JP2002163854A - ディスク装置 - Google Patents

ディスク装置

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JP2002163854A
JP2002163854A JP2000358219A JP2000358219A JP2002163854A JP 2002163854 A JP2002163854 A JP 2002163854A JP 2000358219 A JP2000358219 A JP 2000358219A JP 2000358219 A JP2000358219 A JP 2000358219A JP 2002163854 A JP2002163854 A JP 2002163854A
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JP
Japan
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disk
disk device
temperature
temperature information
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JP2000358219A
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English (en)
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Minoru Nagato
実 永渡
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Mitsumi Electric Co Ltd
Original Assignee
Mitsumi Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ディスク装置の内部の温度変化に応じてディ
スク回転手段を制御することにより、ディスク装置の誤
作動や故障の原因となるディスク内部に設置された部品
の過度な温度上昇を防止する機能を備えたディスク装置
を提供することを目的とする。 【解決手段】 ディスク10を回転させるためのモータ
20と、ディスク10の回転中にディスク装置1a内部
の温度情報を取得するための温度センサー30等の温度
情報取得手段と、前記温度情報取得手段によって得られ
た温度情報によりモータ20の制御を行う制御部40と
を有しており、前記制御部40が、前記モータ20の制
御を行う際に、前記温度情報取得手段によって当該ディ
スク装置1a内部の温度情報を取得し、当該ディスク装
置1a内部の温度が所定値に到達している場合に、前記
モータ20の回転を制御するようにディスク装置1aを
構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ディスク状記録媒
体に書き込みを行うディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ディスク状記録媒体を記録・再生するた
めのディスク装置は、ディスクの回転手段となるモータ
をはじめ、様々な発熱部品を備えている。
【0003】これらの発熱部品は、ディスク装置の作動
中に熱を発する。これらの発熱部品から発生した熱は、
ディスク装置内部の空気の温度やディスク装置内部に設
置された各種部品の温度を上昇させる。
【0004】ディスク装置の制御に使用されるICなど
の半導体部品は、温度の変化に弱く、前述した発熱部品
の熱によって温度が過度に上昇した場合、特性が変化
し、ひいてはディスク装置に誤作動を発生させる。特に
ディスクに書き込みを行っている最中にディスク装置が
誤作動を起こした場合には、ディスクに書き込み途中の
データにエラーが生じ、ディスクが使用不能になること
がある。
【0005】そのため、従来よりディスク装置は、設計
段階において発熱の少ない部品を用いたり、様々な環境
で作動試験を行ったりすることによって、使用時におけ
るディスク装置内部の温度の過度の上昇に起因する誤作
動が発生しないように設計されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ディス
ク装置は、前述したように、設計段階において様々な環
境で作動試験が行われているものの、その作動試験は、
ユーザーごとに異なる気温や湿度等の環境や、使用頻度
等の使用条件、あるいは生産の際に生じた微少な個々の
製品単位の差異をすべて想定したものではない。
【0007】したがって、ユーザーの使用状況によって
は、ディスク装置の内部に作動試験において想定不能な
過度の温度の上昇が発生する可能性がある。
【0008】そのような温度下でユーザーがディスク装
置を継続して使用した場合、前述したICなどの電子部
品の誤作動が発生するだけでなく、コンデンサーなどの
電子部品の寿命が短くなり、短期間でディスク装置が故
障する原因となる。
【0009】上記問題点に鑑み、本発明のディスク装置
は、ディスク装置の内部の温度変化に応じてディスク回
転手段を制御することにより、ディスク装置の誤作動や
故障の原因となるディスク内部に設置された部品の過度
な温度上昇を防止する機能を備えたディスク装置を提供
することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】このような目的は、下記
(1)〜(10)の本発明により達成される。
【0011】(1) 少なくとも書き込みが可能なディ
