JP2002131016A - 距離測定装置、及び距離測定方法 - Google Patents
距離測定装置、及び距離測定方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 撮像するカメラのダイナミックレンジを変え
ることなく、近い物体から遠い物体までを測定すること
ができる光切断法を用いた距離測定装置を提供する。 【解決手段】 自己が発したスリット光の反射光を撮像
し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係から測
定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であっ
て、スリット光の物体表面における反射光を撮像する画
像取得手段と、画像取得手段の走査時間内おいて発せら
れるスリット光の発光時間を制御して画像取得手段にお
ける受光強度を変化させる発光制御手段とを備える。
ることなく、近い物体から遠い物体までを測定すること
ができる光切断法を用いた距離測定装置を提供する。 【解決手段】 自己が発したスリット光の反射光を撮像
し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係から測
定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であっ
て、スリット光の物体表面における反射光を撮像する画
像取得手段と、画像取得手段の走査時間内おいて発せら
れるスリット光の発光時間を制御して画像取得手段にお
ける受光強度を変化させる発光制御手段とを備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、自己が発したスリ
ット光の反射光を撮像し、スリット光の発光位置と撮像
位置の位置関係から物体までの距離を測定する距離測定
装置、及び距離測定方法に関する。
ット光の反射光を撮像し、スリット光の発光位置と撮像
位置の位置関係から物体までの距離を測定する距離測定
装置、及び距離測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、ＣＣＤカメラやコンピュータ画像
処理の発展に伴って画像を使用した３次元計測が一般的
になってきている。ＣＣＤカメラとコンピュータ画像処
理を用いた３次元計測の一つとして光切断法がある。こ
の光切断法は、測定対象物体に対してスリット光を投影
し、あたかも光の帯で物体を切断するかのようにして、
別の方向からその光による切断面を観察するものであ
る。また、レーザの出現により非常に細かく高輝度な光
束が得られるようになったため、光切断法による３次元
計測は、自由曲面を有している物体であっても高速で高
精度な計測が行えるようになっている。
処理の発展に伴って画像を使用した３次元計測が一般的
になってきている。ＣＣＤカメラとコンピュータ画像処
理を用いた３次元計測の一つとして光切断法がある。こ
の光切断法は、測定対象物体に対してスリット光を投影
し、あたかも光の帯で物体を切断するかのようにして、
別の方向からその光による切断面を観察するものであ
る。また、レーザの出現により非常に細かく高輝度な光
束が得られるようになったため、光切断法による３次元
計測は、自由曲面を有している物体であっても高速で高
精度な計測が行えるようになっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】光切断法は、自己が発
したスリット光を自己に備えられたＣＣＤカメラによっ
て物体の表面におけるスリット光の反射光を撮像し、ス
リット光を発した方向、光源の位置、及びＣＣＤカメラ
の位置から、自己と物体との間の距離を測定するもので
ある。したがって、ＣＣＤカメラによって撮像されたス
リット光の反射光強度は、一定であることが望ましい。
したスリット光を自己に備えられたＣＣＤカメラによっ
て物体の表面におけるスリット光の反射光を撮像し、ス
リット光を発した方向、光源の位置、及びＣＣＤカメラ
の位置から、自己と物体との間の距離を測定するもので
ある。したがって、ＣＣＤカメラによって撮像されたス
リット光の反射光強度は、一定であることが望ましい。
【０００４】ところで、反射光の強度は、自己が発する
スリット光の強度が一定であっても、物体までの距離や
物体の表面の反射特性によって変化してしまう。光切断
法は、その測定原理からスリット光が連続してＣＣＤカ
メラに撮像される必要がある。通常、光切断法が用いら
れる３次元計測においては、物体までの大まかな距離と
測定対象の物体の表面の状態はある程度既知であるため
に、測定前の校正時にスリット光の発光強度とＣＣＤカ
メラのダイナミックレンジを調整して測定するのが一般
的である。
スリット光の強度が一定であっても、物体までの距離や
物体の表面の反射特性によって変化してしまう。光切断
法は、その測定原理からスリット光が連続してＣＣＤカ
メラに撮像される必要がある。通常、光切断法が用いら
れる３次元計測においては、物体までの大まかな距離と
測定対象の物体の表面の状態はある程度既知であるため
に、測定前の校正時にスリット光の発光強度とＣＣＤカ
メラのダイナミックレンジを調整して測定するのが一般
的である。
【０００５】しかしながら、自律ロボット等の視覚セン
サとして光切断法を応用して床面及び床面に存在する障
害物を検出する場合、測定対象の物体までの距離や物体
表面の反射特性は未知であるために、スリット光の発光
強度及びＣＣＤカメラのダイナミックレンジを予め調整
するのは現実的でない。そのため、所定の発光強度のレ
ーザ光を用いて、弱い光から強い光までをカバーするダ
イナミックレンジによって測定を行わなければならな
い。しかし、物体までの距離や物体の反射特性によって
は、カメラが有しているダイナミックレンジではカバー
できないという問題がある。特に光切断法は、撮像され
たスリット光の状態に応じて、物体形状の認識または距
離の測定をするものであるため、スリット光が撮像でき
ない場合は、ダイナミックレンジの影響で撮像できない
のか、または物体の陰に隠れて撮像できないのか判断が
できず、結果的に物体の認識や距離測定を正確に行うこ
とができないという問題がある。また、強いスリット光
は太い線となって撮像されるため、詳細な位置決定が困
難になるという問題もある。
サとして光切断法を応用して床面及び床面に存在する障
害物を検出する場合、測定対象の物体までの距離や物体
表面の反射特性は未知であるために、スリット光の発光
強度及びＣＣＤカメラのダイナミックレンジを予め調整
するのは現実的でない。そのため、所定の発光強度のレ
ーザ光を用いて、弱い光から強い光までをカバーするダ
