JP2002204049A - Transfer material and its manufacturing method as well as wiring board manufactured by using the same - Google Patents

Transfer material and its manufacturing method as well as wiring board manufactured by using the same

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JP2002204049A
JP2002204049A JP2001026786A JP2001026786A JP2002204049A JP 2002204049 A JP2002204049 A JP 2002204049A JP 2001026786 A JP2001026786 A JP 2001026786A JP 2001026786 A JP2001026786 A JP 2001026786A JP 2002204049 A JP2002204049 A JP 2002204049A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a transfer material capable of surely and easily transferring a fine wiring pattern and a component pattern to a board. SOLUTION: The transfer material comprises a first metal layer 101 as a carrier, a second metal layer 103 to be transferred to the board as the wiring pattern, and a release layer 102 for releasably laminating the first and second metal layers of at least three layers. A ruggedness corresponding to the wiring pattern is formed on a surface layer of the layer 101, and the layer 102 and the layer 103 are formed on the protruding region.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、微細な配線パター
ンを回路部品を基板に転写するための転写材とその製造
方法に関するものであり、また、前記転写材を用いて配
線パターンや回路部品が形成された配線基板とその製造
方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer material for transferring a fine wiring pattern to a circuit component on a substrate and a method of manufacturing the transfer material. The present invention relates to a formed wiring board and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の高性能化、小型化の要
求に伴い、半導体のさらなる高密度、高機能化が要請さ
れている。このため、前記半導体を実装するための回路
基板も、さらに小型高密度なものが必要とされている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the demand for higher performance and smaller size of electronic equipment, higher density and higher function of semiconductors have been demanded. For this reason, a smaller and higher-density circuit board for mounting the semiconductor is required.

【0003】これらの要求に対し、例えば、大規模集積
回路(LSI)間や実装部品間の電気配線を最短距離で
接続できる、基板層間の電気接続方式であるインナビア
ホール(IVH)接続法が、最も高密度な配線が可能で
あることから、各方面で開発が進められている。
In response to these demands, for example, an inner via hole (IVH) connection method, which is an electric connection method between substrate layers, capable of connecting electric wiring between large-scale integrated circuits (LSI) and between mounted components in the shortest distance, Since the highest density wiring is possible, development is proceeding in various fields.

【0004】一般に、このようなIVH構成の配線基板
としては、例えば、多層セラミック配線基板、ビルドア
ップ法による多層プリント配線基板、樹脂と無機フィラ
ーとの混合物からなる多層コンポジット配線基板等があ
げられる。
In general, examples of the wiring board having such an IVH structure include a multilayer ceramic wiring board, a multilayer printed wiring board by a build-up method, and a multilayer composite wiring board made of a mixture of a resin and an inorganic filler.

【0005】前記多層セラミック配線基板は、例えば、
以下に示すようにして作製できる。まず、アルミナ等の
セラミック粉末、有機バインダおよび可塑剤からなるグ
リーンシートを複数枚準備する。そして、前記各グリー
ンシートにビアホールを設け、前記ビアホールに導電性
ペーストを充填する。その後、このグリーンシートに配
線パターン印刷を行い、前記各グリーンシートを積層す
る。そして、この積層体を、脱バインダおよび焼成する
ことにより、前記多層セラミック配線基板を作製でき
る。このような多層セラミック配線基板は、IVH構造
を有するため、極めて高密度な配線パターンを形成で
き、電子機器の小型化等に最適である。
[0005] The multilayer ceramic wiring board is, for example,
It can be manufactured as shown below. First, a plurality of green sheets made of ceramic powder such as alumina, an organic binder, and a plasticizer are prepared. Then, a via hole is provided in each of the green sheets, and the via hole is filled with a conductive paste. Then, a wiring pattern is printed on the green sheets, and the green sheets are laminated. Then, the multilayer ceramic wiring board can be manufactured by removing the binder and firing the laminate. Since such a multilayer ceramic wiring board has an IVH structure, an extremely high-density wiring pattern can be formed, and is most suitable for miniaturization of electronic devices and the like.

【0006】また、この多層セラミック配線基板の構造
を模した、前記ビルドアップ法によるプリント配線基板
も各方面で開発されている。例えば、特開平9−116
267号公報、特開平9−51168号公報等には、従
来の一般的なビルドアップ法が開示されている。この方
法では、従来から使用されているガラス−エポキシ基板
をコアとし、この基板表面に感光性絶縁層を形成した
後、フォトリソグラフィー法でビアホールを設け、さら
にこの全面に銅メッキを施し、前記銅メッキを化学エッ
チングして配線パターンを形成する方法が開示されてい
る。
[0006] Printed wiring boards, which simulate the structure of the multilayer ceramic wiring board, by the build-up method have been developed in various fields. For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 9-116
No. 267, Japanese Unexamined Patent Publication No. 9-51168 and the like disclose a conventional general build-up method. In this method, a conventionally used glass-epoxy substrate is used as a core, a photosensitive insulating layer is formed on the surface of the substrate, a via hole is provided by a photolithography method, and copper plating is performed on the entire surface, and the copper A method for forming a wiring pattern by chemically etching plating is disclosed.

【0007】また、特開平9−326562号公報に
は、前記ビルドアップ法と同様に、前記フォトリソグラ
フィー法により加工したビアホールに、導電性ペースト
を充填する方法が開示されている。特開平9−3655
1号公報、特開平10−51139号公報等には、絶縁
性硬質基材の一表面に導体回路を、他方表面に接着剤層
をそれぞれ形成し、これに貫通孔を設けて、導電性ペー
ストを充填した後、複数の基材を重ねて積層する多層化
方法が開示されている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-326562 discloses a method of filling a via hole processed by the photolithography method with a conductive paste as in the build-up method. JP-A-9-3655
No. 1, JP-A-10-51139, and the like, a conductive circuit is formed on one surface of an insulative hard base material, and an adhesive layer is formed on the other surface, and a through-hole is formed in the conductive paste. And then stacking and stacking a plurality of base materials.

【0008】また、特許第2601128号、特許第2
603053号、特許第2587596号は、アラミド
−エポキシプリプレグにレーザ加工により貫通孔を設
け、ここに導電性ペーストを充填した後、銅箔を積層し
てパターニングを行い、この基板をコアーとして、導電
性ペーストを充填したプリプレグでさらに挟み多層化す
る方法である。
Further, Japanese Patent No. 26001128 and Patent No. 2
No. 603053 and Japanese Patent No. 2587596 disclose that aramid-epoxy prepreg is provided with a through hole by laser processing, filled with a conductive paste, laminated with copper foil and patterned, and the substrate is used as a core to form a conductive layer. This is a method of further sandwiching between prepregs filled with paste to form a multilayer.

【0009】以上のように、例えば、樹脂系プリント配
線基板をIVH接続させれば、前記多層セラミック配線
基板と同様に、必要な各層間のみの電気的接続が可能で
あり、さらに、配線基板の最上層に貫通孔がないため、
より実装性にも優れる。
As described above, for example, if the resin-based printed wiring board is connected by IVH, the electrical connection between only the necessary layers can be performed similarly to the multilayer ceramic wiring board. Since there is no through hole in the top layer,
Excellent mountability.

【0010】しかしながら、このようなIVH構造を有
する高密度実装の樹脂系プリント配線基板は、一般に熱
伝導度が低く、部品の実装が高密度になるに従って、前
記部品から発生する熱を放熱させることは困難となる。
However, such a resin-based printed wiring board having a high-density mounting having an IVH structure generally has low thermal conductivity, and dissipates heat generated from the component as the mounting density of the component increases. Will be difficult.

【0011】また、2000年には、CPUのクロック
周波数が、1GHz程度になり、その機能の高度化に伴
い、CPUの消費電力も、1チップ当たり100〜15
0Wに達すると推測される。
Further, in 2000, the clock frequency of the CPU became about 1 GHz, and the power consumption of the CPU became 100 to 15 per chip with the advance of its function.
It is estimated to reach 0W.

【0012】一般的に、熱伝導性に優れたセラミック配
線基板は放熱性に優れるが、比較的高価であること、携
帯端末に用いる基板やモジュールに適用する場合、耐落
下性に難があること等の問題点がある。
In general, a ceramic wiring board having excellent thermal conductivity is excellent in heat dissipation, but is relatively expensive, and has difficulty in drop resistance when applied to a board or module used in a portable terminal. And so on.

【0013】そこで、樹脂系プリント配線基板が熱伝導
性に課題を有すること等を補完する目的や、樹脂多層基
板にコンデンサを形成することを目的として、樹脂系プ
リント配線基板とセラミック基板とを積層した構造が、
特許第3063427号公報または特開平7−1428
67号公報で提案されている。
Therefore, the resin-based printed wiring board and the ceramic substrate are laminated for the purpose of complementing that the resin-based printed wiring board has a problem in thermal conductivity and for the purpose of forming a capacitor on the resin multilayer board. The structure
Japanese Patent No. 3063427 or JP-A-7-1428
No. 67 proposes this.

【0014】また、基材そのものの熱伝導性を高めるた
めに、多層コンポジット配線基板が、特開平9−270
584号公報、特開平8−125291号公報、特開平
8−288596号公報、特開平10−173097号
公報等に提案されている。この多層コンポジット配線基
板は、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂と、熱伝導性に優
れる無機フィラー(例えば、セラミック粉末等)とを混
合し、複合化させた基板である。この基板は、前記無機
フィラーを高濃度に含有することが可能なため、熱伝導
性を向上できる。また、前記無機フィラーの種類を選択
することにより、例えば、誘電率、熱膨張係数等を任意
に制御することが可能である。
In order to enhance the thermal conductivity of the substrate itself, a multilayer composite wiring board is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-270.
584, JP-A-8-125291, JP-A-8-288596, JP-A-10-173097, and the like. This multilayer composite wiring board is a board obtained by mixing a thermosetting resin such as an epoxy resin and an inorganic filler (for example, ceramic powder or the like) having excellent thermal conductivity to form a composite. Since this substrate can contain the inorganic filler in a high concentration, the thermal conductivity can be improved. Further, by selecting the type of the inorganic filler, for example, it is possible to arbitrarily control the dielectric constant, the coefficient of thermal expansion, and the like.

【0015】一方、基板の高密度実装を進める上で、重
要なのが微細な配線パターンの形成である。前記多層セ
ラミック配線基板において、配線パターンの形成には、
例えば、セラミック基板に厚膜導電性ペーストをスクリ
ーン印刷し、焼成により焼き固める方法が一般的に利用
されている。しかし、このスクリーン印刷法では、10
0μm以下の線幅である配線パターンを量産することは
困難であると言われている。
On the other hand, formation of a fine wiring pattern is important in promoting high-density mounting of a substrate. In the multilayer ceramic wiring board, in forming the wiring pattern,
For example, a method of screen-printing a thick-film conductive paste on a ceramic substrate and baking it by baking is generally used. However, in this screen printing method, 10
It is said that it is difficult to mass-produce a wiring pattern having a line width of 0 μm or less.

【0016】また、通常のプリント配線基板において
は、例えば、サブトラクティブ法により配線パターンを
形成する方法が一般的である。このサブトラクティブ法
では、厚み18〜35μm程度の銅箔を、化学エッチン
グすることにより、基板に配線パターンを形成するが、
この方法でも75μm以下の線幅である配線パターンを
量産することは困難であると言われており、前記配線パ
ターンをさらに微細化するためには、前記銅箔を薄くす
る必要がある。
In a normal printed wiring board, for example, a method of forming a wiring pattern by a subtractive method is general. In this subtractive method, a wiring pattern is formed on a substrate by chemically etching a copper foil having a thickness of about 18 to 35 μm.
It is said that even with this method, it is difficult to mass-produce a wiring pattern having a line width of 75 μm or less, and it is necessary to make the copper foil thinner in order to further miniaturize the wiring pattern.

【0017】また、前記サブトラクティブ法によれば、
基板表面に配線パターンが飛出した構造となるため、半
導体に形成したバンプ上に、電気接続のための半田や導
電性接着剤等を乗せ難く、また、前記バンプが配線パタ
ーン間に移動して、ショートするおそれもある。また、
前記突出した配線パターンのため、例えば、後の工程
で、封止樹脂で封止する際の障害となるおそれもある。
According to the subtractive method,
Since the wiring pattern has a structure protruding from the substrate surface, it is difficult to put solder or conductive adhesive for electrical connection on the bumps formed on the semiconductor, and the bumps are moved between the wiring patterns. May be short-circuited. Also,
Due to the protruding wiring pattern, for example, there is a possibility that it may become an obstacle when sealing with a sealing resin in a later step.

【0018】また、前記ビルドアップ法によるプリント
配線基板においては、前記サブトラクティブ法以外に、
例えば、アディティブ法が採用される傾向にある。この
アディティブ法は、例えば、レジストを形成した基板表
面に、配線パターンを選択的にメッキする方法であり、
30μm程度の線幅である配線パターンを形成すること
ができる。しかし、この方法は、前記サブトラクティブ
法に比べ、基板に対する配線パターンの密着強度が弱い
等の問題がある。
Further, in the printed wiring board by the build-up method, in addition to the subtractive method,
For example, the additive method tends to be adopted. The additive method is, for example, a method of selectively plating a wiring pattern on a substrate surface on which a resist is formed,
A wiring pattern having a line width of about 30 μm can be formed. However, this method has a problem that the adhesion strength of the wiring pattern to the substrate is weaker than the subtractive method.

【0019】そこで、予め微細な配線パターンを形成
し、パターン検査を行った後、良品の配線パターンだけ
を、所望の基板に転写する方法が提案されている。例え
ば、米国特許5,407,511号明細書は、予めカーボン板の
表面に、微細パターンを印刷および焼成によって形成
し、これをセラミック基板に転写する方法である。ま
た、特開平10−84186号公報、特開平10−41
611号公報には、離型性支持板上に形成した銅箔から
なる配線パターンを、プリプレグに転写する方法が開示
されている。同様に、特開平11−261219号公報
には、銅箔で構成された雛型性指示板上に、ニッケルリ
ン合金剥離層を介して、銅箔からなる配線パターンを転
写する方法が開示されている。また、特開平8−330
709号公報には、配線パターンである銅箔の粗化面お
よび光沢面における接着度合いが、それぞれ異なること
を利用して、基板に転写する方法が開示されている。
Therefore, there has been proposed a method of forming a fine wiring pattern in advance, performing a pattern inspection, and then transferring only a good wiring pattern to a desired substrate. For example, US Pat. No. 5,407,511 discloses a method in which a fine pattern is previously formed on a surface of a carbon plate by printing and baking, and the fine pattern is transferred to a ceramic substrate. Also, JP-A-10-84186 and JP-A-10-41
No. 611 discloses a method of transferring a wiring pattern made of a copper foil formed on a release support plate to a prepreg. Similarly, Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-261219 discloses a method of transferring a wiring pattern made of copper foil onto a template indicating plate made of copper foil via a nickel-phosphorus alloy release layer. I have. Also, Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-330
Japanese Patent Application Laid-Open No. 709 discloses a method of transferring a copper foil as a wiring pattern to a substrate by utilizing the fact that the degree of adhesion on a roughened surface and a glossy surface of a copper foil is different.

【0020】このような転写法により転写される配線パ
ターンは、基板表面に埋め込まれ、得られる配線基板の
表面は、平坦な構造となるため、前述のように配線パタ
ーンの突出による問題は回避される。さらに、特開平1
0−190191号公報では、配線パターンを基板表面
に埋め込む際に、貫通孔に充填させた導電性ビアペース
トを前記配線パターンの厚み分圧縮する効果も開示され
ている。
The wiring pattern transferred by such a transfer method is embedded in the surface of the substrate, and the surface of the obtained wiring substrate has a flat structure. Therefore, the problem caused by the protrusion of the wiring pattern as described above is avoided. You. Further, Japanese Unexamined Patent Application Publication No.
JP-A-190191 also discloses an effect of compressing a conductive via paste filled in a through hole by the thickness of the wiring pattern when the wiring pattern is embedded in the substrate surface.

【0021】最近では、さらなる配線パターンの微細化
が求められているが、前記従来の配線パターンの転写技
術では、前記離型性支持板上に、より微細な配線パター
ンを形成することは困難である。すなわち、例えば、前
記離型性支持板に接着した銅箔をパターン形成する際、
前記銅箔の前記離型性支持板に対する接着強度が弱い
と、微細な配線パターンは化学エッチング時点で剥離し
てしまう。逆に、前記接着強度が強い場合は、前記配線
パターンを基板へ転写した後に、前記離型性支持板を剥
離する際に、配線パターンも一緒に剥離されてしまう。
また、銅箔の表面を粗化させて、銅箔の基板との接着強
度を、離型性支持板との接着強度よりも高くすることに
より、銅箔を基板へ転写する方法もあるが、この方法で
は微細な配線パターンを形成することは困難である。
Recently, further miniaturization of the wiring pattern has been demanded. However, it is difficult to form a finer wiring pattern on the releasable support plate by the conventional wiring pattern transfer technique. is there. That is, for example, when patterning a copper foil adhered to the release support plate,
If the adhesive strength of the copper foil to the releasable support plate is weak, the fine wiring pattern will peel off at the time of chemical etching. Conversely, when the adhesive strength is high, the wiring pattern is also peeled off when the release support plate is peeled off after the wiring pattern is transferred to the substrate.
There is also a method of transferring the copper foil to the substrate by roughening the surface of the copper foil and making the adhesive strength of the copper foil to the substrate higher than the adhesive strength to the release support plate. With this method, it is difficult to form a fine wiring pattern.

【0022】また、前記セラミック基板に対し、例え
ば、スクリーン印刷した導電性ペーストを焼成により焼
結させ、配線パターンを形成する方法を採用しても、前
記配線パターンの微細化には限界があり、かつ導電性粉
末を含有する導電性ペーストの焼結では、銅箔のような
金属層と異なり、電気導電性が悪く、今後の高周波数化
に対して問題となるおそれがある。
Further, even if a method of forming a wiring pattern by sintering a conductive paste screen-printed on the ceramic substrate by firing, for example, is employed, there is a limit to the miniaturization of the wiring pattern. Moreover, in the sintering of a conductive paste containing a conductive powder, unlike a metal layer such as a copper foil, the electric conductivity is poor, and there is a possibility that a problem will be caused in the future increase in frequency.

【0023】一方、銅箔等の金属箔によって配線形成さ
れたセラミック多層基板を作製することは、従来困難で
あった。これは、グリーンシート上に、グリーンシート
の性状を損ねることなく、金属箔で配線を形成すること
が困難であったためである。
On the other hand, it has been conventionally difficult to fabricate a ceramic multilayer substrate formed by wiring with a metal foil such as a copper foil. This is because it was difficult to form wiring on the green sheet with metal foil without impairing the properties of the green sheet.

【0024】また、樹脂系プリント配線基板の作製方法
を考えてみた場合、従来は順次積層を用いた積層方法が
一般的であり、プレス工程も複数回にまたがる。このた
め、確実な層間接続を実現するためには、各プレス工程
で発生する硬化収縮の補正等、煩雑な工程を避けて通る
ことはできなかった。
When considering a method of manufacturing a resin-based printed wiring board, a laminating method using sequential lamination is generally common, and the pressing step is performed a plurality of times. For this reason, in order to realize reliable interlayer connection, complicated steps such as correction of curing shrinkage generated in each pressing step could not be avoided.

【0025】さらに、樹脂系プリント配線基板が熱伝導
性に課題を有すること等を補完する目的や、樹脂多層基
板にコンデンサを形成することを目的として、樹脂系プ
リント配線基板とセラミック基板を積層した構造自体は
既に提案されている。しかし、実際には、積層工程等を
通じて主としてセラミック層に亀裂等損傷が発生してし
まい、樹脂系及びセラミック積層体を作製することは困
難であった。
Further, the resin-based printed wiring board and the ceramic substrate are laminated for the purpose of complementing the problem of the thermal conductivity of the resin-based printed wiring board or for forming a capacitor on the resin multilayer board. The structure itself has already been proposed. However, in practice, cracks such as cracks mainly occur in the ceramic layer through the laminating step and the like, and it has been difficult to produce a resin-based and ceramic laminate.

【0026】本発明は、前記従来の問題を解決するた
め、基板に微細な配線パターンを転写するための転写用
配線パターン形成材であって、基板への転写を容易かつ
確実に行うことができ、低コストである転写用配線パタ
ーン形成材を提供することを目的とする。
According to the present invention, there is provided a transfer wiring pattern forming material for transferring a fine wiring pattern to a substrate in order to solve the above-mentioned conventional problems, and the transfer to the substrate can be performed easily and reliably. It is another object of the present invention to provide a low-cost transfer wiring pattern forming material.

【0027】また、基板の高密度実装を進めるために
は、配線パターンの微細化のみならず、配線パターンに
接続される回路部品をいかにして形成し実装するかが重
要なポイントとなる。従来は、インダクタ、コンデン
サ、および抵抗等の受動部品は、一般に、基板表面に突
出した状態で実装され、基板内に埋設させることは困難
であった。このため、高密度実装に限界が生じていた。
Further, in order to advance the high-density mounting of the substrate, it is important not only to miniaturize the wiring pattern but also to how to form and mount the circuit components connected to the wiring pattern. Conventionally, passive components such as inductors, capacitors, and resistors are generally mounted so as to protrude from the substrate surface, and it has been difficult to bury them in the substrate. For this reason, there has been a limit in high-density mounting.

【0028】例えば、上述の公報等に開示された従来の
方法では、転写形成材の上に形成されたパターンは、い
ずれも銅箔等の配線部分だけである。実装密度を向上さ
せるためには、受動部品等をチップの形態で転写形成材
の上に実装する方法も提案できるが、受動部品等を基板
に埋め込む際に、配線パターンとの接続部の断線、チッ
プの位置ずれなど、様々な問題が生じている。
For example, in the conventional methods disclosed in the above-mentioned publications, the pattern formed on the transfer forming material is only a wiring portion such as a copper foil. In order to improve the mounting density, it is also possible to propose a method of mounting the passive components and the like on the transfer forming material in the form of a chip, but when embedding the passive components and the like in the substrate, disconnection of the connection portion with the wiring pattern, Various problems such as chip displacement have occurred.

【0029】そこで、本発明は、微細な配線パターンお
よび回路部品等を、回路基板に内蔵させるための転写用
部品配線パターン形成材であって、配線パターンとの接
続を確保しながら、回路部品等を正確にかつ低コストに
回路基板に実装することが可能な、転写用部品配線パタ
ーン形成材を提供することも目的とする。
Accordingly, the present invention is directed to a transfer component wiring pattern forming material for incorporating a fine wiring pattern and circuit components into a circuit board. It is another object of the present invention to provide a transfer component wiring pattern forming material that can accurately and cost-effectively be mounted on a circuit board.

【0030】さらに、本発明は、前述の転写用配線パタ
ーン形成材または転写用部品配線パターン形成材(転写
材)を用いて、配線パターンおよび回路部品が形成され
た配線基板を提供することを目的とする。
Still another object of the present invention is to provide a wiring board on which a wiring pattern and circuit components are formed by using the above-mentioned transfer wiring pattern forming material or transfer component wiring pattern forming material (transfer material). And

【0031】[0031]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の第1の構成にかかる転写材は、キャリアと
しての第1の金属層と、配線パターンとしての第2の金
属層と、前記第1の金属層と第2の金属層との間に介在
し、前記第1の金属層と第2の金属層とを剥離可能な状
態で貼り合わせる剥離層との少なくとも3層を有し、前
記第1の金属層の表層部に、前記配線パターンに対応し
た形状の凸部が形成され、前記凸部領域の上に、前記剥
離層および前記第2の金属層が形成されていることを特
徴とする。
In order to achieve the above object, a transfer material according to a first aspect of the present invention comprises a first metal layer as a carrier and a second metal layer as a wiring pattern. A release layer interposed between the first metal layer and the second metal layer, the release layer bonding the first metal layer and the second metal layer in a releasable state; A protrusion having a shape corresponding to the wiring pattern is formed on a surface portion of the first metal layer, and the release layer and the second metal layer are formed on the protrusion region. It is characterized by the following.

【0032】本発明の第2の構成にかかる転写材は、キ
ャリアとしての第1の金属層と、配線パターンとしての
第2の金属層との少なくとも2層を有し、前記第1の金
属層上に、前記第2の金属層と電気的に接続するように
印刷法により形成された回路部品を備えたことを特徴と
する。
The transfer material according to the second aspect of the present invention has at least two layers of a first metal layer as a carrier and a second metal layer as a wiring pattern. And a circuit component formed by a printing method so as to be electrically connected to the second metal layer.

【0033】前記第2の構成にかかる転写材によれば、
印刷により、インダクタ、コンデンサ、および抵抗等の
回路部品を一括して形成することが可能となる。特に、
抵抗の形成が容易である。なお、回路部品は、これらの
受動部品に限定されず、半導体チップ等の能動部品を形
成してもよい。
According to the transfer material of the second configuration,
By printing, circuit components such as an inductor, a capacitor, and a resistor can be collectively formed. In particular,
It is easy to form resistors. The circuit components are not limited to these passive components, and active components such as semiconductor chips may be formed.

【0034】また、ハンダ等を用いた回路部品の実装が
不要となるため、実装工程を簡略化することができる。
また、ハンダ接続の減少により、配線基板の信頼性を向
上させることができる。また、転写材上に回路部品を印
刷で形成することによって、部品チップをハンダ実装す
る場合と比較して、回路部品の低背化を実現することが
でき、埋め込みを伴う転写および基板への内蔵も容易に
することができる。さらに、回路部品の配置が自由にな
り、例えば内蔵コンデンサ等との配線距離を最短にし
て、高周波特性を向上させることができる。
Further, since it is not necessary to mount circuit components using solder or the like, the mounting process can be simplified.
Further, the reliability of the wiring board can be improved by reducing the solder connection. Also, by forming circuit components on the transfer material by printing, the height of the circuit components can be reduced compared to the case where component chips are mounted by soldering. Can also be easier. Further, the circuit components can be freely arranged, and, for example, the wiring distance to a built-in capacitor or the like can be minimized, and high-frequency characteristics can be improved.

【0035】また、第2の構成にかかる転写材は、転写
後、剥離されたキャリアである第1の金属層の上に、新
たな第2の金属層や配線パターンまたは部品パターンを
形成することにより、第1の金属層を再利用することが
可能であり、その配線パターンの構成も特に制限されな
い。このため、低コスト化を図ることが可能であり、工
業的にも極めて有用である。
In the transfer material according to the second configuration, after the transfer, a new second metal layer, a wiring pattern, or a component pattern is formed on the first metal layer, which is a carrier that has been peeled off. Accordingly, the first metal layer can be reused, and the configuration of the wiring pattern is not particularly limited. For this reason, cost reduction can be achieved, and it is extremely useful industrially.

【0036】また、前記目的を達成するために、本発明
の転写材の第1の製造方法は、第1の金属層上に剥離層
を形成し、前記剥離層上に第2の金属層を形成し、化学
エッチング法により、前記第2の金属層、剥離層、およ
び前記第1の金属層の表層部をエッチングすることによ
り、前記第2の金属層および前記剥離層を配線パターン
形状に形成すると共に、前記第1の金属層の表層部に、
その凸部が前記配線パターンに対応した形状の凹凸部を
形成することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a first method of manufacturing a transfer material according to the present invention comprises forming a release layer on a first metal layer, and forming a second metal layer on the release layer. Forming the second metal layer, the release layer, and the surface portion of the first metal layer by a chemical etching method, thereby forming the second metal layer and the release layer into a wiring pattern shape. And at the surface of the first metal layer,
The projection forms an uneven portion having a shape corresponding to the wiring pattern.

【0037】また、本発明の転写材の第2の製造方法
は、第1の金属層上に、第2の金属層を配線パターン形
状に形成し、前記第2の金属層に電気的に接続するよう
に、印刷にて回路部品を形成することを特徴とする。
According to a second method of manufacturing a transfer material of the present invention, a second metal layer is formed in a wiring pattern on a first metal layer, and is electrically connected to the second metal layer. In this case, the circuit component is formed by printing.

【0038】配線パターンとなる第2の金属層は、キャ
リアとなる第1の金属層に、メッキ法、蒸着法、あるい
はスパッタ法等を用いて直接形成することができる。第
2の金属層の形成時に、薄膜抵抗体を、スパッタ法等に
より同様に形成してもよい。
The second metal layer serving as a wiring pattern can be directly formed on the first metal layer serving as a carrier by using a plating method, an evaporation method, a sputtering method, or the like. When forming the second metal layer, a thin film resistor may be similarly formed by a sputtering method or the like.

【0039】さらに、本発明の転写材の第3の製造方法
は、第1の金属層上に、剥離層および第2の金属層を形
成し、前記第2の金属層および剥離層を配線パターン形
状に加工し、前記第2の金属層に電気的に接続するよう
に、印刷にて回路部品を形成することを特徴とする。
Further, in a third method of manufacturing a transfer material according to the present invention, a release layer and a second metal layer are formed on a first metal layer, and the second metal layer and the release layer are connected to a wiring pattern. It is characterized in that it is processed into a shape and a circuit component is formed by printing so as to be electrically connected to the second metal layer.

【0040】また、本発明の第1の構成にかかる配線基
板は、電気絶縁性基板と、前記第1の構成にかかる転写
材を用いた転写法により前記電気絶縁性基板の少なくと
も一主面に形成された配線パターンとを備えた配線基板
であって、前記配線パターンが、前記主面に形成された
凹部内に形成されたことを特徴とする。
Further, the wiring board according to the first configuration of the present invention is characterized in that an electrical insulating substrate and at least one principal surface of the electrical insulating substrate are transferred by a transfer method using the transfer material according to the first configuration. A wiring board provided with the formed wiring pattern, wherein the wiring pattern is formed in a recess formed in the main surface.

【0041】本発明の第2の構成にかかる配線基板は、
複数の配線基板を積層してなるインナービアホール構造
の多層配線基板であって、少なくとも一層に、前記第1
の構成にかかる配線基板を備えたことを特徴とする。
The wiring board according to the second configuration of the present invention comprises:
A multilayer wiring board having an inner via hole structure formed by laminating a plurality of wiring boards, wherein at least one
The wiring board according to the above configuration is provided.

【0042】また、本発明の第3の構成にかかる配線基
板は、電気絶縁性基板と、前記第2の構成にかかる転写
材を用いた転写法により前記電気絶縁性基板の少なくと
も一主面に形成された配線パターンおよび回路部品とを
備え、前記回路部品が前記配線パターンと電気的に接続
され、前記回路部品および前記配線パターンが前記主面
に埋設されたことを特徴とする。
Further, the wiring substrate according to the third configuration of the present invention is characterized in that an electrical insulating substrate and at least one principal surface of the electrical insulating substrate are transferred by a transfer method using the transfer material according to the second configuration. It is characterized by comprising a formed wiring pattern and a circuit component, wherein the circuit component is electrically connected to the wiring pattern, and the circuit component and the wiring pattern are embedded in the main surface.

【0043】本発明の第4の構成にかかる配線基板は、
複数の配線基板を積層してなるインナービアホール構造
の多層配線基板であって、少なくとも一層に、前記第3
の構成にかかる配線基板を備えたことを特徴とする。
The wiring board according to the fourth structure of the present invention comprises:
A multilayer wiring board having an inner via hole structure formed by laminating a plurality of wiring boards, wherein at least one
The wiring board according to the above configuration is provided.

【0044】また、本発明の配線基板の第1の製造方法
は、前記第1の構成にかかる転写材を用いた配線基板の
製造方法であって、前記転写材における少なくとも第2
の金属層を含む配線パターン金属層が形成された側を、
未硬化状態のシート状基材の少なくとも一主面に圧着
し、前記剥離層によって前記第2の金属層に貼り合わさ
れている前記第1の金属層を、前記第2の金属層から剥
離することにより、前記シート状基材に、前記配線パタ
ーン金属層を転写することを特徴とする。
Further, a first method of manufacturing a wiring board according to the present invention is a method of manufacturing a wiring board using the transfer material according to the first configuration, wherein at least the second material in the transfer material is used.
The side where the wiring pattern metal layer including the metal layer is formed,
Pressure bonding to at least one main surface of an uncured sheet-like base material, and peeling off the first metal layer bonded to the second metal layer by the release layer from the second metal layer. Thus, the wiring pattern metal layer is transferred to the sheet-like base material.

【0045】本発明の配線基板の第2の製造方法は、セ
ラミックシートに貫通孔を形成し、前記貫通孔が形成さ
れたセラミックシートの両面に、前記セラミックシート
の焼結温度で実質的に焼結収縮しない無機組成物を主成
分とする拘束シートを配置し、前記拘束シートと共に前
記セラミックシートを焼成し、焼成後、前記拘束シート
を取り除き、前記貫通孔に熱硬化性の導電性組成物を充
填し、ビアコンダクタ付きのセラミック基板を得て、前
記第1の構成にかかる転写材における少なくとも第2の
金属層を含む配線パターン金属層が形成された側を、熱
硬化性樹脂組成物を含む未硬化状態のシート状基材の少
なくとも一主面に圧着し、前記剥離層によって前記第2
の金属層に貼り合わされている前記第1の金属層を、前
記第2の金属層から剥離することにより、前記シート状
基材に、前記配線パターン金属層を転写し、前記転写の
前または後に、前記熱硬化性樹脂組成物を含むシート状
基材に貫通孔を形成し、前記貫通孔に熱硬化性の導電性
組成物を充填し、ビアコンダクタ付きのコンポジット配
線基板を得て、前記セラミック基板と前記コンポジット
配線基板とを積層し、加熱しながら圧着することによ
り、多層配線基板を得ることを特徴とする。
According to a second method of manufacturing a wiring board of the present invention, a through hole is formed in a ceramic sheet, and both surfaces of the ceramic sheet having the through hole are substantially sintered at a sintering temperature of the ceramic sheet. A constraining sheet mainly composed of an inorganic composition that does not shrink and shrink is disposed, the ceramic sheet is fired together with the constraining sheet, and after firing, the constraining sheet is removed, and a thermosetting conductive composition is formed in the through-hole. A ceramic substrate with a via conductor is obtained by filling, and the side on which the wiring pattern metal layer including at least the second metal layer in the transfer material according to the first configuration is formed contains the thermosetting resin composition The uncured sheet-shaped substrate is pressure-bonded to at least one main surface, and the second layer is formed by the release layer.
By peeling the first metal layer bonded to the metal layer from the second metal layer, the wiring pattern metal layer is transferred to the sheet-like substrate, and before or after the transfer Forming a through-hole in a sheet-like substrate containing the thermosetting resin composition, filling the through-hole with a thermosetting conductive composition, and obtaining a composite wiring board with a via conductor; A multilayer wiring board is obtained by laminating a board and the composite wiring board and pressing them together while heating.

【0046】本発明の配線基板の第3の製造方法は、前
記第2の構成にかかる転写材を用いた配線基板の製造方
法であって、前記転写材における少なくとも第2の金属
層および前記回路部品が形成された側を、未硬化状態の
絶縁性のシート状基材の少なくとも一主面に圧着し、前
記第1の金属層を剥離することにより、前記シート状基
材に、少なくとも前記第2の金属層および前記回路部品
を転写することを特徴とする。
A third method of manufacturing a wiring board according to the present invention is a method of manufacturing a wiring board using the transfer material according to the second configuration, wherein at least a second metal layer and the circuit in the transfer material are provided. The side on which the component is formed is pressed against at least one main surface of the uncured insulating sheet-like base material, and the first metal layer is peeled off. A second metal layer and the circuit component are transferred.

【0047】本発明の配線基板の第4の製造方法は、セ
ラミックシートに貫通孔を形成し、前記貫通孔が形成さ
れたセラミックシートの両面に、前記セラミックシート
の焼結温度で実質的に焼結収縮しない無機組成物を主成
分とする拘束シートを配置し、前記拘束シートと共に前
記セラミックシートを焼成し、焼成後、前記拘束シート
を取り除き、前記貫通孔に熱硬化性の導電性組成物を充
填し、ビアコンダクタ付きのセラミック基板を得て、前
記第2の構成にかかる転写材における少なくとも第2の
金属層を含む配線パターン金属層が形成された側を、熱
硬化性樹脂組成物を含む未硬化状態のシート状基材の少
なくとも一主面に圧着し、前記剥離層によって前記第2
の金属層に貼り合わされている前記第1の金属層を、前
記第2の金属層から剥離することにより、前記シート状
基材に、前記配線パターン金属層を転写し、前記転写の
前または後に、前記熱硬化性樹脂組成物を含むシート状
基材に貫通孔を形成し、前記貫通孔に熱硬化性の導電性
組成物を充填し、ビアコンダクタ付きのコンポジット配
線基板を得て、前記セラミック基板と前記コンポジット
配線基板とを積層し、加熱しながら圧着することによ
り、多層配線基板を得ることを特徴とする。
According to a fourth method of manufacturing a wiring board of the present invention, a through hole is formed in a ceramic sheet, and both surfaces of the ceramic sheet having the through hole are substantially sintered at a sintering temperature of the ceramic sheet. A constraining sheet mainly composed of an inorganic composition that does not shrink and shrink is disposed, the ceramic sheet is fired together with the constraining sheet, and after firing, the constraining sheet is removed, and a thermosetting conductive composition is formed in the through-hole. A ceramic substrate with a via conductor is filled, and the side of the transfer material according to the second configuration, on which the wiring pattern metal layer including at least the second metal layer is formed, contains the thermosetting resin composition The uncured sheet-shaped substrate is pressure-bonded to at least one main surface, and the second layer is formed by the release layer.
By peeling the first metal layer bonded to the metal layer from the second metal layer, the wiring pattern metal layer is transferred to the sheet-like substrate, and before or after the transfer Forming a through-hole in a sheet-like substrate containing the thermosetting resin composition, filling the through-hole with a thermosetting conductive composition, and obtaining a composite wiring board with a via conductor; A multilayer wiring board is obtained by laminating a board and the composite wiring board and pressing them together while heating.

【0048】前記第2の構成にかかる転写材を用いれ
ば、多層基板のいずれの層にも回路部品を転写すること
ができ、部品配置場所も自由になるので、電子回路設計
の自由度が飛躍的に向上する。
If the transfer material according to the second configuration is used, the circuit components can be transferred to any layer of the multilayer substrate, and the location of the components can be freely set. To improve.

【0049】[0049]

【発明の実施の形態】(実施の形態1)本発明にかかる
転写用配線パターン形成材の第1の実施形態(以下、第
1の転写材と称する)の構成概略例を、図1の断面図に
示す。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (Embodiment 1) A schematic configuration example of a first embodiment (hereinafter, referred to as a first transfer material) of a transfer wiring pattern forming material according to the present invention is shown in FIG. Shown in the figure.

【0050】図示のように、前記第1の転写材は、表層
部に凹凸部(例えば凸部の高さが1〜12μm程度)が
形成された第1の金属層101を有する。第1の金属層
101に於いて、前記凸部は、配線パターンに対応した
形状をなす。その凸部領域の上に、有機層あるいは金属
メッキ層からなる剥離層102と、第2の金属層103
が形成されている。すなわち、第1の転写材は、前記第
1の金属層101と第2の金属層103とが剥離層10
2を介して貼り合わされた3層構造である。
As shown in the figure, the first transfer material has a first metal layer 101 in which a surface portion has an uneven portion (for example, the height of the convex portion is about 1 to 12 μm). In the first metal layer 101, the protrusion has a shape corresponding to the wiring pattern. A release layer 102 made of an organic layer or a metal plating layer and a second metal layer 103
Are formed. That is, in the first transfer material, the first metal layer 101 and the second metal layer 103 are separated from each other by the release layer 10.
It is a three-layer structure bonded through the two layers.

【0051】第1の転写材において、第2の金属層10
3が配線パターンであり、第1の金属層101は、前記
配線パターンを基板へ転写するためのキャリアとして機
能する。すなわち、第1の金属層101は、配線パター
ンである第2の金属層103を基板へ転写した後、剥離
層102と共に前記基板から剥離される。
In the first transfer material, the second metal layer 10
Reference numeral 3 denotes a wiring pattern, and the first metal layer 101 functions as a carrier for transferring the wiring pattern to a substrate. That is, the first metal layer 101 is separated from the substrate together with the separation layer 102 after transferring the second metal layer 103 as a wiring pattern to the substrate.

【0052】前記第1の転写材の製造方法は、例えば、
(a)第1の金属層上に、有機層あるいは金属メッキ層
からなる剥離層を介して、第1の金属層と同一成分の金
属を含む第2の金属層を形成して、3層構造を形成する
工程と、(b)化学エッチング法により、第2の金属層
と剥離層のみならず第1の金属層の表層部を配線パター
ン形状に加工して、第1の金属層の表層部に凹凸部を形
成する工程とを含む。
The method of manufacturing the first transfer material includes, for example,
(A) A three-layer structure in which a second metal layer containing a metal having the same component as the first metal layer is formed on the first metal layer via a release layer formed of an organic layer or a metal plating layer And (b) processing the surface layer portion of the first metal layer as well as the second metal layer and the release layer into a wiring pattern shape by a chemical etching method, thereby forming a surface layer portion of the first metal layer. Forming a concavo-convex portion on the substrate.

【0053】この製造方法によれば、フォトリソグラフ
ィ法等の化学エッチングを用いることにより、第2の金
属層を微細な配線パターンに形成することが可能であ
る。また、配線パターン(第2の金属層)を構成する金
属箔が、キャリアを構成する金属箔(第1の金属層)と
同一材料を含むことによって、一回のエッチングプロセ
スで、キャリアを構成する第1の金属層に、第2の金属
層の配線パターンと同一パターンの凹凸を形成すること
ができる。
According to this manufacturing method, the second metal layer can be formed into a fine wiring pattern by using chemical etching such as photolithography. Further, the metal foil constituting the wiring pattern (second metal layer) contains the same material as the metal foil constituting the carrier (first metal layer), so that the carrier is constituted by one etching process. In the first metal layer, the concavo-convex pattern having the same pattern as the wiring pattern of the second metal layer can be formed.

【0054】また、本実施形態の第1の転写材は、使用
後に剥離される第1の金属層を再利用し、この第1の金
属層の凸部と同一形状の第2の金属層を、メッキ層等の
剥離層を介して形成することにより、同じ転写材を再生
することができる。あるいは、前記第1の金属層は、例
えば凸版印刷用のパターン形成材等の他の用途に応用す
ることもできる。従って、本実施形態の第1の転写材
は、資源を有効に利用できるので、省資源および廃棄物
の減少の点において極めて有利である。なお、これは、
後述する他の実施形態で説明する各転写材についても同
様である。
Further, the first transfer material of the present embodiment reuses the first metal layer which is peeled off after use, and uses the second metal layer having the same shape as the convex portion of the first metal layer. The same transfer material can be reproduced by forming through a release layer such as a plating layer. Alternatively, the first metal layer can be applied to other uses such as a pattern forming material for letterpress printing. Therefore, since the first transfer material of the present embodiment can effectively use resources, it is extremely advantageous in saving resources and reducing waste. This is
The same applies to each transfer material described in another embodiment described later.

【0055】なお、本実施形態の転写材の配線パターン
に電気的に接続するように、インダクタ、コンデンサ、
抵抗、または半導体素子等の回路部品を形成し、配線パ
ターンと共に基板へ転写することも可能である。なお、
インダクタ、コンデンサ、および抵抗等の受動部品は、
スクリーン印刷等の印刷法により、転写材上に形成する
ことが好ましい。
Note that an inductor, a capacitor, and a capacitor are electrically connected to the wiring pattern of the transfer material of the present embodiment.
It is also possible to form a circuit component such as a resistor or a semiconductor element and transfer it to a substrate together with a wiring pattern. In addition,
Passive components such as inductors, capacitors, and resistors
It is preferable to form on the transfer material by a printing method such as screen printing.

【0056】(実施の形態2)つぎに、本発明の転写材
の第2の実施形態(以下、第2の転写材と称する)の一
例の構成概略を、図2の断面図に示す。
(Embodiment 2) Next, a schematic configuration of an example of a transfer material according to a second embodiment of the present invention (hereinafter, referred to as a second transfer material) is shown in a sectional view of FIG.

【0057】図2に示すように、第2の転写材は、表層
部に凹凸部が形成された第1の金属層101を有する。
前記凸部は、配線パターンに対応した形状をなす。第2
の転写材は、その凸部領域の上に有機層あるいは金属メ
ッキ層からなる剥離層102と第2の金属層103が形
成され、更にその上に第3の金属層104が形成された
4層構造である。すなわち、第1の金属層101と第2
の金属層103は、剥離層102を介して貼り合わされ
ている。
As shown in FIG. 2, the second transfer material has a first metal layer 101 having an uneven portion formed on a surface layer.
The projection has a shape corresponding to the wiring pattern. Second
Is a four-layered material in which a release layer 102 made of an organic layer or a metal plating layer and a second metal layer 103 are formed on the convex region, and a third metal layer 104 is further formed thereon. Structure. That is, the first metal layer 101 and the second
The metal layer 103 is bonded via the release layer 102.

【0058】第2の転写材において、第2の金属層10
3および第3の金属層104が2層構造の配線パターン
であり、第1の金属層101は、前記配線パターンを基
板へ転写するためのキャリアとして機能する。すなわ
ち、第1の金属層101は、配線パターンである第2の
金属層103および第3の金属層104を基板へ転写し
た後、剥離層102と共に前記基板から剥離される。
In the second transfer material, the second metal layer 10
The third and third metal layers 104 are wiring patterns having a two-layer structure, and the first metal layer 101 functions as a carrier for transferring the wiring pattern to a substrate. That is, the first metal layer 101 is separated from the substrate together with the separation layer 102 after transferring the second metal layer 103 and the third metal layer 104, which are wiring patterns, to the substrate.

【0059】前記第2の転写材の製造方法は、例えば、
(a)第1の金属層上に、有機層あるいは金属メッキ層
からなる剥離層を介して第1の金属層と同一成分の金属
を含む第2の金属層を形成して、3層構造を形成する工
程と、(b)第2の金属層上の任意の領域にメッキレジ
ストを形成するなどして、前記メッキレジストに覆われ
ずに露出した領域が配線パターン形状となるようにする
工程と、(c)前記第2の金属層の表面において前記露
出された配線パターン形状の領域上に、パターンメッキ
法により、メッキ層からなる第3の金属層を形成する工
程と、(d)前記メッキレジストを剥離することによ
り、前記第3の金属層が、第2の金属層上で配線パター
ン形状の凸部に形成される工程と、(e)化学的エッチ
ング法により、前記第3の金属層が形成されていない領
域の、第2の金属層、剥離層、および第1の金属層の上
層部を、選択的に除去する工程とを含む。
The method of manufacturing the second transfer material includes, for example,
(A) A second metal layer containing a metal of the same component as the first metal layer is formed on the first metal layer via a peeling layer formed of an organic layer or a metal plating layer to form a three-layer structure. Forming; and (b) forming a plating resist in an arbitrary region on the second metal layer so that an exposed region not covered with the plating resist has a wiring pattern shape. (C) forming, by pattern plating, a third metal layer made of a plating layer on the exposed region of the wiring pattern on the surface of the second metal layer; Removing the resist to form the third metal layer on the convex portion of the wiring pattern on the second metal layer; and (e) performing the chemical etching method to form the third metal layer. Of the second metal layer in a region where no is formed A release layer, and an upper portion of the first metal layer, and a step of selectively removing.

【0060】この製造方法において、第3の金属層とし
て第2の金属層と同一成分の金属を用いた場合、例え
ば、銅箔(第2の金属層)上に銅メッキ層(第3の金属
層)を形成した場合、実施の形態1と同様の理由および
アディティブ法を採用していることから、第2および第
3の金属層を微細な配線パターンに形成できる。
In this manufacturing method, when a metal of the same component as the second metal layer is used as the third metal layer, for example, a copper plating layer (third metal layer) is formed on a copper foil (second metal layer). When the second metal layer is formed, the second and third metal layers can be formed in a fine wiring pattern because the same reason as in the first embodiment and the additive method are employed.

【0061】さらに、第2の金属層および剥離層は、第
3の金属層と比較して薄いため、短時間のエッチング工
程で除去することができ、基本的に第3の金属層の層厚
をほとんど減らすことなく残すことができる。従って、
配線パターンの厚みを任意に制御できる。
Further, since the second metal layer and the peeling layer are thinner than the third metal layer, they can be removed by a short etching process, and basically, the thickness of the third metal layer is reduced. Can be left with little reduction. Therefore,
The thickness of the wiring pattern can be arbitrarily controlled.

【0062】一方、第3の金属層として第2の金属層と
異なる金属、例えば、銅箔(第2の金属層)上に金(第
3の金属層)をパターンメッキで構成した場合、第3の
金属層がエッチングレジストとして機能するため、前記
配線パターン形状を有する第3の金属層が形成されてい
ない領域の、第2の金属層、剥離層、および第1の金属
層の上層部を、選択的に除去する事ができる。更に、第
3の金属層に金を用いると、転写材の配線パターンの最
上層が金となるため、例えばベアチップ、ベアのSAW
(フィルタ表面弾性波フィルタ)等を、配線パターン上
にフリップチップ実装させると、低抵抗で安定した接続
を得ることができる。尚、第3の金属層に銀を用いた場
合も、同様の効果が得られる。
On the other hand, when a third metal layer is formed by pattern plating a metal different from the second metal layer, for example, gold (third metal layer) on a copper foil (second metal layer). Since the third metal layer functions as an etching resist, the upper portions of the second metal layer, the release layer, and the first metal layer in a region where the third metal layer having the wiring pattern shape is not formed are formed. , Can be selectively removed. Furthermore, if gold is used for the third metal layer, the uppermost layer of the wiring pattern of the transfer material is gold.
If a (filter surface acoustic wave filter) or the like is flip-chip mounted on the wiring pattern, a stable connection with low resistance can be obtained. Note that the same effect can be obtained when silver is used for the third metal layer.

【0063】なお、前記製造方法において、前記第2の
金属層上に第3の金属層を形成する前に、前記第2の金
属層の表面を粗面化処理することが好ましい。前記「第
3の金属層を形成する前」とは、前記第2の金属層上に
配線パターン形成用のマスク(前記メッキレジスト)を
形成する前、または、前記配線パターン状にマスキング
された第2の金属層上に、前記配線パターンに沿って、
第3の金属層を形成する前をいう。このように、前記第
2の金属層を粗面化処理すると、前記第2の金属層と前
記第3の金属層との接着性が向上する。
In the manufacturing method, it is preferable that a surface of the second metal layer is roughened before forming a third metal layer on the second metal layer. The “before forming the third metal layer” means before forming a mask (the plating resist) for forming a wiring pattern on the second metal layer, or the first mask formed in the wiring pattern shape. 2 on the metal layer along the wiring pattern,
Before forming the third metal layer. As described above, when the second metal layer is subjected to a surface roughening treatment, the adhesion between the second metal layer and the third metal layer is improved.

【0064】前記製造方法において、電解メッキ法によ
り、前記第2の金属層上に前記第3の金属層を形成する
ことが好ましい。前記電解メッキ法により、前記第3の
金属層、または前記配線パターン形成用の金属層を形成
すれば、前記第2の金属層と前記第3の金属層との接着
面に、適度な接着性が得られるだけでなく、前記金属層
間に隙間が発生しないため、例えば、エッチング等を行
っても、良好な配線パターンを形成できる。一方、第2
の金属層上に前記第3の金属層をパネルメッキで形成し
た後、配線パターン上にマスキングを行い、パターン形
成を行ってもよい。この場合、転写後の第2の金属層の
表面酸化防止、ハンダ濡れ性の改善に効果がある。
In the manufacturing method, it is preferable that the third metal layer is formed on the second metal layer by an electrolytic plating method. If the third metal layer or the metal layer for forming the wiring pattern is formed by the electroplating method, the adhesive surface between the second metal layer and the third metal layer has an appropriate adhesive property. In addition to the above, since no gap is generated between the metal layers, a good wiring pattern can be formed even if, for example, etching is performed. On the other hand, the second
After the third metal layer is formed on the metal layer by panel plating, masking may be performed on the wiring pattern to form a pattern. In this case, it is effective in preventing surface oxidation of the second metal layer after transfer and improving solder wettability.

【0065】前記製造方法において、化学エッチング法
により、第2および第3の金属層を、第1の金属層の表
層部を含めて、配線パターン状に加工することが好まし
い。
In the above manufacturing method, it is preferable that the second and third metal layers, including the surface portion of the first metal layer, are processed into a wiring pattern by a chemical etching method.

【0066】前記製造方法において、前述と同様の理由
から、前記第2の金属層が、銅、アルミ、銀およびニッ
ケルからなる群から選択された少なくとも一つの金属を
含み、特に銅を含むことが好ましい。第1の金属層は、
化学エッチングによって第2の金属層のエッチングと同
時に、その表層部に配線パターン(第2の金属層)と同
じ形状の凸部を形成することから、第2の金属層と同じ
金属成分を有していることが望ましい。その中でも、第
1および第2の金属層が銅箔からなることが好ましく、
特に好ましくは、電解銅箔である。
In the above-mentioned manufacturing method, for the same reason as described above, the second metal layer contains at least one metal selected from the group consisting of copper, aluminum, silver and nickel, and particularly contains copper. preferable. The first metal layer is
Simultaneously with the etching of the second metal layer by chemical etching, a convex portion having the same shape as the wiring pattern (second metal layer) is formed on the surface layer portion, and thus has the same metal component as the second metal layer. Is desirable. Among them, it is preferable that the first and second metal layers are made of copper foil,
Particularly preferred is an electrolytic copper foil.

【0067】前記第1および第2の金属層の作製方法と
しては、特に制限されず、例えば、公知の金属箔の製造
方法等により作製できる。
The method for forming the first and second metal layers is not particularly limited, and may be, for example, a known metal foil manufacturing method.

【0068】前記粗面化処理としては、例えば、黒化処
理、ソフトエッチング処理、サンドブラスト処理等が採
用できる。
As the surface roughening treatment, for example, a blackening treatment, a soft etching treatment, a sand blasting treatment and the like can be adopted.

【0069】なお、本実施形態の転写材の配線パターン
に電気的に接続するように、インダクタ、コンデンサ、
抵抗、または半導体素子等の回路部品を形成し、配線パ
ターンと共に基板へ転写することも可能である。なお、
インダクタ、コンデンサ、および抵抗等の受動部品は、
スクリーン印刷等の印刷法により、転写材上に形成する
ことが好ましい。
Note that an inductor, a capacitor, and a capacitor are electrically connected to the wiring pattern of the transfer material of the present embodiment.
It is also possible to form a circuit component such as a resistor or a semiconductor element and transfer it to a substrate together with a wiring pattern. In addition,
Passive components such as inductors, capacitors, and resistors
It is preferable to form on the transfer material by a printing method such as screen printing.

【0070】(実施の形態3)つぎに、本発明の転写材
の第3の実施形態(以下、第3の転写材と称する)の一
例の構成概略を、図3の断面図に示す。
(Embodiment 3) Next, a schematic configuration of an example of a transfer material according to a third embodiment of the present invention (hereinafter, referred to as a third transfer material) is shown in a sectional view of FIG.

【0071】図示のように、第3の転写材は、表層部に
凹凸部が形成された第1の金属層101を有する。前記
凸部は、配線パターンに対応した形状をなす。第3の転
写材は、前記凸部領域の上に、有機層あるいは金属メッ
キ層からなる剥離層102と第2の金属層103が形成
され、更にその上に第3の金属層104が形成され、そ
の上に第4の金属層105が形成された5層構造からな
る。第1の金属層101と第2の金属層103は、剥離
層102を介して貼り合わされている。
As shown in the drawing, the third transfer material has a first metal layer 101 in which a surface portion has an uneven portion. The projection has a shape corresponding to the wiring pattern. In the third transfer material, a release layer 102 made of an organic layer or a metal plating layer and a second metal layer 103 are formed on the convex region, and a third metal layer 104 is further formed thereon. And a five-layer structure on which a fourth metal layer 105 is formed. The first metal layer 101 and the second metal layer 103 are attached to each other with a release layer 102 interposed therebetween.

【0072】第3の転写材において、第2の金属層10
3、第3の金属層104、および第4の金属層105
が、3層構造の配線パターンである。第1の金属層10
1は、前記配線パターンを基板へ転写するためのキャリ
アとして機能する。すなわち、第1の金属層101は、
配線パターンである第2の金属層103、第3の金属層
104、および第4の金属層105を基板へ転写した
後、剥離層102と共に前記基板から剥離される。
In the third transfer material, the second metal layer 10
3, the third metal layer 104, and the fourth metal layer 105
Are wiring patterns of a three-layer structure. First metal layer 10
1 functions as a carrier for transferring the wiring pattern to a substrate. That is, the first metal layer 101
After transferring the second metal layer 103, the third metal layer 104, and the fourth metal layer 105, which are wiring patterns, to the substrate, the substrate is peeled off from the substrate together with the peeling layer.

【0073】第3の転写材の製造方法は、例えば、以下
の通りである。 (a)第1の金属層上に、剥離層を介して、第1の金属
層と同一成分の金属を含む第2の金属層を形成して、3
層構造を形成する工程と、(b)第2の金属層上の任意
の領域にメッキレジストを形成し、前記メッキレジスト
に覆われずに露出した領域が配線パターン形状となるよ
うにする工程と、(c)前記第2の金属層において、前
記露出された配線パターン形状の領域上に、メッキ層か
らなる第3の金属層を作製する工程と、(d)前記第3
の金属層上に、前記第1〜第3の金属層と異なる金属成
分であって、前記第1〜第3の金属層を腐食するエッチ
ング液に対し化学的に安定な金属成分で構成された第4
の金属層を作製する工程と、(e)前記メッキレジスト
を剥離することにより、第3と第4の金属層2層が、配
線パターン形状の凸部に形成される工程と、(f)化学
的エッチング法により、前記配線パターン形状を有する
第3と第4の金属層が形成されていない領域の、第2の
金属層、剥離層、および第1の金属層の上層部を、選択
的に除去する工程とを含む。
The method for manufacturing the third transfer material is, for example, as follows. (A) forming a second metal layer containing a metal of the same component as the first metal layer on the first metal layer via a release layer,
Forming a layer structure; and (b) forming a plating resist in an arbitrary region on the second metal layer so that an exposed region not covered with the plating resist has a wiring pattern shape. (C) forming a third metal layer made of a plating layer on the exposed area of the wiring pattern in the second metal layer; and (d) forming the third metal layer.
A metal component that is different from the first to third metal layers on the metal layer and is chemically stable to an etchant that corrodes the first to third metal layers. 4th
(E) removing the plating resist to form two third and fourth metal layers on the protrusions of the wiring pattern, and (f) removing the plating resist. Selectively etching the upper portions of the second metal layer, the release layer, and the first metal layer in a region where the third and fourth metal layers having the wiring pattern shape are not formed by a selective etching method. Removing.

