JP2002069415A - Bonding material and electronic-parts module using it - Google Patents

Bonding material and electronic-parts module using it

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JP2002069415A
JP2002069415A JP2000259679A JP2000259679A JP2002069415A JP 2002069415 A JP2002069415 A JP 2002069415A JP 2000259679 A JP2000259679 A JP 2000259679A JP 2000259679 A JP2000259679 A JP 2000259679A JP 2002069415 A JP2002069415 A JP 2002069415A
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epoxy resin
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resin
adhesive layer
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Isamu Kirikihira
勇 桐木平
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Kyocera Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a bonding material for forming a bonding material layer that is excellent in a thermal history at mounting, anti-thermal fatigue at temperature cycle test (TCT) and moisture-proof at accelerated test (HAST). SOLUTION: The bonded material is constituted of a mixture of epoxy resin, a curing agent starting reaction at 100-200 deg.C, a thermoplastic resin with its weight average molecular weight of 10,000-500,000, an elastomer with its glass transition temperature of -60--20 deg.C and an inorganic insulating filler of 0.1-0.2 μm average diameter coated by resin consisting of either of epoxy resin, acrylic resin, phenol resin or acrylonitrile-styrene resin, and is characterized by a moisture permeability after curing of 10-100g/m2 measured by the method specified in JIS-Z-0208.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、表面に配線導体層
が被着される接着材層を形成するための接着材およびこ
れを用いた電子部品モジュールに関するものであり、特
に電子部品実装時の熱履歴や温度サイクル試験(TC
T)に対する耐熱疲労性および加速試験(HAST)に
対する耐湿性等に優れるとともに高い絶縁抵抗を有する
接着材層を形成するための接着材およびこれを用いた高
い信頼性を有する電子部品モジュールに関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an adhesive for forming an adhesive layer on a surface of which a wiring conductor layer is adhered, and an electronic component module using the same. Thermal history and temperature cycle test (TC
The present invention relates to an adhesive for forming an adhesive layer having excellent thermal fatigue resistance to T) and moisture resistance to an accelerated test (HAST) and a high insulation resistance, and to a highly reliable electronic component module using the same. is there.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器は、特に移動用あるいは
携帯用電子機器の分野での各種通信機器等に代表される
ように小型・薄型・軽量化の傾向がより一層強くなって
きており、このような電子機器に搭載される電子部品モ
ジュールも小型・高密度化が要求されるようになってき
ている。
2. Description of the Related Art In recent years, electronic devices have become more compact, thinner and lighter, as typified by various types of communication devices in the field of mobile or portable electronic devices. The electronic component modules mounted on such electronic devices have also been required to be smaller and higher in density.

【0003】このような要求に対して、ガラス繊維と有
機樹脂とから成る絶縁基板に、低抵抗金属である銅(C
u)や金(Au)等から成る配線導体層を薄膜形成法に
より形成して成る配線基板が電子部品モジュールとして
用いられるようになってきている。
In response to such demands, copper (C) which is a low-resistance metal is provided on an insulating substrate made of glass fiber and an organic resin.
A wiring board formed by forming a wiring conductor layer made of u) or gold (Au) by a thin film forming method has been used as an electronic component module.

【0004】このような配線基板は、より一層の高密度
配線化の要求や機械的強度を確保するとともに絶縁基体
と配線導体との熱膨張の整合性の観点から、例えば、ガ
ラス繊維やアラミド繊維等の補強材に耐熱性や耐薬品性
に優れたエポキシ樹脂に代表される熱硬化性樹脂を含浸
させて複合化した絶縁基板上に、エポキシ樹脂等の熱硬
化性樹脂から成る接着材を塗布して接着材層を形成し、
この接着材層を加熱硬化させた後、接着材層にレーザ等
で貫通孔を穿設し、その後、接着材層表面を化学粗化
し、さらに貫通孔の内部に無電解めっき法および電解め
っき法により銅膜を被着形成して導体層を形成すると同
時に接着材層表面に配線導体層を形成し、このような接
着材層と配線導体層との形成を順次繰り返すビルドアッ
プ工法により製作されている。
[0004] Such a wiring board is made of, for example, glass fiber or aramid fiber, from the viewpoint of ensuring the demand for higher density wiring and ensuring the mechanical strength and matching the thermal expansion between the insulating base and the wiring conductor. An adhesive made of a thermosetting resin such as epoxy resin is applied to an insulating substrate that is made by impregnating a reinforcing material such as a thermosetting resin typified by an epoxy resin with excellent heat resistance and chemical resistance onto a composite insulating substrate. To form an adhesive layer,
After the adhesive layer is cured by heating, a through hole is formed in the adhesive layer with a laser or the like, and then the surface of the adhesive layer is chemically roughened. Further, the inside of the through hole is subjected to electroless plating and electrolytic plating. At the same time as forming a conductor layer by applying a copper film, a wiring conductor layer is formed on the surface of the adhesive layer, and is manufactured by a build-up method in which such formation of the adhesive layer and the wiring conductor layer is sequentially repeated. I have.

【0005】また、このような配線基板は、半導体素子
をはじめとする各種電子部品を実装する際の熱や高密度
実装による電子部品の発熱によって生じる熱歪を抑制す
るために、通常、接着材層に熱膨張係数が低く熱伝導の
良好な平均粒径が5〜20μmのシリカやアルミナ等の無
機絶縁性フィラーを30〜80重量%程度含有させて、接着
材と絶縁基板や配線導体層との熱膨張係数を整合させる
ことが行われている。
[0005] Further, such a wiring board is usually provided with an adhesive material in order to suppress heat generated when mounting various electronic components such as semiconductor elements and heat generated by the electronic components due to high-density mounting. The layer contains about 30 to 80% by weight of an inorganic insulating filler such as silica or alumina having an average particle size of 5 to 20 μm, which has a low coefficient of thermal expansion and good thermal conductivity, so that the adhesive and the insulating substrate or the wiring conductor layer Of the thermal expansion coefficients of the same.

【0006】さらに、このような配線基板は、配線基板
表面の配線導体層上に形成された半田等から成る導体バ
ンプを介して半導体素子をはじめとする各種電子部品を
電気的に接続することにより半導体装置等の電子部品モ
ジュールと成る。
Further, such a wiring board is provided by electrically connecting various electronic components such as semiconductor elements via conductor bumps made of solder or the like formed on a wiring conductor layer on the surface of the wiring board. It becomes an electronic component module such as a semiconductor device.

【0007】しかしながら、このような無機絶縁性フィ
ラーを充填した接着材層は、それ自体の熱膨張係数は低
くなるものの、実装時の半田付けの熱応力により接着材
層の樹脂と無機絶縁性フィラーとの界面において歪が生
じることにより界面剥離や界面亀裂等を生じ、例えば、
JIS−C−6481に規定された絶縁抵抗の測定方法で耐電圧
値として500Vの高電圧を印加すると、界面に電気が流
れ易くなり容易に絶縁破壊してしまうという問題点を有
していた。
However, although the adhesive layer filled with such an inorganic insulating filler has a low coefficient of thermal expansion, the resin of the adhesive layer and the inorganic insulating filler due to the thermal stress of soldering during mounting. Interfacial peeling and interfacial cracking occur due to distortion at the interface with, for example,
When a high voltage of 500 V is applied as a withstand voltage value according to the insulation resistance measurement method specified in JIS-C-6481, there is a problem that electricity easily flows to the interface and dielectric breakdown easily occurs.

【0008】そこでこのような問題点を解決するため
に、接着層にシランカップリング剤で表面処理した平均
粒径が2〜15μmで好適には粒子径が50μm以下のシリ
カやアルミナ等の熱伝導性の良好な無機絶縁性フィラー
を充填した、放熱が良好で実装時に絶縁破壊することの
ない信頼性の高い接着材層およびプリント回路基板が提
案されている(特開平9−331122号公報参照)。
Therefore, in order to solve such problems, the surface of the adhesive layer treated with a silane coupling agent has a mean particle size of 2 to 15 μm, preferably 50 μm or less. There has been proposed a highly reliable adhesive material layer and a printed circuit board which are filled with an inorganic insulating filler having good heat dissipation, have good heat dissipation, and do not cause dielectric breakdown during mounting (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-331122). .

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなシランカップリング剤で表面処理した無機絶縁性フ
ィラーを充填した接着材層を有するプリント回路基板
は、電子部品を実装する際の熱履歴による絶縁破壊の発
生は防止できるものの、例えば、温度が130℃で相対湿
度が85%の恒温恒湿槽中でプリント回路基板の端子間に
5.5Vの直流電圧を連続して印加する加速試験(HAS
T)による信頼性評価においては、接着材層が吸湿して
シランカップリング剤が加水分解するために無機絶縁性
フィラーと熱硬化性樹脂から成るマトリックスとの界面
に剥離が生じて水分が溜まり、その結果、イオンマイグ
レーションを起し、絶縁抵抗が急激に低下してしまうと
いう問題点を有していた。
However, a printed circuit board having an adhesive layer filled with an inorganic insulating filler surface-treated with a silane coupling agent as described above is not suitable for insulation due to heat history when electronic components are mounted. Although destruction can be prevented, for example, between the terminals of a printed circuit board in a thermo-hygrostat at a temperature of 130 ° C and a relative humidity of 85%
Acceleration test (HAS) in which a DC voltage of 5.5 V is continuously applied
In the reliability evaluation by T), since the adhesive layer absorbs moisture and the silane coupling agent is hydrolyzed, peeling occurs at the interface between the inorganic insulating filler and the matrix made of the thermosetting resin, and water accumulates. As a result, there is a problem that ion migration is caused and the insulation resistance is rapidly reduced.

【0010】即ち、このような接着材層は、飽和吸水す
ると接着材層を形成する無機絶縁性フィラーと熱硬化性
樹脂とから成るマトリックスとの界面を伝わって水分が
透過し易く、JIS−Z−0208に規定された方法により測定
した透湿度が150g/m2以上の高いものとなってしまう
という問題点有していた。
That is, such an adhesive layer easily transmits moisture along the interface between the inorganic insulating filler forming the adhesive layer and the matrix composed of the thermosetting resin when saturated water is absorbed. There is a problem that the water vapor permeability measured by the method specified in stipulated in stipulation of −0208 is as high as 150 g / m 2 or more.

【0011】また、接着材層のマトリックスを形成する
熱硬化性の有機樹脂には製造過程の精製工程で除去でき
ないイオン不純物が存在することから、接着材層の厚み
より大きな粒径を有する無機絶縁性フィラーを用いると
無機絶縁性フィラーの粒子が絶縁層の表裏両面を架橋し
てしまい、その結果、加速試験(HAST)を行った場
合、イオン不純物が無機絶縁性フィラーと有機樹脂との
界面に沿って接着材層の表裏両面を容易に移動して接着
材層の絶縁抵抗を著しく低下させてしまい、電気的に短
絡してしまうという問題点も有していた。
In addition, since the thermosetting organic resin forming the matrix of the adhesive layer contains ionic impurities that cannot be removed in the purification step of the manufacturing process, the inorganic insulating material having a particle size larger than the thickness of the adhesive layer is present. When the conductive filler is used, the particles of the inorganic insulating filler cross-link the front and back surfaces of the insulating layer. As a result, when the accelerated test (HAST) is performed, ionic impurities are present at the interface between the inorganic insulating filler and the organic resin. There is also a problem that the front and back surfaces of the adhesive layer are easily moved along the gap, thereby significantly lowering the insulation resistance of the adhesive layer and causing an electrical short circuit.

【0012】本発明は、かかる従来技術の問題点に鑑み
案出されたものであり、その目的は、実装時の熱履歴や
温度サイクル試験(TCT)に対する耐熱疲労性および
加速試験(HAST)に対する耐湿性に優れ、イオンマ
イグレーションの発生を防止する信頼性に優れた接着材
層を形成するための接着材およびこれを用いて製作した
高い信頼性を有する電子部品モジュールを提供すること
にある。
The present invention has been devised in view of the problems of the prior art described above, and has as its object a heat history at the time of mounting and a thermal fatigue resistance against a temperature cycle test (TCT) and an acceleration test (HAST) against acceleration. An object of the present invention is to provide an adhesive for forming an adhesive layer having excellent moisture resistance and preventing occurrence of ion migration and having high reliability, and a highly reliable electronic component module manufactured using the adhesive.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明の接着材は、エポ
キシ樹脂混合物と、100〜200℃の温度で反応が開始する
硬化剤と、重量平均分子量が10000〜500000の熱可塑性
樹脂と、ガラス転移温度が−60〜−20℃のエラストマー
と、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂また
はアクリルニトリル−スチレン樹脂のいずれかより成る
樹脂被覆層を有する平均粒径が0.1〜2μmの無機絶縁
性フィラーとから成り、硬化後の透湿度がJIS−Z−0208
に規定された方法により測定して10〜100g/m2である
ことを特徴とするものである。
The adhesive of the present invention comprises: an epoxy resin mixture; a curing agent which starts a reaction at a temperature of 100 to 200 ° C .; a thermoplastic resin having a weight average molecular weight of 10,000 to 500,000; An elastomer having a transition temperature of −60 to −20 ° C., and an inorganic insulating filler having an average particle size of 0.1 to 2 μm having a resin coating layer made of any one of an epoxy resin, an acrylic resin, a phenol resin and an acrylonitrile-styrene resin. Consisting of JIS-Z-0208
Characterized in that it is 10 to 100 g / m 2 as measured by the method specified in (1).

