JP2002100832A - レーザーパワーコントロール装置、及び方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザーダイオード、及びモニタ用ホトダイ
オードの温度変化によるレーザーパワーの誤差をなくし
て、レーザーダイオードから照射されるレーザーパワー
をより高精度に制御することができるレーザーパワーコ
ントロール装置、及び方法を提供する。 【解決手段】 基準電圧源と、レーザーパワーを電流に
変換するモニタ用ホトダイオードと、該電流を電圧値に
変換する検出回路と、前記レーザーダイオード、及び前
記モニタ用ホトダイオードの温度変化に伴う出力特性を
考慮して、前記検出回路から出力された電圧を補償した
補償電圧を出力する温度補償回路と、前記基準電圧と前
記温度補償回路から出力された補償電圧とを比較し、所
望のレーザーパワーが得られるような電圧を出力する比
較回路と、比較回路から出力された電圧に基づいてレー
ザーダイオードに電流を供給する定電流源とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置の
再生、及び記録を行う光ピックアップのレーザーダイオ
ードのレーザーパワーコントロール装置、方法に関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術】従来のレーザーパワーコントロール装置
について図３を用いて説明する。図３は、従来のレーザ
ーパワーコントロール装置のブロック図である。図３に
おいて、３１は光ディスクにレーザー光を照射するレー
ザーダイオードである。３２はモニタ用ホトダイオード
であり、レーザーダイオード３１が照射するレーザー光
の発光量を電流に変換する。３３は検出回路であり、モ
ニタ用ホトダイオード３２により変換された電流を電圧
に変換する。３４はレーザーダイオード３１の近傍温度
を検知し、レーザーダイオード３１の近傍温度の変化に
よるレーザーパワーの変動を考慮して、検出回路３３か
ら出力された電圧の温度補償を行うレーザダイオード温
度補償回路である。３５はサンプルホールド回路で、記
録時の発光量の変化に、モニタ用ホトダイオード３２、
検出回路３３が追従できるように信号を一定時間保持す
る。

【０００３】３６は基準電圧を再生時と記録時とで切り
替える基準電圧切替回路である。３７は基準電圧切替回
路３６の指示により、再生用または記録用の基準電圧を
出力する基準電圧源である。３８はレーザダイオード温
度補償回路３４から、サンプルホールド回路３５を介し
て出力された電圧と、基準電圧源３７から出力された基
準電圧とを比較し、レーザーダイオード３１のレーザー
パワーが所望の値となる電圧を出力する比較回路であ
る。３９は比較回路３８から出力された電圧に基づいて
レーザーダイオード３１に定電流を供給する定電流源で
ある。

【０００４】次に、従来のレーザーパワーコントロール
装置の動作について図３を用いて説明する。基準電圧源
３７から出力された基準電圧により、定電流源３９から
一定の電流がレーザーダイオード３１に供給される。こ
れにより、レーザーダイオード３１が発光し、その光を
モニタ用ホトダイオード３２が受け、入射光量に比例し
た電流を発生する。その発生した電流は検出回路３３に
より電圧に変換され、レーザダイオード温度補償回路３
４に入力される。一般に、レーザーパワーは温度に反比
例するため、例えば、レーザーダイオード３１近傍の温
度が上昇すると、設定されているレーザパワーよりもレ
ーザーパワーが小さくなる。そこで、レーザダイオード
温度補償回路３４は、レーザーダイオード３１の近傍の
温度を測定し、レーザーダイオード３１の温度変化に伴
う出力特性を考慮して、検出回路３３により出力された
電圧の温度補償を行う。

【０００５】レーザダイオード温度補償回路３４により
温度補償された電圧は、サンプリングホールド回路３５
を通り、比較回路３８に入力される。比較回路３８は、
基準電圧源３７から出力された基準電圧と、レーザダイ
オード温度補償回路３４から、サンプルホールド回路３
５を介して出力された電圧とを比較し、レーザーダイオ
ード３１のレーザーパワーが所望の値となるような電圧
を出力する。比較回路３８から出力された電圧により、
定電流源３９は、一定の電流をレーザーダイオード３１
に供給し、レーザーダイオード３１を発光させる。