【0074】この製造方法によれば、前述と同様の理由
およびアディティブ法を採用していることから、微細な
配線パターンを形成できる。さらに、配線パターンの厚
みを任意に制御できる。
According to this manufacturing method, since the same reason as described above and the additive method are employed, a fine wiring pattern can be formed. Further, the thickness of the wiring pattern can be arbitrarily controlled.

【0075】前記製造方法において、前記第2の金属層
上に第3の金属層を形成する前に、前記第2の金属層の
表面を粗面化処理することが好ましい。前記第3の金属
層を形成する前とは、前記第2の金属層上に配線パター
ン形成用のマスクを形成する前、または、前記配線パタ
ーン状にマスキングされた第2の金属層上に、前記配線
パターンに沿って、第3の金属層を形成する前をいう。
このように、前記第2の金属層を粗面化処理すると、前
記第2の金属層と前記第3の金属層との接着性が向上す
る。
In the manufacturing method, it is preferable that the surface of the second metal layer is subjected to a roughening treatment before forming the third metal layer on the second metal layer. Before forming the third metal layer means before forming a wiring pattern forming mask on the second metal layer, or on the second metal layer masked in the wiring pattern shape. Before the third metal layer is formed along the wiring pattern.
As described above, when the second metal layer is subjected to a surface roughening treatment, the adhesion between the second metal layer and the third metal layer is improved.

【0076】前記製造方法において、電解メッキ法によ
り、前記第2の金属層上に前記第3の金属層を形成する
ことが好ましい。前記電解メッキ法により、前記第3の
金属層、または前記配線パターン形成用の金属層を形成
すれば、前記第2の金属層と前記第3の金属層との接着
面に、適度な接着性が得られるだけでなく、前記金属層
間に隙間が発生しないため、例えば、エッチング等を行
っても、良好な配線パターンを形成できる。
In the manufacturing method, it is preferable that the third metal layer is formed on the second metal layer by an electrolytic plating method. If the third metal layer or the metal layer for forming the wiring pattern is formed by the electroplating method, the adhesive surface between the second metal layer and the third metal layer has an appropriate adhesive property. In addition to the above, since no gap is generated between the metal layers, a good wiring pattern can be formed even if, for example, etching is performed.

【0077】一方、第2の金属層上に前記第3の金属層
をパネルメッキで形成した後、配線パターン上にマスキ
ングを行い、パターン形成を行ってもよい。この場合、
転写後の第2の金属層の表面酸化防止、ハンダ濡れ性の
改善に効果がある。
On the other hand, after the third metal layer is formed on the second metal layer by panel plating, the pattern may be formed by masking the wiring pattern. in this case,
This is effective in preventing surface oxidation of the second metal layer after transfer and improving solder wettability.

【0078】さらに、前記製造方法において、前記第3
の金属層上に形成される第4の金属層は、電解メッキ法
により形成することが好ましい。第4の金属層の材料と
して、第1〜第3の金属層とは異なる成分、すなわち、
前記第1から第3の金属層を腐食するエッチング液に対
し、化学的に安定な金属成分を選択することにより、工
程(f)の化学エッチング法によっても、第2,3,4
の金属層を、その厚みを低減させることなく、前記第1
の金属層の表層部と共に配線パターン状に加工すること
ができ、好ましい。
Further, in the manufacturing method, the third
The fourth metal layer formed on the above metal layer is preferably formed by an electrolytic plating method. As a material of the fourth metal layer, a component different from the first to third metal layers, that is,
By selecting a metal component that is chemically stable with respect to the etching solution that corrodes the first to third metal layers, the second, third, and fourth chemical etching methods of step (f) can be used.
Of the first metal layer without reducing its thickness.
It can be processed into a wiring pattern together with the surface portion of the metal layer, which is preferable.

【0079】前記製造方法において、前述と同様の理由
から、前記第2、第3の金属層が、銅、アルミ、銀およ
びニッケルからなる群から選択された少なくとも一つの
金属を含み、特に銅を含むことが好ましい。第1の金属
層は、化学エッチングによって、第2の金属層のエッチ
ングと同時に、その表層部に配線パターン(第2の金属
層)と同じ形状の凸部を形成することから、第2の金属
層と同じ金属成分を有していることが望ましい。その中
でも、例えば、これらの金属層は、銅箔からなることが
好ましく、特に好ましくは、電解銅箔である。一方、前
記第4の金属層としては、例えば、化学的に安定で、低
抵抗な、Ag、あるいはAuメッキ層などが望ましい。
In the above-described manufacturing method, for the same reason as described above, the second and third metal layers contain at least one metal selected from the group consisting of copper, aluminum, silver and nickel. It is preferred to include. The first metal layer is formed by forming a protrusion having the same shape as the wiring pattern (second metal layer) on the surface layer of the first metal layer simultaneously with the etching of the second metal layer by chemical etching. It is desirable to have the same metal component as the layer. Among them, for example, these metal layers are preferably made of copper foil, and particularly preferably electrolytic copper foil. On the other hand, as the fourth metal layer, for example, an Ag or Au plating layer which is chemically stable and has low resistance is desirable.

【0080】前記第1および第2の金属層の作製方法と
しては、特に制限されず、例えば、公知の金属箔の製造
方法等により作製できる。
The method for forming the first and second metal layers is not particularly limited, and may be, for example, a known metal foil manufacturing method.

【0081】前記粗面化処理としては、例えば、黒化処
理、ソフトエッチング処理、サンドブラスト処理等が採
用できる。
As the surface roughening treatment, for example, a blackening treatment, a soft etching treatment, a sand blast treatment or the like can be adopted.

【0082】なお、前述した実施の形態1〜3の第1、
第2および第3の転写材において、剥離層を介した前記
第1の金属層と第2の金属層との接着強度が弱いこと、
例えば50N/m(gf/cm)以下であることが好ま
しい。剥離層は、接着力を有した1μmより遙かに薄い
有機層、例えば熱硬化樹脂であるウレタン系樹脂、エポ
キシ系樹脂、フェノール樹脂などが使用できるが、これ
には制限されず、他の熱可塑性樹脂などを用いても構わ
ない。但し、1μmより厚くなると、剥離性能が悪化
し、転写が困難となることもある。
Note that the first,
In the second and third transfer materials, the adhesive strength between the first metal layer and the second metal layer via the release layer is weak;
For example, it is preferably at most 50 N / m (gf / cm). As the release layer, an organic layer having an adhesive force and much thinner than 1 μm, for example, a thermosetting resin such as a urethane resin, an epoxy resin, or a phenol resin can be used, but is not limited thereto. A plastic resin or the like may be used. However, when the thickness is more than 1 μm, the peeling performance is deteriorated, and the transfer may be difficult.

【0083】また、第1〜第3の転写材において、意図
的に接着力を低下させる目的で、剥離層としてメッキ層
を介在させても良い。例えば、1μmより遙かに薄い金
属メッキ層、ニッケルメッキ層、ニッケル−リン合金
層、アルミニウムメッキ層、またはクロムメッキ層など
を、剥離層として銅箔(第1および第2の金属層)間に
介在させて、剥離性を持たせることも可能である。これ
により、前記第2の金属層を基板に転写した後に、前記
第1の金属層から前記第2の金属層が剥離し易く、前記
第2の金属層のみを前記基板に転写することが容易にな
る。剥離層は、金属メッキ層で構成する場合、100n
m〜1μmの厚みレベルで十分であり、厚くなればなるほ
ど工程上コストがかかるので、少なくとも1μmより薄
いことが望ましい。
In the first to third transfer materials, a plating layer may be interposed as a release layer for the purpose of intentionally lowering the adhesive strength. For example, a metal plating layer, a nickel plating layer, a nickel-phosphorus alloy layer, an aluminum plating layer, a chromium plating layer, or the like much thinner than 1 μm is provided between the copper foil (first and second metal layers) as a release layer. It is also possible to have releasability by interposing. Thereby, after transferring the second metal layer to the substrate, the second metal layer is easily separated from the first metal layer, and it is easy to transfer only the second metal layer to the substrate. become. When the release layer is formed of a metal plating layer,
A thickness level of m to 1 μm is sufficient, and the thicker the film, the higher the cost in the process.

【0084】また、第1〜第3の転写材において、剥離
層を、Auメッキにより、意図的に第1の金属層と剥離
し易いように形成すると、転写後、第1の金属層を基板
から剥離する際に、剥離層が配線パターンの第2の金属
層の表面に残ることとなる。これにより、表面がAuメ
ッキ処理された配線パターンが得られ、FC実装(フリ
ップチップ実装)、部品実装などに優れたものとなる。
In the first to third transfer materials, if the release layer is intentionally formed by Au plating so as to be easily separated from the first metal layer, the first metal layer is transferred to the substrate after the transfer. When peeling off from the wiring pattern, the peeling layer remains on the surface of the second metal layer of the wiring pattern. As a result, a wiring pattern whose surface is plated with Au is obtained, which is excellent in FC mounting (flip chip mounting), component mounting, and the like.

【0085】また、前記第1〜第3の転写材において、
前記第1の金属層は、銅、アルミ、銀およびニッケルか
らなる群から選択された少なくとも一つの金属を含むこ
とが好ましいが、特に銅を含むことが好ましい。前記第
2の金属層は、第1の金属層と同様、銅、アルミ、銀お
よびニッケルからなる群から選択された少なくとも一つ
の金属を含むことが好ましいが、特に銅を含むことが好
ましい。なお、前記金属は、一種類でもよいが、二種類
以上を併用してもよい。
In the first to third transfer materials,
The first metal layer preferably contains at least one metal selected from the group consisting of copper, aluminum, silver and nickel, and particularly preferably contains copper. Like the first metal layer, the second metal layer preferably contains at least one metal selected from the group consisting of copper, aluminum, silver, and nickel, and particularly preferably contains copper. The metal may be one kind, or two or more kinds may be used in combination.

【0086】さらに、前記第1〜第3の転写材において
は、例えば、エッチング等を行う場合、二層構造の金属
層を同時に加工しやすいことから、前記第1の金属層お
よび第2の金属層が、同一成分の金属を含むことが好ま
しい。この場合、第1の金属層と第2の金属層との間に
熱膨張係数の差がないため、加熱時にパターン歪みが生
じにくく、微細な配線パターンの転写に適する。なお、
剥離層にメッキ層を用いる場合は、銅エッチング液で加
工できることが望ましい。また、前記同一成分の金属を
含んでいれば、その金属の種類は特に制限されないが、
銅箔からなることが好ましく、導電性に優れることか
ら、特に好ましくは、電解銅箔である。なお、前記金属
は、一種類でもよいし、二種類以上を併用してもよい。
Further, in the first to third transfer materials, for example, when etching or the like is performed, the metal layers having the two-layer structure can be easily processed at the same time. It is preferred that the layers contain the same constituent metals. In this case, since there is no difference in thermal expansion coefficient between the first metal layer and the second metal layer, pattern distortion hardly occurs at the time of heating, which is suitable for transferring a fine wiring pattern. In addition,
When a plating layer is used as the peeling layer, it is desirable that processing can be performed with a copper etching solution. Further, as long as the metal of the same component is included, the type of the metal is not particularly limited,
It is preferably made of a copper foil, and particularly preferably an electrolytic copper foil because of its excellent conductivity. The metal may be used alone or in combination of two or more.

【0087】また、前記第1〜第3の転写材において、
前記第2の金属層の表面の中心線平均粗さ(Ra)が、
2μm以上であることが好ましく、特に好ましくは、3
μm以上である。第1の転写材の場合は、前記中心線平
均粗さが2μmより小さいと、転写する基板との接着性
が不十分になる可能性がある。一方、第2および第3の
転写材においては、前記中心線平均粗さが2μmより小
さいと、多層配線パターンを構成する金属層間の接着性
が不十分となり、例えば、前記金属層をエッチングする
際に、前記金属層隙間にエッチング液が入り込み、配線
パターンが不良となるおそれがある。
Further, in the first to third transfer materials,
The center line average roughness (Ra) of the surface of the second metal layer is:
It is preferably at least 2 μm, particularly preferably 3 μm.
μm or more. In the case of the first transfer material, if the center line average roughness is smaller than 2 μm, there is a possibility that the adhesiveness to the substrate to be transferred becomes insufficient. On the other hand, in the second and third transfer materials, if the center line average roughness is smaller than 2 μm, the adhesiveness between metal layers constituting a multilayer wiring pattern becomes insufficient. For example, when the metal layer is etched, In such a case, an etching solution may enter the gaps between the metal layers, resulting in a defective wiring pattern.

【0088】また、前記第1〜第3の転写材において、
前記第2の金属層の厚みが、1〜18μmの範囲である
ことが好ましく、特に好ましくは、3〜12μmの範囲
である。前記厚みが3μmより薄いと、前記第2の金属
層を基板に転写した場合に、良好な導電性を示さないお
それがあり、前記厚みが18μmより厚いと、微細な配
線パターンを形成することが困難となるおそれがある。
Further, in the first to third transfer materials,
The thickness of the second metal layer is preferably in the range of 1 to 18 μm, particularly preferably in the range of 3 to 12 μm. If the thickness is less than 3 μm, the second metal layer may not show good conductivity when transferred to a substrate, and if the thickness is more than 18 μm, a fine wiring pattern may be formed. This can be difficult.

【0089】また、前記第1〜第3の転写材において、
前記第1の金属層の厚みが、4〜40μmの範囲である
ことが好ましく、特に好ましくは、20〜40μmの範
囲である。第1の金属層は、キャリアとして機能する一
方、配線層と同様に表層部がエッチングされて凹凸を有
する構造となるため、十分な厚みを有した金属層である
ことが望ましい。また、第1〜第3の転写材は、キャリ
アを金属層(第1の金属層)としたことで、転写時に生
じる熱歪みや平面方向の応力歪みに対して、十分な機械
強度や耐熱性を示す。
Further, in the first to third transfer materials,
The thickness of the first metal layer is preferably in the range of 4 to 40 μm, particularly preferably in the range of 20 to 40 μm. The first metal layer functions as a carrier, but has a structure in which the surface layer is etched and has irregularities similarly to the wiring layer. Therefore, the first metal layer is preferably a metal layer having a sufficient thickness. In addition, the first to third transfer materials have sufficient mechanical strength and heat resistance against thermal distortion and stress in the plane direction generated during transfer by using a metal layer (first metal layer) as a carrier. Is shown.

【0090】前記第1〜第3の転写材の全体の厚みは、
通常、40〜150μmの範囲であり、好ましくは、4
0〜80μmの範囲である。また、配線パターンの線幅
は、通常、微細な線幅として25μm程度のものまで要
求され、本発明においても、このような線幅が好まし
い。
The total thickness of the first to third transfer materials is
Usually, it is in the range of 40 to 150 μm, preferably 4
The range is from 0 to 80 μm. Further, the line width of the wiring pattern is usually required to be as fine as about 25 μm, and such a line width is also preferable in the present invention.

【0091】なお、本実施形態の転写材の配線パターン
に電気的に接続するように、インダクタ、コンデンサ、
抵抗、または半導体素子等の回路部品を形成し、配線パ
ターンと共に基板へ転写することも可能である。なお、
インダクタ、コンデンサ、および抵抗等の受動部品は、
スクリーン印刷等の印刷法により、転写材上に形成する
ことが好ましい。
Note that an inductor, capacitor, and the like are electrically connected to the wiring pattern of the transfer material of the present embodiment.
It is also possible to form a circuit component such as a resistor or a semiconductor element and transfer it to a substrate together with a wiring pattern. In addition,
Passive components such as inductors, capacitors, and resistors
It is preferable to form on the transfer material by a printing method such as screen printing.

【0092】(実施の形態4)本実施形態では、本発明
の各種転写用配線パターン形成材(第1〜第3の転写
材)を用いた、配線基板の製造方法と、その製造方法に
より作製される配線基板の構成について説明する。
(Embodiment 4) In this embodiment, a method of manufacturing a wiring board using the various transfer wiring pattern forming materials (first to third transfer materials) of the present invention, and manufacturing by the manufacturing method. The configuration of the wiring board to be performed will be described.

【0093】本発明にかかる、転写材を用いた配線基板
の製造方法としては、例えば、以下の2つの製造方法が
ある。
As a method of manufacturing a wiring board using a transfer material according to the present invention, for example, there are the following two manufacturing methods.

【0094】まず、1番目の製造方法は、(h)前記実
施形態1〜3で説明した第1〜第3の転写材の少なくと
も一つを準備し、これの配線層側(第2の金属層等が形
成された側)が、シート状基材(基板材料)の少なくと
も一方の表面と接触するように配置して、これらを接着
する工程と、(i)前記転写材から第1の金属層を剥離
することにより、前記シート状基材に配線層のみを転写
する工程とを含む方法である。
First, the first manufacturing method is as follows: (h) preparing at least one of the first to third transfer materials described in the first to third embodiments, and preparing the transfer material on the wiring layer side (the second metal); (A side on which a layer or the like is formed) so as to be in contact with at least one surface of a sheet-like base material (substrate material), and bonding them together; Transferring the wiring layer only to the sheet-like base material by peeling the layer.

【0095】これにより、微細な配線パターンが、前記
シート状基材に凹形状に形成された配線基板を作製でき
る。また、この配線基板は、配線部分が凹形状であるた
め、この凹部を位置決めに利用することができ、例え
ば、半導体のフリップチップ実装等に優れる。
Thus, a wiring substrate in which a fine wiring pattern is formed in a concave shape on the sheet-like base material can be manufactured. In addition, since the wiring portion of the wiring substrate has a concave shape, the concave portion can be used for positioning, and is excellent in, for example, flip-chip mounting of a semiconductor.

【0096】また、2番目の製造方法は、多層配線基板
の製造方法であって、前記第1の製造方法により得られ
た配線基板を二層以上に積層する工程を含む方法であ
る。第1の製造方法によれば、100℃以下の低温で配
線パターンの転写形成ができるので、前記シート状基材
としてセラミックグリーンシートおよび熱硬化樹脂性シ
ートのいずれを用いても、配線パターンの転写を行った
後も、シートを未硬化の状態に維持することができる。
これにより、未硬化状態の配線基板を積層した後に、一
括して熱硬化収縮させることが可能となる。従って、一
層ずつ配線基板を積層して硬化収縮させる工程を繰り返
す、従来の多層配線基板の製造方法と比較して、4層以
上の多層を有する多層配線基板の場合でも、各層毎の硬
化収縮の補正を行う必要がないという利点がある。ま
た、工程を簡略化できる。
The second manufacturing method is a method of manufacturing a multilayer wiring board, which includes a step of laminating two or more wiring boards obtained by the first manufacturing method. According to the first manufacturing method, the transfer pattern of the wiring pattern can be formed at a low temperature of 100 ° C. or less. The sheet can be maintained in an uncured state even after performing the above.
Thereby, after laminating the wiring boards in an uncured state, it is possible to simultaneously perform thermosetting shrinkage. Therefore, as compared with the conventional method of manufacturing a multilayer wiring board, the steps of laminating wiring boards one by one and repeating the process of curing and shrinking are repeated, even in the case of a multilayer wiring board having four or more layers, the curing shrinkage of each layer is reduced. There is an advantage that no correction is required. Further, the steps can be simplified.

【0097】これにより、微細な配線パターンを有する
多層配線基板を作製できる。但し、前記多層配線基板に
おいて、内層の配線基板に形成される配線パターンは、
凹形状である必要はない。従って、この配線パターンを
形成するための転写材は、第1の金属層の表層部が、凹
凸状に形成されている必要はなく、平坦でよい。この場
合、例えば配線パターン形状を形成する際の化学エッチ
ング時間を制御することにより、剥離層までエッチング
された段階で加工を止めて、第1の金属層はエッチング
されないようにすることが可能である。また、例えば、
剥離層がNi系のメッキ層の場合、エッチング液とし
て、塩化銅水溶液にアンモニウムイオンを加えた塩基系
の液を用いると、銅箔(配線パターン)部分のみをエッ
チング除去し、剥離層を残すことができる。この転写材
は、基板に圧着した後にキャリア銅箔(第1の金属層)
を剥離すると、剥離層であるメッキ層も同時に剥離され
るため、転写には何の問題もない。
Thus, a multilayer wiring board having a fine wiring pattern can be manufactured. However, in the multilayer wiring board, a wiring pattern formed on an inner wiring board is
It need not be concave. Therefore, the transfer material for forming this wiring pattern does not need to have the surface layer portion of the first metal layer formed in an uneven shape, and may be flat. In this case, for example, by controlling the chemical etching time when forming the wiring pattern shape, it is possible to stop the processing at the stage when the etching is performed up to the separation layer and to prevent the first metal layer from being etched. . Also, for example,
When the release layer is a Ni-based plating layer, if a base-based solution obtained by adding ammonium ions to an aqueous solution of copper chloride is used as an etchant, only the copper foil (wiring pattern) portion is removed by etching to leave the release layer. Can be. This transfer material is carrier copper foil (first metal layer) after being pressed against the substrate.
When peeling, the plating layer, which is a peeling layer, is also peeled at the same time, so that there is no problem in transfer.

【0098】なお、前記第1の転写材を使用した場合、
第1の転写材をシート状基材(基板材料)に圧着させる
ことにより、前記第2の金属層および第1の金属層の凸
部が、シート状基材に埋め込まれる。その後、第1の金
属層を剥離することにより、表面に凹部を有し、その凹
部の底部に第2の金属層からなる配線層を有する配線基
板が作製される。
When the first transfer material is used,
By pressing the first transfer material against the sheet-shaped substrate (substrate material), the convex portions of the second metal layer and the first metal layer are embedded in the sheet-shaped substrate. Thereafter, by peeling the first metal layer, a wiring substrate having a concave portion on the surface and a wiring layer made of the second metal layer at the bottom of the concave portion is manufactured.

【0099】また、前記第2の転写材を使用した場合
は、例えば、第2の転写材をシート状基材に圧着させる
ことにより、前記第2および第3の金属層の全体および
第1の金属層の凸部がシート状基材に埋め込まれた後、
前記第1の金属層が除去される。これにより、表面に、
前記第1の金属層の凸部の厚みと同程度の深さの凹部を
有し、その凹部の底部に前記第2および第3の金属層か
らなる二層構造の配線層が形成された配線基板となる。
When the second transfer material is used, for example, the second and third metal layers and the first and second metal layers are pressed by pressing the second transfer material on a sheet-like base material. After the convex part of the metal layer is embedded in the sheet-like substrate,
The first metal layer is removed. Thereby, on the surface,
A wiring having a concave portion having a depth substantially equal to the thickness of the convex portion of the first metal layer, and a wiring layer having a two-layer structure including the second and third metal layers formed at the bottom of the concave portion; It becomes a substrate.

【0100】同様に、前記第3の転写材を使用した場合
は、例えば、前記第2、3および第4の金属層の全体お
よび第1の金属層の凸部がシート状基材に埋め込まれた
後、前記第1の金属層が除去される。これにより、表面
に、前記第1の金属層の凸部の厚みと同程度の深さの凹
部を有し、その凹部の底部に前記第2、3および第4の
金属層からなる三層構造の配線層が形成された配線基板
となる。
Similarly, when the third transfer material is used, for example, the entirety of the second, third, and fourth metal layers and the projections of the first metal layer are embedded in a sheet-like base material. After that, the first metal layer is removed. Accordingly, a three-layer structure including a concave portion on the surface having a depth substantially equal to the thickness of the convex portion of the first metal layer, and the second, third, and fourth metal layers at the bottom of the concave portion Is a wiring substrate having the wiring layer formed thereon.

【0101】前記した第1および第2の配線基板の製造
方法において、前記シート状基材が、無機フィラーと熱
硬化性樹脂組成物とを含むと共に、少なくとも一つの貫
通孔を有し、前記貫通孔に導電性ペーストが充填されて
いることが好ましい。これにより、熱伝導性に優れ、例
えば基板両面の配線パターンが前記導電性ペーストによ
り電気的に接続された、IVH構造を有する高密度実装
用コンポジット配線基板を容易に得ることができる。ま
た、このシート状基材を用いれば、配線基板の作製の際
に、高温処理の必要がなく、例えば、熱硬化性樹脂の硬
化温度である200℃程度の低温処理で十分である。
In the first and second methods of manufacturing a wiring board, the sheet-like base material includes an inorganic filler and a thermosetting resin composition, and has at least one through hole. Preferably, the holes are filled with a conductive paste. This makes it possible to easily obtain a high-density mounting composite wiring board having an IVH structure, which has excellent thermal conductivity, for example, in which wiring patterns on both surfaces of the substrate are electrically connected by the conductive paste. In addition, when this sheet-shaped base material is used, high-temperature processing is not required when a wiring substrate is manufactured. For example, low-temperature processing at about 200 ° C., which is the curing temperature of a thermosetting resin, is sufficient.

【0102】前記シート状基材は、無機フィラーの割合
が70〜95重量%であり、熱硬化性樹脂組成物の割合
が5〜30重量%であることが好ましく、特に好ましく
は、前記無機フィラーの割合が85〜90重量%であ
り、前記熱硬化性樹脂組成物の割合が10〜15重量%
である。前記シート状基材は、前記無機フィラーを高濃
度含有できることから、その含有量により、配線基板に
おける、熱膨張係数、熱伝導度、誘電率等を任意に設定
することが可能である。
The sheet-like substrate preferably has an inorganic filler content of 70 to 95% by weight, and a thermosetting resin composition content of 5 to 30% by weight, particularly preferably the inorganic filler. Is 85 to 90% by weight, and the ratio of the thermosetting resin composition is 10 to 15% by weight.
It is. Since the sheet-like base material can contain the inorganic filler at a high concentration, it is possible to arbitrarily set a coefficient of thermal expansion, a thermal conductivity, a dielectric constant, and the like in the wiring board according to the content.

【0103】前記無機フィラーは、Al23、MgO、
BN、AlNおよびSiO2からなる群から選択された
少なくとも一つの無機フィラーであることが好ましい。
前記無機フィラーの種類を適宜決定することにより、例
えば、熱伝導性、熱膨張性、誘電率を所望の条件に設定
することが可能である。例えば、前記シート状基材にお
ける平面方向の熱膨張係数を、実装する半導体の熱膨張
係数と同程度に設定し、かつ高熱伝導性を付与すること
も可能である。
The inorganic filler is Al 2 O 3 , MgO,
It is preferable that at least one inorganic filler selected from the group consisting of BN, AlN and SiO 2 is used.
By appropriately determining the type of the inorganic filler, it is possible to set, for example, thermal conductivity, thermal expansion, and dielectric constant to desired conditions. For example, it is possible to set the thermal expansion coefficient in the planar direction of the sheet-like base material to be substantially the same as the thermal expansion coefficient of the semiconductor to be mounted, and to impart high thermal conductivity.

【0104】前記無機フィラーの中でも、例えば、Al
23、BN、AlN等を用いたシート状基材は、熱伝導
性に優れ、MgOを用いたシート状基材は、熱伝導度に
優れ、かつ熱膨張係数を大きくすることができる。ま
た、SiO2、特に非晶質SiO2を使用した場合、熱膨
張係数が小さく、軽い、低誘電率のシート状基材を得る
ことができる。なお、前記無機フィラーは、一種類でも
よいし、二種類以上を併用してもよい。
Among the inorganic fillers, for example, Al
A sheet-like substrate using 2 O 3 , BN, AlN or the like has excellent thermal conductivity, and a sheet-like substrate using MgO has excellent thermal conductivity and a large thermal expansion coefficient. When SiO 2 , particularly amorphous SiO 2, is used, a light, low-permittivity sheet-like substrate having a small coefficient of thermal expansion can be obtained. The inorganic filler may be of one type or two or more types may be used in combination.

【0105】前記無機フィラーと熱硬化性樹脂組成物と
を含むシート状基材は、例えば、以下のようにして作製
できる。まず、前記無機フィラーと熱硬化性樹脂組成物
とを含む混合物に粘度調整用溶媒を加え、任意のスラリ
ー粘度であるスラリーを調製する。前記粘度調製用溶媒
としては、例えば、メチルエチルケトン、トルエン等が
使用できる。
The sheet-like substrate containing the inorganic filler and the thermosetting resin composition can be produced, for example, as follows. First, a viscosity adjusting solvent is added to a mixture containing the inorganic filler and the thermosetting resin composition to prepare a slurry having an arbitrary slurry viscosity. As the viscosity adjusting solvent, for example, methyl ethyl ketone, toluene and the like can be used.

【0106】そして、予め準備した離型フィルム上にお
いて、前記スラリーを用いて、例えば、ドクターブレー
ド法等により造膜し、前記熱硬化性樹脂の硬化温度より
も低い温度で処理して、前記粘度調整用溶媒を揮発させ
た後、前記離型フィルムを除去することによりシート状
基材が作製できる。
Then, on the release film prepared in advance, a film is formed using the slurry by, for example, a doctor blade method or the like, and is treated at a temperature lower than the curing temperature of the thermosetting resin to obtain the viscosity. After the solvent for adjustment is volatilized, the release film is removed to obtain a sheet-like substrate.

【0107】前記造膜した時の膜厚は、前記混合物の組
成や、添加する前記粘度調整用溶媒の量により適宜決定
されるが、通常、厚み80〜200μmの範囲である。
また、前記粘度調製用溶媒を揮発させる条件は、例え
ば、前記粘度調製用溶媒の種類や前記熱硬化性樹脂の種
類等により適宜決定されるが、通常、温度70〜150
℃で、5〜15分間である。
The film thickness at the time of forming the film is appropriately determined depending on the composition of the mixture and the amount of the viscosity adjusting solvent to be added, and is usually in the range of 80 to 200 μm.
The conditions for volatilizing the viscosity adjusting solvent are appropriately determined depending on, for example, the type of the viscosity adjusting solvent and the type of the thermosetting resin.
C. for 5-15 minutes.

【0108】前記離型フィルムとしては、通常は、有機
フィルムが使用でき、例えば、ポリエチレン、ポリエチ
レンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ
フェニレンサルファイド(PPS)、ポリフェニレンテ
レフタレート、ポリイミドおよびポリアミドからなる群
から選択された少なくとも一つの樹脂を含む有機フィル
ムであることが好ましく、特に好ましくはPPSであ
る。
As the release film, generally, an organic film can be used. For example, at least one selected from the group consisting of polyethylene, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyphenylene sulfide (PPS), polyphenylene terephthalate, polyimide and polyamide An organic film containing one resin is preferable, and PPS is particularly preferable.

【0109】また、別のシート状基材としては、シート
状補強材に熱硬化性樹脂組成物を含浸したものであり、
少なくとも一つの貫通孔を有し、前記貫通孔に導電性ペ
ーストが充填されているシート状基材がある。
Further, another sheet-like base material is obtained by impregnating a sheet-like reinforcing material with a thermosetting resin composition,
There is a sheet-like base material having at least one through hole, and the through hole is filled with a conductive paste.

【0110】前記シート状補強材は、前記熱硬化性樹脂
を保持できる多孔性の材料であれば、特に制限されない
が、ガラス繊維の織布、ガラス繊維の不織布、耐熱有機
繊維の織布および耐熱有機繊維の不織布からなる群から
選択された少なくとも一つのシート状補強材であること
が好ましい。前記耐熱有機繊維としては、例えば、全芳
香族ポリアミド(アラミド樹脂)、全芳香族ポリエステ
ル、ポリブチレンオキシド等があげられ、中でもアラミ
ド樹脂が好ましい。他の好ましいシート基材は、ポリイ
ミドなどのフィルムである。ポリイミドなどのフィルム
を用いると、ファインライン性ファインビアなどに優れ
た基板を得ることができる。
The sheet-like reinforcing material is not particularly limited as long as it is a porous material capable of holding the thermosetting resin. However, a woven fabric of glass fiber, a non-woven fabric of glass fiber, a woven fabric of heat-resistant organic fiber and a heat-resistant organic fiber can be used. It is preferable that the material is at least one sheet-like reinforcing material selected from the group consisting of nonwoven fabrics of organic fibers. Examples of the heat-resistant organic fiber include wholly aromatic polyamide (aramid resin), wholly aromatic polyester, polybutylene oxide and the like, and among them, aramid resin is preferable. Another preferred sheet substrate is a film such as a polyimide. When a film such as polyimide is used, a substrate excellent in fine-line fine vias and the like can be obtained.

【0111】前記熱硬化性樹脂は、耐熱性であれば特に
制限されないが、特に耐熱性に優れることから、エポキ
シ系樹脂、フェノール系樹脂およびシアネート系樹脂あ
るいはポリフェニレンフタレート樹脂からなる群から選
択された少なくとも一つの樹脂を含むことが好ましい。
また、前記熱硬化性樹脂は、いずれか一種類でもよい
し、二種類以上を併用してもよい。
The thermosetting resin is not particularly limited as long as it has heat resistance, but is selected from the group consisting of an epoxy resin, a phenol resin, a cyanate resin, and a polyphenylene phthalate resin because of its excellent heat resistance. It is preferable to include at least one resin.
Further, the thermosetting resin may be any one type, or two or more types may be used in combination.

【0112】このような、シート状基材は、例えば、前
記熱硬化性樹脂組成物中に前記シート状補強材を浸漬し
た後、乾燥させ半硬化状態にすることにより作製でき
る。前記浸漬は、前記シート状基材全体における前記熱
硬化性樹脂の割合が、30〜60重量%になるように行
うことが好ましい。
Such a sheet-like substrate can be produced, for example, by immersing the above-mentioned sheet-like reinforcing material in the above-mentioned thermosetting resin composition, followed by drying to obtain a semi-cured state. It is preferable that the immersion is performed such that the ratio of the thermosetting resin in the entire sheet-shaped substrate is 30 to 60% by weight.

【0113】前記多層配線基板の製造方法において、以
上のような、熱硬化性樹脂を含有するシート状基材を用
いる場合は、前記配線基板の積層を、加熱加圧処理によ
る前記熱硬化性樹脂の硬化によって行うことが好まし
い。これによれば、前記配線基板の積層工程において、
例えば、前記熱硬化性樹脂の硬化温度である200℃程
度の低温処理で十分である。
In the method for manufacturing a multilayer wiring board, when a sheet-like base material containing a thermosetting resin as described above is used, the lamination of the wiring boards is performed by heating and pressing the thermosetting resin. It is preferable to carry out by curing. According to this, in the laminating step of the wiring board,
For example, a low-temperature treatment of about 200 ° C., which is the curing temperature of the thermosetting resin, is sufficient.

【0114】また、さらに別のシート状基材としては、
有機バインダ、可塑剤およびセラミック粉末を含むグリ
ーンシートであって、少なくとも一つの貫通孔を有し、
前記貫通孔に導電性ペーストが充填されているものがあ
る。このシート状基材は、高耐熱性で密閉性が良く、熱
伝導性にも優れる。
Further, as another sheet-like base material,
A green sheet including an organic binder, a plasticizer, and a ceramic powder, having at least one through hole,
Some of the through holes are filled with a conductive paste. This sheet-shaped base material has high heat resistance, good airtightness, and excellent heat conductivity.

【0115】前記セラミック粉末は、Al23、Mg
O、ZrO2、TiO2、BeO、BN、SiO2、Ca
Oおよびガラスからなる群から選択された少なくとも一
つのセラミックを含むことが好ましく、特に好ましく
は、Al23 50〜55重量%とガラス粉45〜50
重量%との混合物である。なお、前記セラミックは、一
種類でもよいし、二種類以上を併用してもよい。
The ceramic powder is composed of Al 2 O 3 , Mg
O, ZrO 2 , TiO 2 , BeO, BN, SiO 2 , Ca
It preferably contains at least one ceramic selected from the group consisting of O and glass, particularly preferably 50 to 55% by weight of Al 2 O 3 and 45 to 50% of glass powder.
% By weight. The ceramics may be of one type, or two or more types may be used in combination.

【0116】前記有機バインダとしては、例えば、ポリ
ビニルブチラート(PVB)、アクリル樹脂、メチルセ
ルロース樹脂等が使用でき、前記可塑剤としては、例え
ば、ブチルベンジルフタレート(BBP)、ジブチルフ
タレート(DBP)等が使用できる。
As the organic binder, for example, polyvinyl butyrate (PVB), acrylic resin, methyl cellulose resin and the like can be used. As the plasticizer, for example, butyl benzyl phthalate (BBP), dibutyl phthalate (DBP) and the like can be used. Can be used.

【0117】このような、前記セラミック粉等を含むグ
リーンシートは、例えば、前記無機フィラーと熱硬化性
樹脂とを含むシート状基材の前記作製方法と同様にして
作製できる。なお、各処理条件は、前記構成材料の種類
等により適宜決定される。
Such a green sheet containing the ceramic powder and the like can be produced, for example, in the same manner as the above-mentioned method for producing a sheet-like base material containing the inorganic filler and the thermosetting resin. Note that each processing condition is appropriately determined depending on the type of the constituent material and the like.

【0118】前記多層配線基板の製造方法において、前
記シート状基材として前記グリーンシートを用いる場
合、前記配線基板の積層を、加熱加圧処理による前記シ
ート状基材の接着と、焼成によるセラミック粉末の焼結
とにより行うことが好ましい。
In the method of manufacturing a multilayer wiring board, when the green sheet is used as the sheet-like base material, the wiring board is laminated by bonding the sheet-like base material by heating and pressing, and by sintering the ceramic powder. And sintering.

【0119】以上のような前記シート状基材の厚みは、
通常、30〜250μmの範囲である。
The thickness of the above-mentioned sheet-like substrate is as follows:
Usually, it is in the range of 30 to 250 μm.

【0120】前記シート状基材は、前述のように、少な
くとも一つの貫通孔を有し、前記貫通孔に導電性ペース
トが充填されていることが好ましい。前記貫通孔の位置
は、通常、配線パターンと接触するように形成されれ
ば、特に制限されないが、ピッチが、250〜500μ
mの等間隔の位置に形成されることが好ましい。
It is preferable that the sheet-like substrate has at least one through hole as described above, and the through hole is filled with a conductive paste. The position of the through-hole is not particularly limited as long as it is formed so as to be in contact with the wiring pattern.
It is preferable to form them at equal intervals of m.

【0121】前記貫通孔の大きさは、特に制限されない
が、通常、直径100〜200μmの範囲であり、好ま
しくは、直径100〜150μmの範囲である。
The size of the through hole is not particularly limited, but is usually in the range of 100 to 200 μm in diameter, and preferably in the range of 100 to 150 μm in diameter.

【0122】前記貫通孔の形成方法は、前記シート状基
材の種類等により適宜決定されるが、例えば、炭酸ガス
レーザー加工、パンチングマシーンによる加工、金型に
よる一括加工等があげられる。
The method of forming the through holes is appropriately determined depending on the type of the sheet-like base material and the like, and examples thereof include carbon dioxide laser processing, processing by a punching machine, and collective processing by a mold.

【0123】前記導電性ペーストとしては、導電性を有
していれば、特に制限されないが、通常、導電性金属材
料の粒子を含有する樹脂等が使用できる。前記導電性金
属材料としては、例えば、銅、銀、金、銀パラジウム等
が使用でき、前記樹脂としては、エポキシ系樹脂、フェ
ノール系樹脂、アクリル系樹脂等の熱硬化性樹脂が使用
できる。また、前記導電性ペースト中の前記導電性金属
材料の含量は、通常、80〜95重量%の範囲である。
また、前記シート状基材がセラミックグリーンシートの
場合は、熱硬化性樹脂の代わりにガラス及びアクリルバ
インダーが用いられる。
The conductive paste is not particularly limited as long as it has conductivity, but usually a resin containing particles of a conductive metal material can be used. As the conductive metal material, for example, copper, silver, gold, silver palladium, or the like can be used. As the resin, a thermosetting resin such as an epoxy resin, a phenol resin, or an acrylic resin can be used. Further, the content of the conductive metal material in the conductive paste is usually in the range of 80 to 95% by weight.
When the sheet-like base material is a ceramic green sheet, glass and an acrylic binder are used instead of the thermosetting resin.

【0124】つぎに、前記(h)工程における転写材と
シート状基材との接着方法、および(i)工程における
前記第2の金属層から第1の金属層を剥離する方法は、
特に制限されないが、前記シート状基材が熱硬化性樹脂
を含む場合、例えば、以下に示すようにして行うことが
できる。
Next, the method of bonding the transfer material and the sheet-like substrate in the step (h) and the method of peeling the first metal layer from the second metal layer in the step (i) are as follows:
Although not particularly limited, when the sheet-like substrate contains a thermosetting resin, for example, it can be performed as described below.

【0125】まず、前記転写材とシート状基材とを、前
述のように配置し、これらを加熱加圧処理することによ
って、前記シート状基材中の前記熱硬化性樹脂を溶融軟
化させ、前記シート状基材に、配線パターンを形成する
金属層(第2の金属層等)を埋没させる。続いて、これ
らを前記熱硬化性樹脂の軟化温度あるいは硬化温度で処
理し、後者の場合は、前記樹脂を硬化させる。これによ
り、前記転写材とシート状基材とを接着でき、また、前
記第2の金属層とシート状基材との接着も固定される。
First, the transfer material and the sheet-like base material are arranged as described above, and these are heat-pressed to melt-soften the thermosetting resin in the sheet-like base material. A metal layer (a second metal layer or the like) for forming a wiring pattern is buried in the sheet-like base material. Subsequently, these are treated at the softening or curing temperature of the thermosetting resin, and in the latter case, the resin is cured. Thereby, the transfer material and the sheet-shaped base material can be bonded, and the bonding between the second metal layer and the sheet-shaped base material is also fixed.

【0126】前記加熱加圧条件は、前記熱硬化性樹脂が
完全硬化しない範囲であれば、特に制限されないが、通
常、圧力約9.8×105〜9.8×106Pa(10〜
100kgf/cm2)、温度70〜260℃、時間3
0〜120分間である。
The heating and pressing conditions are not particularly limited as long as the thermosetting resin is not completely cured, but usually, the pressure is about 9.8 × 10 5 to 9.8 × 10 6 Pa (10 to 10 × 10 6 Pa).
100 kgf / cm 2 ), temperature 70 to 260 ° C., time 3
0-120 minutes.

【0127】そして、前記転写材とシート状基材とが接
着した後、例えば、前記キャリア層である第1の金属層
を引っ張り、剥離層内で剥離することによって、前記第
2の金属層から第1の金属層を剥離することができる。
すなわち、剥離層を介した前記第1の金属層と前記第2
の金属層との接着強度が、シート状基材と配線層である
第2の金属層との接着強度よりも弱いことから、前記第
1の金属層と第2の金属層との接着面が剥離し、前記シ
ート状基材には第2の金属層のみが転写され、第1の金
属層は、剥離される。なお、前記熱硬化性樹脂の硬化
は、前記第2の金属層から第1の金属層を剥離した後に
行ってもよい。
After the transfer material and the sheet-like base material are adhered to each other, for example, the first metal layer serving as the carrier layer is pulled and peeled in a peeling layer, thereby removing the second metal layer from the second metal layer. The first metal layer can be peeled.
That is, the first metal layer and the second metal
Since the adhesive strength between the first metal layer and the second metal layer is weaker than the adhesive strength between the sheet-shaped substrate and the second metal layer serving as the wiring layer, After peeling, only the second metal layer is transferred to the sheet-like substrate, and the first metal layer is peeled. The curing of the thermosetting resin may be performed after the first metal layer is separated from the second metal layer.

【0128】一方、前記シート状基材が、前記セラミッ
クを含むグリーンシートである場合は、例えば、以下に
示すようにして行うことができる。前述と同様にして、
加熱加圧処理を行うことにより、配線パターンを形成す
る金属層を前記シート状基材に埋没させ、前記シート状
基材と転写材とを接着できる。その後、前述と同様に、
前記剥離により、前記配線層(第2の金属層等)以外の
転写材の構成材料を除去する。そして、配線パターンを
形成する第2の金属層等が転写された前記グリーンシー
トの両面もしくは片面に、前記グリーンシートの焼結温
度で実質的に焼結収縮しない無機組成物を主成分とする
拘束シートを配置、積層した後、脱バインダ処理および
焼成処理を行う。さらに、その後、前記拘束シートを取
り除き、第2の金属層等で構成された配線パターンを有
するセラミック基板を形成することができる。
On the other hand, when the sheet-like base material is a green sheet containing the ceramic, it can be carried out, for example, as follows. As before,
By performing the heating and pressurizing treatment, the metal layer forming the wiring pattern can be buried in the sheet-like substrate, and the sheet-like substrate and the transfer material can be bonded. Then, as before,
By the peeling, constituent materials of the transfer material other than the wiring layer (the second metal layer or the like) are removed. Then, on both surfaces or one surface of the green sheet to which the second metal layer or the like forming the wiring pattern is transferred, a constraint mainly composed of an inorganic composition that does not substantially shrink at the sintering temperature of the green sheet. After arranging and laminating the sheets, binder removal processing and firing processing are performed. Further, thereafter, the constraining sheet is removed, and a ceramic substrate having a wiring pattern formed of a second metal layer or the like can be formed.

【0129】前記転写の際に行われる加熱加圧条件は、
例えば、前記グリーンシートおよび導電性ペーストに含
まれる熱硬化性樹脂の種類等により適宜決定されるが、
通常、圧力約9.8×105〜1.96×107Pa(1
0〜200kgf/cm2)、温度70〜100℃、時
間2〜30分間である。従って、何らグリーンシートに
損傷を与えることなく配線パターンを形成することがで
きる。
The heating and pressing conditions performed in the transfer are as follows:
For example, it is appropriately determined according to the type of the thermosetting resin contained in the green sheet and the conductive paste,
Normally, the pressure is about 9.8 × 10 5 to 1.96 × 10 7 Pa (1
0 to 200 kgf / cm 2 ), the temperature is 70 to 100 ° C., and the time is 2 to 30 minutes. Therefore, the wiring pattern can be formed without damaging the green sheet.

【0130】前記配線パターンが形成されたグリーンシ
ートの両面もしくは片面に、前記グリーンシートの焼結
温度で実質的に焼結収縮しない無機組成物を主成分とす
る拘束シートを配置、積層する加熱加圧条件は、例え
ば、前記グリーンシート及び拘束シートに含まれる熱硬
化性樹脂の種類等により適宜決定されるが、通常、圧力
約1.96×106〜1.96×107Pa(20〜20
0kgf/cm2)、温度70〜100℃、時間1〜1
0分間である。
On both sides or one side of the green sheet on which the wiring pattern is formed, a constraining sheet mainly composed of an inorganic composition which does not substantially shrink at the sintering temperature of the green sheet is arranged and laminated. The pressure condition is appropriately determined depending on, for example, the type of the thermosetting resin contained in the green sheet and the restraint sheet, but is usually about 1.96 × 10 6 to 1.96 × 10 7 Pa (20 to 20
0 kgf / cm 2 ), temperature 70-100 ° C, time 1-1
0 minutes.

【0131】前記脱バインダ処理は、例えば、前記バイ
ンダーの種類、配線パターンを構成する金属等により、
その条件が適宜決定されるが、通常、電気炉を用いて、
温度500〜700℃で、昇温時間:10時間、保持時
間:2〜5時間処理することによって行うことができ
る。特に銅箔配線の場合は、熱分解性に優れたメタクリ
ル酸系アクリルバインダー等の有機バインダーで構成さ
れたグリーンシートを用い、非酸化雰囲気である窒素雰
囲気下で、脱バインダーおよび焼成を行うことになる。
In the binder removal processing, for example, the kind of the binder, the metal constituting the wiring pattern, etc.
The conditions are determined as appropriate, but usually, using an electric furnace,
The treatment can be carried out at a temperature of 500 to 700 ° C., a temperature rise time of 10 hours and a holding time of 2 to 5 hours. In particular, in the case of copper foil wiring, using a green sheet composed of an organic binder such as a methacrylic acid-based acrylic binder having excellent thermal decomposability, performing debinding and firing under a nitrogen atmosphere which is a non-oxidizing atmosphere. Become.

【0132】前記焼成処理の条件は、例えば、前記セラ
ミックの種類等により適宜決定されるが、通常、ベルト
炉を用いて、空気中または窒素中で、温度860〜95
0℃、時間30〜60分である。
The conditions of the firing treatment are appropriately determined depending on, for example, the type of the ceramics and the like. Usually, the temperature is 860 to 95 in air or nitrogen using a belt furnace.
0 ° C., time 30-60 minutes.

【0133】ここで、前記第2の製造方法についてさら
に説明する。この方法により多層配線基板を作製する場
合は、前述のようにして作製された単層の配線基板を積
層し、層間を接着する。なお、単層配線基板を複数枚積
層した後に、一括して接着固定することも可能である。
Now, the second manufacturing method will be further described. When a multilayer wiring board is manufactured by this method, the single-layer wiring boards manufactured as described above are stacked, and the layers are bonded. In addition, after laminating a plurality of single-layer wiring boards, it is also possible to collectively fix and fix them.

【0134】例えば、熱硬化性樹脂を含むシート状基材
を用いて作製された配線基板を積層して多層配線基板を
作製する場合は、まず、前述と同様に、加熱加圧処理に
よって、前記シート状基材に、転写材から配線層(第2
の金属層等)のみを転写し、単層の配線基板を得る。な
お、この配線基板を得る際に、前記熱硬化性樹脂は、硬
化処理されず、未硬化状態に保たれている。この単層の
配線基板を複数枚準備し、積層する。そして、この積層
体を、前記熱硬化性樹脂の硬化温度で加熱加圧処理し、
前記熱硬化性樹脂を硬化することによって、前記配線基
板間を接着固定する。前記単層配線基板において配線層
を転写するための加熱加圧処理の温度を意図的に100
℃以下にすると、転写後もシート状基材を殆どプリプレ
グのように扱える。これにより、単層配線基板を順次接
着固定するのではなく、単層配線基板を積層した後に一
括して接着固定することにより、多層配線基板を作製す
ることが可能となる。
For example, when a multilayer wiring board is manufactured by laminating wiring boards manufactured using a sheet-like base material containing a thermosetting resin, first, as described above, the heating and pressurizing treatment is performed. On the sheet-like base material, the transfer material is used to form the wiring layer (second
Is transferred to obtain a single-layer wiring board. When the wiring substrate is obtained, the thermosetting resin is not cured and is kept in an uncured state. A plurality of the single-layer wiring boards are prepared and laminated. Then, the laminate is heated and pressed at the curing temperature of the thermosetting resin,
By curing the thermosetting resin, the wiring boards are bonded and fixed. The temperature of the heating and pressurizing treatment for transferring the wiring layer in the single-layer wiring board is intentionally set to 100.
When the temperature is lower than ℃, the sheet-like substrate can be almost treated like a prepreg even after the transfer. This makes it possible to manufacture a multilayer wiring board by bonding and fixing the single-layer wiring boards in a lump after laminating the single-layer wiring boards, instead of sequentially bonding and fixing the single-layer wiring boards.

【0135】また、ガラスエポキシ基板等をコア層とす
るビルドアップ基板の場合、本発明の転写材を用いるこ
とによって、シート状基材が未硬化の状態で配線パター
ンを転写して単層配線基板を形成し、これらの単層配線
基板を未硬化状態のまま順次積層し、この積層体を一括
して硬化させる方法によって作製することが可能とな
る。
In the case of a build-up substrate having a core layer made of a glass epoxy substrate or the like, the transfer material of the present invention is used to transfer a wiring pattern in a state where the sheet-like base material is not cured to form a single-layer wiring substrate. Is formed, these single-layer wiring boards are sequentially laminated in an uncured state, and the laminated body can be collectively cured by a method in which the laminated bodies are collectively cured.

【0136】また、例えば、セラミックを含むシート状
基材を用いたセラミック配線基板を積層して多層配線基
板を作製する場合は、前述と同様に、前記シート状基材
に転写材を圧着させて配線層(第2の金属層等)のみを
転写した後、この単層のセラミック配線基板を複数積層
し、加熱加圧処理と、前記セラミックの焼成とを行うこ
とにより、前記配線基板間を接着固定する。
For example, when a multilayer wiring board is manufactured by laminating ceramic wiring boards using a sheet-like base material containing ceramic, a transfer material is pressed onto the sheet-like base material in the same manner as described above. After transferring only the wiring layer (such as the second metal layer), a plurality of the single-layer ceramic wiring boards are stacked, and the heating and pressurizing treatment and the firing of the ceramic are performed to bond the wiring boards together. Fix it.

【0137】前記多層配線基板における積層数は、特に
制限されないが、通常、4〜10層であり、20層に及
ぶものも可能である。また、前記多層配線基板の全体の
厚みは、通常、200〜1000μmである。
Although the number of layers in the multilayer wiring board is not particularly limited, it is usually 4 to 10 layers, and may be as many as 20 layers. Further, the overall thickness of the multilayer wiring board is usually 200 to 1000 μm.

【0138】なお、前記多層配線基板の最外層を構成す
る配線基板は、電気的接続に優れることから、前述した
ように、本発明の転写材(第1、第2、または第3の転
写材)を用いることによって表面の凹部に配線層(第2
の金属層等)が埋め込まれた構造であることが好まし
い。また、前記多層配線基板の最外層以外の中間層は、
表面が平坦な構造の配線基板でもよいが、表面に凹部に
配線層(第2の金属層等)が形成された配線基板であっ
てもよい。
Since the wiring board constituting the outermost layer of the multilayer wiring board is excellent in electrical connection, as described above, the transfer material of the present invention (first, second or third transfer material) is used. ) To form a wiring layer (second
Metal layer) is preferably embedded. Further, an intermediate layer other than the outermost layer of the multilayer wiring board,
A wiring substrate having a flat surface may be used, or a wiring substrate having a wiring layer (a second metal layer or the like) formed in a concave portion on the surface may be used.

【0139】つぎに、本発明の配線基板の構成につい
て、下記に詳細に説明する。
Next, the configuration of the wiring board of the present invention will be described in detail below.

【0140】本発明の転写材(第1、第2、または第3
の転写材)を用いて作製される配線基板の第1の形態
は、図8に示すように、シート状基材805の表面に配
線パターン801が形成された配線基板であって、少な
くとも一方の表面に、少なくとも一つの凹部を有し、前
記凹部の底部に前記配線パターン801が形成されるこ
とを特徴とする。また、配線パターン801の上に、メ
ッキ処理により金等のメッキ層802が形成されたこと
を特徴とする。
The transfer material of the present invention (first, second or third transfer material)
As shown in FIG. 8, the first mode of the wiring board manufactured using the transfer material of (1) is a wiring board in which a wiring pattern 801 is formed on the surface of a sheet-like base material 805. At least one concave portion is provided on the surface, and the wiring pattern 801 is formed at the bottom of the concave portion. Further, a plating layer 802 of gold or the like is formed on the wiring pattern 801 by plating.

【0141】これによれば、例えば、この配線基板上に
半導体のフリップチップ実装を行う場合に、図9に示す
ように、半導体905に形成されたバンプ904を位置
決めするために、前記凹部を利用できる。また、半導体
905との接続部903が、化学的に安定な金メッキ層
等の上に形成されていることにより、接触抵抗が小さく
なると共に、信頼性が向上する。また、凹部を利用して
メッキ処理を施すため、沿面距離を確保することがで
き、メッキ間の短絡等が生じず、微細な配線パターンの
信頼性を維持することができる。
According to this, for example, when flip-chip mounting a semiconductor on this wiring board, as shown in FIG. 9, the concave portion is used to position the bump 904 formed on the semiconductor 905. it can. In addition, since the connection portion 903 with the semiconductor 905 is formed on a chemically stable gold plating layer or the like, contact resistance is reduced and reliability is improved. Further, since the plating process is performed using the concave portion, the creepage distance can be secured, a short circuit between the plating does not occur, and the reliability of the fine wiring pattern can be maintained.

【0142】前記配線基板において、前記配線パターン
層の厚みは、3〜35μmの範囲であることが好まし
い。前記厚みが3μmより薄いと、良好な導電性が得ら
れないおそれがある。一方、35μmより厚いと、微細
な配線パターンを形成することが困難となるおそれがあ
る。
[0142] In the wiring board, the thickness of the wiring pattern layer is preferably in the range of 3 to 35 µm. If the thickness is less than 3 μm, good conductivity may not be obtained. On the other hand, if it is thicker than 35 μm, it may be difficult to form a fine wiring pattern.

【0143】前記配線基板において、前記凹部の深さ
が、1〜12μmの範囲であることが好ましい。前記深
さが12μmより深いと、例えば、半導体を実装する場
合に、いずれかのバンプが前記配線パターンに接触でき
ないおそれや、封止樹脂の封止時間がかかるおそれがあ
る。また、前記深さが1μmより浅いと、前記バンプの
位置決めに、前記凹部を利用できないおそれがある。
In the wiring board, it is preferable that the depth of the recess is in the range of 1 to 12 μm. If the depth is greater than 12 μm, for example, when mounting a semiconductor, there is a possibility that any of the bumps may not be able to contact the wiring pattern or a time for sealing the sealing resin may be required. If the depth is smaller than 1 μm, the recess may not be used for positioning the bump.