【0014】また、本発明の接着材は、上記構成におい
てエポキシ樹脂混合物が、多官能エポキシ樹脂20〜80重
量%と2官能エポキシ樹脂20〜80重量%とから成るとと
もに、エポキシ樹脂混合物に対して外添加で、硬化剤が
2〜10重量%、熱可塑性樹脂が5〜30重量%、エラスト
マーが10〜40重量%、無機絶縁性フィラーが3〜10重量
%添加されていることを特徴とするものである。
In the adhesive of the present invention, the epoxy resin mixture may be composed of 20 to 80% by weight of a polyfunctional epoxy resin and 20 to 80% by weight of a bifunctional epoxy resin. In addition to the above, 2 to 10% by weight of a curing agent, 5 to 30% by weight of a thermoplastic resin, 10 to 40% by weight of an elastomer, and 3 to 10% by weight of an inorganic insulating filler are added. Things.

【0015】さらに、本発明の接着材は、上記構成にお
いてフィルム状であることを特徴とするものである。
Further, the adhesive of the present invention is characterized in that it is in the form of a film in the above constitution.

【0016】本発明の電子備品モジュールは、絶縁基板
と、その絶縁基板上に上記の接着材を用いて形成された
接着材層と、絶縁基板および接着材層の各表面に形成さ
れた複数の配線導体層と、接着材層に穿設された貫通孔
の内部に形成され、複数の配線導体層間を電気的に接続
する貫通導体とから成る配線基板に電子部品を実装して
成る電子部品モジュールであって、接着材層は温度が13
0℃で相対湿度が85%の環境中で5.5Vの電圧を300時間
連続して印加した後の絶縁抵抗が1010Ω以上であること
を特徴とするものである。
The electronic equipment module of the present invention comprises an insulating substrate, an adhesive layer formed on the insulating substrate by using the above-mentioned adhesive, and a plurality of insulating layers formed on each surface of the insulating substrate and the adhesive layer. An electronic component module comprising an electronic component mounted on a wiring board including a wiring conductor layer and a through conductor formed inside a through hole formed in the adhesive layer and electrically connecting a plurality of wiring conductor layers. And the adhesive layer has a temperature of 13
It is characterized by having an insulation resistance of 10 10 Ω or more after continuously applying a voltage of 5.5 V for 300 hours in an environment of 0 ° C. and a relative humidity of 85%.

【0017】本発明の接着材によれば、エポキシ樹脂混
合物が多官能エポキシ樹脂と2官能エポキシ樹脂とから
成ることから接着材の架橋密度を高くすることができ、
その結果、熱による樹脂の分子切断や樹脂中への水分の
侵入を抑制することができ、耐湿性に優れた接着材とす
ることができる。また、重量平均分子量が10000〜50000
0の熱可塑性樹脂を含有していることから、架橋密度を
高めたにも拘らず良好な伸縮性を有するフィルム成形性
に優れた接着材とすることができる。さらに、ガラス転
移温度が−60〜−20℃のエラストマーを含有しているこ
とから、未硬化のフィルムは可撓性に優れ取扱が容易で
あるとともに硬化後のフィルムでも可撓性を維持し熱変
化による応力を吸収することができる。さらに、含有す
る無機絶縁性フィラーの表面をエポキシ樹脂またはアク
リル樹脂、フェノール樹脂、アクリルニトリル−スチレ
ン樹脂のいずれかより成る樹脂で被覆したことから、接
着材層のマトリックスを形成するエポキシ樹脂混合物の
溶解度パラメータ値(sp値=8〜13)と無機絶縁性フ
ィラーを被覆する樹脂のsp値が近似し、無機絶縁性フ
ィラーを被覆する樹脂の分子鎖とエポキシ樹脂混合物の
分子鎖とが良好に絡まり合って両者が強固に密着するこ
とから、無機絶縁性フィラーとエポキシ樹脂混合物との
密着性を良好なものと成すことができ、その結果、エポ
キシ樹脂混合物と無機絶縁性フィラーとの界面を伝わっ
て水分等が透過することはない。また、上記構成におい
て硬化後の透湿度をJIS−Z−0208に規定された方法によ
り測定して10〜100g/m2の範囲と低いものとしたこと
から、加速試験(HAST)に対する耐湿性に優れた接
着材とすることができる。
According to the adhesive of the present invention, since the epoxy resin mixture comprises a polyfunctional epoxy resin and a bifunctional epoxy resin, the crosslinking density of the adhesive can be increased,
As a result, molecular breakage of the resin due to heat and intrusion of moisture into the resin can be suppressed, and an adhesive excellent in moisture resistance can be obtained. In addition, the weight average molecular weight is 10,000 to 50,000
Since the thermoplastic resin contains 0 thermoplastic resin, an adhesive having good stretchability and excellent film moldability can be obtained despite the increased crosslinking density. Furthermore, since it contains an elastomer having a glass transition temperature of −60 to −20 ° C., the uncured film has excellent flexibility and is easy to handle, and the cured film maintains flexibility and maintains heat. The stress caused by the change can be absorbed. Furthermore, since the surface of the contained inorganic insulating filler was coated with a resin composed of any one of an epoxy resin or an acrylic resin, a phenol resin, or an acrylonitrile-styrene resin, the solubility of the epoxy resin mixture forming the matrix of the adhesive layer was increased. The parameter value (sp value = 8 to 13) and the sp value of the resin coating the inorganic insulating filler are similar, and the molecular chain of the resin coating the inorganic insulating filler and the molecular chain of the epoxy resin mixture are satisfactorily entangled. The two firmly adhere to each other, so that good adhesion between the inorganic insulating filler and the epoxy resin mixture can be achieved, and as a result, moisture can be transmitted along the interface between the epoxy resin mixture and the inorganic insulating filler. Etc. are not transmitted. Further, in the above configuration, the moisture permeability after curing was measured by a method specified in JIS-Z-0208 to be as low as 10 to 100 g / m 2 , so that the moisture resistance to the accelerated test (HAST) was improved. Excellent adhesive can be obtained.

【0018】また、本発明の電子部品モジュールによれ
ば、絶縁基板上に上記の接着材を用いて形成した接着材
層を積層して成る配線基板に電子部品を実装したことか
ら、耐熱性・耐湿性に優れた電子部品モジュールとする
ことができる。また、上記構成において、接着材層を、
温度が130℃で相対湿度が85%の環境中で5.5Vの電圧を
300時間連続して印加した後の絶縁抵抗が1010Ω以上の
ものとしたことから、実装時の熱履歴や温度サイクル試
験(TCT)に対する耐熱疲労性に優れるとともに加速
試験(HAST)等の耐湿信頼性試験に対して良好な信
頼性を有する電子部品モジュールとすることができる。
Further, according to the electronic component module of the present invention, since the electronic component is mounted on a wiring board formed by laminating an adhesive layer formed by using the above-mentioned adhesive on an insulating substrate, heat resistance and heat resistance are improved. An electronic component module having excellent moisture resistance can be obtained. Further, in the above configuration, the adhesive layer
5.5V voltage in an environment with a temperature of 130 ° C and a relative humidity of 85%
Since the insulation resistance after continuous application for 300 hours is 10 10 Ω or more, it excels in thermal history during mounting and thermal fatigue resistance against temperature cycle test (TCT) and moisture resistance such as accelerated test (HAST). An electronic component module having good reliability for a reliability test can be obtained.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】次に、本発明の接着材およびこれ
を用いた電子部品モジュールについて詳細に説明する。
Next, the adhesive of the present invention and an electronic component module using the same will be described in detail.

【0020】本発明の接着材は、エポキシ樹脂混合物
と、100〜200℃の温度で反応が開始する硬化剤と、重量
平均分子量が10000〜500000の熱可塑性樹脂と、ガラス
転移温度が−60〜−20℃のエラストマーと、エポキシ樹
脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂またはアクリルニト
リル−スチレン樹脂のいずれかより成る樹脂で被覆され
た平均粒径が0.1〜2μmの無機絶縁性フィラーとから
構成され、硬化後の透湿度がJIS−Z−0208に規定された
方法により測定して10〜100g/m2であることを特徴と
するものである。
The adhesive of the present invention comprises an epoxy resin mixture, a curing agent which initiates a reaction at a temperature of 100 to 200 ° C., a thermoplastic resin having a weight average molecular weight of 10,000 to 500,000, and a glass transition temperature of -60 to 50,000. It is composed of an elastomer at −20 ° C. and an inorganic insulating filler having an average particle size of 0.1 to 2 μm coated with a resin composed of any one of an epoxy resin, an acrylic resin, a phenol resin and an acrylonitrile-styrene resin, and after curing. Has a moisture permeability of 10 to 100 g / m 2 as measured by a method specified in JIS-Z-0208.

【0021】本発明の接着材は、液状ワニスまたは固形
フィルム状のいずれでも使用可能であるが、表面の平坦
性や厚さの制御の容易性等の観点からはフィルム状であ
ることが好ましく、また、その厚さは数μmから数100
μm程度の薄いシート状が好ましい。
The adhesive of the present invention can be used in the form of a liquid varnish or a solid film, but is preferably in the form of a film from the viewpoint of the surface flatness and the ease of controlling the thickness. In addition, the thickness is from several μm to several hundreds.
A thin sheet having a thickness of about μm is preferable.

【0022】また、本発明の接着材は、エポキシ樹脂混
合物を含有していることから架橋密度を高くすることが
でき、熱による分子切断および樹脂中への水分の浸入を
抑制することができ、その結果、耐熱性・耐湿性に優れ
た接着材とすることができる。
Further, since the adhesive of the present invention contains an epoxy resin mixture, it is possible to increase the crosslink density, suppress molecular breakage due to heat and infiltration of moisture into the resin, As a result, an adhesive excellent in heat resistance and moisture resistance can be obtained.

【0023】このようなエポキシ樹脂混合物としては、
耐熱性・耐薬品性・電気特性および加工性の観点から
は、多官能エポキシ樹脂と2官能エポキシ樹脂との混合
物が好ましく、特に、多官能エポキシ樹脂と2官能エポ
キシ樹脂との比率を多官能エポキシ樹脂を20〜80重量%
・2官能エポキシ樹脂を20〜80重量%とすることが好ま
しい。2官能エポキシ樹脂が20重量%より少ないと、接
着材の架橋密度が低くなり耐熱性・耐薬品性が低下して
しまう傾向があり、また、80重量%を超えると架橋密度
が高くなり接着材の可撓性が低下して、硬化後の取り扱
いで破断し易くなる傾向がある。従って、多官能エポキ
シ樹脂と2官能エポキシ樹脂との比率は多官能エポキシ
樹脂20〜80重量%・2官能エポキシ樹脂20〜80重量%と
することが好ましい。
As such an epoxy resin mixture,
From the viewpoints of heat resistance, chemical resistance, electrical properties, and workability, a mixture of a polyfunctional epoxy resin and a bifunctional epoxy resin is preferable. In particular, the ratio of the polyfunctional epoxy resin to the bifunctional epoxy resin is preferably a polyfunctional epoxy resin. 20-80% by weight of resin
-It is preferable to make bifunctional epoxy resin into 20 to 80 weight%. If the amount of the bifunctional epoxy resin is less than 20% by weight, the crosslinking density of the adhesive tends to be low, and the heat resistance and chemical resistance tend to decrease. Has a tendency to decrease in flexibility and to be easily broken during handling after curing. Therefore, the ratio of the polyfunctional epoxy resin to the bifunctional epoxy resin is preferably 20 to 80% by weight of the polyfunctional epoxy resin and 20 to 80% by weight of the bifunctional epoxy resin.

【0024】なお、このような多官能エポキシ樹脂とし
ては、フェノールノボラック型エポシキ樹脂やオルソク
レゾールノボラック型エポシキ樹脂・ナフタレン型エポ
キシ樹脂・ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂・トリ
グリシジルイソシアヌレート・脂環式エポキシ樹脂等が
用いられ、また、2官能エポキシ樹脂としては、ビスフ
ェノールA型エポキシ樹脂やビスフェノールF型エポキ
シ樹脂・ビスフェノールS型エポキシ樹脂・ビフェノー
ル型エポキシ樹脂等が用いられ、さらに、これらのエポ
キシ樹脂に難燃性を付与するために臭素化したエポキシ
樹脂を併用することも可能である。
Examples of such polyfunctional epoxy resins include phenol novolak type epoxy resin, orthocresol novolak type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, triglycidyl isocyanurate and alicyclic epoxy resin. And bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, biphenol type epoxy resin, etc. are used as the bifunctional epoxy resin. It is also possible to use a brominated epoxy resin in combination to impart properties.

