JP2002184601A - 抵抗器 - Google Patents

抵抗器

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JP2002184601A JP2000380723A JP2000380723A JP2002184601A JP 2002184601 A JP2002184601 A JP 2002184601A JP 2000380723 A JP2000380723 A JP 2000380723A JP 2000380723 A JP2000380723 A JP 2000380723A JP 2002184601 A JP2002184601 A JP 2002184601A
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圭史 仲村
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 特性の良好な大電流測定用の抵抗器を提供す
る。 【解決手段】 抵抗器100は、金属合金等から作製さ
れる抵抗体110、電極121と122、絶縁層141
と142および絶縁層141と142から構成されてい
る。絶縁層141は、電極121と122を溶融はんだ
材131と132で被覆する際に誤って抵抗体110へ
低抵抗のはんだが付着するのを防止する。そのため、所
定の抵抗値を有する抵抗器100を安定して製造でき
る。また、抵抗体100に絶縁層141と142を被覆
することで、抵抗体100の外部露出面積が減少し、外
部環境の影響を受けて抵抗体100が劣化するのを低減
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、抵抗器に関し、例
えば、電流検出に適する低抵抗素子部と導電率の高い金
属導体よりなる電極を有する抵抗器に関する。
【0002】
【従来の技術】電流の検出用にミリオーム程度の極めて
小さい抵抗値を有する抵抗器を用いることは良く知られ
ている。この抵抗器を用いた電流I(A)の検出では、
既知の低抵抗値R(Ω)に、電流I(A)を流した時の
抵抗器の両端における電圧降下V(V)を測定し、I=
V/Rを用いて電流値I(A)を算出する。
【0003】抵抗器の一例を図4に示す。抵抗器100
0は、金属製の抵抗部1400および2つの電極部11
00から構成されている。抵抗部1400は、例えば、
Cu−Ni合金(例えば、CN49R)などの金属合金
が用いられる。電極1100には、はんだ付け性を考慮
してはんだめっき1200が施されている。
【0004】ここで、抵抗器の特性は、例えば、抵抗値
や所定条件下でこの抵抗器を長時間使用した場合の使用
前後における抵抗値変化などを用いて評価される。例え
ば、1000時間における寿命試験後の抵抗値の変化
(ΔR/R)は、(1)式を用いて評価される。
【0005】 ΔR/R=(R1000−R)/R (1) R1000:1000時間の寿命試験後の抵抗値(Ω) R :寿命試験前の抵抗値(Ω)
【発明が解決しようとする課題】ところで、抵抗器を用
いて電流を精度よく測定するためには、使用時における
抵抗値の変化を小さく抑える必要がある。しかるに図4
に示した抵抗器1000は、抵抗部1400の金属合金
が外部に露出しているため抵抗値変化を生じる場合があ
る。例えば、抵抗器1000の抵抗部1400や電極1
100に対して外部から種々のほこりやゴミが飛散して
それらの上面に蓄積する場合には、蓄積したほこりやゴ
ミによって抵抗器1000の抵抗値が変化したり、場合
によっては、抵抗器1000が他部品と電気的に接触し
て損傷することも考えられる。また例えば、抵抗器10
00を高温、高湿の環境下で使用すると、抵抗部140
0の金属合金の酸化等により抵抗値が変化する可能性も
ある。
【0006】また、上記の抵抗器1000では、基板の
所定部品等に流れる電流を測定するために基板に実装す