スク装置であって、ディスクを回転させるためのディス
ク回転手段と、ディスクの回転中に当該ディスク装置内
部の温度情報を取得するための温度情報取得手段と、前
記温度情報取得手段によって得られた温度情報に基づい
て前記ディスク回転手段の制御を行う制御手段とを有し
ていることを特徴とするディスク装置。
【0012】(2) 前記温度情報取得手段は、温度セ
ンサーである(1)に記載のディスク装置。
【0013】(3) 前記温度情報取得手段は、半導体
部品である(1)に記載のディスク装置。
【0014】(4) 前記制御手段は、前記ディスクに
対し書き込みを行う際に、前記温度情報取得手段によっ
て当該ディスク装置内部の温度情報を取得し、該温度情
報に基づいて前記ディスク回転手段の回転を制御するよ
うに構成されている(1)ないし(3)のいずれかに記
載のディスク装置。
【0015】(5) 前記制御手段は、当該ディスク装
置内部の温度が前記所定値に到達している場合に、前記
ディスクに対する書き込みを停止する(4)に記載のデ
ィスク装置。
【0016】(6) 前記制御手段は、前記ディスク回
転手段の停止後、ディスク装置内部の温度が前記所定値
未満になった際に、前記ディスクに対する書き込みを再
び行う(4)に記載のディスク装置。
【0017】(7) 前記制御手段は、ディスク装置内
部の温度が前記所定値を到達した際に前記ディスクの回
転速度が減少するように前記ディスク回転手段を制御す
る(4)に記載のディスク装置。
【0018】(8) 前記制御手段は、ディスク装置内
部の温度が前記所定値未満になった際に、前記ディスク
の回転速度が増加するように前記ディスク回転手段を制
御する(7)に記載のディスク装置。
【0019】(9) 前記所定値は複数設定されている
(7)または(8)に記載のディスク装置。
【0020】(10) 前記ディスク装置は、光ディス
クに対して少なくとも書き込みを行う光ディスク装置で
ある(1)ないし(9)のいずれかに記載のディスク装
置。
【0021】本発明の他の目的、作用および効果は、図
面を参照して行う以下の実施形態の説明から、より明ら
かになるであろう。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明のディスク装置の好
適実施形態を図面に基づいて説明する。
【0023】まず、本発明のディスク装置の第1実施形
態について説明する。図1は、本発明のディスク装置の
第1実施形態の全体構成を示すブロック図である。
【0024】本発明の第1実施形態のディスク装置1a
は、少なくとも書き込みが可能に構成されたディスク装
置であって、光ディスクや磁気ディスクなどのディスク
10を回転させるためのディスク回転手段をなすモータ
20と、ディスク10の回転中に当該ディスク装置1a
内部の温度情報を取得するための温度情報取得手段をな
す温度センサー30と、前記温度センサー30によって
得られた温度情報により前記モータ20の制御を行う制
御手段をなす制御部40とを有している。
【0025】モータ20は、図1に示すように、制御部
40に接続されており、制御部40のモータドライバ等
の制御によって回転数などの各種制御が行われるように
なっている。
【0026】また、モータ20の中心軸21には、図1
に示すように、ディスク10を載置するためのターンテ
ーブル22が取り付けられている。
【0027】温度センサー30は、前記モータ20と同
様に制御部40に接続されている。また、温度センサー
30は、たとえば制御部40に設けられたモータ20の
ドライバICなど、書き込みの際に熱を発する部品の近
傍に設けられている。
【0028】制御部40は、図1に示すように、前記モ
ータ20および前記温度センサー30と接続されてお
り、前記温度センサー30からの温度情報に基づき、モ
ータドライバ、回転数検出回路などによって前記モータ
20の制御を行うようになっている。また、制御部40
は、図示しないピックアップ(光学ヘッドや磁気ヘッ
ド)などの各種部品とも接続されており、前記モータ2
0の制御以外の各種の制御処理も実行するようになって
いる。
【0029】以下、本発明のディスク装置1aを用いて
ディスク10に対して書き込みを行う際の制御動作の一
例を図3のフローチャートを参照して説明する。
【0030】まず、制御部40に対して書き込み開始の
指示がなされる(ステップ100)と、温度センサー3
0は、ディスク装置1a内部の温度情報を取得する(ス
テップ101)。次に制御部40は、ステップ101に
て取得された温度情報からディスク装置1a内部の温度
を求める(ステップ102)。
【0031】ステップ102において、ディスク装置1
a内部の温度が所定値未満の場合には、制御部40は、
モータ20やその他の部品を作動させ、書き込み動作を
開始する(ステップ103)。ここで、所定値とは、各
ディスク装置ごとに予め規定された値であり、ICやト
ランジスタなどの熱に弱い電子部品が誤作動し得る温度
より低い温度となっている。そして、この所定値は、た
とえば50℃程度に設定することが可能である。
【0032】なお、制御部40は、書き込み動作を開始
した後も温度センサー30によって継続的にディスク装
置1a内部の温度情報を取得するようになっている。そ
して、書き込み動作中にディスク装置1a内部の温度が
前記所定値に到達した場合には、モータ20の回転を停
止させ(ステップ104)、ステップ101に戻る。
【0033】一方、ステップ102において、ディスク
装置1a内部の温度が所定値に到達している場合には、