【0025】また、本発明の接着材は、エポキシ樹脂混
合物を100〜200℃の温度で反応が開始する硬化剤をエポ
キシ樹脂混合物に対して2〜10重量%含有している。硬
化剤の反応開始温度が100℃より低いと、フィルム成形
時の乾燥工程でフィルムの硬化が進み過ぎて、その柔軟
性が失われフィルムの取扱いに問題が生じる傾向があ
る。また、反応開始温度が200℃を超えるとエポキシ樹
脂混合物の酸化劣化が始まりフィルムが脆くなり易くな
る傾向がある。従って、硬化剤の反応開始温度は100〜2
00℃の範囲であることが好ましい。
The adhesive of the present invention contains a curing agent which initiates a reaction at a temperature of 100 to 200 ° C. with the epoxy resin mixture in an amount of 2 to 10% by weight based on the epoxy resin mixture. If the reaction start temperature of the curing agent is lower than 100 ° C., the curing of the film proceeds excessively in the drying step at the time of film formation, and the flexibility tends to be lost, which tends to cause a problem in handling the film. On the other hand, when the reaction start temperature exceeds 200 ° C., oxidative deterioration of the epoxy resin mixture starts and the film tends to become brittle. Therefore, the reaction starting temperature of the curing agent is 100 to 2
It is preferably in the range of 00 ° C.

【0026】また、硬化剤の添加量が2重量%よりも少
ないと架橋密度が低くなり耐薬品性におとる傾向があ
り、さらに、10重量%を超えると架橋密度が高くなり過
ぎ硬化後のフィルムが脆くなる傾向があり、温度サイク
ル試験(TCT)での信頼性が低下する傾向がある。従
って、硬化剤の添加量はエポキシ樹脂混合物に対して2
〜10重量%の範囲であることが好ましい。
If the amount of the curing agent is less than 2% by weight, the crosslinking density tends to be low and the chemical resistance tends to be low. The film tends to be brittle, and the reliability in the temperature cycle test (TCT) tends to decrease. Therefore, the addition amount of the curing agent is 2 to the epoxy resin mixture.
Preferably it is in the range of ~ 10% by weight.

【0027】このような硬化剤としては、エポキシ樹脂
混合物との反応温度が130〜150℃のメタフェニレンジア
ミンや反応温度が120〜180℃のジアミノジフェニルメタ
ン、反応温度が110〜200℃のジアミノジフェニルスルフ
ォン等の芳香族アミン類、反応温度が160〜180℃のジシ
アンジアミド、反応温度が160〜180℃の2,4−ジアミノ
−6−(2−メチル−1−イミダゾリルエチル)−1,3,5
−トリアジン、反応温度が115〜155℃の2,2,4−ジア
ミノ−6−(2−ウンデシル−1−イミダゾリルエチル)
−1,3,5−トリアジン等のトリアジン類に代表される
構造が剛直な芳香族アミン類やトリアジン類を有する融
点の高いものが用いられる。
Examples of such a curing agent include metaphenylenediamine having a reaction temperature of 130 to 150 ° C. with an epoxy resin mixture, diaminodiphenylmethane having a reaction temperature of 120 to 180 ° C., and diaminodiphenyl sulfone having a reaction temperature of 110 to 200 ° C. Aromatic amines such as dicyandiamide having a reaction temperature of 160 to 180 ° C., and 2,4-diamino-6- (2-methyl-1-imidazolylethyl) -1,3,5 having a reaction temperature of 160 to 180 ° C.
Triazine, 2,2,4-diamino-6- (2-undecyl-1-imidazolylethyl) having a reaction temperature of 115 to 155 ° C.
High-melting aromatic amines and triazines having a rigid structure represented by triazines such as -1,3,5-triazine are used.

【0028】なお、反応温度が適合すればフェノール系
硬化剤および硬化促進剤を併用しても良く、例えばフェ
ノール系硬化剤としてはフェノールノボラック樹脂やオ
ルソノボラック樹脂等、また、硬化促進剤としてはイミ
ダゾール系化合物や有機スルフォン系化合物等の反応温
度が100〜200℃の硬化材および硬化促進剤を使用しても
良い。
If the reaction temperature is suitable, a phenolic curing agent and a curing accelerator may be used in combination. For example, a phenolic curing agent such as a phenol novolak resin or an ortho novolak resin, and a curing accelerator such as imidazole. A curing agent and a curing accelerator having a reaction temperature of 100 to 200 ° C. for a system compound or an organic sulfone compound may be used.

【0029】さらに、本発明の接着材は、重量平均分子
量が10000〜500000の熱可塑性樹脂をエポキシ樹脂混合
物に対して5〜30重量%含有していることから、良好な
伸縮性を有するとともにフィルムの成形性にも優れた接
着材とすることができる。熱可塑性樹脂の重量平均分子
量が10000より小さいと、フィルムが脆くなり成形性が
悪くなる傾向があり、また、500000を超えると接着材の
粘度が高くなり均一な膜厚のフィルムを得られなくなる
傾向がある。従って、熱可塑性樹脂の重量平均分子量は
10000〜500000の範囲であることが好ましい。さらに、
熱可塑性樹脂の含有量が5重量%よりも少ないとフィル
ムが脆くなり良好な伸縮性を得られなくなる傾向があ
り、また、30重量%を超えると耐熱性が低下する傾向が
ある。従って、熱可塑性樹脂の添加量はエポキシ樹脂混
合物に対して5〜30重量%の範囲であることが好まし
い。
Further, since the adhesive of the present invention contains 5 to 30% by weight of a thermoplastic resin having a weight average molecular weight of 10,000 to 500,000 with respect to the epoxy resin mixture, the adhesive has good stretchability and a film. Can also be used as an adhesive having excellent moldability. If the weight average molecular weight of the thermoplastic resin is less than 10,000, the film tends to be brittle and the moldability tends to deteriorate, and if it exceeds 500,000, the viscosity of the adhesive increases and the film having a uniform thickness tends not to be obtained. There is. Therefore, the weight average molecular weight of the thermoplastic resin is
It is preferably in the range of 10,000 to 500,000. further,
When the content of the thermoplastic resin is less than 5% by weight, the film tends to be brittle and good stretchability cannot be obtained, and when it exceeds 30% by weight, the heat resistance tends to decrease. Accordingly, the amount of the thermoplastic resin added is preferably in the range of 5 to 30% by weight based on the epoxy resin mixture.

【0030】このような熱可塑性樹脂としては、ポリエ
チレンテレフタレート(PET)やポリブチレンテレフ
タレート(PBT)・アジピン酸アルキルエステル等の
ポリエステル類、ポリメチルメタクリレート(PMM
A)・ポリブチルメタクリレート(PBMA)等のアク
リル酸エステル類等の粗化液に溶解するものが好まし
い。
Examples of such a thermoplastic resin include polyesters such as polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate (PBT) and alkyl adipate, and polymethyl methacrylate (PMM).
A) It is preferable to dissolve in a roughening liquid such as acrylates such as polybutyl methacrylate (PBMA).

【0031】また、本発明の接着材は、ガラス転移温度
が−60〜−20℃のエラストマーを10〜40重量%含有して
いることから、未硬化のフィルムは可撓性に優れており
取り扱いが容易であるとともに、硬化後でもフィルムの
伸縮性を維持して熱変化による応力を吸収することがで
き、その結果、耐熱疲労性の良好なものとすることがで
きる。ガラス転移温度が−60℃よりも低いと、乾燥後の
接着材のべとつきが大きなものとなりフィルムの取り扱
いが困難となる傾向があり、また、−20℃よりも高いと
硬化後のフィルムの伸縮性が小さなものとなる傾向があ
る。従って、エラストマーのガラス転移温度は−60〜−
20℃の範囲であることが好ましい。さらに、エラストマ
ーの含有量が10重量%よりも少ないと、可撓性が低下す
る傾向があり、また、40重量%を超えると接着材の架橋
密度が低下して耐熱性・耐湿性が低下してしまう傾向が
ある。従って、エラストマーの含有量は、10〜40重量%
の範囲であることが好ましい。
Since the adhesive of the present invention contains 10 to 40% by weight of an elastomer having a glass transition temperature of -60 to -20 ° C, the uncured film is excellent in flexibility and can be handled. In addition to the above, it is possible to maintain the elasticity of the film even after curing, to absorb the stress due to the thermal change, and as a result, it is possible to improve the thermal fatigue resistance. If the glass transition temperature is lower than −60 ° C., the tackiness of the adhesive after drying tends to be large and the handling of the film tends to be difficult, and if it is higher than −20 ° C., the elasticity of the film after curing Tend to be small. Therefore, the glass transition temperature of the elastomer is -60 to-
Preferably it is in the range of 20 ° C. Further, if the content of the elastomer is less than 10% by weight, flexibility tends to decrease, and if it exceeds 40% by weight, the crosslinking density of the adhesive decreases, and the heat resistance and moisture resistance decrease. Tend to be. Therefore, the content of elastomer is 10-40% by weight.
Is preferably within the range.

【0032】このようなエラストマーとしては、アクリ
ルゴム(ACM)やアクリロニトリル−ブタジエンゴム
(NBR)・スチレン−ブタジエン−スチレントリブロ
ックエラストマー(SBS)・スチレン−イソプレン−
スチレントリブロックエラストマー(SIS)等が用い
られる。
Examples of such an elastomer include acrylic rubber (ACM), acrylonitrile-butadiene rubber (NBR), styrene-butadiene-styrene triblock elastomer (SBS), styrene-isoprene-
Styrene triblock elastomer (SIS) or the like is used.

【0033】さらにまた、本発明の接着材は、エポキシ
樹脂混合物に対してエポキシ樹脂、アクリル樹脂、フェ
ノール樹脂またはアクリルニトリル−スチレン樹脂のい
ずれかより成る樹脂被覆層を有する平均粒系が0.1〜2
μmの無機絶縁性フィラーを3〜10重量%している。
Further, the adhesive of the present invention has an average particle size of 0.1 to 2 having a resin coating layer made of any one of epoxy resin, acrylic resin, phenol resin and acrylonitrile-styrene resin with respect to the epoxy resin mixture.
The content of the inorganic insulating filler of 3 μm is 3 to 10% by weight.

【0034】無機絶縁性フィラーはフィルムの強度を高
める機能を有し、無機絶縁性フィラーの平均粒径が0.1
μmより小さいと分散性が悪くなり均一なフィルムが得
られなくなる傾向があり、また、2μmを超えると貫通
孔穿設時の形状が悪くなる傾向がある。従って、無機絶
縁性フィラーの平均粒径は0.1〜2μmの範囲であるこ
とが好ましい。
The inorganic insulating filler has a function of increasing the strength of the film.
If it is smaller than μm, the dispersibility tends to be poor and a uniform film tends not to be obtained, and if it exceeds 2 μm, the shape when drilling through holes tends to be poor. Therefore, the average particle diameter of the inorganic insulating filler is preferably in the range of 0.1 to 2 μm.

【0035】また、無機絶縁性フィラーの表面をエポキ
シ樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂またはアクリル
ニトリル−スチレン樹脂のいずれかより成る樹脂で被覆
したことから、接着材層のマトリックスを形成するエポ
キシ樹脂混合物の溶解度パラメータ値(sp値=8〜1
3)と無機絶縁性フィラーを被覆する樹脂のsp値が近
似し、無機絶縁性フィラーを被覆する樹脂の分子鎖とエ
ポキシ樹脂混合物の分子鎖とが良好に絡まり合って両者
が強固に密着することから、無機絶縁性フィラーとエポ
キシ樹脂混合物との密着性を良好なものと成すことがで
き、その結果、エポキシ樹脂混合物と無機絶縁性フィラ
ーとの界面を伝わって水分等が透過することはない。
Further, since the surface of the inorganic insulating filler is coated with a resin made of any one of an epoxy resin, an acrylic resin, a phenol resin and an acrylonitrile-styrene resin, an epoxy resin mixture forming a matrix of an adhesive layer is formed. Solubility parameter value (sp value = 8 to 1)
3) that the sp value of the resin that coats the inorganic insulating filler is close to that of the resin that coats the inorganic insulating filler, and that the molecular chains of the epoxy resin mixture and the molecular chain of the epoxy resin mixture are entangled satisfactorily, and that both are firmly adhered to each other. Accordingly, good adhesion between the inorganic insulating filler and the epoxy resin mixture can be achieved, and as a result, moisture and the like do not pass through the interface between the epoxy resin mixture and the inorganic insulating filler.

