JP2002043621A - 発光ダイオード、ランプおよびその製造方法 - Google Patents

発光ダイオード、ランプおよびその製造方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】大型の発光素子の発光面内の発光強度の均一性
を改善し、輝度を向上させ、さらにワイヤボンドによる
配線の工数を減らして組み立てコストを小さくすること
ができる大型の発光ダイオードを提供する。 【解決手段】発光面の最大幅が0.7mm以上であり、
特に発光面の面積が0.25mm2以上である発光ダイ
オードにおいて、半導体層の光を取り出す発光面の一部
に半導体層とオーミック接触をなす分配電極を形成し、
さらに前記発光面と前記分配電極とを覆ってその分配電
極と導通する透明導電膜を形成し、その透明導電膜の表
面の一部に透明導電膜と導通する台座電極と形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体層の表面か
ら均一に光を取り出すために電極構造を改良した発光ダ
イオードおよびその発光ダイオードを用いたランプとそ
の製造方法に係わり、特に大型の発光ダイオードに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の発光ダイオードについて、光を主
に取り出す半導体層の表面を正面から見た平面図を図5
に示す。従来の発光ダイオードでは、図5に示すように
光を主に取り出す表面(発光面)39の中央部に、外部
の導線との結線を行い、かつ半導体層とのオーミック接
触を形成するための電極38が形成されているのが一般
的であった。なお、本明細書で発光面39とは、図5で
灰色で示す発光ダイオードの表面とその中央部に形成さ
れた電極38の部分とを合わせた領域をいう。
【0003】しかし、発光面の最大幅が0.7mm以上
で、特に発光面の面積が0.25mm 2以上である大型
の発光ダイオードでは、発光面の面内の電極から離れた
位置で、放出される発光の強度が低下する傾向があっ
た。これは大型の発光ダイオードでは、電極が形成され
た半導体層内で電流が拡散により十分に広がらないた
め、電極から注入された発光ダイオードの駆動電流が発
光面の外周まで均一に行き渡らないことによると考えら
れる。このため大型の発光ダイオードでは、発光面内の
発光強度の均一性が低下し、さらに発光面の周辺部で発
光強度が低下することにより、発光ダイオード全体の輝
度も低下するといった問題点があった。
【0004】上記の問題を解決し、発光面積が大きく発
光強度が面内で均一な発光素子を作製するために、従来
では発光面の面積が0.1mm2程度の個別に分離され
た発光ダイオードを複数個並列に並べ、個々の発光ダイ
オードにそれぞれ配線を施し同時に発光させることによ
り、発光面積が0.25mm2以上の大型の発光ダイオ
ードに相当する発光素子を作製していた。
【0005】また、別の方法として図3および図4に示
すように、発光ダイオード用エピタキシャルウェーハか
ら発光ダイオードを作製する際に、基板21を所望の大
きさにつながった形で切断し、さらに半導体層23につ
いてのみ発光面の面積がそれぞれ0.1mm2程度にな
るように、半導体層の表面から発光部22を含む範囲に
切り込み29を入れて分離し、その分離された発光面ご
とに電極28を形成することにより、いわゆる発光ダイ
オードアレイの形の大型の発光素子を作製していた。こ
こで、図3は該発光ダイオードアレイの平面図であり、
図4は該発光ダイオードアレイの線I−Iに沿った断面
図である。図3、図4に示す発光ダイオードアレイは、
分離された発光面ごとに設けられた電極28にそれぞれ
配線を行い同時に発光させることにより、大型の発光素
子として用いることができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来、大型の発光素子
としては、上記のように複数の小型の発光ダイオードの
集合体や同一基板上に発光部のみを分離して作製した発
光ダイオードアレイが、用いられていた。しかしこれら
の大型発光素子の場合、0.1mm2程度の大きさに分
離された発光面に個々の電極を形成し、それらの電極に
それぞれ配線をする必要がある。ここで、個々の電極の
サイズはワイヤボンドにより配線を行うため少なくとも
直径100μm程度が必要であるが、発光面の電極に覆
われた部分からは光が取り出せないこと、また配線のた
めの導線が発光面の上を通過するため導線が影となるこ
とにより、従来の大型の発光素子は発光強度が面内で不
均一になったり輝度が低くなるといった問題点があっ
た。また、個々の電極に対してそれぞれワイヤボンドに
より配線を行う必要があるため、組み立てコストが高く
なるという問題点もあった。
【0007】本発明は、上記の問題点に鑑み提案された
もので、大型の発光素子の発光面内の発光強度の均一性
を改善し、輝度を向上させ、さらにワイヤボンドによる
配線の工数を減らして組み立てコストを小さくすること
ができる大型の発光ダイオードを提供することを目的と
する。そして、その発光ダイオードを用いたランプとそ
の製造方法も提供する。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、 (1)裏面に第1の電極が形成された半導体基板と、前
記半導体基板上に形成された、発光部を含む半導体層
と、前記半導体層の光を取り出す表面(発光面)の一部
に分配して形成され、その半導体層とオーミック接触を
なす分配電極と、前記発光面と前記分配電極とを覆って
形成され、その分配電極と導通する透明導電膜と、前記
透明導電膜の表面の一部に形成され、その透明導電膜と
導通する台座電極とを有し、前記発光面の最大幅が0.
