JP2002169112A - 光走査装置 - Google Patents
光走査装置Info
- Publication number
- JP2002169112A JP2002169112A JP2000364786A JP2000364786A JP2002169112A JP 2002169112 A JP2002169112 A JP 2002169112A JP 2000364786 A JP2000364786 A JP 2000364786A JP 2000364786 A JP2000364786 A JP 2000364786A JP 2002169112 A JP2002169112 A JP 2002169112A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- optical
- data
- unit
- polygon mirror
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Laser Beam Printer (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 副走査方向の走査ビームの変動から左右画像
の書き出し位置がずれてしまうと、走査対象物上に形成
される画像にも全体的にズレが生じるといった問題を解
決する。 【解決手段】 ＰＤユニット内に構成される２つのＰＤ
センサから走査ビームの変動を検出する際に、ポリゴン
ミラーの面倒れによる走査ビームの高さ変動を考慮し、
すべての面において複数回データを検出してその分布デ
ータをとることにより、最適な補正データを定義する。
の書き出し位置がずれてしまうと、走査対象物上に形成
される画像にも全体的にズレが生じるといった問題を解
決する。 【解決手段】 ＰＤユニット内に構成される２つのＰＤ
センサから走査ビームの変動を検出する際に、ポリゴン
ミラーの面倒れによる走査ビームの高さ変動を考慮し、
すべての面において複数回データを検出してその分布デ
ータをとることにより、最適な補正データを定義する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のレーザダイ
オードから発する光データを、高速で回転するポリゴン
ミラーで反射させ、それぞれの光路途中に設けられたミ
ラーを介して、光走査対象物の中心からそれぞれ反対方
向に走査する光走査装置に関する。
オードから発する光データを、高速で回転するポリゴン
ミラーで反射させ、それぞれの光路途中に設けられたミ
ラーを介して、光走査対象物の中心からそれぞれ反対方
向に走査する光走査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光走査装置として、レーザダイオ
ード（以下、ＬＤという）から発した走査ビームを高速
で回転しているポリゴンミラーで反射し、ｆθレンズ、
ミラーを介して走査対象物に書き込むような光学系を持
ち、複数のＬＤ、複数の光学系を使って走査対象物の中
心から左右反対方向に分割して走査する手法のものが知
られている。
ード（以下、ＬＤという）から発した走査ビームを高速
で回転しているポリゴンミラーで反射し、ｆθレンズ、
ミラーを介して走査対象物に書き込むような光学系を持
ち、複数のＬＤ、複数の光学系を使って走査対象物の中
心から左右反対方向に分割して走査する手法のものが知
られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この種の光走査装置で
は、温度変化による筐体の歪み、光学部材の熱伸縮、ミ
ラーの角度の変動により副走査方向に走査ビームが変動
するといった問題点がある。その他、ポリゴンミラー
は、その加工精度上、ポリゴンミラーの各面ごとにそれ
ぞれ異なる面倒れ誤差を持っており、その面倒れ誤差は
補正レンズを使って補正することが可能であるがこの補
正が完全ではないため、各面の面倒れが副走査方向の走
査ビームの変動に寄与することになってしまう。
は、温度変化による筐体の歪み、光学部材の熱伸縮、ミ
ラーの角度の変動により副走査方向に走査ビームが変動
するといった問題点がある。その他、ポリゴンミラー
は、その加工精度上、ポリゴンミラーの各面ごとにそれ
ぞれ異なる面倒れ誤差を持っており、その面倒れ誤差は
補正レンズを使って補正することが可能であるがこの補
正が完全ではないため、各面の面倒れが副走査方向の走