【0144】本発明の転写材を用いて作製される配線基
板の第2の形態は、例えば図10(j)に示すように、
シート状基材1001の表面に配線パターン(1002
等)が形成された多層配線基板であって、少なくとも一
方の表面に、少なくとも一つの凹部を有し、前記凹部の
底部に前記配線パターンが形成されたことを特徴とす
る。この多層配線基板は、本発明の転写材を用いること
によって、各層の配線基板において、シート状基材が未
硬化状態あるいはグリーンシートの状態で、配線パター
ンが形成されることが、可能である。これにより、単層
配線基板を積層した後に一括して接着固定させたり、シ
ート状基材と金属箔配線パターンとを同時焼成すること
が可能となる。この結果、各層の層間ビアをはじめとす
る配線パターンの位置精度が極めて高い多層配線基板を
得ることができる。
The second mode of the wiring board manufactured using the transfer material of the present invention is, for example, as shown in FIG.
A wiring pattern (1002) is formed on the surface of the sheet-like substrate 1001.
Etc.), wherein at least one surface has at least one concave portion, and the wiring pattern is formed at the bottom of the concave portion. By using the transfer material of the present invention, it is possible for this multilayer wiring board to form a wiring pattern on the wiring board of each layer in an uncured sheet state or a green sheet state. This makes it possible to bond and fix the single-layer wiring boards all together after lamination, or to simultaneously fire the sheet-like base material and the metal foil wiring pattern. As a result, it is possible to obtain a multilayer wiring board having extremely high positional accuracy of the wiring pattern including the interlayer via of each layer.

【0145】本発明の転写材を用いて作製される配線基
板の第3の形態は、図11に示すように、セラミックか
らなる電気絶縁性基板1608と、少なくとも熱硬化性
樹脂組成物を含む電気絶縁性基板1602との積層構造
からなる多層配線基板である。電気絶縁性基板1602
は、本発明の転写材を用いることによって、配線パター
ンが表面から突出しない状態に形成されている。また、
前記転写材により配線パターンが転写された、未硬化状
態の熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性シートと、セ
ラミックからなる電気絶縁性基板とを積層し、比較的小
さいプレス圧で一括して硬化させることが可能であり、
セラミック層に損傷を与えることなく、多層配線基板を
実現することができる。
As shown in FIG. 11, a third embodiment of a wiring board manufactured using the transfer material of the present invention is an electric insulating board 1608 made of ceramic and an electric board containing at least a thermosetting resin composition. It is a multilayer wiring board having a laminated structure with an insulating substrate 1602. Electrically insulating substrate 1602
Is formed so that the wiring pattern does not protrude from the surface by using the transfer material of the present invention. Also,
The wiring pattern is transferred by the transfer material, an electrical insulating sheet containing a thermosetting resin composition in an uncured state, and an electrical insulating substrate made of ceramic are laminated, and collectively with a relatively small press pressure. Can be cured,
A multilayer wiring board can be realized without damaging the ceramic layer.

【0146】一方、前記多層配線基板は、予め、セラミ
ック基板に印刷および焼成にて配線パターンを形成して
おいた後、熱硬化樹脂組成物を含む電気絶縁性シートと
接合させることにより、作製することもできる。但し、
印刷で形成された配線パターンは、突起物となるため、
熱硬化樹脂組成物を含む電気絶縁性シートと接合させる
工程において、応力集中が発生し、セラミック基板層の
クラックの起点となることが多い。
On the other hand, the multilayer wiring board is manufactured by forming a wiring pattern on a ceramic substrate in advance by printing and firing, and then bonding the wiring pattern to an electrically insulating sheet containing a thermosetting resin composition. You can also. However,
Since the wiring pattern formed by printing becomes a projection,
In the step of bonding to the electrically insulating sheet containing the thermosetting resin composition, stress concentration occurs, and often becomes a starting point of cracks in the ceramic substrate layer.

【0147】本発明の転写材を用いて作製される配線基
板の第4の形態は、図12に示すように、前記第3の形
態にかかる配線基板同様、セラミックからなる電気絶縁
性基板1608と、少なくとも熱硬化性樹脂組成物を含
む電気絶縁性基板1602との積層構造からなる多層配
線基板である。さらに、積層された電気絶縁性基板の各
層において、所定の位置に、導電性ビア組成物が充填さ
れた層間ビアホール1603が配され、これと電気的に
接続された配線パターン1610が形成されている。こ
の構造によれば、セラミック基板と樹脂基板との積層体
でありながら、セラミック基板のみからなる多層配線基
板、または樹脂基板のみからなる多層配線基板の配線ル
ールと同様の多層配線接続を得ることができる。
As shown in FIG. 12, the fourth embodiment of the wiring board manufactured by using the transfer material of the present invention is the same as the wiring board according to the third embodiment, except that an electric insulating substrate 1608 made of ceramic is used. And a multilayer wiring board having a laminated structure with an electrically insulating substrate 1602 containing at least a thermosetting resin composition. Further, in each layer of the laminated electrically insulating substrate, an interlayer via hole 1603 filled with a conductive via composition is disposed at a predetermined position, and a wiring pattern 1610 electrically connected to the interlayer via hole 1603 is formed. . According to this structure, it is possible to obtain the same multilayer wiring connection as the wiring rule of the multilayer wiring board composed only of the ceramic substrate or the multilayer wiring substrate composed only of the resin substrate, though it is a laminate of the ceramic substrate and the resin substrate. it can.

【0148】この場合、セラミック基板の層間接続ビア
に用いられる導電性組成物としては、金属粉とガラス粉
からなる焼結物が、樹脂基板の層間接続ビアに用いられ
る導電性組成物としては、金属粉と熱硬化性樹脂との混
合物からなる樹脂組成物が用いられる。
In this case, as the conductive composition used for the interlayer connection via of the ceramic substrate, a sintered product composed of metal powder and glass powder is used, and as the conductive composition used for the interlayer connection via of the resin substrate, A resin composition composed of a mixture of a metal powder and a thermosetting resin is used.

【0149】また、熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁
性基板とセラミック基板との界面に於いて、セラミック
基板に形成された配線層が、表面から突出せず、セラミ
ック基板内に内蔵されていることを特徴とする。
At the interface between the electrically insulating substrate containing the thermosetting resin composition and the ceramic substrate, the wiring layer formed on the ceramic substrate does not protrude from the surface and is built in the ceramic substrate. It is characterized by being.

【0150】また、セラミック層の焼成工程に於いて
は、配線パターンが転写されたグリーンシートの両面も
しくは片面に、グリーンシートの焼結温度で実質的に焼
結収縮しない無機組成物を主成分とする拘束シートを配
置した後、焼成処理を行うことが好ましい。これによ
り、平面方向に無収縮な焼結を実現することができるた
め、樹脂系基板と積層するにあたっても、共通の層間ビ
ア位置データを採用することができる。
In the firing step of the ceramic layer, an inorganic composition which does not substantially shrink at the sintering temperature of the green sheet is mainly used on both or one side of the green sheet to which the wiring pattern has been transferred. After arranging the constraining sheet, it is preferable to perform a baking treatment. Thus, sintering without shrinkage in the plane direction can be realized, so that even when laminating with a resin-based substrate, common interlayer via position data can be adopted.

【0151】もちろん、予め、ビアペーストを充填した
セラミックグリーンシートに印刷および焼成にて配線パ
ターンを形成しておいた後、これと熱硬化樹脂組成物を
含む電気絶縁性シートとを接合させて、積層体の層間接
続を実現しても構わない。但し、印刷で形成された配線
パターンは、突起物となるため、熱硬化樹脂組成物を含
む電気絶縁性シートとセラミックグリーンシートとを接
合させる工程に於いて、応力集中が発生し、セラミック
基板層のクラックの起点となることが多い。
Of course, after forming a wiring pattern on a ceramic green sheet filled with via paste in advance by printing and firing, this is joined to an electrical insulating sheet containing a thermosetting resin composition. The interlayer connection of the laminate may be realized. However, since the wiring pattern formed by printing becomes a projection, stress concentration occurs in the step of joining the electrically insulating sheet containing the thermosetting resin composition and the ceramic green sheet, and the ceramic substrate layer Cracks often start.

【0152】また、図13に示すように、本発明の転写
材を用いることによって、比較的機械的強度の強いアル
ミナ基板や高熱伝導性を特徴とする窒化アルミ基板等の
焼結温度が高いセラミック基板1708と、少なくとも
熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性基板1702との
積層構造により、低抵抗配線が形成された多層配線基板
を作製することが可能となる。ここでは、セラミック基
板に用いられる層間ビアも樹脂系基板に用いられる層間
ビアも同じ、熱硬化性の導電性樹脂組成物で形成されて
いることが特徴である。
As shown in FIG. 13, by using the transfer material of the present invention, a ceramic having a high sintering temperature such as an alumina substrate having relatively high mechanical strength or an aluminum nitride substrate having high thermal conductivity can be obtained. With the stacked structure of the substrate 1708 and the electrically insulating substrate 1702 containing at least the thermosetting resin composition, a multilayer wiring substrate in which low-resistance wiring is formed can be manufactured. Here, the feature is that the interlayer via used for the ceramic substrate and the interlayer via used for the resin-based substrate are formed of the same thermosetting conductive resin composition.

【0153】もちろん、ここで用いられるセラミック基
板としては、銅や銀と同時焼成可能な低温焼成セラミッ
ク、例えばアルミナ基ガラスセラミック、Bi−Ca−
Nb−O系セラミック等を用いても構わない。
Of course, the ceramic substrate used here is a low-temperature fired ceramic which can be fired simultaneously with copper or silver, for example, an alumina-based glass ceramic, Bi-Ca-
Nb-O-based ceramics or the like may be used.

【0154】本発明の転写材を用いて作製される配線基
板の第5の形態は、図14に示すように、前記第3ある
いは第4の形態にかかる配線基板と同様に、熱硬化性樹
脂組成物を含む電気絶縁性基板とセラミックからなる電
気絶縁性基板との積層構造を持つ異種積層配線基板の一
種であり、熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性基板1
807を介して、異なる組成を有する異種のセラミック
からなる電気絶縁性基板1801・1802が積層され
ている。
As shown in FIG. 14, the fifth embodiment of the wiring board manufactured by using the transfer material of the present invention is the same as the wiring board according to the third or fourth embodiment, except that a thermosetting resin is used. An electrically insulating substrate 1 containing a thermosetting resin composition, which is a kind of a heterogeneous laminated wiring substrate having a laminated structure of an electrically insulating substrate containing a composition and an electrically insulating substrate made of ceramic.
Electric insulating substrates 1801 and 1802 made of different kinds of ceramics having different compositions are laminated via 807.

【0155】この構造によれば、従来、焼結温度や焼成
収縮パターンが異なったり、焼結時の相互拡散等の要因
により技術的に困難であった、磁性体セラミックと誘電
体セラミックとの異種積層や、高誘電率の誘電体セラミ
ックと低誘電率の誘電体セラミックとの異種積層を容易
に構成することができる。なお、本発明の異種積層配線
基板の作製工程に於いては、本発明の転写材を用いて、
例えば銅箔等の配線パターンを、グリーンシートあるい
は未硬化の熱硬化性樹脂含シートに転写することによ
り、各層の配線基板を作製する。これにより、積層時に
損傷を生じることなく、全層低抵抗な配線を有する積層
体が得られる。
According to this structure, different types of magnetic ceramics and dielectric ceramics have been conventionally used, which have been technically difficult due to factors such as different sintering temperatures and firing shrinkage patterns and mutual diffusion during sintering. Lamination and different types of lamination of a high dielectric constant dielectric ceramic and a low dielectric constant dielectric ceramic can be easily configured. Incidentally, in the manufacturing process of the heterogeneous laminated wiring board of the present invention, using the transfer material of the present invention,
For example, a wiring pattern of a copper foil or the like is transferred to a green sheet or an uncured thermosetting resin-containing sheet, thereby producing a wiring substrate of each layer. As a result, a laminate having wirings with low resistance in all layers can be obtained without causing damage during lamination.

【0156】この第5の形態にかかる配線基板では、セ
ラミック基板の間に熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁
性基板を介在させたことにより、焼結温度が互いに異な
るセラミック基板を積層する事が可能である。これによ
り、例えば、各層の誘電率が互いに異なる異種積層配線
基板や、磁性体層と誘電体層とを積層した異種積層配線
基板を、容易に実現することができる。
In the wiring board according to the fifth embodiment, the ceramic substrates having different sintering temperatures are laminated by interposing the electrically insulating substrate containing the thermosetting resin composition between the ceramic substrates. Is possible. Thereby, for example, a heterogeneous laminated wiring board in which the dielectric constant of each layer is different from each other, or a heterogeneous laminated wiring board in which a magnetic layer and a dielectric layer are laminated can be easily realized.

【0157】もちろん、予め、ビアペーストを充填した
セラミックグリーンシートに印刷および焼成にて配線パ
ターンを形成しておいた後、熱硬化樹脂組成物を含む電
気絶縁性シートと接合させて、積層体の層間接続を行っ
ても構わない。但し、印刷で形成された配線パターン
は、突起物となるため、熱硬化樹脂組成物を含む電気絶
縁性シートと接合させる工程に於いて、応力集中が発生
しセラミック基板層のクラックの起点となることが多
い。
Of course, after forming a wiring pattern on a ceramic green sheet filled with via paste in advance by printing and baking, it is joined to an electrically insulating sheet containing a thermosetting resin composition to form a laminate. Interlayer connection may be performed. However, since the wiring pattern formed by printing becomes a projection, in the step of bonding to the electrically insulating sheet containing the thermosetting resin composition, stress concentration occurs and becomes a starting point of cracks in the ceramic substrate layer. Often.

【0158】本発明の転写材を用いて作製される配線基
板の第6の形態は、図15に示すように、前記第4ある
いは第5の形態にかかる配線基板と同様に、セラミック
からなる電気絶縁性基板1801・1802と、少なく
とも熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性基板1807
との積層構造からなる。そして、少なくとも最上層ある
いは最下層に、前記熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁
性基板1807が配され、内層にセラミックからなる電
気絶縁性基板1801・1802が配されることを特徴
とする。この構造によれば、基板の最表面を覆う層が、
割れにくい性質を有する熱硬化性樹脂組成物で形成され
ているため、耐落下性等に優れる。
As shown in FIG. 15, the sixth embodiment of the wiring board manufactured by using the transfer material of the present invention is, like the wiring board according to the fourth or fifth embodiment, made of an electric material made of ceramic. Insulating substrates 1801 and 1802, and electrically insulating substrate 1807 including at least a thermosetting resin composition
And a laminated structure. An electric insulating substrate 1807 containing the thermosetting resin composition is disposed at least on the uppermost layer or the lowermost layer, and electric insulating substrates 1801 and 1802 made of ceramic are disposed on the inner layer. According to this structure, the layer covering the outermost surface of the substrate is
Since it is formed of a thermosetting resin composition having a property of being resistant to cracking, it has excellent drop resistance and the like.

【0159】なお、これらの異種積層配線基板の作製工
程に於いては、本発明の転写材を用いて、例えば銅箔等
の配線パターンを、グリーンシートあるいは未硬化の熱
硬化性樹脂含シートに転写することにより、各層の配線
基板を作製する。これにより、積層時に損傷を生じるこ
となく、全層低抵抗な配線を有する多層配線基板が得ら
れる。
In the production process of these different kinds of laminated wiring boards, the transfer material of the present invention is used to convert a wiring pattern such as a copper foil into a green sheet or an uncured thermosetting resin-containing sheet. By transferring, a wiring board of each layer is manufactured. As a result, a multilayer wiring board having wiring with low resistance in all layers can be obtained without causing damage during lamination.

【0160】もちろん、予め、場合によりビアペースト
を充填したセラミックグリーンシートに印刷、焼成にて
配線パターンを形成しておいた後、熱硬化樹脂組成物を
含む電気絶縁性シートと接合させて積層体の層間接続を
行っても構わない。但し、印刷で形成された配線パター
ンは、積層時の突起物となるため、熱硬化樹脂組成物を
含む電気絶縁性シートと接合させる工程に於いて、セラ
ミック基板層のクラックの起点となることが多い。
Of course, a wiring pattern is formed by printing and firing on a ceramic green sheet filled with a via paste in some cases, and then joined to an electrically insulating sheet containing a thermosetting resin composition to form a laminate. Connection between layers may be performed. However, since the wiring pattern formed by printing becomes a projection at the time of lamination, it may be a starting point of cracks in the ceramic substrate layer in the step of joining with the electrically insulating sheet containing the thermosetting resin composition. Many.

【0161】なお、本実施形態の転写材の配線パターン
に電気的に接続するように、インダクタ、コンデンサ、
抵抗、または半導体素子等の回路部品を形成し、配線パ
ターンと共に基板へ転写することも可能である。なお、
インダクタ、コンデンサ、および抵抗等の受動部品は、
スクリーン印刷等の印刷法により、転写材上に形成する
ことが好ましい。
Note that an inductor, a capacitor, and a capacitor are electrically connected to the wiring pattern of the transfer material of the present embodiment.
It is also possible to form a circuit component such as a resistor or a semiconductor element and transfer it to a substrate together with a wiring pattern. In addition,
Passive components such as inductors, capacitors, and resistors
It is preferable to form on the transfer material by a printing method such as screen printing.

【0162】つぎに、第1〜第4の実施形態のさらに具
体的な実施例を、以下に説明する。
Next, more specific examples of the first to fourth embodiments will be described below.

【0163】(実施例1)図4(a)〜(f)に示すよ
うにして、本発明の第1の転写材を作製した。
Example 1 A first transfer material of the present invention was manufactured as shown in FIGS.

【0164】図4(a)に示すように、第1の金属層4
01として、厚み35μmの電解銅箔を準備した。ま
ず、銅塩原料をアルカリ性浴に溶解し、これを高電流密
度となるように回転ドラムに電着させ、金属層(銅層)
を作製し、この銅層を連続的に巻き取って、電解銅箔を
作製した。
As shown in FIG. 4A, the first metal layer 4
As 01, an electrolytic copper foil having a thickness of 35 μm was prepared. First, a copper salt raw material is dissolved in an alkaline bath, and this is electrodeposited on a rotating drum so as to have a high current density.
Was produced, and this copper layer was continuously wound up to produce an electrolytic copper foil.

【0165】つぎに、図4(b)に示すように、前記第
1の金属層401の面上に、剥離層402として、Ni
−P合金層をメッキ処理にて約100nmの厚みに形成
した。その上に配線パターン形成用の第2の金属層40
3として、前記第1の金属層401と同じ電解銅箔を、
厚み9μmになるように、電解メッキ法によって積層
し、3層構造からなる積層体を作製した。
Next, as shown in FIG. 4B, on the surface of the first metal layer 401, Ni
A -P alloy layer was formed to a thickness of about 100 nm by plating. A second metal layer 40 for forming a wiring pattern is formed thereon.
As 3, the same electrolytic copper foil as the first metal layer 401 is used.
The laminate was formed by electrolytic plating so as to have a thickness of 9 μm, thereby producing a laminate having a three-layer structure.

【0166】この表面の中心線平均粗さ(Ra)が、4
μm程度になるように粗面化処理を施した。なお、前記
粗面化処理は、前記電解銅箔に、銅の微細な粒を析出さ
せることにより行った。
The center line average roughness (Ra) of this surface is 4
The surface was roughened to a thickness of about μm. The roughening treatment was performed by depositing fine copper particles on the electrolytic copper foil.

【0167】つぎに、図4(c)〜(e)に示すよう
に、フォトリソグラフィ法により、ドライフィルムレジ
スト(DFR)404を貼り、配線パターン部分の露
光、現像を行い、前記積層体のうち、第2の金属層40
3、剥離層402、および第1の金属層401の表層部
を、化学エッチング法(塩化第2鉄水溶液に浸積)によ
りエッチングして、任意の配線パターンに形成した。
Next, as shown in FIGS. 4 (c) to 4 (e), a dry film resist (DFR) 404 is attached by photolithography, and the wiring pattern portion is exposed and developed. The second metal layer 40
3. The surface layer portions of the release layer 402 and the first metal layer 401 were etched by a chemical etching method (immersion in a ferric chloride aqueous solution) to form an arbitrary wiring pattern.

【0168】しかる後に、図4(f)に示すように、マ
スク部分(DFR404)を剥離剤で除去することによ
り、第1の転写材を得た。第1の金属層と第2の金属層
が同じ銅で構成されているため、一回の化学エッチング
で、第2の金属層のみならず第1の金属層の表層も配線
パターン状にエッチングすることができる。この第1の
転写材は、キャリア層である第1の金属層の表層部も、
配線パターン状に加工されているところに構造上の特徴
がある。
Thereafter, as shown in FIG. 4F, the first transfer material was obtained by removing the mask portion (DFR404) with a release agent. Since the first metal layer and the second metal layer are made of the same copper, a single chemical etching etches not only the second metal layer but also the surface layer of the first metal layer into a wiring pattern. be able to. In the first transfer material, the surface layer of the first metal layer as the carrier layer is also
There is a structural feature in that it is processed into a wiring pattern.

【0169】作製された前記第1の転写材では、前記第
1の金属層401と第2の金属層403とを接着する剥
離層402は、接着力自体は弱くとも耐薬品性に優れ
る。これにより、第1の金属層401,剥離層402,
第2の金属層403の積層体の全体にエッチング処理を
行っても、層間が剥離することなく、問題なく配線パタ
ーンを形成できた。一方、前記第1の金属層401と第
2の金属層403との接着強度は、40N/m(gf/
cm)であり、剥離性に優れていた。このような第1の
転写用材を用いて、基板へ第2の金属層403の転写を
行った結果、第2の金属層403と剥離層402との接
着面が容易に剥離し、前記第2の金属層403のみを前
記基板に転写することができた。
In the manufactured first transfer material, the release layer 402 for bonding the first metal layer 401 and the second metal layer 403 has excellent chemical resistance even though the adhesive force itself is weak. As a result, the first metal layer 401, the release layer 402,
Even when the entire stacked body of the second metal layer 403 was subjected to the etching treatment, the wiring pattern could be formed without any problem without delamination between the layers. On the other hand, the adhesive strength between the first metal layer 401 and the second metal layer 403 is 40 N / m (gf /
cm) and excellent in peelability. As a result of transferring the second metal layer 403 to the substrate using such a first transfer material, the bonding surface between the second metal layer 403 and the release layer 402 was easily peeled off, and the second metal layer 403 was peeled off. Was transferred to the substrate.

【0170】本実施例にかかる第1の転写材は、キャリ
ア(第1の金属層)が35μmの銅箔で構成されている
ことから、転写時に転写材が変形しても、キャリア層が
その変形応力に持ちこたえることができた。
In the first transfer material according to this embodiment, since the carrier (first metal layer) is formed of a copper foil of 35 μm, even if the transfer material is deformed at the time of transfer, the carrier layer is not deformed. It was able to withstand the deformation stress.

【0171】第1の転写材において、キャリア層である
第1の金属層の表層が、配線パターン部分が凸部とな
り、配線パターン以外の部分が凹部になっていることに
より、この転写材をシート状基材(基板材料)に圧着し
た時に、配線パターンが埋め込まれる部分から押し出さ
れた基材が前記凹部へ流れ込みやすく、パターンを歪ま
せようとする横方向の変形応力を抑制しやすい。従っ
て、本実施例に於いてのパターン歪みは、基材の硬化収
縮によって生じた分(0.08%)のみであった。
In the first transfer material, the surface layer of the first metal layer as a carrier layer has a wiring pattern portion as a convex portion and a portion other than the wiring pattern as a concave portion. When pressed onto a substrate (substrate material), the substrate extruded from the portion where the wiring pattern is embedded is likely to flow into the concave portion, and it is easy to suppress lateral deformation stress that tends to distort the pattern. Therefore, the pattern distortion in this example was only the amount (0.08%) caused by the shrinkage of the base material upon curing.

【0172】比較として、第1の金属層401の表層が
全くエッチングされず、第2の金属層のみ配線パターン
を形成した転写材(すなわち、キャリア層の表面が平坦
な転写材)を用いて、シート状基材へ配線層の転写を行
ったところ、パターンの歪みは、最大で0.16%であ
った。この比較例では、キャリアが厚い銅箔であること
から、本実施例同様、基本的には歪みが少ないが、配線
が集中している部分では、基材の流れ込む領域が確保で
きないため、部分的に配線パターンがやや歪んでしまう
ことが確認できた。このパターン歪み量は、実用的に
は、十分に小さい値であるが、例えば、前記比較例にか
かる転写材を用いると、形成された配線パターンは基板
表面と平坦または凸部となり、本実施例にかかる第1の
転写材のように凹部とならず、フリップチップ実装時の
位置合わせを容易にするという、本実施例の転写材の効
果は奏し得ない。このことから、キャリア層である第1
の金属層までエッチングすることにより、キャリア層表
面にも配線パターンに応じた凸部が形成された、本発明
の転写材の効果が認められた。
As a comparison, a transfer material in which the surface layer of the first metal layer 401 was not etched at all and only the second metal layer was formed with a wiring pattern (ie, a transfer material having a flat carrier layer surface) was used. When the wiring layer was transferred to the sheet-like substrate, the distortion of the pattern was 0.16% at the maximum. In this comparative example, since the carrier is a thick copper foil, the distortion is basically small as in the present embodiment. However, in a portion where the wiring is concentrated, a region into which the base material flows cannot be secured. It was confirmed that the wiring pattern was slightly distorted. Although the amount of pattern distortion is practically a sufficiently small value, for example, when the transfer material according to the comparative example is used, the formed wiring pattern becomes flat or convex with the substrate surface. Therefore, the effect of the transfer material of the present embodiment, which does not form a concave portion unlike the first transfer material according to the first embodiment, and facilitates alignment during flip chip mounting, cannot be obtained. From this, the first carrier layer
The effect of the transfer material of the present invention in which a protrusion corresponding to the wiring pattern was formed on the surface of the carrier layer by etching up to the metal layer of No. 3 was recognized.

【0173】なお、本実施例では、例えば200nm以
下の厚みを有するNiメッキ層やニッケル−リン合金層
あるいはアルミニウムメッキ層などのメッキ層を剥離層
に用いているが、有機層からなる剥離層を用いてもよ
い。有機層としては、例えばCuと化学結合を形成し得
る常温で固体の長脂肪族カルボン酸などが挙げられる。
これらを用いても、前記した本実施例の転写材と同様の
転写材を実現することができる。
In this embodiment, a plating layer such as a Ni plating layer, a nickel-phosphorus alloy layer, or an aluminum plating layer having a thickness of 200 nm or less is used as the peeling layer. May be used. As the organic layer, for example, a long-chain aliphatic carboxylic acid which is solid at room temperature and which can form a chemical bond with Cu may be used.
Even when these are used, a transfer material similar to the transfer material of the present embodiment described above can be realized.

【0174】(実施例2)前記実施例1と異なる製造方
法で、図5(a)〜(e)に示すようにして、本発明に
かかる第2の転写材の一例を作製した。この第2の転写
材は、前記実施例1にかかる第1の転写材と配線層の構
造が異なる。
Example 2 An example of the second transfer material according to the present invention was manufactured by a method different from that of Example 1 as shown in FIGS. 5A to 5E. The second transfer material differs from the first transfer material according to the first embodiment in the structure of the wiring layer.

【0175】まず、第1の金属層501として、厚み3
5μmの電解銅箔を準備した。銅塩原料をアルカリ性浴
に溶解し、これを高電流密度となるように回転ドラムに
電着させ、金属層(銅層)を作製し、この銅層を連続的
に巻き取って、電解銅箔を作製した。
First, as the first metal layer 501, the thickness 3
A 5 μm electrolytic copper foil was prepared. A copper salt raw material is dissolved in an alkaline bath, which is electrodeposited on a rotating drum so as to have a high current density, thereby producing a metal layer (copper layer). Was prepared.

【0176】つぎに、前記電解銅箔からなる第1の金属
層501の面上に、100nm以下の厚みの薄いニッケ
ルメッキ層で構成された剥離層502を形成した。その
上に配線パターン形成用の第2の金属層503として、
前記第1の金属層501と同じ電解銅箔を、厚み3μm
になるように、電解メッキ法によって積層し、第1の金
属層501,剥離層502,および第2の金属層503
の3層構造からなる積層体を作製した。
Next, a release layer 502 composed of a thin nickel plating layer having a thickness of 100 nm or less was formed on the surface of the first metal layer 501 made of the electrolytic copper foil. As a second metal layer 503 for forming a wiring pattern thereon,
The same electrolytic copper foil as that of the first metal layer 501 was applied to a thickness of 3 μm
The first metal layer 501, the release layer 502, and the second metal layer 503 are stacked by electrolytic plating.
Of the three-layer structure was produced.

【0177】この積層体における第2の金属層503の
表面に対し、その中心線平均粗さ(Ra)が、3μm程
度になるように粗面化処理を施した。なお、前記粗面化
処理は、前記電解銅箔に、銅の微細な粒子を析出させる
ことにより行った。その上に粘着剤(図示せず)を塗布
し、フォトリソグラフィ法に用いるドライフィルムレジ
スト(DFR)504を貼りつけた。なお、このDFR
504は、耐メッキ性を有し、メッキレジストとして機
能する。以上の工程により、図5(a)に示す積層体が
作製された。
The surface of the second metal layer 503 in this laminate was subjected to a surface roughening treatment so that its center line average roughness (Ra) was about 3 μm. The roughening treatment was performed by depositing fine copper particles on the electrolytic copper foil. An adhesive (not shown) was applied thereon, and a dry film resist (DFR) 504 used for photolithography was attached. Note that this DFR
Reference numeral 504 has plating resistance and functions as a plating resist. Through the above steps, the laminate shown in FIG. 5A was manufactured.

【0178】次に、図5(b)に示すように、配線パタ
ーン形状にDFR504を露光した後、現像を行って、
DFR504における配線パターン領域に、第2の金属
層503に至る凹部を形成した。凹部の深さは、25μ
mであった。しかる後、図5(c)に示すように、電解
銅メッキ法で20μm厚みの銅メッキ層からなる第3の
金属層505を、前記凹部内に形成した。次に、図5
(d)に示すように、剥離液に浸積させて、DFR50
4を除去した。
Next, as shown in FIG. 5B, after exposing the DFR 504 to the wiring pattern shape, development is performed,
A recess reaching the second metal layer 503 was formed in the wiring pattern region of the DFR 504. The depth of the recess is 25μ
m. Thereafter, as shown in FIG. 5C, a third metal layer 505 made of a copper plating layer having a thickness of 20 μm was formed in the recess by electrolytic copper plating. Next, FIG.
As shown in (d), it is immersed in a stripping solution,
4 was removed.

【0179】最後に、図5(e)に示すように、塩化第
2鉄水溶液に浸積させる化学エッチング法により、パタ
ーニングを行った。本エッチングは、厚みが3μmと薄
い第2の金属層503及び薄い剥離層502(メッキ
層)を除去するために行う。結果的に、短時間のエッチ
ングとなるため、第3の金属層505も少しエッチング
されて厚みが15μm程度となり、さらに第1の金属層
501の表層部も一部浸食されて、図5(e)に示すよ
うに、第2の転写材を得ることができた。
Finally, as shown in FIG. 5E, patterning was performed by a chemical etching method in which the substrate was immersed in an aqueous ferric chloride solution. This etching is performed in order to remove the second metal layer 503 having a small thickness of 3 μm and the thin peeling layer 502 (plating layer). As a result, since the etching is performed in a short time, the third metal layer 505 is also slightly etched to have a thickness of about 15 μm, and the surface layer portion of the first metal layer 501 is partially eroded. As shown in ()), a second transfer material was obtained.

【0180】第1、第2、および第3の金属層とが同じ
銅で構成されているため、一回の化学エッチングで第2
および第3の金属層のみならず第1の金属層も部分的に
削り取られ、第1の金属層の表層の配線パターン以外の
部分を凹部に形成することができた。また、実施例1と
同様に、キャリア層である第1の金属層の表層までエッ
チング加工されていること、及び、アディティブ法で第
3の金属層が形成されていることにより、その膜厚を任
意に制御できる。また、本実施例では、剥離層は、メッ
キ層に限らず、有機層で構成された極薄い接着剤層ある
いは粘着剤層でも構わない。
Since the first, second, and third metal layers are made of the same copper, the second etching can be performed by one chemical etching.
In addition, not only the third metal layer but also the first metal layer was partially removed, so that a portion other than the wiring pattern on the surface layer of the first metal layer could be formed in the concave portion. Further, as in the case of the first embodiment, since the surface of the first metal layer which is the carrier layer is etched, and the third metal layer is formed by the additive method, the film thickness can be reduced. Can be arbitrarily controlled. Further, in this embodiment, the release layer is not limited to the plating layer, but may be an extremely thin adhesive layer or an adhesive layer formed of an organic layer.

【0181】このように作製された第2の転写材では、
前記第1の金属層501と配線パターン形成用の金属層
503・505とを接続する剥離層502が、接着力自
体は弱くとも耐薬品性に優れ、図5(d)に示す4層構
造の積層体の全体にエッチング処理を行っても、層間が
剥離することなく、問題なく配線パターンを形成でき
た。
In the second transfer material manufactured as described above,
The release layer 502 for connecting the first metal layer 501 and the metal layers 503 and 505 for forming a wiring pattern is excellent in chemical resistance even though the adhesive force itself is weak, and has a four-layer structure shown in FIG. Even when the entire laminate was etched, the wiring pattern could be formed without any problem without delamination between layers.

【0182】一方、前記第1の金属層501と第2の金
属層503との剥離層502を介した接着強度は、30
N/mであり、剥離性に優れていた。これにより、この
第2の転写材を用いて、配線層としての第2の金属層5
03および第3の金属層505をシート状基材(基板材
料)に転写した後、第2の金属層503と剥離層502
との間を容易に剥離することができ、前記配線層のみを
基板に残すことができる。このとき、メッキ層からなる
剥離層502は、剥離時に、キャリアである第1の金属
層501側に付着したままであった。
On the other hand, the adhesive strength between the first metal layer 501 and the second metal layer 503 via the release layer 502 is 30
N / m, and was excellent in peelability. Thereby, the second metal layer 5 as a wiring layer is formed by using the second transfer material.
03 and the third metal layer 505 are transferred to a sheet-like base material (substrate material), and then the second metal layer 503 and the release layer 502 are transferred.
Can be easily separated, and only the wiring layer can be left on the substrate. At this time, at the time of peeling, the peeling layer 502 composed of a plating layer remained attached to the first metal layer 501 side as a carrier.

【0183】なお、図5(e)に示すように作製された
本実施例にかかる第2の転写材を、未硬化状態の熱硬化
性樹脂を含むシート状基材(基板材料)に圧着すると共
に、熱硬化を行い、その後に化学エッチングで第1の金
属層を取り除くことにより、配線層(第2の金属層50
3及び第3の金属層505)を基板へ転写させることも
できる。エッチング時間を制御することにより、前記配
線層を含む基板表面を平坦にすることも、配線層を基板
表面に対して凹状とすることも可能である。
The second transfer material according to the present example manufactured as shown in FIG. 5E is pressure-bonded to a sheet-like substrate (substrate material) containing an uncured thermosetting resin. At the same time, the wiring layer (second metal layer 50) is thermally cured, and then the first metal layer is removed by chemical etching.
The third and third metal layers 505) can also be transferred to a substrate. By controlling the etching time, the surface of the substrate including the wiring layer can be made flat, or the wiring layer can be made concave with respect to the substrate surface.

【0184】本実施例では、実施例1と同様に、キャリ
ア層が35μmの銅箔で構成されていることから、転写
時に基材が変形してもキャリア層がその変形応力に持ち
こたえることができた。一方、本実施例にかかる第2の
転写材において、キャリア層である第1の金属層の凹部
は、5μm程度と深く確保されている。これにより、こ
の転写材をシート状基材に圧着させたときに、配線層が
埋め込まれる部分の基材が前記凹部へより流れ込みやす
く、パターンを歪ませようとする横方向の変形応力をさ
らに抑制することができる。
In this embodiment, as in the first embodiment, since the carrier layer is made of a 35 μm copper foil, the carrier layer can withstand the deformation stress even if the base material is deformed during transfer. did it. On the other hand, in the second transfer material according to the present embodiment, the concave portion of the first metal layer as the carrier layer is as deep as about 5 μm. Thereby, when the transfer material is pressed against the sheet-like base material, the base material in the portion where the wiring layer is embedded is more likely to flow into the concave portion, and the lateral deformation stress that tends to distort the pattern is further suppressed. can do.

【0185】従って、本実施例の転写材を用いた場合の
パターン歪みは、基材の硬化収縮分の0.08%のみで
あった。この事から、キャリア層である第1の金属層の
表層部までエッチングして、前記表層部を、配線パター
ン部分を凸状に、配線パターン以外の部分を凹状に形成
することの効果が認められた。更に、転写後の配線抵抗
を測定すると、実施例1と比較して、第3の金属層で配
線層の厚みを増加させている分、配線断面積を大きくと
れ、抵抗値を2〜3割ほど低減させることができた。
Accordingly, when the transfer material of this example was used, the pattern distortion was only 0.08% of the curing shrinkage of the substrate. From this, the effect of etching the surface layer portion of the first metal layer which is the carrier layer to form the surface layer portion in a convex shape in the wiring pattern portion and a concave portion in the portion other than the wiring pattern is recognized. Was. Further, when the wiring resistance after the transfer was measured, the wiring cross-sectional area was increased by the third metal layer and the resistance value was reduced by 20 to 30% compared to Example 1. It was able to be reduced.

【0186】なお、本実施例では、図5(e)に示すよ
うに、化学エッチング法により第1の金属層のパターニ
ングまで行った後、転写しているが、この化学エッチン
グを行わない転写形成材を用いて基材を硬化させながら
転写を行ってもよい。但し、この場合には、転写後に、
剥離層および第1の金属層を剥離し、第2の金属層をソ
フトエッチング等で除去することにより、第3の金属層
のみからなる配線パターンが形成されることになる。
In this embodiment, as shown in FIG. 5E, transfer is performed after patterning of the first metal layer is performed by the chemical etching method, but transfer formation is performed without performing the chemical etching. The transfer may be performed while curing the base material using the material. However, in this case, after the transfer,
By peeling off the release layer and the first metal layer and removing the second metal layer by soft etching or the like, a wiring pattern consisting of only the third metal layer is formed.

【0187】また、本実施例に於いても、凸部配線パタ
ーンを有するキャリア銅箔(第1の金属箔)を転写後に
再利用できる。さらに、本実施例の転写材を用いて基板
に転写された配線パターンは、基板表面に対して凹部を
形成するので、この凹部を利用して位置決めが可能とな
り、ベアチップのフリップチップ実装が容易となるとい
う利点もある。
Also in this embodiment, the carrier copper foil (first metal foil) having the convex wiring pattern can be reused after the transfer. Furthermore, since the wiring pattern transferred to the substrate using the transfer material of the present embodiment forms a concave portion on the substrate surface, positioning can be performed using the concave portion, which facilitates flip chip mounting of bare chips. There is also the advantage of becoming.

【0188】(実施例3)本実施例にかかる転写材は、
本発明の第2の転写材の他の例である。本実施例にかか
る転写材は、実施例2の転写材とは配線層の構造が異な
るが、図面は共通するので、実施例2で用いた図5
(a)〜(e)を用いて説明する。
(Embodiment 3) The transfer material according to this embodiment is
9 is another example of the second transfer material of the present invention. The transfer material according to the present embodiment differs from the transfer material according to the second embodiment in the structure of the wiring layer, but has the same drawing.
This will be described with reference to (a) to (e).

【0189】まず、第1の金属層501として、厚み3
5μmの電解銅箔を準備した。銅塩原料をアルカリ性浴
に溶解し、これを高電流密度となるように回転ドラムに
電着させ、金属層(銅層)を作製し、この銅層を連続的
に巻き取って、電解銅箔を作製した。
First, a first metal layer 501 having a thickness of 3
A 5 μm electrolytic copper foil was prepared. A copper salt raw material is dissolved in an alkaline bath, which is electrodeposited on a rotating drum so as to have a high current density, thereby producing a metal layer (copper layer). Was prepared.

【0190】つぎに、前記第1の金属層501の面上
に、薄い100nm以下の厚みを有するニッケルメッキ
層で構成された剥離層502を形成した。その上に、配
線パターン形成用の第2の金属層503として、前記第
1の金属層501と同じ電解銅箔を、厚み3μmになる
ように、電解メッキ法によって積層した。これにより、
第1の金属層501,剥離層502,および第2の金属
層503の3層構造からなる積層体を作製した。
Next, on the surface of the first metal layer 501, a release layer 502 composed of a thin nickel plating layer having a thickness of 100 nm or less was formed. An electrolytic copper foil, the same as the first metal layer 501, was laminated thereon by electrolytic plating as a second metal layer 503 for forming a wiring pattern so as to have a thickness of 3 μm. This allows
A laminate having a three-layer structure of a first metal layer 501, a release layer 502, and a second metal layer 503 was manufactured.

【0191】この表面の中心線平均粗さ(Ra)が、3
μm程度になるように粗面化処理を施した。なお、前記
粗面化処理は、前記電解銅箔に、銅の微細な粒を析出さ
せることにより行った。その上に実施例2と同一の粘着
剤を塗布し、フォトリソグラフィ法に用いるドライフィ
ルムレジスト(DFR)504を貼りつけた。このDF
R504は、耐メッキ性を有し、メッキレジストとして
機能する。これにより、図5(a)に示すように、4層
構造の積層体が作製された。
The center line average roughness (Ra) of this surface is 3
The surface was roughened to a thickness of about μm. The roughening treatment was performed by depositing fine copper particles on the electrolytic copper foil. The same adhesive as in Example 2 was applied thereon, and a dry film resist (DFR) 504 used for photolithography was attached. This DF
R504 has plating resistance and functions as a plating resist. As a result, as shown in FIG. 5A, a laminate having a four-layer structure was produced.

【0192】次に、図5(b)に示すように、配線パタ
ーン部分のDFR504を露光した後、現像を行って、
DFR504において配線パターンに相当する領域に、
第2の金属層503に至る凹部を形成した。この凹部の
深さは25μmである。しかる後、図5(c)に示すよ
うに、電解金メッキ法で、2μm厚みの金メッキ層から
なる第3の金属層505を形成した。次に、図5(d)
に示すように、剥離液に浸積させて、DFR504を除
去した。
Next, as shown in FIG. 5B, after exposing the DFR 504 in the wiring pattern portion, development is performed,
In the area corresponding to the wiring pattern in the DFR 504,
A recess reaching the second metal layer 503 was formed. The depth of this recess is 25 μm. Thereafter, as shown in FIG. 5C, a third metal layer 505 made of a gold plating layer having a thickness of 2 μm was formed by an electrolytic gold plating method. Next, FIG.
As shown in Fig. 7, DFR 504 was removed by immersion in a stripping solution.

【0193】最後に、図5(e)に示すように、塩化第
2鉄水溶液に浸積させる化学エッチング法によりパター
ニングを行った。実施例2と異なるのは、本エッチング
工程では、金メッキ層505がエッチングレジストとし
て機能するため、選択的に、厚みが3μmの薄い第2の
金属層503及び薄いメッキ層である剥離層502を除
去することができる。結果的に、最表面層に金メッキが
施された転写材を得ることができるため、配線層の表面
が酸化される恐れがない。これにより、本転写材を用い
て配線パターンを基板に形成した後に、前記配線パター
ン上にベアチップや部品を実装する場合に、低抵抗な接
続を得ることができる。
Finally, as shown in FIG. 5E, patterning was performed by a chemical etching method of immersion in an aqueous ferric chloride solution. The difference from the second embodiment is that in the present etching step, the gold plating layer 505 functions as an etching resist, so that the thin second metal layer 503 having a thickness of 3 μm and the peeling layer 502 which is a thin plating layer are selectively removed. can do. As a result, it is possible to obtain a transfer material in which the outermost surface layer is plated with gold, and there is no possibility that the surface of the wiring layer is oxidized. Accordingly, when a bare chip or a component is mounted on the wiring pattern after the wiring pattern is formed on the substrate using the present transfer material, a low-resistance connection can be obtained.

【0194】なお、比較のために、図1に示したよう
な、配線パターンが銅箔配線一層からなる転写材の表面
全体に金メッキを施すことによって、金メッキ付き転写
材を作製し、基板への転写を試したところ、配線パター
ンの転写性が損なわれた。これにより、配線パターンの
表層にのみ金メッキ層を形成した本実施例にかかる転写
材の有効性が確認された。
For comparison, as shown in FIG. 1, a gold-plated transfer material was prepared by applying gold plating to the entire surface of a transfer material having a wiring pattern composed of a single copper foil wiring, and the transfer material to the substrate was prepared. When the transfer was tried, the transferability of the wiring pattern was impaired. This confirmed the effectiveness of the transfer material according to the present example in which the gold plating layer was formed only on the surface layer of the wiring pattern.

【0195】(実施例4)図6(a)〜(e)に示すよ
うにして、本発明の第3の転写材を作製した。この第3
の転写材は、前記実施例2または3にかかる本発明の第
2の転写材と、配線層の構造が異なる。
Example 4 A third transfer material of the present invention was manufactured as shown in FIGS. This third
Is different from the second transfer material of the present invention according to the second or third embodiment in the structure of the wiring layer.

【0196】まず、図6(a)に示すように、第1の金
属層601,剥離層602,第2の金属層603,およ
びドライフィルムレジスト(DFR)604の4層構造
の積層体を作製する。この積層体の構造及び作製方法
は、実施例1で図4(c)に示した積層体と同様である
ため、説明を省略する。
First, as shown in FIG. 6A, a laminate having a four-layer structure of a first metal layer 601, a release layer 602, a second metal layer 603, and a dry film resist (DFR) 604 is prepared. I do. The structure and manufacturing method of this laminate are the same as those of the laminate shown in FIG.

【0197】次に、図6(b)に示すように、DFR6
04において配線パターンに相当する領域以外の領域6
07を露光した後、現像を行って、配線パターン領域に
DFR604の厚み25μm分の凹部608を形成し
た。しかる後、図6(c)に示すように、無電解銅メッ
キ法で2μmほど堆積させた後、電解銅メッキ法で15
μm厚みの銅メッキ層(第3の金属層)605を形成し
た。本実施例では、更に、電解銀メッキ法による銀メッ
キ層(第4の金属層606)を3μmほど堆積させた。
Next, as shown in FIG.
Area 6 other than the area corresponding to the wiring pattern in 04
07 was exposed and then developed to form a concave portion 608 having a thickness of 25 μm of the DFR 604 in the wiring pattern region. Thereafter, as shown in FIG. 6 (c), after depositing about 2 μm by electroless copper plating, 15 μm by electrolytic copper plating.
A copper plating layer (third metal layer) 605 having a thickness of μm was formed. In the present embodiment, a silver plating layer (fourth metal layer 606) is further deposited by electrolytic silver plating to a thickness of about 3 μm.

【0198】次に、実施例2と同様に、図6(d)に示
すように、剥離液に浸積させてDFRを除去した。最後
に、図6(e)に示すように、塩化第2鉄水溶液に浸積
させる化学エッチング法によりパターニングを行った。
本エッチングは、基本的に厚みが3μmと薄い第2の金
属層603を除去するために行うが、銀メッキ層である
第4の金属層606がエッチングマスクとして機能する
ため、第3の金属層605及び第4の金属層606は、
わずかなサイドエッチング部を除いて基本的にエッチン
グされないため、その厚みは維持される。また、このエ
ッチングは、剥離層602と第1の金属層601の表層
部とを浸食するまで行う。
Next, as in Example 2, as shown in FIG. 6D, the DFR was removed by immersion in a stripping solution. Finally, as shown in FIG. 6E, patterning was performed by a chemical etching method in which the substrate was immersed in an aqueous ferric chloride solution.
This etching is basically performed to remove the thin second metal layer 603 having a thickness of 3 μm. However, since the fourth metal layer 606 which is a silver plating layer functions as an etching mask, the third metal layer 603 is formed. 605 and the fourth metal layer 606
Except for a slight side etching portion, etching is basically not performed, so that the thickness is maintained. This etching is performed until the release layer 602 and the surface portion of the first metal layer 601 are eroded.

【0199】本実施例に於いても、第2の金属層603
等をパターニングするエッチングは短時間で十分であ
る。このようにして、第1の金属層601の表層部にお
ける配線パターン以外の領域が凹状に形成された第3の
転写材を得た。なお、エッチング時間を調整することに
よって、第1の金属層601の凹部の深さは任意に制御
することができる。
Also in this embodiment, the second metal layer 603
Etching for patterning is short enough. In this way, a third transfer material was obtained in which a region other than the wiring pattern in the surface layer portion of the first metal layer 601 was formed in a concave shape. Note that the depth of the concave portion of the first metal layer 601 can be arbitrarily controlled by adjusting the etching time.

【0200】第1、第2、および第3の金属層が同じ銅
で構成されているため、一回の化学エッチングで、配線
層(第2、第3の金属層)と同時に第1の金属層の一部
も浸食され、第1の金属層の表層における配線パターン
以外の領域を凹状に形成することができた。本実施例に
かかる第3の転写材は、実施例1と同様に、キャリア層
である第1の金属層までエッチング加工されている。ま
た、アディティブ法で配線層である第2および第3の金
属層(銅メッキ層)とは異なる第4の金属層(銀メッキ
層)が形成されているところが特徴である。
Since the first, second, and third metal layers are made of the same copper, the first metal layer is simultaneously formed with the wiring layer (second, third metal layer) by one chemical etching. Part of the layer was also eroded, and a region other than the wiring pattern in the surface layer of the first metal layer could be formed in a concave shape. The third transfer material according to the present embodiment is etched up to the first metal layer as the carrier layer, as in the first embodiment. In addition, a fourth metal layer (silver plating layer) different from the second and third metal layers (copper plating layer), which are wiring layers, is formed by an additive method.

【0201】このように作製された第3の転写材では、
キャリア層としての第1の金属層601と、配線層とし
ての第2の金属層603、第3の金属層605、および
第4の金属層606とを接着する剥離層602が、接着
力自体は弱くとも耐薬品性に優れている。これにより、
図6(d)に示す5層構造の積層体の全体にエッチング
処理を行っても、第2の金属層603のみを効果的に除
去でき、前記積層体の層間が剥離することなく転写材を
形成することができた。なお、前記第1の金属層601
と第2の金属層603との剥離層602を介した接着強
度は、40N/m(gf/cm)であり、剥離性に優れ
ていた。
In the third transfer material manufactured as described above,
A peeling layer 602 for bonding a first metal layer 601 as a carrier layer and a second metal layer 603, a third metal layer 605, and a fourth metal layer 606 as wiring layers has an adhesive force itself. Excellent in chemical resistance even if weak. This allows
Even when the entire laminate of the five-layer structure shown in FIG. 6D is etched, only the second metal layer 603 can be effectively removed, and the transfer material can be removed without peeling between the layers of the laminate. Could be formed. The first metal layer 601
The adhesive strength between the first metal layer 603 and the second metal layer 603 via the peeling layer 602 was 40 N / m (gf / cm), indicating excellent peelability.

【0202】このような第3の転写材を用いて、第2の
金属層603、第3の金属層605及び第4の金属層6
06からなる3層構造の配線パターンを、シート状基材
(基板材料)へ転写した。この結果、前記第1の金属層
601と第2の金属層603との接着面(剥離層60
2)が容易に剥離し、前記3層構造の配線パターンを前
記基材へ転写することができた。
By using such a third transfer material, the second metal layer 603, the third metal layer 605, and the fourth metal layer 6
06 was transferred to a sheet-like substrate (substrate material). As a result, the bonding surface between the first metal layer 601 and the second metal layer 603 (the release layer 60
2) was easily peeled off, and the wiring pattern having the three-layer structure could be transferred to the base material.

【0203】本実施例では、実施例1と同様に、キャリ
ア層が35μmの銅箔で構成されていることから、転写
時に基材が変形してもキャリア層がその変形応力に持ち
こたえることができた。一方、本実施例の転写材におい
て、キャリア層である第1の金属層の凹部が10μm程
度と深く確保されている。これにより、この転写材をシ
ート状基材へ圧着させるときに、配線パターンが埋め込
まれる部分の基材が前記凹部へより流れ込みやすく、パ
ターンを歪ませようとする横方向の変形応力をさらに抑
制することができる。
In this embodiment, as in the first embodiment, since the carrier layer is made of 35 μm copper foil, the carrier layer can withstand the deformation stress even if the base material is deformed during transfer. did it. On the other hand, in the transfer material of this embodiment, the concave portion of the first metal layer as the carrier layer is as deep as about 10 μm. Thereby, when the transfer material is pressed against the sheet-like base material, the base material in the portion where the wiring pattern is embedded is more likely to flow into the concave portion, and the lateral deformation stress that tends to distort the pattern is further suppressed. be able to.

【0204】従って、本実施例に於いてのパターン歪み
は、第2の実施例と同様に、基材の硬化収縮分の0.0
7%のみであった。この事から、キャリア層である第1
の金属層まで、配線パターンに応じた凹凸形状とする効
果が認められた。更に、転写後の配線抵抗を測定する
と、実施例1と比較して、第3及び第4の金属層を設け
たことにより配線層の厚みを増加させたことにより、配
線断面積が大きくとれ、抵抗値を2〜3割ほど低減させ
ることができた。
Accordingly, the pattern distortion in the present embodiment is the same as that in the second embodiment, but is 0.0% of the curing shrinkage of the substrate.
It was only 7%. From this, the first carrier layer
Up to the metal layer, the effect of forming an uneven shape according to the wiring pattern was recognized. Further, when the wiring resistance after the transfer was measured, the thickness of the wiring layer was increased by providing the third and fourth metal layers as compared with Example 1, so that the wiring cross-sectional area could be increased. The resistance value could be reduced by about 20 to 30%.

【0205】さらに、本実施例では、配線層において基
材に接触する最表層が銀メッキ層であるため、後の実施
例5で示すように、基板に設けられた導電性ビアペース
トとの接続性をより安定化させることができた。
Further, in this embodiment, since the outermost layer in contact with the base material in the wiring layer is the silver plating layer, the connection with the conductive via paste provided on the substrate was made as shown in Embodiment 5 later. The properties could be more stabilized.

【0206】また、本実施例の転写材を用いて配線パタ
ーンを基板に形成した場合も、凹型の配線パターンがフ
リップチップ実装の位置合わせに寄与することは、前述
の各実施例と同様である。また、配線パターンに応じた
凸部が形成されたキヤリア銅箔(第1の金属層)を転写
後に再利用できることはいうまでもない。
Also, when a wiring pattern is formed on a substrate using the transfer material of this embodiment, the concave wiring pattern contributes to the alignment of flip-chip mounting as in the above-described embodiments. . Further, needless to say, the carrier copper foil (first metal layer) on which the convex portions corresponding to the wiring patterns are formed can be reused after the transfer.

【0207】(実施例5)前記実施例4で作製した第3
の転写材を用いて、図7(a)〜(c)に示すように、
コンポジット配線基板を作製した。なお、図7(a)〜
(c)において、金属層701は、実施例4にかかる第
3の転写材の第4の金属層606に対応し、金属層70
2は第3の転写材の第3の金属層605に、金属層70
3は第3の転写材の第2の金属層603に、剥離層70
4は第3の転写材の剥離層602に、金属層705は第
3の転写材の第1の金属層601に、それぞれ対応す
る。
(Embodiment 5) The third embodiment manufactured in the above Embodiment 4
As shown in FIGS. 7A to 7C, using the transfer material of
A composite wiring board was manufactured. In addition, FIG.
In (c), the metal layer 701 corresponds to the fourth metal layer 606 of the third transfer material according to the fourth embodiment,
Reference numeral 2 denotes a third metal layer on the third metal layer 605 of the third transfer material.
Reference numeral 3 denotes a release layer 70 on the second metal layer 603 of the third transfer material.
4 corresponds to the release layer 602 of the third transfer material, and the metal layer 705 corresponds to the first metal layer 601 of the third transfer material.

【0208】まず、配線パターンを転写する基板を準備
した。この基板は、下記に示すコンポジット材料からな
るシート状基材706を調製し、これにビアホールを設
け、前記ビアホールに導電性ペースト707を充填する
ことにより作製した。以下に、前記シート状基材706
の成分組成を示す。 (シート状基材706の成分組成) ・Al23(昭和電工社製、AS−40:粒径12μm) 90重量% ・液状エポキシ樹脂(日本レック社製、EF−450) 9.5重量% ・カーボンブラック(東洋カーボン社製) 0.2重量% ・カップリング剤(味の素社製、チタネート系:46B) 0.3重量% 前記各成分を、前記組成になるように秤量して、これら
の混合物に、粘度調整用溶剤としてメチルエチルケトン
溶剤を、前記混合物のスラリー粘度が約20Pa・sに
なるまで添加した。そして、これにアルミナの玉石を加
え、ポット中で48時間、速度500rpmの条件で回
転混合し、スラリーを調製した。
First, a substrate for transferring a wiring pattern was prepared. This substrate was produced by preparing a sheet-like base material 706 made of a composite material shown below, providing a via hole in this, and filling the via hole with a conductive paste 707. Hereinafter, the sheet-like base material 706
The following shows the composition of the components. (Ingredient composition of the sheet-like substrate 706) 90% by weight of Al 2 O 3 (manufactured by Showa Denko KK, AS-40: particle size 12 μm) ・ 9.5% by weight of liquid epoxy resin (manufactured by Nippon Reck, EF-450) % Carbon black (manufactured by Toyo Carbon Co., Ltd.) 0.2% by weight Coupling agent (manufactured by Ajinomoto Co., titanate type: 46B) 0.3% by weight , A methyl ethyl ketone solvent was added as a viscosity adjusting solvent until the slurry viscosity of the mixture became about 20 Pa · s. Then, a cobblestone of alumina was added thereto, and the mixture was rotated and mixed in a pot for 48 hours at a speed of 500 rpm to prepare a slurry.

