JP4119602B2 - 半導体発光素子、半導体発光素子用電極、その製造方法、半導体発光素子を用いたledランプ、およびそのledランプを用いた光源 - Google Patents

半導体発光素子、半導体発光素子用電極、その製造方法、半導体発光素子を用いたledランプ、およびそのledランプを用いた光源 Download PDF

Info

Publication number
JP4119602B2
JP4119602B2 JP2000243992A JP2000243992A JP4119602B2 JP 4119602 B2 JP4119602 B2 JP 4119602B2 JP 2000243992 A JP2000243992 A JP 2000243992A JP 2000243992 A JP2000243992 A JP 2000243992A JP 4119602 B2 JP4119602 B2 JP 4119602B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
light emitting
transparent conductive
conductive film
semiconductor layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000243992A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001189493A (ja
Inventor
良一 竹内
亙 鍋倉
和弘 三谷
隆 宇田川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko KK
Original Assignee
Showa Denko KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Showa Denko KK filed Critical Showa Denko KK
Priority to JP2000243992A priority Critical patent/JP4119602B2/ja
Priority to TW89121680A priority patent/TW477078B/zh
Priority to US09/691,057 priority patent/US6512248B1/en
Publication of JP2001189493A publication Critical patent/JP2001189493A/ja
Priority to US10/265,148 priority patent/US6677615B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4119602B2 publication Critical patent/JP4119602B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/32257Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic the layer connector connecting to a bonding area disposed in a recess of the surface of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/14Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure
    • H01L33/145Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a carrier transport control structure, e.g. highly-doped semiconductor layer or current-blocking structure with a current-blocking structure