イナミックレンジによって測定を行わなければならな
い。しかし、物体までの距離や物体の反射特性によって
は、カメラが有しているダイナミックレンジではカバー
できないという問題がある。特に光切断法は、撮像され
たスリット光の状態に応じて、物体形状の認識または距
離の測定をするものであるため、スリット光が撮像でき
ない場合は、ダイナミックレンジの影響で撮像できない
のか、または物体の陰に隠れて撮像できないのか判断が
できず、結果的に物体の認識や距離測定を正確に行うこ
とができないという問題がある。また、強いスリット光
は太い線となって撮像されるため、詳細な位置決定が困
難になるという問題もある。
【０００６】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、撮像するカメラのダイナミックレンジを変え
ることなく、近い物体から遠い物体までを測定すること
ができる光切断法を用いた距離測定装置及び距離測定方
法を提供することを目的とする。
たもので、撮像するカメラのダイナミックレンジを変え
ることなく、近い物体から遠い物体までを測定すること
ができる光切断法を用いた距離測定装置及び距離測定方
法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、自己が発したスリット光の反射光を撮像し、レーザ
光の発光位置と撮像位置の位置関係から測定対象物体ま
での距離を測定する距離測定装置であって、スリット光
の前記物体表面における反射光を撮像する画像取得手段
と、前記画像取得手段の走査時間内おいて前記レーザ発
光手段から発せられるレーザ光の発光時間を制御して前
記画像取得手段における受光強度を変化させる発光制御
手段とを備えたことを特徴とする。
は、自己が発したスリット光の反射光を撮像し、レーザ
光の発光位置と撮像位置の位置関係から測定対象物体ま
での距離を測定する距離測定装置であって、スリット光
の前記物体表面における反射光を撮像する画像取得手段
と、前記画像取得手段の走査時間内おいて前記レーザ発
光手段から発せられるレーザ光の発光時間を制御して前
記画像取得手段における受光強度を変化させる発光制御
手段とを備えたことを特徴とする。
【０００８】請求項２に記載の発明は、前記発光制御手
段は、前記画像取得手段において受光された前記反射光
の強度に応じて発光時間を決定することを特徴とする。
段は、前記画像取得手段において受光された前記反射光
の強度に応じて発光時間を決定することを特徴とする。
【０００９】請求項３に記載の発明は、自己が発したス
リット光の反射光を撮像し、スリット光の発光位置と撮
像位置の位置関係から物体までの距離を測定する距離測
定方法であって、前記距離測定方法は、自己が発したレ
ーザ光を一方向へ拡散してスリット光にして、測定対象
の物体に照射する場合に、撮像手段の走査時間内におい
て前記レーザ光の発光時間を変化させて測定を行うこと
を特徴とする。
リット光の反射光を撮像し、スリット光の発光位置と撮
像位置の位置関係から物体までの距離を測定する距離測
定方法であって、前記距離測定方法は、自己が発したレ
ーザ光を一方向へ拡散してスリット光にして、測定対象
の物体に照射する場合に、撮像手段の走査時間内におい
て前記レーザ光の発光時間を変化させて測定を行うこと
を特徴とする。
【００１０】請求項４に記載の発明は、前記距離測定方
法は、撮像された物体表面におけるスリット光の反射光
の受光強度に応じて、照射するスリット光の強度を変化
させることを特徴とする。
法は、撮像された物体表面におけるスリット光の反射光
の受光強度に応じて、照射するスリット光の強度を変化
させることを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
距離測定装置を図面を参照して説明する。初めに、図３
を参照して、距離測定装置が取り付けられる２足歩行ロ
ボットについて説明する。図３において、符号１は、自
律型の２足歩行ロボット（以下、単にロボットと称す
る）である。符号２は、ロボット１の腰の高さに取り付
けられた距離測定装置の光学系装置である。符号３は、
距離測定装置２が照射するレーザ光の照射範囲であり、
レーザ光を一方向に６０°拡散し、スリット光にして床
面４に照射する。さらに、このスリット光は、ロボット
１のつま先から前方の床面を照射するように光学系装置
２の向きを調整する。
距離測定装置を図面を参照して説明する。初めに、図３
を参照して、距離測定装置が取り付けられる２足歩行ロ
ボットについて説明する。図３において、符号１は、自
律型の２足歩行ロボット（以下、単にロボットと称す
る）である。符号２は、ロボット１の腰の高さに取り付
けられた距離測定装置の光学系装置である。符号３は、
距離測定装置２が照射するレーザ光の照射範囲であり、
レーザ光を一方向に６０°拡散し、スリット光にして床
面４に照射する。さらに、このスリット光は、ロボット
１のつま先から前方の床面を照射するように光学系装置
２の向きを調整する。
【００１２】図１は同実施形態の構成を示すブロック図
である。この図において、符号１１は、測定対象の物体
に対して照射するレーザ光を発するレーザ光源である。
符号１２は、レーザ光源１１との配置距離が短い短基線
長カメラであり、インタレース走査のＣＣＤカメラで構
成される。この短基線長カメラ１２は、基線長が短いた
めに、距離測定精度が低い代わりにロボット１の前方を
広い距離範囲で見渡すことができるという特徴を有して
いる。符号１３は、レーザ光源１１との配置距離が長い
長基線長カメラであり、インタレース走査のＣＣＤカメ
ラで構成される。この長基線長カメラ１３は、基線長が
長いために距離測定精度が高い代わりにロボット１の前
方を見渡す距離範囲が制限されるという特徴を有してい
る。また、短基線長カメラ１２、及び長基線長カメラ１
３は、外部から同期信号を入力して動作可能なカメラで
ある。
である。この図において、符号１１は、測定対象の物体
に対して照射するレーザ光を発するレーザ光源である。
符号１２は、レーザ光源１１との配置距離が短い短基線
長カメラであり、インタレース走査のＣＣＤカメラで構
成される。この短基線長カメラ１２は、基線長が短いた
めに、距離測定精度が低い代わりにロボット１の前方を
広い距離範囲で見渡すことができるという特徴を有して
いる。符号１３は、レーザ光源１１との配置距離が長い
長基線長カメラであり、インタレース走査のＣＣＤカメ
ラで構成される。この長基線長カメラ１３は、基線長が
長いために距離測定精度が高い代わりにロボット１の前
方を見渡す距離範囲が制限されるという特徴を有してい
る。また、短基線長カメラ１２、及び長基線長カメラ１
３は、外部から同期信号を入力して動作可能なカメラで
ある。
