JP2002190664A - プリント配線板およびこれを用いた半導体装置 - Google Patents

プリント配線板およびこれを用いた半導体装置

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JP2002190664A JP2000388272A JP2000388272A JP2002190664A JP 2002190664 A JP2002190664 A JP 2002190664A JP 2000388272 A JP2000388272 A JP 2000388272A JP 2000388272 A JP2000388272 A JP 2000388272A JP 2002190664 A JP2002190664 A JP 2002190664A
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printed wiring
hole
solder
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Junichi Murai
淳一 村井
Goro Ideta
吾朗 出田
Yukinobu Sakagami
幸信 坂上
Kohei Murakami
光平 村上
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 鉛フリーはんだを用いても、リフトオフ発生
が容易に防止され、生産性に優れコストが低減されたプ
リント配線板を得る。 【解決手段】 プリント配線板本体1のスルーホール3
の導電部31に挿入部品のリード部5を挿入し、はんだ
付けして搭載する。プリント配線板1の挿入部品搭載側
表面の、スルーホール3の周縁部はソルダーレジスト2
により被覆され、ランド部4の露出は100μm以下と
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器の基板実
装に使用されるプリント配線板およびこれを用いた半導
体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、地球環境保護の問題がクローズア
ップされ、世界的規模で環境に対する関心が高まってき
ている。エレクトロニクス産業の分野においては、主に
接合材料として使用されているはんだ中のPbの問題が
大いに注目を浴びている。
【0003】ほとんどの電子機器は不用になると埋め立
て処分され、昨今の慢性的な酸性雨によりこれら廃家電
の実装基板から溶出したPbが水質汚染を起こしてい
る。ところが、廃棄される実装基板のはんだからPbを
除去する技術が未だ確立されていない。このことから、
Pbを含まないはんだ(鉛フリーはんだ)の材料および
適用技術が必要となった。
【0004】これに対して、Snを主成分とし、Agお
よびCuを添加したいわゆるSn―Ag―Cu系鉛フリ
ーはんだが盛んに開発提案されている。また、上記鉛フ
リーはんだのはんだ付の生産性を向上させることを目的
に、第4元素としてBiを添加することが検討されてい
る。しかしながら、従来用いられたPbを含有したはん
だでは、Pbが柔らかい金属であるため、これを用いて
部品を基板実装した場合に、上記はんだが被覆固化によ
るひずみを吸収(応力緩和)していたが、鉛フリーはん
だではひずみの緩和が不利になり、リフトオフと呼ばれ
るランド終端部でのはんだ剥離現象が問題となってき
た。この問題はBiを添加した鉛フリーはんだでより顕
著となる。
【0005】図8は、従来の、プリント配線板に挿入部
品を鉛フリーはんだを用いて、実装した場合に生じるリ
フトオフの状態を示す説明図である。図中、51はプリ
ント配線板本体、2はソルダーレジスト、3はスルーホ
ール、4はプリント配線板本体51の挿入部品搭載側に
設けたランド部、5は挿入部品のリード、6ははんだ、
7はBi、8はリフトオフ部である。即ち、Biを含む
はんだを用いた場合には、プリント配線板本体51の挿
入部品搭載側のランド部4に、はんだ6が凝固する際B
i7が偏析し、Biを含むはんだのかたくてもろい性質
が特に顕在化することにより、ランド4部とはんだ6界
面にリフトオフ8と呼ばれるクラックの発生が起こりや
すくなる。
【0006】上記図8に示すリフトオフを防止する対策
が、特開平11―354916号公報に提案されてい
る。即ち、はんだ付後の冷却過程におけるプリント配線
板と挿入部品リードの熱容量の差が、Biがランドとは
んだ界面に偏析する主要因と考えられる。即ち、熱容量
の大きなプリント配線板はリードよりも緩やかに冷却さ
れるため、はんだの最終凝固はランド部界面で起こり、
その部分に低融点のBiの偏析が起こると推察され、そ
の結果、リフトオフが発生すると考えられている。
【0007】そこで、上記リフトオフを防止するために
は、はんだ付後の冷却を短時間化し、プリント配線板と
リード部の温度差を小さくすることが重要と考えられ、
上記公報では、短パルスのビーム(レーザ、赤外線、マ