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、緑色〜赤色系の発光を行う半導体発光素子に関する。
【0002】
【従来技術】
従来、赤橙色系の光を出射する発光ダイオード(LED)やレーザーダイオード(LD)等の発光素子として、(AlXGa1-XYIn1-YP(0≦X≦1、0<Y<1)混晶層からなる発光部構造を含む発光素子が、例えば特開平8−83927号公開公報で知られている。この公開公報に開示された発光素子は、(AlXGa1-XYIn1-YP混晶層からなる発光部表面上に酸化インジウム錫からなる透明導電膜を積層し、その透明導電膜上に上面電極を形成して構成されており、この構成により、上面電極からの電流を、透明導電膜を介して発光部表面上のできるだけ広い範囲に拡散させるようにしている。
【0003】
ところで、上記した従来の発光素子では、透明導電膜と発光部表面との間のオーミック接触を十分に得ることができず、順方向電圧を大きくし、寿命特性を低下させる要因となっており、この点を改善するべく、例えば特開平11−17220号公開公報では、発光部表面上にウインドウ層を形成し、このウインドウ層の上にコンタクト層を形成し、このコンタクト層の上に、酸化インジウム錫からなる透明導電膜(導電透光酸化層)を積層し、その透明導電膜上に上面電極(上層電極)を形成して発光素子を構成し、この上面電極からの電流を、透明導電膜、コンタクト層およびウインドウ層を介して発光部表面上のできるだけ広い範囲に拡散させるようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記した特開平11−17220号公開公報に記載された発光素子においては、確かに、透明導電膜と半導体層とのオーミック接触の点では、改善されているものの、コンタクト層を設けるがゆえに、このコンタクト層に発光が吸収されてしまい、したがって、高輝度発光を得るに至らず、発光効率が改善されていないのが現状である。
【0005】
この発明は上記に鑑み提案されたもので、電極と半導体層との良好なオーミック接触を実現し、また発光が吸収されることなく発光効率を大幅に改善することができる半導体発光素子を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、裏面に第1の電極が形成された半導体基板と、前記半導体基板上に形成された、AlGaInPからなる発光部を含む半導体層と、前記半導体層の表面の一部に分配して形成され、その半導体層とオーミック接触をなす分配電極と、前記半導体層の表面と前記分配電極とを覆って形成され、その分配電極と導通し、<0001>方向に優先的に配向した酸化インジウム錫(ITO)の多結晶膜からなる透明導電膜と、前記透明導電膜の表面であって平面的に見てその中心に形成され、その透明導電膜と底面全面が導通する台座電極と、を有し、前記分配電極は、半導体層表面の平面的に見て台座電極の外周であり、その平面上での表面形状の縦横の中心線に対して左右対称となる位置に配置され、かつ半導体層表面の平面的に見て台座電極と重ならない部分に形成され、前記分配電極の合計の平面積が、透明導電膜表面の面積から、台座電極の面積を差し引いた面積である発光有効面積の3%以上で30%以下である、ことを特徴としている。
【0009】
また、請求項に記載の発明は、上記した請求項1に記載の発明の構成に加えて、前記分配電極は、半導体層表面の平面的に見て台座電極と重なる部分に形成されていない、ことを特徴としている。
【0010】
請求項に記載の発明は、上記した請求項1または2に記載の発明の構成に加えて、前記分配電極の面積が台座電極の面積より小さい、ことを特徴としている。
【0013】
さらに、請求項に記載の発明は、上記した請求項1乃至の何れか1項に記載の発明の構成に加えて、前記半導体層が有機金属化学気相堆積法(MOCVD法)により形成されたものである、ことを特徴としている。
【0015】
また、請求項に記載の発明は、上記した請求項1乃至の何れか1項に記載の発明の構成に加えて、前記台座電極が、半導体層上に透明導電膜を介して形成され、台座電極のワイヤボンディングを行う面には透明導電膜が存在しない、ことを特徴としている。
【0017】
請求項に記載の発明は、半導体発光素子用電極であって、半導体発光素子の、AlGaInPからなる発光部を含む半導体層の表面の一部に分配して形成され、その半導体層とオーミック接触をなす分配電極と、前記半導体層の表面と前記分配電極とを覆って形成され、その分配電極と導通し、<0001>方向に優先的に配向した酸化インジウム錫(ITO)の多結晶膜からなる透明導電膜と、前記透明導電膜の表面であって平面的に見てその中心に形成され、その透明導電膜と底面全面が導通する台座電極と、を有し、前記分配電極は、半導体層表面の平面的に見て台座電極の外周であり、その平面上での表面形状の縦横の中心線に対して左右対称となる位置に配置され、かつ半導体層表面の平面的に見て台座電極と重ならない部分に形成され、前記分配電極の合計の平面積が、透明導電膜表面の面積から、台座電極の面積を差し引いた面積である発光有効面積の3%以上で30%以下である、ことを特徴としている。
【0020】
さらに、請求項に記載の発明は、上記した請求項に記載の発明の構成に加えて、前記分配電極は、半導体層表面の平面的に見て台座電極と重なる部分に形成されていない、ことを特徴としている。
請求項に記載の発明は、上記した請求項6または7に記載の発明の構成に加えて、前記分配電極の面積が台座電極の面積より小さい、ことを特徴としている。
【0023】
また、請求項に記載の発明は、上記した請求項乃至の何れか1項に記載の発明の構成に加えて、前記台座電極が、半導体層上に透明導電膜を介して形成され、台座電極のワイヤボンディングを行う面には透明導電膜が存在しない、ことを特徴としている。
【0025】
請求項10に記載の発明は、半導体発光素子用電極の製造方法であって、AlGaInPからなる発光部を含む半導体層の表面の一部に、その半導体層とオーミック接触をなす分配電極を、その半導体層表面の平面的に見て台座電極の外周であって、その平面上での表面形状の縦横の中心線に対して左右対称となる位置に、半導体層表面の平面的に見て台座電極と重ならない部分に形成する第1の工程と、第1の工程に引き続き、前記半導体層の表面と前記分配電極とを覆って、その分配電極と導通し、<0001>方向に優先的に配向した酸化インジウム錫(ITO)の多結晶膜からなる透明導電膜を形成する第2の工程と、第2の工程に引き続き、前記透明導電膜の表面の一部に、その透明導電膜と底面全面が導通する台座電極を、半導体発光素子表面の平面的に見て中心に形成する第3の工程と、を有し、前記分配電極の合計の平面積を、透明導電膜表面の面積から、台座電極の面積を差し引いた面積である発光有効面積の3%以上で30%以下とする、ことを特徴としている。
【0028】