7mm以上である発光ダイオード。 (2)前記発光面の面積が0.25mm2以上であるこ
とを特徴とする(1)に記載の発光ダイオード。 (3)前記分配電極が複数の電極からなり、該分配電極
が発光面の面積0.15mm2当たりに少なくとも1個
以上存在するように配置されていることを特徴とする
(1)または(2)に記載の発光ダイオード。 (4)前記台座電極が、発光面の外周から0.3mm以
内の部分に配置されていることを特徴とする(1)乃至
(3)に記載の発光ダイオード。 (5)前記透明導電膜の比抵抗が、0.005Ω・cm
以下であることを特徴とする(1)乃至(4)に記載の
発光ダイオード。 (6)前記透明導電膜が、酸化インジウム錫(ITO)
からなることを特徴とする(1)乃至(5)に記載の発
光ダイオード。 (7)前記発光部が、AlGaInPからなることを特
徴とする(1)乃至(6)に記載の発光ダイオード。 (8)前記発光部が、有機金属化学気相堆積(MOCV
D)法により形成されることを特徴とする(1)乃至
(7)に記載の発光ダイオード。である。
【0009】また本発明は、 (9)前記(1)乃至(8)に記載の発光ダイオード
と、該発光ダイオードの第1の電極と導通する第1の導
線と、該発光ダイオードの台座電極と導通する第2の導
線とを備えたランプ。 (10)前記台座電極と第2の導線との結線がワイヤボ
ンドにより行われ、ワイヤボンドによる配線が1本であ
ることを特徴とする(9)に記載のランプ。 (11)前記台座電極と第2の導線との結線を、ワイヤ
ボンドにより1本の配線で行うことを特徴とする(9)
に記載のランプの製造方法。である。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明者らは先に、電極と半導体
層との良好なオーミック接触を実現し、かつ発光ダイオ
ードの駆動電流を発光部の全面に広げて半導体層の発光
面から均一に発光を得ることが出来るようにすることを
目的に、図10、図11に示す発光ダイオードを開発し
た。
【0011】本発明者らが開発した発光ダイオードは、
図11に断面図で示すように、裏面に第1の電極5が形
成された半導体基板1と、前記半導体基板1上に形成さ
れた、発光部2を含む半導体層3と、前記半導体層3の
発光面の一部に分配して形成され、その半導体層3とオ
ーミック接触をなす分配電極7と、前記半導体層3の発
光面と前記分配電極7とを覆って形成され、その分配電
極7と導通する透明導電膜4と、前記透明導電膜4の表
面の一部に形成され、その透明導電膜と導通する台座電
極6とを有する発光ダイオード10である。
【0012】また、図11に示す発光ダイオード10の
一例を上から見た平面図を図10に示す。図10に示す
発光ダイオードは、発光ダイオード10の表面の中心に
台座電極6が形成され、その外周部に分配電極7が形成
されている。但し、台座電極6と分配電極7および半導
体層表面との間には、半導体層3の表面と前記分配電極
7とを覆って形成された透明導電膜4が介在している。
【0013】本発明者らは、上記の発光ダイオードに用
いた技術を使うと、前述の問題を解決した大型の発光ダ
イオードを提供できることを見出し、本発明をなしたも
のである。
【0014】以下に本発明の実施の形態を図面に基づい
て詳細に説明する。図1および図2は本発明の発光ダイ
オードの概略構成を模式的に示す図で、図1はその平面
図、図2は図1のI−I線に沿った断面図である。
【0015】図1および図2に示す本発明の発光ダイオ
ードは、裏面に第1の電極15が形成された半導体基板
11と、前記半導体基板11上に形成された、発光部1
2を含む半導体層13と、前記半導体層13の光を取り
出す表面(発光面)の一部に分配して形成され、その半
導体層13とオーミック接触をなす分配電極17と、前
記発光面と前記分配電極17とを覆って形成され、その
分配電極17と導通する透明導電膜14と、前記透明導
電膜14の表面の一部に形成され、その透明導電膜14
と導通する台座電極16とを有する。さらに本発明の発
光ダイオードは、前記発光面の最大幅(図1に示す発光
面の場合は、発光面の対角線の長さ)が0.7mm以上
である大型の発光ダイオードであることを特徴とする。
また本発明は、半導体層13の発光面の面積が0.25
mm2以上である場合に、従来の大型発光素子に比較し
て発光面内の発光強度の均一性を改善し、輝度を向上さ
せる効果が特に顕著になる。
【0016】上記構成の発光ダイオードは、半導体層の
表面の一部にオーミック接触をなす分配電極を設けるこ
とで、分配電極と半導体層との間の接合は良好なオーミ
ック接触を保ってその間の電気抵抗は小さくなる。しか
し、透明導電膜と半導体層との間の接合では十分なオー
ミック接触は得られないため、その間の電気抵抗は大き
