JP2002184899A - マイクロ波回路 - Google Patents

マイクロ波回路

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JP2002184899A JP2000383296A JP2000383296A JP2002184899A JP 2002184899 A JP2002184899 A JP 2002184899A JP 2000383296 A JP2000383296 A JP 2000383296A JP 2000383296 A JP2000383296 A JP 2000383296A JP 2002184899 A JP2002184899 A JP 2002184899A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 異常発振を発生させることなくマイクロ波デ
バイスを強固に接合して信頼性を向上させることのでき
るマイクロ波回路を提供する。 【解決手段】 裏面にグランドパターン4を形成した基
板2の表面にスルーホール10a、10bによりグラン
ドパターン4と連結されたランド9a、9bを設け、ラ
ンド9a、9bにマイクロ波デバイス5をハンダ付けし
て接地するマイクロ波回路1において、スルーホール1
0a、10bをランド内9a、9bに形成し、スルーホ
ール10a、10bに導電性ペースト11を充填した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、FETやHEMT
等のマイクロ波デバイスを実装したマイクロ波回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】衛星放送や衛星通信を受信して中間周波
数信号に変換して出力する低雑音ダウンコンバータ(以
下「LNB」という)の低雑音高周波増幅部(以下「L
NA」という)は、基板上に形成されたマイクロストリ
ップラインに素子が組み込まれたマイクロ波回路から成
っている。
【0003】LNAでは、アンテナにより受信された1
2GHz帯のRF信号が入力端子から入力される。入力
信号は、マイクロストリップラインに組み込まれた2つ
のアンプにより増幅して出力される。該アンプはGaA
sFET(ガリウムヒ素電界効果トランジスタ)やHE
MT(High Electron Mobility Transistor:高電子移
動度トランジスタ)等のマイクロ波デバイスから成って
いる。
【0004】特に、HEMTは、化合物半導体のヘテロ
接合面に蓄積する高移動度の電子をキャリアとした半導
体デバイスであり、高周波増幅、高速演算に適している
ため広く用いられる。
【0005】HEMTを実装した従来のマイクロ波回路
を図8に示すと、マイクロ波回路1は、絶縁体から成る
基板2上に、所謂リードレス型のHEMT5が配置され
ている。HEMT5の裏面には、ゲート5G、ドレイン
5D及び2つのソース5Sが露出している。
【0006】基板2に形成されたマイクロストリップラ
イン上にはゲート用ランド7及びドレイン用ランド8が
設けられ、マイクロストリップラインの両側に2つのソ
ース用ランド9a、9bが設けられている。ソース用ラ
ンド9a、9b内には、基板2を貫通するスルーホール
10a、10bが形成され、基板2の裏面の略全面に形
成されたグランドパターン(不図示)に連結されてい
る。
【0007】HEMT5のゲート5G、ドレイン5D及
び2つのソース5Sはそれぞれゲート用ランド7、ドレ
イン用ランド8及びソース用ランド9a、9bにハンダ
付けされている。この際にスルーホール10a、10b
にはハンダが充填され、ソース用ランド10a、10b
とグランドパターンとが導通される。これにより、HE
MT5のソース5Sが接地されるようになっている。
【0008】そして、HEMT5のゲート5G及びドレ
イン5Dにそれぞれ負電圧、正電圧のバイアス電圧が印
加されると、ゲート5Gから入力した信号が増幅されて
ドレイン5Dから出力されるようになっている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来のマイクロ波回路1によると、ソース用ランド9
a、9b内にスルーホール10a、10bが設けられて
いるため、ソース用ランド9a、9bに塗布されたハン
ダがスルーホール10a、10bを介して基板2の裏面
に流出する。このため、ソース5Sの接合強度が弱くな
り、マイクロ波回路1の信頼性が低い問題があった。
【0010】ハンダの流出を抑制するために、図9に示
すようにソース用ランド9a、9bの外側に接してスル