さらに、請求項11に記載の発明は、上記した請求項10に記載の発明の構成に加えて、前記分配電極を、半導体層表面の平面的に見て台座電極と重なる部分に形成しない、ことを特徴としている。
【0030】
また、請求項12に記載の発明は、上記した請求項10または11に記載の発明の構成に加えて、前記透明導電膜がスパッタリング法により形成され、前記台座電極が真空蒸着法で形成される、ことを特徴としている。
【0031】
また、請求項13に記載の発明は、上記した請求項10乃至12の何れか1項に記載の発明の構成に加えて、前記台座電極を、半導体層上に透明導電膜を介して形成し、台座電極のワイヤボンディングを行う面には透明導電膜が存在しないようにする、ことを特徴としている。
【0032】
請求項14に記載の発明は、LEDランプであって、上記した請求項1乃至の何れか1項に記載の半導体発光素子を用いた、ことを特徴としている。
【0033】
また、請求項15に記載の発明は、光源であって、請求項14に記載のLEDランプを用いた、ことを特徴としている。
【0034】
【発明の実施の形態】
以下にこの発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1および図2はこの発明の半導体発光素子の概略構成を模式的に示す図で、図1はその平面図、図2は図1のI−I線断面を示す図である。なお、本明細書では、半導体層表面を平面的に見るとは、図1のような平面図で見ることを言う。
【0035】
これらの図において、この発明の半導体発光素子10は、裏面に第1の電極5が形成された半導体基板1と、半導体基板1上に形成された、発光部2を含む半導体層3と、半導体層3の表面の一部に分配して形成され、その半導体層3とオーミック接触をなす分配電極7と、半導体層3の表面と分配電極7とを覆って形成され、その分配電極7と導通する透明導電膜4と、透明導電膜4の表面の一部に形成され、その透明導電膜4と導通する台座電極6と、を有することを特徴としている。なお、半導体層3上に形成した分配電極7、透明導電膜4および台座電極6は、半導体発光素子用電極として構成されている。ここで、分配電極7は、図1に示すように、半導体層3表面の平面的に見て台座電極6とは重ならない部分に配置するのが好ましく、さらに、台座電極6と重なる部分には配置しないようにするのがより好ましい。また、分配電極7と半導体層3との間の接合は良好なオーミック接触を保ってその間の電気抵抗は小さくなり、一方の透明導電膜4と半導体層3との間の接合では十分なオーミック接触は得られないため、その間の電気抵抗は大きい。
【0036】
上記構成の半導体発光素子10において、半導体層3の表面の一部にオーミック接触をなす分配電極7を設けることで、透明導電膜4と半導体層3との間の電気抵抗に比べて、分配電極7と半導体層3との間の電気抵抗が大幅に小さくなり、台座電極6から供給される駆動電流は、図2の矢印で示すように、その大部分がより電気抵抗の低い、台座電極6→透明導電膜4→分配電極7→半導体層3(発光部2)の経路を流れる。そのため、発光部2での発光を分配電極7の周辺で行わせることができる。したがって、分配電極7の平面的な配置に応じて、台座電極6からの駆動電流を半導体層3表面の広い範囲に拡げることができる。そして、その発光は、透明導電膜4を介して上方から取り出される。上記のように、分配電極7は、台座電極6とは重ならないように配置するので、台座電極6の直下方向での発光は発生せず、発光の大部分は台座電極6に遮られることなく、上方から取り出すことができ、発光効率を大幅に改善することができる。
【0037】
さらに、この発光効率については、分配電極7の面積を台座電極6の面積より小さくすることにより、従来の半導体発光素子に比べて外部に光を効率よく取り出せるため、発光効率をより一層向上させることができる。
【0038】
また、分配電極7と半導体層3との間の電気抵抗は、上記したように、オーミック接触としたことにより小さくなるので、半導体発光素子10の順方向電圧の上昇を抑制することが可能となり、寿命特性を向上することができる。
【0039】
また、透明導電膜4は、例えば酸化インジウム錫(ITO)からなる良好な透光性を備えるものであり、このため、発光部2からの発光は、この透明導電膜4を通過する間でもほとんど吸収されることがなく、効率よく透明導電膜4から上方へ取り出すことができる。
【0040】
また、台座電極6は、半導体発光素子10と外部電気回路との接続のためのワイヤボンディングを行うための電極であり、そのためある程度の面積が必要であるが、従来この台座電極6から直下方向に流れる駆動電流に基づく発光は、台座電極6で遮られて外部に取り出すことができなかった。このため、従来は台座電極6と発光部2との間に絶縁層を設ける等で対策を施し、台座電極6から直下方向へ駆動電流が流れるのを強制的に防ぐようにしていたが、本発明では、駆動電流を分配電極7に分配して誘導することができ、したがって、絶縁層を設けなくとも、より簡単な構成の下で、台座電極6の直下方向に流れる駆動電流をなくすことができる。
【0041】
ここで、透明導電膜4の表面(半導体層3の表面)のうち、発光させると有効となる面(発光有効面)の面積は、透明導電膜4表面の面積から、台座電極6の面積(図1の平面視での面積)を差し引いた面積であり、この面積を発光有効面積Sと称するとする。ところで、台座電極6がその直下方向での発光の取り出しを妨害する現象は、分配電極7についても同様に発生する。そこで、本発明では、分配電極7の合計の平面積(平面視での面積)が、発光有効面積Sの3%以上で30%以下となるようにし、分配電極7の面積が広すぎて発光の取り出し妨害が過剰に発生したり、逆にその面積が小さすぎて、順方向電圧(Vf)が増大することによる不都合が発生したりするのを防止するのが好ましい。
【0042】
次にこの発明の半導体発光素子のより具体的な構成例を図3〜図7を用いて順に説明する。
【0043】
図3および図4はこの発明の半導体発光素子の第1の構成例を示す図で、図3はその平面図、図4は図3のII−II線断面を示す図である。これらの図において、この発明の半導体発光素子20は、赤橙色系の光を出射する発光ダイオード(LED)であり、亜鉛(Zn)ドープp形(001)−GaAsからなる単結晶基板21上に、順次積層された、Znドープp形GaAsからなる緩衝層231、Znドープp形(Al0.7Ga0.30.5In0.5Pからなる下部クラッド層232、アンドープのn形(Al0.2Ga0.80.5In0.5P混晶からなる発光層22、および珪素(Si)ドープn形(Al0.7Ga0.30.5In0.5Pからなる上部クラッド層233から構成される半導体層23が形成されている。
【0044】
