JP2002203329A - レーザ光源装置、レーザ光源装置における光軸調整方法、および光ヘッド装置 - Google Patents

レーザ光源装置、レーザ光源装置における光軸調整方法、および光ヘッド装置

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JP2002203329A
JP2002203329A JP2000401572A JP2000401572A JP2002203329A JP 2002203329 A JP2002203329 A JP 2002203329A JP 2000401572 A JP2000401572 A JP 2000401572A JP 2000401572 A JP2000401572 A JP 2000401572A JP 2002203329 A JP2002203329 A JP 2002203329A
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optical axis
laser light
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laser chip
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Katsuya Moriyama
克也 森山
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Nidec Sankyo Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の半導体レーザチップの各光軸位置を容
易に調整することができ、さらには、半導体レーザチッ
プに電気プローブを当てなくてもパッシブアライメント
を行うことのできるレーザ光源装置、このレーザ光源装
置における光路調整方法、およびこのレーザ光源装置を
用いた光ヘッド装置を提供すること。 【解決手段】 半導体レーザチップ11、12の間に
は、これらの半導体レーザチップ11、12から出射さ
れたレーザ光L1、L12を平行に反射させる2つの斜
め反射面141、142を有する光軸調整部材14が配
置されている。基板100を介して、半導体レーザチッ
プ11、12に給電を行い、それらの発光点の間隔を観
察した結果に基づいて、レーザ光源装置100からの光
出射方向に沿って光軸調整部材14を移動させてレーザ
光L1、L2の光軸を調整する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の半導体レー
ザチップを備えたレーザ光源装置、このレーザ光源装置
における光路調整方法、およびこのレーザ光源装置を用
いた光ヘッド装置に関するものである。更に詳しくは、
レーザ光源装置において、複数の半導体レーザチップの
各々から出射されるレーザ光の光軸位置を調整するため
の技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光記録ディスク(光記録媒体)として
は、従来、CD(コンパクトディスク)が主流であった
が、波長の短い赤色半導体レーザチップが実用化される
に伴なって、CDと同程度の大きさで大容量化したDV
D(デジタルバーサタイルディスク)が商品化されつつ
ある。但し、既存のデータを活用するという観点からす
れば、DVD駆動装置においてもCD系の光記録ディス
ク(以下、CD系ディスクという。)からの再生が可能
であることは重要である。しかしながら、CD系ディス
クでは、635/650nm帯の波長帯域が、光記録デ
ィスクに用いた有機色素の吸収帯に相当するため、この
波長に対する反射率が低い。従って、波長が635/6
50nm帯の赤色レーザ光ではCD系ディスクから信号
を再生することは不可能であるなどの事情がある。
【0003】そこで、1つの光ヘッド装置において、波
長が635/650nm帯のレーザ光を出射する第1の
半導体レーザチップと、波長が780nm帯のレーザ光
を出射する第2の半導体レーザチップとを横並びに近接
配置し、これらのレーザから出射されたレーザ光を共通
の光路に導くものが案出されている。
【0004】このような構成の光ヘッド装置によれば、
波長の短いレーザ光を用いてDVDからの信号再生を行
なうことができるとともに、波長の長いレーザ光を用い
てCD系ディスクからの信号再生を行なうことができ
る。また、2つの半導体レーザチップから出射されたレ
ーザ光を共通の光路上に導くので、対物レンズや受光素
子を共通化することができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、2つの
半導体レーザチップを横並びに配置したとき、2つの半
導体レーザチップの発光点の間隔が、例えば5μm以上
もばらついていると、光ヘッド装置において再生特性な
どの機能が低下してしまうという問題点がある。このた
め、半導体レーザチップについては精度よく実装する必
要があるが、半導体レーザチップは、1辺が200μm
と小さなものであり、このような小さいチップを高い位
置精度で実装するのは困難である。それ故、半導体レー
ザチップを基板上に実装する前に、各半導体レーザチッ
プの電極に給電プローブを当てて半導体レーザチップに
給電することにより半導体レーザチップをLEDモード
で発光させ、その発光点の間隔を観察しながら各半導体
レーザチップの光軸位置を調整するパッシブアライメン
トを行う必要がある。
【0006】しかしながら、1辺が200μmしかない
半導体レーザチップを吸引して、その位置を調整するに
は、かなり小さくて、かつ、複雑な構造の吸着ヘッドが
必要であるとともに、高価な位置決め装置なども必要と
なってしまう。また、小さな半導体レーザチップの電極
に給電プローブを当てて給電するには、かなり細いプロ