【0036】上記樹脂は、例えば、有機溶液中に無機絶
縁性フィラーを分散させておき、無機絶縁性フィラーの
表面にγ-メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン
やγ-メルカプトプロピルトリメトキシシラン等のシラ
ンカップリング剤を反応させ、その後、メチルメタクリ
レートやエチルアクリレート等の単量体(モノマー)と
ラジカル重合開始材を加えて重合を行うことにより、無
機絶縁性フィラー表面に数nm〜数10nmの厚みに被覆
される。また、無機絶縁性フィラーの表面にγ-グリシ
ドキシプロピルトリメトキシシランやN-β-(アミノエ
チル)γ-アミノプロピルトリメトキシシラン等のシラ
ンカップリング剤を反応させ、さらに、ビスフェノール
A型エポキシやビスフェノールF型エポキシ等のエポキ
シ樹脂を加えて反応させ、無機絶縁性フィラー表面に上
記樹脂を化学的に固着させてもよい。さらに、無機絶縁
性フィラーは、含有量が3重量%よりも少ないとフィル
ムの平坦性が悪くなる傾向があり、また、10重量%を超
えると貫通孔穿設時の形状が悪くなる傾向がある。従っ
て、無機絶縁性フィラーの含有量は3〜10重量%の範囲
が好ましい。なお、無機絶縁フィラーを被覆する樹脂の
厚さは、無機絶縁フィラー粒径の1/100〜1/10が好
ましく、1/100より小さいと樹脂同士の分子鎖の絡ま
り合いが小さいため密着強度に劣る傾向にあり、1/10
を超えるとフィラーが凝集する傾向にある。従って、被
覆する樹脂の厚さは、無機絶縁フィラー粒径の1/100
〜1/10が好ましい。
For example, the above resin is prepared by dispersing an inorganic insulating filler in an organic solution and forming a silane cup such as γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane or γ-mercaptopropyltrimethoxysilane on the surface of the inorganic insulating filler. A ring agent is reacted, and then a monomer (monomer) such as methyl methacrylate or ethyl acrylate and a radical polymerization initiator are added to perform polymerization, thereby covering the surface of the inorganic insulating filler to a thickness of several nm to several tens nm. Is done. Further, a silane coupling agent such as γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane or N-β- (aminoethyl) γ-aminopropyltrimethoxysilane is allowed to react on the surface of the inorganic insulating filler, and further, bisphenol A type epoxy The resin may be chemically fixed to the surface of the inorganic insulating filler by adding and reacting an epoxy resin such as epoxy resin or bisphenol F type epoxy. Further, when the content of the inorganic insulating filler is less than 3% by weight, the flatness of the film tends to deteriorate, and when the content exceeds 10% by weight, the shape at the time of forming a through hole tends to deteriorate. . Therefore, the content of the inorganic insulating filler is preferably in the range of 3 to 10% by weight. The thickness of the resin covering the inorganic insulating filler is preferably 1/100 to 1/10 of the particle diameter of the inorganic insulating filler. If the thickness is smaller than 1/100, the entanglement of the molecular chains between the resins is small, so that the adhesive strength is low. Tends to be inferior, 1/10
If the ratio exceeds the range, the filler tends to aggregate. Therefore, the thickness of the resin to be coated is 1/100 of the particle diameter of the inorganic insulating filler.
〜1 / 10 is preferred.

【0037】このような無機絶縁性フィラーとしては、
酸化ケイ素や酸化アルミニウム・窒化アルミニウム・炭
化珪素・チタン酸カルシウム・酸化チタン・ゼオライト
等の絶縁性の無機微粉末が用いられる。形状としては球
状・破砕状・板状等のいずれでも良いが、分散性の観点
からは球状のものが、また熱膨張係数の観点からは球状
の酸化ケイ素や酸化アルミニウムが好ましい。
As such an inorganic insulating filler,
Insulating inorganic fine powders such as silicon oxide, aluminum oxide, aluminum nitride, silicon carbide, calcium titanate, titanium oxide, and zeolite are used. The shape may be any of a spherical shape, a crushed shape, a plate shape and the like, but a spherical shape is preferred from the viewpoint of dispersibility, and spherical silicon oxide and aluminum oxide are preferred from the viewpoint of thermal expansion coefficient.

【0038】また、本発明の接着材は、上記構成におい
て硬化後の透湿度をJIS−Z−0208に規定された方法によ
り測定して10〜100g/m2の範囲と低いものとしたこと
から、加速試験(HAST)に対する耐湿性に優れた接
着材とすることができる。硬化後の接着材の透湿度が10
g/m2未満の場合には、接着材層の架橋密度が高く成
り過ぎ接着材層の可撓性がなくなり、温度サイクル試験
(TCT)等の信頼性試験において割れやクラックを生
じ易くなる傾向がある。また、100g/m2を超えると加
速試験(HAST)において接着材層のイオンマイグレ
ーションを起こして絶縁抵抗が短時間で低下したり、JI
S−C−6481に規定された絶縁抵抗の測定方法で耐電圧値
として500Vの高電圧を印加すると容易に短絡してしま
う傾向がある。従って、接着材の硬化後の透湿度をJIS
−Z−0208に規定された方法により測定して10〜100g/
2の範囲とすることが好ましい。
In the adhesive of the present invention, the moisture permeability after curing is as low as 10 to 100 g / m 2 measured by the method specified in JIS-Z-0208. And an adhesive having excellent moisture resistance to an accelerated test (HAST). The moisture permeability of the cured adhesive is 10
If it is less than g / m 2 , the crosslinking density of the adhesive layer becomes too high, the flexibility of the adhesive layer is lost, and cracks and cracks tend to occur in reliability tests such as a temperature cycle test (TCT). There is. On the other hand, if it exceeds 100 g / m 2 , ion migration of the adhesive layer occurs in the accelerated test (HAST), and the insulation resistance decreases in a short time.
When a high voltage of withstand voltage of 500 V is applied in the insulation resistance measuring method specified in S-C-6481, a short circuit tends to occur easily. Therefore, the moisture permeability of the adhesive after curing is JIS
10 to 100 g / measured by the method specified in -Z-0208
m 2 is preferable.

【0039】なお、ここで透湿度とは、一定の膜厚のフ
ィルムを一定の時間、恒温恒湿槽中に放置した場合のフ
ィルムを透過する水分量で規定されるものであり、JIS
−Z−0208に規定された測定方法は、耐湿性容器の開口
部に厚さ25μmの接着材フィルムを張り付け、この容器
を温度が40℃で相対湿度が90%の環境中に24時間放置
し、放置前後の容器の重量変化から算出するものであ
る。
Here, the moisture permeability is defined by the amount of water passing through the film when a film having a constant thickness is left in a constant-temperature and constant-humidity chamber for a certain period of time.
According to the measurement method specified in -Z-0208, an adhesive film having a thickness of 25 µm is attached to the opening of a moisture-resistant container, and the container is left for 24 hours in an environment at a temperature of 40 ° C and a relative humidity of 90%. , Calculated from the change in weight of the container before and after standing.

【0040】また、本発明の接着材においては、フィル
ムを成形する際に良好な成形性を得るために、メチルエ
チルケトン(MKE)やプロピレングリコールモノメチ
ルエーテルアセテート(PMA)・ジメチルフォルムア
ミド(DMF)等の溶剤を1〜3重量%含有させても良
い。
In the adhesive of the present invention, in order to obtain good moldability when forming a film, a material such as methyl ethyl ketone (MKE) or propylene glycol monomethyl ether acetate (PMA) / dimethylformamide (DMF) is used. The solvent may be contained in an amount of 1 to 3% by weight.

【0041】このような接着材から成るフィルムは、例
えば、エポキシ樹脂混合物に硬化剤や熱可塑性樹脂・エ
ラストマー・樹脂で被覆された無機絶縁性フィラー・添
加剤・溶剤を添加した混合物を混練して液状ワニスを
得、この液状ワニスをポリエチレンテレフタレート(P
ET)製離型シート上に塗布して60〜100℃の温度で乾
燥することにより成形される。また、乾燥後のフィルム
は、フィルムの上面にポリエチレン製保護シートを積層
し、ロール状に巻き取ることにより容易に貯蔵できる。
さらに、このフィルムの厚さは自由に設定することがで
きるが、絶縁性の観点からは20〜100μmの範囲の厚さ
であることが好ましい。
The film made of such an adhesive is kneaded with, for example, a mixture obtained by adding a curing agent, an inorganic insulating filler coated with a thermoplastic resin, an elastomer, or a resin, an additive, and a solvent to an epoxy resin mixture. A liquid varnish was obtained, and this liquid varnish was treated with polyethylene terephthalate (P
ET) It is formed by coating on a release sheet and drying at a temperature of 60 to 100 ° C. The dried film can be easily stored by laminating a polyethylene protective sheet on the upper surface of the film and winding it up in a roll.
Further, the thickness of this film can be freely set, but is preferably in the range of 20 to 100 μm from the viewpoint of insulation.

【0042】なお、液状ワニスをスクリーン印刷法やロ
ールコート法により絶縁基板上に均一に塗布する代わり
に、このフィルムを所望の絶縁基板上に真空ラミネータ
を用いて圧着し、オーブンで熱硬化することによって、
絶縁基体上に接着材層を形成することができる。
Instead of applying the liquid varnish uniformly on the insulating substrate by a screen printing method or a roll coating method, the film is pressed on a desired insulating substrate using a vacuum laminator and thermally cured in an oven. By
An adhesive layer can be formed on the insulating substrate.

【0043】かくして本発明の接着材によれば、硬化後
の透湿度をJIS−Z−0208に規定された方法により測定し
て10〜100g/m2であるものとしたことから、この接着
材を絶縁層とする配線基板に電子部品を実装して成る電
子部品モジュールに、温度が130℃で相対湿度が85%の
環境中で5.5Vの電圧を連続して印加する加速試験(H
AST)を行ったとしても、接着材層のイオンマイグレ
ーションを抑制することができ、このような加速試験
(HAST)の300時間後の絶縁抵抗を1010Ω以上とす
ることができる。
Thus, according to the adhesive of the present invention, the moisture permeability after curing is determined to be 10 to 100 g / m 2 by the method specified in JIS-Z-0208. Test to continuously apply a voltage of 5.5 V to an electronic component module in which electronic components are mounted on a wiring board having an insulating layer as an insulating layer in an environment at a temperature of 130 ° C. and a relative humidity of 85% (H
Even if AST is performed, ion migration of the adhesive layer can be suppressed, and the insulation resistance after 300 hours of such an accelerated test (HAST) can be 10 10 Ω or more.

【0044】なお、本発明の接着材は上述の実施例に限
定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲
であれば種々の変更は可能であり、例えば、上述の接着
材に耐熱性の向上のためにヒンダードフェノール系酸化
防止剤を、成形性のより向上のために高級脂肪酸エステ
ルの滑剤等を含有させることも可能である。
The adhesive of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the gist of the present invention. It is also possible to incorporate a hindered phenolic antioxidant for improving the moldability and a lubricant of higher fatty acid ester for further improving the moldability.

【0045】次に、本発明の接着材を用いた電子部品モ
ジュールを添付の図面に基づき詳細に説明する。
Next, an electronic component module using the adhesive of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

【0046】図1は本発明の接着材を用いた配線基板
に、半導体素子等の電子部品を搭載して成る電子部品モ
ジュールの一例を示す要部断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a principal part showing an example of an electronic component module in which electronic components such as semiconductor elements are mounted on a wiring board using the adhesive of the present invention.

【0047】図1において、1は配線基板2と半導体素
子3とから成る電子部品モジュールであり、配線基板2
は、主として絶縁基板4と接着材層5・配線導体層6と
から構成されており、本図の例では、接着材層5は絶縁
基板4の表面に5a・5b・5cの3層、裏面に5d・5e・5gの
3層を形成した例を示している。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an electronic component module comprising a wiring board 2 and a semiconductor element 3;
Is mainly composed of an insulating substrate 4, an adhesive layer 5 and a wiring conductor layer 6. In the example of this figure, the adhesive layer 5 has three layers of 5a, 5b, and 5c on the surface of the insulating substrate 4, and the back surface. 3 shows an example in which three layers 5d, 5e, and 5g are formed.

【0048】絶縁基板4は、ガラスクロス−エポキシ樹
脂やガラスクロス−ビスマレイミドトリアジン樹脂・ガ
ラスクロス−アリル変性ポリフェニレンエーテル・アラ
ミド不織布−エポキシ樹脂等の一般に配線基板に用いら
れる樹脂材料から成り、接着材層5の支持体として機能
する。なお、本例では、絶縁基板4の表裏両面に被着形
成した銅(Cu)・ニッケル(Ni)・金(Au)等か
ら成る配線導体層6を、ドリル等で穿設したスルーホー
ル7の内部に形成したスルーホール導体8により電気的
に接続した例を示している。また、絶縁基板4の内層に
内部配線導体(図示せず)を形成してもよい。
The insulating substrate 4 is made of a resin material generally used for wiring boards, such as glass cloth-epoxy resin, glass cloth-bismaleimide triazine resin, glass cloth-allyl-modified polyphenylene ether, aramid nonwoven fabric-epoxy resin, and an adhesive material. Functions as a support for the layer 5. In this example, a wiring conductor layer 6 made of copper (Cu), nickel (Ni), gold (Au) or the like adhered and formed on both the front and back surfaces of the insulating substrate 4 is formed in a through hole 7 formed by drilling or the like. An example of electrical connection by a through-hole conductor 8 formed inside is shown. Further, an internal wiring conductor (not shown) may be formed in an inner layer of the insulating substrate 4.

