JP2002076069A - 電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マーキング装置および電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マーキング方法 - Google Patents

電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マーキング装置および電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マーキング方法

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JP2002076069A JP2000265286A JP2000265286A JP2002076069A JP 2002076069 A JP2002076069 A JP 2002076069A JP 2000265286 A JP2000265286 A JP 2000265286A JP 2000265286 A JP2000265286 A JP 2000265286A JP 2002076069 A JP2002076069 A JP 2002076069A
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    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子部品実装用フィルムキャリアテープの不
良である断線、短絡、欠け、突起などの各種の品質検査
の結果に基づいて、スタンプ部材を用いて、電子部品実
装用フィルムキャリアテープの不良箇所にインクマーキ
ングを施した際に、そのインクが迅速に乾燥して、巻き
取り装置に巻き取る際に、フラットスペーサに転写し
て、スペーサ、TABテープを汚染したり、インクマー
ク自体が薄くなってしまい、不良マーキングが認識でき
ないなどのおそれの全くないように、不良表示(マー
ク)を迅速かつ確実に施す。 【解決手段】 電子部品実装用フィルムキャリアテープ
のスタンプ部材の印面部との当接面と反対側の面側か
ら、電子部品実装用フィルムキャリアテープの面に転写
されたインクを加熱乾燥させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープ(TAB(Tape AutomatedBondin
g)テープ、T-BGA(Tape Ball Grid Array)テープ、
CSP(Chip Size Package)テープ、 ASIC(Appl
ication Specific Integrated Circuit)テープなど)
(以下、単に「電子部品実装用フィルムキャリアテー
プ」と言う。)について、電気検査、外観検査などの品
質検査を実施し、不良箇所に不良表示(マーク)を施す
ための電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マ
ーキング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】エレクトロニクス産業の発達に伴い、I
C(集積回路)、LSI(大規模集積回路)などの電子
部品を実装するプリント配線板の需要が急激に増加して
いるが、電子機器の小型化、軽量化、高機能化が要望さ
れ、これら電子部品の実装方法として、最近ではTAB
テープ、T-BGAテープおよびASICテープなどの
電子部品実装用フィルムキャリアテープを用いた実装方
式が採用されている。特に、パーソナルコンピュータな
どのように高精細化、薄型化、液晶画面の額縁面積の狭
小化が要望されている液晶表示素子(LCD)を使用す
る電子産業においてその重要性が高まっている。
【0003】このような電子部品実装用フィルムキャリ
アテープでは、例えば、TABテープ200は、図5に
示したように、幅方向の両側端部に、それぞれ長手方向
に連続して複数の移送用のスプロケット孔202、20
2が並設されており、このスプロケット孔202の間の
略中央部分にICなどのデバイスを装着するデバイスホ
ール204が形成されている。そして、デバイスホール
204のインナーリード206、アウターリード208
からなる配線パターン210が形成されている。
【0004】ところで、このようなTABテープ200
において、TABテープ200の品質を検査することが
実施されているが、従来の人による目視検査(透過光検
査)に比較して、より効率的にしかも正確な検査が行え
る方法として、配線パターン210の電気的な断線、短
絡、絶縁抵抗などを電気的に検査して、不良品について
パンチングなどにより不良マーキングを施す方法が提案
され実施されている(特開平6−174774号公報参
照)。
【0005】このような検査方法では、図5に示したよ
うに、TABテープ200には、テストパッド212が
形成されており、このテストパッド212に電気検査用
接触プローブを当てて、配線パターン210のショート