ーブを準備しなければならないとともに、このようなプ
ローブを半導体レーザチップの電極に当てるのは、かな
り作業効率が低い。さらに、半導体レーザチップの電極
に給電プローブを当てたとき、その圧力によって、半導
体レーザチップの活性層が損傷するおそれがある。
【0007】以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、
複数の半導体レーザチップの各光軸位置を容易に調整す
ることができ、さらには、半導体レーザチップの電極に
給電プローブを当てなくてもパッシブアライメントを行
うことのできるレーザ光源装置、このレーザ光源装置に
おける光路調整方法、およびこのレーザ光源装置を用い
た光ヘッド装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明のレーザ光源装置は、互いの出射端面が向か
い合うように配置された第1の半導体レーザチップと第
2の半導体レーザチップとの間に光軸調整部材が配置さ
れ、該光軸調整部材は、前記第1の半導体レーザチップ
から出射されたレーザ光を所定の方向に反射する第1の
斜め反射面と、前記第2の半導体レーザチップから出射
されたレーザ光を、前記第1の斜め反射面で反射された
レーザ光と平行な方向に反射する第2の斜め反射面とを
備えていることを特徴とする。
【0009】本発明において、各半導体レーザチップか
ら出射されたレーザ光は、光軸調整部材において第1お
よび第2の斜め反射面で反射して出射される。このた
め、光軸調整部材の位置を変えるだけで、各半導体レー
ザチップから出射されたレーザ光が第1および第2の斜
め反射面で反射する位置が変わるので、半導体レーザチ
ップの位置を変えなくても、レーザ光の光軸位置を調整
できる。従って、半導体レーザチップを基板上に実装し
た後、半導体レーザチップよりも大きな光軸調整部材の
位置を調整してレーザ光の光軸位置を調整すればよいの
で、小さな半導体レーザチップを吸着することのできる
複雑な機構の吸着ヘッドが不要であるとともに、高価な
位置決め装置なども不要である。また、半導体レーザチ
ップを基板上に実装した後であれば、この基板を介して
半導体レーザチップに給電することができるので、小さ
な半導体レーザチップの電極に当てることのできるよう
な特別、細い給電プローブが不要であり、かつ、半導体
レーザチップの電極に給電プローブを当てたときの圧力
によって、半導体レーザチップの活性層が損傷するおそ
れもない。
【0010】本発明において、前記第1の半導体レーザ
チップおよび第2の半導体レーザチップからの出射光軸
は互いに平行であり、これらの出射光軸に対して、前記
第1の斜め反射面および前記第2の斜め反射面は、45
度の角度をなしていることが好ましい。このような構成
を採用すると、光軸調整部材の第1の斜め反射面および
第2の斜め反射面を直角に形成すればよいので、光軸調
整部材の構造を簡素化できるとともに、半導体レーザチ
ップをレイアウトするのも容易である。
【0011】本発明においては、さらに、前記光軸調整
部材からレーザ光が出射されていく方向に沿って前記光
軸調整部材を移動させるときのガイドを有していること
が好ましい。このように構成すると、光軸調整部材の位
置調整を容易に行うことができる。
【0012】本発明においては、さらに、前記半導体レ
ーザチップの配置位置を規定するレーザチップ位置決め
部を備えていることが好ましい。半導体レーザチップの
実装位置については、パッシブアライメントを行っても
変えることがないので、位置決め部を利用して、予め設
定された所定位置に半導体レーザチップを実装すればよ
い。
【0013】本発明において、前記半導体レーザチップ
から前記光軸調整部材を経由して出射されていくレーザ
光の光路に対して平面的に重なる部分は、前記半導体レ
ーザチップが配置されている領域よりも低くなっている
ことが好ましい。このように構成すると、半導体レーザ
チップから発散光として出射されたレーザ光が基板に当
たって蹴られるという問題を回避することができる。
【0014】このように構成するにあたっては、前記半
導体レーザチップおよび前記光軸調整部材が実装されて
いる基板に対して、前記半導体レーザチップから前記光
軸調整部材を経由して出射されていくレーザ光の光路に
対して平面的に重なる部分に凹部を形成することが好ま
しい。このように構成すると、配線パターンや受光素子
などが形成されている基板に対して、半導体レーザチッ
プを直接、実装し、サブマウント基板などを省略した場
合でも、半導体レーザチップから出射されたレーザ光が
基板に当たって蹴られることがない。
【0015】本発明において、前記第1の半導体レーザ
チップおよび前記第2の半導体レーザチップのうち、少
なくとも一方は、複数、配置されていることがある。
【0016】本発明において、前記第1の半導体レーザ
チップおよび前記第2の半導体レーザチップのうち、少
なくとも一方は、複数種類のレーザ光を出射するように
構成されることもある。すなわち、複数の半導体レーザ
チップを共通の基板上に構成することにより、例えば、
636nm帯(あるいは650nm帯)のレーザ光と、
780nm帯のレーザ光を1チップで発生するモノシリ
ック半導体レーザチップを第1の半導体レーザチップ、
あるいは第2の半導体レーザチップとして使用してもよ
い。
【0017】本発明を適用したレーザ光源装置におい
て、各レーザ光の光軸調整を行う際には、前記半導体レ
ーザチップを基板上に実装した後、該半導体レーザチッ
プを発光させ、その発光点に対する観察結果に基づい
て、前記光軸調整部材からレーザ光が出射されていく方
向における前記光軸調整部材の位置を調整することによ
り、前記光軸調整部材から出射される各レーザ光の光軸
位置を調整する。
【0018】このような光軸調整工程において、前記半
導体レーザチップを発光させる際には、当該半導体レー
