JP2002163827A - 光ディスク媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学ヘッドのラジアルチルト位置の最適化学
習により高信頼なデータの再生を行う。 【解決手段】 再生信号からジッター量を検出するジッ
ター量測定手段４１と、光学ヘッドのラジアルチルト位
置を変更するラジアルチルト位置可変手段４３と、異な
るラジアルチルト位置における前記ジッター量測定手段
４１の出力信号からジッター量が最小となるラジアルチ
ルト位置を判定するラジアルチルト位置学習手段４２を
有し、ラジアルチルトを最適な位置に設定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はディジタル信号を記
録再生する情報再生装置に関するものであり、このうち
特に光学的に記録再生を行う光ディスク装置ならびに光
ディスク媒体に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光ディスク装置は大容量のデータ
を記録再生する手段として盛んに開発が行われ、より高
い記録密度を達成するためのアプローチがなされてい
る。このような高記録密度を達成する際の課題はＳ／Ｎ
や記録ピット間干渉の改善と同時に、光ディスク媒体や
光ディスク装置のばらつきに対して信号品質を補償する
ことである。このことは特に、光学ヘッドと光ディスク
媒体との位置関係のばらつきとして代表されるデフォー
カス、オフトラック（光スポットのトラック中心からの
ずれ）、タンジェンシャルチルト（記録トラック接線方
向の傾き）、ラジアルチルト（ディスク半径方向の傾
き）等による再生チャンネルの特性変化として指摘され
ており、これらに起因するエラーレートの増加の小さい
装置が要求されている。

【０００３】以下図面を参照しながら、上記した従来の
光ディスク装置の再生方法の一例について説明する。

【０００４】図１１は従来の光ディスク媒体の記録領域
を示した図であり、図１２は従来の光ディスク装置の構
成図である。図１３は図１２におけるＰＬＬの構成図で
ある。

【０００５】図１１において１１１は光ディスク媒体、
１１２はトラック、１１３はディジタルデータが記録さ
れたデータ領域、１１４はピットである。

【０００６】図１２において１２２は光学系、１２３は
半導体レーザＬＤ、１２４はピンフォトダイオードＰ
Ｄ、１２５はプリアンプ、１２６は波形等化器、１２７
は整形器、１２９はＰＬＬ、１２１１は復調・誤り訂正
手段である。

【０００７】図１３において１３１は位相比較器、１３
２はローパスフィルター、１３３はＶＣＯ、１３４は分
周回路、１３５はゲート回路、１３８はＤ型フリップフ
ロップである。

【０００８】図１１において光ディスク媒体１１１では
圧縮された音声や画像情報等のプログラムがディジタル
データとしてディジタル変調されて、長さが所定の規則
で変化するように凹凸で形成されたピット１１４の列が
トラック１１２を構成するように、内周部から外周部に
向かって螺旋状に配置され、この配列によって光スポッ
トのトラッキングが行えるようにデータ領域全域に記録
されている。

【０００９】図１２において半導体レーザ１２３の出力
光は光学系１２２で処理されて光ディスク媒体１１１上
に光スポットとして集光され、その反射光がピンフォト
ダイオード１２４に入射される。プリアンプ１２５はピ
ンフォトダイオード１２４により検出された反射光変化
を増幅し、結果として光ディスク媒体上のピット長さ変
化により変化する再生信号を出力する。再生信号は波形
等化器１２６で波形干渉の小さい信号に変えられ、整形
器１２７で信号の有無を表すパルス信号１２８に変換さ
れる。信号１２８はＰＬＬ１２９に入力され、光ディス
ク媒体１１１に記録されたリードデータである２値化信
号１２１０を出力し、復調・誤り訂正手段１２１１で復
調・誤り訂正処理を行ってエラーのないディジタルデー
タ信号１２１２を出力する。

【００１０】図１３においてパルス信号１２８が位相比
較器１３１に入力されると、位相比較器１３１は入力信
号１２８とゲート回路１３５の出力信号との位相差を検
出し、２つの入力信号の位相差と周波数差に関係する誤
差電圧１３９を発生する。誤差電圧１３９はローパスフ
ィルター１３２で低周波成分だけが取り出され、ＶＣＯ
１３３の制御電圧となる。ＶＣＯ１３３は制御電圧によ
って決まる周波数でクロック信号１３７を発生する。ク
ロック信号１３７は分周回路１３４で分周され、ゲート
回路１３５でパルス信号１２８に対応した信号のみが出
力される。このときＶＣＯは２つの入力信号の位相が等
しくなるように制御され、結果的にパルス信号１２８を
その基本周期に同期させた同期信号１３６が得られる。
信号１３６はＤ型フリップフロップ１３８に入力され、
２値化信号１２１０を出力する。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】光ディスクの特長とし
て媒体交換可能であることが注目されており、高密度化
の進展に伴って前述のようなばらつきに対する補償性能
が問題となってきた。例えばディスク内周部と外周部と
ではディスクの成型と反射膜の状態のばらつきに加え
て、ディスクの反り等によって光学ヘッドとディスクと
の平行度がずれてディスク半径方向および接線方向のチ
ルトが発生し、このチルトによって再生信号品質が劣化
する。加えてディスク装着はそのセンターホールを用い
て行われる中心支持のため、装着によってもチルト変化
が生じる。

【００１２】しかしながら上記のような構成では、より
高密度化をはかった場合に光ディスク媒体間あるいは装
置間のばらつきが大きくなって信頼性が低下するという
課題を有していた。

【００１３】本発明は上記課題に鑑み、情報を記録する
データ領域とは異なる領域に、光学ヘッドの自動調整用
の領域を有した光ディスク媒体を提供するものである。

【００１４】また本発明は上記課題に鑑み、前記自動調
整用の領域を再生して光学ヘッドの自動調整を可能とす
る光ディスク装置を提供するものである。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに本発明の光ディスク媒体は、第１領域と第２領域を
備えた光ディスク媒体であって、前記第１領域は情報を
記録するデータ領域であり、前記第２領域は前記第１領
域とは異なる領域であって、孤立した最短ピットと、孤
立した最短ピット間隔を含む信号とアドレス情報とを含
むトラックを備えた領域であることを特徴とする。

【００１６】また本発明の光ディスク媒体は、隣接する
３本のトラックの両端のトラックにランダム信号が記録
され、中央のトラックにはデータ領域における変調方式
の最小反転間隔と最大反転間隔の信号から構成された信
号が記録されている。

【００１７】また本発明の光ディスク媒体は、隣接する
３本のトラックの両端のトラックにデータ領域における
変調方式の最大反転間隔の信号が記録され、中央のトラ
ックにはランダム信号が記録されている。

【００１８】また本発明の光ディスク媒体は、隣接する
３本のトラックの両端のトラックにデータ領域における
変調方式の最大反転間隔の信号が記録され、中央のトラ
ックにはデータ領域における変調方式の、最小反転間隔
と最大反転間隔の信号から構成された信号が記録されて
いる。

【００１９】また本発明の光ディスク媒体は、隣接する
３本のトラックの一部または全部のトラック幅と、デー
タ領域のトラック幅が異なる。

【００２０】また本発明の光ディスク装置は、再生信号
からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学
ヘッドのラジアルチルト位置を変更するラジアルチルト
位置可変手段と、異なるラジアルチルト位置における前
記ジッター量測定手段の出力信号からジッター量が最小
となるラジアルチルト位置を判定するラジアルチルト位
置学習手段を有する。