【0209】つぎに、離型フィルムとして、厚み75μ
mのPETフィルムを準備し、このPETフィルム上に
おいて、前記スラリーを用いて、ドクターブレード法に
より、ギャップ約0.7mmに造膜し、造膜シートを作
製した。そして、この造膜シートを、温度100℃で1
時間放置することにより、前記シート中の前記メチルエ
チルケトン溶剤を揮発させ、前記PETフィルムを除去
し、厚み350μmのシート状基材706を作製した。
前記溶剤の除去を、温度100℃で行ったため、前記エ
ポキシ樹脂は未硬化状態のままであり、前記シート状基
材706は可撓性を有していた。
Next, a release film having a thickness of 75 μm was prepared.
m PET film was prepared, and a film was formed on the PET film to a gap of about 0.7 mm using the slurry by the doctor blade method. Then, this film forming sheet is heated at a temperature of 100 ° C.
By leaving it for a while, the methyl ethyl ketone solvent in the sheet was volatilized, the PET film was removed, and a sheet substrate 706 having a thickness of 350 μm was prepared.
Since the solvent was removed at a temperature of 100 ° C., the epoxy resin remained in an uncured state, and the sheet-like substrate 706 had flexibility.

【0210】このシート状基材706を、その可撓性を
利用して、所定の大きさにカットし、炭酸ガスレーザを
用いて、ピッチが0.2mm〜2mmの等間隔になる位
置に、直径0.15mmの貫通孔(ビアホール)を設け
た。そして、この貫通孔に、ビアホール充填用導電性ペ
ースト707を、スクリーン印刷法により充填し、前記
基板を作製した。前記導電性ペースト707は、以下の
材料を、以下の組成になるように調製し、三本ロールに
より混練したものを用いた。 (導電性ペースト707の成分組成) ・球形状の銅粒子(三井金属鉱業社製:粒径2μm) 85重量% ・ビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェルエポキシ社製、エピコート82 8) 3重量% ・グルシジルエステル系エポキシ樹脂(東都化成社製、YD−171) 9重量 % ・アミンアダクト硬化剤(味の素社製、MY−24) 3重量% つぎに、図7(a)に示すように、前記シート状基材7
06の両面に、前記実施例4で示した第3の転写材の第
4の金属層701側が接するように配置し、熱プレスを
用いて、プレス温度120℃、圧力約9.8×105
a(10kgf/cm2)で5分間、加熱加圧処理し
た。この加熱加圧処理により、前記シート状基材706
および導電性ペースト707中のエポキシ樹脂が溶融軟
化して、図7(b)に示すように、前記第2、第3およ
び第4の金属層703,702,701からなる配線層
が、シート状基材706中に埋没した。
The sheet-like base material 706 is cut into a predetermined size by utilizing its flexibility, and a carbon dioxide laser is used to cut the sheet-like base material 706 at a position where the pitch is evenly spaced from 0.2 mm to 2 mm. A 0.15 mm through hole (via hole) was provided. Then, the through holes were filled with a conductive paste 707 for filling via holes by a screen printing method, thereby producing the substrate. The conductive paste 707 was prepared by preparing the following materials to have the following composition and kneading them with a three-roll mill. (Ingredient composition of conductive paste 707) Spherical copper particles (Mitsui Metal Mining Co., Ltd .: particle size 2 μm) 85% by weight Bisphenol A type epoxy resin (Yuika Shell Epoxy Co., Epicoat 828) 3% by weight -Glucidyl ester epoxy resin (YD-171, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.) 9% by weight-Amine adduct curing agent (MY-24, manufactured by Ajinomoto Co., Inc.) 3% by weight Next, as shown in FIG. The sheet-like substrate 7
06, the fourth transfer material layer 701 side of the third transfer material described in the fourth embodiment was placed so as to be in contact with the third transfer material, and the pressing temperature was 120 ° C. and the pressure was about 9.8 × 10 5 using a hot press. P
a (10 kgf / cm 2 ) for 5 minutes. By this heating and pressurizing treatment, the sheet-like substrate 706 is formed.
7B, the epoxy resin in the conductive paste 707 melts and softens, and as shown in FIG. 7B, the wiring layer including the second, third, and fourth metal layers 703, 702, and 701 is formed into a sheet-like shape. It was buried in the substrate 706.

【0211】そして、加熱温度をさらに上昇させ、温度
175℃で60分間処理することにより、前記エポキシ
樹脂を硬化させた。これにより、前記シート状基材70
6と第2,第3,及び第4の金属層703,702,7
01とが、強固に接着し、また、前記導電性ペースト7
07と前記第4の金属層701とが電気的に接続(イン
ナービア接続)され、かつ強固に接着された。
Then, the epoxy resin was cured by further increasing the heating temperature and treating at 175 ° C. for 60 minutes. Thereby, the sheet-like base material 70
6 and second, third, and fourth metal layers 703, 702, 7
01 and the conductive paste 7
07 and the fourth metal layer 701 were electrically connected (inner via connection) and firmly adhered.

【0212】このような図7(b)に示す積層体から、
前記キャリア層である第1の金属層705と剥離層70
4とを共に剥離することにより、図7(c)に示すよう
な、両面に第2、第3、第4の金属層703,702,
701が転写された配線基板が得られた。この配線基板
を、配線基板7Aと称する。この配線基板7Aには、前
記第1の金属層705の表層にエッチングにより形成さ
れた凹部の深さに対応した凹部が形成され、前記凹部の
底部に第2、第3、第4の金属層703,702,70
1が形成された。
From the laminate shown in FIG. 7B,
First metal layer 705 as carrier layer and release layer 70
4 are peeled off together to form second, third, and fourth metal layers 703, 702 on both surfaces as shown in FIG.
A wiring board to which 701 was transferred was obtained. This wiring board is referred to as a wiring board 7A. A recess corresponding to the depth of the recess formed by etching in the surface layer of the first metal layer 705 is formed in the wiring board 7A, and the second, third, and fourth metal layers are formed at the bottom of the recess. 703, 702, 70
1 was formed.

【0213】さらに、本実施例において作製した前記配
線基板7Aの他に、実施例1で説明した第1の転写材を
用いて配線パターンを転写することにより配線基板(配
線基板7Bと称する)も作製した。そしてこれらの配線
基板7A・7Bについて、半田リフロー試験、温度サイ
クル試験により、信頼性の評価を行った。各試験方法を
下記に示す。 (半田リフロー試験)ベルト式リフロー装置(松下電器
産業株式会社製)を用いて、最高温度を260℃に設定
し、前記温度における10秒間の処理を10回行った。 (温度サイクル試験)高温側を125℃、低温側を−6
0℃に設定し、各温度で30分間保持する操作を200
サイクル行った。
Further, in addition to the wiring board 7A manufactured in the present embodiment, a wiring board (referred to as a wiring board 7B) is formed by transferring a wiring pattern using the first transfer material described in the first embodiment. Produced. The reliability of these wiring boards 7A and 7B was evaluated by a solder reflow test and a temperature cycle test. Each test method is shown below. (Solder reflow test) The maximum temperature was set to 260 ° C. using a belt type reflow apparatus (manufactured by Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.), and the treatment at the above temperature for 10 seconds was performed 10 times. (Temperature cycle test) 125 ℃ on high temperature side, -6 on low temperature side
Set the temperature to 0 ° C and hold for 30 minutes at each temperature for 200 minutes.
Cycled.

【0214】この結果、前記配線基板7A,7Bとも、
前記各試験を行った後でも、形状的にもクラックが発生
せず、超音波探傷装置でも特に異常は認められなかっ
た。また導電性樹脂ペースト707によるインナービア
接続抵抗も、初期抵抗は殆ど同じであった。
As a result, both the wiring boards 7A and 7B
Even after performing each of the above-mentioned tests, no crack was generated even in shape, and no particular abnormality was recognized in the ultrasonic flaw detector. Also, the initial resistance of the inner via connection resistance by the conductive resin paste 707 was almost the same.

【0215】但し、前記各試験前の初期性能とほとんど
変化がなかったものの、その変化率は、配線基板7Aが
変化率5%以下であったのに対し、配線基板7Bは、変
化率10%以下であった。いずれの配線基板のビア接続
も十分な安定性が得られているが、配線層と導電性樹脂
ペーストとの接続部にAgメッキ層が存在する配線基板
7Aにおいて、より安定なビア接続を実現することがで
きた。
However, although there was almost no change from the initial performance before each test, the change rate was 5% or less for the wiring board 7A, and 10% for the wiring board 7B. It was below. Although sufficient stability is obtained in the via connection of any of the wiring boards, more stable via connection is realized in the wiring board 7A in which the Ag plating layer exists at the connection portion between the wiring layer and the conductive resin paste. I was able to.

【0216】(実施例6)前記実施例1で作製した転写
材を用いて、図8に示すようなセラミック配線基板を作
製した。
Example 6 A ceramic wiring board as shown in FIG. 8 was produced using the transfer material produced in Example 1 above.

【0217】まず、配線パターンを転写する基板を準備
した。この基板は、低温焼成セラミック材料と有機バイ
ンダとを含む低温焼成セラミックグリーンシート805
を調製し、これにビアホールを設け、前記ビアホールに
導電性ペースト806を充填することにより作製した。
以下に、前記グリーンシート805の成分組成を示す。 (グリーンシート805の成分組成) ・セラミック粉末Al23とホウケイ酸鉛ガラスとの混合物(日本電気硝子社製 :MLS−1000) 88重量% ・メタクリル酸系アクリルバインダー(共栄社化学製:オリコックス7025) 10重量% ・BBP(関東化学社製) 2重量% 前記各成分を、前記組成になるように秤量して、これら
の混合物に粘度調整用溶剤としてトルエン溶剤を、前記
混合物のスラリー粘度が約20Pa・sになるまで添加
した。そして、これにアルミナの玉石を加え、ポット中
で48時間、速度500rpmの条件で回転混合し、ス
ラリーを調製した。
First, a substrate for transferring a wiring pattern was prepared. The substrate is a low-temperature fired ceramic green sheet 805 including a low-temperature fired ceramic material and an organic binder.
Was prepared by providing a via hole in this, and filling the via hole with a conductive paste 806.
The component composition of the green sheet 805 is shown below. Mixture of ceramic powder Al 2 O 3 and lead borosilicate glass (composition of the green sheet 805) (manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd.: MLS-1000) 88 wt% methacrylic acid based acrylic binder (Kyoeisha Chemical Co.: cage Cox 7025) 10% by weight ・ BBP (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) 2% by weight Each of the above components was weighed so as to have the above composition, and a toluene solvent was added to the mixture as a viscosity adjusting solvent, and the slurry viscosity of the mixture was reduced. It was added until the pressure became about 20 Pa · s. Then, a cobblestone of alumina was added thereto, and the mixture was rotated and mixed in a pot for 48 hours at a speed of 500 rpm to prepare a slurry.

【0218】つぎに、離型フィルムとして、厚み75μ
mのポリフェニレンサルファイド(PPS)フィルムを
準備し、このPPSフィルム上において、前記スラリー
を用いて、ドクターブレード法により、ギャップ約0.
4mmに造膜し、造膜シートを作製した。前記シート中
の前記トルエン溶剤を揮発させ、前記PPSフィルムを
除去し、厚み220μmのグリーンシート805を作製
した。このグリーンシート805は、有機バインダであ
る前記メタクリル酸系アクリルバインダーに可塑剤BB
Pを添加しているため、可撓性、および良好な熱分解性
を有していた。
Next, a 75 μm thick release film was used.
m of polyphenylene sulfide (PPS) film was prepared, and a gap of about 0. 0 was formed on the PPS film by a doctor blade method using the slurry.
A film was formed to a thickness of 4 mm to form a film-formed sheet. The toluene solvent in the sheet was volatilized, and the PPS film was removed to produce a 220 μm-thick green sheet 805. The green sheet 805 is formed by adding a plasticizer BB to the methacrylic acid-based acrylic binder as an organic binder.
Since P was added, it had flexibility and good thermal decomposability.

【0219】このグリーンシート805を、その可撓性
を利用して、所定の大きさにカットし、パンチングマシ
ーンを用いて、ピッチが0.2mm〜2mmの等間隔に
なる位置に、直径0.15mmの貫通孔(ビアホール)
を設けた。そして、この貫通孔に、ビアホール充填用導
電性ペースト806を、スクリーン印刷法により充填
し、前記基板を作製した。前記導電性ペースト806
は、以下の材料を、以下の組成になるように調製し、三
本ロールにより混練したものを用いた。 (導電性ペースト806) ・球形状の銀粒子(三井金属鉱業社製:粒径3μm) 75重量% ・アクリル樹脂(共栄社化学製:重合度100cps) 5重量% ・ほうけい酸ガラス(日本電気ガラス製) 3重量% ・ターピネオール(関東化学社製) 12重量% ・BBP(関東化学社製) 5重量% つぎに、前記基板の両面に、前記実施例1で作製した第
1の転写材の第2の金属層(配線層)側が接するように
配置し、熱プレスを用いて、プレス温度70℃、圧力約
5.88×106Pa(60kgf/cm2)で5分間、
加熱加圧処理した。この加熱加圧処理により、前記基板
中のアクリル樹脂が溶融軟化して、前記第1の転写材の
第2の金属層(配線層)、剥離層、および第1の金属層
(キャリア)の一部(凸部)が、前記基板中に埋没し
た。
The green sheet 805 is cut into a predetermined size by utilizing its flexibility, and a punching machine is used to cut the green sheet 805 at a position having a pitch of 0.2 mm to 2 mm and a regular interval of 0.2 mm to 2 mm. 15mm through hole (via hole)
Was provided. Then, a conductive paste 806 for filling a via hole was filled into the through-hole by a screen printing method, thereby producing the substrate. The conductive paste 806
The following materials were prepared to have the following composition and kneaded with three rolls. (Conductive paste 806) ・ Spherical silver particles (Mitsui Metal Mining Co., Ltd .: particle size 3 μm) 75% by weight ・ Acrylic resin (Kyoeisha Chemical: polymerization degree 100 cps) 5% by weight ・ Borosilicate glass (Nippon Electric Glass) 3% by weight ・ Terpineol (manufactured by Kanto Kagaku) 12% by weight ・ BBP (manufactured by Kanto Kagaku) 5% by weight Next, on both surfaces of the substrate, the first transfer material of the first transfer material manufactured in Example 1 was used. second metal layer disposed so (wiring layer) side is in contact, using a hot press, pressing temperature 70 ° C., a pressure of about 5.88 × 10 6 Pa (60kgf / cm 2) for 5 minutes,
Heat and pressure treatment was performed. By this heating and pressurizing treatment, the acrylic resin in the substrate is melted and softened, and one of the second metal layer (wiring layer), the release layer, and the first metal layer (carrier) of the first transfer material is formed. The portion (projection) was buried in the substrate.

【0220】このような積層体を冷却した後、前記積層
体から前記キャリアである第1の金属層及び剥離層を剥
離することにより、前記第2の金属層のみが残され、図
8に示すように、基板の両面に前記第2の金属層からな
る配線層801を有する配線基板800が形成された。
After cooling such a laminate, the first metal layer and the release layer, which are the carrier, are peeled off from the laminate, leaving only the second metal layer, as shown in FIG. Thus, the wiring substrate 800 having the wiring layer 801 made of the second metal layer on both surfaces of the substrate was formed.

【0221】そして、この配線基板の両面に、焼成温度
で焼結しないアルミナグリーンシートを積層し、窒素雰
囲気中で脱バインダおよび焼成することにより、固定を
行った。まず、前記グリーンシート805中の有機バイ
ンダを除去するため、電気炉を用いて、25℃/時間の
昇温スピードで、700℃まで窒素中で加熱し、温度7
00℃で2時間処理した。そして、ベルト炉を用い、前
記脱バインダ処理済みの配線基板を、窒素中で900
℃、20分間処理することにより焼成を行った。この条
件は、昇温が20分、降温が20分、インアウト合計6
0分とした。焼成後は、前記アルミナグリーンシートを
容易に取り除くことができた。これにより、低温焼成セ
ラミック配線基板800が作製された。
An alumina green sheet that was not sintered at the firing temperature was laminated on both sides of the wiring board, and the binder was fixed and removed by firing in a nitrogen atmosphere. First, in order to remove the organic binder in the green sheet 805, the mixture was heated in an electric furnace to 700 ° C. in nitrogen at a heating rate of 25 ° C./hour.
Treated at 00 ° C. for 2 hours. Then, using a belt furnace, the wiring board after the binder removal treatment is 900
Firing was performed by treating at 20 ° C. for 20 minutes. The conditions are as follows: temperature rise 20 minutes, temperature fall 20 minutes, total in / out 6
0 minutes. After firing, the alumina green sheet could be easily removed. As a result, a low-temperature fired ceramic wiring board 800 was manufactured.

【0222】この配線基板800の両面には、前記第1
の転写材の第1の金属層の凹凸の厚みに相当する深さの
凹部が形成され、前記凹部の底部に前記第2の金属層か
らなる配線層801が形成された。また、前記配線基板
800の両面の配線層801は、導電性ペースト806
を焼結させてなる導電性金属焼結ビアにより、厚さ方向
に電気的に接続された。本実施例では、図8に示すよう
に、この配線基板805の第2の金属層801上に金メ
ッキ層802を形成した。
On both sides of this wiring board 800, the first
A concave portion having a depth corresponding to the thickness of the unevenness of the first metal layer of the transfer material was formed, and the wiring layer 801 made of the second metal layer was formed at the bottom of the concave portion. The wiring layers 801 on both sides of the wiring board 800 are made of a conductive paste 806.
Were electrically connected in the thickness direction by conductive metal sintered vias obtained by sintering the conductive metal. In this example, as shown in FIG. 8, a gold plating layer 802 was formed on the second metal layer 801 of the wiring board 805.

【0223】次に、前記低温焼成セラミック配線基板8
00の表面に、ベアチップ半導体905をフリップチッ
プ実装した構成について説明する。図9は、前記セラミ
ック配線基板800にベアチップ半導体905を実装し
た構成概略の一例を示す断面図である。
Next, the low-temperature fired ceramic wiring substrate 8
A configuration in which a bare-chip semiconductor 905 is flip-chip mounted on the surface of No. 00 will be described. FIG. 9 is a cross-sectional view showing an example of a schematic configuration in which a bare chip semiconductor 905 is mounted on the ceramic wiring board 800.

【0224】まず、ベアチップ半導体905表面のアル
ミパッド904に、ワイヤボンディング法を用いて金ワ
イヤによる突起バンプ903を形成し、前記バンプ90
3上に熱硬化性の導電性接着剤(図示せず)を転写し
た。そして、前記セラミック配線基板800の表面の凹
部(配線パターン部)に、突出バンプ903を位置合わ
せして、前記導電性接着剤を介して突出バンプ903を
金メッキ層802に接着することにより、半導体905
を実装した。この結果、前記したように第1の転写材を
用いて第2の金属層(配線層801)を転写することに
より形成された前記凹部において、前記バンプ903
と、配線層(第2の金属層801および金メッキ層80
2)とが接続された。
First, a bump 903 made of gold wire is formed on the aluminum pad 904 on the surface of the bare chip semiconductor 905 by using a wire bonding method.
A thermosetting conductive adhesive (not shown) was transferred onto 3. Then, the protruding bump 903 is aligned with a concave portion (wiring pattern portion) on the surface of the ceramic wiring board 800, and the protruding bump 903 is bonded to the gold plating layer 802 via the conductive adhesive, thereby forming the semiconductor 905.
Was implemented. As a result, the bumps 903 are formed in the recesses formed by transferring the second metal layer (wiring layer 801) using the first transfer material as described above.
And a wiring layer (the second metal layer 801 and the gold plating layer 80).
2) was connected.

【0225】このフリップチップ実装基板について、半
田リフロー試験、温度サイクル試験により、信頼性の評
価を行った。前記各試験は、前記実施例4と同様の条件
で行った。この結果、半導体905をフリップチップ実
装したセラミック配線基板800は、前記各処理を行っ
た後でも、バンプ接続抵抗の変化もほとんどなく、安定
であった。
The reliability of this flip chip mounting board was evaluated by a solder reflow test and a temperature cycle test. Each test was performed under the same conditions as in Example 4. As a result, the ceramic wiring board 800 on which the semiconductor 905 was flip-chip mounted was stable with almost no change in the bump connection resistance even after performing each of the above-described processes.

【0226】なお、本実施例で、図2に示す第2の転写
材であって、第2の金属層をAgメッキ層で構成し、第
3の金属層をAgのパターンメッキ層で構成した転写材
を用いて、転写を行ってみると、前記セラミックグリー
ンシート805にAgメッキ配線パターンを形成するこ
とができた。この場合、製造プロセスにおいて、大気中
脱バインダー、大気中焼成が可能となるので、コスト的
に有利である。また、配線の耐酸化性が著しく向上す
る。
In the present embodiment, the second transfer material shown in FIG. 2 was composed of an Ag plating layer for the second metal layer and a pattern plating layer of Ag for the third metal layer. When transfer was performed using a transfer material, an Ag-plated wiring pattern could be formed on the ceramic green sheet 805. In this case, in the manufacturing process, debinding in the air and sintering in the air are possible, which is advantageous in cost. Further, the oxidation resistance of the wiring is significantly improved.

【0227】(実施例7)転写材と、前記実施例5と同
様にして作製したコンポジット材料からなる基板とを用
いて、多層配線基板を作製した。図10は、多層配線基
板の作製工程の概略の一例を示す断面図である。
Example 7 A multilayer wiring board was manufactured using a transfer material and a substrate made of a composite material manufactured in the same manner as in Example 5. FIG. 10 is a cross-sectional view illustrating an example of a schematic process of manufacturing a multilayer wiring board.

【0228】図10(a)〜(j)において、1001
a、1001b、1001cは基板用シート、1002
a、1002b、1002cはキャリアである第1の金
属層、1003a、1003b、1003cは導電性ペ
ースト、1004a、1004b、1004cは配線パ
ターンである第2の金属層、1005a、1005b、
1005cは剥離層、A,B,C,Dは転写材、Eは多
層配線基板をそれぞれ示す。
In FIGS. 10A to 10J, 1001
a, 1001b, 1001c are substrate sheets, 1002
a, 1002b, 1002c are first metal layers as carriers, 1003a, 1003b, 1003c are conductive pastes, 1004a, 1004b, 1004c are second metal layers as wiring patterns, 1005a, 1005b,
1005c indicates a release layer, A, B, C, and D indicate transfer materials, and E indicates a multilayer wiring board.

【0229】また、図10(a)〜(i)において、図10
(a)(d)(g)は、転写材Aと基板1001aとを
用いて、単層の配線基板を作製する工程を示す。同様
に、図10(b)(e)(h)は、転写材Bと基板10
01bとを用いて、単層の配線基板を作製する工程、図
10(c)(f)(i)は、転写材CおよびDと基板1
001cとを用いて、単層の配線基板を作製する工程を
それぞれ示す。また、図10(j)は、前記3種類の単
層配線基板を積層して作製される多層配線基板Eを示
す。なお、特に示さない限り、前記各単層配線基板は、
実施例5と同様にして作製した。
Also, in FIGS. 10A to 10I, FIG.
(A), (d), and (g) show steps of manufacturing a single-layer wiring substrate using the transfer material A and the substrate 1001a. Similarly, FIGS. 10B, 10E, and 10H show the transfer material B and the substrate 10
01b, a step of manufacturing a single-layer wiring board, FIGS. 10C, 10F, and 10I show transfer materials C and D and substrate 1
001c, a process for manufacturing a single-layer wiring board is shown. FIG. 10 (j) shows a multilayer wiring board E manufactured by laminating the three types of single-layer wiring boards. In addition, unless otherwise indicated, the single-layer wiring board,
It was produced in the same manner as in Example 5.

【0230】まず、図10(a)、(b)、(c)にそれ
ぞれ示すような転写材A,B,C,Dをそれぞれ作製し
た。まず、前記実施例1と同様の製箔方法により、第1
の金属層1002a、1002b、1002c、100
2dとして、厚み35μmの電解銅箔を作製した。
First, transfer materials A, B, C and D as shown in FIGS. 10 (a), (b) and (c) were prepared, respectively. First, by the same foil making method as in the first embodiment, the first
Metal layers 1002a, 1002b, 1002c, 100
As 2d, an electrolytic copper foil having a thickness of 35 μm was prepared.

【0231】つぎに、前記第1の金属層1002a、1
002b、1002c、1002dの粗面上に、Ni−
P合金メッキ層からなる剥離層1005a、1005
b、1005c、1005dを100nm以下の厚みに
なるように薄く形成し、その上に配線パターン形成用の
第2の金属層1004a、1004b、1004c、1
004dとして、前記実施例1と同様の電解メッキ法に
より、厚み9μmの電解銅箔をそれぞれ積層することに
より、3層の積層体を作製した。なお、前記剥離層とし
て、クロムメッキ層を用いてもよい。
Next, the first metal layers 1002a, 1002a,
Ni- on the rough surfaces of 002b, 1002c, and 1002d.
Release layers 1005a and 1005 made of a P alloy plating layer
b, 1005c, and 1005d are formed thinly to a thickness of 100 nm or less, and second metal layers 1004a, 1004b, 1004c, and 1
As 004d, a 9-μm-thick electrolytic copper foil was laminated by the same electrolytic plating method as in Example 1 to produce a three-layer laminate. Note that a chromium plating layer may be used as the release layer.

【0232】次に、前記配線パターン形成用の第2の金
属層1004b、1004c側から、銅のみをエッチン
グ除去できる塩基系塩化銅水溶液を用いてエッチングを
行い、第2の金属層1004b、1004cを任意の配
線パターンに形成し、図10(b)(c)に示す転写材
B、Cを得た。同様に、前記配線パターン形成用の第2
の金属層1004a、1004d側から、化学エッチン
グ法により銅及びNi−P合金鍍金層のエッチングを行
い、第2の金属層1004a、1004dを任意の配線
パターンに形成すると共に、第1の金属層1002a、
1002dの表層部に前記配線パターンに応じた凹凸を
形成した。なお、凸部が配線パターン領域に対応し、凹
部が配線パターン以外の領域に対応する。これにより、
図10(a)(d)に示す転写材A、Dを得た。
Next, the second metal layers 1004b and 1004c are etched from the side of the second metal layers 1004b and 1004c for forming the wiring pattern using a basic copper chloride aqueous solution capable of etching and removing only copper. Transfer materials B and C shown in FIGS. 10B and 10C were obtained by forming an arbitrary wiring pattern. Similarly, the second for forming the wiring pattern
The copper and Ni-P alloy plating layers are etched by a chemical etching method from the side of the metal layers 1004a and 1004d to form the second metal layers 1004a and 1004d in an arbitrary wiring pattern and to form the first metal layer 1002a. ,
Unevenness corresponding to the wiring pattern was formed on the surface layer of 1002d. Note that the convex portions correspond to the wiring pattern region, and the concave portions correspond to regions other than the wiring pattern. This allows
Transfer materials A and D shown in FIGS. 10A and 10D were obtained.

【0233】つぎに、図10(a)、(b)、(c)に
示すように、基板用シート1001a、1001b、1
001c上に、前記転写材A,B,C,Dの前記第2の
金属層1004a、1004b、1004c、1004
dが接触するように、それぞれ配置した。なお、図10
(c)においては、基板用シート1001cの両面に、
転写材C、Dをそれぞれ配置した。
Next, as shown in FIGS. 10 (a), (b) and (c), substrate sheets 1001a, 1001b, 1
001c, the second metal layers 1004a, 1004b, 1004c, 1004 of the transfer materials A, B, C, D
Each was arranged so that d contacted. Note that FIG.
In (c), on both sides of the substrate sheet 1001c,
Transfer materials C and D were arranged respectively.

【0234】そして、図10(d)、(e)、(f)に
示すように、前記転写材A,B,C,Dと基板1001
a、1001b、1001cとの積層体を、温度100
℃、圧力約9.8×105Pa(10kgf/cm2)で
5分間加熱加圧処理することにより、前記基板用シート
1001a、1001b、1001c中のエポキシ樹脂
が溶融軟化し、第2の金属層1004a、1004b、
1004c、1004dが、前記基板用シート1001
a、1001b、1001c中にそれぞれ埋め込まれ
た。
Then, as shown in FIGS. 10 (d), (e) and (f), the transfer materials A, B, C and D are
a, 1001b and 1001c at a temperature of 100
° C., by heating and pressurizing treatment for 5 minutes at a pressure of about 9.8 × 10 5 Pa (10kgf / cm 2), the substrate sheet 1001a, 1001b, epoxy resin in 1001c is melted and softened, the second metal Layers 1004a, 1004b,
1004c and 1004d are the substrate sheets 1001
a, 1001b, and 1001c, respectively.

【0235】次に、前記積層体から、前記第1の金属層
1002a、1002b、1002c、1002dを前
記剥離層1005a、1005b、1005c、100
5dと共に剥離することにより、前記第2の金属層10
04a、1004b、1004c、1004dのみが基
板用シート1001a、1001b、1001cに残さ
れる。これにより、その表面が平坦である単層配線基板
(図10(h))、配線層部分が凹形状である単層配線
基板(図10(g)参照)、及び一方の表面が平坦であ
り、他方の表面の配線層部分が凹形状である単層配線基
板(図10(i)参照)、の3種類の単層配線基板が得
られた。
Next, the first metal layers 1002a, 1002b, 1002c, and 1002d are separated from the laminates by the release layers 1005a, 1005b, 1005c, and 1002a.
5d, the second metal layer 10
Only 04a, 1004b, 1004c, and 1004d are left on the substrate sheets 1001a, 1001b, and 1001c. Thereby, a single-layer wiring board having a flat surface (FIG. 10 (h)), a single-layer wiring board having a concave wiring layer portion (see FIG. 10 (g)), and one surface being flat And three types of single-layer wiring boards having a concave wiring layer portion on the other surface (see FIG. 10 (i)).

【0236】最後に、図10(j)に示すように、前記
3種類の単層配線基板を重ね合わせ、これらを温度17
5℃、圧力約7.84×106Pa(80kgf/c
2)で1時間、加熱加圧処理することにより熱硬化収
縮させ、多層配線基板Eが得られた。この処理によっ
て、前記基板用シート1001a、1001b、100
1cおよび導電性ペースト1003a、1003b、1
003c中のエポキシ樹脂が硬化して、多層配線基板E
の機械的強度が保持される。また、第2の金属層100
4a、1004b、1004c、1004dが、導電性
樹脂ビア1003a、1003b、1003cにより、
互いに電気的に接続された。多層配線基板Eは、前述の
ように、単層配線基板を重ね合わせた後、一括して熱硬
化収縮させたため、ビアonビア構造に於けるビアずれ
は全く生じなかった。
Finally, as shown in FIG. 10 (j), the three types of single-layer wiring boards are overlapped,
5 ° C., pressure about 7.84 × 10 6 Pa (80 kgf / c
m 2 ) for 1 hour under heat and pressure to cause thermosetting shrinkage, and a multilayer wiring board E was obtained. By this process, the substrate sheets 1001a, 1001b, 100
1c and conductive pastes 1003a, 1003b, 1
The epoxy resin in 003c is cured and the multilayer wiring board E
The mechanical strength of is maintained. Also, the second metal layer 100
4a, 1004b, 1004c, and 1004d are formed by conductive resin vias 1003a, 1003b, and 1003c.
Electrically connected to each other. As described above, since the multilayer wiring board E was subjected to thermal curing shrinkage after the single-layer wiring boards were superimposed, no via displacement occurred in the via-on-via structure.

【0237】このようにして作製した前記多層配線基板
Eは、線幅50μm程度の微細な配線パターンを形成で
き、かつIVH構造を有するので、極めて小型で高密度
な実装用配線基板として有用であった。特に、本発明に
かかる転写材を用いて配線パターンを転写形成したこと
により、微細な配線パターンが集中する表層面の配線位
置ずれが生じないので、歩留まりの向上が期待できる。
The multilayer wiring board E manufactured as described above can form a fine wiring pattern with a line width of about 50 μm and has an IVH structure, so that it is useful as a very small and high-density mounting wiring board. Was. In particular, since the wiring pattern is formed by transfer using the transfer material according to the present invention, the wiring position shift on the surface layer where the fine wiring patterns are concentrated does not occur, so that an improvement in yield can be expected.

【0238】さらに、チップ等を実装する表層の実装配
線層が凹形状であるため、フリップチップ実装を容易に
行うことができた。なお、本発明の多層配線基板は、前
記構造には制限されず、例えば、その内層にも、前述の
ような凹部を有した配線層を有する単層配線基板を用い
てもよい。この場合の多層基板に於いても、低抵抗で高
信頼性のビア接続が確認されている。
Further, since the mounting wiring layer on the surface on which the chip or the like is mounted has a concave shape, flip-chip mounting can be easily performed. The multilayer wiring board of the present invention is not limited to the above-described structure. For example, a single-layer wiring board having a wiring layer having the above-described recess may be used as the inner layer. In this case, low-resistance and highly-reliable via connection has also been confirmed in the multilayer substrate.

【0239】また、第2の金属層が銅箔である場合、そ
の上層部に酸化防止を目的として金メッキ層を形成して
もよい。この場合、金メッキ層の表面も、基板表面に対
して凹部を形成していると、微細な配線パターンでも沿
面距離をかせぐことができ、マイグレーションを防止す
る意味でも有利である。
When the second metal layer is a copper foil, a gold plating layer may be formed on the second metal layer for the purpose of preventing oxidation. In this case, if the surface of the gold plating layer also has a concave portion with respect to the substrate surface, the creepage distance can be increased even with a fine wiring pattern, which is advantageous in terms of preventing migration.

【0240】尚、本実施例では、コンポジット基板を用
いているが、基材は何らこれに限定されるものではな
く、セラミックグリーンシートを用いることもできる。
この場合、本実施例で説明した製造プロセスの焼成プロ
セスのみを変更すれば、同様の製造プロセスによって多
層配線基板を実現できる。
In this embodiment, the composite substrate is used, but the substrate is not limited to this, and a ceramic green sheet may be used.
In this case, if only the firing process of the manufacturing process described in the present embodiment is changed, a multilayer wiring board can be realized by a similar manufacturing process.

【0241】また、本実施例では、転写材として、配線
層が単層の金属層からなる第1の転写材を用いたが、第
2または第3の転写材を用いれば、複数の金属層からな
る配線層を有する多層配線基板を実現できる。
Further, in the present embodiment, the first transfer material in which the wiring layer is a single metal layer is used as the transfer material. However, if the second or third transfer material is used, a plurality of metal layers are used. Can be realized.

【0242】(実施例8)前記実施例1で説明した第1
の転写材を用いて、セラミック基板と、少なくとも熱硬
化性樹脂を含む基板とを積層してなる多層配線基板を作
製した。
(Embodiment 8) The first embodiment described in the first embodiment
By using the above transfer material, a multilayer wiring board was prepared by laminating a ceramic substrate and a substrate containing at least a thermosetting resin.

【0243】まず、セラミック配線基板1608(図1
6(b)参照)の材料であり、配線パターンが転写され
るシート状基材を準備した。このシート状基材は、低温
焼成セラミック材料と有機バインダとを含む低温焼成セ
ラミックグリーンシートを調製し、これにビアホールを
設け、前記ビアホールに導電性ペースト1609を充填
することにより作製した。以下に、前記グリーンシート
の成分組成を示す。 (グリーンシートの成分組成) ・セラミック粉末Al23とホウケイ酸鉛ガラスとの混合物(日本電気硝子社製 :MLS−1000) 88重量% ・メタクリル酸系アクリルバインダー(共栄社化学製:オリコックス7025) 10重量% ・BBP(関東化学社製) 2重量% 前記各成分を、前記組成になるように秤量して、これら
の混合物に粘度調整用溶剤としてトルエン溶剤を、前記
混合物のスラリー粘度が約20Pa・sになるまで添加
した。そして、これにアルミナの玉石を加え、ポット中
で48時間、速度500rpmの条件で回転混合し、ス
ラリーを調製した。
First, a ceramic wiring board 1608 (FIG. 1)
6 (b)), and a sheet-like base material to which a wiring pattern was transferred was prepared. This sheet-shaped base material was prepared by preparing a low-temperature fired ceramic green sheet containing a low-temperature fired ceramic material and an organic binder, providing a via hole in the green sheet, and filling the via hole with a conductive paste 1609. The component composition of the green sheet is shown below. (Ingredient composition of green sheet) ・ A mixture of ceramic powder Al 2 O 3 and lead borosilicate glass (manufactured by NEC Corporation: MLS-1000) 88% by weight ・ Methacrylic acid-based acrylic binder (manufactured by Kyoeisha Chemical: Oricox 7025) 10% by weight ・ BBP (manufactured by Kanto Chemical Co.) 2% by weight Each of the above components was weighed so as to have the above composition, and a toluene solvent was added to the mixture as a viscosity adjusting solvent, and the slurry viscosity of the mixture was about 10%. It added until it became 20 Pa.s. Then, a cobblestone of alumina was added thereto, and the mixture was rotated and mixed in a pot for 48 hours at a speed of 500 rpm to prepare a slurry.

【0244】つぎに、離型フィルムとして、厚み75μ
mのポリフェニレンサルファイド(PPS)フィルムを
準備し、このPPSフィルム上において、前記スラリー
を用いて、ドクターブレード法により、ギャップ約0.
4mmに造膜し、造膜シートを作製した。前記シート中
の前記トルエン溶剤を揮発させ、前記PPSフィルムを
除去し、厚み220μmのグリーンシートを作製した。
このグリーンシートは、有機バインダであるメタクリル
酸系アクリルバインダーに可塑剤BBPを添加している
ため、可撓性、および良好な熱分解性を有していた。
Next, a release film having a thickness of 75 μm was prepared.
m of polyphenylene sulfide (PPS) film was prepared, and a gap of about 0. 0 was formed on the PPS film by a doctor blade method using the slurry.
A film was formed to a thickness of 4 mm to form a film-formed sheet. The toluene solvent in the sheet was volatilized to remove the PPS film, thereby producing a 220 μm-thick green sheet.
This green sheet had flexibility and good thermal decomposability because a plasticizer BBP was added to a methacrylic acid-based acrylic binder as an organic binder.

【0245】このグリーンシートを、その可撓性を利用
して、所定の大きさにカットし、パンチングマシーンを
用いて、ピッチが0.2mm〜2mmの等間隔になる位
置に、直径0.15mmの貫通孔(ビアホール)を設け
た。そして、この貫通孔に、ビアホール充填用導電性ペ
ースト1609を、スクリーン印刷法により充填し、前
記シート状基材を作製した。前記導電性ペースト160
9は、以下の材料を、以下の組成になるように調製し、
三本ロールにより混練したものを用いた。 (導電性ペースト1609の成分組成) ・球形状の銀粒子(三井金属鉱業社製:粒径3μm) 75重量% ・アクリル樹脂(共栄社化学製:重合度100cps) 5重量% ・ターピネオール(関東化学社製) 15重量% ・BBP(関東化学社製) 5重量% つぎに、前記シート状基材の両面に、前記実施例1で説
明した第1の転写材を、その第2の金属層側が接するよ
うに配置し、熱プレスを用いて、プレス温度70℃、圧
力約5.88×106Pa(60kgf/cm2)で5分
間、加熱加圧処理した。この加熱加圧処理により、前記
シート状基材中のアクリル樹脂が溶融軟化して、第1の
転写材の配線層(第2の金属層)、剥離層、およびキャ
リア(第1の金属層)の表層部(凸部)が、前記シート
状基材中に埋没した。
The green sheet is cut into a predetermined size by utilizing its flexibility, and a punching machine is used to cut the green sheet at a position having a pitch of 0.2 mm to 2 mm and a pitch of 0.15 mm. (Via holes) were provided. Then, a conductive paste 1609 for filling a via hole was filled into the through-hole by a screen printing method to produce the sheet-like base material. The conductive paste 160
9 prepares the following materials to have the following composition,
What was kneaded with three rolls was used. (Ingredient composition of conductive paste 1609) ・ Spherical silver particles (Mitsui Metal Mining Co., Ltd .: particle size 3 μm) 75% by weight ・ Acrylic resin (Kyoeisha Chemical: polymerization degree 100 cps) 5% by weight ・ Terpineol (Kanto Chemical Co., Ltd.) 15 wt% BBP (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) 5 wt% Next, the first transfer material described in the first embodiment is brought into contact with both surfaces of the sheet-like base material on the second metal layer side. Using a hot press, a heat press treatment was performed at a press temperature of 70 ° C. and a pressure of about 5.88 × 10 6 Pa (60 kgf / cm 2 ) for 5 minutes. By this heating and pressurizing treatment, the acrylic resin in the sheet-shaped base material is melted and softened, and the wiring layer (second metal layer), the release layer, and the carrier (first metal layer) of the first transfer material Was buried in the sheet-like base material.

【0246】このような積層体を冷却した後、前記積層
体から、第1の転写材のキャリアを剥離層と共に剥離す
ることにより、第2の金属層のみが積層体に残され、図
16(b)中に示すように、両面に第2の金属層からな
る配線層1610を有するセラミック配線基板1608
が得られた。
After cooling such a laminate, the carrier of the first transfer material is peeled off from the laminate together with the release layer, so that only the second metal layer is left on the laminate, and FIG. As shown in b), a ceramic wiring board 1608 having a wiring layer 1610 made of a second metal layer on both surfaces
was gotten.

【0247】そして、このセラミック配線基板1608
の両面に、焼成温度で焼結しないアルミナグリーンシー
トを積層し、窒素雰囲気中で脱バインダおよび焼成する
ことにより、固定を行った。まず、前記セラミック配線
基板1608中の有機バインダを除去するため、電気炉
を用いて、25℃/時間の昇温スピードで、700℃ま
で窒素中で加熱し、温度700℃で2時間処理した。そ
して、ベルト炉を用い、前記脱バインダ処理済みのセラ
ミック配線基板1608を、窒素中で900℃、20分
間処理することにより焼成を行った。この条件は、昇温
が20分、降温が20分、インアウト合計60分とし
た。焼成後は、アルミナ層を容易に取り除くことができ
た。
Then, the ceramic wiring board 1608
Alumina green sheets that were not sintered at the firing temperature were laminated on both sides, and the binder was fixed and removed by firing in a nitrogen atmosphere. First, in order to remove the organic binder in the ceramic wiring substrate 1608, the substrate was heated to 700 ° C. in a nitrogen atmosphere at a heating rate of 25 ° C./hour for 2 hours at a temperature of 700 ° C. using an electric furnace. Then, using a belt furnace, the ceramic wiring substrate 1608 subjected to the binder removal treatment was baked by treating it at 900 ° C. for 20 minutes in nitrogen. The conditions were as follows: a rise in temperature for 20 minutes, a fall in temperature for 20 minutes, and a total of 60 minutes for in-out. After firing, the alumina layer could be easily removed.

【0248】さらに、図16(b)に示すように、前述
のように作製したセラミック配線基板1608を挟むよ
うに、図16(a)〜(c)に示すように、コンポジット材料
からなる配線基板1605、1606、1607を積層
して、全層層間接続した積層体を得た。
Further, as shown in FIG. 16B, a wiring board made of a composite material is sandwiched between the ceramic wiring boards 1608 manufactured as described above and as shown in FIGS. 16A to 16C. 1605, 1606, and 1607 were laminated to obtain a laminated body in which all layers were interconnected.

【0249】ここで、コンポジット配線基板1605等
の製造方法について説明する。図16(a)および図16
(b)の最上段に示すように、本発明にかかる第1の転
写材1601(実施例1と同様)を用い、この第1の転
写材に形成された配線パターンを、未硬化状態のコンポ
ジットシート(実施例5と同様の組成)1602に転写
することにより、配線パターン1604を有する単層配
線基板1605を作製する。なお、コンポジットシート
1602には、貫通孔が形成され、導電性ペースト16
03が充填されている。同様の方法で、コンポジットシ
ート1602を用いた単層配線基板1606および16
07を作製する。
Here, a method of manufacturing the composite wiring board 1605 and the like will be described. FIG. 16 (a) and FIG.
As shown in the uppermost part of (b), using the first transfer material 1601 according to the present invention (similar to the first embodiment), the wiring pattern formed on the first transfer material is replaced with an uncured composite. By transferring to a sheet (same composition as in Example 5) 1602, a single-layer wiring board 1605 having a wiring pattern 1604 is manufactured. In the composite sheet 1602, a through-hole is formed, and the conductive paste 16 is formed.
03 is filled. In a similar manner, single-layer wiring boards 1606 and 16 using composite sheet 1602
07 is produced.

【0250】しかる後に、前記セラミック配線基板16
08の両面に、前記コンポジット単層配線基板1605
〜1607を積層し、プレス温度200℃、圧力約2.
94×106Pa(30kgf/cm2)で60分間、熱
プレス処理した。この加熱加圧処理により、単層配線基
板1605〜1607のコンポジットシート1602中
のアクリル樹脂が溶融軟化して、図16(c)に示すよ
うに、セラミック層1608を含む全配線基板が硬化一
体化された。
Thereafter, the ceramic wiring board 16
08, the composite single-layer wiring board 1605
1601607, a pressing temperature of 200 ° C. and a pressure of about 2.
The hot press treatment was performed at 94 × 10 6 Pa (30 kgf / cm 2 ) for 60 minutes. By this heating and pressurizing treatment, the acrylic resin in the composite sheet 1602 of the single-layer wiring boards 1605 to 1607 melts and softens, and as shown in FIG. 16C, all the wiring boards including the ceramic layer 1608 are cured and integrated. Was done.

【0251】本実施例と同様の方法により、図11また
は図12に示すような、コンポジット配線基板1602
およびセラミック配線基板1608からなる多層配線基
板が作製された。この構成は、図11または図12に示
す多層配線基板と同様である。
A composite wiring board 1602 as shown in FIG. 11 or FIG.
And a multilayer wiring board including the ceramic wiring board 1608 was manufactured. This configuration is the same as the multilayer wiring board shown in FIG. 11 or FIG.

【0252】本実施例の方法により作製された、図11
及び図12に示す多層配線基板をX線を用いて観察した
ところ、セラミック層に亀裂等の損傷箇所は一切認めら
れなかった。
FIG. 11 produced by the method of this embodiment.
When the multilayer wiring board shown in FIG. 12 was observed using X-rays, no damage such as cracks was found in the ceramic layer.

【0253】また、本多層配線基板のビア連抵抗を評価
したところ、低抵抗なビア接続を確認することができ
た。
When the via connection resistance of the multilayer wiring board was evaluated, a low-resistance via connection could be confirmed.

【0254】なお、図11に示すように、セラミック配
線基板1608にインナービアを形成せず、容量層とし
てBa−Ti−O系セラミックを用いたところ、10〜
500nF/cm2の高容量値を容易に実現することができ
た。
As shown in FIG. 11, when the ceramic wiring substrate 1608 was not formed with an inner via and a Ba—Ti—O-based ceramic was used as the capacitor layer,
A high capacitance value of 500 nF / cm 2 was easily realized.

【0255】また、図11に示す内層電極層は、樹脂基
板層1602に形成しても良いし、セラミック層160
8内に形成しても良い。
The inner electrode layer shown in FIG. 11 may be formed on the resin substrate layer 1602, or may be formed on the ceramic layer 1602.
8 may be formed.

【0256】さらに、本実施例では、各単層配線基板の
配線層の形成に、第1の転写材を用いたが、第2または
第3の転写材を用いれば、複数の金属層からなる配線層
を有する多層配線基板を作製することができる。
Further, in this embodiment, the first transfer material is used for forming the wiring layer of each single-layer wiring board. However, if the second or third transfer material is used, a plurality of metal layers are used. A multilayer wiring board having a wiring layer can be manufactured.

【0257】(実施例9)実施例8と、ほぼ構成は同じ
であるが、セラミック層を構成するセラミック配線基板
が、高温でのみ焼結するAl23のような材料で構成さ
れた場合の多層配線基板を、図17(a)〜(c)に示すよう
に作製した。
(Embodiment 9) The structure is almost the same as that of Embodiment 8, except that the ceramic wiring board constituting the ceramic layer is made of a material such as Al 2 O 3 which sinters only at a high temperature. Was manufactured as shown in FIGS. 17A to 17C.

【0258】本実施例にかかる多層配線基板は、低温焼
成セラミックでは実現できない高強度で高熱伝導な基板
と、銅箔等の低抵抗配線とを有することを特徴とする多
層配線基板である。
The multilayer wiring board according to the present embodiment is a multilayer wiring board characterized by having a high-strength, high-thermal-conductivity substrate that cannot be realized by a low-temperature fired ceramic, and a low-resistance wiring such as a copper foil.

【0259】まず、セラミック配線基板の材料となるア
ルミナグリーンシートを準備した。これに貫通孔を設
け、後述する導電性ペーストを充填する前に焼成した。
焼成工程に於いては、貫通孔の位置データを後述する樹
脂系基板(コンポジット配線基板)と共有するため、こ
のアルミナグリーンシートの両面に、焼成温度で焼結し
ないSiCで構成されたグリーンシートを積層し、大気
雰囲気中で脱バインダおよび焼成することにより、固定
を行った。まず、前記アルミナグリーンシート中の有機
バインダを除去するため、電気炉を用いて、25℃/時
間の昇温スピードで、700℃まで窒素中で加熱し、温
度1600℃で2時間処理することにより焼成を行っ
た。焼成後は、SiC層を容易に取り除くことができ、
平面方向には無収縮な状態で焼結されたAl23基板1
708を得ることができた。なお、本実施例では拘束層
を用いた無収縮工法を用いているが、収縮分を補正して
通常の三次元に等方な収縮焼結をさせてもかまわない。
First, an alumina green sheet as a material for a ceramic wiring board was prepared. This was provided with a through-hole and fired before filling with a conductive paste described later.
In the firing step, in order to share the position data of the through-holes with a resin-based substrate (composite wiring board) to be described later, a green sheet made of SiC that is not sintered at the firing temperature is provided on both sides of the alumina green sheet. The layers were stacked, fixed by performing binder removal and firing in an air atmosphere. First, in order to remove the organic binder in the alumina green sheet, by heating in an electric furnace to 700 ° C. in a nitrogen atmosphere at a heating rate of 25 ° C./hour, and treating at a temperature of 1600 ° C. for 2 hours. The firing was performed. After firing, the SiC layer can be easily removed,
Al 2 O 3 substrate 1 sintered without shrinkage in the plane direction
708 could be obtained. In this embodiment, the non-shrinkage method using the constraining layer is used, but the shrinkage may be corrected and normal three-dimensional isotropic shrink sintering may be performed.

【0260】そして、Al23基板1708において予
め形成しておいた直径0.15mmの貫通孔に、ビアホ
ール充填用熱硬化型導電性ペースト1704を、スクリ
ーン印刷法により充填した。前記導電性ペースト170
4は、実施例8で説明した導電性ペーストと同じ成分組
成のものを用いた。
A 0.15 mm diameter through-hole formed in the Al 2 O 3 substrate 1708 was filled with a via-hole filling thermosetting conductive paste 1704 by screen printing. The conductive paste 170
As for No. 4, the one having the same component composition as the conductive paste described in Example 8 was used.

【0261】さらに、図17(b)に示すように、Al
23基板1708を挟むように、コンポジットシート1
702を用いた配線基板1705〜1707を積層し
て、図17(c)に示すように、全層層間接続が実現で
きた多層配線基板1709を得る。
Further, as shown in FIG.
Composite sheet 1 sandwiches 2 O 3 substrate 1708
By laminating wiring substrates 1705 to 1707 using 702, as shown in FIG. 17C, a multilayer wiring substrate 1709 in which all-layer interlayer connection can be realized is obtained.

【0262】ここで、コンポジットシート1702を用
いた配線基板1705〜1707の製造方法について説
明する。図17(a)に示すように、本発明の第1の転写
材1701(実施例8と同様)を、未硬化状態のコンポ
ジットシート1702(実施例8の構成と同様)に圧着
させる。
Here, a method of manufacturing the wiring boards 1705 to 1707 using the composite sheet 1702 will be described. As shown in FIG. 17A, a first transfer material 1701 (similar to Example 8) of the present invention is pressed onto an uncured composite sheet 1702 (similar to the configuration of Example 8).

【0263】なお、コンポジットシート1702には、
貫通孔が形成され、Al23基板1708に充填された
ペーストと同じ導電性ペースト1704が充填されてい
る。また、この貫通孔を形成する際の位置データとし
て、Al23基板1708への貫通孔の形成時に用いら
れたものと同じデータを用いた。
Note that the composite sheet 1702 has
A through hole is formed, and the same conductive paste 1704 as the paste filled in the Al 2 O 3 substrate 1708 is filled. The same data as that used when forming the through-hole in the Al 2 O 3 substrate 1708 was used as the position data when the through-hole was formed.

【0264】そして、前記実施例8と同様に、第1の転
写材のキャリアを剥離層と共に剥離することにより、第
1の転写材の配線層のみがコンポジットシート1702
に残される。これにより、図17(b)の最上段に示す
ように、配線層1703を有するコンポジット配線基板
1705が作製される。同様の方法で、コンポジット配
線基板1706・1707を作製する。
Then, in the same manner as in the eighth embodiment, the carrier of the first transfer material is peeled off together with the release layer, so that only the wiring layer of the first transfer material becomes a composite sheet 1702.
Will be left. As a result, as shown in the uppermost part of FIG. 17B, a composite wiring board 1705 having the wiring layer 1703 is manufactured. Composite wiring boards 1706 and 1707 are manufactured in the same manner.

【0265】しかる後に、Al23基板1708の両面
に、コンポジット配線基板1705〜1707を積層
し、プレス温度200℃、圧力約2.94×106Pa
(30kgf/cm2)で60分間、熱プレス処理し
た。この加熱加圧処理により、前記コンポジット配線基
板1705〜1707中のアクリル樹脂が溶融軟化し
て、図17(c)に示すように、Al23基板1708
を含む全配線層が硬化一体化され、多層配線基板170
9が作製された。なお、この構成は、図13に示す多層
配線基板と同様である。
Thereafter, the composite wiring substrates 1705 to 1707 are laminated on both sides of the Al 2 O 3 substrate 1708, and the pressing temperature is 200 ° C. and the pressure is about 2.94 × 10 6 Pa
(30 kgf / cm 2 ) for 60 minutes. This heating and pressing treatment, the composite wiring acrylic resin in the substrate 1705 to 1707 is melted and softened, as shown in FIG. 17 (c), Al 2 O 3 substrate 1708
Is cured and integrated, and the multilayer wiring board 170
9 were made. This configuration is the same as that of the multilayer wiring board shown in FIG.

【0266】図17(c)及び図13に示す多層配線基板
をX線を用いて観察したところ、Al23層に亀裂等の
損傷箇所は一切認められなかった。なお、Al23層は
機械的強度が強いため、プレス圧を約9.8×106
a(100kgf/cm2)としても、亀裂等の損傷は
見られず、抗接強度等の機械的強度に優れた多層配線基
板を得ることができた。
When the multilayer wiring board shown in FIGS. 17 (c) and 13 was observed using X-rays, no damage such as cracks was found in the Al 2 O 3 layer. Since the Al 2 O 3 layer has a high mechanical strength, the pressing pressure is set to about 9.8 × 10 6 P
Even at a (100 kgf / cm 2 ), no damage such as cracks was observed, and a multilayer wiring board excellent in mechanical strength such as joint strength was obtained.

【0267】また、多層配線基板1709のビア連抵抗
を評価したところ、コンポジット層に形成された銅箔配
線がAl23層に形成された低抵抗配線として機能し、
低抵抗なビア接続および配線抵抗を確認することができ
た。なお、多層配線基板1709の熱伝導度も、樹脂系
基板として高熱伝導のコンポジットシートを用いている
ため、約6W/m・Kの高熱伝導度を実現した。
When the via connection resistance of the multilayer wiring board 1709 was evaluated, the copper foil wiring formed on the composite layer functioned as a low resistance wiring formed on the Al 2 O 3 layer,
Low resistance via connection and wiring resistance could be confirmed. Note that the thermal conductivity of the multilayer wiring board 1709 also achieved a high thermal conductivity of about 6 W / m · K because a high thermal conductive composite sheet was used as the resin-based substrate.

【0268】なお、本実施例では、セラミック層とコン
ポジット層で、全く同一の導電性樹脂ペーストを用いて
インナービアを形成したが、それぞれ異なる熱硬化性の
導電性ペーストを用いても構わない。また、セラミック
層に用いる基材としても、Al23に限らず、高熱伝導
なAlNや、低温焼成のガラスセラミックのいずれを用
いても構わない。
In this embodiment, the inner via is formed using the same conductive resin paste for the ceramic layer and the composite layer, but different thermosetting conductive pastes may be used. Further, the substrate used for the ceramic layer is not limited to Al 2 O 3 , and any of AlN having high thermal conductivity and glass ceramic fired at low temperature may be used.

【0269】(実施例10)実施例8または実施例9に
かかる多層配線基板が、表層に樹脂系シートを用いた配
線基板を配し、内層にセラミック配線基板を配したのに
対し、本実施例では、図14に示すように、セラミック
層1801、樹脂系シート1803、セラミック層18
02の順番で積層されている。すなわちセラミック配線
基板が表層に配され、樹脂系シートを用いた配線基板が
内層に配されている。
(Embodiment 10) In contrast to the multilayer wiring board according to Embodiment 8 or 9 in which a wiring board using a resin-based sheet is provided on the surface layer and a ceramic wiring board is provided on the inner layer, the present embodiment is different from the present embodiment. In the example, as shown in FIG. 14, a ceramic layer 1801, a resin-based sheet 1803, a ceramic layer 18
02 are stacked in this order. That is, a ceramic wiring board is disposed on a surface layer, and a wiring board using a resin-based sheet is disposed on an inner layer.

【0270】本実施例の多層配線基板は、セラミック層
1801にNd25・TiO2・SiO2系のガラスセラ
ミックなどの高誘電率層、セラミック層1802にAl
2 3層とほう珪酸ガラスから構成される低誘電率層を用
い、樹脂系シート1803を介して誘電率の異なる異種
積層が実現されている。
The multilayer wiring board according to the present embodiment has a ceramic layer
Nd to 1801TwoOFive・ TiOTwo・ SiOTwoGlass Sera
High dielectric constant layer such as Mic, ceramic layer 1802 Al
TwoO ThreeUse low dielectric constant layer composed of layer and borosilicate glass
Different types having different dielectric constants through the resin-based sheet 1803
Lamination has been realized.