不良を検査するとともに、デバイスホール204のイン
ナーリード206全体にデバイスホールの大きさの導電
パッドを当てて、断線検査を実施し、不良品について自
動的にパンチングを施している。
【0006】しかしながら、最近では、TABテープの
中でも、図6に示したように、BGA(Ball Grid Arra
y)と呼ばれるアウターリードの代わりにTABテープ
300に孔302を開けて、この孔302を介してIC
基板304などをハンダボール306で接続するデバイ
スホールの設けられていないTABテープ、CSP(Ch
ip Size Package)と呼ばれるICのサイズとTABテ
ープのパッケージのサイズとが同じであり、その接続方
法が主にBGAと同じであるTABテープも用いられる
ようになっている。
【0007】ところで、このようなBGA、CSPで
は、テストパッドが存在せず、しかも全ての配線が電解
メッキリードで接続されているので、プローブなどで上
記のような電気検査を行うことは不可能である。そのた
め、従来のBGA、CSPの検査方法では、人による目
視検査によって不良検査を行い、不良マーキングも人の
手によるインキ、マジックなどの塗布により実施してい
るのが現状である。このため、煩雑な作業が必要で、時
間もコストもかかり大量生産には不向きであり、また、
検査不良の見落としも発生し、品質検査の精度が低下す
るおそれもある。
【0008】特に、上記のBGA、CSPでは、多数個
取り、すなわち、TABテープの幅方向に複数の電子部
品実装部を有する多数列仕様になってきているのが実状
であり、そのため、不良箇所を目視検査で検査して、イ
ンキ、マジックなどの塗布により不良マーキングを実施
していたのでは、生産量が増加するにつれて、量的に対
応できず、しかも位置精度よく指定の箇所に不良マーキ
ングを施すことは困難である。
【0009】このため、最近では、図7に示したよう
に、被検査対象であるTABテープ100の電子部品実
装部102の配線パターンをラインセンサカメラと呼ば
れるCCDカメラ104を用い、このカメラを矢印で示
したTABテープの長手方向に、スプロケット孔を基準
にして、所定の距離だけ移動させ走査することによっ
て、配線パターンを撮像(取り込む)する。これによっ
て、得られた撮像情報を比較することによって、例え
ば、A/D変換器でデジタル情報化するとともに、濃淡
画像情報に変換してエッジデータを得、これと予め記憶
された良品のマスターパターンのエッジデータ(二値化
情報)と比較することによって、配線パターンの不良を
検査している(特開平6−27312号公報、特開平7
−110863号公報)。
【0010】そして、本発明者等は、図8に示したよう
に、これらの人の目視検査の結果、または、上記したラ
インセンサによる自動認識の結果に基づいて、TABテ
ープの不良箇所の表面または裏面に、自動的にTABテ
ープの不良箇所に当接してインクマーキングを行うよう
にしたスタンプ部材を備えた不良マーキング装置440
を備えた検査装置400を開発した。
【0011】この検査装置400では、リール402に
巻装されたTABテープTが、送り出し装置404から
送給され、実体顕微鏡など備えた検査部408に供給さ
れるようになっている。検査部408には、スプロケッ
トギアからなるドライブギア410と押さえローラ41
2によって、TABテープTが搬送されて、検査部40
8の検査装置414の下方に、TABテープTの所定の
検査部位が位置した際に搬送が停止される(ピッチ送り
される)とともに、スプロケットギアからなるバックテ
ンションギア416と押さえローラ418によって、T
ABテープTにバックテンションを付加して、位置決め
され検査が実施される。
【0012】そして、この検査部408での検査結果に
基づいて、不良マーキング装置440において、所定の
不良マークが刻設された印面部を有し、この印面部がT
ABテープに当接した際に、印面部からのインキの滲出
によりTABテープの不良部分にインクマーキングを行
うようになっている。これらの検査部408、不良マー
キング装置440で、検査、不良マーキングが終了した
TABテープTは、巻き取り装置420のリール422
に巻き取られるようになっている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
検査装置400では、図8に示したように、不良マーキ
ング装置440で不良マーキングが終了したTABテー
プTは、巻き取り装置420と処理部との間に一定の長
さ垂下させて、TABテープTにテンションを付加した
後に、巻き取り装置420のリール422に、フラット
スペーサSを挟んで巻き取られるようになっている。
【0014】そのため、例えば、検査装置400が、顕
微鏡などで目視検査を行う外観検査機の場合には、不良
マーキング装置440で不良マーキングが終了した後、
垂下させたTABテープTが巻き取り装置420のリー
ル422に巻き取られるまでの時間が、数十秒の間であ
る。従って、溶剤型インクがその間の短い時間では乾燥