【０００６】上述したように、従来のレーザーパワーコ
ントロール装置によれば、レーザーダイオード３１が実
際に出力しているレーザーパワーを検知するとともに、
レーザーダイオード３１の近傍温度を測定し、レーザー
ダイオード３１の出力温度特性を考慮して、レーザーダ
イオード３１のレーザパワーの変動を制御している。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
レーザーパワーコントロール装置は、レーザーダイオー
ド３１の近傍温度を測定し、レーザーダイオード３１の
近傍温度に対するレーザーダイオードの出力特性による
出力値を考慮して、レーザーパワーが所望の値となるよ
うに検出回路３３から出力された電圧を温度補償して制
御をしているが、もう一つのダイオードであるモニタ用
ホトダイオード３２の温度変化に伴う出力特性について
は考慮していない。

【０００８】そのため、モニタ用ホトダイオード３２の
近傍の温度変化により、モニタ用ホトダイオード３２の
出力誤差が生じて、レーザーパワーを正確に制御するこ
とは難しいという問題点があった。

【０００９】また、温度補償を行う際には、温度補償を
行うダイオードの近傍温度を正確に測定する必要があ
り、より正確にダイオードの近傍温度を検知する手段が
求められている。さらには、近年の装置規模の小型化に
より、レーザパワーコントロール装置の小型化の要請も
強い。

【００１０】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたものであり、レーザーダイオード、及びモニタ
用ホトダイオードに温度変化が生じた場合であっても、
ダイオードから照射されるレーザパワーの制御を正確に
行うとともに装置の小型化を図ることができるレーザー
パワーコントロール装置、及び方法を提供することを目
的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記課題を達成するため
に本発明の請求項１に記載のレーザーパワーコントロー
ル装置は、光ディスクにレーザ光を照射するレーザーダ
イオードのレーザパワーを制御するレーザーパワーコン
トロール装置において、レーザ光を照射するための基準
電圧を出力する基準電圧源と、前記レーザーダイオード
が照射するレーザ光の発光量を電流に変換するモニタ用
ホトダイオードと、前記モニタ用ホトダイオードで変換
した電流を電圧に変換する検出回路と、前記レーザーダ
イオード、及び前記モニタ用ホトダイオードの各近傍温
度を検知する検知部を有し、前記検知部が検知した前記
レーザーダイオード、及び前記モニタ用ホトダイオード
の各近傍温度に対する，前記レーザーダイオード、及び
前記モニタ用ホトダイオードの出力特性による出力値を
考慮して、前記検出回路により変換された電圧に対して
温度補償を行う温度補償回路と、前記基準電圧源から出
力された基準電圧と前記温度補償回路から出力された電
圧とを比較して所望のレーザーパワーが得られるような
電圧を出力する比較回路と、前記比較回路から出力され
た電圧に基づいてレーザーダイオードに電流を供給する
定電流源と、を備えることを特徴とするものである。

【００１２】また、請求項２に記載のレーザーパワーコ
ントロール装置は、請求項１に記載のレーザーパワーコ
ントロール装置において、前記検知部を、前記レーザー
ダイオード、及び前記モニタ用ホトダイオード近くに設
けることを特徴とするものである。