半導体層23を構成する各層231,232,22および233は、トリメチルアルミニウム((CH33Al)、トリメチルガリウム((CH33Ga)およびトリメチルインジウム((CH33In)をIII族構成元素の原料とし、減圧の有機金属化学気相堆積法(MOCVD法)により基板21上に成膜した。亜鉛(Zn)のドーピング原料にはジエチル亜鉛((C252Zn)を利用した。n形のドーピング原料にはジシラン(Si26)を使用した。また、V族元素の原料としては、ホスフィン(PH3)またはアルシン(AsH3)を用いた。各層231,232,22および233の成膜温度は730℃に統一した。緩衝層231のキャリア濃度は約5×1018cm-3に、また、層厚は約0、5μmとした。下部クラッド層232のキャリア濃度は約3×1018cm-3に、また、層厚は約1μmとした。発光層22の層厚は約0.5μmとし、キャリア濃度は約5×1016cm-3とした。上部クラッド層233のキャリア濃度は約2×1018cm-3とし、また、層厚は約3μmとした。
【0045】
ここで、下部クラッド層232,発光層22および上部クラッド層233が、この半導体発光素子20の発光部を構成する。したがって、発光部はAlGaInPからなる。
【0046】
この半導体発光素子20では、分配電極27を形成するために、上部クラッド層233の表面の全面に、一般的な真空蒸着法により、先ず膜厚を約50nmとする、金・ゲルマニウム合金(Au93重量%−Ge7重量%合金)膜を一旦被着させ、続けて、その金・ゲルマニウム合金膜の表面上に膜厚を約50nmとする金(Au)膜を被着させた。次に、一般的なフォトリソグラフィー手段を利用して金・ゲルマニウム合金からなる第1膜271と、金からなる第2膜272とからなる2層構造の重層膜が、分配電極27の形になるようにパターニングを施し、一辺を約20μmとする正方形の分配電極27を形成した。この第1膜271と第2膜272とからなる分配電極27は、図3に示すように、台座電極26の直下領域を除く上部クラッド層233の表面上に合計12個、上部クラッド層233の平面上での形状の中心線C1,C2に対して左右対称に設けた。分配電極27の中心間の距離Lは50μmとした。次に、上記の分配電極27を上部クラッド層233の表面上に形成した後、アルゴン(Ar)気流中において420℃で15分間の合金化熱処理を施し、分配電極27と上部クラッド層233とのオーミック接触を形成した。
【0047】
次に、上部クラッド層233とその表面の分配電極27とを覆って、一般のマグネトロンスパッタリング法により、酸化インジウム錫(ITO)からなる膜を透明導電膜24として半導体層23上に被着させた。透明導電膜24の比抵抗は約4×10-4Ω・cmであり、層厚は約600nmとした。一般的なX線回折分析法により、透明導電膜24は<0001>方向(C軸)に優先的に配向した多結晶膜であることが分かった。
【0048】
次に、透明導電膜24の全面に、一般的な有機フォトレジスト材料を塗布した後、台座電極26を設けるべき領域を、公知のフォトリソグラフィー技術を利用してパターニングした。
【0049】
台座電極26を設けるべき領域は、図3に示すように半導体発光素子表面の平面的に見て中心を含む領域(ここでは四角形の半導体発光素子表面の対角線の交点を含む領域)とした。これは、台座電極26が半導体発光素子表面の中心にある方が、各分配電極27までの各距離が均一化し、電流が分流する際に好ましいためである。また、電流が半導体発光素子全体に均一に流れやすくなるためである。さらに、台座電極26が半導体発光素子表面の中心から大きくずれていると、ワイヤボンディングを行うときにチップが傾いたりするので、それを防止するためである。
【0050】
その後、パターニングされたレジスト材料を残置させたままで、全面に金(Au)膜を真空蒸着法により被着させた。金(Au)膜の厚さは約700nmとした。その後、レジスト材料を剥離するに併せて、周知のリフト−オフ手段により、台座電極26の形成予定領域に限定して上記の金膜を残留させた。これにより、直径を約110μmとする円形の金からなる台座電極26を形成した。台座電極26の平面積は約0.95×10-4cm2となった。
【0051】
一方、単結晶基板21の裏面に金・亜鉛(Au・Zn)合金からなるp形オーミック電極25を形成した。その後、通常のスクライブ法により素子の形状に裁断して個別に細分化し、半導体発光素子20となした。半導体発光素子20は一辺を260μmとする正方形としたことより、透明導電膜24の平面積は約6.8×10-4cm2となり、この透明導電膜24の平面積から台座電極26の平面積を差し引いた発光有効面積Sは約5.9×10-4cm2となった。また、分配電極27の合計の平面積は0.48×10-4cm2であり、この面積が発光有効面積Sに対して占める割合は約8.1%となった。
【0052】
上記のようにして作製した半導体発光素子20のp形オーミック電極25および台座電極26間に順方向に電流を通流したところ、透明導電膜24の表面から波長を約620nmとする赤橙色の光が出射された。また、その発光スペクトルの半値幅は、分光器により測定した結果、約20nmであり、単色性に優れる発光が得られた。20ミリアンペア(mA)の電流を通流した際の順方向電圧(Vf:20mA当り)は、各分配電極27の良好なオーミック特性を反映し、約2.1ボルト(V)となった。また、オーミック性の分配電極27を半導体発光素子20の周縁部に配置した効果により、その周縁の領域においても発光が認められ、チップ状態で市販の積分球を利用して視感度補正をした状態で、簡易的に測定される発光の強度は約42ミリカンデラ(mcd)であった。さらに、駆動電流が分配電極27によって均等に分配されることにより、透明導電膜24の表面に見られる発光強度は、表面でほぼ均等な分布となっていた。
【0053】
(比較例)
上記した第1の構成例の半導体発光素子20の持つVf値および発光強度と比較するために、上部クラッド層233表面に直接厚さ50nmの金・ゲルマニウム合金を下層とし、厚さ50nmの金を上層とする、台座電極26と同じ形状のオーミック性の電極を形成し、その他は全て第1の構成例と同一の構成からなる半導体発光素子(LED)を比較用素子として作製した。すなわち、本比較用素子は、透明導電膜24および分配電極27を具備せず、上部クラッド層233表面に直接形成した、台座電極26と同じ形状のオーミック性電極を備えている。
【0054】
この半導体発光素子のVf値(20mA当り)は約2Vであり、第1の構成例の半導体発光素子20のVfとはほぼ同等であった。一方、合計の層厚を約100nmとする平坦なオーミック性電極を直接上部クラッド層に設けたため、発光は、オーミック性電極の直下とその周辺のみで生じることとなり、発光のかなりの割合が電極に遮られ、外部に取り出せない事態を招いた。その結果、比較用素子の発光強度は約20mcdの低きに低迷した。
【0055】
この比較用素子と、前記第1の構成例の本発明の半導体発光素子20とを対比すれば、本発明の半導体発光素子20では、半導体層23(上部クラッド層233)に接触するオーミック性電極の平面積が少ないにも拘わらず、徒にVfの増加を来すことなく、逆に発光有効面積Sを徒に削ぐことのなきようにオーミック性の分配電極27を配置したがために、高輝度化が顕現されることが明らかである。