【００１３】符号２は、図３に示す光学系装置であり、
レーザ光源１１、短基線長カメラ１２、及び長基線長カ
メラ１３からなる。符号１４は、レーザ光源１１に対し
て、レーザ光の発光を制御する制御信号を出力してレー
ザ光源を制御する発光制御部であり、短基線長カメラ１
２及び長基線長カメラ１３に対して垂直同期信号を出力
するとともに、この垂直同期信号に同期してパルスを発
生するパルス幅変調器（Ｐｕｌｓｅ Ｗｉｄｔｈ Ｍｏ
ｄｕｌａｔｏｒ、以下ＰＷＭと称する）を備える。符号
１５は、２台のカメラから出力される画像信号を取り込
むための４つの画像メモリを備えた画像取り込み部であ
る。画像取り込み部１５は、２台のインタレースカメラ
の各フィールド画像をそれぞれ４つの画像メモリへ格納
する。
レーザ光源１１、短基線長カメラ１２、及び長基線長カ
メラ１３からなる。符号１４は、レーザ光源１１に対し
て、レーザ光の発光を制御する制御信号を出力してレー
ザ光源を制御する発光制御部であり、短基線長カメラ１
２及び長基線長カメラ１３に対して垂直同期信号を出力
するとともに、この垂直同期信号に同期してパルスを発
生するパルス幅変調器（Ｐｕｌｓｅ Ｗｉｄｔｈ Ｍｏ
ｄｕｌａｔｏｒ、以下ＰＷＭと称する）を備える。符号
１５は、２台のカメラから出力される画像信号を取り込
むための４つの画像メモリを備えた画像取り込み部であ
る。画像取り込み部１５は、２台のインタレースカメラ
の各フィールド画像をそれぞれ４つの画像メモリへ格納
する。
【００１４】符号１６は、画像取り込み部１５に取り込
まれた画像データに基づいて、前景の物体の高さを推定
する高さ推定部である。符号１７は、高さ推定部１６に
おいて推定された物体の状態に応じて、ロボット１の移
動経路を決定する移動経路決定部である。符号１８は、
移動経路決定部１７において決定された経路と高さ推定
部１６において推定された物体高さとからロボット１の
足の着地位置を決定する着地位置決定部である。符号１
９は、着地位置決定部１８において決定された着地位置
へ足を着地させるための制御を行う脚制御部である。
まれた画像データに基づいて、前景の物体の高さを推定
する高さ推定部である。符号１７は、高さ推定部１６に
おいて推定された物体の状態に応じて、ロボット１の移
動経路を決定する移動経路決定部である。符号１８は、
移動経路決定部１７において決定された経路と高さ推定
部１６において推定された物体高さとからロボット１の
足の着地位置を決定する着地位置決定部である。符号１
９は、着地位置決定部１８において決定された着地位置
へ足を着地させるための制御を行う脚制御部である。
【００１５】次に、図２を参照して、図１に示すレーザ
光源１１の詳細な構成を説明する。図２は、図１に示す
レーザ光源１１の構成を示すブロック図である。図２に
おいて、符号２１は、レーザ光を発光するレーザ発光部
である。符号２２は、レーザ発光部２１から発せられた
レーザ光を集光して細いビームする集光レンズである。
符号２３は、集光レンズ２２によって細いビームにされ
たレーザ光を複数のビームに分ける回折格子であり、図
２の紙面に垂直な方向へビームを分けるものである。符
号２４は、シリンドリカルレンズ等で構成されるビーム
拡散レンズであり、レーザ光のビームを１方向に拡散し
てスリット光を生成するものである。このビーム拡散レ
ンズ２４によって、複数のビームのそれぞれは、拡散の
角度が６０°になるようにする。
光源１１の詳細な構成を説明する。図２は、図１に示す
レーザ光源１１の構成を示すブロック図である。図２に
おいて、符号２１は、レーザ光を発光するレーザ発光部
である。符号２２は、レーザ発光部２１から発せられた
レーザ光を集光して細いビームする集光レンズである。
符号２３は、集光レンズ２２によって細いビームにされ
たレーザ光を複数のビームに分ける回折格子であり、図
２の紙面に垂直な方向へビームを分けるものである。符
号２４は、シリンドリカルレンズ等で構成されるビーム
拡散レンズであり、レーザ光のビームを１方向に拡散し
てスリット光を生成するものである。このビーム拡散レ
ンズ２４によって、複数のビームのそれぞれは、拡散の
角度が６０°になるようにする。
【００１６】なお、図２において、床面の位置関係を示
すと、符号４で示す直線が床面となり、符号Ａの地点
が、ロボット１のつま先の位置となる。また、光学系装
置２をロボット１の腰の位置に取り付け、レーザ光を発
光した状態を図５の模式図で示す。図５において、符号
１１はレーザ光源である。符号３は、床面４におけるレ
ーザ光源から発せられたレーザ光の照射範囲を示してい
る。ここでは、回折格子２３によって、５つのビームに
分けられており、さらにビーム拡散レンズ２４によって
５つのビームが６０°に拡散されている。これらのレー
ザ光は、床面４に対して照射され、その反射光が基線長
カメラ１２及び長基線長カメラ１３によって撮像され
る。図５においては、図を分かり易くするために回折格
子２３によって分けるビームの数を「５」としたが、実
際には、図５に示す角度Ｂが３２°であり、角度Ｃが
１.６°である。したがって、ビームの数は「２１」と
なる。
すと、符号４で示す直線が床面となり、符号Ａの地点
が、ロボット１のつま先の位置となる。また、光学系装
置２をロボット１の腰の位置に取り付け、レーザ光を発
光した状態を図５の模式図で示す。図５において、符号
１１はレーザ光源である。符号３は、床面４におけるレ
ーザ光源から発せられたレーザ光の照射範囲を示してい
る。ここでは、回折格子２３によって、５つのビームに
分けられており、さらにビーム拡散レンズ２４によって
５つのビームが６０°に拡散されている。これらのレー
ザ光は、床面４に対して照射され、その反射光が基線長
カメラ１２及び長基線長カメラ１３によって撮像され
る。図５においては、図を分かり易くするために回折格
子２３によって分けるビームの数を「５」としたが、実
際には、図５に示す角度Ｂが３２°であり、角度Ｃが
１.６°である。したがって、ビームの数は「２１」と
なる。
【００１７】次に、図６を参照して、一般的な床面の反
射特性について説明する。図６は、床面の反射特性を示
す説明図である。一般的に面における反射特性は、完全
な拡散反射特性を有している面でなければ、鏡面でなく
とも正反射成分の強度が一番強くなる。ロボット１の腰
の位置に取り付けられた光学系装置２においては、発光
点と観測点がほぼ同じである。そのため、反射点１にお
ける反射光を観測点で受光すると、正反射成分が受光さ
れることとなる。一方、反射点２における正反射成分
は、観測点へ戻ることはなく、同様に、反射点３におけ
る正反射成分も観測点に戻ることはない。さらに、反射
点２、３における正反射成分の反射方向と観測点方向と
のなす角度Ｄ、Ｅは、観測点からの距離が長くなるほど