ーホール10a、10bを設ける方法が考えられる。し
かし、この場合、HEMT5のソース5Gとスルーホー
ル10a、10bとの距離L1、L2が長くなる。
【0011】このため、HEMT5の取付位置やソース
用ランド9a、9b大きさの違いにより距離L1、L2
にばらつきがあると、インダクタンスの違いにより2つ
のソース5S間に電位差が生じる。その結果、HEMT
5の異常発振を引き起こす問題がある。
【0012】本発明は、異常発振を発生させることなく
マイクロ波デバイスを強固に接合して信頼性を向上させ
ることのできるマイクロ波回路を提供することを目的と
する。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、裏面にグランドパターンを形成した基板の
表面にスルーホールにより前記グランドパターンと連結
されたランドを設け、前記ランドにマイクロ波デバイス
をハンダ付けして接地するマイクロ波回路において、前
記スルーホールを前記ランド内に形成し、前記スルーホ
ールに導電性ペーストを充填したことを特徴としてい
る。
【0014】この構成によると、マイクロ波デバイスの
端子がランドにハンダ付けされ、ランドと基板の裏面に
形成されたグランドパターンとがランド内に形成された
スルーホール内の導電性ペーストにより導通されてマイ
クロ波デバイスが接地される。ランド上に塗布されたハ
ンダは導電性ペーストによりスルーホールへの流入が遮
られる。
【0015】また本発明は、裏面にグランドパターンを
形成した基板の表面にスルーホールにより前記グランド
パターンと連結されたランドを設け、前記ランドにマイ
クロ波デバイスをハンダ付けして接地するマイクロ波回
路において、前記スルーホールを前記ランド内に形成
し、前記グランドパターン上に開口する前記スルーホー
ルの周囲をレジストで囲んだことを特徴としている。
【0016】この構成によると、マイクロ波デバイスの
端子がランドにハンダ付けされ、ランドと基板の裏面に
形成されたグランドパターンとがランド内に形成された
スルーホール内のハンダにより導通されてマイクロ波デ
バイスが接地される。グランドパターン上に開口したス
ルーホールを通るハンダは、スルーホールの周囲を囲ん
だレジストによりグランドパターン上への流出が遮られ
る。
【0017】また本発明は、裏面にグランドパターンを
形成した基板の表面にスルーホールにより前記グランド
パターンと連結された複数のランドを設け、前記ランド
にマイクロ波デバイスの複数の接地端子をそれぞれハン
ダ付けして接地するマイクロ波回路において、前記スル
ーホールを前記ランドの周囲に接して形成し、複数の前
記ランドを導電性パターンにより連結したことを特徴と
している。
【0018】この構成によると、マイクロ波デバイスの
複数の接地端子がそれぞれ別のランドにハンダ付けさ
れ、ランドと基板の裏面に形成されたグランドパターン
とがランドの外側に接して形成されたスルーホール内の
ハンダにより導通されてマイクロ波デバイスが接地され
る。各ランドは導電性パターンにより導通され、各接地
端子が同電位になる。
【0019】また本発明は、上記各構成のマイクロ波回
路において、前記マイクロ波デバイスはFETまたはH
EMTから成り、前記ランドに前記マイクロ波デバイス
のソースをハンダ付けしたことを特徴としている。この
構成によると、FETまたはHEMTのソースがグラン
ドパターンと導通して接地される。
【0020】また本発明は、裏面にグランドパターンを
形成した基板の表面にFETまたはHEMTのソース、
ドレイン及びゲートをそれぞれハンダ付けするためのソ
ース用ランド、ドレイン用ランド、ゲート用ランドを形
成し、前記グランドパターンと連結するスルーホールを
内側に設けた前記ソース用ランドに前記ソースをハンダ
付けして接地するマイクロ波回路において、前記ソース
用ランドの面積を前記ドレイン用ランド及び前記ゲート
用ランドの面積よりも広くしたことを特徴としている。
【0021】この構成によると、例えば、HEMTのド
レイン及びゲートがそれぞれドレイン用ランド及びゲー
ト用ランドにハンダ付けされる。HEMTのソースはド
レイン用ランド及びゲート用ランドよりも面積が広く塗
布されるハンダ量の多いソース用ランドにハンダ付けさ
れる。そして、ソース用ランドと基板の裏面に形成され
たグランドパターンとがソース用ランド内に形成された
スルーホール内のハンダにより導通されてHEMTのソ
ースが接地される。
【0022】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。説明の便宜上、従来例の図8、図9
