JP2002157776A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高価な調整機器やカメラなどを用いずに精度
のよいサブビームの位置調整が行い、光ディスク装置の
製造コストを低減する。 【解決手段】 メインビームＭとサブビームＳ１，Ｓ２
をそれぞれ受光素子４２〜４４で検出し、メインビーム
Ｍに基づく信号とサブビームＳ１，Ｓ２に基づく信号と
の時間的位相差を位相差検出回路６１で検出する。これ
によりメインビームＭに対するサブビームＳ１，Ｓ２の
位置ずれの有無と大きさを判断し、フォーカス制御信号
検出回路３７で作成するフォーカス制御信号に反映さ
せ、アクチュエータ３９の駆動による対物レンズ３４の
フォーカシングにより、メインビームＭに対するサブビ
ームＳ１，Ｓ２の位置ずれを補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、メインビームと
サブビームを用いてトラッキングを行う光ディスク装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】情報の記録が可能な光ディスクには、ビ
ームのトラッキング制御のために案内溝であるトラック
（グルーブ（Groove）とランド（Land）とからなる）が
同心円状又はスパイラル状に設けられている。そして、
このトラックからの回折光強度変化を検出することによ
り、ビームを光ディスクの半径方向の目標位置（例えば
グルーブ中央位置）に位置させるような制御を行ってい
る。

【０００３】このようなトラッキング技術としては、１
本のビームを用いてビームを目標位置に位置させるプッ
シュプル法が知られている。このプッシュプル法には２
分割した受光素子の各分割部分からの出力の差信号を位
置信号として用いる方式がある。しかし、この方式は光
ピックアップの対物レンズ中心と光軸中心とのずれや、
チルトなどの影響により信号にオフセットが発生し、正
確な位置が特定できない不具合がある。

【０００４】そのため、一般的には３つのビームを光デ
ィスクに照射してビームを光ディスクの半径方向の目標
位置に位置させる制御を行うディファレンシャルプッシ
ュプル（ＤＰＰ）トラッキング法が用いられている。こ
の方式は、１つのビーム（メインビーム）は前記のプッ
シュプル法と同様に使用し、残る２つのビーム（サブビ
ーム）を用いて前記したオフセット成分の除去を行う方
式である。

【０００５】ただし、そのメインビームとサブビームと
は、トラックに対して所定の位置関係にあることが必要
である。そして、近年の高密度化によってトラックピッ
チが狭まり、メインビームとサブビームの位置調整は非
常に高い精度が要求されるようになってきている。

【０００６】そこで、特開平11-73666号公報には、３つ
のビームスポットの位置をカメラでモニタし、メインビ
ームの位置とサブビームの位置の偏差を測定して、あら
かじめ算出された目標の位置関係になるように調整を行
う技術が提案されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
11-73666号公報に開示の技術では、受光素子が未調整の
時点でもビームの照射位置を調整することが可能である
という利点はあるものの、ビームの位置調整のためだけ
にわざわざカメラを用意して光スポットの測定を行う必
要があるという不具合がある。

【０００８】また、光ディスクからの反射光を受光する
受光素子の調整は別途行う必要があって煩雑であるとい
う不具合がある。

【０００９】さらに、画像処理装置という比較的高価な
装置を必要とし、製造設備費も比較的高額なものとなっ
て、製造コストを吊り上げてしまうという不具合があ
る。

【００１０】この発明の目的は、高価な調整機器やカメ
ラなどを用いずに精度のよいサブビームの位置調整が行
い、光ディスク装置の製造コストを低減することであ
る。

【００１１】この発明の目的は、サブビームの位置調整
を比較する信号の時間的位相差で行なって精度のよい調
整を行なうことである。

【００１２】この発明の目的は、特別なセンサなどを不
要とし、従来から光ディスクの再生装置で使用している
信号により精度のよい調整を行なうことである。

【００１３】この発明の目的は、サブビームの照射位置
を調整するために、サブビームの照射位置を移動する方
向を容易に判断することである。

【００１４】この発明の目的は、簡易な構成でサブビー
ムの照射位置を調整することである。

【００１５】この発明の目的は、グルーブとランドの幅
が等しくない光ディスクでもサブビームの照射位置を調
整できるようにすることである。

【００１６】この発明の目的は、信号感度を高めて精度
のよいサブビームの調整を行なうことである。

【００１７】この発明の目的は、簡易な手段によりサブ
ビームの照射位置を移動する移動量を知ることである。

【００１８】この発明の目的は、トラック面と光学系と
の距離、光ディスクの平面度、安定性などの許容値を大
幅に緩くできるようにするとともに、受光素子の位置調
整工程と同じ工程環境で同時にサブビーム位置の調整を
行うことである。

【００１９】この発明の目的は、受光素子の位置調整工
程と同じ工程環境で同時にかつ簡単にサブビーム位置の
調整を行うことである。

【００２０】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、情報の記録又は再生を行うメインビーム及びこのメ
インビームのトラッキングに用いるサブビームを光ディ
スクに照射する光学系と、前記メインビームの反射光を
受光する第１の受光素子と、前記サブビームの反射光を
受光する第２の受光素子と、前記メインビームの照射位
置を操作する第１の操作装置と、前記第１の受光素子の
出力及び前記第２の受光素子の出力に基づいて前記第１
の操作装置を制御して前記トラッキングを行うトラッキ
ング手段と、光ディスクへの前記メインビームの照射位
置に対する前記サブビームの照射位置を操作する第２の
操作装置と、前記第１の受光素子の出力に基づく信号と
前記第２の受光素子の出力に基づく信号との比較に基づ
いて前記第２の操作装置を制御し前記サブビームの照射
位置を一定に維持するサブビーム照射位置調節手段と、
を備えている光ディスク装置である。

【００２１】したがって、高価な調整機器やカメラなど
を用いずに精度のよいサブビームの位置調整が行え、光
ディスク装置の製造コストを低減することができる。

【００２２】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の光ディスク装置において、前記サブビーム照射位置調
節手段は、前記両信号の比較として当該両信号の時間的
位相差を判断するものである。

【００２３】したがって、サブビームの位置調整を比較
する信号の時間的位相差で行えるので、精度のよい調整
が行える。

【００２４】請求項３に記載の発明は、請求項２に記載
の光ディスク装置において、前記第１の受光素子は、前
記メインビームを複数に分割して受光した複数の信号を
出力して、前記第２の受光素子は、前記サブビームを複
数に分割して受光した複数の信号を出力するものであ
る。

