JP2002181866A - Inspecting socket for display substrate - Google Patents

Inspecting socket for display substrate

Info

Publication number
JP2002181866A
JP2002181866A JP2000383708A JP2000383708A JP2002181866A JP 2002181866 A JP2002181866 A JP 2002181866A JP 2000383708 A JP2000383708 A JP 2000383708A JP 2000383708 A JP2000383708 A JP 2000383708A JP 2002181866 A JP2002181866 A JP 2002181866A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
display substrate
frame
probe unit
substrate
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000383708A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoaki Kuga
智昭 久我
Tsutsumi Kamata
堤 鎌田
Kazuhiro Yamauchi
和弘 山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Micronics Japan Co Ltd filed Critical Micronics Japan Co Ltd
Priority to JP2000383708A priority Critical patent/JP2002181866A/en
Publication of JP2002181866A publication Critical patent/JP2002181866A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To align a display substrate with a frame and a probe unit without contacting contacts with the display substrate. SOLUTION: This inspecting socket for the display substrate includes the frame with an opening receiving the display substrate; the probe unit having the plural contacts at intervals in one direction, disposed in the frame such that the contacts can contact with electrodes of the display substrate received by the frame; and at least one energizing mechanism disposed in the frame, energizing the display substrate upward from below by elastic force to separate at least a part on the electrode side of the display substrate from the contacts upward.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルの
ような液晶基板や有機EL(erectroluminescense)基板
のような表示用基板の通電検査に用いるソケットに関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a socket used for conducting a current on a liquid crystal substrate such as a liquid crystal display panel or a display substrate such as an organic EL (erectroluminescense) substrate.

【0002】本発明においては、ソケットに配置された
表示用基板の厚さ方向における一方を「上方」といい、
他方を「下方」という。
In the present invention, one of the display substrates arranged in the socket in the thickness direction is referred to as “upper”,
The other is called "downward."

【0003】[0003]

【従来の技術】携帯電話やビデオカメラ等に用いられて
いる液晶表示パネルのような小型の表示用基板の通電検
査は、一般に、表示用基板を装着するソケットと称され
ている装着具を用いて行われる。例えば、点灯検査用の
ソケットは、これに表示用基板を装着し、その状態でバ
ックライトユニットや台等に配置される。
2. Description of the Related Art In conducting a current test of a small display substrate such as a liquid crystal display panel used in a cellular phone, a video camera, or the like, a mounting tool generally called a socket for mounting the display substrate is used. Done. For example, a lighting inspection socket is provided with a display substrate mounted thereon, and in that state, it is arranged on a backlight unit, a table, or the like.

【0004】この種のソケットの1つとして、表示用基
板の電極に個々に押圧される複数の接触子を有するプロ
ーブユニットをフレームに組み付けたものがある(例え
ば、特開2000−241788号公報)。このソケッ
トにおいて、表示用基板は、各電極が所定の接触子に接
触するようにフレームに配置され、その状態にフレーム
に支持される。電極を接触子に正確に合わせる位置合わ
せは、表示用基板をフレームに載せた状態で、表示用基
板をプローブユニットに対して移動させることにより行
われる。
As one of such sockets, there is one in which a probe unit having a plurality of contacts individually pressed against electrodes of a display substrate is assembled to a frame (for example, JP-A-2000-241788). . In this socket, the display substrate is arranged on the frame so that each electrode contacts a predetermined contact, and is supported by the frame in that state. Positioning for accurately aligning the electrodes with the contacts is performed by moving the display substrate with respect to the probe unit while the display substrate is placed on the frame.

【0005】[0005]

【解決しようとする課題】しかし、従来のこの種のソケ
ットでは、プローブユニットに対する表示用基板の位置
合わせの際に、接触子が表示用基板(特に、電極)に接
触した状態で、表示用基板が接触子に対して移動するか
ら、表示用基板(特に、電極)に傷が付きやすく、また
接触子を損傷するおそれがある。
However, in this type of conventional socket, when positioning the display substrate with respect to the probe unit, the contact is in contact with the display substrate (especially, the electrode), and the display substrate is contacted. Move with respect to the contact, the display substrate (particularly, the electrode) is easily damaged, and the contact may be damaged.

【0006】本発明の目的は、接触子を表示用基板に接
触させない状態で、フレーム及びプローブユニットに対
する表示用基板の位置合わせをするようにすることにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to align a display substrate with respect to a frame and a probe unit in a state where a contact is not brought into contact with a display substrate.

【0007】[0007]

【解決手段、作用及び効果】本発明に係る表示用基板検
査用ソケットは、開口を有しかつ表示用基板を受けるフ
レームと、一方向に間隔をおいた複数の接触子を備える
プローブユニットであって前記接触子が前記フレームに
受けられた表示用基板の電極に接触可能に前記フレーム
に配置されたプローブユニットと、前記表示用基板の少
なくとも前記電極側の部分を前記接触子から上方へ離す
べく前記表示用基板を弾性力により下方から上方に付勢
する、前記フレームに配置された1以上の付勢機構とを
含む。
A display board inspection socket according to the present invention is a probe unit including a frame having an opening and receiving a display board, and a plurality of contacts spaced in one direction. A probe unit arranged on the frame such that the contact can be brought into contact with the electrode of the display substrate received on the frame, and at least a part of the display substrate on the electrode side is separated upward from the contact. And one or more urging mechanisms disposed on the frame for urging the display substrate upward from below with elastic force.

【0008】表示用基板は、フレームの開口の大部分を
閉鎖するようにフレームに載せられる。この状態におい
て、表示用基板の少なくとも電極側の部分は付勢機構に
より接触子から離されている。この状態において、表示
用基板をプローブユニットに対して移動させて、プロー
ブユニットに対する表示用基板の位置合わせをすること
ができる。
The display substrate is mounted on the frame so as to close most of the opening of the frame. In this state, at least a portion on the electrode side of the display substrate is separated from the contact by the biasing mechanism. In this state, the display substrate can be moved with respect to the probe unit to align the display substrate with the probe unit.

【0009】上記のように、本発明によれば、表示用基
板の少なくとも電極側の部分を接触子から上方へ離す付
勢機構を備えたから、接触子を表示用基板に接触させる
ことなく、プローブユニットに対する表示用基板の位置
合わせをすることができる。
As described above, according to the present invention, since the urging mechanism for separating at least the electrode-side portion of the display substrate upward from the contact is provided, the probe does not contact the contact with the display substrate. The display substrate can be positioned with respect to the unit.