大きくなる。反射光の受光強度は、正反射成分の反射方
向と観測点方向とのなす角度が大きくなるほど弱くな
る。また、発光点における発光強度が一定であっても、
距離の２乗に反比例して強度は弱くなるために、発光点
から反射点までの距離が長くなれば反射点へ届く光は弱
くなる。
射特性について説明する。図６は、床面の反射特性を示
す説明図である。一般的に面における反射特性は、完全
な拡散反射特性を有している面でなければ、鏡面でなく
とも正反射成分の強度が一番強くなる。ロボット１の腰
の位置に取り付けられた光学系装置２においては、発光
点と観測点がほぼ同じである。そのため、反射点１にお
ける反射光を観測点で受光すると、正反射成分が受光さ
れることとなる。一方、反射点２における正反射成分
は、観測点へ戻ることはなく、同様に、反射点３におけ
る正反射成分も観測点に戻ることはない。さらに、反射
点２、３における正反射成分の反射方向と観測点方向と
のなす角度Ｄ、Ｅは、観測点からの距離が長くなるほど
大きくなる。反射光の受光強度は、正反射成分の反射方
向と観測点方向とのなす角度が大きくなるほど弱くな
る。また、発光点における発光強度が一定であっても、
距離の２乗に反比例して強度は弱くなるために、発光点
から反射点までの距離が長くなれば反射点へ届く光は弱
くなる。
【００１８】図６のように床面に対して、レーザ光を照
射してその反射光を撮像しようとする場合、観測点にお
ける反射点１と反射点３の反射光の受光強度は、反射点
３の反射光を「１」とすると、反射点１の反射光は約
「１０」となり１０倍の差となる。この光強度差を１つ
のダイナミックレンジで撮像して、デジタル処理するた
めの量子化を行った場合、通常のデジタル処理において
は、量子化数は固定であるために、細かい輝度変化を検
出することが困難となる。
射してその反射光を撮像しようとする場合、観測点にお
ける反射点１と反射点３の反射光の受光強度は、反射点
３の反射光を「１」とすると、反射点１の反射光は約
「１０」となり１０倍の差となる。この光強度差を１つ
のダイナミックレンジで撮像して、デジタル処理するた
めの量子化を行った場合、通常のデジタル処理において
は、量子化数は固定であるために、細かい輝度変化を検
出することが困難となる。
【００１９】このような現象を回避するために、発光制
御部１４は、内部に備えられたＰＷＭによって、レーザ
光源１１から発せられるレーザ光の発光時間を制御す
る。ここで、図４を参照して、発光制御部１４から出力
される発光制御信号について説明する。図４は、短基線
長カメラ１２及び長基線長カメラ１３の垂直同期信号に
同期して、発光制御部１４から出力される発光制御信号
を示す説明図である。まず、垂直同期信号について説明
する。短基線長カメラ１２及び長基線長カメラ１３はイ
ンタレース走査のカメラであり、奇数フィールドと偶数
フィールドの２つのフィールドから１つのフレームが構
成される。各フィールドの画像は、垂直同期信号に同期
して走査することによって得られる。また、奇数フィー
ルドの走査時間ｔoと偶数フィールドの走査時間ｔeは同
一時間である。
御部１４は、内部に備えられたＰＷＭによって、レーザ
光源１１から発せられるレーザ光の発光時間を制御す
る。ここで、図４を参照して、発光制御部１４から出力
される発光制御信号について説明する。図４は、短基線
長カメラ１２及び長基線長カメラ１３の垂直同期信号に
同期して、発光制御部１４から出力される発光制御信号
を示す説明図である。まず、垂直同期信号について説明
する。短基線長カメラ１２及び長基線長カメラ１３はイ
ンタレース走査のカメラであり、奇数フィールドと偶数
フィールドの２つのフィールドから１つのフレームが構
成される。各フィールドの画像は、垂直同期信号に同期
して走査することによって得られる。また、奇数フィー
ルドの走査時間ｔoと偶数フィールドの走査時間ｔeは同
一時間である。
【００２０】一方、発光制御信号は、垂直同期信号に同
期して出力され、パルス幅が可変であるパルス信号であ
る。レーザ発光部２１は、この発光制御信号を入力し
て、この発光制御信号に基づいてレーザを発光する。レ
ーザ発光部２１から発せられるレーザ光は、発光制御信
号が「Ｈｉ」レベルのときのみに発光するＯＮ／ＯＦＦ
制御がされる。そして、発光制御部１４内のＰＷＭは、
奇数フィールドの垂直同期信号に同期して、パルス幅が
ｔowとなるパルスを出力し、さらに、偶数フィールドの
垂直同期信号に同期して、パルス幅がｔewとなるパルス
を出力する。
期して出力され、パルス幅が可変であるパルス信号であ
る。レーザ発光部２１は、この発光制御信号を入力し
て、この発光制御信号に基づいてレーザを発光する。レ
ーザ発光部２１から発せられるレーザ光は、発光制御信
号が「Ｈｉ」レベルのときのみに発光するＯＮ／ＯＦＦ
制御がされる。そして、発光制御部１４内のＰＷＭは、
奇数フィールドの垂直同期信号に同期して、パルス幅が
ｔowとなるパルスを出力し、さらに、偶数フィールドの
垂直同期信号に同期して、パルス幅がｔewとなるパルス
を出力する。
【００２１】レーザ発光部２１から発せられるレーザ光
の光量は、発光制御信号が「Ｈｉ」である時に一定であ
るため、撮像するカメラのＣＣＤで受光される受光強度
は、フィールド走査時間内に発光した時間にほぼ比例す
る。すなわち、近い距離の物体に対して強い光を照射し
ても照射時間が短ければその時間に応じて弱い光を照射
したのと同等の効果となる。したがって、パルス幅ｔow
は、遠い距離の物体に対して、レーザ光を照射してその
反射光を撮像できるパルス幅を設定すればよい。また、
パルス幅ｔewは、近い距離の物体に対して、レーザ光を
照射してその反射光が良好な状態で撮像できるパルス幅
を設定すればよい。ただし、パルス幅ｔowは、最大幅で
奇数フィールド走査時間ｔoであり、パルス幅ｔewは、
パルス幅ｔowより短い時間となる。
の光量は、発光制御信号が「Ｈｉ」である時に一定であ
るため、撮像するカメラのＣＣＤで受光される受光強度
は、フィールド走査時間内に発光した時間にほぼ比例す
る。すなわち、近い距離の物体に対して強い光を照射し
ても照射時間が短ければその時間に応じて弱い光を照射
したのと同等の効果となる。したがって、パルス幅ｔow
は、遠い距離の物体に対して、レーザ光を照射してその
反射光を撮像できるパルス幅を設定すればよい。また、
パルス幅ｔewは、近い距離の物体に対して、レーザ光を
照射してその反射光が良好な状態で撮像できるパルス幅
を設定すればよい。ただし、パルス幅ｔowは、最大幅で
奇数フィールド走査時間ｔoであり、パルス幅ｔewは、
パルス幅ｔowより短い時間となる。
【００２２】次に、図４に示す発光制御信号に基づいて
発光したレーザ光の反射光を撮像して距離を測定する処