【００２１】また本発明の光ディスク装置は、再生信号
からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学
ヘッドのタンジェンシャルチルト位置を変更するタンジ
ェンシャルチルト位置可変手段と、異なるタンジェンシ
ャルチルト位置における前記ジッター量測定手段の出力
信号からジッター量が最小となるタンジェンシャルチル
ト位置を判定するタンジェンシャルチルト位置学習手段
を有する。

【００２２】また本発明の光ディスク装置は、再生信号
からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学
ヘッドのフォーカス位置を変更するフォーカス位置可変
手段と、異なるフォーカス位置における前記ジッター量
測定手段の出力信号からジッター量が最小となるフォー
カス位置を判定するフォーカス位置学習手段を有する。

【００２３】また本発明の光ディスク装置は、再生信号
からジッター量を検出するジッター量測定手段と、光学
ヘッドのオフトラック位置を変更するオフトラック位置
可変手段と、異なるオフトラック位置における前記ジッ
ター量測定手段の出力信号からジッター量が最小となる
オフトラック位置を判定するオフトラック位置学習手段
を有する。

【００２４】本発明の光ディスク媒体ならびに光ディス
ク装置は上記した構成によってディスク装着後のプログ
ラム再生の前に所定の領域を再生することにより、光学
ヘッドのラジアルチルト位置を最適にする学習を行うも
のであり、これによりプログラム再生時のエラーレート
改善を実現する。

【００２５】また、本発明の光ディスク媒体ならびに光
ディスク装置は上記した構成によってディスク装着後の
プログラム再生の前に所定の領域を再生することによ
り、光学ヘッドのタンジェンシャルチルト位置を最適に
する学習を行うものであり、これによりプログラム再生
時のエラーレート改善を実現する。

【００２６】また、本発明の光ディスク媒体ならびに光
ディスク装置は上記した構成によってディスク装着後の
プログラム再生の前に所定の領域を再生することによ
り、光学ヘッドのフォーカス位置を最適にする学習を行
うものであり、これによりプログラム再生時のエラーレ
ート改善を実現する。

【００２７】また、本発明の光ディスク媒体ならびに光
ディスク装置は上記した構成によってディスク装着後の
プログラム再生の前に所定の領域を再生することによ
り、光学ヘッドのオフトラック位置を最適にする学習を
行うものであり、これによりプログラム再生時のエラー
レート改善を実現する。

【００２８】

【発明の実施の形態】図１に本発明の第１の実施例にお
ける光ディスク媒体の構成を示す。図１において、１は
光ディスク媒体、２はデータ領域、３は内周部の学習領
域、４は外周部の学習領域である。

【００２９】光ディスク媒体１の学習領域３、４には既
定のデータが記録されており、光ディスク媒体１が光デ
ィスク装置に装着されると光ディスク装置は内周部の学
習領域をアクセスし、学習領域３の再生を開始する。

【００３０】ここで光ディスク媒体１の成型と反射膜の
状態のばらつきや反り等によっては内周部と外周部とで
主としてチルト量が変わる可能性がある。

【００３１】この場合には、チルト量の変化に伴ってデ
ィスク全周にわたって補償量を変えることが望ましい。
前述の動作において、内周部の学習領域３での学習結果
を学習手段に保持しておき、続いて外周部の学習領域４
において学習を行うことにより外周部での学習結果を得
て、内外周での結果から全ての領域における補償量を設
定することが可能となる。

【００３２】図２に学習領域の構成を示す。図２におい
て２１はトラック、２２はピット、２３は学習トラック
である。本実施例では学習領域は３本のトラックから構
成される。

【００３３】なお、再生専用ディスク等でピットが並ん
でいるのみでディスク半径方向の隣合うピットとの間を
分ける溝等が存在しないときでも説明の便宜上、連続し
て再生する１周のピット列をトラックと呼び、仮想の境
界２４を設ける。さらに隣合う２本の仮想の境界の距離
をトラック幅と呼ぶことにする。なお、本実施例では図
１における全ての領域のトラック幅は等しい。

【００３４】なお、書換え型のＲＡＭディスク等のラン
ド部とグルーブ部が存在するディスクでは図３３に一例
を示すように例えばグルーブ部のみに記録する場合には
境界２４はランド部として考え、ランド部のみに記録す
る場合には境界２４はグルーブ部として考える。またラ
ンド部・グルーブ部の両方に記録する場合には隣合う２
本の境界２４にはさまれた領域がランド部ないしはグル
ーブ部に対応する。

【００３５】図３に学習トラック２３に記録されている
信号を示す。図３において第１トラック３２にはランダ
ム信号３５が記録されている。第２トラック３３にはラ
ンダム信号３６が記録されている。第３トラック３４に
はランダム信号３７が記録されている。

【００３６】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。また本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【００３７】図３におけるランダム信号はＥＦＭ変調の
３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号であ
る。なお、Ｔは基本周波数の逆数であり、ウィンドウ幅
である。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３
Ｔ信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する
長さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さ
の凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）
が組合わさった状態である。

【００３８】図４に本実施例の光ディスク装置の構成を
示す。図４において４１はジッター量測定手段、４２は
ラジアルチルト位置学習手段、４３はラジアルチルト位
置可変手段である。

【００３９】図５にジッター量測定手段４１とＰＬＬ１
２９の構成を示す。図５において５１はハイパスフィル
ター、５２はＡ／Ｄ変換器、５４は検波器である。

【００４０】図６にラジアルチルト位置可変手段４３の
構成を示す。図６において６１は光学系１２２を支える
台座、６２は台座６１を傾けるスクリュー、６５は台座
が傾くときの支点、６７はラジアルチルト位置可変回路
である。スクリュー６２はラジアルチルト位置可変回路
６７によって上下に移動する。また、６４は光学系１２
２、ラジアルチルト位置可変回路６７等を備えた光学ヘ
ッドであり、紙面上で左右に移動する。

【００４１】以下で学習時の動作について説明する。光
ディスク媒体１が光ディスク装置に装着されると光ディ
スク装置は学習トラック２３の第２トラック３３を再生
する。

【００４２】図４において半導体レーザ１２３の出力光
は光学系１２２で処理されて光ディスク媒体１上に光ス
ポットとして集光され、その反射光がピンフォトダイオ
ード１２４に入射される。プリアンプ１２５はピンフォ
トダイオード１２４により検出された反射光変化を増幅
し、結果として光ディスク媒体上のピット長さ変化によ
り変化する再生信号を出力する。再生信号は波形等化器
１２６で波形干渉の小さい信号に変えられ、整形器１２
７で信号の有無を表すパルス信号１２８に変換され、Ｐ
ＬＬ１２９に入力される。

【００４３】このとき信号１２８には、ラジアルチルト
（ディスク半径方向の傾き）、オフトラック（スポット
のトラック中心からのずれ）等による隣接トラックから
の反射回折光によるクロストークや、タンジェンシャル
チルト（記録トラック接線方向の傾き）、オフトラッ
ク、デフォーカス（焦点ずれ）、ディスクの経時変化、
回路雑音等による再生信号振幅の低下や、波形干渉（マ
ーク間隔が狭いときに前後のマークから受ける影響）等
により、ジッターと呼ばれる原信号との時間的なずれが
発生している。ジッター量が大きくなると再生系におけ
る読み出し誤りが増大する。

【００４４】図５においてパルス信号１２８が位相比較
器１３１に入力されると、位相比較器１３１は入力信号
１２８とゲート回路１３５の出力信号との位相差を検出
し、２つの入力信号の位相差と周波数差に関係する誤差
電圧１３９を発生する。誤差電圧１３９はローパスフィ
ルター１３２で低周波成分だけが取り出され、ＶＣＯ１
３３の制御電圧となる。ＶＣＯ１３３は制御電圧によっ
て決まる周波数でクロック信号１３７を発生する。クロ
ック信号１３７は分周回路１３４で分周され、ゲート回
路１３５でパルス信号１２８に対応した信号のみが出力
される。このときＶＣＯは２つの入力信号の位相が等し
くなるように制御され、結果的にパルス信号１２８をそ
の基本周期に同期させた同期信号１３６が得られる。