【0271】但し、セラミック層はこのような組み合わ
せに限定されるものではなく、フェライト等の磁性体と
Ba−Ti−O系の誘電体のような異種の積層体も実現
されている。
However, the ceramic layer is not limited to such a combination, and a different kind of laminated body such as a magnetic material such as ferrite and a Ba-Ti-O-based dielectric is also realized.

【0272】本多層配線基板の利点は次のとおりであ
る。第1に、異種のセラミック層を直接積層する場合、
相互拡散や反り等の問題により、セラミック層の種類に
よっては組み合わせが困難な場合があるが、セラミック
層間に樹脂系シートを介在させることで、セラミック層
の種類に関わらず、容易に異種積層を実現できる。第2
に、セラミック層間に樹脂系シートを介在させたこと
で、積層時に、セラミック層にクラック等の損傷を与え
ない。
The advantages of the present multilayer wiring board are as follows. First, when different types of ceramic layers are directly laminated,
Combination may be difficult depending on the type of ceramic layer due to problems such as mutual diffusion and warpage. However, by interposing a resin sheet between ceramic layers, different types of ceramic layers can be easily realized regardless of the type of ceramic layer. it can. Second
In addition, since the resin sheet is interposed between the ceramic layers, the ceramic layers are not damaged such as cracks during lamination.

【0273】本実施例の多層配線基板は、図18に示す
ように作製した。
The multilayer wiring board of this example was manufactured as shown in FIG.

【0274】まず、Nd25・TiO2・SiO2系ガラ
スセラミックグリーンシート1801と、Al23層と
ほう珪酸ガラスから構成されるグリーンシート1802
(実施例8と同じ)とを準備した。
First, an Nd 2 O 5 .TiO 2 .SiO 2 -based glass ceramic green sheet 1801 and a green sheet 1802 composed of an Al 2 O 3 layer and borosilicate glass
(Same as Example 8) was prepared.

【0275】これらにビアホールを設け、前記導電性ペ
ースト1803(実施例8と同じ)を充填した後、図1
8(a)に示すように、配線パターンが形成された転写
材1804,1805を両面から位置合わせしながら重
ねて積層体を形成し、図18(b)に示すように80℃
で加熱、加圧した後にキャリアを剥離する事により、図
18(c)に示すように、転写材1804、1805の
配線パターンが、グリーンシート1801上に転写形成
された。なお、同様にして、グリーンシート1802に
も配線パターンを転写した。
After these were provided with via holes and filled with the conductive paste 1803 (same as in Example 8),
As shown in FIG. 8A, the transfer materials 1804 and 1805 on which the wiring patterns are formed are stacked while being aligned from both sides to form a laminate, and as shown in FIG.
By heating and pressurizing in, the carrier was peeled off, so that the wiring patterns of the transfer materials 1804 and 1805 were transferred and formed on the green sheet 1801 as shown in FIG. In the same manner, the wiring pattern was transferred to the green sheet 1802.

【0276】なお、本実施例では、前記積層体を作製す
るときの位置合わせの手段にピンラミネーションを用い
るため、グリーンシート1801および1802の所定
の位置に、3mmφから3.3mmφの貫通穴を開けて
おいた。グリーンシート1801および1802は、こ
の貫通孔の位置データを樹脂系基板と共有するので、焼
成工程に於いて収縮を起こさないことが必要である。こ
のため、前記積層体の両面に、焼成温度で焼結しないA
23で構成されたグリーンシートを積層し、大気雰囲
気中で脱バインダおよび焼成することにより、固定を行
った。まず、前記グリーンシート1801,1802中
の有機バインダを除去するため、電気炉を用いて、25
℃/時間の昇温スピードで、700℃まで窒素中で加熱
し、温度900℃で2時間処理することにより焼成を行
った。焼成後は、Al23層を容易に取り除くことがで
き、平面方向には無収縮な状態で焼結された、Nd25
・TiO2・SiO2系基板(1801)及びAl23
ガラスセラミック基板(1802)を得ることができ
た。
In this embodiment, since a pin lamination is used as a positioning means when the laminate is manufactured, a through hole of 3 mmφ to 3.3 mmφ is formed at a predetermined position of the green sheets 1801 and 1802. I left it. Since the green sheets 1801 and 1802 share the position data of the through holes with the resin-based substrate, it is necessary that the green sheets 1801 and 1802 do not shrink in the firing step. For this reason, on both sides of the laminate, A
The green sheets composed of l 2 O 3 were laminated, fixed by performing binder removal and firing in an air atmosphere. First, an electric furnace was used to remove the organic binder in the green sheets 1801 and 1802.
The sintering was performed by heating in a nitrogen atmosphere to 700 ° C. at a rate of temperature increase of 700 ° C./hour and treating at 900 ° C. for 2 hours. After firing, the Al 2 O 3 layer can be easily removed, and Nd 2 O 5 sintered without shrinkage in the plane direction.
A TiO 2 .SiO 2 based substrate (1801) and an Al 2 O 3 based glass ceramic substrate (1802) were obtained.

【0277】つぎに、図18(d)に示すように、セラ
ミック層間、すなわちグリーンシート1801・180
2の間に、導電性ペースト1806が充填されたコンポ
ジットシート1807を配置し、予めピンで位置合わせ
した後、プレス温度170℃、圧力約7.84×106
Pa(80kgf/cm2)で30分間、熱プレス処理
した。
Next, as shown in FIG. 18D, between ceramic layers, that is, green sheets 1801 and 180
2, a composite sheet 1807 filled with a conductive paste 1806 is arranged, and is pre-aligned with a pin, and then pressed at a temperature of 170 ° C. and a pressure of about 7.84 × 10 6.
A hot press treatment was performed at Pa (80 kgf / cm 2 ) for 30 minutes.

【0278】ここで、位置合わせ用ピンの直径を3mm
φとした場合、ペーストを充填していないビア穴は一部
収縮が見られ、ビア穴の一部において、ピンを通すこと
が困難であった。但し、収縮分を見越して若干大きめ
(3.06mmφから3.3mmφ前後)にパンチング
しておいたビア穴に於いては、問題なくピンを貫通させ
ることができた。このような場合、パンチング径を3m
mφのままにしてピン径を3mmφより細くして対処し
ても構わない。
Here, the diameter of the positioning pin is 3 mm.
In the case of φ, the via holes not filled with the paste partially contracted, and it was difficult to pass the pins in some of the via holes. However, in the via hole punched slightly larger (about 3.06 mmφ to about 3.3 mmφ) in anticipation of the amount of shrinkage, the pin could be penetrated without any problem. In such a case, the punching diameter is 3 m
The diameter of the pin may be made smaller than 3 mmφ while keeping the diameter of mφ.

【0279】また、積層プレス時の加熱加圧処理によ
り、前記コンポジットシート1807中のエポキシ樹脂
が溶融軟化して、セラミック層であるグリーンシート1
801・1802と一体化した多層配線基板(図18
(e))が得られた。この構成は、図14の構成と同様
である。
Further, the epoxy resin in the composite sheet 1807 is melted and softened by the heating and pressurizing treatment at the time of the laminating press, so that the green sheet 1 as a ceramic layer is formed.
Multilayer wiring board integrated with 801 and 1802 (FIG. 18)
(E)) was obtained. This configuration is similar to the configuration in FIG.

【0280】なお、本実施例のコンポジットシート18
07には配線パターンが形成されていないが、場合によ
っては、未硬化の状態で配線パターンを転写しておいて
も構わない。
The composite sheet 18 of this embodiment
No wiring pattern is formed at 07, but in some cases, the wiring pattern may be transferred in an uncured state.

【0281】また、本実施例では、無機フィラーとエポ
キシ樹脂からなるコンポジットシートを用いているが、
これに限定されるものでなく、無機フィラーを含まない
樹脂シート、ガラスクロスを含むプリプレグ、アラミド
樹脂とガラス織布から構成されるプリプレグ等のいずれ
でも構わない。
In this embodiment, a composite sheet made of an inorganic filler and an epoxy resin is used.
The present invention is not limited to this, and may be any of a resin sheet containing no inorganic filler, a prepreg containing glass cloth, and a prepreg composed of an aramid resin and a glass woven fabric.

【0282】また、本実施例では、平面方向にはほぼ無
収縮な焼結工法を用いているが、収縮分を補正して、三
次元的に等方な焼結工法を用いてももちろん構わない。
Further, in this embodiment, the sintering method which is almost non-shrinkage in the plane direction is used. However, the sintering method which is three-dimensionally isotropic may be used by correcting the shrinkage. Absent.

【0283】図18(e)に示す多層配線基板を観察し
たところ、セラミック層に亀裂等の損傷箇所は一切認め
られなかった。
When the multilayer wiring board shown in FIG. 18E was observed, no damage such as cracks was found in the ceramic layer.

【0284】また、本積層体のビア連抵抗を評価したと
ころ、低抵抗なビア接続を確認することができた。ま
た、本多層配線基板を吸湿後(85℃、85Rh、16
8hr)、230℃でリフロー炉に通したところ(JE
DEC Level1)、樹脂系基板のみを積層した場合のビ
ア接続抵抗と比較して、抵抗変動の極めて少ないビア連
接続を実現することができた。これは、セラミック層が
耐吸湿性が高いことによる効果である。
Further, when the via connection resistance of this laminated body was evaluated, a low-resistance via connection could be confirmed. Further, after the multilayer wiring board has absorbed moisture (85 ° C., 85 Rh, 16
8hr) at 230 ° C through a reflow furnace (JE
DEC Level 1), it was possible to realize a via connection with extremely small resistance variation as compared with the via connection resistance when only a resin-based substrate was laminated. This is an effect due to the high moisture absorption resistance of the ceramic layer.

【0285】一方、例えば図15に示すように、図14
(または図18(e))に示す多層配線基板の表層両面
に、さらに樹脂系層1807を積層した構成(セラミッ
ク層、樹脂系層の構成は、本実施例と同じ)を試作し、
落下試験を行ったところ、セラミック配線基板単独の構
成と比較して、亀裂等の損傷が極めて発生しにくいこと
が確認することができた。
On the other hand, for example, as shown in FIG.
(Or the structure of the ceramic layer and the resin-based layer is the same as that of the present embodiment) in which a resin-based layer 1807 is further laminated on both surfaces of the multilayer wiring board shown in FIG.
As a result of a drop test, it was confirmed that damages such as cracks were extremely unlikely to occur as compared with the configuration of the ceramic wiring substrate alone.

【0286】なお、最表面層となる樹脂系層1807に
用いられる基材は、内層で用いられたコンポジットシー
トである必要はなく、ガラスエポキシ等、用途に合わせ
て選択することができる。
The base material used for the resin-based layer 1807 as the outermost layer does not need to be the composite sheet used for the inner layer, and can be selected according to the intended use such as glass epoxy.

【0287】これらの結果からも、本実施例によれば、
セラミックの利点と樹脂系の利点を併せ持つ基板を実現
できることがわかった。
From these results, according to the present embodiment,
It has been found that a substrate having both the advantages of the ceramic and the advantages of the resin system can be realized.

【0288】以上のように、本発明によれば、微細な配
線パターンを、低温で、パターンずれもなく、確実かつ
容易に転写することができる転写材を提供し、これを用
いることにより、微細な配線パターンを有し、半導体の
フリップチップ実装等に有利な配線基板を実現できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a transfer material capable of transferring a fine wiring pattern reliably and easily at a low temperature without a pattern shift. It is possible to realize a wiring board having a simple wiring pattern and advantageous for flip-chip mounting of a semiconductor.

【0289】さらに、転写材において配線層が凸形状に
形成されているので、IVHを圧縮しやすく、ビア接続
を安定化させるうえで有利である。
Furthermore, since the wiring layer is formed in a convex shape in the transfer material, the IVH is easily compressed, which is advantageous in stabilizing the via connection.

【0290】また、本発明の転写材は、配線パターン
(第2の金属層等)のみを転写するため、キャリアであ
る第1の金属層の構成材料を再利用でき、低コスト化を
図ることが可能であり、また、工業上極めて有用であ
る。
Further, since the transfer material of the present invention transfers only the wiring pattern (the second metal layer or the like), the constituent material of the first metal layer as a carrier can be reused, and the cost can be reduced. And is extremely useful industrially.

【0291】また、本発明の配線基板は、本発明の転写
材を用いることによって、配線部分が基板から突出しな
い構成である。これにより、本発明の配線基板を用い
て、積層時のセラミック層の損傷によって形成が従来困
難であった、セラミック配線基板と樹脂系配線基板とを
積層させた多層配線基板を、容易に作製することができ
る。
The wiring substrate of the present invention has a configuration in which the wiring portion does not protrude from the substrate by using the transfer material of the present invention. Thus, using the wiring board of the present invention, a multilayer wiring board in which a ceramic wiring board and a resin-based wiring board are stacked, which has conventionally been difficult to form due to damage to the ceramic layer during lamination, can be easily manufactured. be able to.

【0292】なお、実施例1〜10における各転写材に
おいて、配線パターンに電気的に接続するように、イン
ダクタ、コンデンサ、抵抗、または半導体素子等の回路
部品を形成し、配線パターンと共に基板へ転写すること
も可能である。なお、インダクタ、コンデンサ、および
抵抗等の受動部品は、スクリーン印刷等の印刷法によ
り、転写材上に形成することが好ましい。
In each of the transfer materials in Examples 1 to 10, a circuit component such as an inductor, a capacitor, a resistor, or a semiconductor element is formed so as to be electrically connected to the wiring pattern, and transferred to a substrate together with the wiring pattern. It is also possible. The passive components such as the inductor, the capacitor, and the resistor are preferably formed on the transfer material by a printing method such as screen printing.

【0293】(実施の形態5)上述の各実施形態では、
配線パターンを基板に転写するために用いる転写材(第
1〜第3の転写材)について説明したが、以下の実施形
態では、本発明にかかる他の転写材であって、配線パタ
ーンと回路部品とを同時に基板に転写するための転写用
部品配線パターン形成材について説明する。
(Embodiment 5) In each of the above embodiments,
The transfer material (first to third transfer materials) used for transferring the wiring pattern to the substrate has been described. However, in the following embodiments, other transfer materials according to the present invention will be described. Will be described below.

【0294】本発明にかかる転写用部品配線パターン形
成材の一実施形態(以下、第4の転写材と称する)の概
略を、図19(a)および図19(b)の断面図に示す。
One embodiment (hereinafter, referred to as a fourth transfer material) of the transfer component wiring pattern forming material according to the present invention is schematically shown in cross-sectional views of FIGS. 19 (a) and 19 (b).

【0295】図19(a)のように、第4の転写材の一
形態としての転写材2001Aは、第一の金属層である
離型キャリア用金属箔2101、及びその上に形成され
た第二の金属層である配線用金属箔2102との2層構
造で形成された転写用配線パターン形成材の上に、配線
用金属箔2102と電気的に接続するように、回路部
品、すなわち、インダクタ2103,コンデンサ210
4,および抵抗2105が、印刷法により形成された構
成である。
As shown in FIG. 19A, a transfer material 2001A as one mode of the fourth transfer material includes a release carrier metal foil 2101 which is a first metal layer, and a fourth transfer material formed thereon. A circuit component, that is, an inductor is formed on a transfer wiring pattern forming material formed in a two-layer structure with a wiring metal foil 2102 which is a second metal layer so as to be electrically connected to the wiring metal foil 2102. 2103, capacitor 210
4, and the resistor 2105 are formed by a printing method.

【0296】また、図19(b)に示すように、第4の
転写材の他の形態としての転写材2001Bは、基本的
に図19(a)の転写材2001Aと同じ構成である
が、インダクタ2103,コンデンサ2104,および
抵抗2105等の受動部品のみならず、半導体チップ2
106等の能動部品が、配線用金属箔2102と接続す
るように、接続部2107でフリップチップ実装された
形態である。
As shown in FIG. 19B, a transfer material 2001B as another form of the fourth transfer material has basically the same configuration as the transfer material 2001A in FIG. 19A. In addition to passive components such as inductor 2103, capacitor 2104 and resistor 2105, semiconductor chip 2
In this embodiment, active components such as 106 are flip-chip mounted at the connection portion 2107 so as to be connected to the metal foil 2102 for wiring.

【0297】図19(a)および(b)に示した転写材
のそれぞれを、基板に圧着した後、離型キャリア210
1のみを剥離することにより、離型キャリア2101を
除く部品、すなわち配線用金属箔2102、インダクタ
2103,コンデンサ2104,および抵抗2105等
の受動部品、並びに半導体チップ2106等の能動部品
を、基板に転写することができる。
After each of the transfer materials shown in FIGS. 19A and 19B is pressed against a substrate,
By peeling only 1, the components excluding the release carrier 2101, that is, the passive components such as the metal foil for wiring 2102, the inductor 2103, the capacitor 2104 and the resistor 2105, and the active components such as the semiconductor chip 2106 are transferred to the substrate. can do.

【0298】(実施の形態6)つぎに、本発明の他の転
写用部品配線パターン形成材(以下、第5の転写材と称
する)の実施形態の構成概略を、図20に示す。
(Embodiment 6) FIG. 20 shows a schematic configuration of an embodiment of another transfer component wiring pattern forming material (hereinafter, referred to as a fifth transfer material) of the present invention.

【0299】図20に示すように、第5の転写材200
2は、第一の金属層である離型キャリア用金属箔220
1と、その上に形成された剥離層2202と、さらにそ
の上に形成された第二の金属層である配線用金属箔22
03の3層構造で形成された転写用配線パターン形成材
上に、前記配線用金属箔2203と電気的に接続するよ
うに、インダクタ2204,コンデンサ2205,およ
び抵抗2206が、印刷法にて形成された構成である。
As shown in FIG. 20, the fifth transfer material 200
2 is a release carrier metal foil 220 which is a first metal layer.
1, a release layer 2202 formed thereon, and a wiring metal foil 22 as a second metal layer further formed thereon
The inductor 2204, the capacitor 2205, and the resistor 2206 are formed by a printing method on a transfer wiring pattern forming material formed in a three-layer structure of No. 03 so as to be electrically connected to the wiring metal foil 2203. Configuration.

【0300】(実施の形態7)次に、本発明のさらに他
の転写用部品配線パターン形成材(以下、第6の転写材
と称する)の実施形態の構成概略を、図21に示す。
(Embodiment 7) FIG. 21 shows a schematic configuration of an embodiment of still another transfer component wiring pattern forming material (hereinafter, referred to as a sixth transfer material) of the present invention.

【0301】図21に示すように、第6の転写材200
3は、第1の金属層である離型キャリア用金属箔230
1、剥離層2302、および第2の金属である配線用金
属箔2303の3層構造からなる転写用配線パターン形
成材上に、前記配線用金属箔2303と電気的に接続す
るように、インダクタ2304,コンデンサ2305,
および抵抗2306が、印刷法にて形成された構成であ
る。
As shown in FIG. 21, the sixth transfer material 200
3 is a release carrier metal foil 230 which is a first metal layer.
1, an exfoliation layer 2302, and an inductor 2304 on a transfer wiring pattern forming material having a three-layer structure of a wiring metal foil 2303 as a second metal so as to be electrically connected to the wiring metal foil 2303. , Condenser 2305
And the resistor 2306 are formed by a printing method.

【0302】離型キャリア用金属箔2301は、表層部
に凹凸部が形成されている。前記凸部が配線パターンに
対応し、その凸部領域の上に、有機層あるいは金属メッ
キ層からなる剥離層2302と、配線用金属箔2303
とが形成されている。離型キャリア用金属箔2301と
配線用金属箔2303とは、剥離層2302を介して貼
り合わされている。
The metal foil 2301 for a release carrier has an uneven portion on the surface layer. The protrusion corresponds to a wiring pattern, and a release layer 2302 made of an organic layer or a metal plating layer and a metal foil 2303 for wiring are formed on the protrusion region.
Are formed. The metal foil for release carrier 2301 and the metal foil for wiring 2303 are bonded to each other with a release layer 2302 interposed therebetween.

【0303】前記の第4ないし第6の転写材において、
前記第1の金属層と第2の金属層との接着強度が弱いこ
と、例えば50N/m(gf/cm)以下であることが
好ましい。前記第4の転写材では、メッキ法や蒸着法等
を用いることにより、エッチング、メッキ、水洗等のプ
ロセス下では、2層の金属層間が剥がれないが、ピール
に際しては容易に第2の金属層のみ、剥離させることが
できることが認められている。また、印刷で形成された
受動部品パターンは、容易に、キャリアである第1の金
属層から剥離させることができる。
In the fourth to sixth transfer materials,
It is preferable that the adhesive strength between the first metal layer and the second metal layer is weak, for example, 50 N / m (gf / cm) or less. In the fourth transfer material, by using a plating method, a vapor deposition method, or the like, the two metal layers are not peeled off under processes such as etching, plating, and washing with water. Only it is recognized that it can be peeled off. Further, the passive component pattern formed by printing can be easily separated from the first metal layer as a carrier.

【0304】一方、前記第5及び第6の転写材では、剥
離層として、接着力を有する1μmより薄い有機層を用
いる。この有機層の材料として、例えば、熱硬化樹脂で
あるウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、フェノール樹脂
などが使用できるが、これには制限されず、他の熱可塑
性樹脂などを用いても構わない。但し、1μmより厚く
なると、剥離性能が悪化し、転写が困難となる場合があ
るので、1μm以下が好ましい。
On the other hand, in the fifth and sixth transfer materials, an organic layer having an adhesive force and less than 1 μm is used as a release layer. As a material for the organic layer, for example, a thermosetting resin such as a urethane-based resin, an epoxy-based resin, or a phenol resin can be used. However, the material is not limited thereto, and another thermoplastic resin or the like may be used. However, when the thickness is more than 1 μm, the peeling performance is deteriorated and the transfer may be difficult.

【0305】一方、意図的に接着力を低下させる目的
で、剥離層として、メッキ層を介在させても良い。例え
ば、1μmより薄い金属メッキ層、ニッケルメッキ層あ
るいはニッケルリン合金層あるいはアルミニウムメッキ
層等を銅箔間に介在させて剥離性を持たせることも可能
である。
On the other hand, for the purpose of intentionally lowering the adhesive strength, a plating layer may be interposed as a release layer. For example, a metal plating layer, a nickel plating layer, a nickel phosphorus alloy layer, an aluminum plating layer, or the like, which is thinner than 1 μm, may be interposed between the copper foils so as to have releasability.

【0306】これにより、前記第2の金属層からなる配
線部に関しては、基板に転写する際に、前記第1の金属
層から前記第2の金属層が剥離し易く、前記第2の金属
層及び部品パターンを前記基板に転写することが容易に
なる。剥離層が金属メッキ層の場合、100nmから1
μmの厚みレベルで十分であり、厚くなればなるほど工
程上コストがかかるので、少なくとも1μmより薄いこ
とが望ましい。
Thus, with respect to the wiring portion made of the second metal layer, the second metal layer is easily peeled off from the first metal layer when transferred to the substrate, and the second metal layer is easily transferred. And it becomes easy to transfer the component pattern to the substrate. When the release layer is a metal plating layer, 100 nm to 1
A thickness level of μm is sufficient, and the thicker the thickness, the higher the cost in the process.

【0307】なお、第5、第6の転写材においても、第
2の金属層及び印刷で形成された受動部品パターンは、
容易に、キャリアである第1の金属層から剥離させるこ
とができる。
In the fifth and sixth transfer materials, the second metal layer and the passive component pattern formed by printing are:
It can be easily separated from the first metal layer which is a carrier.

【0308】また、第4ないし第6の転写材において、
第1の金属層が、銅、アルミ、銀およびニッケルからな
る群から選択された少なくとも一つの金属を含むことが
好ましい。特に、銅を含むことが好ましい。また、第2
の金属層は、第1の金属層と同様、銅、アルミ、銀およ
びニッケルからなる群から選択された少なくとも一つの
金属を含むことが好ましいが、第4の転写材の場合は銀
を、第5または第6の転写材の場合は、銅を含むことが
好ましい。なぜなら、第1の金属層に銅を用いる場合
は、コスト的に安いこと、つまり、市販のもので所定の
厚みを有する箔が多く存在することためである。また、
第2の金属層に銅を用いる場合は、メッキで生成するこ
とが容易であるためである。
Also, in the fourth to sixth transfer materials,
Preferably, the first metal layer contains at least one metal selected from the group consisting of copper, aluminum, silver and nickel. In particular, it is preferable to contain copper. Also, the second
The metal layer preferably contains at least one metal selected from the group consisting of copper, aluminum, silver and nickel as in the case of the first metal layer. In the case of the fourth transfer material, silver is used. In the case of the fifth or sixth transfer material, it is preferable to include copper. This is because when copper is used for the first metal layer, it is inexpensive, that is, there are many commercially available foils having a predetermined thickness. Also,
This is because when copper is used for the second metal layer, it can be easily formed by plating.

【0309】また、第6の転写材の場合、第1の金属層
と第2の金属層が同一であれば、同じエッチング液で加
工を制御できるという効果がある。特に、金属層が銅の
場合は、エッチングによりファインな加工を行うための
条件が、既に良く検討されているという利点がある。な
お、前記金属は、一種類でもよいが、二種類以上を併用
してもよい。
In the case of the sixth transfer material, if the first metal layer and the second metal layer are the same, there is an effect that processing can be controlled with the same etchant. In particular, when the metal layer is copper, there is an advantage that conditions for performing fine processing by etching have already been well studied. The metal may be one kind, or two or more kinds may be used in combination.

【0310】さらに、前記第6の転写材においては、例
えば、エッチング等を行う時に、剥離層及び第1の金属
層の表層をエッチング除去する場合(図21参照)は、
前記第1の金属層および第2の金属層が、同一成分の金
属を含むことが好ましい。なお、剥離層にメッキ層を用
いる場合、図21に示す構成は、銅エッチング液で加工
でき、図20に示す構成は銅エッチング液で加工できな
い。また、前記のように第1の金属層および第2の金属
層が同一成分の金属を含む場合、その金属の種類は、特
に制限されないが、銅箔からなることが好ましく、導電
性に優れることから、特に好ましくは、電解銅箔であ
る。なお、前記金属は、一種類でもよいし、二種類以上
を併用してもよい。
Further, in the sixth transfer material, for example, when etching or the like is performed to remove the release layer and the surface layer of the first metal layer by etching (see FIG. 21),
It is preferable that the first metal layer and the second metal layer include metals of the same component. Note that when a plating layer is used as the peeling layer, the configuration shown in FIG. 21 can be processed with a copper etching solution, and the configuration shown in FIG. 20 cannot be processed with a copper etching solution. When the first metal layer and the second metal layer contain the same component metal as described above, the type of the metal is not particularly limited, but is preferably made of copper foil, and is excellent in conductivity. Therefore, an electrolytic copper foil is particularly preferable. The metal may be used alone or in combination of two or more.

【0311】前記第4ないし第6の転写材において、前
記第2の金属層の厚みが、1〜18μmの範囲であるこ
とが好ましく、特に好ましくは、3〜12μmの範囲で
ある。前記厚みが3μmより薄いと、前記第2の金属層
を基板に転写した場合に、良好な導電性を示さないおそ
れがあり、前記厚みが18μmより厚いと、微細な配線
パターンを形成することが困難となるおそれがある。
[0311] In the fourth to sixth transfer materials, the thickness of the second metal layer is preferably in the range of 1 to 18 µm, and particularly preferably in the range of 3 to 12 µm. If the thickness is less than 3 μm, the second metal layer may not show good conductivity when transferred to a substrate, and if the thickness is more than 18 μm, a fine wiring pattern may be formed. This can be difficult.

【0312】前記第4および第5の転写材において、前
記第1の金属層の厚みが、4〜100μmの範囲である
ことが好ましく、特に好ましくは、20〜70μmの範
囲である。第1の金属層は、キャリアとして機能する一
方、場合によっては図21に示すように、配線層と同様
に表層部がエッチングされて凹凸を有する構造となるた
め、十分な厚みを有した金属層であることが望ましい。
また、第4ないし第6の転写材は、キャリア層を金属層
(第1の金属層)としたことで、転写時に生じる熱歪み
や、平面方向の応力歪みに対して十分な機械強度や耐熱
性を示す。
In the fourth and fifth transfer materials, the thickness of the first metal layer is preferably in the range of 4 to 100 μm, particularly preferably in the range of 20 to 70 μm. The first metal layer functions as a carrier, and in some cases, as shown in FIG. 21, the surface layer is etched to have a structure having irregularities as in the case of the wiring layer. It is desirable that
In addition, the fourth to sixth transfer materials have sufficient mechanical strength and heat resistance against thermal distortion generated at the time of transfer and stress distortion in a plane direction by using a metal layer (first metal layer) as a carrier layer. Shows sex.

【0313】前記配線パターンと電気的に接続される受
動部品を形成するための材料は、ペースト状のものが用
いられる。なお、受動部品が転写される基板が、例えば
熱硬化樹脂から構成される基板である場合は、受動部品
の材料として、同じく熱硬化性樹脂を含有するものを用
いることが好ましい。インダクタを形成する場合は、熱
硬化性樹脂に混ぜるフィラーとして、磁性金属粉やフェ
ライトが用いられる。コンデンサを形成する場合は、同
様にフィラーとしてチタン酸バリウムやPb系ペロブス
カイト等、高誘電率のセラミック粉が用いられる。各種
抵抗を形成する場合には、フィラーとしてカーボン等が
用いられる。この場合、カーボンの含有比率を変えるこ
とにより、抵抗値を調整することができる。抵抗体を薄
膜で形成する場合は、ニクロム合金、クロムシリコン、
窒化タンタル、またはITO等が用いられる。
The material for forming the passive component electrically connected to the wiring pattern is a paste-like material. When the substrate to which the passive component is to be transferred is a substrate made of, for example, a thermosetting resin, it is preferable to use a material containing the same thermosetting resin as the material of the passive component. When forming an inductor, magnetic metal powder or ferrite is used as a filler mixed with a thermosetting resin. When a capacitor is formed, similarly, a ceramic powder having a high dielectric constant such as barium titanate or a Pb-based perovskite is used as a filler. When various resistors are formed, carbon or the like is used as a filler. In this case, the resistance value can be adjusted by changing the content ratio of carbon. When the resistor is formed as a thin film, a nichrome alloy, chrome silicon,
Tantalum nitride, ITO, or the like is used.

【0314】一方、前記第4または第5の転写材を用い
れば、いずれも100℃以下の低温でパターン転写形成
ができるので、セラミックグリーンシートに部品配線パ
ターンを形成することもできる。
On the other hand, if the fourth or fifth transfer material is used, pattern transfer can be performed at a low temperature of 100 ° C. or less, so that a component wiring pattern can be formed on a ceramic green sheet.

【0315】一方、受動部品が転写される基板がセラミ
ックの場合は、受動部品の印刷に用いられる材料(ペー
スト状のもの)は、脱バインダー工程によってフィラー
のみが残存するものが好ましい。従って、熱分解性が良
好なバインダーを溶かしたビヒクル、例えばターピネオ
ールにバインダーを溶かしたビヒクルを用いたペースト
が用いられる。具体的には、上記に記したインダクタ、
コンデンサ、抵抗特性に対応した各種フィラーを、前記
ビヒクルと3本ロール等で混練して、スクリーン印刷が
可能なペースト状の材料を形成する。
On the other hand, when the substrate to which the passive component is to be transferred is a ceramic, the material (paste) used for printing the passive component is preferably one in which only the filler remains by the debinding step. Accordingly, a vehicle in which a binder having good thermal decomposability is dissolved, for example, a paste using a vehicle in which a binder is dissolved in terpineol is used. Specifically, the inductor described above,
A capacitor and various fillers corresponding to the resistance characteristics are kneaded with the vehicle by a three-roll mill or the like to form a paste-form material that can be screen-printed.

【0316】インダクタを形成する場合は、フィラーと
して磁性金属粉や低温で焼結するフェライトを用い、こ
れをガラスに混ぜたものを材料とする。コンデンサを形
成する場合は、同様にフィラーとして、チタン酸バリウ
ム及びガラスやPb系ペロブスカイト等を用いる。抵抗
を形成する場合には、フィラーとしてルテニウムパイロ
クロア、酸化ルテニウム、ランタンボライトを用い、こ
れをガラスに混ぜたものを材料とする。これらは、低温
焼成される基板用セラミックと同時に焼成できるととも
に、内層抵抗体の場合でも、抵抗値の調整が比較的容易
である。
In the case of forming an inductor, magnetic metal powder or ferrite which is sintered at a low temperature is used as a filler, and a material obtained by mixing this with glass is used. When a capacitor is formed, similarly, barium titanate and glass, Pb-based perovskite, or the like is used as a filler. When forming a resistor, ruthenium pyrochlore, ruthenium oxide, or lanthanum bolite is used as a filler, and a material obtained by mixing this with glass is used. These can be fired simultaneously with the substrate ceramic fired at a low temperature, and the resistance value can be adjusted relatively easily even in the case of the inner layer resistor.

【0317】(実施の形態8)本実施形態では、前記し
た第4の転写材(図19(a)(b)参照)の製造方法
の例を示す。
(Embodiment 8) In this embodiment, an example of a method for manufacturing the above-described fourth transfer material (see FIGS. 19A and 19B) will be described.

【0318】この製造方法は、(1)図22(a)〜
(e)に示すように、キャリアである第1の金属層24
01上に、配線パターンである第2の金属層2403が
直接付着した状態の2層構造を形成する工程と、(2)
図22(e)(e’)に示すように、前記第2の金属層
2403と電気的に接合するように位置合わせしなが
ら、印刷にて、部品パターン2405,2406,24
07、2408を形成する工程、とを含む。
This manufacturing method is described in (1) FIGS.
As shown in (e), the first metal layer 24 as a carrier is formed.
(2) forming a two-layer structure in which a second metal layer 2403 as a wiring pattern is directly attached on the first metal layer 01;
As shown in FIGS. 22E and 22E, the component patterns 2405, 2406, and 24 are printed by printing while being positioned so as to be electrically connected to the second metal layer 2403.
07, 2408.

【0319】図22(a)〜(e)に示す工程では、ド
ライフィルムレジスト2404を用いて、第1の金属層
2401上に、配線パターンの逆パターンを形成した
後、無電解メッキあるいは電解メッキを含むパターンメ
ッキ法やスパッタリング法、蒸着法等の直接描画法を用
いて、金属箔からなる配線パターン(第2の金属層24
03)を形成する。これにより、微細な配線パターンを
形成することが可能である。
In the steps shown in FIGS. 22A to 22E, a reverse pattern of the wiring pattern is formed on the first metal layer 2401 using the dry film resist 2404, and then the electroless plating or the electrolytic plating is performed. Using a direct drawing method such as a pattern plating method, a sputtering method, and a vapor deposition method including a metal foil (second metal layer 24).
03) is formed. As a result, a fine wiring pattern can be formed.

【0320】また、第2の金属層2402を構成する金
属箔は、メッキ法の場合は、第1の金属層2401を構
成する金属箔(例えば銅箔)と同一でも良いし、異なる
金属である銀メッキ膜によって構成しても良い。また、
第1の金属層の金属箔は、再利用することが可能であ
る。従って、低コスト化が可能であり、工業上の利用性
にも優れる。
In the case of plating, the metal foil constituting the second metal layer 2402 may be the same as the metal foil constituting the first metal layer 2401 (eg, copper foil) or may be a different metal. It may be constituted by a silver plating film. Also,
The metal foil of the first metal layer can be reused. Therefore, the cost can be reduced and the industrial use is excellent.

【0321】なお、前記配線パターンと電気的に接続す
るように受動部品を形成する方法としては、印刷法が最
適である。印刷法は、オフセット印刷、グラビア印刷、
スクリーン印刷等、いずれでも構わないが、より好まし
くはスクリーン印刷法が用いられる。抵抗体に用いるパ
ターンに限れば、場合により1μm以下の薄膜が適当で
ある場合があり、そのときはPVD法やCVD法による
誘電体層を付着させてもよい。
A printing method is most suitable as a method for forming a passive component so as to be electrically connected to the wiring pattern. Printing methods include offset printing, gravure printing,
Although any method such as screen printing may be used, a screen printing method is more preferably used. As far as the pattern used for the resistor is limited, a thin film of 1 μm or less may be appropriate in some cases. In this case, a dielectric layer may be deposited by a PVD method or a CVD method.

【0322】前記配線パターンの線幅は、通常、微細な
線幅として、25μm程度のものまで要求され、本発明
において、このような線幅が好ましい。
The line width of the wiring pattern is usually required to be as fine as about 25 μm, and such a line width is preferable in the present invention.

【0323】(実施の形態9)つぎに、前記第5の転写
材(図20参照)の製造方法の例を、図23(a)〜
(f)に示す。
(Embodiment 9) Next, an example of a method of manufacturing the fifth transfer material (see FIG. 20) will be described with reference to FIGS.
(F).

【0324】この製造方法は、(1)図23(a)に示
すように、第1の金属層2501上に、有機層あるいは
金属メッキ層からなる剥離層2502と、第1の金属層
2501と同一成分の金属を含む第2の金属層2503
とを積層して、3層構造を形成する工程と、(2)図2
3(b)〜(e)に示すように、化学エッチング法により
第2の金属層2503のみ配線パターン形状に加工し
て、剥離層2502全体を維持した状態で、転写用配線
パターン2503a(図23(e)参照)を形成する工
程と、(3)図23(f)に示すように、前記配線パタ
ーン2503aと電気的に接合するように位置合わせし
ながら、印刷にて、部品パターン(インダクタ250
5,コンデンサ2506,および抵抗2507)を形成
する工程、とを含む。
This manufacturing method comprises the steps of (1) as shown in FIG. 23A, a release layer 2502 made of an organic layer or a metal plating layer and a first metal layer 2501 formed on the first metal layer 2501. Second metal layer 2503 containing metal of the same component
And forming a three-layer structure by laminating (2) FIG.
As shown in FIGS. 3B to 3E, only the second metal layer 2503 is processed into a wiring pattern shape by the chemical etching method, and the transfer wiring pattern 2503a (FIG. (E), and (3) as shown in FIG. 23 (f), a part pattern (inductor 2503a) by printing while being aligned so as to be electrically connected to the wiring pattern 2503a.
5, forming a capacitor 2506 and a resistor 2507).

【0325】前記(2)の配線パターン2503の形成
工程において、図23(b)に示す工程では、第2の金
属層2503上に、ドライフィルムレジスト2504が
貼り付けられる。図23(c)に示す工程では、パター
ン露光により、配線パターン領域2504aが形成され
る。図23(d)に示す工程では、現像およびエッチン
グにより、配線パターン領域2504a以外の領域(2
504b)のドライフィルムレジストが除去される。図
23(e)に示す工程では、残ったドライフィルムレジ
ストが剥離される。
In the step (2) of forming the wiring pattern 2503, in the step shown in FIG. 23B, a dry film resist 2504 is attached on the second metal layer 2503. In the step shown in FIG. 23C, a wiring pattern region 2504a is formed by pattern exposure. In the step shown in FIG. 23D, the region (2) other than the wiring pattern region 2504a is developed and etched.
The dry film resist of 504b) is removed. In the step shown in FIG. 23E, the remaining dry film resist is stripped.

【0326】化学エッチングは、具体的には、例えば次
のように行うことができる。アンモニウムイオンを含む
塩基性塩化第2銅水溶液をエッチャントに用いると、剥
離層2502が例えばニッケルリン合金層からなる場合
は、第2の金属層2503のみをエッチングすることが
できる。しかる後に、エッチング液として、硝酸および
過酸化水素水の混合液を用いると、剥離層2502のみ
を取り除くことができる。この方法によれば、基板へ転
写された配線部が凹部とならずに、基板表面を平坦にす
ることができる。
The chemical etching can be specifically performed, for example, as follows. When a basic cupric chloride aqueous solution containing ammonium ions is used as an etchant, only the second metal layer 2503 can be etched when the release layer 2502 is made of, for example, a nickel-phosphorus alloy layer. Thereafter, when a mixed solution of nitric acid and hydrogen peroxide is used as an etching solution, only the peeling layer 2502 can be removed. According to this method, the surface of the substrate can be flattened without the wiring portion transferred to the substrate becoming a concave portion.

【0327】(実施の形態10)つぎに、前記第6の転
写材(図21参照)の製造方法の例を、図24(a)〜
(f)に示す。
(Embodiment 10) Next, an example of a method of manufacturing the sixth transfer material (see FIG. 21) will be described with reference to FIGS.
(F).

【0328】図24(a)〜(c)の工程は、前記した
実施の形態9における第5の転写材の製造方法と共通で
あるが、以下の工程が異なる。
The steps of FIGS. 24A to 24C are the same as those of the fifth embodiment of the manufacturing method of the transfer material according to the ninth embodiment, but the following steps are different.

【0329】すなわち、第5の転写材の製造方法では、
第2の金属層および剥離層のみを化学エッチングにより
パターン加工したが、第6の転写材の製造方法は、図2
4(d)(e)に示すように、化学エッチングにより、
第1の金属層2601の表層部をも配線パターン形状に
加工する。すなわち、第1の金属層2601の表層部に
凹凸部を形成する。そして、図24(f)に示すよう
に、前記配線パターン形状と電気的に接合するように位
置合わせしながら、印刷にて、部品パターン(インダク
タ2605,コンデンサ2606,抵抗2607)を形
成する。
That is, in the fifth transfer material manufacturing method,
Only the second metal layer and the release layer were patterned by chemical etching.
4 (d) and (e), by chemical etching,
The surface portion of the first metal layer 2601 is also processed into a wiring pattern shape. That is, an uneven portion is formed in a surface layer portion of the first metal layer 2601. Then, as shown in FIG. 24 (f), component patterns (inductor 2605, capacitor 2606, resistor 2607) are formed by printing while being positioned so as to be electrically joined to the wiring pattern shape.

【0330】上記した第4〜第6の転写材の製造方法に
よれば、いずれもフォトリソグラフィ法等の化学エッチ
ングによって、配線パターンの金属層を形成することか
ら、微細な配線パターンを形成することが可能である。
また、第6の転写材の製造方法の場合、配線パターン
(第2の金属層)を構成する金属箔を、キャリア(第1
の金属層)を構成する金属箔と同一にしておくことによ
って、一回のエッチングプロセスで、キャリアの表層を
配線パターンと同一の凹凸形状に形成することができ
る。
According to the above-described fourth to sixth transfer material manufacturing methods, since the metal layer of the wiring pattern is formed by chemical etching such as photolithography, a fine wiring pattern can be formed. Is possible.
In the case of the sixth transfer material manufacturing method, the metal foil constituting the wiring pattern (second metal layer) is transferred to the carrier (first metal layer).
Of the carrier can be formed in the same concavo-convex shape as the wiring pattern by a single etching process.

【0331】前述したように、第2の金属層以外の転写
材の構成材料を再利用することが可能である。また、特
に第6の転写材の場合は、第1の金属層が配線パターン
状に加工されていることを利用して、この第1の金属層
を、凸版印刷として違うやり方のパターン形成に再利用
することも可能である。このため、低コスト化が可能で
あり工業上の利用性にも優れる。
As described above, it is possible to reuse the constituent materials of the transfer material other than the second metal layer. In particular, in the case of the sixth transfer material, utilizing the fact that the first metal layer is processed into a wiring pattern shape, the first metal layer is re-formed into a different pattern formation as letterpress printing. It is also possible to use it. For this reason, cost reduction is possible and it is excellent in industrial use.

【0332】なお、前記第4〜第6の転写材の製造方法
において、前記第2の金属層を電解メッキ法で形成して
もよい。また、第2の金属層上に、電解メッキ法によ
り、さらに他の金属層(第3の金属層)を形成してもよ
い。電解メッキ法により、前記第3の金属層、または配
線パターン形成用の第2の金属層を形成すれば、第2の
金属層と第3の金属層との接着面に適度な接着性が得ら
れるだけでなく、前記金属層間に隙間が発生しない。こ
れにより、例えばエッチング等を行っても、良好な配線
パターンを形成できる。あるいは、第2の金属層上に、
前記第3の金属層をパネルメッキで形成した後、配線パ
ターン状にマスキングを行い、パターン形成を行っても
よい。この場合、転写後の第2の金属層の表面酸化の防
止や、ハンダ濡れ性の改善に効果がある。
In the fourth to sixth transfer material manufacturing methods, the second metal layer may be formed by an electrolytic plating method. Further, another metal layer (third metal layer) may be formed on the second metal layer by an electrolytic plating method. If the third metal layer or the second metal layer for forming a wiring pattern is formed by an electrolytic plating method, a proper adhesive property can be obtained on the bonding surface between the second metal layer and the third metal layer. In addition, no gap is generated between the metal layers. Thereby, a good wiring pattern can be formed even when, for example, etching is performed. Alternatively, on the second metal layer,
After forming the third metal layer by panel plating, masking may be performed in a wiring pattern shape to form a pattern. In this case, it is effective in preventing surface oxidation of the second metal layer after transfer and improving solder wettability.

【0333】この転写用配線パターンの製造方法におい
て、第2の金属層上に第3の金属層を形成する前に、前
記第2の金属層の表面を粗面化処理することが好まし
い。前記「第3の金属層を形成する前」とは、前記第2
の金属層上に配線パターン用のマスクを形成する前、ま
たは前記配線パターン状にマスキングされた第2の金属
層上に、前記配線パターンに沿って第3の金属層を形成
する前をいう。このように、前記第2の金属層を粗面化
処理すると、前記第2の金属層と前記第3の金属層との
接着性が向上する。
In this method of manufacturing a wiring pattern for transfer, it is preferable that the surface of the second metal layer is roughened before the third metal layer is formed on the second metal layer. The “before forming the third metal layer” refers to the second metal layer.
Before forming a wiring pattern mask on the second metal layer or before forming a third metal layer along the wiring pattern on the second metal layer masked in the wiring pattern. As described above, when the second metal layer is subjected to a surface roughening treatment, the adhesion between the second metal layer and the third metal layer is improved.

【0334】さらに、前記転写材の製造方法において、
電解メッキ法により、前記第3の金属層上に、第1ない
し第3の金属層とは異なる金属からなる第4の金属層を
形成してもよい。前記第4の金属層の材料として、前記
第1から第3の金属層を腐食するエッチング液に対し化
学的に安定な金属成分を選択することにより、前記転写
材の製造方法において、化学エッチング法により、何ら
第2,3,4の金属層の厚みを低減させることなく、前
記第1の金属層の表層部を含む各金属層を配線パターン
状に加工することができるため好ましい。
Further, in the above method for producing a transfer material,
A fourth metal layer made of a metal different from the first to third metal layers may be formed on the third metal layer by an electrolytic plating method. By selecting a metal component that is chemically stable to an etchant that corrodes the first to third metal layers as a material of the fourth metal layer, a chemical etching method Thereby, each metal layer including the surface layer portion of the first metal layer can be processed into a wiring pattern without reducing the thickness of the second, third, and fourth metal layers.

【0335】この第4の金属層としては、例えば、化学
的に安定で低抵抗なAgあるいはAuのメッキ層などが
望ましい。これらは酸化されにくい金属であるため、こ
れらでメッキされた配線層と、例えば、予め基板に形成
されたビア、ベアチップのバンプ、あるいは導電性接着
剤との接続性を、より安定させることができる。
As the fourth metal layer, for example, a chemically stable and low-resistance Ag or Au plating layer is desirable. Since these are hardly oxidized metals, the connectivity between the wiring layers plated with them and, for example, vias formed on a substrate in advance, bumps of bare chips, or conductive adhesives can be further stabilized. .

【0336】前記第5または第6の転写材の製造方法に
おいて、前記配線パターンと電気的に接続するように受
動部品パターンを形成する方法としては、第4の転写材
の場合と同様に、印刷法が最適である。剥離層がニッケ
ルメッキ層あるいはニッケルリン合金層等のメッキ層で
構成されている場合は、印刷法としてオフセット印刷、
グラビア印刷、スクリーン印刷等のいずれでも適用する
ことができるが、より好ましくはスクリーン印刷法が用
いられる。
In the method of manufacturing the fifth or sixth transfer material, the method of forming the passive component pattern so as to be electrically connected to the wiring pattern may be the same as in the case of the fourth transfer material. The method is optimal. When the release layer is composed of a plating layer such as a nickel plating layer or a nickel phosphorus alloy layer, offset printing,
Although any of gravure printing and screen printing can be applied, a screen printing method is more preferably used.

【0337】また、部品パターンの印刷に用いられる材
料は、ペースト状であることが好ましい。前記第4の転
写材の場合と同様に、部品が転写される基板が、例え
ば、熱硬化性樹脂を成分として構成される基板である場
合は、部品パターンの材料として、熱硬化性樹脂を含む
ものが用いられる。例えば、インダクタを形成する場合
は、熱硬化性樹脂と混ぜるフィラーとして、磁性金属粉
やフェライトを用いることができる。コンデンサを形成
する場合は、同様にフィラーとしてチタン酸バリウムや
Pb系ペロブスカイト等を用いることができる。抵抗を
形成する場合には、フィラーとしてカーボンが用いられ
る。抵抗値は、カーボン比率を変えることによって制御
することができる。なお、抵抗体は前述したように薄膜
で形成してもよい。抵抗体の材料及びその作製方法は、
第4の転写材の製造方法の説明で述べたのと同様であ
る。
The material used for printing the component pattern is preferably in the form of a paste. As in the case of the fourth transfer material, when the substrate to which the component is to be transferred is, for example, a substrate configured with a thermosetting resin as a component, the component pattern material includes a thermosetting resin. Things are used. For example, when forming an inductor, magnetic metal powder or ferrite can be used as a filler mixed with a thermosetting resin. When forming a capacitor, similarly, barium titanate, Pb-based perovskite, or the like can be used as a filler. When forming a resistor, carbon is used as a filler. The resistance value can be controlled by changing the carbon ratio. Note that the resistor may be formed of a thin film as described above. The material of the resistor and its manufacturing method are as follows:
This is the same as described in the description of the fourth transfer material manufacturing method.

【0338】前記第5の転写材は、前記第4の転写材と
同様に、100℃以下の低温でパターン転写形成ができ
るので、セラミックグリーンシートにも部品配線パター
ンを形成することができる。
Since the fifth transfer material can perform pattern transfer formation at a low temperature of 100 ° C. or lower similarly to the fourth transfer material, a component wiring pattern can be formed on a ceramic green sheet.

【0339】部品を転写する基板がセラミックの場合
は、部品パターンの印刷に用いられる材料(ペースト
状)は、脱バインダー工程によってフィラーのみが残存
するものが好ましい。従って、熱分解性が良好なバイン
ダーを溶かしたビヒクル、例えばターピネオールにバイ
ンダーを溶かしたビヒクルを用いたペーストが、用いら
れる。具体的には、上記に記したインダクター、コンデ
ンサ、抵抗特性に対応した各種フィラーを、前記ビヒク
ルと3本ロール等で混練して、スクリーン印刷が可能な
ペースト状の材料を形成する。
When the substrate on which the component is to be transferred is a ceramic, the material (paste) used for printing the component pattern is preferably one in which only the filler remains by the debinding step. Accordingly, a vehicle in which a binder having good thermal decomposability is dissolved, for example, a paste using a vehicle in which a binder is dissolved in terpineol is used. Specifically, the above-described inductor, capacitor, and various fillers corresponding to the resistance characteristics are kneaded with the vehicle using a three-roll or the like to form a paste-form material that can be screen printed.

【0340】インダクタを形成する場合は、ガラスと、
これにフィラーとして、磁性金属粉や低温で焼結するフ
ェライトを混ぜた材料が用いられる。コンデンサを形成
する場合は、同様にフィラーとして、チタン酸バリウム
及びガラスやPb系ペロブスカイト等が用いられる。抵
抗を形成する場合には、ガラスフィラーとしてルテニウ
ムパイロクロア、酸化ルテニウム、ランタンボライト等
が用いられる。これらは、低温焼成基板セラミックと同
時焼成できるとともに、内層抵抗体の場合でも抵抗値の
調整が比較的容易である。
When forming an inductor, glass and
As the filler, a material mixed with magnetic metal powder or ferrite which sinters at a low temperature is used. When a capacitor is formed, similarly, barium titanate and glass, Pb-based perovskite, or the like is used as a filler. When forming a resistor, ruthenium pyrochlore, ruthenium oxide, lanthanum bolite, or the like is used as a glass filler. These can be fired simultaneously with the low-temperature fired substrate ceramic, and the adjustment of the resistance value is relatively easy even in the case of the inner resistor.

【0341】これら2種類の第5および第6の転写用部
品配線パターンは、適宜使い分けることができる。例え
ば、転写材に形成された部品配線パターンが積層基板の
内層に転写される場合は、特にビア直上にビアがまた形
成される場合において、図20で示されるような転写材
(第5の転写材)を用いることが、ビア接続の観点から
好ましい。
These two types of fifth and sixth transfer component wiring patterns can be used properly. For example, when the component wiring pattern formed on the transfer material is transferred to the inner layer of the laminated substrate, particularly when a via is formed immediately above the via, the transfer material (fifth transfer) shown in FIG. Is preferable from the viewpoint of via connection.

【0342】一方、表層に転写される場合は、特にイン
ダクタ、コンデンサ、半導体チップ等の端子間距離が接
近している場合などは、沿面距離をかせぐ意味からも、
図21に示されたキャリア層まで部分的に加工された転
写形成材(第6の転写材)が好ましい。
On the other hand, when the image is transferred to the surface layer, especially when the distance between the terminals of the inductor, the capacitor, the semiconductor chip, and the like is short, the creepage distance is increased.
The transfer forming material (sixth transfer material) partially processed up to the carrier layer shown in FIG. 21 is preferable.

【0343】(実施の形態11)つぎに、前記第4〜第
6の転写材を用いて製造される回路基板の形態を、図2
2(g)(g')、図23(h)、および図24(h)
に示す。
(Embodiment 11) Next, the form of a circuit board manufactured using the fourth to sixth transfer materials will be described with reference to FIG.
2 (g) (g '), FIG. 23 (h), and FIG. 24 (h)
Shown in

【0344】第4〜第6の転写材を用いた回路基板の製
造方法として、少なくとも以下の二つの製造方法があ
る。本実施形態で述べる第1の製造方法は、前記第5〜
第7の実施形態における転写材(参照:図22(e)、
図23(f)、図24(f))を準備し、この転写材
を、部品配線パターンが形成された側が、シート状基材
の少なくとも一方の表面と接触するように配置して、こ
れらを接着する工程(参照:図22(f)、図23
(g)、図24(g))と、シート状基材に接着された
転写材から、キャリアである第1の金属層を剥離するこ
とにより、前記シート状基材に、少なくとも第2の金属
層及び部品パターンを含む部品配線パターン層を転写す
る工程とを少なくとも含む、部品内蔵配線基板(参照:
図22(g)、図23(h)、図24(h))の製造方
法である。
As a method of manufacturing a circuit board using the fourth to sixth transfer materials, there are at least the following two manufacturing methods. The first manufacturing method described in the present embodiment includes the fifth to fifth methods.
The transfer material according to the seventh embodiment (see FIG. 22E)
23 (f) and 24 (f)) are prepared, and the transfer material is arranged such that the side on which the component wiring pattern is formed is in contact with at least one surface of the sheet-like base material. Bonding step (see: FIG. 22 (f), FIG. 23)
(G), FIG. 24 (g)), by peeling the first metal layer as a carrier from the transfer material adhered to the sheet-like base material, the sheet-like base material has at least a second metal layer. Transferring a component wiring pattern layer including a layer and a component pattern.
FIG. 22 (g), FIG. 23 (h), FIG. 24 (h)).

【0345】これにより、微細な配線パターンと、イン
ダクタ、コンデンサ、及び抵抗並びに半導体チップを含
む部品パターンとは、前記シート状基材に平坦上に(参
照:図22(g)、図23(h))、あるいは凹形状に
(参照:図24(h))形成される。また、このように
して作製した配線基板は、例えば、配線部分が凹形状で
ある場合(図24(h))は、例えば、配線部分と半導
体チップのバンプとの位置合わせが容易となり、半導体
のフリップチップ実装等に優れる。
As a result, the fine wiring pattern and the component pattern including the inductor, capacitor, resistor, and semiconductor chip are placed flat on the sheet-like base material (see FIGS. 22 (g) and 23 (h)). )) Or a concave shape (see FIG. 24 (h)). Further, in the wiring board manufactured in this manner, for example, when the wiring portion has a concave shape (FIG. 24 (h)), for example, the alignment between the wiring portion and the bump of the semiconductor chip becomes easy, and Excellent for flip chip mounting.

【0346】(実施の形態12)また、本発明にかかる
回路基板の2番目の製造方法は、図25に示す多層回路
基板の製造方法であって、実施の形態11の製造方法に
より得られた回路基板(図22(g)、図23(h)、
図24(h)等)を、二層以上に積層する工程を含む方
法である。
(Embodiment 12) A second method of manufacturing a circuit board according to the present invention is a method of manufacturing a multilayer circuit board shown in FIG. 25, and is obtained by the manufacturing method of Embodiment 11. Circuit boards (FIG. 22 (g), FIG. 23 (h),
24 (h) and the like are stacked in two or more layers.

【0347】ここで、2702、2709は配線パター
ンを形成する第2の金属層、2703は抵抗体、270
4はコンデンサ、2705はインダクタ、2706はシ
ート状基材である。
Here, reference numerals 2702 and 2709 denote second metal layers for forming wiring patterns, and 2703 denotes a resistor, 270
4 is a capacitor, 2705 is an inductor, and 2706 is a sheet-like base material.

【0348】この回路基板は、100℃以下の低温で、
部品パターン及び配線パターンを転写形成できるので、
セラミックグリーンシートに限らず、熱硬化樹脂を用い
たシートに於いても、未硬化の状態を維持することがで
きる。これにより、回路基板を、未硬化状態で二層以上
積層した後に、一括して熱硬化収縮させることが可能と
なる。
This circuit board can be used at a low temperature of 100 ° C. or less.
Since part patterns and wiring patterns can be transferred and formed,
The uncured state can be maintained not only in the ceramic green sheet but also in a sheet using a thermosetting resin. Thus, after laminating two or more layers of the circuit board in an uncured state, it is possible to simultaneously perform thermosetting shrinkage.