【００２５】したがって、特別なセンサなどは不要であ
り、従来から光ディスクの再生装置で使用している信号
により精度のよい調整が行える。

【００２６】請求項４に記載の発明は、請求項３に記載
の光ディスク装置において、前記サブビーム照射位置調
節手段は、前記第１の受光素子が出力する複数の信号の
和信号又は差信号と前記第２の受光素子が出力する複数
の信号の和信号又は差信号との時間的位相差に基づいて
前記第２の操作装置を制御するものである。

【００２７】したがって、特別なセンサなどは不要であ
り、従来から光ディスクの再生装置で使用している信号
により精度のよい調整が行える。

【００２８】請求項５に記載の発明は、請求項３又は４
に記載の光ディスク装置において、前記サブビーム照射
位置調節手段は、前記第１の受光素子が出力する複数の
信号又は前記第２の受光素子が出力する複数の信号の和
信号又は差信号に基づいて前記第２の操作装置を制御し
て前記サブビームの照射位置を移動する方向を判断する
ものである。

【００２９】したがって、サブビームの照射位置を調整
するために、サブビームの照射位置を移動する方向を容
易に判断することができる。

【００３０】請求項６に記載の発明は、請求項２〜４の
何れかの一に記載の光ディスク装置において、前記サブ
ビーム照射位置調節手段は、前記両信号の前エッジ又は
後エッジから前記時間的位相差を判断するものである。

【００３１】したがって、簡易な構成でサブビームの照
射位置を調整することができる。

【００３２】請求項７に記載の発明は、請求項２〜４の
何れかの一に記載の光ディスク装置において、前記サブ
ビーム照射位置調節手段は、前記両信号の両エッジから
前記時間的位相差を判断するものである。

【００３３】したがって、グルーブとランドの幅が等し
くない光ディスクでもサブビームの照射位置を調整する
ことができる。また、前エッジ又は後エッジだけで時間
的位相差を判断する場合に比べて信号感度が２倍にな
り、精度のよい調整が行える。

【００３４】請求項８に記載の発明は、請求項２〜７の
何れかの一に記載の光ディスク装置において、前記サブ
ビーム照射位置調節手段は、前記時間的位相差を示す信
号を平滑化して平滑化後の信号の振幅により前記サブビ
ームの照射位置を一定に維持するために前記第２の操作
装置を制御して前記サブビームの照射位置を移動する移
動量を判断するものである。

【００３５】したがって、簡易な手段によりサブビーム
の照射位置を移動する移動量を知ることができる。

【００３６】請求項９に記載の発明は、請求項１〜８の
何れかの一に記載の光ディスク装置において、前記光学
系は、光源と、この光源から照射される単一の光を前記
メインビームとサブビームとに分割する回折格子と、こ
の分割後の前記メインビーム及びサブビームを前記光デ
ィスク上に結像するレンズとを備えていて、前記第２の
操作装置は、前記レンズを駆動してフォーカシングを行
うアクチュエータである。

【００３７】したがって、フォーカシングを行いながら
サブビームの位置を調整するので、トラック面と光学系
との距離、光ディスクの平面度、安定性などの許容値を
大幅に緩くできるとともに、受光素子の位置調整工程と
同じ工程環境で同時にサブビーム位置の調整を行うこと
ができる。

【００３８】請求項１０に記載の発明は、請求項１〜８
の何れかの一に記載の光ディスク装置において、前記光
学系は、光源と、この光源から照射される単一の光を前
記メインビームとサブビームとに分割する回折格子と、
この分割後の前記メインビーム及びサブビームを前記光
ディスク上に結像するレンズとを備えていて、前記第２
の操作装置は、前記回折格子を駆動して前記サブビーム
の照射位置の操作を行うものである。

【００３９】したがって、回折格子を駆動してサブビー
ムの位置調整を行えるので、受光素子の位置調整工程と
同じ工程環境で同時にかつ簡単にサブビーム位置の調整
を行うことができる。

【００４０】

【発明の実施の形態】［発明の実施の形態１］この発明
の一実施の形態について発明の実施の形態１として説明
する。

【００４１】図１は、この発明の実施の形態１である光
ディスク装置の構成を、その制御系を主体として示す概
略ブロック図である。即ち、この発明の実施の形態であ
る光ディスク装置は光ディスク１の記録又は再生を行う
もので、そのドライブ２は光ディスク１を回転駆動させ
るスピンドルモータ３を備えている。スピンドルモータ
３はスピンドルドライバ４によりその回転駆動が制御さ
れる。一方、スピンドルモータ３によって回転駆動され
る光ディスク１に対向する位置には光ピックアップ５が
ピックアップモータ６によりディスク半径方向にシーク
移動自在に設けられている。

【００４２】この光ピックアップ５は、記録／再生のた
めのレーザ光を出射する半導体レーザ２１、そのレーザ
光を光ディスク１に対して集光照射させる対物レンズ３
４、光ディスク１からの反射光を受光し情報信号、トラ
ッキング／フォーカシング信号等を出力する受光素子４
１等を備えている（図２参照）。光ピックアップ５の受
光素子４１により検出された信号はアナログ信号処理部
７に取り込まれ、サーボ制御系８に対するサーボ信号と
デジタル信号処理部９に対する情報信号（ＲＦ信号）と
に分離される。

【００４３】また、デジタル信号処理部９はバッファメ
モリ１０へ記録するデータを確保し、誤り訂正符合追加
やエンコード処理を行い、ピットデータとしてアナログ
信号処理部７へ送る。また、アナログ信号処理部７はそ
のデータをＬＤドライバ１１に送り、光ピックアップ５
内の半導体レーザ２１に対する駆動電流を制御する。

【００４４】このようなドライブ２に対して、ドライブ
インタフェース１２を介してＣＰＵ構成のコントローラ
１３、ＲＯＭ１４及びＲＡＭ１５によるマイクロコンピ
ュータが接続されている。さらに、コントローラ１３に
対してはバスライン１６を介してホストバッファ１７が
接続されている。

【００４５】ここに、コントローラ１３はドライブイン
タフェース１２を通じて接続されたドライブ２内の各機
能動作を制御し装置全体の統括制御を行う。コントロー
ラ１３はＲＯＭ１４に格納されているプログラムをロー
ドすることでその動作が決定され、ＲＡＭ１５を動作す
るための記憶領域として利用する。