【００１３】また、請求項３に記載のレーザーパワーコ
ントロール方法は、光ディスクにレーザ光を照射するレ
ーザーダイオードのレーザパワーを制御するレーザーパ
ワーコントロール方法において、レーザ光を照射するた
めの基準電圧を出力する基準電圧出力工程と、前記レー
ザーダイオードが照射するレーザ光の発光量をモニタ用
ホトダイオードにより、電流に変換する電流変換工程
と、前記電流変換工程により変換された電流を電圧に変
換する電圧変換工程と、前記レーザーダイオード、及び
前記モニタ用ホトダイオードの各近傍温度を検知し、検
知した前記レーザーダイオード、及び前記モニタ用ホト
ダイオードの各近傍温度に対する，前記レーザーダイオ
ード、及び前記モニタホトダイオードの出力特性による
出力値を考慮して、前記電圧変換工程により出力された
電圧に対して温度補償を行う温度補償工程と、前記基準
電圧出力工程により出力された基準電圧と前記温度補償
工程により温度補償が行われた電圧とを比較して所望の
レーザーパワーが得られるような電圧を出力する比較工
程と、前記比較工程により出力された電圧に基づいてレ
ーザーダイオードに電流を供給する電流供給工程と、を
有することを特徴とするものである。

【００１４】

【発明の実施の形態】実施の形態１．本実施の形態１に
よるレーザーパワーコントロール装置について図１、図
２を用いて説明する。図１は、本実施の形態１によるレ
ーザーパワーコントロール装置のブロック図である。図
１において、１は光ディスクにレーザー光を照射するレ
ーザーダイオードである。２はモニタ用ホトダイオード
であり、レーザーダイオード１が照射するレーザー光の
発光量を電流に変換する。３は検出回路であり、モニタ
用ホトダイオード２により変換された電流を電圧に変換
する。４はレーザーダイオード１の近傍温度、及びモニ
タ用ホトダイオード２の近傍温度を検知し、レーザーダ
イオード１の近傍温度、及びモニタ用ホトダイオード２
の近傍温度の変化によるレーザーダイオード１、及びモ
ニタ用ホトダイオード２の出力値の変動を補償する温度
補償回路である。５はサンプルホールド回路で、記録時
の発光量の変化に、モニタ用ホトダイオード２、検出回
路３が追従できるように信号を一定時間保持する。６は
基準電圧を再生時と記録時とで切り替える基準電圧切替
回路である。７は基準電圧切替回路６の指示により、再
生用または記録用の基準電圧を出力する基準電圧源であ
る。８は温度補償回路４から、サンプルホールド回路５
を介して出力された電圧と、基準電圧源７から出力され
た基準電圧とを比較し、レーザーダイオード１のレーザ
ーパワーが所望の値となる電圧を出力する比較回路であ
る。９は比較回路８から出力された電圧に基づいてレー
ザーダイオード１に定電流を供給する定電流源である。

【００１５】次に、本実施の形態１によるレーザーパワ
ーコントロール装置の動作について図１を用いて説明す
る。基準電圧切替回路６は、光ディスクに対してデータ
の再生または記録を行うために必要な基準電圧を切り替
える。基準電圧源７は、基準電圧切替回路６により切り
替えられた基準電圧を比較回路８に出力し、基準電圧は
比較回路８を介して定電流源９に出力される。定電流源
９は、該基準電圧に基づいてレーザーダイオード１に一
定の電流を供給し、光ディスクに必要なレーザーパワー
のレーザー光を照射させる。

【００１６】モニタ用ホトダイオード２には、レーザー
ダイオード１により照射されたレーザー光が入射するよ
うになっており、該レーザー光の発光量に比例して電流
を発生し、該電流を検出回路３に出力する。これによ
り、発生した電流値からレーザーダイオード１の発光
量、すなわちレーザーパワーを常に測定し、監視するこ
とができる。モニタ用ホトダイオード２から出力された
電流は検出回路３に入力され、検出回路３は、モニタ用
ホトダイオード２で発生した電流を電圧に変換し、温度
補償回路４に出力する。

【００１７】温度補償回路４は、レーザーダイオード１
の近傍温度とモニタ用ホトダイオード２の近傍温度とを
検知しており、それぞれの温度変化に伴う出力特性に応
じた出力誤差を考慮して、検出回路３により変換された
電圧値に対して温度補償を行う。