【0349】従って、4層以上の多層回路基板に於い
て、各層毎に硬化収縮の補正を行う必要がない。これに
より、微細な配線パターン及び部品パターンを有する多
層構造の回路基板を作製できる。但し、内層を形成する
配線部および部品部に関しては、前述のように凹形状で
ある必要はなく平坦でもよいため、図22(g)、図2
3(h)に示す回路基板等が利用できる。
Therefore, in a multilayer circuit board having four or more layers, it is not necessary to correct cure shrinkage for each layer. Thereby, a circuit board having a multilayer structure having fine wiring patterns and component patterns can be manufactured. However, the wiring portion and the component portion forming the inner layer need not be concave as described above, and may be flat.
The circuit board shown in FIG. 3 (h) can be used.

【0350】実施の形態11および本実施形態で説明し
た製造方法のそれぞれにおいて、前記シート状基材が、
無機フィラーと熱硬化性樹脂組成物とを含み、少なくと
も一つの貫通孔を有し、前記貫通孔に導電性ペーストが
充填されていることが好ましい。これにより、熱伝導性
に優れ、前記配線パターンが前記導電性ペーストにより
電気的に接続されたIVH構造を有する高密度実装用コ
ンポジット配線基板を容易に得ることができる。
In each of Embodiment 11 and the manufacturing method described in this embodiment, the sheet-like base material is
It is preferable that the resin composition includes an inorganic filler and a thermosetting resin composition, has at least one through hole, and the through hole is filled with a conductive paste. This makes it possible to easily obtain a high-density mounting composite wiring board having excellent heat conductivity and having an IVH structure in which the wiring patterns are electrically connected by the conductive paste.

【0351】また、このシート状基材を用いれば、配線
基板の作製の際に、高温処理の必要がなく、例えば、熱
硬化性樹脂の硬化温度である200℃程度の低温処理で
十分である。
When this sheet-shaped substrate is used, a high-temperature treatment is not required in the production of a wiring board. For example, a low-temperature treatment of about 200 ° C., which is the curing temperature of a thermosetting resin, is sufficient. .

【0352】前記シート状基材全体に対し、前記無機フ
ィラーの割合が70〜95重量%であり、前記熱硬化性
樹脂組成物の割合が5〜30重量%であることが好まし
く、特に好ましくは、前記無機フィラーの割合が85〜
90重量%であり、前記熱硬化性樹脂組成物の割合が1
0〜15重量%である。前記シート状基材は、前記無機
フィラーを高濃度含有できることから、その含有量によ
り、配線基板における、熱膨張係数、熱伝導度、誘電率
等を任意に設定することが可能である。
The proportion of the inorganic filler is preferably from 70 to 95% by weight, and the proportion of the thermosetting resin composition is preferably from 5 to 30% by weight, particularly preferably from the entire sheet-like substrate. The ratio of the inorganic filler is 85 to 85;
90% by weight, and the ratio of the thermosetting resin composition is 1
0 to 15% by weight. Since the sheet-like base material can contain the inorganic filler at a high concentration, it is possible to arbitrarily set a coefficient of thermal expansion, a thermal conductivity, a dielectric constant, and the like in the wiring board according to the content.

【0353】前記無機フィラーは、Al23、MgO、
BN、AlNおよびSiO2からなる群から選択された
少なくとも一つの無機フィラーであることが好ましい。
前記無機フィラーの種類を適宜決定することにより、例
えば、熱伝導性、熱膨張性、誘電率を所望の条件に設定
することが可能である。例えば、前記シート状基材にお
ける平面方向の熱膨張係数を、実装する半導体の熱膨張
係数と同程度に設定し、かつ高熱伝導性を付与すること
も可能である。
The inorganic filler may be Al 2 O 3 , MgO,
It is preferable that at least one inorganic filler selected from the group consisting of BN, AlN and SiO 2 is used.
By appropriately determining the type of the inorganic filler, it is possible to set, for example, thermal conductivity, thermal expansion, and dielectric constant to desired conditions. For example, it is possible to set the thermal expansion coefficient in the planar direction of the sheet-like base material to be substantially the same as the thermal expansion coefficient of the semiconductor to be mounted, and to impart high thermal conductivity.

【0354】前記無機フィラーの中でも、例えば、Al
23、BN、AlN等を用いたシート状基材は熱伝導性
に優れ、MgOを用いたシート状基材は熱伝導度に優
れ、かつ熱膨張係数を大きくすることができる。また、
SiO2、特に非晶質SiO2を使用した場合、熱膨張係
数が小さく、軽い、低誘電率のシート状基材を得ること
ができる。なお、前記無機フィラーは、一種類でもよい
し、二種類以上を併用してもよい。
Among the inorganic fillers, for example, Al
A sheet-like substrate using 2 O 3 , BN, AlN or the like has excellent thermal conductivity, and a sheet-like substrate using MgO has excellent thermal conductivity and a large thermal expansion coefficient. Also,
When SiO 2 , particularly amorphous SiO 2, is used, a light, low dielectric constant sheet-like substrate having a small coefficient of thermal expansion can be obtained. The inorganic filler may be of one type or two or more types may be used in combination.

【0355】前記無機フィラーと熱硬化性樹脂組成物と
を含むシート状基材は、例えば、以下のようにして作製
できる。まず、前記無機フィラーと熱硬化性樹脂組成物
とを含む混合物に粘度調整用溶媒を加え、任意のスラリ
ー粘度であるスラリーを調製する。前記粘度調製用溶媒
としては、例えば、メチルエチルケトン、トルエン等が
使用できる。
The sheet-like substrate containing the inorganic filler and the thermosetting resin composition can be produced, for example, as follows. First, a viscosity adjusting solvent is added to a mixture containing the inorganic filler and the thermosetting resin composition to prepare a slurry having an arbitrary slurry viscosity. As the viscosity adjusting solvent, for example, methyl ethyl ketone, toluene and the like can be used.

【0356】そして、予め準備した離型フィルム上にお
いて、前記スラリーを用いて、例えば、ドクターブレー
ド法等により造膜し、前記熱硬化性樹脂の硬化温度より
も低い温度で処理して、前記粘度調整用溶媒を揮発させ
た後、前記離型フィルムを除去することにより、シート
状基材が作製できる。
Then, a film is formed on the release film prepared in advance using the slurry by, for example, a doctor blade method or the like, and is processed at a temperature lower than the curing temperature of the thermosetting resin to obtain the viscosity. After volatilizing the adjusting solvent, the release film is removed, whereby a sheet-like substrate can be produced.

【0357】前記造膜した時の膜厚は、前記混合物の組
成や、添加する前記粘度調整用溶媒の量により適宜決定
されるが、通常、厚み80〜200μmの範囲である。
また、前記粘度調製用溶媒を揮発させる条件は、例え
ば、前記粘度調製用溶媒の種類や前記熱硬化性樹脂の種
類等により適宜決定されるが、通常、温度70〜150
℃で、5〜15分間である。
The film thickness at the time of forming the film is appropriately determined depending on the composition of the mixture and the amount of the viscosity adjusting solvent to be added, and is usually in the range of 80 to 200 μm.
The conditions for volatilizing the viscosity adjusting solvent are appropriately determined depending on, for example, the type of the viscosity adjusting solvent and the type of the thermosetting resin.
C. for 5-15 minutes.

【0358】前記離型フィルムとしては、通常は、有機
フィルムが使用でき、例えば、ポリエチレン、ポリエチ
レンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリ
フェニレンサルファイド(PPS)、ポリフェニレンテ
レフタレート、ポリイミドおよびポリアミドからなる群
から選択された少なくとも一つの樹脂を含む有機フィル
ムであることが好ましく、特に好ましくはPPSであ
る。
As the release film, generally, an organic film can be used. For example, at least one selected from the group consisting of polyethylene, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polyphenylene sulfide (PPS), polyphenylene terephthalate, polyimide and polyamide An organic film containing one resin is preferable, and PPS is particularly preferable.

【0359】また、この他に、シート状補強材に熱硬化
性樹脂組成物を含浸したものであり、少なくとも一つの
貫通孔を有し、前記貫通孔に導電性ペーストが充填され
ているシート状基材を用いることができる。
In addition, a sheet-like reinforcing material impregnated with a thermosetting resin composition has at least one through hole, and the through hole is filled with a conductive paste. Substrates can be used.

【0360】前記シート状補強材は、前記熱硬化性樹脂
を保持できるものであれば、特に制限されないが、ガラ
ス繊維の織布、ガラス繊維の不織布、耐熱有機繊維の織
布および耐熱有機繊維の不織布からなる群から選択され
た少なくとも一つのシート状補強材であることが好まし
い。前記耐熱有機繊維としては、例えば、全芳香族ポリ
アミド(アラミド樹脂)、全芳香族ポリエステル、ポリ
ブチレンオキシド等があげられ、中でもアラミド樹脂が
好ましい。
The sheet-like reinforcing material is not particularly limited as long as it can hold the thermosetting resin. However, the woven fabric of glass fiber, the nonwoven fabric of glass fiber, the woven fabric of heat-resistant organic fiber, and the heat-resistant organic fiber Preferably, it is at least one sheet-like reinforcing material selected from the group consisting of nonwoven fabrics. Examples of the heat-resistant organic fiber include wholly aromatic polyamide (aramid resin), wholly aromatic polyester, polybutylene oxide and the like, and among them, aramid resin is preferable.

【0361】前記熱硬化性樹脂は、耐熱性であれば特に
制限されないが、特に耐熱性に優れることから、エポキ
シ系樹脂、フェノール系樹脂およびシアネート系樹脂あ
るいはポリフェニレンフタレート樹脂、ポリフェニレン
エーテル樹脂からなる群から選択された少なくとも一つ
の樹脂を含むことが好ましい。また、前記熱硬化性樹脂
は、いずれか一種類でもよいし、二種類以上を併用して
もよい。
The thermosetting resin is not particularly limited as long as it has heat resistance. However, since it is particularly excellent in heat resistance, a group consisting of an epoxy resin, a phenol resin, a cyanate resin, a polyphenylene phthalate resin, and a polyphenylene ether resin. It is preferable to include at least one resin selected from the group consisting of: Further, the thermosetting resin may be any one type, or two or more types may be used in combination.

【0362】このような、シート状基材は、例えば、前
記熱硬化性樹脂組成物中に前記シート状補強材を浸漬し
た後、乾燥させ半硬化状態にすることにより作製でき
る。
[0362] Such a sheet-like substrate can be produced, for example, by immersing the sheet-like reinforcing material in the thermosetting resin composition and then drying it to make it into a semi-cured state.

【0363】前記含浸は、前記シート状基材全体におけ
る前記熱硬化性樹脂の割合が、30〜60重量%になる
ように行うことが好ましい。
It is preferable that the impregnation is performed so that the ratio of the thermosetting resin in the entire sheet-like substrate is 30 to 60% by weight.

【0364】これらの製造方法において、以上のよう
な、熱硬化性樹脂を含有するシート状基材を用いる場合
は、前記配線基板の積層を、加熱加圧処理による前記熱
硬化性樹脂の硬化によって行うことが好ましい。これに
よれば、前記配線基板の積層工程において、例えば、前
記熱硬化性樹脂の硬化温度である200℃程度の低温処
理で十分である。
In these manufacturing methods, when a sheet-like base material containing a thermosetting resin as described above is used, the lamination of the wiring boards is performed by curing the thermosetting resin by heating and pressing. It is preferred to do so. According to this, in the laminating step of the wiring substrate, for example, a low-temperature treatment of about 200 ° C. which is a curing temperature of the thermosetting resin is sufficient.

【0365】前記シート状補強材が、ポリイミド、LC
P、アラミドなどのフィルム上シートに熱硬化樹脂をコ
ーティングしたものであってもよい。
When the sheet-like reinforcing material is polyimide, LC
A sheet obtained by coating a thermosetting resin on a film sheet such as P or aramid may be used.

【0366】一方、これらの配線基板は樹脂基板に限定
されたものではなく、セラミック基板であってもよい。
この場合、シート状基材としては、有機バインダ、可塑
剤およびセラミック粉末を含むグリーンシートであっ
て、少なくとも一つの貫通孔を有し、前記貫通孔に導電
性ペーストが充填されたものを用いることができる。こ
のシート状基材は、高耐熱性で密閉性が良く、熱伝導性
にも優れる。
On the other hand, these wiring boards are not limited to resin boards, but may be ceramic boards.
In this case, a green sheet containing an organic binder, a plasticizer, and a ceramic powder, having at least one through hole and being filled with a conductive paste, is used as the sheet substrate. Can be. This sheet-shaped base material has high heat resistance, good airtightness, and excellent heat conductivity.

【0367】前記セラミック粉末は、Al23、Mg
O、ZrO2、TiO2、BeO、BN、SiO2、Ca
Oおよびガラスからなる群から選択された少なくとも一
つのセラミックを含むことが好ましく、特に好ましく
は、Al2350〜55重量%とガラス粉45〜50重
量%との混合物である。なお、前記セラミックは、一種
類でもよいし、二種類以上を併用してもよい。
The ceramic powder is made of Al 2 O 3 , Mg
O, ZrO 2 , TiO 2 , BeO, BN, SiO 2 , Ca
Preferably contains at least one ceramic selected from O and a group consisting of glass, particularly preferably a mixture of Al 2 O 3 50-55 wt% and glass powder 45-50% by weight. The ceramics may be of one type, or two or more types may be used in combination.

【0368】前記有機バインダとしては、例えば、ポリ
ビニルブチラート(PVB)、アクリル樹脂、メチルセ
ルロース樹脂等が使用でき、前記可塑剤としては、例え
ば、ブチルベンジルフタレート(BBP)、ジブチルフ
タレート(DBP)等が使用できる。
As the organic binder, for example, polyvinyl butyrate (PVB), acrylic resin, methyl cellulose resin and the like can be used. As the plasticizer, for example, butyl benzyl phthalate (BBP), dibutyl phthalate (DBP) and the like can be used. Can be used.

【0369】このような、前記セラミック等を含むグリ
ーンシートは、例えば、前記無機フィラーと熱硬化性樹
脂とを含むシート状基材の前記作製方法と同様にして作
製できる。なお、各処理条件は、前記構成材料の種類等
により適宜決定される。
[0369] Such a green sheet containing a ceramic or the like can be produced, for example, in the same manner as the above-mentioned method for producing a sheet-like substrate containing the inorganic filler and a thermosetting resin. Note that each processing condition is appropriately determined depending on the type of the constituent material and the like.

【0370】例えば、図22に示す転写材の第2の金属
層2403すなわち配線層を銀で構成した場合、銀は耐
酸化性を有する金属であるため、大気中での脱バインダ
処理および大気中での焼成が可能となり、作製プロセス
が容易になる利点が得られる。一方、図23および図2
4に示す第2の金属層2503,2603が銅で構成さ
れている場合は、転写された配線部が酸化されやすい卑
金属となるため、非酸化雰囲気、例えば窒素雰囲気での
脱バインダ処理や、および窒素焼成プロセスが求められ
る。従って、グリーンシートも、その窒素プロセスに対
応した構成が求められることになる。さらに、インダク
タ、コンデンサ、および抵抗等の印刷に用いられるビヒ
クル、バインダーについても、非酸化雰囲気での熱分解
性が強く求められることになる。
For example, when the second metal layer 2403 of the transfer material shown in FIG. 22, that is, the wiring layer is made of silver, silver is a metal having oxidation resistance. And the advantage of facilitating the fabrication process is obtained. On the other hand, FIG. 23 and FIG.
In the case where the second metal layers 2503 and 2603 shown in FIG. 4 are made of copper, the transferred wiring portion becomes a base metal which is easily oxidized, and therefore, a binder removal treatment in a non-oxidizing atmosphere, for example, a nitrogen atmosphere, and A nitrogen firing process is required. Therefore, a structure corresponding to the nitrogen process is also required for the green sheet. Further, vehicles and binders used for printing inductors, capacitors, resistors, and the like are also required to have high thermal decomposition properties in a non-oxidizing atmosphere.

【0371】以上のような前記シート状基材の厚みは、
通常、100〜250μmの範囲である。
The thickness of the above-mentioned sheet-like substrate is as follows:
Usually, it is in the range of 100 to 250 μm.

【0372】前記シート状基材は、前述のように、少な
くとも一つの貫通孔を有し、前記貫通孔に導電性ペース
トが充填されていることが好ましい。前記貫通孔の位置
は、通常、配線パターンと接触するように形成されれ
ば、特に制限されないが、ピッチが、250〜500μ
mの等間隔の位置に形成されることが好ましい。
As described above, it is preferable that the sheet-like substrate has at least one through hole, and the through hole is filled with a conductive paste. The position of the through-hole is not particularly limited as long as it is formed so as to be in contact with the wiring pattern.
It is preferable to form them at equal intervals of m.

【0373】前記貫通孔の大きさは、特に制限されない
が、通常、直径100〜200μmの範囲であり、好ま
しくは、直径100〜150μmの範囲である。
The size of the through-hole is not particularly limited, but is usually in the range of 100 to 200 μm, preferably in the range of 100 to 150 μm.

【0374】前記貫通孔の形成方法は、前記シート状基
材の種類等により適宜決定されるが、例えば、炭酸ガス
レーザー加工、パンチングマシーンによる加工、金型に
よる一括加工等があげられる。
The method of forming the through holes is appropriately determined depending on the type of the sheet-like base material and the like, and examples thereof include carbon dioxide laser processing, processing using a punching machine, and collective processing using a mold.

【0375】前記導電性ペーストとしては、導電性を有
していれば、特に制限されないが、通常、導電性金属材
料の粒子を含有する樹脂等が使用できる。前記導電性金
属材料としては、例えば、銅、銀、金、銀パラジウム等
が使用でき、前記樹脂としては、エポキシ系樹脂、フェ
ノール系樹脂、セルロース系樹脂、アクリル系樹脂等の
有機バインダーが使用できる。
The conductive paste is not particularly limited as long as it has conductivity, but usually a resin containing particles of a conductive metal material can be used. As the conductive metal material, for example, copper, silver, gold, silver palladium or the like can be used, and as the resin, an epoxy binder, a phenolic resin, a cellulose resin, an organic binder such as an acrylic resin can be used. .

【0376】また、前記導電性ペースト中の前記導電性
金属材料の含量は、通常、80〜95重量%の範囲であ
る。また、前記シート状基材がセラミックグリーンシー
トの場合は、熱硬化性樹脂の代わりに熱可塑性バインダ
ーが用いられ、接着剤としてガラス粉末が用いられる。
The content of the conductive metal material in the conductive paste is usually in the range of 80 to 95% by weight. When the sheet-like base material is a ceramic green sheet, a thermoplastic binder is used instead of a thermosetting resin, and glass powder is used as an adhesive.

【0377】つぎに、前記工程における転写材とシート
状基材との接着方法、およびシート状基材に接着された
転写材から第1の金属層を剥離する方法は、特に制限さ
れないが、前記シート状基材がセラミック基板以外であ
る熱硬化性樹脂を含む場合、例えば、以下に示すように
して行うことができる。
Next, the method of bonding the transfer material to the sheet-like substrate and the method of peeling the first metal layer from the transfer material adhered to the sheet-like substrate in the above step are not particularly limited. When the sheet-like substrate contains a thermosetting resin other than the ceramic substrate, for example, it can be performed as described below.

【0378】まず、転写材(図23(f))とシート状
基材2508とを、図23(g)のように配置し、加熱
加圧処理によりシート状基材中の熱硬化性樹脂を溶融軟
化させることにより、シート状基材に、配線パターンを
形成した金属層2503及び印刷した受動部品パターン
2505,2506,2507を埋没させる。なお、2
505はインダクタ、2506はコンデンサ、2507
は抵抗である。但し、コンデンサのように誘電体層の両
面に電極が必要な回路部品を転写する場合には、図23
(g)に示すように、予め、これに対応した配線パター
ン2510のみを、転写等によって、シート状基材25
08に形成しておくことが望ましい。
First, the transfer material (FIG. 23 (f)) and the sheet-like substrate 2508 are arranged as shown in FIG. 23 (g), and the thermosetting resin in the sheet-like substrate is heated and pressed. By melting and softening, the metal layer 2503 on which the wiring pattern is formed and the printed passive component patterns 2505, 2506, 2507 are buried in the sheet-like base material. In addition, 2
505 is an inductor, 2506 is a capacitor, 2507
Is resistance. However, when transferring a circuit component requiring electrodes on both surfaces of a dielectric layer such as a capacitor, FIG.
As shown in (g), only the wiring pattern 2510 corresponding thereto is previously transferred to the sheet-like base material 25 by transfer or the like.
08 is desirably formed.

【0379】続いて、転写材を圧着させたシート状基材
を、前記熱硬化性樹脂の軟化温度あるいは硬化温度で処
理し、後者の場合は前記樹脂を硬化させることにより、
転写用材とシート状基材とを接着できる。また、第2の
金属層2503とシート状基材2508との接着も固定
される。
Subsequently, the sheet-like substrate on which the transfer material is pressed is treated at the softening temperature or the curing temperature of the thermosetting resin, and in the latter case, the resin is cured.
The transfer material and the sheet-like substrate can be bonded. Further, the adhesion between the second metal layer 2503 and the sheet-like base material 2508 is fixed.

【0380】前記加熱加圧条件は、前記熱硬化性樹脂が
完全硬化しない条件であれば、特に制限されないが、通
常、圧力約9.8×105〜9.8×106Pa(10〜
100kg/cm2)、温度70〜260℃、時間30
〜120分間である。
The heating and pressurizing conditions are not particularly limited as long as the thermosetting resin is not completely cured. Usually, the pressure is about 9.8 × 10 5 to 9.8 × 10 6 Pa (10 to 10 × 10 5 Pa).
100 kg / cm 2 ), temperature 70 to 260 ° C., time 30
~ 120 minutes.

【0381】そして、転写材(図23(f))とシート
状基材2508とが接着した後、例えば、キャリア層で
ある第1の金属層2501を引っ張り、剥離層界面で剥
離することによって、第2の金属層2503及び受動部
品パターン2505,2506,2507から、第1の
金属層2501を剥離することができる。
Then, after the transfer material (FIG. 23 (f)) and the sheet-like base material 2508 are bonded, for example, the first metal layer 2501 as a carrier layer is pulled and peeled at the peeling layer interface. The first metal layer 2501 can be separated from the second metal layer 2503 and the passive component patterns 2505, 2506, and 2507.

【0382】すなわち、剥離層を介した、第1の金属層
に対する前記第2の金属層及び部品パターンの接着強度
が、シート状基材に対する接着強度よりも弱いことか
ら、前記第1の金属層と第2の金属層及び受動部品パタ
ーンとの接着面が剥離する。この結果、前記シート状基
材には部品および配線のパターンのみが転写され、第1
の金属層は剥離される(図23(h)参照)。
That is, since the adhesive strength of the second metal layer and the component pattern to the first metal layer via the release layer is weaker than the adhesive strength to the sheet-like base material, the first metal layer The adhesive surface between the second metal layer and the passive component pattern is peeled off. As a result, only the component and wiring patterns are transferred to the sheet-like substrate,
Is peeled off (see FIG. 23 (h)).

【0383】なお、前記熱硬化性樹脂の硬化は、前記部
品配線パターンから第1の金属層を剥離した後に行って
もよい。
The curing of the thermosetting resin may be performed after the first metal layer is peeled off from the component wiring pattern.

【0384】一方、前記シート状基材が、前記セラミッ
ク基板を構成するグリーンシートである場合は、例え
ば、以下に示すような方法を用いることができる。例え
ば、図22(a)〜(d)の場合、第1の金属層240
1に銅箔を用い、第2の金属層2403すなわち配線層
として、電解メッキ法にて銀配線を形成する。しかる後
に、この銀配線と電気的に接続するように、受動部品等
をスクリーン印刷にて形成して、転写用の部品および配
線のパターンを形成する。但し、セラミック基板の場合
は焼成を伴うので、図22(e’)に示すような半導体
チップは実装しない。この構成に対し、前述と同様にし
て、加熱加圧処理を行うことにより、部品配線パターン
をシート状基材であるグリーンシートに埋没させ、グリ
ーンシートと転写用部品配線パターン形成材とを接着で
きる。
On the other hand, when the sheet substrate is a green sheet constituting the ceramic substrate, for example, the following method can be used. For example, in the case of FIGS. 22A to 22D, the first metal layer 240
Silver wiring is formed by electrolytic plating as a second metal layer 2403, that is, a wiring layer, using a copper foil for 1. Thereafter, a passive component or the like is formed by screen printing so as to be electrically connected to the silver wiring, thereby forming a transfer component and a wiring pattern. However, since a ceramic substrate involves firing, a semiconductor chip as shown in FIG. 22 (e ') is not mounted. In this configuration, by performing the heating and pressurizing treatment in the same manner as described above, the component wiring pattern can be buried in the green sheet as the sheet-like base material, and the green sheet and the transfer component wiring pattern forming material can be bonded to each other. .

【0385】その後、前述と同様に、キャリアの剥離に
より、前記部品配線パターン以外の転写材の構成材料を
除去する。そして、部品配線パターンが転写されたグリ
ーンシートに、拘束用アルミナグリーンシートを積層す
る。その後、大気中脱バインダ処理および大気中焼成処
理を行い、前記セラミックを焼結させ、転写された前記
第2の金属層及び部品パターンを前記セラミック基板に
固定する。この転写材は配線が銀で形成されているた
め、大気中脱バインダおよび大気中焼成が可能となると
ころに利点がある。
After that, similarly to the above, the material of the transfer material other than the component wiring pattern is removed by peeling the carrier. Then, a restraining alumina green sheet is laminated on the green sheet to which the component wiring pattern has been transferred. Thereafter, a binder removal process in air and a baking process in air are performed to sinter the ceramic, and the transferred second metal layer and component pattern are fixed to the ceramic substrate. This transfer material has an advantage in that since the wiring is formed of silver, the binder can be removed in the air and baked in the air.

【0386】一方、図23(a)〜(h)及び図24
(a)〜(h)の方法の場合、第1の金属層を銅箔で形
成し、第2の金属層すなわち配線層として、例えば、フ
ォトリソグラフィ法を用いた化学エッチング法にて銅配
線を形成する。銅配線はメッキ法により作製される銀配
線より安価に作製でき、耐マイグレーション性に優れ
る。しかる後に、この銅配線と電気的に接続するように
受動部品等をスクリーン印刷にて形成して、転写用部品
配線パターンを形成する。
On the other hand, FIGS. 23 (a) to 23 (h) and FIG.
In the methods (a) to (h), a first metal layer is formed of copper foil, and a copper wiring is formed as a second metal layer, that is, a wiring layer by a chemical etching method using a photolithography method, for example. Form. Copper wiring can be manufactured at a lower cost than silver wiring manufactured by a plating method, and has excellent migration resistance. Thereafter, a passive component or the like is formed by screen printing so as to be electrically connected to the copper wiring, thereby forming a transfer component wiring pattern.

【0387】但し、セラミック基板の場合は焼成を伴う
ので、図22(e’)で示したような半導体チップは実
装しない。この構成に対し、前述と同様にして、加熱加
圧処理を行うことにより、配線パターンを前記シート状
基材(グリーンシート)に埋没させ、シート状基材と転
写用部品配線パターン形成材とを接着できる。その後、
前述と同様に、キャリアの剥離により、前記部品配線パ
ターン以外の構成材料を除去する。
However, since a ceramic substrate involves firing, the semiconductor chip as shown in FIG. 22 (e ') is not mounted. In the same manner as described above, the heating and pressurizing treatment is performed to bury the wiring pattern in the sheet-shaped base material (green sheet), and the sheet-shaped base material and the transfer component wiring pattern forming material are separated from each other. Can be glued. afterwards,
As described above, the material other than the component wiring pattern is removed by peeling the carrier.

【0388】そして、部品配線パターンが転写されたグ
リーンシートに、拘束用アルミナグリーンシートを積層
する。その後、銅が酸化しないような雰囲気、例えば窒
素雰囲気中で、脱バインダ処理および焼成処理を行い、
前記セラミックを焼結させることにより、転写された第
2の金属層及び部品パターンを、セラミック基板に固定
する。この転写材の配線は銅であるため、転写材自体
は、銀配線の場合より安価に作製できるが、銅配線に配
慮して、焼成プロセスを非酸化雰囲気で行う必要があ
る。
Then, a restraining alumina green sheet is laminated on the green sheet to which the component wiring pattern has been transferred. Thereafter, in an atmosphere in which copper is not oxidized, for example, in a nitrogen atmosphere, a binder removal process and a firing process are performed,
By sintering the ceramic, the transferred second metal layer and component pattern are fixed to the ceramic substrate. Since the wiring of the transfer material is copper, the transfer material itself can be manufactured at a lower cost than in the case of silver wiring, but the firing process needs to be performed in a non-oxidizing atmosphere in consideration of the copper wiring.

【0389】従って、グリーンシートのバインダー及び
受動部品を構成するペーストのバインダーも、例えばメ
タクリル酸系アクリルバインダー等の熱分解性の良好な
ものを利用する必要が生じる。
Accordingly, as the binder for the green sheet and the binder for the paste constituting the passive component, it is necessary to use, for example, a methacrylic acid-based acrylic binder having good thermal decomposability.

【0390】従って、基板を構成するグリーンシート
や、受動部品を構成するセラミックの焼結条件によっ
て、転写材の構成は使い分けられることになる。
Therefore, the structure of the transfer material can be properly used depending on the sintering conditions of the green sheet constituting the substrate and the ceramic constituting the passive component.

【0391】前記加熱加圧条件は、例えば、前記グリー
ンシートおよび導電性ペーストに含まれる有機バインダ
ーの種類等により適宜決定されるが、通常、圧力約9.
8×105〜1.96×107Pa(10〜200kg/
cm2)、温度70〜100℃、時間2〜30分間であ
る。従って、何らグリーンシートに損傷を与えることな
く配線パターンを形成することができる。
The heating and pressurizing conditions are appropriately determined depending on, for example, the kind of the organic binder contained in the green sheet and the conductive paste.
8 × 10 5 to 1.96 × 10 7 Pa (10 to 200 kg /
cm 2 ), the temperature is 70 to 100 ° C., and the time is 2 to 30 minutes. Therefore, the wiring pattern can be formed without damaging the green sheet.

【0392】前記脱バインダ処理は、例えば、前記バイ
ンダの種類、配線パターンを構成する金属等により、そ
の条件が適宜決定されるが、通常、電気炉を用いて、温
度500〜700℃で、2〜5時間処理することによっ
て行うことができる。
The conditions for the binder removal treatment are appropriately determined depending on, for example, the type of the binder, the metal constituting the wiring pattern, and the like. Usually, an electric furnace is used at a temperature of 500 to 700.degree. It can be performed by treating for up to 5 hours.

【0393】前記焼成処理の条件は、例えば、前記セラ
ミックの種類等により適宜決定されるが、通常、ベルト
炉を用いて、空気中あるいは窒素中で、温度860〜9
50℃、時間30〜60分である。
The conditions of the calcination treatment are appropriately determined depending on, for example, the type of the ceramics and the like. Usually, the temperature is 860 to 9 in air or nitrogen using a belt furnace.
50 ° C., time 30-60 minutes.

【0394】さらに、前記配線基板の2番目の製造方
法、すなわち多層回路基板の製造方法について説明す
る。この方法により、図25に示すような多層回路基板
を作製する場合は、前述のようにして作製した単層の回
路基板を順次積層し、層間を接着することにより作製で
きる。当然ながら、単層の回路基板を二層以上積層し、
一括して硬化させることも可能である。
Further, a second method of manufacturing the wiring board, that is, a method of manufacturing a multilayer circuit board will be described. When a multilayer circuit board as shown in FIG. 25 is manufactured by this method, it can be manufactured by sequentially laminating the single-layer circuit boards manufactured as described above and bonding the layers. Naturally, two or more single-layer circuit boards are stacked,
It is also possible to cure all at once.

【0395】例えば、熱硬化性樹脂を含むシート状基材
を有する回路基板を積層する場合は、図26(a)〜
(c)にそれぞれ示すように、前述と同様に、シート状
基材に、熱硬化しない低温域で部品配線パターンのみを
転写することにより、図26(a’)〜(c’)にそれ
ぞれ示すような単層の回路基板を得る。そしてこの単層
の回路基板の積層体を、前記熱硬化性樹脂の硬化温度で
加熱加圧処理し、前記熱硬化性樹脂を硬化することによ
って、前記回路基板間を接着固定する。
For example, in the case of laminating a circuit board having a sheet-like base material containing a thermosetting resin, FIG.
As shown in FIG. 26C, only the component wiring patterns are transferred to the sheet-like base material in a low temperature range where the thermosetting is not performed, as shown in FIGS. 26A to 26C. A single-layer circuit board as described above is obtained. Then, the laminate of the single-layer circuit boards is heated and pressed at the curing temperature of the thermosetting resin, and the thermosetting resin is cured, whereby the circuit boards are bonded and fixed.

【0396】部品配線パターンの転写を行う際の加熱加
圧条件の温度を意図的に100℃以下にすると、転写後
もシート状基材を殆どプリプレグのように扱える。これ
により、単層回路基板を順次積層して接着するのでな
く、単層回路基板を複数枚積層したものを一括して接着
固定することによって、多層回路基板を作製することが
可能となる。
If the temperature of the heating and pressurizing condition when transferring the component wiring pattern is intentionally set to 100 ° C. or less, the sheet-like base material can be handled almost like a prepreg even after the transfer. This makes it possible to manufacture a multilayer circuit board by bonding and fixing a plurality of single-layer circuit boards together instead of sequentially laminating and bonding the single-layer circuit boards.

【0397】また、例えば、シート状基材がセラミック
を含むセラミック回路基板を積層する場合は、前述と同
様に、シート状基材に部品配線パターンのみを転写した
後、この単層のセラミック回路基板を積層し、加熱加圧
処理を行うことにより、セラミックの焼成と回路基板間
の接着固定とを同時に行うことができる。
For example, in the case of laminating a ceramic circuit board in which the sheet-like base material contains ceramic, similarly to the above, after transferring only the component wiring pattern to the sheet-like base material, the single-layer ceramic circuit board is transferred. Are laminated, and the heating and pressurizing treatment is performed, whereby the firing of the ceramic and the adhesive fixing between the circuit boards can be performed simultaneously.

【0398】前記多層回路基板(図25)における層数
は特に制限されないが、通常、4〜8層であり、12層
に及ぶものもある。また、前記多層回路基板の全体の厚
みは、通常、500〜1000μmである。
Although the number of layers in the multilayer circuit board (FIG. 25) is not particularly limited, it is usually 4 to 8 layers, and may be as many as 12 layers. Further, the overall thickness of the multilayer circuit board is usually 500 to 1000 μm.

【0399】なお、前記多層回路基板(図25)の最外
層以外の中間層を構成する回路基板の表面は、インナー
ビアによる電気的接続構造を考慮すると、配線パターン
等が凹部に埋め込まれた凹凸面ではなく、平坦であって
もよい。この構造を意図的に得るためには、第4または
第5の転写材を用いるとよい。また、前記多層回路基板
の最外層は、表面が平坦な回路基板でもよいが、表面に
凹部を有しその底部に第2の金属層等が形成された配線
基板であると、図24(h)に示すような半導体チップ
等の実装がより容易になり好ましい。
The surface of the circuit board constituting the intermediate layer other than the outermost layer of the multilayer circuit board (FIG. 25) has an uneven surface in which a wiring pattern and the like are embedded in the recess, in consideration of the electrical connection structure by the inner via. Instead of a plane, it may be flat. In order to intentionally obtain this structure, a fourth or fifth transfer material may be used. Also, the outermost layer of the multilayer circuit board may be a circuit board having a flat surface, but if the wiring board has a concave portion on the surface and a second metal layer or the like formed on the bottom thereof, FIG. This is preferable because the mounting of a semiconductor chip or the like as shown in FIG.

【0400】以下、前記実施の形態5〜12に関し、さ
らに具体的な実施例を説明する。
Hereinafter, more specific examples of the fifth to twelfth embodiments will be described.

【0401】(実施例11)図22(a)〜(g’)
は、第4の転写材の製造工程の概略の一例を示す断面図
である。
(Embodiment 11) FIGS. 22 (a) to 22 (g ′)
FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating an example of a schematic process of manufacturing a fourth transfer material.

【0402】図22(a)〜(e)および図22(a)
〜(e’)に示すようにして、受動部品2405,24
06,2407を含む転写材(図22(e))と、能動
部品である半導体チップ2408を含む転写材(図22
(e’))とを作製した。
FIGS. 22 (a) to 22 (e) and FIG. 22 (a)
To (e '), the passive components 2405, 24
22 (e), and a transfer material including a semiconductor chip 2408 as an active component (FIG. 22).
(E ')).

【0403】図22(a)に示すように、第1の金属層
2401として、厚み35μmの電解銅箔を準備した。
まず、銅塩原料をアルカリ性浴に溶解し、これを高電流
密度となるように回転ドラムに電着させ、金属層(銅
層)を作製する。この銅層を連続的に巻き取って、電解
銅箔を作製した。
As shown in FIG. 22A, an electrolytic copper foil having a thickness of 35 μm was prepared as the first metal layer 2401.
First, a copper salt raw material is dissolved in an alkaline bath, and this is electrodeposited on a rotating drum so as to have a high current density, thereby producing a metal layer (copper layer). The copper layer was continuously wound to produce an electrolytic copper foil.

【0404】つぎに、図22(b)に示すように、ドラ
イフィルムレジスト2404を用いて、配線の逆パター
ンを形成した。しかる後に、図22(c)に示すよう
に、前記第1の金属層2401の面上に、銀で構成され
た配線パターン形成用の金属層2403を、厚み9μm
になるように、電解メッキ法によって積層し、図22
(d)に示すような2層構造を作製した。この表面の中
心線平均粗さ(Ra)が、4μm程度になるように粗面
化処理を施した。
Next, as shown in FIG. 22B, a reverse pattern of wiring was formed by using a dry film resist 2404. Thereafter, as shown in FIG. 22C, a metal layer 2403 made of silver and having a thickness of 9 μm is formed on the surface of the first metal layer 2401.
22 by electroplating so that
A two-layer structure as shown in FIG. The surface was roughened so that the center line average roughness (Ra) of the surface was about 4 μm.

【0405】次に、受動部品(インダクタ、コンデン
サ、および抵抗)に相当する部分をスクリーン印刷にて
形成した。本実施例では、セラミック基板に実装するこ
とを想定して、同時焼成可能な受動部品の構成を設定し
た。
Next, portions corresponding to passive components (inductors, capacitors, and resistors) were formed by screen printing. In the present embodiment, the configuration of passive components that can be co-fired is set on the assumption that the passive components are mounted on a ceramic substrate.

【0406】インダクタ2405としては、Ni−Zn
フェライト粉と、アクリル樹脂5重量%(共栄社化学
製:重合度100cps)、ターピネオール(関東化学
社製)15重量%、BBP(関東化学社製)5重量%と
を用い、これらの成分を3本ロールにて混練し、ペース
ト状のものを作製した。
As the inductor 2405, Ni—Zn
Using ferrite powder, 5% by weight of acrylic resin (manufactured by Kyoeisha Chemical: degree of polymerization: 100 cps), 15% by weight of terpineol (manufactured by Kanto Kagaku), and 5% by weight of BBP (manufactured by Kanto Kagaku), these three components were used. The mixture was kneaded with a roll to produce a paste.

【0407】コンデンサ2406としては、Pb系ペロ
ブスカイト化合物(PbO-MgO-Nb2O5-NiO-WO3-TiO2)粉体
を用いて、同様の構成で3本ロールにて混練し、ペース
ト状のものを作製した。抵抗体2407としては、酸化
ルテニウム粉末5〜50重量%に低融点ほう珪酸ガラス
95〜50重量%を混合したものを用い、同様にペース
ト状のものを作製した。
[0407] As the capacitor 2406, Pb-based perovskite compound (PbO-MgO-Nb 2 O 5 -NiO-WO 3 -TiO 2) with powder, and kneaded with three rolls in a similar configuration, pasty Was prepared. As the resistor 2407, a mixture of ruthenium oxide powder of 5 to 50% by weight and low melting point borosilicate glass of 95 to 50% by weight was used, and a paste-like one was similarly produced.

【0408】これらのペーストを用い、所定形状のマス
クを用いて、図22(d)に示す2層構造上に、図22
(e)に示すように、インダクタ2405、コンデンサ
2406、抵抗体2407をそれぞれ印刷形成した。印
刷後は、90℃、20分の条件で乾燥させておいた。
Using these pastes and a mask having a predetermined shape, the two-layer structure shown in FIG.
As shown in (e), an inductor 2405, a capacitor 2406, and a resistor 2407 were formed by printing. After printing, it was dried at 90 ° C. for 20 minutes.

【0409】なお、セラミック基板に転写、焼成および
固定を行う場合は、半導体チップ等の能動部品は転写材
に形成しない(図22(e)参照)。しかし、樹脂基板
に転写する場合は、能動部品として半導体チップ240
8等をフリップチップ実装してもよい(図22(e’)
参照)。フリップチップ実装後は、アンダーフィル24
11を、半導体チップ2408と配線パターン2412
との隙間を埋めるように注入し、150℃にて、完全に
硬化、一体化させてもよい。
When transferring, firing and fixing to a ceramic substrate, active components such as semiconductor chips are not formed on the transfer material (see FIG. 22 (e)). However, when transferring to a resin substrate, the semiconductor chip 240
8 etc. may be flip-chip mounted (FIG. 22 (e ')).
reference). After flip-chip mounting, underfill 24
11 with the semiconductor chip 2408 and the wiring pattern 2412
And filling at 150 ° C. to completely cure and integrate.

【0410】図22(e)の転写材を用いて、図22
(f)〜(g)に示すようにして、セラミック回路基板
を作製した。
Using the transfer material shown in FIG.
As shown in (f) to (g), a ceramic circuit board was manufactured.

【0411】まず、配線パターンを転写する基板240
9を準備した。この基板2409は、低温焼成セラミッ
ク材料と有機バインダとを含む低温焼成セラミックグリ
ーンシートAを調製し、これにビアホールを設け、前記
ビアホールに導電性ペースト2410を充填することに
より作製した。以下に、前記グリーンシートAの成分組
成を示す。
First, the substrate 240 for transferring the wiring pattern
9 was prepared. This substrate 2409 was produced by preparing a low-temperature fired ceramic green sheet A containing a low-temperature fired ceramic material and an organic binder, providing a via hole in the green sheet, and filling the via hole with a conductive paste 2410. The component composition of the green sheet A is shown below.

【0412】 (グリーンシートAの成分組成) セラミック粉末Al23とホウケイ酸ガラスとの混合物(日本電気硝子社製: MLS−2000):88重量% カルボン酸系アクリルバインダー(共栄社化学製:オリコックス8125T) :10重量% BBP(関東化学社製):2重量% 前記各成分を、前記組成になるように秤量して、これら
の混合物に粘度調整用溶剤としてトルエン溶剤を、前記
混合物のスラリー粘度が約20Pa・sになるまで添加
した。そして、これにアルミナの玉石を加え、ポット中
で48時間、速度500rpmの条件で回転混合し、ス
ラリーを調製した。
(Component Composition of Green Sheet A) Mixture of ceramic powder Al 2 O 3 and borosilicate glass (manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd .: MLS-2000): 88% by weight Carboxylic acid-based acrylic binder (manufactured by Kyoeisha Chemical: Orientation) Cox 8125T): 10% by weight BBP (manufactured by Kanto Chemical Co.): 2% by weight Each of the above components was weighed so as to have the above-mentioned composition, and a toluene solvent was added to the mixture as a viscosity adjusting solvent, and a slurry of the mixture was used. It was added until the viscosity became about 20 Pa · s. Then, a cobblestone of alumina was added thereto, and the mixture was rotated and mixed in a pot for 48 hours at a speed of 500 rpm to prepare a slurry.

【0413】つぎに、離型フィルムとして、厚み75μ
mのPPSフィルムを準備し、このPPSフィルム上に
おいて、前記スラリーを用いてドクターブレード法によ
りギャップ約0.4mmに造膜し、造膜シートを作製し
た。前記シート中の前記トルエン溶剤を揮発させ、前記
PPSフィルムを除去し、厚み220μmのグリーンシ
ートAを作製した。このグリーンシートAは、有機バイ
ンダである前記カルボン酸系アクリルバインダーに可塑
剤BBPを添加しているため、高強度、可撓性、および
良好な熱分解性を有していた。
Next, a release film having a thickness of 75 μm was prepared.
m PPS film was prepared, and on this PPS film, a film was formed to a gap of about 0.4 mm by the doctor blade method using the slurry, thereby producing a film-formed sheet. The toluene solvent in the sheet was volatilized, the PPS film was removed, and a green sheet A having a thickness of 220 μm was produced. Since the plastic sheet BBP was added to the carboxylic acid-based acrylic binder as the organic binder, the green sheet A had high strength, flexibility, and good thermal decomposition.

【0414】このグリーンシートAを、その可撓性を利
用して所定の大きさにカットし、パンチングマシーンを
用いて、ピッチが0.2mm〜2mmの等間隔になる位
置に、直径0.15mmの貫通孔(ビアホール)を設け
た。そして、この貫通孔にビアホール充填用導電性ペー
ストをスクリーン印刷法により充填した。以上の工程に
より、基板2409を作製した。導電性ペースト241
0は、以下の材料を、以下の組成になるように調製し、
三本ロールにより混練したものを用いた。
[0414] The green sheet A is cut into a predetermined size by utilizing its flexibility, and a punching machine is used to cut the green sheet A at a position having a pitch of 0.2mm to 2mm and a diameter of 0.15mm. (Via holes) were provided. Then, the through holes were filled with a conductive paste for filling via holes by a screen printing method. Through the above steps, the substrate 2409 was manufactured. Conductive paste 241
0 prepares the following materials to have the following composition,
What was kneaded with three rolls was used.

【0415】 (導電性ペースト2410) 球形状の銀粒子(三井金属鉱業社製:粒径3μm):75重量% アクリル樹脂(共栄社化学製:重合度100cps):5重量% ターピネオール(関東化学社製):15重量% BBP(関東化学社製):5重量% つぎに、図22(f)に示すように、前記基板2409
の両面に、図22(e)の転写材が接するように配置
し、熱プレスを用いて、プレス温度70℃、圧力約5.
88×106Pa(60kg/cm2)で5分間、加熱加
圧処理した。なお、コンデンサ2406に関して、その
誘電体層を上下電極面で挟む構造にするために、基板2
409上に予め、電極パターン2411を転写等により
形成しておいてもよい。このような方法は、コンデンサ
が印刷形成された本発明の転写材を用いる場合にのみ可
能であり、基板グリーンシート上に誘電体層を印刷する
従来の方法では困難であった。
(Conductive paste 2410) Spherical silver particles (manufactured by Mitsui Kinzoku Mining Co., Ltd .: particle size 3 μm): 75% by weight Acrylic resin (manufactured by Kyoeisha Chemical: polymerization degree 100 cps): 5% by weight Terpineol (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) ): 15% by weight BBP (manufactured by Kanto Chemical Co.): 5% by weight Next, as shown in FIG.
The transfer material shown in FIG. 22 (e) is placed in contact with both sides of the substrate, and a press temperature of 70 ° C. and a pressure of about 5.
Heat and pressure treatment was performed at 88 × 10 6 Pa (60 kg / cm 2 ) for 5 minutes. The capacitor 2406 has a structure in which the dielectric layer is sandwiched between upper and lower electrode surfaces.
The electrode pattern 2411 may be formed on the 409 in advance by transfer or the like. Such a method is possible only when the transfer material of the present invention in which a capacitor is formed by printing is used, and it is difficult with a conventional method of printing a dielectric layer on a substrate green sheet.

【0416】この加熱加圧処理により、前記基板240
9中のアクリル樹脂が溶融軟化して、前記第2の金属層
の配線層2403及び回路部品2405,2406,2
407が、基板2409中に埋没した。
[0416] By this heating and pressing treatment, the substrate 240
9 melts and softens, and the wiring layer 2403 of the second metal layer and the circuit components 2405, 2406, 2
407 was buried in the substrate 2409.

【0417】この基板2409と転写材との積層体を冷
却した後、前記積層体から、転写材のキャリアである金
属層2401を剥離することにより、両面に配線層24
03および回路部品2405,2406,2407が転
写された回路基板シートが得られた。
After cooling the laminate of the substrate 2409 and the transfer material, the metal layer 2401, which is a carrier of the transfer material, is peeled from the laminate to form a wiring layer 24 on both surfaces.
03 and the circuit board sheet on which the circuit components 2405, 2406, and 2407 were transferred.

【0418】そして、この回路基板シートを、その焼成
温度で焼結しないアルミナ無機フィラーを原料とするグ
リーンシートで挟み、大気中雰囲気で脱バインダおよび
焼成することにより、固定を行った。まず、回路基板
(図22(g))中の有機バインダを除去するため、電
気炉を用いて、25℃/時間の昇温スピードで、500
℃まで加熱し、温度500℃で2時間処理した。そし
て、ベルト炉を用い、前記脱バインダ処理済みの配線基
板を、大気中で900℃、20分間処理することにより
焼成を行った。この条件は、昇温が20分、降温が20
分、インアウト合計60分とした。焼成後は、アルミナ
層を容易に取り除くことができた。
Then, the circuit board sheet was sandwiched between green sheets made of an alumina inorganic filler which was not sintered at the firing temperature, and was fixed by removing the binder and firing in the air atmosphere. First, in order to remove the organic binder in the circuit board (FIG. 22 (g)), an electric furnace was used at a heating rate of 25 ° C./hour at 500 ° C.
C. and treated at a temperature of 500.degree. C. for 2 hours. Then, using a belt furnace, the wiring substrate subjected to the binder removal treatment was baked by treating it at 900 ° C. for 20 minutes in the air. The condition is that the temperature rise is 20 minutes and the temperature fall is 20 minutes.
Minutes and in / out total 60 minutes. After firing, the alumina layer could be easily removed.

【0419】この配線基板は、焼成後、平坦な実装表面
が形成された。この回路基板(図22(g))の配線層
2403上に、金メッキ層を形成してもよい。
[0419] After the firing, the wiring board had a flat mounting surface. A gold plating layer may be formed on the wiring layer 2403 of this circuit board (FIG. 22G).

【0420】この回路基板には、反り、クラック、ゆが
みは、発生しなかった。これは、平面方向に無収縮な焼
結工法を採用していることにも起因する、この工法を採
用することによって、銅箔配線とセラミック基板との同
時焼成が実現できる。回路部品(インダクタ、コンデン
サ、抵抗体)のそれぞれの実装位置も正確であり、厳密
な設計通りの回路基板を、一括転写で形成することがで
きた。
[0420] No warping, cracking, or distortion occurred in this circuit board. This is also due to the sintering method that does not shrink in the plane direction. By adopting this method, simultaneous firing of the copper foil wiring and the ceramic substrate can be realized. The mounting positions of the circuit components (inductor, capacitor, resistor) were also accurate, and a circuit board as strictly designed could be formed by batch transfer.

【0421】さらに、コンデンサ高温負荷信頼性試験
(125℃、50V、1000時間)を行っても、コン
デンサ2406の誘電体層に絶縁抵抗の劣化はなく、1
6Ω以上の絶縁抵抗を確保できた。また、誘電体層の
誘電率が5000,基板層の誘電率が8.1であった。
インダクタ2405のインダクタンスは、0.5μHを
確保することができた。また、抵抗体2407の抵抗値
については、100Ωから1MΩの任意の値を実現する
ことができた。
Further, even when a capacitor high-temperature load reliability test (125 ° C., 50 V, 1000 hours) was performed, the dielectric layer of the capacitor 2406 did not show any deterioration in insulation resistance.
0 was able to secure more than 6 Ω of insulation resistance. The dielectric constant of the dielectric layer was 5000 and the dielectric constant of the substrate layer was 8.1.
The inductance of the inductor 2405 was able to secure 0.5 μH. In addition, the resistance value of the resistor 2407 could be arbitrarily set in a range of 100Ω to 1MΩ.

【0422】このように、本発明の転写材を用いると、
インダクタ、コンデンサ、および抵抗体等の受動部品を
含む回路形成を容易に実現することができた。
As described above, when the transfer material of the present invention is used,
Circuit formation including passive components such as inductors, capacitors, and resistors could be easily realized.

【0423】このほかに、本実施例の利点は、平面方向
に無収縮な焼成プロセスと、メッキ法による緻密な導電
パターンの転写プロセスによって、極めて導電率の大き
な配線が得られ、かつ、配線金属に銀を用いることによ
って、大気中で脱バインダおよび焼成ができることであ
る。特に、後者のプロセスを採用できることから、基板
組成、インダクタ、コンデンサ、および抵抗体等の受動
部品の各組成は、幅広く選択することができる。
In addition, the advantage of this embodiment is that the baking process that does not shrink in the plane direction and the process of transferring a dense conductive pattern by plating can provide a wiring having extremely high conductivity, By using silver, binder removal and firing can be performed in the atmosphere. In particular, since the latter process can be adopted, each composition of the passive components such as the substrate composition, the inductor, the capacitor, and the resistor can be widely selected.

【0424】なお、図22(e’)に示す転写材を、樹
脂系の基板に転写、実装、固定する場合を、図22
(f’)(g’)に示しているが、セラミックグリーン
シートの場合と同様に、一括転写、実装が良好に行える
ことが確認できている。
The case where the transfer material shown in FIG. 22 (e ') is transferred, mounted and fixed to a resin-based substrate is shown in FIG.
As shown in (f ′) and (g ′), it has been confirmed that batch transfer and mounting can be performed well as in the case of the ceramic green sheet.

【0425】(実施例12)図23(a)〜(h)は、
第5の転写材を用いた配線基板の製造工程の概略の一例
を示す断面図である。
(Embodiment 12) FIGS. 23 (a) to 23 (h)
It is sectional drawing which shows an example of the outline of the manufacturing process of the wiring board using a 5th transfer material.

【0426】図23(a)〜(f)に示すようにして、
第5の転写材を作製した。
As shown in FIGS. 23A to 23F,
A fifth transfer material was produced.

【0427】最初に、図23(a)に示すように、第1
の金属層2501として、厚み35μmの電解銅箔を準
備した。具体的には、銅塩原料をアルカリ性浴に溶解
し、これを高電流密度となるように回転ドラムに電着さ
せ、金属層(銅層)を作製し、この銅層を連続的に巻き
取って、電解銅箔を作製した。
First, as shown in FIG.
As the metal layer 2501, an electrolytic copper foil having a thickness of 35 μm was prepared. Specifically, a copper salt raw material is dissolved in an alkaline bath, and this is electrodeposited on a rotating drum so as to have a high current density to form a metal layer (copper layer), and the copper layer is continuously wound. Thus, an electrolytic copper foil was produced.

【0428】つぎに、前記第1の金属層2501の面上
に、ニッケルリン合金の薄いメッキ層を、剥離層250
2として形成した。配線パターン形成用の金属層250
3として、前記第1の金属層2501と同じ電解銅箔
を、厚み9μmになるように、電解メッキ法によって積
層し、第2の金属層2503を形成した。これにより、
3層構造からなる積層体を作製した(図23(a)参
照)。
Next, a thin plating layer of a nickel-phosphorus alloy is formed on the surface of the first metal layer
2 was formed. Metal layer 250 for forming wiring pattern
As No. 3, a second metal layer 2503 was formed by laminating the same electrolytic copper foil as that of the first metal layer 2501 to a thickness of 9 μm by electrolytic plating. This allows
A laminate having a three-layer structure was produced (see FIG. 23A).

【0429】この表面の中心線平均粗さ(Ra)が、4
μm程度になるように粗面化処理を施した。なお、前記
粗面化処理は、前記電解銅箔に、銅の微細な粒を析出さ
せることにより行った。
The center line average roughness (Ra) of this surface is 4
The surface was roughened to a thickness of about μm. The roughening treatment was performed by depositing fine copper particles on the electrolytic copper foil.

【0430】つぎに、図23(b)に示すように、前記
積層体に、フォトリソグラフィ法によりドライフィルム
レジスト(DFR)2504を貼り、図23(c)に示す
ように、配線パターン部分の露光および現像を行う。そ
して、図23(d)に示すように、前記積層体のうち第
2の金属層2503を、化学エッチング法(塩化第2銅
水溶液にアンモニウムイオンを添加して塩基系にしたも
のに浸積)によりエッチングし、任意の配線パターンに
形成した。このエッチャントによれば、第2の金属層2
503のみエッチングされ、剥離層であるニッケルリン
合金層はエッチングされない。
Next, as shown in FIG. 23 (b), a dry film resist (DFR) 2504 is attached to the laminate by photolithography, and as shown in FIG. And development. Then, as shown in FIG. 23 (d), the second metal layer 2503 of the laminate is immersed in a chemical etching method (basic system obtained by adding ammonium ions to a cupric chloride aqueous solution). To form an arbitrary wiring pattern. According to this etchant, the second metal layer 2
Only 503 is etched, and the nickel-phosphorus alloy layer which is a peeling layer is not etched.

【0431】しかる後に、図23(e)に示すように、
残ったドライフィルムレジストを剥離剤で除去し、転写
材を得た。
Thereafter, as shown in FIG.
The remaining dry film resist was removed with a release agent to obtain a transfer material.

【0432】次に、受動部品に相当する部分をスクリー
ン印刷にて形成した。本実施例では、セラミック基板に
実装することを想定して、同時焼成可能なインダクタ、
コンデンサ、および抵抗体を用いた。
Next, a portion corresponding to a passive component was formed by screen printing. In this embodiment, assuming that the inductor is mounted on a ceramic substrate, an inductor that can be co-fired,
A capacitor and a resistor were used.