査ビームの変動に寄与することになってしまう。
【０００４】このように、副走査方向の走査ビームの変
動から左右画像の書き出し位置がずれてしまうと、走査
対象物上に形成される画像にも全体的にズレが生じると
いった問題が発生してしまう。
動から左右画像の書き出し位置がずれてしまうと、走査
対象物上に形成される画像にも全体的にズレが生じると
いった問題が発生してしまう。
【０００５】また、光書き込み開始前に走査光を検知す
るフォトディテクタ（以下、ＰＤという）は２つのＰＤ
センサを有しており、この２つのＰＤセンサは、１つの
ＰＤセンサに対してもう１つのＰＤセンサが設置角度が
異なるように配置されている。その検出精度を向上させ
るため、２つのＰＤセンサによって走査ビームの変動を
検出する際には、クロックの周波数を上げ測定カウント
を増やすことなどが行われる。しかしながら、この手法
では、クロックの周波数が上がるにつれてノイズの発生
による誤動作など、制御、コスト上で問題が多く生じて
くる。
るフォトディテクタ（以下、ＰＤという）は２つのＰＤ
センサを有しており、この２つのＰＤセンサは、１つの
ＰＤセンサに対してもう１つのＰＤセンサが設置角度が
異なるように配置されている。その検出精度を向上させ
るため、２つのＰＤセンサによって走査ビームの変動を
検出する際には、クロックの周波数を上げ測定カウント
を増やすことなどが行われる。しかしながら、この手法
では、クロックの周波数が上がるにつれてノイズの発生
による誤動作など、制御、コスト上で問題が多く生じて
くる。
【０００６】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
のであり、ＰＤユニット内に構成される２つのＰＤセン
サから走査ビームの変動を検出する際に、ポリゴンミラ
ーの面倒れによる走査ビームの高さ変動を考慮し、すべ
ての面において複数回データを検出してその分布データ
をとることにより、最適な補正データを定義する光走査
装置を提供することを目的とする。
のであり、ＰＤユニット内に構成される２つのＰＤセン
サから走査ビームの変動を検出する際に、ポリゴンミラ
ーの面倒れによる走査ビームの高さ変動を考慮し、すべ
ての面において複数回データを検出してその分布データ
をとることにより、最適な補正データを定義する光走査
装置を提供することを目的とする。
【０００７】また、本発明は、走査ビームの変動を検出
する際に、ポリゴンミラーの回転数を落とすように制御
することにより、クロックの周波数を上げることなく２
つのＰＤセンサによる走査ビームの変動の検出精度を向
上させる光走査装置を提供することを目的とする。
する際に、ポリゴンミラーの回転数を落とすように制御
することにより、クロックの周波数を上げることなく２
つのＰＤセンサによる走査ビームの変動の検出精度を向
上させる光走査装置を提供することを目的とする。
【０００８】さらに、本発明は、走査ビームの変動の検
出時に、ポリゴンミラーの１つの反射面を特定し、走査
ビームの変動の検出をその反射面についてだけ行うこと
により、ポリゴンミラーの各反射面の面倒れによるバラ
ツキを考慮せずに最適な補正データを定義することを目
的とする。
出時に、ポリゴンミラーの１つの反射面を特定し、走査
ビームの変動の検出をその反射面についてだけ行うこと
により、ポリゴンミラーの各反射面の面倒れによるバラ
ツキを考慮せずに最適な補正データを定義することを目
的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、請求項１記載の発明は、複数のレーザダイオード
から発する光データを、高速で回転するポリゴンミラー
で反射させ、それぞれの光路途中に設けられたミラーを
介して、光走査対象物の中心からそれぞれ反対方向に走
査することを特徴とする。
めに、請求項１記載の発明は、複数のレーザダイオード
から発する光データを、高速で回転するポリゴンミラー
で反射させ、それぞれの光路途中に設けられたミラーを
介して、光走査対象物の中心からそれぞれ反対方向に走
査することを特徴とする。
【００１０】請求項２記載の発明は、請求項１記載の発
明において、光書き込み開始前に走査光を検知するフォ
トディテクタ（以下、ＰＤという）ユニットに、１つの
ＰＤセンサに対して設置角度の異なるＰＤセンサを配置
し、そのＰＤユニットに入射されて発生する時間の変化
からビームの高さの位置ズレを算出し、その算出された
結果を画像の副走査方向のズレ量とし、そのズレ量に応