【００１８】温度補償回路４により温度補償がされた電
圧（以下、補償電圧と称する。）は、サンプリングホー
ルド回路５を通って、比較回路８に入力される。なお、
このサンプリングホールド回路５は、データ再生時は、
レーザパワーが一定であるのに対し、データ記録時に
は、３段階にレーザーパワーが切り換わるため、切り換
わり時の応答特性を向上させるために動作する。

【００１９】比較回路８は、基準電圧源７から出力され
た基準電圧と、サンプルホールド回路５から出力された
補償電圧とを比較し、前記基準電圧と前記補償電圧とが
等しい場合は、前記基準電圧と等しい電圧を出力し、前
記補償電圧が前記基準電圧よりも大きい場合には、前記
基準電圧よりも小さい電圧を出力し、前記補償電圧が前
記基準電圧よりも小さい場合には、前記基準電圧よりも
大きい電圧を出力する。

【００２０】比較回路８から出力された電圧は、定電流
源９に入力され、定電流源９は、当該電圧に基づいて一
定の電流をレーザーダイオード１に供給し、レーザーダ
イオード１を発光させる。

【００２１】本発明のレーザーパワーコントロール装置
は、上記のモニタ用ホトダイオード２の動作以降の動作
を繰り返すことで、レーザーダイオード１から照射され
るレーザーパワーが所望の値となるように制御してい
る。

【００２２】次に、本発明の実施の形態１にかかるレー
ザパワーコントロール装置の温度補償回路４の構成の一
例について、図２を用いて詳細に説明することにする。
なお、温度補償回路４としては、種々の回路を選択する
ことができるがここでは、図２に示すようなフィードバ
ック式の作動増幅回路を用いる場合について説明する。

【００２３】図２は、本実施の形態１によるレーザーパ
ワーコントロール装置の温度補償回路４の一例を示す図
である。図２において、２１は差動増幅器である。２２
は、レーザーダイオード１、及びモニタ用ホトダイオー
ドの温度上昇を検知する検知部として働く感温抵抗素子
である。２３は反転入力である。２４は非反転入力であ
る。

【００２４】また、温度補償回路４は、差動増幅器２１
の非反転入力２４をアースし、反転入力２３は検出回路
３に接続するとともに、差動増幅器２１の出力と反転入
力２３との間に、温度に応じて電気抵抗が変化する感温
抵抗素子２２が接続されている。

【００２５】感温抵抗素子２２は、レーザーダイオード
１の温度上昇を正確に検知させるため、レーザーダイオ
ード１を組込んだ光ピックアップのアルミニウム製ハウ
ジングの内部側壁に上記感温抵抗素子２２を、例えば、
熱伝導性のよいシリコングリースを用いて装着する。ま
た、感温抵抗素子２２は、モニタ用ホトダイオードの温
度上昇をも検知するものであるため、感温抵抗素子２２
をモニタ用ホトダイオード２のできるだけ近くに、例え
ば、温度補償回路４とモニタ用ホトダイオード２を同一
チップ上に形成する等して、モニタ用ホトダイオード２
近くに感温抵抗素子２２を配置する。

【００２６】これにより、温度補償回路４は、レーザー
ダイオード１、及びモニタ用ホトダイオード２の温度変
化を正確に検知することができるため、レーザーダイオ
ード１、及びモニタ用ホトダイオード２の温度変動によ
る出力特定に応じた出力誤差を正確に補償することがで
き、また、回路の小型化にもつながるという効果をも有
する。

【００２７】なお、ここでは、温度補償素子として感温
抵抗素子２２を用いるものについて説明したが、感温抵
抗素子２２の代わりにサーミスタ、ダイオード等を用い
ることもできる。