ザチップが搭載された基板を介して前記半導体レーザチ
ップに給電することが好ましい。このように構成する
と、小さな半導体レーザチップの電極にプローブを当て
て給電しなくても、パッシブアライメントを行うことが
できる。
【0019】本発明を適用したレーザ光源装置は、例え
ば、レーザ光源から出射されたレーザ光を光記録媒体上
に収束させる対物レンズと、光記録媒体上で反射してき
た戻り光を受光する受光素子とを有する光ヘッド装置な
どにおいて前記レーザ光源として用いることが好まし
い。本発明を適用した光ヘッド装置では、複数の半導体
レーザチップの各光軸の位置を手間をかけずに調整でき
るので、DVD用およびCD用の各半導体レーザチップ
を用いた搭載した光ヘッド装置の製造工程を簡略化でき
るので、光ヘッド装置のコストダウンを図ることができ
る。
【0020】
【発明の実施の形態】図面を参照して、本発明を適用し
た光ヘッド装置、それに用いたレーザ光源装置、および
このレーザ光源装置における光軸調整方法を説明する。
【0021】[実施の形態1] (光ヘッド装置の全体構成)図1は、本発明を適用した
光ヘッド装置の光学系を示す概略構成図、図2は、この
光ヘッド装置の構成を摸式的に示す説明図である。
【0022】図1において、本発明を適用した光ヘッド
装置1は、635nm帯(あるいは650nm)および
780nm帯のレーザ光を用いてDVDおよびCD系デ
ィスクの双方から信号の再生可能なものである。この光
ヘッド装置1は、まず、波長が635nm帯(あるいは
650nm帯)の第1のレーザ光L1、および波長が7
80nm帯の第2のレーザ光L2を出射するレーザ光源
装置10を有しており、このレーザ光源装置10には、
光記録媒体からの戻り光を受光するための受光素子15
(ホトダイオードあるいはホトトランジスタ)、および
光記録媒体からの戻り光を受光素子15に向けて全反射
する立ち下げ全反射ミラー16も構成されている。
【0023】ここに示す光ヘッド装置1において、レー
ザ光源装置10から出射された第1のレーザ光L1およ
び第2のレーザ光L2は、共通の光路を通って光記録デ
ィスク2(光記録媒体)であるDVDあるいはCD系デ
ィスクに導かれる。また、光記録ディスク2からの戻り
光も共通の光路を介して共通の受光素子15に導かれ
る。この共通の光路上には、3ビームを形成するための
波長選択性グレーティング3、波長選択性ホログラム
4、この波長選択性ホログラム4を透過してきた光を平
行光束に変換するコリメートレンズ5、このコリメート
レンズ5から出射された光の進行方向を直角に折り曲げ
る立ち上げ全反射ミラー6、およびこの立ち上げ全反射
ミラー6から反射してきた光を光記録ディスク2のディ
スク面に収束させる対物レンズ7がこの順に配置されて
いる。
【0024】これらの光学部品のうち、レーザ光源装置
10、波長選択性グレーティング3、波長選択性ホログ
ラム4、およびコリメートレンズ5は、図2に示すよう
に、感光性ガラス製などの枠体8によって位置決めされ
た状態で金属配線基板9上に実装されている。また、金
属配線基板9には、立ち上げ全反射ミラー6とともに、
対物レンズ7を駆動するためのアクチュエータ70が構
成されている。このようにして各構成要素を搭載した金
属配線基板9は、主軸ガイド51および副軸ガイド52
を備えるフレーム50上に搭載される。
【0025】(レーザ光源装置10の構成)図3および
図4は、本形態のレーザ光源装置10の要部構成を示す
説明図、およびこのレーザ光源装置10に搭載されてい
る半導体レーザチップ周囲を拡大して示す説明図であ
る。図5(A)、(B)、(C)、(D)はそれぞれ、
本形態のレーザ光源装置10において光軸調整部材とし
て使用可能なものの説明図である。
【0026】本形態の光ヘッド装置1に用いたレーザ光
源装置10は、図3および図4に示すように、信号検出
用の受光素子15が形成されたシリコン基板などといっ
た基板100に対して、立ち下げ全反射ミラー16が実
装され、この状態でパッケージ(図示せず)内に収納さ
れてハイブリッド化されている。また、基板100にお
いて、受光素子15の側方には、波長が635nm帯
(あるいは650nm帯)の第1のレーザ光L1を出射
する第1の半導体レーザチップ11が実装された第1の
サブマウント基板110と、波長が780nm帯の第2
のレーザ光L2を出射する第2の半導体レーザチップ1
2が実装された第2のサブマウント基板120とが実装
されている。第1のサブマウント基板110には、第1
の半導体レーザチップ11の後端面から出射されたレー
ザ光を検出するモニター用の受光素子111が形成さ
れ、第2のサブマウント基板120には、第2の半導体
レーザチップ12の後端面から出射されたレーザ光を検
出するモニター用の受光素子121が形成されている。
【0027】ここで、2つの半導体レーザチップ11、
12は、出射端面が互いに向き合うように配置され、半
導体レーザチップ11、12の出射光軸同士は平行にな
っている。
【0028】また、2つの半導体レーザチップ11、1
2の間には光軸調整部材14が配置されている。この光
軸調整部材14は、図5(A)に示すように、5角柱形
状を有する樹脂製あるいはシリコン製であり、第1の半
導体レーザチップ11から出射されたレーザ光L1を所
定の方向に反射する第1の斜め反射面141と、第2の
半導体レーザチップ12から出射されたレーザ光L2
を、第1の斜め反射面141で反射されたレーザ光L1
と平行な方向に反射する第2の斜め反射面142を備え
ている。ここで、斜め反射面141、142はそれぞ
れ、第1の半導体レーザチップ11から出射されたレー
ザ光L1、および第2の半導体レーザチップ12から出
射されたレーザ光L2に対して45度の角度をなしてい
るため、第1の斜め反射面141および第2の斜め反射
面142は、先端側で直角に交わっている。