る際に、実装時のはんだが上記抵抗体1000の抵抗部
1400へ上昇することにより抵抗値が変化する場合が
ある。
【0007】例えば、基板に上記抵抗器1000を実装
する際には、電極1200の表面に溶融はんだ材等を用
いてはんだ材の膜を形成してから上記抵抗器1000を
基板上の所定回路パターンと接合する。この際、溶融は
んだ材が溶融し上記抵抗体1000の抵抗部1400へ
上昇し、低抵抗の溶融はんだ材が抵抗部1400の表面
に付着すると、抵抗器1000の抵抗値が変化してしま
うため、抵抗器1000は、所定の抵抗値を示すことが
できなくなる。
【0008】本発明は、上述の問題点を解決するために
なされたものであり、その目的は、特性の良好な電流測
定用の抵抗器を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の抵抗器は、以下の構成を有する。すなわち、
略板状の抵抗用合金からなる抵抗体と、前記抵抗体の一
面に形成された高導電率の金属よりなる互いに分離した
少なくとも2つの電極と、前記抵抗体の少なくとも前記
電極を形成した面を被覆する絶縁層と、を有することを
特徴とする。
【0010】また例えば、前記抵抗体の前記電極を形成
した面に対向する面を被覆する絶縁層を更に有すること
を特徴とする。
【0011】また例えば、前記絶縁層は、絶縁材料を前
記抵抗体の所定の位置に塗布して形成されることを特徴
とする。
【0012】また例えば、前記絶縁層は、絶縁材料から
なる層を前記抵抗体の所定の位置に接着して形成される
ことを特徴とする。
【0013】また例えば、前記絶縁層は、エポキシ樹
脂、アクリル樹脂、フッ素樹脂、フェノール樹脂、シリ
コーン樹脂およびポリイミドのなかから選ばれた絶縁材
料によって形成されることを特徴とする。
【0014】また例えば、前記抵抗用合金は、銅・ニッ
ケル合金、ニッケル・クロム合金、鉄・クロム合金、マ
ンガン・銅・ニッケル合金、白金・パラジウム・銀合
金、金・銀合金、金・白金・銀合金、のいずれかである
ことを特徴とする。
【0015】また例えば、前記電極は、銅または銅を含
む合金であることを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して、本発明
に係る好適な実施の形態例である抵抗器100について
詳細に説明する。
【0017】なお、本実施の形態例に記載されている抵
抗器の抵抗体として用いられる合金組成や絶縁層に使用
される絶縁材料は、一例であり、特に特定的な記載がな
い限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨
のものではなく、作製する抵抗器の必要特性や仕様に応
じて決定されるものである。
【0018】[抵抗器の構造]図1に、基板150の導
体パターン161、162上にはんだ付けされた本実施
の形態である抵抗器100を示す。抵抗器100は、1
10の金属製の抵抗体、接続端子である電極121、1
22および絶縁体層141、142から構成されてい
る。
【0019】抵抗器100は、直方体形状を有する抵抗
体110に直方体形状の電極121、122が図1に示
すように接合された構造となっており、さらに、抵抗体
110の上下面140、141には、抵抗器100に対
して高抵抗を有する絶縁材料によって被覆された絶縁層
141、142が形成されている。
【0020】抵抗体の厚さは、約100〜1000μ
m、各電極121、122の厚さは、約10〜300μ
mであり、絶縁層141、142の厚さは、約数〜数1
0μmである。また、各電極121、122の表面に
は、約2〜10μmのはんだ膜が形成されている。
【0021】抵抗体110用材料としては、例えば、C
u−Ni合金(CN49Rなど)や図2に示す各種金属
合金および各種貴金属合金が用いられ、仕様に応じて決
定される比抵抗、TCR、抵抗値変化などの各種特性に
適合する金属合金や貴金属合金などが図2より適宜選択
されて使用される。また図2以外にも、例えば、マンガ