【００２８】次に、本実施の形態１によるレーザーパワ
ーコントロール装置の動作の具体例を示す。例えば、レ
ーザーダイオード１の近傍温度が上昇した場合には、一
般的にはレーザーパワーは温度に反比例するので、温度
が上昇すると、レーザーパワーが所望の値よりも低くな
ってしまう。そのため、温度補償回路４は、当該レーザ
ーダイオード１の温度特性による出力値を考慮して、前
記検出回路３から出力された電圧に温度補償を行い、検
出回路３から出力された電圧よりも小さな補償電圧を出
力する。温度補償回路４から出力された前記補償電圧
は、サンプルホールド回路５を通過し、比較回路８によ
り、基準電圧と比較される。この時、補償電圧は、前述
したように検出回路３から出力された電圧よりも電圧値
が小さくなるように制御されているため、基準電圧に比
べて補償電圧が小さくなる。したがって、比較回路８か
ら基準電圧よりも大きい電圧が定電流源９に出力され、
レーザーダイオード１のレーザーパワーを大きくするよ
うに制御がおこなわれる。

【００２９】一方、レーザーダイオード１の近傍温度が
低下した場合は、当該レーザーダイオード１の温度特性
による出力値を考慮して、温度補償回路４は、検出回路
３から出力された電圧に温度補償を行い、検出回路３か
ら出力された電圧よりも大きな補償電圧を出力する。温
度補償回路４から出力された前記補償電圧は、サンプル
ホールド回路５を通過し、比較回路８により、基準電圧
と比較される。この時、補償電圧は、前述したように検
出回路３から出力された電圧よりも電圧値が大きくなる
ように制御されているため、基準電圧に比べて補償電圧
が大きくなる。したがって、比較回路８から基準電圧よ
りも小さい電圧が定電流源９に出力され、レーザーダイ
オード１のレーザーパワーを小さくするように制御がお
こなわれる。

【００３０】また、モニタ用ホトダイオード２の近傍温
度が上昇、又は低下した場合にも、同様に、温度変化に
伴うモニタ用ホトダイオード２の出力特性による出力誤
差を打ち消すように温度補償回路４が制御をおこない、
モニタ用ホトダイオード２の近傍温度が上昇した場合に
は、レーザーダイオード１のレーザーパワーを大きくす
るように、モニタ用ホトダイオード２の近傍温度が低下
した場合には、レーザーダイオード１のレーザーパワー
を小さくするように制御がおこなわれる。

【００３１】なお、この温度補償回路４、及び比較回路
８による制御は、レーザーダイオード１のレーザパワー
が設定された値で一定になるまで繰り返し行われる。

【００３２】このように本実施の形態１によるレーザー
パワーコントロール装置及び方法によれば、光ディスク
にレーザ光を照射するレーザーダイオードのレーザパワ
ーを制御するレーザーパワーコントロール装置におい
て、レーザ光を照射するための基準電圧を出力する基準
電圧源と、前記レーザーダイオードが照射するレーザ光
の発光量を電流に変換するモニタ用ホトダイオードと、
前記モニタ用ホトダイオードで変換した電流を電圧に変
換する検出回路と、前記レーザーダイオード、及び前記
モニタ用ホトダイオードの各近傍温度を検知する検知部
を有し、前記検知部が検知した前記レーザーダイオー
ド、及び前記モニタ用ホトダイオードの各近傍温度に対
する，前記レーザーダイオード、及び前記モニタ用ホト
ダイオードの出力特性による出力値を考慮して、前記検
出回路により変換された電圧に対して温度補償を行う温
度補償回路と、前記基準電圧源から出力された基準電圧
と前記温度補償回路から出力された補償電圧とを比較し
て所望のレーザーパワーが得られるような電圧を出力す
る比較回路と、前記比較回路から出力された電圧に基づ
いてレーザーダイオードに電流を供給する定電流源とを
備えたことにより、前記レーザーダイオード及び前記モ
ニタ用ホトダイオードの近傍温度を検知して、それぞれ
の温度変化に伴う出力特性に応じた出力誤差を補償する
ことができ、温度変化によるレーザーパワーの誤差をな
くして、レーザーダイオードから照射されるレーザーパ
ワーをより高精度に制御することができる。