【0029】また、基板100には、光軸調整部材14
の側面において平行に相対向する2つの面に当接する突
条部からなるガイド181、182(図7を参照)が、
レーザ光L1、L2が出射されていく方向に沿って延び
ている。このようなガイド181、182は、感光性レ
ジスト、あるいはシリコン基板へのエッチング加工によ
り形成できる。
【0030】さらに、基板100には、第1のサブマウ
ント基板110および第2のサブマウント基板120の
前面および両側面に当接する平面コの字形状のレーザチ
ップ位置決め部106、107が形成されている。この
レーザチップ位置決め部106、107は、基板100
上においてサブマウント基板110、120を位置決め
することにより、基板100上における半導体レーザチ
ップ11、12の位置決めを行う。このようなレーザチ
ップ位置決め部106、107は、感光性レジスト、あ
るいはシリコン基板へのエッチング加工により形成でき
る。
【0031】(レーザ光源装置10における光軸調整方
法)図6および図7を参照して、本形態の光ヘッド装置
1の組み立て方法、およびレーザ光源装置10における
光軸調整方法を説明する。
【0032】図6は、本形態の光ヘッド装置1の組み立
て方法を示す工程図である。図7(A)、(B)は、本
形態の光ヘッド装置1に用いたレーザ光源装置10にお
いて、光軸調整を行う様子を示す説明図である。
【0033】図6において、本形態の光ヘッド装置1を
組み立てるにあたっては、まず、第1のLD搭載工程S
T1において、第1のサブマウント基板110に第1の
半導体レーザチップ11を搭載するとともに、第2のL
D搭載工程ST2において、第2のサブマウント基板1
20に第2の半導体レーザチップ12を搭載する。
【0034】次に、第1のLD/サブマウント実装工程
ST3において、第1のサブマウント基板110を基板
100に実装するとともに、第2のLD/サブマウント
実装工程ST4において、第2のサブマウント基板12
0を基板100に実装する。この際、サブマウント基板
110、120の実装位置は、レーザチップ位置決め部
106、107によって規定される。
【0035】次に、仮搭載工程ST5において、光軸調
整部材14を基板100上に仮搭載する。
【0036】次に、発光点間隔モニター工程ST6にお
いて、基板100、およびサブマウント基板110、1
20を介して、半導体レーザチップ11、12に給電を
行って、半導体レーザチップ11、12をLED発光さ
せるとともに、レーザ光源装置100の光出射側から光
軸調整部材14をCCDカメラ90などでみて、第1の
半導体レーザチップ11の発光点と、第2の半導体レー
ザチップ12の発光点との間隔を観察する(図7(A)
を参照)。
【0037】次に、間隔調整工程ST7においては、半
導体レーザチップ11、12の発光点間隔を観察した結
果に基づいて、レーザ光源装置100からの光出射方向
に沿って光軸調整部材14をガイド181、182に沿
って移動させ、この方向における光軸調整部材14の位
置を調整する(図7(B)を参照)。
【0038】すなわち、本形態のレーザ光源装置10に
おいて、半導体レーザチップ11、12から出射された
レーザ光L1、L2は、光軸調整部材14において第1
および第2の斜め反射面141、142で反射して出射
されるため、図7(A)、(B)に示すように、レーザ
光源装置100からの光出射方向に沿って光軸調整部材
14を移動させるだけで、各半導体レーザチップ11、
12から出射されたレーザ光L1、L2が第1および第
2の斜め反射面141、142で反射する位置が変わ
る。従って、半導体レーザチップ11、12の位置を変
えなくても、レーザ光の光軸位置を調整できる。例え
ば、図7(A)に示す状態から、図7(B)に示すよう
に、レーザ光源装置100からの光出射方向と反対方向
に向かって光軸調整部材14の位置をずらすと、各半導
体レーザチップ11、12から出射されたレーザ光L
1、L2が斜め反射面141、142で反射する位置が
先端側にずれるので、半導体レーザチップ11、12の
位置を変えなくても、レーザ光L1、L2の光軸位置は
いずれも、内側にずれて近接した状態になる。
【0039】このようにして光軸調整を行った後、固定
工程ST8において、光軸調整部材14を基板100に
対して固定する。
【0040】次に、枠体搭載工程ST9において金属配
線基板9に対して枠体8を搭載した後、素子搭載工程S
T10において、枠体8に対してレーザ光源装置10お
よびその他の光学部品を搭載する。
【0041】次に、アクチュエータ搭載工程ST11に
おいて金属配線基板9に対してアクチュエータ70を搭
載した後、光学調整工程ST12において所定の光学調
整を行い、しかる後に、基板搭載工程ST13におい
て、金属配線基板9をフレーム50に搭載する。
【0042】以上説明したように、本形態のレーザ光源
装置10および光ヘッド装置1では、光軸調整部材14
の位置を変えるだけで、各半導体レーザチップ11、1
2から出射されたレーザ光L1、L2の光軸位置を調整
できる。従って、半導体レーザチップ11、12を基板
100上に実装した後、半導体レーザチップ11、12
よりも大きな光軸調整部材14の位置を調整してレーザ
光L1、L2の光軸位置を調整すればよいので、小さな
半導体レーザチップ11、12を吸着することのできる
複雑な機構の吸着ヘッドが不要であるとともに、高価な
位置決め装置なども不要である。
【0043】また、半導体レーザチップ11、12を基
板100上に実装した後であれば、この基板100およ
びサブマウント基板110、120を介して半導体レー
ザチップ11、12に給電することができるので、小さ
な半導体レーザチップ11、12の電極に当てることの
できるような特別、細い給電プローブが不要であり、か
つ、半導体レーザチップ11、12の電極に給電プロー
ブを当てたときの圧力によって、半導体レーザチップ1