ン・銅・ニッケル合金などを使用しても良い。
【0022】また、図2に示すように、貴金属合金を使
用する場合には、約2〜約7μΩ・cmと極めて低い電
気抵抗を有する抵抗体110が得られ、例えば、これら
の貴金属合金を抵抗体110として使用する場合には、
図1に示す構造の抵抗器100の抵抗値は、約0.04
〜0.15mΩとなる。
【0023】また電極121および122の材料として
は、電気抵抗が抵抗体110に比べて小さい銅材料(例
えば、1.5μΩ・cm程度)が用いられ、抵抗体11
0と電極121あるい抵抗体110と電極122とはク
ラッド接合により接合される。2つの電極121および
122の電極面は、高電流を測定する際に発生する熱を
放熱しやすくするため、基板150方向に熱が伝達され
やすいように電極面積を広くとるように設計されてお
り、熱伝導性の良い銅の厚板を用い、接合面積を大きく
取ることを特徴としている。
【0024】また絶縁層141、142は、抵抗体11
0よりも高い比抵抗を有する絶縁材料を抵抗体110に
塗布して形成したり、予めこの絶縁材料を用いて作製さ
れたテープなどを抵抗体110に接着することによって
形成される。なお絶縁層は、図1における抵抗体110
の上下面である141および142に限ることはなく、
必要に応じて図1に示す抵抗体110の側面部を被覆す
るようにして形成しても良い。
【0025】絶縁材料としては、種々の絶縁性を有する
材料を使用することができる。一例を示せば、例えば、
エポキシ樹脂、アクリル樹脂、フッ素樹脂、フェノール
樹脂、シリコーン樹脂およびポリイミドなどから選ばれ
た耐熱性の樹脂を単独あるいは混合して使用することが
できる。また上記樹脂の代わりに絶縁性を有する耐熱材
料であればどのような材料であっても使用することがで
きる。
【0026】上記樹脂を使用する場合には、予め溶剤に
樹脂を溶かしてから抵抗体110の所定部分に印刷など
の種々の方法で塗布する。あるいは樹脂を塗布する代わ
りに、予め上記樹脂を用いて作製された接着テープを抵
抗体110の所定部分に接着する方法によって、抵抗体
110の所定部分に絶縁層を被覆してもよい。
【0027】また電極121および122の表面には、
基板の導体パターンへのはんだ付け性を向上するため
に、例えば、溶融はんだ材(Sn:Pb=9:1)また
は鉛フリーはんだ材の膜131および132が形成され
ている。溶融はんだ材は、銅材の電極121または12
2との間に拡散層を有するため、電極の接合強度および
電気的信頼性は、向上する。
【0028】なお抵抗器100において抵抗体110に
絶縁層141、142を形成するのは、下記に示す2つ
の理由からである。
【0029】第1の理由は、製造時における製品の歩留
まりを向上させるためである。
【0030】すなわち、上記の抵抗器100を基板の所
定部品等に流れる電流を測定するために基板に実装する
際に、絶縁層141が無いと実装時のはんだが上記抵抗
体100の抵抗部110へ上昇することにより抵抗値が
変化する場合がある。
【0031】例えば、基板150の導体パターン16
1、162に上記抵抗器100を実装する際には、電極
121、122の表面に溶融はんだ材または鉛フリーは
んだ材の膜131、132をはんだ形成工程にて形成し
てから上記抵抗器100を基板上の所定回路パターンと
接合する。
【0032】この抵抗器100を基板150への実装中
に、溶融はんだ材等の膜131、132が溶融すると、
溶融したはんだ材などは上昇し抵抗体110の表面に付
着する。その結果、抵抗器1000の抵抗値は変化する
ため、所定の抵抗値を示すことができなくなる。
【0033】しかしながら、図1に示すように予め抵抗
体110表面に絶縁層141を形成しておくと、上記実
装中に抵抗体110表面の絶縁層141に溶融はんだ材
等が付着しても抵抗器100の抵抗値は低下しない。
【0034】その結果、抵抗体110の表面に絶縁層1
41を形成しない場合に厳しく制御されていたようなラ