イクロ波など)を用いてはんだ接合部を急峻に加熱・冷
却する手法を取り、Biの偏析を抑える工夫がなされて
いる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方法では、大掛かりなはんだ付装置が必要なこと
と、局所はんだ付のため生産効率が悪く、コストが高く
なるという課題があった。
【0009】本発明はかかる課題を解消するためになさ
れたもので、鉛フリーはんだを用いても、安価な手法で
リフトオフを防止することができるプリント配線板およ
び半導体装置を得ることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係る第1のプリ
ント配線板は、導電化されたスルーホールを有するプリ
ント配線板本体、およびこのプリント配線板本体の少な
くとも挿入部品搭載側の、上記スルーホール周縁部を被
覆するソルダーレジストを備えたものである。
【0011】本発明に係る第2のプリント配線板は、上
記第1のプリント配線板において、プリント配線板本体
の配線回路パターンのランド部がスルーホールに接続し
ているものである。
【0012】本発明に係る第3のプリント配線板は、上
記第2のプリント配線板において、ランド部のスルーホ
ール端部からの露出が100μm以下のものである。
【0013】本発明に係る第4のプリント配線板は、上
記第2のプリント配線板において、スルーホール周縁部
を被覆するソルダーレジストの開孔が上記スルーホール
径より小さいものである。
【0014】本発明に係る第1の半導体装置は、上記第
1ないし第4のいずれかのプリント配線板のスルーホー
ルに、挿入部品のリード部を挿入し、はんだ付けして挿
入部品を搭載したものである。
【0015】本発明に係る第2の半導体装置は、上記第
1の半導体装置において、はんだが鉛フリーはんだのも
のである。
【0016】
【発明の実施の形態】図6は、本発明の実施の形態に係
わる、プリント配線板のスルーホール径に対する露出し
たランド径の比による、リフトオフの発生率の変化を示
す図で、スルーホール径と露出したランド径はそれぞれ
下記図2または図7におけるSとLで示される部分であ
る。また、図6において、a(白塗り棒グラフ)はSn
―2.5Ag―0.5Cu―2.0Biはんだ、b(斜
線棒グラフ)はSn―2.5Ag―0.5Cu―1.0
Biはんだ、c(黒塗り棒グラフ)はSn―3.0Ag
―0.5Cuはんだである。図6に示されるように、B
i含有の有無によらず、露出したランド径が小さいほう
がリフトオフの発生率が低下することが明らかであり、
リフトオフ発生に及ぼす因子は、プリント配線板のラン
ドとはんだの接合界面に偏析するBiの問題だけでな
く、プリント配線板のランド設計が重要な因子であるこ
とを見出した。
【0017】実施の形態1.図1は本発明の第1の実施
の形態のプリント配線板の断面を示す構成図である。図
中、1はプリント配線板本体、2はソルダーレジスト、
3はスルーホール、31はスルーホール3の導電部、4
はプリント配線板1の挿入部品搭載側の配線回路パター
ンのランド部で、スルーホールの導電部31と接続して
いる。
【0018】図2(a)〜(c)は、本発明の第1の実
施の形態のプリント配線板の製造を工程順に示す説明図
である。図中、9は基材、10は銅箔、11は両面銅張
積層板、12は貫通孔、13はめっきである。先ず、ガ
ラスクロスにエポキシ樹脂を含浸した基材9の表裏に銅
箔10をプレスした通常の両面銅張積層板11の所定位
置にドリルなどにより直径が0.9mmの貫通孔12を
あける{図2(a)}。次に、上記銅箔10と貫通孔1
2の壁面に無電解めっきおよび電気めっき13を行いス
ルーホールに導電部31を形成する。続いて、パターニ
ングレジストで所定位置をコートしてエッチングし、配
線回路パターンを形成してプリント配線板本体1を得
る。なお、上記配線回路パターンはスルーホールの導電
部31に接続した直径が1.3mmのランド部4を有す
る{図2(b)}。更に、ソルダーレジスト2を、プリ
ント配線板本体1の少なくとも挿入部品搭載側のスルー
ホール周縁部を被覆するようにコーティングし、露光、
現像、熱硬化を行い本発明の実施の形態のプリント配線
板を得る{図2(c)}。なお、この場合、スルーホー
ルの導電部31に接続したランド部4は若干露出してい
る。
【0019】図3は、図1に示すプリント配線板の挿入
部品搭載側の平面図であり、上記製造方法により得られ
たプリント配線板における、挿入部品搭載側ランド部4
のソルダーレジストで被覆されていない部分41、即ち
ランド端部からスルーホール3の端部までの寸法は、図
3に示すように最大で100μmであった。これは、通
常のソルダーレジストの位置合わせ精度を考慮した場
合、必然的に生じてしまう値である。
【0020】得られたプリント配線板を使用して、部品
を挿入しフローはんだ付を行い本発明の実施の形態の半
導体装置を得る。このときのはんだ組成は、Sn―2.
