チタニウム(IV)、ジイソプロピル−ビス−トリ
エタノールアミノチタネート、オクチレングリコールチ
タネート、テトラ−n−ブトキシチタンポリマー、トリ
−n−ブトキシチタンモノステアレートポリマー、トリ
−n−ブトキシチタンモノステアレート等が挙げられ、
これらは単独で又は二種類以上を組み合わせて使用する
ことができる。
【0050】アルミニウム系カップリング剤としては、
例えば、エチルアセトアセテートアルミニウムジイソプ
ロピレート、アルミニウムトイス(エチルアセトアセテ
ート)、アルキルアセトアセテートアルミニウムジイソ
プロピレート、アルミニウムモノアセチルアセテートビ
ス(エチルアセトアセテート)、アルミニウムトリス
(アセチルアセトネート)、アルミニウム=モノイソプ
ロポキシモノオレオキシエチルアセトアセテート、アル
ミニウム−ジ−n−ブトキシドモノエチルアセトアセテ
ート、アルミニウム−ジ−iso−プロポキシド−モノエ
チルアセトアセテート等のアルミニウムキレート化合
物、アルミニウムイソプロピレート、モノ−sec−ブト
キシアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウム−
sec−ブチレート、アルミニウムエチレート等のアルミ
ニウムアルコレートなどが挙げられ、これらは単独で又
は二種類以上を組み合わせて使用することができる。
【0051】上記カップリング剤の使用量は、その効果
や耐熱性及びコストの面から、(A)エポキシ樹脂及び
エポキシ樹脂硬化剤100質量部に対し、0.1〜10
質量部とするのが好ましい。
【0052】本発明の接着シートを形成する粘接着層に
は、イオン性不純物を吸着して、吸湿時の絶縁信頼性を
よくするために、さらにイオン捕捉剤を添加することも
できる。このようなイオン捕捉剤としては、特に制限は
なく、例えば、トリアジンチオール化合物、ビスフェノ
ール系還元剤等の、銅がイオン化して溶け出すのを防止
するため銅害防止剤として知られる化合物、ジルコニウ
ム系、アンチモンビスマス系マグネシウムアルミニウム
化合物等の無機イオン吸着剤などが挙げられる。
【0053】上記イオン捕捉剤の使用量は、添加による
効果や耐熱性、コスト等の点から、(A)エポキシ樹脂
及びエポキシ樹脂硬化剤100質量部に対し1〜10質
量部が好ましい。
【0054】本発明の接着シートは、接着シートを形成
する組成物を溶剤に溶解又は分散してワニスとし、基材
フィルム上に塗布、加熱し溶剤を除去することによって
得ることができる。
【0055】本発明の接着シートに用いる基材として
は、例えば、ポリテトラフルオロエチレンフィルム、ポ
リエチレンテレフタレートフィルム、ポイエチレンフィ
ルム、ポリプロピレンフィルム、ポリメチルペンテンフ
ィルム、ポリイミドフィルムなどのプラスチックフィル
ム等が挙げられ、これらプラスチックフィルムは表面を
離型処理して使用することもできる。
【0056】上記溶剤としては、特に制限は無いが、フ
ィルム作製時の揮発性等を考慮し、例えば、メチルエチ
ルケトン、アセトン、メチルイソブチルケトン、2−エ
トキシエタノール、トルエン、キシレン、ブチルセルソ
ルブ、メタノール、エタノール、2−メトキシエタノー
ル等の比較的低沸点の溶媒を使用することが好ましい。
また、塗膜性を向上させるなどの目的で、例えば、ジメ
チルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、N−メチル
ピロリドン、シクロヘキサノン等比較的高沸点の溶媒な
どを使用することもでき、これらの溶媒は単独で又は二
種類以上を組み合わせて使用することができる。
【0057】無機フィラーを添加した際のワニスの製造
には、無機フィラーの分散性を考慮して、らいかい機、
3本ロール、ボールミル及びビーズミルなどを使用する
のが好ましく、また、これらを組み合わせて使用するこ
ともできる。また、無機フィラーと低分子量の原料をあ
らかじめ混合した後、高分子量の原料を配合することに
よって、混合する時間を短縮することもできる。また、
ワニスとした後、真空脱気等によってワニス中の気泡を
除去することもできる。
【0058】基材フィルムへのワニスの塗布方法として
は、公知の方法を用いることができ、例えば、ナイフコ
ート法、ロールコート法、スプレーコート法、グラビア
コート法、バーコート法、カーテンコート法等が挙げら
れる。
【0059】接着シートの厚みは、特に制限はないが、