【0056】
図5および図6はこの発明の半導体発光素子の第2の構成例を示す図で、図5はその平面図、図6は図5のIII−III線断面を示す図である。これらの図において、この発明の半導体発光素子30は、赤橙色系の光を出射する発光ダイオード(LED)であり、珪素(Si)ドープn形(001)2゜オフGaAsからなる単結晶基板31上に、減圧MOCVD法により順次、Siドープn形GaAsからなる緩衝層331、何れもSiをドーピングしたn形Al0.40Ga0.60As層とn形Al0.95Ga0.05As層とを交互に10周期積層した周期構造からなるブラッグ反射(DBR)層332、Siドープn形(Al0.7Ga0.30.5In0.5Pからなる下部クラッド層333、アンドープのn形(Al0.2Ga0.80.5In0.5P混晶からなる発光層32、およびマグネシウム(Mg)ドープp形(Al0.7Ga0.30.5In0.5Pからなる上部クラッド層334を積層して形成されている。半導体層33は、上記の各層331,332,333,32および334から構成されている。
【0057】
半導体層33の各層331,332,333,32および334は、トリメチルアルミニウム((CH33Al)、トリメチルガリウム((CH33Ga)およびトリメチルインジウム((CH33In)をIII族元素の原料とし、ホスフィン(PH3)またはアルシン(AsH3)をV族元素の原料として、減圧MOCVD法により成膜した。マグネシウム(Mg)のドーピング原料にはビスシクロペンタジエニルマグネシウム(bis−(C552Mg)を利用した。n形のドーピング原料にはジシラン(Si26)を使用した。各層331,332,333,32および334の成膜温度は730℃に統一した。緩衝層331のキャリア濃度は約3×1018cm-3に、また、層厚は約500nmとした。DBR層332をなすn形Al0.40Ga0.60As層とn形Al0.95Ga0.05As層の層厚は各々、約40nmとした。下部クラッド層333のキャリア濃度は約3×1018cm-3に、また、層厚は約400nmとした。発光層32の層厚は約10nmとし、キャリア濃度は約1×1017cm-3とした。上部クラッド層334のキャリア濃度は約4×1018cm-3とし、また、層厚は約3μmとした。
【0058】
上部クラッド層334の表面の全面に、一般的な電子ビーム真空蒸着法により膜厚を約15nmとするニッケル(Ni)を被着させた。次に、一般的なフォトリソグラフィー手段を利用してNi膜をパターニングして、直径を20μmとする円形の分配電極37を形成した。分配電極37は、図5に示すように、台座電極36の直下領域を除く上部クラッド層334の表面上に合計8個、台座電極36の中心からの半径Rを95μmとする円周上であって、上部クラッド層334の平面上での形状の両対角線上およびその両対角線の間に等間隔で設けた。分配電極37を形成した後、合金化熱処理を行い、分配電極37と上部クラッド層334とのオーミック接触を形成した。
【0059】
次に、上部クラッド層334上に分配電極37を形成した後、一般のマグネトロンスパッタリング法により、酸化インジウム錫(ITO)からなる膜を透明導電膜34として、上部クラッド層334および分配電極37を覆って被着させた。透明導電膜34の比抵抗は約4×10-4Ω・cmであり、層厚は約600nmとした。一般的なX線回折分析法により、透明導電膜34は<0001>方向(C軸)に優先的に配向した多結晶膜であることが分かった。透明導電膜34は250℃で成膜した。
【0060】
次に、透明導電膜34の全面に、一般的な有機フォトレジスト材料を塗布した後、台座電極36を設けるべき領域を、公知のフォトリソグラフィー技術を利用してパターニングした。その後、パターニングされたレジスト材料を残置させたままで、全面にチタン(Ti)膜を電子ビーム真空蒸着法により被着させた。チタン膜の厚さは約600nmとした。その後、レジスト材料を剥離するに併せて、周知のリフト−オフ手段により台座電極36の形成予定領域に限定してチタン膜を残留させた。これより、透明導電膜34上に直径を約120μmとする円形のチタンからなる台座電極36を形成した。台座電極36の平面積は約1.1×10-4cm2となった。
【0061】
単結晶基板31の裏面に金・ゲルマニウム(Au・Ge)合金からなるn形オーミック電極35を形成した後、通常のスクライブ法により裁断して個別に細分化し、半導体発光素子30となした。半導体発光素子30は一辺を260μmとする正方形としたことより、透明導電膜34の平面積は約6.8×10-4cm2となり、この透明導電膜34の平面積から台座電極36の平面積を差し引いた発光有効面積Sは約5.7×10-4cm2となった。また、分配電極37の合計の平面積は0.25×10-4cm2であり、この面積が発光有効面積Sに対して占める割合は約4.4%となった。
【0062】
n形オーミック電極35および台座電極36間に順方向に電流を通流したところ、透明導電膜34の表面から波長を約620nmとする赤橙色光が出射された。また、その発光スペクトルの半値幅は、分光器により測定した結果、約20nmであり、単色性に優れる発光が得られた。20ミリアンペア(mA)の電流を通流した際の順方向電圧(Vf:20mA当り)は、各分配電極37の良好なオーミック特性を反映し、約2.1ボルト(V)となった。また、オーミック性の分配電極37を半導体発光素子30の周縁部に配置した効果により、半導体発光素子30の周縁の領域においても発光が認められ、チップ状態で市販の積分球を利用して視感度補正をした状態で、簡易的に測定される発光の強度は約74ミリカンデラ(mcd)であった。さらに、駆動電流が分配電極37によって均等に分配されることにより、透明導電膜34の表面に見られる発光強度は、表面でほぼ均等な発光となっていた。
【0063】
そして、この第2の構成例による半導体発光素子30においても、上記した第1の構成例による半導体発光素子20の場合と同様に、半導体層33(上部クラッド層233)に接触するオーミック性電極の平面積が少ないにも拘わらず、徒にVfの増加を来すことなく、逆に発光有効面積Sを徒に削ぐことのなきようにオーミック性の分配電極37を配置したがために、高輝度化が顕現されることが明らかである。
【0064】