【００４５】誤差電圧１３９は一方でジッター量測定手
段４１に入力される。図５において誤差電圧１３９はハ
イパスフィルター５１によってその高周波成分だけが取
り出され、検波器５４で検波されて信号５３となる。信
号１２８のジッター量が大きいほど信号５３も大きい。
信号５３はＡ／Ｄ変換器５２でディジタル化された後、
ラジアルチルト位置学習手段４２に入力され、現ラジア
ルチルト位置でのジッター量として保持される。

【００４６】以下ラジアルチルト位置可変手段４３によ
り一定量づつラジアルチルト位置を変化させながらジッ
ター量を測定し、ラジアルチルト位置学習手段４２にそ
の値を保持していく。

【００４７】ラジアルチルト位置を変化させることによ
って光学ヘッド６４と光ディスク媒体１とのディスク半
径方向の相対角度が変化し、学習トラック２３の第１ト
ラック３２もしくは第３トラック３４からの信号が第２
トラック３３へ漏れ込むクロストーク量が変化し、これ
により再生信号波形が変化してジッター量が変わる。

【００４８】従ってジッター量の最も小さい位置もしく
はジッター量極小となる位置が２箇所存在する場合はそ
の中央位置が両隣のトラックからの影響の最も小さい位
置である。

【００４９】このサイクルはラジアルチルト位置学習手
段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適
ラジアルチルト位置を判定するまで続けられ、全測定が
終了すると各領域における最適ラジアルチルト位置を決
定する。図３４に学習のフローチャートの一例を示す。

【００５０】以上のように本実施例の光ディスク媒体を
用いてラジアルチルト位置の学習を行うことにより、領
域ごとに、両隣のトラックからのクロストーク量の小さ
い最適ラジアルチルト位置での再生が可能になり、より
高い信頼性で再生を行えることになる。

【００５１】また、本実施例のように学習トラック２３
を設けて常に同一のトラックを再生することにより、ラ
ジアルチルト位置学習手段４２に記憶手段を備えていれ
ば出荷時や過去の学習時のデータとの比較が可能になる
ので、動作状態のチェック手段として使用できる。

【００５２】なお、本実施例の学習はディスク装着時に
行うが、使用中に何らかの異常があって再起動を行うと
きはもちろん、振動の多い場所での使用時には使用中に
何度でも学習を行って良い。

【００５３】なお、本実施例では波形等化器１２６を用
いているが、波形等化を行うことで各ラジアルチルト位
置におけるジッター量の差が出にくくなる場合は、学習
時にはプリアンプ１２５の出力を整形器１２７に入力
し、波形等化を行わなくても良い。

【００５４】なお、本実施例ではラジアルチルト位置可
変手段４３の構成として、台座６１をスクリュー６２で
傾ける方式を用いているが、光学ヘッド６４と光ディス
ク媒体１とのディスク半径方向の相対角度を変化させる
ことが可能な構成であればどのような構成でも良い。

【００５５】なお、本実施例ではジッター量測定手段４
１の構成例として、ＰＬＬ１２９の位相比較器１３１の
出力をハイパスフィルター５１に入力し、検波器５４を
通してＡ／Ｄ変換する方式を用いているが、ジッター量
もしくはジッター量に関係する量を検出する構成であれ
ばどのような構成でも良い。

【００５６】以下本発明の第２の実施例について図面を
参照しながら説明する。図７は本発明の第２の実施例の
光ディスク装置の構成図である。

【００５７】図７において、４１はジッター量測定手
段、７１はタンジェンシャルチルト位置学習手段、７２
はタンジェンシャルチルト位置可変手段である。

【００５８】図８にタンジェンシャルチルト位置可変手
段７２の構成を示す。図８において６１は光学系１２２
を支える台座、６２は台座６１を傾けるスクリュー、６
５は台座が傾くときの支点、８２はタンジェンシャルチ
ルト位置可変回路である。スクリュー６２はタンジェン
シャルチルト位置可変回路８２によって上下に移動す
る。また、８１は光学系１２２、タンジェンシャルチル
ト位置可変回路８２等を備えた光学ヘッドであり、紙面
に向かって垂直方向に移動する。

【００５９】本実施例の光ディスク装置は第１の実施例
の光ディスク装置におけるラジアルチルト位置学習手段
４２、ラジアルチルト位置可変手段４３の代わりに、タ
ンジェンシャルチルト位置学習手段７１、タンジェンシ
ャルチルト位置可変手段７２を備えたものであり、それ
以外の構成および使用する光ディスク媒体については同
様である。

【００６０】本実施例ではタンジェンシャルチルト位置
可変手段７２により一定量づつタンジェンシャルチルト
位置を変化させながらジッター量を測定し、タンジェン
シャルチルト位置学習手段７１にその値を保持してい
く。

【００６１】タンジェンシャルチルト位置を変化させる
ことによって光学ヘッド６４と光ディスク媒体１との記
録トラック接線方向の相対角度が変化し、学習トラック
２３の第２トラック３３の再生信号振幅が変化し、これ
によりジッター量が変化する。

【００６２】このサイクルはタンジェンシャルチルト位
置学習手段７１が内外周の学習トラックにおけるそれぞ
れの最適タンジェンシャルチルト位置を判定するまで続
けられ、全測定が終了すると各領域における最適タンジ
ェンシャルチルト位置を決定する。

【００６３】以上のように本実施例の光ディスク媒体を
用いてタンジェンシャルチルト位置の学習を行うことに
より、領域ごとに、再生信号振幅の大きい最適タンジェ
ンシャルチルト位置での再生が可能になり、より高い信
頼性で再生を行えることになる。

【００６４】また、本実施例のように学習トラック２３
を設けて常に同一のトラックを再生することにより、タ
ンジェンシャルチルト位置学習手段７１に記憶手段を備
えていれば出荷時や過去の学習時のデータとの比較が可
能になるので、動作状態のチェック手段として使用でき
る。

【００６５】なお、本実施例の学習はディスク装着時に
行うが、使用中に何らかの異常があって再起動を行うと
きはもちろん、振動の多い場所での使用時には使用中に
何度でも学習を行って良い。

【００６６】なお、本実施例ではタンジェンシャルチル
ト位置可変手段７２の構成として、台座６１をスクリュ
ー６２で傾ける方式を用いているが、光学ヘッド８１と
光ディスク媒体１との記録トラック接線方向の相対角度
を変化させることが可能な構成であればどのような構成
でも良い。

【００６７】以下本発明の第３の実施例について図面を
参照しながら説明する。図９は本発明の第３の実施例の
光ディスク装置の構成図である。

【００６８】図９において、４１はジッター量測定手
段、９１はフォーカス位置学習手段、９２はフォーカス
位置可変手段、９３はフォーカスサーボ回路である。

【００６９】本実施例の光ディスク装置は第１の実施例
の光ディスク装置におけるラジアルチルト位置学習手段
４２、ラジアルチルト位置可変手段４３の代わりに、フ
ォーカス位置学習手段９１、フォーカス位置可変手段９
２を備えたものであり、それ以外の構成および使用する
光ディスク媒体については同様である。

【００７０】フォーカス位置可変手段９２は例えばＤ／
Ａ変換器を備えており、フォーカス位置学習手段９１の
信号に応じた電圧をフォーカスサーボ回路９３のフォー
カスエラー信号にオフセット電圧として加えることによ
り焦点位置をずらす。