されずに、巻き取り装置420のリール422に巻き取
った際に、フラットスペーサSに転写して、スペーサ、
TABテープを汚染したり、インクマーク自体が薄くな
ってしまい、不良マーキングが認識できないことにもな
る。
【0015】なお、このような現象は、上記のラインセ
ンサによる自動認識の結果に基づいて、インクマーキン
グを行う際には、通常は巻き取りまでの時間を2分〜2
分半の時間をとっており、スペーサも凹凸を有し、TA
Bテープの電子部品実装部に接触しないようなスペーサ
を用いているので起こりにくいが、TABテープTが巻
き取り装置420のリール422に巻き取られるまでの
時間が短い場合には、起こり得ることである。
【0016】本発明は、このような現状を考慮して、電
子部品実装用フィルムキャリアテープの不良である断
線、短絡、欠け、突起などの各種の品質検査の結果に基
づいて、スタンプ部材を用いて、電子部品実装用フィル
ムキャリアテープの不良箇所にインクマーキングを施し
た際に、そのインクが迅速に乾燥して、巻き取り装置に
巻き取る際に、フラットスペーサSに転写して、スペー
サ、TABテープを汚染したり、インクマーク自体が薄
くなってしまい、不良マーキングが認識できないなどの
おそれの全くない、不良表示(マーク)を迅速かつ確実
に施すことの可能な電子部品実装用フィルムキャリアテ
ープの不良マーキング装置および電子部品実装用フィル
ムキャリアテープの不良マーキング方法を提供すること
を目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は、前述したよう
な従来技術における課題及び目的を達成するために発明
なされたものであって、本発明の電子部品実装用フィル
ムキャリアテープの不良マーキング装置は、電子部品実
装用フィルムキャリアテープの検査不良部分にマーキン
グするための不良マーキング装置であって、前記電子部
品実装用フィルムキャリアテープの表面または裏面にイ
ンクでマーキングするインクマーキング装置を備え、前
記インクマーキング装置が、所定の不良マークが刻設さ
れた印面部を有するスタンプ部材を備え、前記電子部品
実装用フィルムキャリアテープの不良部分に前記スタン
プ部材の印面部が当接した際に、前記印面部からのイン
キの滲出により印面部に刻設された不良マークによっ
て、電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良部分
にインクマーキングをするように構成されるとともに、
前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの印面部と
の当接面と反対側の面側から、前記電子部品実装用フィ
ルムキャリアテープの面に転写されたインクを乾燥させ
る加熱装置を設けたことを特徴とすることを特徴とす
る。
【0018】また、本発明の電子部品実装用フィルムキ
ャリアテープの不良マーキング方法は、電子部品実装用
フィルムキャリアテープの検査不良部分にマーキングす
るための不良マーキング方法であって、前記電子部品実
装用フィルムキャリアテープの表面または裏面の不良部
分に、スタンプ部材の所定の不良マークが刻設された印
面部を当接させ、前記印面部からのインキの滲出により
印面部に刻設された不良マークによって、電子部品実装
用フィルムキャリアテープの不良部分にインクマーキン
グを行い、前記印面部が電子部品実装用フィルムキャリ
アテープに当接した際に、前記電子部品実装用フィルム
キャリアテープの印面部との当接面と反対側の面側か
ら、電子部品実装用フィルムキャリアテープに転写され
たインクを加熱することにより乾燥させることを特徴と
する。
【0019】このように構成することによって、電子部
品実装用フィルムキャリアテープの不良である断線、短
絡、欠け、突起などの各種の品質検査の結果に基づい
て、電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良箇所
にインクマーキングをする際に、スタンプ部材の印面部
が当接した際に、当接面と反対側の面側から、電子部品
実装用フィルムキャリアテープに転写されたインクを加
熱するので、インクが外側から乾燥されるのではなく、
内部から乾燥されることになり、迅速にインク全体が乾
燥されることになる。
【0020】従って、不良マーキングが終了した後、電
子部品実装用フィルムキャリアテープが巻き取り装置に
巻き取られるまでの時間が短い場合でも、インクが迅速
に乾燥するので、巻き取り装置に巻き取る際に、スペー
サに転写して、スペーサ、電子部品実装用フィルムキャ
リアテープを汚染したり、インクマーク自体が薄くなっ
てしまい、不良マーキングが認識できないなどのおそれ
が全くなく、しかも不良表示(マーク)を迅速かつ確実
に施すことが可能である。
【0021】また、本発明の電子部品実装用フィルムキ
ャリアテープの不良マーキング装置は、前記インクマー
キング装置によって、インクマーキングがなされた電子
部品実装用フィルムキャリアテープ上のインクに対して