【0010】前記付勢機構は、前記フレームに形成され
た上方に開口する穴に配置された弾性体と、上部が前記
穴から突出する状態に下部において前記穴に受け入れら
れて前記弾性体に接触する基板ホルダとを備えることが
できる。そのようにすれば、付勢機構が簡単な構造にな
る。
The urging mechanism includes an elastic member disposed in a hole formed in the frame and opening upward, and a lower portion received in the lower portion with the upper portion protruding from the hole and coming into contact with the elastic member. And a substrate holder to be used. By doing so, the urging mechanism has a simple structure.

【0011】複数の前記付勢機構が前記一方向に間隔を
おいて前記フレームに配置されていることができる。そ
のようにすれば、位置合わせの間、接触子が表示用基板
に接触しない位置に、表示用基板を確実に変位させるこ
とができる。
A plurality of the urging mechanisms may be arranged on the frame at intervals in the one direction. By doing so, during the alignment, the display substrate can be reliably displaced to a position where the contact does not contact the display substrate.

【0012】表示用基板検査用ソケットは、さらに、前
記表示用基板の少なくとも電極の配置部分を前記弾性力
に抗して前記プローブユニットに解除可能に押圧する押
圧体とを含むことができる。そのようにすれば、検査の
間、電極を接触子に確実に接触させた状態に維持するこ
とができる。
[0012] The display substrate inspection socket may further include a pressing member that releasably presses at least the electrode arrangement portion of the display substrate against the probe unit against the elastic force. By doing so, it is possible to maintain a state in which the electrodes are securely in contact with the contacts during the inspection.

【0013】表示用基板検査用ソケットは、さらに、前
記接触子が配置された領域に対応する前記プローブユニ
ットの縁部を下方から受ける弾性板と、該弾性板を受け
るべく前記フレームに配置された板状のプローブホルダ
とを備えることができる。そのようにすれば、接触子の
高さ位置に多少の変化があっても、その高さ位置の変化
が弾性板の弾性変形により吸収されるから、検査の間、
電極を接触子に確実に接触させた状態に維持することが
できる。
[0013] The display board inspection socket is further provided with an elastic plate for receiving an edge of the probe unit corresponding to a region where the contact is arranged from below, and the frame is arranged to receive the elastic plate. And a plate-like probe holder. By doing so, even if there is a slight change in the height position of the contact, the change in the height position is absorbed by the elastic deformation of the elastic plate.
The electrode can be maintained in a state where the electrode is securely in contact with the contact.

【0014】表示用基板検査用ソケットは、さらに、前
記プローブホルダを受ける1以上の弾性体を備えること
ができる。そのようにすれば、プローブユニットが前記
一方向に多少傾いていても、その傾きが弾性体の弾性変
形により吸収されるから、検査の間、電極を接触子に確
実に接触させた状態に維持することができる。
[0014] The display board inspection socket may further include one or more elastic bodies for receiving the probe holder. By doing so, even if the probe unit is slightly inclined in the one direction, the inclination is absorbed by the elastic deformation of the elastic body, so that the electrodes are maintained in a state of being securely in contact with the contacts during the inspection. can do.

【0015】表示用基板検査用ソケットは、さらに、前
記表示用基板を前記フレームに取り外し可能に保持させ
る複数の基板押えを含むことができる。そのようにすれ
ば、位置合わせ後、表示用基板を基板押えによりフレー
ム及び接触子に押圧させて、フレームに組み付けること
ができる。
[0015] The display substrate inspection socket may further include a plurality of substrate holders for detachably holding the display substrate on the frame. By doing so, after the alignment, the display substrate can be pressed against the frame and the contact by the substrate holder, and assembled to the frame.

【0016】表示用基板検査用ソケットは、さらに、前
記表示用基板を前記一方向へ移動させて前記表示用基板
を前記プローブユニットに対して位置決める位置合わせ
機構を含むことができる。そのようにすれば、手を表示
用基板に触れることなく、位置合わせをすることができ
るから、位置合わせが容易になる。
The display board inspection socket may further include a positioning mechanism for moving the display board in the one direction and positioning the display board with respect to the probe unit. By doing so, the positioning can be performed without touching the display substrate with a hand, and thus the positioning is facilitated.

【0017】好ましい実施例においては、各基板押え
は、前記一方向に伸びる長穴を有する押え部材と、前記
フレームに形成されたねじ穴に上方からねじ込まれたね
じ部材であって前記長穴に通されて前記押え部材を前記
フレームに組み付けるねじ部材とを備える。
In a preferred embodiment, each substrate retainer is composed of a retainer having an elongated hole extending in one direction and a screw member screwed into a screw hole formed in the frame from above. And a screw member through which the holding member is attached to the frame.

【0018】好ましい実施例においては、また、前記位
置合わせ機構は、前記一方向へ移動可能に前記一方向に
おける前記フレームの一端部に配置された当接部材と、
前記一方向における前記当接部材の位置を調節する位置
調整機構と、前記一方向へ移動可能に前記一方向におけ
る前記フレームの他端部に配置された押圧部材と、該押
圧部材を前記開口の側に向けて付勢する弾性体と、前記
押圧部材を前記弾性体の付勢力に抗して後退させるつま
みとを備える。
In a preferred embodiment, the positioning mechanism further includes a contact member movably disposed in the one direction at one end of the frame in the one direction.
A position adjusting mechanism that adjusts the position of the contact member in the one direction, a pressing member movably disposed in the one direction, and a pressing member disposed at the other end of the frame in the one direction; An elastic body for urging toward the side, and a knob for retracting the pressing member against the urging force of the elastic body.

【0019】好ましい実施例においては、さらに、前記
プローブユニットは、電気絶縁性のシート状部材と、該
シート状部材に形成された複数の配線とをさらに備え、
前記各接触子は前記シート状部材の上面に形成されてい
ると共に、前記配線に電気的に接続されている。
In a preferred embodiment, the probe unit further includes an electrically insulating sheet member, and a plurality of wires formed on the sheet member.
Each of the contacts is formed on the upper surface of the sheet-like member and is electrically connected to the wiring.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】図1〜図5を参照するに、ソケッ
ト10は、矩形をした表示用基板12の通電試験すなわ
ち通電検査に用いられる。表示用基板12は、対向する
一対の辺を結ぶ方向へ伸びる複数の電極を一方の辺に対
応する縁部の表面又は裏面に有する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Referring to FIGS. 1 to 5, a socket 10 is used for a conduction test of a rectangular display substrate 12, that is, a conduction test. The display substrate 12 has a plurality of electrodes extending in a direction connecting a pair of opposing sides on a front surface or a rear surface of an edge portion corresponding to one side.