【００７１】本実施例ではフォーカス位置可変手段９２
により一定量づつフォーカス位置を変化させながらジッ
ター量を測定し、フォーカス位置学習手段９１にその値
を保持していく。フォーカス位置を変化させることによ
って学習トラック２３の第２トラック３３の再生信号振
幅が変化し、これによりジッター量が変化する。

【００７２】このサイクルはフォーカス位置学習手段９
１が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適フォ
ーカス位置を判定するまで続けられ、全測定が終了する
と各領域における最適フォーカス位置を決定する。

【００７３】以上のように本実施例の光ディスク媒体を
用いてフォーカス位置の学習を行うことにより、領域ご
とに、再生信号振幅の大きい最適フォーカス位置での再
生が可能になり、より高い信頼性で再生を行えることに
なる。

【００７４】また、本実施例のように学習トラック２３
を設けて常に同一のトラックを再生することにより、フ
ォーカス位置学習手段９１に記憶手段を備えていれば出
荷時や過去の学習時のデータとの比較が可能になるの
で、動作状態のチェック手段として使用できる。

【００７５】なお、本実施例の学習はディスク装着時に
行うが、使用中に何らかの異常があって再起動を行うと
き等、使用中に何度でも学習を行って良い。

【００７６】以下本発明の第４の実施例について図面を
参照しながら説明する。図１０は本発明の第４の実施例
の光ディスク装置の構成図である。

【００７７】図１０において、４１はジッター量測定手
段、１０１はオフトラック位置学習手段、１０２はオフ
トラック位置可変手段、１０３はトラッキングサーボ回
路である。

【００７８】本実施例の光ディスク装置は第１の実施例
の光ディスク装置におけるラジアルチルト位置学習手段
４２、ラジアルチルト位置可変手段４３の代わりに、オ
フトラック位置学習手段１０１、オフトラック位置可変
手段１０２を備えたものであり、それ以外の構成および
使用する光ディスク媒体については同様である。

【００７９】オフトラック位置可変手段１０２は例えば
Ｄ／Ａ変換器を備えており、オフトラック位置学習手段
１０１の信号に応じた電圧をトラッキングサーボ回路１
０３のトラッキングエラー信号にオフセット電圧として
加えることによりオフトラック位置をずらす。

【００８０】本実施例ではオフトラック位置可変手段１
０２により一定量づつオフトラック位置を変化させなが
らジッター量を測定し、オフトラック位置学習手段１０
１にその値を保持していく。

【００８１】オフトラック位置を変化させることによっ
て学習トラック２３の第２トラック３３の再生信号振幅
が変化し、更に第１トラック３２もしくは第３トラック
３４に近づくことによりクロストーク量が変化し、これ
によりジッター量が変化する。

【００８２】このサイクルはオフトラック位置学習手段
１０１が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適
オフトラック位置を判定するまで続けられ、全測定が終
了すると各領域における最適オフトラック位置を決定す
る。

【００８３】以上のように本実施例の光ディスク媒体を
用いてオフトラック位置の学習を行うことにより、領域
ごとに、再生信号振幅が大きくクロストーク量の小さい
最適オフトラック位置での再生が可能になり、より高い
信頼性で再生を行えることになる。

【００８４】また、本実施例のように学習トラック２３
を設けて常に同一のトラックを再生することにより、オ
フトラック位置学習手段１０１に記憶手段を備えていれ
ば出荷時や過去の学習時のデータとの比較が可能になる
ので、動作状態のチェック手段として使用できる。

【００８５】なお、本実施例の学習はディスク装着時に
行うが、使用中に何らかの異常があって再起動を行うと
き等、何度でも学習を行って良い。

【００８６】以下本発明の第５の実施例について図面を
参照しながら説明する。図１４は本発明の第５の実施例
の光ディスク媒体の学習トラック２３に記録されている
信号の説明図である。

【００８７】図１４において第１トラック３２にはラン
ダム信号１４５が記録されている。第２トラック３３に
はワーストパターン信号１４６が記録されている。第３
トラック３４にはランダム信号１４７が記録されてい
る。

【００８８】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【００８９】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【００９０】図１４におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【００９１】またワーストパターン信号１４６は例え
ば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在
する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さ
の凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に
対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸
部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応
する長さの凸部の連続パターンである。

【００９２】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号
にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワー
ストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。

【００９３】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２３に記録されている信号の違い以外は第１の実施例
の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実
施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有し
た光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２３の第
２トラック３３を再生しながら、ラジアルチルト位置可
変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化
させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッ
ター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段
４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内
外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチ
ルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における
最適ラジアルチルト位置を決定する。

【００９４】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２３の第２トラック３３のワーストパターン信号１４６
は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間
隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉
がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジ
ッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジア
ルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度
よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能とな
る。

【００９５】以下本発明の第６の実施例について図面を
参照しながら説明する。図１５は本発明の第６の実施例
の光ディスク媒体の学習トラック２３に記録されている
信号の説明図である。

【００９６】図１５において第１トラック３２には１１
Ｔ信号１５５が記録されている。第２トラック３３には
ランダム信号１５６が記録されている。第３トラック３
４には１１Ｔ信号１５７が記録されている。

【００９７】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【００９８】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【００９９】図１５におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０１００】また１１Ｔ信号１５５、１５７は１１Ｔ信
号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対
応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の
連続パターンである。

【０１０１】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレス
やＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分
が多く含まれていれば良い。

【０１０２】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２３に記録されている信号の違い以外は第１の実施例
の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実
施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有し
た光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２３の第
２トラック３３を再生しながら、ラジアルチルト位置可
変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化
させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッ
ター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段
４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内
外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチ
ルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における
最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０１０３】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２３の第１トラック３２の１１Ｔ信号１５５、第３トラ
ック３４の１１Ｔ信号１５７は、最長ピットならびに最
長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信号より
も再生信号振幅が大きくなり、第２トラック３３を再生
するときの第１トラック３２、第３トラック３４からの
信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。そ
れに従ってジッター量も大きくなるので、より精度よく
最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。

【０１０４】以下本発明の第７の実施例について図面を
参照しながら説明する。図１６は本発明の第７の実施例
の光ディスク媒体の学習トラック２３に記録されている
信号の説明図である。

【０１０５】図１６において第１トラック３２には１１
Ｔ信号１６５が記録されている。第２トラック３３には
ワーストパターン信号１６６が記録されている。第３ト
ラック３４には１１Ｔ信号１６７が記録されている。

【０１０６】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１０７】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０１０８】ワーストパターン信号１６６は例えば、図
３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信
号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹
部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応
する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３
Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長
さの凸部の連続パターンである。

【０１０９】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号
にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワー
ストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。

【０１１０】また１１Ｔ信号１６５、１６７は１１Ｔ信
号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対
応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の
連続パターンである。

【０１１１】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレス
やＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分
が多く含まれていれば良い。

【０１１２】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２３に記録されている信号の違い以外は第１の実施例
の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１の実
施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有し
た光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２３の第
２トラック３３を再生しながら、ラジアルチルト位置可
変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置を変化
させ、ジッター量測定手段４１によりその位置でのジッ
ター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段
４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内
外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチ
ルト位置を判定すると、測定を終了して各領域における
最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０１１３】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２３の第２トラック３３のワーストパターン信号１６６
は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピット間
隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間干渉
がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例えばジ
ッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラジア
ルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより精度
よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能とな
る。