理を説明する。まず、発光制御部１４は、図４に示す発
光制御信号をレーザ光源１１へ出力するとともに、垂直
同期信号を短基線長カメラ１２及び長基線長カメラ１３
に対して出力する。これを受けて、レーザ発光部２１は
レーザ光を発し、一方、短基線長カメラ１２及び長基線
長カメラ１３は画像を走査して、画像取り込み部１５の
奇数フィールド用の画像メモリへ出力する。そして、画
像取り込み部１５は、取り込んだ画像に対して、所定の
しきい値によって高輝度である画素を取り除く。ここで
得られた画像は、強いレーザ光が照射されたタイミング
における奇数フィールド画像であるため、高輝度の画素
は、近距離に存在する物体である。したがって、所定の
しきい値によって高輝度の画素を除去すれば、遠距離に
存在する物体のみを測定対象とすることが可能である。
発光したレーザ光の反射光を撮像して距離を測定する処
理を説明する。まず、発光制御部１４は、図４に示す発
光制御信号をレーザ光源１１へ出力するとともに、垂直
同期信号を短基線長カメラ１２及び長基線長カメラ１３
に対して出力する。これを受けて、レーザ発光部２１は
レーザ光を発し、一方、短基線長カメラ１２及び長基線
長カメラ１３は画像を走査して、画像取り込み部１５の
奇数フィールド用の画像メモリへ出力する。そして、画
像取り込み部１５は、取り込んだ画像に対して、所定の
しきい値によって高輝度である画素を取り除く。ここで
得られた画像は、強いレーザ光が照射されたタイミング
における奇数フィールド画像であるため、高輝度の画素
は、近距離に存在する物体である。したがって、所定の
しきい値によって高輝度の画素を除去すれば、遠距離に
存在する物体のみを測定対象とすることが可能である。
【００２３】次に、短基線長カメラ１２及び長基線長カ
メラ１３は画像を再び走査して、画像取り込み部１５の
偶数フィールド用の画像メモリへ出力する。画像取り込
み部１５は、取り込んだ画像に対して、所定のしきい値
によって低輝度である画素を取り除く。ここで得られた
画像は、弱いレーザ光が照射されたタイミングにおける
偶数フィールド画像であるため、低輝度の画素は、遠距
離に存在する物体である。したがって、所定のしきい値
によって低輝度の画素を除去すれば、近距離に存在する
物体のみを測定対象とすることが可能である。なお、こ
の処理は、短基線長カメラ１２及び長基線長カメラ１３
のそれぞれについて同一の処理を施す。
メラ１３は画像を再び走査して、画像取り込み部１５の
偶数フィールド用の画像メモリへ出力する。画像取り込
み部１５は、取り込んだ画像に対して、所定のしきい値
によって低輝度である画素を取り除く。ここで得られた
画像は、弱いレーザ光が照射されたタイミングにおける
偶数フィールド画像であるため、低輝度の画素は、遠距
離に存在する物体である。したがって、所定のしきい値
によって低輝度の画素を除去すれば、近距離に存在する
物体のみを測定対象とすることが可能である。なお、こ
の処理は、短基線長カメラ１２及び長基線長カメラ１３
のそれぞれについて同一の処理を施す。
【００２４】次に、画像取り込み部１５は、取り込んだ
画像を高さ推定部１６へ出力する。高さ推定部１６にお
いては、この画像に基づいて高さ推定処理が実行され
る。高さ推定部１６は、奇数フィールドと偶数フィール
ドからそれぞれ推定された高さを自己の運動量で補正し
一つの高さ推定結果とする。
画像を高さ推定部１６へ出力する。高さ推定部１６にお
いては、この画像に基づいて高さ推定処理が実行され
る。高さ推定部１６は、奇数フィールドと偶数フィール
ドからそれぞれ推定された高さを自己の運動量で補正し
一つの高さ推定結果とする。
【００２５】このように、フィールド走査時間内でレー
ザ光の発光強度を変化させて、発光強度が異なる２つの
フィールド画像を取得し、所定のしきい値によって高輝
度または低輝度の画素を除去するようにしたため、物体
までの距離に係わらず一様な受光強度でスリット光を撮
像することが可能となる。これによって、スリット光を
撮像するためのダイナミックレンジを狭くすることが可
能となり、結果的に細かい輝度変化を検出することが可
能となる。
ザ光の発光強度を変化させて、発光強度が異なる２つの
フィールド画像を取得し、所定のしきい値によって高輝
度または低輝度の画素を除去するようにしたため、物体
までの距離に係わらず一様な受光強度でスリット光を撮
像することが可能となる。これによって、スリット光を
撮像するためのダイナミックレンジを狭くすることが可
能となり、結果的に細かい輝度変化を検出することが可
能となる。
【００２６】また、光学系装置２の校正時において、レ
ーザ光の発光時間を制御して、床面に照射したスリット
光を短基線長カメラ１２及び長基線長カメラ１３で撮像
し、その撮像状態に基づいて、スリット光の輝度分布が
一様になるように、パルス幅ｔow、ｔewを決定するよう
にしてもよい。さらに、障害物の反射特性や障害物まで
の距離に応じて、発光時間を変化させるようにしてもよ
い。
ーザ光の発光時間を制御して、床面に照射したスリット
光を短基線長カメラ１２及び長基線長カメラ１３で撮像
し、その撮像状態に基づいて、スリット光の輝度分布が
一様になるように、パルス幅ｔow、ｔewを決定するよう
にしてもよい。さらに、障害物の反射特性や障害物まで
の距離に応じて、発光時間を変化させるようにしてもよ
い。
【００２７】このように、反射光の輝度分布が一様にな
るようにしたため、カメラが有するダイナミックレンジ
でカバーできない事態を回避することができ、物体認識
や距離測定を正確に行うことが可能となる。
るようにしたため、カメラが有するダイナミックレンジ
でカバーできない事態を回避することができ、物体認識
や距離測定を正確に行うことが可能となる。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１、３に記
載の発明によれば、自己が発したスリット光の反射光を
撮像し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係か
ら物体までの距離を測定する場合に、自己が発したレー
ザ光を一方向へ拡散してスリット光にして、測定対象の
物体に照射する場合に、撮像手段の走査時間内において
レーザ光の発光時間を変化させて測定するようにしたた
め、撮像されるスリット光の輝度分布が一様になり確実
にスリット光の撮像を行うことができるという効果が得
られる。これは、結果的に距離精度の向上を図ることが
できるとともに、距離測定の処理を簡単にすることがで
きる。
載の発明によれば、自己が発したスリット光の反射光を
撮像し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係か