じて副走査方向の走査位置を補正する手段を有すること
を特徴とする。
明において、光書き込み開始前に走査光を検知するフォ
トディテクタ（以下、ＰＤという）ユニットに、１つの
ＰＤセンサに対して設置角度の異なるＰＤセンサを配置
し、そのＰＤユニットに入射されて発生する時間の変化
からビームの高さの位置ズレを算出し、その算出された
結果を画像の副走査方向のズレ量とし、そのズレ量に応
じて副走査方向の走査位置を補正する手段を有すること
を特徴とする。
【００１１】請求項３記載の発明は、請求項２記載の発
明において、ズレ検出精度を上げるため、前記ポリゴン
ミラーすべての面での複数回データを検出し、該検出デ
ータの分布から最適な補正データを算出することを特徴
とする。
明において、ズレ検出精度を上げるため、前記ポリゴン
ミラーすべての面での複数回データを検出し、該検出デ
ータの分布から最適な補正データを算出することを特徴
とする。
【００１２】請求項４記載の発明は、請求項２記載の発
明において、補正データ検出時に前記ポリゴンミラーの
回転数を落とすことを特徴とする。
明において、補正データ検出時に前記ポリゴンミラーの
回転数を落とすことを特徴とする。
【００１３】請求項５記載の発明は、請求項２記載の発
明において、前記ポリゴンミラーの面を特定して、該特
定した面のみで走査ビームのズレの検出を行うことを特
徴とする。
明において、前記ポリゴンミラーの面を特定して、該特
定した面のみで走査ビームのズレの検出を行うことを特
徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照しながら詳細に説明する。
図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１５】図１は、本発明に適用される画像形成装置
の光走査ユニットの一例を示した概略斜視図である。図
２は、図１の光走査ユニットをより詳細に示した概略構
成図である。図１の１０１が図２のＬＤユニット２０１
に該当し、図１の１０２が図２のシリンダレンズ２０２
に該当し、図１の１０３が図２のポリゴンスキャナ２０
３に該当し、図１の１０４が図２のｆθレンズ２０４に
該当し、図１の１０５が図２の折り返しミラー２０５に
該当し、図１の１０６が図２の感光体２０６に該当し、
図１の１０７が図２の同期検知ミラー２０７に該当す
る。
の光走査ユニットの一例を示した概略斜視図である。図
２は、図１の光走査ユニットをより詳細に示した概略構
成図である。図１の１０１が図２のＬＤユニット２０１
に該当し、図１の１０２が図２のシリンダレンズ２０２
に該当し、図１の１０３が図２のポリゴンスキャナ２０
３に該当し、図１の１０４が図２のｆθレンズ２０４に
該当し、図１の１０５が図２の折り返しミラー２０５に
該当し、図１の１０６が図２の感光体２０６に該当し、
図１の１０７が図２の同期検知ミラー２０７に該当す
る。
【００１６】本発明に適用可能な光走査ユニットは、図
２によれば、シリンダレンズ２０２０、ポリゴンスキャ
ナ２０３、ｆθレンズ２０４、及び、折り返しミラー２
０５を有し、ＬＤユニットから照射されるビーム光がこ
れらを経て感光体２０６に対して一定領域を走査する光
学ユニットである。
２によれば、シリンダレンズ２０２０、ポリゴンスキャ
ナ２０３、ｆθレンズ２０４、及び、折り返しミラー２
０５を有し、ＬＤユニットから照射されるビーム光がこ
れらを経て感光体２０６に対して一定領域を走査する光
学ユニットである。
【００１７】図３は、本発明に適用可能なＬＤユニット
の一例の詳細を示した構成図である。図３によれば、本
発明に適用するＬＤユニットは、バックビームをモニタ
することにより安定した出力を行うＬＤ３０１と、ＬＤ
３０１からの拡散光を平行な光として出力するためのコ
リメートレンズ３０２と、ビーム形状を整形するアパー
チャ３０３から構成されている。
の一例の詳細を示した構成図である。図３によれば、本
発明に適用するＬＤユニットは、バックビームをモニタ
することにより安定した出力を行うＬＤ３０１と、ＬＤ
３０１からの拡散光を平行な光として出力するためのコ
リメートレンズ３０２と、ビーム形状を整形するアパー
チャ３０３から構成されている。
【００１８】ポリゴンスキャナ２０３からｆθレンズ２
０４を経て照射される光の走査領域の先端部には、感光
体２０６への主走査方向のビームの書き始めのタイミン
グをとるためのＰＤユニット（図２中では、同期検知フ