図7は平面的に見た分配電極の他の配置例を示す図である。上記の説明では、分配電極7(27,37)を台座電極6(26,36)の周囲に、個別に分散させて配置し、また台座電極6とは重ならないように配置したが、連続的に分布させて構成してもよいし、また必要に応じて台座電極6と重ねて配置するようにしてもよい。例えば、図7(A)の分配電極71では、台座電極6を矩形状に囲む帯状枠体71aと、その帯状枠体71aにさらに直交するように多数分布させた枝71bとで構成してあり、図7(B)の分配電極72では、台座電極6の両側に細長く配置した2本の帯状体72aと、台座電極6の直下を通過してその2本の帯状体72aを連結する連結体72bとで構成してある。また、図7(C)の分配電極73では、台座電極6の両側に矩形状の2つの面状体73aを配置して構成してあり、図7(D)の分配電極74では台座電極6の周囲を矩形状に囲む帯状枠体74aとその帯状枠体74aの各コーナから放射上に伸びる4本の帯状体74bとで構成してある。さらに、図7(E)の分配電極75は台座電極6の直下領域をも含めて全面にハニカム状に形成されている。
【0065】
このように、分配電極に関しては、個別に分散させて配置するだけでなく、帯状のものを連続的に配置してもよいし、面状のものを配置するようにしてよい。
【0066】
また、分配電極を個別に分散させて配置する場合は、その一個一個の形状は、正方形や長方形、円形その他任意の形状のものでよく、分散させる際のパターンも放射状や円周状、螺旋状、その他任意のパターンでよい。
【0067】
次に、この発明の半導体発光素子を用いて作製したLEDランプについて説明する。
【0068】
図8はこの発明の半導体発光素子を用いて作製したLEDランプの構成を示す図である。図において、LEDランプ80は、半導体発光素子81とマウントリード82とインナーリード83とからなり、これらの全体を透明な樹脂84でモールドすることで構成されている。
【0069】
半導体発光素子81には、第1の構成例で作製した半導体発光素子20、あるいは第2の構成例で作製した半導体発光素子30を使用し、この半導体発光素子81の基板裏面に形成された電極81a(第1の構成例ではp形オーミック電極25、第2の構成例ではn形オーミック電極35)は、マウントリード82と電気的に接触するようにマウントリード82上に固定され、また半導体発光素子81の台座電極81b(第1の構成例では台座電極26、第2の構成例では台座電極36)は、ワイヤボンディングによりインナーリード83に結線されている。
【0070】
ところで、従来の半導体発光素子の構成例として、例えば特開昭57−111076号公報では台座電極上に覆うように透明導電膜を形成しているが、このように、台座電極上に透明導電膜が存在すると、透明なため透明導電膜がある領域を認識できず、透明導電膜上にワイヤボンディングを行ってしまい、ワイヤが台座電極に接着しないという不具合が発生することがある。これに対し、この発明では、透明導電膜上に台座電極を形成し、台座電極のワイヤボンディングを行う面には透明導電膜が存在しないようになっているので、上記の不具合を確実に防止することができる。
【0071】
このLEDランプ80は、本発明の半導体発光素子を用いているため、従来のものに比較して発光効率が高く、また寿命特性も向上したものとなっている。
【0072】
さらにこのLEDランプ80は、車両用灯具、鉄道車両用灯具、交通信号灯、踏切信号灯、路肩表示灯、視線誘導灯、あるいはモニター用表示器、操作盤用表示器の光源として、また複写機やファクシミリなどの事務機器や屋外で使用される情報板などの光源として用いることができ、その場合このLEDランプ80を用いた光源は、従来のものに比較して発光効率が高く寿命特性の向上したものとなる。
【0073】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明の半導体発光素子では、半導体層の表面の一部に分配電極を設けることで、透明導電膜と半導体層との間の電気抵抗に比べて、分配電極と半導体層との間の電気抵抗が大幅に小さくなり、台座電極から供給される駆動電流は、その大部分がより電気抵抗の低い、台座電極→透明導電膜→分配電極→半導体層(発光部)の経路を流れるので、発光部での発光を分配電極の周辺で行わせることができる。また、分配電極は、そのほとんどが台座電極とは重ならないように配置するので、台座電極の直下方向での発光は発生せず、したがって、発光の大部分は台座電極に遮られることなく、上方から取り出すことができ、発光効率を大幅に改善することができる。
【0074】
また、この発光効率については、分配電極の面積を台座電極の面積より小さくするので、従来の発光素子に比べて、より一層良好な効率で外部に光を取り出すことができる。
【0075】
また、分配電極と半導体層との間の電気抵抗は、小さくなるので、発光素子の順方向電圧を下げることが可能となり、寿命特性を向上することができる。
【0076】
また、透明導電膜は良好な透光性を備えるものであり、このため、発光部からの発光は、この透明導電膜を通過する間でもほとんど吸収されることがなく、効率よく透明導電膜から上方へ取り出すことができる。
【0077】
さらに、台座電極から直下方向に流れる駆動電流に基づく発光は、台座電極で遮られて無駄な電力消費となるので、従来は台座電極と発光部との間に絶縁層を設ける等で対策を施し、台座電極から直下方向へ駆動電流が流れるのを強制的に防ぐようにしていたが、この発明では、駆動電流を分配電極に誘導することができ、したがって、絶縁層を設けなくとも、より簡単な構成の下で、台座電極の直下方向に流れる駆動電流をなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の半導体発光素子の概略構成を模式的に示す平面図である。
【図2】この発明の半導体発光素子の概略構成を模式的に示す図で、図1のI−I線断面を示す図である。
【図3】この発明の半導体発光素子の第1の構成例を示す平面図である。
【図4】この発明の半導体発光素子の第1の構成例を示す図で、図3のII−II線断面を示す図である。
【図5】この発明の半導体発光素子の第2の構成例を示す平面図である。
【図6】この発明の半導体発光素子の第2の構成例を示す図で、図5のIII−III線断面を示す図である。
【図7】この発明に係る分配電極の他の配置例を示す図である。
【図8】この発明の半導体発光素子を用いたLEDランプを示す図である。
【符号の説明】
1 半導体基板
2 発光部
3 半導体層
4 透明導電膜
6 台座電極
7 分配電極
10 半導体発光素子
20 半導体発光素子
21 単結晶基板
22 発光層
23 半導体層
231 緩衝層
232 下部クラッド層
233 上部クラッド層
24 透明導電膜
25 p形オーミック電極
26 台座電極
27 分配電極
271 第1膜
272 第2膜
30 半導体発光素子
31 単結晶基板
32 発光層
33 半導体層
331 緩衝層
332 ブラッグ反射層
333 下部クラッド層
334 上部クラッド層
34 透明導電膜
35 n形オーミック電極
36 台座電極
37 分配電極
71 分配電極
72 分配電極
73 分配電極
74 分配電極
75 分配電極
80 LEDランプ
81 半導体発光素子
81a 基板裏面に形成された電極
81b 台座電極
82 マウントリード
83 インナーリード
84 樹脂