【0049】絶縁基板4の表裏両面には、本発明の接着
材を用いて形成した接着材層5が被着形成されており、
接着材層5は配線基板2に搭載する半導体素子3を支持
する支持部材として機能する。
An adhesive layer 5 formed by using the adhesive of the present invention is formed on both sides of the insulating substrate 4.
The adhesive layer 5 functions as a support member for supporting the semiconductor element 3 mounted on the wiring board 2.

【0050】このような接着材層5は、本発明の接着材
に溶剤等を添加した混合物を混練して得た液状ワニス
を、ポリエチレンテレフタレート(PET)シート上に
乾燥後に所望の厚さとなるようにローラコータを用いて
塗布し、60〜100℃の温度で乾燥・硬化してフィルムを
製作し、このフィルムを真空ラミネ−タにより絶縁基板
4の表裏両面に圧着することにより形成される。
The adhesive layer 5 has a desired thickness after drying a liquid varnish obtained by kneading a mixture obtained by adding a solvent or the like to the adhesive of the present invention on a polyethylene terephthalate (PET) sheet. Is applied by using a roller coater, dried and cured at a temperature of 60 to 100 ° C. to produce a film, and this film is formed by pressing the film on both the front and back surfaces of the insulating substrate 4 with a vacuum laminator.

【0051】また、接着材層5の表面に粗化液を用いて
粗化して無数の微細孔による粗面を形成することによ
り、接着材層5と配線導体層6との密着性を良好とな
し、ピール強度を向上させることができ、その結果、温
度サイクル試験(TCT)等の信頼性試験に対しても耐
久性に優れたものとすることができる。
The surface of the adhesive layer 5 is roughened by using a roughening liquid to form a rough surface with a myriad of fine holes, so that the adhesion between the adhesive layer 5 and the wiring conductor layer 6 is improved. None, the peel strength can be improved, and as a result, the durability can be improved even in a reliability test such as a temperature cycle test (TCT).

【0052】このような粗面は、例えば、接着材層5の
表面をグリコールエーテル等の有機溶剤約10%と水酸化
ナトリウム等のアルカリ約1%とを含有した溶液中に5
分間程度浸漬し、接着材層5の表面を膨潤させた後、過
マンガン酸塩類等の酸化剤約10%溶液中に10分間程度浸
漬して接着材層5の表面の熱可塑性樹脂を溶解し、最後
に硫酸の約5%水溶液に5分間程度浸漬して接着材層5
の表面を還元することにより形成される。
Such a rough surface can be obtained, for example, by bonding the surface of the adhesive layer 5 to a solution containing about 10% of an organic solvent such as glycol ether and about 1% of an alkali such as sodium hydroxide.
After immersion for about 10 minutes to swell the surface of the adhesive layer 5, it is immersed for about 10 minutes in a solution of about 10% of an oxidizing agent such as permanganate to dissolve the thermoplastic resin on the surface of the adhesive layer 5. Finally, the adhesive layer 5 is immersed in a 5% aqueous solution of sulfuric acid for about 5 minutes.
Formed by reducing the surface of

【0053】また、接着材層5の表面には、配線導体層
6が形成されており、この配線導体層6は半導体素子3
等の電子部品を外部電気回路基板(図示せず)に電気的
に接続するための導電路として機能し、接着材層5の表
面に露出した部位には半導体素子3等の電子部品の各電
極が金(Au)や半田等から成る導体バンプ11を介して
フリップチップ接続により電気的に接続され、配線基板
2の下面に露出した部位を外部電気回路基板の配線導体
層に半田等を介して接続することにより、半導体素子3
等の電子部品が配線導体層6を介して外部電気回路基板
に電気的に接続される。
On the surface of the adhesive layer 5, a wiring conductor layer 6 is formed.
Functions as a conductive path for electrically connecting electronic components such as the semiconductor device 3 to an external electric circuit board (not shown). Are electrically connected by flip-chip connection via conductive bumps 11 made of gold (Au), solder, or the like, and a portion exposed on the lower surface of the wiring board 2 is connected to a wiring conductor layer of an external electric circuit board via a solder or the like. By connecting, the semiconductor element 3
And other electronic components are electrically connected to the external electric circuit board via the wiring conductor layer 6.

【0054】このような配線導体層6は、サブトラクテ
ィブ法やアディティブ法等により形成され、粗化された
接着材層5表面に、例えば、無電解めっき法で銅を被着
させ、ドライフィルムフォトレジストでパターン加工し
た後、電解めっき法で銅を所定の厚さに被着形成し、そ
の後、ドライフィルム剥離・エッチング処理を行い配線
パターンを形成することによって形成される。なお、配
線導体層6は、銅(Cu)・ニッケル(Ni)・金(A
u)等の低抵抗金属から成り、特に低抵抗の観点からは
銅(Cu)が好ましい。
Such a wiring conductor layer 6 is formed by a subtractive method, an additive method, or the like. Copper is adhered to the roughened surface of the adhesive layer 5 by, for example, an electroless plating method. After patterning with a resist, copper is applied to a predetermined thickness by electrolytic plating, and then a dry film is peeled off and etched to form a wiring pattern. The wiring conductor layer 6 is made of copper (Cu), nickel (Ni), gold (A
u) or the like, and copper (Cu) is preferable from the viewpoint of low resistance.

【0055】なお、配線導体層6は、高速の電気信号を
伝達させるという観点からはその厚さが3μm以上であ
ることが好ましく、配線導体層6を接着材層5に被着形
成させる際に配線導体層6に大きな応力を残留させず、
配線導体層6が接着材層5から剥離し難いものとするた
めにはその厚みを50μm以下としておくことが好まし
い。
The wiring conductor layer 6 preferably has a thickness of 3 μm or more from the viewpoint of transmitting a high-speed electric signal. Without leaving a large stress on the wiring conductor layer 6,
In order to make it difficult for the wiring conductor layer 6 to peel off from the adhesive material layer 5, it is preferable to set the thickness to 50 μm or less.

【0056】このような接着材層5および配線導体層6
を絶縁基板4上に複数層形成する場合は、接着材層5と
なるフィルムをあらかじめ複数枚形成しておき、接着材
層5のラミネートと配線導体層6の被着形成とを順次行
えば良い。また、複数の配線導体層6は、接着材層5内
部に設けた貫通孔9の内壁に被着形成された貫通導体10
により電気的に接続されている。
Such an adhesive layer 5 and a wiring conductor layer 6
When a plurality of layers are formed on the insulating substrate 4, a plurality of films serving as the adhesive layer 5 are formed in advance, and the lamination of the adhesive layer 5 and the formation of the wiring conductor layer 6 may be sequentially performed. . Further, the plurality of wiring conductor layers 6 are formed by the through conductors 10 formed on the inner walls of the through holes 9 provided inside the adhesive material layer 5.
Are electrically connected to each other.

【0057】このような貫通孔9の穿設は、露光・現像
法により穿設する方法、あるいは炭酸ガスレーザやYA
Gレーザ・UVレーザ等のレーザ法により穿設する方法
等が用いられるが、接着材層の材料に依存せず微細加工
ができ、貫通孔9の孔径を10〜200μmの範囲に自由に
設定でき、かつ加工スピードが速いという点では炭酸ガ
スレーザを使用することが最も好ましい。
The through-hole 9 is formed by a method of exposing and developing, or a carbon dioxide laser or YA.
A method of drilling by a laser method such as G laser or UV laser is used, but fine processing can be performed without depending on the material of the adhesive layer, and the hole diameter of the through hole 9 can be freely set in a range of 10 to 200 μm. It is most preferable to use a carbon dioxide gas laser in terms of high processing speed.

【0058】貫通孔9は、絶縁基板4上に被着形成した
硬化後の接着材層5に、出力が5〜7A、パルス幅を50
〜100μsに設定した炭酸ガスレーザを各貫通孔9に対
して2〜5回程度照射することにより形成でき、その孔
径は通常、配線基板の小型化および電気的接続の信頼性
という観点からは30〜300μmであることが好ましい。
The through-hole 9 is provided in the cured adhesive layer 5 formed on the insulating substrate 4 so that the output is 5 to 7 A and the pulse width is 50.
The through-hole 9 can be formed by irradiating the through-hole 9 with a carbon dioxide gas laser set to 100100 μs about 2 to 5 times, and the hole diameter is usually 30 to 30 μm from the viewpoint of miniaturization of the wiring board and reliability of electrical connection. Preferably it is 300 μm.

【0059】なお、本発明の接着材によれば、接着材を
構成する熱可塑性樹脂の重量平均分子量が10000〜50000
0と大きく酸素指数が小さいことからレーザによる熱で
分解され易く、貫通孔9を穿設する際に接着材の残滓が
貫通孔9の周辺や内部に残ることはなく、配線導体層6
や貫通導体10をめっき法により被着形成した際、電気的
特性に優れたものとすることができる。
According to the adhesive of the present invention, the thermoplastic resin constituting the adhesive has a weight average molecular weight of 10,000 to 50,000.
Since the oxygen index is as large as 0 and the oxygen index is small, it is easily decomposed by the heat of the laser. When the through hole 9 is formed, the residue of the adhesive does not remain around or inside the through hole 9.
When the through conductor 10 is formed by plating, the electrical characteristics can be excellent.

【0060】また、貫通導体10は、配線導体層6をめっ
き法により被着させる際、配線導体層6と同時にめっき
処理を行ない形成すれば良い。さらに、貫通導体10は貫
通孔9の内壁面に被着形成して成るものの他に、貫通孔
9の内部をめっき法により金属で充填して成るものであ
っても良い。
The through conductor 10 may be formed by performing plating simultaneously with the wiring conductor layer 6 when the wiring conductor layer 6 is applied by plating. Further, the through conductor 10 may be formed by filling the inside of the through hole 9 with a metal by plating, in addition to the one formed by being adhered to the inner wall surface of the through hole 9.

【0061】さらに、半導体素子3を最外層の接着材層
5の表面に形成された配線導体層6に間に半田等から成
る導体バンプ11を介して接続することにより、半導体素
子3と配線導体層6とが電気的に接続され、また、半導
体素子3と接着材層5との間に樹脂から成るアンダフィ
ル12を注入することにより、半導体素子3が接着材層5
の表面に強固に固定される。
Further, by connecting the semiconductor element 3 to the wiring conductor layer 6 formed on the surface of the outermost adhesive material layer 5 via a conductor bump 11 made of solder or the like, the semiconductor element 3 is connected to the wiring conductor layer. The semiconductor element 3 is electrically connected to the semiconductor element 3, and an underfill 12 made of a resin is injected between the semiconductor element 3 and the adhesive layer 5.
Firmly fixed to the surface of the

【0062】本発明の電子部品モジュールは、上記構成
において、接着材層5を温度が130℃で相対湿度が85%
の環境中で5.5Vの電圧を300時間放置した後の絶縁抵抗
が10 10Ω以上のものとしたことから、実装時の熱履歴や
温度サイクル試験(TCT)に対する耐熱疲労性に優れ
るとともに加速試験(HAST)等の耐湿信頼性試験に
対して良好な信頼性を有する電子部品モジュールとする
ことができる。なお、絶縁抵抗が1010Ωより小さいと、
良好な耐熱疲労性や耐湿性が得られなくなる傾向があ
る。
The electronic component module of the present invention has the above configuration.
In, the temperature of the adhesive layer 5 is 130 ° C. and the relative humidity is 85%.
Resistance after leaving the voltage of 5.5V for 300 hours in the environment
Is 10 TenΩ or more, the thermal history during mounting and
Excellent thermal fatigue resistance to temperature cycle test (TCT)
As well as moisture resistance reliability tests such as accelerated tests (HAST)
Electronic component module with good reliability
be able to. If the insulation resistance is 10TenIf it is smaller than Ω,
There is a tendency that good thermal fatigue resistance and moisture resistance cannot be obtained.
You.