【0021】以下、図1、図2及び図4における左右方
向を「左右方向」といい、図1における下方及び上方を
それぞれ「前方」及び「後方」という。本発明における
「上下方向」とは、図1においては紙面に垂直な方向の
ことであり、図2及び図4においては上下方向のことで
ある。
Hereinafter, the left-right direction in FIGS. 1, 2 and 4 is referred to as “left-right direction”, and the lower and upper directions in FIG. 1 are referred to as “front” and “rear”, respectively. The “vertical direction” in the present invention refers to a direction perpendicular to the paper surface in FIG. 1, and refers to a vertical direction in FIGS. 2 and 4.

【0022】ソケット10は、表示用基板12を上側に
受ける板状のフレーム14と、プローブユニット16
と、表示用基板12を上方へ付勢する一対の付勢機構1
8と、表示用基板12の電極の配置部分を一対のプロー
ブユニット16に解除可能に押圧する板状の押圧体20
と、表示用基板12を左右方向へ移動させて表示用基板
12を両プローブユニット16に対して位置決める位置
合わせ機構22と、表示用基板12をフレーム14に取
り外し可能に保持させる複数の基板押え24と、フレー
ム14の上面に配置された接続基板26と、プローブユ
ニット16の一端部を下方から受ける一対のユニットホ
ルダ28とを含む。
The socket 10 includes a plate-shaped frame 14 for receiving the display substrate 12 on the upper side, and a probe unit 16.
And a pair of urging mechanisms 1 for urging the display substrate 12 upward.
8 and a plate-shaped pressing body 20 that releasably presses the electrode arrangement portion of the display substrate 12 against the pair of probe units 16.
A positioning mechanism 22 for moving the display substrate 12 in the left-right direction to position the display substrate 12 with respect to both probe units 16, and a plurality of substrate holders for detachably holding the display substrate 12 on the frame 14. 24, a connection board 26 disposed on the upper surface of the frame 14, and a pair of unit holders 28 that receive one end of the probe unit 16 from below.

【0023】フレーム14は、矩形の平面形状に形成さ
れており、四隅に面取り加工が施されている。フレーム
14は、また、検査すべき表示用基板12に応じた矩形
の開口30を有していると共に、四隅のそれぞれにピン
状の脚32を有している。
The frame 14 is formed in a rectangular planar shape, and chamfered at four corners. The frame 14 also has a rectangular opening 30 corresponding to the display substrate 12 to be inspected, and has pin-shaped legs 32 at each of the four corners.

【0024】開口30は通電検査の際にバックライトユ
ニット等からの光の通過に利用される。各脚32は、ソ
ケット10をバックライトユニット等に装着する際に、
それらへのソケットの装着部、ソケットを構成している
各種部材の保護部等として利用される。
The opening 30 is used for the passage of light from a backlight unit or the like at the time of an electric conduction test. Each leg 32 is used when the socket 10 is mounted on a backlight unit or the like.
They are used as mounting parts for sockets on them, protection parts for various members constituting the sockets, and the like.

【0025】フレーム14は、さらに、表示用基板12
の対向する縁部を受ける複数の基板受け34を開口30
の1以上の縁部に有している。図示の例では、2つの基
板受け34が前側の縁部に該縁部の長手方向に間隔をお
いて配置されていると共に、1つの基板受け34が左右
の各縁部の長手方向における中央に配置されている。
The frame 14 further includes a display substrate 12
The plurality of substrate receivers 34 receiving the opposite edges of the
At one or more edges. In the illustrated example, two board receivers 34 are arranged on the front edge at intervals in the longitudinal direction of the edge, and one board receiver 34 is located at the center of the left and right edges in the longitudinal direction. Are located.

【0026】各基板受け34は板部材により逆L字状に
形成されており、また上下方向へ伸びる下部に対して曲
げられた上部はこれに表示用基板12を受けるように開
口30の対応する縁部から開口30の中心に向けて伸び
ている。前側の縁部に配置された2つの基板受け34
は、前後方向における表示用基板12の位置決め部材又
はストッパとしても作用する。
Each of the substrate receivers 34 is formed in an inverted L-shape by a plate member, and an upper portion bent with respect to a lower portion extending in the vertical direction corresponds to the opening 30 so as to receive the display substrate 12 thereon. It extends from the edge toward the center of the opening 30. Two substrate receivers 34 arranged at the front edge
Also act as a positioning member or a stopper for the display substrate 12 in the front-back direction.

【0027】各プローブユニット16は、図3に示すよ
うに、互いに平行に伸びる複数の配線36をシート状部
材38の一方の面に有するシート状の形に形成されてお
り、また各配線36の一端部に複数の接触子40を配線
36の長手方向に間隔をおいて配置している。しかし、
各配線36に1つの接触子40を配置してもよい。
As shown in FIG. 3, each probe unit 16 is formed in a sheet-like shape having a plurality of wirings 36 extending in parallel with each other on one surface of a sheet-like member 38. A plurality of contacts 40 are arranged at one end at intervals in the longitudinal direction of the wiring 36. But,
One contact 40 may be arranged on each wiring 36.

【0028】配線36は、シート状部材38の一端部か
ら他端部まで伸びており、シート状部材38の他端部に
装着されたコネクタ42の端子に電気的に接続されてい
る。シート状部材38は、ポリイミドのような電気絶縁
性を有する材料から形成されている。
The wiring 36 extends from one end to the other end of the sheet member 38 and is electrically connected to a terminal of a connector 42 attached to the other end of the sheet member 38. The sheet-like member 38 is formed of a material having electrical insulation such as polyimide.

【0029】各接触子40は、対応する配線36に、半
田付け等により固着されていると共に、電気的に接続さ
れている。隣り合う配線36の接触子40は、配線36
の長手方向と直角の方向に整列されている。図示の例で
は、各接触子40は、角錐形をした突起電極であるが、
円錐形、半球形等他の形状を有していてもよい。
Each contact 40 is fixed to the corresponding wiring 36 by soldering or the like, and is also electrically connected. The contact 40 of the adjacent wiring 36 is the wiring 36
Are aligned in a direction perpendicular to the longitudinal direction. In the illustrated example, each contact 40 is a protruding electrode having a pyramid shape.
It may have another shape such as a conical shape or a hemispherical shape.

【0030】両プローブユニット16は、開口30より
後方側のフレーム14の縁部上を左右方向に間隔をおい
て前後方向に伸びている。また、両プローブユニット1
6は、接触子40を上方に向けられており、接触子40
が配置された端部の側を開口30側とされている。
The two probe units 16 extend in the front-rear direction on the edge of the frame 14 behind the opening 30 with an interval in the left-right direction. In addition, both probe units 1
6 has the contact 40 directed upward, and the contact 40
The side of the end where is disposed is the opening 30 side.