と同一の部分については同一の符号を付している。図1
は第1実施形態のマイクロ波回路を含むLNAを備えた
LNBを示す構成図である。
【0023】21はパラボラアンテナ(不図示)に連結
されたフィードホーン(1次放射器)であり、フィード
ホーン21から伝送線路31にRF信号が取り出され
る。RF信号は12.25〜12.75GHz帯域内の
信号であり、LNA22で増幅された後、バンドパスフ
ィルタ23に伝送される。
【0024】LNA22はRF信号を増幅するアンプ2
2a、22bから成っている。バンドパスフィルタ23
を通過した信号は、混合増幅部(MMIC)24のミキ
サ25へ伝送される。ミキサ25は局部発信器(LO:
Local Ocsillator)27から与えられる11.3GHz
の局部発信信号と入力されたRF信号との周波数差の中
間信号(IF)を出力する。このため、ミキサ25から
出力される中間周波信号の周波数帯域は、950〜14
50MHzとなる。
【0025】ミキサ25の中間周波信号出力はアンプか
ら成る中間周波増幅回路26で増幅された後、結合コン
デンサC1を介して出力端子29へ導出される。出力端
子29はチューナ(不図示)の入力端子に接続される。
チューナでは入力された中間周波信号の1つを選択する
ことによって選局が行われる。
【0026】出力端子29には、チューナから15Vの
直流電圧が印加されるようになっている。出力端子29
には高周波チョークコイルLの一端が接続され、他端に
パワーサプライ28が接続されている。パワーサプライ
28は印加された直流電圧に基づいてLNA22、局部
発信器27及び混合増幅部24に電源を供給するように
なっている。
【0027】LNA22のアンプ22a、22bはHE
MTから成っている。図2、図3はこのHEMTを実装
したマイクロ波回路を示す側面断面図及び平面図であ
る。マイクロ波回路1は、絶縁体から成る基板2上に、
所謂リードレス型のHEMT5が配置されている。HE
MT5は、図4の裏面図に示すように、裏面にゲート5
G、ドレイン5D及び2つのソース5Sが露出してい
る。
【0028】基板2に形成されたマイクロストリップラ
イン上にはゲート用ランド7及びドレイン用ランド8が
設けられ、マイクロストリップラインの両側に2つのソ
ース用ランド9a、9bが設けられている。ソース用ラ
ンド9a、9b内には、基板2を貫通するスルーホール
10a、10bが形成され、基板2の裏面の略全面に形
成されたグランドパターン4に連結されている。
【0029】HEMT5のゲート5G、ドレイン5D及
び2つのソース5Sはそれぞれゲート用ランド7、ドレ
イン用ランド8及びソース用ランド9a、9bにハンダ
付けされている。スルーホール10a、10bには導電
性ペースト11が充填され、ソース用ランド10a、1
0bとグランドパターンが導通されている。これによ
り、HEMT5のソース5Sが接地されるようになって
いる。
【0030】そして、HEMT5のゲート5G及びドレ
イン5Dにそれぞれ負電圧、正電圧のバイアス電圧がパ
ワーサプライ28(図1参照)により印加されると、ゲ
ート5Gから入力した信号が増幅されてドレイン5Dか
ら出力されるようになっている。
【0031】本実施形態によると、スルーホール10
a、10bに導電性ペースト11が充填されているた
め、ソース用ランド9a、9bに塗布されたハンダはス
ルーホール10a、10bへの流入が導電性ペースト1
1により遮られる。従って、ハンダ量を十分確保してソ
ース5Sを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路1の信
頼性を向上させることができる。
【0032】次に、図5は第2実施形態のマイクロ波回
路を示す裏面図である。本実施形態は前述の図2、図3
の第1実施形態に対して導電性ペースト11を省くとと
もに、基板2の裏面の略全面に形成されるグランドパタ
ーン4上に開口したスルーホール10a、10bの周囲
にレジスト13を塗布している。その他の構成は第1実
施形態と同一である。
【0033】そして、ソース用ランド9a、9b上に塗
布されたハンダによりHEMT5のソース5Sがハンダ
付けされる。この時、スルーホール10a、10bにハ
ンダが流入するが、基板2の裏面でレジスト13に遮ら
れてスルーホール10a、10bからの流出を防止する
ことができる。従って、ハンダ量を十分確保してソース
5Sを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路1の信頼性
を向上させることができる。