Claims (15)

  1. 裏面に第1の電極が形成された半導体基板と、
    前記半導体基板上に形成された、AlGaInPからなる発光部を含む半導体層と、
    前記半導体層の表面の一部に分配して形成され、その半導体層とオーミック接触をなす分配電極と、
    前記半導体層の表面と前記分配電極とを覆って形成され、その分配電極と導通し、<0001>方向に優先的に配向した酸化インジウム錫(ITO)の多結晶膜からなる透明導電膜と、
    前記透明導電膜の表面であって平面的に見てその中心に形成され、その透明導電膜と底面全面が導通する台座電極と、を有し、
    前記分配電極は、半導体層表面の平面的に見て台座電極の外周であり、その平面上での表面形状の縦横の中心線に対して左右対称となる位置に配置され、かつ半導体層表面の平面的に見て台座電極と重ならない部分に形成され
    前記分配電極の合計の平面積が、透明導電膜表面の面積から、台座電極の面積を差し引いた面積である発光有効面積の3%以上で30%以下である、
    ことを特徴とする半導体発光素子。
  2. 前記分配電極は、半導体層表面の平面的に見て台座電極と重なる部分に形成されていない、請求項1に記載の半導体発光素子。
  3. 前記分配電極の面積が台座電極の面積より小さい、請求項1または2に記載の半導体発光素子。
  4. 前記半導体層が有機金属化学気相堆積法(MOCVD法)により形成されたものである、請求項1乃至3の何れか1項に記載の半導体発光素子。
  5. 前記台座電極が、半導体層上に透明導電膜を介して形成され、台座電極のワイヤボンディングを行う面には透明導電膜が存在しない、請求項1乃至4の何れか1項に記載の半導体発光素子。
  6. 半導体発光素子の、AlGaInPからなる発光部を含む半導体層の表面の一部に分配して形成され、その半導体層とオーミック接触をなす分配電極と、
    前記半導体層の表面と前記分配電極とを覆って形成され、その分配電極と導通し、<0001>方向に優先的に配向した酸化インジウム錫(ITO)の多結晶膜からなる透明導電膜と、
    前記透明導電膜の表面であって平面的に見てその中心に形成され、その透明導電膜と底面全面が導通する台座電極と、を有し、
    前記分配電極は、半導体層表面の平面的に見て台座電極の外周であり、その平面上での表面形状の縦横の中心線に対して左右対称となる位置に配置され、かつ半導体層表面の平面的に見て台座電極と重ならない部分に形成され
    前記分配電極の合計の平面積が、透明導電膜表面の面積から、台座電極の面積を差し引いた面積である発光有効面積の3%以上で30%以下である、
    ことを特徴とする半導体発光素子用電極。
  7. 前記分配電極は、半導体層表面の平面的に見て台座電極と重なる部分に形成されていない、請求項6に記載の半導体発光素子用電極。
  8. 前記分配電極の面積が台座電極の面積より小さい、請求項6または7の何れか1項に記載の半導体発光素子用電極。
  9. 前記台座電極が、半導体層上に透明導電膜を介して形成され、台座電極のワイヤボンディングを行う面には透明導電膜が存在しない、請求項6乃至8の何れか1項に記載の半導体発光素子用電極。
  10. AlGaInPからなる発光部を含む半導体層の表面の一部に、その半導体層とオーミック接触をなす分配電極を、その半導体層表面の平面的に見て台座電極の外周であって、その平面上での表面形状の縦横の中心線に対して左右対称となる位置に、半導体層表面の平面的に見て台座電極と重ならない部分に形成する第1の工程と、
    第1の工程に引き続き、前記半導体層の表面と前記分配電極とを覆って、その分配電極と導通し、<0001>方向に優先的に配向した酸化インジウム錫(ITO)の多結晶膜からなる透明導電膜を形成する第2の工程と、
    第2の工程に引き続き、前記透明導電膜の表面の一部に、その透明導電膜と底面全面が導通する台座電極を、半導体発光素子表面の平面的に見て中心に形成する第3の工程と、
    を有し、
    前記分配電極の合計の平面積を、透明導電膜表面の面積から、台座電極の面積を差し引いた面積である発光有効面積の3%以上で30%以下とする、
    ことを特徴とする半導体発光素子用電極の製造方法。
  11. 前記分配電極を、半導体層表面の平面的に見て台座電極と重なる部分に形成しない、請求項10に記載の半導体発光素子用電極の製造方法。
  12. 前記透明導電膜がスパッタリング法により形成され、前記台座電極が真空蒸着法で形成される、請求項10または11に記載の半導体発光素子用電極の製造方法。
  13. 前記台座電極を、半導体層上に透明導電膜を介して形成し、台座電極のワイヤボンディングを行う面には透明導電膜が存在しないようにする、請求項10乃至12の何れか1項に記載の半導体発光素子用電極の製造方法。
  14. 請求項1乃至5の何れか1項に記載の半導体発光素子を用いた、ことを特徴とするLEDランプ。
  15. 請求項14に記載のLEDランプを用いた、ことを特徴とする光源。
JP2000243992A 1999-10-19 2000-08-11 半導体発光素子、半導体発光素子用電極、その製造方法、半導体発光素子を用いたledランプ、およびそのledランプを用いた光源 Expired - Fee Related JP4119602B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000243992A JP4119602B2 (ja) 1999-10-19 2000-08-11 半導体発光素子、半導体発光素子用電極、その製造方法、半導体発光素子を用いたledランプ、およびそのledランプを用いた光源
TW89121680A TW477078B (en) 1999-10-19 2000-10-17 Semiconductor light-emitting device, electrode for the device, method for fabricating the electrode, led lamp using the device, and light source using the led lamp
US09/691,057 US6512248B1 (en) 1999-10-19 2000-10-19 Semiconductor light-emitting device, electrode for the device, method for fabricating the electrode, LED lamp using the device, and light source using the LED lamp
US10/265,148 US6677615B2 (en) 1999-10-19 2002-10-07 Semiconductor light-emitting device, electrode for the device, method for fabricating the electrode, LED lamp using the device, and light source using the LED lamp