い。すなわち、透明導電膜と半導体層との間の電気抵抗
に比べて、透明導電膜と分配電極および分配電極と半導
体層との間の電気抵抗が大幅に小さいため、台座電極か
ら供給される発光ダイオードの駆動電流は、その大部分
がより電気抵抗の低い、台座電極→透明導電膜→分配電
極→半導体層(発光部)の経路を流れる。したがって、
発光面上での分配電極の平面的な配置に応じて、台座電
極からの駆動電流を発光面の広い範囲に拡げることがで
きる。すなわち本発明の発光ダイオードでは、発光面の
全面に駆動電流を広げるために発光面の外周部にも分配
電極を配置するので、外周部の分配電極のまわりの発光
部にも駆動電流が流れ、発光面の外周部でも従来の発光
ダイオードに比較して均一に発光が起きる。
【0017】さらに、発光部からの発光は、発光面から
透明導電膜を介して上方から取り出される。本発明の発
光ダイオードでは分配電極は、図1に示すように半導体
層の発光面の台座電極とは重ならない部分に配置するの
が好ましく、さらに、台座電極と重なる部分には配置し
ないようにするのがより好ましい。上記のように分配電
極を台座電極とは重ならないように配置すると、台座電
極の直下方向での発光は発生せず、発光の大部分は台座
電極に遮られることなく、上方から取り出すことがで
き、発光ダイオードの輝度を大幅に改善することができ
る。
【0018】本発明の透明導電膜と分配電極と台座電極
からなる電極構造を用いると、駆動電流を半導体層表面
の広い範囲に拡げることができるため、発光面の最大幅
が0.7mm以上である発光ダイオードにおいて、特に
発光面の面積が0.25mm2以上である大型の発光ダ
イオードの場合に顕著に、従来の大型の発光ダイオード
に比較して発光面を均一に発光させることができる。発
光面の面積が0.25mm2以上である大型の発光ダイ
オードとは、図1に示すように半導体層表面が正方形の
発光ダイオードの場合、正方形の1辺が0.5mm以上
であるものをいうが、その他の発光ダイオードであって
も、半導体層の光を取り出す主な表面の面積が0.25
mm2以上となるものをいう。
【0019】本発明の発光ダイオードにおいては、金線
などでワイヤボンドにより分配電極に配線する替わり
に、透明導電膜により分配電極への電気伝導を確保す
る。従って分配電極にワイヤボンドによる配線を行う必
要がないため、分配電極の面積は、台座電極の面積より
小さくすることができる。さらに、配線のための導線が
発光面の上を通過することで導線が影となることがな
い。その結果、従来の大型の発光素子に比べて外部に光
を効率よく取り出せるため、輝度をより一層向上させる
ことができ、発光強度の面内の均一性を改善することが
できる。また、ワイヤボンドによる配線の工程をなくし
て組み立てコストを小さくすることができる。
【0020】ここで、本発明の大型の発光ダイオードで
は、効率良く電流を半導体層表面の広い範囲に拡げるた
めには、透明導電膜の比抵抗は0.005Ω・cm以下
とするのが好ましい。また透明導電膜は、良好な透光性
を備えるものが好ましい。そのため透明導電膜の材料と
しては酸化インジウム錫(ITO)を用いるのが特に好
ましい。また酸化亜鉛を用いることもできる。これらの
透明導電膜を用いると、半導体層の表面から取り出され
た発光は、この透明導電膜を通過する間でもほとんど吸
収されることがなく、効率よく透明導電膜から上方へ取
り出すことができる。透明導電膜の厚さは、発光部から
の発光の波長に応じ光学的に算出される最適膜厚に設定
するのが望ましい。
【0021】また本発明においては、分配電極と半導体
層との間をオーミック接触としたことにより、発光ダイ
オードに駆動電流を流した際の順方向電圧の上昇を抑制
することが可能となるので、発光ダイオードの寿命特性
が向上する。分配電極と半導体層との接触抵抗は、約5
0Ω以下とするのが好ましい。分配電極と半導体層との
接触抵抗は分配電極の面積によって変化し、分配電極の
面積が小さすぎると接触抵抗が増大し順方向電圧(V
f)が大きくなる不都合が生じる。また分配電極の面積
が大きすぎると、発光部からの発光が分配電極にさえぎ
られて外部に取り出せなくなり、輝度が低下する。また
半導体層の最も表面側の層を、分配電極とのオーミック
接触を形成しやすい半導体からなる層、いわゆるコンタ
クト層とすると、オーミック接触がより小さくなるため
好ましい。
【0022】分配電極は、台座電極からの駆動電流を発
光面の広い範囲に均一に拡げるために、半導体層の表面
に均等に配置するのが好ましい。分配電極の形状は図1
では円形とし、発光面上に分配電極を複数個設けたが、
四角形等の多角形の分配電極を用いても良い。分配電極
が独立した複数個の電極からなる場合、発光面の0.2