【００４６】ホストインタフェース１９はＰＣなどのホ
ストコンピュータ１８と接続され、記録データの受信や
制御命令の受け渡しを行う。ホストインタフェース１９
を介して受信された記録データはホストバッファ１７に
一時的に保存される。ドライブ２内のバッファメモリ１
０に空きができればデータはデジタル信号処理部９によ
りホストバッファ１７からドライブインタフェース１２
を通してバッファメモリ１０へ転送され処理される。こ
こで、バッファメモリ１０又はＲＡＭ１５がホストバッ
ファ１７を兼ねる構成であってもよい。

【００４７】図２は、光ピックアップ５の光学系及び光
ピックアップ５から照射されるビームの位置を制御する
制御系のブロック図である。図２に示すように、光源で
ある半導体レーザ（ＬＤ）２１はＬＤドライバ１１によ
り出射光量を制御されてレーザ光を出射する。カップリ
ングレンズ３２は、このレーザ光を平行光にする。この
平行光はビームスプリッタ３３を通過し、対物レンズ３
４で光ディスク１のトラック面３５に結像される。トラ
ック面３５からの反射光はビームスプリッタ３３で反射
され、集光レンズ３６で受光素子４１に集光されて検出
される。

【００４８】また、ＤＰＰトラッキング法を行うため、
半導体レーザ２１から出射した光の一部は回折格子２２
で分けられ、メインビームＭ以外の２つのサブビームＳ
１，Ｓ２が生成される。受光素子４１は３つの受光素子
４２，４３，４４からなり、第１の受光素子である受光
素子４２はメインビームＭを、第２の受光素子である受
光素子４３はサブビームＳ１を、第２の受光素子である
受光素子４４はサブビームＳ２を、それぞれ受光する。

【００４９】トラック面３５とビームの焦点との距離を
示す信号であるフォーカス制御信号もアナログ信号処理
部７のフォーカス制御信号検出回路３７で生成し、サー
ボ制御系８のフォーカス制御回路３８から出力された駆
動電流でアクチュエータ３９を駆動して、ビーム焦点が
トラック面３５に位置するように制御する。フォーカス
制御信号検出回路３７は、後述する位相差検出回路６１
で生成した光スポット位置信号に基づいてフォーカス制
御信号を生成する。

【００５０】図３に示すように、メインビームＭはトラ
ック面３５上の一つのグルーブ４５上を走査する。サブ
ビームＳ１はメインビームＭが走査するグルーブ４５に
隣接する光ディスク１の例えば外周側のランド４６上を
走査する。サブビームＳ２はメインビームＭが走査する
グルーブ４５に隣接する光ディスク１の例えば内周側の
ランド４６上を走査する。

【００５１】メインビームＭ並びにサブビームＳ１，Ｓ
２の各光スポットの中心点を結んだ線４７と、トラック
方向（線４８の方向）との角度をθ、メインビームＭの
光スポットからサブビームＳ１，Ｓ２のそれぞれの光ス
ポットまでの距離をｄとすると、トラック面３５でトラ
ックに垂直な方向の距離ｄｖは、“ｄｖ＝ｄ＊sinθ”
となる。もちろんトラックに平行な方向の距離ｄｈも、
“ｄｈ＝ｄ＊cosθ”で変化するが、距離ｄはトラック
ピッチに比べ通常１桁以上大きいので、θはほぼ０に近
く、距離ｄｖの変化に比べｄｈの変化はほとんど無視で
きる。なお、トラック面３５上に照射されるビームＭ，
Ｓ１，Ｓ２が受光素子４２，４３，４４で分割されて受
光されるときの外周側半分の反射光をａ、内周側半分の
反射光をｂとして、図３中に示している。

【００５２】図４に示すように、各受光素子４２，４
３，４４は光学的にトラックと平行な分割線で分割され
ており、各ビームＭ，Ｓ１，Ｓ２は分割されて各受光素
子４２，４３，４４に入射する。受光素子４２の各分割
部分から出力される信号をＭａ，Ｍｂ、受光素子４３の
各分割部分から出力される信号をＳ１ａ，Ｓ１ｂ，受光
素子４４の各分割部分から出力される信号をＳ２ａ，Ｓ
２ｂとする。

【００５３】アナログ信号処理部７に設けられた演算回
路５１は、メインビームＭの反射光のうち外周側半分の
反射光ａの光量に応じた光検出信号Ｍａと、内周側半分
の反射光ｂの光量に応じた光検出信号Ｍｂとの差信号Ｍ
ｄを取る減算回路５２と、先行するサブビームＳ１の反
射光のうち外周側半分の反射光ａの光量に応じた光検出
信号Ｓ１ａと、内周側半分の反射光ｂの光量に応じた光
検出信号Ｓ１ｂとの差信号Ｓ１ｄを取る減算回路５３
と、後行するサブビームＳ２の反射光のうち外周側半分
の反射光ａの光量に応じた光検出信号Ｓ２ａと、内周側
半分の反射光ｂの光量に応じた光検出信号Ｓ２ｂとの差
信号Ｓ２ｄを取る減算回路５４と、差信号Ｓ１ｄと差信
号Ｓ２ｄとの和を差信号Ｍｄから差し引く減算回路５５
とを備えている。なお、信号Ｍｄから信号Ｓ１ｄ及びＳ
２ｄを減算する際、光量差を補正するために信号Ｓ１ｄ
とＳ２ｄを定数倍することもある。このようにして減算
回路５５からトラッキングエラー（ＴＥ）信号が取り出
され、光ディスク１の再生の際はメインビームＭを目標
トラック上に追従制御するために用いられる。このＴＥ
信号生成方式がＤＰＰトラッキング法と呼ばれ、光ディ
スク１への記録の際のトラッキング制御に使用される。
したがって、演算回路５１でトラッキング手段を実現
し、サーボ制御系８及びピックアップモータ６で第１の
操作装置を実現している。

【００５４】図５〜図８は、トラックによる回折光で信
号レベルが変化している各受光素子４２，４３，４４の
出力信号の波形と（図５，図７）、ビームとトラックの
位置関係（図６，図８）を示すものである。図５，図７
においては横軸がトラック横断方向の位置、縦軸は信号
レベルを示す。図６，図８はメインビームがグルーブ４
５の中心にあるときのピンポイント的なビームの位置関
係を示している。なお、図５，図７において、信号Ｍｓ
は信号ＭａとＭｂの和信号、信号Ｓ１ｓは信号Ｓ１ａと
Ｓ１ｂの和信号、信号Ｓ２ｓは信号Ｓ２ａとＳ２ｂの和
信号をそれぞれ示し、信号Ｍｄは信号ＭａとＭｂの差信
号、信号Ｓ１ｄは信号Ｓ１ａとＳ１ｂの差信号、信号Ｓ
２ｄは信号Ｓ２ａとＳ２ｂの差信号をそれぞれ示し、信
号Ｓ１ｄ＋Ｓ２ｄは信号Ｓ１ｄとＳ２ｄの和信号、信号
Ｓ１ａ＋Ｓ２ａは信号Ｓ１ａとＳ２ａの和信号をそれぞ
れ示している。なお、各信号の０点（ＧＮＤ）基準位置
の図示は省略してある。

【００５５】図５，図６は３つのビームＭ，Ｓ１，Ｓ２
が理想の位置（メインビームＭとサブビームＳ１，Ｓ２
のトラック方向距離が、トラックを基準とした相対的位
置関係で表したときトラックの幅の１／２）に配置され
ているときを示していて、図７，図８はサブビームＳ
１，Ｓ２がメインビームＭとのトラック方向距離が理想
の位置関係より若干離れて配置されている場合を示して
いる。

【００５６】図５の信号Ｍｓと信号Ｓ１ｓ，Ｓ２ｓとを
比較すると、トラックを横断するときに得られる信号の
位相は１８０度異なっているので反転しているように見
える。これはメインビームＭとサブビームＳ１，Ｓ２の
トラック方向距離がトラックの幅の１／２になっている
ためである。グルーブとランドの幅が等しいときは、互
いに反転すれば同じ信号といえる。一方、図７ではビー
ムＭ，Ｓ１，Ｓ２の位置関係が理想状態からずれている
ため、信号Ｍｓと信号Ｓ１ｓ，Ｓ２ｓとの位相差も１８
０度とは異なっている。このことは、各和信号Ｍｓ，Ｓ
１ｓ，Ｓ２ｓに限ったことではない。各差信号Ｍｄ，Ｓ
１ｄ，Ｓ２ｄでも同様のことがいえる。もちろん、信号
Ｍａ，Ｓ１ａ，Ｓ２ａについてもいえるし、信号Ｍｂ，
Ｓ１ｂ，Ｓ２ｂについてもいえる。

【００５７】メインビームＭとサブビームＳ１，Ｓ２の
位置関係が理想状態である場合は、メインビームＭに基
づく信号とサブビームＳ１，Ｓ２に基づく信号とは、信
号極性を反転すれば位相差はなくなる。もちろん反転せ
ずとも、位相比較のエッジ極性をメインビームＭとサブ
ビームＳ１，Ｓ２で変えれば同じことである。そしてビ
ームＭ，Ｓ１，Ｓ２の位置関係が理想状態からずれた場
合は、前記のように位相差が１８０度ではなくなるの
で、メインビームＭとサブビームＳ１，Ｓ２のずれの発
生を検出することができる。そこで、かかる点を利用し
て、ビームＭ，Ｓ１，Ｓ２の位置関係が理想状態となる
ように調整することができる。

【００５８】なお、図５，図７に示す２つのサブビーム
Ｓ１，Ｓ２の信号を加算した信号Ｓ１ａ＋Ｓ２ａや信号
Ｓ１ｄ＋Ｓ２ｄについては、ビームＭ，Ｓ１，Ｓ２の位
置関係が理想状態からずれた場合にも位相差は変わら
ず、信号振幅のみが変化することがわかる。この振幅変
化を用いてビームＭ，Ｓ１，Ｓ２の位置を理想状態に調
整を行うことも可能であるが、精度よく調整することが
困難である。そこで、この発明の実施の形態では、次の
ように調節している。

【００５９】図９は、位相差検出回路６１のブロック図
である。この位相差検出回路６１は、エッジ検出回路６
２と、位相比較器６３と、平滑回路６４とからなる。エ
ッジ検出回路６２は比較対象となる信号Ａと信号Ｂに対
し、特定の基準レベルを横切るタイミングを示すエッジ
信号を生成する。具体的には、エッジ検出回路６２は、
信号Ａの前エッジ検出用の前エッジ検出回路６２ａと、
信号Ｂの前エッジ検出用の前エッジ検出回路６２ｂとか
らなる。位相比較器６３はエッジ検出回路６２で検出し
た信号Ａの前エッジと信号Ｂの前エッジの位相差に応じ
た信号を出力する。この際に、出力信号は、位相が進ん
でいる場合と遅れた場合とでは信号極性を逆になるよう
にするのが望ましい。この信号からＬＰＦを用いた平滑
回路６４により低域成分のみ抜き出して、トラック面３
５上でのビームの理想的な位置からのずれを示す光スポ
ット位置信号とする。

【００６０】図１０は、信号Ａ，Ｂ並びに位相比較器６
３の出力信号（前エッジ位相差信号）のタイミングチャ
ートの例である。図１０において、信号Ａと信号Ｂは便
宜上デジタル信号で表している。この信号はエッジ検出
回路６２の出力と考えてもよい。（ａ）はメインビーム
ＭとサブビームＳ１，Ｓ２が理想的な位置状態にある場
合を示し、（ｂ）はメインビームＭとサブビームＳ１，
Ｓ２が理想的な位置状態からずれている場合を示す。図
１０に明らかなように、メインビームＭとサブビームＳ
１，Ｓ２が理想的な位置状態にある（ａ）の場合は、信
号ＡとＢの前エッジに位相差がないため、両信号の位相
差がある期間を示す前エッジ位相差信号は平坦なままで
あるが、メインビームＭとサブビームＳ１，Ｓ２が理想
的な位置状態からずれている（ｂ）の場合は、信号Ａと
Ｂの前エッジに位相差が生じている間、前エッジ位相差
信号が発生するので、信号ＡをメインビームＭに基づく
信号、信号ＢをサブビームＳ１又はＳ２に基づく信号と
すれば、メインビームＭとサブビームＳ１，Ｓ２とのず
れを検出することができる。また、前エッジ位相差信号
のパルス幅から位相差の大きさを検出することができ
る。

【００６１】このような位相差検出回路６１を用いた場
合、信号の周波数、ここではトラックを横切る速度が重
要な意味を持つ。図５の横軸は距離であって、時間では
ないので、信号の位相差を位相（度）で示す場合は、周
波数は問題にならないが、実際の回路では位相差（秒）
を電気信号（Ｖ）に変換するので、時間すなわち周波数
が重要になる。たとえば信号Ｍｓを信号Ａ、信号Ｓ１ｓ
又はＳ２ｓを信号Ｂとすると、位相差検出回路６１では
信号Ｍｓが基準レベルを横切ったタイミングから信号Ｓ
１ｓ又はＳ２ｓが基準レベルを横切るタイミングまでの
時間を測定し、その時間幅に応じた電圧を出力する構成
となる。このため、位置調整の際はビームとトラックと
の相対速度を一定に保つことが望ましい。そうすること
により、信号Ａ，Ｂの位相差すなわち平滑回路６４が出
力する光スポット位置信号のレベルとビームの位置のず
れ量とに比例関係が成り立ち、どの程度サブビームＳ
１，Ｓ２が理想位置からずれているかを光スポット位置
信号のレベルから算出することができる。もちろん、速
度が一定でない場合でも理想的なビーム位置関係になっ
た場合は位相差が０になることから、位置信号の電圧は
基準レベル（通常０）になるので、調整精度上は問題な
い。

【００６２】信号Ａ，Ｂとしては、その一方をメインビ
ームＭに基づく信号、他方をサブビームＳ１又はＳ２に
基づく信号とすればよい。具体的には、例えば、一方を
信号Ｍａ又はＭｂ、他方を信号Ｓ１ａ又はＳ２ｂとする
ことが考えられる。ただし、この例に限定されないこと
は、前記のとおりである。

【００６３】そして、平滑回路６４から出力されるトラ
ック面３５上でのビームの理想的な位置からのずれを示
す光スポット位置信号は、その絶対値の大きさによりビ
ームの理想的な位置からのずれ量を示すことになる。こ
の光スポット位置信号は、フォーカス制御信号検出回路
３７に入力され、フォーカス制御信号検出回路３７は、
周知の構成の検出系により出力されるビームの焦点位置
の距離を示す信号と、前記の光スポット位置信号とに基
づき、ビームの焦点位置が適正なものとなり、かつ、光
スポットＭ、Ｓ１，Ｓ２が理想的な位置となるようなサ
ーボ制御が行えるように、対物レンズ３４を駆動できる
フォーカス制御信号を生成して、フォーカス制御回路３
８に出力する。したがって、フォーカス制御回路３８、
アクチュエータ３９により第２の操作装置を実現し、位
相差検出信号６１及びフォーカス制御信号検出回路３７
でサブビーム照射位置調節手段を実現している。

【００６４】以上説明した光ディスク装置によれば、高
価な調整機器やカメラなどを用いずに精度のよいサブビ
ームＳ１及びＳ２の位置調整が行え、光ディスク装置の
製造コストを低減することができる。

【００６５】また、メインビームＭに基づく信号とサブ
ビームＳ１又はＳ２に基づく信号の振幅などではなく時
間的位相差によりサブビームの位置調整を行えるので、
精度のよいサブビームＳ１及びＳ２の調整が行える。

【００６６】さらに、調整に特別なセンサなどは不要で
あり、従来から光ディスクの再生装置で使用しているメ
インビームＭに基づく信号とサブビームＳ１又はＳ２に
基づく信号により精度のよい調整が行える。

【００６７】平滑回路６４で前エッジ位相差信号を平滑
化することで、その平滑化後の信号の振幅により、簡易
な手段でサブビームＳ１及びＳ２の照射位置を移動する
移動量を知ることができる。

【００６８】サブビームＳ１及びＳ２の照射位置の調整
は、アクチュエータ３９で対物レンズ３４を駆動して行
うため、フォーカシングを行いながらサブビームＳ１及
びＳ２の位置を調整することができ、光ディスク１のト
ラック面と光学系との距離、光ディスクの平面度、安定
性などの許容値を大幅に緩くできるとともに、受光素子
４１の位置調整工程と同じ工程環境で同時にサブビーム
Ｓ１及びＳ２の位の調整を行うことができる。

【００６９】［発明の実施の形態２］別の実施の形態を
発明の実施の形態２として説明する。

【００７０】この実施の形態２が実施の形態１と共通す
る回路要素などについては、同一符号を用い、詳細な説
明は省略する。

【００７１】図１１は、光ピックアップ５の光学系及び
光ピックアップ５から照射されるビームの位置を制御す
る制御系のブロック図である。すなわち、この実施の形
態２が実施の形態１と相違するのは、回折格子２を周方
向に正逆回転させるアクチュエータ６７と、このアクチ
ュエータ６７を制御する回折格子制御回路６６と、回折
格子制御回路６６の制御信号である回折格子制御信号を
生成する回折格子制御信号検出回路６５を備え、光スポ
ット位置信号はフォーカス制御信号検出回路３７ではな
く、回折格子制御信号検出回路６５に出力されて、光ス
ポット位置信号に基づいて回折格子制御信号を生成する
点である。

【００７２】すなわち、３つのビームＭ，Ｓ１，Ｓ２を
トラック面３５上に照射したときの光スポットの位置
は、メインビームＭの光スポットを中心とした点対称で
よいため、対物レンズ３４のフォーカシングではなく、
回折格子２２を回転させることによってもメインビーム
ＭとサブビームＳ１，Ｓ２との光スポットの位置関係を
変化させ、各ビーム間の相対的な位置を理想的なものに
調整することができる。

【００７３】この場合に、半導体レーザ２１から出射し
た光の一部を回折格子２２で分けられ、メインビームＭ
以外の２つのサブビームＳ１，Ｓ２が生成する手段は、
回折格子２２を回転させてもメインビームＭ及びその受
光信号に対してほとんど影響を及ぼさないため、メイン
ビームＭから得られる各種信号たとえばフォーカス制御
信号などは従来どおり使用でき、対物レンズ３４のフォ
ーカス制御を行いながらでも３つのビームＭ，Ｓ１，Ｓ
２の位置の調整を行うことができる。したがって、回折
格子制御回路６６及びアクチュエータ６７で第２の操作
装置を実現し、位相差検出信号６１及び回折格子制御信
号検出回路６５でサブビーム照射位置調節手段を実現し
ている。

【００７４】以上説明した光ディスク装置によれば、高
価な調整機器やカメラなどを用いずに精度のよいサブビ
ームＳ１及びＳ２の位置調整が行え、光ディスク装置の
製造コストを低減することができる。

【００７５】また、メインビームＭに基づく信号とサブ
ビームＳ１又はＳ２に基づく信号の振幅などではなく時
間的位相差によりサブビームの位置調整を行えるので、
精度のよいサブビームＳ１及びＳ２の調整が行える。

【００７６】さらに、調整に特別なセンサなどは不要で
あり、従来から光ディスクの再生装置で使用しているメ
インビームＭに基づく信号とサブビームＳ１又はＳ２に
基づく信号により精度のよい調整が行える。

【００７７】メインビームＭに基づく信号とサブビーム
Ｓ１又はＳ２に基づく信号の前エッジの比較により（後
エッジの比較でもよい）、時間的位相差を判断するもの
であるので、例えば図９に示すような簡易な構成でサブ
ビームの照射位置を調整することができる。

【００７８】平滑回路６４で前エッジ位相差信号を平滑
化することで、その平滑化後の信号の振幅により、簡易
な手段でサブビームＳ１及びＳ２の照射位置を移動する
移動量を知ることができる。

【００７９】アクチュエータ６７で回折格子２２を回転
駆動してサブビームＳ１及びＳ２の位置調整を行えるの
で、受光素子４１の位置調整工程と同じ工程環境で同時
にかつ簡単にサブビーム位置の調整を行うことができ
る。

【００８０】［発明の実施の形態３］別の実施の形態を
発明の実施の形態３として説明する。

【００８１】この実施の形態３が実施の形態１，２と共
通する回路要素などについては、同一符号を用い、詳細
な説明は省略する。

【００８２】実施の形態１，２は、グルーブとランドの
幅が同一である場合を前提としている。グルーブとラン
ドの幅が異なる場合には、実施の形態１，２の場合とは
多少信号の波形が異なる。そのことについて、図１２、
図１３を参照して説明する。図１２、図１３において、
信号Ａと信号Ｂは便宜上デジタル信号で表している。こ
の信号はエッジ検出回路６２の出力と考えてもよい。図
１２はグルーブの幅がランドの幅と等しいときを、図１
３はグルーブの幅がランドの幅と等しくないときをそれ
ぞれ示し、各々、（ａ）は理想的なビーム配置になって
いるとき、（ｂ）はビーム配置がずれているときをマト
リクス的に示してある。

【００８３】図１２の（ａ）と（ｂ）を比べると、
（ａ）は信号Ａと信号Ｂに位相差がないため、信号Ａと
信号Ｂの前エッジの位相差を示す前エッジ位相差信号
も、信号Ａと信号Ｂの位相差を示す後エッジ位相差信号
も、この両信号を加算した両エッジ位相差信号も、すべ
てが０になっている。なお、これら何れの信号も、位相
の遅れをプラス、進みをマイナスとして図示している。
一方、図１２（ｂ）では信号Ａと信号Ｂに位相差がある
ため、前エッジ位相差信号、後エッジ位相差信号、両エ
ッジ位相差信号のすべての信号で、プラス側に信号が出
ていることがわかる（図の上側をプラス、下側をマイナ
スとした）。

【００８４】これに比べ、グルーブの幅がランドの幅と
等しくない場合を示す図１３の場合では、各信号のデュ
ーティが異なるため、（ａ）に示すように、位相が１８
０度異なる信号Ａと信号Ｂのエッジが、ビーム配置が理
想的であっても重ならない。よって、前エッジ位相差信
号、後エッジ位相差信号により、前エッジと後ろエッジ
を別々にみると、まるで位相差があってビーム配置がず
れているようにみえる。しかし、両エッジを加算した両
エッジ位相差信号をみるに、平均的には０になるため、
グルーブの幅がランドの幅と等しくない場合には両エッ
ジを検出し、それを加算し、平滑化する必要があること
がわかる。（ｂ）に示す、ビーム位置がずれている場合
も同様の処理を行うことで、ビーム位置のずれ量を位置
信号で検出することができる。

【００８５】このように、グルーブの幅がランドの幅と
等しくない場合の対策としては、実施の形態１の位相差
検出回路６１をそのまま用いることも可能ではあるが、
その場合にはビームがトラックを横切る方向（前記のよ
うに速度は変化しても調整には問題ない）がわかるよう
にするべきである。これは方向によって位相差の検出結
果が全く逆になるためである。

【００８６】これを避けるために、ビームがトラックを
横切る方向を検出して、位相比較器６３の出力結果を反
転させれば、ビームがどちらに横切った場合でも光スポ
ット位置信号とそれに応じて回折格子２２を回転させる
べき方向を対応させることができる。

【００８７】その場合の位相差検出回路６１の回路構成
例が図１４である。この位相差検出回路６１は、エッジ
検出回路６２において、信号Ａの後エッジ検出用の後エ
ッジ検出回路６２ｃと、信号Ｂの後エッジ検出用の後エ
ッジ検出回路６２ｄとを備えている。また、位相比較器
６３は、信号ＡとＢの前エッジを比較して前エッジ位相
差信号を出力する位相比較器６３ａと、信号ＡとＢの後
エッジを比較して後エッジ位相差信号を出力する位相比
較器６３ｂとからなる。位相比較器６３ａ，６３ｂの出
力する前エッジ位相差信号、後エッジ位相差信号は、そ
れぞれ乗算器６５ａ，６５ｂでマイナス１が乗算されて
反転される。セレクタ６６ａは前エッジ位相差信号又は
その反転信号を選択出力し、セレクタ６６ｂは後エッジ
位相差号又はその反転信号を選択出力する。この両セレ
クタ６６ａ，６６ｂの出力信号は、加算器６８で加算さ
れて両エッジ位相差信号とされて、両エッジ位相差信号
が平滑回路６４に入力されて、光スポット位置信号とさ
れる。

【００８８】セレクタ６６ａ，６６ｂの選択動作は、ビ
ームがトラックを横切る方向を検出した極性信号に応じ
て行えばよい。その極性信号を得るためには新たに検出
系を具備してもよいが、位相差検出回路６１から得られ
る信号を用いるとなおよい。これには、例えば、信号Ｍ
ｓとＭｄとで位相が９０度異なっていることを利用す
る。図５，６を参照して説明する。例えば、信号Ａとし
て信号Ｍｓを使用し、前エッジ位相差信号、後エッジ位
相差信号は、信号Ｍｓがその振幅の中点を横切るタイミ
ングで出力されるとする。この状態でビームが右に移動
した場合、信号Ｍｓが立ち上がる（下から上に中点を横
切る）タイミングでは信号Ｍｄはプラス側に信号極性が
ある。逆にビームが左に移動した場合、信号Ｍｓが立ち
上がる（下から上に中点を横切る）タイミングでは信号
Ｍｄはマイナス側に信号極性がある。従って、信号Ｍｄ
を極性信号として用いることができる。

【００８９】同様に、信号Ａとして信号Ｍｄを使用した
場合は信号Ｍｓが極性信号として使用できる。また、信
号Ｓ１ｓやＳ２ｓと信号Ｓｄとの関係でも同じである。
これによって得られたビームがトラックを横切る方向を
示す信号を極性信号として加算器６８への入力信号を反
転させることにより、どちらの方向にビームが移動して
も、ビーム位置ずれと回折格子２２の回転方向に対応が
取れる。

【００９０】以上のように、グルーブの幅がランドの幅
と等しくない場合には、図９に示す位相差検出回路６１
に代えて図１４に示す位相差検出回路６１を用いる。実
施の形態３が実施の形態１，２と相違するのはこの点で
ある。なお、信号Ａ，Ｂとして、加算信号Ｍｓ，Ｓ１
ｓ，Ｓ２ｓや減算信号Ｍｄ，Ｓ１ｄ，Ｓ２ｄを使用する
場合は、エッジ検出回路６２の前段に、これら加算信号
又は減算信号を作成する加算器又は減算器を用意しても
よいし、演算回路５１で作成した同一の信号を用いても
よい。

【００９１】以上説明した光ディスク装置によれば、高
価な調整機器やカメラなどを用いずに精度のよいサブビ
ームＳ１及びＳ２の位置調整が行え、光ディスク装置の
製造コストを低減することができる。

【００９２】また、メインビームＭに基づく信号とサブ
ビームＳ１又はＳ２に基づく信号の振幅などではなく時
間的位相差によりサブビームの位置調整を行えるので、
精度のよいサブビームＳ１及びＳ２の調整が行える。

【００９３】さらに、調整に特別なセンサなどは不要で
あり、従来から光ディスクの再生装置で使用しているメ
インビームＭに基づく信号とサブビームＳ１又はＳ２に
基づく信号により精度のよい調整が行える。

【００９４】平滑回路６４で前エッジ位相差信号を平滑
化することで、その平滑化後の信号の振幅により、簡易
な手段でサブビームＳ１及びＳ２の照射位置を移動する
移動量を知ることができる。

【００９５】サブビームＳ１及びＳ２の照射位置の調整
をアクチュエータ３９で行う場合は、フォーカシングを
行いながらサブビームＳ１及びＳ２の位置を調整するこ
とができ、光ディスク１のトラック面と光学系との距
離、光ディスクの平面度、安定性などの許容値を大幅に
緩くできるとともに、受光素子４１の位置調整工程と同
じ工程環境で同時にサブビームＳ１及びＳ２の位の調整
を行うことができる。

【００９６】サブビームＳ１及びＳ２の照射位置の調整
をアクチュエータ６７で行う場合は、受光素子４１の位
置調整工程と同じ工程環境で同時にかつ簡単にサブビー
ム位置の調整を行うことができる。

【００９７】受光素子４２が出力する信号Ｍａ，Ｍｂの
和信号又は差信号と受光素子４３，４４が出力する複数
の信号Ｓ１ａ，Ｓ１ｂ又はＳ２ａ，Ｓ２ｂの和信号又は
差信号との時間的位相差に基づいてサブビームＳ１及び
Ｓ２の調整を行うので、その調整に特別なセンサなどは
不要であり、従来から光ディスクの再生装置で使用して
いる信号により精度のよい調整が行える。

【００９８】極性信号により位相比較器６３の出力信号
を反転するので、サブビームＳ１及びＳ２の照射位置を
移動する方向を容易に判断することができる。

【００９９】グルーブとランドの幅が等しくない光ディ
スクでも、サブビームＳ１及びＳ２の照射位置を調整す
ることができる。また、実施の形態１，２のように信号
の前エッジ又は後エッジだけで時間的位相差を判断する
場合に比べて、信号感度が２倍になり、精度のよい調整
が行える。

【０１００】

【発明の効果】請求項１に記載の発明は、高価な調整機
器やカメラなどを用いずに精度のよいサブビームの位置
調整が行え、光ディスク装置の製造コストを低減するこ
とができる。

【０１０１】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の光ディスク装置において、サブビームの位置調整を比
較する信号の時間的位相差で行えるので、精度のよい調
整が行える。

【０１０２】請求項３に記載の発明は、請求項２に記載
の光ディスク装置において、特別なセンサなどは不要で
あり、従来から光ディスクの再生装置で使用している信
号により精度のよい調整が行える。

【０１０３】請求項４に記載の発明は、請求項３に記載
の光ディスク装置において、特別なセンサなどは不要で
あり、従来から光ディスクの再生装置で使用している信
号により精度のよい調整が行える。

【０１０４】請求項５に記載の発明は、請求項３又は４
に記載の光ディスク装置において、サブビームの照射位
置を調整するために、サブビームの照射位置を移動する
方向を容易に判断することができる。

【０１０５】請求項６に記載の発明は、請求項２〜４の
何れかの一に記載の光ディスク装置において、簡易な構
成でサブビームの照射位置を調整することができる。

【０１０６】請求項７に記載の発明は、請求項２〜４の
何れかの一に記載の光ディスク装置において、グルーブ
とランドの幅が等しくない光ディスクでもサブビームの
照射位置を調整することができる。また、前エッジ又は
後エッジだけで時間的位相差を判断する場合に比べて信
号感度が２倍になり、精度のよい調整が行える。

【０１０７】請求項８に記載の発明は、請求項２〜７の
何れかの一に記載の光ディスク装置において、簡易な手
段によりサブビームの照射位置を移動する移動量を知る
ことができる。