5Ag―0.5Cu―2.0Bi(鉛フリーはんだ)で
あり、はんだ槽温度は250℃設定とし、コンベアース
ピードは0.9m/分とした。尚、フラックスは標準的
なRMAタイプのものを使用した。その結果、挿入部品
搭載側ランドとはんだの接合界面にBiの偏析は認めら
れたものの、試験電極総数1000に対し、リフトオフ
発生電極数3であった。以上のように、本発明の実施の
形態のプリント配線板を用いれば、特別なはんだ付装置
を用いず、安価にリフトオフを防止できる。
【0021】実施の形態2.図4は本発明の第2の実施
の形態のプリント配線板の断面を示す構成図であり、図
5(a)〜(c)は、本発明の第2の実施の形態のプリ
ント配線板の製造を工程順に示す説明図である。上記実
施の形態1と同様にして、図5(b)に示す、スルーホ
ールの導電部31と直径が1.3mmの挿入部品搭載側
ランド部4を得る。更に、ソルダーレジスト2をその上
にコーティングし、スルーホール3よりも小さな径(直
径0.8mm)のマスクを用いて露光、現像、熱硬化し
て本発明の実施の形態のプリント配線板を得る{図5
(c)}。上記製造方法により得られたプリント配線板
の挿入部品搭載側は、図3において、スルーホール3周
縁部を被覆するソルダーレジスト2の開孔がスルーホー
ル径より小さく、ランド部はソルダーレジスト2により
完全に被覆されている。
【0022】得られたプリント配線板を使用して、上記
実施の形態1と同様にして部品を挿入しフローはんだ付
を行った。その結果、挿入部品搭載側ランドは露出して
いないため、試験電極総数1000に対して、リフトオ
フは全く発生しなかった。
【0023】上記実施の形態1および2においてプリン
ト配線板に挿入部品を搭載して得られた半導体装置に、
−40℃(30分)―125℃(30分)のヒートサイ
クル試験を2000サイクルまで実施し、試験後の基板
断面を観察したところ、実施の形態1で得られたリフト
オフが発生した電極3箇所では、クラックがリフトオフ
部からスルーホール内壁に向かって進行していたが、本
実施の形態で得られたプリント配線板では、リフトオフ
が全くないことから当然ながらクラックの発生はなかっ
た。また、本実施の形態のプリント配線板を用いた半導
体装置の信頼性が向上する。
【0024】比較例1.図7は従来のプリント配線板の
製造方法を工程順に示す説明図である。上記実施の形態
と同様に、図7(b)に示す、スルーホールの導電部3
1と直径が1.3mmの挿入部品搭載側ランド部4を得
る。更に、ソルダーレジスト2をその上にコーティング
し、露光、現像、熱硬化を行い、挿入部品搭載側ランド
部4が完全に露出したプリント配線板を得る{図7
(c)}。
【0025】得られたプリント配線板を使用して、上記
実施の形態と同様にして部品を挿入しフローはんだ付を
行った。その結果、挿入部品搭載側ランドとはんだの接
合界面にBiの偏析は認められ、かつ、試験電極総数1
000に対し、リフトオフ発生電極数200であった。
【0026】上記プリント配線板に挿入部品を搭載して
得られた半導体装置に、−40℃(30分)―125℃
(30分)のヒートサイクル試験を2000サイクルま
で実施し、試験後の基板断面を観察したところ、リフト
オフが発生した電極では、クラックがリフトオフ部から
スルーホール内壁に向かって進行していた。
【0027】
【発明の効果】本発明の第1のプリント配線板は、導電
化されたスルーホールを有するプリント配線板本体、お
よびこのプリント配線板本体の少なくとも挿入部品搭載
側の、上記スルーホール周縁部を被覆するソルダーレジ
ストを備えたもので、安価な手法でリフトオフを防止す
ることができるという効果がある。
【0028】本発明の第2のプリント配線板は、上記第
1のプリント配線板において、プリント配線板本体の配
線回路パターンのランド部がスルーホールに接続してい
るもので、安価な手法でリフトオフを防止することがで
きるという効果がある。
【0029】本発明の第3のプリント配線板は、上記第