粘接着層、基材ともに5〜250μmが好ましい。5μ
mより薄いと応力緩和効果が乏しくなる傾向があり、2
50μmより厚いと経済的でなくなる上に、半導体装置
の小型化の要求に応えられない。
【0060】また、本発明の接着シートは、所望の厚さ
を得るために、接着シートの粘接着層側に、別途作成し
た粘接着剤を2枚以上貼り合わせることもできる。この
場合には、粘接着剤層同士の剥離が発生しないような貼
り合わせ条件が必要である。
【0061】以上、説明したような構成の接着シートに
放射線を照射すると、放射線照射後には基材の接着力は
大きく低下し、容易に半導体素子に接着層を保持したま
ま該接着シートの基材フィルムからピックアップするこ
とができる。
【0062】以下、本発明に係る接着シートの使用方法
について説明する。接着シート上にダイシング加工すべ
き半導体ウェハを室温又は加熱しながら圧着し、ダイシ
ング、洗浄、乾燥の工程が加えられる。この際、半導体
素子は接着シートに充分に接着保持されているので、上
記各工程の間に半導体素子が脱落することはない。
【0063】次に、紫外線(UV)又は電子線(EB)
等の放射線を接着シートに照射し、放射線重合性を有す
る接着シートを重合硬化せしめる。この結果、放射線重
合性を有する接着シートと該接着シートの基材フィルム
との間の粘着力は、半導体素子をピックアップできる程
度に減少し、さらにエキスパンド性を持たせることによ
って容易に所望の半導体素子間隔が得られピックアップ
が容易になる。
【0064】接着シートへの放射線照射は、放射線重合
性を有する接着シート面から行う。放射線としてEBを
用いる場合には接着シートの基材フィルムは光透過性で
ある必要はないが、放射線としてUVを用いる場合には
接着シートの基材フィルムは光透過性である必要があ
る。
【0065】エキスパンディング工程後、半導体素子を
放射線硬化後の接着シートとともにピックアップし、支
持部材に室温又は加熱しながら圧着し加熱する。加熱に
よって接着シートは信頼性に耐える接着力を発現し、半
導体素子と支持部材の接着が完了する。
【0066】
【実施例】以下、本発明を実施例により詳細に説明する
が、本発明はこれらに限定されるものではない。
【0067】(製造例1)攪拌機、冷却管及び窒素導入
管を備えた四ツ口フラスコに、表1に示す(1)を入
れ、窒素ガス雰囲気下で80℃に昇温し、反応温度を8
0℃±2℃に保ちながら、表1に示す(2)を4時間か
けて攪拌しながら滴下した。(2)の滴下後、80℃±
2℃で6時間攪拌を続けた後、表1に示す(3)を添加
した。その後、反応系を100℃に昇温し、0.5時間
かけて表1に示す(4)を滴下した。(4)の滴下後、
100℃で20時間攪拌を続けた後、室温に冷却して、
重量平均分子量が25,000、ガラス転移温度が約1
0℃である、側鎖にエチレン性不飽和基を有する放射線
重合性共重合体(c−1)を得た。
【0068】(製造例2)製造例1において、表1に示
すように各種配合を変化させた以外は製造例1と全く同
様の反応を行い、重量平均分子量が28,000、ガラ
ス転移温度が約5℃の側鎖にエチレン性不飽和基を有す
る放射線重合性共重合体(c−2)を得た。
【0069】
【表1】
【0070】(実施例1)YDCN−703(東都化成
(株)製商品名、o−クレゾールノボラック型エポキシ樹
脂、エポキシ当量210)42.3質量部、プライオー
フェンLF2882(大日本インキ化学工業(株)製商品
名、ビスフェノールAノボラック樹脂)23.9質量
部、HTR−860P−3(帝国化学産業(株)製商品
名、エポキシ基含有アクリルゴム、重量平均分子量10
0万、Tg−7℃)44.1質量部、キュアゾール2P
Z−CN(四国化成工業(株)製商品名、1−シアノエチ
ル−2−フェニルイミダゾール)0.4質量部、NUC
A−187(日本ユニカー(株)製商品名、γ−グリシ
ドキシプロピルトリメトキシシラン)0.7質量部、製
造例1で得られた側鎖にエチレン性不飽和基を有する放
射線重合性共重合体(c−1)22.05質量部及び1
−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン 0.5質
量部からなる組成物に、メチルエチルケトンを加えて攪
拌混合し、真空脱気した。この接着剤ワニスを、厚さ5
0μmのポリエチレンテレフタレートフィルム上に塗布
し、140℃で5分間加熱乾燥して、支持体フィルムを