mm2当たりに1個程度分配電極を配置するのでは、発
光強度の均一性が不充分であり、少なくとも0.15m
2当たりに1個以上の分配電極が配置されることが、
発光面での発光強度の均一性を向上するために望まし
い。また、放射状、ドーナッツ状、螺旋状、額縁状、格
子状、あるいは枝状の独立していない分配電極を半導体
層の表面に均等に配置しても良い。
【0023】また分配電極の材料には、半導体層の最も
表面側の層がp型の場合はAuZn合金やAuBe合金
等を、また半導体層の最も表面側の層がn型の場合はA
uGeNi合金やAuSi合金等を用いることができ
る。
【0024】また台座電極は、発光ダイオードと外部の
導線の接続のためにワイヤボンドを行うための電極であ
り、そのため0.01mm2程度の面積が必要である。
この台座電極の材質には、金やアルミニウムなどの金属
を用いることができる。本発明の発光ダイオードにおい
て、台座電極が発光面の中心にあると、台座電極と外部
の導線を結ぶ配線が発光面の上を通り、発光面に対し影
となり結果的に発光強度の均一性が低下する可能性があ
る。そこで台座電極は発光面の周辺部に配置する方が好
ましく、発光面の外周から0.3mm以内の部分に配置
すると特に配線の影の影響が少なくなり好ましい。
【0025】従来の発光ダイオードでは、台座電極から
直下方向に流れる駆動電流に基づく発光は、台座電極で
遮られて外部に取り出すことができなかった。このた
め、従来は台座電極と発光部との間に絶縁層や極性の異
なる半導体層を設ける等で対策を施し、台座電極から直
下方向へ駆動電流が流れるのを強制的に防ぐようにして
いた。しかし本発明では、駆動電流を分配電極に分配し
て誘導することができ、したがって、絶縁層や極性の異
なる半導体層を設けなくとも、より簡単な構成の下で、
台座電極の直下方向に流れる駆動電流を少なくすること
ができる。
【0026】
【実施例】(実施例)本実施例では、本発明に係わる発
光ダイオードを作製した例を図1、図2を用いて具体的
に説明する。図1および図2は、本実施例で作製した発
光ダイオードを示した図で、図1はその平面図、図2は
図1のI−I線に沿った断面図である。
【0027】本実施例で作製した発光ダイオードは、発
光部がAlGaInPからなる赤橙色の発光を行う発光
ダイオードである。この発光ダイオードでは、亜鉛(Z
n)をドープしたp形の(001)面を有するGaAs
単結晶からなる半導体基板11上に順次積層された、Z
nをドープしたp形のGaAsからなる緩衝層131、
Znをドープしたp形のAlGaAsからなる光反射層
132、Znをドープしたp形の(Al0.7Ga0.3
0.5In0.5Pからなる下部クラッド層133、アンドー
プの(Al0.2Ga0.80.5In0.5Pからなる発光層1
34、および珪素(Si)をドープしたn形の(Al
0.7Ga0.30.5In0.5Pからなる上部クラッド層13
5から、半導体層13が構成されている。また、この発
光ダイオードの発光部12は、下部クラッド層133、
発光層134、上部クラッド層135から構成されてい
る。
【0028】本実施例ではまず、トリメチルアルミニウ
ム((CH33Al)、トリメチルガリウム((C
33Ga)およびトリメチルインジウム((CH33
In)をIII族構成元素の原料に用いた減圧の有機金
属化学気相堆積(MOCVD)法により、上記の半導体
層13を構成する各層を半導体基板11上に積層し、エ
ピタキシャルウェーハを形成した。Znのドーピング原
料にはジエチル亜鉛((C252Zn)を使用した。
Siのドーピング原料にはジシラン(Si26)を使用
した。また、V族構成元素の原料としては、ホスフィン
(PH3)またはアルシン(AsH3)を用いた。半導体
層13を構成する各層のMOCVD法における積層温度
は700℃に統一した。
【0029】緩衝層131のキャリア濃度は約5×10
18cm-3、また、層厚は約0.5μmとした。光反射層
132はAl混晶比の異なる2種類のAlGaAs薄膜
を各10層交互に積層し、キャリア濃度は約3×1018
cm-3、層厚は合計で約0.8μmとした。下部クラッ
ド層133のキャリア濃度は約4×1017cm-3、ま
た、層厚は約1μmとした。発光層134の層厚は約
0.5μmとし、キャリア濃度は約5×1016cm-3
した。上部クラッド層135のキャリア濃度は約2×1
18cm-3とし、また、層厚は約4μmとした。
【0030】半導体層13の各層をMOCVD法で積層
してエピタキシャルウェーハを作製した後、半導体基板
11の裏面に第1の電極15として、金・亜鉛(AuZ
n)合金からなるp形オーミック電極を厚さが1μmと
なるように真空蒸着法により形成した。
【0031】また、半導体層13の発光面に分配電極1