【００３３】なお、本発明の実施の形態１では、ダイオ
ードの温度補償を行う温度補償回路４が検出回路３の後
に設けれているものについて説明したが、これは一例で
あって、例えば、比較回路８の後に温度補償回路４を設
けて、比較回路８の出力電圧に対して温度補償を行うも
のであってもよい。

【００３４】

【発明の効果】本発明の請求項１に記載のレーザーパワ
ーコントロール装置は、光ディスクにレーザ光を照射す
るレーザーダイオードのレーザパワーを制御するレーザ
ーパワーコントロール装置において、レーザ光を照射す
るための基準電圧を出力する基準電圧源と、前記レーザ
ーダイオードが照射するレーザ光の発光量を電流に変換
するモニタ用ホトダイオードと、前記モニタ用ホトダイ
オードで変換した電流を電圧に変換する検出回路と、前
記レーザーダイオード、及び前記モニタ用ホトダイオー
ドの各近傍温度を検知する検知部を有し、前記検知部が
検知した前記レーザーダイオード、及び前記モニタ用ホ
トダイオードの各近傍温度に対する，前記レーザーダイ
オード、及び前記モニタ用ホトダイオードの出力特性に
よる出力値を考慮して、前記検出回路により変換された
電圧に対して温度補償を行う温度補償回路と、前記基準
電圧源から出力された基準電圧と前記温度補償回路から
出力された電圧とを比較して所望のレーザーパワーが得
られるような電圧を出力する比較回路と、前記比較回路
から出力された電圧に基づいてレーザーダイオードに電
流を供給する定電流源と、を備えたことにより、前記レ
ーザーダイオード及び前記モニタ用ホトダイオードの近
傍温度を検知して、それぞれの温度変化に伴う出力特性
による出力誤差を補償することができ、温度変化による
レーザーパワーの誤差をなくして、レーザーダイオード
から照射されるレーザーパワーをより高精度に制御する
ことができる。

【００３５】また、請求項２に記載のレーザーパワーコ
ントロール装置は、温度補償回路が備える前記レーザー
ダイオード、及び前記モニタ用ホトダイオードの近傍温
度を検知する検知部を、前記レーザーダイオード、及び
前記モニタ用ホトダイオード近くに設けることにより、
レーザーダイオード、及びモニタ用ホトダイオードの温
度変化を正確に検知することができるため、レーザーダ
イオード、及びモニタ用ホトダイオードの温度変動によ
る出力特定に応じた出力誤差を正確に補償することがで
き、また、回路の小型化にもつながるという効果をも有
する。

【００３６】また、請求項３に記載のレーザーパワーコ
ントロール方法は、光ディスクにレーザ光を照射するレ
ーザーダイオードのレーザパワーを制御するレーザーパ
ワーコントロール方法において、レーザ光を照射するた
めの基準電圧を出力する基準電圧出力工程と、前記レー
ザーダイオードが照射するレーザ光の発光量をモニタ用
ホトダイオードにより、電流に変換する電流変換工程
と、前記電流変換工程により変換された電流を電圧に変
換する電圧変換工程と、前記レーザーダイオード、及び
前記モニタ用ホトダイオードの各近傍温度を検知し、検
知した前記レーザーダイオード、及び前記モニタ用ホト
ダイオードの各近傍温度に対する，前記レーザーダイオ
ード、及び前記モニタホトダイオードの出力特性による
出力値を考慮して、前記電圧変換工程により出力された
電圧に対して温度補償を行う温度補償工程と、前記基準
電圧出力工程により出力された基準電圧と前記温度補償
工程により温度補償が行われた電圧とを比較して所望の
レーザーパワーが得られるような電圧を出力する比較工
程と、前記比較工程により出力された電圧に基づいてレ
ーザーダイオードに電流を供給する電流供給工程と、を
有することにより、前記レーザーダイオード及び前記モ
ニタ用ホトダイオードの近傍温度を検知して、それぞれ
の温度変化に伴う出力特性による出力誤差を補償するこ
とができ、温度変化によるレーザーパワーの誤差をなく
して、レーザーダイオードから照射されるレーザーパワ
ーをより高精度に制御することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１によるレーザーパワーコ
ントロール装置のブロック図である。