【0034】次に、図6は第3実施形態のマイクロ波回
路を示す平面図である。本実施形態は、前述の図2、図
3の第1実施形態に対して導電性ペースト11を省くと
ともに、ゲート用ランド7及びドレイン用ランド8より
もソース用ランド9a、9bの面積を広くしている。そ
の他の構成は第1実施形態と同一である。
【0035】そして、ソース用ランド9a、9b上に塗
布されたハンダによりHEMT5のソース5Sがハンダ
付けされる。この時、ソース用ランド9a、9bの面積
が広いためソース用ランド9a、9b上に塗布されたハ
ンダ量が多くなる。これにより、スルーホール10a、
10bを介して基板2の裏面にハンダが流出しても、十
分な量のハンダによりソース5Sをハンダ付けすること
ができる。従って、ハンダ量を十分確保してソース5S
を強固にハンダ付けし、マイクロ波回路1の信頼性を向
上させることができる。
【0036】次に、図7は第4実施形態のマイクロ波回
路を示す平面図である。本実施形態は前述の図2、図3
の第1実施形態に対して導電性ペースト11を省くとと
もに、スルーホール10a、10bをソース用ランド9
a、9bの外周に接して設け、ソース用ランド9a、9
bを導電性パターンから成る連結部9cにより連結して
いる。その他の構成は第1実施形態と同様である。
【0037】スルーホール10a、10bをソース用ラ
ンド9a、9bの外周に接して設けているので、ソース
用ランド9a、9bに塗布されたハンダのスルーホール
10a、10bへの流入が抑制される。また、ソース5
Sとスルーホール10a、10bとの距離L1、L2が
長くなり、HEMT5の取付位置やソース用ランド9
a、9b大きさの違いにより距離L1、L2にばらつき
があると、距離L1、L2の間でインダクタンスの違い
が生じる。
【0038】しかし、連結部9cにより2つのソース5
Sが同電位に維持される。従って、ハンダ量を十分確保
してソース5Sを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路
1の信頼性を向上させることができるとともに、HEM
T5の異常発振を防止することができる。
【0039】尚、第1〜第4実施形態において、リード
レス型のHEMTを実装したマイクロ波回路について説
明したが、ゲート、ドレイン及びソースからリードが延
出されたリード付き型のHEMT、GaAsFET等の
他のマイクロ波デバイスを実装したマイクロ波回路にお
いても同様の構成により同様の効果を得ることができ
る。
【0040】
【発明の効果】本実施形態によると、スルーホールに導
電性ペーストが充填されるため、ランドに塗布されたハ
ンダはスルーホールへの流入が導電性ペーストにより遮
られる。従って、ハンダ量を十分確保してマイクロ波デ
バイスを強固にハンダ付けし、マイクロ波回路の信頼性
を向上させることができる。
【0041】また本発明によると、基板の裏面に形成さ
れたグランドパターン上に開口するスルーホールの周囲
をレジストで覆うため、ランドの塗布されたハンダがス
ルーホールに流入しても、基板の裏面でレジストに遮ら
れてスルーホールからの流出を防止することができる。
従って、ハンダ量を十分確保してマイクロ波デバイスを
強固にハンダ付けし、マイクロ波回路の信頼性を向上さ
せることができる。
【0042】また本発明によると、ランドの周囲に接し
てスルーホールを設けるとともに複数のランドを導電性
パターンにより連結することにより、ランドに塗布され
たハンダのスルーホールへの流入が抑制される。また、
接地端子とスルーホールとの距離のばらつきによって各
接地端子とスルーホール間にインダクタンスの差が生じ
ても、導電性パターンにより複数の接地端子が同電位に
維持される。従って、ハンダ量を十分確保してマイクロ
波デバイスの接地端子を強固にハンダ付けし、マイクロ
波回路の信頼性を向上させることができるとともに、マ
イクロ波デバイスの異常発振等を防止することができ
る。
【0043】また本発明によると、ゲート用ランド及び
ドレイン用ランドよりもソース用ランドの面積が広いた
め、ソース用ランド上に塗布されたハンダ量が多くな
る。これにより、スルーホールを介して基板の裏面にハ
ンダが流出しても、十分な量のハンダによりHEMTま
たはFETのソースをハンダ付けすることができる。従
って、ハンダ量を十分確保してソースを強固にハンダ付
けし、マイクロ波回路の信頼性を向上させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施形態のマイクロ波回路を含
むLNAを備えたLNBを示す構成図である。