7を形成するために、先ず膜厚を約50nmとするAu
93重量%とGe7重量%の合金からなる金・ゲルマニ
ウム(AuGe)合金膜を、上部クラッド層135の表
面の全面に、一般的な真空蒸着法により一旦被着させ
た。続けて、その金・ゲルマニウム合金膜の表面上に、
膜厚を約50nmとする金(Au)膜を被着させた。次
に、金・ゲルマニウム合金膜と金膜とからなる2層構造
の重層膜が分配電極17の形になるように、一般的なフ
ォトリソグラフィー手段を利用してパターニングを施
し、直径を約30μmとする円形の分配電極17を形成
した。この金・ゲルマニウム合金膜と金膜とからなる2
層構造の分配電極17は、図1に示すように、台座電極
16の直下領域を除く半導体層13の発光面上に合計8
個、均等に配置した。最も近接した分配電極17の中心
間の距離Lは0.25mmとした。次に上記の分配電極
17を形成した後、アルゴン(Ar)気流中において4
20℃で15分間の合金化熱処理を施し、分配電極17
と上部クラッド層135とのオーミック接触を形成し
た。
【0032】次に、上部クラッド層135の発光面と分
配電極17とを覆って、一般のマグネトロンスパッタリ
ング法により、酸化インジウム錫(ITO)からなる透
明導電膜14を半導体層13上に被着させた。透明導電
膜14の比抵抗は約2×10-4Ω・cmであり、この実
施例の発光ダイオードの発光波長の光に対する透過率は
94%であった。またこの透明導電膜14の膜厚は約3
00nmとした。一般的なX線回折分析法により、透明
導電膜14を形成するITOは<0001>方向(C
軸)に優先的に配向した多結晶膜であることが分かっ
た。
【0033】次に、透明導電膜14の全面に、一般的な
フォトレジスト材料を塗布した後、台座電極16を設け
るべき領域を、公知のフォトリソグラフィー技術を利用
してパターニングした。その後、パターニングされたレ
ジスト材料を残置させたままで、全面に金(Au)膜を
真空蒸着法により被着させた。金(Au)膜の厚さは約
1200nmとした。その後、レジスト材料を剥離する
に併せて、周知のリフト−オフ手段により、台座電極1
6の形成予定領域に限定して上記の金膜を残留させた。
これにより、透明導電膜14上に直径を約110μmと
する円形の金からなる台座電極16を形成した。台座電
極16の位置は、図1に示すように発光面上に3×3個
配列した分配電極17のうちの隅のひとつを置換した位
置とした。この台座電極16は、中心が発光面の外周か
ら0.15mmの位置になるように(すなわち台座電極
が発光面の外周から0.3mm以内の部分に入るよう
に)配置されている。
【0034】上記のようにして第1の電極15および分
配電極17、透明導電膜14、台座電極16を形成した
エピタキシャルウェーハを、通常のスクライブ法により
正方形に裁断して個別に分離し、発光ダイオードとなし
た。発光ダイオードの発光面の形状は図1に示すように
一辺を0.8mmとする正方形であり、この発光ダイオ
ードの発光面の面積は0.64mm2となった。
【0035】さらに、上記の実施例で作製した発光ダイ
オードを用いてランプを組み立てた例を、図8および図
9を用いて説明する。図8はランプの平面図、図9は図
8のランプの断面図である。
【0036】図8および図9のランプは、次のようにし
て作製した。まず、作製した発光ダイオード42の半導
体基板側を基板45に形成された第1の導線44上に導
電性ペースト43を用い接着し、第1の導線44と発光
ダイオード42の第1の電極とを導通させた。次に1本
の金線46を用いたワイヤボンドにより、発光ダイオー
ド42の台座電極と第2の導線47との間を配線し導通
させた。その後、透明なエポキシ樹脂41で全体を封止
し、ランプを作製した。
【0037】上記のようにして作製したランプの第1の
導線と第2の導線の間に順方向に駆動電流を通流したと
ころ、発光ダイオード42の発光面から透明導電膜を介
して、波長を約620nmとする赤橙色の光が出射され
た。また、その発光スペクトルの半値幅は分光器により
測定した結果約20nmであり、単色性に優れる発光が
得られていた。20mAの順方向電流を通流した際の順
方向電圧(Vf)は、本発明の発光ダイオードの各分配
電極の良好なオーミック特性を反映し、約2.1Vとな
った。
【0038】さらに本実施例の発光ダイオードについ
て、図1に示す発光面内のX−X線上の発光強度の分布
を測定した結果を図7に示した。オーミック性の分配電
極17を発光面に均等に配置した効果により、発光面の
外周の領域においても均一な発光が認められ、発光面の
面積が0.64mm2の発光ダイオードであっても発光
面内で均一な発光が得られているのが分る。また、20
mAの順方向電流を通流した際の本発明の発光ダイオー