制御部40は、モータ20を停止状態にしたまま(ステ
ップ104)、温度センサー30が検出する温度が所定
値未満になるまで継続的に温度センサー30によってデ
ィスク装置1a内部の温度を取得する(ステップ10
1)。そして、ディスク装置1a内部の温度が所定値未
満になった際にモータ20やその他の部品を作動させ、
書き込み動作を開始する(ステップ103)。
【0034】なお、このフローチャートには示されてい
ないが、このプログラムは、終了の指示が入力された際
に停止する。
【0035】次に、本発明のディスク装置1aを用いて
ディスク10に対して書き込みを行う際の制御動作の他
の例を図4のフローチャートを参照して説明する。
【0036】まず、制御部40に対して書き込み開始の
指示がなされる(ステップ200)と、温度センサー3
0は、ディスク装置1a内部の温度情報を取得する(ス
テップ201)。そして制御部40は、ステップ201
にて取得された温度情報からディスク装置1a内部の温
度を求める(ステップ202)。
【0037】ステップ202において、ディスク装置1
a内部の温度が第1所定値未満の場合には、制御部40
は、モータ20を前記第1回転数で作動させ、書き込み
動作を開始する(ステップ204)とともに、ステップ
205に進む。ここで、第1所定値とは、前記所定値と
同様に各ディスク装置ごとに予め規定された値である。
なお、この実施形態では、互いに相違する2つの所定
値、すなわち、第1所定値、第2所定値がそれぞれ設定
されており、この第1所定値は、後述する第2所定値よ
り高い値となっている。そして、たとえば、第1所定値
を60℃、第2所定値を50℃に設定することが可能で
ある。
【0038】また、本実施形態では、2つの相違する回
転数、すなわち第1回転数(たとえば、1倍速に対応す
る回転数)と、前記第1回転数より高い第2回転数(た
とえば、1倍速のn倍(n=2、3、4…)の速度に対
応する回転数)とが各ディスク装置ごとに予め設定され
ている。
【0039】一方、ステップ202において、ディスク
装置1a内部の温度が第1所定値に到達している場合に
は、制御部40は、モータ20を停止状態にしたまま
(ステップ203)、温度センサー30が検出する温度
が前記第1所定値未満になるまで継続的に温度センサー
30によってディスク装置1a内部の温度を取得する
(ステップ201)。そして、ディスク装置1a内部の
温度が前記第1所定値未満になった際にモータ20やそ
の他の部品を作動させ、書き込み動作を開始する(ステ
ップ204)とともに、ステップ205に進む。
【0040】ステップ205では、前記ステップ201
と同様に、温度センサー30がディスク装置1a内部の
温度情報を取得する。そして、制御部40が、ステップ
205にて取得された温度情報からディスク装置1a内
部の温度を求める(ステップ206)。
【0041】ステップ206において、ディスク装置1
a内部の温度が第2所定値未満の場合には、制御部40
は、モータ20を前記第2回転数で作動させ、書き込み
動作を開始する(ステップ207)。ここで、第2所定
値とは、前記第1所定値と同様に各ディスク装置ごとに
予め規定された値である。なお、この第2所定値の値
は、前述したように前記第1所定値より低い値となって
いる。また、ここで第2回転数とは、前記第1回転数と
同様に各ディスク装置ごとに予め規定された値であり、
前述したように、前記第1回転数より高い値となってい
る。
【0042】なお、制御部40は、ステップ207にお
いて書き込み動作を開始した後も温度センサー30によ
って継続的にディスク装置1a内部の温度情報を取得す
るようになっており、書き込み動作中にディスク装置1
a内部の温度が前記第2所定値に到達した場合には、モ
ータ20の回転を前記第1回転数に減少させ(ステップ
208)、ステップ201に戻る。
【0043】一方、ステップ206において、ディスク
装置1a内部の温度が第2所定値に到達している場合に
は、制御部40は、モータ20を第1回転数にした状態
で(ステップ208)、ステップ201に戻る。
【0044】なお、この実施形態では、温度の所定値お
よびモータの回転数がそれぞれ2つずつ規定されている
が、この実施形態に限らず、温度の所定値およびモータ
の回転数をそれぞれ3つ以上規定することも可能であ
る。
【0045】次に、本発明の第2実施形態のディスク装
置を図2を参照して説明する。なお、この第2実施形態
の要素のうち、前記第1実施形態と同一の要素には、同
一の符号を付記する。また、上記第1実施形態の説明に
記載された事項と同一の事項については説明を省略す
る。
【0046】本発明の第2実施形態のディスク装置1b
は、前記第1実施形態のディスク装置1aと同様に少な
くとも書き込みかが可能に構成されたディスク装置であ
って、ディスクを回転させるためのモータ20と、モー
タ20の制御を行うための制御部40とを有している。
一方、この第2実施形態のディスク装置1bは、前記第
1実施形態のディスク装置1aと異なり、ディスクの回
転中に当該ディスク装置1b内部の温度情報を取得する
ために、ディスク10の書き込み中に不使用状態となる
半導体部品31が利用される。
【0047】たとえば記録・再生の両機能を備えたディ
スク装置の場合、書き込みを行う際に読み出し専用の回
路に取り付けられたICやトランジスタ等の半導体部品
は、不使用状態となる。この第2実施形態のディスク装
置1bは、このような半導体部品31を温度情報の取得
に利用している。
【0048】具体的には、書き込み中に不使用状態とな
っている半導体部品に試験電流を流し、当該半導体部品