ら物体までの距離を測定する場合に、自己が発したレー
ザ光を一方向へ拡散してスリット光にして、測定対象の
物体に照射する場合に、撮像手段の走査時間内において
レーザ光の発光時間を変化させて測定するようにしたた
め、撮像されるスリット光の輝度分布が一様になり確実
にスリット光の撮像を行うことができるという効果が得
られる。これは、結果的に距離精度の向上を図ることが
できるとともに、距離測定の処理を簡単にすることがで
きる。
【００２９】また、請求項２、４に記載の発明によれ
ば、撮像された物体表面におけるスリット光の反射光の
受光強度に応じて、照射するスリット光の強度を変化さ
せるようにしたため、未知の物体であっても確実に反射
光の輝度分布を一様にすることができるという効果が得
られる。
ば、撮像された物体表面におけるスリット光の反射光の
受光強度に応じて、照射するスリット光の強度を変化さ
せるようにしたため、未知の物体であっても確実に反射
光の輝度分布を一様にすることができるという効果が得
られる。
【図１】 本発明の一実施形態の構成を示すブロック図
である。
である。
【図２】 図１に示すレーザ光源１１の構成を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図３】 ２足歩行ロボット１の外観を示す説明図であ
る。
る。
【図４】 発光制御部１４から出力される信号を示す説
明図である。
明図である。
【図５】 光学系装置２からレーザ光を発光した状態を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図６】 床面４の反射特性を示す説明図である。
１・・・ロボット、 ２・・・光学系装置、 ３・・・レーザ照射範囲、 ４・・・床面、 １１・・・レーザ光源、 １２・・・短基線長カメラ、 １３・・・長基線長カメラ、 １４・・・発光制御部、 １５・・・画像取り込み部、 １６・・・高さ推定部、 １７・・・移動経路決定部、 １８・・・着地位置決定部、 １９・・・脚制御部、 ２１・・・レーザ発光部、 ２２・・・集光レンズ、 ２３・・・回折格子、 ２４・・・ビーム拡散レンズ。
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA06 AA24 AA51 CC00 DD06 EE00 FF01 FF02 FF09 FF63 GG04 GG08 HH05 HH06 JJ03 JJ05 JJ26 LL04 LL08 LL42 NN02 NN08 NN20 PP25 QQ03 QQ05 QQ24 QQ25 2F112 AD03 CA04 CA12 DA13 DA19 DA25 FA07 FA21 FA45 5J084 AA05 AD05 AD07 BA03 BA34 BB02 BB07 CA03 EA04
Claims (4)
- 【請求項１】 自己が発したスリット光の反射光を撮像
し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係から測
定対象物体までの距離を測定する距離測定装置であっ
て、 前記距離測定装置は、 前記スリット光の前記物体表面における反射光を撮像す
る画像取得手段と、 前記画像取得手段の走査時間内おいて発せられるスリッ
ト光の発光時間を制御して前記画像取得手段における受
光強度を変化させる発光制御手段と、 を備えたことを特徴とする距離測定装置。 - 【請求項２】 前記発光制御手段は、 前記画像取得手段において受光された前記反射光の強度
に応じて発光時間を決定することを特徴とする請求項１
に記載の距離測定装置。 - 【請求項３】 自己が発したスリット光の反射光を撮像
し、スリット光の発光位置と撮像位置の位置関係から物
体までの距離を測定する距離測定方法であって、 前記距離測定方法は、 前記スリット光を測定対象の物体に照射する場合に、撮
像手段の走査時間内において前記スリット光の発光時間
を変化させて測定を行うことを特徴とする距離測定方
法。 - 【請求項４】 前記距離測定方法は、 撮像された物体表面におけるスリット光の反射光の受光
強度に応じて、照射するスリット光の強度を変化させる
ことを特徴とする請求項３に記載の距離測定方法。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000328284A JP2002131016A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | 距離測定装置、及び距離測定方法 |
| DE60125683T DE60125683T2 (de) | 2000-10-27 | 2001-10-26 | Anordnung und Verfahren zur Entfernungsmessung |
| EP01125666A EP1202074B1 (en) | 2000-10-27 | 2001-10-26 | Distance measuring apparatus and distance measuring method |
| US09/984,040 US6721679B2 (en) | 2000-10-27 | 2001-10-26 | Distance measuring apparatus and distance measuring method |
| EP01125667A EP1202075B1 (en) | 2000-10-27 | 2001-10-26 | Distance measuring apparatus and distance measuring method |
| DE60110341T DE60110341T2 (de) | 2000-10-27 | 2001-10-26 | Anordnung und Verfahren zur Entfernungsmessung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000328284A JP2002131016A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | 距離測定装置、及び距離測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002131016A true JP2002131016A (ja) | 2002-05-09 |
Family
ID=18805157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000328284A Withdrawn JP2002131016A (ja) | 2000-10-27 | 2000-10-27 | 距離測定装置、及び距離測定方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6721679B2 (ja) |