ァイバ２０８）を通過するように構成されている。この
ＰＤユニットでの副走査方向のズレ量は走査対象物上に
おける副走査方向のズレ量とほぼ同じなので、光走査対
象上でのビームのズレ量をこのＰＤユニットの位置で検
出できる構成になっている。
０４を経て照射される光の走査領域の先端部には、感光
体２０６への主走査方向のビームの書き始めのタイミン
グをとるためのＰＤユニット（図２中では、同期検知フ
ァイバ２０８）を通過するように構成されている。この
ＰＤユニットでの副走査方向のズレ量は走査対象物上に
おける副走査方向のズレ量とほぼ同じなので、光走査対
象上でのビームのズレ量をこのＰＤユニットの位置で検
出できる構成になっている。
【００１９】図４は、本発明に適用可能なＰＤユニット
の一例の詳細を示した構成図である。本図に示したＰＤ
ユニットは２つのＰＤセンサ（図中、ＰＤ１、ＰＤ２）
を有し、それらは、一定幅におかれ、双方が直線的な形
状をもつように構成されていて、一方のＰＤセンサ（Ｐ
Ｄ２）は主走査方向に対して垂直に取り付けられ、もう
一方のＰＤセンサ（ＰＤ１）は、４５度に傾けて取り付
けられている。
の一例の詳細を示した構成図である。本図に示したＰＤ
ユニットは２つのＰＤセンサ（図中、ＰＤ１、ＰＤ２）
を有し、それらは、一定幅におかれ、双方が直線的な形
状をもつように構成されていて、一方のＰＤセンサ（Ｐ
Ｄ２）は主走査方向に対して垂直に取り付けられ、もう
一方のＰＤセンサ（ＰＤ１）は、４５度に傾けて取り付
けられている。
【００２０】次に、本発明の第１の実施形態における動
作を、図５のフローチャートを参照しながら詳細に説明
する。ここでは、走査対象物に対する副走査方向のズレ
量をＰＤユニットにて検出する方法について説明する。
ポリゴンスキャナ２０３が回転を開始すると（ステップ
Ｓ５０１）、ＬＤユニット内のＬＤが点灯される（ステ
ップＳ５０２）。ＬＤユニット２０１から発した走査ビ
ームは、シリンダレンズ２０２、ポリゴンスキャナ２０
３及び、ｆθレンズ２０４を介して走査対象物手前の同
期検知ミラー２０７で光走査領域先端部の走査ビームが
反射される。
作を、図５のフローチャートを参照しながら詳細に説明
する。ここでは、走査対象物に対する副走査方向のズレ
量をＰＤユニットにて検出する方法について説明する。
ポリゴンスキャナ２０３が回転を開始すると（ステップ
Ｓ５０１）、ＬＤユニット内のＬＤが点灯される（ステ
ップＳ５０２）。ＬＤユニット２０１から発した走査ビ
ームは、シリンダレンズ２０２、ポリゴンスキャナ２０
３及び、ｆθレンズ２０４を介して走査対象物手前の同
期検知ミラー２０７で光走査領域先端部の走査ビームが
反射される。
【００２１】この反射ビームはＰＤユニット（同期検知
ファイバ２０８）に入射し、主走査方向に対して垂直に
設置されたＰＤ２に走査ビームが入射すると（ステップ
Ｓ５０３）、そこからカウントを開始し（ステップＳ５
０４）、主走査方向に対して４５度に傾けた２つ目のＰ
Ｄ１に走査ビームが入射したときまでの受光信号の時間
が計測される（ステップＳ５０５）。
ファイバ２０８）に入射し、主走査方向に対して垂直に
設置されたＰＤ２に走査ビームが入射すると（ステップ
Ｓ５０３）、そこからカウントを開始し（ステップＳ５
０４）、主走査方向に対して４５度に傾けた２つ目のＰ
Ｄ１に走査ビームが入射したときまでの受光信号の時間
が計測される（ステップＳ５０５）。
【００２２】この受光信号の時間間隔からＰＤユニット
（同期検知ファイバ２０８）内で走査ビームが通過した
主走査方向の距離が求まり、ＰＤ１もしくはＰＤ２上で
予め定められた基準位置からの副走査方向における走査
ビームのズレ量、いわゆるＰＤユニット（同期検知ファ
イバ２０８）内での副走査方向のズレ量が上記主走査方
向の距離から下記の式１で求まる（ステップＳ５０
６）。 副走査ズレ量＝（カウント数×ＰＤセンサ上のビーム走査速度−基準位置から の距離）×ｔａｎθ （ｔａｎθ＝１）・・・（式１)
（同期検知ファイバ２０８）内で走査ビームが通過した
主走査方向の距離が求まり、ＰＤ１もしくはＰＤ２上で
予め定められた基準位置からの副走査方向における走査
ビームのズレ量、いわゆるＰＤユニット（同期検知ファ
イバ２０８）内での副走査方向のズレ量が上記主走査方
向の距離から下記の式１で求まる（ステップＳ５０
６）。 副走査ズレ量＝（カウント数×ＰＤセンサ上のビーム走査速度−基準位置から の距離）×ｔａｎθ （ｔａｎθ＝１）・・・（式１)
【００２３】既に説明したように、ＰＤセンサ上での副