送風して、インクをさらに乾燥させる送風装置を備える
ことを特徴とする。また、本発明の電子部品実装用フィ
ルムキャリアテープの不良マーキング方法は、前記イン
クマーキングがなされた電子部品実装用フィルムキャリ
アテープ上のインクに対して送風することによって、イ
ンクをさらに乾燥させることを特徴とする。
【0022】このようにすることによって、電子部品実
装用フィルムキャリアテープに転写されたインクが外側
から乾燥されるので、より迅速にインク全体を乾燥する
ことが可能になる。さらに、本発明の本発明の電子部品
実装用フィルムキャリアテープの不良マーキング装置
は、前記加熱装置が、加熱板から構成されていることを
特徴とする。
【0023】このように、加熱装置が加熱板からなるの
で、電子部品実装用フィルムキャリアテープ上のインク
に対して、電子部品実装用フィルムキャリアテープの裏
側から直接加熱することができるので、インク内部から
乾燥されることになり、迅速にインク全体を乾燥するこ
とができる。また、本発明の本発明の電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープの不良マーキング装置は、前記加
熱板が、前記スタンプ部材の印面部と電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープを挟んで当接するスタンプ台を構
成していることを特徴とする。
【0024】これにより、電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの不良箇所にインクマーキングをする際に、
スタンプ部材の印面部が当接した際に、加熱板がスタン
プ台として機能するので、インキの転写がスムーズに行
われるとともに、この状態で、当接面と反対側の面側か
ら、電子部品実装用フィルムキャリアテープに転写され
たインクを直接加熱することになる。従って、インクが
内部から乾燥され、迅速にインク全体を乾燥することが
できる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の実施の形態(実施例)について説明する。図1は、本
発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マ
ーキング装置の正面図である。図1に示したように、1
0は全体で本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテ
ープの外観検査装置を示している。
【0026】電子部品実装用フィルムキャリアテープの
外観検査装置10(以下、単に「外観検査装置10」と
言う)は、図1に示したように、送り出し装置20と、
検査部30と、インクマーキング装置60と、巻き取り
装置50とを備えている。送り出し装置20には、例え
ば、CSP、BGAのようなタイプの電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープ(以下、単に「TABテープと言
う」)であって、その製造工程が終了したTABテープ
Tが、スペーサSを介して巻装されたリールRが、送り
出し駆動軸22に装着されている。そして、図示しない
駆動モータの駆動により、送り出し駆動軸22が回転し
て、TABテープTがリールRからスペーサSとともに
繰り出されて、案内ローラ21を介して、検査部30へ
と供給されるようになっている。
【0027】この検査部30に供給されたTABテープ
Tは、バックテンションギア32とドライブギア34の
間を通過する際に、ドライブギア34の駆動が一時停止
されて、TABテープTの送給が停止されるとともに、
TABテープTのスプロケット孔に係合するバックテン
ションギア32の逆転によって、TABテープTが正確
に所定の位置に、例えば、TABテープTのスプロケッ
ト孔を基準にして、位置決めされるようになっている
(ピッチ送りされる)。すなわち、ドライブギア34の
駆動が一時停止されて、TABテープTの送給が停止さ
れるようになっている。なお、この場合の制御は、ドラ
イブギア34の回転を、ドライブギア34を駆動する駆
動機構であるのパルスモータの回転による内部パルスを
制御することにより行うようになっている。図中、3
1、33は、これらのギアとの間でTABテープTを押
さえるための押さえローラである。
【0028】そして、検査部30には、図1に示したよ
うに、例えば、断線、短絡、欠け、突起などの外観検査
を、反射光または透過光を利用して、人の目視にて実施
するための顕微鏡36が配置されている。そして、この
顕微鏡で、不良部分が発見されたTABテープTの裏面
または表面に(以下、単に「不良面」と言う。)電子部
品実装部に、インキングによるマークを施すためのイン
クマーキング装置60が配置されている。
【0029】このように、インクマーキング装置60に
よって、TABテープTの不良箇所の所定位置に、所定
のマーキングが施された後、TABテープTは、案内ロ
ーラ42を通過して、次の巻き取り装置50に供給され