1、12の活性層が損傷するおそれもない。
【0044】このように、本形態のレーザ光源装置10
では、複数の半導体レーザチップ11、12の各光軸の
位置を手間をかけずに調整できる。従って、DVD用お
よびCD用の各半導体レーザチップ11、12を用いた
光ヘッド装置1の製造工程を簡略化できるので、光ヘッ
ド装置のコストダウンを図ることができる。また、半導
体レーザチップ11、12の発光点間隔を狭めることも
容易であるため、光ヘッド装置1において、半導体レー
ザチップ11、12から出射されたレーザ光L1、L2
は、好適に共通の光路上を進行するとともに、光記録デ
ィスク2からの戻り光も、好適に共通の光路を進行す
る。
【0045】また、本形態のレーザ光源装置10では、
2つの半導体レーザチップ11、12からの出射光軸が
互いに平行であり、これらの出射光軸に対して、斜め反
射面141、142は、45度の角度をなしている。従
って、光軸調整部材14において2つの斜め反射面14
1、142を直角に形成すればよいので、光軸調整部材
14の構造を簡素化できるとともに、半導体レーザチッ
プ11、12をレイアウトするのも容易である。
【0046】さらにまた、光軸調整部材14からレーザ
光が出射されていく方向に沿って光軸調整部材14を移
動させるときのガイド181、182が形成されている
ため、光軸調整部材14の位置を調整する際、光軸調整
部材14の向きがずれることもないので、位置調整を容
易に行うことができる。
【0047】また、本形態において、半導体レーザチッ
プ11、12の実装位置については、パッシブアライメ
ントを行っても変えることがないので、位置決め部10
6、107を利用して、予め設定された所定位置に半導
体レーザチップ11、12を実装すればよい。
【0048】なお、本形態では、図5(A)に示す一体
型の光軸調整部材14を用いたが、図5(B)に示すよ
うに、第1の斜め反射面141を備える部材143と、
第2の斜め反射面142を備える部材144とを接着し
て一つの光軸調整部材14としてもよい。また、図5
(C)に示すように、平面5角形の部材155の斜面の
各々に反射板146、167を貼り付けて第1の斜め反
射面141および第2の斜め反射面142を形成した光
軸調整部材14を用いてもよい。さらに、図5(D)に
示すように、立方体あるいは直方体において直角に交わ
る2つの面148、149によって第1の斜め反射面1
41および第2の斜め反射面142が形成された光軸調
整部材14を用いてもよい。
【0049】[実施の形態2]図8は、本形態のレーザ
光源装置の要部構成を示す説明図である。図9および図
10は、このレーザ光源装置に搭載されている半導体レ
ーザチップ周囲を拡大して示す説明図、および半導体レ
ーザチップの周囲をさらに拡大して示す説明図である。
なお、以下に説明するいずれのレーザ光源装置も、図1
および図2を参照して説明した光ヘッド装置1に用いら
れるもので、基本的な構成は、実施の形態1のレーザ光
源装置と同様である。このため、共通する部分には同一
の符号を付して説明するとともに、光軸調整方法など、
共通する部分については説明を省略する。
【0050】図8、図9、および図10において、本形
態のレーザ光源装置10では、信号検出用の受光素子1
5が形成された基板100に対して、立ち下げ全反射ミ
ラー16が実装されている。また、基板100には、第
1の半導体レーザチップ11と、第2の半導体レーザチ
ップ12とが実装された共通のサブマウント基板150
が実装されている。共通のサブマウント基板150に
は、各半導体レーザチップ11、12の後端面から出射
されたレーザ光を検出するモニター用の受光素子11
1、121が形成されている。ここで、2つの半導体レ
ーザチップ11、12は、共通のサブマウント基板15
0上において、出射端面が互いに向き合うように配置さ
れ、半導体レーザチップ11、12の出射光軸同士は平
行になっている。また、共通のサブマウント基板150
において、2つの半導体レーザチップ11、12の間に
は光軸調整部材14が配置されている。この光軸調整部
材14も、実施の形態1と同様、5角柱形状を有してお
り、第1の半導体レーザチップ11から出射されたレー
ザ光L1を所定の方向に反射する第1の斜め反射面14
1と、第2の半導体レーザチップ12から出射されたレ
ーザ光L2を、第1の斜め反射面141で反射されたレ
ーザ光L1と平行な方向に反射する第2の斜め反射面1
42とを備えている。ここで、2つの斜め反射面14
1、142はそれぞれ、各半導体レーザチップ11、1
2から出射されたレーザ光L1、L2に対して45度の
角度をなしているため、斜め反射面141、142は直
角になっている。
【0051】共通のマブマウント基板150には、光軸
調整部材14の側面において平行に相対向する2つの面
に当接する突条部からなるガイド181、182が、レ
ーザ光L1、L2が出射されていく方向に沿って延びて
いる。
【0052】さらに、共通のサブマウント基板150に
は、各半導体レーザチップ11、12の後面および両側
面に当接するL字形状のレーザチップ位置決め部15
6、157が2つずつ形成されている。これらのレーザ
チップ位置決め部156、157は、共通のサブマウン
ト基板115における第1の半導体レーザチップ11、
および第2の半導体レーザチップ12の位置決めを行
う。このようなレーザチップ位置決め部156、157
は、感光性レジスト、あるいはシリコン基板へのエッチ
ング加工により形成できる。
【0053】このように構成したレーザ光源装置10に
おいても、半導体レーザチップ11、12をサブマウン
ト基板150を介して基板100上に実装した後、半導
体レーザチップ11、12よりも大きな光軸調整部材1
4の位置を調整してレーザ光L1、L2の光軸位置を調
整すればよい。また、半導体レーザチップ11、12を