【0031】各付勢機構18は、フレーム14に形成さ
れた上方に開口する穴44に配置された弾性体46と、
下部において穴44に受け入れられた基板ホルダ48と
を備える。両付勢機構18は、表示用基板12の後方側
の隅角部を基板ホルダ48に受けるように、左右方向に
間隔をおいている。
Each of the biasing mechanisms 18 includes an elastic body 46 disposed in an upwardly opened hole 44 formed in the frame 14,
And a substrate holder 48 received in the hole 44 at the bottom. The two urging mechanisms 18 are spaced apart in the left-right direction so that the rear corner of the display substrate 12 is received by the substrate holder 48.

【0032】弾性体46は、図示の例では複数の圧縮コ
イルばねであるが、スポンジのように大きく弾性変形可
能のブロック状をした弾性体であってもよい。基板ホル
ダ48は、断面が円形のピンの形を有しており、下面に
おいて弾性体46に接触して弾性体46により上方へ付
勢されている。
The elastic body 46 is a plurality of compression coil springs in the illustrated example, but may be a block-like elastic body that can be largely elastically deformed like a sponge. The substrate holder 48 has a shape of a pin having a circular cross section, and is contacted with the elastic body 46 on the lower surface and urged upward by the elastic body 46.

【0033】基板ホルダ48の上部は、上端が接触子4
0の先端より上方となるように、穴44から突出されて
いる。しかし、基板ホルダ48は、図3に矢印90で示
すように、上下方向へ移動可能である。
The upper end of the substrate holder 48 has a contact 4
It protrudes from the hole 44 so as to be above the front end of the zero. However, the substrate holder 48 can be moved up and down as shown by the arrow 90 in FIG.

【0034】押圧体20は、ゴム板50を下面に組み付
けており、また表示用基板12の位置合わせ後に複数の
ねじ部材によりフレーム14に組み付けられて、表示用
基板12の電極の配置部分を付勢機構18の弾性体46
の付勢力(弾性力)に抗してプローブユニット16に押
圧する。押圧体20による表示用基板12の押圧は、押
圧体20をフレーム14に組み付けているねじ部材が緩
められるか又は外されることにより、解除される。
The pressing body 20 has a rubber plate 50 mounted on the lower surface thereof, and after being aligned with the display substrate 12, is mounted on the frame 14 by a plurality of screw members. Elastic body 46 of urging mechanism 18
Is pressed against the probe unit 16 against the urging force (elastic force). The pressing of the display substrate 12 by the pressing body 20 is released by loosening or removing a screw member that attaches the pressing body 20 to the frame 14.

【0035】位置合わせ機構22は、開口30を介して
対向してフレーム14に配置された一対のケース52を
備える。ケース52は、フレーム14の左右方向の縁部
に組み付けられている。
The positioning mechanism 22 has a pair of cases 52 disposed on the frame 14 so as to face each other via the opening 30. The case 52 is assembled to the left and right edges of the frame 14.

【0036】一方のケース52内には、表示用基板12
の縁部を当接させる当接部材54が左右方向へ移動可能
に配置されていると共に、左右方向における当接部材5
4の位置を調節する偏心カム56が上下方向へ伸びる軸
線の周りに回転可能に配置されている。
In one case 52, the display substrate 12
Abutting member 54 for abutting the edge of the contact member 5 is disposed so as to be movable in the left-right direction, and the abutting member 5 in the left-right direction.
An eccentric cam 56 for adjusting the position of No. 4 is rotatably arranged around an axis extending in the vertical direction.

【0037】当接部材54は、一部を一方のケース52
から他方のケース52の側に突出させており、また圧縮
コイルばねのような弾性体58によりケース52内に後
退するように付勢されている。
A part of the contact member 54 is part of the one case 52.
, And is urged to retreat into the case 52 by an elastic body 58 such as a compression coil spring.

【0038】偏心カム56は、その偏心カム部において
当接部材54に変位可能に、すなわち上下方向へ伸びる
軸線の周りに回転可能に嵌合されていると共に、左右及
び前後方向へ移動しないようにケース52に回転可能に
結合されており、さらにケース52の外に備えられた調
節つまみ60に結合されている。ケース52からの当接
部材54の突出量は、調節つまみ60を角度的に回転さ
せて、偏心カム56の偏心方向を変更することにより、
調節することができる。
The eccentric cam 56 is fitted to the contact member 54 at its eccentric cam portion so as to be displaceable, that is, rotatably fitted around an axis extending in the up-down direction, and so as not to move in the left-right and front-back directions. It is rotatably connected to the case 52, and is further connected to an adjustment knob 60 provided outside the case 52. The amount of protrusion of the contact member 54 from the case 52 can be adjusted by rotating the adjustment knob 60 angularly and changing the eccentric direction of the eccentric cam 56.
Can be adjusted.

【0039】他方のケース52内には、表示用基板12
を当接部材54に向けて押す押圧部材62が配置されて
いると共に、押圧部材62を当接部材54の側に向けて
付勢する圧縮コイルばねのような弾性体64が配置され
ている。
In the other case 52, the display substrate 12
And an elastic body 64 such as a compression coil spring that urges the pressing member 62 toward the contact member 54.

【0040】押圧部材62は、一部を対応するケース5
2から当接部材54の側に突出させており、またケース
52の外に備えられた後退つまみ66に結合されてい
る。押圧部材62はつまみ66により図3に矢印92で
示すように左右方向へ移動され、これにより表示用基板
12は図4(A)に矢印94で示すように左右方向へ移
動される。
The pressing member 62 is partly corresponding to the case 5
2 and projecting toward the contact member 54, and is coupled to a retraction knob 66 provided outside the case 52. The pressing member 62 is moved by the knob 66 in the left-right direction as shown by an arrow 92 in FIG. 3, whereby the display substrate 12 is moved in the left-right direction by an arrow 94 in FIG.

【0041】基板押え24は、開口30を介して対向す
るようにフレーム14の左右の縁部上に配置された一対
の押え部材68を備えている。各押え部材68は、板部
材から逆L字状に形成されており、また左右方向に伸び
る長穴を有しており、さらにフレーム14に形成された
ねじ穴に上方からねじ込まれたねじ部材70によりフレ
ーム14に取り外し可能に組み付けられている。
The board holder 24 has a pair of holding members 68 arranged on the left and right edges of the frame 14 so as to face each other through the opening 30. Each holding member 68 is formed in an inverted L-shape from a plate member, has a long hole extending in the left-right direction, and further has a screw member 70 screwed into a screw hole formed in the frame 14 from above. To removably assemble the frame 14.