備えた膜厚が50μmの接着シート(支持体フィルムを
除いた接着シートの厚みが50μm)(接着シート1)
を作製した。
【0071】この接着シート1の粘接着層を170℃1
時間硬化させた場合の貯蔵弾性率を動的粘弾性測定装置
(レオロジ社製、DVE−V4)を用いて測定(サンプ
ルサイズ:長さ20mm、幅4mm、膜厚80μm、昇温速
度5℃/min、引張りモード、10Hz、自動静荷重)した
結果、25℃で360MPa、260℃で4MPaであった。
【0072】得られた接着シート1を用いて、半導体チ
ップと厚み25μmのポリイミドフィルムを基材に用い
た配線基板とを接着シートで貼り合せた半導体装置サン
プル(片面にはんだボールを形成)を作製し、耐熱性及
び耐湿性を調べた。耐熱性の評価方法には、耐リフロー
クラック性と温度サイクル試験を適用した。
【0073】耐リフロークラック性の評価は、サンプル
表面の最高温度が240℃でこの温度を20秒間保持す
るように温度設定したIRリフロー炉にサンプルを通
し、室温で放置することにより冷却する処理を2回繰り
返したサンプル中のクラックを目視と超音波顕微鏡で観
察した。クラックの発生していないものを○とし、発生
していたものを×とした。
【0074】耐温度サイクル性は、サンプルを−55℃
雰囲気に30分間放置し、その後125℃の雰囲気に3
0分間放置する工程を1サイクルとして、1000サイ
クル後において超音波顕微鏡を用いて剥離やクラック等
の破壊が発生していないものを○、発生したものを×と
した。
【0075】耐湿性評価は、温度121℃、湿度100
%、2.03×105Paの雰囲気(プレッシャークッカ
−テスト:PCT処理)で72時間処理後に剥離を観察
することにより行った。剥離の認められなかったものを
○とし、剥離のあったものを×とした。
【0076】一方、接着シート1を厚さ150μmのシ
リコンウェハ上に貼付け、接着シート付きシリコンウェ
ハをダイシング装置上に載置した。次いで、半導体ウェ
ハをダイシング装置上に固定して5mm×5mmにダイシン
グし、ピックアップ装置にてダイシングしたチップをピ
ックアップした。ダイシング性及びピックアップ性の評
価結果を、上記耐熱性及び耐湿性評価結果とまとめて表
2に示す。
【0077】(実施例2)実施例1において、側鎖にエ
チレン性不飽和基を有する放射線重合性共重合体(c−
1)を(c−2)にした以外は実施例1と全く同様の操
作を行い、170℃1時間硬化させた場合の貯蔵弾性率
が、25℃で350MPa、260℃で2MPaである(接着
シート2)を得た。得られた接着シートを実施例と同様
の条件で評価した結果を表2に示す。
【0078】(比較例1)実施例1において、側鎖にエ
チレン性不飽和基を有する放射線重合性共重合体(c−
1)及び1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン
を除いた以外は実施例1と全く同様の操作を行い、17
0℃1時間硬化させた場合の貯蔵弾性率が、25℃で3
80MPa、260℃で5MPaである(接着シート3)を得
た。得られた接着シートを実施例と同様の条件で評価し
た結果を表2に示す。
【0079】(比較例2)実施例1において、側鎖にエ
チレン性不飽和基を有する放射線重合性共重合体(c−
1)を4G(新中村化学(株)製商品名、テトラエチレン
グリコールジメタクリレート)にした以外は実施例1と
全く同様の操作を行い、170℃1時間硬化させた場合
の貯蔵弾性率が、25℃で250MPa、260℃で1MPa
である(接着シート4)を得た。得られた接着シートを
実施例と同様の条件で評価した結果を表2に示す。
【0080】
【表2】
【0081】表2から、本発明の接着シートは耐熱性及
び耐湿性に優れ、ダイシング時のチップ飛びも無く、ピ
ックアップ性も良好である。
【0082】
【発明の効果】請求項1及び2記載の接着シートは、ダ
イシング工程ではダイシングテープとして、半導体素子
と支持部材の接合工程では接続信頼性に優れる接着剤と
して使用することができ、また、半導体搭載用支持部材
に熱膨張係数の差が大きい半導体素子を実装する場合に
必要な耐熱性、耐湿性を有し、作業性に優れるものであ
る。請求項3記載の接着シートは、請求項1記載の発明
の効果を奏し、より耐熱性に優れるものである。
【0083】請求項4記載の接着シートは、請求項1又
は2記載の発明の効果を奏し、より耐熱性及び耐湿性に