【０１１４】加えて、本実施例の光ディスク媒体の学習
トラック２３の第１トラック３２の１１Ｔ信号１６５、
第３トラック３４の１１Ｔ信号１６７は、最長ピットな
らびに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム
信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック３
３を再生するときの第１トラック３２、第３トラック３
４からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きく
なる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０１１５】以下本発明の第８の実施例について図面を
参照しながら説明する。図１は本発明の第８の実施例に
おける光ディスク媒体の構成を示すものであり、１は光
ディスク媒体、２はデータ領域、３は内周部の学習領
域、４は外周部の学習領域である。

【０１１６】図１７に本実施例における光ディスク媒体
の学習領域の構成を示す。図１７において１７１はトラ
ック、１７２はピット、１７３は学習トラックである。
本実施例では学習領域は３本のトラックから構成され
る。

【０１１７】なお、再生専用ディスク等でピットが並ん
でいるのみでディスク半径方向の隣合うピットとの間を
分ける溝等が存在しないときでも説明の便宜上、連続し
て再生する１周のピット列をトラックと呼び、仮想の境
界１７４を設ける。さらに隣合う２本の仮想の境界の距
離をトラック幅と呼ぶことにする。

【０１１８】なお、書換え型のＲＡＭディスク等のラン
ド部とグルーブ部が存在するディスクでは図３３に一例
を示すように例えばグルーブ部のみに記録する場合には
境界１７４はランド部として考え、ランド部のみに記録
する場合には境界１７４はグルーブ部として考える。ま
たランド部・グルーブ部の両方に記録する場合には隣合
う２本の境界１７４にはさまれた領域がランド部ないし
はグルーブ部に対応する。

【０１１９】図１７において第１トラック１７５と第３
トラック１７７のトラック幅はデータ領域２のトラック
幅に等しく、第２トラック１７６のトラック幅は第１ト
ラック１７５のトラック幅よりも狭い。

【０１２０】図１８に学習トラック１７３に記録されて
いる信号を示す。図１８において第１トラック１７５に
はランダム信号１８１が記録されている。第２トラック
１７６にはランダム信号１８２が記録されている。第３
トラック１７７にはランダム信号１８３が記録されてい
る。

【０１２１】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１２２】図１８におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０１２３】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク１７３の構成の違い以外は第１の実施例の光ディスク
媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明し
たラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク
装置に装着すれば、学習トラック１７３の第２トラック
１７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４
３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジ
ッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を
測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保
持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学
習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置
を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジ
アルチルト位置を決定する。

【０１２４】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
１７３のように、第２トラック１７６のトラック幅を狭
くすると、第２トラック１７６を再生するときの第１ト
ラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込
みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジ
ッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアル
チルト位置を求めることが可能となる。

【０１２５】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０１２６】以下本発明の第９の実施例について図面を
参照しながら説明する。図１９は本発明の第９の実施例
の光ディスク媒体の学習トラック１７３に記録されてい
る信号の説明図である。

【０１２７】図１９において第１トラック１７５にはラ
ンダム信号１９１が記録されている。第２トラック１７
６にはワーストパターン信号１９２が記録されている。
第３トラック１７７にはランダム信号１９３が記録され
ている。

【０１２８】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１２９】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０１３０】図１９におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０１３１】またワーストパターン信号１９２は例え
ば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在
する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さ
の凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に
対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸
部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応
する長さの凸部の連続パターンである。

【０１３２】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号
にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワー
ストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。

【０１３３】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク１７３に記録されている信号の違い以外は第８の実施
例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第８の
実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有
した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック１７３
の第２トラック１７６を再生しながら、ラジアルチルト
位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置
を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置で
のジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学
習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４
２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジ
アルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域に
おける最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０１３４】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
１７３の第２トラック１７６のワーストパターン信号１
９２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピッ
ト間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間
干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例え
ばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラ
ジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０１３５】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラック１７３のように、第２トラック１７６のトラック
幅を狭くすると、第２トラック１７６を再生するときの
第１トラック１７５、第３トラック１７７からの信号の
漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。それに従
ってジッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラ
ジアルチルト位置を求めることが可能となる。

【０１３６】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０１３７】以下本発明の第１０の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２０は本発明の第１０の実
施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３に記録され
ている信号の説明図である。

【０１３８】図２０において第１トラック１７５には１
１Ｔ信号２０１が記録されている。第２トラック１７６
にはランダム信号２０２が記録されている。第３トラッ
ク１７７には１１Ｔ信号２０３が記録されている。

【０１３９】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１４０】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０１４１】図２０におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０１４２】また１１Ｔ信号２０１、２０３は１１Ｔ信
号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対
応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の
連続パターンである。

【０１４３】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレス
やＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分
が多く含まれていれば良い。

【０１４４】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク１７３に記録されている信号の違い以外は第８の実施
例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第８の
実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有
した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック１７３
の第２トラック１７６を再生しながら、ラジアルチルト
位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置
を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置で
のジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学
習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４
２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジ
アルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域に
おける最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０１４５】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
１７３の第１トラック１７５の１１Ｔ信号２０１、第３
トラック１７７の１１Ｔ信号２０３は、最長ピットなら
びに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信
号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック１７
６を再生するときの第１トラック１７５、第３トラック
１７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大
きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、
より精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可
能となる。

【０１４６】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラックのように、第２トラック１７６のトラック幅を狭
くすると、第２トラック１７６を再生するときの第１ト
ラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込
みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジ
ッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアル
チルト位置を求めることが可能となる。

【０１４７】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０１４８】以下本発明の第１１の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２１は本発明の第１１の実
施例の光ディスク媒体の学習トラック１７３に記録され
ている信号の説明図である。

【０１４９】図２１において第１トラック１７５には１
１Ｔ信号２１１が記録されている。第２トラック１７６
にはワーストパターン信号２１２が記録されている。第
３トラック１７７には１１Ｔ信号２１３が記録されてい
る。

【０１５０】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１５１】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０１５２】ワーストパターン信号２１２は例えば、図
３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信
号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹
部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応
する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３
Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長
さの凸部の連続パターンである。

【０１５３】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号
にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワー
ストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。

【０１５４】また１１Ｔ信号２１１、２１３は１１Ｔ信
号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対
応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の
連続パターンである。

【０１５５】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレス
やＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分
が多く含まれていれば良い。

【０１５６】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク１７３に記録されている信号の違い以外は第８の実施
例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第８の
実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２を有
した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック１７３
の第２トラック１７６を再生しながら、ラジアルチルト
位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト位置
を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位置で
のジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位置学
習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手段４
２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適ラジ
アルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領域に
おける最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０１５７】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
１７３の第２トラック１７６のワーストパターン信号２
１２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピッ
ト間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間
干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例え
ばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラ
ジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０１５８】加えて、本実施例の光ディスク媒体の学習
トラック１７３の第１トラック１７５の１１Ｔ信号２１
１、第３トラック１７７の１１Ｔ信号２１３は、最長ピ
ットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ラ
ンダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラ
ック１７６を再生するときの第１トラック１７５、第３
トラック１７７からの信号の漏れ込みであるクロストー
ク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくな
るので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求める
ことが可能となる。

【０１５９】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラックのように、第２トラック１７６のトラック幅を狭
くすると、第２トラック１７６を再生するときの第１ト
ラック１７５、第３トラック１７７からの信号の漏れ込
みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジ
ッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアル
チルト位置を求めることが可能となる。

【０１６０】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０１６１】以下本発明の第１２の実施例について図面
を参照しながら説明する。図１は本発明の第１２の実施
例における光ディスク媒体の構成を示すものであり、１
は光ディスク媒体、２はデータ領域、３は内周部の学習
領域、４は外周部の学習領域である。