ドの輝度は、102mcdであった。このように本実施
例により、発光強度の均一性および輝度に優れた発光ダ
イオードが得られた。
【0039】なお、本実施例ではp型の半導体基板を用
いて発光ダイオードを作製したが、n型の半導体基板を
用いて作製した発光ダイオードでも本発明の効果が得ら
れる。また、本発明の発光ダイオードの発光部の材質に
はAlGaInPを用いたが、発光部の材料を変えても
本発明の効果が得られる。特にMOCVD法で半導体層
が積層されるような半導体層の厚さが薄い発光ダイオー
ド、例えば発光部がAlGaInPあるいはAlGaI
nN、AlGaAs等からなる発光ダイオードにおいて
は、本発明の効果が特に大きい。また、本発明の発光ダ
イオードを用いて作製するランプがいわゆる砲弾型のラ
ンプの場合でも、同様の効果が得られる。
【0040】(比較例1)本比較例1では、上記の実施
例と同じ構造の半導体層を形成したエピタキシャルウェ
ーハを用いて、発光面積が実施例とほぼ同じ大きさの発
光ダイオードアレイを作製した。本比較例1で作製した
発光ダイオードアレイを図3、4に示す。図3は本比較
例1で作製した発光ダイオードアレイの平面図、図4は
図3のI−I線に沿った断面図である。図3、4で符号
21、22、23、25、231、232、233、2
34、235で示した部分は、図1、2の符号11、1
2、13、15、131、132、133、134、1
35で示した部分と対応する。
【0041】本比較例1の発光ダイオードアレイでは、
半導体層23の上に形成する電極の構造を実施例の発光
ダイオードの場合とは異なるものとした。すなわち、本
比較例1の発光ダイオードアレイでは、まず上部クラッ
ド層235の表面に、厚さ50nmの金・ゲルマニウム
合金を下層とし、厚さ850nmの金を上層とする、直
径が約110μmの円形のオーミック性の電極28を形
成した。電極28は近接する相互の中心の距離を400
μmとし等間隔に半導体層23の発光面上に配置した。
なお、半導体基板21側に形成する第1の電極25は実
施例と同じものにした。その後ダイシング法により、近
接する電極28の中間に、半導体層23の表面から発光
部を含む深さ15μmの範囲に切り込み29を入れて発
光面を分離し、さらにエッチングによりダイシングの切
り込み29に沿う破砕層を除去した。切り込み29によ
り分離された個々の発光面は、図3に示すように一辺が
約400μmの正方形とした。
【0042】その後、上記のエピタキシャルウェーハ
を、通常のスクライブ法により裁断して個別の発光ダイ
オードアレイに分離した。本比較例1の発光ダイオード
アレイは、図3に示すように切り込み29により分離さ
れた発光面を4個まとめて正方形としたものである。こ
の発光ダイオードアレイでは、4個の発光面は半導体基
板21の部分ではつながっていて、一辺の長さは0.8
mm、発光面積はおよそ0.64mm2である。
【0043】その後実施例と同様にして、この発光ダイ
オードアレイを用いてランプを組み立てた。本比較例1
の発光ダイオードアレイは、分離された4個の発光面に
それぞれ電極28がある為、それぞれの電極28に1本
ずつ計4本の金線でワイヤボンドにより配線を行い、電
極28と第2の導線とを結線した。第1の電極25と第
1の導線との接続や透明なエポキシ樹脂での封止等は実
施例と同様に行い、本比較例1の発光ダイオードアレイ
を用いたランプを作製した。
【0044】このランプの第1の導線と第2の導線との
間に順方向に駆動電流を流したところ、20mA通電時
の順方向電圧が約2.2Vであり、実施例とほぼ同等で
あった。また、本比較例1の発光ダイオードアレイの発
光面内での発光強度の分布を図3のX−X線上で測定し
た結果を図7に示す。本比較例1の発光ダイオードアレ
イでは、実施例の発光ダイオードに比較し発光面の周縁
部の発光強度が低下する傾向があり、また発光ダイオー
ドアレイの上部の電極28に配線された金線の影響によ
って、発光強度の面内分布に不均一を生じていた。ま
た、20mAの順方向電流を通流した際の本比較例1の
発光ダイオードアレイの輝度は83mcdであり、実施
例と比較し低かった。
【0045】(比較例2)本比較例2では、上記の実施
例と同じ構造の半導体層を形成したエピタキシャルウェ
ーハを用いて、発光面積が実施例とほぼ同じ大きさで従
来の電極構造を有する発光ダイオードを作製した。本比
較例2で作製した発光ダイオードを図5、6に示す。図
5は本比較例2で作製した発光ダイオードの平面図、図
6は図5のI−I線に沿った断面図である。図5、図6
で符号31、32、33、35、331、332、33
3、334、335で示した部分は、図1、2の符号1
1、12、13、15、131、132、133、13
4、135で示した部分と対応する。