走査方向のズレ量と、走査対象物での副走査方向のズレ
量がほぼ等しい関係にあることは把握されている。従っ
て、式１より副走査ズレ量が求められると、その結果か
ら走査対象物での副走査方向のズレ量が算出される。こ
こで、上記基準位置とは、初期設定時に予め定められた
位置である。
走査方向のズレ量と、走査対象物での副走査方向のズレ
量がほぼ等しい関係にあることは把握されている。従っ
て、式１より副走査ズレ量が求められると、その結果か
ら走査対象物での副走査方向のズレ量が算出される。こ
こで、上記基準位置とは、初期設定時に予め定められた
位置である。
【００２４】また、本実施形態では、図６に示すよう
に、このＰＤユニット（同期検知ファイバ２０８）を使
用し、ポリゴンスキャナ２０３ではね返った反射光の相
対的な傾きを面倒れによる走査ビームの変動のバラツキ
として検出している。このようにして副走査方向のズレ
量を複数回計測し（ステップＳ５０７）、その分布から
最適な補正値を検出して（ステップＳ５０８）、副走査
方向の書き込み位置を補正する動作を行う（ステップＳ
５０９）。
に、このＰＤユニット（同期検知ファイバ２０８）を使
用し、ポリゴンスキャナ２０３ではね返った反射光の相
対的な傾きを面倒れによる走査ビームの変動のバラツキ
として検出している。このようにして副走査方向のズレ
量を複数回計測し（ステップＳ５０７）、その分布から
最適な補正値を検出して（ステップＳ５０８）、副走査
方向の書き込み位置を補正する動作を行う（ステップＳ
５０９）。
【００２５】次に、本発明の第２の実施形態における動
作について詳細に説明する。走査ビームの走査対象物に
対する走査方法及び、ＰＤユニット（同期検知ファイバ
２０８）での走査ビームの変動検出に関わるデータ処理
方法は第１の実施形態と同様である。本実施形態では、
ＰＤユニット（同期検知ファイバ２０８）によるビーム
変動の検出を行う際、ポリゴン制御部２０９でポリゴン
スキャナ２０３の回転数を落とすよう制御する。
作について詳細に説明する。走査ビームの走査対象物に
対する走査方法及び、ＰＤユニット（同期検知ファイバ
２０８）での走査ビームの変動検出に関わるデータ処理
方法は第１の実施形態と同様である。本実施形態では、
ＰＤユニット（同期検知ファイバ２０８）によるビーム
変動の検出を行う際、ポリゴン制御部２０９でポリゴン
スキャナ２０３の回転数を落とすよう制御する。
【００２６】次に、本発明の第３の実施形態における動
作について詳細に説明する。ここでも、走査ビームの走
査対象物に対する走査方法及び、ＰＤユニット（同期検
知ファイバ２０８）での走査ビーム変動の検出に関わる
データ処理方法は第１の実施形態と同様である。
作について詳細に説明する。ここでも、走査ビームの走
査対象物に対する走査方法及び、ＰＤユニット（同期検
知ファイバ２０８）での走査ビーム変動の検出に関わる
データ処理方法は第１の実施形態と同様である。
【００２７】本実施形態では、図７に示すように、ポリ
ゴンスキャナ２０３の軸には、ポリゴンスキャナ２０３
の１つの面を特定するための反射型のセンサ７０１が構
成されている。また、ポリゴンスキャナ２０３はビーム
を走査する回数を計測しており、ＰＤユニット（同期検
知ファイバ２０８）は、走査ビーム変動の検出を行う際
に反射型センサ６０１で特定された面のホームポジショ
ンを確認し、その後、ポリゴンスキャナ２０３で測定さ
れたビームの走査回数とポリゴンスキャナ２０３の面数
からデータの検出動作の周期を算出し、その周期で上記
特定した面でのズレを検出することができる。
ゴンスキャナ２０３の軸には、ポリゴンスキャナ２０３
の１つの面を特定するための反射型のセンサ７０１が構
成されている。また、ポリゴンスキャナ２０３はビーム
を走査する回数を計測しており、ＰＤユニット（同期検
知ファイバ２０８）は、走査ビーム変動の検出を行う際
に反射型センサ６０１で特定された面のホームポジショ
ンを確認し、その後、ポリゴンスキャナ２０３で測定さ
れたビームの走査回数とポリゴンスキャナ２０３の面数
からデータの検出動作の周期を算出し、その周期で上記
特定した面でのズレを検出することができる。
【００２８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、補正データの検出をポリゴンミラーのすべて
の面で複数回行い、分布データを割り出すことにより、
光走査対象物での副走査方向のズレ量検出の精度を向上
させることができる。