【０１６２】図２２に本実施例における光ディスク媒体
の学習領域の構成を示す。図２２において２２１はトラ
ック、２２２はピット、２２３は学習トラックである。
本実施例では学習領域は３本のトラックから構成され
る。

【０１６３】なお、再生専用ディスク等でピットが並ん
でいるのみでディスク半径方向の隣合うピットとの間を
分ける溝等が存在しないときでも説明の便宜上、連続し
て再生する１周のピット列をトラックと呼び、仮想の境
界２２４を設ける。さらに隣合う２本の仮想の境界の距
離をトラック幅と呼ぶことにする。

【０１６４】なお、書換え型のＲＡＭディスク等のラン
ド部とグルーブ部が存在するディスクでは図３３に一例
を示すように例えばグルーブ部のみに記録する場合には
境界２２４はランド部として考え、ランド部のみに記録
する場合には境界２２４はグルーブ部として考える。ま
たランド部・グルーブ部の両方に記録する場合には隣合
う２本の境界２２４にはさまれた領域がランド部ないし
はグルーブ部に対応する。

【０１６５】図２２において第２トラック２２６のトラ
ック幅はデータ領域２のトラック幅に等しく、第１トラ
ック２２５と第３トラック２２７のトラック幅は第２ト
ラック２２６のトラック幅よりも狭い。

【０１６６】図２３に学習トラック２２３に記録されて
いる信号を示す。図２３において第１トラック２２５に
はランダム信号２３１が記録されている。第２トラック
２２６にはランダム信号２３２が記録されている。第３
トラック２２７にはランダム信号２３３が記録されてい
る。

【０１６７】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１６８】図２３におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０１６９】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２２３の構成の違い以外は第１の実施例の光ディスク
媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明し
たラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク
装置に装着すれば、学習トラック２２３の第２トラック
２２６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４
３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジ
ッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を
測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保
持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学
習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置
を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジ
アルチルト位置を決定する。

【０１７０】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
のように、第１トラック２２５、第３トラック２２７の
トラック幅を狭くすると、第２トラック２２６を再生す
るときの第１トラック２２５、第３トラック２２７から
の信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きくなる。
それに従ってジッター量も大きくなるので、更に精度よ
く最適ラジアルチルト位置を求めることが可能となる。

【０１７１】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０１７２】以下本発明の第１３の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２４は本発明の第１３の実
施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３に記録され
ている信号の説明図である。

【０１７３】図２４において第１トラック２２５にはラ
ンダム信号２４１が記録されている。第２トラック２２
６にはワーストパターン信号２４２が記録されている。
第３トラック２２７にはランダム信号２４３が記録され
ている。

【０１７４】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１７５】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０１７６】図２４におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０１７７】またワーストパターン信号２４２は例え
ば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在
する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さ
の凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に
対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸
部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応
する長さの凸部の連続パターンである。

【０１７８】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号
にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワー
ストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。

【０１７９】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２２３に記録されている信号の違い以外は第１２の実
施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１
２の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２
を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２
２３の第２トラック２２６を再生しながら、ラジアルチ
ルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト
位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位
置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位
置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手
段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適
ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領
域における最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０１８０】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２２３の第２トラック２２６のワーストパターン信号２
４２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピッ
ト間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間
干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例え
ばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラ
ジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０１８１】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラック２２３のように、第１トラック２２５、第３トラ
ック２２７のトラック幅を狭くすると、第２トラック２
２６を再生するときの第１トラック２２５、第３トラッ
ク２２７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が
大きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるの
で、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求めること
が可能となる。

【０１８２】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０１８３】以下本発明の第１４の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２５は本発明の第１４の実
施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３に記録され
ている信号の説明図である。

【０１８４】図２５において第１トラック２２５には１
１Ｔ信号２５１が記録されている。第２トラック２２６
にはランダム信号２５２が記録されている。第３トラッ
ク２２７には１１Ｔ信号２５３が記録されている。

【０１８５】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１８６】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０１８７】図２５におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０１８８】また１１Ｔ信号２５１、２５３は１１Ｔ信
号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対
応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の
連続パターンである。

【０１８９】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレス
やＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分
が多く含まれていれば良い。

【０１９０】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２２３に記録されている信号の違い以外は第１２の実
施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１
２の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２
を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２
２３の第２トラック２２６を再生しながら、ラジアルチ
ルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト
位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位
置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位
置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手
段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適
ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領
域における最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０１９１】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２２３の第１トラック２２５の１１Ｔ信号２５１、第３
トラック２２７の１１Ｔ信号２５３は、最長ピットなら
びに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信
号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック２２
６を再生するときの第１トラック２２５、第３トラック
２２７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大
きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、
より精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可
能となる。

【０１９２】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラックのように、第１トラック２２５、第３トラック２
２７のトラック幅を狭くすると、第２トラック２２６を
再生するときの第１トラック２２５、第３トラック２２
７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きく
なる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０１９３】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０１９４】以下本発明の第１５の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２６は本発明の第１５の実
施例の光ディスク媒体の学習トラック２２３に記録され
ている信号の説明図である。

【０１９５】図２６において第１トラック２２５には１
１Ｔ信号２６１が記録されている。第２トラック２２６
にはワーストパターン信号２６２が記録されている。第
３トラック２２７には１１Ｔ信号２６３が記録されてい
る。

【０１９６】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０１９７】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０１９８】ワーストパターン信号２６２は例えば、図
３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信
号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹
部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応
する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３
Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長
さの凸部の連続パターンである。

【０１９９】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号
にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワー
ストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。

【０２００】また１１Ｔ信号２６１、２６３は１１Ｔ信
号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対
応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の
連続パターンである。

【０２０１】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレス
やＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分
が多く含まれていれば良い。

【０２０２】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２２３に記録されている信号の違い以外は第１２の実
施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１
２の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２
を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２
２３の第２トラック２２６を再生しながら、ラジアルチ
ルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト
位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位
置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位
置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手
段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適
ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領
域における最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０２０３】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２２３の第２トラック２２６のワーストパターン信号２
６２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピッ
ト間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間
干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例え
ばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラ
ジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０２０４】加えて、本実施例の光ディスク媒体の学習
トラック２２３の第１トラック２２５の１１Ｔ信号２６
１、第３トラック２２７の１１Ｔ信号２６３は、最長ピ
ットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ラ
ンダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラ
ック２２６を再生するときの第１トラック２２５、第３
トラック２２７からの信号の漏れ込みであるクロストー
ク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくな
るので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求める
ことが可能となる。

【０２０５】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラックのように、第１トラック２２５、第３トラック２
２７のトラック幅を狭くすると、第２トラック２２６を
再生するときの第１トラック２２５、第３トラック２２
７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大きく
なる。それに従ってジッター量も大きくなるので、更に
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０２０６】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０２０７】以下本発明の第１６の実施例について図面
を参照しながら説明する。図１は本発明の第１６の実施
例における光ディスク媒体の構成を示すものであり、１
は光ディスク媒体、２はデータ領域、３は内周部の学習
領域、４は外周部の学習領域である。

【０２０８】図２７に本実施例における光ディスク媒体
の学習領域の構成を示す。図２７において２７１はトラ
ック、２７２はピット、２７３は学習トラックである。
本実施例では学習領域は３本のトラックから構成され
る。

【０２０９】なお、再生専用ディスク等でピットが並ん
でいるのみでディスク半径方向の隣合うピットとの間を
分ける溝等が存在しないときでも説明の便宜上、連続し
て再生する１周のピット列をトラックと呼び、仮想の境
界２７４を設ける。さらに隣合う２本の仮想の境界の距
離をトラック幅と呼ぶことにする。