| EP (1) | EP1202075B1 (ja) |
| JP (1) | JP2002131016A (ja) |
| DE (1) | DE60125683T2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006112431A1 (ja) * | 2005-04-18 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Works, Ltd. | 空間情報検出システム |
| JP2008046004A (ja) * | 2006-08-17 | 2008-02-28 | Nissan Motor Co Ltd | 距離計測システム |
| JP2008525769A (ja) * | 2004-12-23 | 2008-07-17 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 光学式近傍領域センサ |
| JP2008298741A (ja) * | 2007-06-04 | 2008-12-11 | Toyota Central R&D Labs Inc | 距離計測装置及び距離計測方法 |
| CN116501070A (zh) * | 2023-06-30 | 2023-07-28 | 深圳市欢创科技有限公司 | 回充方法、机器人及存储介质 |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7117047B1 (en) * | 2001-12-04 | 2006-10-03 | Assembly Guidance Systems, Inc. | High accuracy inspection system and method for using same |
| JP4228132B2 (ja) * | 2002-10-18 | 2009-02-25 | 株式会社トプコン | 位置測定装置 |
| JP4262196B2 (ja) * | 2004-12-14 | 2009-05-13 | 本田技研工業株式会社 | 自律移動ロボット |
| FR2898687B1 (fr) * | 2006-03-17 | 2008-05-09 | Valeo Vision Sa | Procede et dispositif de detection d'un obstacle au voisinage d'un vehicule en mouvement |
| KR100884904B1 (ko) * | 2007-09-12 | 2009-02-19 | 아주대학교산학협력단 | 평행 투영 모델을 이용한 자기위치 인식 방법 |
| KR101165122B1 (ko) * | 2007-10-10 | 2012-07-12 | 주식회사 만도 | 실내 주행을 위한 빛 줄무늬 감지 방법 및 그를 이용한주차 보조 장치 |
| JP5104355B2 (ja) * | 2008-02-01 | 2012-12-19 | 富士通株式会社 | ロボット制御装置、ロボット制御方法およびロボット制御プログラム |
| US20100292884A1 (en) * | 2009-05-12 | 2010-11-18 | Rogelio Manfred Neumann | Device for Influencing Navigation of an Autonomous Vehicle |
| JP5284923B2 (ja) * | 2009-10-28 | 2013-09-11 | 本田技研工業株式会社 | 脚式移動ロボットの制御装置 |
| DE102010018979A1 (de) * | 2010-05-03 | 2011-11-03 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der 3D-Koordinaten eines Objekts |
| US9383753B1 (en) | 2012-09-26 | 2016-07-05 | Google Inc. | Wide-view LIDAR with areas of special attention |
| FR3001298B1 (fr) * | 2013-01-18 | 2016-05-27 | Archos | Procede et systeme pour fournir a un dispositif mobile des informations sur sa position par rapport a une cible, robot integrant un tel systeme et tablette |
| KR20150057547A (ko) * | 2013-11-20 | 2015-05-28 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기전계발광 표시장치 |
| CN105157646B (zh) * | 2015-09-07 | 2018-08-24 | 戴纳派克（中国）压实摊铺设备有限公司 | 摊铺宽度测量系统、摊铺机及摊铺宽度测量方法 |
| CN108431630A (zh) | 2015-12-21 | 2018-08-21 | 株式会社小糸制作所 | 车辆用图像获取装置、控制装置、包括了车辆用图像获取装置或控制装置的车辆和车辆用图像获取方法 |
| JP6766071B2 (ja) | 2015-12-21 | 2020-10-07 | 株式会社小糸製作所 | 車両用画像取得装置およびそれを備えた車両 |
| WO2017110413A1 (ja) | 2015-12-21 | 2017-06-29 | 株式会社小糸製作所 | 車両用画像取得装置、制御装置、車両用画像取得装置または制御装置を備えた車両および車両用画像取得方法 |
| WO2017110418A1 (ja) | 2015-12-21 | 2017-06-29 | 株式会社小糸製作所 | 車両用画像取得装置、制御装置、車両用画像取得装置または制御装置を備えた車両および車両用画像取得方法 |
| KR102598711B1 (ko) * | 2016-07-07 | 2023-11-06 | 삼성전자주식회사 | 불균일 광을 조사하는 라이다 장치 및 이를 포함하는 자율 주행 로봇 |
| CN110007289B (zh) * | 2019-03-21 | 2021-09-21 | 杭州蓝芯科技有限公司 | 一种基于飞行时间深度相机的运动伪差减小方法 |