【0046】本比較例2では、半導体層33の発光面3
9に形成する電極の構造を前記の実施例と異なるものと
した。すなわち、本比較例2では発光面39の中心に厚
さ50nmの金・ゲルマニウム合金を下層とし、厚さ8
50nmの金を上層とする、直径が約110μmの円形
のオーミック性の電極38を1つ形成した。その他は実
施例と同様にしたエピタキシャルウェーハを、通常のス
クライブ法により発光面が正方形になるように裁断して
個別に分離し、発光ダイオードとなした。この比較例2
の発光ダイオードの発光面の一辺の長さは0.8mm、
発光面積は0.64mm2とした。
【0047】この発光ダイオードを用いて、実施例と同
様にしてランプを作製した。発光ダイオードの電極38
と第2の導線との間は、1本の金線を用いたワイヤボン
ドにより配線し導通させた。そして、第1の導線と第2
の導線との間に順方向の駆動電流を流したところ、20
mA通電時の順方向電圧が、2.2Vであった。また、
本比較例2の発光ダイオードの発光面内での発光強度の
分布を、図5のX−X線上で測定した結果を図7に示
す。実施例に比較し、発光強度の面内分布に不均一を生
じており、発光面の外周の領域において発光強度が低下
している。これは、電極38からの駆動電流の拡散が半
導体層33内で不充分で、発光層32へ流れる電流が発
光面内で不均一となるためと考えられる。20mAの順
方向電流を通流した際の本比較例2の発光ダイオードの
輝度は60mcdであり、実施例と比較して低かった。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の発光ダイ
オードでは、半導体層の発光面の一部に分配電極を設け
ることで、発光部での発光を分配電極の周辺で行わせる
ことができる。そのため、発光面の最大幅が0.7mm
以上で、特に発光面の面積が0.25mm2以上である
大型の発光ダイオードであっても、駆動電流を分配電極
の平面的な配置に応じて発光面の広い範囲に拡げること
ができ、発光面内で均一な発光が得られる。
【0049】また、本発明の発光ダイオードにおいて
は、ワイヤボンドによる電極への配線の替わりに、透明
導電膜により分配電極への電気伝導を確保する。従って
分配電極にワイヤボンドによる配線を行う必要がないた
め、分配電極の面積は、台座電極の面積より小さくする
ことができ、従来の発光ダイオードに比べて、より一層
良好な効率で外部に光を取り出すことができる。さら
に、配線のための導線が発光面の上を通過して導線が影
となることがなく、輝度を高くすることができる。ま
た、発光ダイオードを用いてランプを作製する際に、ワ
イヤボンドによる配線数を少なくでき、組み立てコスト
を小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係わる発光ダイオードの平面
図である。
【図2】本発明の実施例に係わる発光ダイオードの図1
のI−I線に沿った断面を示す図である。
【図3】比較例1に係わる発光ダイオードアレイの平面
図である。
【図4】比較例1に係わる発光ダイオードアレイの図3
のI−I線に沿った断面を示す図である。
【図5】比較例2に係わる発光ダイオードの平面図であ
る。
【図6】比較例2に係わる発光ダイオードの図5のI−
I線に沿った断面を示す図である。
【図7】実施例、比較例1、比較例2の発光ダイオード
(アレイ)の発光面内の発光強度分布を示す図である。
【図8】本発明の実施例に係わる発光ダイオードを用い
たランプの平面図である。
【図9】図8に示すランプの断面図である。
【図10】本発明者らが別に開発した発光ダイオードの
平面図である。
【図11】本発明者らが別に開発した発光ダイオードの
断面図である。
【符号の説明】
1、11、21、31 半導体基板 2、12、22、32 発光部 3、13、23、33 半導体層 4、14 透明導電膜 5、15、25、35 第1の電極 6、16 台座電極 7、17 分配電極 10 発光ダイオード 131、231、331 緩衝層 132、232、332 光反射層 133、233、333 下部クラッド層 134、234、334 発光層 135、235、335 上部クラッド層 28、38 電極 29 切り込み 39 発光面 41 エポキシ樹脂 42 発光ダイオード 43 導電性ペースト 44 第1の導線 45 基板 46 金線 47 第2の導線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宇田川 隆 埼玉県秩父市大字下影森1505番地 昭和電 工株式会社総合研究所秩父研究室内 Fターム(参考) 5F041 AA05 AA14 AA21 AA42 AA44 CA34 CA35 CA53 CA65 CA82 CA85 CA88 CA93 DA07 DB09 FF11