共通のサブマウント基板150を介して基板100上に
実装した後であれば、この基板100を介して半導体レ
ーザチップ11、12に給電することができるので、小
さな半導体レーザチップ11、12の電極に給電プロー
ブを当てる必要がないなど、実施の形態1と同様な効果
を奏する。
【0054】さらに、本形態のレーザ光源装置10にお
いて、半導体レーザチップ11、12および光軸調整部
材14が搭載されたサブマウント基板150では、半導
体レーザチップ11、12から光軸調整部材14を経由
して出射されていくレーザ光の光路に対して平面的に重
なる部分を、半導体レーザチップ11、12が配置され
ている領域よりも低くする凹部155がサブマント基板
150に形成されている。このような凹部155は、サ
ブマウント基板150に対するエッチングにより形成で
きる。このため、2つの半導体レーザチップ11、12
を共通のサブマウント基板115に実装したときでも、
半導体レーザチップ11、12から出射されたレーザ光
がサブマウント基板150に当たって蹴られることがな
い。
【0055】[実施の形態3]図11は、本発明の実施
の形態3に係るレーザ光源装置の要部構成を示す説明図
である。
【0056】図11において、本形態のレーザ光源装置
10では、信号検出用の受光素子15が形成された基板
100に対して、立ち下げ全反射ミラー16が実装され
ている。また、基板100には、第1の半導体レーザチ
ップ11と、第2の半導体レーザチップ12とが直接、
実装されている。また、基板100には、各半導体レー
ザチップ11、12の後端面から出射されたレーザ光を
検出するモニタ用の受光素子111、121が形成され
ている。ここで、2つの半導体レーザチップ11、12
は、基板100上において、出射端面が互いに向き合う
ように配置され、半導体レーザチップ11、12の出射
光軸同士は平行になっている。また、基板100におい
て、2つの半導体レーザチップ11、12の間には光軸
調整部材14が配置されている。この光軸調整部材14
も、実施の形態1、2と同様な構成を有しているので、
説明を省略するが、この光軸調整部材14の位置を調整
すれば、レーザ光L1、L2の光軸位置を調整すること
ができる。
【0057】本形態のレーザ光源装置10において、半
導体レーザチップ11、12および光軸調整部材14が
搭載された基板100では、半導体レーザチップ11、
12から光軸調整部材14を経由して出射されていくレ
ーザ光L1、L2の光路に対して平面的に重なる部分
を、半導体レーザチップ11、12が配置されている領
域よりも低くする凹部105が基板100に形成されて
いる。このような凹部105は、基板100に対するエ
ッチングにより形成できる。このため、2つの半導体レ
ーザチップ11、12を共通の基板100に直接、実装
したときでも、半導体レーザチップ11、12から出射
されたレーザ光L1、L2が基板100に当たって蹴ら
れることがない。
【0058】[その他の実施の形態]図12および図1
3を参照して、実施の形態1に係る光ヘッド装置1を基
本にして、3つの半導体レーザチップを搭載した例を説
明する。
【0059】図12および図13は、3つの半導体レー
ザチップを搭載したレーザ光源装置の説明図である。
【0060】まず、図12に示すレーザ光源装置10で
は、一つの第1の半導体レーザチップ11が実装された
第1のサブマウント基板110と、二つの第2の半導体
レーザチップ12A、12Bが実装された第2のサブマ
ウント基板120とが基板100に実装されている。
【0061】ここで、第1の半導体レーザチップ11
は、波長が410nm帯のレーザ光L1を出射し、第2
の半導体レーザチップ12Aは、波長が780nm帯の
レーザ光L2Aを出射し、第2の半導体レーザチップ1
2Bは、波長が635nm帯(あるいは650帯)のレ
ーザ光L2Bを出射する。
【0062】第1のサブマウント基板110には、第1
の半導体レーザチップ11の後端面から出射されたレー
ザ光を検出するモニター用の受光素子111が形成さ
れ、第2のサブマウント基板120には、2つの第2の
半導体レーザチップ12A、12Bの後端面から出射さ
れたレーザ光を検出する共通のモニター用の受光素子1
21が形成されている。
【0063】ここで、第1の半導体レーザチップ11と
第2の半導体レーザチップ12A、12Bは、出射端面
が互いに向き合うように配置され、半導体レーザチップ
11、12A、12Bの出射光軸同士は平行になってい
る。また、第1の半導体レーザチップ11と、第2の半
導体レーザチップ12A、12Bの間には光軸調整部材
14が配置されている。この光軸調整部材14も、実施
の形態1、2、3で説明したものと同様、第1の半導体
レーザチップ11から出射されたレーザ光L1を所定の
方向に反射する第1の斜め反射面141と、第2の半導
体レーザチップ12A、12Bから出射されたレーザ光
L2A、L2Bを、第1の斜め反射面141で反射され
たレーザ光L1と平行な方向に反射する第2の斜め反射
面142とを備えている。
【0064】このように構成したレーザ光源装置10に
おいても、半導体レーザチップ11、12A、12Bを
サブマウント基板110、120を介して基板100上
に実装した後、半導体レーザチップ11、12A、12
Bよりも大きな光軸調整部材14の位置を調整してレー
ザ光L1、L2A、L2Bの光軸位置を調整すればよ
い。また、半導体レーザチップ11、12A、12Bを
サブマウント基板110、120を介して基板100上
に実装した後であれば、この基板100を介して半導体
レーザチップ11、12A、12Bに給電することがで
きるので、小さな半導体レーザチップ11、12A、1
2Bの電極に給電プローブを当てる必要がないなど、実
施の形態1、2、3と同様な効果を奏する。
【0065】次に、図13に示すレーザ光源装置10
は、第1の半導体レーザチップ11が実装された第1の