【0042】各押え部材68は、フレーム14の左右方
向の縁部に配置された基板受け34と共同して表示用基
板12を押えるように、その上部を基板受け34の上部
と対向させている。各基板受け34及び各押え部材68
は、それぞれ、表示用基板12の損傷を防止するゴムシ
ート72及び74を上部の上面及び下面に有している。
Each holding member 68 has its upper part opposed to the upper part of the substrate receiver 34 so as to press the display substrate 12 in cooperation with the substrate receiver 34 arranged on the lateral edge of the frame 14. . Each board receiver 34 and each holding member 68
Have rubber sheets 72 and 74 for preventing damage to the display substrate 12 on the upper and lower surfaces, respectively.

【0043】ねじ部材70は、長穴に通されている。こ
のため、押え部材68は、ねじ部材70を緩めることに
より、一部が表示用基板12の上方へ突出する位置と、
表示用基板12から後退する位置との間の適宜な位置に
調節することができる。
The screw member 70 is passed through a long hole. For this reason, the holding member 68 has a position where a part of the holding member 68 projects above the display substrate 12 by loosening the screw member 70,
The position can be adjusted to an appropriate position between the position at which the display substrate 12 retreats from the display substrate 12.

【0044】接続基板26は、プローブユニット16の
配線36に個々に対応された複数の配線を有するシート
状の配線基板であり、フレーム14の後方側の縁部に接
着等の適宜な手法により組み付けられている。接続基板
26には、表示用基板12を駆動する駆動用集積回路が
配置されている。しかし、そのような駆動用集積回路を
他の部材に配置してもよい。
The connection board 26 is a sheet-shaped wiring board having a plurality of wirings respectively corresponding to the wirings 36 of the probe unit 16 and is attached to the rear edge of the frame 14 by an appropriate method such as bonding. Have been. A drive integrated circuit for driving the display substrate 12 is disposed on the connection substrate 26. However, such a driving integrated circuit may be arranged on another member.

【0045】接続基板26の配線はプローブユニット1
6の対応する配線36にコネクタ42により接続されて
いると共に、前記した駆動用集積回路に接続されてい
る。駆動用集積回路は、接続基板26の他の配線及びコ
ネクタ78により、フレキシブル印刷配線板(FPC)
のような接続ケーブル76の対応する配線に接続されて
いる。接続ケーブル76は、外部の回路に接続される。
The wiring of the connection board 26 is the probe unit 1
6 are connected to the corresponding wiring 36 by a connector 42, and are also connected to the driving integrated circuit described above. The driving integrated circuit is connected to a flexible printed wiring board (FPC) by the other wiring of the connection board 26 and the connector 78.
Is connected to the corresponding wiring of the connection cable 76. The connection cable 76 is connected to an external circuit.

【0046】各ユニットホルダ28は、接触子40が配
置された領域に対応するプローブユニット16の端部を
下方から受ける弾性板80と、弾性板80を受けるべく
フレーム14に配置された板状のプローブホルダ82
と、プローブホルダ82を受けるべくフレーム14に配
置された1以上の弾性体84とを備える。
Each unit holder 28 has an elastic plate 80 for receiving the end of the probe unit 16 corresponding to the area where the contact 40 is disposed from below, and a plate-like plate disposed on the frame 14 for receiving the elastic plate 80. Probe holder 82
And one or more elastic members 84 arranged on the frame 14 to receive the probe holder 82.

【0047】弾性板80は、シリコーンゴムのようなゴ
ム材から製作されており、プローブホルダ82の上面に
接着されている。プローブホルダ82は、樹脂、セラミ
ック、又は金属材料により、矩形の平面形状を有する厚
い板の形に製作されている。弾性体84は、図示の例で
は、複数の圧縮コイルばねであるが、弾性板80と同様
の材料やスポンジ等から形成してもよい。
The elastic plate 80 is made of a rubber material such as silicone rubber, and is adhered to the upper surface of the probe holder 82. The probe holder 82 is made of a resin, ceramic, or metal material in the form of a thick plate having a rectangular planar shape. The elastic body 84 is a plurality of compression coil springs in the illustrated example, but may be formed of the same material as the elastic plate 80, a sponge, or the like.

【0048】フレーム14は、また、各ユニットホルダ
28を受け入れるべく上方に開口しかつプローブホルダ
82に対応した矩形の平面形状を有する凹所86をプロ
ーブユニット16の一端部に対応する箇所88に有す
る。弾性体84は、凹所86の底部に配置されている。
プローブホルダ82は、その一部が凹所86から上方へ
突出させた状態に、弾性体84の上に配置されている。
しかし、プローブホルダ82は、図3に矢印96で示す
ように、上下方向へ移動可能である。
The frame 14 also has a recess 86 having a rectangular planar shape corresponding to the probe holder 82 and opening at an upper portion to receive each unit holder 28 at a location 88 corresponding to one end of the probe unit 16. . The elastic body 84 is arranged at the bottom of the recess 86.
The probe holder 82 is disposed on the elastic body 84 with a part thereof protruding upward from the recess 86.
However, the probe holder 82 can be moved up and down as shown by an arrow 96 in FIG.

【0049】フレーム14のうち、プローブホルダ82
が配置された箇所88は、フレーム14の他の箇所から
独立した部材で形成されていてもよいし、フレーム14
の他の箇所と一体的に形成されていてもよい。
The probe holder 82 of the frame 14
May be formed of a member independent of other portions of the frame 14, or the frame 88
May be formed integrally with other portions.

【0050】ソケット10において、表示用基板12を
受けていない状態においては、基板ホルダ48の上端は
接触子40の先端より上方に突出している。この状態に
おいて、表示用基板12をソケット10にセットする作
業が行われる。そのよう作業のためのステップを以下に
説明する。
In the socket 10, when the display substrate 12 is not received, the upper end of the substrate holder 48 protrudes above the tip of the contact 40. In this state, the operation of setting the display substrate 12 in the socket 10 is performed. The steps for such an operation are described below.

【0051】先ず、両基板押え24の押え部材68がね
じ部材70を利用して手動操作により開口30の左右方
向における端部に後退されると共に、位置合わせ機構2
2の押圧部材62が、図4(B)に矢印98で示すよう
に、つまみ66を利用して手動操作によりケース52に
向けて後退される。
First, the holding member 68 of both substrate holders 24 is retracted to the left and right ends of the opening 30 by manual operation using the screw member 70, and the positioning mechanism 2 is used.
The second pressing member 62 is retracted toward the case 52 by manual operation using the knob 66 as shown by an arrow 98 in FIG.