2のプリント配線板において、ランド部のスルーホール
端部からの露出が100μm以下のもので、安価な手法
でリフトオフを防止することができるという効果があ
る。
【0030】本発明の第4のプリント配線板は、上記第
2のプリント配線板において、スルーホール周縁部を被
覆するソルダーレジストの開孔が上記スルーホール径よ
り小さいもので、安価な手法でリフトオフを防止するこ
とができるという効果がある。
【0031】本発明の第1の半導体装置は、上記第1な
いし第4のいずれかのプリント配線板のスルーホール
に、挿入部品のリード部を挿入し、はんだ付けして挿入
部品を搭載したもので、信頼性が向上するという効果が
ある。
【0032】本発明に係る第2の半導体装置は、上記第
1の半導体装置において、はんだが鉛フリーはんだのも
ので、、信頼性が向上するという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施の形態のプリント配線板
の断面を示す構成図である。
【図2】 本発明の第1の実施の形態のプリント配線板
の製造を工程順に示す説明図である。
【図3】 図1に示すプリント配線板の挿入部品搭載側
の平面図である。
【図4】 本発明の第2の実施の形態のプリント配線板
の断面を示す構成図である。
【図5】 本発明の第2の実施の形態のプリント配線板
の製造を工程順に示す説明図である。
【図6】 本発明の実施の形態に係わる、プリント配線
板のスルーホール径に対する露出したランド径の比によ
る、リフトオフの発生率の変化を示す図である。
【図7】 従来のプリント配線板の製造方法を工程順に
示す説明図である。
【図8】 従来の、プリント配線板に挿入部品を鉛フリ
ーはんだを用いて、実装した場合に生じたリフトオフの
状態を示す説明図である。
【符号の説明】
1 プリント配線板本体、2 ソルダーレジスト、3
スルーホール、31導電部、4 ランド部、5 部品リ
ード、6 はんだ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 坂上 幸信 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 村上 光平 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 Fターム(参考) 5E319 AA02 AB01 AC01 AC11 AC13 AC16 CC22 CD04 CD26 GG15 GG20

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電化されたスルーホールを有するプリ
    ント配線板本体、およびこのプリント配線板本体の少な
    くとも挿入部品搭載側の、上記スルーホール周縁部を被
    覆するソルダーレジストを備えたプリント配線板。
  2. 【請求項2】 プリント配線板本体の配線回路パターン
    のランド部がスルーホールに接続していることを特徴と
    する請求項1に記載のプリント配線板。
  3. 【請求項3】 ランド部のスルーホール端部からの露出
    が100μm以下であることを特徴とする請求項2に記
    載のプリント配線板。
  4. 【請求項4】 スルーホール周縁部を被覆するソルダー
    レジストの開孔が上記スルーホール径より小さいことを
    特徴とする請求項2に記載のプリント配線板。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし請求項4のいずれかに記
    載のプリント配線板のスルーホールに挿入部品のリード
    部を挿入し、はんだ付けして挿入部品を搭載した半導体
    装置。
  6. 【請求項6】 はんだが鉛フリーはんだであることを特
    徴とする請求項5に記載の半導体装置。
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