サブマウント基板110と、第2の半導体レーザチップ
12が実装された第2のサブマウント基板120とが基
板100に実装されている。各サブマウント基板11
0、120には、半導体レーザチップ11、12の後端
面から出射されたレーザ光を検出するモニター用の受光
素子111、121が形成されている。また、2つの半
導体レーザチップ11、12は、出射端面が互いに向き
合うように配置され、半導体レーザチップ11、12の
出射光軸同士は平行になっている。また、2つの半導体
レーザチップ11、12の間には光軸調整部材14が配
置されている。この光軸調整部材14も、実施の形態
1、2、3で説明したものと同様、第1の半導体レーザ
チップ11から出射されたレーザ光L1を所定の方向に
反射する第1の斜め反射面141と、第2の半導体レー
ザチップ12から出射されたレーザ光L2を、第1の斜
め反射面141で反射されたレーザ光L1と平行な方向
に反射する第2の斜め反射面142とを備えている。
【0066】また、光軸調整部材14からのレーザ光の
出射方向には光学ブリズム16が配置されている。この
光学プリズム19は、半導体レーザチップ11、12か
ら光軸調整部材14を介して出射されたレーザ光L1、
L2を透過する部分反射面190を備えており、この部
分反射面190は、レーザ光L1、L2に対して45度
の角度をなしている。
【0067】さらに、光学プリズム19において第2の
半導体レーザチップ12が配置されている側には、第2
の半導体レーザチップ12の出射光軸と平行な光軸を備
えた第3の半導体レーザチップ13が第3のサブマウン
ト基板130に実装された状態で配置されている。この
第3のサブマウント基板130には、第3の半導体レー
ザチップ13の後端面から出射されたレーザ光を検出す
るモニター用の受光素子131が形成されている。
【0068】ここで、第3の半導体レーザチップ13か
ら出射された第3のレーザ光L3は、光学プリズム19
の部分反射面190に45度の角度をもって入射し、こ
の部分反射面190で反射する。その結果、第3の半導
体レーザチップ13から出射された第3のレーザ光L3
は、光学プリズム19から、第1のレーザ光L1および
第2のレーザ光L2と平行に出射される。
【0069】このように構成したレーザ光源装置10で
は、半導体レーザチップ11、12から出射されたレー
ザ光L1、L2については、光路光軸部材14によって
光軸位置を調整できる。また、第3の半導体レーザチッ
プ13から出射された第3のレーザ光L3については、
第3のサブマウント基板130を介して第3の半導体レ
ーザチップ13に給電することにより発光させ、その発
光位置に対する観察結果に基づいて、光学プリズム19
を矢印Aあるいは矢印Bの方向に移動させることによっ
て光軸位置を調整することができる。
【0070】なお、本形態では、第2の半導体レーザチ
ップ12と第3の半導体レーザチップ13が各々別の基
板上に形成されていたが、これらの半導体レーザチップ
12、13を共通の基板上に構成することにより、63
6nm帯(あるいは650nm帯)のレーザ光L2B
と、780nm帯のレーザ光L2Aを1チップで発生す
るモノシリック半導体レーザチップを構成してもよい。
【0071】なお、上記のいずれの形態においても、波
長の異なるレーザ光を出射する半導体レーザチップを例
に説明したが、波長が同じでレーザ出力が異なる半導体
レーザチップの発光点間隔を調整するのに本発明を適用
してもよい。
【0072】
【発明の効果】以上説明したように、本発明において、
各半導体レーザチップから出射されたレーザ光は、光軸
調整部材において第1および第2の斜め反射面で反射し
て出射される。このため、光軸調整部材の位置を変える
だけで、各半導体レーザチップから出射されたレーザ光
が第1および第2の斜め反射面で反射する位置が変わる
ので、半導体レーザチップの位置を変えなくても、レー
ザ光の光軸位置を調整できる。従って、半導体レーザチ
ップを基板上に実装した後、半導体レーザチップよりも
大きな光軸調整部材の位置を調整してレーザ光の光軸位
置を調整すればよいので、光軸調整が容易である。ま
た、半導体レーザチップを基板上に実装した後であれ
ば、この基板を介して半導体レーザチップに給電するこ
とができるので、小さな半導体レーザチップの電極に給
電プローブを当てる必要もない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した光ヘッド装置の光学系を示す
概略構成図である。
【図2】図1に示す光ヘッド装置の構成を摸式的に示す
説明図である。
【図3】本発明の実施の形態1に係るレーザ光源装置の
要部構成を示す説明図である。
【図4】図3に示すレーザ光源装置に搭載されている半
導体レーザチップ周囲を拡大して示す説明図である。
【図5】(A)、(B)、(C)、(D)はそれぞれ、
本発明が適用されるレーザ光源装置において光軸調整部
材として使用可能なものの説明図である。
【図6】図3に示す光ヘッド装置の組み立て方法を示す
工程図である。
【図7】図3に示す光ヘッド装置に用いたレーザ光源装
置において、光軸調整を行う様子を示す説明図である。
【図8】本発明の実施の形態2に係るレーザ光源装置の
要部構成を示す説明図である。
【図9】図8に示すレーザ光源装置に搭載されている半
導体レーザチップ周囲を拡大して示す説明図である。
【図10】図8に示すレーザ光源装置に搭載されている
半導体レーザチップ周囲をさらに拡大して示す説明図で
ある。
【図11】本発明の実施の形態3に係るレーザ光源装置
の要部構成を示す説明図である。
【図12】実施の形態1に係る光ヘッド装置1を基本に
して、3つの半導体レーザチップを搭載した例を示す説
明図である。
【図13】実施の形態1に係る光ヘッド装置1を基本に
して、3つの半導体レーザチップを搭載した別の例を示