【0063】なお、導体バンプ11は、配線導体層6と半
導体素子3とを電気的及び機械的に接続する機能を有
し、鉛(Pb)−錫(Sn)や金(Au)・鉛(Pb)
−錫(Sn)・錫(Sn)−亜鉛(Zn)・錫(Sn)
−銀(Ag)−ビスマス(Bi)等の導電性材料から成
り、例えば、この導電性材料が鉛(Pb)−錫(Sn)
の場合、これを用いて調製したペーストをスクリーン印
刷法で所定個所に印刷した後、リフロー炉を通過させる
ことにより配線導体層6表面に固着形成される。
The conductor bump 11 has a function of electrically and mechanically connecting the wiring conductor layer 6 and the semiconductor element 3, and is composed of lead (Pb) -tin (Sn), gold (Au), and lead ( Pb)
-Tin (Sn)-Tin (Sn)-Zinc (Zn)-Tin (Sn)
-Made of a conductive material such as silver (Ag) -bismuth (Bi), for example, the conductive material is lead (Pb) -tin (Sn)
In the case of (1), after the paste prepared by using this is printed at a predetermined location by a screen printing method, the paste is fixed to the surface of the wiring conductor layer 6 by passing through a reflow furnace.

【0064】さらに、半導体素子3を導体バンプ11に載
置し、リフロー炉を通過させて配線導体層6と半導体素
子3の各電極とを電気的に接続することにより、本発明
の電子部品モジュール1となる。
Further, the semiconductor element 3 is placed on the conductor bumps 11 and passed through a reflow furnace to electrically connect the wiring conductor layer 6 and each electrode of the semiconductor element 3, thereby obtaining the electronic component module of the present invention. It becomes 1.

【0065】かくして本発明の電子部品モジュールによ
れば、接着材層と配線導体層の密着性を良好とし、ピー
ル強度の高い、温度サイクル試験(TCT)や加速試験
(HAST)等の信頼性試験に対しても優れた耐久性と
高い信頼性とを有する電子部品モジュールとすることが
できる。
Thus, according to the electronic component module of the present invention, the adhesion between the adhesive layer and the wiring conductor layer is improved, the peel strength is high, and a reliability test such as a temperature cycle test (TCT) or an acceleration test (HAST) is performed. , An electronic component module having excellent durability and high reliability can be obtained.

【0066】なお、本発明の電子部品モジュールは上述
の実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸
脱しない範囲であれば種々の変更が可能であり、例え
ば、上述の実施例では、絶縁基体4の表裏両面に各3層
の接着材層5をラミネートすることにより配線基板2を
製作したが、1層や2層、あるいは4層以上の接着材層
5をラミネートしても、または、表面あるいは裏面のみ
に接着材層5をラミネートしても良い。また、貫通導体
10と接着材層5との密着性を高めるために貫通孔9の内
部に本発明の接着材等の樹脂を充填することも可能であ
る。また、上述の実施例では、電子部品モジュール1に
搭載される電子部品として、半導体素子3の例で詳述し
たが、電子部品として抵抗器やキャパシタ・圧電素子等
を搭載しても良く、さらに、このような電子部品の作動
時に発生する熱を放散するためにスティフナ−等の放熱
板を配線基板に被着しても良い。
The electronic component module of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention. The wiring board 2 was manufactured by laminating three adhesive layers 5 on each of the front and back surfaces of the insulating base 4. However, even if one, two, or four or more adhesive layers 5 were laminated, Alternatively, the adhesive layer 5 may be laminated only on the front surface or the back surface. Also, through conductor
It is also possible to fill the inside of the through hole 9 with a resin such as the adhesive of the present invention in order to enhance the adhesion between the adhesive layer 10 and the adhesive layer 5. In the above-described embodiment, the electronic component mounted on the electronic component module 1 has been described in detail with reference to the example of the semiconductor element 3. However, a resistor, a capacitor, a piezoelectric element, or the like may be mounted as the electronic component. A radiator plate such as a stiffener may be attached to the wiring board to dissipate the heat generated when the electronic component is operated.

【0067】[0067]

【実施例】本発明の接着材およびこの接着材を用いた電
子部品モジュールの特性を評価するために、以下のよう
な接着材フィルムを用いた電子部品モジュールを製作し
た。 (接着材の実施例1)まず、エタノールと水との混合液
中に平均粒径が2μmの球形酸化ケイ素を分散させ、シ
ランカップリング剤として2%のγ−メタクリロキシプ
ロピルトリメトキシシランを加えて30℃の温度で1時間
攪拌した後、スプレードライヤで乾燥を行い、さらに、
トルエン中に上記の無機絶縁性フィラー粉末とメチルメ
タクリレートとラジカル重合開始材のベンゾイルパーオ
キサイドとを加えて80℃の温度で1時間重合を行い、濾
過後、乾燥して、厚さが0.1μmの樹脂で被覆した無機
絶縁性フィラー(フィラーA)を得た。
EXAMPLES In order to evaluate the characteristics of the adhesive of the present invention and the electronic component module using the adhesive, an electronic component module using the following adhesive film was manufactured. Example 1 of Adhesive First, spherical silicon oxide having an average particle diameter of 2 μm was dispersed in a mixture of ethanol and water, and 2% of γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane was added as a silane coupling agent. After stirring at a temperature of 30 ° C. for 1 hour, drying is performed with a spray drier.
The above-mentioned inorganic insulating filler powder, methyl methacrylate, and benzoyl peroxide as a radical polymerization initiator were added to toluene, polymerized at 80 ° C. for 1 hour, filtered, dried, and dried to a thickness of 0.1 μm. An inorganic insulating filler (filler A) coated with a resin was obtained.

【0068】他方、エポキシ樹脂混合物として、多官能
エポキシ樹脂であるクレゾールノボラック型エポキシ樹
脂が70重量%、2官能エポキシ樹脂である液状ビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂が20重量%、難燃材の臭素化ビ
スフェノールA型エポキシ樹脂が10重量%から成る混合
物を用い、このエポキシ樹脂混合物に対して、硬化剤と
して2,4−ジアミノ−6−(2−メチル−1−イミダゾリ
ルエチル)−1,3,5−トリアジンを4重量%、熱可塑
性樹脂として重量平均分子量が120000のアジピン酸プロ
ピオンエステルを20重量%、エラストマーとしてガラス
転移温度Tgが−30℃のアクリルゴムを20重量%、フィ
ラーAを8重量%、溶剤としてメチルエチルケトン(M
EK)とジメチルフォルムアミド(DMF)を添加混合
してワニス状接着材を製作した。
On the other hand, as an epoxy resin mixture, 70% by weight of a cresol novolac type epoxy resin as a polyfunctional epoxy resin, 20% by weight of a liquid bisphenol A type epoxy resin as a bifunctional epoxy resin, and a brominated bisphenol as a flame retardant material. A mixture comprising 10% by weight of an A-type epoxy resin was used, and 2,4-diamino-6- (2-methyl-1-imidazolylethyl) -1,3,5- 4% by weight of triazine, 20% by weight of adipic acid propionate having a weight average molecular weight of 120,000 as a thermoplastic resin, 20% by weight of an acrylic rubber having a glass transition temperature Tg of -30 ° C as an elastomer, 8% by weight of a filler A, Methyl ethyl ketone (M
EK) and dimethylformamide (DMF) were added and mixed to produce a varnish-like adhesive.

【0069】このワニス状接着材をポリエチレンテレフ
タレート(PET)シート上に乾燥後の厚さが45μmと
なるようにローラーコータにて塗布した後、60〜100℃
の温度で乾燥させ接着材フィルム(フィルムA)を得
た。この未硬化のフィルムAには窪みやクラック等の異
常は全く認められなかった。
The varnish-like adhesive was applied on a polyethylene terephthalate (PET) sheet with a roller coater so that the thickness after drying became 45 μm, and then the coated varnish was heated to 60 to 100 ° C.
And dried at a temperature of 3 ° C. to obtain an adhesive film (film A). No abnormality such as dents and cracks was observed in the uncured film A.

【0070】また、同様にして厚さが25μmのフィルム
を作成し、175℃の温度で3時間加熱後、得られたフィ
ルムの透湿度をJIS−Z−0208に規定に従って測定した結
果、60g/m2であった。 (接着材の実施例2)まず、エタノールと水との混合液
中に平均粒径が1μmの球形酸化ケイ素を分散させてお
き、シランカップリング剤として2%のγ−グリシドキ
シプロピルトリメトキシシランを加えて30℃の温度で1
時間攪拌した後、スプレードライヤで乾燥を行い、さら
に、メチルエチルケトン(MEK)中に上記の無機絶縁
性フィラー粉末とビスフェノールA型エポキシとを加え
て50℃の温度で1時間反応させ、濾過後、乾燥して、厚
さが0.05μmの樹脂で被覆した無機絶縁性フィラー(フ
ィラーB)を得た。
A film having a thickness of 25 μm was prepared in the same manner, heated at 175 ° C. for 3 hours, and the moisture permeability of the obtained film was measured in accordance with JIS-Z-0208. m 2 . Example 2 of Adhesive First, spherical silicon oxide having an average particle diameter of 1 μm was dispersed in a mixture of ethanol and water, and 2% of γ-glycidoxypropyltrimethoxy was used as a silane coupling agent. Add silane and add 1 at 30 ° C
After stirring for an hour, the mixture is dried with a spray dryer, and the above-mentioned inorganic insulating filler powder and bisphenol A type epoxy are added to methyl ethyl ketone (MEK), reacted at a temperature of 50 ° C. for 1 hour, filtered, and dried. Thus, an inorganic insulating filler (filler B) coated with a resin having a thickness of 0.05 μm was obtained.

【0071】他方、エポキシ樹脂混合物として、多官能
エポキシ樹脂であるクレゾールノボラック型エポキシ樹
脂が50重量%、2官能エポキシ樹脂である液状ビスフェ
ノールA型エポキシ樹脂が30重量%、難燃材の臭素化ビ
スフェノールA型エポキシ樹脂が20重量%から成る混合
物を用い、このエポキシ樹脂混合物に対して、硬化剤と
して2,4−ジアミノ−6−(2−メチル−1−イミダゾリ
ルエチル)−1,3,5−トリアジンを3重量%、熱可塑
性樹脂として重量平均分子量が200000のアジピン酸プロ
ピオンエステルを30重量%、エラストマーとしてガラス
転移温度Tgが−30℃のエポキシ化アクリロ二トリル−
ブタジエンゴムを20重量%、フィラーBを10重量%、溶
剤としてメチルエチルケトン(MEK)とジメチルフォ
ルムアミド(DMF)を添加混合してワニス状接着材を
製作した。
On the other hand, as the epoxy resin mixture, 50% by weight of a cresol novolak type epoxy resin as a polyfunctional epoxy resin, 30% by weight of a liquid bisphenol A type epoxy resin as a bifunctional epoxy resin, and a brominated bisphenol as a flame retardant. A mixture comprising 20% by weight of an A-type epoxy resin was used. Based on the epoxy resin mixture, 2,4-diamino-6- (2-methyl-1-imidazolylethyl) -1,3,5- 3% by weight of triazine, 30% by weight of adipic acid propionate having a weight average molecular weight of 200,000 as a thermoplastic resin, and epoxidized acrylonitrile having a glass transition temperature Tg of -30 ° C. as an elastomer.
20% by weight of butadiene rubber, 10% by weight of filler B, and methyl ethyl ketone (MEK) and dimethylformamide (DMF) as solvents were added and mixed to prepare a varnish-like adhesive.

【0072】このワニス状接着材をポリエチレンテレフ
タレート(PET)シート上に乾燥後の厚さが30μmと
なるようにローラーコータにて塗布した後、60〜100℃
の温度で乾燥させて接着材フィルム(フィルムB)を得
た。この未硬化のフィルムBには窪みやクラック等の異
常は全く認められなかった。
The varnish-like adhesive was applied on a polyethylene terephthalate (PET) sheet by a roller coater so that the thickness after drying became 30 μm, and then the coated varnish was heated to 60 to 100 ° C.
And dried at a temperature of 5 ° C. to obtain an adhesive film (film B). No abnormality such as dents and cracks was observed in the uncured film B.

【0073】また、同様にして厚さが25μmのフィルム
を作成し、175℃の温度で3時間加熱硬化後、このフィ
ルムの透湿度をJIS−Z−0208に規定に従って測定した結
果、40g/m2であった。 (接着材の比較例)まず、エタノールと水との混合液中
に平均粒径が5μmの球形状酸化ケイ素を分散させてお
き、シランカップリング剤として2%のγ−グリシドキ
シプロピルトリメトキシシランを加え30℃の温度で1時
間攪拌した後、スプレードライヤで乾燥を行って無機絶
縁性フィラー(フィラーC)を得た。
A film having a thickness of 25 μm was prepared in the same manner, and after heat-curing at a temperature of 175 ° C. for 3 hours, the moisture permeability of the film was measured in accordance with JIS-Z-0208. Was 2 . Comparative Example of Adhesive First, spherical silicon oxide having an average particle diameter of 5 μm was dispersed in a mixture of ethanol and water, and 2% of γ-glycidoxypropyltrimethoxy was used as a silane coupling agent. After adding silane and stirring at a temperature of 30 ° C. for 1 hour, the mixture was dried with a spray dryer to obtain an inorganic insulating filler (filler C).