【0052】次いで、上記状態において、表示用基板1
2の電極が開口30の後方側となると共に下方側となる
状態に、表示用基板12が基板受け34に載せられる。
これにより、表示用基板12の電極と接触子40の先端
とが向き合い、またフレーム14の開口30はその大部
分を表示用基板12により閉鎖される。
Next, in the above state, the display substrate 1
The display substrate 12 is placed on the substrate receiver 34 such that the two electrodes are on the rear side and the lower side of the opening 30.
As a result, the electrodes of the display substrate 12 and the tips of the contacts 40 face each other, and most of the opening 30 of the frame 14 is closed by the display substrate 12.

【0053】表示用基板12の電極は、一方向に小さい
ピッチで配置されているから、電極の配列方向(左右方
向)における各電極の寸法は小さいが、電極の配列方向
と直交する方向(前後方向)における各電極の寸法は大
きい長方形の形状を有している。このため、表示用基板
12は、その前側の縁部を開口30の前側縁部の基板受
け34に当接されることにより前後方向の位置を調整さ
れる。
Since the electrodes of the display substrate 12 are arranged at a small pitch in one direction, the dimensions of each electrode in the electrode arrangement direction (horizontal direction) are small, but the directions perpendicular to the electrode arrangement direction (front and rear directions). The dimension of each electrode in (direction) has a large rectangular shape. For this reason, the position of the display substrate 12 in the front-rear direction is adjusted by bringing the front edge of the display substrate 12 into contact with the substrate receiver 34 at the front edge of the opening 30.

【0054】次いで、位置合わせ機構22のつまみ66
が作業者の手から離される。これにより、位置合わせ機
構22の押圧部材62が弾性体64により押されて、表
示用基板12を左方へ押すから、表示用基板12は、そ
の左方側の縁部を位置合わせ機構22の当接部材54に
当接して、その縁部の位置を調整される。
Next, the knob 66 of the positioning mechanism 22
Is separated from the operator's hand. As a result, the pressing member 62 of the positioning mechanism 22 is pressed by the elastic body 64 and pushes the display substrate 12 to the left. By contacting the contact member 54, the position of the edge is adjusted.

【0055】次いで、位置合わせ機構22を利用して、
左右方向における両プローブユニット16に対する表示
用基板12の位置決めが行われる。
Next, utilizing the positioning mechanism 22,
Positioning of the display substrate 12 with respect to both probe units 16 in the left-right direction is performed.

【0056】上記の位置決めステップは、表示用基板1
2を通して表示用基板12の電極と接触子40との位置
関係を目視により確認しつつ、調整つまみ60により偏
心カム56を角度的に回転させて、左右方向における当
接部材54及び表示用基板12の位置を変更することに
より、行うことができる。そのように、作業者の手を表
示用基板12に触れることなく、位置合わせをするなら
ば、位置合わせ作業が容易になる。
In the above positioning step, the display substrate 1
2, the eccentric cam 56 is angularly rotated by the adjustment knob 60 while visually confirming the positional relationship between the electrode of the display substrate 12 and the contact 40 through the contact member 54 and the display substrate 12 in the left-right direction. Can be performed by changing the position of. If the alignment is performed without touching the display substrate 12 by the operator's hand, the alignment work becomes easy.

【0057】次いで、両基板押え24の押え部材68が
手動操作により開口30に向けて進出されて押え部材6
8の上部が表示用基板12の上に移動されると共に、押
圧体20が表示用基板12の電極が配置された部分の上
に載せられてフレーム14に組み付けられる。
Next, the pressing members 68 of the two substrate pressing members 24 are advanced toward the opening 30 by manual operation, and
The upper part of 8 is moved onto the display substrate 12, and the pressing body 20 is mounted on the portion of the display substrate 12 where the electrodes are arranged, and is assembled to the frame 14.

【0058】上記のステップまでの間、表示用基板12
の電極側の部分が付勢機構18により接触子40から離
されているから、接触子40は表示用基板12に接触せ
ず、したがって表示用基板12がプローブユニット16
に対し前後方向又は左右方向へ移動しても、表示用基板
12及び接触子40を損傷するおそれがない。
Until the above steps, the display substrate 12
Is separated from the contact 40 by the urging mechanism 18, the contact 40 does not contact the display substrate 12, and therefore the display substrate 12
In contrast, even if the display substrate 12 and the contacts 40 are moved in the front-rear direction or the left-right direction, there is no risk of damaging the display substrate 12 and the contacts 40.

【0059】押圧体20が表示用基板12の電極が配置
された部分の上に配置され、フレーム14に組み付けら
れると、表示用基板12の電極が付勢機構18の弾性力
に抗して接触子40に押圧され、表示用基板12の電極
と接触子40とは両者が確実に接触した状態に維持され
る。
When the pressing body 20 is arranged on the portion of the display substrate 12 on which the electrodes are arranged and assembled to the frame 14, the electrodes of the display substrate 12 come into contact with each other against the elastic force of the urging mechanism 18. As a result, the electrodes of the display substrate 12 and the contacts 40 are maintained in a state where they are securely in contact with each other.

【0060】表示用基板12が押圧体20によりプロー
ブユニット16に押圧されると、ユニットホルダ28の
弾性板80及び弾性体84が圧縮されて弾性変形する。
これにより、接触子40の高さ位置に多少の変化があっ
ても、その高さ位置の変化が弾性板80の弾性変形によ
り吸収されるから、表示用基板12の電極が接触子40
に確実に接触した状態に維持される。また、プーブユニ
ット16が左右方向に多少傾いていても、その傾きが弾
性体84の弾性変形により吸収されるから、表示用基板
12の電極は接触子40に確実に接触した状態に維持さ
れる。
When the display substrate 12 is pressed against the probe unit 16 by the pressing body 20, the elastic plate 80 and the elastic body 84 of the unit holder 28 are compressed and elastically deform.
Thereby, even if there is a slight change in the height position of the contact 40, the change in the height position is absorbed by the elastic deformation of the elastic plate 80, so that the electrode of the display substrate 12
Is maintained in a reliable contact state. Further, even if the probe unit 16 is slightly inclined in the left-right direction, the inclination is absorbed by the elastic deformation of the elastic body 84, so that the electrodes of the display substrate 12 are maintained in a state in which they are securely in contact with the contacts 40. .