【０２１０】なお、書換え型のＲＡＭディスク等のラン
ド部とグルーブ部が存在するディスクでは図３３に一例
を示すように例えばグルーブ部のみに記録する場合には
境界２７４はランド部として考え、ランド部のみに記録
する場合には境界２７４はグルーブ部として考える。ま
たランド部・グルーブ部の両方に記録する場合には隣合
う２本の境界２７４にはさまれた領域がランド部ないし
はグルーブ部に対応する。

【０２１１】図２７において学習トラック２７３の３本
のトラックのトラック幅は全てデータ領域２のトラック
幅よりも狭い。

【０２１２】図２８に学習トラック２７３に記録されて
いる信号を示す。図２８において第１トラック２７５に
はランダム信号２８１が記録されている。第２トラック
２７６にはランダム信号２８２が記録されている。第３
トラック２７７にはランダム信号２８３が記録されてい
る。

【０２１３】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０２１４】図２８におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０２１５】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２７３の構成の違い以外は第１の実施例の光ディスク
媒体と同様の構成であり、例えば第１の実施例で説明し
たラジアルチルト位置学習手段４２を有した光ディスク
装置に装着すれば、学習トラック２７３の第２トラック
２７６を再生しながら、ラジアルチルト位置可変手段４
３により一定量づつラジアルチルト位置を変化させ、ジ
ッター量測定手段４１によりその位置でのジッター量を
測定し、その値をラジアルチルト位置学習手段４２に保
持する。ラジアルチルト位置学習手段４２が内外周の学
習トラックにおけるそれぞれの最適ラジアルチルト位置
を判定すると、測定を終了して各領域における最適ラジ
アルチルト位置を決定する。

【０２１６】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２７３のように、学習トラックのトラック幅を狭くする
と、第２トラック２７６を再生するときの第１トラック
２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込みであ
るクロストーク量が大きくなる。それに従ってジッター
量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアルチルト
位置を求めることが可能となる。

【０２１７】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０２１８】以下本発明の第１７の実施例について図面
を参照しながら説明する。図２９は本発明の第１７の実
施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３に記録され
ている信号の説明図である。

【０２１９】図２９において第１トラック２７５にはラ
ンダム信号２９１が記録されている。第２トラック２７
６にはワーストパターン信号２９２が記録されている。
第３トラック２７７にはランダム信号２９３が記録され
ている。

【０２２０】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０２２１】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０２２２】図２９におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０２２３】またワーストパターン信号２９２は例え
ば、図３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在
する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さ
の凹部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に
対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸
部、３Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応
する長さの凸部の連続パターンである。

【０２２４】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号
にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワー
ストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。

【０２２５】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２７３に記録されている信号の違い以外は第１６の実
施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１
６の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２
を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２
７３の第２トラック２７６を再生しながら、ラジアルチ
ルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト
位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位
置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位
置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手
段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適
ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領
域における最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０２２６】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２７３の第２トラック２７６のワーストパターン信号２
９２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピッ
ト間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間
干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例え
ばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラ
ジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０２２７】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラック２７３のように、学習トラックのトラック幅を狭
くすると、第２トラック２７６を再生するときの第１ト
ラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込
みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジ
ッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアル
チルト位置を求めることが可能となる。

【０２２８】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０２２９】以下本発明の第１８の実施例について図面
を参照しながら説明する。図３０は本発明の第１８の実
施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３に記録され
ている信号の説明図である。

【０２３０】図３０において第１トラック２７５には１
１Ｔ信号３０１が記録されている。第２トラック２７６
にはランダム信号３０２が記録されている。第３トラッ
ク２７７には１１Ｔ信号３０３が記録されている。

【０２３１】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０２３２】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０２３３】図３０におけるランダム信号はＥＦＭ変調
の３Ｔ信号から１１Ｔ信号までが分配されている信号で
ある。これを光ディスク媒体上のピットで言えば、３Ｔ
信号に対応する長さの凹部から１１Ｔ信号に対応する長
さの凹部（９種類）、および３Ｔ信号に対応する長さの
凸部から１１Ｔ信号に対応する長さの凸部（９種類）が
組合わさった状態である。

【０２３４】また１１Ｔ信号３０１、３０３は１１Ｔ信
号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対
応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の
連続パターンである。

【０２３５】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレス
やＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分
が多く含まれていれば良い。

【０２３６】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２７３に記録されている信号の違い以外は第１６の実
施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１
６の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２
を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２
７３の第２トラック２７６を再生しながら、ラジアルチ
ルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト
位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位
置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位
置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手
段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適
ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領
域における最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０２３７】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２７３の第１トラック２７５の１１Ｔ信号３０１、第３
トラック２７７の１１Ｔ信号３０３は、最長ピットなら
びに最長ピット間隔を多く有しているので、ランダム信
号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラック２７
６を再生するときの第１トラック２７５、第３トラック
２７７からの信号の漏れ込みであるクロストーク量が大
きくなる。それに従ってジッター量も大きくなるので、
より精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可
能となる。

【０２３８】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラック２７３のように、学習トラックのトラック幅を狭
くすると、第２トラック２７６を再生するときの第１ト
ラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込
みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジ
ッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアル
チルト位置を求めることが可能となる。

【０２３９】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０２４０】以下本発明の第１９の実施例について図面
を参照しながら説明する。図３１は本発明の第１９の実
施例の光ディスク媒体の学習トラック２７３に記録され
ている信号の説明図である。

【０２４１】図３１において第１トラック２７５には１
１Ｔ信号３１１が記録されている。第２トラック２７６
にはワーストパターン信号３１２が記録されている。第
３トラック２７７には１１Ｔ信号３１３が記録されてい
る。

【０２４２】なお、書換え型のＲＡＭディスクでは出荷
時等に記録しておくものとする。なお本実施例ではデー
タ領域に記録されている信号はディジタルデータをＥＦ
Ｍ変調した信号とするが、本発明の効果は他の変調方式
を用いた場合にも同様である。

【０２４３】その際、ＥＦＭ変調における３Ｔ信号は、
例えば１ー７変調では２Ｔ信号に対応させ、ＥＦＭ変調
における１１Ｔ信号は１ー７変調では８Ｔ信号に対応さ
せる。即ち本実施例における３Ｔ信号を、他の変調方式
における最小反転間隔に対応させ、１１Ｔ信号を他の変
調方式における最大反転間隔に対応させれば良い。

【０２４４】ワーストパターン信号３１２は例えば、図
３２に示すような３Ｔ信号と１１Ｔ信号のみ存在する信
号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対応する長さの凹
部、３Ｔ信号に対応する長さの凸部、１１Ｔ信号に対応
する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長さの凸部、３
Ｔ信号に対応する長さの凹部、１１Ｔ信号に対応する長
さの凸部の連続パターンである。

【０２４５】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３５のようにセクター内でワーストパターン信号
にアドレスやＥＣＣ等が付加されている場合でも、ワー
ストパターン信号成分が多く含まれていれば良い。

【０２４６】また１１Ｔ信号３１１、３１３は１１Ｔ信
号のみ存在する信号、ピットで言えば、１１Ｔ信号に対
応する長さの凹部と１１Ｔ信号に対応する長さの凸部の
連続パターンである。

【０２４７】なお、アドレスを有したディスク媒体等
で、図３６のようにセクター内で１１Ｔ信号にアドレス
やＥＣＣ等が付加されている場合でも、１１Ｔ信号成分
が多く含まれていれば良い。