によれば、補正データの検出をポリゴンミラーのすべて
の面で複数回行い、分布データを割り出すことにより、
光走査対象物での副走査方向のズレ量検出の精度を向上
させることができる。
【００２９】また、本発明によれば、ポリゴンミラーの
回転数を落とすことにより、２つのＰＤセンサ間での測
定クロック数を増やすことができ、さらに精度のよいズ
レ量検出を行うことができる。
回転数を落とすことにより、２つのＰＤセンサ間での測
定クロック数を増やすことができ、さらに精度のよいズ
レ量検出を行うことができる。
【００３０】さらに、本発明によれば、ポリゴンミラー
の面を特定し、その面でデータをとることにより、ポリ
ゴンミラーの面倒れによるバラツキを考慮せずに精度の
高い副走査方向のズレ量の検出を行うことができる。
の面を特定し、その面でデータをとることにより、ポリ
ゴンミラーの面倒れによるバラツキを考慮せずに精度の
高い副走査方向のズレ量の検出を行うことができる。
【図１】本発明に適用される画像形成装置の光走査ユニ
ットの一例を示した概略斜視図である。
ットの一例を示した概略斜視図である。
【図２】図１の光走査ユニットをより詳細に示した概略
構成図である。
構成図である。
【図３】本発明に適用可能なＬＤユニットの一例の詳細
を示した構成図である。
を示した構成図である。
【図４】本発明に適用可能なＰＤユニットの一例の詳細
を示した構成図である
を示した構成図である
【図５】本発明の第１の実施形態における動作の流れを
示したフローチャートである。
示したフローチャートである。
【図６】面倒れによる走査ビームの副走査方向のバラツ
キを示した図である。
キを示した図である。
【図７】本発明の第３の実施形態における反射型センサ
の構成及び動作を説明するための図である。
の構成及び動作を説明するための図である。
１０１、２０１ ＬＤユニット １０２、２０２ シリンダレンズ １０３、２０３ ポリゴンスキャナ １０４、２０４ ｆθレンズ １０５、２０５ 折り返しミラー １０６、２０６ 感光体 １０７、２０７ 同期検知ミラー ３０１ ＬＤ ３０２ コリメートレンズ ３０３ アバーチャ ７０１ 反射型センサ
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2C362 BA34 BA69 BA70 BA71 BA87 BA89 BA90 BB05 BB30 BB32 BB37 BB46 2H045 AA01 BA22 BA34 CA22 CA88 CA98 5C051 AA02 CA07 DA02 DB02 DB22 DB24 DB29 DC02 DC04 DC07 DE02 5C072 AA03 BA17 HA02 HA06 HA09 HA13 HB08 HB11 HB16
Claims (5)
- 【請求項１】 複数のレーザダイオードから発する光デ
ータを、高速で回転するポリゴンミラーで反射させ、そ
れぞれの光路途中に設けられたミラーを介して、光走査
対象物の中心からそれぞれ反対方向に走査することを特
徴とする光走査装置。 - 【請求項２】 光書き込み開始前に走査光を検知するフ
ォトディテクタ（以下、ＰＤという）ユニットに、１つ
のＰＤセンサに対して設置角度の異なるＰＤセンサを配
置し、そのＰＤユニットに入射されて発生する時間の変
化からビームの高さの位置ズレを算出し、その算出され
た結果を画像の副走査方向のズレ量とし、そのズレ量に
応じて副走査方向の走査位置を補正する手段を有するこ
とを特徴とする請求項１記載の光走査装置。 - 【請求項３】 ズレ検出精度を上げるため、前記ポリゴ
ンミラーすべての面での複数回データを検出し、該検出
データの分布から最適な補正データを算出することを特
徴とする請求項２記載の光走査装置。 - 【請求項４】 補正データ検出時に前記ポリゴンミラー
の回転数を落とすことを特徴とする請求項２記載の光走
査装置。 - 【請求項５】 前記ポリゴンミラーの面を特定して、該
特定した面のみで走査ビームのズレの検出を行うことを
特徴とする請求項２記載の光検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000364786A JP2002169112A (ja) | 2000-11-30 | 2000-11-30 | 光走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000364786A JP2002169112A (ja) | 2000-11-30 | 2000-11-30 | 光走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002169112A true JP2002169112A (ja) | 2002-06-14 |