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】裏面に第1の電極が形成された半導体基板
    と、前記半導体基板上に形成された、発光部を含む半導
    体層と、前記半導体層の光を取り出す表面(発光面)の
    一部に分配して形成され、その半導体層とオーミック接
    触をなす分配電極と、前記発光面と前記分配電極とを覆
    って形成され、その分配電極と導通する透明導電膜と、
    前記透明導電膜の表面の一部に形成され、その透明導電
    膜と導通する台座電極とを有し、前記発光面の最大幅が
    0.7mm以上である発光ダイオード。
  2. 【請求項2】前記発光面の面積が0.25mm2以上で
    あることを特徴とする請求項1に記載の発光ダイオー
    ド。
  3. 【請求項3】前記分配電極が複数の電極からなり、該分
    配電極が発光面の面積0.15mm2当たりに少なくと
    も1個以上存在するように配置されていることを特徴と
    する請求項1または2に記載の発光ダイオード。
  4. 【請求項4】前記台座電極が、発光面の外周から0.3
    mm以内の部分に配置されていることを特徴とする請求
    項1乃至3に記載の発光ダイオード。
  5. 【請求項5】前記透明導電膜の比抵抗が、0.005Ω
    ・cm以下であることを特徴とする請求項1乃至4に記
    載の発光ダイオード。
  6. 【請求項6】前記透明導電膜が、酸化インジウム錫(I
    TO)からなることを特徴とする請求項1乃至5に記載
    の発光ダイオード。
  7. 【請求項7】前記発光部が、AlGaInPからなるこ
    とを特徴とする請求項1乃至6に記載の発光ダイオー
    ド。
  8. 【請求項8】前記発光部が、有機金属化学気相堆積(M
    OCVD)法により形成されることを特徴とする請求項
    1乃至7に記載の発光ダイオード。
  9. 【請求項9】前記請求項1乃至8に記載の発光ダイオー
    ドと、該発光ダイオードの第1の電極と導通する第1の
    導線と、該発光ダイオードの台座電極と導通する第2の
    導線とを備えたランプ。
  10. 【請求項10】前記台座電極と第2の導線との結線がワ
    イヤボンドにより行われ、ワイヤボンドによる配線が1
    本であることを特徴とする請求項9に記載のランプ。
  11. 【請求項11】前記台座電極と第2の導線との結線を、
    ワイヤボンドにより1本の配線で行うことを特徴とする
    請求項9に記載のランプの製造方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004165654A (ja) * 2002-10-23 2004-06-10 Shin Etsu Handotai Co Ltd 発光素子及びその製造方法
JP2004363572A (ja) * 2003-05-12 2004-12-24 Showa Denko Kk 半導体発光素子および発光ダイオード
JP2008066297A (ja) * 2006-08-11 2008-03-21 Mitsubishi Chemicals Corp 照明装置
US7528417B2 (en) 2003-02-10 2009-05-05 Showa Denko K.K. Light-emitting diode device and production method thereof

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004165654A (ja) * 2002-10-23 2004-06-10 Shin Etsu Handotai Co Ltd 発光素子及びその製造方法
JP4620340B2 (ja) * 2002-10-23 2011-01-26 信越半導体株式会社 発光素子及びその製造方法
US7528417B2 (en) 2003-02-10 2009-05-05 Showa Denko K.K. Light-emitting diode device and production method thereof
JP2004363572A (ja) * 2003-05-12 2004-12-24 Showa Denko Kk 半導体発光素子および発光ダイオード
JP2008066297A (ja) * 2006-08-11 2008-03-21 Mitsubishi Chemicals Corp 照明装置

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