【０２４８】本実施例の光ディスク媒体は、学習トラッ
ク２７３に記録されている信号の違い以外は第１６の実
施例の光ディスク媒体と同様の構成であり、例えば第１
６の実施例で説明したラジアルチルト位置学習手段４２
を有した光ディスク装置に装着すれば、学習トラック２
７３の第２トラック２７６を再生しながら、ラジアルチ
ルト位置可変手段４３により一定量づつラジアルチルト
位置を変化させ、ジッター量測定手段４１によりその位
置でのジッター量を測定し、その値をラジアルチルト位
置学習手段４２に保持する。ラジアルチルト位置学習手
段４２が内外周の学習トラックにおけるそれぞれの最適
ラジアルチルト位置を判定すると、測定を終了して各領
域における最適ラジアルチルト位置を決定する。

【０２４９】本実施例の光ディスク媒体の学習トラック
２７３の第２トラック２７６のワーストパターン信号３
１２は、孤立した最短ピットならびに孤立した最短ピッ
ト間隔を多く有しているのでランダム信号よりも符号間
干渉がおこり易く、ジッター量が大きくなるので、例え
ばジッター量測定手段４１の回路ノイズが大きくてもラ
ジアルチルトによるジッターが埋もれにくいことでより
精度よく最適ラジアルチルト位置を求めることが可能と
なる。

【０２５０】加えて、本実施例の光ディスク媒体の学習
トラック２７３の第１トラック２７５の１１Ｔ信号３１
１、第３トラック２７７の１１Ｔ信号３１３は、最長ピ
ットならびに最長ピット間隔を多く有しているので、ラ
ンダム信号よりも再生信号振幅が大きくなり、第２トラ
ック２７６を再生するときの第１トラック２７５、第３
トラック２７７からの信号の漏れ込みであるクロストー
ク量が大きくなる。それに従ってジッター量も大きくな
るので、更に精度よく最適ラジアルチルト位置を求める
ことが可能となる。

【０２５１】また、本実施例の光ディスク媒体の学習ト
ラック２７３のように、学習トラックのトラック幅を狭
くすると、第２トラック２７６を再生するときの第１ト
ラック２７５、第３トラック２７７からの信号の漏れ込
みであるクロストーク量が大きくなる。それに従ってジ
ッター量も大きくなるので、更に精度よく最適ラジアル
チルト位置を求めることが可能となる。

【０２５２】また、本実施例のようにトラック幅を狭く
すると学習トラックが節約できてデータ領域を増やすこ
とが可能となる。

【０２５３】

【発明の効果】以上のように本発明は既定のデータが記
録された学習領域を設け、これを再生して光学ヘッドの
ラジアルチルト位置、タンジェンシャルチルト位置、フ
ォーカス位置、オフトラック位置を最適化することによ
り高信頼にデータの再生を行うものであり、光ディスク
媒体、光ディスク装置および両者の組み合わせによって
生じるディスクの再生特性の変化を補償する自動調整機
能を実現する優れた光ディスク媒体ならびに光ディスク
装置を提供するものである。

【０２５４】また、学習領域を内周部と外周部の各々に
設定することにより、全周に渡った補償が可能になる。

【０２５５】さらに、学習領域の一部または全部のトラ
ック幅をデータ領域のトラック幅より狭くすることによ
り、再生トラックの両隣のトラックからの信号の漏れ込
みであるクロストーク量を大きくすることで調整の精度
を更に向上することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例における光ディスク媒体
の構成図

【図２】同実施例における光ディスク媒体の学習トラッ
クの構成図

【図３】同実施例における学習トラックに記録されてい
る信号の説明図

【図４】同実施例における光ディスク装置のブロック図

【図５】同実施例におけるジッター量測定手段ならびに
ＰＬＬのブロック図

【図６】同実施例におけるラジアルチルト位置可変手段
の構成図

【図７】本発明の第２の実施例における光ディスク装置
のブロック図

【図８】同実施例におけるタンジェンシャルチルト位置
可変手段の構成図

【図９】本発明の第３の実施例における光ディスク装置
のブロック図

【図１０】本発明の第４の実施例における光ディスク装
置のブロック図

【図１１】従来の光ディスク媒体の構成図

【図１２】従来の光ディスク装置のブロック図

【図１３】従来のＰＬＬのブロック図

【図１４】本発明の第５の実施例における学習トラック
に記録されている信号の説明図

【図１５】本発明の第６の実施例における学習トラック
に記録されている信号の説明図

【図１６】本発明の第７の実施例における学習トラック
に記録されている信号の説明図

【図１７】本発明の第８の実施例における光ディスク媒
体の学習トラックの構成図

【図１８】同実施例における学習トラックに記録されて
いる信号の説明図

【図１９】本発明の第９の実施例における学習トラック
に記録されている信号の説明図

【図２０】本発明の第１０の実施例における学習トラッ
クに記録されている信号の説明図

【図２１】本発明の第１１の実施例における学習トラッ
クに記録されている信号の説明図

【図２２】本発明の第１２の実施例における光ディスク
媒体の学習トラックの構成図

【図２３】同実施例における学習トラックに記録されて
いる信号の説明図

【図２４】本発明の第１３の実施例における学習トラッ
クに記録されている信号の説明図

【図２５】本発明の第１４の実施例における学習トラッ
クに記録されている信号の説明図

【図２６】本発明の第１５の実施例における学習トラッ
クに記録されている信号の説明図

【図２７】本発明の第１６の実施例における光ディスク
媒体の学習トラックの構成図

【図２８】同実施例における学習トラックに記録されて
いる信号の説明図

【図２９】本発明の第１７の実施例における学習トラッ
クに記録されている信号の説明図

【図３０】本発明の第１８の実施例における学習トラッ
クに記録されている信号の説明図

【図３１】本発明の第１９の実施例における学習トラッ
クに記録されている信号の説明図

【図３２】本発明の第５の実施例におけるワーストパタ
ーン信号の説明図

【図３３】書換え型の光ディスク媒体断面の模式図

【図３４】本発明の第１の実施例における学習のフロー
チャート

【図３５】セクタの構成図

【図３６】セクタの構成図

【符号の説明】 １ 光ディスク媒体 ２ データ領域 ３ 学習領域 ４ 学習領域 ２３ 学習トラック ３２ 第１トラック ３３ 第２トラック ３４ 第３トラック ４１ ジッター量測定手段 ４２ ラジアルチルト位置学習手段 ４３ ラジアルチルト位置可変手段 ５１ ハイパスフィルター ５２ Ａ／Ｄ変換器 ７１ タンジェンシャルチルト位置学習手段 ７２ タンジェンシャルチルト位置可変手段 ９１ フォーカス位置学習手段 ９２ フォーカス位置可変手段 ９３ フォーカスサーボ回路 １０１ オフトラック位置学習手段 １０２ オフトラック位置可変手段 １０３ トラッキングサーボ回路 １２３ 半導体レーザＬＤ １２４ ピンフォトダイオードＰＤ １２９ ＰＬＬ １３１ 位相比較器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 島田 敏幸 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 大原 俊次 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D029 PA08 5D090 AA01 BB04 CC14 CC18 DD03 EE01 EE11 GG38 HH01 JJ01 5D118 AA14 AA16 BA01 BB05 BC01 CD04

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】第１領域と第２領域を備えた光ディスク媒
   体であって、 前記第１領域は情報を記録するデータ領域であり、 前記第２領域は前記第１領域とは異なる領域であって、 孤立した最短ピットと、孤立した最短ピット間隔を含む
   信号とアドレス情報とを含むトラックを備えた領域であ
   る光ディスク媒体。