る。図1に示したように、巻き取り装置50に供給され
たTABテープTは、巻き取り駆動軸52に装着された
リールRに、案内ローラ42を介して、図示しない駆動
モータの駆動により巻き取り駆動軸52が回転すること
により、TABテープTが巻き取られる。
【0030】この際、送り出し装置20のリールRから
繰り出されたスペーサSが、案内ローラ56、57及び
巻き弛み防止器59を介して、巻き取り装置50のリー
ルRに供給されTABテープの間に介装され、TABテ
ープ同士が接触して、TABテープが損傷しないように
保護するようになっている。また、外観検査装置10で
は、リールRに巻装されたTABテープTが、送り出し
装置20から送給された後、バックテンションギア32
によりTABテープTにテンション(張力)が付加さ
れ、案内ローラ21を介して、実体顕微鏡など備えた検
査部30に供給されるようになっている。
【0031】また、同様に、検査部30にて検査が終了
し、一定のマーキングが施されたTABテープTは、案
内ローラ42を介して案内された後、案内ローラ42と
巻き取り装置50のリールRとの間で、TABテープT
がその自重によって、一定の長さ分だけ垂下され、この
自重によってTABテープTにテンション(張力)が付
加され、巻き取り装置50のリールRに巻き取られるよ
うになっている。
【0032】検査部30の顕微鏡36で検出された不良
情報が、TABテープTの送給方向に不良箇所の存在す
る電子部品実装ユニットの所定番目の位置、不良部分の
テープの長手方向の位置、幅方向の位置が、図示しない
制御装置に入力されるようになっている。インクマーキ
ング装置60は、図2および図3に示したように、外観
検査装置10の基台11上を、図示しないモーター、ボ
ールネジ、ピストンシリンダ機構などの駆動機構によっ
て、案内レール66、68、73を移動して、TABテ
ープTに対して、幅方向、長手方向、および上下方向に
位置移動できるように構成されている。
【0033】また、インクマーキング装置60は、イン
クマーキング装置本体72を備えており、一方側の上部
が、図2〜図3に示したように、側方に(TABテープ
Tの幅方向手前側に)突設した上方インキング部74が
設けられている。上方インキング部74には、その下方
にインキングユニット76が、ピストンシリンダなどの
移動機構71によって、図2〜図3に示したように、案
内レール73に沿って、矢印Aのように上下動できるよ
うに構成されている。このインキングユニット76の下
端には、スタンプ部材78が保持され、インキングユニ
ット76全体を、またはスタンプ部材78を交換できる
ように脱着自在な構成となっている。
【0034】このスタンプ部材78は、印面部80を有
しており、印面部にTABテープの不良部分の不良面に
印面部80が当接した際に、図示しないインキ貯留部に
貯留されたインキが、この印面部80に設けられた多孔
部(図示せず)より滲出して、TABテープの不良部分
の不良面にマーキングされるようになっている。なお、
このスタンプ部材78の材質は特に限定されるものでは
ないが、例えば、シリコンゴムなどで構成すれば、TA
Bテープの表面のリードなどを損傷しないためには好ま
しい。また、印面部80には、所定の不良マークが刻設
されていてもよい。
【0035】さらに、図2および図3に示したように、
インクマーキング装置本体72の側部には、L字形状の
テーブル部材75が形成されており、このテーブル部材
75の上面に加熱板(ホットプレート)92を備えた加
熱装置90が配設されており、この加熱板92がスタン
プ台を構成している。このような構成のインクマーキン
グ装置60は、下記のように作動する。
【0036】すなわち、検査部30の顕微鏡36で不良
マークが検出された場合、ドライブギア34の回転を、
ドライブギア34を駆動する駆動機構であるパルスモー
タの回転による内部パルスを制御することにより、TA
BテープTの不良箇所が、インクマーキング装置60に
到達した時点で、ドライブギア34の駆動が一時停止さ
れて、TABテープの搬送が停止される。そして、制御
装置の記憶部内に入力された不良マークの情報に基づい
て、インクマーキング装置60が、原点位置(初期位
置)から、TABテープTに対して、幅方向、長手方向
に移動して、TABテープTの不良箇所の直上に位置す
るように制御される。
【0037】この状態で、図2の矢印Aに示したよう
に、スタンプ部材78が下降して、インキングユニット
76のスタンプ部材78が下降して、その印面部80
が、TABテープの不良部分の表面又は裏面に当接し
て、図示しないインキ貯留部に貯留されたインキが、こ
の印面部80に設けられた多孔部(図示せず)より滲出
して、不良マークが、TABテープの不良部分の不良面
の所定の箇所にマーキングされるようになっている。
【0038】この際、加熱装置90の加熱板92が、ス
タンプ台を構成しているので、スタンプ部材78の印面
部80がTABテープの不良箇所の不良面に当接した際
に、スタンプ部材78の印面部80とこの加熱板92と