【0061】次いで、各基板押え24のねじ部材70が
フレームにねじ込まれて、押え部材68が表示用基板1
2を基板受け34に押え込む。これにより、位置合わせ
後の表示用基板12及びその電極がそれぞれフレーム1
2及び接触子40に押圧されて、表示用基板12がフレ
ーム14に組み付けられる。
Next, the screw member 70 of each substrate holder 24 is screwed into the frame, and the holder 68 is moved to the display substrate 1.
2 is pressed into the substrate receiver 34. As a result, the display substrate 12 and its electrodes after the alignment are each
The display substrate 12 is assembled to the frame 14 by being pressed by the contacts 2 and the contacts 40.

【0062】その後、ソケット10は、表示用基板12
を装着した状態で、バックライトユニット、チャックト
ップ、ステージ、台等の所定の装着部に配置される。こ
れにより、表示用基板12の通電検査をすることができ
る。表示用基板12をソケット10から外すときは、上
記のステップを逆に実行すればよい。
Thereafter, the socket 10 is connected to the display substrate 12.
Is mounted on a predetermined mounting portion such as a backlight unit, a chuck top, a stage, and a table. Thereby, the conduction test of the display substrate 12 can be performed. To remove the display substrate 12 from the socket 10, the above steps may be performed in reverse.

【0063】表示用基板12が一般的な液晶表示パネル
のように電極を表面に有する場合、ソケット10は、表
示用基板12を装着した状態で、上下を逆にされて所定
の装着部に配置される。しかし、表示用基板12が有機
EL基板のように電極を裏面に有する場合は、上下を逆
にすることなく、所定の装着部に配置される。
When the display substrate 12 has electrodes on the surface as in a general liquid crystal display panel, the socket 10 is placed upside down in a predetermined mounting portion with the display substrate 12 mounted. Is done. However, when the display substrate 12 has an electrode on the back surface like an organic EL substrate, it is arranged in a predetermined mounting portion without being turned upside down.

【0064】ソケット10においては、一対の付勢機構
18を左右方向に間隔をおいてフレーム14に配置して
いるから、位置合わせの間、接触子40が表示用基板1
2に接触しない位置に、表示用基板12を確実に変位さ
せることができる。各付勢機構18が弾性体46と基板
ホルダ48とにより構成されているから、付勢機構18
が簡単な構造になる。
In the socket 10, the pair of urging mechanisms 18 are arranged on the frame 14 with a space in the left-right direction.
The display substrate 12 can be reliably displaced to a position where the display substrate 12 does not touch the display substrate 2. Since each urging mechanism 18 is constituted by the elastic body 46 and the substrate holder 48, the urging mechanism 18
Becomes a simple structure.

【0065】上記の実施例では、シート状又はフィルム
状のプローブを用いたプローブユニットを利用している
が、ニードルタイプ又はブレードタイプのプローブを用
いたプローブユニットを利用してもよい。
In the above embodiment, a probe unit using a sheet-like or film-like probe is used, but a probe unit using a needle-type or blade-type probe may be used.

【0066】本発明は、表示用基板を水平にした状態で
検査する場合のみならず、表示用基板を、垂直にした状
態、斜め上向きにした状態等、他の状態で検査する場合
にも適用することができる。
The present invention can be applied not only to the case where the display substrate is inspected in a horizontal state, but also to the case where the display substrate is inspected in other states such as a vertical state and an obliquely upward state. can do.

【0067】本発明は、上記実施例に限定されない。本
発明は、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更すること
ができる。
The present invention is not limited to the above embodiment. The present invention can be variously modified without departing from the gist thereof.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るソケットの一実施例を示す平面図
である。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a socket according to the present invention.

【図2】図1における2−2線に沿って得た断面図であ
る。
FIG. 2 is a sectional view taken along line 2-2 in FIG.

【図3】図1に示すソケットにおける表示用基板、プロ
ーブユニット、付勢機構、位置合わせ機構及びユニット
ホルダの関係を示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a relationship among a display substrate, a probe unit, an urging mechanism, a positioning mechanism, and a unit holder in the socket shown in FIG.

【図4】図1における4−4線に沿って得た断面図であ
って、(A)は表示用基板の位置合わせをする状態を示
す図であり、(B)は表示用基板を押圧体によりプロー
ブユニットに押圧した状態を示す図である。
FIGS. 4A and 4B are cross-sectional views taken along line 4-4 in FIG. 1, wherein FIG. 4A is a view showing a state where a display substrate is aligned, and FIG. FIG. 4 is a diagram illustrating a state where the probe unit is pressed by a body.

【図5】図4における一部を拡大して示す断面図であ
る。
FIG. 5 is an enlarged sectional view showing a part of FIG. 4;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ソケット 12 表示用基板 14 フレーム 16 プローブユニット 18 付勢機構 20 押圧体 22 位置合わせ機構 24 基板押え 28 ユニットホルダ 30 開口 34 基板受け 40 接触子 46 弾性体 48 基板ホルダ 52 ケース 54 当接部材 56 偏心カム 58 弾性体 60 調節つまみ 62 押圧部材 64 弾性体 66 後退つまみ 68 押え部材 70 ねじ部材 72,74 ゴムシート 80 弾性板 82 プローブホルダ 84 弾性体 86 凹所 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Socket 12 Display board 14 Frame 16 Probe unit 18 Urging mechanism 20 Pressing body 22 Alignment mechanism 24 Substrate retainer 28 Unit holder 30 Opening 34 Substrate receiver 40 Contact 46 Elastic body 48 Substrate holder 52 Case 54 Contact member 56 Eccentricity Cam 58 Elastic body 60 Adjusting knob 62 Pressing member 64 Elastic body 66 Retraction knob 68 Pressing member 70 Screw member 72, 74 Rubber sheet 80 Elastic plate 82 Probe holder 84 Elastic body 86 recess

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山内 和弘 東京都武蔵野市吉祥寺本町2丁目6番8号 株式会社日本マイクロニクス内 Fターム(参考) 2G036 AA27 BA33 BB12 CA02 5E023 AA04 AA16 BB01 BB11 BB22 CC22 DD01 GG02 HH01  ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Kazuhiro Yamauchi 2-6-8 Kichijoji Honcho, Musashino-shi, Tokyo F-term in Japan Micronics Inc. (reference) 2G036 AA27 BA33 BB12 CA02 5E023 AA04 AA16 BB01 BB11 BB22 CC22 DD01 GG02 HH01