優れるものである。請求項5記載の接着シートは、請求
項1、2又は3記載の発明の効果を奏し、より作業性、
耐熱性及び耐湿性に優れるものである。請求項6記載の
接着シートは、請求項1〜4記載の発明の効果を奏し、
さらに耐温度サイクル試験性に優れるものである。請求
項7記載の接着シートは、請求項1〜5記載の発明の効
果を奏し、より作業性に優れるものである。
【0084】請求項8記載の接着シートの使用方法は、
半導体装置の製造工程を簡略化できるものである。請求
項9記載の半導体装置は、耐熱性、耐湿性に優れたもの
である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/52 H01L 21/52 E 21/301 21/78 M Fターム(参考) 4J004 AA02 AA13 AB04 AB06 FA05 4J036 AA01 AK11 DA01 FB01 FB03 FB04 4J040 EC001 EC232 FA222 JA09 JB02 JB07 KA16 LA01 5F047 AA11 AA13 AA17 BA34 BB03 BB19

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)エポキシ樹脂及びエポキシ樹脂硬
    化剤、(B)官能基を含む重量平均分子量が10万以上
    である高分子量成分及び(C)側鎖にエチレン性不飽和
    基を有する放射線重合性共重合体を含有してなる粘接着
    層と、基材層とを有してなる熱重合性及び放射線重合性
    の接着シート。
  2. 【請求項2】 上記粘接着層が、(A)エポキシ樹脂及
    びエポキシ樹脂硬化剤100質量部、(B)官能基を含
    む重量平均分子量が10万以上である高分子量成分10
    〜400質量部、(C)側鎖にエチレン性不飽和基を有
    する放射線重合性共重合体5〜400質量部含有してな
    る粘接着層である請求項1記載の接着シート。
  3. 【請求項3】 (B)官能基を含む重量平均分子量が1
    0万以上である高分子量成分が、エポキシ樹脂と非相溶
    である請求項1又は2記載の接着シート。
  4. 【請求項4】 (B)官能基を含む重量平均分子量が1
    0万以上である高分子量成分が、原料としてグリシジル
    アクリレート又はグリシジルメタクリレートを0.5〜
    6質量%使用して得られ、かつ重量平均分子量が10万
    以上のエポキシ基含有アクリル共重合体である請求項
    1、2又は3記載の接着シート。
  5. 【請求項5】 (C)側鎖にエチレン性不飽和基を有す
    る放射線重合性共重合体が、官能基を含むビニル共重合
    体に少なくとも1個のエチレン性不飽和基と、オキシラ
    ン環、イソシアネート基、水酸基、カルボキシル基、ア
    ミノ基、酸無水物からなる群より選ばれる1個の官能基
    を有する化合物とを付加反応させて得られるものである
    請求項1〜4の記載の接着シート。
  6. 【請求項6】 粘接着層が、加熱硬化した後の段階で、
    動的粘弾性測定装置を用いて測定した貯蔵弾性率が、2
    5℃で10〜2000MPaかつ260℃で3〜50MPaで
    ある請求項1〜5のいずれかに記載の接着シート。
  7. 【請求項7】 放射線照射することで粘接着層と基材と
    の間の接着力を制御できる請求項1〜6のいずれかに記
    載の接着シート。
  8. 【請求項8】 (I)請求項1〜7のいずれかに記載の
    接着シートを、その粘接着層を介して半導体ウェハに貼
    り付ける工程、(II)該接着シートに放射線を照射して
    粘接着層を硬化させ、基材を剥離する工程、(III)半
    導体ウェハをダイシングして、粘接着層付き半導体素子
    を得る工程、(IV)粘接着層付き半導体素子と半導体素
    子搭載用の支持部材とを、該接着シートを介して接着す
    る工程、を含むことを特徴とする接着シートの使用方
    法。
  9. 【請求項9】 請求項1〜7のいずれかに記載の接着シ
    ートを用いて又は請求項8記載の接着シートの使用方法
    によって、半導体素子と支持部材とを接着した構造を含
    有してなる半導体装置。
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