ンドパターン形状の厳密な設計が緩和されたり、あるい
は、はんだ形成工程におけるはんだ量、はんだ時間の調
整などの厳密な管理の必要が無くなりはんだ形成工程に
おける作業が容易になり、製品の歩留まり改善にも役立
つことになる。したがって、抵抗値100を製造する際
の歩留まりを向上させるには、特に抵抗体110の14
1に示す表面部に絶縁層を被覆するのが有効である。
【0035】第2の理由は、使用時における抵抗器10
0の安全性の向上および特性の安定性の改善のためであ
る。すなわち、図1のように取り付けた抵抗器100を
プリント基板などに搭載して長期間使用する場合、抵抗
体110表面が絶縁体142で被覆されていない場合に
は抵抗体110を構成する金属合金が表面部に露出して
いるため抵抗値変化を生じる場合がある。
【0036】例えば、抵抗体100上に外部から種々の
ほこりやゴミが飛散してに蓄積する場合には、蓄積した
ほこりやゴミによって抵抗器100の抵抗値が変化した
り、場合によっては、抵抗器100が蓄積したほこりや
ゴミを介して他部品と電気的に接触することにより損傷
を受ける場合も考えられる。また例えば、抵抗器100
0を高温、高湿などの過酷な環境下で長期間使用する
と、抵抗体110の金属合金が酸化されるなどして抵抗
値変化を生じる。
【0037】しかしながら、予め抵抗体110表面に絶
縁層142を形成しておくと、上記のように蓄積したほ
こりやゴミに起因する抵抗器100の抵抗値変化を抑制
することができる。また、絶縁層141、142を有す
る抵抗器1000を高温、高湿の環境下で長期間使用す
る場合でも抵抗体110における外部に露出する面積を
低減できるため金属合金の酸化等による抵抗値の変化を
抑制可能である。
【0038】その結果、絶縁層で被覆されていない抵抗
体に比べ、絶縁層141、142で被覆されている抵抗
体119を有する抵抗器100は、劣悪条件下で使用さ
れても絶縁層141、142により外部環境の影響を受
けにく、安定した抵抗値を有する良好な電流測定用抵抗
器を提供することができる。
【0039】なお抵抗器100は、放熱しやすいように
設計されており、プリント配線板などに実装する際の基
板150としては、例えばアルミ基板などが用いられ、
その基板150もヒートシンクなどに接続された構造と
なっている。
【0040】すなわち、高電流を測定する際に抵抗器1
00に発生する熱は、基板150方向に伝達されるため
に、抵抗器100と基板150との接合面が重要であ
り、抵抗器100は、基板150との接合面である電極
121、122に熱伝導の良い銅の厚板を用い、接合面
積を大きく取ることを特徴としている。
【0041】また、高電流を測定するときの電流は、例
えば基板150のパターン161より抵抗器100の一
方の電極121を介して抵抗体110に流れ、さらに抵
抗体110から他の1つの電極122を介して基板15
0のパターン162へと流れる。また、高電流を流した
ときの電極121と電極122間、すなわち抵抗器10
0の両端における電圧降下を測定する。このため図1の
構造を有する抵抗器100は、大電流での使用が可能で
ある。
【0042】なお、抵抗器100の特徴は、抵抗体11
0が平板からなる単純構造となっており、抵抗値変化
(ΔR/R)は、約0.1%以下に抑えることができ、
切れ込みがある場合の抵抗値変化(ΔR/R)数〜20
%に比べて抵抗値変化を1/数10〜1/200程度に
低減できる。また、抵抗体110に約2〜7μΩ・cm
の極めて低い電気抵抗を有する貴金属合金を使用する
と、抵抗器100の抵抗値は、約0.04〜0.15m
Ωとなるため、高電流の測定に適した抵抗器が得られ
る。
【0043】[抵抗器の諸特性]図2の各種金属合金お
よび各種貴金属合金を用いて作製した抵抗器100の抵
抗値の一例を以下に説明する。例えば、図2に示す約2
〜約7μΩcmの低抵抗の貴金属合金を使用した場合の
図1に示す構造の抵抗器の抵抗値は、約0.05〜0.