【0433】インダクター2505としては、Ni−Z
nフェライト粉と、アクリル樹脂5重量%(共栄社化学
製:重合度100cps)、ターピネオール(関東化学
社製)15重量%、BBP(関東化学社製)5重量%と
を用い、これらの成分を3本ロールにて混練し、ペース
ト状のものを作製した。
As the inductor 2505, Ni-Z
Using n ferrite powder, 5% by weight of an acrylic resin (manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd .: degree of polymerization: 100 cps), 15% by weight of terpineol (manufactured by Kanto Kagaku), and 5% by weight of BBP (manufactured by Kanto Kagaku), these components were used in 3 parts The mixture was kneaded with this roll to produce a paste.

【0434】コンデンサ2506としては、Pb系ペロ
ブスカイト化合物(PbO-MgO-Nb2O5-NiO-WO3-TiO2)粉体
を用いて、同様の構成で3本ロールにて混練し、ペース
ト状のものを作製した。
As the capacitor 2506, a Pb-based perovskite compound (PbO-MgO-Nb 2 O 5 -NiO-WO 3 -TiO 2 ) powder was kneaded with three rolls in the same configuration, and paste was formed. Was prepared.

【0435】抵抗体2507としては、酸化ルテニウム
粉末5〜50wt%に低融点ほう珪酸ガラス95〜50
wt%を混合したものを用い、同様にペースト状のもの
を作製した。
As the resistor 2507, ruthenium oxide powder of 5 to 50 wt% and low melting point borosilicate glass of 95 to 50 wt.
A paste-like product was prepared in the same manner by using a mixture of wt%.

【0436】これらのペーストを用いて、所定形状のマ
スクを用いて、図23(e)に示す転写材上に、図23
(f)に示すように、インダクタ2505,コンデンサ
2506,および抵抗体2507を印刷形成した。この
転写材を用いて、図23(g)〜(h)に示すようにし
て、セラミック回路基板を作製した。
Using these pastes and a mask of a predetermined shape, the transfer material shown in FIG.
As shown in (f), the inductor 2505, the capacitor 2506, and the resistor 2507 were formed by printing. Using this transfer material, a ceramic circuit board was manufactured as shown in FIGS. 23 (g) to 23 (h).

【0437】まず、基板2508を準備した。この基板
2508は、低温焼成セラミック材料と有機バインダと
を含む低温焼成セラミックグリーンシートBを調製し、
これにビアホールを設け、前記ビアホールに導電性ペー
スト2509を充填することにより作製した。以下に、
前記グリーンシートBの成分組成を示す。
[0437] First, a substrate 2508 was prepared. This substrate 2508 prepares a low-temperature fired ceramic green sheet B containing a low-temperature fired ceramic material and an organic binder,
A via hole was provided in the via hole, and the via hole was filled with a conductive paste 2509 to produce the via hole. less than,
2 shows the component composition of the green sheet B.

【0438】 (グリーンシートBの成分組成) セラミック粉末Al23とホウケイ酸鉛ガラスとの混合物(日本電気硝子社製 :MLS−1000):88重量% メタクリル酸系アクリルバインダー(共栄社化学製:オリコックス7025) :10重量% BBP(関東化学社製):2重量% 前記各成分を、前記組成になるように秤量して、これら
の混合物に粘度調整用溶剤としてトルエン溶剤を、前記
混合物のスラリー粘度が約20Pa・sになるまで添加
した。そして、これにアルミナの玉石を加え、ポット中
で48時間、速度500rpmの条件で回転混合し、ス
ラリーを調製した。
(Component Composition of Green Sheet B) Mixture of ceramic powder Al 2 O 3 and lead borosilicate glass (manufactured by Nippon Electric Glass Co., Ltd .: MLS-1000): 88% by weight Methacrylic acrylic binder (manufactured by Kyoeisha Chemical: Oricox 7025): 10% by weight BBP (manufactured by Kanto Chemical Co.): 2% by weight Each of the above components was weighed so as to have the above composition, and a toluene solvent was added to the mixture as a viscosity adjusting solvent, and the mixture was mixed with a toluene solvent. It was added until the slurry viscosity became about 20 Pa · s. Then, a cobblestone of alumina was added thereto, and the mixture was rotated and mixed in a pot for 48 hours at a speed of 500 rpm to prepare a slurry.

【0439】つぎに、離型フィルムとして、厚み75μ
mのPPSフィルムを準備し、このPPSフィルム上に
おいて、前記スラリーを用いて、ドクターブレード法に
より、ギャップ約0.4mmに造膜し、造膜シートを作
製した。前記シート中の前記トルエン溶剤を揮発させ、
前記PPSフィルムを除去し、厚み220μmのグリー
ンシートBを作製した。このグリーンシートBは、有機
バインダである前記メタクリル酸系アクリルバインダー
に可塑剤BBPを添加しているため、可撓性、および良
好な熱分解性を有していた。
Next, a release film having a thickness of 75 μm was prepared.
m PPS film was prepared, and a film was formed on this PPS film using the slurry by a doctor blade method so as to have a gap of about 0.4 mm. Volatilize the toluene solvent in the sheet,
The PPS film was removed to produce a green sheet B having a thickness of 220 μm. The green sheet B had flexibility and good thermal decomposability because the plasticizer BBP was added to the methacrylic acrylic binder as the organic binder.

【0440】このグリーンシートBを、その可撓性を利
用して所定の大きさにカットし、パンチングマシーンを
用いて、ピッチが0.2mm〜2mmの等間隔になる位
置に、直径0.15mmの貫通孔(ビアホール)を設け
た。そして、この貫通孔に、ビアホール充填用導電性ペ
ースト2509を、スクリーン印刷法により充填した。
以上の工程により、基板2508を作製した。なお、導
電性ペースト2509は、以下の材料を、以下の組成に
なるように調製し、三本ロールにより混練したものを用
いた。
The green sheet B is cut into a predetermined size by utilizing its flexibility, and a punching machine is used to cut the green sheet B at a position having a pitch of 0.2 mm to 2 mm and a pitch of 0.15 mm. (Via holes) were provided. Then, the through-hole was filled with a conductive paste 2509 for filling a via hole by a screen printing method.
Through the above steps, the substrate 2508 was manufactured. The conductive paste 2509 used was prepared from the following materials so as to have the following composition and kneaded with a three-roll mill.

【0441】 (導電性ペースト2509) 球形状の銀粒子(三井金属鉱業社製:粒径3μm):75重量% アクリル樹脂(共栄社化学製:重合度100cps):5重量% ターピネオール(関東化学社製):15重量% BBP(関東化学社製):5重量% つぎに、基板2508の両面に、前述のように作製した
転写材(図23(f))が接するように配置し、熱プレ
スを用いて、プレス温度70℃、圧力約5.88×10
6Pa(60kg/cm2)で5分間、加熱加圧処理し
た。なお、コンデンサ2506に関して、その誘電体を
上下電極面で挟む構造にするために、基板2508上に
予め、電極パターン2510を、転写等により形成して
おいてもよい。このような方法は、コンデンサが印刷形
成された本発明の転写材を用いる場合にのみ可能であ
り、基板グリーンシート上に直接誘電体層を印刷する従
来の方法では困難であった。
(Conductive paste 2509) Spherical silver particles (Mitsui Metal Mining Co., Ltd .: particle size 3 μm): 75% by weight Acrylic resin (Kyoeisha Chemical: degree of polymerization 100 cps): 5% by weight Terpineol (Kanto Chemical Co., Ltd.) ): 15% by weight BBP (manufactured by Kanto Chemical Co.): 5% by weight Next, the transfer material (FIG. 23 (f)) prepared as described above is arranged on both sides of the substrate 2508 so as to be in contact with it, and hot pressing is performed. Using a press temperature of 70 ° C. and a pressure of about 5.88 × 10
Heat and pressure treatment was performed at 6 Pa (60 kg / cm 2 ) for 5 minutes. Note that the electrode pattern 2510 may be formed in advance on the substrate 2508 by transfer or the like so that the capacitor 2506 has a structure in which the dielectric is sandwiched between the upper and lower electrode surfaces. Such a method is possible only when the transfer material of the present invention in which a capacitor is formed by printing is used, and it has been difficult with a conventional method of printing a dielectric layer directly on a substrate green sheet.

【0442】この加熱加圧処理により、前記基板250
8中のアクリル樹脂が溶融軟化して、配線パターンであ
る第2の金属層2503と、回路部品であるインダクタ
2505、コンデンサ2506、および抵抗体2507
とが、基板2508中に埋没した。
[0442] By this heating and pressing treatment, the substrate 250
8 melts and softens, the second metal layer 2503 as a wiring pattern, the inductor 2505, the capacitor 2506, and the resistor 2507 as circuit components
Were buried in the substrate 2508.

【0443】このような転写材と基板2508との積層
体を冷却した後、前記積層体から転写材のキャリアであ
る第1の金属層2501と、剥離層2502とを剥離す
ることにより、両面に配線パターンである第2の金属層
2503と、回路部品であるインダクタ2505、コン
デンサ2506、および抵抗体2507とが転写された
回路基板シートが得られた。
After the laminate of the transfer material and the substrate 2508 is cooled, the first metal layer 2501, which is a carrier of the transfer material, and the release layer 2502 are separated from the laminate to form a laminate on both surfaces. A circuit board sheet to which the second metal layer 2503 as a wiring pattern and the inductors 2505, capacitors 2506 and resistors 2507 as circuit components were transferred was obtained.

【0444】そして、この回路基板シートを基板の焼成
温度で焼結しないアルミナ無機フィラーだけを原料とす
るグリーンシートで挟んで積層を行い、窒素中雰囲気で
脱バインダおよび焼成することにより、固定を行った。
Then, the circuit board sheet is sandwiched between green sheets made only of alumina inorganic filler which is not sintered at the firing temperature of the board, and laminated. The binder is fixed in a nitrogen atmosphere by removing the binder and firing. Was.

【0445】まず、回路基板シート(図23(h))中
の有機バインダを除去するため、電気炉を用いて25℃
/時間の昇温スピードで、600℃まで加熱し、温度6
00℃で2時間処理した。そして、ベルト炉を用い、脱
バインダ処理済みの配線基板を、窒素中で900℃、2
0分間処理することにより焼成を行った。この条件は、
昇温が20分、降温が20分、インアウト合計60分と
した。焼成後は、アルミナ層を容易に取り除くことがで
きた。
First, in order to remove the organic binder in the circuit board sheet (FIG. 23H), an electric furnace was used at 25 ° C.
Heating to 600 ° C at a heating rate of
Treated at 00 ° C. for 2 hours. Then, using a belt furnace, the wiring substrate subjected to the binder removal treatment is heated at 900 ° C. for 2 hours in nitrogen.
Baking was performed by treating for 0 minutes. This condition
The temperature was raised for 20 minutes, the temperature was lowered for 20 minutes, and the total in-out time was 60 minutes. After firing, the alumina layer could be easily removed.

【0446】この配線基板(図23(h))には、平坦
な実装表面が形成された。なお、この回路基板(図23
(h))の配線層503上に、金メッキ層を形成しても
よい。
A flat mounting surface was formed on this wiring board (FIG. 23 (h)). This circuit board (FIG. 23)
A gold plating layer may be formed on the wiring layer 503 of (h)).

【0447】この回路基板には、反り、クラック、ゆが
みは、発生しなかった。これは、平面方向に無収縮な焼
結工法を採用しているため、セラミック基板が厚み方向
のみに収縮したことによる。これにより、銅箔配線とセ
ラミック基板との同時焼成が実現できた。回路部品それ
ぞれの実装位置も正確であり、厳密な設計通りの回路基
板を、一括転写で形成することができた。
[0447] No warping, cracking, or distortion occurred on this circuit board. This is because the ceramic substrate shrinks only in the thickness direction because a sintering method that does not shrink in the plane direction is employed. As a result, simultaneous firing of the copper foil wiring and the ceramic substrate was realized. The mounting position of each circuit component was also accurate, and a circuit board as strictly designed could be formed by batch transfer.

【0448】さらに、コンデンサ高温負荷信頼性試験
(125℃、50V、1000時間)を行っても、コン
デンサ2506の誘電体層に絶縁抵抗の劣化はなく、1
6Ω以上の絶縁抵抗を確保できた。また、誘電体層の
誘電率が5000,基板層の誘電率が8.1であった。
インダクター2505のインダクタンスは、0.5μH
を確保することができた。また、抵抗体の抵抗値につい
ては、100Ωから1MΩの任意の値を実現することが
できた。
Further, even when a capacitor high-temperature load reliability test (125 ° C., 50 V, 1000 hours) was performed, the dielectric layer of the capacitor 2506 showed no deterioration in insulation resistance.
0 was able to secure more than 6 Ω of insulation resistance. The dielectric constant of the dielectric layer was 5000 and the dielectric constant of the substrate layer was 8.1.
The inductance of the inductor 2505 is 0.5 μH
Was able to secure. Further, as for the resistance value of the resistor, an arbitrary value of 100Ω to 1MΩ could be realized.

【0449】このように、本発明の転写材を用いると、
インダクタ、コンデンサ、および抵抗体などを含む回路
形成を容易に実現することができた。
As described above, when the transfer material of the present invention is used,
A circuit including an inductor, a capacitor, a resistor, and the like could be easily formed.

【0450】(実施例13)図24(a)〜(h)は、
前記第6の転写材を用いた配線基板の製造工程の概略の
一例を示す断面図である。
(Embodiment 13) FIGS. 24A to 24H show
It is sectional drawing which shows an example of the outline of the manufacturing process of the wiring board using the said 6th transfer material.

【0451】まず、図24(a)〜(f)に示すように
して、第6の転写材を作製した。
First, as shown in FIGS. 24A to 24F, a sixth transfer material was manufactured.

【0452】まず、第1の金属層2601として、厚み
35μmの電解銅箔を準備した。まず、銅塩原料をアル
カリ性浴に溶解し、これを高電流密度となるように回転
ドラムに電着させ、金属層(銅層)を作製し、この銅層
を連続的に巻き取って電解銅箔を作製した。
First, as the first metal layer 2601, an electrolytic copper foil having a thickness of 35 μm was prepared. First, a copper salt raw material is dissolved in an alkaline bath, and this is electrodeposited on a rotating drum so as to have a high current density to form a metal layer (copper layer). A foil was made.

【0453】つぎに、前記第1の金属層2601の面上
に有機層で構成された薄い接着剤を塗布し、剥離層26
02を形成する。そして、配線パターン形成用の第2の
金属層2603として、前記第1の金属層2601と同
じ電解銅箔を厚み9μmになるように電解メッキ法によ
って積層した。これにより、図24(a)に示すよう
な、3層構造からなる積層体を作製した。
Next, a thin adhesive composed of an organic layer is applied on the surface of the first metal layer 2601,
02 is formed. Then, as the second metal layer 2603 for forming the wiring pattern, the same electrolytic copper foil as that of the first metal layer 2601 was laminated by electroplating so as to have a thickness of 9 μm. Thus, a laminate having a three-layer structure as shown in FIG.

【0454】この表面の中心線平均粗さ(Ra)が、4
μm程度になるように粗面化処理を施した。なお、前記
粗面化処理は、前記電解銅箔に、銅の微細な粒を析出さ
せることにより行った。
The center line average roughness (Ra) of this surface is 4
The surface was roughened to a thickness of about μm. The roughening treatment was performed by depositing fine copper particles on the electrolytic copper foil.

【0455】つぎに、図24(b)に示すように、前記
積層体に、フォトリソグラフィ法によりドライフィルム
レジスト(DFR)2604を貼った。そして、図24
(c)に示すように、配線パターン部分の露光および現
像を行う。その後、図24(d)に示すように、前記積
層体のうち、第2の金属層2602のみならず、第1の
金属層2601の表層部も、化学エッチング法(塩化第
2鉄水溶液に浸積)によりエッチングして、任意の配線
パターンに形成した。
Next, as shown in FIG. 24B, a dry film resist (DFR) 2604 was affixed to the laminate by photolithography. And FIG.
As shown in (c), exposure and development of the wiring pattern portion are performed. Thereafter, as shown in FIG. 24D, not only the second metal layer 2602 but also the surface portion of the first metal layer 2601 in the laminate is subjected to a chemical etching method (immersion in an aqueous ferric chloride solution). ) To form an arbitrary wiring pattern.

【0456】しかる後に、DFR2604を剥離剤で除
去し、図24(e)に示すような3層構造を得た。第1
の金属層と第2の金属層が同じ銅で構成されているた
め、一回の化学エッチングで、第2の金属層のみならず
第1の金属層にも部分的に凸部の配線層を形成すること
ができる。この構造は、キャリア層である第1の金属層
まで配線パターン状に加工されているところに特徴があ
る。なお、本実施例では、剥離層として有機層を用いた
が、例えば、ニッケルメッキ層等を用いても、同様の作
用を有する転写材を得ることができる。
Thereafter, the DFR 2604 was removed with a release agent to obtain a three-layer structure as shown in FIG. First
Since the first metal layer and the second metal layer are made of the same copper, the wiring layer having a convex portion is formed not only on the second metal layer but also on the first metal layer by one chemical etching. Can be formed. This structure is characterized in that it is processed into a wiring pattern up to the first metal layer as a carrier layer. In this embodiment, an organic layer is used as the release layer. However, for example, a transfer material having the same function can be obtained by using a nickel plating layer or the like.

【0457】この3層構造では、前記第1の金属層26
01と配線パターン形成用の第2の金属層2603との
剥離層2602が、接着力自体は弱くとも耐薬品性に優
れ、この3層構造の全体にエッチング処理を行っても、
層間が剥離することなく問題なく配線パターンを形成で
きた。一方、前記第1の金属層2601と第2の金属層
2603との剥離層2602を介した接着強度は、40
N/mであり、剥離性に優れていた。
In the three-layer structure, the first metal layer 26
01 and the second metal layer 2603 for forming a wiring pattern are excellent in chemical resistance even though the adhesive force itself is weak, and even if the entire three-layer structure is etched,
A wiring pattern could be formed without any problem without delamination between layers. On the other hand, the adhesion strength between the first metal layer 2601 and the second metal layer 2603 via the release layer 2602 is 40
N / m, and was excellent in peelability.

【0458】次に、回路部品をスクリーン印刷にて形成
した。本実施例では、樹脂系基板に実装することを想定
して、同時硬化可能なインダクタ、コンデンサ、および
抵抗体等の受動部品のみを形成した。
Next, circuit components were formed by screen printing. In this embodiment, only passive components such as inductors, capacitors, and resistors that can be simultaneously cured are formed on the assumption that they are mounted on a resin-based substrate.

【0459】インダクター2605としては、Ni−Z
nフェライト粉と、液状エポキシ樹脂10wt%(日本
レック社製、EF−450)、カップリング剤0.3重
量%(味の素社製、チタネート系:46B)とを用い、
これらの成分を高速で公転、自転する混練機を用いて混
練し、ペースト状のものを作製した。
As the inductor 2605, Ni-Z
n ferrite powder, 10% by weight of liquid epoxy resin (manufactured by Nippon Lec, EF-450), and 0.3% by weight of coupling agent (manufactured by Ajinomoto Co., titanate: 46B),
These components were kneaded using a kneader that revolves and rotates at high speed to produce a paste.

【0460】なお、磁性合金粉、センダスト粉をフィラ
ーとする同様の構成からなるペーストも作製した。コン
デンサ2606としては、Pb系ペロブスカイト化合物
(PbO-MgO-Nb2O5-NiO-WO3-TiO2)粉体を用いて、同様の
構成で混練機にて混練し、ペースト状のものを作製し
た。抵抗体2607としては、カーボンの含有量を変化
させた同様の構成からなるペースト状のものを作製し
た。
[0460] A paste having the same constitution using magnetic alloy powder and sendust powder as filler was also prepared. The capacitor 2606, using a Pb-based perovskite compound (PbO-MgO-Nb 2 O 5 -NiO-WO 3 -TiO 2) powder were kneaded with a kneader at the same configuration, making a paste-like did. As the resistor 2607, a paste-like resistor having the same configuration with a different carbon content was produced.

【0461】これらのペーストを用いて、所定形状のマ
スクを用いて、図24(e)に示す3層構造上に、図2
4(f)に示すように、回路部品を印刷形成することに
より、第6の転写材が形成された。印刷後は、90℃、
20分の条件で乾燥させておいた。
Using these pastes and a mask of a predetermined shape, the three-layer structure shown in FIG.
As shown in FIG. 4 (f), the sixth transfer material was formed by printing and forming circuit components. After printing, 90 ° C,
It was allowed to dry for 20 minutes.

【0462】なお、本転写材上には、さらに、本転写材
を用いて転写を行った後の配線基板に半導体チップ26
08を実装することを想定し、配線2613を形成して
おいた。
Note that the semiconductor chip 26 is further placed on the wiring substrate after the transfer using the present transfer material.
08 is assumed to be mounted, and the wiring 2613 has been formed.

【0463】しかる後に、前記図24(g)〜(h)に
示すようにして、プリント回路基板を以下の方法により
作製した。
Thereafter, as shown in FIGS. 24 (g) to (h), a printed circuit board was manufactured by the following method.

【0464】まず、基板2610を準備した。この基板
2610は、コンポジット材料からなるシート状基材を
調製し、これにビアホールを設け、前記ビアホールに導
電性ペースト2611を充填することにより作製した。
以下に、前記シート状基板2610の成分組成を示す。
First, a substrate 2610 was prepared. The substrate 2610 was manufactured by preparing a sheet-shaped base material made of a composite material, providing a via hole in the base material, and filling the via hole with a conductive paste 2611.
The component composition of the sheet-like substrate 2610 is shown below.

【0465】 (シート状基板2610の成分組成) Al23(昭和電工社製、AS−40:粒径12μm):90重量% 液状エポキシ樹脂(日本レック社製、EF−450):9.5重量% カーボンブラック(東洋カーボン社製):0.2重量% カップリング剤(味の素社製、チタネート系:46B):0.3重量% 前記各成分を、前記組成になるように秤量して、これら
の混合物に、粘度調整用溶剤としてメチルエチルケトン
溶剤を、前記混合物のスラリー粘度が約20Pa・sに
なるまで添加した。そして、これにアルミナの玉石を加
え、ポット中で48時間、速度500rpmの条件で回
転混合し、スラリーを調製した。
(Component composition of sheet-like substrate 2610) Al 2 O 3 (manufactured by Showa Denko KK, AS-40: particle size: 12 μm): 90% by weight Liquid epoxy resin (manufactured by Nippon Wrec, EF-450): 5% by weight Carbon black (manufactured by Toyo Carbon Co., Ltd.): 0.2% by weight Coupling agent (manufactured by Ajinomoto Co., titanate: 46B): 0.3% by weight The above components were weighed so as to have the above composition. To these mixtures, a methyl ethyl ketone solvent was added as a solvent for adjusting the viscosity until the slurry viscosity of the mixture became about 20 Pa · s. Then, a cobblestone of alumina was added thereto, and the mixture was rotated and mixed in a pot for 48 hours at a speed of 500 rpm to prepare a slurry.

【0466】つぎに、離型フィルムとして、厚み75μ
mのPETフィルムを準備し、このPETフィルム上に
おいて、前記スラリーを用いて、ドクターブレード法に
より、ギャップ約0.7mmに造膜し、造膜シートを作
製した。そして、この造膜シートを、温度100℃で1
時間放置することにより、前記シート中の前記メチルエ
チルケトン溶剤を揮発させ、前記PETフィルムを除去
し、厚み350μmのシート状基材601を作製した。
前記溶剤の除去を、温度100℃で行ったため、前記エ
ポキシ樹脂は、未硬化状態のままであり、前記シート状
基材は可撓性を有していた。
Next, a release film having a thickness of 75 μm was prepared.
m PET film was prepared, and a film was formed on the PET film to a gap of about 0.7 mm using the slurry by the doctor blade method. Then, this film forming sheet is heated at a temperature of 100 ° C.
By leaving it for a while, the methyl ethyl ketone solvent in the sheet was volatilized, the PET film was removed, and a sheet substrate 601 having a thickness of 350 μm was produced.
Since the removal of the solvent was performed at a temperature of 100 ° C., the epoxy resin remained in an uncured state, and the sheet-shaped substrate had flexibility.

【0467】このシート状基材を、その可撓性を利用し
て、所定の大きさにカットし、炭酸ガスレーザを用い
て、ピッチが0.2mm〜2mmの等間隔になる位置
に、直径0.15mmの貫通孔(ビアホール)を設け
た。そして、この貫通孔に、ビアホール充填用導電性ペ
ースト2611を、スクリーン印刷法により充填した。
以上の工程により、前記基板2610が作製された。前
記導電性ペースト2611は、以下の材料を、以下の組
成になるように調製し、三本ロールにより混練したもの
を用いた。
This sheet-shaped substrate is cut into a predetermined size by utilizing its flexibility, and a carbon dioxide gas laser is used to cut a sheet having a diameter of 0 mm at a position having a pitch of 0.2 mm to 2 mm at equal intervals. A through hole (via hole) of .15 mm was provided. Then, a conductive paste 2611 for filling a via hole was filled in the through hole by a screen printing method.
Through the above steps, the substrate 2610 was manufactured. The conductive paste 2611 was prepared by mixing the following materials to have the following composition and kneading them with a three-roll mill.

【0468】 (導電性ペースト2611) 球形状の銅粒子(三井金属鉱業社製:粒径2μm):85重量% ビスフェノールA型エポキシ樹脂(油化シェルエポキシ社製、エピコート82 8):3重量% グルシジルエステル系エポキシ樹脂(東都化成社製、YD−171):9重量 % アミンアダクト硬化剤(味の素社製、MY−24):3重量% つぎに、図24(g)に示すように、前記基板2610
の両面に、前述のように作成した転写材(図24
(f))の部品パターン側が接するように配置し、熱プ
レスを用いて、プレス温度120℃、圧力約9.8×1
5Pa(10kg/cm2)で5分間、加熱加圧処理し
た。
(Conductive paste 2611) Spherical copper particles (manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd .: particle size: 2 μm): 85% by weight Bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Epoxy, Epicoat 828): 3% by weight Glucidyl ester-based epoxy resin (manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., YD-171): 9% by weight Amine adduct curing agent (manufactured by Ajinomoto Co., MY-24): 3% by weight Next, as shown in FIG. The substrate 2610
24, transfer material (FIG. 24)
(F)) is arranged so that the component pattern side is in contact, and using a hot press, a press temperature of 120 ° C. and a pressure of about 9.8 × 1
Heating and pressurizing treatment was performed at 0 5 Pa (10 kg / cm 2 ) for 5 minutes.

【0469】なお、コンデンサ2606に関して、その
誘電体層を上下電極面で挟む構造にする場合は、基板2
610上に予め、電極パターン2612を転写形成して
おいてもよい。このような方法は、コンデンサが印刷形
成された本発明の転写材を用いる場合のみ可能であり、
セラミックをフィラーとするコンポジットシート上に誘
電体層を印刷する従来の方法では困難であった。
In the case where the capacitor 2606 has a structure in which the dielectric layer is sandwiched between the upper and lower electrode surfaces, the substrate 2
The electrode pattern 2612 may be transferred and formed on 610 in advance. Such a method is only possible when the transfer material of the present invention in which the capacitor is printed is used,
The conventional method of printing a dielectric layer on a composite sheet using ceramic as a filler has been difficult.

【0470】この加熱加圧処理により、基板2610中
のエポキシ樹脂(前記シート状基材および導電性ペース
ト2611中のエポキシ樹脂)が溶融軟化して、図24
(h)に示すように、回路部品パターン(インダクタ2
605、コンデンサ2606、および抵抗体2607)
と、配線パターンとしての第2の金属層2603とが、
基板2610中に埋没した。そして、加熱温度をさらに
上昇させ、温度175℃で60分間処理することによ
り、前記エポキシ樹脂を硬化させた。その後、配線26
13上に、半導体チップ2608をフリップチップ実装
した。
As a result of the heating and pressurizing treatment, the epoxy resin in the substrate 2610 (the epoxy resin in the sheet-like base material and the conductive paste 2611) is melted and softened.
As shown in (h), the circuit component pattern (inductor 2
605, capacitor 2606, and resistor 2607)
And the second metal layer 2603 as a wiring pattern
It was buried in the substrate 2610. Then, the heating temperature was further increased, and the epoxy resin was cured by treating at a temperature of 175 ° C. for 60 minutes. Then, the wiring 26
On 13, a semiconductor chip 2608 was flip-chip mounted.

【0471】これにより、前記シート状基材と全回路部
品パターンが強固に接着し、また、前記導電性ペースト
2611と各回路部品パターンとが電気的に接続(イン
ナービア接続)し、かつ強固に接着した。
As a result, the sheet-like base material and all circuit component patterns are firmly adhered to each other, and the conductive paste 2611 and each circuit component pattern are electrically connected (inner via connection) and firmly. Glued.

【0472】その後、キャリア層である第1の金属層2
601と、剥離層2602とを剥離することにより、図
24(h)に示すような、両面に回路部品パターン(イ
ンダクタ2605、コンデンサ2606、および抵抗体
2607)および配線パターン(第2の金属層260
3)を有する配線基板が得られた。なお、この配線基板
には、転写材において第1の金属層2603がエッチン
グされた深さに対応した凹部が形成され、全ての配線パ
ターンおよび回路部品パターンが、前記凹部の底部に形
成された。
After that, the first metal layer 2 serving as a carrier layer
By separating the release layer 601 and the release layer 2602, circuit component patterns (inductor 2605, capacitor 2606, and resistor 2607) and wiring patterns (second metal layer 260) are formed on both surfaces as shown in FIG.
A wiring board having the condition 3) was obtained. In this wiring board, a concave portion corresponding to the depth at which the first metal layer 2603 was etched in the transfer material was formed, and all wiring patterns and circuit component patterns were formed at the bottom of the concave portion.

【0473】なお、この転写材を用いることにより、基
板2610へ第2の金属層2603等の転写を行った際
に、前記第1の金属層2601と第2の金属層2603
との剥離層2602を介した接着面が容易に剥離し、前
記第2の金属層2603および回路部品パターン(イン
ダクタ2605、コンデンサ2606、および抵抗体2
607)のみを前記基板に転写することができた。
By using this transfer material, when the transfer of the second metal layer 2603 and the like to the substrate 2610 is performed, the first metal layer 2601 and the second metal layer 2603 are used.
The second metal layer 2603 and the circuit component pattern (the inductor 2605, the capacitor 2606, and the resistor 2)
607) could be transferred to the substrate.

【0474】本実施例では、キャリアである第1の金属
層2601が厚さ35μmの銅箔で構成されていること
から、転写時に基板2610の基材が変形しても、キャ
リア層がその変形応力に持ちこたえることができた。一
方、本実施例の転写材は、配線部分が凸部を構成してい
ることにより、圧着時に、キャリア層である第1の金属
層2601の凹部に、基板2610の基材が流れ込みや
すく、パターンを歪ませようとする横方向の変形応力を
抑制しやすい。従って、本実施例に於いてのパターン歪
みは、基材の硬化収縮分に相当する0.08%のみであ
った。
In this embodiment, since the first metal layer 2601 as a carrier is formed of a copper foil having a thickness of 35 μm, even if the base material of the substrate 2610 is deformed during transfer, the carrier layer is deformed. It was able to withstand the stress. On the other hand, in the transfer material of the present example, the base portion of the substrate 2610 easily flows into the concave portion of the first metal layer 2601 which is a carrier layer at the time of pressure bonding because the wiring portion forms the convex portion. , It is easy to suppress the lateral deformation stress that tries to distort. Therefore, the pattern distortion in this example was only 0.08%, which was equivalent to the amount of shrinkage on curing of the base material.

【0475】なお、本実施例では、有機層からなる剥離
層を用いたが、例えば200nm以下の厚みを有するN
iメッキ層等のメッキ層を剥離層に用いても、同様の配
線パターン転写形成を実現することができた。
In this example, the release layer made of an organic layer was used.
Even when a plating layer such as an i-plating layer was used as a peeling layer, the same wiring pattern transfer formation could be realized.

【0476】また、配線2613上に、半導体チップ2
608をフリップチップ実装することは、凹部に形成さ
れた配線2613にバンプを位置合わせすることによ
り、容易に行えた。
The semiconductor chip 2 is provided on the wiring 2613.
The flip-chip mounting of 608 was easily performed by aligning the bumps with the wiring 2613 formed in the recess.

【0477】回路部品それぞれの実装位置も正確であ
り、厳密な設計どうりの回路基板を、一括転写で形成す
ることができた。本実施例の配線基板は、半導体チップ
2608のバンプと配線2613との接合が良好であ
り、半導体チップ2608のバイパスコンデンサとして
機能するように実装したコンデンサ2606も、良好に
機能した。また、コンデンサ高温負荷信頼性試験(12
5℃、50V、1000時間)を行っても、コンデンサ
2606の誘電体層に絶縁抵抗の劣化はなく、10 6Ω
以上の絶縁抵抗を確保できた。
The mounting position of each circuit component is also accurate.
Circuit board of the exact design
I was able to. The wiring board of this embodiment is a semiconductor chip.
The bonding between the bump 2608 and the wiring 2613 is good.
As a bypass capacitor for the semiconductor chip 2608
Capacitor 2606 mounted to function well
Worked. In addition, capacitor high temperature load reliability test (12
5 ° C, 50V, 1000 hours)
The dielectric layer 2606 showed no deterioration in insulation resistance, 6Ω
The above insulation resistance was secured.

【0478】また、誘電体層の誘電率が200、基板層
の誘電率が8.1であった。インダクター2605のイ
ンダクタンスは、フェライト、磁性合金を問わず0.5
μH以上の十分な値を確保することができた。また、抵
抗体2607の抵抗値については、100Ωから1MΩ
の任意の値を実現することができた。
The dielectric constant of the dielectric layer was 200, and the dielectric constant of the substrate layer was 8.1. The inductance of the inductor 2605 is 0.5 regardless of ferrite or magnetic alloy.
A sufficient value of μH or more could be secured. The resistance value of the resistor 2607 ranges from 100Ω to 1 MΩ.
Any value of can be realized.

【0479】このように、本発明の転写材を用いると、
配線パターン、半導体チップ等の能動部品、並びにイン
ダクタ、コンデンサ、および抵抗等の受動部品を含む回
路形成を容易に実現することができた。
As described above, when the transfer material of the present invention is used,
Circuit formation including active components such as wiring patterns and semiconductor chips and passive components such as inductors, capacitors, and resistors could be easily realized.

【0480】(実施例14)本発明の第4〜第6の転写
材を用い、前記実施例13と同様にして作製したコンポ
ジット材料からなる基板とを用いて、図25に示す多層
配線基板を作製した。図26は、多層配線基板の各層の
作製工程の概略を示す断面図である。
Example 14 Using the fourth to sixth transfer materials of the present invention and a substrate made of a composite material manufactured in the same manner as in Example 13, the multilayer wiring board shown in FIG. Produced. FIG. 26 is a cross-sectional view schematically showing a manufacturing process of each layer of the multilayer wiring board.

【0481】図26において、2800A,2800
B,および2800Cは、転写材をそれぞれ示す。28
00Aは、主として抵抗体2803を印刷形成した転写
材である。2800Bは、主としてコンデンサ2804
となる誘電体層を印刷形成した転写材である。2800
Cは、主としてインダクタ2805となる磁性層を印刷
形成したものである。
In FIG. 26, 2800A, 2800
B and 2800C indicate transfer materials, respectively. 28
00A is a transfer material on which a resistor 2803 is mainly formed by printing. The 2800B is mainly composed of the capacitor 2804
Is a transfer material on which a dielectric layer to be printed is formed. 2800
C is formed by printing a magnetic layer to be mainly the inductor 2805.

【0482】また、本実施例では、図26(a)〜
(c)に示すように、基板シート2806中のインナー
ビアに導電性ペースト2807を予め充填したものを用
いた。その詳細な構成は、実施例13と同様であるた
め、割愛する。
In the present embodiment, FIGS.
As shown in (c), an inner via in the substrate sheet 2806 was filled with the conductive paste 2807 in advance. The detailed configuration is the same as that of the thirteenth embodiment, and thus will not be described.

【0483】また、多層配線基板の最上層の表面に形成
される配線層2808と、コンデンサ2804の一方の
電極2809とは、予め、転写等により基板シート28
06に形成しておいた。なお、この転写に用いる転写材
は、本発明の転写材と同様の構造が好ましい。
The wiring layer 2808 formed on the surface of the uppermost layer of the multilayer wiring board and one electrode 2809 of the capacitor 2804 are previously transferred to the substrate sheet 28 by transfer or the like.
06. The transfer material used for this transfer preferably has the same structure as the transfer material of the present invention.

【0484】従来、印刷で形成された受動部品を多層基
板に内蔵させる場合、基板グリーンシート上に、個々の
受動部品を印刷形成する方法が採用されていた。但し、
この工法によれば、基板表面に、数十μm厚みの段差が
発生してしまう。従って、多層化のために、基板の積層
を何層も続けようとすると、加圧焼成時にコンデンサ等
の外周端部が加圧力によって押し潰されるように変形し
て、絶縁性が低下しやすく、コンデンサの短絡等が頻繁
に発生していた。
Conventionally, when passive components formed by printing are incorporated in a multilayer substrate, a method of printing and forming individual passive components on a substrate green sheet has been adopted. However,
According to this method, a step having a thickness of several tens of μm is generated on the substrate surface. Therefore, when trying to continue the lamination of the substrate for a number of layers for multi-layering, the outer peripheral end of the capacitor or the like is deformed so as to be crushed by the pressing force at the time of pressure firing, and the insulation property is easily lowered, Frequent short-circuiting of the capacitor and the like occurred.

【0485】本実施例によれば、図26(b)に示すよ
うに、予め基板シート2806上に形成した電極パター
ン2809と位置合わせしながら、転写材2800B上
に形成された電極2802及び誘電体層2804の圧着
を行う。このとき、流動性に優れた基板シート2806
中に、これらの電極2802および誘電体層2804が
埋め込まれるので、図26(b’)に示すように、表面
に段差が全く生じない状態で、単層配線基板が作成され
る。
According to this embodiment, as shown in FIG. 26 (b), the electrode 2802 formed on the transfer material 2800B and the dielectric material are aligned with the electrode pattern 2809 formed on the substrate sheet 2806 in advance. The layer 2804 is pressed. At this time, the substrate sheet 2806 having excellent fluidity is provided.
Since the electrode 2802 and the dielectric layer 2804 are buried therein, a single-layer wiring board is formed without any step on the surface as shown in FIG. 26 (b ′).

【0486】同様に、転写材2800Aおよび2800
Cを用いて転写を行えば、全く段差は生じず、図26
(a’)および(c’)に示すように、平坦な面がそれ
ぞれ形成される。
Similarly, transfer materials 2800A and 2800A
When transfer is performed using C, no level difference occurs, and FIG.
As shown in (a ′) and (c ′), flat surfaces are respectively formed.

【0487】最後に、図26(a’)〜(c’)に示し
た単層配線基板と、図26(d’)に示すように両面に
配線パターンが転写形成された配線基板とを積層し、前
述したように加熱加圧処理によってシートを一括硬化さ
せる。これにより、インダクタ、コンデンサ、および抵
抗体等の回路部品が内蔵された各層が積層されて、図2
5に示すような多層回路基板を形成することができる。
本実施例によれば、各層とも、段差のない平坦な表面を
有するので、容易に積層工程を行うことができる。
Finally, the single-layer wiring board shown in FIGS. 26 (a ') to (c') and the wiring board having the wiring pattern transferred and formed on both sides as shown in FIG. 26 (d ') are laminated. Then, the sheet is collectively cured by the heat and pressure treatment as described above. As a result, each layer in which circuit components such as an inductor, a capacitor, and a resistor are built up is laminated, and FIG.
A multilayer circuit board as shown in FIG. 5 can be formed.
According to the present embodiment, since each layer has a flat surface with no steps, the lamination process can be easily performed.

【0488】以上のように、本発明にかかる第4〜第6
の転写材は、微細な配線パターンに加え、インダクタ、
コンデンサ、および抵抗体等の回路部品パターンを印刷
にて形成し、それらを一括して転写することができるの
で、これらを容易かつ正確に基板上に実装することが可
能である。さらに、配線パターンおよび部品パターンを
転写により実装するため、各層の表面に、配線パターン
および部品パターンが段差を生じることなく埋め込まれ
る。これにより、以降の積層工程を、配線の断線やパタ
ーン形状の崩れなどが無い状態で、容易に行うことがで
きる。
As described above, the fourth to sixth aspects of the present invention
The transfer material of, in addition to the fine wiring pattern, inductor,
Since circuit component patterns such as a capacitor and a resistor can be formed by printing and transferred collectively, these can be easily and accurately mounted on a substrate. Furthermore, since the wiring pattern and the component pattern are mounted by transfer, the wiring pattern and the component pattern are embedded in the surface of each layer without generating a step. This makes it possible to easily perform the subsequent laminating step without disconnection of the wiring or collapse of the pattern shape.

【0489】なお、前記実施形態5〜12および実施例
11〜14では、インダクタ、コンデンサ、および抵抗
のすべてが形成された転写材を例示したが、必ずしも、
これらの部品すべてが形成されていなくてもよい。
In the fifth to twelfth embodiments and the eleventh to fourteenth embodiments, the transfer material in which all of the inductor, the capacitor, and the resistor are formed is exemplified.
Not all of these components need be formed.

【0490】[0490]

【発明の効果】以上のように、本発明によれば、微細な
配線パターンおよび部品パターンを、低温で、パターン
ずれもなく、確実かつ容易に転写することができる転写
材を提供し、これを用いることにより、微細な配線パタ
ーンおよび部品パターンを有し、半導体のフリップチッ
プ実装等に有利な配線基板を実現できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a transfer material which can transfer a fine wiring pattern and a component pattern reliably and easily at a low temperature without a pattern shift. By using this, it is possible to realize a wiring board having fine wiring patterns and component patterns and advantageous for flip-chip mounting of semiconductors.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明にかかる転写用パターン形成材(以
下、転写材と称する)の第1の実施形態(第1の転写
材)の構成概略を示す断面図
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of a first embodiment (first transfer material) of a transfer pattern forming material (hereinafter, referred to as a transfer material) according to the present invention.

【図2】 本発明にかかる転写材の第2の実施形態(第
2の転写材)の構成概略を示す断面図
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating a configuration of a second embodiment (second transfer material) of the transfer material according to the present invention.

【図3】 本発明にかかる転写材の第3の実施形態(第
3の転写材)の構成概略を示す断面図
FIG. 3 is a cross-sectional view schematically illustrating a configuration of a third embodiment (third transfer material) of a transfer material according to the present invention.

【図4】 (a)〜(f)は、前記第1の転写材の製造
工程の概略を示す断面図
FIG. 4A to FIG. 4F are cross-sectional views schematically showing a manufacturing process of the first transfer material.

【図5】 (a)〜(e)は、前記第2の転写材の製造
工程の概略を示す断面図
FIGS. 5A to 5E are cross-sectional views schematically showing a manufacturing process of the second transfer material.

【図6】 (a)〜(e)は、前記第3の転写材の製造
工程の概略を示す断面図
FIGS. 6A to 6E are cross-sectional views schematically showing a manufacturing process of the third transfer material.

【図7】 (a)〜(c)は、本発明の転写材を用い
た、コンポジット配線基板の製造工程の一例の概略を示
す断面図
FIGS. 7A to 7C are cross-sectional views schematically illustrating an example of a manufacturing process of a composite wiring board using the transfer material of the present invention.

【図8】 本発明の転写材を用いて作製されたセラミッ
ク配線基板の構成概略を示す断面図
FIG. 8 is a cross-sectional view schematically showing the configuration of a ceramic wiring board manufactured using the transfer material of the present invention.

【図9】 図8のセラミック配線基板に半導体チップを
フリップチップ実装した構成概略を示す断面図
9 is a cross-sectional view schematically showing a configuration in which a semiconductor chip is flip-chip mounted on the ceramic wiring board of FIG. 8;

【図10】 (a)〜(j)は、本発明の転写材を用い
た、多層配線基板の製造工程の一例の概略を示す断面図
10A to 10J are cross-sectional views schematically illustrating an example of a manufacturing process of a multilayer wiring board using the transfer material of the present invention.

【図11】 本発明の転写材を用いて作製された多層配
線基板の一例の構成概略を示す断面図
FIG. 11 is a cross-sectional view illustrating a schematic configuration of an example of a multilayer wiring board manufactured using the transfer material of the present invention.

【図12】 本発明の転写材を用いて作製された多層配
線基板の他の例の構成概略を示す断面図
FIG. 12 is a cross-sectional view schematically illustrating the configuration of another example of a multilayer wiring board manufactured using the transfer material of the present invention.

【図13】 本発明の転写材を用いて作製された多層配
線基板のさらに他の例の構成概略を示す断面図
FIG. 13 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of still another example of a multilayer wiring board manufactured using the transfer material of the present invention.

【図14】 本発明の転写材を用いて作製された多層配
線基板のさらに他の例の構成概略を示す断面図
FIG. 14 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of still another example of a multilayer wiring board manufactured using the transfer material of the present invention.

【図15】 本発明の転写材を用いて作製された多層配
線基板のさらに他の例の構成概略を示す断面図
FIG. 15 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of still another example of a multilayer wiring board manufactured using the transfer material of the present invention.

【図16】 (a)〜(c)は、本発明の転写材を用い
た、多層配線基板の製造工程の一例の概略を示す断面図
16A to 16C are cross-sectional views schematically illustrating an example of a manufacturing process of a multilayer wiring board using the transfer material of the present invention.

【図17】 (a)〜(c)は、本発明の転写材を用い
た、多層配線基板の製造工程の他の例の概略を示す断面
FIGS. 17A to 17C are cross-sectional views schematically illustrating another example of a manufacturing process of a multilayer wiring board using the transfer material of the present invention.

【図18】 (a)〜(e)は、本発明の転写材を用い
た、多層配線基板の製造工程のさらに他の例の概略を示
す断面図
FIGS. 18A to 18E are cross-sectional views schematically illustrating still another example of a manufacturing process of a multilayer wiring board using the transfer material of the present invention.

【図19】 (a)および(b)は、本発明の第5の実
施の形態にかかる転写用部品配線パターン形成材(第4
の転写材)の構成概略を示す断面図
FIGS. 19A and 19B are diagrams illustrating a transfer component wiring pattern forming material (fourth embodiment) according to a fifth embodiment of the present invention;
Sectional view showing the schematic configuration of the transfer material

【図20】 本発明の第6の実施の形態における転写用
部品配線パターン形成材(第5の転写材)の構成概略を
示す断面図
FIG. 20 is a sectional view schematically showing the configuration of a transfer component wiring pattern forming material (a fifth transfer material) according to a sixth embodiment of the present invention.

【図21】 本発明の第7の実施の形態における転写用
部品配線パターン形成材(第6の転写材)の構成概略を
示す断面図
FIG. 21 is a sectional view schematically showing the configuration of a transfer component wiring pattern forming material (sixth transfer material) according to a seventh embodiment of the present invention.

【図22】 (a)〜(g’)は、前記第4の転写材を
用いた多層回路基板の製造工程の概略を示す断面図
FIGS. 22A to 22G are cross-sectional views schematically showing a manufacturing process of a multilayer circuit board using the fourth transfer material.

【図23】 (a)〜(h)は、前記第5の転写材を用
いた回路基板の製造工程の概略を示す断面図
23 (a) to 23 (h) are cross-sectional views schematically showing a process of manufacturing a circuit board using the fifth transfer material.

【図24】 (a)〜(h)は、前記第6の転写材を用
いた回路基板の製造工程の概略を示す断面図
FIGS. 24A to 24H are cross-sectional views schematically showing a process of manufacturing a circuit board using the sixth transfer material. FIGS.

【図25】 前記第4〜第6の転写材を用いて製造され
る多層回路基板の断面図
FIG. 25 is a cross-sectional view of a multilayer circuit board manufactured using the fourth to sixth transfer materials.

【図26】 (a)〜(c)は、図25に示す多層回路
基板の各層を構成する単層配線基板を、本発明の第6の
転写材を用いて形成する方法を模式的に示す断面図であ
り、(a')〜(c')は、(a)〜(c)の各々の方法
により形成された、多層回路基板の各層の断面図であ
り、(d’)は、前記多層回路基板の最下層の配線基板
の断面図
26 (a) to (c) schematically show a method of forming a single-layer wiring board constituting each layer of the multilayer circuit board shown in FIG. 25 using the sixth transfer material of the present invention. (A ′) to (c ′) are cross-sectional views of each layer of the multilayer circuit board formed by each of the methods (a) to (c), and (d ′) is a cross-sectional view of FIG. Sectional view of the lowermost wiring board of the multilayer circuit board

【符号の説明】[Explanation of symbols] 【符号の説明】[Explanation of symbols]

101,201,301,2101,2201,230
1 第1の金属層 102,202,302,2202,2302 剥離層 103,203,303,2102,2203,230
3 第2の金属層 105 第3の金属層 2103,2204,2304 インダクタ 2104,2205,2305 コンデンサ 2105,2206,2306 抵抗 2106 半導体チップ
101, 201, 301, 2101, 2201, 230
1 First metal layer 102, 202, 302, 2202, 2302 Release layer 103, 203, 303, 2102, 2203, 230
3 Second metal layer 105 Third metal layer 2103, 2204, 2304 Inductor 2104, 2205, 2305 Capacitor 2105, 2206, 2306 Resistance 2106 Semiconductor chip

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 1/16 H05K 1/16 A 5G323 1/18 1/18 L 3/40 3/40 K 3/46 3/46 N G T Q (72)発明者 平野 浩一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 中谷 誠一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 松岡 康之 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 朝日 俊行 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 山下 嘉久 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 4E351 AA01 AA07 BB01 BB03 BB05 BB09 BB24 BB26 BB27 BB29 BB33 BB35 CC17 DD01 DD04 DD05 DD06 DD28 GG20 5E317 AA24 BB01 BB04 BB11 BB12 BB13 BB14 BB15 CC02 CC25 CC52 CD25 CD27 CD32 CD34 GG14 GG16 5E336 AA04 BB03 BB15 BB18 CC32 CC34 CC44 CC58 EE05 GG09 5E343 AA02 AA12 AA23 BB15 BB23 BB24 BB25 BB44 BB66 DD56 DD63 ER52 GG08 GG11 5E346 AA02 AA12 AA14 AA15 AA22 AA43 BB01 BB20 CC08 CC17 CC31 CC32 CC37 CC38 CC39 DD02 DD31 DD33 EE06 EE07 EE15 EE43 FF01 FF18 FF35 FF45 GG01 GG17 GG22 GG28 HH26 HH33 5G323 AA03 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H05K 1/16 H05K 1/16 A 5G323 1/18 1/18 L 3/40 3/40 K 3/46 3/46 NGT Q (72) Inventor Koichi Hirano 1006 Odakadoma, Kadoma City, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 72) Inventor Yasuyuki Matsuoka 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Pref.Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 1006 Kadoma Kadoma Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. F-term (reference) 4E351 AA01 AA07 BB01 BB03 BB05 BB09 BB24 BB26 BB27 BB29 BB33 BB35 CC17 DD01 DD04 DD05 DD06 DD28 GG20 5E317 AA24 BB01 BB04 BB11 BB12 BB13 BB14 BB15 CC02 CC25 CC52 CD25 CD27 CD32 CD34 GG14 GG16 5E336 AA04 BB03 BB15 BB18 CC32 CC34 CC44 CC58 EE05 GG09 5E343 AA02 AA12 BB23 BB15 ABB23 BB15 ABB23 BB15 BB15 BB15 ABB23 BB15 BB15 BB15 AA15 AA22 AA43 BB01 BB20 CC08 CC17 CC31 CC32 CC37 CC38 CC39 DD02 DD31 DD33 EE06 EE07 EE15 EE43 FF01 FF18 FF35 FF45 GG01 GG17 GG22 GG28 HH26 HH33 5G323 AA03