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11-296374 1999-10-19
JP29637499 1999-10-19
JP2000243992A JP4119602B2 (ja) 1999-10-19 2000-08-11 半導体発光素子、半導体発光素子用電極、その製造方法、半導体発光素子を用いたledランプ、およびそのledランプを用いた光源

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001189493A JP2001189493A (ja) 2001-07-10
JP4119602B2 true JP4119602B2 (ja) 2008-07-16

Family

ID=26560651

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000243992A Expired - Fee Related JP4119602B2 (ja) 1999-10-19 2000-08-11 半導体発光素子、半導体発光素子用電極、その製造方法、半導体発光素子を用いたledランプ、およびそのledランプを用いた光源

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4119602B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7528417B2 (en) 2003-02-10 2009-05-05 Showa Denko K.K. Light-emitting diode device and production method thereof
US7834373B2 (en) * 2006-12-12 2010-11-16 Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited Semiconductor device having current spreading layer
DE102007020291A1 (de) 2007-01-31 2008-08-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronischer Halbleiterchip und Verfahren zur Herstellung einer Kontaktstruktur für einen derartigen Chip

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001189493A (ja) 2001-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6512248B1 (en) Semiconductor light-emitting device, electrode for the device, method for fabricating the electrode, LED lamp using the device, and light source using the LED lamp
CN107017320B (zh) 半导体发光元件
US9318530B2 (en) Wafer level light-emitting diode array and method for manufacturing same
US9461091B2 (en) Light emitting diode
JP3693468B2 (ja) 半導体発光素子
TWI381516B (zh) 發光二極體封裝
US7291865B2 (en) Light-emitting semiconductor device
CN102668135B (zh) 发光二极管
JP5055678B2 (ja) 窒化物半導体発光素子
JP5276959B2 (ja) 発光ダイオード及びその製造方法、並びにランプ
JP2009164423A (ja) 発光素子
US11587972B2 (en) Wafer level light-emitting diode array
CN108365070A (zh) 发光元件
US20200258936A1 (en) Wafer level light-emitting diode array
JP4065655B2 (ja) フリップチップ型半導体発光素子とその製造方法及び発光ダイオードランプ並びに表示装置、フリップチップ型半導体発光素子用電極
CN108346726A (zh) 发光二极管元件
JP3989658B2 (ja) 半導体発光ダイオード
JP4119602B2 (ja) 半導体発光素子、半導体発光素子用電極、その製造方法、半導体発光素子を用いたledランプ、およびそのledランプを用いた光源
WO2023154738A1 (en) Contact structures of led chips for current injection
JP4409684B2 (ja) AlGaInP発光ダイオードおよびその製造方法
JP4255710B2 (ja) 半導体発光素子
US11296258B2 (en) Light-emitting diode
KR20110132161A (ko) 반도체 발광 소자 및 그 제조방법
JP4031611B2 (ja) 発光ダイオード、ランプおよびその製造方法
JP3571477B2 (ja) 半導体発光素子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040715

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061130

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070116

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070319

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070710

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070910

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070919

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080219

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080311

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080422

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080425

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110502

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140502

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees