JP2002144231A

JP2002144231A - 表面処理方法及び表面処理装置

Info

Publication number: JP2002144231A
Application number: JP2000342415A
Authority: JP
Inventors: Takafumi Arai; 啓文新井; Noboru Tanaka; 昇田中; Koji Sawada; 康志澤田
Original assignee: Matsushita Electric Works Ltd
Current assignee: Panasonic Electric Works Co Ltd
Priority date: 2000-11-09
Filing date: 2000-11-09
Publication date: 2002-05-21

Abstract

(57)【要約】【課題】ブラスト処理によるクリーニングで不可避的
に発生する被処理物の汚染を除去してクリーニング性能
を高めることができる表面処理方法を提供する。【解決手段】被処理物１の表面に粒子２を衝突させる
ことにより被処理物１の表面を処理する。次いで、被処
理物１の表面にプラズマ３を供給することにより被処理
物１の表面を洗浄する。ブラスト処理によって、粒子２
の衝突により剥離して汚染物が飛散して被処理物１の表
面に再付着したり、粒子２中や高圧ガス中に混在してい
る不純物が被処理物１の表面に吹き付けられて付着した
り、粒子２が被処理物１の表面に衝突することにより粒
子２の成分が被処理物１の表面に付着したりして被処理
物１の表面が汚染されるが、この汚染をプラズマ処理に
よるクリーニングで除去することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被処理物の表面に
存在する有機物や酸化物などの汚染物を除去してクリー
ニング（洗浄）するための表面処理方法及び表面処理装
置に関するものであり、特に、精密な接合が要求される
電子部品の表面のクリーニングに好適に応用されるもの
である。

【０００２】

【従来の技術】従来より、被処理物の表面に存在する有
機物や酸化物などの汚染物を除去してクリーニングする
にあたってはブラスト処理が主に用いられている。この
ブラスト処理によるクリーニングは、図７に示すよう
に、粒子２を被処理物１の表面に多数吹き付けて物理的
（機械的）に衝突させることによって、粒子２の衝突エ
ネルギーで被処理物１の表面から汚染物４０を剥離して
除去するものである。粒子２としては、一般的に、セラ
ミック、ガラス、樹脂、ドライアイス、氷や高圧水など
で形成されるものが用いられ、また、粒子の衝突エネル
ギーを高めるために高圧ガス（アシストガス）で粒子２
を加速して被処理物１に吹き付けるようにしている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記のような
ブラスト処理によるクリーニングでは、粒子２の衝突に
より剥離して飛散した汚染物４０ａが被処理物１の表面
に再付着したり、粒子中や高圧ガス中に混在している不
純物が被処理物１の表面に吹き付けられて付着したり、
粒子２が被処理物１の表面に衝突することにより粒子２
の成分が被処理物１の表面に付着したりすることが不可
避的に発生して被処理物１の表面が汚染されるものであ
り、クリーニング性能が低いという問題があった。

【０００４】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、ブラスト処理によるクリーニングで不可避的に発
生する被処理物の汚染を除去してクリーニング性能を高
めることができる表面処理方法及び表面処理装置を提供
することを目的とするものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に係る
表面処理方法は、被処理物１の表面に粒子２を衝突させ
ることにより被処理物１の表面を処理し、次いで、被処
理物１の表面にプラズマ３を供給することにより被処理
物１の表面を洗浄することを特徴とするものである。

【０００６】また、本発明の請求項２に係る表面処理方
法は、請求項１の構成に加えて、被処理物１の表面に粒
子２を衝突させる工程と、被処理物１の表面にプラズマ
３を供給する工程とを連続的に行うことを特徴とするも
のである。

【０００７】また、本発明の請求項３に係る表面処理方
法は、請求項１又は２の構成に加えて、粒子２がドライ
アイスで形成されていることを特徴とするものである。

【０００８】また、本発明の請求項４に係る表面処理方
法は、請求項１又は２の構成に加えて、粒子２が樹脂で
形成されていることを特徴とするものである。

【０００９】また、本発明の請求項５に係る表面処理方
法は、請求項１又は２の構成に加えて、粒子２がセラミ
ック又はガラスで形成されていることを特徴とするもの
である。

【００１０】また、本発明の請求項６に係る表面処理方
法は、請求項１又は２の構成に加えて、粒子２が氷又は
高圧水で形成されていることを特徴とするものである。

【００１１】また、本発明の請求項７に係る表面処理方
法は、請求項１乃至６のいずれかの構成に加えて、粒子
２を高圧ガスで加速して被処理物１の表面に吹き付ける
ことを特徴とするものである。

【００１２】また、本発明の請求項８に係る表面処理方
法は、請求項７の構成に加えて、高圧ガスが圧縮空気で
あることを特徴とするものである。

【００１３】また、本発明の請求項９に係る表面処理方
法は、請求項１乃至８のいずれかの構成に加えて、誘電
体材料で筒状の反応管４を形成すると共に反応管４の片
側を吹き出し口５として開放し、反応管４の外側に複数
個の電極６、７を配設し、希ガスと反応性ガスを含むプ
ラズマ生成用ガスを反応管４に導入すると共に電極６、
７間に電圧を印加することによって大気圧近傍の圧力下
で反応管４内にプラズマ３を生成し、反応管４内に生成
されたプラズマ３を吹き出し口５から吹き出して被処理
物１の表面に吹き付けることを特徴とするものである。

【００１４】また、本発明の請求項１０に係る表面処理
方法は、請求項１乃至９のいずれかの構成に加えて、プ
ラズマ３を被処理物１の表面の局所に供給することを特
徴とするものである。

【００１５】また、本発明の請求項１１に係る表面処理
方法は、請求項１乃至９のいずれかの構成に加えて、幅
広のプラズマ３を被処理物１の表面に供給することを特
徴とするものである。

【００１６】また、本発明の請求項１２に係る表面処理
方法は、請求項９乃至１１のいずれかの構成に加えて、
希ガスとしてＡｒとＨｅの少なくとも一方を用い、反応
性ガスとしてＯ₂とＨ₂の少なくとも一方を用いることを
特徴とするものである。

【００１７】また、本発明の請求項１３に係る表面処理
方法は、請求項１乃至１２のいずれかの構成に加えて、
被処理物１が、異方導電性フィルムを剥離したガラス質
液晶ディスプレーパネル３０であることを特徴とするも
のである。

【００１８】また、本発明の請求項１４に係る表面処理
方法は、請求項１乃至１２のいずれかの構成に加えて、
被処理物１が成形用金型であることを特徴とするもので
ある。

【００１９】本発明の請求項１５に係る表面処理装置
は、請求項１乃至１４の表面処理方法を行うための表面
処理装置であって、被処理物１の表面に粒子２を衝突さ
せるためのブラスト処理装置８と、被処理物１の表面に
プラズマ３を供給するためのプラズマ処理装置９とを備
えて成ることを特徴とするものである。

【００２０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。

【００２１】図１に本発明の表面処理装置の一例を示
し、この表面処理装置は被処理物１の表面に多数の粒子
（研掃材）２を衝突させるためのブラスト処理装置８
と、被処理物１の表面にプラズマ３を供給するためのプ
ラズマ処理装置９と、被処理物１を搬送するための搬送
装置１０とを備えて形成されている。

【００２２】図１に示すブラスト処理装置８はドライア
イスの粒子２によってブラスト処理を行うものであっ
て、液化炭酸ガスを貯留するための炭酸ガスボンベ１１
と、液化炭酸ガスを冷却してドライアイスの粒子２を形
成するための冷却器１２と、粒子２を噴出するためのノ
ズル１３（例えば直径２ｍｍ程度）と、高圧ガスをノズ
ル１３に供給するための高圧ガス供給器１４とを備えて
形成されている。炭酸ガスボンベ１１は配管等を介して
冷却器１２と接続されており、冷却器１２は配管等を介
してノズル１３と接続されている。また、高圧ガス供給
器１４は配管等を介してノズル１３と接続されている。

【００２３】ドライアイスの粒子２は炭酸ガスボンベ１
１中の液化炭酸ガスが冷却器１２に供給されて冷却され
ることによって生成されるものであって、平均粒径が約
３０μｍのものを用いることができるが、この平均粒径
はさらに小さくても良く、１μｍ以下であっても良い。
また、従来のようにドライアイスの粒子２を用いてブラ
スト処理だけでクリーニングを行う場合は、粒子２中あ
るいは粒子２に混在する不純物により被処理物１が汚染
されないようにするために、液化炭酸ガスとして硫黄酸
化物等の不純物をほとんど含まない９９．９９％以上の
高純度のものを用いなければならないが、このような高
純度の液化炭酸ガスを製造するためには一般的に火力発
電所などから出る炭酸ガスを吸収浄化して得る循環式製
造方法が採用されており、製造に手間がかかって高価に
なるものであった。従って、ブラスト処理だけでクリー
ニング（特に精密洗浄）を行う場合は費用が増大すると
いう問題があった。しかしながら本発明では、後述のよ
うにブラスト処理による洗浄の後にプラズマ処理により
洗浄を行うので、ブラスト処理時に被処理物１が若干汚
染されてもプラズマ処理により洗浄することができるも
のであり、従って、ドライアイスの粒子２を生成するた
めに用いる液化炭酸ガスとしてはそれほど高純度のもの
を用いる必要がなく、例えば、純度が９９．５％程度の
標準ガスで充分であり、よって、ブラスト処理によるク
リーニングにかかる費用を低減することができるもので
ある。

【００２４】高圧ガス供給器１４からノズル１３に供給
される高圧ガスは、粒子２と一緒にノズル１３から噴射
することによって粒子２を加速し、被処理物１の表面に
対する粒子２の衝突エネルギーを高めるためのものであ
る。例えば、ドライアイスの粒子２を用いた場合、高圧
ガスを用いないと、粒子２は９８〜２９４ｋＰａ（１〜
３ｋｇｆ／ｃｍ²）程度の圧力でノズル１３から噴射さ
れることになり、被処理物１の表面に対する粒子２の衝
突エネルギーが小さくてブラスト処理によるクリーニン
グを充分に行うことができない。そこで、本発明では高
圧ガス供給器１４からノズル１３に１９６〜９８１ｋＰ
ａ（２〜１０ｋｇｆ／ｃｍ²）の高圧ガスを供給して粒
子２と一緒にノズル１３から噴射するようにしたもので
あり、これにより、粒子２が数百ｍ／秒にまで加速され
て被処理物１の表面に対する粒子２の衝突エネルギーが
大きくなり、ブラスト処理によるクリーニングを充分に
行うことができるものである。

【００２５】高圧ガスとしては、コンプレッサー等で生
成される圧縮エアや、ガスボンベに圧入されている窒素
ガスや炭酸ガスなどを用いることができる。従来のよう
にブラスト処理だけでクリーニングを行う場合は、高圧
ガスに含まれている不純物により被処理物１が汚染され
ないようにするために、コンプレッサー等で生成される
圧縮エアを使用することができなかった。これは、コン
プレッサー等で生成される圧縮エアには油分などの不純
物が不可避的に含まれるからである。従って、従来では
ガスボンベに圧入されている窒素ガスや炭酸ガスを高圧
ガスとして用いていたが、この場合も、高圧ガスに含ま
れている不純物により被処理物１が汚染されないように
するために、硫黄酸化物等の不純物をほとんど含まない
高純度で高価な窒素ガスや炭酸ガスを用いなければなら
なかった。従って、ブラスト処理だけでクリーニング
（特に精密洗浄）を行う場合は費用が増大するという問
題があった。しかしながら本発明では、後述のようにブ
ラスト処理による洗浄の後にプラズマ処理により洗浄を
行うので、ブラスト処理時に被処理物１が若干汚染され
てもプラズマ処理により洗浄することができるものであ
り、従って、高圧ガスとして、不純物を若干含む上記の
ような圧縮エアを使用することができると共に高純度の
窒素ガスや炭酸ガスを用いる必要もなく、ブラスト処理
によるクリーニングにかかる費用を低減することができ
るものである。本発明では高圧ガスとして上記の一種類
を単独で用いても良いし、複数種の高圧ガスを併用して
も良い。また、ドライアイスの粒子２が昇華により消滅
しにくくするために高圧ガスを例えば−６５℃程度に冷
却しても良い。

【００２６】そして、上記のようなブラスト処理装置８
を用いて被処理物１の表面をクリーニングするにあたっ
ては、次のようにして行う。まず、炭酸ガスボンベ１１
から液化炭酸ガスを冷却器１２に供給し、冷却器１２で
液化炭酸ガスを冷却してドライアイスの粒子２を生成す
る。次に、冷却器１２で生成されたドライアイスの粒子
２をノズル１３に供給すると共に高圧ガス供給器１４か
らノズル１３に高圧ガスを供給することによってノズル
１３から多数の粒子２を噴射する。このようにして粒子
２をノズル１３の下側に配置された被処理物１の表面に
吹き付けて衝突させることによって、粒子２の衝突エネ
ルギーにより被処理物１の表面に存在する有機物や酸化
物などの汚染物４０を物理的（機械的）に除去してクリ
ーニングすることができるものである。本発明において
ブラスト処理によるクリーニングは、粒子２が被処理物
１の表面に接触する程度に吹き付けるようにしてもよ
い。例えば、被処理物１の汚染度合いが小さい場合な
ど、大きなクリーニング効果を得る必要がない場合など
では、ブラスト処理によるクリーニングは粒子２を被処
理物１の表面に接触させる程度でよい。

【００２７】図１に示すプラズマ処理装置９は、反応管
４と、反応管４の外側に配置された複数個（一対）の電
極６、７と、希ガスや反応性ガスを貯留するガスボンベ
２５ａ〜２５ｄと、希ガスと反応性ガスを混合してプラ
ズマ生成用ガスを調製したり反応管４へのプラズマ生成
用ガスの供給量を調整するためのコントローラ２６と、
電極６、７の間に電圧を印加するための電源２２とを備
えて形成されている。各ガスボンベ２５ａ〜２５ｄは配
管等を介してコントローラ２６と接続されており、コン
トローラ２６は配管等を介して反応管４の上面のガス導
入口２３と接続されている。また、電極６、７はインピ
ーダンス整合回路（図示省略）を介して電源２２と電気
的に接続されている。さらに、電極６、７の間に対応す
る位置において反応管４内には放電空間２１が形成され
ている。尚、電極６、７はそれぞれ一個ずつ以上あれば
何個あっても良い。また、図１のものではガスボンベ２
５ａに酸素ガスが、ガスボンベ２５ｂに水素ガスが、ガ
スボンベ２５ｃにヘリウムガスが、ガスボンベ２５ｄに
アルゴンガスがそれぞれ充填されている。

【００２８】図２（ａ）に示すように、反応管４は高融
点の誘電体材料（絶縁材料）で扁平形状の略角筒状に形
成されるものである。反応管４を構成する誘電体材料の
誘電率は放電空間２１におけるプラズマの低温化の重要
な要素であって、具体的には誘電体材料として石英、ア
ルミナ、イットリア部分安定化ジルコニウムなどのガラ
ス質材料やセラミック材料などを例示することができ
る。また、反応管４の上面はガス導入口２３として略全
面に亘って開放されていると共に反応管４の下面は吹き
出し口５として略全面に亘って開放されている。この吹
き出し口５及びガス導入口２３は反応管４内の放電空間
２１と連通して形成されている。

【００２９】そして、図２（ｂ）に示すように、吹き出
し口５は反応管４の幅広方向と平行方向に長く且つ反応
管４の幅狭方向と平行方向に短いスリット形状に形成さ
れており、これにより、吹き出し口５からカーテン状で
幅広のプラズマ３を吹き出すことができるものである。
従って、このプラズマ３を被処理物１の表面に吹き付け
ることによって、被処理物１の表面にプラズマ３を局所
的（例えば５０ｍｍ長の帯状）に供給してプラズマ処理
によるクリーニングをすることができるものである。

【００３０】反応管４は図３（ａ）に示すように細い円
筒状に形成してもよく、この場合、吹き出し口５は図３
（ｂ）のような小さい孔に形成されるものであり、吹き
出し口５からスポット状のプラズマ３を吹き出すことが
できるものである。従って、このプラズマ３を被処理物
１の表面に吹き付けることによって、被処理物１の表面
にプラズマ３を局所的（例えば直径５ｍｍの点状）に供
給してプラズマ処理によるクリーニングをすることがで
きるものである。このように反応管４の形状や吹き出し
口５の形状や大きさは任意であって、帯状の広い面積を
一度にクリーニングする場合は図２（ａ）のように吹き
出し口５をスリット形状で幅広に形成し、スポット状の
狭い面積をクリーニングする場合には図３（ｂ）のよう
に吹き出し口５を小さい孔に形成するのが好ましい。

【００３１】電極６、７は、例えば、銅、アルミニウ
ム、真鍮、耐食性の高いステンレス鋼（ＳＵＳ３０４な
ど）などの導電性の金属材料で形成することができる。
また、電極６、７はリング状（環状）に形成されている
が、その内周形状は反応管４の外周形状に合致するよう
に形成されている。そして、電極６、７の内側に反応管
４を挿着することによって、反応管４の外周に電極６、
７を取り付けることができる。この時、各電極６、７の
内周面は反応管４の外周面に全周に亘って接触させるも
のであり、これにより、電極６、７を反応管４の外周面
に全周に亘って接触させない場合に比べて、電極６、７
と反応管４の接触面積が大きくなって接触性を向上させ
ることができ、電極６、７間に電圧を印加した際に放電
空間２１に放電が発生しやすくなってプラズマ３の生成
効率を高めることができるものである。また、反応管４
の外側に電極６、７を設けることによって、電極６、７
がプラズマ３によるスパッタリングや腐食作用を受けな
いようにすることができ、電極６、７のスパッタリング
により生じる汚染物質で被処理物１が汚染されないよう
にすることができると共に電極６、７の長寿命化を図る
ことができるものである。尚、電極６、７の間隔はプラ
ズマを安定に生成するために３〜２０ｍｍに設定するの
が好ましい。

【００３２】電源２２としては、高周波電圧またはパル
ス電圧を発生し、且つ放電空間２１でプラズマ３を連続
的に生成するのに必要な電圧を電極６、７間に印加する
ことができるものを用いる。高周波電圧は休止時間（電
圧が一定で定常状態になっている時間）が無いかほとん
ど無い電圧波形（例えば、正弦波）を有するものであ
り、パルス電圧は休止時間のある電圧波形を有するもの
である。また、放電空間２１でプラズマ３を連続的に生
成するのに必要な電圧は反応管４の厚みや放電空間２１
の大きさやプラズマ生成用ガスの組成等によって異なる
ので適宜設定すればよいが、例えば、０．５〜５ｋＶに
設定することができる。

【００３３】電極６、７間に印加する電圧として高周波
電圧を用いると、電源２２として用いる電源装置の構造
を簡素化することができると共に電極６、７間に印加す
る電圧の周波数や放電空間２１に供給する電力の大きさ
等を容易に調整することができるので好ましい。また、
電極６、７間に印加する電圧としてパルス電圧を用いる
と、電源２２として用いる電源装置の構造が複雑化する
ものの、電界による荷電粒子の加速が無い時間があるの
で、荷電粒子が放電空間２１に滞在する時間が長くな
り、放電空間２１における放電が容易に起こりやすくな
って放電効率が上がりプラズマを容易に生成することが
できるので好ましい。特に、Ｈｅを放電空間２１に導入
しない場合は、Ｈｅを放電空間２１に導入する場合より
も絶縁破壊電圧が高くなり、放電が発生しにくくなるの
で、パルス電圧を用いるのが好ましい。

【００３４】プラズマ生成用ガスとしては希ガスと反応
性ガスの混合ガスを用いる。反応性ガスとしてはＣＦ₄
などのフッ素化合物や酸素（Ｏ₂）や水素（Ｈ₂）などを
それぞれ単独で用いたりあるいは複数種併用したりする
ことができるが、反応性ガスの一部又は全部としてフッ
素化合物を使用すると、反応性の高いフッ素の活性種を
含むプラズマ３を生成することができ、被処理物１の表
面にある汚染物４０を効率的にエッチングすることがで
きてクリーニングの処理速度を高くすることができるも
のである。また、反応性ガスとして酸素や水素を用いる
ことによって、プラズマ３中の電子を酸素や水素のガス
で吸着することができ、プラズマ３中の電子密度を低減
することができるものであり、従って、半導体素子（半
導体チップ）を搭載した被処理物１にプラズマ処理によ
るクリーニングを行う場合であっても、半導体素子に電
子によるチャージアップダメージが発生するのを防止す
ることができるものである。

【００３５】プラズマ生成用ガスの希ガスとしてはＨ
ｅ、Ｎｅ、Ａｒ、Ｋｒ、Ｘｅなどをそれぞれ単独で用い
たり複数種を併用したりすることができるが、安価なＡ
ｒのみを用いるのがコスト面で好ましい。電極６、７間
に印加する電圧がパルス電圧の場合は放電効率が高いの
で、プラズマ生成用ガスの希ガスとしてＡｒのみを用い
てもよい（もちろんＨｅを併用しても良い）。しかしな
がら、電極６、７間に印加する電圧が高周波電圧の場合
は放電効率がパルス電圧に比べて高くないので、プラズ
マ生成用ガスの希ガスとしてＨｅとＡｒを併用するのが
好ましい。このようにプラズマ生成用ガスの希ガスとし
てＨｅとＡｒを併用すると、Ｈｅにより放電空間２１に
おける絶縁破壊電圧が低くなってそれだけ放電効率を高
くすることができてプラズマ３を容易に生成することが
でき、プラズマ３の生成効率が高まってクリーニングの
処理速度などの性能を向上させることができるものであ
る。

【００３６】プラズマ生成用ガスの希ガスとしてＨｅと
Ａｒを併用する場合は、プラズマ生成用ガスに占めるＨ
ｅの混合比率を３０ｖｏｌ％以下にするのが好ましい。
プラズマ生成用ガスに占めるＨｅの混合比率が３０ｖｏ
ｌ％を超えるとコストアップにつながる恐れがあり、し
かも、Ｈｅの方がＡｒよりも原子量が小さいためにガス
全体としての平均原子量が小さくなるものであり、よっ
て、吹き出し口５から吹き出されるプラズマ３の被処理
物１への到達速度が低下して、被処理物１にプラズマ３
が到達する前に、クリーニングを行う活性種が死滅する
割合が大きくなってクリーニング処理の性能が低下する
恐れがある。従って、プラズマ生成用ガスに占めるＨｅ
の混合比率を３０ｖｏｌ％以下にするのが好ましい。ま
た、放電効率を向上させるためにプラズマ生成用ガスに
占めるＨｅの混合比率は１０ｖｏｌ％以上にするのが好
ましい。

【００３７】また、上記のようにプラズマ生成用ガスの
希ガスとしてＡｒのみを用いる場合は、Ａｒの方がＨｅ
よりも原子量が大きいために、Ｈｅと併用した場合に比
べて、ガス全体としての平均原子量が大きくなるもので
あり、よって、吹き出し口５から吹き出されるプラズマ
３の被処理物１への到達速度が向上して、被処理物１に
プラズマ３が到達する前に、クリーニングを行う活性種
が死滅する割合が小さくなってクリーニング処理の性能
を高くすることができる。

【００３８】反応管４に導入されるプラズマ生成用ガス
の全体（希ガスと反応性ガスの合計量）に占める反応性
ガスの混合比率は０．１〜１０ｖｏｌ％に設定するのが
好ましく、より好ましくは２〜５ｖｏｌ％に設定する。
プラズマ生成用ガスに占める反応性ガスの混合比率が
０．１ｖｏｌ％未満であれば、プラズマ３に含まれる反
応性の高い活性種の量が少なくなり、エッチングレート
が低くなってクリーニングの処理速度が低下する恐れが
あり、プラズマ生成用ガスに占める反応性ガスの混合比
率が１０ｖｏｌ％を超えると、相対的に希ガスの量が少
なくなって放電が不安定になり、効率よくプラズマ３を
生成することができなくなる恐れがある。

【００３９】そして、上記のようなプラズマ処理装置９
を用いて被処理物１の表面をクリーニングするにあたっ
ては、次のようにして行う。まず、ガスボンベ２５ａ〜
２５ｄからコントローラ２６に希ガス及び反応性ガスを
供給し、コントローラ２６で希ガス及び反応性ガスを混
合することによって、プラズマ生成用ガスを調製する。
次に、ガス導入口２３から反応管４内にプラズマ生成用
ガスを導入すると共にプラズマ生成用ガスを反応管４内
で上から下に向かって流して放電空間２１に導入する。
次に、電源２２により電極６、７間に高周波電圧または
パルス電圧を印加することによって、反応管４内の放電
空間２１に高周波電界またはパルス電界を発生させて印
加し、この高周波電界またはパルス電界により大気圧近
傍の圧力下（９３．３〜１０６．７ｋＰａ（７００〜８
００Ｔｏｒｒ））で放電空間２１にグロー状の放電を発
生させる。この後、グロー状の放電でプラズマ生成用ガ
スがプラズマ化されてプラズマ活性種を含むプラズマ３
が放電空間２１で連続的に生成される。そして、このよ
うにして生成されたプラズマ３を吹き出し口５から下方
に向かってジェット状に連続的に流出させると共にこの
プラズマ３を吹き出し口５の下側に配置された被処理物
１の表面に吹き付けて供給することによって、プラズマ
３中に生成されたラジカル等の活性種のエッチング（ス
パッタリング）により被処理物１の表面に存在する有機
物や酸化物などの汚染物４０を除去してクリーニングす
ることができる。

【００４０】上記のようにプラズマ処理を行うにあたっ
て、電源２２により電極６、７間に印加される高周波電
圧あるいはパルス電圧の周波数は１ｋＨｚ〜２００ＭＨ
ｚに設定するのが好ましい。高周波電圧あるいはパルス
電圧の周波数が１ｋＨｚ未満であれば、放電空間２１で
の放電を安定化させることができなくなり、クリーニン
グ処理を効率よく行うことができなくなる恐れがある。
また、高周波電圧あるいはパルス電圧の周波数が２００
ＭＨｚを超えると、放電空間２１でのプラズマ３の温度
上昇が著しくなり、反応管４や電極６、７の寿命が短く
なる恐れがあり、しかも、被処理物１が熱的損傷を受け
たり、プラズマ処理装置が複雑化及び大型化する恐れが
ある。

【００４１】また、放電空間２１に供給される（印加さ
れる）電力の密度は２０〜３５００Ｗ／ｃｍ³に設定す
るのが好ましい。放電空間２１に供給される電力の密度
が２０Ｗ／ｃｍ³未満であれば、放電空間２１でプラズ
マ３を充分に発生させることができなくなり、逆に、放
電空間２１に供給される電力の密度が３５００Ｗ／ｃｍ
³を超えると、放電空間２１で安定した放電を得ること
ができなくなる恐れがある。尚、電力の密度（Ｗ／ｃｍ
³）は（放電空間２１に供給される電力／放電空間２１
の体積）で定義される。

【００４２】そして、本発明は、一方向に進行するベル
トで形成される搬送装置（ベルトコンベアのベルト等）
１０の上に被処理物１を載せ、被処理物１をブラスト処
理装置８のノズル１３の下側とプラズマ処理装置９の反
応管４の吹き出し口５の下側を順次通過させることによ
って、ブラスト処理装置８によるクリーニングと、ブラ
スト処理後に行うプラズマ処理装置９によるクリーニン
グにより被処理物１の表面をクリーニングするものであ
り、ブラスト処理装置８による物理的なクリーニングと
プラズマ処理装置９による化学的なクリーニングの両方
により、クリーニング性能を高くすることができるもの
である。ブラスト処理装置８によるクリーニングは有
機、無機のいずれの汚染物４０に対しても有効であり、
プラズマ処理装置９によるクリーニングは特に有機の汚
染物４０に有効である。また、複数個の被処理物１を搬
送装置１０で連続的に搬送することによって、複数個の
被処理物１をインラインで連続的にクリーニングするこ
とができるものである。

【００４３】ブラスト処理装置８によるクリーニングと
プラズマ処理装置９によるクリーニングは極めて短時間
で連続して行うのが好ましく、これにより、被処理物１
の再汚染を防止することができると共に後述する汚染物
４０に対するヒートショックを効果的に得ることができ
るものである。従って、ブラスト処理装置８とプラズマ
処理装置９は隣接して配置するのが好ましく、このこと
で、ブラスト処理装置８によるクリーニングの直後にプ
ラズマ処理装置９によるクリーニングをおこなうことが
できるものである。また、ブラスト処理装置８によるク
リーニングの時間とプラズマ処理装置９によるクリーニ
ングの時間は被処理物１の汚れ具合によって適宜調整す
ることができるが、ブラスト処理装置８による粒子２の
吹き付け時間及びプラズマ処理装置９によるプラズマ３
の吹き付け時間は数秒〜１０数秒程度である。

【００４４】従来のようにブラスト処理のみでクリーニ
ングした場合には、粒子２の衝突により剥離して汚染物
４０が飛散して被処理物１の表面に再付着したり、粒子
２中や高圧ガス中に混在している不純物が被処理物１の
表面に吹き付けられて付着したり、粒子２が被処理物１
の表面に衝突することにより粒子２の成分が被処理物１
の表面に付着したりすることが不可避的に発生して被処
理物１の表面が汚染されていたが、本発明ではブラスト
処理の後にプラズマ処理によるクリーニングを行うの
で、上記のような不可避的に発生する被処理物１の表面
の汚染をプラズマ処理によりクリーニングすることがで
き、クリーニング性能を高くすることができるものであ
る。もちろん、ブラスト処理でクリーニングしただけで
は除去することができない残留汚染物もプラズマ処理に
よるクリーニングで除去することができるものである。

【００４５】また、ブラスト処理の後にプラズマ処理を
行うと、ブラスト処理により汚染物４０が被処理物１の
表面から剥離して被処理物１の表面と汚染物４０の間の
隙間にプラズマ３が回り込みやすくなるために、プラズ
マ処理によるクリーニングの効果が高くなるものであ
る。また、本発明では被処理物１の表面の汚染物４０が
ドライアイスの粒子２を用いたブラスト処理のクリーニ
ングにより０〜−６５℃程度に冷却された後、プラズマ
処理によるクリーニングで２０〜４５０℃程度に加熱さ
れることになり、被処理物１の表面の汚染物４０が急激
な温度変化に曝されることになる。従って、被処理物１
の表面の汚染物４０は大きなヒートショックを受けるこ
とになり、このことで、汚染物４０が被処理物１の表面
から剥離しやすくなって高いクリーニング効果を得るこ
とができるものである。

【００４６】図４に他の実施の形態を示す。この表面処
理装置は図１のものにおいて、炭酸ガスボンベ１１と冷
却器１２の代わりに、樹脂の粒子２やセラミックの粒子
２やガラスの粒子２を貯留しノズル１３に供給するため
の粒子貯留部１５が設けられている。その他の構成は図
１のものと同様である。この粒子貯留部１５とノズル１
３は配管等を介して接続されている。樹脂の粒子２とし
ては、例えば、メラミン樹脂やユリア樹脂やアミド樹脂
（ナイロン）やポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）
などで形成されて平均粒径が３０〜２０００μｍのもの
を用いることができる。また、セラミックの粒子２とし
ては、例えば、アルミナなどで形成されて平均粒径が３
０〜９００μｍのものを用いることができる。また、ガ
ラスの粒子２としては、例えば、平均粒径が３０〜９０
０μｍのものを用いることができる。その他に粒子２と
してはクルミ殻などの植物性粒子を用いることができ
る。粒子２としては上記の一種類を単独で用いても良い
し、複数種の粒子２を併用しても良い。

【００４７】この表面処理装置ではドライアイスの粒子
２の代わりに、樹脂やセラミックの粒子２を被処理物１
の表面に吹き付けて供給することによって、図１のもの
と同様にクリーニングすることができるものであり、図
１のものと同様の効果を奏するものである。

【００４８】図５に他の実施の形態を示す。この表面処
理装置は図１のものにおいて、炭酸ガスボンベ１１と冷
却器１２の代わりに、氷の粒子２を形成するために水を
冷却するための冷却器１６が設けられており、その他の
構成は図１のものと同様である。この冷却器１６とノズ
ル１３は配管等を介して接続されていると共に冷却器１
６には配管１７を通じて水が供給されるように形成され
ている。この表面処理装置は氷の粒子２又は高圧水の粒
子２でブラスト処理による洗浄を行うものである。氷の
粒子２は水が冷却器１６に供給されて冷却されることに
よって生成されるものであって、平均粒径が１〜１００
μｍのものを用いることができる。また、高圧水の粒子
２は水が冷却器１６で冷却されずに通過してノズル１３
に供給された後、高圧ガス供給器１４からノズル１３に
供給された高圧ガスの圧力で噴出される際に霧状になる
ことにより生成されるものであって、平均粒径が１〜２
００μｍのものを用いることができる。

【００４９】そして、この表面処理装置ではドライアイ
スの粒子２の代わりに、氷や高圧水の粒子２を被処理物
１の表面に吹き付けて供給することによって、図１のも
のと同様にクリーニングすることができるものであり、
図１のものと同様の効果を奏するものであり、さらに、
氷や高圧水の粒子２を用いてブラスト処理のみでクリー
ニングする場合ではクリーニング後に乾燥工程が必要で
あるが、本発明ではブラスト処理後にプラズマ処理によ
るクリーニングを行うために、クリーニングのためのプ
ラズマ３の熱を利用して乾燥することができ、別途乾燥
装置や乾燥工程が不要になるものである。

【００５０】本発明は、異方導電性フィルム（ＡＦＣ＝
anisotoropic conductive film）を剥離したガラス質液
晶ディスプレーパネル（液晶ディスプレー用ガラス基
板）３０を被処理物１とし、これをクリーニングする際
に適用することができる。すなわち、図６（ａ）に示す
ようなガラス質液晶ディスプレーパネル３０には複数個
の電極３１が設けられているが、この電極３１には図６
（ｂ）に示すようなドライバー用の基板３２が接続され
る。この基板３２はガラス質液晶ディスプレーパネル３
０の制御等を行うための回路をポリイミドフィルム等に
設けたフレキシブル回路板であり、基板３２を電極３１
に接合するにあたっては基板３２と電極３１の間に異方
導電性フィルムを介在させて熱圧着するようにしてい
る。

【００５１】一方、基板３２が所定の場所に接合されな
いなどの接合不良が生じると、基板３２を電極３１から
剥離してガラス質液晶ディスプレーパネル３０を再利用
することが行われているが、この際、電極３１の表面及
び周辺から異方導電性フィルムが綺麗に剥離せずに残渣
が残るものであった。そこで、この異方導電性フィルム
の残渣を除去してガラス質液晶ディスプレーパネル３０
を元の状態に修復（リペア）するために、電極３１の表
面及び周辺に対して上記本発明の表面処理装置及び表面
処理方法を適用してクリーニングすることができるもの
である。上記のような異方導電性フィルムの残渣は熱や
圧力などが加わっているために、ブラスト処理だけでは
非常に除去しにくいものであるが、本発明によればほぼ
完全に除去することができる。

【００５２】また、本発明は成形用金型のクリーニング
にも適用することができる。この成形用金型は、熱硬化
性樹脂や熱可塑性樹脂などの各種有機樹脂を成形するた
めの成形用金型であっても良いし、各種無機材料を成形
するための成形材料であっても良いし、各種金属材料を
成形するための成形材料であっても良い。従来、このよ
うな成形用金型をクリーニングするにあたっては、有機
溶剤を含浸させた布等を用いて人手で汚染物４０を拭き
取ったり、金型を有機溶剤に浸漬したり、酸やアルカリ
溶液を金型に供給して汚染物４０を溶解除去したりして
おり、いずれも手間がかかったり乾燥工程が必要であっ
たり有害な溶剤を用いたりしなければならないが、本発
明を用いることによって効率よく安全にクリーニングす
ることができるものである。

【００５３】その他に本発明は、ガーネットやルチルで
形成される光アイソレータ光学素子チップのクリーニン
グ、パワー素子等に使用される銅製などのリードフレー
ム（特に高温処理されたもの）の酸化物の除去、レーザ
ートリマー抵抗体の洗浄、光ファイバーの切断面に付着
している有機物や切断粉の洗浄、積層板に対してレーザ
ー等により孔あけした後に発生するスミアの除去（デス
ミア）、レーザートリミング後の残渣の洗浄等に利用す
ることができる。

【００５４】次に、本発明の具体的な一例を示す。

【００５５】ガラス質液晶ディスプレーパネル３０の端
部に異方導電性フィルムを介してドライバー用ポリイミ
ド製フレキシブル回路基板（基板３２）を熱圧着により
接合した後、上記の回路基板を剥離することによって、
ガラス質液晶ディスプレーパネル３０の端部に多量のＡ
ＣＦの残渣が付着したサンプルを形成した。

【００５６】このサンプルを被処理物１として図１に示
す表面処理装置にてクリーニングを行った。ブラスト処
理装置８によるクリーニングは、ＣＯ₂気化により生成
したドライアイスの微細粉を粒子２とし、この粒子２を
汚れた被処理物１の端部に吹き付けるようにして行っ
た。この時、高圧ガスであるアシストガス（キャリアガ
ス）としては圧縮エアを使用し、粒子２を９８１ｋＰａ
（１０ｋｇｆ／ｃｍ²）の圧力で吹き付けるようにし
た。また、粒子２の平均粒径は３０μｍとし、粒子２の
吹き付け時間は５秒間にした。

【００５７】このようにブラスト処理によるクリーニン
グを行った後、プラズマ処理装置９によるクリーニング
を行った。反応管４としては図３（ａ）（ｂ）のような
円筒状の石英ガラス管を用い、外径を５ｍｍ、内径を３
ｍｍに形成した。また、上側の電極６と下側の電極７は
銅製であって、表面に金めっきを施したものを用いた。
また、反応管４の長手方向（上下方向）と平行方向にお
いて、上側の電極６の長さ（高さ寸法）を３０ｍｍ、下
側の電極７の長さ（高さ寸法）を１５ｍｍにそれぞれ形
成し、電極６と電極７の間を５ｍｍ離して反応管４の外
側に配置した。さらに、電極６、７に冷媒として純水を
供給して冷却した。そして、電極６が高圧電極に、電極
７が低圧（接地）電極となるように電源２２と電気的に
接続した。

【００５８】プラズマ生成用ガスはＨｅとＡｒと酸素の
混合ガスを用いた。この時、Ｈｅの流量を０．２５リッ
トル／分、Ａｒの流量を１．２５リットル／分、酸素の
流量を０．０２２リットル／分とし、この割合でＨｅと
Ａｒと酸素をコントローラ２６に供給して混合した後反
応管４に導入した。そして、大気圧下で電極６、７間に
周波数が１３．５６ＭＨｚの高周波電圧（正弦波の波
形）を印加して１００Ｗの電力を電極６、７間の放電空
間２１に供給することにより、反応管４内の放電空間２
１でグロー状の放電を発生させると共にこの放電により
放電空間２１にプラズマ３を生成し、このプラズマ３を
吹き出し口５からジェット状に吹き出して上記のブラス
ト処理後の被処理物１の端部に３秒間吹き付けることに
よって、プラズマ処理によるクリーニングを行った。

【００５９】この結果、被処理物１の端部の表面からＡ
ＣＦの残渣が完全に除去された。尚、上記の実施例にお
いてプラズマ処理装置９によるクリーニングを行わなけ
れば、被処理物１の端部の表面にＡＣＦの残渣が残って
完全にクリーニングすることができなかった。

【００６０】また、上記のドライアイスの粒子２の代わ
りに、メラミン樹脂などの樹脂の粒子２を用いたりアル
ミナなどのセラミックの粒子２を用いたり氷や高圧水の
粒子２を用いたりして同様の結果になった。さらに、被
処理物１としてガラス質液晶ディスプレーパネル３０の
代わりに成形用金型を用いた場合も、成形用金型の表面
から汚染物４０が完全に除去された。

【００６１】

【発明の効果】上記のように本発明の請求項１の発明
は、被処理物の表面に粒子を衝突させることにより被処
理物の表面を処理し、次いで、被処理物の表面にプラズ
マを供給することにより被処理物の表面を洗浄するの
で、被処理物の表面に対してブラスト処理による洗浄の
後にプラズマ処理による洗浄を行うことによって、ブラ
スト処理による洗浄で不可避的に発生する被処理物の汚
染をプラズマ処理による洗浄で除去することができ、ま
た、ブラスト処理により汚染物が被処理物の表面から剥
離して被処理物の表面と汚染物の間の隙間にプラズマを
回り込みやすくさせることができ、クリーニング性能を
高めることができるものである。

【００６２】また、本発明の請求項２の発明は、被処理
物の表面に粒子を衝突させる工程と、被処理物の表面に
プラズマを供給する工程とを連続的に行うので、被処理
物の再汚染を防止することができ、クリーニング性能を
さらに高めることができるものである。

【００６３】また、本発明の請求項３の発明は、粒子が
ドライアイスで形成されているので、ブラスト処理によ
り被処理物の表面の汚染物を冷却した後、プラズマ処理
により被処理物の表面の汚染物を加熱することができ、
被処理物の表面の汚染物が大きなヒートショックを受け
ることになって汚染物が被処理物の表面から剥離しやす
くなり、高いクリーニング効果を得ることができるもの
である。また、粒子として高純度のものを用いる必要が
無くなって、安価にクリーニングをおこなうことができ
るものである。

【００６４】また、本発明の請求項４の発明は、粒子が
樹脂で形成されているので、被処理物の表面に対してブ
ラスト処理による洗浄の後にプラズマ処理による洗浄を
行うことによって、ブラスト処理による洗浄で不可避的
に発生する被処理物の汚染をプラズマ処理による洗浄で
除去することができ、また、ブラスト処理により汚染物
が被処理物の表面から剥離して被処理物の表面と汚染物
の間の隙間にプラズマを回り込みやすくさせることがで
き、クリーニング性能を高めることができるものであ
る。また、粒子として高純度のものを用いる必要が無く
なって、安価にクリーニングをおこなうことができるも
のである。

【００６５】また、本発明の請求項５の発明は、粒子が
セラミック又はガラスで形成されているので、被処理物
の表面に対してブラスト処理による洗浄の後にプラズマ
処理による洗浄を行うことによって、ブラスト処理によ
る洗浄で不可避的に発生する被処理物の汚染をプラズマ
処理による洗浄で除去することができ、また、ブラスト
処理により汚染物が被処理物の表面から剥離して被処理
物の表面と汚染物の間の隙間にプラズマを回り込みやす
くさせることができ、クリーニング性能を高めることが
できるものである。また、粒子として高純度のものを用
いる必要が無くなって、安価にクリーニングをおこなう
ことができるものである。

【００６６】また、本発明の請求項６の発明は、粒子が
氷又は高圧水で形成されているので、被処理物の表面に
対してブラスト処理による洗浄の後にプラズマ処理によ
る洗浄を行うことによって、ブラスト処理による洗浄で
不可避的に発生する被処理物の汚染をプラズマ処理によ
る洗浄で除去することができ、また、ブラスト処理によ
り汚染物が被処理物の表面から剥離して被処理物の表面
と汚染物の間の隙間にプラズマを回り込みやすくさせる
ことができ、クリーニング性能を高めることができるも
のである。また、粒子として高純度のものを用いる必要
が無くなって、安価にクリーニングをおこなうことがで
きるものである。さらに、ブラスト処理による洗浄の
後、プラズマ処理による加熱を利用して被処理物を乾燥
させることができ、乾燥するための手段や工程が別途不
要になるものである。

【００６７】また、本発明の請求項７の発明は、粒子を
高圧ガスで加速して被処理物の表面に吹き付けるので、
被処理物の表面への粒子の衝撃エネルギーを高めること
ができ、ブラスト処理による洗浄効果を向上させること
ができるものである。

【００６８】また、本発明の請求項８の発明は、高圧ガ
スが圧縮空気であるので、純度の高い高圧ガスを用いる
必要が無くなって、安価にクリーニングをおこなうこと
ができるものである。

【００６９】また、本発明の請求項９の発明は、誘電体
材料で筒状の反応管を形成すると共に反応管の片側を吹
き出し口として開放し、反応管の外側に複数個の電極を
配設し、希ガスと反応性ガスを含むプラズマ生成用ガス
を反応管に導入すると共に電極間に電圧を印加すること
によって大気圧近傍の圧力下で反応管内にプラズマを生
成し、反応管内に生成されたプラズマを吹き出し口から
吹き出して被処理物の表面に吹き付けるので、大気圧近
傍の圧力下でプラズマ処理を行うことによって減圧装置
を用いる必要が無くなって、装置を簡素化することがで
きるものであり、また、反応管の外側に電極を設けるこ
とによって、電極がプラズマによるスパッタリングや腐
食作用を受けないようにすることができ、電極のスパッ
タリングにより生じる汚染物質で被処理物が汚染されな
いようにすることができると共に電極の長寿命化を図る
ことができるものである。

【００７０】また、本発明の請求項１０の発明は、プラ
ズマを被処理物の表面の局所に供給するので、プラズマ
処理による洗浄が不要な部分にプラズマが供給されない
ようにすることができ、プラズマ処理による洗浄が不要
な部分にプラズマが供給されないようにするための措置
が必要なく効率的にプラズマ処理による洗浄をおこなう
ことができるものである。

【００７１】また、本発明の請求項１１の発明は、幅広
のプラズマを被処理物の表面に供給するので、帯状の局
所にプラズマを供給することができ、プラズマ処理によ
る洗浄が不要な部分にプラズマが供給されないようにす
るための措置が必要なく効率的にプラズマ処理による洗
浄を帯状におこなうことができるものである。

【００７２】また、本発明の請求項１２の発明は、希ガ
スとしてＡｒとＨｅの少なくとも一方を用い、反応性ガ
スとしてＯ₂とＨ₂の少なくとも一方を用いるので、希ガ
スとしてＡｒとＨｅの少なくとも一方を用いることによ
って、安定してプラズマを生成することができると共に
反応性ガスとしてＯ₂とＨ₂の少なくとも一方を用いるこ
とによって、活性種の高いラジカルをプラズマ中に含有
させることができ、効率よく安定してプラズマ処理によ
る洗浄を行うことができるものである。

【００７３】また、本発明の請求項１３の発明は、被処
理物が、異方導電性フィルムを剥離したガラス質液晶デ
ィスプレーパネルであるので、異方導電性フィルムをガ
ラス質液晶ディスプレーパネルから容易に除去すること
ができ、ガラス質液晶ディスプレーパネルの修復を簡単
に行うことができるものである。

【００７４】また、本発明の請求項１４の発明は、被処
理物が成形用金型であるので、成形用金型から汚染物を
容易に除去することができ、この成形用金型から成形さ
れる成形品が汚染されないようにすることができるもの
である。

【００７５】また、本発明の請求項１５の発明は、請求
項１乃至１４の表面処理方法を行うための表面処理装置
であって、被処理物の表面に粒子を衝突させるためのブ
ラスト処理装置と、被処理物の表面にプラズマを供給す
るためのプラズマ処理装置とを備えるので、被処理物の
表面に対してブラスト処理による洗浄の後にプラズマ処
理による洗浄を行うことによって、ブラスト処理による
洗浄で不可避的に発生する被処理物の汚染をプラズマ処
理による洗浄で除去することができ、また、ブラスト処
理により汚染物が被処理物の表面から剥離して被処理物
の表面と汚染物の間の隙間にプラズマを回り込みやすく
させることができ、クリーニング性能を高めることがで
きるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の一例を示す概略図であ
る。

【図２】同上のプラズマ処理装置の一部を示し、（ａ）
は斜視図、（ｂ）は底面図である。

【図３】同上の他のプラズマ処理装置の一部を示し、
（ａ）は斜視図、（ｂ）は底面図である。

【図４】同上の他の実施の形態の一例を示す概略図であ
る。

【図５】同上の他の実施の形態の一例を示す概略図であ
る。

【図６】（ａ）はガラス質液晶ディスプレーパネルを示
す平面図、（ｂ）はドライバー用の基板を示す平面図で
ある。

【図７】従来例の問題点を示す断面図である。

【符号の説明】

１被処理物２粒子３プラズマ４反応管５吹き出し口６電極７電極８ブラスト処理装置９プラズマ処理装置３０ガラス質液晶ディスプレーパネル

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号ＦＩテーマコート゛(参考）Ｂ２４Ｃ 11/00 Ｂ２４Ｃ 11/00 ＥＢＤＨ０５Ｈ 1/30 Ｈ０５Ｈ 1/30 (72)発明者澤田康志大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株式会社内Ｆターム(参考） 3B116 AA02 AA21 BA06 BB21 BB82 BB88 BB89 BB90 BC01 3B201 AA02 AA21 BA06 BB21 BB82 BB88 BB89 BB90 BB92 BC01 CB01

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被処理物の表面に粒子を衝突させること
により被処理物の表面を処理し、次いで、被処理物の表
面にプラズマを供給することにより被処理物の表面を洗
浄することを特徴とする表面処理方法。
【請求項２】被処理物の表面に粒子を衝突させる工程
と、被処理物の表面にプラズマを供給する工程とを連続
的に行うことを特徴とする請求項１に記載の表面処理方
法。
【請求項３】粒子がドライアイスで形成されているこ
とを特徴とする請求項１又は２に記載の表面処理方法。
【請求項４】粒子が樹脂で形成されていることを特徴
とする請求項１又は２に記載の表面処理方法。
【請求項５】粒子がセラミック又はガラスで形成され
ていることを特徴とする請求項１又は２に記載の表面処
理方法。
【請求項６】粒子が氷又は高圧水で形成されているこ
とを特徴とする請求項１又は２に記載の表面処理方法。
【請求項７】粒子を高圧ガスで加速して被処理物の表
面に吹き付けることを特徴とする請求項１乃至６のいず
れかに記載の表面処理方法。
【請求項８】高圧ガスが圧縮空気であることを特徴と
する請求項７に記載の表面処理方法。
【請求項９】誘電体材料で筒状の反応管を形成すると
共に反応管の片側を吹き出し口として開放し、反応管の
外側に複数個の電極を配設し、希ガスと反応性ガスを含
むプラズマ生成用ガスを反応管に導入すると共に電極間
に電圧を印加することによって大気圧近傍の圧力下で反
応管内にプラズマを生成し、反応管内に生成されたプラ
ズマを吹き出し口から吹き出して被処理物の表面に吹き
付けることを特徴とする請求項１乃至８のいずれかに記
載の表面処理方法。
【請求項１０】プラズマを被処理物の表面の局所に供
給することを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記
載の表面処理方法。
【請求項１１】幅広のプラズマを被処理物の表面に供
給することを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記
載の表面処理方法。
【請求項１２】希ガスとしてＡｒとＨｅの少なくとも
一方を用い、反応性ガスとしてＯ₂とＨ₂の少なくとも一
方を用いることを特徴とする請求項９乃至１１のいずれ
かに記載の表面処理方法。
【請求項１３】被処理物が、異方導電性フィルムを剥
離したガラス質液晶ディスプレーパネルであることを特
徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の表面処理
方法。
【請求項１４】被処理物が成形用金型であることを特
徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の表面処理
方法。
【請求項１５】請求項１乃至１４の表面処理方法を行
うための表面処理装置であって、被処理物の表面に粒子
を衝突させるためのブラスト処理装置と、被処理物の表
面にプラズマを供給するためのプラズマ処理装置とを備
えて成ることを特徴とする表面処理装置。