| JP7348300B2 (ja) * | 2019-09-30 | 2023-09-20 | 富士フイルム株式会社 | 処理装置、電子機器、処理方法、及びプログラム |
| CN112965080B (zh) * | 2021-02-04 | 2024-02-20 | 苏州奥瑞图光电科技有限公司 | 闪光式无狭缝条纹相机激光面阵成像方法、系统及装置 |
| CN116336965B (zh) * | 2023-05-31 | 2023-09-05 | 天津宜科自动化股份有限公司 | 一种获取物体轮廓信息的数据处理系统 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1266562A (en) * | 1986-09-24 | 1990-03-13 | Donald Stewart | Distance measuring apparatus |
| US4954962A (en) * | 1988-09-06 | 1990-09-04 | Transitions Research Corporation | Visual navigation and obstacle avoidance structured light system |
| CA2038818A1 (en) * | 1990-03-30 | 1991-10-01 | Akio Nagamune | Distance measuring method and apparatus therefor |
| DE69204886T2 (de) | 1991-04-23 | 1996-04-04 | Nippon Electric Co | Messgerät für bewegte Körper. |
| JPH05119154A (ja) | 1991-10-30 | 1993-05-18 | Fujitsu Ten Ltd | 車載用レーザレーダ装置 |
| JP3282332B2 (ja) | 1993-12-20 | 2002-05-13 | ミノルタ株式会社 | 画像入力システム |
| US6028672A (en) | 1996-09-30 | 2000-02-22 | Zheng J. Geng | High speed three dimensional imaging method |
| US5812269A (en) * | 1996-07-29 | 1998-09-22 | General Scanning, Inc. | Triangulation-based 3-D imaging and processing method and system |
| JP3417222B2 (ja) * | 1996-08-07 | 2003-06-16 | 松下電器産業株式会社 | 実時間レンジファインダ |
| JP3672731B2 (ja) | 1997-09-04 | 2005-07-20 | 松下電器産業株式会社 | レンジファインダ装置 |
| US6204916B1 (en) * | 1998-02-03 | 2001-03-20 | Minolta Co., Ltd. | Three dimensional information measurement method and apparatus |
| JP4111592B2 (ja) * | 1998-06-18 | 2008-07-02 | コニカミノルタセンシング株式会社 | ３次元入力装置 |
| JP2000153476A (ja) * | 1998-09-14 | 2000-06-06 | Honda Motor Co Ltd | 脚式移動ロボット |
| JP3695188B2 (ja) | 1998-12-21 | 2005-09-14 | 富士ゼロックス株式会社 | 形状計測装置および形状計測方法 |
| EP1037069A3 (en) * | 1999-03-17 | 2004-01-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Rangefinder |
| JP2000283721A (ja) * | 1999-03-30 | 2000-10-13 | Minolta Co Ltd | ３次元入力装置 |
| JP3711808B2 (ja) | 1999-10-07 | 2005-11-02 | 富士ゼロックス株式会社 | 形状計測装置および形状計測方法 |
-
2000
- 2000-10-27 JP JP2000328284A patent/JP2002131016A/ja not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-10-26 US US09/984,040 patent/US6721679B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2001-10-26 DE DE60125683T patent/DE60125683T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-10-26 EP EP01125667A patent/EP1202075B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008525769A (ja) * | 2004-12-23 | 2008-07-17 | ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 光学式近傍領域センサ |
| WO2006112431A1 (ja) * | 2005-04-18 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Works, Ltd. | 空間情報検出システム |
| US7718938B2 (en) | 2005-04-18 | 2010-05-18 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | Spatial information detection system including a plurality of detection devices with nonoverlapping light projection periods |
| JP2008046004A (ja) * | 2006-08-17 | 2008-02-28 | Nissan Motor Co Ltd | 距離計測システム |
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