【0074】他方、エポキシ混合物として、多官能エポ
キシ樹脂であるクレゾールノボラック型エポキシ樹脂が
70重量%、2官能エポキシ樹脂である液状ビスフェノー
ルA型エポキシ樹脂が20重量%、難燃材の臭素化ビスフ
ェノールA型エポキシ樹脂が10重量%の混合物を用い、
このエポキシ樹脂混合物に対して硬化剤として2,4−ジ
アミノ−6−(2−メチル−1−イミダゾリルエチル)−
1,3,5−トリアジンを4重量%、フィラーCを10重量
%、溶剤としてメチルエチルケトン(MEK)とジメチ
ルフォルムアミド(DMF)を添加混合してワニス状接
着材を製作した。
On the other hand, as an epoxy mixture, cresol novolak type epoxy resin which is a polyfunctional epoxy resin is used.
Using a mixture of 70% by weight, a liquid bisphenol A type epoxy resin which is a bifunctional epoxy resin is 20% by weight, and a brominated bisphenol A type epoxy resin as a flame retardant is 10% by weight,
2,4-Diamino-6- (2-methyl-1-imidazolylethyl)-as a curing agent for this epoxy resin mixture
1,3,5-Triazine (4% by weight), Filler C (10% by weight), and methyl ethyl ketone (MEK) and dimethylformamide (DMF) as solvents were added and mixed to prepare a varnish-like adhesive.

【0075】このワニス状接着材をポリエチレンフタレ
ート(PET)シート上に乾燥後の厚さが45μmとなる
ようにローラーコータにて塗布した後、60〜100℃の温
度で乾燥させ接着材フィルム(フィルムC)を得た。こ
の未硬化のフィルムCには窪みやクラック等の欠陥が認
められた。
The varnish-like adhesive was applied on a polyethylene phthalate (PET) sheet by a roller coater so that the thickness after drying was 45 μm, and then dried at a temperature of 60 to 100 ° C. to obtain an adhesive film (film). C) was obtained. Defects such as dents and cracks were observed in the uncured film C.

【0076】同様にして厚さが25μmのフィルムを作成
し、175℃の温度で3時間硬化後、このフィルムの透湿
度を同様にJIS−Z−0208に規定に従って測定した結果、
120g/m2であった。
A film having a thickness of 25 μm was prepared in the same manner, and cured at a temperature of 175 ° C. for 3 hours. The moisture permeability of the film was measured in the same manner as in JIS-Z-0208.
It was 120 g / m 2 .

【0077】以上の様に、比較例の接着材を用いたフィ
ルムCは未硬化時において既に窪みやクラックが発生
し、硬化後の透湿度も150g/m2と高い値であるのに対
して、本発明の接着材を用いて製作したフィルムA・B
は、未硬化時には平坦性と可撓性に優れ、硬化後の透湿
度が10〜100g/m2の範囲内のフィルムであり、耐透湿
性に優れていることが確認できた。 (電子部品モジュールの実施例1)ガラス繊維とエポキシ
樹脂とから成る絶縁基板の表裏両面に、フィルムAを真
空ラミネーターにより同時にラミネートした後、フィル
ムAからポリエチレンテレフタレート(PET)フィル
ムを剥離し、さらに、175℃の温度で1時間硬化させた
後、炭酸ガスレーザで貫通孔を穿設し、その後、過マン
ガン酸カリウム溶液で接着材層表面を粗化処理した。
As described above, in the film C using the adhesive of the comparative example, dents and cracks are already generated when not cured, and the moisture permeability after curing is as high as 150 g / m 2 . A and B produced using the adhesive of the present invention
Is a film having excellent flatness and flexibility when not cured and having a moisture permeability after curing within the range of 10 to 100 g / m 2 , and it has been confirmed that the film has excellent moisture permeability resistance. (Embodiment 1 of electronic component module) After simultaneously laminating film A on both sides of an insulating substrate made of glass fiber and epoxy resin using a vacuum laminator, a polyethylene terephthalate (PET) film was peeled from film A, and further, After curing at a temperature of 175 ° C. for 1 hour, a through-hole was formed with a carbon dioxide laser, and then the surface of the adhesive layer was roughened with a potassium permanganate solution.

【0078】その後、パラジウム系のめっき触媒で処理
した後、無電解銅めっきを施し、次いで、ドライフィル
ムフォトレジストで配線パターン加工を行い、電解銅め
っきで厚さ18μmの配線導体層を形成した。
Then, after treatment with a palladium-based plating catalyst, electroless copper plating was performed, and then wiring pattern processing was performed with a dry film photoresist, and a wiring conductor layer having a thickness of 18 μm was formed by electrolytic copper plating.

【0079】得られた配線導体層のピール強度は0.8k
g/cmであり、さらに、ピール強度を安定化させるた
めに175℃の温度で2時間の熱処理を行った後、フィル
ムAのラミネートと貫通孔の穿設・粗化処理・めっきに
よる配線導体層および貫通導体の形成を複数回繰返して
6層の接着材層および配線導体層を絶縁基板上に形成し
た後、ソルダーレジスト加工した導電パッド上にニッケ
ル(Ni)・金(Au)めっきを順次、被着形成し、さ
らに半田バンプを形成した。
The peel strength of the obtained wiring conductor layer was 0.8 k.
g / cm. Further, after performing a heat treatment at 175 ° C. for 2 hours to stabilize the peel strength, laminating the film A and forming a through hole, roughening treatment, and a wiring conductor layer by plating. And formation of the through conductor is repeated a plurality of times to form six adhesive layers and wiring conductor layers on the insulating substrate, and then nickel (Ni) / gold (Au) plating is sequentially performed on the solder resist processed conductive pads. It was formed by adhesion, and a solder bump was further formed.

【0080】そして、この配線基板の半田バンプに半導
体素子を搭載してリフローを通過させ電気的に接続した
後、半導体素子と配線基板との隙間にアンダーフィルを
注入して信頼性試験用のサンプル(電子部品モジュール
A)を得たこのサンプルを用いて、信頼性試験として温
度サイクル試験(TCT)と加速試験(HAST)を行
い、配線基板のクラックや膨れ・剥がれ等の外観と抵抗
値変化率の値で電子部品モジュールの評価を行なった。
Then, after mounting the semiconductor element on the solder bumps of the wiring board and passing through the reflow for electrical connection, an underfill is injected into the gap between the semiconductor element and the wiring board to obtain a sample for the reliability test. A temperature cycle test (TCT) and an acceleration test (HAST) were performed as a reliability test using the sample obtained (electronic component module A), and the appearance of the wiring board, such as cracks, swelling and peeling, and the rate of change in resistance value were measured. The electronic component module was evaluated with the following values.

【0081】温度サイクル試験(TCT)は気相冷熱試
験機を用い、サンプルを温度が−55℃および125℃の気
相中に各30分間放置し、これを1サイクルとして1000サ
イクルの条件で評価試験を行い、抵抗値変化率は、試験
前の抵抗値と試験後の抵抗値とを測定して計算により算
出した。
In the temperature cycle test (TCT), a sample was left in a gas phase at a temperature of -55 ° C. and 125 ° C. for 30 minutes using a gas phase cooling / heating test machine, and this was evaluated as a cycle, and evaluated under a condition of 1000 cycles. The test was performed, and the resistance change rate was calculated by measuring the resistance before the test and the resistance after the test.

【0082】また、加速試験(HAST)は温湿度可変
寿命試験機を用い、温度を130℃、湿度を85%とした恒
温恒湿槽中で、サンプルに5.5Vの電圧を250時間連続し
て印加し、イオンマイグレーションの発生状況と絶縁抵
抗を測定した。
In the accelerated test (HAST), a voltage of 5.5 V was continuously applied to the sample for 250 hours in a thermo-hygrostat at a temperature of 130 ° C. and a humidity of 85% using a temperature and humidity variable life tester. The ion migration was applied, and the insulation resistance and the insulation resistance were measured.

【0083】その結果、本発明の電子部品モジュールA
は、温度サイクル試験(TCT)1000サイクル後でもク
ラックが発生せず、抵抗値変化率は5%と低い値となっ
た。また、加速試験(HAST)の300時間後でもイオ
ンマイグレーションが見られず、絶縁抵抗も5×1011Ω
と高い値を示した。 (電子部品モジュールの実施例2)ガラス繊維とエポキ
シ樹脂とから成る絶縁基板の表裏両面に、フィルムBを
真空ラミネーターにより同時にラミネートした後、ポリ
エチレンテレフタレート(PET)フィルムを剥離し、
175℃の温度で1時間硬化熱処理した後、炭酸ガスレー
ザで貫通孔を穿設し、次いで過マンガン酸カリウムで接
着材層表面を粗化処理した。
As a result, the electronic component module A of the present invention
No crack occurred even after 1000 cycles of the temperature cycle test (TCT), and the resistance value change rate was as low as 5%. No ion migration was observed even after 300 hours of the accelerated test (HAST), and the insulation resistance was 5 × 10 11 Ω.
It showed a high value. (Embodiment 2 of electronic component module) Film B was simultaneously laminated on both front and back surfaces of an insulating substrate made of glass fiber and epoxy resin by a vacuum laminator, and then a polyethylene terephthalate (PET) film was peeled off.
After a curing heat treatment at a temperature of 175 ° C. for 1 hour, a through-hole was formed with a carbon dioxide gas laser, and then the surface of the adhesive layer was roughened with potassium permanganate.

【0084】その後、パラジウム系のめっき触媒で処理
した後、無電解銅めっきを行い、次いでドライフィルム
フォトレジストで配線パターン加工を行い、電解銅めっ
きで厚さ20μmの配線導体層を形成した。得られた配線
導体層のピール強度は1.0kg/cmであり、さらにピ
ール強度を安定化させるために175℃の温度で2時間の
熱処理を行った。
Then, after treatment with a palladium-based plating catalyst, electroless copper plating was performed, followed by wiring pattern processing with a dry film photoresist, and a 20 μm thick wiring conductor layer was formed by electrolytic copper plating. The peel strength of the obtained wiring conductor layer was 1.0 kg / cm, and heat treatment was performed at 175 ° C. for 2 hours to further stabilize the peel strength.

【0085】次に、フィルムBのラミネートと貫通孔の
穿設・粗化処理・めっきによる配線導体層および貫通導
体の成形を複数回繰返して6層の接着材層および配線導
体層を絶縁基板上に形成した後、ソルダーレジスト加工
した導体パッド上にニッケル・金めっきを施し、さらに
半田バンプを形成した。
Next, the lamination of the film B and the formation of the wiring conductor layer and the through conductor by drilling, roughening treatment, and plating of the through hole are repeated a plurality of times to form the six adhesive layers and the wiring conductor layer on the insulating substrate. After that, nickel / gold plating was performed on the conductor pads processed with the solder resist, and further, solder bumps were formed.

【0086】かくして得られた配線基板の半田バンプに
半導体素子を搭載してリフロー炉を通過させ電気的に接
続した後、半導体素子と配線基板との隙間にアンダーフ
ィルを注入して信頼性試験用のサンプル(電子部品モジ
ュールB)を得た。
After mounting the semiconductor element on the solder bumps of the wiring board thus obtained and passing it electrically through a reflow furnace, an underfill is injected into a gap between the semiconductor element and the wiring board for reliability testing. (Electronic component module B) was obtained.

【0087】このサンプルを用いて、信頼性試験として
電子部品モジュールAと同様にして温度サイクル試験
(TCT)と加速試験(HAST)を行い、配線基板の
クラックや膨れ・剥がれ等の外観と抵抗値変化率の値で
評価した。
Using this sample, a temperature cycle test (TCT) and an acceleration test (HAST) were performed as a reliability test in the same manner as in the electronic component module A, and the appearance and resistance value of the wiring board such as cracks, swelling and peeling were measured. Evaluation was made based on the value of the rate of change.

【0088】その結果、本発明の電子部品モジュールB
は、温度サイクル試験(TCT)1000サイクル後でもク
ラックが発生せず、配線導体層の抵抗値変化率は6%と
低い値となった。
As a result, the electronic component module B of the present invention
No crack occurred even after 1000 cycles of the temperature cycle test (TCT), and the rate of change in the resistance value of the wiring conductor layer was as low as 6%.