す説明図である。
【符号の説明】
1 光ヘッド装置 2 光記録ディスク 5 コリメートレンズ 7 対物レンズ 8 枠体 9 金属配線基板 10 レーザ光源装置 11 第1の半導体レーザチップ 12、12A、12B 第2の半導体レーザチップ 13 第3の半導体レーザチップ 14 光軸調整部材 15 信号検出用の受光素子 19 光学プリズム 50 フレーム 70 アクチュエータ 100 基板 105、155 凹部 106、107、156、157 レーザチップ位置決
め部 110 第1のサブマウント基板 111、121、131 モニター用の受光素子 120 第2のサブマウント基板 130 第3のサブマウント基板 141 第1の斜め反射面 142 第2の斜め反射面 150 共通のサブマウント基板 156、157 レーザチップ位置決め部 181、182 ガイド 190 部分反射面 L1 第1のレーザ光 L2 第2のレーザ光
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01S 5/40 H01S 5/40 Fターム(参考) 2H043 AD08 AD21 5D117 AA02 CC07 HH01 HH06 KK01 KK15 5D119 AA41 BA01 BB01 BB04 EC45 EC47 FA08 5F073 AB06 AB21 AB25 AB27 AB29 BA05 FA02 FA23 FA30

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いの出射端面が向かい合うように配置
    された第1の半導体レーザチップと第2の半導体レーザ
    チップとの間に光軸調整部材が配置され、 該光軸調整部材は、前記第1の半導体レーザチップから
    出射されたレーザ光を所定の方向に反射する第1の斜め
    反射面と、前記第2の半導体レーザチップから出射され
    たレーザ光を、前記第1の斜め反射面で反射されたレー
    ザ光と平行な方向に反射する第2の斜め反射面とを備え
    ていることを特徴とするレーザ光源装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、前記第1の半導体レ
    ーザチップおよび第2の半導体レーザチップからの出射
    光軸は互いに平行であり、これらの出射光軸に対して、
    前記第1の斜め反射面および前記第2の斜め反射面は4
    5度の角度をなしていることを特徴とするレーザ光源装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2において、さらに、前
    記光軸調整部材からレーザ光が出射されていく方向に沿
    って前記光軸調整部材を移動させるときのガイドを有し
    ていることを特徴とするレーザ光源装置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかにおいて、
    さらに、前記半導体レーザチップの配置位置を規定する
    レーザチップ位置決め部を備えていることを特徴とする
    レーザ光源装置。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかにおいて、
    前記半導体レーザチップから前記光軸調整部材を経由し
    て出射されていくレーザ光の光路に対して平面的に重な
    る部分は、前記半導体レーザチップが配置されている領
    域よりも低くなっていることを特徴とするレーザ光源装
    置。
  6. 【請求項6】 請求項5において、前記半導体レーザチ
    ップおよび前記光軸調整部材が実装されている基板で
    は、前記半導体レーザチップから前記光軸調整部材を経
    由して出射されていくレーザ光の光路に対して平面的に
    重なる部分に凹部が形成されていることを特徴とするレ
    ーザ光源装置。
  7. 【請求項7】 請求項1ないし6のいずれかにおいて、
    前記第1の半導体レーザチップおよび前記第2の半導体
    レーザチップのうち、少なくとも一方は、複数、配置さ
    れていることを特徴とするレーザ光源装置。
  8. 【請求項8】 請求項1ないし6のいずれかにおいて、
    前記第1の半導体レーザチップおよび前記第2の半導体
    レーザチップのうち、少なくとも一方は、複数種類のレ
    ーザ光を出射することを特徴とするレーザ光源装置。
  9. 【請求項9】 請求項1ないし8のいずれかに規定する
    レーザ光源装置の光軸調整方法であって、前記半導体レ
    ーザチップを基板上に実装した後、該半導体レーザチッ
    プを発光させ、その発光点に対する観察結果に基づい
    て、前記光軸調整部材からレーザ光が出射されていく方
    向における前記光軸調整部材の位置を調整することによ
    り、前記光軸調整部材から出射される各レーザ光の光軸
    位置を調整することを特徴とするレーザ光源装置におけ
    る光軸調整方法。
  10. 【請求項10】 請求項9において、前記半導体レーザ
    チップを発光させる際には、当該半導体レーザチップが
    実装された基板を介して前記半導体レーザチップに給電
    することを特徴とするレーザ光源装置における光軸調整
    方法。
  11. 【請求項11】 請求項1ないし8のいずれかに規定す
    るレーザ光源装置を用いた光ヘッド装置であって、前記
    レーザ光源装置と、該レーザ光源装置から出射された複
    数種類のレーザ光を光記録媒体上に収束させる対物レン
    ズと、光記録媒体上で反射してきた戻り光を受光する受
    光素子とを有することを特徴とする光ヘッド装置。
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