Family
ID=18835666
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000364786A Pending JP2002169112A (ja) | 2000-11-30 | 2000-11-30 | 光走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002169112A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004286888A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置、画像形成装置、および画像形成システム |
| JP2007114518A (ja) * | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置、画像形成装置及び副走査位置補正方法 |
-
2000
- 2000-11-30 JP JP2000364786A patent/JP2002169112A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004286888A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置、画像形成装置、および画像形成システム |
| JP2007114518A (ja) * | 2005-10-20 | 2007-05-10 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置、画像形成装置及び副走査位置補正方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2004114312A (ja) | 複数光ビームの書き出し位置合わせ装置及びこれを用いた画像形成装置 | |
| JP2002169112A (ja) | 光走査装置 | |
| JP4305827B2 (ja) | 画素クロック生成装置及び画像形成装置 | |
| JP2005164997A (ja) | 光走査装置およびそれに用いる同期検知方法 | |
| JP3672420B2 (ja) | 広域光走査装置 | |
| JP2002277778A (ja) | 光走査装置及びそれを備えた画像形成装置 | |
| JPH09325288A (ja) | マルチビ−ム走査装置 | |
| JPH1010446A (ja) | マルチ光ビーム走査の同期検出方法及びマルチ光ビーム走査装置 | |
| JP2001108922A (ja) | 光走査装置及び該光走査装置を備えた画像形成装置 | |
| JP2001356285A (ja) | 光走査装置 | |
| JP4039611B2 (ja) | 光走査装置及びそれを備えた画像形成装置 | |
| JP3532359B2 (ja) | 光走査装置 | |
| JP4425543B2 (ja) | 分割走査書込装置 | |
| JP2001142012A (ja) | 光走査装置 | |
| JP2002277774A (ja) | 光走査装置及びそれを備えた画像形成装置 | |
| JP2001174727A (ja) | 光走査装置及び画像形成装置 | |
| JP4164271B2 (ja) | 画像形成装置 | |
| JP3752873B2 (ja) | 光走査装置 | |
| JP2502300B2 (ja) | 光ビ−ム走査装置 | |
| JP3895895B2 (ja) | 光ビーム走査装置 | |
| JP2002023082A (ja) | 光走査装置 | |
| JPH09193464A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPH06175053A (ja) | 走査光学系 | |
| JP2003094725A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2002055299A (ja) | 光ビーム走査装置 |