14mΩ程度であり、低抵抗値を有する抵抗器が得られ
る。
【0044】次に、図2の各種金属合金および各種貴金
属合金を用いて作製した絶縁層141、142を被覆し
た抵抗器100の抵抗値を、絶縁層を被覆しないで同一
のはんだ形成条件で作製した比較用の抵抗器の抵抗値を
比較した。その結果、図3に示すように、絶縁層14
1、142を有する抵抗器100における抵抗値のばら
つきは、比較用の絶縁層の無い抵抗器における抵抗値の
ばらつきに比べ大きく低減していることがわかった。こ
のことから、はんだ形成工程における抵抗値のばらつき
を低減するためには、絶縁層141、142の抵抗体1
10への被覆が有効であることがわかった。
【0045】また、図2の各種金属合金および各種貴金
属合金を用いて作製した抵抗器100を用いて高温多湿
条件下での1000時間の寿命試験を行い、その寿命試
験前後の抵抗値変化を調べた。なお、上述の絶縁層を被
覆しないで同一のはんだ形成条件で作製した抵抗器につ
いても比較として上記の1000時間の寿命試験を行
い、その寿命試験前後の抵抗値変化を調べた。
【0046】それらの抵抗値変化を比較した結果、図3
に示すように、絶縁層141、142を有する抵抗器1
00における抵抗値変化は、絶縁層の無い抵抗器におけ
る抵抗値変化に比べ大きく低減していることがわかっ
た。このことから、高温多湿条件下などの劣悪環境下に
おける抵抗器の特性低下(例えば、寿命試験前後の抵抗
値変化)の防止には、絶縁層141、142の抵抗体1
10への被覆が有効であることがわかった。
【0047】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、抵抗器を作製する際に貴金属合金などの低抵抗材料
を抵抗体として用い、抵抗体を電極と結合してから電極
表面にはんだを形成する前に抵抗体の表面に絶縁体を形
成することにより、はんだ形成工程における抵抗値のば
らつきを低減でき、さらに、外部環境の影響を受けに
く、安定した抵抗値を有する良好な電流測定用抵抗器を
提供することができる。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように、本発明により特性
の良好な大電流測定用の抵抗器を提供することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る一実施の形態例である抵抗器の概
略構造図である。
【図2】抵抗体の種類を示す図である。
【図3】本発明に係る一実施の形態である抵抗器及び比
較抵抗器の特性比較を示す図である。
【図4】従来の抵抗器の概略構造図である。
【符号の説明】
100 抵抗器 110 抵抗体 121 電極 122 電極 131 溶融はんだ材 132 溶融はんだ材 141 絶縁層 142 絶縁層 150 基板 161 導体パターン 162 導体パターン

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】略板状の抵抗用合金からなる抵抗体と、 前記抵抗体の一面に形成された高導電率の金属よりなる
    互いに分離した少なくとも2つの電極と、 前記抵抗体の少なくとも前記電極を形成した面を被覆す
    る絶縁層と、を有することを特徴とする抵抗器。
  2. 【請求項2】前記抵抗体の前記電極を形成した面に対向
    する面を被覆する絶縁層を更に有することを特徴とする
    請求項1に記載の抵抗器。
  3. 【請求項3】前記絶縁層は、絶縁材料を前記抵抗体の所
    定の位置に塗布して形成されることを特徴とする請求項
    1または請求項2に記載の抵抗器。
  4. 【請求項4】前記絶縁層は、絶縁材料からなる層を前記
    抵抗体の所定の位置に接着して形成されることを特徴と
    する請求項1または請求項2に記載の抵抗器。
  5. 【請求項5】前記絶縁層は、エポキシ樹脂、アクリル樹
    脂、フッ素樹脂、フェノール樹脂、シリコーン樹脂およ
    びポリイミドのなかから選ばれた絶縁材料によって形成
    されることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれ
    か1項に記載の抵抗器。
  6. 【請求項6】前記抵抗用合金は、銅・ニッケル合金、ニ
    ッケル・クロム合金、鉄・クロム合金、マンガン・銅・
    ニッケル合金、白金・パラジウム・銀合金、金・銀合
    金、金・白金・銀合金、のいずれかであることを特徴と
    する請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の抵抗
    器。
  7. 【請求項7】前記電極は、銅または銅を含む合金である
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項
    に記載の抵抗器。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006140296A (ja) * 2004-11-11 2006-06-01 Koa Corp 電子部品の製造方法及び電子部品
JP2008016870A (ja) * 2007-10-01 2008-01-24 Rohm Co Ltd チップ抵抗器およびその製造方法