の間にTABテープTを支持して、加熱板がスタンプ台
として機能するので、インキの転写がスムーズに行われ
るとともに、インクによるマーキングを確実に行うよう
になっている。
【0039】また、この当接の際に、加熱装置90の加
熱板92からの熱によって、TABテープTの当接面と
反対側の面側から、TABテープTに転写されたインク
を加熱するので、TABテープに転写されたインクを直
接加熱することになる。これにより、インクが内部から
乾燥され、迅速にインク全体を乾燥することができる。
【0040】従って、不良マーキングが終了した後、T
ABテープが巻き取り装置50に巻き取られるまでの時
間が短い場合でも、インクが迅速に乾燥するので、巻き
取り装置50に巻き取る際に、スペーサに転写して、ス
ペーサS、TABテープTを汚染したり、インクマーク
自体が薄くなってしまい、不良マーキングが認識できな
いなどのおそれが全くなく、しかも不良表示(マーク)
を迅速かつ確実に施すことが可能である。
【0041】なお、この際、加熱装置90における加熱
時間、加熱温度としては、インクの種類、乾燥性(速乾
性)にもより、特に限定されるものではないが、テープ
への影響を考慮すれば、加熱温度は50〜80℃、加熱
時間は、0.1〜1秒の範囲にあるのが望ましい。そし
て、このようにインキングユニット76のスタンプ部材
78が上昇して初期位置に復帰する。
【0042】これらの一連のステップが、同一ロットの
TABテープTにおいて繰り返されることになる。この
ように、図1に示したように、インクマーキング装置6
0によって、TABテープTの不良箇所の不良面の所定
位置に、所定のマーキングが施された後、TABテープ
Tは、案内ローラ42を介して案内された後、案内ロー
ラ42と巻き取り装置50のリールRとの間で、一定の
長さ分だけ垂下されているが、この間に、送風装置40
を通過することになる。
【0043】この送風装置40は、インクマーキング装
置60によってインクマーキングがなされインクが乾燥
されたTABテープT上のインクに対して、空気を送風
することによってインクをさらに表面から乾燥させるた
めのものである。このようにすることによって、TAB
テープTに転写されたインクが外側から乾燥されるの
で、より迅速にインク全体を乾燥することが可能であ
る。
【0044】この場合、送風装置40から送風される空
気の温度は、インクの種類、乾燥性(速乾性)、インク
マーキング装置60での加熱装置90による乾燥度合い
にもより、また、冷風でも温風でも良く、特に限定され
るものではない。そして、このように送風装置40で、
完全にインクが乾燥されたTABテープTは、巻き取り
装置50の巻き取り駆動軸52に装着されたリールRに
巻き取られる。
【0045】なお、上記実施例では、加熱装置90とし
て、スタンプ台として機能する加熱板92を用いたが、
加熱装置90は、これに限定されるものではなく、TA
BテープTのスタンプ部材78の当接面とは反対側の面
から加熱できるものであれば良く、例えば、シーズヒー
タ、熱風加熱装置、赤外線加熱装置などのその他の様々
な加熱装置を採用することができる。
【0046】また、この実施例では、スタンプ部材78
を上方から下降させて、TABテープTに当接する上打
ちタイプのものを用いたが、スタンプ部材78を下方か
ら上昇させてTABテープTに当接する下打ちタイプ、
スタンプ部材78を横方向からTABテープTに当接す
る横打ちタイプに使用することもできる。また、インク
マーキング装置60として、図8に示した従来のインク
マーキング装置本体440を用いることもできる。
【0047】このようなインクマーキング装置60で
は、図4に示したように、その側部に(TABテープT
の幅方向手前側に)、インク供給部82が設けられてい
る。このインク供給部82の内部には、インク88を貯
留する円盤皿形状のインク供給カップ部材84が、開口
部を下方になるように、インク供給プレート部材86の
上方に配置されている。
【0048】このインク供給プレート部材86は、図示
しないピストンシリンダなどの移動機構によって、図4
に示したように、TABテープTの幅方向Cに移動可能
となっている。また、インク供給プレート部材86の上
面86aには、スタンプ部材78の印面部80の形状に
合致した形状のインク溝85が形成されている。
【0049】さらに、図2および図3と同様に、図示し
ないが、インクマーキング装置本体72の側部には、L
字形状のテーブル部材75が形成されており、このテー
ブル部材75の上面に加熱板(ホットプレート)92を
備えた加熱装置90が配設されており、この加熱板92
がスタンプ台を構成している。このような構成のインク
マーキング装置60は、下記のように作動する。
【0050】上記のように、制御装置の記憶部内に入力
された不良マークの情報に基づいて、インクマーキング
装置60が、原点位置(初期位置)から、TABテープ
Tに対して、幅方向、長手方向に移動して、TABテー
プTの不良箇所の直上に位置するように制御される。こ
の状態で、インク供給プレート部材86が、TABテー