Claims (123)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 キャリアとしての第1の金属層と、 配線パターンとしての第2の金属層と、 前記第1の金属層と第2の金属層との間に介在し、前記
第1の金属層と第2の金属層とを剥離可能な状態で貼り
合わせる剥離層との少なくとも3層を有し、 前記第1の金属層の表層部に、前記配線パターンに対応
した形状の凸部が形成され、 前記凸部領域の上に、前記剥離層および前記第2の金属
層が形成されていることを特徴とする転写材。
A first metal layer as a carrier; a second metal layer as a wiring pattern; and a first metal layer interposed between the first metal layer and the second metal layer. And at least three layers, a release layer for bonding the layer and the second metal layer in a releasable state, and a convex portion having a shape corresponding to the wiring pattern is formed on a surface layer of the first metal layer. The transfer material, wherein the release layer and the second metal layer are formed on the convex region.
【請求項2】 前記第1の金属層および第2の金属層の
それぞれが、銅、アルミ、銀、およびニッケルからなる
群から選択された少なくとも一つの金属を含む、請求項
1に記載の転写材。
2. The transfer according to claim 1, wherein each of the first metal layer and the second metal layer includes at least one metal selected from the group consisting of copper, aluminum, silver, and nickel. Wood.
【請求項3】 前記第1の金属層および第2の金属層
が、同一成分の金属を含む請求項1または2に記載の転
写材。
3. The transfer material according to claim 1, wherein the first metal layer and the second metal layer include metals of the same component.
【請求項4】 前記第1の金属層および第2の金属層
が、銅箔からなる請求項2または3に記載の転写材。
4. The transfer material according to claim 2, wherein the first metal layer and the second metal layer are made of copper foil.
【請求項5】 前記剥離層が、銅エッチング液でエッチ
ングされる材料からなる請求項4に記載の転写材。
5. The transfer material according to claim 4, wherein the release layer is made of a material that is etched with a copper etchant.
【請求項6】 前記第1の金属層において、前記凸部の
高さが、1〜12μmの範囲である請求項1〜5のいず
れかに記載の転写材。
6. The transfer material according to claim 1, wherein the height of the protrusion in the first metal layer is in a range of 1 to 12 μm.
【請求項7】 前記剥離層が、厚みが1μm以下である
請求項1〜6のいずれかに記載の転写材。
7. The transfer material according to claim 1, wherein the release layer has a thickness of 1 μm or less.
【請求項8】 前記剥離層が、有機層または金属メッキ
層である請求項1〜7のいずれかに記載の転写材。
8. The transfer material according to claim 1, wherein the release layer is an organic layer or a metal plating layer.
【請求項9】 前記剥離層がAuメッキ層である請求項
8に記載の転写材。
9. The transfer material according to claim 8, wherein the release layer is an Au plating layer.
【請求項10】 前記第1の金属層と第2の金属層との
剥離層を介した接着強度が、50N/m以下である請求
項1〜9のいずれかに記載の転写材。
10. The transfer material according to claim 1, wherein an adhesive strength of the first metal layer and the second metal layer via a release layer is 50 N / m or less.
【請求項11】 前記第1の金属層の厚みが、4〜40
μmの範囲であり、第2の金属層の厚みが、1〜35μ
mの範囲である請求項1〜10のいずれかに記載の転写
材。
11. The first metal layer has a thickness of 4 to 40.
μm, and the thickness of the second metal layer is 1 to 35 μm.
The transfer material according to any one of claims 1 to 10, which has a range of m.
【請求項12】 前記第2の金属層の上にさらに第3の
金属層を有する請求項1〜11に記載の転写材。
12. The transfer material according to claim 1, further comprising a third metal layer on the second metal layer.
【請求項13】 前記第3の金属層の厚みが、2〜30
μmの範囲である請求項12に記載の転写材。
13. The method according to claim 13, wherein the thickness of the third metal layer is 2 to 30.
13. The transfer material according to claim 12, which is in a range of μm.
【請求項14】 前記第1〜第3の金属層が、同一成分
の金属を含む請求項12または13に記載の転写材。
14. The transfer material according to claim 12, wherein the first to third metal layers include metals of the same component.
【請求項15】 前記第3の金属層が金である請求項1
2または13に記載の転写材。
15. The method according to claim 1, wherein the third metal layer is gold.
14. The transfer material according to 2 or 13.
【請求項16】 前記第3の金属層の上にさらに第4の
金属層を有し、前記第4の金属層が、前記第1から第3
の金属層を腐食するエッチング液に対し化学的に安定な
金属成分で構成されている請求項12〜15のいずれか
に記載の転写材。
16. The semiconductor device according to claim 16, further comprising a fourth metal layer on the third metal layer, wherein the fourth metal layer is formed on the first to third metal layers.
The transfer material according to any one of claims 12 to 15, wherein the transfer material is composed of a metal component that is chemically stable to an etching solution that corrodes the metal layer.
【請求項17】 前記第4の金属層が、金、銀、ニッケ
ル、スズ、ビスマス、鉛および銅から選ばれた少なくと
も1種の金属よりなり、厚みが1〜10μmの範囲であ
る請求項16に記載の転写材。
17. The fourth metal layer is made of at least one metal selected from gold, silver, nickel, tin, bismuth, lead and copper, and has a thickness of 1 to 10 μm. The transfer material according to 1.
【請求項18】 前記第2の金属層に電気的に接続する
ように、印刷法により形成された回路部品を有する、請
求項1〜17のいずれかに記載の転写材。
18. The transfer material according to claim 1, further comprising a circuit component formed by a printing method so as to be electrically connected to said second metal layer.
【請求項19】 前記回路部品が、インダクタ、コンデ
ンサ、および抵抗から選ばれる少なくとも一つの部品を
含む、請求項18に記載の転写材。
19. The transfer material according to claim 18, wherein the circuit component includes at least one component selected from an inductor, a capacitor, and a resistor.
【請求項20】 前記回路部品が、無機フィラーおよび
樹脂組成物を含む材料で構成された、請求項18または
19に記載の転写材。
20. The transfer material according to claim 18, wherein the circuit component is made of a material containing an inorganic filler and a resin composition.
【請求項21】 前記回路部品が、無機フィラー、有機
バインダー、および可塑剤を含む材料で構成された、請
求項18または19に記載の転写材。
21. The transfer material according to claim 18, wherein the circuit component is made of a material containing an inorganic filler, an organic binder, and a plasticizer.
【請求項22】 キャリアとしての第1の金属層と、 配線パターンとしての第2の金属層との少なくとも2層
を有し、 前記第1の金属層上に、前記第2の金属層と電気的に接
続するように印刷法により形成された回路部品を備えた
ことを特徴とする転写材。
22. At least two layers, a first metal layer as a carrier, and a second metal layer as a wiring pattern, wherein the second metal layer is electrically connected to the second metal layer on the first metal layer. A transfer material comprising a circuit component formed by a printing method so as to be electrically connected.
【請求項23】 前記第1の金属層と前記第2の金属層
との間に、前記第1の金属層と第2の金属層とを剥離可
能に貼り合わせる剥離層を備えた請求項22に記載の転
写材。
23. A release layer provided between the first metal layer and the second metal layer, the release layer bonding the first metal layer and the second metal layer in a releasable manner. The transfer material according to 1.
【請求項24】 前記剥離層の厚みが1μm以下であ
る、請求項23に記載の転写材。
24. The transfer material according to claim 23, wherein the thickness of the release layer is 1 μm or less.
【請求項25】 前記剥離層が、有機層または金属メッ
キ層で構成された、請求項23または24に記載の転写
材。
25. The transfer material according to claim 23, wherein the release layer comprises an organic layer or a metal plating layer.
【請求項26】 前記剥離層が、Auメッキ層である請
求項25に記載の転写材。
26. The transfer material according to claim 25, wherein the release layer is an Au plating layer.
【請求項27】 前記剥離層による、第1の金属層と第
2の金属層との接着強度が、10N/m以上、50N/
m以下の範囲である、請求項23〜26のいずれかに記
載の転写材。
27. The bonding strength between the first metal layer and the second metal layer by the release layer is 10 N / m or more and 50 N / m or more.
The transfer material according to any one of claims 23 to 26, wherein the transfer material has a range of m or less.
【請求項28】 前記回路部品が、インダクタ、コンデ
ンサ、および抵抗から選ばれる少なくとも一つの部品を
含む、請求項22〜27のいずれかに記載の転写材。
28. The transfer material according to claim 22, wherein the circuit component includes at least one component selected from an inductor, a capacitor, and a resistor.
【請求項29】 前記回路部品が、無機フィラーおよび
樹脂組成物を含む材料で構成された、請求項22〜28
のいずれかに記載の転写材。
29. The circuit component according to claim 22, wherein the circuit component is made of a material containing an inorganic filler and a resin composition.
The transfer material according to any one of the above.
【請求項30】 前記回路部品が、無機フィラー、有機
バインダー、および可塑剤を含む材料で構成された、請
求項22〜28のいずれかに記載の転写材。
30. The transfer material according to claim 22, wherein the circuit component is made of a material containing an inorganic filler, an organic binder, and a plasticizer.
【請求項31】 前記第1の金属層の厚みが、4〜10
0μmの範囲であり、第2の金属層及び回路部品の厚み
が、1〜35μmの範囲である、請求項22〜30のい
ずれかに記載の転写材。
31. The thickness of the first metal layer is 4 to 10
The transfer material according to any one of claims 22 to 30, wherein the transfer material is in a range of 0 µm, and the thickness of the second metal layer and the circuit component is in a range of 1 to 35 µm.
【請求項32】 前記第1の金属層の表層部に凹凸部が
形成され、 前記凸部が、前記第2の金属層の配線パターンに対応
し、 前記凸部上に、前記第1の金属層よりも上層が形成され
た、請求項22〜31のいずれかに記載の転写材。
32. An uneven portion is formed on a surface portion of the first metal layer, the convex portion corresponds to a wiring pattern of the second metal layer, and the first metal layer is formed on the convex portion. The transfer material according to any one of claims 22 to 31, wherein an upper layer is formed above the layer.
【請求項33】 前記第1の金属層において、前記凸部
の高さが、1〜12μmの範囲である請求項32に記載
の転写材。
33. The transfer material according to claim 32, wherein in the first metal layer, the height of the projection is in a range of 1 to 12 μm.
【請求項34】 前記第1の金属層および第2の金属層
のそれぞれが、銅、アルミ、銀、およびニッケルからな
る群から選択された少なくとも一つの金属を含む、請求
項22〜33のいずれかに記載の転写材。
34. The semiconductor device according to claim 22, wherein each of the first metal layer and the second metal layer includes at least one metal selected from the group consisting of copper, aluminum, silver, and nickel. The transfer material described in Crab.
【請求項35】 前記第1の金属層および第2の金属層
が、同一成分の金属を含む請求項22〜34のいずれか
に記載の転写材。
35. The transfer material according to claim 22, wherein the first metal layer and the second metal layer include metals of the same component.
【請求項36】 第1の金属層上に剥離層を形成し、 前記剥離層上に第2の金属層を形成し、 化学エッチング法により、前記第2の金属層、剥離層、
および前記第1の金属層の表層部をエッチングすること
により、前記第2の金属層および前記剥離層を配線パタ
ーン形状に形成すると共に、前記第1の金属層の表層部
に、その凸部が前記配線パターンに対応した形状の凹凸
部を形成することを特徴とする、転写材の製造方法。
36. A release layer is formed on the first metal layer, a second metal layer is formed on the release layer, and the second metal layer, the release layer,
And etching the surface layer portion of the first metal layer to form the second metal layer and the release layer in a wiring pattern shape, and that the protrusions are formed on the surface layer portion of the first metal layer. A method of manufacturing a transfer material, comprising: forming an uneven portion having a shape corresponding to the wiring pattern.
【請求項37】 前記第2の金属層を形成した後であっ
て、前記エッチングを行う前に、 (a)前記第2の金属層上に、前記第2の金属層の表層
を配線パターン形状に露出させた状態でメッキレジスト
を形成し、 (b)前記第2の金属層の露出された領域に、メッキ法
により、第3の金属層を形成し、 (c)前記メッキレジストを剥離し、 その後、前記化学エッチングにより、前記第3の金属層
が形成されていない領域の、前記第2の金属層、前記剥
離層、および前記第1の金属層の表層部をエッチングす
る、請求項36に記載の転写材の製造方法。
37. After forming the second metal layer and before performing the etching, (a) forming a surface layer of the second metal layer on the second metal layer in a wiring pattern shape; (B) forming a third metal layer by a plating method in an exposed area of the second metal layer, and (c) removing the plating resist. 37. Thereafter, the surface portions of the second metal layer, the release layer, and the first metal layer in a region where the third metal layer is not formed are etched by the chemical etching. 3. The method for producing a transfer material according to item 1.
【請求項38】 前記第3の金属層を、前記化学エッチ
ング法に用いるエッチャントに対して化学的に安定な金
属成分で形成し、前記第3の金属層を前記化学エッチン
グの際にエッチングレジストとして機能させる、請求項
37に記載の転写材の製造方法。
38. The third metal layer is formed of a metal component that is chemically stable to an etchant used in the chemical etching method, and the third metal layer is used as an etching resist during the chemical etching. 38. The method for producing a transfer material according to claim 37, wherein the method is operated.
【請求項39】 前記第3の金属層を金または銀で形成
する請求項38に記載の転写材の製造方法。
39. The method according to claim 38, wherein the third metal layer is formed of gold or silver.
【請求項40】 前記第3の金属層を形成した後であっ
て、前記メッキレジストを剥離する前に、 前記第3の金属層上に、前記化学エッチング法に用いる
エッチャントに対して化学的に安定な金属成分で、第4
の金属層を形成し、 その後、前記メッキレジストの剥離と、前記化学エッチ
ングとを行い、前記第3および第4の金属層が形成され
ていない領域の、前記第2の金属層、前記剥離層、およ
び前記第1の金属層の表層部をエッチングする、請求項
37に記載の転写材の製造方法。
40. After forming the third metal layer and before stripping the plating resist, chemically etch the etchant used in the chemical etching method on the third metal layer. 4th stable metal component
After that, the plating resist is stripped and the chemical etching is performed, and the second metal layer and the stripping layer are formed in a region where the third and fourth metal layers are not formed. 38. The method for manufacturing a transfer material according to claim 37, wherein the surface layer of the first metal layer is etched.
【請求項41】 前記第4の金属層を、前記化学エッチ
ング法に用いるエッチャントに対して化学的に安定な金
属成分で形成し、前記第4の金属層を前記化学エッチン
グの際にエッチングレジストとして機能させる、請求項
40に記載の転写材の製造方法。
41. The fourth metal layer is formed of a metal component chemically stable to an etchant used in the chemical etching method, and the fourth metal layer is used as an etching resist during the chemical etching. 41. The method for producing a transfer material according to claim 40, wherein the method is operated.
【請求項42】 前記第4の金属層を金または銀で形成
する請求項41に記載の転写材の製造方法。
42. The method according to claim 41, wherein the fourth metal layer is formed of gold or silver.
【請求項43】 前記第2の金属層を電解メッキ法によ
り形成する請求項36〜42のいずれかに記載の転写材
の製造方法。
43. The method according to claim 36, wherein the second metal layer is formed by an electrolytic plating method.
【請求項44】 前記第1の金属層および第2の金属層
が、同一の金属成分からなる請求項36〜43に記載の
転写材の製造方法。
44. The method according to claim 36, wherein the first metal layer and the second metal layer are made of the same metal component.
【請求項45】 前記化学エッチング法により、前記第
1の金属層の表層部がエッチングされる深さが、1〜1
2μmの範囲である請求項36〜44のいずれかに記載
の転写材の製造方法。
45. A depth at which a surface portion of the first metal layer is etched by the chemical etching method is 1 to 1
The method for producing a transfer material according to any one of claims 36 to 44, wherein the thickness is in a range of 2 µm.
【請求項46】 前記第2の金属層の表面を粗面化する
工程を含む、請求項36〜45のいずれかに記載の転写
材の製造方法。
46. The method for producing a transfer material according to claim 36, further comprising a step of roughening the surface of the second metal layer.
【請求項47】 前記粗面化処理された前記第2の金属
層の表面の中心線平均粗さが2μm以上である請求項4
6に記載の転写材の製造方法。
47. The surface of the second metal layer subjected to the surface roughening treatment has a center line average roughness of 2 μm or more.
7. The method for producing a transfer material according to item 6.
【請求項48】 前記第2の金属層に接するように、印
刷法により回路部品を形成する、請求項36〜47のい
ずれかに記載の転写材の製造方法。
48. The method for manufacturing a transfer material according to claim 36, wherein a circuit component is formed by a printing method so as to be in contact with said second metal layer.
【請求項49】 前記印刷法がスクリーン印刷である請
求項48に記載の転写材の製造方法。
49. The method according to claim 48, wherein the printing method is screen printing.
【請求項50】 前記回路部品を、無機フィラーおよび
樹脂組成物を含む材料で形成する、請求項48または4
9に記載の転写材の製造方法。
50. The circuit component according to claim 48, wherein the circuit component is formed of a material containing an inorganic filler and a resin composition.
10. The method for producing a transfer material according to item 9.
【請求項51】 前記回路部品を、無機フィラー、有機
バインダー、および可塑剤を含む材料で形成する、請求
項48または49に記載の転写材の製造方法。
51. The method according to claim 48, wherein the circuit component is formed of a material containing an inorganic filler, an organic binder, and a plasticizer.
【請求項52】 第1の金属層上に、第2の金属層を配
線パターン形状に形成し、 前記第2の金属層に電気的に接続するように、印刷にて
回路部品を形成することを特徴とする、転写材の製造方
法。
52. Forming a second metal layer in a wiring pattern shape on the first metal layer, and forming a circuit component by printing so as to be electrically connected to the second metal layer. A method for producing a transfer material, characterized in that:
【請求項53】 前記回路部品をスクリーン印刷で形成
する、請求項52に記載の転写材の製造方法。
53. The method according to claim 52, wherein the circuit component is formed by screen printing.
【請求項54】 前記第2の金属層をメッキ法で形成す
る請求項52または53に記載の転写材の製造方法。
54. The method according to claim 52, wherein the second metal layer is formed by a plating method.
【請求項55】 第1の金属層上に、剥離層および第2
の金属層を形成し、 前記第2の金属層および剥離層を配線パターン形状に加
工し、 前記第2の金属層に電気的に接続するように、印刷にて
回路部品を形成することを特徴とする、転写材の製造方
法。
55. A release layer and a second metal layer on the first metal layer.
Forming a metal layer, processing the second metal layer and the release layer into a wiring pattern shape, and forming a circuit component by printing so as to be electrically connected to the second metal layer. And a method of manufacturing a transfer material.
【請求項56】 前記回路部品をスクリーン印刷で形成
する、請求項55に記載の転写材の製造方法。
56. The method according to claim 55, wherein the circuit component is formed by screen printing.
【請求項57】 化学エッチング法により、前記第2の
金属層および剥離層を配線パターン形状に加工するのと
同時に、第1の金属層の表層部に、前記配線パターン形
状にその凸部が対応する凹凸部を形成する、請求項55
または56に記載の転写材の製造方法。
57. At the same time that the second metal layer and the release layer are processed into a wiring pattern shape by a chemical etching method, the projections correspond to the surface pattern portion of the first metal layer and the wiring pattern shape. 55. A concave / convex portion is formed.
Or a method for producing a transfer material according to 56.
【請求項58】 前記第2の金属層を形成した後であっ
て、前記エッチングを行う前に、 (a)前記第2の金属層上に、前記第2の金属層の表層
を配線パターン形状に露出させた状態でメッキレジスト
を形成し、 (b)前記第2の金属層の露出された領域に、メッキ法
により、第3の金属層を形成し、 (c)前記メッキレジストを剥離し、 その後、前記化学エッチングにより、前記第3の金属層
が形成されていない領域の、前記第2の金属層、前記剥
離層、および前記第1の金属層の表層部をエッチングす
る、請求項57に記載の転写材の製造方法。
58. After forming the second metal layer and before performing the etching, (a) forming a surface layer of the second metal layer on the second metal layer in a wiring pattern shape; (B) forming a third metal layer by a plating method in an exposed area of the second metal layer, and (c) removing the plating resist. 58. Then, the surface portions of the second metal layer, the release layer, and the first metal layer in a region where the third metal layer is not formed are etched by the chemical etching. 3. The method for producing a transfer material according to item 1.
【請求項59】 前記第3の金属層を、前記化学エッチ
ング法に用いるエッチャントに対して化学的に安定な金
属成分で形成し、前記第3の金属層を前記化学エッチン
グの際にエッチングレジストとして機能させる、請求項
58に記載の転写材の製造方法。
59. The third metal layer is formed of a metal component that is chemically stable to an etchant used in the chemical etching method, and the third metal layer is used as an etching resist during the chemical etching. 59. The method for producing a transfer material according to claim 58, wherein the method is operated.
【請求項60】 前記第3の金属層を金または銀で形成
する請求項59に記載の転写材の製造方法。
60. The method according to claim 59, wherein the third metal layer is formed of gold or silver.
【請求項61】 前記第3の金属層を形成した後であっ
て、前記メッキレジストを剥離する前に、 前記第3の金属層上に、前記化学エッチング法に用いる
エッチャントに対して化学的に安定な金属成分で、第4
の金属層を形成し、 その後、前記メッキレジストの剥離と、前記化学エッチ
ングとを行い、前記第3および第4の金属層が形成され
ていない領域の、前記第2の金属層、前記剥離層、およ
び前記第1の金属層の表層部をエッチングする、請求項
58に記載の転写材の製造方法。
61. After forming the third metal layer and before stripping the plating resist, chemically etch the etchant used in the chemical etching method on the third metal layer. 4th stable metal component
After that, the plating resist is stripped and the chemical etching is performed, and the second metal layer and the stripping layer are formed in a region where the third and fourth metal layers are not formed. 59. The method for producing a transfer material according to claim 58, wherein the surface layer of the first metal layer is etched.
【請求項62】 前記第4の金属層を、前記化学エッチ
ング法に用いるエッチャントに対して化学的に安定な金
属成分で形成し、前記第4の金属層を前記化学エッチン
グの際にエッチングレジストとして機能させる、請求項
61に記載の転写材の製造方法。
62. The fourth metal layer is formed of a metal component that is chemically stable to an etchant used in the chemical etching method, and the fourth metal layer is used as an etching resist during the chemical etching. 62. The method for producing a transfer material according to claim 61, wherein the method is operated.
【請求項63】 前記第4の金属層を金または銀で形成
する請求項62に記載の転写材の製造方法。
63. The method according to claim 62, wherein the fourth metal layer is formed of gold or silver.
【請求項64】 前記第2の金属層を電解メッキ法によ
り形成する請求項57〜63のいずれかに記載の転写材
の製造方法。
64. The method according to claim 57, wherein the second metal layer is formed by an electrolytic plating method.
【請求項65】 前記第1の金属層および第2の金属層
が、同一の金属成分からなる請求項57〜64に記載の
転写材の製造方法。
65. The method according to claim 57, wherein the first metal layer and the second metal layer are made of the same metal component.
【請求項66】 前記化学エッチング法により、前記第
1の金属層の表層部がエッチングされる深さが、1〜1
2μmの範囲である請求項57〜65のいずれかに記載
の転写材の製造方法。
66. A depth at which a surface portion of the first metal layer is etched by the chemical etching method is 1 to 1
The method for producing a transfer material according to any one of claims 57 to 65, wherein the thickness is in a range of 2 µm.
【請求項67】 前記第2の金属層の表面を粗面化する
工程を含む、請求項57〜66のいずれかに記載の転写
材の製造方法。
67. The method according to claim 57, further comprising a step of roughening the surface of the second metal layer.
【請求項68】 前記粗面化処理された前記第2の金属
層の表面の中心線平均粗さが2μm以上である請求項6
7に記載の転写材の製造方法。
68. The surface of the second metal layer subjected to the surface roughening treatment has a center line average roughness of 2 μm or more.
8. The method for producing a transfer material according to item 7.
【請求項69】 電気絶縁性基板と、請求項1〜21の
いずれかに記載の転写材を用いた転写法により前記電気
絶縁性基板の少なくとも一主面に形成された配線パター
ンとを備えた配線基板であって、 前記配線パターンが、前記主面に形成された凹部内に形
成されたことを特徴とする配線基板。
69. An electric insulating substrate, comprising: a wiring pattern formed on at least one main surface of the electric insulating substrate by a transfer method using the transfer material according to any one of claims 1 to 21. A wiring board, wherein the wiring pattern is formed in a recess formed in the main surface.
【請求項70】 前記電気絶縁性基板が、導電性組成物
が充填された貫通孔を有し、 前記配線パターンが、前記導電性組成物と電気的に接続
された請求項69に記載の配線基板。
70. The wiring according to claim 69, wherein the electrically insulating substrate has a through hole filled with a conductive composition, and the wiring pattern is electrically connected to the conductive composition. substrate.
【請求項71】 前記凹部の深さが、1〜12μmの範
囲である請求項69または70に記載の配線基板。
71. The wiring substrate according to claim 69, wherein the depth of the concave portion is in a range of 1 to 12 μm.
【請求項72】 前記電気絶縁性基板が、無機フィラー
および熱硬化性樹脂組成物を含み、導電性組成物が充填
された貫通孔を有する、請求項69〜71のいずれかに
記載の配線基板。
72. The wiring substrate according to claim 69, wherein the electrically insulating substrate includes an inorganic filler and a thermosetting resin composition, and has a through hole filled with a conductive composition. .
【請求項73】 前記無機フィラーが、Al23、Mg
O、BN、AlNおよびSiO2からなる群から選択さ
れた少なくとも一つの無機フィラーであり、 前記無機フィラーの割合が70〜95重量%であり、 前記熱硬化性樹脂組成物の割合が5〜30重量%である
請求項72に記載の配線基板。
73. The inorganic filler is made of Al 2 O 3 , Mg
At least one inorganic filler selected from the group consisting of O, BN, AlN and SiO 2 , wherein the proportion of the inorganic filler is 70 to 95% by weight, and the proportion of the thermosetting resin composition is 5 to 30% 73. The wiring board according to claim 72, which is in terms of% by weight.
【請求項74】 前記電気絶縁性基板が、ガラス繊維の
織布、ガラス繊維の不織布、耐熱有機繊維の織布、およ
び耐熱有機繊維の不織布からなる群から選択された少な
くとも一つの補強材に、熱硬化性樹脂組成物を含浸させ
たものからなる、請求項69〜71のいずれかに記載の
配線基板。
74. The electric insulating substrate, wherein at least one reinforcing material selected from the group consisting of a woven fabric of glass fiber, a nonwoven fabric of glass fiber, a woven fabric of heat-resistant organic fiber, and a nonwoven fabric of heat-resistant organic fiber, The wiring board according to any one of claims 69 to 71, comprising a material impregnated with a thermosetting resin composition.
【請求項75】 前記電気絶縁性基板がセラミックから
なる請求項69〜71のいずれかに記載の配線基板。
75. The wiring substrate according to claim 69, wherein said electrically insulating substrate is made of ceramic.
【請求項76】 前記セラミックが、Al2O3,MgO,ZrO2,T
iO2,SiO2,BeO,BN,CaO及びガラスからなる群から選択さ
れた少なくとも一つの成分、または、Bi-Ca-Nb-Oを含む
セラミックである請求項75に記載の配線基板。
76. The method according to claim 76, wherein the ceramic is Al 2 O 3 , MgO, ZrO 2 , T
iO 2, SiO 2, BeO, BN, at least one component selected from the group consisting of CaO and glass, or a wiring board according to claim 75 is a ceramic comprising Bi-Ca-Nb-O.
【請求項77】 前記転写法により前記主面の凹部内に
形成された配線パターン上に、メッキ法により形成され
た金属層をさらに備えた、請求項69〜76のいずれか
に記載の配線基板。
77. The wiring substrate according to claim 69, further comprising a metal layer formed by a plating method on the wiring pattern formed in the concave portion of the main surface by the transfer method. .
【請求項78】 前記主面の凹部内に形成された配線パ
ターンに接続された半導体素子を備え、前記半導体素子
は、そのバンプを前記凹部に位置合わせしてフリップチ
ップボンディングされた、請求項69〜77のいずれか
に記載の配線基板。
78. A semiconductor device connected to a wiring pattern formed in a concave portion of the main surface, wherein the semiconductor device is flip-chip bonded with its bumps aligned with the concave portion. 78. The wiring board according to any one of the above items.
【請求項79】 複数の配線基板を積層してなるインナ
ービアホール構造の多層配線基板であって、 少なくとも一層に、請求項69〜78のいずれか一項に
記載の配線基板を備えたことを特徴とする多層配線基
板。
79. A multilayer wiring board having an inner via hole structure formed by stacking a plurality of wiring boards, wherein at least one of the multilayer wiring boards is provided with the wiring board according to any one of claims 69 to 78. Multilayer wiring board.
【請求項80】 前記複数の配線基板の少なくとも一つ
が、セラミックを含む電気絶縁性基板を有するセラミッ
ク配線基板であり、 前記セラミック配線基板の少なくとも一つが、その主面
の少なくとも一方に、凸状に形成された配線パターンを
有し、 前記凸状の配線パターンが形成された主面に積層された
配線基板が、熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性基板
を有するコンポジット配線基板であり、 前記凸状の配線パターンが前記コンポジット配線基板の
主面に埋設された、請求項79に記載の配線基板。
80. At least one of the plurality of wiring boards is a ceramic wiring board having an electrically insulating substrate containing ceramic, and at least one of the ceramic wiring boards has a convex shape on at least one of its main surfaces. A composite wiring board having an electrically insulating substrate containing a thermosetting resin composition, wherein the wiring substrate has a formed wiring pattern, and is laminated on a main surface on which the convex wiring pattern is formed; 80. The wiring board according to claim 79, wherein a convex wiring pattern is embedded in a main surface of the composite wiring board.
【請求項81】 前記セラミック配線基板の焼結温度が
1050℃以上である請求項80に記載の配線基板。
81. The wiring board according to claim 80, wherein the sintering temperature of the ceramic wiring board is 1050 ° C. or higher.
【請求項82】 前記複数の配線基板の少なくとも二つ
が、セラミックを含む電気絶縁性基板を有するセラミッ
ク配線基板であり、 前記セラミック配線基板の少なくとも一つは、他のセラ
ミック配線基板とは異種のセラミック材料を含み、 互いに異なるセラミック材料を含むセラミック配線基板
の間に、熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性基板を有
する配線基板が配された請求項79に記載の配線基板。
82. At least two of the plurality of wiring boards are ceramic wiring boards having an electrically insulating substrate containing ceramic, and at least one of the ceramic wiring boards is a ceramic different from other ceramic wiring boards. 80. The wiring board according to claim 79, wherein a wiring board having an electrically insulating substrate containing a thermosetting resin composition is disposed between ceramic wiring boards containing materials and ceramic materials different from each other.
【請求項83】 前記複数の配線基板の少なくとも最上
層及び最下層が、熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性
基板を有するコンポジット配線基板であり、 内層に、セラミックを含む電気絶縁性基板を有するセラ
ミック配線基板を備えた、請求項79に記載の配線基
板。
83. A composite wiring board having at least an uppermost layer and a lowermost layer of the plurality of wiring boards having an electrically insulating substrate containing a thermosetting resin composition, wherein the inner layer contains an electrically insulating substrate containing ceramic. 80. The wiring board according to claim 79, comprising a ceramic wiring board having the same.
【請求項84】 電気絶縁性基板と、請求項22〜35
のいずれかに記載の転写材を用いた転写法により前記電
気絶縁性基板の少なくとも一主面に形成された配線パタ
ーンおよび回路部品とを備え、前記回路部品が前記配線
パターンと電気的に接続され、前記回路部品および前記
配線パターンが前記主面に埋設されたことを特徴とする
配線基板。
84. An electrically insulative substrate;
A wiring pattern and a circuit component formed on at least one main surface of the electrically insulating substrate by a transfer method using the transfer material according to any one of the above, wherein the circuit component is electrically connected to the wiring pattern. A wiring board, wherein the circuit component and the wiring pattern are embedded in the main surface.
【請求項85】 前記電気絶縁性基板が、導電性組成物
が充填された貫通孔を有し、 前記配線パターンが、前記導電性組成物と電気的に接続
された請求項84に記載の配線基板。
85. The wiring according to claim 84, wherein the electrically insulating substrate has a through hole filled with a conductive composition, and the wiring pattern is electrically connected to the conductive composition. substrate.
【請求項86】 前記電気絶縁性基板が、無機フィラー
および熱硬化性樹脂組成物を含み、導電性組成物が充填
された貫通孔を有する、請求項84または85に記載の
配線基板。
86. The wiring substrate according to claim 84, wherein the electrically insulating substrate includes an inorganic filler and a thermosetting resin composition, and has a through hole filled with a conductive composition.
【請求項87】 前記無機フィラーが、Al23、Mg
O、BN、AlNおよびSiO2からなる群から選択さ
れた少なくとも一つの無機フィラーであり、 前記無機フィラーの割合が70〜95重量%であり、 前記熱硬化性樹脂組成物の割合が5〜30重量%である
請求項86に記載の配線基板。
87. The method according to claim 87, wherein the inorganic filler is Al 2 O 3 , Mg
At least one inorganic filler selected from the group consisting of O, BN, AlN and SiO 2 , wherein the proportion of the inorganic filler is 70 to 95% by weight, and the proportion of the thermosetting resin composition is 5 to 30% 89. The wiring board according to claim 86, wherein the amount is by weight.
【請求項88】 前記電気絶縁性基板が、ガラス繊維の
織布、ガラス繊維の不織布、耐熱有機繊維の織布、およ
び耐熱有機繊維の不織布からなる群から選択された少な
くとも一つの補強材に、熱硬化性樹脂組成物を含浸させ
たものからなる、請求項84または85に記載の配線基
板。
88. The electric insulating substrate, wherein at least one reinforcing member selected from the group consisting of glass fiber woven fabric, glass fiber nonwoven fabric, heat-resistant organic fiber woven fabric, and heat-resistant organic fiber nonwoven fabric, The wiring board according to claim 84 or 85, comprising a material impregnated with a thermosetting resin composition.
【請求項89】 前記電気絶縁性基板がセラミック材料
からなる、請求項84または85に記載の配線基板。
89. The wiring board according to claim 84, wherein the electrically insulating substrate is made of a ceramic material.
【請求項90】 前記セラミック材料が、Al23、M
gO、ZrO2、TiO2、SiO2、BeO、BN、C
aOおよびガラスからなる群から選択された少なくとも
一つのセラミック、あるいはBi−Ca−Nb−Oを含
むセラミックである、請求項89に記載の配線基板。
90. The method according to claim 90, wherein the ceramic material is Al 2 O 3 , M
gO, ZrO 2 , TiO 2 , SiO 2 , BeO, BN, C
90. The wiring board according to claim 89, wherein the wiring board is at least one ceramic selected from the group consisting of aO and glass, or ceramic containing Bi-Ca-Nb-O.
【請求項91】 複数の配線基板を積層してなるインナ
ービアホール構造の多層配線基板であって、 少なくとも一層に、請求項84〜90に記載の配線基板
を備えたことを特徴とする多層配線基板。
91. A multilayer wiring board having an inner via hole structure formed by laminating a plurality of wiring boards, wherein at least one of the multilayer wiring boards is provided with the wiring board according to any one of claims 84 to 90. .
【請求項92】 前記複数の配線基板の少なくとも一つ
が、セラミックを含む電気絶縁性基板を有するセラミッ
ク配線基板であり、 前記セラミック配線基板の少なくとも一つが、その主面
の少なくとも一方に、凸状に形成された配線パターンを
有し、 前記凸状の配線パターンが形成された主面に積層された
配線基板が、熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性基板
を有するコンポジット配線基板であり、前記凸状の配線
パターンが前記コンポジット配線基板の主面に埋設され
た、請求項91に記載の配線基板。
92. At least one of the plurality of wiring boards is a ceramic wiring board having an electrically insulating substrate containing ceramic, and at least one of the ceramic wiring boards has a convex shape on at least one of its main surfaces. A composite wiring substrate having an electrically insulating substrate containing a thermosetting resin composition, wherein the wiring substrate has a formed wiring pattern, and is laminated on a main surface on which the convex wiring pattern is formed; 92. The wiring board according to claim 91, wherein a convex wiring pattern is embedded in a main surface of the composite wiring board.
【請求項93】 前記セラミック配線基板の焼結温度が
1050℃以上である請求項92に記載の配線基板。
93. The wiring board according to claim 92, wherein the sintering temperature of the ceramic wiring board is 1050 ° C. or higher.
【請求項94】 前記複数の配線基板の少なくとも二つ
が、セラミックを含む電気絶縁性基板を有するセラミッ
ク配線基板であり、 前記セラミック配線基板の少なくとも一つは、他のセラ
ミック配線基板とは異種のセラミック材料を含み、 互いに異なるセラミック材料を含むセラミック配線基板
の間に、熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性基板を有
する配線基板が配された請求項91に記載の配線基板。
94. At least two of the plurality of wiring boards are ceramic wiring boards having an electrically insulating substrate containing ceramic, and at least one of the ceramic wiring boards is a ceramic different from other ceramic wiring boards. 92. The wiring board according to claim 91, wherein a wiring board having an electrically insulating substrate containing a thermosetting resin composition is disposed between ceramic wiring boards containing materials and ceramic materials different from each other.
【請求項95】 前記複数の配線基板の少なくとも最上
層及び最下層が、熱硬化性樹脂組成物を含む電気絶縁性
基板を有するコンポジット配線基板であり、 内層に、セラミックを含む電気絶縁性基板を有するセラ
ミック配線基板を備えた、請求項91に記載の配線基
板。
95. At least the uppermost layer and the lowermost layer of the plurality of wiring boards are a composite wiring board having an electrically insulating substrate containing a thermosetting resin composition, and the inner layer contains an electrically insulating substrate containing ceramic. 92. The wiring board according to claim 91, further comprising a ceramic wiring board having the same.
【請求項96】 請求項1〜21のいずれかに記載の転
写材を用いた配線基板の製造方法であって、 前記転写材における少なくとも第2の金属層を含む配線
パターン金属層が形成された側を、未硬化状態のシート
状基材の少なくとも一主面に圧着し、 前記剥離層によって前記第2の金属層に貼り合わされて
いる前記第1の金属層を、前記第2の金属層から剥離す
ることにより、前記シート状基材に、前記配線パターン
金属層を転写することを特徴とする、配線基板の製造方
法。
96. A method of manufacturing a wiring board using the transfer material according to any one of claims 1 to 21, wherein a wiring pattern metal layer including at least a second metal layer in the transfer material is formed. Side is pressed against at least one main surface of the uncured sheet-like base material, and the first metal layer bonded to the second metal layer by the release layer is removed from the second metal layer. A method for manufacturing a wiring board, wherein the wiring pattern metal layer is transferred to the sheet-like substrate by peeling.
【請求項97】 前記配線パターン金属層が転写された
シート状基材を、前記未硬化状態のまま二層以上に積層
して積層体を形成し、 前記積層体の全層の前記シート状基材を一括して硬化さ
せる、請求項96に記載の配線基板の製造方法。
97. A laminate is formed by laminating two or more sheets of the sheet-like base material to which the wiring pattern metal layer has been transferred in the uncured state, and forming the sheet-like base of all layers of the laminate. The method for manufacturing a wiring board according to claim 96, wherein the material is cured at once.
【請求項98】 前記シート状基材が、無機フィラーお
よび熱硬化性樹脂組成物を含み、導電性組成物が充填さ
れた貫通孔を有する、請求項96または97に記載の配
線基板の製造方法。
98. The method for producing a wiring board according to claim 96, wherein the sheet-like substrate includes an inorganic filler and a thermosetting resin composition, and has a through hole filled with a conductive composition. .
【請求項99】 前記無機フィラーが、Al23,Mg
O,BN,AlNおよびSiO2からなる群から選択さ
れた少なくとも一つの無機フィラーであり、 前記無機フィラーの前記シート状基材全体に対する割合
が70〜95重量%であり、 前記熱硬化性樹脂組成物の前記シート状基材全体に対す
る割合が5〜30重量%である、請求項98に記載の配
線基板の製造方法。
99. The method according to claim 99, wherein the inorganic filler is Al 2 O 3 , Mg.
At least one inorganic filler selected from the group consisting of O, BN, AlN and SiO 2 , wherein the ratio of the inorganic filler to the entire sheet-like base material is 70 to 95% by weight, and the thermosetting resin composition The method for producing a wiring board according to claim 98, wherein a ratio of the object to the entire sheet-like substrate is 5 to 30% by weight.
【請求項100】 前記シート状基材が、ガラス繊維の
織布、ガラス繊維の不織布、耐熱有機繊維の織布、およ
び耐熱有機繊維の不織布からなる群から選択された少な
くとも一つのシート状補強材に、熱硬化性樹脂組成物を
含浸させたものからなる、請求項96または97に記載
の配線基板の製造方法。
100. The sheet-like base material is at least one sheet-like reinforcing material selected from the group consisting of glass fiber woven fabric, glass fiber non-woven fabric, heat-resistant organic fiber woven fabric, and heat-resistant organic fiber non-woven fabric. The method for manufacturing a wiring board according to claim 96 or 97, wherein the wiring board is impregnated with a thermosetting resin composition.
【請求項101】 前記シート状基材がポリイミドを含
む、請求項96または97に記載の配線基板の製造方
法。
101. The method for manufacturing a wiring board according to claim 96, wherein said sheet-like base material contains polyimide.
【請求項102】 前記シート状基材が、有機バインダ
と、可塑剤と、Al23,MgO,ZrO2,TiO2
SiO2,BeO,BN,CaOおよびガラスからなる
群から選択された少なくとも一つのセラミックを含むセ
ラミック粉末とを含むセラミックシートである、請求項
96または97に記載の配線基板の製造方法。
102. The sheet-like base material comprises an organic binder, a plasticizer, Al 2 O 3 , MgO, ZrO 2 , TiO 2 ,
The method for producing a wiring board according to claim 96 or 97, wherein the ceramic sheet comprises a ceramic sheet containing at least one ceramic selected from the group consisting of SiO 2 , BeO, BN, CaO, and glass.
【請求項103】 前記転写材を用いた前記配線パター
ン金属層の転写を、前記セラミックシートの両主面に対
して行い、 前記セラミックシートの両面または片面に、前記セラミ
ックシートの焼結温度では実質的に焼結収縮しない無機
組成物を主成分とする拘束シートを配置し、 前記拘束シートと共に前記セラミックシートを焼成し、 焼成後、前記拘束シートを取り除いて、セラミック配線
基板を得る、請求項102に記載の配線基板の製造方
法。
103. The transfer of the wiring pattern metal layer using the transfer material is performed on both main surfaces of the ceramic sheet, and substantially on both surfaces or one surface of the ceramic sheet at a sintering temperature of the ceramic sheet. 103. A constraining sheet mainly composed of an inorganic composition that does not substantially shrink and shrink, and the ceramic sheet is fired together with the constraining sheet, and after firing, the constraining sheet is removed to obtain a ceramic wiring board. 3. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1.
【請求項104】 前記転写材を用いた前記配線パター
ン金属層の転写を、熱硬化性樹脂組成物を含むシート状
基材の少なくとも一主面に対して行うことにより、コン
ポジット配線基板を得て、 前記セラミック配線基板と前記コンポジット配線基板と
を積層し、加熱しながら圧着し、多層配線基板を得る、
請求項103に記載の配線基板の製造方法。
A composite wiring board is obtained by transferring the wiring pattern metal layer using the transfer material to at least one principal surface of a sheet-like base material containing a thermosetting resin composition. Stacking the ceramic wiring board and the composite wiring board, and press-bonding while heating to obtain a multilayer wiring board;
A method for manufacturing the wiring board according to claim 103.
【請求項105】 前記セラミックシートに、前記転写
材を用いた前記配線パターン金属層の転写を行う前に、
貫通孔を形成し、前記貫通孔に導電性組成物を充填す
る、請求項103または104に記載の配線基板の製造
方法。
105. Before transferring the wiring pattern metal layer to the ceramic sheet using the transfer material,
105. The method of manufacturing a wiring board according to claim 103, wherein a through-hole is formed, and the conductive composition is filled in the through-hole.
【請求項106】 セラミックシートに貫通孔を形成
し、 前記貫通孔が形成されたセラミックシートの両面に、前
記セラミックシートの焼成温度で実質的に焼結収縮しな
い無機組成物を主成分とする拘束シートを配置し、 前記拘束シートと共に前記セラミックシートを焼成し、 焼成後、前記拘束シートを取り除き、 前記貫通孔に熱硬化性の導電性組成物を充填し、ビアコ
ンダクタ付きのセラミック基板を得て、 請求項1〜21のいずれかに記載の転写材における少な
くとも第2の金属層を含む配線パターン金属層が形成さ
れた側を、熱硬化性樹脂組成物を含む未硬化状態のシー
ト状基材の少なくとも一主面に圧着し、 前記剥離層によって前記第2の金属層に貼り合わされて
いる前記第1の金属層を、前記第2の金属層から剥離す
ることにより、前記シート状基材に、前記配線パターン
金属層を転写し、 前記転写の前または後に、前記熱硬化性樹脂組成物を含
むシート状基材に貫通孔を形成し、前記貫通孔に熱硬化
性の導電性組成物を充填し、ビアコンダクタ付きのコン
ポジット配線基板を得て、 前記セラミック基板と前記コンポジット配線基板とを積
層し、加熱しながら圧着することにより、多層配線基板
を得ることを特徴とする配線基板の製造方法。
106. A through-hole formed in a ceramic sheet, and a constraint mainly composed of an inorganic composition which does not substantially shrink at the firing temperature of the ceramic sheet on both sides of the ceramic sheet having the through-hole formed therein. Arranging a sheet, firing the ceramic sheet together with the constraint sheet, removing the constraint sheet after firing, filling the through hole with a thermosetting conductive composition, and obtaining a ceramic substrate with a via conductor An uncured sheet-like base material containing a thermosetting resin composition on a side of the transfer material according to any one of claims 1 to 21 on which a wiring pattern metal layer including at least a second metal layer is formed. Pressure-bonding to at least one main surface of the first metal layer, and separating the first metal layer bonded to the second metal layer by the release layer from the second metal layer. Transferring the wiring pattern metal layer to the sheet-like substrate; forming a through hole in the sheet-like substrate containing the thermosetting resin composition before or after the transfer; Filling the curable conductive composition to obtain a composite wiring board with a via conductor, laminating the ceramic substrate and the composite wiring board, and press-bonding while heating to obtain a multilayer wiring board. A method for manufacturing a wiring board, which is characterized by
【請求項107】 前記セラミックシートに貫通孔を形
成するときに、前記セラミック基板と前記コンポジット
配線基板とを積層する際の位置合わせピン用の貫通孔
も、同時に形成する、請求項105または106に記載
の配線基板の製造方法。
107. The through-hole according to claim 105, wherein when forming the through-hole in the ceramic sheet, a through-hole for an alignment pin in laminating the ceramic substrate and the composite wiring substrate is also formed at the same time. The method for manufacturing the wiring board according to the above.
【請求項108】 前記貫通孔の穴径を、前記ピン径よ
り2〜10%大きく形成する、請求項107に記載の配
線基板の製造方法。
108. The method of manufacturing a wiring board according to claim 107, wherein a hole diameter of said through hole is formed 2 to 10% larger than said pin diameter.
【請求項109】 前記転写材を用いた前記配線パター
ン金属層の転写後に、前記シート状基材表面に形成され
た配線パターン金属層上に、メッキ処理を施す、請求項
96〜108のいずれかに記載の配線基板の製造方法。
109. The method according to claim 96, wherein after the transfer of the wiring pattern metal layer using the transfer material, plating is performed on the wiring pattern metal layer formed on the surface of the sheet-like base material. 3. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1.
【請求項110】 請求項22〜35のいずれかに記載
の転写材を用いた配線基板の製造方法であって、 前記転写材における少なくとも第2の金属層および前記
回路部品が形成された側を、未硬化状態の絶縁性のシー
ト状基材の少なくとも一主面に圧着し、 前記第1の金属層を剥離することにより、前記シート状
基材に、少なくとも前記第2の金属層および前記回路部
品を転写することを特徴とする、配線基板の製造方法。
110. A method for manufacturing a wiring board using the transfer material according to claim 22, wherein at least a side of the transfer material on which the second metal layer and the circuit component are formed is provided. By press-fitting at least one principal surface of an uncured insulating sheet-like base material and peeling the first metal layer, at least the second metal layer and the circuit are formed on the sheet-like base material. A method for manufacturing a wiring board, comprising transferring a component.
【請求項111】 前記転写後のシート状基材を、前記
未硬化状態のまま二層以上に積層して積層体を形成し、 前記積層体の全層の前記シート状基材を一括して硬化さ
せる、請求項110に記載の配線基板の製造方法。
111. The sheet-like base material after the transfer is laminated in two or more layers in the uncured state to form a laminate, and the sheet-like base materials of all the layers of the laminate are collectively formed. The method for manufacturing a wiring board according to claim 110, wherein the wiring board is cured.
【請求項112】 前記シート状基材が、無機フィラー
および熱硬化性樹脂組成物を含み、導電性組成物が充填
された貫通孔を有する、請求項110または111に記
載の配線基板の製造方法。
112. The method of manufacturing a wiring board according to claim 110, wherein the sheet-shaped base material includes an inorganic filler and a thermosetting resin composition, and has a through hole filled with a conductive composition. .
【請求項113】 前記無機フィラーが、Al23,M
gO,BN,AlNおよびSiO2からなる群から選択
された少なくとも一つの無機フィラーであり、 前記無機フィラーの前記シート状基材全体に対する割合
が70〜95重量%であり、 前記熱硬化性樹脂組成物の前記シート状基材全体に対す
る割合が5〜30重量%である、請求項112に記載の
配線基板の製造方法。
113. The inorganic filler is made of Al 2 O 3 , M
at least one inorganic filler selected from the group consisting of gO, BN, AlN, and SiO 2 , wherein the ratio of the inorganic filler to the entire sheet-like substrate is 70 to 95% by weight, and the thermosetting resin composition The method for manufacturing a wiring board according to claim 112, wherein a ratio of the object to the entire sheet-like base material is 5 to 30% by weight.
【請求項114】 前記シート状基材が、ガラス繊維の
織布、ガラス繊維の不織布、耐熱有機繊維の織布、およ
び耐熱有機繊維の不織布からなる群から選択された少な
くとも一つのシート状補強材に、熱硬化性樹脂組成物を
含浸させたものからなる、請求項110または111に
記載の配線基板の製造方法。
114. The sheet-like base material is at least one sheet-like reinforcing material selected from the group consisting of glass fiber woven fabric, glass fiber non-woven fabric, heat-resistant organic fiber woven fabric, and heat-resistant organic fiber non-woven fabric. The method for manufacturing a wiring board according to claim 110 or 111, wherein the wiring board is impregnated with a thermosetting resin composition.
【請求項115】 前記シート状基材がポリイミドを含
む、請求項110または111に記載の配線基板の製造
方法。
115. The method of manufacturing a wiring board according to claim 110, wherein said sheet-like base material contains polyimide.
【請求項116】 前記シート状基材が、有機バインダ
と、可塑剤と、Al23,MgO,ZrO2,TiO2
SiO2,BeO,BN,CaOおよびガラスからなる
群から選択された少なくとも一つのセラミックを含むセ
ラミック粉末とを含むセラミックシートである、請求項
110または111に記載の配線基板の製造方法。
116. The sheet-like base material is composed of an organic binder, a plasticizer, Al 2 O 3 , MgO, ZrO 2 , TiO 2 ,
The method for manufacturing a wiring board according to claim 110 or 111, wherein the ceramic sheet includes a ceramic sheet containing at least one ceramic selected from the group consisting of SiO 2 , BeO, BN, CaO, and glass.
【請求項117】 前記転写材を用いた前記配線パター
ン金属層の転写を、前記セラミックシートの両主面に対
して行い、 前記セラミックシートの両面または片面に、前記セラミ
ックシートの焼結温度では実質的に焼結収縮しない無機
組成物を主成分とする拘束シートを配置し、前記拘束シ
ートと共に前記セラミックシートを焼成し、 焼成後、前記拘束シートを取り除いて、セラミック配線
基板を得る、請求項116に記載の配線基板の製造方
法。
117. The transfer of the wiring pattern metal layer using the transfer material is performed on both main surfaces of the ceramic sheet, and substantially on both surfaces or one surface of the ceramic sheet at a sintering temperature of the ceramic sheet. 117. A ceramic wiring board, wherein a constraining sheet mainly composed of an inorganic composition which does not sinter and shrink is disposed, and the ceramic sheet is fired together with the constraining sheet. After firing, the constraining sheet is removed to obtain a ceramic wiring board. 3. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1.
【請求項118】 前記転写材を用いた前記配線パター
ン金属層の転写を、熱硬化性樹脂組成物を含むシート状
基材の少なくとも一主面に対して行うことにより、コン
ポジット配線基板を得て、 前記セラミック配線基板と前記コンポジット配線基板と
を積層し、加熱しながら圧着し、多層配線基板を得る、
請求項117に記載の配線基板の製造方法。
118. A composite wiring board is obtained by transferring the wiring pattern metal layer using the transfer material to at least one main surface of a sheet-like base material containing a thermosetting resin composition. Stacking the ceramic wiring board and the composite wiring board, and press-bonding while heating to obtain a multilayer wiring board;
A method for manufacturing the wiring board according to claim 117.
【請求項119】 前記セラミックシートに、前記転写
材を用いた前記配線パターン金属層の転写を行う前に、
貫通孔を形成し、前記貫通孔に導電性組成物を充填す
る、請求項117または118に記載の配線基板の製造
方法。
119. Before transferring the wiring pattern metal layer to the ceramic sheet using the transfer material,
119. The method of manufacturing a wiring board according to claim 117, wherein a through hole is formed, and the conductive composition is filled in the through hole.
【請求項120】 セラミックシートに貫通孔を形成
し、 前記貫通孔が形成されたセラミックシートの両面に、前
記セラミックシートの焼成温度で実質的に焼結収縮しな
い無機組成物を主成分とする拘束シートを配置し、 前記拘束シートと共に前記セラミックシートを焼成し、 焼成後、前記拘束シートを取り除き、 前記貫通孔に熱硬化性の導電性組成物を充填し、ビアコ
ンダクタ付きのセラミック基板を得て、 請求項22〜35のいずれかに記載の転写材における少
なくとも第2の金属層を含む配線パターン金属層が形成
された側を、熱硬化性樹脂組成物を含む未硬化状態のシ
ート状基材の少なくとも一主面に圧着し、 前記剥離層によって前記第2の金属層に貼り合わされて
いる前記第1の金属層を、前記第2の金属層から剥離す
ることにより、前記シート状基材に、前記配線パターン
金属層を転写し、 前記転写の前または後に、前記熱硬化性樹脂組成物を含
むシート状基材に貫通孔を形成し、前記貫通孔に熱硬化
性の導電性組成物を充填し、ビアコンダクタ付きのコン
ポジット配線基板を得て、 前記セラミック基板と前記コンポジット配線基板とを積
層し、加熱しながら圧着することにより、多層配線基板
を得ることを特徴とする配線基板の製造方法。
120. A through-hole formed in a ceramic sheet, and a constraint mainly composed of an inorganic composition that does not substantially shrink at the firing temperature of the ceramic sheet on both sides of the ceramic sheet having the through-hole formed therein. Arranging a sheet, firing the ceramic sheet together with the constraining sheet, removing the constraining sheet after firing, filling the through-hole with a thermosetting conductive composition, and obtaining a ceramic substrate with a via conductor An uncured sheet-like base material containing a thermosetting resin composition on a side of the transfer material according to any one of claims 22 to 35 on which a wiring pattern metal layer including at least a second metal layer is formed. Pressure-bonding to at least one main surface of the first metal layer, and separating the first metal layer bonded to the second metal layer by the release layer from the second metal layer. By transferring the wiring pattern metal layer to the sheet-like base material, before or after the transfer, forming a through-hole in the sheet-like base material containing the thermosetting resin composition, and applying heat to the through-hole. Filling the curable conductive composition to obtain a composite wiring board with a via conductor, laminating the ceramic substrate and the composite wiring board, and press-bonding while heating to obtain a multilayer wiring board. A method for manufacturing a wiring board, which is characterized by the following.
【請求項121】 前記セラミックシートに貫通孔を形
成するときに、前記セラミック基板と前記コンポジット
配線基板とを積層する際の位置合わせピン用の貫通孔
も、同時に形成する、請求項119または120に記載
の配線基板の製造方法。
121. The method according to claim 119, wherein when forming a through hole in the ceramic sheet, a through hole for an alignment pin in laminating the ceramic substrate and the composite wiring substrate is also formed at the same time. The method for manufacturing the wiring board according to the above.
【請求項122】 前記貫通孔の穴径を、前記ピン径よ
り2〜10%大きく形成する、請求項121に記載の配
線基板の製造方法。
122. The method of manufacturing a wiring board according to claim 121, wherein a hole diameter of said through hole is formed larger by 2 to 10% than said pin diameter.
【請求項123】 前記転写材を用いた前記配線パター
ン金属層の転写後に、 前記シート状基材表面に形成された配線パターン金属層
上に、メッキ処理を施す、請求項110〜122のいず
れかに記載の配線基板の製造方法。
123. A plating process is performed on the wiring pattern metal layer formed on the surface of the sheet-like base material after transferring the wiring pattern metal layer using the transfer material. 3. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1.
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004103897A (en) * 2002-09-11 2004-04-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Circuit board and its manufacturing method
WO2004091266A1 (en) * 2003-04-02 2004-10-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Circuit board and process for producing the same
JP2005026445A (en) * 2003-07-02 2005-01-27 North:Kk Multilayer wiring board and its manufacturing method
US6898850B2 (en) 2002-08-06 2005-05-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of manufacturing circuit board and communication appliance
KR20090105844A (en) * 2008-04-02 2009-10-07 히타치 긴조쿠 가부시키가이샤 Multilayer ceramic substrate, electronic component, and method of manufacturing multilayer ceramic substrate
JP2010153700A (en) * 2008-12-26 2010-07-08 Hitachi Metals Ltd Multilayer ceramic board and electronic component
JP2010171275A (en) * 2009-01-23 2010-08-05 Hitachi Metals Ltd Multilayer ceramic board, electronic parts using the same, and manufacturing method of the same
JP2012079971A (en) * 2010-10-04 2012-04-19 Polyic Gmbh & Co Kg Electronic circuit and manufacturing method therefor
JP2012199349A (en) * 2011-03-22 2012-10-18 Ngk Insulators Ltd Ceramic substrate
KR20140068456A (en) * 2012-11-28 2014-06-09 주식회사 아모그린텍 Method for manufacturing flexible printed circuit board, and flexible printed circuit board manufactured by the method
US9521755B2 (en) 2003-07-02 2016-12-13 Invensas Corporation Multilayer wiring board for an electronic device
JP2017172048A (en) * 2013-07-23 2017-09-28 Jx金属株式会社 Surface treated copper foil, copper foil with carrier, manufacturing method of substrate, manufacturing method of printed wiring board, manufacturing method of printed circuit board and manufacturing method of copper clad laminate sheet
JP2018098494A (en) * 2016-12-07 2018-06-21 日東電工株式会社 Manufacturing method for module
CN112205082A (en) * 2019-04-23 2021-01-08 庆鼎精密电子(淮安)有限公司 Circuit board and manufacturing method thereof

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6882520B2 (en) * 2002-12-03 2005-04-19 Tyco Electronics Raychem K.K. Solid electrolytic capacitors
KR100596137B1 (en) * 2004-06-26 2006-07-05 전자부품연구원 PCB with passive elements embedded therein and method for fabricating the same
KR100894102B1 (en) * 2007-10-29 2009-04-20 주식회사 하이닉스반도체 Method for fabricating highly integrated semiconductor memory device
KR101886647B1 (en) * 2016-12-22 2018-08-09 와이엠티 주식회사 Method of forming electrode pattern using transcription
KR102205988B1 (en) * 2019-04-19 2021-01-22 주식회사 아이.티.에프 SAW filter package and a method for manufacturing the same

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6055691A (en) * 1983-09-07 1985-03-30 ダイソー株式会社 Conductive pattern forming unit of circuit board
JPS60164392A (en) * 1984-02-07 1985-08-27 日本電産コパル株式会社 Method of forming circuit board
JP2675985B2 (en) * 1994-10-27 1997-11-12 株式会社東芝 Transfer board for circuit board manufacturing
JPH11135946A (en) * 1997-10-31 1999-05-21 Kyocera Corp Multilayer wiring board and manufacture thereof
JP2000015742A (en) * 1998-07-01 2000-01-18 Hitachi Metals Ltd Composite material for transfer method and its production

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6898850B2 (en) 2002-08-06 2005-05-31 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of manufacturing circuit board and communication appliance
KR100898451B1 (en) * 2002-08-06 2009-05-21 파나소닉 주식회사 Method of manufacturing circuit board and communication appliance
JP2004103897A (en) * 2002-09-11 2004-04-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd Circuit board and its manufacturing method
WO2004091266A1 (en) * 2003-04-02 2004-10-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Circuit board and process for producing the same
US7563650B2 (en) 2003-04-02 2009-07-21 Panasonic Corporation Circuit board and the manufacturing method
JP2005026445A (en) * 2003-07-02 2005-01-27 North:Kk Multilayer wiring board and its manufacturing method
US9521755B2 (en) 2003-07-02 2016-12-13 Invensas Corporation Multilayer wiring board for an electronic device
US10104785B2 (en) 2003-07-02 2018-10-16 Invensas Corporation Multilayer wiring board for an electronic device
KR20090105844A (en) * 2008-04-02 2009-10-07 히타치 긴조쿠 가부시키가이샤 Multilayer ceramic substrate, electronic component, and method of manufacturing multilayer ceramic substrate
JP2009267351A (en) * 2008-04-02 2009-11-12 Hitachi Metals Ltd Multi-layer ceramic substrate, electronic component, and method of manufacturing multi-layer ceramic substrate
KR101586857B1 (en) * 2008-04-02 2016-01-19 히타치 긴조쿠 가부시키가이샤 Multilayer ceramic substrate electronic component and method of manufacturing multilayer ceramic substrate
JP2010153700A (en) * 2008-12-26 2010-07-08 Hitachi Metals Ltd Multilayer ceramic board and electronic component
JP2010171275A (en) * 2009-01-23 2010-08-05 Hitachi Metals Ltd Multilayer ceramic board, electronic parts using the same, and manufacturing method of the same
JP2012079971A (en) * 2010-10-04 2012-04-19 Polyic Gmbh & Co Kg Electronic circuit and manufacturing method therefor
JP2012199349A (en) * 2011-03-22 2012-10-18 Ngk Insulators Ltd Ceramic substrate
KR20140068456A (en) * 2012-11-28 2014-06-09 주식회사 아모그린텍 Method for manufacturing flexible printed circuit board, and flexible printed circuit board manufactured by the method
KR101989798B1 (en) * 2012-11-28 2019-06-18 주식회사 아모그린텍 Method for manufacturing flexible printed circuit board, and flexible printed circuit board manufactured by the method
JP2017172048A (en) * 2013-07-23 2017-09-28 Jx金属株式会社 Surface treated copper foil, copper foil with carrier, manufacturing method of substrate, manufacturing method of printed wiring board, manufacturing method of printed circuit board and manufacturing method of copper clad laminate sheet
JP2018098494A (en) * 2016-12-07 2018-06-21 日東電工株式会社 Manufacturing method for module
US11387040B2 (en) 2016-12-07 2022-07-12 Nitto Denko Corporation Producing method of module
CN112205082A (en) * 2019-04-23 2021-01-08 庆鼎精密电子(淮安)有限公司 Circuit board and manufacturing method thereof
CN112205082B (en) * 2019-04-23 2022-08-09 庆鼎精密电子(淮安)有限公司 Circuit board and manufacturing method thereof

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