US7330099B2 (en) 2002-07-24 2008-02-12 Rohm Co., Ltd. Chip resistor and manufacturing method therefor
US7667568B2 (en) 2004-03-24 2010-02-23 Rohm Co., Ltd. Chip resistor and manufacturing method thereof
JP2010161401A (ja) * 2010-03-16 2010-07-22 Rohm Co Ltd チップ抵抗器およびその製造方法
WO2010113341A1 (ja) * 2009-04-01 2010-10-07 釜屋電機株式会社 電流検出用金属板抵抗器及びその製造方法
JP2013030795A (ja) * 2012-10-01 2013-02-07 Rohm Co Ltd チップ抵抗器およびその製造方法
WO2017188307A1 (ja) * 2016-04-27 2017-11-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
US10083781B2 (en) 2015-10-30 2018-09-25 Vishay Dale Electronics, Llc Surface mount resistors and methods of manufacturing same
US10438729B2 (en) 2017-11-10 2019-10-08 Vishay Dale Electronics, Llc Resistor with upper surface heat dissipation

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7330099B2 (en) 2002-07-24 2008-02-12 Rohm Co., Ltd. Chip resistor and manufacturing method therefor
US7755468B2 (en) 2002-07-24 2010-07-13 Rohm Co., Ltd. Chip resistor and manufacturing method therefor
US8081059B2 (en) 2004-03-24 2011-12-20 Rohm Co., Ltd. Chip resistor and manufacturing method thereof
US7667568B2 (en) 2004-03-24 2010-02-23 Rohm Co., Ltd. Chip resistor and manufacturing method thereof
JP4589083B2 (ja) * 2004-11-11 2010-12-01 コーア株式会社 電子部品の製造方法及び電子部品
JP2006140296A (ja) * 2004-11-11 2006-06-01 Koa Corp 電子部品の製造方法及び電子部品
JP2008016870A (ja) * 2007-10-01 2008-01-24 Rohm Co Ltd チップ抵抗器およびその製造方法
JPWO2010113341A1 (ja) * 2009-04-01 2012-10-04 釜屋電機株式会社 電流検出用金属板抵抗器及びその製造方法
WO2010113341A1 (ja) * 2009-04-01 2010-10-07 釜屋電機株式会社 電流検出用金属板抵抗器及びその製造方法
JP2010161401A (ja) * 2010-03-16 2010-07-22 Rohm Co Ltd チップ抵抗器およびその製造方法
JP2013030795A (ja) * 2012-10-01 2013-02-07 Rohm Co Ltd チップ抵抗器およびその製造方法
US10083781B2 (en) 2015-10-30 2018-09-25 Vishay Dale Electronics, Llc Surface mount resistors and methods of manufacturing same
US10418157B2 (en) 2015-10-30 2019-09-17 Vishay Dale Electronics, Llc Surface mount resistors and methods of manufacturing same
WO2017188307A1 (ja) * 2016-04-27 2017-11-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
JP6263750B1 (ja) * 2016-04-27 2018-01-24 パナソニックIpマネジメント株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
US10438729B2 (en) 2017-11-10 2019-10-08 Vishay Dale Electronics, Llc Resistor with upper surface heat dissipation

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