【0089】また、加速試験(HAST)の300時間後
でもイオンマイグレーションの発生がなく、絶縁抵抗も
8×1010Ωと高い値を示した。 (電子部品モジュールの比較例)ガラス繊維とエポキシ
樹脂とから成る絶縁基板の表裏両面に、フィルムCを真
空ラミネーターにより同時にラミネートした後、フィル
ムCからポリエチレンテレフタレート(PET)フィル
ムを剥離し、その後、175℃の温度で1時間硬化熱処理
した後、炭酸ガスレーザで貫通孔を穿設し、次いで、過
マンガン酸カリウム溶液で接着材層表面を粗化処理した
後、パラジウム系のめっき触媒で処理して無電解銅めっ
きを施し、ドライフィルムフォトレジストで配線パター
ン加工を行い、電解銅めっきで厚さが18μmの配線導体
層を形成した。
Further, no ion migration occurred even after 300 hours of the accelerated test (HAST), and the insulation resistance showed a high value of 8 × 10 10 Ω. (Comparative Example of Electronic Component Module) After simultaneously laminating a film C on both sides of an insulating substrate made of glass fiber and epoxy resin by a vacuum laminator, a polyethylene terephthalate (PET) film was peeled from the film C, and then 175 After curing and heat treatment at a temperature of 1 ° C. for 1 hour, a through hole is formed with a carbon dioxide gas laser, and then the surface of the adhesive layer is roughened with a potassium permanganate solution, and then treated with a palladium-based plating catalyst. Electrolytic copper plating was performed, wiring pattern processing was performed using a dry film photoresist, and a wiring conductor layer having a thickness of 18 μm was formed by electrolytic copper plating.

【0090】得られた配線導体層のピール強度は0.5k
g/cmであり、さらに、ピール強度を安定させるため
に175℃の温度で2時間の熱処理を行った後、フィルム
Cのラミネートと貫通孔の穿設・粗化処理・めっきによ
る配線導体層および貫通導体の形成を複数回繰返して6
層の接着材層および配線導体層を絶縁基板上に形成した
後、ソルダーレジスト加工したパッド上にニッケル・金
めっきを施し、さらに半田バンプを形成した。
The peel strength of the obtained wiring conductor layer was 0.5 k.
g / cm, and after performing a heat treatment at 175 ° C. for 2 hours in order to stabilize the peel strength, laminating the film C and piercing / through-roughening / plating the wiring conductor layer by plating. Repeating the formation of the through conductor a plurality of times 6
After forming the adhesive layer and the wiring conductor layer on the insulating substrate, nickel / gold plating was performed on the pads subjected to the solder resist processing, and further, solder bumps were formed.

【0091】そして、この配線基板の半田バンプに半導
体素子を搭載してリフロー炉を通過させ電気的に接続し
た後、半導体素子と配線基板との隙間にアンダーフィル
を注入して信頼性試験用のサンプル(電子部品モジュー
ルC)を得た。
After the semiconductor element is mounted on the solder bumps of the wiring board and passed through a reflow furnace to be electrically connected, an underfill is injected into a gap between the semiconductor element and the wiring board for reliability testing. A sample (electronic component module C) was obtained.

【0092】このサンプルを用いて、信頼性試験として
電子部品モジュールAと同様にして温度サイクル試験
(TCT)と加速試験(HAST)を行い、配線基板の
クラックや膨れ・剥がれ等の外観と抵抗値変化率の値で
評価した。
Using this sample, as a reliability test, a temperature cycle test (TCT) and an acceleration test (HAST) were performed in the same manner as in the electronic component module A, and the appearance and resistance of the wiring board such as cracks, swelling and peeling were measured. Evaluation was made based on the value of the rate of change.

【0093】その結果、比較例の電子部品モジュールC
は、温度サイクル試験(TCT)1000サイクルでクラッ
クが発生するとともに、加速試験(HAST)では200
時間でイオンマイグレーションが発生し、絶縁抵抗も1
×108Ωに低下した。
As a result, the electronic component module C of the comparative example
Cracks occur in 1000 cycles of the temperature cycle test (TCT) and 200 cycles in the accelerated test (HAST).
Ion migration occurs over time and insulation resistance is 1
× 10 8 Ω.

【0094】[0094]

【発明の効果】本発明の接着材によれば、エポキシ樹脂
混合物が多官能エポキシ樹脂と2官能エポキシ樹脂とか
ら成ることから接着材の架橋密度を高くすることがで
き、その結果、熱による樹脂の分子切断や樹脂中への水
分の侵入を抑制することができ、耐湿性に優れた接着材
とすることができる。また、重量平均分子量が10000〜5
00000の熱可塑性樹脂を含有していることから、架橋密
度を高めたにも拘らず良好な伸縮性を有するフィルム成
形性に優れた接着材とすることができる。さらに、ガラ
ス転移温度が−60〜−20℃のエラストマーを含有してい
ることから、未硬化のフィルムは可撓性に優れ取扱が容
易であるとともに硬化後のフィルムでも可撓性を維持し
熱変化による応力を吸収することができる。さらに、含
有する無機絶縁性フィラーの表面をエポキシ樹脂、アク
リル樹脂、フェノール樹脂またはアクリルニトリル−ス
チレン樹脂のいずれかより成る樹脂で被覆したことか
ら、接着材層のマトリックスを形成するエポキシ樹脂混
合物の溶解度パラメータ値(sp値=8〜13)と無機絶
縁性フィラーを被覆する樹脂のsp値が近似し、無機絶
縁性フィラーを被覆する樹脂の分子鎖とエポキシ樹脂混
合物の分子鎖とが良好に絡まり合って両者が強固に密着
することから、無機絶縁性フィラーとエポキシ樹脂混合
物との密着性を良好なものと成すことができ、その結
果、エポキシ樹脂混合物と無機絶縁性フィラーとの界面
を伝わって水分等が透過することはない。また、上記構
成において硬化後の透湿度をJIS−Z−0208に規定された
方法により測定して10〜100g/m2の範囲と低いものと
したことから、加速試験(HAST)に対する耐湿性に
優れた接着材とすることができる。
According to the adhesive of the present invention, since the epoxy resin mixture is composed of a polyfunctional epoxy resin and a bifunctional epoxy resin, the crosslink density of the adhesive can be increased, and as a result, the heat-induced resin Can be prevented from breaking molecules and infiltration of water into the resin, and an adhesive having excellent moisture resistance can be obtained. In addition, the weight average molecular weight is 10,000 to 5
Since it contains 00000 thermoplastic resins, it is possible to obtain an adhesive having good stretchability and excellent film moldability despite the increased crosslink density. Furthermore, since it contains an elastomer having a glass transition temperature of −60 to −20 ° C., the uncured film has excellent flexibility and is easy to handle, and the cured film maintains flexibility and maintains heat. The stress caused by the change can be absorbed. Furthermore, since the surface of the contained inorganic insulating filler was coated with a resin composed of any one of epoxy resin, acrylic resin, phenol resin or acrylonitrile-styrene resin, the solubility of the epoxy resin mixture forming the matrix of the adhesive layer was increased. The parameter value (sp value = 8 to 13) and the sp value of the resin coating the inorganic insulating filler are similar, and the molecular chain of the resin coating the inorganic insulating filler and the molecular chain of the epoxy resin mixture are satisfactorily entangled. As the two adhere firmly to each other, good adhesion between the inorganic insulating filler and the epoxy resin mixture can be achieved, and as a result, moisture can be transmitted along the interface between the epoxy resin mixture and the inorganic insulating filler. Etc. are not transmitted. Further, in the above configuration, the moisture permeability after curing was measured by the method specified in JIS-Z-0208 to be as low as 10 to 100 g / m 2 , so that the moisture resistance to the accelerated test (HAST) was improved. Excellent adhesive can be obtained.

【0095】また、本発明の電子部品モジュールによれ
ば、絶縁基板上に上記の接着材を用いて形成した接着材
層を積層して成る配線基板に電子部品を実装したことか
ら、耐熱性・耐湿性に優れた電子部品モジュールとする
ことができる。また、上記構成において、接着材層を、
温度が130℃で相対湿度が85%の環境中で5.5Vの電圧を
300時間連続して印加した後の絶縁抵抗が1010Ω以上の
ものとしたことから、実装時の熱履歴や温度サイクル試
験(TCT)に対する耐熱疲労性に優れるとともに加速
試験(HAST)等の耐湿信頼性試験に対して良好な信
頼性を有する電子部品モジュールとすることができる。
Further, according to the electronic component module of the present invention, since the electronic component is mounted on a wiring board formed by laminating an adhesive layer formed by using the above adhesive on an insulating substrate, heat resistance and An electronic component module having excellent moisture resistance can be obtained. Further, in the above configuration, the adhesive layer
5.5V voltage in an environment with a temperature of 130 ° C and a relative humidity of 85%
Since the insulation resistance after continuous application for 300 hours is 10 10 Ω or more, it excels in heat history during mounting and thermal fatigue resistance against temperature cycle test (TCT) and moisture resistance such as accelerated test (HAST). An electronic component module having good reliability for a reliability test can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の接着材を用いた配線基板に電子部品と
して半導体素子を搭載した場合の電子部品モジュールの
一例を示す要部断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of an essential part showing an example of an electronic component module when a semiconductor element is mounted as an electronic component on a wiring board using the adhesive of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・・・・電子部品モジュール 2・・・・・・配線基板 3・・・・・・電子部品(半導体素子) 4・・・・・・絶縁基板 5・・・・・・接着材層 6・・・・・・配線導体層 9・・・・・・貫通孔 10・・・・・・貫通導体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electronic component module 2 ... Wiring board 3 ... Electronic component (semiconductor element) 4 ... Insulating substrate 5 ... Adhesive Layer 6: wiring conductor layer 9: through hole 10: through conductor

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 エポキシ樹脂混合物と、100〜200
℃の温度で反応が開始する硬化剤と、重量平均分子量が
10000〜500000の熱可塑性樹脂と、ガラス転
移温度が−60〜−20℃のエラストマーと、エポキシ
樹脂、アクリル樹脂、フェノール樹脂またはアクリルニ
トリル−スチレン樹脂のいずれかより成る樹脂被覆層を
有する平均粒径が0.1〜2μmの無機絶縁性フィラー
とから成り、硬化後の透湿度がJIS−Z−0208に
規定された方法により測定して10〜100g/m2
あることを特徴とする接着材。
1. An epoxy resin mixture, 100 to 200
C., a curing agent whose reaction starts at a temperature of .degree. C., a thermoplastic resin having a weight average molecular weight of 10,000 to 500,000, an elastomer having a glass transition temperature of -60 to -20.degree. C., an epoxy resin, an acrylic resin, a phenol resin or acrylonitrile. An inorganic insulating filler having an average particle size of 0.1 to 2 μm having a resin coating layer of any of styrene resins, and a moisture permeability after curing is measured by a method specified in JIS-Z-0208. An adhesive of 10 to 100 g / m 2 .
【請求項2】 前記エポキシ樹脂混合物が、多官能エポ
キシ樹脂20〜80重量%と2官能エポキシ樹脂20〜
80重量%とから成るとともに、前記エポキシ樹脂混合
物に対して外添加で、前記硬化剤が2〜10重量%、前
記熱可塑性樹脂が5〜30重量%、前記エラストマーが
10〜40重量%、前記無機絶縁性フィラーが3〜10
重量%添加されていることを特徴とする請求項1記載の
接着材。
2. The epoxy resin mixture comprises 20 to 80% by weight of a polyfunctional epoxy resin and 20 to 80% by weight of a bifunctional epoxy resin.
80% by weight, and externally added to the epoxy resin mixture, wherein the curing agent is 2 to 10% by weight, the thermoplastic resin is 5 to 30% by weight, the elastomer is 10 to 40% by weight, 3-10 inorganic insulating filler
2. The adhesive according to claim 1, wherein the adhesive is added by weight%.
【請求項3】 前記接着材は、フィルム状であることを
特徴とする請求項1または請求項2記載の接着材。
3. The adhesive according to claim 1, wherein the adhesive is in the form of a film.
【請求項4】 絶縁基板と、該絶縁基板上に請求項1乃
至請求項3のいずれかに記載の接着材を用いて形成され
た接着材層と、前記絶縁基板および前記接着材層の各表
面に形成された複数の配線導体層と、前記接着材層に穿
設された貫通孔の内部に形成され、前記複数の配線導体
層間を電気的に接続する貫通導体とから成る配線基板に
電子部品を実装して成る電子部品モジュールであって、
前記接着材層は、温度が130℃で相対湿度が85%の
環境中で5.5Vの電圧を300時間連続して印加した
後の絶縁抵抗が1010Ω以上であることを特徴とする電
子部品モジュール。
4. An insulating substrate, an adhesive layer formed on the insulating substrate by using the adhesive according to claim 1, and each of the insulating substrate and the adhesive layer A wiring board comprising a plurality of wiring conductor layers formed on the surface and a through conductor formed inside a through hole formed in the adhesive layer and electrically connecting the plurality of wiring conductor layers is formed on a wiring board. An electronic component module having components mounted thereon,
The adhesive layer has an insulation resistance of 10 10 Ω or more after continuously applying a voltage of 5.5 V for 300 hours in an environment at a temperature of 130 ° C. and a relative humidity of 85%. Component module.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2017080040A1 (en) * 2015-11-13 2017-05-18 深圳先进技术研究院 Damp-heat-resistant and highly reliable conductive silver epoxy adhesive, method for preparing same, and application thereof

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