プTの幅方向手前側に移動した際に、インク供給カップ
部材84の下方を摺動してインク供給プレート部材86
の上面86aのインク溝85にインク88が付着し、図
4の一点鎖線に示したように、インキングユニット76
のスタンプ部材78の下方に位置するようになってい
る。
【0051】この状態で、図4の矢印Aに示したよう
に、スタンプ部材78が下降して、インク供給プレート
部材86の上面86aのインク溝85に付着したインク
88がインク溝の形状で印面部80に転写されるように
なっている。そして、再び、図4に示したように、イン
キングユニット76のスタンプ部材78が上昇して、待
機位置となるとともに、インク供給プレート部材86
が、TABテープTの幅方向後ろ側に移動して、実線の
待機位置へと復帰するようになっている。
【0052】その後、図4に示したように、インキング
ユニット76のスタンプ部材78が下降して、その印面
部80が、TABテープの不良部分の表面又は裏面に当
接して、不良マークが、TABテープの不良部分の不良
面の所定の箇所にマーキングされるようになっている。
以上、本発明の好ましい実施の態様を説明したが、本発
明はこれに限定されるものではなく、上記実施例では、
検査部30での検査を人の目視にて実施するための顕微
鏡36としたが、ラインセンサによる自動認識の結果に
基づいて、インクマーキングを行う際に、TABテープ
Tが巻き取り装置に巻き取られるまでの時間が短い場合
に適用できる。また、このように裏面から加熱する方式
は、本発明のスタンプ部材の印面が当接するスタンプ方
式だけでなく、インクをノズルから噴射させ、インクを
電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良箇所にイ
ンクマーキングするインクジェット方式(インク噴射
式)にも、同様に適用すればインク乾燥効果を奏するこ
とが出来るなど本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の
変更が可能である。
【0053】
【発明の効果】本発明によれば、電子部品実装用フィル
ムキャリアテープの不良である断線、短絡、欠け、突起
などの各種の品質検査の結果に基づいて、電子部品実装
用フィルムキャリアテープの不良箇所にインクマーキン
グをする際に、スタンプ部材の印面部が当接した際に、
当接面と反対側の面側から、電子部品実装用フィルムキ
ャリアテープに転写されたインクを加熱するので、イン
クが外側から乾燥されるのではなく、内部から乾燥され
ることになり、迅速にインク全体が乾燥されることにな
る。
【0054】従って、不良マーキングが終了した後、電
子部品実装用フィルムキャリアテープが巻き取り装置に
巻き取られるまでの時間が短い場合でも、インクが迅速
に乾燥するので、巻き取り装置に巻き取る際に、スペー
サに転写して、スペーサ、電子部品実装用フィルムキャ
リアテープを汚染したり、インクマーク自体が薄くなっ
てしまい、不良マーキングが認識できないなどのおそれ
が全くなく、しかも不良表示(マーク)を迅速かつ確実
に施すことが可能である。
【0055】また、本発明によれば、電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープ上のインクに対して送風すること
によって、電子部品実装用フィルムキャリアテープに転
写されたインクが外側から乾燥されるので、より迅速に
インク全体を乾燥することが可能になる。さらに、本発
明によれば、加熱装置が加熱板からなるので、電子部品
実装用フィルムキャリアテープ上のインクに対して、電
子部品実装用フィルムキャリアテープの裏側から直接加
熱するので、インク内部から乾燥されることになり、迅
速にインク全体を乾燥することができる。
【0056】また、本発明によれば、電子部品実装用フ
ィルムキャリアテープの不良箇所にインクマーキングを
する際に、スタンプ部材の印面部が当接した際に、加熱
板がスタンプ台として機能するので、インキの転写がス
ムーズに行われるとともに、この状態で、当接面と反対
側の面側から、電子部品実装用フィルムキャリアテープ
に転写されたインクを直接加熱することになる。従っ
て、インクが内部から乾燥され、迅速にインク全体を乾
燥することができるなどの幾多の作用効果を奏する極め
て優れた発明である。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの不良マーキング装置の正面図である。
【図2】図2は、図1のインクマーキング装置の正面図
である。
【図3】図3は、図2のIII方向の端面図である。
【図4】図4は、本発明の電子部品実装用フィルムキャ
リアテープの不良マーキング装置の作動を説明する概略
図である。
【図5】図5は、は、従来のTABテープの概略図であ
る。
【図6】図6は、従来のBGAタイプTABテープの部
分拡大断面図である。
【図7】図7は、従来の電子部品実装用フィルムキャリ
アテープの検査装置の概略図である。
【図8】図8は、従来の電子部品実装用フィルムキャリ