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 開口を有しかつ表示用基板を受けるフレ
ームと、 一方向に間隔をおいた複数の接触子を備えるプローブユ
ニットであって前記接触子が前記フレームに受けられた
表示用基板の電極に接触可能に前記フレームに配置され
たプローブユニットと、 前記表示用基板の少なくとも前記電極側の部分を前記接
触子から上方へ離すべく前記表示用基板を弾性力により
下方から上方に付勢する、前記フレームに配置された1
以上の付勢機構とを含む、表示用基板検査用ソケット。
1. A probe unit comprising: a frame having an opening and receiving a display substrate; and a probe unit having a plurality of contacts spaced in one direction, the probe unit comprising a display substrate having the contacts received by the frame. A probe unit arranged on the frame so as to be capable of contacting an electrode; and urging the display substrate upward from below with an elastic force so as to separate at least a portion of the display substrate on the electrode side from the contact. , One placed on the frame
A display substrate inspection socket including the above-described biasing mechanism.
【請求項2】 前記付勢機構は、前記フレームに形成さ
れた上方に開口する穴に配置された弾性体と、上部が前
記穴から突出する状態に下部において前記穴に受け入れ
られて前記弾性体に接触する基板ホルダとを備える、請
求項1に記載の表示用基板検査用ソケット。
2. The urging mechanism according to claim 1, wherein the biasing mechanism includes an elastic body disposed in an upwardly-opening hole formed in the frame, and an elastic body received in the hole at a lower portion with an upper portion protruding from the hole. 2. The display substrate inspection socket according to claim 1, further comprising: a substrate holder that contacts the display substrate.
【請求項3】 複数の前記付勢機構が前記一方向に間隔
をおいて前記フレームに配置されている、請求項1又は
2に記載の表示用基板検査用ソケット。
3. The display board inspection socket according to claim 1, wherein the plurality of biasing mechanisms are arranged on the frame at intervals in the one direction.
【請求項4】 さらに、前記表示用基板の少なくとも電
極の配置部分を前記弾性力に抗して前記プローブユニッ
トに解除可能に押圧する押圧体とを含む、請求項1,2
又は3に記載の表示用基板検査用ソケット。
4. A pressing body for releasably pressing at least an electrode-arranged portion of the display substrate against the probe unit against the elastic force.
Or the socket for inspecting a display substrate according to 3.
【請求項5】 さらに、前記接触子が配置された領域に
対応する前記プローブユニットの縁部を下方から受ける
弾性板と、該弾性板を受けるべく前記フレームに配置さ
れた板状のプローブホルダとを備える、請求項4に記載
の表示用基板検査用ソケット。
5. An elastic plate for receiving an edge portion of the probe unit corresponding to a region where the contact is arranged from below, and a plate-like probe holder arranged on the frame to receive the elastic plate. The display substrate inspection socket according to claim 4, comprising:
【請求項6】 さらに、前記プローブホルダを受ける1
以上の弾性体とを備える、請求項5に記載の表示用基板
検査用ソケット。
6. A receiving device for receiving the probe holder.
The display substrate inspection socket according to claim 5, comprising the above elastic body.
【請求項7】 さらに、前記表示用基板を前記フレーム
に取り外し可能に保持させる複数の基板押えを含む、請
求項1〜6のいずれか1項に記載の表示用基板検査用ソ
ケット。
7. The display substrate inspection socket according to claim 1, further comprising a plurality of substrate presses for detachably holding the display substrate on the frame.
【請求項8】 さらに、前記表示用基板を前記一方向へ
移動させて前記表示用基板を前記プローブユニットに対
して位置決める位置合わせ機構を含む、請求項1〜7の
いずれか1項に記載の表示用基板検査用ソケット。
8. The apparatus according to claim 1, further comprising a positioning mechanism for moving said display substrate in said one direction and positioning said display substrate with respect to said probe unit. Socket for display board inspection.
JP2000383708A 2000-12-18 2000-12-18 Inspecting socket for display substrate Pending JP2002181866A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000383708A JP2002181866A (en) 2000-12-18 2000-12-18 Inspecting socket for display substrate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000383708A JP2002181866A (en) 2000-12-18 2000-12-18 Inspecting socket for display substrate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002181866A true JP2002181866A (en) 2002-06-26

Family

ID=18851320

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000383708A Pending JP2002181866A (en) 2000-12-18 2000-12-18 Inspecting socket for display substrate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002181866A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100908785B1 (en) * 2002-12-31 2009-07-22 엘지디스플레이 주식회사 Array Board Test Device for Liquid Crystal Display
WO2012108262A1 (en) * 2011-02-08 2012-08-16 シャープ株式会社 Display panel inspection device and display panel inspection method

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100908785B1 (en) * 2002-12-31 2009-07-22 엘지디스플레이 주식회사 Array Board Test Device for Liquid Crystal Display
WO2012108262A1 (en) * 2011-02-08 2012-08-16 シャープ株式会社 Display panel inspection device and display panel inspection method
CN103348282A (en) * 2011-02-08 2013-10-09 夏普株式会社 Display panel inspection device and display panel inspection method
JP5688421B2 (en) * 2011-02-08 2015-03-25 シャープ株式会社 Display panel inspection method
CN103348282B (en) * 2011-02-08 2016-02-24 夏普株式会社 The inspection method of display panel

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008275406A (en) Probe device and inspection device
JP2000214184A (en) Probe device
US7471095B2 (en) Electrical connecting apparatus and method for use thereof
JP2001004662A (en) Probe device
CN111798775B (en) Detection device with variable space according to size of display panel
KR100340466B1 (en) Probe apparatus
JP4171148B2 (en) Probe device
JP4455733B2 (en) Probe sheet and probe apparatus using the same
US20070007948A1 (en) Electrical connection device
JP2002181866A (en) Inspecting socket for display substrate
JP3904429B2 (en) Backup pin positioning device
JP2003098189A (en) Probe sheet and probe device
JP4443916B2 (en) Probe device
JP3503798B2 (en) Display panel inspection equipment
JPWO2005069447A1 (en) Electrical connection device
JP4053790B2 (en) Display board inspection socket
JP4046929B2 (en) Electrical connection sheet
JP2002196029A (en) Device for inspecting substrate for display
JPH08304846A (en) Inspection device for liquid crystal display element
JP2004257831A (en) Contact and electrical connection device
JP2011053203A (en) Probe unit and testing device employing the same
KR20110138652A (en) Probe unit for inspecting display panel
JP5308958B2 (en) Work table and display device for display panel
JPH09127156A (en) Probe card for liquid crystal display body
JPS63302377A (en) Apparatus for inspecting circuit board

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050701

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071011

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071023

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080311