【０１０８】請求項９に記載の発明は、請求項１〜８の
何れかの一に記載の光ディスク装置において、フォーカ
シングを行いながらサブビームの位置を調整するので、
トラック面と光学系との距離、光ディスクの平面度、安
定性などの許容値を大幅に緩くできるとともに、受光素
子の位置調整工程と同じ工程環境で同時にサブビーム位
置の調整を行うことができる。

【０１０９】請求項１０に記載の発明は、請求項１〜８
の何れかの一に記載の光ディスク装置において、回折格
子を駆動してサブビームの位置調整を行えるので、受光
素子の位置調整工程と同じ工程環境で同時にかつ簡単に
サブビーム位置の調整を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施の形態１である光ディスク装置
の構成を、その制御系を主体として示す概略ブロック図
である。

【図２】前記光ディスク装置の光ピックアップの光学系
及び光ピックアップから照射されるビームの位置を制御
する制御系のブロック図である。

【図３】前記光ディスク装置で光ディスクに照射するビ
ームの光スポットを示す平面図である。

【図４】前記光ディスク装置でトラッキングエラー信号
を生成する演算回路のブロック図である。

【図５】前記光ディスク装置で用いるメインビーム及び
サブビームに基づく各種信号の波形図である。

【図６】前記光ディスク装置で光ディスクに照射する理
想的なビームの光スポットを示す平面図である。

【図７】前記光ディスク装置で用いるメインビーム及び
サブビームに基づく各種信号の波形図である。

【図８】前記光ディスク装置で光ディスクに照射する理
想的な配置からずれたビームの光スポットを示す平面図
である。

【図９】前記光ディスク装置の位相差検出回路のブロッ
ク図である。

【図１０】前記位相差検出回路に関する信号のタイミン
グチャートである。

【図１１】この発明の実施の形態２である光ディスク装
置の光ピックアップの光学系及び光ピックアップから照
射されるビームの位置を制御する制御系のブロック図で
ある。

【図１２】前記光ディスク装置の位相差検出回路を説明
するタイミングチャートである。

【図１３】前記光ディスク装置の位相差検出回路を説明
するタイミングチャートである。

【図１４】前記光ディスク装置の位相差検出回路のブロ
ック図である。

【符号の説明】

６ 第１の操作装置 ８ 第１の操作装置 ２２ 回折格子 ３４ レンズ ３７ サブビーム照射位置調節手段 ３８ 第２の操作装置 ３９ 第２の操作装置 ４２ 第１の受光素子 ４３ 第２の受光素子 ４４ 第２の受光素子 ５１ トラッキング手段 ６１ サブビーム照射位置調節手段 ６５ サブビーム照射位置調節手段 ６６ 第２の操作装置 ６７ 第２の操作装置

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 情報の記録又は再生を行うメインビーム
   及びこのメインビームのトラッキングに用いるサブビー
   ムを光ディスクに照射する光学系と、 前記メインビームの反射光を受光する第１の受光素子
   と、 前記サブビームの反射光を受光する第２の受光素子と、 前記メインビームの照射位置を操作する第１の操作装置
   と、 前記第１の受光素子の出力及び前記第２の受光素子の出
   力に基づいて前記第１の操作装置を制御して前記トラッ
   キングを行うトラッキング手段と、 光ディスクへの前記メインビームの照射位置に対する前
   記サブビームの照射位置を操作する第２の操作装置と、 前記第１の受光素子の出力に基づく信号と前記第２の受
   光素子の出力に基づく信号との比較に基づいて前記第２
   の操作装置を制御し前記サブビームの照射位置を一定に
   維持するサブビーム照射位置調節手段と、を備えている
   光ディスク装置。
2. 【請求項２】 前記サブビーム照射位置調節手段は、前
   記両信号の比較として当該両信号の時間的位相差を判断
   するものである請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記第１の受光素子は、前記メインビー
   ムを複数に分割して受光した複数の信号を出力して、 前記第２の受光素子は、前記サブビームを複数に分割し
   て受光した複数の信号を出力するものである請求項２に
   記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 前記サブビーム照射位置調節手段は、前
   記第１の受光素子が出力する複数の信号の和信号又は差
   信号と前記第２の受光素子が出力する複数の信号の和信
   号又は差信号との時間的位相差に基づいて前記第２の操
   作装置を制御するものである請求項３に記載の光ディス
   ク装置。
5. 【請求項５】 前記サブビーム照射位置調節手段は、前
   記第１の受光素子が出力する複数の信号又は前記第２の
   受光素子が出力する複数の信号の和信号又は差信号に基
   づいて前記第２の操作装置を制御して前記サブビームの
   照射位置を移動する方向を判断するものである請求項３
   又は４に記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 前記サブビーム照射位置調節手段は、前
   記両信号の前エッジ又は後エッジから前記時間的位相差
   を判断するものである請求項２〜４の何れかの一に記載
   の光ディスク装置。
7. 【請求項７】 前記サブビーム照射位置調節手段は、前
   記両信号の両エッジから前記時間的位相差を判断するも
   のである請求項２〜４の何れかの一に記載の光ディスク
   装置。
8. 【請求項８】 前記サブビーム照射位置調節手段は、前
   記時間的位相差を示す信号を平滑化して平滑化後の信号
   の振幅により前記第２の操作装置を制御して前記サブビ
   ームの照射位置を移動する移動量を判断するものである
   請求項２〜７の何れかの一に記載の光ディスク装置。
9. 【請求項９】 前記光学系は、光源と、この光源から照
   射される単一の光を前記メインビームとサブビームとに
   分割する回折格子と、この分割後の前記メインビーム及
   びサブビームを前記光ディスク上に結像するレンズとを
   備えていて、 前記第２の操作装置は、前記レンズを駆動してフォーカ
   シングを行うアクチュエータである請求項１〜８の何れ
   かの一に記載の光ディスク装置。
10. 【請求項１０】 前記光学系は、光源と、この光源から
    照射される単一の光を前記メインビームとサブビームと
    に分割する回折格子と、この分割後の前記メインビーム
    及びサブビームを前記光ディスク上に結像するレンズと
    を備えていて、 前記第２の操作装置は、前記回折格子を駆動して前記サ
    ブビームの照射位置の操作を行うものである請求項１〜
    ８の何れかの一に記載の光ディスク装置。