アテープの不良マーキング装置の概略図である。
【符号の説明】
10 外観検査装置 11 基台 20 送り出し装置 21 案内ローラ 22 駆動軸 30 検査部 32 バックテンションギア 34 ドライブギア 36 顕微鏡 40 送風装置 42 案内ローラ 50 巻き取り装置 52 駆動軸 56 案内ローラ 59 巻き弛み防止器 60 インクマーキング装置 66 案内レール 71 移動機構 72 インクマーキング装置本体 73 案内レール 74 上方インキング部 75 テーブル部材 76 インキングユニット 78 スタンプ部材 80 印面部 82 インク供給部 85 インク溝 86 インク供給プレート部材 86a 上面 88 インク 90 加熱装置 92 加熱板 R リール S スペーサ T テープ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子部品実装用フィルムキャリアテープ
    の検査不良部分にマーキングするための不良マーキング
    装置であって、 前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面また
    は裏面にインクでマーキングするインクマーキング装置
    を備え、 前記インクマーキング装置が、所定の不良マークが刻設
    された印面部を有するスタンプ部材を備え、 前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良部分
    に前記スタンプ部材の印面部が当接した際に、前記印面
    部からのインキの滲出により印面部に刻設された不良マ
    ークによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープ
    の不良部分にインクマーキングをするように構成される
    とともに、 前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの印面部と
    の当接面と反対側の面側から、前記電子部品実装用フィ
    ルムキャリアテープの面に転写されたインクを乾燥させ
    る加熱装置を設けたことを特徴とする電子部品実装用フ
    ィルムキャリアテープの不良マーキング装置。
  2. 【請求項2】 前記インクマーキング装置によって、イ
    ンクマーキングがなされた電子部品実装用フィルムキャ
    リアテープ上のインクに対して送風して、インクをさら
    に乾燥させる送風装置を備えることを特徴とする請求項
    1に記載の電子部品実装用フィルムキャリアテープの不
    良マーキング装置。
  3. 【請求項3】 前記加熱装置が、加熱板から構成されて
    いることを特徴とする請求項1または2のいずれかに記
    載の電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良マー
    キング装置。
  4. 【請求項4】 前記加熱板が、前記スタンプ部材の印面
    部と電子部品実装用フィルムキャリアテープを挟んで当
    接するスタンプ台を構成していることを特徴とする請求
    項3に記載の電子部品実装用フィルムキャリアテープの
    不良マーキング装置。
  5. 【請求項5】 電子部品実装用フィルムキャリアテープ
    の検査不良部分にマーキングするための不良マーキング
    方法であって、 前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの表面また
    は裏面の不良部分に、スタンプ部材の所定の不良マーク
    が刻設された印面部を当接させ、 前記印面部からのインキの滲出により印面部に刻設され
    た不良マークによって、電子部品実装用フィルムキャリ
    アテープの不良部分にインクマーキングを行い、 前記印面部が電子部品実装用フィルムキャリアテープに
    当接した際に、前記電子部品実装用フィルムキャリアテ
    ープの印面部との当接面と反対側の面側から、電子部品
    実装用フィルムキャリアテープに転写されたインクを加
    熱することにより乾燥させることを特徴とする電子部品
    実装用フィルムキャリアテープの不良マーキング方法。
  6. 【請求項6】 前記インクマーキングがなされた電子部
    品実装用フィルムキャリアテープ上のインクに対して送
    風することによって、インクをさらに乾燥させることを
    特徴とする請求項5に記載の電子部品実装用フィルムキ
    ャリアテープの不良マーキング方法。
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WO2007145022A1 (ja) 2006-06-16 2007-12-21 Fujifilm Corporation 窓用偏光膜及び乗り物用前窓

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