の特性の変化を制御部40で検出することによって温度
情報を取得するようになっている。
【0049】モータ20および半導体部品31は、前記
第1実施形態のディスク装置1aと同様に、制御部40
に接続されており、半導体部品31は、前記第1実施形
態のディスク装置1aと同様に制御部40に設けられた
モータ20のドライバICなど、書き込みの際に熱を発
する部品の近傍に設けられている。
【0050】なお、この第2実施形態において、前記半
導体部品31の機能は、第1実施形態における前記温度
センサー30と同様である。また、ディスク10に対し
て書き込みを行う際のディスク装置1bの制御動作も前
述した第1実施形態と同様であるため、説明を省略す
る。
【0051】また、この第2実施形態においては、第1
回転数を低回転数、第2回転数を高回転数に設定し、第
1所定値を高い値、第2所定値を低い値としているが、
本実施形態に限らず、たとえば、第1回転数を高回転
数、第2回転数を低回転数と設定し、第1所定値を低い
値、第2所定値を高い値に設定することも可能である。
【0052】最後に、本発明は、上述した実施形態に限
定されることはなく、特許請求の範囲に記載された範囲
で種々の変更及び改良が可能であることは言うまでもな
い。たとえば、このディスク装置の機能を磁気ディスク
装置に使用することが可能である。
【0053】
【発明の効果】以上述べたように、本発明のディスク装
置は、温度情報取得手段によってディスク装置内部の温
度情報に応じてディスク回転手段を制御する構成となっ
ていることから、ユーザーごとに異なる使用状況や、個
々の製品単位の差異に関わらず、ディスク内部に設置さ
れた電子部品の温度の過度な上昇に伴うディスク装置の
誤作動や故障を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のディスク装置の第1実施形態の全体構
成を示すブロック図である。
【図2】本発明のディスク装置の第2実施形態の全体構
成を示すブロック図である。
【図3】本発明のディスク装置を用いてディスクに対し
て書き込みを行う際の制御動作の一例を示したフローチ
ャートである。
【図4】本発明のディスク装置を用いてディスクに対し
て書き込みを行う際の制御動作の他の例を示したフロー
チャートである。
【符号の説明】
1a−b ディスク装置 10 ディスク 20 モータ 21 中心軸 22 ターンテーブル 30 温度センサー 31 半導体部品 40 制御部

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも書き込みが可能なディスク装
    置であって、 ディスクを回転させるためのディスク回転手段と、 ディスクの回転中に当該ディスク装置内部の温度情報を
    取得するための温度情報取得手段と、 前記温度情報取得手段によって得られた温度情報に基づ
    いて前記ディスク回転手段の制御を行う制御手段とを有
    していることを特徴とするディスク装置。
  2. 【請求項2】 前記温度情報取得手段は、温度センサー
    である請求項1に記載のディスク装置。
  3. 【請求項3】 前記温度情報取得手段は、半導体部品で
    ある請求項1に記載のディスク装置。
  4. 【請求項4】 前記制御手段は、前記ディスクに対し書
    き込みを行う際に、前記温度情報取得手段によって当該
    ディスク装置内部の温度情報を取得し、該温度情報に基
    づいて前記ディスク回転手段の回転を制御するように構
    成されている請求項1ないし3のいずれかに記載のディ
    スク装置。
  5. 【請求項5】 前記制御手段は、当該ディスク装置内部
    の温度が前記所定値に到達している場合に、前記ディス
    クに対する書き込みを停止する請求項4に記載のディス
    ク装置。
  6. 【請求項6】 前記制御手段は、前記ディスク回転手段
    の停止後、ディスク装置内部の温度が前記所定値未満に
    なった際に、前記ディスクに対する書き込みを再び行う
    請求項4に記載のディスク装置。
  7. 【請求項7】 前記制御手段は、ディスク装置内部の温
    度が前記所定値を到達した際に前記ディスクの回転速度
    が減少するように前記ディスク回転手段を制御する請求
    項4に記載のディスク装置。
  8. 【請求項8】 前記制御手段は、ディスク装置内部の温
    度が前記所定値未満になった際に、前記ディスクの回転
    速度が増加するように前記ディスク回転手段を制御する
    請求項7に記載のディスク装置。
  9. 【請求項9】 前記所定値は複数設定されている請求項
    7または8に記載のディスク装置。
  10. 【請求項10】 前記ディスク装置は、光ディスクに対
    して少なくとも書き込みを行う光ディスク装置である請
    求項1ないし9のいずれかに記載のディスク装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7423942B2 (en) 2003-08-08 2008-09-09 Hitachi-Lg Data Storage, Inc. Optical disc device for recording different types of optical discs and data recording method for optical disc device

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