【図２】本発明の実施の形態１によるレーザーパワーコ
ントロール装置の温度補償回路の一例を示す図である。

【図３】従来のレーザーパワーコントロール装置のブロ
ック図である。

【符号の説明】

１ レーザーダイオード ２ モニタ用ホトダイオード ３ 検出回路 ４ 温度補償回路 ５ サンプルホールド回路 ６ 基準電圧切替回路 ７ 基準電圧源 ８ 比較回路 ９ 定電流源 ２１ 差動増幅器 ２２ 感温抵抗素子 ２３ 反転入力 ２４ 非反転入力 ３１ レーザーダイオード ３２ モニタ用ホトダイオード ３３ 検出回路 ３４ レーザダイオード温度補償回路 ３５ サンプルホールド回路 ３６ 基準電圧切替回路 ３７ 基準電圧源 ３８ 比較回路 ３９ 定電流源

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクにレーザ光を照射するレーザ
   ーダイオードのレーザパワーを制御するレーザーパワー
   コントロール装置において、 レーザ光を照射するための基準電圧を出力する基準電圧
   源と、 前記レーザーダイオードが照射するレーザ光の発光量を
   電流に変換するモニタ用ホトダイオードと、 前記モニタ用ホトダイオードで変換した電流を電圧に変
   換する検出回路と、 前記レーザーダイオード、及び前記モニタ用ホトダイオ
   ードの各近傍温度を検知する検知部を有し、前記検知部
   が検知した前記レーザーダイオード、及び前記モニタ用
   ホトダイオードの各近傍温度に対する，前記レーザーダ
   イオード、及び前記モニタ用ホトダイオードの出力特性
   による出力値を考慮して、前記検出回路により変換され
   た電圧に対して温度補償を行う温度補償回路と、 前記基準電圧源から出力された基準電圧と前記温度補償
   回路から出力された電圧とを比較して、所望のレーザー
   パワーが得られるような電圧を出力する比較回路と、 前記比較回路から出力された電圧に基づいてレーザーダ
   イオードに電流を供給する定電流源と、を備える、 ことを特徴とするレーザーパワーコントロール装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載のレーザーパワーコント
   ロール装置において、 前記検知部を、前記レーザーダイオード、及び前記モニ
   タ用ホトダイオード近くに設ける、 ことを特徴とするレーザーパワーコントロール装置。
3. 【請求項３】 光ディスクにレーザ光を照射するレーザ
   ーダイオードのレーザパワーを制御するレーザーパワー
   コントロール方法において、 レーザ光を照射するための基準電圧を出力する基準電圧
   出力工程と、 前記レーザーダイオードが照射するレーザ光の発光量を
   モニタ用ホトダイオードにより、電流に変換する電流変
   換工程と、 前記電流変換工程により変換された電流を電圧に変換す
   る電圧変換工程と、 前記レーザーダイオード、及び前記モニタ用ホトダイオ
   ードの各近傍温度を検知し、検知した前記レーザーダイ
   オード、及び前記モニタ用ホトダイオードの各近傍温度
   に対する，前記レーザーダイオード、及び前記モニタホ
   トダイオードの出力特性による出力値を考慮して、前記
   電圧変換工程により出力された電圧に対して温度補償を
   行う温度補償工程と、 前記基準電圧出力工程により出力された基準電圧と前記
   温度補償工程により温度補償が行われた電圧とを比較し
   て、所望のレーザーパワーが得られるような電圧を出力
   する比較工程と、 前記比較工程により出力された電圧に基づいてレーザー
   ダイオードに電流を供給する電流供給工程と、を有す
   る、 ことを特徴とするレーザーパワーコントロール方法。