【図2】 本発明の第1実施形態のマイクロ波回路を示
す側面断面図である。
【図3】 本発明の第1実施形態のマイクロ波回路を示
す平面図である。
【図4】 本発明の第1実施形態のマイクロ波回路のH
EMTを示す裏面図である。
【図5】 本発明の第2実施形態のマイクロ波回路を示
す裏面図である。
【図6】 本発明の第3実施形態のマイクロ波回路を示
す平面図である。
【図7】 本発明の第4実施形態のマイクロ波回路を示
す平面図である。
【図8】 従来のマイクロ波回路を示す平面図である。
【図9】 従来の他のマイクロ波回路を示す平面図であ
る。
【符号の説明】
1 マイクロ波回路 2 基板 4 グランドパターン 5 HEMT 5G ゲート 5D ドレイン 5S ソース 7 ゲート用ランド 8 ドレイン用ランド 9a、9b ソース用ランド 9c 連結部 10a、10b スルーホール 11 導電性ペースト 13 レジスト 21 フィードホーン 22 LNA 23 バンドパスフィルタ 24 混合増幅部 25 ミキサ 26 中間周波増幅回路 27 局部発信器 28 パワーサプライ 29 出力端子

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 裏面にグランドパターンを形成した基板
    の表面にスルーホールにより前記グランドパターンと連
    結されたランドを設け、前記ランドにマイクロ波デバイ
    スをハンダ付けして接地するマイクロ波回路において、 前記スルーホールを前記ランド内に形成し、前記スルー
    ホールに導電性ペーストを充填したことを特徴とするマ
    イクロ波回路。
  2. 【請求項2】 裏面にグランドパターンを形成した基板
    の表面にスルーホールにより前記グランドパターンと連
    結されたランドを設け、前記ランドにマイクロ波デバイ
    スをハンダ付けして接地するマイクロ波回路において、 前記スルーホールを前記ランド内に形成し、前記グラン
    ドパターン上に開口する前記スルーホールの周囲をレジ
    ストで囲んだことを特徴とするマイクロ波回路。
  3. 【請求項3】 裏面にグランドパターンを形成した基板
    の表面にスルーホールにより前記グランドパターンと連
    結された複数のランドを設け、前記ランドにマイクロ波
    デバイスの複数の接地端子をそれぞれハンダ付けして接
    地するマイクロ波回路において、 前記スルーホールを前記ランドの周囲に接して形成し、
    複数の前記ランドを導電性パターンにより連結したこと
    を特徴とするマイクロ波回路。
  4. 【請求項4】 前記マイクロ波デバイスはFETまたは
    HEMTから成り、前記ランドに前記マイクロ波デバイ
    スのソースをハンダ付けしたことを特徴とする請求項1
    〜請求項3のいずれかに記載のマイクロ波回路。
  5. 【請求項5】 裏面にグランドパターンを形成した基板
    の表面にFETまたはHEMTのソース、ドレイン及び
    ゲートをそれぞれハンダ付けするためのソース用ラン
    ド、ドレイン用ランド、ゲート用ランドを形成し、前記
    グランドパターンと連結するスルーホールを内側に設け
    た前記ソース用ランドに前記ソースをハンダ付けして接
    地するマイクロ波回路において、 前記ソース用ランドの面積を前記ドレイン用ランド及び
    前記ゲート用ランドの面積よりも広くしたことを特徴と
    するマイクロ波回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008289510A (ja) * 2007-05-22 2008-12-04 Daito Giken:Kk 遊技台
JP2010268296A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Sharp Corp 衛星放送受信用コンバータic、衛星放送受信用コンバータ、および衛星放送受信用アンテナ

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JP2008289510A (ja) * 2007-05-22 2008-12-04 Daito Giken:Kk 遊技台
JP2010268296A (ja) * 2009-05-15 2010-11-25 Sharp Corp 衛星放送受信用コンバータic、衛星放送受信用コンバータ、および衛星放送受信用アンテナ

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